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JP2017058176A - Impedance measurement device and method for measuring impedance - Google Patents

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JP2017058176A
JP2017058176A JP2015181613A JP2015181613A JP2017058176A JP 2017058176 A JP2017058176 A JP 2017058176A JP 2015181613 A JP2015181613 A JP 2015181613A JP 2015181613 A JP2015181613 A JP 2015181613A JP 2017058176 A JP2017058176 A JP 2017058176A
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Junji Iijima
淳司 飯島
秀行 長井
Hideyuki Nagai
秀行 長井
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

【課題】 測定対象に与える測定信号の周波数とノイズ成分の周波数とが近い場合に生ずる測定誤差を小さくするインピーダンス測定装置および測定方法を提供する。【解決手段】 測定信号が供給されない状態で測定対象の試料に現れる検出信号を測定信号に同期する位相が直交する二つの基準信号(同期信号)より同期検波して、試料のノイズレベルを測定することを複数の測定周波数で行い、ノイズの少ない測定周波数を求める。ノイズの少ない周波数の測定信号を試料に供給し、その検出信号を基準信号により同期検波して試料のインピーダンスを測定する。【選択図】 図1PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an impedance measuring device and a measuring method for reducing a measurement error which occurs when the frequency of a measurement signal given to a measurement target and the frequency of a noise component are close to each other. SOLUTION: A detection signal appearing in a sample to be measured in a state where a measurement signal is not supplied is synchronously detected from two reference signals (synchronous signals) whose phases are orthogonal to each other to measure the noise level of the sample. Do this with multiple measurement frequencies to find a measurement frequency with less noise. A measurement signal with a frequency with less noise is supplied to the sample, and the detection signal is synchronously detected by a reference signal to measure the impedance of the sample. [Selection diagram] Fig. 1

Description

本発明は、インピーダンス測定装置およびインピーダンス測定方法に関する。   The present invention relates to an impedance measuring apparatus and an impedance measuring method.

電気回路を構成する素子がもつ内部インピーダンスを測定する方法として、測定対象である試料に交流信号を与えてその電気応答を測定する交流インピーダンス測定法がある。この方法では、試料がもつ抵抗成分、キャパシタンス成分、インダクタンス成分の大きさを調べることができる。また、それらの成分が試料内でどのような等価回路を構成しているか、あるいは、その等価回路のパラメータを求めることができる。   As a method for measuring the internal impedance of elements constituting an electric circuit, there is an AC impedance measurement method in which an AC signal is applied to a sample to be measured and its electrical response is measured. In this method, the size of the resistance component, capacitance component, and inductance component of the sample can be examined. In addition, it is possible to determine what equivalent circuit these components constitute in the sample, or parameters of the equivalent circuit.

このようなインピーダンス測定法として、定電流源から試料に正弦波の測定交流電流を供給し、試料に現れる電圧信号を、供給する測定交流電流に同期する同一周波数の基準信号(または参照信号ともいう)で同期検波することで、試料に現れるノイズ成分の影響を小さくする同期検波を用いたインピーダンス測定方法がある。
同期検波によるインピーダンス測定装置については、以下の先行技術文献がある。
As such an impedance measurement method, a sine wave measurement AC current is supplied from a constant current source to a sample, and a voltage signal appearing on the sample is also referred to as a reference signal (or a reference signal) having the same frequency synchronized with the supplied measurement AC current. There is an impedance measurement method using synchronous detection that reduces the influence of noise components appearing in the sample by performing synchronous detection.
The following prior art documents are available for impedance measurement devices using synchronous detection.

以下図面を参照して同期検波によるインピーダンス測定を説明する。
図6は、従来の同期検波によるインピーダンス測定装置を説明する図である。
測定交流電流iは、定電流源10から、試料11(DUT:device under testの略)に供給される。なお、ここでは、試料11は、内部抵抗Rxをもつ電池である。抵抗(Rs)12は、測定交流電流iの電流値を検出するための電流検出用抵抗であり、定電流源10、試料11に直列に挿入されている。符号15は、測定交流電流iに応じて試料11に現れた検出信号(電圧信号)を増幅する増幅器である。同様に、符号16は、電流検出用抵抗(Rs)12で検出された電圧信号を増幅する増幅器である。増幅器15で増幅された電圧検出信号vは、測定周波数を通過させるバンドパスフィルタ(BPF)17を通して同期検波器20に入力される。また、測定交流電流iに同期する基準信号vは増幅器16で増幅され同期検波器20に入力される。同期検波器20は、電圧検出信号vを基準信号vで同期検波し、その検波出力は、交流成分を除去するためのローパスフィルタ(LPF)22に入力され交流成分が除去されて、アナログデジタルコンバータ(ADC)23に入力される。アナログデジタルコンバータ23は、同期検波出力をデジタル信号に変換する。変換されたデジタル信号は、図示されない演算装置に入力され、試料11の交流インピーダンス値、等価回路のパラメメータ等が演算され、これらの値は、図示しない表示装置等に表示され、あるいはプリントされて出力される。
Hereinafter, impedance measurement by synchronous detection will be described with reference to the drawings.
FIG. 6 is a diagram for explaining a conventional impedance measuring apparatus using synchronous detection.
The measurement alternating current i is supplied from the constant current source 10 to the sample 11 (DUT: abbreviation of device under test). Here, the sample 11 is a battery having an internal resistance Rx. The resistor (Rs) 12 is a current detection resistor for detecting the current value of the measurement alternating current i, and is inserted in series with the constant current source 10 and the sample 11. Reference numeral 15 denotes an amplifier that amplifies a detection signal (voltage signal) appearing on the sample 11 in accordance with the measurement alternating current i. Similarly, reference numeral 16 denotes an amplifier that amplifies the voltage signal detected by the current detection resistor (Rs) 12. The voltage detection signal v 1 amplified by the amplifier 15 is input to the synchronous detector 20 through a band-pass filter (BPF) 17 that passes the measurement frequency. The reference signal v 2 synchronized with the measurement alternating current i is amplified by the amplifier 16 and input to the synchronous detector 20. The synchronous detector 20 synchronously detects the voltage detection signal v 1 with the reference signal v 2 , and the detection output is input to a low-pass filter (LPF) 22 for removing an alternating current component, and the alternating current component is removed. It is input to a digital converter (ADC) 23. The analog-digital converter 23 converts the synchronous detection output into a digital signal. The converted digital signal is input to a calculation device (not shown), and the AC impedance value of the sample 11, the parameters of the equivalent circuit, and the like are calculated. These values are displayed on a display device (not shown) or printed and output. Is done.

次に図7の波形図を参照して、図6のインピーダンス測定装置でのインピーダンス測定動作を説明する。
定電流源10からは、測定交流電流として、i=Isin(ωt)の正弦波が試料11に印加される。試料11の両端には、電池の内部抵抗Rに対応した電圧が発生し、その電圧は増幅器15で増幅されてv=iRとして出力される。また、増幅器16からは、電流検出抵抗Rに対応したv=iRsが出力され、同期検波器20で同期検波される。ここで、v、vは、
=Vsin(ωt)=IRsin(ωt)
=iRs=IRsin(ωt)=ksin(ωt)
である。なお、kは定数とする(IとRsは一定であるとする)
同期検波出力は、
×v=kIRsin(ωt)sin(ωt)
=1/2・kIR[cos(0)−cos(2ωt)]
交流成分をローパスフィルタで遮断すると、アナログデジタル変換器23の入力は、
AD=1/2・kIRcos(0)=1/2・kIR
となり、これにより、試料の抵抗値Rxは、
=2/k・(VAD/I)
により求めることができる。
図7のv、v、v×v、vADの波形がそれぞれ、図6の信号v、v、v×v、vADの信号波形になる。
Next, with reference to the waveform diagram of FIG. 7, the impedance measurement operation in the impedance measurement apparatus of FIG. 6 will be described.
From the constant current source 10, a sine wave of i = I sin (ω 1 t) is applied to the sample 11 as a measurement alternating current. At both ends of the specimen 11, a voltage corresponding to the internal resistance R x is generated in the battery, the voltage is output as v 1 = iR x is amplified by the amplifier 15. Further, v 2 = iRs corresponding to the current detection resistor R s is output from the amplifier 16 and is synchronously detected by the synchronous detector 20. Here, v 1 and v 2 are
v 1 = Vsin (ω 1 t) = IR x sin (ω 1 t)
v 2 = iRs = IR s sin (ω 1 t) = k sin (ω 1 t)
It is. Note that k is a constant (I and Rs are constant).
Synchronous detection output is
v 1 × v 2 = kIR x sin (ω 1 t) sin (ω 1 t)
= 1/2 · kIR x [cos (0) −cos (2ω 1 t)]
When the AC component is blocked by a low-pass filter, the input of the analog-digital converter 23 is
V AD = 1/2 · kIR x cos (0) = 1/2 · kIR x
Thus, the resistance value Rx of the sample is
R x = 2 / k · (V AD / I)
It can ask for.
The waveforms of v 1 , v 2 , v 1 × v 2 , and v AD in FIG. 7 are the signal waveforms of signals v 1 , v 2 , v 1 × v 2 , and v AD in FIG. 6, respectively.

このように、試料の両端の電圧検出信号を測定交流電流と同位相の基準信号で同期検波し、ローパスフィルタにより交流成分(cos(2ωt))を除去することにより、直流成分のみが抽出されるので、電池など純抵抗以外の成分を含む測定対象の試料の実効インピーダンスを求めることができる。また、同期検波で現れた交流成分はローパスフィルタで除去されるため、交流であるノイズの影響を除去でき、ノイズに埋もれた微小信号を取り出すことが可能である。 In this way, the voltage detection signal at both ends of the sample is synchronously detected with a reference signal having the same phase as the measurement AC current, and the AC component (cos (2ω 1 t)) is removed by the low-pass filter, so that only the DC component is extracted. Therefore, the effective impedance of the sample to be measured including components other than pure resistance such as a battery can be obtained. Further, since the AC component that appears in the synchronous detection is removed by the low-pass filter, the influence of noise that is AC can be removed, and a minute signal buried in the noise can be extracted.

特開2007−132806号公報JP 2007-132806 A

測定対象となる試料は、電気回路を構成する要素であるため、ノイズが重畳されるものがあり、そのノイズがインピーダンス測定に影響を与える。例えば、UPS(無停電電源装置)に装備されているバッテリを測定試料とする場合である。UPSは、常時稼働している必要があるため、インバータやコンバータが稼働して充電あるいは放電を行っている。このため、インバータやコンバータから生ずるノイズがバッテリに印加されていることが多い。また、負荷が接続されているため、負荷側からもノイズが入り込むことが多い。このように、UPSのバッテリを試料としてインピーダンス測定しようとすると、測定交流電流が印加された試料からノイズ成分を検出することになる。   Since the sample to be measured is an element that constitutes an electric circuit, there is a sample on which noise is superimposed, and the noise affects impedance measurement. For example, a battery equipped in a UPS (uninterruptible power supply) is used as a measurement sample. Since the UPS needs to be constantly operated, the inverter and the converter are operated to perform charging or discharging. For this reason, noise generated from an inverter or a converter is often applied to the battery. Further, since the load is connected, noise often enters from the load side. As described above, when impedance measurement is performed using a UPS battery as a sample, a noise component is detected from the sample to which the measurement alternating current is applied.

しかしながら、測定交流電流と同位相の基準信号を用いて同期検波を行い、ローパスフィルタで交流成分を除去してもノイズを取りきることができない場合がある。   However, there are cases in which noise cannot be completely removed even if synchronous detection is performed using a reference signal having the same phase as the measurement AC current and AC components are removed by a low-pass filter.

ノイズとして測定周波数と同一周波数のノイズが検出信号に入ると、同期検波出力の直流成分に重畳されているため、ローパスフィルタでは除去することはできない。また、測定周波数に近い周波数のノイズであると、ローパスフィルタの特性から、すべてを除去することは難しい。
例えば、測定周波数が1kHzであり、ノイズの周波数が1.01kHzであった場合、直流ではない低い交流成分は、除去できても少しであって、すべてを除くことはできない。また、バンドパスフィルタも測定周波数である中心周波数の近傍の周波数のノイズを除くことはできないから、測定周波数近傍のノイズを除去することは難しい。
例えば、ローパスフィルタは、図8に示すような周波数特性を有しており、高い周波数については十分取り除くことができるが、低い周波数は除去できない部分が残る。
When noise having the same frequency as the measurement frequency enters the detection signal as noise, it is superposed on the DC component of the synchronous detection output and cannot be removed by the low-pass filter. Further, if the noise has a frequency close to the measurement frequency, it is difficult to remove all of the noise from the characteristics of the low-pass filter.
For example, when the measurement frequency is 1 kHz and the noise frequency is 1.01 kHz, low AC components that are not direct currents can be removed, but only a small amount cannot be removed. In addition, since the bandpass filter cannot remove noise in the vicinity of the center frequency, which is the measurement frequency, it is difficult to remove noise in the vicinity of the measurement frequency.
For example, the low-pass filter has a frequency characteristic as shown in FIG. 8 and can sufficiently remove a high frequency, but a portion where a low frequency cannot be removed remains.

このため、ノイズが検出信号に入り込むと、測定誤差が生じ、また、測定したインピーダンス値もばらつきが生ずるので、測定値が安定しない問題が生ずる。
本発明は、このような、測定交流電流と同一あるいは近い周波数のノイズ成分から生ずる影響を小さくして、測定誤差を少なくし、安定した測定が可能なインピーダンス測定装置および測定方法を提供することを目的とする。
For this reason, when noise enters the detection signal, a measurement error occurs, and the measured impedance value also varies, resulting in a problem that the measured value is not stable.
The present invention provides an impedance measuring apparatus and a measuring method capable of reducing the measurement error and reducing the influence caused by the noise component having the same frequency as or close to that of the measurement AC current, and enabling stable measurement. Objective.

本発明の第一の側面は、インピーダンス測定装置であって、測定対象の試料に所定周波数の測定信号を供給する交流源と、測定信号に同期する基準信号を生成する基準信号生成部と、試料に現れる検出信号を基準信号で同期検波する同期検波部と、同期検波された信号を通過させるローパスフィルタとを備えたインピーダンス測定装置であって、基準信号生成部は、試料に測定信号を供給しない状態で、所定の測定用周波数であって、位相が直交する二つの基準信号を生成する手段を備え、同期検波部は、測定信号を供給しない状態の試料に現れる検出信号を二つの基準信号でそれぞれ同期検波する手段を備えたことを特徴とする。   A first aspect of the present invention is an impedance measuring apparatus, an AC source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to a sample to be measured, a reference signal generation unit that generates a reference signal synchronized with the measurement signal, and a sample The impedance measurement device includes a synchronous detection unit that synchronously detects a detection signal appearing in the reference signal and a low-pass filter that passes the synchronously detected signal, and the reference signal generation unit does not supply the measurement signal to the sample And a means for generating two reference signals having a predetermined measurement frequency and orthogonal in phase, and the synchronous detection unit uses the two reference signals to detect a detection signal appearing on the sample in a state in which no measurement signal is supplied. Each is provided with means for synchronous detection.

なお、同期検波部は、通過周波数が異なる複数のバンドパスフィルタと、交流源が与える測定信号の周波数により複数のバンドパスフィルタを選択する選択手段とを備えることができる。   The synchronous detection unit can include a plurality of bandpass filters having different pass frequencies and a selection unit that selects the plurality of bandpass filters according to the frequency of the measurement signal provided by the AC source.

交流源は、試料のインピーダンス測定を行うときは、試料に現れたノイズレベルが低い周波数の測定信号を供給することが好ましい。また、試料は、電池であって、交流源は、定電流源であることができる。   When measuring the impedance of the sample, the AC source preferably supplies a measurement signal having a frequency with a low noise level appearing on the sample. The sample may be a battery, and the AC source may be a constant current source.

本発明の他の側面は、インピーダンス測定方法であって、測定対象の試料に所定周波数の測定信号を供給し、試料に現れる検出信号を測定信号に同期する基準信号で同期検波し、同期検波された信号の直流成分を抽出して試料の交流インピーダンスを測定するインピーダンス測定方法であって、試料に測定信号を供給しない状態で試料に現れる検出信号を直交する位相の第一と第二の基準信号でそれぞれ同期検波を行って、測定信号が供給されない状態で試料に現れるノイズレベルを測定する第一の測定ステップを複数周波数の測定信号で実行し、第一測定ステップで測定した複数周波数の測定信号のうち、ノイズレベルの小さい周波数を選択して試料に測定信号を供給して試料のインピーダンスを測定する第二の測定ステップを実行することを特徴とする。   Another aspect of the present invention is an impedance measurement method, in which a measurement signal having a predetermined frequency is supplied to a sample to be measured, and a detection signal appearing on the sample is synchronously detected with a reference signal synchronized with the measurement signal, and is synchronously detected. The first and second reference signals having a phase orthogonal to the detection signal appearing in the sample in a state in which the measurement signal is not supplied to the sample by extracting the DC component of the measured signal and measuring the AC impedance of the sample The first measurement step for measuring the noise level that appears in the sample in the state where the measurement signal is not supplied is performed with the measurement signal of multiple frequencies, and the measurement signal of the multiple frequencies measured in the first measurement step. The second measurement step of selecting a frequency with a low noise level and supplying a measurement signal to the sample to measure the impedance of the sample is executed. The features.

なお、試料に現れる検出信号を通過させる複数のバンドパスフィルタを備え、第一の測定ステップで、複数のバンドバスフィルタを選択して、複数周波数の測定信号について、ノイズレベルを測定し、第二の測定ステップで、ノイズレベルの少ない周波数のバンドパスフィルタを選択して試料のインピーダンス測定を実行することができる。   In addition, a plurality of bandpass filters that pass detection signals appearing in the sample are provided, and in the first measurement step, a plurality of bandpass filters are selected, a noise level is measured for a measurement signal of a plurality of frequencies, and a second In this measurement step, it is possible to perform impedance measurement of a sample by selecting a band pass filter having a frequency with a low noise level.

測定信号と同一周波数あるいは近い周波数のノイズが混入しても、ノイズ成分を除去することが可能であるため、インピーダンス測定誤差を少なくできる。また、安定した測定をすることができる。   Even if noise having the same frequency as or close to that of the measurement signal is mixed, the noise component can be removed, so that the impedance measurement error can be reduced. In addition, stable measurement can be performed.

本発明の実施形態でノイズの影響の小さい測定周波数を求めているときのインピーダンス測定装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the impedance measurement apparatus when calculating | requiring the measurement frequency with a small influence of noise in embodiment of this invention. 図1の各点に現れる波形を示す図である。It is a figure which shows the waveform which appears in each point of FIG. 本発明の実施形態で、ノイズの影響の小さい測定周波数で試料のインピーダンス測定を行っているときのインピーダンス測定装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the impedance measuring apparatus when measuring the impedance of a sample with the measurement frequency with a small influence of noise in embodiment of this invention. 電池の等価回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the equivalent circuit of a battery. ノイズの影響が大きい周波数で測定した場合と小さい周波数を選択して測定した場合のコールコールプロット図の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the Cole-Cole plot figure at the time of measuring with the frequency when the influence of noise is large, and selecting and measuring a small frequency. 従来の同期検波を用いたインピーダンス測定装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the impedance measuring apparatus using the conventional synchronous detection. 図6における信号波形を示す図である。It is a figure which shows the signal waveform in FIG. ローパスフィルタの周波数特性例を示す図である。It is a figure which shows the frequency characteristic example of a low-pass filter.

以下図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。図1は、本発明の一実施の形態のインピーダンス測定装置の構成を示す図であり、ノイズ成分を測定しているときの接続構成を示している。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of an impedance measuring apparatus according to an embodiment of the present invention, and illustrates a connection configuration when measuring a noise component.

定電流源10はスイッチSW1を介して測定対象の試料(DUT)11に接続される。本実施の形態では、試料11は、電池であり、内部抵抗としてRをもつ。電流検出用抵抗(R)12は、定電流源10、スイッチSW1、試料11の直列回路に挿入されている。スイッチSW2は、定電流源10とスイッチSW1、試料11と電流検出用抵抗12との間に挿入されている。試料11の検出信号は、増幅器15を介して複数のバンドパスフィルタ(BPF)17、17、・・17に入力される。スイッチSW3は、バンドパスフィルタ17〜17のいずれかを選択し、その出力は、同期検波器20、21の双方に入力される。電流検出用抵抗12は、増幅器16に接続され、増幅器16の出力は、同期検波器20に入力されると共に、位相調整器19を介して同期検波器21に入力される。位相調整器19は増幅器16の出力信号の位相が他方の基準信号に対して90°の位相となるように位相調整する。同期検波器20、21の検波出力は、スイッチSW4に入力され、スイッチSW4の出力は、ローパスフィルタ(LPF)22に入力され、ローパスフィルタ22の出力は、アナログデジタル変換器(ADC)23に入力される。 The constant current source 10 is connected to a sample (DUT) 11 to be measured through a switch SW1. In the present embodiment, the sample 11 is a battery and has Rx as an internal resistance. A current detection resistor (R s ) 12 is inserted in a series circuit of the constant current source 10, the switch SW 1, and the sample 11. The switch SW2 is inserted between the constant current source 10 and the switch SW1, and between the sample 11 and the current detection resistor 12. Detection signals of the sample 11, a plurality of band-pass filter via an amplifier 15 (BPF) 17 1, 17 2, are input to the · · 17 n. The switch SW3 selects any one of the bandpass filters 17 1 to 17 n , and the output thereof is input to both the synchronous detectors 20 and 21. The current detection resistor 12 is connected to the amplifier 16, and the output of the amplifier 16 is input to the synchronous detector 20 and also to the synchronous detector 21 via the phase adjuster 19. The phase adjuster 19 adjusts the phase so that the phase of the output signal of the amplifier 16 is 90 ° with respect to the other reference signal. The detection outputs of the synchronous detectors 20 and 21 are input to a switch SW4, the output of the switch SW4 is input to a low-pass filter (LPF) 22, and the output of the low-pass filter 22 is input to an analog-digital converter (ADC) 23. Is done.

次に、本実施の形態によるインピーダンス測定動作を説明する。
本実施の形態では、まず、測定周波数によって、試料に生ずるノイズレベルを測定する第一の測定ステップを実行し、次に測定したノイズレベルによって、ノイズの影響の少ない測定周波数によって試料のインピーダンスを測定する第二の測定ステップを実行する。
Next, the impedance measurement operation according to this embodiment will be described.
In the present embodiment, first, a first measurement step for measuring the noise level generated in the sample is executed by the measurement frequency, and then the impedance of the sample is measured by the measurement frequency having a small influence of noise by the measured noise level. A second measurement step is performed.

まず、ノイズレベルの第一の測定ステップの測定動作を説明する。
スイッチSW1をオフ、スイッチSW2をオンとする。そして、定電流源10から、測定しようとする周波数f(sin(ωt))を任意に指定して測定交流電流を電流検出用抵抗12に印加し、試料11には、測定交流電流を印加しない。電流検出用抵抗12に現れた電圧信号は、増幅器16によって増幅され、その出力信号は、分岐されて一方は、そのまま基準信号として同期検波器20に入力される。分岐された出力の他方の基準信号は、位相調整器19で、一方の基準信号に比べて位相が90°異なる基準信号とされて、もうひとつの同期検波器21に入力される。
測定用交流電流が印加されていない状態の試料に現れる検出信号は、増幅器15で増幅され、通過周波数が異なる複数のバンドパスフィルタ17〜17に入力され、スイッチSW3で定電流源10が入力している測定周波数を通過させるバンドパスフィルタ17の出力が選択されその出力が同期検波器20と21の双方に入力される。同期検波器20、21の出力は、スイッチSW4で順次選択されて、ローパスフィルタ22に入力される。ローパスフィルタ22は、スイッチSW4で順次選択された同期検波器20と21の出力のローパスフィルタ22を通して交流成分を除去してアナログデジタル変換器23に出力する。
First, the measurement operation in the first noise level measurement step will be described.
The switch SW1 is turned off and the switch SW2 is turned on. Then, from the constant current source 10, and designated arbitrarily be measured with frequency f (sin (ω i t) ) is applied to measure alternating current to the current detection resistor 12, the sample 11, the measurement alternating currents Do not apply. The voltage signal appearing in the current detection resistor 12 is amplified by the amplifier 16, and the output signal is branched and one of the signals is directly input to the synchronous detector 20 as a reference signal. The other reference signal of the branched output is converted into a reference signal whose phase is 90 ° different from that of the one reference signal by the phase adjuster 19, and is input to the other synchronous detector 21.
A detection signal that appears in the sample in a state where no alternating current for measurement is applied is amplified by the amplifier 15 and input to a plurality of bandpass filters 17 1 to 17 n having different pass frequencies, and the constant current source 10 is switched by the switch SW3. The output of the bandpass filter 17 i that passes the input measurement frequency is selected and the output is input to both the synchronous detectors 20 and 21. The outputs of the synchronous detectors 20 and 21 are sequentially selected by the switch SW4 and input to the low-pass filter 22. The low-pass filter 22 removes the AC component through the low-pass filter 22 of the outputs of the synchronous detectors 20 and 21 sequentially selected by the switch SW4 and outputs it to the analog-digital converter 23.

ここで、試料11に測定用交流電流が印加されていない状態では、試料11に現れる検出信号は、ノイズ成分であり、この検出信号をバンドパスフィルタ17〜17を通して同期検波することにより、測定周波数ごとのノイズレベルを測定することができる。 Here, in the state where the measurement alternating current is not applied to the sample 11, the detection signal appearing on the sample 11 is a noise component. By synchronously detecting this detection signal through the band-pass filters 17 1 to 17 n , The noise level for each measurement frequency can be measured.

以下、式を用いて試料11の両端に生じているノイズレベルの測定を説明する。
定電流源10で測定周波数を設定して同期検波で参照する基準信号v、vが生成される。vは、位相調整器19によって、vとは位相差として90°(π/2)が与えられている。
=IRsin(ωt)・・・・・(測定交流電流iと同位相 Nは1〜n)
=IRsin(ωt+90°)・(測定交流電流iとの位相差90°)
試料11の両端から検出したvをバンドパスフィルタ17のうち測定周波数sin(ωt)を中心周波数とするバンドパスフィルタ17を通した後の信号をv1’とする。バンドパスフィルタ17〜17では、スイッチSW3で測定周波数に適したバンドパスフィルタを選択して、vを通過させる。
Hereinafter, measurement of noise levels occurring at both ends of the sample 11 will be described using equations.
Reference signals v 2 and v 3 are generated by setting a measurement frequency with the constant current source 10 and referring to the synchronous detection. v 3 is given 90 ° (π / 2) by the phase adjuster 19 as a phase difference from v 2 .
v 2 = IR s sin (ω N t) (same phase as measurement AC current i N is 1 to n)
v 3 = IR s sin (ω N t + 90 °) · (phase difference of 90 ° from measurement AC current i)
The signal after passing through the band pass filter 17 i having the measurement frequency sin (ω N t) as the center frequency in the band pass filter 17 is v 1 ′, which is detected from both ends of the sample 11. In the band pass filters 17 1 to 17 n , a band pass filter suitable for the measurement frequency is selected by the switch SW 3 and v 1 is passed.

ここで、v’は、
’=GBPFcos(ωt+θ+θBPF
BPFは、バンドパスフィルタのゲイン、Vxは、試料(Rx)によって生ずるノイズの電圧、θは、ノイズの位相角、θBPFは、バンドパスフィルタによって生ずる位相角とする。
同期検波器20、21で、v’をv、vで同期検波することにより、
同期検波器20の検波出力v’×v、同期検波器21の検波出力v’×vは、以下のように表される。
’×v=1/2・GBPFIR{cos(ωt+θ+θBPF−ω
)}−cos(ωt+θ+θBPF+ωt)
’×v=1/2・GBPFIR{cos(ωt+θ+θBPF−ω
−90°)}−cos(ωt+θ+θBPF+ωt+90°)
この同期検波されたv’×v、v’×vをローパスフィルタ22に通すことにより、測定周波数成分が除去され、ノイズ成分が残る。アナログデジタル変換された結果は、すべてノイズであり、バンドパスフィルタ、ローパスフィルタで除去できない成分となる。
同期検波されたv’×v、v’×vの二乗和の平方根がノイズレベルとなる。
Where v 1 ′ is
v 1 ′ = G BPF V x cos (ω x t + θ + θ BPF )
G BPF is the gain of the bandpass filter, Vx is the voltage of the noise generated by the sample (Rx), θ is the phase angle of the noise, and θ BPF is the phase angle generated by the bandpass filter.
By synchronously detecting v 1 ′ with v 2 and v 3 with the synchronous detectors 20 and 21,
Detection output v 1v 2, the detection output v 1 of the synchronous detector 21' of the synchronous detector 20 × v 3 is expressed as follows.
v 1 '× v 2 = 1/2 · G BPF v x IR s {cos (ω x t + θ + θ BPF −ω N t
)} - cos (ω x t + θ + θ BPF + ω N t)
v 1 '× v 3 = 1/2 · G BPF v x IR s {cos (ω x t + θ + θ BPF −ω N t
-90 °)} - cos (ω x t + θ + θ BPF + ω N t + 90 °)
By passing the synchronously detected v 1 ′ × v 2 and v 1 ′ × v 3 through the low-pass filter 22, the measurement frequency component is removed and the noise component remains. The result of the analog-digital conversion is all noise and becomes a component that cannot be removed by the band pass filter and the low pass filter.
The square root of the sum of squares of v 1 ′ × v 2 and v 1 ′ × v 3 subjected to synchronous detection is the noise level.

なお、基準信号を直交する位相として同期検波を行うのは、ノイズの位相は不明であって、ひとつの位相のみで検波を行うと、ノイズの位相によりそのレベルが小さくなるからである。同一の検出信号を直交する位相の基準信号により同期検波を行うことにより、正確なノイズレベルを測定することが可能である。   The reason why synchronous detection is performed with the reference signal as orthogonal phases is that the phase of noise is unknown, and if detection is performed with only one phase, the level is reduced by the phase of noise. An accurate noise level can be measured by performing synchronous detection on the same detection signal using a reference signal having an orthogonal phase.

測定周波数を変えてノイズレベルを測定した例を図2に示す。図2の(a)は、測定周波数をf1とした場合であり、ローパスフィルタの出力のうち基準信号vで同期検波した出力をVAD_v1’×v2、基準信号vで同期検波した出力を VAD_v1’×v2とする。
図2(a)は、ノイズの周波数が測定周波数fと等しい場合であり、ローパスフィルタの出力には、直流成分のノイズが出力されている例である。図2(b)は、ノイズの周波数が測定周波数fに近い場合で、ローパスフィルタの出力には、交流成分も現れている。図2(c)は、ノイズの周波数が測定周波数fと相当に離れている場合であり、ローパスフィルタの出力は、ほぼゼロレベルである。
An example in which the noise level is measured by changing the measurement frequency is shown in FIG. Of (a) is 2, a case where the measurement frequency and f1, the reference signal v an output synchronous detection at 2 V AD_v1 '× v2 of the output of the low pass filter, the reference signal v 3 the output synchronous detection V AD — v1 ′ × v2 .
Figure 2 (a) is a case where the frequency of the noise is equal to the measured frequency f 1, the output of the low-pass filter, an example in which the DC component of the noise is output. 2 (b) is, if the frequency of the noise is close to the measurement frequency f 2, the output of the low-pass filter, also appeared AC component. FIG. 2C shows a case where the noise frequency is considerably distant from the measurement frequency f 3, and the output of the low-pass filter is almost zero level.

このように、順次、定電流源10からの測定周波数を変え、対応するバンドパスフィルタ17〜17を切り替えてノイズレベルを測定する。
ここで、バンドパスフィルタの切替については、定電流源10の測定周波数の切替に対応するバンドパスフィルタを切り替えるときに、設定された複数の周波数に対応して順次手動で切り替えることも、順次自動で切り替えることも可能である。
そして、試料11に測定交流電流を与えてインピーダンスを測定するときは、図2の例であると、ノイズレベルの大きいf、fを避け、ノイズレベルの小さい周波数を選択する。
Thus, the noise level is measured by sequentially changing the measurement frequency from the constant current source 10 and switching the corresponding bandpass filters 17 1 to 17 n .
Here, regarding the switching of the band-pass filter, when switching the band-pass filter corresponding to the switching of the measurement frequency of the constant current source 10, the band-pass filter may be manually switched sequentially corresponding to a plurality of set frequencies. It is also possible to switch with.
Then, when measuring the impedance by applying a measurement alternating current to the sample 11, in the example of FIG. 2, a frequency having a low noise level is selected while avoiding f 1 and f 2 having a high noise level.

次に、試料11に測定交流電流を与えて、試料11のインピーダンスを測定する。このときは、ノイズ測定で求めたノイズの影響の小さい測定周波数を選び、図3に示されるように、スイッチSW1をオン、スイッチSW2をオフ、スイッチSW3は、バンドパスフィルタ17〜17のうち、測定周波数を通過させるバンドパスフィルタを選択し、定電流源10から試料11に測定交流電流を供給して、従来方法と同一に試料のインピーダンスを測定する。 Next, a measurement alternating current is applied to the sample 11 to measure the impedance of the sample 11. At this time, a measurement frequency with a small influence of noise obtained by noise measurement is selected, and as shown in FIG. 3, the switch SW1 is turned on, the switch SW2 is turned off, and the switch SW3 is connected to the bandpass filters 17 1 to 17 n . Among them, a bandpass filter that passes the measurement frequency is selected, a measurement alternating current is supplied from the constant current source 10 to the sample 11, and the impedance of the sample is measured in the same manner as in the conventional method.

以上のように、まず、試料11に現れるノイズレベルを測定周波数ごとに測定し、ノイズレベルの小さい、すなわち、ノイズの影響の小さい測定周波数により試料のインピーダンスを測定することが可能となる。   As described above, first, the noise level appearing on the sample 11 is measured for each measurement frequency, and the impedance of the sample can be measured at a measurement frequency with a low noise level, that is, with a small influence of noise.

(本発明による効果)
本発明では、測定対象の試料11にノイズが現れるような場合でも、ノイズレベルが小さく、ノイズの影響が小さい測定周波数によりインピーダンスの測定ができるため、測定誤差を小さくできる。また、ノイズにより測定値にばらつきが生ずることが少なくなるので、出力が安定し、また測定時間を短縮できる。
さらに、UPSのバッテリなど、検出信号にノイズが重畳しているような試料でも、ノイズの影響の小さい周波数を選んで測定することが可能である。
(Effects of the present invention)
In the present invention, even when noise appears in the sample 11 to be measured, the measurement error can be reduced because the impedance can be measured at a measurement frequency with a low noise level and a small influence of noise. In addition, since the measurement value is less likely to vary due to noise, the output is stable and the measurement time can be shortened.
Furthermore, even for a sample such as a UPS battery in which noise is superimposed on a detection signal, it is possible to select and measure a frequency that is less affected by noise.

バッテリなどの電池のインピーダンスを測定し、電池の特性評価を行うコールコールプロット図を求める場合の例を説明する。
図4の等価回路は、電池の等価回路の一例を示す図である。電池の等価回路のモデルのひとつは、インダクタンスL1と抵抗Rsの直列回路と、抵抗R1とキャパシタンスC1の並列回路とが接続された回路で表すことができる。このとき、周波数の低い領域では、抵抗Rsと抵抗R1に流れる電流が大きく、周波数が高くなると、インダクタンスL1の占めるインピーダンス部分が大きく、キャパシタンスC1のインピーダンスが小さくなる。
An example will be described in which the impedance of a battery such as a battery is measured to obtain a Cole-Cole plot diagram for evaluating the characteristics of the battery.
The equivalent circuit of FIG. 4 is a diagram illustrating an example of an equivalent circuit of a battery. One model of an equivalent circuit of a battery can be represented by a circuit in which a series circuit of an inductance L1 and a resistor Rs and a parallel circuit of a resistor R1 and a capacitance C1 are connected. At this time, in the low frequency region, the current flowing through the resistor Rs and the resistor R1 is large. When the frequency is high, the impedance portion occupied by the inductance L1 is large and the impedance of the capacitance C1 is small.

このような等価回路について、インピーダンスの実数部、虚数部からなる平面に周波数による電池のインピーダンスの変化を描いたのが、コールコールプロット図である。
コールコールプロット図は、測定試料に定電流源から与える周波数を走査して、電池のインピーダンスを測定する。このとき、電池の負荷装置で負荷を変更しながらインピーダンスを測定する場合や、UPSの電池を測定する場合、ノイズの影響を受けて、測定するインピーダンス値にばらつくと、図5(a)のようなものとなり、正確なコールコールプロット図が描けない可能性がある。
本発明でノイズの影響の小さい測定周波数を選んで電池のインピーダンスを測定できるので、測定できる周波数の数は少なくなるかもしれないがノイズの影響を小さくできるため、ノイズの影響の小さい測定インピーダンス値を用いることにより、図5(b)のように滑らかなコールコールプロット図を描くことが可能である。
About such an equivalent circuit, the change in the impedance of the battery according to the frequency is drawn on the plane composed of the real part and the imaginary part of the impedance, which is a Cole-Cole plot diagram.
In the Cole-Cole plot diagram, the impedance of the battery is measured by scanning the frequency applied to the measurement sample from the constant current source. At this time, when the impedance is measured while changing the load with the battery load device, or when the UPS battery is measured, if the impedance value to be measured varies due to the influence of noise, as shown in FIG. Therefore, there is a possibility that an accurate Cole-Cole plot diagram cannot be drawn.
In the present invention, since the impedance of the battery can be measured by selecting a measurement frequency with a small noise influence, the number of frequencies that can be measured may be reduced, but the influence of the noise can be reduced. By using it, it is possible to draw a smooth Cole-Cole plot as shown in FIG.

上記の実施の形態は、定電流源11から試料に交流定電流を供給してインピーダンスを測定する例で説明したが、電圧によるインピーダンス測定も可能である。たとえば、電圧源から試料に交流定電圧を供給して同期検波によりインピーダンスを測定するものでもよい。測定対象が電池の場合には、定電流によりインピーダンス測定を行うことが好ましいが、例えば、電気回路に組み込まれてノイズが現れる可能性のあるコンデンサの場合には、定電圧交流によるインピーダンス測定でもよい。   Although the above embodiment has been described with reference to an example in which an AC constant current is supplied from the constant current source 11 to the sample and the impedance is measured, impedance measurement using a voltage is also possible. For example, an AC constant voltage may be supplied from a voltage source to the sample and the impedance may be measured by synchronous detection. When the object to be measured is a battery, it is preferable to perform impedance measurement with a constant current. However, for example, in the case of a capacitor that is incorporated in an electric circuit and may cause noise, impedance measurement with constant voltage AC may be used. .

10 定電流源
11 試料(DUT)
12 電流検出用抵抗(Rs)
15、16 増幅器
17、17〜17 バンドパスフィルタ(BPF)
19 位相調整器
20、21 同期検波器
22 ローパスフィルタ(LPF)
23 アナログデジタル変換器
SW1〜SW4 スイッチ
10 Constant current source
11 Sample (DUT)
12 Resistance for current detection (Rs)
15,16 amplifiers 17, 17 1 to 17 N bandpass filter (BPF)
19 Phase adjuster 20, 21 Synchronous detector 22 Low pass filter (LPF)
23 Analog to digital converter SW1 to SW4 switch

上記の実施の形態は、定電流源11から試料に交流定電流を供給してインピーダンスを測定する例で説明したが、電圧によるインピーダンス測定も可能である。たとえば、電圧源から試料に交流定電圧を供給して同期検波によりインピーダンスを測定するものでもよい。測定対象が電池の場合には、定電流によりインピーダンス測定を行うことが好ましいが、例えば、電気回路に組み込まれてノイズが現れる可能性のあるコンデンサの場合には、交流定電圧によるインピーダンス測定でもよい。 Although the above embodiment has been described with reference to an example in which an AC constant current is supplied from the constant current source 11 to the sample and the impedance is measured, impedance measurement using a voltage is also possible. For example, an AC constant voltage may be supplied from a voltage source to the sample and the impedance may be measured by synchronous detection. When the measurement target is a battery, it is preferable to perform impedance measurement with a constant current. However, for example, in the case of a capacitor that is incorporated in an electric circuit and may cause noise, impedance measurement with an AC constant voltage may be used. .

Claims (6)

測定対象の試料に所定周波数の測定信号を供給する交流源と、
前記測定信号に同期する基準信号を生成する基準信号生成部と、
前記試料に現れる検出信号を前記基準信号で同期検波する同期検波部と、
同期検波された信号を通過させるローパスフィルタと
を備えたインピーダンス測定装置であって、
前記基準信号生成部は、
前記試料に測定信号を供給しない状態で、所定の測定用周波数であって、位相が直交する二つの基準信号を生成する手段を備え、
前記同期検波部は、
測定信号を供給しない状態の試料に現れる検出信号を前記二つの基準信号でそれぞれ同期検波する手段を備えた
ことを特徴とするインピーダンス測定装置。
An AC source that supplies a measurement signal of a predetermined frequency to the sample to be measured;
A reference signal generator for generating a reference signal synchronized with the measurement signal;
A synchronous detector for synchronously detecting a detection signal appearing in the sample with the reference signal;
An impedance measuring device comprising: a low-pass filter that passes a synchronously detected signal;
The reference signal generator is
Means for generating two reference signals having a predetermined measurement frequency and orthogonal in phase without supplying a measurement signal to the sample;
The synchronous detector is
An impedance measuring apparatus comprising: means for synchronously detecting a detection signal appearing on a sample in a state where no measurement signal is supplied, using the two reference signals.
請求項1記載のインピーダンス測定装置であって、
前記同期検波部は、
通過周波数が異なる複数のバンドパスフィルタと、
前記交流源が与える測定信号の周波数により前記複数のバンドパスフィルタを選択する選択手段と
を備えることを特徴とするインピーダンス測定装置。
The impedance measuring device according to claim 1,
The synchronous detector is
A plurality of band pass filters with different pass frequencies;
An impedance measuring apparatus comprising: selection means for selecting the plurality of bandpass filters according to a frequency of a measurement signal provided by the AC source.
請求項1または2記載のインピーダンス測定装置であって、
前記交流源は、前記試料のインピーダンス測定を行うときは、前記試料に現れたノイズレベルが低い周波数の測定信号を供給する
ことを特徴とするインピーダンス測定装置。
The impedance measuring device according to claim 1 or 2,
When the impedance measurement of the sample is performed, the AC source supplies a measurement signal having a frequency with a low noise level appearing on the sample.
請求項1から3のいずれか1項記載のインピーダンス測定装置であって、
前記試料は、電池であって、前記交流源は、定電流源である
ことを特徴とするインピーダンス測定装置。
The impedance measuring device according to any one of claims 1 to 3,
The impedance measurement apparatus, wherein the sample is a battery, and the alternating current source is a constant current source.
測定対象の試料に所定周波数の測定信号を供給し、前記試料に現れる検出信号を前記測定信号に同期する基準信号で同期検波し、同期検波された信号の直流成分を抽出して前記試料の交流インピーダンスを測定するインピーダンス測定方法であって、
前記試料に測定信号を供給しない状態で前記試料に現れる検出信号を直交する位相の第一と第二の基準信号でそれぞれ同期検波を行って、測定信号が供給されない状態で前記試料に現れるノイズレベルを測定する第一の測定ステップを複数周波数の測定信号で実行し、
前記第一測定ステップで測定した複数周波数の測定信号のうち、ノイズレベルの小さい周波数を選択して前記試料に測定信号を供給して前記試料のインピーダンスを測定する第二の測定ステップを実行する
ことを特徴とするインピーダンス測定方法。
A measurement signal having a predetermined frequency is supplied to a sample to be measured, a detection signal appearing on the sample is synchronously detected with a reference signal synchronized with the measurement signal, and a direct current component of the synchronously detected signal is extracted to obtain an alternating current of the sample. An impedance measurement method for measuring impedance,
The detection level that appears in the sample when no measurement signal is supplied to the sample is subjected to synchronous detection with the first and second reference signals having orthogonal phases, and the noise level that appears in the sample when no measurement signal is supplied Performing a first measurement step to measure multiple frequency measurement signals,
Executing a second measurement step of selecting a frequency having a low noise level from the measurement signals of a plurality of frequencies measured in the first measurement step and supplying the measurement signal to the sample to measure the impedance of the sample. Impedance measuring method characterized by this.
請求項5に記載のインピーダンス測定方法であって、
前記試料に現れる検出信号を通過させる複数のバンドパスフィルタを備え、
前記第一の測定ステップで、複数のバンドバスフィルタを選択して、複数周波数の測定信号について、ノイズレベルを測定し、
前記第二の測定ステップで、ノイズレベルの少ない周波数のバンドパスフィルタを選択して前記試料のインピーダンス測定を実行する
ことを特徴とするインピーダンス測定方法。
The impedance measuring method according to claim 5,
A plurality of band-pass filters that pass detection signals appearing on the sample;
In the first measurement step, a plurality of band-pass filters are selected and a noise level is measured for a measurement signal of a plurality of frequencies,
The impedance measurement method characterized in that in the second measurement step, the impedance measurement of the sample is performed by selecting a bandpass filter having a low noise level.
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017083379A (en) * 2015-10-30 2017-05-18 日置電機株式会社 Impedance measuring apparatus and impedance measuring method
JP2017227519A (en) * 2016-06-22 2017-12-28 日置電機株式会社 Impedance measuring device and impedance measuring method
CN109765429A (en) * 2017-11-09 2019-05-17 日置电机株式会社 Impedance measurement system and impedance measurement method
WO2021149774A1 (en) * 2020-01-24 2021-07-29 株式会社デンソー Battery measurement device
JP2021117221A (en) * 2020-01-24 2021-08-10 株式会社デンソー Battery measuring device
WO2022050033A1 (en) * 2020-09-04 2022-03-10 株式会社デンソー Battery management system
JP2022043657A (en) * 2020-09-04 2022-03-16 株式会社デンソー Battery monitoring system
WO2023013713A1 (en) * 2021-08-06 2023-02-09 日置電機株式会社 Electric current cancellation device and impedance measurement device
US11835588B2 (en) * 2019-07-17 2023-12-05 Denso Corporation Battery monitoring system and method and transportation system with battery monitoring system
EP4467996A4 (en) * 2022-01-21 2026-01-21 Hioki Electric Works IMPEDANCE MEASURING DEVICE AND METHOD

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6868347B2 (en) * 2016-05-12 2021-05-12 日置電機株式会社 Impedance measuring device and impedance measuring method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006266960A (en) * 2005-03-25 2006-10-05 Furukawa Battery Co Ltd:The Method and apparatus for measuring internal impedance of storage battery
JP2007132806A (en) * 2005-11-10 2007-05-31 Hioki Ee Corp Impedance measuring device
JP2008175687A (en) * 2007-01-18 2008-07-31 Furukawa Battery Co Ltd:The Method and apparatus for measuring internal impedance of storage battery
JP2014006144A (en) * 2012-06-25 2014-01-16 Hioki Ee Corp Ac resistance measuring device and ac resistance measuring method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006266960A (en) * 2005-03-25 2006-10-05 Furukawa Battery Co Ltd:The Method and apparatus for measuring internal impedance of storage battery
JP2007132806A (en) * 2005-11-10 2007-05-31 Hioki Ee Corp Impedance measuring device
JP2008175687A (en) * 2007-01-18 2008-07-31 Furukawa Battery Co Ltd:The Method and apparatus for measuring internal impedance of storage battery
JP2014006144A (en) * 2012-06-25 2014-01-16 Hioki Ee Corp Ac resistance measuring device and ac resistance measuring method

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017083379A (en) * 2015-10-30 2017-05-18 日置電機株式会社 Impedance measuring apparatus and impedance measuring method
JP2017227519A (en) * 2016-06-22 2017-12-28 日置電機株式会社 Impedance measuring device and impedance measuring method
CN109765429A (en) * 2017-11-09 2019-05-17 日置电机株式会社 Impedance measurement system and impedance measurement method
JP2019086474A (en) * 2017-11-09 2019-06-06 日置電機株式会社 Impedance measurement system and impedance measurement method
CN109765429B (en) * 2017-11-09 2023-02-24 日置电机株式会社 Impedance measuring system and impedance measuring method
US11835588B2 (en) * 2019-07-17 2023-12-05 Denso Corporation Battery monitoring system and method and transportation system with battery monitoring system
WO2021149774A1 (en) * 2020-01-24 2021-07-29 株式会社デンソー Battery measurement device
JP2021117221A (en) * 2020-01-24 2021-08-10 株式会社デンソー Battery measuring device
JP2022043657A (en) * 2020-09-04 2022-03-16 株式会社デンソー Battery monitoring system
JP2022043656A (en) * 2020-09-04 2022-03-16 株式会社デンソー Battery monitoring system
JP7347379B2 (en) 2020-09-04 2023-09-20 株式会社デンソー battery monitoring system
WO2022050033A1 (en) * 2020-09-04 2022-03-10 株式会社デンソー Battery management system
JP7443997B2 (en) 2020-09-04 2024-03-06 株式会社デンソー battery monitoring system
US12270862B2 (en) 2020-09-04 2025-04-08 Denso Corporation Battery monitor system
WO2023013713A1 (en) * 2021-08-06 2023-02-09 日置電機株式会社 Electric current cancellation device and impedance measurement device
JP2023023772A (en) * 2021-08-06 2023-02-16 日置電機株式会社 Current cancellation device and impedance measurement device
EP4467996A4 (en) * 2022-01-21 2026-01-21 Hioki Electric Works IMPEDANCE MEASURING DEVICE AND METHOD

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