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JP2017040783A - Display device and electronic device - Google Patents

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JP2017040783A
JP2017040783A JP2015162512A JP2015162512A JP2017040783A JP 2017040783 A JP2017040783 A JP 2017040783A JP 2015162512 A JP2015162512 A JP 2015162512A JP 2015162512 A JP2015162512 A JP 2015162512A JP 2017040783 A JP2017040783 A JP 2017040783A
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Japan
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light
display
organic
substrate
display area
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JP2015162512A
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Japanese (ja)
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幸也 白鳥
Yukiya Shiratori
幸也 白鳥
健 腰原
Takeshi Koshihara
健 腰原
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

【課題】光共振構造を有する有機EL装置の反射層の光の反射によって、不必要な表示がなされることを抑制する表示装置を提供する。【解決手段】有機EL素子30が配置された表示領域E1を有する素子基板10と、対向基板40と、反射防止層44とを含み、有機EL素子30で発せられた光が表示光として対向基板40の面40aから射出される表示装置であって、表示領域E1の形状の外周をなす辺のうち最も短い辺の長さをX1とし、表示領域E1の形状の対角線のうち最も長い対角線の長さをX3とし、対向基板40の厚さをL1とし、有機EL素子30で発せられた光の進行方向と面40aの法線方向とがなす角度であって、面40aにおける光反射率Rが50%を超える最小の角度をα1としたときに、X1/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)の関係が成り立つ。【選択図】図14Kind Code: A1 A display device is provided that suppresses unnecessary display caused by reflection of light from a reflective layer of an organic EL device having an optical resonance structure. An element substrate (10) having a display area (E1) on which an organic EL element (30) is arranged, a counter substrate (40), and an antireflection layer (44) are included, and light emitted from the organic EL element (30) serves as display light. 40, the length of the shortest side of the sides forming the periphery of the shape of the display area E1 is X1, and the length of the longest diagonal of the diagonals of the shape of the display area E1. Let X3 be the thickness of the opposing substrate 40, L1 be the thickness of the opposing substrate 40, and the angle between the traveling direction of the light emitted from the organic EL element 30 and the normal direction of the surface 40a, and the light reflectance R at the surface 40a is When the minimum angle exceeding 50% is α1, the relationship X1/(2 tan α1)≤L1≤X3/(tan α1) holds. [Selection drawing] Fig. 14

Description

本発明は、自発光型の表示装置、及び当該表示装置を備えた電子機器に関する。   The present invention relates to a self-luminous display device and an electronic apparatus including the display device.

表示装置の一例として、例えばトランジスターや有機エレクトロルミネッセンス(以下では、有機ELと称する)素子を有する画素がマトリックス状に配置された有機EL装置が提案されている(特許文献1)。   As an example of a display device, for example, an organic EL device in which pixels having transistors and organic electroluminescence (hereinafter referred to as organic EL) elements are arranged in a matrix has been proposed (Patent Document 1).

特許文献1に記載の有機EL装置では、トランジスターが形成された基板(素子基板)の上に、反射層、反射層保護層(絶縁膜)、有機EL素子、保護層、カラーフィルター、透光性の対向基板などが順に積層されている。有機EL素子は、絶縁膜の側から順に積層された画素電極と発光機能層と陰極とで構成されている。当該有機EL装置は、反射層と陰極との間に光共振構造を有し、反射光の多重反射干渉によって色純度が高められた光(赤色の光、緑色の光、青色の光)が、カラーフィルターを通過し、対向基板の側から表示光として射出される。その結果、色純度に優れたカラー表示が提供される。   In the organic EL device described in Patent Document 1, a reflective layer, a reflective layer protective layer (insulating film), an organic EL element, a protective layer, a color filter, and a light-transmitting property are formed on a substrate (element substrate) on which a transistor is formed. The counter substrates are sequentially stacked. The organic EL element is composed of a pixel electrode, a light emitting functional layer, and a cathode, which are sequentially stacked from the insulating film side. The organic EL device has an optical resonance structure between the reflective layer and the cathode, and light (red light, green light, blue light) whose color purity is enhanced by multiple reflection interference of the reflected light, The light passes through the color filter and is emitted as display light from the counter substrate side. As a result, a color display excellent in color purity is provided.

特開2012−38677号公報JP 2012-38677 A

上記特許文献1に記載の有機EL装置では、光共振構造によって有機EL素子で発せられた光から赤色の光、緑色の光、及び青色の光を取り出しているので、カラーフィルターを省略してもカラー表示を得ることができ、カラーフィルターを省略することによって表示の輝度を高めることができる。   In the organic EL device described in Patent Document 1, red light, green light, and blue light are extracted from the light emitted from the organic EL element by the optical resonance structure. A color display can be obtained, and the luminance of the display can be increased by omitting the color filter.

しかしながら、特許文献1に記載の有機EL装置からカラーフィルターを省略した場合には、有機EL素子で発せられた光の一部が対向基板と素子基板の反射層との間で反射され、表示品位が低下するおそれがあるという課題があった。   However, when the color filter is omitted from the organic EL device described in Patent Document 1, a part of the light emitted by the organic EL element is reflected between the counter substrate and the reflective layer of the element substrate, and the display quality is improved. There has been a problem that there is a risk of lowering.

以下に、図19、図20A、及び図20Bを参照して、その詳細を説明する。図19は、公知技術の有機EL装置の一例を示す概略図である。図20A及び図20Bは、図19のC−C’線に沿った模式的な断面図である。図20Aでは、有機EL素子で発せられた光の状態が、模式的に示されている。図20Bでは、図19の表示に対応する光の状態が、模式的に示されている。   Details will be described below with reference to FIGS. 19, 20A, and 20B. FIG. 19 is a schematic diagram illustrating an example of a known organic EL device. 20A and 20B are schematic cross-sectional views along the line C-C ′ in FIG. 19. In FIG. 20A, the state of the light emitted by the organic EL element is schematically shown. In FIG. 20B, the state of light corresponding to the display of FIG. 19 is schematically shown.

有機EL装置500は、特許文献1に記載の有機EL装置からカラーフィルター層を省略した構成を有している。図19に示すように、有機EL装置500は、素子基板510と、素子基板510に対向配置された対向基板530とを有している。対向基板530は、例えばガラスで構成され、透光性を有している。対向基板530の屈折率n1は、1.46である。 The organic EL device 500 has a configuration in which the color filter layer is omitted from the organic EL device described in Patent Document 1. As shown in FIG. 19, the organic EL device 500 includes an element substrate 510 and a counter substrate 530 disposed to face the element substrate 510. The counter substrate 530 is made of, for example, glass and has translucency. The counter substrate 530 has a refractive index n 1 of 1.46.

有機EL装置500では、複数の画素が配置された表示領域Vを有し、表示領域V内の領域Z1にパターン551を表示させると、領域Z1から離れた領域Z2にパターン552が表示され、さらに領域Z2から離れた領域Z3にパターン553が表示される場合があった。ここで、パターン551は本来表示されるべき必要な表示であり、パターン552及びパターン553は本来表示されるべきでない不必要な表示である。 The organic EL device 500 has a display area V in which a plurality of pixels are arranged. When the pattern 551 is displayed in the area Z 1 in the display area V, the pattern 552 is displayed in the area Z 2 away from the area Z 1. In addition, the pattern 553 may be displayed in a region Z 3 further away from the region Z 2 . Here, the pattern 551 is a necessary display that should be displayed originally, and the patterns 552 and 553 are unnecessary displays that should not be displayed originally.

なお、以下では、素子基板510の長辺に沿った方向をX方向とし、X方向と交差し素子基板510の短辺に沿った方向をY方向とし、X方向及びY方向と交差し基板510から対向基板530に向かう方向をZ方向とする。   In the following, the direction along the long side of the element substrate 510 is defined as the X direction, the direction intersecting the X direction and the direction along the short side of the element substrate 510 is defined as the Y direction, and intersects the X direction and the Y direction. A direction from the substrate toward the counter substrate 530 is taken as a Z direction.

まず、図20Aを参照して、有機EL装置500の構造、及び有機EL装置500の中で発せられた光の状態を説明する。図20Aに示すように、有機EL装置500では、素子基板510と、樹脂層520と、対向基板530とがZ方向に順に配置されている。樹脂層520は、例えばエポキシ樹脂で構成されている。素子基板510と対向基板530とは、樹脂層520により接着されている。対向基板530の素子基板510に対向する面と反対側の面530aには、大気601が配置されている。大気601の屈折率n2は、概略1である。 First, the structure of the organic EL device 500 and the state of light emitted in the organic EL device 500 will be described with reference to FIG. 20A. As shown in FIG. 20A, in the organic EL device 500, an element substrate 510, a resin layer 520, and a counter substrate 530 are sequentially arranged in the Z direction. The resin layer 520 is made of, for example, an epoxy resin. The element substrate 510 and the counter substrate 530 are bonded by a resin layer 520. An atmosphere 601 is disposed on a surface 530 a of the counter substrate 530 opposite to the surface facing the element substrate 510. The refractive index n 2 of the atmosphere 601 is approximately 1.

素子基板510は、基板511と、基板511上においてZ方向に順に配置された、反射層512と、反射層保護層(絶縁膜)512aと、有機EL素子513と、保護膜514と、を有している。基板511には、有機EL素子513を駆動するためのトランジスター(図示省略)や駆動回路(図示省略)などが形成されている。   The element substrate 510 includes a substrate 511, a reflective layer 512, a reflective layer protective layer (insulating film) 512a, an organic EL element 513, and a protective film 514, which are arranged in this order on the substrate 511. doing. On the substrate 511, a transistor (not shown) for driving the organic EL element 513, a drive circuit (not shown), and the like are formed.

保護膜514は、有機EL素子513の劣化を抑制するパッシベーション膜であり、透光性を有している。反射層512と絶縁膜512aと有機EL素子513とによって光共振構造が形成されている。有機EL素子513の発光層で発し、光共振構造における反射光の多重反射干渉によって色純度が高められた赤色の光、緑色の光、及び青色の光が、表示光としてZ方向に射出される。   The protective film 514 is a passivation film that suppresses the deterioration of the organic EL element 513, and has translucency. The reflective layer 512, the insulating film 512a, and the organic EL element 513 form an optical resonance structure. Red light, green light, and blue light emitted from the light emitting layer of the organic EL element 513 and improved in color purity by multiple reflection interference of reflected light in the optical resonant structure are emitted in the Z direction as display light. .

有機EL素子513の発光層で発せられ、光共振構造によって色純度が高められた光LB1は、対向基板530の面530aに入射する。光LB1の一部は、対向基板530と大気601との界面(面530a)で屈折し、光LB2として大気601の側に射出される。光LB1の一部は、面530aで反射され、光LB3として反射層512の側に進行する。以下では、光LB1を入射光LB1と称し、光LB2を屈折光LB2と称し、光LB3を反射光LB3と称する。 The light LB 1 emitted from the light emitting layer of the organic EL element 513 and having the color purity improved by the optical resonance structure is incident on the surface 530 a of the counter substrate 530. A part of the light LB 1 is refracted at the interface (surface 530a) between the counter substrate 530 and the atmosphere 601 and is emitted as the light LB 2 to the atmosphere 601 side. A part of the light LB 1 is reflected by the surface 530a and proceeds to the reflective layer 512 as the light LB 3 . In the following, referred to the light LB 1 and incident light LB 1 refers to the light LB 2 and refracted light LB 2, referred to as light LB 3 and the reflected light LB 3.

入射光LB1と面530aの法線(Z方向)とがなす角度をθ1とし、屈折光LB2の進行方向とZ方向とがなす角度をθ2とすると、スネルの法則によって以下に示す式(1)が成り立つ。
1sinθ1=n2sinθ2…(1)
Assuming that the angle formed between the incident light LB 1 and the normal line (Z direction) of the surface 530a is θ 1, and the angle formed between the traveling direction of the refracted light LB 2 and the Z direction is θ 2 , the following is shown by Snell's law: Equation (1) holds.
n 1 sin θ 1 = n 2 sin θ 2 (1)

式(1)より、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1は、以下に示す式(2)で表される。
θ1=sin-1((n2sinθ2)/n1)…(2)
From the equation (1), the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is expressed by the following equation (2).
θ 1 = sin −1 ((n 2 sin θ 2 ) / n 1 ) (2)

屈折光LB2の進行方向とZ方向とがなす角度θ2が90度よりも大きい条件は、入射光LB1が大気601の側に進行しない条件、つまり入射光LB1が面530aで全反射される条件に該当する。よって、角度θ2が90度である場合の角度θ1は、面530aで入射光LB1の全反射が生じる臨界角となる。この臨界角をα2とする。 The condition that the angle θ 2 formed by the traveling direction of the refracted light LB 2 and the Z direction is larger than 90 degrees is that the incident light LB 1 does not travel to the atmosphere 601 side, that is, the incident light LB 1 is totally reflected by the surface 530a. It corresponds to the conditions. Therefore, the angle θ 1 when the angle θ 2 is 90 degrees is a critical angle at which the total reflection of the incident light LB 1 occurs at the surface 530a. Let this critical angle be α 2 .

入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が、臨界角α2よりも小さい場合、入射光LB1は、面530aで屈折光LB2と反射光LB3とに分かれる。入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が、臨界角α2以上である場合、入射光LB1は面530aで全反射され反射光LB3となる。このため、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が、臨界角α2以上である場合に、反射光LB3の輝度が最も高くなる。 When the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is smaller than the critical angle α 2 , the incident light LB 1 is divided into the refracted light LB 2 and the reflected light LB 3 on the surface 530a. When the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is equal to or greater than the critical angle α 2 , the incident light LB 1 is totally reflected by the surface 530a and becomes reflected light LB 3 . For this reason, when the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is equal to or greater than the critical angle α 2 , the luminance of the reflected light LB 3 is the highest.

一方、上述した光共振構造によって増幅される光の波長は、光共振構造の中を通過する光の方向によって変化する。詳しくは、光共振構造の中を斜め方向(Z方向と交差する方向)に通過する光は、光共振構造の中をZ方向に通過する光と比べて、短波長側の光の強度が高められる。このため、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が大きくなると、強められる光の波長が短波長側に変化する。例えば、Z方向となす角度θ1が0度の条件で青色の波長域の光の強度が高められる場合に、Z方向となす角度θ1が0度よりも大きい条件では、青色の波長域よりも短波長側の光、つまり人間の目で視認することが難しい波長域の光の強度が高められることになる。 On the other hand, the wavelength of light amplified by the above-described optical resonant structure varies depending on the direction of light passing through the optical resonant structure. Specifically, light passing through the optical resonance structure in an oblique direction (direction intersecting the Z direction) has a higher intensity of light on the short wavelength side than light passing through the optical resonance structure in the Z direction. It is done. For this reason, when the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is increased, the wavelength of the enhanced light is changed to the short wavelength side. For example, when the intensity of light in the blue wavelength range is increased under the condition that the angle θ 1 with respect to the Z direction is 0 degree, the condition is greater than the blue wavelength range under the condition that the angle θ 1 with respect to the Z direction is greater than 0 degree. However, the intensity of light on the short wavelength side, that is, light in a wavelength region that is difficult to be visually recognized by the human eye, is increased.

すなわち、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が臨界角α2以上である場合、光共振構造によって強められる入射光LB1の波長は、短波長側に変化し、人間の目で視認しにくくなる。よって、Z方向となす角度が臨界角α2と等しい条件の入射光LB1は、Z方向となす角度が臨界角α2よりも大きい条件の入射光LB1よりも、人間の目で視認しやすく、目立ちやすい。従って、Z方向となす角度が臨界角α2と等しい条件の入射光LB1が、上述したパターン552及びパターン553の表示に最も影響しやすい。 That is, when the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is equal to or greater than the critical angle α 2 , the wavelength of the incident light LB 1 strengthened by the optical resonance structure changes to the short wavelength side, It becomes difficult to see with the eyes. Thus, the angle the incident light LB 1 condition equal to the critical angle alpha 2 which forms the Z-direction, the angle formed by the Z direction than the incident light LB 1 larger conditions than the critical angle alpha 2, visible to the human eye Easy to stand out. Accordingly, the incident light LB 1 under the condition that the angle formed with the Z direction is equal to the critical angle α 2 is most likely to affect the display of the patterns 552 and 553 described above.

次に、図20Bを参照し、必要なパターン551を表示すると、パターン552及びパターン553が表示される原因を説明する。また、同図では、Z方向に射出される光M1,M2,M3を、表示光として視認するものとする。 Next, the reason why the pattern 552 and the pattern 553 are displayed when the necessary pattern 551 is displayed will be described with reference to FIG. 20B. In the figure, light M 1 , M 2 , M 3 emitted in the Z direction is visually recognized as display light.

図20Bに示すように、領域Z1において有機EL素子513からZ方向の光M1が射出され、必要なパターン551が表示される。領域Z1において、有機EL素子513からは、Z方向の光M1以外に、Z方向と交差する方向の光も射出される。Z方向と交差する方向に射出される光の中で、Z方向となす角度が臨界角α2である入射光LB1は、面530aで全反射され、反射光LB3として反射層512の側に向かう。 As shown in FIG. 20B, light M 1 in the Z direction is emitted from the organic EL element 513 in the region Z 1 , and a necessary pattern 551 is displayed. In the region Z 1 , light in a direction intersecting the Z direction is emitted from the organic EL element 513 in addition to the light M 1 in the Z direction. Of the light emitted in the direction intersecting with the Z direction, the incident light LB 1 whose angle to the Z direction is the critical angle α 2 is totally reflected by the surface 530a, and is reflected by the reflection layer 512 as reflected light LB 3. Head for.

反射光LB3は、反射層512の側に進行し、領域Z2において反射層512で反射される。トランジスターや駆動回路などが形成された基板511の上に形成された反射層512は、様々な凹凸を有しており、反射光LB3は様々な方向に反射される。領域Z2において反射層512で反射された光のうち、Z方向の光M2によって、不必要なパターン552が表示される。 The reflected light LB 3 travels toward the reflective layer 512 and is reflected by the reflective layer 512 in the region Z 2 . The reflective layer 512 formed on the substrate 511 on which a transistor, a driver circuit, and the like are formed has various irregularities, and the reflected light LB 3 is reflected in various directions. Of the light reflected by the reflective layer 512 in the region Z 2 , an unnecessary pattern 552 is displayed by the light M 2 in the Z direction.

さらに、領域Z2において反射層512で反射された光のうち、Z方向となす角度が臨界角α2付近の入射光LB1aは、面530aの側に進行し、面530aで全反射され、反射光LB3aとして反射層513の側に進行する。反射光LB3aは、領域Z3において反射層512で反射される。領域Z3において反射層512で反射された光のうち、Z方向に向かう光M3によって、不必要なパターン553が表示される。 Further, of the light reflected by the reflective layer 512 in the region Z 2 , the incident light LB 1 a whose angle formed with the Z direction is near the critical angle α 2 travels toward the surface 530 a and is totally reflected by the surface 530 a. , The reflected light LB 3 a travels toward the reflective layer 513. The reflected light LB 3 a is reflected by the reflective layer 512 in the region Z 3 . Of the light reflected by the reflective layer 512 in the region Z 3 , an unnecessary pattern 553 is displayed by the light M 3 traveling in the Z direction.

さらに、反射層512で反射される光の指向性(反射層512の反射性能)によって、パターン552及びパターン553の表示状態が変化する。例えば、反射層512でX方向に反射される場合、パターン552及びパターン553は、図19に示すようにX方向に配列して表示される。例えば、反射層512でY方向に反射される場合、パターン552及びパターン553は、Y方向に配列して表示される。例えば、反射層512でX方向及びY方向に交差する方向(斜め方向)に反射される場合、パターン552及びパターン553は、斜め方向に配列して表示される。例えば、反射層512でX方向に広がって反射される場合、パターン552及びパターン553は、図19に示す状態と比べてより広範囲に表示される。   Furthermore, the display states of the pattern 552 and the pattern 553 change depending on the directivity of light reflected by the reflective layer 512 (the reflective performance of the reflective layer 512). For example, when the reflection layer 512 reflects in the X direction, the pattern 552 and the pattern 553 are arranged and displayed in the X direction as shown in FIG. For example, when the light is reflected in the Y direction by the reflective layer 512, the patterns 552 and 553 are arranged and displayed in the Y direction. For example, when the reflective layer 512 is reflected in a direction (diagonal direction) intersecting the X direction and the Y direction, the pattern 552 and the pattern 553 are displayed in an oblique direction. For example, in the case where the reflection layer 512 reflects the light spread in the X direction, the pattern 552 and the pattern 553 are displayed in a wider range than the state shown in FIG.

例えば、反射層512が平滑であり、反射層512でZ方向に反射されない場合、パターン552及びパターン553は表示されない。例えば、反射層512で全方向に均一に反射される場合、Z方向に反射される光の強度が弱くなり、パターン552及びパターン553は目立ちにくくなる。   For example, when the reflective layer 512 is smooth and is not reflected in the Z direction by the reflective layer 512, the pattern 552 and the pattern 553 are not displayed. For example, when the light is reflected uniformly in all directions by the reflective layer 512, the intensity of light reflected in the Z direction becomes weak, and the patterns 552 and 553 are less noticeable.

反射層512は、トランジスターや駆動回路などが形成された基板511の上、すなわち様々な凹凸を有する基板511の上に形成されているため、反射層512の反射性能(反射層512の表面凹凸)を制御することが難しい。従って、有機EL装置500では、反射層512における特定方向の(Z方向の)光の反射によって、必要なパターン551を表示すると、パターン552及びパターン553が表示されるおそれがあるという課題があった。   Since the reflective layer 512 is formed on the substrate 511 on which transistors, driving circuits, and the like are formed, that is, on the substrate 511 having various irregularities, the reflective performance of the reflective layer 512 (surface irregularities of the reflective layer 512). Difficult to control. Therefore, in the organic EL device 500, there is a problem that when the necessary pattern 551 is displayed by the reflection of light in the specific direction (Z direction) on the reflective layer 512, the pattern 552 and the pattern 553 may be displayed. .

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例に係る表示装置は、複数の発光素子が配置された多角形の表示領域を有する素子基板と、前記素子基板に対向し、前記素子基板に対向する第1の面と反対側に配置された第2の面と、前記第1の面及び前記第2の面に交差する側面とを有する透光性の基板と、前記透光性の基板の前記第2の面上に配置された反射防止層と、を含み、前記発光素子で発せられた光が前記第2の面から表示光として射出される表示装置であって、前記表示領域の形状の外周をなす辺のうち、最も短い辺の長さをX1とし、前記表示領域の形状の対角線のうち、最も長い対角線の長さをX3とし、前記透光性の基板の厚さをL1とし、前記発光素子で発せられた光の進行方向と前記第2の面の法線方向とがなす角度であって、前記光の前記第2の面における光反射率が50%を超える最小の角度をα1としたときに、以下に示す式(1)が成り立つことを特徴とする。
1/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)…(1)
Application Example 1 A display device according to this application example includes an element substrate having a polygonal display area in which a plurality of light emitting elements are arranged, and a first surface facing the element substrate and facing the element substrate. A translucent substrate having a second surface disposed on the opposite side to the first surface, a side surface intersecting the first surface and the second surface, and the second surface of the translucent substrate An antireflection layer disposed on the display device, wherein the light emitted from the light emitting element is emitted as display light from the second surface, and forms a periphery of the shape of the display region of, the length of the shortest side and X 1, of the diagonals of the shape of the display area, the longest diagonal line length and X 3, the thickness of the translucent substrate and L 1, the An angle formed between a traveling direction of light emitted from the light emitting element and a normal direction of the second surface, and the second direction of the light. The smallest angle at which the light reflectivity at the surface is greater than 50% when the alpha 1, given by the following Expression (1), characterized in that the hold.
X 1 / (2 tan α 1 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 1 ) (1)

発光素子で発せられた光のうち、透光性の基板の第2の面から射出される表示光以外に、第2の面で素子基板側へ反射された光が、素子基板の表示領域内で再び反射されて透光性の基板から射出されると、表示品位が低下するおそれがある。本適用例の構成によれば、透光性の基板の第2の面上に反射防止層が配置されているため、発光素子で発せられた光のうち第2の面で素子基板側へ反射される光が低減されるので、表示領域内で反射される光が抑えられる。また、透光性の基板の厚さL1が上述した式(1)を満たすため、透光性の基板の第2の面における光反射率が50%を超える場合に、第2の面で素子基板側へ反射された光は、表示領域の周辺(非表示領域)に入射するので素子基板の非表示領域で反射される。そのため、透光性の基板から射出される表示光以外の不必要な光が抑えられるので、表示品位の低下を抑制できる。従って、本適用例に係る表示装置では、高品位の表示を提供することができる。 Of the light emitted from the light emitting element, in addition to the display light emitted from the second surface of the translucent substrate, the light reflected to the element substrate side by the second surface is within the display region of the element substrate. If the light is reflected again and emitted from the translucent substrate, the display quality may be deteriorated. According to the configuration of this application example, since the antireflection layer is disposed on the second surface of the translucent substrate, the light emitted from the light emitting element is reflected toward the element substrate by the second surface. The amount of reflected light is reduced, so that the light reflected in the display area is suppressed. In addition, since the thickness L 1 of the light-transmitting substrate satisfies the above-described formula (1), when the light reflectance on the second surface of the light-transmitting substrate exceeds 50%, Since the light reflected toward the element substrate is incident on the periphery (non-display area) of the display area, it is reflected by the non-display area of the element substrate. For this reason, unnecessary light other than display light emitted from the light-transmitting substrate can be suppressed, so that deterioration in display quality can be suppressed. Therefore, the display device according to this application example can provide a high-quality display.

[適用例2]本適用例に係る表示装置は、複数の発光素子が配置された円形または楕円形の表示領域を有する素子基板と、前記素子基板に対向し、前記素子基板に対向する第1の面と反対側に配置された第2の面と、前記第1の面及び前記第2の面に交差する側面とを有する透光性の基板と、前記透光性の基板の前記第2の面上に配置された反射防止層と、を含み、前記発光素子で発せられた光が前記第2の面から表示光として射出される表示装置であって、前記表示領域の中心を通り前記表示領域の外周を結ぶ線のうち、最も短い線の長さをX1とし、前記表示領域の中心を通り前記表示領域の外周を結ぶ線のうち、最も長い線の長さをX3とし、前記透光性の基板の厚さをL1とし、前記発光素子で発せられた光の進行方向と前記第2の面の法線方向とがなす角度であって、前記光の前記第2の面における光反射率が50%を超える最小の角度をα1としたときに、以下に示す式(1)が成り立つことを特徴とする。
1/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)…(1)
Application Example 2 A display device according to this application example includes an element substrate having a circular or elliptical display region in which a plurality of light emitting elements are arranged, a first element facing the element substrate and facing the element substrate. A translucent substrate having a second surface disposed opposite to the first surface, a first surface and a side surface intersecting the second surface, and the second surface of the translucent substrate. An antireflection layer disposed on the surface of the display device, wherein the light emitted from the light emitting element is emitted as display light from the second surface, and passes through the center of the display region. of the line connecting the outer periphery of the display area, the length of the shortest line and X 1, of the line connecting the outer periphery of the center of the street the display area of the display area, the length of the longest line and X 3, the thickness of the light-transmitting substrate and L 1, the second surface and the traveling direction of the light emitted from the light emitting element An angle formed between the normal direction, the minimum angle at which the light reflectance in the second surface of the light is more than 50% when the alpha 1, that holds an expression (1) shown below Features.
X 1 / (2 tan α 1 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 1 ) (1)

発光素子で発せられた光のうち、透光性の基板の第2の面から射出される表示光以外に、第2の面で素子基板側へ反射された光が、素子基板の表示領域内で再び反射されて透光性の基板から射出されると、表示品位が低下するおそれがある。本適用例の構成によれば、透光性の基板の第2の面上に反射防止層が配置されているため、発光素子で発せられた光のうち第2の面で素子基板側へ反射される光が低減されるので、表示領域内で反射される光が抑えられる。また、透光性の基板の厚さL1が上述した式(1)を満たすため、透光性の基板の第2の面における光反射率が50%を超える場合に、第2の面で素子基板側へ反射された光は、表示領域の周辺(非表示領域)に入射するので素子基板の非表示領域で反射される。そのため、透光性の基板から射出される表示光以外の不必要な光が抑えられるので、表示品位の低下を抑制できる。従って、本適用例に係る表示装置では、高品位の表示を提供することができる。 Of the light emitted from the light emitting element, in addition to the display light emitted from the second surface of the translucent substrate, the light reflected to the element substrate side by the second surface is within the display region of the element substrate. If the light is reflected again and emitted from the translucent substrate, the display quality may be deteriorated. According to the configuration of this application example, since the antireflection layer is disposed on the second surface of the translucent substrate, the light emitted from the light emitting element is reflected toward the element substrate by the second surface. The amount of reflected light is reduced, so that the light reflected in the display area is suppressed. In addition, since the thickness L 1 of the light-transmitting substrate satisfies the above-described formula (1), when the light reflectance on the second surface of the light-transmitting substrate exceeds 50%, Since the light reflected toward the element substrate is incident on the periphery (non-display area) of the display area, it is reflected by the non-display area of the element substrate. For this reason, unnecessary light other than display light emitted from the light-transmitting substrate can be suppressed, so that deterioration in display quality can be suppressed. Therefore, the display device according to this application example can provide a high-quality display.

[適用例3]上記適用例に係る表示装置であって、前記反射防止層は、誘電体多層膜からなることが好ましい。   Application Example 3 In the display device according to the application example, it is preferable that the antireflection layer is formed of a dielectric multilayer film.

本適用例の構成によれば、反射防止層が誘電体多層膜からなるので、透光性の基板の第2の面で反射される光を効果的に低減できる。   According to the configuration of this application example, since the antireflection layer is formed of the dielectric multilayer film, the light reflected by the second surface of the translucent substrate can be effectively reduced.

[適用例4]上記適用例に係る表示装置であって、前記反射防止層は、モスアイ構造からなることが好ましい。   Application Example 4 In the display device according to the application example, it is preferable that the antireflection layer has a moth-eye structure.

本適用例の構成によれば、反射防止層がモスアイ構造からなるので、透光性の基板の第2の面で反射される光を効果的に低減できる。   According to the configuration of this application example, since the antireflection layer has a moth-eye structure, the light reflected by the second surface of the translucent substrate can be effectively reduced.

[適用例5]上記適用例に係る表示装置であって、前記第2の面の法線方向における光反射率が2%以下であることが好ましい。   Application Example 5 In the display device according to the application example described above, it is preferable that the light reflectance in the normal direction of the second surface is 2% or less.

本適用例の構成によれば、第2の面の法線方向における光反射率が2%以下であるので、発光素子で発せられた光のうち、その進行方向と第2の面の法線方向とがなす角度が小さい光であって、表示光以外の不必要な光となる反射光を効果的に抑えることができる。   According to the configuration of this application example, since the light reflectance in the normal direction of the second surface is 2% or less, the traveling direction of the light emitted from the light emitting element and the normal of the second surface Reflected light which is light with a small angle between the directions and becomes unnecessary light other than display light can be effectively suppressed.

[適用例6]上記適用例に係る表示装置であって、前記第2の面の法線方向における光透過率が90%以上であることが好ましい。   Application Example 6 In the display device according to the application example described above, it is preferable that the light transmittance in the normal direction of the second surface is 90% or more.

本適用例の構成によれば、第2の面の法線方向における光透過率が90%以上であるので、発光素子で発せられた光のうち、表示光となる第2の面の法線方向に沿って射出される光の輝度の低下を抑えることができる。   According to the configuration of this application example, since the light transmittance in the normal direction of the second surface is 90% or more, out of the light emitted from the light emitting element, the normal of the second surface that becomes display light It is possible to suppress a decrease in luminance of light emitted along the direction.

[適用例7]上記適用例に係る表示装置であって、前記透光性の基板の屈折率は、1.2から1.6の範囲にあることが好ましい。   Application Example 7 In the display device according to the application example described above, it is preferable that a refractive index of the translucent substrate is in a range of 1.2 to 1.6.

本適用例の構成によれば、透光性の基板の屈折率が1.2から1.6の範囲にあるので、発光素子で発せられた光を表示光として媒質の側に通過(射出)させることができ、素子基板に形成された発光素子が傷つかないように発光素子を保護することができる。   According to the configuration of this application example, since the refractive index of the translucent substrate is in the range of 1.2 to 1.6, the light emitted from the light emitting element is passed (emitted) to the medium side as display light. The light emitting element can be protected so that the light emitting element formed on the element substrate is not damaged.

[適用例8]上記適用例に係る表示装置であって、前記透光性の基板の前記第2の面に接する媒質は、大気であることが好ましい。   Application Example 8 In the display device according to the application example described above, it is preferable that the medium in contact with the second surface of the translucent substrate is the atmosphere.

本適用例の構成によれば、発光素子で発せられた光を表示光として大気の側に射出させることによって、当該表示光による画像を視認することができる。   According to the configuration of this application example, by emitting the light emitted from the light emitting element as display light to the atmosphere side, an image by the display light can be visually recognized.

[適用例9]上記適用例に係る表示装置であって、前記X3は、25.4mm以下であることが好ましい。 Application Example 9 In the display device according to the application example described above, it is preferable that the X 3 is 25.4 mm or less.

上述した式(1)より、透光性の基板の厚さL1は、X1/(2tanα1)〜X3/(tanα1)の範囲にあることが好ましい。本適用例の構成によれば、X3が25.4mm以下であるので、好ましい透光性の基板の厚さL1の上限値(X3/(tanα1))を実用に供する範囲内に収めることができる。 From the above formula (1), the thickness L 1 of the light-transmitting substrate is preferably in the range of X 1 / (2 tan α 1 ) to X 3 / (tan α 1 ). According to the configuration of this application example, since X 3 is 25.4 mm or less, the preferable upper limit value (X 3 / (tan α 1 )) of the thickness L 1 of the light-transmitting substrate is within a practical range. Can fit.

[適用例10]上記適用例に係る表示装置であって、前記表示領域は、少なくとも一部にカラーフィルター又はブラックマトリックスが配置されていない領域を有していることが好ましい。   Application Example 10 In the display device according to the application example described above, it is preferable that the display region has a region where a color filter or a black matrix is not disposed at least in part.

表示領域内にカラーフィルターが配置されていると、表示光の輝度が低下する。また、表示領域内にブラックマトリックスが配置されていると、実質的に表示光が透過する領域が小さくなり、光の利用効率が低下する。本適用例の構成によれば、表示領域の少なくとも一部にはカラーフィルター又はブラックマトリックスが配置されていないので、表示光の輝度の低下や光の利用効率の低下を抑えることができる。   If a color filter is arranged in the display area, the luminance of the display light decreases. Further, when the black matrix is arranged in the display area, the area through which the display light is substantially transmitted is reduced, and the light use efficiency is lowered. According to the configuration of this application example, since the color filter or the black matrix is not arranged in at least a part of the display area, it is possible to suppress a decrease in luminance of display light and a decrease in utilization efficiency of light.

[適用例11]本適用例に係る電子機器は、上記適用例に記載の表示装置を備えていることを特徴とする。   Application Example 11 An electronic apparatus according to this application example includes the display device described in the application example.

上記適用例に記載の表示装置は、不必要な表示(表示品位の低下)が抑制され、高品位の表示を提供することができる。従って、上記適用例に記載の表示装置を備えた電子機器も、高品位の表示を提供することができる。例えば、ヘッドマウントディスプレイ、ヘッドアップディスプレイ、デジタルカメラの電子ビューファインダー、携帯型情報端末、ナビゲーターなどの表示部を有する電子機器に、上記適用例に記載の表示装置を適用することができる。   In the display device described in the application example, unnecessary display (decrease in display quality) is suppressed, and high-quality display can be provided. Accordingly, an electronic device including the display device described in the application example can also provide a high-quality display. For example, the display device described in the above application example can be applied to an electronic device having a display unit such as a head-mounted display, a head-up display, an electronic viewfinder of a digital camera, a portable information terminal, or a navigator.

実施形態1に係る有機EL装置の概要を示す概略平面図。1 is a schematic plan view showing an outline of an organic EL device according to Embodiment 1. FIG. 実施形態1に係る有機EL装置の電気的な構成を示す等価回路図。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating an electrical configuration of the organic EL device according to the first embodiment. サブ画素の構成を示す概略平面図。FIG. 2 is a schematic plan view showing a configuration of subpixels. 図3のB−B’線に沿った有機EL装置の構造を示す概略断面図。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing the structure of the organic EL device taken along line B-B ′ in FIG. 3. 実施形態1に係る有機EL装置から反射防止層を除いた状態を示す概略図。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a state where an antireflection layer is removed from the organic EL device according to the first embodiment. 適正な対向基板の板厚と、表示領域の対角寸法との関係を示すグラフ。The graph which shows the relationship between the board thickness of an appropriate counter substrate, and the diagonal dimension of a display area. 有機EL装置の表示領域の形状が正方形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is a square. 有機EL装置の表示領域の形状がひし形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is a rhombus. 有機EL装置の表示領域の形状が長方形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is a rectangle. 有機EL装置の表示領域の形状が平行四辺形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is a parallelogram. 有機EL装置の表示領域の形状が台形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is trapezoid. 有機EL装置の表示領域の形状が凧形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is a bowl shape. 有機EL装置の表示領域の形状が六角形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is a hexagon. 有機EL装置の表示領域の形状が八角形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is an octagon. 有機EL装置の表示領域の形状が楕円形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is an ellipse. 有機EL装置の表示領域の形状が円形の例を示す図。The figure which shows the example whose shape of the display area of an organic electroluminescent apparatus is circular. 実施形態1に係る有機EL装置の概略断面図。1 is a schematic cross-sectional view of an organic EL device according to Embodiment 1. FIG. 実施例1及び実施例2における光の波長と光反射率との関係を比較例と比較して示す図。The figure which shows the relationship between the wavelength of light in Example 1 and Example 2, and a light reflectance compared with a comparative example. 実施例1における入射光の角度と光反射率との関係を示す図。FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between an incident light angle and light reflectance in Example 1; 実施例2における入射光の角度と光反射率との関係を示す図。FIG. 6 is a diagram illustrating a relationship between an incident light angle and light reflectance in Example 2. 比較例における入射光の角度と光反射率との関係を示す図。The figure which shows the relationship between the angle of incident light and light reflectivity in a comparative example. 実施形態1に係る有機EL装置を示す概略断面図。1 is a schematic cross-sectional view showing an organic EL device according to Embodiment 1. FIG. 図1のA−A’線に沿った有機EL装置の概略断面図。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the organic EL device taken along line A-A ′ in FIG. 1. ヘッドマウントディスプレイの概略図。Schematic of a head mounted display. 上記実施例2の対向基板及び反射防止層について大気中で測定した光反射率の角度特性を示す図。The figure which shows the angle characteristic of the light reflectivity measured in air | atmosphere about the opposing board | substrate and antireflection layer of the said Example 2. FIG. 変形例1に係る有機EL装置の構成を示す概略断面図。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a configuration of an organic EL device according to Modification 1. 公知技術の有機EL装置の一例を示す概略図。Schematic which shows an example of an organic electroluminescent apparatus of a well-known technique. 図19のC−C’線に沿った模式的な断面図。FIG. 20 is a schematic cross-sectional view taken along line C-C ′ of FIG. 19. 図19のC−C’線に沿った模式的な断面図。FIG. 20 is a schematic cross-sectional view taken along line C-C ′ of FIG. 19. 公知技術の有機EL装置の一例を示す概略図。Schematic which shows an example of an organic electroluminescent apparatus of a well-known technique. 図21のC−C’線に沿った模式的な断面図。FIG. 22 is a schematic sectional view taken along line C-C ′ of FIG. 21.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。かかる実施形態は、本発明の一態様を示すものであり、この発明を限定するものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で任意に変更可能である。また、以下の各図においては、各層や各部位を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部位の縮尺が実際とは異なる場合がある。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Such an embodiment shows one aspect of the present invention and does not limit the present invention, and can be arbitrarily changed within the scope of the technical idea of the present invention. In each of the following drawings, the scale of each layer or each part may be different from the actual scale in order to make each layer or each part large enough to be recognized on the drawing.

(実施形態1)
「有機EL装置の概要」
実施形態1に係る有機EL装置100は、本発明における「表示装置」の一例であり、後述するヘッドマウントディスプレイの表示部に好適な自発光型のマイクロディスプレイである。図1は、本実施形態に係る有機EL装置の概要を示す概略平面図である。図2は、本実施形態に係る有機EL装置の電気的な構成を示す等価回路図である。
(Embodiment 1)
"Outline of organic EL device"
The organic EL device 100 according to Embodiment 1 is an example of the “display device” in the present invention, and is a self-luminous microdisplay suitable for a display unit of a head-mounted display described later. FIG. 1 is a schematic plan view showing an outline of the organic EL device according to the present embodiment. FIG. 2 is an equivalent circuit diagram showing an electrical configuration of the organic EL device according to the present embodiment.

まず、図1及び図2を参照して、本実施形態に係る有機EL装置100の概要について、説明する。図1に示すように、本実施形態に係る有機EL装置100は、素子基板10と、素子基板10に対向配置された対向基板40とを有している。両基板は、後述する樹脂層42(図4参照)によって接着されている。   First, with reference to FIG.1 and FIG.2, the outline | summary of the organic EL apparatus 100 which concerns on this embodiment is demonstrated. As shown in FIG. 1, the organic EL device 100 according to the present embodiment includes an element substrate 10 and a counter substrate 40 disposed to face the element substrate 10. Both substrates are bonded by a resin layer 42 (see FIG. 4) described later.

素子基板10は、青色(B)の光を発するサブ画素18Bと、緑色(G)の光を発するサブ画素18Gと、赤色(R)の光を発するサブ画素18Rとからなる画素19が、マトリックス状に配列された表示領域E1を有している。表示領域E1は、図中で太い破線で示されている。なお、以下の説明では、サブ画素18B、サブ画素18G、及びサブ画素18Rを区別せず、サブ画素18と称する場合がある。また、表示領域E1は、本発明における「多角形の表示領域」の一例である。 The element substrate 10 includes a pixel 19 including a sub-pixel 18B that emits blue (B) light, a sub-pixel 18G that emits green (G) light, and a sub-pixel 18R that emits red (R) light. The display area E 1 is arranged in a shape. The display area E 1 is indicated by a thick broken line in the figure. In the following description, the sub pixel 18B, the sub pixel 18G, and the sub pixel 18R may be referred to as the sub pixel 18 without being distinguished from each other. The display area E 1 is an example of the “polygon display area” in the present invention.

素子基板10の第1辺に沿って、複数の外部接続用端子103が配列されている。複数の外部接続用端子103と表示領域E1との間には、データ線駆動回路15が設けられている。該第1辺と直交し互いに対向する他の第2辺、第3辺と表示領域E1との間には、走査線駆動回路16が設けられている。 A plurality of external connection terminals 103 are arranged along the first side of the element substrate 10. A data line driving circuit 15 is provided between the plurality of external connection terminals 103 and the display area E 1 . Another second side facing each other and perpendicular to the first side, between the display region E 1 and the third side, the scanning line driving circuit 16 is provided.

以下では、当該第1辺に沿った方向をX方向とする。当該第1辺と直交し互いに対向する他の2辺(第2辺、第3辺)に沿った方向をY方向とする。X方向及びY方向と直交し、素子基板10から対向基板40に向かう方向をZ方向とする。なお、Z方向は、本発明における「法線方向」の一例である。   Hereinafter, the direction along the first side is defined as the X direction. A direction along the other two sides (second side and third side) orthogonal to the first side and facing each other is defined as a Y direction. A direction orthogonal to the X direction and the Y direction and from the element substrate 10 toward the counter substrate 40 is defined as a Z direction. The Z direction is an example of the “normal direction” in the present invention.

対向基板40は、透光性のガラス基板であり、素子基板10に対向配置されている。対向基板40の屈折率n1は概略1.46である。対向基板40は、表示領域E1を覆い、表示領域E1に配置された後述する有機EL素子30(図2参照)が傷つかないように保護している。Z方向から見て対向基板40からはみ出した素子基板10の部分に複数の外部接続用端子103が配列されている。 The counter substrate 40 is a translucent glass substrate and is disposed to face the element substrate 10. The refractive index n 1 of the counter substrate 40 is approximately 1.46. Counter substrate 40 covers the display area E 1, which protects the organic EL device 30 to be described later is disposed in the display area E 1 (see FIG. 2) is not hurt. A plurality of external connection terminals 103 are arranged in a portion of the element substrate 10 that protrudes from the counter substrate 40 when viewed from the Z direction.

対向基板40は、X方向に沿って延びる側面40−1及び側面40−3と、Y方向に沿って延びる側面40−2及び側面40−4とを有している。側面40−1,40−2,40−3,40−4は、後述する対向基板40の面40a(図4参照)や、対向基板40の素子基板10に対向する面に交差する面である。   The counter substrate 40 has side surfaces 40-1 and 40-3 that extend along the X direction, and side surfaces 40-2 and 40-4 that extend along the Y direction. The side surfaces 40-1, 40-2, 40-3, and 40-4 are surfaces that intersect a surface 40a (see FIG. 4) of the counter substrate 40 described later and a surface of the counter substrate 40 that faces the element substrate 10. .

なお、対向基板40は、透光性の絶縁基板であればよく、上述したガラス基板の他に、例えば石英基板や透光性を有する樹脂などを使用することができる。対向基板40の屈折率n1は、1.2〜1.6の範囲にあることが好ましい。また、屈折率は波長依存性があり、ここでは、可視光波長域における屈折率が用いられる。例えば、可視光波長域において長波長側よりも屈折率が大きくなる短波長側の屈折率を用いてもよいし、視感度が他の波長よりも高い550nmを代表波長とする屈折率を用いてもよい。 Note that the counter substrate 40 may be a light-transmitting insulating substrate, and in addition to the glass substrate described above, for example, a quartz substrate or a light-transmitting resin can be used. The refractive index n 1 of the counter substrate 40 is preferably in the range of 1.2 to 1.6. The refractive index is wavelength-dependent, and here, the refractive index in the visible light wavelength region is used. For example, a refractive index on the short wavelength side where the refractive index is larger than that on the long wavelength side in the visible light wavelength range may be used, or a refractive index with a visual sensitivity of 550 nm, which is higher than other wavelengths, is used as a representative wavelength. Also good.

本実施形態の表示領域E1の形状は、X方向に長くなった長方形である。表示領域E1の形状の外周をなすX方向の辺の長さは、X2である。表示領域E1の形状の外周をなすY方向の辺の長さは、X1である。表示領域E1の形状(長方形)の対角線の長さは、X3である。表示領域E1の形状の対角線の長さX3は、概略25.4mmである。表示領域E1の外周の2点を結ぶ線の長さのうち、X1が最も小さく、X3が最も大きい。以下では、表示領域E1の形状の対角線の長さを、表示サイズと称する。 The shape of the display area E 1 of the present embodiment is a rectangle that is elongated in the X direction. The length of the side in the X direction that forms the outer periphery of the shape of the display area E 1 is X 2 . The length of the side in the Y direction that forms the outer periphery of the shape of the display area E 1 is X 1 . The length of the diagonal line of the shape (rectangle) of the display area E 1 is X 3 . The length X 3 of the diagonal line of the shape of the display area E 1 is approximately 25.4 mm. Of the lengths of the lines connecting two points on the outer periphery of the display area E 1 , X 1 is the smallest and X 3 is the largest. Hereinafter, the length of the diagonal line of the shape of the display area E 1 is referred to as a display size.

表示領域E1の形状の外周をなすY方向の辺は、本発明における「多角形の表示領域の形状の外周をなす辺のうち最も短い辺」の一例である。表示領域E1の形状(長方形)の対角線は、本発明における「多角形の表示領域の形状の対角線のうち最も長い対角線」の一例である。 The side in the Y direction that forms the outer periphery of the shape of the display region E 1 is an example of “the shortest side among the sides that form the outer periphery of the shape of the polygonal display region” in the present invention. The diagonal line of the shape (rectangular shape) of the display area E 1 is an example of “the longest diagonal line among the diagonal lines of the polygonal display area shape” in the present invention.

表示領域E1の周辺の領域、つまり表示領域E1と素子基板10の外縁との間の領域が、非表示領域E2となる。また、表示領域E1と側面40−1,40−2,40−3,40−4(対向基板40の外縁)との間隔は、L2である。 Area around the display area E 1, i.e. the region between the outer edge of the display area E 1 and the element substrate 10, a non-display area E 2. The distance between the display region E 1 and the side 40-1,40-2,40-3,40-4 (the outer edge of the counter substrate 40) is L 2.

図2に示すように、有機EL装置100は、互いに交差する複数の走査線12及び複数のデータ線13と、複数のデータ線13のそれぞれに対して並列する複数の電源線14とを有している。走査線12は走査線駆動回路16に接続され、データ線13はデータ線駆動回路15に接続されている。また、複数の走査線12と複数のデータ線13との各交差部に対応してマトリックス状に配置された複数のサブ画素18を有している。   As shown in FIG. 2, the organic EL device 100 includes a plurality of scanning lines 12 and a plurality of data lines 13 that intersect with each other, and a plurality of power supply lines 14 that are parallel to each of the plurality of data lines 13. ing. The scanning line 12 is connected to the scanning line driving circuit 16, and the data line 13 is connected to the data line driving circuit 15. In addition, a plurality of sub-pixels 18 are arranged in a matrix corresponding to each intersection of the plurality of scanning lines 12 and the plurality of data lines 13.

サブ画素18は、有機EL素子30と、有機EL素子30の駆動を制御する画素回路20とを有している。   The sub-pixel 18 includes an organic EL element 30 and a pixel circuit 20 that controls driving of the organic EL element 30.

有機EL素子30は、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とを有している。画素電極31は、発光機能層に32に正孔を供給する陽極として機能する。対向電極33は、発光機能層32に電子を供給する陰極として機能する。画素電極31から供給される正孔と、対向電極33から供給される電子とが発光機能層32で結合し、発光機能層32が白色に発光する。なお、有機EL素子30は、本発明における「発光素子」の一例である。   The organic EL element 30 includes a pixel electrode 31, a light emitting functional layer 32, and a counter electrode 33. The pixel electrode 31 functions as an anode that supplies holes to the light emitting functional layer 32. The counter electrode 33 functions as a cathode that supplies electrons to the light emitting functional layer 32. The holes supplied from the pixel electrode 31 and the electrons supplied from the counter electrode 33 are combined in the light emitting functional layer 32, and the light emitting functional layer 32 emits white light. The organic EL element 30 is an example of the “light emitting element” in the present invention.

画素回路20は、スイッチング用トランジスター21と、蓄積容量22と、駆動用トランジスター23とを含んでいる。2つのトランジスター21,23は、例えばnチャネル型もしくはpチャネル型トランジスターを用いて構成することができる。   The pixel circuit 20 includes a switching transistor 21, a storage capacitor 22, and a driving transistor 23. The two transistors 21 and 23 can be configured using, for example, n-channel or p-channel transistors.

スイッチング用トランジスター21のゲートは、走査線12に接続されている。スイッチング用トランジスター21のソースまたはドレインのうち一方は、データ線13に接続されている。スイッチング用トランジスター21のソースまたはドレインのうち他方は、駆動用トランジスター23のゲートに接続されている。   The gate of the switching transistor 21 is connected to the scanning line 12. One of the source and the drain of the switching transistor 21 is connected to the data line 13. The other of the source and drain of the switching transistor 21 is connected to the gate of the driving transistor 23.

駆動用トランジスター23のソースまたはドレインのうち一方は、有機EL素子30の画素電極31に接続されている。駆動用トランジスター23のソースまたはドレインのうち他方は、電源線14に接続されている。駆動用トランジスター23のゲートと電源線14との間には、蓄積容量22が接続されている。   One of the source and drain of the driving transistor 23 is connected to the pixel electrode 31 of the organic EL element 30. The other of the source and drain of the driving transistor 23 is connected to the power supply line 14. A storage capacitor 22 is connected between the gate of the driving transistor 23 and the power supply line 14.

走査線12が駆動されてスイッチング用トランジスター21がオン状態になると、そのときにデータ線13から供給される画像信号に基づく電位がスイッチング用トランジスター21を介して蓄積容量22に保持される。蓄積容量22の電位すなわち駆動用トランジスター23のゲート電位に応じて、駆動用トランジスター23のオン・オフ状態が決まる。そして、駆動用トランジスター23がオン状態になると、電源線14から駆動用トランジスター23を介して、画素電極31と対向電極33とで挟まれた発光機能層32に、ゲート電位に応じた量の電流が流れる。有機EL素子30から発せられる光の輝度は、発光機能層32に流れる電流密度によって変化する。   When the scanning line 12 is driven and the switching transistor 21 is turned on, the potential based on the image signal supplied from the data line 13 at that time is held in the storage capacitor 22 via the switching transistor 21. The on / off state of the driving transistor 23 is determined according to the potential of the storage capacitor 22, that is, the gate potential of the driving transistor 23. When the driving transistor 23 is turned on, a current corresponding to the gate potential is supplied to the light emitting functional layer 32 sandwiched between the pixel electrode 31 and the counter electrode 33 from the power supply line 14 via the driving transistor 23. Flows. The luminance of the light emitted from the organic EL element 30 varies depending on the current density flowing in the light emitting functional layer 32.

「サブ画素の概要」
次に、図3を参照してサブ画素18の概要について説明する。図3は、サブ画素の構成を示す概略平面図である。図3では、サブ画素18の構成要素のうち、画素電極31及び絶縁膜28が図示され、他の構成要素の図示は省略されている。
"Overview of sub-pixels"
Next, the outline of the sub-pixel 18 will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a schematic plan view showing the configuration of the sub-pixel. In FIG. 3, among the constituent elements of the sub-pixel 18, the pixel electrode 31 and the insulating film 28 are shown, and the other constituent elements are not shown.

図3に示すように、サブ画素18には、画素電極31及び絶縁膜28が配置されている。画素電極31は、光透過性を有し、例えばITO(Indium Tin Oxide)などの透光性材料で構成され、サブ画素18毎に島状に形成されている。   As shown in FIG. 3, the pixel electrode 31 and the insulating film 28 are disposed in the sub-pixel 18. The pixel electrode 31 is light transmissive, is made of a translucent material such as ITO (Indium Tin Oxide), and is formed in an island shape for each sub-pixel 18.

絶縁膜28は、画素電極31と発光機能層32との間に設けられている(図4参照)。絶縁膜28は、画素電極31の周縁部を覆うように配置され、画素電極31を露出する開口28CTを有している。   The insulating film 28 is provided between the pixel electrode 31 and the light emitting functional layer 32 (see FIG. 4). The insulating film 28 is disposed so as to cover the peripheral edge of the pixel electrode 31, and has an opening 28 CT that exposes the pixel electrode 31.

開口28CTが設けられた部分では、画素電極31と発光機能層32とが接し、画素電極31から発光機能層32に正孔が供給され、発光機能層32が発光する。つまり、開口28CTが設けられた領域が、発光機能層32が発光する発光領域となる。絶縁膜28が設けられた領域では、画素電極31から発光機能層32への正孔の供給が抑制され、発光機能層32の発光が抑制される。つまり、絶縁膜28が設けられた領域が、発光機能層32の発光が抑制された領域となる。   In the portion where the opening 28CT is provided, the pixel electrode 31 and the light emitting functional layer 32 are in contact with each other, holes are supplied from the pixel electrode 31 to the light emitting functional layer 32, and the light emitting functional layer 32 emits light. That is, the region where the opening 28CT is provided is a light emitting region where the light emitting functional layer 32 emits light. In the region where the insulating film 28 is provided, supply of holes from the pixel electrode 31 to the light emitting functional layer 32 is suppressed, and light emission of the light emitting functional layer 32 is suppressed. That is, the region where the insulating film 28 is provided is a region where light emission of the light emitting functional layer 32 is suppressed.

「有機EL装置の断面構造」
次に、図4を参照して、有機EL装置100の断面構造を説明する。図4は、図3のB−B’線に沿った有機EL装置の構造を示す概略断面図である。
"Cross-sectional structure of organic EL device"
Next, a cross-sectional structure of the organic EL device 100 will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing the structure of the organic EL device along the line BB ′ in FIG.

図4に示すように、有機EL装置100では、素子基板10と、樹脂層42と、対向基板40と、反射防止層44とが、Z方向に順に積層されている。樹脂層42は、素子基板10と対向基板40とを接着する役割を有し、例えばエポキシ樹脂やアクリル樹脂などを使用することができる。反射防止層44は、例えば、誘電体多層膜からなる。反射防止層44の構成については、後で詳述する。   As shown in FIG. 4, in the organic EL device 100, the element substrate 10, the resin layer 42, the counter substrate 40, and the antireflection layer 44 are sequentially stacked in the Z direction. The resin layer 42 has a role of bonding the element substrate 10 and the counter substrate 40, and for example, an epoxy resin or an acrylic resin can be used. The antireflection layer 44 is made of, for example, a dielectric multilayer film. The configuration of the antireflection layer 44 will be described in detail later.

対向基板40は、素子基板10に対向する第1の面としての面40bと、面40bの反対側に配置された第2の面としての面40aとを有する。面40aは、有機EL素子30で発せられた光が、表示光として射出される側の面となる。   The counter substrate 40 has a surface 40b as a first surface facing the element substrate 10 and a surface 40a as a second surface disposed on the opposite side of the surface 40b. The surface 40a is a surface on the side where the light emitted from the organic EL element 30 is emitted as display light.

反射防止層44は、対向基板40の面40a上に配置されており、大気601と接している。大気601の屈折率n2は、概略1である。なお、大気601は、本発明における「媒質」の一例である。つまり、表示光は、対向基板40の素子基板10に対向する面と反対側の面40aから、大気601の側に射出される。 The antireflection layer 44 is disposed on the surface 40 a of the counter substrate 40 and is in contact with the atmosphere 601. The refractive index n 2 of the atmosphere 601 is approximately 1. The atmosphere 601 is an example of the “medium” in the present invention. That is, the display light is emitted from the surface 40 a opposite to the surface of the counter substrate 40 facing the element substrate 10 to the atmosphere 601 side.

素子基板10は、基板11と、基板11にZ方向に順に積層された反射層25と、光学的距離調整層26と、有機EL素子30と、封止層34とを有している。   The element substrate 10 includes a substrate 11, a reflective layer 25 stacked on the substrate 11 in order in the Z direction, an optical distance adjustment layer 26, an organic EL element 30, and a sealing layer 34.

基板11は、例えばシリコンからなる母材に、走査線12、データ線13、電源線14、データ線駆動回路15、走査線駆動回路16、スイッチング用トランジスター21、蓄積容量22、駆動用トランジスター23(図2参照)などが、公知技術によって形成された半導体基板である。なお、基板11の母材は、上述したシリコンに限定されず、例えば石英やガラスなどの透光性を有する絶縁材料であってもよい。   The substrate 11 is formed of, for example, a base material made of silicon on a scanning line 12, a data line 13, a power line 14, a data line driving circuit 15, a scanning line driving circuit 16, a switching transistor 21, a storage capacitor 22, and a driving transistor 23 ( 2) is a semiconductor substrate formed by a known technique. Note that the base material of the substrate 11 is not limited to the above-described silicon, and may be a light-transmitting insulating material such as quartz or glass.

反射層25は、発光機能層32で発した光を反射する一対の反射層の中の一方の反射層である。反射層25は、光反射率の高い材料によって形成され、複数のサブ画素18に跨って配置されている。反射層25の構成材料としては、例えばアルミニウムや銀などを使用することができる。   The reflective layer 25 is one of the pair of reflective layers that reflects the light emitted from the light emitting functional layer 32. The reflective layer 25 is made of a material having a high light reflectance, and is disposed across the plurality of subpixels 18. As a constituent material of the reflective layer 25, for example, aluminum or silver can be used.

光学的距離調整層26は、第1絶縁膜26a、第2絶縁膜26b、及び第3絶縁膜26cで構成される。第1絶縁膜26aは、反射層25の上に設けられ、サブ画素18Bとサブ画素18Gとサブ画素18Rとに配置されている。第2絶縁膜26bは、第1絶縁膜26aの上に設けられ、サブ画素18Gとサブ画素18Rとに配置されている。第3絶縁膜26cは、第2絶縁膜26bの上に設けられ、サブ画素18Rに配置されている。その結果、光学的距離調整層26の膜厚は、サブ画素18B、サブ画素18G、サブ画素18Rの順に大きくなっている。   The optical distance adjustment layer 26 includes a first insulating film 26a, a second insulating film 26b, and a third insulating film 26c. The first insulating film 26a is provided on the reflective layer 25 and is disposed in the sub-pixel 18B, the sub-pixel 18G, and the sub-pixel 18R. The second insulating film 26b is provided on the first insulating film 26a and is disposed in the sub-pixel 18G and the sub-pixel 18R. The third insulating film 26c is provided on the second insulating film 26b and is disposed in the sub-pixel 18R. As a result, the film thickness of the optical distance adjustment layer 26 increases in the order of the sub pixel 18B, the sub pixel 18G, and the sub pixel 18R.

有機EL素子30は、Z方向に順に積層された画素電極31と、絶縁膜28と、発光機能層32と、対向電極33とを有している。発光機能層32は、Z方向に順に積層された正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、及び電子輸送層などを有している。有機発光層は、赤色、緑色、及び青色の光成分を有する光を発する。有機発光層は、単層で構成してもよいし、複数の層(例えば、青色で発光する青色発光層と、赤色及び緑色を含む光を発する黄色発光層)で構成してもよい。   The organic EL element 30 includes a pixel electrode 31, an insulating film 28, a light emitting functional layer 32, and a counter electrode 33 that are sequentially stacked in the Z direction. The light emitting functional layer 32 includes a hole injection layer, a hole transport layer, an organic light emitting layer, an electron transport layer, and the like, which are sequentially stacked in the Z direction. The organic light emitting layer emits light having red, green, and blue light components. The organic light emitting layer may be composed of a single layer or a plurality of layers (for example, a blue light emitting layer that emits blue light and a yellow light emitting layer that emits light including red and green).

対向電極33は、例えばMgとAgとの合金などで構成され、光透過性と光反射性とを有している。対向電極33は、発光機能層32で発した光を反射する一対の反射層の中の他方の反射層である。封止層34は、Z方向に順に積層された第1封止層34aと、平坦化層34bと、第2封止層34cとで構成され、有機EL素子30を覆い、素子基板10の略全面に設けられている。なお、封止層34には、外部接続用端子103(図1参照)を露出させる開口(図示省略)が設けられている。   The counter electrode 33 is made of, for example, an alloy of Mg and Ag and has light transmittance and light reflectivity. The counter electrode 33 is the other reflective layer of the pair of reflective layers that reflects the light emitted from the light emitting functional layer 32. The sealing layer 34 includes a first sealing layer 34 a, a planarization layer 34 b, and a second sealing layer 34 c that are sequentially stacked in the Z direction, covers the organic EL element 30, and is an abbreviation of the element substrate 10. It is provided on the entire surface. The sealing layer 34 is provided with an opening (not shown) for exposing the external connection terminal 103 (see FIG. 1).

第1封止層34a及び第2封止層34cは、例えば公知技術のプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法などを用いて形成されたシリコン酸窒化物で構成され、水分や酸素に対して高いバリア性を有している。平坦化層34bは、例えばエポキシ系樹脂や塗布型の無機材料(例えば、シリコン酸化物)などで構成されている。平坦化層34bは、第1封止層34aの欠陥(ピンホール、クラック)や異物などを被覆し、平坦な面を形成する。   The first sealing layer 34a and the second sealing layer 34c are made of, for example, silicon oxynitride formed using a known technique such as plasma CVD (Chemical Vapor Deposition), and have a high barrier against moisture and oxygen. It has sex. The planarization layer 34b is made of, for example, an epoxy resin or a coating-type inorganic material (for example, silicon oxide). The planarization layer 34b covers defects (pinholes, cracks), foreign matters, and the like of the first sealing layer 34a, and forms a flat surface.

「光共振構造」
発光領域(開口28CTが設けられた領域)では、光反射性を有する反射層25と、光学的距離調整層26と、画素電極31と、発光機能層32と、対向電極33とが、Z方向に順に積層されている。発光機能層32で発した光は、反射層25と対向電極33との間で繰り返し反射され、反射層25と対向電極33との間の光学的距離に対応する特定波長(共振波長)の光の強度が増幅され、表示光として対向基板40の面40aから大気601の側に射出される。
"Optical resonance structure"
In the light emitting region (the region in which the opening 28CT is provided), the reflective layer 25 having light reflectivity, the optical distance adjusting layer 26, the pixel electrode 31, the light emitting functional layer 32, and the counter electrode 33 are in the Z direction. Are stacked in order. The light emitted from the light emitting functional layer 32 is repeatedly reflected between the reflective layer 25 and the counter electrode 33, and has a specific wavelength (resonance wavelength) corresponding to the optical distance between the reflective layer 25 and the counter electrode 33. Is amplified and emitted as display light from the surface 40a of the counter substrate 40 to the atmosphere 601 side.

詳しくは、光学的距離調整層26は、反射層25と対向電極33との間の光学的距離を調整する役割を有している。サブ画素18Bでは、共振波長(輝度が最大となるピーク波長)が470nmとなるように、光学的距離調整層26の膜厚が設定されている。サブ画素18Gでは、共振波長が540nmとなるように、光学的距離調整層26の膜厚が設定されている。サブ画素18Rでは、共振波長が610nmとなるように、光学的距離調整層26の膜厚が設定されている。   Specifically, the optical distance adjustment layer 26 has a role of adjusting the optical distance between the reflective layer 25 and the counter electrode 33. In the sub-pixel 18B, the film thickness of the optical distance adjustment layer 26 is set so that the resonance wavelength (peak wavelength at which the luminance is maximum) is 470 nm. In the sub-pixel 18G, the film thickness of the optical distance adjustment layer 26 is set so that the resonance wavelength is 540 nm. In the sub-pixel 18R, the film thickness of the optical distance adjustment layer 26 is set so that the resonance wavelength is 610 nm.

その結果、サブ画素18Bから470nmをピーク波長とする青色の光が発せられ、サブ画素18Gから540nmをピーク波長とする緑色の光が発せられ、サブ画素18Rから610nmをピーク波長とする赤色の光が発せられる。   As a result, blue light having a peak wavelength of 470 nm is emitted from the subpixel 18B, green light having a peak wavelength of 540 nm is emitted from the subpixel 18G, and red light having a peak wavelength of 610 nm from the subpixel 18R. Is emitted.

なお、上述したように、有機EL装置100では、カラーフィルターが配置されていない。そのため、有機EL素子30から発せられた光がカラーフィルターを透過することによる表示光の輝度の低下が抑えられ、より明るい表示が得られる。   As described above, in the organic EL device 100, no color filter is disposed. Therefore, a decrease in luminance of display light due to light emitted from the organic EL element 30 passing through the color filter is suppressed, and a brighter display is obtained.

また、有機EL装置100は、表示領域E1内にブラックマトリックスが配置されていない。表示領域E1内にブラックマトリックスが配置されていると、実質的に表示光が透過する領域が小さくなり、光の利用効率が低下する。そして、光共振構造を有する有機EL装置100において表示領域E1内にブラックマトリックスを配置する場合、製造プロセスが複雑なものとなる。表示領域E1内にブラックマトリックスを配置しないことにより、光の利用効率が低下や生産性の低下が抑えられる。 Further, the organic EL device 100, a black matrix is not disposed in the display area E 1. When a black matrix is arranged in the display area E 1, substantially display light region transmitting is reduced, utilization efficiency of light is reduced. When the black matrix is arranged in the display area E 1 in the organic EL device 100 having the optical resonance structure, the manufacturing process becomes complicated. By not arranging the black matrix in the display area E 1 , it is possible to suppress the light use efficiency and the productivity.

「有機EL装置の特徴」
上述したように、有機EL装置100は、公知技術(特開2012−38677号公報)の有機EL装置からカラーフィルターを削除した構成を有している。このため、有機EL装置100では、反射層25における光の反射によって不必要な表示がなされ、表示品が低下するおそれがあった。上述したように、反射層25における光の反射に起因する不必要な表示を抑制するためには、反射層25の反射性能を制御すればよいが、反射層25を形成する下地(基板11)は、画素回路20や駆動回路15,16などが形成されたことによる様々な凹凸を有するため、反射層25の反射性能(反射層25の表面凹凸)を制御することが難しい。
"Features of organic EL devices"
As described above, the organic EL device 100 has a configuration in which the color filter is deleted from the organic EL device of a known technique (Japanese Patent Laid-Open No. 2012-38677). For this reason, in the organic EL device 100, unnecessary display is performed due to the reflection of light in the reflective layer 25, and the display product may be deteriorated. As described above, in order to suppress unnecessary display due to the reflection of light in the reflective layer 25, the reflection performance of the reflective layer 25 may be controlled, but the base (substrate 11) on which the reflective layer 25 is formed. Has various irregularities due to the formation of the pixel circuit 20, the drive circuits 15, 16 and the like, and therefore it is difficult to control the reflection performance of the reflective layer 25 (surface irregularities of the reflective layer 25).

本実施形態に係る有機EL装置100は、反射層25の反射性能に関係なく、反射層25における光の反射に起因する不必要な表示(表示品位の低下)を抑制することができる。より具体的には、有機EL装置100は、表示領域の大きさに対して対向基板40の板厚が適正な範囲内にあること、及び、反射防止層44を備えていることにより、表示品位の低下を抑制することができる。以下に、その詳細を説明する。   The organic EL device 100 according to the present embodiment can suppress unnecessary display (decrease in display quality) due to light reflection in the reflective layer 25 regardless of the reflection performance of the reflective layer 25. More specifically, the organic EL device 100 has a display quality because the thickness of the counter substrate 40 is within an appropriate range with respect to the size of the display area and the antireflection layer 44 is provided. Can be suppressed. The details will be described below.

まず、表示領域の大きさと対向基板40の板厚との関係を説明する。ここでは、説明を分かり易くするため、反射防止層44を備えていない状態の有機EL装置で説明する。図5は、実施形態1に係る有機EL装置から反射防止層を除いた状態を示す概略図である。図5は、図1のA−A’線に沿った概略断面図に相当する。なお、実施形態1に係る有機EL装置と識別するため、反射防止層44を除いた状態の有機EL装置に符号100Aを付している。有機EL装置100Aは、反射防止層44を備えていない点以外は、有機EL装置100と同様の構成を有している。   First, the relationship between the size of the display area and the thickness of the counter substrate 40 will be described. Here, in order to make the explanation easy to understand, an organic EL device without the antireflection layer 44 will be described. FIG. 5 is a schematic diagram illustrating a state in which the antireflection layer is removed from the organic EL device according to the first embodiment. FIG. 5 corresponds to a schematic cross-sectional view along the line A-A ′ of FIG. 1. In addition, in order to distinguish from the organic EL device according to the first embodiment, the organic EL device in a state in which the antireflection layer 44 is removed is denoted by reference numeral 100A. The organic EL device 100 </ b> A has the same configuration as that of the organic EL device 100 except that it does not include the antireflection layer 44.

図5では、上述した図20Bと同じ構成要素に同じ符号、つまり有機EL素子30で発せられ面40aに向かう入射光に符号LB1を、面40aで反射された反射光に符号LB3を、入射光LB1が面40aで全反射される臨界角に符号α2を付している。また、図5中の点Kは、表示領域E1に配置された有機EL素子30のX(−)方向側の端部に対応する。点Lは、点Kで発した入射光LB1と面40aとの交点を示している。点Mは、面40aの点Lで反射された反射光LB3と反射層25との交点を示している。点Nは、点Lを通る面40aの法線Hと反射層25との交点を示している。 In FIG. 5, the same components as in FIG. 20B described above are denoted by the same reference numerals, that is, the reference light LB 1 emitted from the organic EL element 30 toward the surface 40 a, and the reference light LB 3 reflected by the surface 40 a. The critical angle at which the incident light LB 1 is totally reflected by the surface 40a is denoted by reference symbol α 2 . Further, a point K in FIG. 5 corresponds to an end portion on the X (−) direction side of the organic EL element 30 arranged in the display region E 1 . A point L indicates an intersection between the incident light LB 1 emitted from the point K and the surface 40a. A point M indicates an intersection of the reflected light LB 3 reflected by the point L on the surface 40 a and the reflective layer 25. A point N indicates an intersection between the normal line H of the surface 40 a passing through the point L and the reflective layer 25.

図5に示すように、有機EL素子30の点Kで発した入射光LB1は、面40aの点Lで反射され反射光LB3となる。面40aの点Lで反射された反射光LB3は、反射層25の点Mに到達する。入射光LB1の進行方向と法線H(Z方向)とがなす角度は臨界角α2であり、反射光LB3の進行方向と法線H(Z方向)とがなす角度も臨界角α2である。 As shown in FIG. 5, the incident light LB 1 emitted from the point K of the organic EL element 30 is reflected at the point L on the surface 40a to become reflected light LB 3 . The reflected light LB 3 reflected at the point L on the surface 40 a reaches the point M on the reflective layer 25. The angle formed between the traveling direction of the incident light LB 1 and the normal H (Z direction) is a critical angle α 2 , and the angle formed between the traveling direction of the reflected light LB 3 and the normal H (Z direction) is also a critical angle α. 2 .

臨界角α2は、入射光LB1が面40aで全反射される場合の、当該入射光LB1の進行方向と法線H(Z方向)とがなす角度の最小値である。つまり、入射光LB1の進行方向と法線H(Z方向)とがなす角度が臨界角α2以上である場合、入射光LB1は面40aで全反射される。入射光LB1の進行方向と法線H(Z方向)とがなす角度が、臨界角α2よりも小さい場合、入射光LB1の一部は面40aを通過し大気601の側に射出され、入射光LB1の一部は面40aで反射される。 The critical angle α 2 is the minimum value of the angle formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the normal H (Z direction) when the incident light LB 1 is totally reflected by the surface 40a. That is, when the angle formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the normal H (Z direction) is equal to or greater than the critical angle α 2 , the incident light LB 1 is totally reflected by the surface 40a. When the angle formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the normal H (Z direction) is smaller than the critical angle α 2, a part of the incident light LB 1 passes through the surface 40 a and is emitted toward the atmosphere 601. , A part of the incident light LB 1 is reflected by the surface 40a.

表示領域E1の反射層25の上には、光学的距離調整層26と、有機EL素子30と、封止層34と、樹脂層42と、対向基板40とが順に積層されている。非表示領域E2の反射層25の上には、光学的距離調整層26と、有機EL素子30と、封止層34と、遮光層51と、樹脂層42と、対向基板40とが順に積層されている。 On the reflective layer 25 in the display area E 1 , an optical distance adjustment layer 26, an organic EL element 30, a sealing layer 34, a resin layer 42, and a counter substrate 40 are sequentially stacked. On the reflection layer 25 in the non-display area E 2 , the optical distance adjustment layer 26, the organic EL element 30, the sealing layer 34, the light shielding layer 51, the resin layer 42, and the counter substrate 40 are sequentially arranged. Are stacked.

遮光層51は、光吸収性を有し、例えば黒色顔料が分散された感光性レジストを用いて、封止層34の上に形成される。遮光層51は、素子基板10を構成する構成要素の一つである。遮光層51は、光吸収性を有していればよく、上述した感光性レジストの他に、例えば窒化チタン、誘電体多層膜などで形成することができる。遮光層51は、非表示領域E2の反射層25での反射光を遮る役割を有し、非表示領域E2の全面に配置してもよく、非表示領域E2の一部に配置してもよい。つまり、非表示領域E2の少なくとも一部に、遮光層51が配置されている。換言すれば、素子基板10の対向基板40に対向する面(封止層34の表面)には、非表示領域E2の少なくとも一部に光を吸収する膜(遮光層51)が配置されている。 The light shielding layer 51 has a light absorptivity and is formed on the sealing layer 34 by using, for example, a photosensitive resist in which a black pigment is dispersed. The light shielding layer 51 is one of the components constituting the element substrate 10. The light shielding layer 51 only needs to have a light absorptivity, and can be formed of, for example, titanium nitride, a dielectric multilayer film, or the like in addition to the photosensitive resist described above. Shielding layer 51 has a role to block the light reflected by the reflective layer 25 in the non-display area E 2, may be located in the non-display area E 2 the entire surface, and disposed on a portion of the non-display area E 2 May be. In other words, at least a portion of the non-display area E 2, the light-shielding layer 51 is disposed. In other words, on the surface (the surface of the sealing layer 34) facing the counter substrate 40 of the element substrate 10, the film (light-shielding layer 51) that absorbs light in at least part of the non-display area E 2 is arranged Yes.

対向基板40の側面40−2,40−4には、遮光層52が配置されている。図示を省略するが、対向基板40の側面40−1,40−3にも、遮光層52が配置されている。遮光層52は、遮光層51と同様に光吸収性を有していればよく、光吸収性を有する樹脂や、光吸収性を有する材料(例えば黒色顔料)が分散された樹脂を塗布することによって形成してもよい。また、遮光層52は、光吸収性を有するテープを貼り付けることで形成してもよい。   On the side surfaces 40-2 and 40-4 of the counter substrate 40, a light shielding layer 52 is disposed. Although not shown, the light shielding layer 52 is also disposed on the side surfaces 40-1 and 40-3 of the counter substrate 40. The light shielding layer 52 only needs to have light absorptivity similarly to the light shielding layer 51, and is applied with a resin having a light absorptivity or a resin in which a material having a light absorptivity (for example, a black pigment) is dispersed. May be formed. Further, the light shielding layer 52 may be formed by attaching a light-absorbing tape.

遮光層52は、側面40−1,40−2,40−3,40−4の全面に配置してもよく、側面40−1,40−2,40−3,40−4の一部に配置してもよい。つまり、側面40−1,40−2,40−3,40−4の少なくとも一部に、遮光層52が配置されていればよい。さらに、遮光層52は、素子基板10の側面の少なくとも一部に配置されていてもよい。   The light shielding layer 52 may be disposed on the entire surface of the side surfaces 40-1, 40-2, 40-3, and 40-4. You may arrange. That is, the light shielding layer 52 may be disposed on at least a part of the side surfaces 40-1, 40-2, 40-3, and 40-4. Further, the light shielding layer 52 may be disposed on at least a part of the side surface of the element substrate 10.

詳細は後述するが、対向基板40の屈折率n1が1.46であり、表示サイズ(表示領域E1の形状の対角線の長さ)が25.4mmであり、アスペクト比(表示領域E1の横:縦の比)が4:3である場合、対向基板40のZ方向寸法(板厚)L1は、8.1mm〜27mmの範囲にある。光学的距離調整層26、有機EL素子30、及び封止層34のZ方向寸法(膜厚)は1μmよりも小さく、樹脂層42のZ方向寸法(層厚)は概略20μmよりも小さい。いずれの構成要素のZ方向寸法も、対向基板40のZ方向寸法(板厚)L1と比べて極めて小さい。よって、反射層25と面40aとの間のZ方向寸法は、対向基板40のZ方向寸法(板厚)L1と見なすことができる。従って、有機EL素子30の点K、反射層25の点N、及び反射層25の点Mは、同じ平面上に配置されているものとみなすことができる。 Although details will be described later, the refractive index n 1 of the counter substrate 40 is 1.46, the display size (the length of the diagonal line of the shape of the display region E 1 ) is 25.4 mm, and the aspect ratio (display region E 1). In the case where the horizontal: vertical ratio) is 4: 3, the Z-direction dimension (plate thickness) L 1 of the counter substrate 40 is in the range of 8.1 mm to 27 mm. The Z-direction dimension (film thickness) of the optical distance adjustment layer 26, the organic EL element 30, and the sealing layer 34 is smaller than 1 μm, and the Z-direction dimension (layer thickness) of the resin layer 42 is generally smaller than 20 μm. The Z direction dimension of any component is extremely small compared to the Z direction dimension (plate thickness) L 1 of the counter substrate 40. Therefore, the Z-direction dimension between the reflective layer 25 and the surface 40 a can be regarded as the Z-direction dimension (plate thickness) L 1 of the counter substrate 40. Therefore, the point K of the organic EL element 30, the point N of the reflective layer 25, and the point M of the reflective layer 25 can be regarded as being disposed on the same plane.

反射層25は、表示領域E1に配置された第1反射層25aと、非表示領域E2に配置された第2反射層25bとで構成される。有機EL素子30は、表示領域E1に配置された第1有機EL素子30aと、非表示領域E2に配置された第2有機EL素子30bとで構成される。なお、非表示領域E2に配置された第2有機EL素子30bとは、発光機能層32の発光が抑制された状態の有機EL素子30、例えば画素電極31が省略された構成の有機EL素子30や、画素電極31の全体が絶縁膜28で覆われた構成の有機EL素子30などに該当する。 The reflective layer 25 includes a first reflective layer 25a disposed in the display area E 1 and a second reflective layer 25b disposed in the non-display area E 2 . The organic EL element 30 is composed of a first organic EL element 30a disposed in the display area E 1, and the second organic EL element 30b disposed in the non-display area E 2. Note that the second organic EL element 30b disposed in the non-display area E 2, light-emitting functional layer 32 organic EL device 30 in a state where light emission is suppressed in, for example, an organic EL element in which the pixel electrode 31 is omitted 30 or the organic EL element 30 having a configuration in which the entire pixel electrode 31 is covered with the insulating film 28.

本実施形態では、表示領域E1に配置された第1有機EL素子30aのX(−)方向側の端部(点K)で発した入射光LB1は、面40aの点Lで反射されて反射光LB3となり、反射光LB3は、非表示領域E2のX(+)方向側に配置された第2反射層25bの点Mに入射する。 In the present embodiment, the incident light LB 1 emitted from the end (point K) on the X (−) direction side of the first organic EL element 30a disposed in the display region E 1 is reflected at the point L on the surface 40a. reflected light LB 3 becomes Te, the reflected light LB 3 is incident on the point M of the second reflective layer 25b disposed on the X (+) direction side of the non-display area E 2.

図示を省略するが、表示領域E1に配置された第1有機EL素子30aのX(+)方向側の端部で発した入射光LB1は、面40aで反射され、反射光LB3となり、反射光LB3は、非表示領域E2のX(−)方向側に配置された第2反射層25bに入射する。 Although not shown, the incident light LB 1 emitted from the end of the first organic EL element 30a arranged in the display region E 1 on the X (+) direction side is reflected by the surface 40a and becomes reflected light LB 3 . The reflected light LB 3 is incident on the second reflective layer 25b disposed on the X (−) direction side of the non-display area E 2 .

すなわち、有機EL装置100Aでは、第1有機EL素子30aで発した光(入射光LB1)の反射光LB3は、非表示領域E2に配置された第2反射層25bに入射する。当該反射光LB3は、非表示領域E2に配置された第2反射層25bによって反射されるので、表示領域E1の側に進行しにくく、不必要な表示になりにくい。 That is, in the organic EL devices 100A, reflected light LB 3 of the light (incident light LB 1) emitted by the first organic EL element 30a is incident on the second reflective layer 25b disposed on the non-display area E 2. Since the reflected light LB 3 is reflected by the second reflective layer 25b disposed in the non-display area E 2 , it is difficult for the reflected light LB 3 to travel to the display area E 1 side and an unnecessary display is difficult to occur.

さらに、非表示領域E2の第2反射層25bの上には、遮光層51が配置されているので、第2反射層25bによって反射された光は遮光層51によって遮られ、表示領域E1の側により進行しにくくなる。すなわち、遮光層51が配置されてない構成と比べて、第2反射層25bによって反射された光は、表示領域E1の側により進行しにくくなり、不必要な表示によりなりにくい。 Further, on the second reflective layer 25b of the non-display area E 2, since the light-shielding layer 51 is arranged, the light reflected by the second reflective layer 25b is blocked by the light blocking layer 51, the display area E 1 It becomes difficult to advance by the side of. That is, as compared with the configuration in which the light shielding layer 51 is not disposed, the light reflected by the second reflective layer 25b is less likely to travel on the display area E 1 side and is less likely to cause unnecessary display.

換言すれば、本実施形態では、面40aで反射された反射光LB3が、非表示領域E2に配置された第2反射層25bに入射するように、反射層25と面40aとの間のZ方向寸法、つまり対向基板40のZ方向寸法(板厚)L1が設定されている。上述したように、第2反射層25bによって反射された光は、表示領域E1の側に進行しにくいので、表示領域E1に不必要な表示がなされることを抑制することができる。 In other words, in this embodiment, so that the reflected light LB 3 is reflected by the surface 40a, is incident on the second reflective layer 25b disposed on the non-display area E 2, between the reflective layer 25 and the surface 40a , That is, the Z direction dimension (plate thickness) L 1 of the counter substrate 40 is set. As described above, the light reflected by the second reflective layer 25b is so difficult to proceed to the side of the display area E 1, it is possible to prevent the unnecessary display is performed in the display area E 1.

さらに、対向基板40の側面40−1,40−2,40−3,40−4も、遮光層52で覆われ、側面40−1,40−2,40−3,40−4における光の反射が抑制されている。従って、側面40−1,40−2,40−3,40−4における光の反射が表示領域E1に影響しにくい。従って、表示領域E1に不必要な表示がなされることを抑制することができる。 Further, the side surfaces 40-1, 40-2, 40-3, 40-4 of the counter substrate 40 are also covered with the light shielding layer 52, and the light of the side surfaces 40-1, 40-2, 40-3, 40-4 is transmitted. Reflection is suppressed. Thus, reflection of light at the side 40-1,40-2,40-3,40-4 hardly affect the display area E 1. Therefore, unnecessary display in the display area E 1 can be suppressed.

「適正な対向基板の板厚(1)」
次に、Z方向となす角度が臨界角α2の入射光LB1が、面40aで反射され、第2反射層25bに入射することができる対向基板40の板厚L1について、図5を参照して説明する。
"Appropriate thickness of counter substrate (1)"
Next, FIG. 5 shows the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 in which the incident light LB 1 whose angle with the Z direction is the critical angle α 2 is reflected by the surface 40a and can enter the second reflective layer 25b. The description will be given with reference.

Z方向となす角度が臨界角α2よりも大きい入射光LB1の反射光LB3は、Z方向となす角度が臨界角α2である入射光LB1の反射光LB3と比べて、図5に示す法線Hから離れた側(X方向側)に進行する。よって、Z方向となす角度が臨界角α2である入射光LB1の反射光LB3が、第2反射層25bに入射する条件であれば、Z方向となす角度が臨界角α2よりも大きい入射光LB1の反射光LB3は、表示領域E1には入射しない。従って、反射光LB3を常に第2反射層25bに入射させるためには、Z方向となす角度が臨界角α2である入射光LB1の反射光LB3が、第2反射層25bに入射する条件を満足すればよい。 Reflected light LB 3 of large angle incident light LB 1 than the critical angle alpha 2 which forms the Z direction, as compared with the reflected light LB 3 of incident light LB 1 angle formed with the Z direction is the critical angle alpha 2, FIG. It progresses to the side (X direction side) away from the normal H shown in FIG. Therefore, the angle formed with the Z direction is reflected light LB 3 of the incident light LB 1 is the critical angle alpha 2, as long as a condition for entering the second reflective layer 25b, the angle formed with the Z direction than the critical angle alpha 2 The reflected light LB 3 of the large incident light LB 1 does not enter the display area E 1 . Therefore, in order for the reflected light LB 3 to always be incident on the second reflective layer 25b, the reflected light LB 3 of the incident light LB 1 whose angle with the Z direction is the critical angle α 2 is incident on the second reflective layer 25b. It suffices to satisfy the conditions to do.

入射光LB1の進行方向と法線H(Z方向)とがなす角度をθ1とし、入射光LB1が面40aを通過し大気601の側に射出される場合の射出方向と法線H(Z方向)とがなす角度をθ2とすると、スネルの法則によって以下に示す式(1)が成り立つ。
1sinθ1=n2sinθ2…(1)
The angle between the traveling direction of the incident light LB 1 and the normal H (Z direction) is θ 1, and the emission direction and the normal H when the incident light LB 1 passes through the surface 40a and is emitted to the atmosphere 601 side. When the angle formed by (Z direction) is θ 2 , the following formula (1) is established according to Snell's law.
n 1 sin θ 1 = n 2 sin θ 2 (1)

式(1)より、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1は、以下に示す式(2)で表される。
θ1=sin-1((n2sinθ2)/n1)…(2)
From the equation (1), the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is expressed by the following equation (2).
θ 1 = sin −1 ((n 2 sin θ 2 ) / n 1 ) (2)

式(2)に「θ2=90度」を代入して求めたθ1が臨界角α2となるので、臨界角α2は、以下に示す式(3)で表される。
α2=sin-1(n2/n1)…(3)
Since theta 1 found by replacing the "theta 2 = 90 degrees" in equation (2) becomes the critical angle alpha 2, the critical angle alpha 2 is represented by the formula (3) below.
α 2 = sin −1 (n 2 / n 1 ) (3)

本実施形態では、n1は概略1.46であり、n2は概略1であるので、臨界角α2は概略43度である。 In this embodiment, since n 1 is approximately 1.46 and n 2 is approximately 1, the critical angle α 2 is approximately 43 degrees.

点Kと点Lと点Nとで形成される三角形(△KLN)と、点Lと点Mと点Nとで形成される三角形(△LMN)において、線LKと線LNとがなす角度及び線LMと線LNとがなす角度は同じであり、線LNと線NKとがなす角度及び線LNと線NMとがなす角度は同じであるので、△KLN及び△LMNは合同である。よって、点Kと点Nとを結ぶ線(辺KN)の長さと、点Nと点Mとを結ぶ線(辺NM)の長さは同じであり、共にL3である。 The angle formed by the line LK and the line LN in the triangle (ΔKLN) formed by the point K, the point L, and the point N and the triangle (ΔLMN) formed by the point L, the point M, and the point N and Since the angle formed by the line LM and the line LN is the same, the angle formed by the line LN and the line NK and the angle formed by the line LN and the line NM are the same, ΔKLN and ΔLMN are congruent. Therefore, the length of the line connecting the points K and N (sides KN), the length of the line (side NM) connecting the point N and the point M is the same, are both L 3.

点Kと点Mとを結ぶ線(辺KM)の長さを、表示領域E1のX方向に沿った辺の長さX2よりも大きくすると、反射光LB3を第2反射層25bに入射させることができる。辺KMの長さは、辺KNの長さL3の2倍であるので、以下に示す式(4)を満たすと、反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させることができる。
2×L3≧X2…(4)
When the length of the line (side KM) connecting the point K and the point M is larger than the length X 2 of the side along the X direction of the display area E 1 , the reflected light LB 3 is transmitted to the second reflective layer 25b. It can be made incident. Since the length of the side KM is twice the length L 3 of the side KN, when the following formula (4) is satisfied, the reflected light LB 3 is transmitted to the non-display region E 2 (second reflective layer 25b). It can be made incident.
2 × L 3 ≧ X 2 (4)

辺LNの長さは、対向基板40のZ方向寸法(板厚)L1とみなすことができる。辺LKと辺LNとがなす角度は、臨界角α2であるので、以下の式(5)が成り立つ。
2×(L1×tanα2)≧X2…(5)
The length of the side LN can be regarded as the dimension (plate thickness) L 1 of the counter substrate 40 in the Z direction. Since the angle formed by the side LK and the side LN is the critical angle α 2 , the following formula (5) is established.
2 × (L 1 × tan α 2 ) ≧ X 2 (5)

従って、X方向においては、対向基板40のZ方向寸法(板厚)L1が、以下の式(6)を満たすと、反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させることができる。
1≧X2/(2tanα2)…(6)
Accordingly, in the X direction, when the dimension (plate thickness) L 1 of the counter substrate 40 satisfies the following expression (6), the reflected light LB 3 is transmitted to the non-display area E 2 (second reflective layer 25b). It can be made incident.
L 1 ≧ X 2 / (2 tan α 2 ) (6)

同様に、Y方向においては、対向基板40の板厚L1が、以下の式(7)を満たすと、反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させることができる。
1≧X1/(2tanα2)…(7)
Similarly, in the Y direction, when the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 satisfies the following formula (7), the reflected light LB 3 may be incident on the non-display region E 2 (second reflective layer 25b). it can.
L 1 ≧ X 1 / (2 tan α 2 ) (7)

同様に、表示領域E1の形状(長方形)の対角線に沿った方向においては、以下の式(8)を満たすと、反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させることができる。
1≧X3/(2tanα2)…(8)
Similarly, in the direction along the diagonal line of the shape (rectangle) of the display area E 1 , the reflected light LB 3 is incident on the non-display area E 2 (second reflective layer 25 b) when the following expression (8) is satisfied. Can be made.
L 1 ≧ X 3 / (2 tan α 2 ) (8)

なお、X1は、表示領域E1の外周の2点を結ぶ線のうち最も短い線の長さであり、X3は、表示領域E1の外周の2点を結ぶ線のうち最も長い線の長さである。よって、好ましい対向基板40の板厚L1の最小値は、Y方向における好ましい対向基板40の板厚L1の最小値(X1/(2tanα2))、X方向における対向基板40の好ましい板厚L1の最小値(X2/(2tanα2))、対角線に沿った方向における好ましい対向基板40の板厚L1の最小値(X3/(2tanα2))の順に大きくなる。 Incidentally, X 1 is the length of the shortest line of the line connecting the two points of the outer periphery of the display area E 1, X 3 is the longest line of the line connecting the two points of the outer periphery of the display area E 1 Is the length of Therefore, the minimum value of the plate thickness L 1 of the preferred counter substrate 40 is the minimum value (X 1 / (2 tan α 2 )) of the plate thickness L 1 of the preferable counter substrate 40 in the Y direction, and the preferable plate of the counter substrate 40 in the X direction. The minimum value of the thickness L 1 (X 2 / (2 tan α 2 )) and the minimum value (X 3 / (2 tan α 2 )) of the preferred plate thickness L 1 of the counter substrate 40 in the direction along the diagonal line increase in this order.

つまり、対向基板40を少しでも薄くするためには、式(7)の条件、つまり対向基板40の板厚L1は、Y方向における好ましい対向基板40の板厚L1の最小値(X1/(2tanα2))以上であることが好ましい。 That is, in order to make the counter substrate 40 as thin as possible, the condition of the equation (7), that is, the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 is the minimum value (X 1) of the preferable plate thickness L 1 of the counter substrate 40 in the Y direction. / (2 tan α 2 )) or more.

また、対向基板40の板厚L1が大きくなりすぎると、有機EL装置100Aの小型化や軽量化の点で好ましくない。このため、対向基板40の板厚L1は、対角線に沿った方向、つまり表示領域E1の外周の2点を結ぶ線のうち最も長い線の方向における、好ましい対向基板40の板厚L1の最小値(X3/(2tanα2))の2倍以下であることが好ましい。すなわち、対向基板40の板厚L1は、以下に示す式(9)を満たすことが好ましい。
1≦X3/(tanα2)…(9)
On the other hand, if the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 is too large, it is not preferable in terms of size reduction and weight reduction of the organic EL device 100A. Therefore, the thickness L 1 of the counter substrate 40, the thickness L 1 in a direction along the diagonal, i.e. in the direction of the longest line of the line connecting the two points of the outer periphery of the display area E 1, preferably the counter substrate 40 It is preferable that it is 2 times or less of the minimum value (X 3 / (2 tan α 2 )). That is, it is preferable that the thickness L 1 of the counter substrate 40 satisfies the following formula (9).
L 1 ≦ X 3 / (tan α 2 ) (9)

従って、式(7)及び式(9)より、反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させるためには、対向基板40の板厚L1は、以下に示す式(10)を満たすことが好ましい。式(10)を満たすと、対向基板40を最も薄くすることができる。
1/(2tanα2)≦L1≦X3/(tanα2)…(10)
Therefore, from the expressions (7) and (9), in order to make the reflected light LB 3 incident on the non-display area E 2 (second reflective layer 25b), the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 is shown below. It is preferable to satisfy Expression (10). When the expression (10) is satisfied, the counter substrate 40 can be made the thinnest.
X 1 / ( 2 tan α 2 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 2 ) (10)

さらに、式(8)及び式(9)より、対向基板40の板厚L1は、以下に示す式(11)を満たすことがより好ましい。
3/(2tanα2)≦L1≦X3/(tanα2)…(11)
Furthermore, from formula (8) and formula (9), it is more preferable that the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 satisfies the following formula (11).
X 3 / ( 2 tan α 2 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 2 ) (11)

上述したように、式(10)を満たす場合、対向基板40を最も薄くすることができるという効果を得ることができるが、表示領域E1に一つのパターンが表示された場合、当該一つのパターンからX1よりも離れた位置に不必要な表示がなされるおそれがある。式(11)を満たす場合、当該一つのパターンからX1よりも離れた位置において、つまりX−Y平面上の全ての方向において不必要な表示を抑制することができるので、より好ましい。 As described above, when satisfying the expression (10), can be obtained an effect that it is possible to thinnest counter substrate 40, if the one pattern is displayed in the display area E 1, the one pattern there is a possibility that unnecessary display is performed at a position distant than X 1 from. When Expression (11) is satisfied, it is more preferable because unnecessary display can be suppressed at a position away from X 1 from the one pattern, that is, in all directions on the XY plane.

「適正な表示サイズ」
図6は、適正な対向基板の板厚と、表示サイズ(表示領域E1の形状の対角線の長さ)との関係を示すグラフである。図中の縦軸は対向基板の板厚L1であり、横軸は表示領域E1の表示サイズ(図1に示す対角線の長さX3)である。同図では、上述した式(11)で算出された適正な対向基板40の板厚L1の範囲が、網掛けが施された領域71で図示されている。なお、対向基板40の屈折率n1を1.46とし、表示領域E1のアスペクト比(図1に示す長辺の長さX2と短辺の長さX1との比)を4:3とした。
"Proper display size"
FIG. 6 is a graph showing the relationship between the appropriate counter substrate thickness and the display size (the length of the diagonal line of the shape of the display region E 1 ). The vertical axis in the figure is the plate thickness L 1 of the counter substrate, and the horizontal axis is the display size of the display area E 1 (the length X 3 of the diagonal line shown in FIG. 1). In the same figure, the range of the appropriate plate thickness L 1 of the counter substrate 40 calculated by the above-described equation (11) is shown by a shaded area 71. The refractive index n 1 of the counter substrate 40 is 1.46, and the aspect ratio of the display area E 1 (the ratio between the long side length X 2 and the short side length X 1 shown in FIG. 1) is 4: It was set to 3.

例えば、有機EL装置100Aを小型電子機器の表示部に適用させる場合、対向基板40の板厚が大きくなりすぎると、有機EL装置100Aの外形寸法が大きくなりすぎるので好ましくない。有機EL装置100Aを小型電子機器の表示部に適用させる場合、適正な対向基板40の板厚の上限値は、図中の破線72となる。   For example, when the organic EL device 100A is applied to a display unit of a small electronic device, if the thickness of the counter substrate 40 is too large, the outer dimension of the organic EL device 100A becomes too large, which is not preferable. When the organic EL device 100A is applied to a display unit of a small electronic device, an appropriate upper limit value of the thickness of the counter substrate 40 is a broken line 72 in the drawing.

よって、破線72と領域71の上限との交差点が、有機EL装置100Aを小型電子機器の表示部に適用させる場合の、表示領域E1の表示サイズの上限値となる。従って、好ましい表示領域E1の表示サイズ(対角線の長さX3)は、25.4mm(1インチ)以下である。 Therefore, the intersection of the broken line 72 and the upper limit of the region 71 is the upper limit value of the display size of the display region E 1 when the organic EL device 100A is applied to the display unit of a small electronic device. Therefore, the preferred display size of the display area E 1 (diagonal length X 3 ) is 25.4 mm (1 inch) or less.

なお、表示領域E1の表示サイズが25.4mmである場合、横軸の25.4mmから縦軸に沿って上方に引いた2点鎖線と、網掛けが施された領域71の下限との交差点が表示領域E1の表示サイズの下限値となる。すなわち、好ましい対向基板40の板厚L1は、8.1mm〜27mmの範囲である。従って、本実施形態では、対向基板40の板厚L1は、8.1mm〜27mmの範囲に設定されている。 When the display size of the display area E 1 is 25.4 mm, the two-dot chain line drawn upward from the horizontal axis 25.4 mm along the vertical axis and the lower limit of the shaded area 71 intersection is the lower limit value of the display size of the display area E 1. That is, the preferred thickness L 1 of the counter substrate 40 is in the range of 8.1 mm to 27 mm. Therefore, in the present embodiment, the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 is set in the range of 8.1 mm to 27 mm.

「表示領域の形状」
図7A〜図7E及び図8A〜図8Eには、上述した本発明を適用可能な表示領域E1の形状が示されている。図7Aは、有機EL装置の表示領域の形状が正方形の例を示す図である。図7Bは、有機EL装置の表示領域の形状がひし形の例を示す図である。図7Cは、有機EL装置の表示領域の形状が長方形の例を示す図である。図7Dは、有機EL装置の表示領域の形状が平行四辺形の例を示す図である。図7Eは、有機EL装置の表示領域の形状が台形の例を示す図である。
"Shape of display area"
7A to 7E and FIGS. 8A to 8E show the shape of the display area E 1 to which the present invention can be applied. FIG. 7A is a diagram illustrating an example in which the shape of the display region of the organic EL device is a square. FIG. 7B is a diagram illustrating an example in which the display area of the organic EL device has a rhombus shape. FIG. 7C is a diagram illustrating an example in which the display region of the organic EL device has a rectangular shape. FIG. 7D is a diagram illustrating an example in which the shape of the display region of the organic EL device is a parallelogram. FIG. 7E is a diagram illustrating an example in which the display area of the organic EL device has a trapezoidal shape.

図8Aは、有機EL装置の表示領域の形状が凧形の例を示す図である。図8Bは、有機EL装置の表示領域の形状が六角形の例を示す図である。図8Cは、有機EL装置の表示領域の形状が八角形の例を示す図である。図8Dは、有機EL装置の表示領域の形状が楕円形の例を示す図である。図8Eは、有機EL装置の表示領域の形状が円形の例を示す図である。   FIG. 8A is a diagram illustrating an example in which the display area of the organic EL device has a bowl shape. FIG. 8B is a diagram illustrating an example in which the display region of the organic EL device has a hexagonal shape. FIG. 8C is a diagram illustrating an example in which the shape of the display region of the organic EL device is an octagon. FIG. 8D is a diagram illustrating an example in which the shape of the display region of the organic EL device is an ellipse. FIG. 8E is a diagram illustrating an example in which the shape of the display region of the organic EL device is circular.

図7A〜図7E及び図8A〜図8Cにおいて、X1は表示領域E1の形状の外周をなす辺のうち最も短い辺の長さを示し、X3は表示領域E1の形状の対角線のうち最も長い対角線の長さを示している。また、図8D及び図8Eにおいて、X1は表示領域E1の中心CPを通り表示領域E1の外周を結ぶ線のうち最も短い線の長さを示し、図8Dにおいて、X3は表示領域E1の中心CPを通り表示領域E1の外周を結ぶ線のうち最も長い線の長さを示している。 7A to 7E and 8A to 8C, X 1 indicates the length of the shortest side among the sides forming the outer periphery of the shape of the display region E 1 , and X 3 indicates a diagonal line of the shape of the display region E 1. The longest diagonal length is shown. Further, in FIGS. 8D and 8E, X 1 represents the length of the shortest line of the line connecting the outer periphery of the street display area E 1 of the center CP of the display area E 1, in FIG. 8D, X 3 display region the longest line of the line connecting the outer periphery of the center CP as the display area E 1 of E 1 indicates the length.

表示領域E1の形状が、図7Aの正方形、図7Bのひし形、図7Cの長方形、図7Dの平行四辺形、図7Eの台形、図8Aの凧形、図8Bの六角形、図8Cの八角形、及び図8Dの楕円形の場合、対向基板40の板厚L1が、上述した式(8)の関係が成り立つと、反射光LB3を第2反射層25bに入射させ、不必要な表示を抑制することができる。 The shape of the display area E 1 is a square in FIG. 7A, a rhombus in FIG. 7B, a rectangle in FIG. 7C, a parallelogram in FIG. 7D, a trapezoid in FIG. 7E, a bowl in FIG. 8A, a hexagon in FIG. In the case of the octagonal shape and the elliptical shape of FIG. 8D, if the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 satisfies the relationship of the above formula (8), the reflected light LB 3 is incident on the second reflective layer 25b and is unnecessary. Display can be suppressed.

さらに、表示領域E1の形状が、図8Eの円形では、表示領域E1の中心CPを通り表示領域E1の外周を結ぶ線のうち最も短い線の長さと、表示領域E1の中心CPを通り表示領域E1の外周を結ぶ線のうち最も長い線とは同じであり、共にX1である。よって、表示領域E1の形状が円形である場合、以下に示す式(12)の関係が成り立つと、反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させ、不必要な表示を抑制することができる。
1/(2tanα2)≦L1≦X1/(tanα2)…(12)
Furthermore, the shape of the display area E 1, in the circular FIG 8E, the length of the shortest line of the line connecting the outer periphery of the street display area E 1 of the center CP of the display area E 1, the center CP of the display area E 1 The longest line among the lines connecting the outer periphery of the display area E 1 is the same, and both are X 1 . Therefore, when the shape of the display region E 1 is circular, if the relationship of the following expression (12) is established, the reflected light LB 3 is incident on the non-display region E 2 (second reflective layer 25b), which is unnecessary. Display can be suppressed.
X 1 / ( 2 tan α 2 ) ≦ L 1 ≦ X 1 / (tan α 2 ) (12)

「反射防止層」
上述した有機EL装置100Aでは、対向基板40の板厚L1を適正な範囲内に設定することにより、図19に示すパターン552及びパターン553のように、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が臨界角α2以上となる入射光LB1の反射光LB3による不必要な表示を抑制することができる。しかしながら、反射防止層44を除いた状態の有機EL装置100Aでは、パターン552及びパターン553と比べると輝度が低いため視認しにくかった他の不必要な表示が、パターン552及びパターン553の表示が抑制されることで、視認し易くなり目立ってしまう場合がある。
"Antireflection layer"
In the organic EL device 100A described above, by setting the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 within an appropriate range, the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction as in the patterns 552 and 553 shown in FIG. The unnecessary display by the reflected light LB 3 of the incident light LB 1 in which the angle θ 1 formed by the above becomes the critical angle α 2 or more can be suppressed. However, in the organic EL device 100 </ b> A excluding the antireflection layer 44, the display of the pattern 552 and the pattern 553 is suppressed due to other unnecessary display that is difficult to view because the luminance is lower than that of the pattern 552 and the pattern 553. By doing so, it may be easily noticeable and may stand out.

以下に、図21及び図22を参照して、その詳細を説明する。図21は、公知技術の有機EL装置の一例を示す概略図である。図22は、図21のC−C’線に沿った模式的な断面図である。図22では、図21の表示に対応する光の状態が、模式的に示されている。図21及び図22は、入射光LB1の進行方向とZ方向と図21がなす角度θ1が臨界角α2と比べて極めて小さい場合の例である。 Details will be described below with reference to FIGS. 21 and 22. FIG. 21 is a schematic diagram illustrating an example of a known organic EL device. 22 is a schematic cross-sectional view taken along the line CC ′ of FIG. In FIG. 22, the state of light corresponding to the display of FIG. 21 is schematically shown. 21 and 22 are examples in the case where the traveling direction of the incident light LB 1 , the Z direction, and the angle θ 1 formed by FIG. 21 are extremely smaller than the critical angle α 2 .

図21に示すように、表示領域Vの領域Z1に必要なパターン551を表示させると、有機EL装置500を正面方向(Z方向)に対して斜め方向から見た場合に、領域Z1から少し離れた領域Z2に不必要なパターン561が表示される。領域Z1と領域Z2との距離が小さい場合、図21に示すように、不必要なパターン561が必要なパターン551に重なるように表示されるため、パターン551のゴースト(多重像)として視認されてしまうこととなる。 As shown in FIG. 21, when the necessary pattern 551 is displayed in the region Z 1 of the display region V, when the organic EL device 500 is viewed obliquely with respect to the front direction (Z direction), the region Z 1 An unnecessary pattern 561 is displayed in the area Z 2 that is slightly apart. When the distance between the area Z 1 and the area Z 2 is small, an unnecessary pattern 561 is displayed so as to overlap the necessary pattern 551 as shown in FIG. 21, so that it is visually recognized as a ghost (multiple image) of the pattern 551. It will be done.

図22に示すように、領域Z1において、有機EL素子513からZ方向と交差する方向(斜め方向)に射出された光のうち、一部は面530aで屈折し屈折光LB2として大気601の側に射出され、他の一部は面530aで反射され反射光LB3として反射層512の側に向かう。 As shown in FIG. 22, in the region Z 1 , part of the light emitted from the organic EL element 513 in the direction intersecting the Z direction (oblique direction) is refracted by the surface 530 a and is refracted light LB 2 as the atmospheric air 601. of emitted to the side, another portion is reflected by the surface 530a towards the side of the reflective layer 512 as the reflected light LB 3.

大気601の側に射出された屈折光LB2、すなわち光M1により、必要なパターン551が表示される。また、反射光LB3は領域Z2において反射層512で反射され、入射光LB1aとして面530aで屈折し、屈折光LB2aとして大気601の側に射出される。大気601の側に射出された屈折光LB2a、すなわち光M2により、図21に示すように、不必要なパターン561が必要なパターン551に重なるように表示される。 A necessary pattern 551 is displayed by the refracted light LB 2 emitted to the atmosphere 601 side, that is, the light M 1 . The reflected light LB 3 is reflected by the reflective layer 512 in the region Z 2 , refracted by the surface 530 a as incident light LB 1 a, and emitted to the atmosphere 601 side as refracted light LB 2 a. As shown in FIG. 21, an unnecessary pattern 561 is displayed so as to overlap the necessary pattern 551 by the refracted light LB 2 a emitted to the atmosphere 601 side, that is, the light M 2 .

ここで、図22に示す入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が臨界角α2(図20A参照)と比べて極めて小さいので、入射光LB1に対して屈折光LB2が多く反射光LB3は少なくなる。対向基板530の屈折率をn1とし、大気601の屈折率をn2とすると、対向基板530の面530aと大気601との界面における光反射率Rは、以下に示す式(13)で求めることができる。
R=(n1−n22/(n1+n22…(13)
Here, since the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 shown in FIG. 22 and the Z direction is extremely smaller than the critical angle α 2 (see FIG. 20A), the refracted light LB with respect to the incident light LB 1 . 2 is more and the reflected light LB 3 is less. When the refractive index of the counter substrate 530 is n 1 and the refractive index of the atmosphere 601 is n 2 , the light reflectance R at the interface between the surface 530a of the counter substrate 530 and the atmosphere 601 is obtained by the following equation (13). be able to.
R = (n 1 −n 2 ) 2 / (n 1 + n 2 ) 2 (13)

対向基板530の屈折率n1を1.46とし、大気601の屈折率n2を1とすると、
R=(1.46−1)2/(1.46+1)2=0.462/2.462≒3.5%
となる。したがって、入射光LB1の明るさ(輝度)を100%とした場合、反射光LB3の明るさは3.5%となり、屈折光LB2(すなわち、光M1)の明るさは100%−3.5%=96.5%となる。
When the refractive index n 1 of the counter substrate 530 is 1.46 and the refractive index n 2 of the atmosphere 601 is 1,
R = (1.46-1) 2 /(1.46+1) 2 = 0.46 2 /2.46 2 ≈3.5%
It becomes. Therefore, when the brightness (luminance) of the incident light LB 1 is 100%, the brightness of the reflected light LB 3 is 3.5%, and the brightness of the refracted light LB 2 (that is, the light M 1 ) is 100%. −3.5% = 96.5%.

素子基板510での光反射率は、反射層512の材料や光共振構造の有無によって異なるが、一般的な有機EL装置では、素子基板510の表示領域Vにおける光反射率は、概ね20〜30%程度である。ここでは、素子基板510の表示領域Vにおける光反射率が30%であるものとする。   The light reflectance on the element substrate 510 varies depending on the material of the reflective layer 512 and the presence or absence of the optical resonance structure, but in a general organic EL device, the light reflectance in the display region V of the element substrate 510 is approximately 20 to 30. %. Here, it is assumed that the light reflectance in the display region V of the element substrate 510 is 30%.

そうすると、反射層512で反射されて面530aに入射する入射光LB1aの明るさは3.5%×30%=1.05%となる。そして、入射光LB1aが面530aで屈折し大気601の側に射出される屈折光LB2a(すなわち、光M2)の明るさは、3.5%×30%×96.5%≒1%程度となる。したがって、領域Z1に表示される必要なパターン551と、領域Z2に表示される不必要なパターン561(ゴースト)との明るさの比(コントラスト比)は、おおよそ100:1程度となる。 Then, the brightness of the incident light LB 1 a reflected by the reflective layer 512 and incident on the surface 530a is 3.5% × 30% = 1.05%. The brightness of the refracted light LB 2 a (that is, the light M 2 ) refracted by the incident light LB 1 a at the surface 530a and emitted toward the atmosphere 601 is 3.5% × 30% × 96.5%. ≈1%. Therefore, the brightness ratio (contrast ratio) between the necessary pattern 551 displayed in the region Z 1 and the unnecessary pattern 561 (ghost) displayed in the region Z 2 is about 100: 1.

有機EL装置は自発光する表示装置であるため、一般にコントラスト比が高く、例えば、10000:1程度のコントラスト比を実現することが可能である。そのため、パターン551に対して10000:1程度のコントラスト比となるパターン551の周囲(暗い背景部分)と比べて、100:1程度のコントラスト比となるパターン561(ゴースト)は100倍程度明るくなる。その結果、不必要なパターン561(ゴースト)が相対的に目立つこととなり、表示品位が低下する。そして、対向基板40の板厚L1が厚いほど、パターン551とパターン561(ゴースト)とのX方向における距離が大きくなるので、ゴーストがより視認され易くなる。 Since the organic EL device is a self-luminous display device, the contrast ratio is generally high, and for example, a contrast ratio of about 10000: 1 can be realized. For this reason, the pattern 561 (ghost) having a contrast ratio of about 100: 1 is about 100 times brighter than the periphery (dark background portion) of the pattern 551 having a contrast ratio of about 10,000: 1 with respect to the pattern 551. As a result, the unnecessary pattern 561 (ghost) becomes relatively conspicuous, and the display quality is lowered. Then, as the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 is thicker, the distance between the pattern 551 and the pattern 561 (ghost) in the X direction becomes larger, so that the ghost is more easily recognized.

そこで、実施形態1に係る有機EL装置100では、不必要なパターン561(ゴースト)となる光M2を抑えるため、反射防止層44を備えている。図9は、実施形態1に係る有機EL装置の概略断面図である。図9は、図1のA−A’線に沿った概略断面図における表示領域E1を部分拡大した図に相当する。図9に示すように、有機EL装置100は、対向基板40の面40a上に反射防止層44を備えている。 Therefore, the organic EL device 100 according to the first embodiment includes the antireflection layer 44 in order to suppress the light M 2 that becomes an unnecessary pattern 561 (ghost). FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of the organic EL device according to the first embodiment. FIG. 9 corresponds to a partially enlarged view of the display region E 1 in the schematic cross-sectional view along the line AA ′ in FIG. As shown in FIG. 9, the organic EL device 100 includes an antireflection layer 44 on the surface 40 a of the counter substrate 40.

反射防止層44には、ゴーストを効果的に抑えるため可視光波長域の光に対する正面方向(Z方向)の光反射率Rが低く、かつ、有機EL装置としての表示の明るさを損なわないように光透過率が高いことが求められる。より具体的には、光反射率Rが0%≦R≦2%であり、かつ、光透過率Tが90%≦T≦100%であることが望ましい。   The antireflection layer 44 has a low light reflectance R in the front direction (Z direction) with respect to light in the visible light wavelength region in order to effectively suppress ghosts, and does not impair the brightness of display as an organic EL device. In addition, the light transmittance is required to be high. More specifically, it is desirable that the light reflectance R is 0% ≦ R ≦ 2% and the light transmittance T is 90% ≦ T ≦ 100%.

本実施形態に係る反射防止層44は、図示を省略するが、低屈折率材料からなる層と、高屈折率材料からなる層との積層膜である誘電体多層膜で構成される。本実施形態では、反射防止層44の実施例として、積層膜の積層数が異なる2つの実施例を説明する。   Although not shown, the antireflection layer 44 according to the present embodiment is formed of a dielectric multilayer film that is a laminated film of a layer made of a low refractive index material and a layer made of a high refractive index material. In the present embodiment, as examples of the antireflection layer 44, two examples in which the number of laminated films is different will be described.

(実施例1)
図9には、実施例1の反射防止層44を示している。実施例1では、反射防止層44は、低屈折率材料としての酸化シリコン(SiOx)からなる第1層44aと、高屈折率材料としての酸化チタン(TiOx)からなる第2層44bとの2層の積層膜で構成される。酸化シリコンの光屈折率は、例えば1.46であり、酸化チタンの光屈折率は、例えば2.50である。なお、各層の膜厚は適宜設定されるものとする。
Example 1
FIG. 9 shows the antireflection layer 44 of the first embodiment. In the first embodiment, the antireflection layer 44 includes a first layer 44a made of silicon oxide (SiO x ) as a low refractive index material and a second layer 44b made of titanium oxide (TiO x ) as a high refractive index material. It is comprised by the laminated film of two layers. The photorefractive index of silicon oxide is 1.46, for example, and the photorefractive index of titanium oxide is 2.50, for example. In addition, the film thickness of each layer shall be set suitably.

実施例1では、光透過率Tは、波長が470nmの青色の光に対して98.5%となり、波長が540nmの緑色の光に対して99.7%となり、波長が610nmの赤色の光に対して98.6%となった。   In Example 1, the light transmittance T is 98.5% for blue light having a wavelength of 470 nm, 99.7% for green light having a wavelength of 540 nm, and red light having a wavelength of 610 nm. To 98.6%.

(実施例2)
図示を省略するが、実施例2では、反射防止層44が、実施例1と同様の酸化シリコンからなる第1層44aと酸化チタンからなる第2層44bとの2層の積層膜を6層積層した計12層の積層膜で構成される。ただし、12層(2×6層)を構成する各第1層44a及び各第2層44bの膜厚は同じでもよいし互いに異なっていてもよい。
(Example 2)
Although illustration is omitted, in the second embodiment, the antireflection layer 44 is composed of six laminated layers of a first layer 44a made of silicon oxide and a second layer 44b made of titanium oxide similar to the first embodiment. It is composed of a total of 12 laminated films. However, the film thicknesses of the first layers 44a and the second layers 44b constituting the 12 layers (2 × 6 layers) may be the same or different from each other.

実施例2では、光透過率Tは、波長が470nmの青色の光に対して98.4%となり、波長が540nmの緑色の光に対して99.6%となり、波長が610nmの赤色の光に対して98.5%となった。   In Example 2, the light transmittance T is 98.4% for blue light having a wavelength of 470 nm, 99.6% for green light having a wavelength of 540 nm, and red light having a wavelength of 610 nm. To 98.5%.

(比較例)
比較例は、有機EL装置100から反射防止層44を除いた状態の有機EL装置100A(図5参照)である。なお、実施例1、実施例2、及び比較例において、対向基板40の光屈折率n1はともに1.46である。比較例では、光透過率Tは、波長が470nmの青色の光に対して96.5%となり、波長が540nmの緑色の光に対して96.5%となり、波長が610nmの赤色の光に対して96.5%となった。
(Comparative example)
The comparative example is an organic EL device 100A (see FIG. 5) in a state in which the antireflection layer 44 is removed from the organic EL device 100. In Example 1, Example 2, and Comparative Example, the optical refractive index n 1 of the counter substrate 40 is 1.46. In the comparative example, the light transmittance T is 96.5% for blue light having a wavelength of 470 nm, 96.5% for green light having a wavelength of 540 nm, and red light having a wavelength of 610 nm. Compared to 96.5%.

ここで、実施例1及び実施例2において、反射防止層44の光吸収率は、光反射率R及び光透過率Tと比べて極めて小さくなるため、無視できるものとする。そうすると、光反射率Rと光透過率Tとは、R+T=1の関係となるため、実施例1、実施例2、及び比較例における光反射率Rは、R=1−Tで求められる。   Here, in Example 1 and Example 2, the light absorptance of the antireflection layer 44 is extremely small compared to the light reflectance R and the light transmittance T, and can be ignored. Then, since the light reflectance R and the light transmittance T have a relationship of R + T = 1, the light reflectance R in Example 1, Example 2, and the comparative example is obtained by R = 1−T.

図10は、実施例1及び実施例2における光の波長と光反射率との関係を比較例と比較して示す図である。図10において、横軸は光の波長(nm)であり、縦軸は光反射率R(%)である。図10に示すように、比較例では、光の波長に関わらず光反射率Rは3.5%で一定である。これに対して、実施例1及び実施例2では、波長が440nm程度から640nm程度の範囲内では、光反射率Rが比較例(3.5%)よりも小さくなっている。なお、実施例2では、実施例1と比べて、光の波長による光反射率Rの変動が大きい。   FIG. 10 is a diagram illustrating the relationship between the wavelength of light and the light reflectance in Example 1 and Example 2 in comparison with the comparative example. In FIG. 10, the horizontal axis represents the wavelength (nm) of light, and the vertical axis represents the light reflectance R (%). As shown in FIG. 10, in the comparative example, the light reflectance R is constant at 3.5% regardless of the wavelength of light. On the other hand, in Example 1 and Example 2, the light reflectance R is smaller than that in the comparative example (3.5%) in the wavelength range of about 440 nm to about 640 nm. In the second embodiment, the variation in the light reflectance R due to the wavelength of light is larger than that in the first embodiment.

人の目が認識し易い緑色の光(波長が540nmの光)で比較すると、比較例では光反射率Rが3.5%となるのに対して、実施例1では光反射率Rが0.3%となり、実施例2では光反射率Rが0.4%となる。すなわち、人の目が認識し易い緑色の光に対して、実施例1では光反射率Rが比較例の1/11程度となり、実施例2では光反射率Rが比較例の1/9程度となる。また、人の目が認識し易い緑色の光に対して、実施例1及び実施例2ではともに、光透過率Tが比較例よりも高くなる。   When compared with green light (light having a wavelength of 540 nm) that is easily recognized by the human eye, the light reflectance R is 3.5% in the comparative example, whereas the light reflectance R is 0 in Example 1. Thus, in Example 2, the light reflectance R is 0.4%. That is, for green light that is easily recognized by the human eye, the light reflectance R is about 1/11 of the comparative example in Example 1, and the light reflectance R is about 1/9 of the comparative example in Example 2. It becomes. Further, in the first and second embodiments, the light transmittance T is higher than that in the comparative example with respect to green light that is easily recognized by human eyes.

例えば、実施例1の場合、波長が540nmの緑色の光に対して、図9に示す光M1(屈折光LB2)の明るさは99.7%となり、光M2(屈折光LB2a)の明るさは0.3%×30%×99.7%=0.09%となるので、必要なパターン551と不必要なパターン561(ゴースト)との明るさの比(コントラスト比)は、おおよそ1108:1程度となる。 For example, in the case of Example 1, the brightness of light M 1 (refracted light LB 2 ) shown in FIG. 9 is 99.7% with respect to green light having a wavelength of 540 nm, and light M 2 (refracted light LB 2). Since the brightness of a) is 0.3% × 30% × 99.7% = 0.09%, the brightness ratio (contrast ratio) between the necessary pattern 551 and the unnecessary pattern 561 (ghost). Is approximately 1108: 1.

したがって、実施例1及び実施例2において、少なくとも波長が470nmから610nmの範囲内では、必要なパターン551となる光M1(屈折光LB2)の明るさが向上し、不必要なパターン561(ゴースト)となる光M2(屈折光LB2a)の明るさが低下する。 Therefore, in Example 1 and Example 2, at least within the wavelength range of 470 nm to 610 nm, the brightness of the light M 1 (refracted light LB 2 ) that becomes the necessary pattern 551 is improved, and an unnecessary pattern 561 ( The brightness of the light M 2 (refracted light LB 2 a) that becomes a ghost decreases.

図11は、実施例1における入射光の角度と光反射率との関係を示す図である。図12は、実施例2における入射光の角度と光反射率との関係を示す図である。図13は、比較例における入射光の角度と光反射率との関係を示す図である。以下では、図11〜図13に示す入射光LB1の角度θ1と光反射率Rとの関係を、「光反射率の角度特性」と称する。 FIG. 11 is a diagram illustrating the relationship between the angle of incident light and the light reflectance in the first embodiment. FIG. 12 is a diagram illustrating the relationship between the angle of incident light and the light reflectance in the second embodiment. FIG. 13 is a diagram illustrating the relationship between the angle of incident light and the light reflectance in the comparative example. Hereinafter, the relationship between the angle theta 1 and the light reflectivity R of the incident light LB 1 shown in FIGS. 11 to 13, referred to as "angular characteristics of light reflectance".

図11〜図13において、横軸は入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1(図9参照)であり、縦軸は光反射率R(%)である。また、図11〜図13において、波長が470nmの青色の光を□印の破線で示し、波長が540nmの緑色の光を●印の破線で示し、波長が610nmの赤色の光を△印の破線で示している。 11 to 13, the horizontal axis represents the angle θ 1 (see FIG. 9) formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction, and the vertical axis represents the light reflectance R (%). In addition, in FIGS. 11 to 13, blue light having a wavelength of 470 nm is indicated by a dotted line with □, green light having a wavelength of 540 nm is indicated by a broken line with ●, and red light having a wavelength of 610 nm is indicated by a Δ mark. It is indicated by a broken line.

図11に示す実施例1、及び、図12に示す実施例2では、470nm、540nm、及び610nmのいずれの波長の光に対しても、角度θ1が少なくとも20度以下で光反射率Rが、図13に示す比較例と比べて小さくなっている。これは、図10に示した結果と同様に、実施例1及び実施例2では、正面方向(Z方向)付近における光反射率Rが比較例よりも低く抑えられ、ゴーストが視認されにくくなっていることを示している。 In Example 1 shown in FIG. 11 and Example 2 shown in FIG. 12, the angle θ 1 is at least 20 degrees or less and the light reflectance R is any wavelength of light of 470 nm, 540 nm, and 610 nm. This is smaller than the comparative example shown in FIG. Similarly to the result shown in FIG. 10, in Example 1 and Example 2, the light reflectance R in the vicinity of the front direction (Z direction) is suppressed to be lower than that in the comparative example, and the ghost is hardly visually recognized. It shows that.

このように、実施例1及び実施例2では、反射防止層44を備えていない比較例と比べて、入射光LB1の角度θ1が臨界角α2と比べて極めて小さい場合に、必要なパターン551を表示する光M1の明るさが向上し、不必要なパターン561(ゴースト)を表示する光M2の明るさが低下する。したがって、図9に示す有機EL装置100では、反射防止層44を備えることによりゴーストが視認されにくくなるので、表示品位を高めることができる。 Thus, the first and second embodiments are necessary when the angle θ 1 of the incident light LB 1 is extremely smaller than the critical angle α 2 as compared with the comparative example that does not include the antireflection layer 44. The brightness of the light M 1 displaying the pattern 551 is improved, and the brightness of the light M 2 displaying the unnecessary pattern 561 (ghost) is decreased. Therefore, in the organic EL device 100 shown in FIG. 9, since the ghost is hardly visually recognized by providing the antireflection layer 44, the display quality can be improved.

ところで、上述したゴーストの他に、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が臨界角α2より小さい場合でも、反射光LB3により、必要なパターン551から離れた位置にパターン552及びパターン553のような不必要な表示がある程度生じてしまう。角度θ1が臨界角α2以上において不必要な表示が抑制されることで、角度θ1が臨界角α2より小さい場合に生じる不必要な表示が視認し易くなり目立ってしまう場合がある。 By the way, in addition to the above-described ghost, even when the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is smaller than the critical angle α 2 , the reflected light LB 3 moves away from the necessary pattern 551. Unnecessary displays such as the pattern 552 and the pattern 553 are generated to some extent. By suppressing unnecessary display when the angle θ 1 is greater than or equal to the critical angle α 2 , unnecessary display that occurs when the angle θ 1 is smaller than the critical angle α 2 may be easily visible and noticeable.

そこで、本実施形態に係る有機EL装置100では、必要なパターン551に重なるように表示されるゴーストだけでなく、必要なパターン551から離れた位置に表示される不必要な表示も抑えられる構成を有している。より具体的には、有機EL装置100では、対向基板40の面40aにおける光反射率Rが50%を超える場合に、反射光LB3により表示領域E1に不必要な表示がなされることを抑制する。 Therefore, in the organic EL device 100 according to the present embodiment, not only a ghost displayed so as to overlap the necessary pattern 551 but also an unnecessary display displayed at a position away from the necessary pattern 551 can be suppressed. Have. More specifically, in the organic EL device 100, when the optical reflectivity R at the surface 40a of the counter substrate 40 is more than 50%, by the reflected light LB 3 in the display area E 1 that unnecessary display is performed Suppress.

図11〜図13に示すように、実施例1、実施例2、及び比較例のいずれにおいても、光反射率Rは、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が大きくなるほど大きくなり、角度θ1が40度となるあたりで急激に増加する。光反射率Rが大きくなるほど、反射光LB3の輝度が高くなるので、反射光LB3による不必要な表示が目立ち易くなる。本実施形態では、光反射率Rが50%を超える場合に、反射光LB3による不必要な表示を抑えることとする。 As shown in FIGS. 11 to 13, in any of Example 1, Example 2, and Comparative Example, the light reflectance R has a large angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction. As the angle θ 1 becomes 40 degrees, it increases rapidly. As the light reflectance R increases, the brightness of the reflected light LB 3 increases, so that unnecessary display due to the reflected light LB 3 is more noticeable. In the present embodiment, unnecessary display due to the reflected light LB 3 is suppressed when the light reflectance R exceeds 50%.

図14は、実施形態1に係る有機EL装置を示す概略断面図である。図14は、図5と同様に、図1のA−A’線に沿った概略断面図に相当する。図14に示す有機EL装置100は、図5に示す有機EL装置100Aの対向基板40の面40a上に反射防止層44を備えたものである。図14に示す角度α1は、面40aにおける光反射率Rが50%を超える最小の角度である。 FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing the organic EL device according to the first embodiment. 14 corresponds to a schematic cross-sectional view along the line AA ′ in FIG. 1, as in FIG. The organic EL device 100 shown in FIG. 14 includes an antireflection layer 44 on the surface 40a of the counter substrate 40 of the organic EL device 100A shown in FIG. The angle α 1 shown in FIG. 14 is the minimum angle at which the light reflectance R on the surface 40a exceeds 50%.

図14に示すように、実施形態1に係る有機EL装置100は、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度θ1が、光反射率Rが50%を超える最小の角度である角度α1以上となる場合、その反射光LB3を第2反射層25bに入射させる。これにより、面40aにおける光反射率Rが50%を超える場合に、反射光LB3が表示領域E1に入射しないようにして、表示領域E1に不必要な表示がなされることを抑制する。 As shown in FIG. 14, in the organic EL device 100 according to the first embodiment, the angle θ 1 formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction is the minimum angle at which the light reflectance R exceeds 50%. When the angle α 1 is greater than or equal to 1 , the reflected light LB 3 is incident on the second reflective layer 25b. Thus, if the light reflection factor R in the plane 40a is more than 50%, as the reflected light LB 3 does not enter the display area E 1, it prevents the unnecessary display is performed in the display area E 1 .

「適正な対向基板の板厚(2)」
Z方向となす角度θ1が光反射率Rが50%を超える最小の角度α1以上となる入射光LB1が、面40aで反射され、第2反射層25bに入射することができる対向基板40の板厚L1は、上述した式(10)において、角度α2を角度α1に置き換えることにより、以下に示す式(14)で表される。
1/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)…(14)
"Appropriate thickness of counter substrate (2)"
Incident light LB 1 that the angle theta 1 formed with the Z-direction is the minimum angle alpha 1 or the light reflectance R is greater than 50%, it is reflected by the surface 40a, a counter substrate which can be incident on the second reflective layer 25b The plate thickness L 1 of 40 is expressed by the following formula (14) by replacing the angle α 2 with the angle α 1 in the above-described formula (10).
X 1 / (2 tan α 1 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 1 ) (14)

すなわち、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1以上となる場合に、反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させるためには、対向基板40の板厚L1は、式(14)を満たすことが好ましい。式(14)を満たすと、対向基板40を最も薄くすることができる。 That is, in order to make the reflected light LB 3 incident on the non-display area E 2 (second reflective layer 25b) when the light reflectance R is equal to or larger than the minimum angle α 1 exceeding 50%, the counter substrate 40 The plate thickness L 1 preferably satisfies the formula (14). When the expression (14) is satisfied, the counter substrate 40 can be made the thinnest.

さらに、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1以上となる場合に、X−Y平面上の全ての方向において不必要な表示を抑制するため、対向基板40の板厚L1は、上述した式(11)において角度α2を角度α1に置き換えることにより得られる以下の式(15)を満たすことがより好ましい。
3/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)…(15)
Further, in order to suppress unnecessary display in all directions on the XY plane when the light reflectance R is equal to or larger than the minimum angle α 1 exceeding 50%, the plate thickness L 1 of the counter substrate 40 is It is more preferable to satisfy the following expression (15) obtained by replacing the angle α 2 with the angle α 1 in the above-described expression (11).
X 3 / (2 tan α 1 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 1 ) (15)

ここで、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1は、反射防止層44の構成によって必ずしも同一とはならない。上述した実施例1及び実施例2について、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1が比較例と比べてどのようになるかを、図11〜図13を参照して説明する。 Here, the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% is not necessarily the same depending on the configuration of the antireflection layer 44. In the first and second embodiments described above, the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% will be described with reference to FIGS. 11 to 13.

図13に示すように、比較例では、波長が470nmの青色の光と、波長が540nmの緑色の光と、波長が610nmの赤色の光とで光反射率の角度特性の差異はほとんどなく、光反射率Rが50%となる角度θ1は42度付近にある。そこで、比較例では、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1を42度とする。なお、比較例では、反射防止層44がないので、光反射率の角度特性は対向基板40の光屈折率n1に依存する。 As shown in FIG. 13, in the comparative example, there is almost no difference in the angular characteristics of the light reflectance between the blue light having a wavelength of 470 nm, the green light having a wavelength of 540 nm, and the red light having a wavelength of 610 nm. The angle θ 1 at which the light reflectance R is 50% is in the vicinity of 42 degrees. Therefore, in the comparative example, the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% is set to 42 degrees. In the comparative example, since the antireflection layer 44 is not provided, the angle characteristic of the light reflectance depends on the light refractive index n 1 of the counter substrate 40.

図11に示すように、実施例1では、波長が470nmの青色の光と、波長が540nmの緑色の光と、波長が610nmの赤色の光とで、角度θ1が40度以下の場合に光反射率Rに若干の差異がみられるが、角度θ1が40度を超えると光反射率の角度特性の差異はほとんどなく光反射率Rは比較例とほぼ同じ程度となっている。比較例と同様に、光反射率Rが50%となる角度θ1は42度付近にある。そこで、実施例1では、比較例と同様に、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1を42度とする。 As shown in FIG. 11, in Example 1, when the angle θ 1 is 40 degrees or less with blue light having a wavelength of 470 nm, green light having a wavelength of 540 nm, and red light having a wavelength of 610 nm. Although there is a slight difference in the light reflectivity R, when the angle θ 1 exceeds 40 degrees, there is almost no difference in the angle characteristics of the light reflectivity, and the light reflectivity R is almost the same as in the comparative example. Similar to the comparative example, the angle θ 1 at which the light reflectance R is 50% is around 42 degrees. Therefore, in Example 1, as in the comparative example, the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% is set to 42 degrees.

図12に示すように、実施例2では、実施例1や比較例と比べて、波長が470nmの青色の光と、波長が540nmの緑色の光と、波長が610nmの赤色の光とで、光反射率の角度特性に差異がみられる。特に、波長が610nmの赤色の光の光反射率Rが50%となる角度θ1は、実施例1や比較例よりも小さく、36度付近にある。そこで、実施例2では、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1を36度とする。 As shown in FIG. 12, in Example 2, compared with Example 1 and a comparative example, blue light with a wavelength of 470 nm, green light with a wavelength of 540 nm, and red light with a wavelength of 610 nm, There is a difference in the angle characteristics of the light reflectance. In particular, the angle θ 1 at which the light reflectance R of red light having a wavelength of 610 nm is 50% is smaller than that of Example 1 and the comparative example, and is around 36 degrees. Therefore, in Example 2, the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% is set to 36 degrees.

この結果から、実施例1では、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1において反射光LB3を非表示領域E2(第2反射層25b)に入射させるための対向基板40の板厚L1は、比較例と同じでよいこととなる。光反射率Rが50%を超える最小の角度α1が42度であると、表示領域E1の表示サイズが25.4mmであり、アスペクト比が4:3である場合、式(15)を満たす好ましい対向基板40の板厚L1は、8.5mm〜28.2mmの範囲となる。 From this result, in Example 1, the light reflectance R is minimum non-display area E 2 of the reflected light LB 3 at an angle alpha 1 of the counter substrate 40 for causing the incident (second reflective layer 25b) of greater than 50% The plate thickness L 1 may be the same as that in the comparative example. When the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% is 42 degrees, when the display size of the display area E 1 is 25.4 mm and the aspect ratio is 4: 3, the expression (15) is obtained. A preferable thickness L 1 of the counter substrate 40 to be satisfied is in the range of 8.5 mm to 28.2 mm.

実施例2では、実施例1や比較例と比べて、光反射率Rが50%を超える最小の角度α1が小さくなるため、適正な対向基板40の板厚L1は大きくなる。光反射率Rが50%を超える最小の角度α1が36度であると、表示領域E1の表示サイズが25.4mmであり、アスペクト比が4:3である場合、式(15)を満たす好ましい対向基板40の板厚L1は、10.5mm〜35.0mmの範囲となる。 In Example 2, since the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% is reduced as compared with Example 1 and the comparative example, the appropriate thickness L 1 of the counter substrate 40 is increased. When the minimum angle α 1 at which the light reflectance R exceeds 50% is 36 degrees, when the display size of the display area E 1 is 25.4 mm and the aspect ratio is 4: 3, the expression (15) is obtained. A preferable thickness L 1 of the counter substrate 40 to be satisfied is in the range of 10.5 mm to 35.0 mm.

なお、図11および図12に示す角度θ1と光反射率Rとの関係や光の波長による特性の差異は、反射防止層44を構成する積層膜(低屈折率材料からなる膜及び高屈折率材料からなる膜)それぞれの光屈折率や膜厚、及び膜の積層数等によって変化する。したがって、表示領域E1の表示サイズや好ましい対向基板40の板厚L1等に応じて、反射防止層44を構成する積層膜の光屈折率、膜厚、積層数等を適宜設定すればよい。 Note that the relationship between the angle θ 1 and the light reflectance R shown in FIGS. 11 and 12 and the difference in characteristics depending on the wavelength of light are caused by the laminated film constituting the antireflection layer 44 (a film made of a low refractive index material and a high refractive index) Film made of a refractive index material) varies depending on the optical refractive index, film thickness, number of laminated films, and the like. Therefore, the optical refractive index, the film thickness, the number of layers, etc. of the laminated film constituting the antireflection layer 44 may be appropriately set according to the display size of the display area E 1 , the preferred plate thickness L 1 of the counter substrate 40, and the like. .

「適正な対向基板の額縁幅」
次に、適正な対向基板40の額縁幅(表示領域E1と対向基板40の外縁との間隔L2)について、図15を参照して説明する。図15は、図14に対応する図であり、図1のA−A’線に沿った有機EL装置の概略断面図である。図15では、上述した図9及び図14と同じ構成要素に同じ符号、つまり有機EL素子30で発せられ面40aに向かう入射光に符号LB1を、面40aで屈折し大気601の側に向かう屈折光に符号LB2を付している。表示領域E1と側面40−4(対向基板40の外縁)との間隔(X方向の距離)は、L2である。
"Appropriate counter substrate frame width"
Next, an appropriate frame width of the counter substrate 40 (interval L 2 between the display region E 1 and the outer edge of the counter substrate 40) will be described with reference to FIG. FIG. 15 corresponds to FIG. 14 and is a schematic cross-sectional view of the organic EL device taken along the line AA ′ of FIG. In FIG. 15, the same components as those in FIGS. 9 and 14 described above have the same reference, that is, the reference light LB 1 is emitted from the organic EL element 30 toward the surface 40 a, and the reference light LB 1 is refracted by the surface 40 a toward the atmosphere 601. The reference light LB 2 is attached to the refracted light. Display region E 1 and the side surface 40-4 distance between (the outer edge of the counter substrate 40) (distance in the X direction) is L 2.

図15中の点Pは、面40aのX方向に沿った辺と側面40−4のY方向に沿った辺との交点である。図15中の二点鎖線は、仮に側面40−4をX方向の側に移動させた場合の想定線である。また、側面40−4(及び側面40−1,40−2,40−3)と表示領域E1との間隔は、L2である。以下では、側面40−4(及び側面40−1,40−2,40−3)と表示領域E1との間隔L2を、対向基板40の額縁幅L2と称する。 A point P in FIG. 15 is an intersection of the side along the X direction of the surface 40a and the side along the Y direction of the side surface 40-4. The two-dot chain line in FIG. 15 is an assumed line when the side surface 40-4 is moved to the X direction side. The distance between the side surface 40-4 (and the side surface 40-1, 40-2, 40-3) and the display area E 1 is L 2. Hereinafter, the interval L 2 between the side surface 40-4 (and the side surfaces 40-1, 40-2, 40-3) and the display area E 1 is referred to as a frame width L 2 of the counter substrate 40.

図15に示すように、Z方向となす角度がγの入射光LB1は面40aの点Pを通過し、Z方向となす角度がβの屈折光LB2として大気601の側に射出される。 As shown in FIG. 15, the incident light LB 1 having an angle γ with respect to the Z direction passes through a point P on the surface 40a, and is emitted to the atmosphere 601 as refracted light LB 2 having an angle β with respect to the Z direction. .

有機EL装置100では、Z方向となす角度が0度〜βの範囲にある屈折光LB2を表示光として使用している。換言すれば、有機EL装置100では、Z方向となす角度が0度〜βの方向から表示領域E1を見た場合に、画像の全体を視認することができる。 In the organic EL device 100, using the refracted light LB 2 that the angle formed with the Z direction is in the range of 0 ° ~β as display light. In other words, in the organic EL device 100, it is possible if the angle between the Z-direction viewed display area E 1 from the direction of 0 degrees ~Beta, viewing the entire image.

入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度γ、及び屈折光LB2の進行方向とZ方向とがなす角度βには、スネルの法則から、以下に示す式(16)の関係が成り立つ。
1sinγ=n2sinβ…(16)
The angle γ formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction and the angle β formed by the traveling direction of the refracted light LB 2 and the Z direction are expressed by the following equation (16) from Snell's law. It holds.
n 1 sin γ = n 2 sin β (16)

よって、入射光LB1の進行方向とZ方向とがなす角度γは、以下に示す式(17)で求めることができる。
γ=sin-1((n2/n1)sinβ)…(17)
Therefore, the angle γ formed by the traveling direction of the incident light LB 1 and the Z direction can be obtained by Expression (17) shown below.
γ = sin −1 ((n 2 / n 1 ) sin β) (17)

側面40−4が、図15に示す状態と比べてX(+)方向の側に配置されたと仮定した場合、つまり二点鎖線の位置に側面40−4が配置されたと仮定した場合、Z方向となす角度がγである入射光LB1(点Kから点Pに向かう光LB1)は、二点鎖線で示された側面40−4によって遮られる。よって、Z方向となす角度がβの方向から表示領域E1を見ると、画像の一部が二点鎖線で示された側面40−4で隠され、画像の全体を視認することが難しい。 When it is assumed that the side surface 40-4 is disposed on the X (+) direction side as compared with the state illustrated in FIG. 15, that is, when the side surface 40-4 is disposed at the position of the two-dot chain line, The incident light LB 1 (the light LB 1 traveling from the point K to the point P) whose angle is γ is blocked by the side surface 40-4 indicated by the two-dot chain line. Therefore, when the angle between the Z-direction viewing the display area E 1 from the direction of beta, some images are hidden by side 40-4 shown by a two-dot chain line, it is difficult to visually recognize the entire image.

側面40−4が、図15に示す状態である場合、または図15に示す状態と比べてX(−)方向の側に配置されたと仮定した場合、Z方向となす角度がγである入射光LB1は、二点鎖線で示された側面40−4によって遮られない。よって、Z方向となす角度がβの方向から表示領域E1を見ると、画像の全体を視認することができる。 When the side surface 40-4 is in the state shown in FIG. 15 or when it is assumed that the side surface 40-4 is arranged on the X (−) direction side as compared with the state shown in FIG. LB 1 is not blocked by the side surface 40-4 indicated by the two-dot chain line. Therefore, when the display area E 1 is viewed from the direction in which the angle formed with the Z direction is β, the entire image can be visually recognized.

側面40−4のZ方向寸法(対向基板40の板厚)はL1であり、入射光LB1とZ方向とがなす角度はγであるので、Z方向となす角度が0度〜βの方向から表示領域E1を見た場合に、屈折光LB2(表示光)による画像の全体を視認するためには、対向基板40の額縁幅L2は、以下に示す式(18)を満たすことが好ましい。
2≧L1tanγ…(18)
Z-direction dimension of the side face 40-4 (thickness of the counter substrate 40) is L 1, since the angle between the incident light LB 1 and Z direction is gamma, the angle between the Z-direction of 0 degrees ~β When viewing the display region E 1 from the direction, the frame width L 2 of the counter substrate 40 satisfies the following expression (18) in order to visually recognize the entire image by the refracted light LB 2 (display light). It is preferable.
L 2 ≧ L 1 tan γ (18)

なお、対向基板40の額縁幅L2が大きくなりすぎると、有機EL装置100の小型化や軽量化の点で好ましくない。よって、画像の全体を視認することができる好ましい対向基板40の額縁幅L2は、表示領域E1の外周の2点を結ぶ線のうち最も長い線の長さX3以下、または表示領域E1の中心CPを通り表示領域E1の外周を結ぶ線のうち最も長い線の長さX3以下であることが好ましい。 Note that if the frame width L 2 of the counter substrate 40 is too large, it is not preferable in terms of size reduction and weight reduction of the organic EL device 100. Therefore, the preferable frame width L 2 of the counter substrate 40 that allows the entire image to be visually recognized is equal to or less than the length X 3 of the longest line among the lines connecting two points on the outer periphery of the display area E 1 or the display area E. it is preferred among the line connecting the outer periphery of the street display area E 1 1 of the center CP is the most the length of the long line X 3 or less.

従って、対向基板40の額縁幅L2が、以下に示す式(19)を満たすと、Z方向となす角度が0度〜βの方向から表示領域E1を見た場合に、画像の全体を視認することができる。
1tanγ≦L2≦X3…(19)
Accordingly, when the frame width L 2 of the counter substrate 40 satisfies the following expression (19), the entire image is displayed when the display area E 1 is viewed from the direction in which the angle formed with the Z direction is 0 ° to β. It can be visually recognized.
L 1 tan γ ≦ L 2 ≦ X 3 (19)

以上述べたように、本実施形態に係る有機EL装置100の構成によれば、以下に示す効果を得ることができる。   As described above, according to the configuration of the organic EL device 100 according to the present embodiment, the following effects can be obtained.

(1)本実施形態に係る有機EL装置100は、対向基板40の面40a上に反射防止層44が配置されているため、有機EL素子30で発せられた入射光LB1のうち面40aで素子基板10側へ反射される反射光LB3が低減されるので、表示領域E1内で反射される光が抑えられる。また、対向基板40の厚さL1が上述した式(14)を満たすため、対向基板40の面40aにおける光反射率Rが50%を超える場合に、面40aで素子基板10側へ反射された反射光LB3は、非表示領域E2に入射するので非表示領域E2で反射される。そのため、対向基板40から射出される表示光以外の不必要な光が抑えられるので、表示品位の低下を抑制できる。従って、本実施形態に係る有機EL装置100では、高品位の表示を提供することができる。 (1) Organic EL device 100 according to this embodiment, since the anti-reflection layer 44 on the surface 40a of the counter substrate 40 are arranged, the inner surface 40a of the incident light LB 1 emitted by the organic EL element 30 since the reflected light LB 3 is reflected to the element substrate 10 can be reduced, it suppressed the light reflected in the display area E 1. Further, since the thickness L 1 of the counter substrate 40 satisfies the above-described formula (14), when the light reflectance R on the surface 40a of the counter substrate 40 exceeds 50%, the counter substrate 40 is reflected toward the element substrate 10 side. reflected light LB 3 has are reflected in the non-display area E 2 is incident on the non-display area E 2. Therefore, unnecessary light other than the display light emitted from the counter substrate 40 can be suppressed, so that deterioration in display quality can be suppressed. Therefore, the organic EL device 100 according to the present embodiment can provide a high-quality display.

(2)反射防止層44が誘電体多層膜からなるので、対向基板40の面40aで反射される反射光LB3を効果的に低減できる。 (2) Since the antireflection layer 44 is made of a dielectric multilayer film, the reflected light LB 3 reflected by the surface 40a of the counter substrate 40 can be effectively reduced.

(3)反射防止層44を備えることで面40aの法線方向における光反射率Rが2%以下に抑えられるので、有機EL素子30で発せられた入射光LB1のうち、その進行方向と面40aの法線方向とがなす角度θ1が小さい光であって、表示光以外の不必要な光(ゴースト)となる反射光LB3を効果的に抑えることができる。 (3) Since the light reflectance R is suppressed to 2% or less in the normal direction of the surface 40a by providing an anti-reflection layer 44, of the incident light LB 1 emitted by the organic EL element 30, and its traveling direction The reflected light LB 3 which is light having a small angle θ 1 formed by the normal direction of the surface 40a and which is unnecessary light (ghost) other than display light can be effectively suppressed.

(4)反射防止層44を備えていても面40aの法線方向における光透過率Tが90%以上であるので、有機EL素子30で発せられた入射光LB1のうち、表示光となる面40aの法線方向に沿って射出される光の輝度の低下を抑えることができる。 (4) Since the light transmittance T in the normal direction of the surface 40a is 90% or more even if the antireflection layer 44 is provided, the incident light LB 1 emitted from the organic EL element 30 becomes display light. It is possible to suppress a decrease in luminance of light emitted along the normal direction of the surface 40a.

(5)対向基板40の屈折率n1が1.2から1.6の範囲にあるので、有機EL素子30で発せられた入射光LB1を表示光として大気601の側に通過(射出)させることができ、素子基板10に形成された有機EL素子30が傷つかないように保護することができる。 (5) Since the refractive index n 1 of the counter substrate 40 is in the range of 1.2 to 1.6, the incident light LB 1 emitted from the organic EL element 30 is passed (emitted) to the atmosphere 601 side as display light. Thus, the organic EL element 30 formed on the element substrate 10 can be protected from being damaged.

(6)媒質が大気601であるので、有機EL素子30で発せられた入射光LB1を表示光として大気601の側に射出させることによって、当該表示光による画像を視認することができる。 (6) Since the medium is the atmosphere 601, the incident light LB 1 emitted from the organic EL element 30 is emitted as the display light to the atmosphere 601 side, whereby an image by the display light can be visually recognized.

(7)表示領域E1の形状の最も長い対角線の長さX3が25.4mm以下であるので、好ましい対向基板40の厚さL1の上限値(X3/(tanα1))を実用に供する範囲内に収めることができる。 (7) Since the length X 3 of the longest diagonal line of the shape of the display area E 1 is 25.4 mm or less, a preferable upper limit (X 3 / (tan α 1 )) of the thickness L 1 of the counter substrate 40 is practically used. Can be within the range to be used.

(8)表示領域E1の少なくとも一部にはカラーフィルター又はブラックマトリックスが配置されていないので、表示光の輝度の低下や光の利用効率の低下を抑えることができる。 (8) Since at least a part of the display area E 1 is not disposed color filter or black matrix, it is possible to suppress a reduction in efficiency and a decrease in light intensity of the display light.

(実施形態2)
「電子機器」
図16は、電子機器の一例としてのヘッドマウントディスプレイの概略図である。図16に示すように、ヘッドマウントディスプレイ1000は、左右の目に対応して設けられた2つの表示部1001を有している。観察者Mはヘッドマウントディスプレイ1000を眼鏡のように頭部に装着することにより、表示部1001に表示された文字や画像などを見ることができる。例えば、左右の表示部1001に視差を考慮した画像を表示すれば、立体的な映像を見て楽しむこともできる。
(Embodiment 2)
"Electronics"
FIG. 16 is a schematic diagram of a head mounted display as an example of an electronic apparatus. As shown in FIG. 16, the head mounted display 1000 has two display units 1001 provided corresponding to the left and right eyes. The observer M can see characters and images displayed on the display unit 1001 by wearing the head mounted display 1000 on the head like glasses. For example, if an image in consideration of parallax is displayed on the left and right display units 1001, a stereoscopic video can be viewed and enjoyed.

表示部1001には、上記実施形態に係る有機EL装置100が搭載されている。有機EL装置100では、反射層25や側面40−1,40−2,40−3,40−4における光の反射による不必要な表示が抑制され、高品位の表示を提供することができる。従って、表示部1001に上記実施形態に係る有機EL装置100を搭載することによって、高品位の表示のヘッドマウントディスプレイ1000を提供することができる。   The display unit 1001 includes the organic EL device 100 according to the above embodiment. In the organic EL device 100, unnecessary display due to light reflection on the reflective layer 25 and the side surfaces 40-1, 40-2, 40-3, and 40-4 is suppressed, and a high-quality display can be provided. Therefore, by mounting the organic EL device 100 according to the above embodiment on the display unit 1001, a head mounted display 1000 with a high-quality display can be provided.

なお、上記実施形態に係る有機EL装置100が搭載される電子機器は、ヘッドマウントディスプレイ1000に限定されない。例えば、ヘッドアップディスプレイや、デジタルカメラの電子ビューファインダー、携帯型情報端末、ナビゲーターなどの表示部を有する電子機器に搭載してもよい。   Note that the electronic device on which the organic EL device 100 according to the above embodiment is mounted is not limited to the head mounted display 1000. For example, it may be mounted on an electronic device having a display unit such as a head-up display, an electronic viewfinder of a digital camera, a portable information terminal, or a navigator.

(侵害物件の特定)
本発明に係る表示装置、及び表示装置を備えた電子機器についての侵害物件の特定は、以下の方法により実施することが可能である。
(Identification of infringing property)
Identification of an infringing property for a display device according to the present invention and an electronic device including the display device can be performed by the following method.

(1)侵害の対象とされる物件である表示装置から、透光性の基板(素子基板に対向配置された基板)を反射防止層が配置されたままの状態で取り外し、透光性の基板の反射防止層とは反対側の面に光を入射させて、大気中で光反射率の角度特性を測定する。このとき、透光性の基板の材料(ガラス)の屈折率が既知であることが前提であるが、ガラスの屈折率は、反射防止層を除去した状態の透光性の基板を、例えば分光エリプソメトリー(偏光解析法)や、プリズム形状に加工して屈折角を測定すること、などによって解析することができる。また、光反射率の角度特性を測定する際には、透光性基板の反射防止膜とは反対側から透光性基板の板厚を薄く加工して、測定が容易に行えるようにしてもよい。   (1) A translucent substrate (a substrate disposed opposite to an element substrate) is removed from a display device, which is a property subject to infringement, with the antireflection layer disposed, and the translucent substrate The light is incident on the surface opposite to the antireflection layer, and the angle characteristic of the light reflectance is measured in the atmosphere. At this time, it is assumed that the refractive index of the material (glass) of the light-transmitting substrate is known, but the refractive index of the glass is obtained by, for example, spectroscopic analysis of the light-transmitting substrate with the antireflection layer removed. Analysis can be performed by ellipsometry (polarimetric analysis) or by measuring the refraction angle after processing into a prism shape. When measuring the angle characteristics of the light reflectance, the thickness of the light-transmitting substrate is thinned from the side opposite to the antireflection film of the light-transmitting substrate so that the measurement can be easily performed. Good.

(2)得られた光反射率の角度特性から、光反射率が50%になる入射光の角度θ1を読み取る。図17は、上記実施例2の対向基板40を反射防止層44が配置されたままの状態で取り外し大気中で測定した光反射率の角度特性を示す図である。図17において光反射率が50%になる入射光の角度θ1は、60度付近であると読み取れる。 (2) From the obtained angle characteristic of the light reflectance, the angle θ 1 of incident light at which the light reflectance becomes 50% is read. FIG. 17 is a diagram showing the angle characteristics of the light reflectance measured in the atmosphere by removing the counter substrate 40 of Example 2 with the antireflection layer 44 still disposed. In FIG. 17, the angle θ 1 of the incident light at which the light reflectance is 50% can be read as being around 60 degrees.

(3)スネルの法則を用いて、透光性の基板の表面における光反射率Rが50%を超える最小の角度α1を計算する。
sinθ1=(透光性の基板の屈折率)×sinα1
α1=sin-1(sinθ1/(透光性の基板の屈折率))
ここで、角度θ1を60度とし、透光性の基板の屈折率を1.46とすると、
α1=sin-1(sin60°/1.46)≒36.4°
となり、上記実施形態1の実施例2における角度α1(図12参照)とほぼ同じ結果が得られる。
(3) Using Snell's law, calculate the minimum angle α 1 at which the light reflectance R on the surface of the translucent substrate exceeds 50%.
sin θ 1 = (refractive index of translucent substrate) × sin α 1
α 1 = sin −1 (sin θ 1 / (refractive index of translucent substrate))
Here, when the angle θ 1 is 60 degrees and the refractive index of the light-transmitting substrate is 1.46,
α 1 = sin −1 (sin 60 ° / 1.46) ≈36.4 °
Thus, substantially the same result as the angle α 1 (see FIG. 12) in Example 2 of Embodiment 1 is obtained.

なお、大気中で反射防止層が配置された状態の透光性の基板の光反射率の角度特性を測定するため、透光性の基板の入射側の面(反射防止層とは反対側の面)と大気との界面で入射光の一部が反射されることにより、実施例2における角度α1に多少の誤差が生じる場合がある。この入射光の一部反射に起因する誤差は、計算により除去することが可能であるが、ここではその説明を割愛する。 In addition, in order to measure the angle characteristic of the light reflectivity of the translucent substrate with the antireflection layer disposed in the atmosphere, the incident side surface of the translucent substrate (on the side opposite to the antireflection layer) Some errors may occur in the angle α 1 in the second embodiment due to a part of the incident light reflected at the interface between the surface and the atmosphere. The error due to the partial reflection of the incident light can be removed by calculation, but the description thereof is omitted here.

(4)表示装置の表示領域の形状の外周をなす辺のうち最も短い辺の長さ(X1)と、表示領域の形状の対角線のうち最も長い対角線の長さ(X3)と、透光性の基板の厚さ(L1)とを測定する。 (4) The length (X 1 ) of the shortest side among the sides forming the outer periphery of the shape of the display area of the display device, the length (X 3 ) of the longest diagonal line among the diagonal lines of the shape of the display area, The thickness (L 1 ) of the optical substrate is measured.

(5)上記の測定で得られた値を上記実施形態の式(14)に代入して、式(14)の関係が成立するか否かを検証する。式(14)の関係が成立すれば、対象物件である表示装置は、本発明を侵害しているものと推定することができる。
1/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)…(14)
(5) The value obtained by the above measurement is substituted into the equation (14) of the above embodiment, and it is verified whether or not the relationship of the equation (14) is established. If the relationship of Formula (14) is materialized, it can be estimated that the display apparatus which is a target property is infringing the present invention.
X 1 / (2 tan α 1 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 1 ) (14)

本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨あるいは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う表示装置及び当該表示装置が搭載された電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれる。また、上記実施形態以外にも様々な変形例が考えられる。変形例としては、例えば、以下のようなものが挙げられる。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately changed without departing from the scope or spirit of the invention that can be read from the claims and the entire specification. An electronic device equipped with a display device is also included in the technical scope of the present invention. In addition to the above embodiments, various modifications can be considered. Examples of modifications include the following.

(変形例1)
上記実施形態では、有機EL装置100が遮光層51を備えた構成であったが、本発明はこのような形態に限定されない。遮光層51の代わりに遮光性を有する樹脂層を備えた構成であってもよい。
(Modification 1)
In the said embodiment, although the organic electroluminescent apparatus 100 was the structure provided with the light shielding layer 51, this invention is not limited to such a form. The structure provided with the resin layer which has light-shielding property instead of the light-shielding layer 51 may be sufficient.

図18は、図14に対応する図面であり、変形例1に係る有機EL装置の構成を示す概略断面図である。本変形例に係る有機EL装置200では、実施形態1の有機EL装置100における遮光層51が省略され、非表示領域E2の少なくとも一部に光を吸収する樹脂層(第2樹脂層42b)が代わりに配置されている。この点が、本変形例と実施形態1との相違点である。 FIG. 18 corresponds to FIG. 14 and is a schematic cross-sectional view illustrating the configuration of an organic EL device according to Modification 1. In the organic EL device 200 according to this modification, the light-shielding layer 51 is omitted in the organic EL device 100 of Embodiment 1, the resin layer that absorbs light in at least part of the non-display area E 2 (second resin layer 42b) Is arranged instead. This is the difference between this modification and the first embodiment.

図18に示すように、素子基板10と対向基板40との間に配置された樹脂層42は、透光性を有する第1樹脂層42aと、遮光性を有する第2樹脂層42bとで構成される。第1樹脂層42aは表示領域E1に配置され、第2樹脂層42bは非表示領域E2の少なくとも一部に配置されている。第2樹脂層42bは、光を吸収する樹脂であり、例えば黒色の色材(例えば、顔料)が分散された樹脂である。 As shown in FIG. 18, the resin layer 42 disposed between the element substrate 10 and the counter substrate 40 includes a first resin layer 42a having translucency and a second resin layer 42b having light shielding properties. Is done. The first resin layer 42a is disposed in the display area E 1, the second resin layer 42b is disposed on at least a portion of the non-display area E 2. The second resin layer 42b is a resin that absorbs light, for example, a resin in which a black color material (for example, a pigment) is dispersed.

素子基板10と対向基板40との間で、非表示領域E2の少なくとも一部に光を吸収する樹脂(第2樹脂層42b)が配置されているので、第2樹脂層42bが配置されてない場合と比べて、第2反射層25bによって反射された光が表示領域E1の側により進行しにくくなり、不必要な表示をより強く抑制することができる。 Between the element substrate 10 and the counter substrate 40, the resin that absorbs light in at least part of the non-display area E 2 (second resin layer 42b) are arranged, the second resin layer 42b is disposed compared to the case without, can be light reflected by the second reflective layer 25b is less likely to proceed by the side of the display area E 1, stronger suppress unwanted impressions.

(変形例2)
上記実施形態では、反射防止層44が誘電体多層膜からなる構成であったが、本発明はこのような形態に限定されない。反射防止層44として、例えば、微細な突起で構成されるモスアイ構造等、他の反射防止構造を採用してもよい。反射防止層44がモスアイ構造からなる構成の場合にも、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。
(Modification 2)
In the above embodiment, the antireflection layer 44 is composed of a dielectric multilayer film, but the present invention is not limited to such a form. As the antireflection layer 44, for example, another antireflection structure such as a moth-eye structure composed of fine protrusions may be adopted. Even in the case where the antireflection layer 44 has a moth-eye structure, the same effect as that of the above embodiment can be obtained.

(変形例3)
表示領域E1の形状は、部分的に凹部あるいは凸部を含んでいてもよい。さらに、多角形の表示領域E1の外周をなす辺は、部分的に曲線を含んでいてもよい。さらに、円形または楕円形の表示領域E1の外周をなす辺は、部分的に直線を含んでいてもよい。すなわち、表示領域E1の形状が、実質的に多角形、円形、楕円形と見なすことができる場合、本発明が適用される技術的範囲に含まれる。
(Modification 3)
The shape of the display area E 1 may partially include a concave portion or a convex portion. Further, the side forming the outer periphery of the polygonal display area E 1 may partially include a curve. Furthermore, the side forming the outer periphery of the circular or elliptical display area E 1 may partially include a straight line. That is, when the shape of the display area E 1 can be regarded as a polygon, a circle, or an ellipse, it is included in the technical scope to which the present invention is applied.

10…素子基板、11…基板、12…走査線、13…データ線、14…電源線、15…データ線駆動回路、16…走査線駆動回路、18,18B,18G,18R…サブ画素、19…画素、20…画素回路、21…スイッチング用トランジスター、22…蓄積容量、23…駆動用トランジスター、25…反射層、25a…第1反射層、25b…第2反射層、26…光学的距離調整層、26a…第1絶縁膜、26b…第2絶縁膜、26c…第3絶縁膜、28…絶縁膜、28CT…開口、30…有機EL素子、30a…第1有機EL素子、30b…第2有機EL素子、31…画素電極、32…発光機能層、33…対向電極、34…封止層、34a…第1封止層、34b…平坦化層、34c…第2封止層、40…対向基板、42…樹脂層、44…反射防止層、51,52…遮光層、100,100A,200…有機EL装置、103…外部接続用端子、601…大気。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Element board | substrate, 11 ... Board | substrate, 12 ... Scan line, 13 ... Data line, 14 ... Power supply line, 15 ... Data line drive circuit, 16 ... Scan line drive circuit, 18, 18B, 18G, 18R ... Subpixel, 19 ... Pixel, 20 ... Pixel circuit, 21 ... Switching transistor, 22 ... Storage capacitor, 23 ... Drive transistor, 25 ... Reflective layer, 25a ... First reflective layer, 25b ... Second reflective layer, 26 ... Optical distance adjustment Layer 26a ... first insulating film 26b ... second insulating film 26c ... third insulating film 28 ... insulating film 28CT ... opening 30 ... organic EL element 30a ... first organic EL element 30b ... second Organic EL element 31 ... Pixel electrode, 32 ... Light emitting functional layer, 33 ... Counter electrode, 34 ... Sealing layer, 34a ... First sealing layer, 34b ... Flattening layer, 34c ... Second sealing layer, 40 ... Counter substrate, 42 ... resin layer, 44 ... anti Preventing layer, 51, 52 ... light shielding layer, 100, 100A, 200 ... organic EL device, 103 ... external connection terminal, 601 ... air.

Claims (11)

複数の発光素子が配置された多角形の表示領域を有する素子基板と、
前記素子基板に対向し、前記素子基板に対向する第1の面と反対側に配置された第2の面と、前記第1の面及び前記第2の面に交差する側面とを有する透光性の基板と、
前記透光性の基板の前記第2の面上に配置された反射防止層と、
を含み、
前記発光素子で発せられた光が前記第2の面から表示光として射出される表示装置であって、
前記表示領域の形状の外周をなす辺のうち、最も短い辺の長さをX1とし、
前記表示領域の形状の対角線のうち、最も長い対角線の長さをX3とし、
前記透光性の基板の厚さをL1とし、
前記発光素子で発せられた光の進行方向と前記第2の面の法線方向とがなす角度であって、前記光の前記第2の面における光反射率が50%を超える最小の角度をα1としたときに、以下に示す式(1)が成り立つことを特徴とする表示装置。
1/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)…(1)
An element substrate having a polygonal display area in which a plurality of light emitting elements are arranged;
A translucent light source having a second surface that faces the element substrate and is opposite to the first surface that faces the element substrate, and a side surface that intersects the first surface and the second surface. Sex substrate,
An antireflection layer disposed on the second surface of the translucent substrate;
Including
A display device in which light emitted from the light emitting element is emitted as display light from the second surface,
Of the sides forming the outer periphery of the shape of the display area, the length of the shortest side and X 1,
Of the diagonal lines of the shape of the display area, the length of the longest diagonal line is X 3 ,
The thickness of the translucent substrate is L 1 ,
An angle formed by a traveling direction of light emitted from the light emitting element and a normal direction of the second surface, and a minimum angle at which the light reflectance of the light on the second surface exceeds 50%. A display device characterized by the following expression (1) when α 1 is satisfied.
X 1 / (2 tan α 1 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 1 ) (1)
複数の発光素子が配置された円形または楕円形の表示領域を有する素子基板と、
前記素子基板に対向し、前記素子基板に対向する第1の面と反対側に配置された第2の面と、前記第1の面及び前記第2の面に交差する側面とを有する透光性の基板と、
前記透光性の基板の前記第2の面上に配置された反射防止層と、
を含み、
前記発光素子で発せられた光が前記第2の面から表示光として射出される表示装置であって、
前記表示領域の中心を通り前記表示領域の外周を結ぶ線のうち、最も短い線の長さをX1とし、
前記表示領域の中心を通り前記表示領域の外周を結ぶ線のうち、最も長い線の長さをX3とし、
前記透光性の基板の厚さをL1とし、
前記発光素子で発せられた光の進行方向と前記第2の面の法線方向とがなす角度であって、前記光の前記第2の面における光反射率が50%を超える最小の角度をα1としたときに、以下に示す式(1)が成り立つことを特徴とする表示装置。
1/(2tanα1)≦L1≦X3/(tanα1)…(1)
An element substrate having a circular or elliptical display region in which a plurality of light emitting elements are arranged;
A translucent light source having a second surface that faces the element substrate and is opposite to the first surface that faces the element substrate, and a side surface that intersects the first surface and the second surface. Sex substrate,
An antireflection layer disposed on the second surface of the translucent substrate;
Including
A display device in which light emitted from the light emitting element is emitted as display light from the second surface,
Of the line connecting the outer periphery of the center of the street the display area of the display area, the length of the shortest line and X 1,
Of the line connecting the outer periphery of the center of the street the display area of the display area, the longest line length and X 3,
The thickness of the translucent substrate is L 1 ,
An angle formed by a traveling direction of light emitted from the light emitting element and a normal direction of the second surface, and a minimum angle at which the light reflectance of the light on the second surface exceeds 50%. A display device characterized by the following expression (1) when α 1 is satisfied.
X 1 / (2 tan α 1 ) ≦ L 1 ≦ X 3 / (tan α 1 ) (1)
前記反射防止層は、誘電体多層膜からなることを特徴とする請求項1または2に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the antireflection layer is made of a dielectric multilayer film. 前記反射防止層は、モスアイ構造からなることを特徴とする請求項1または2に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the antireflection layer has a moth-eye structure. 前記第2の面の法線方向における光反射率が2%以下であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の表示装置。   5. The display device according to claim 1, wherein a light reflectance in a normal direction of the second surface is 2% or less. 6. 前記第2の面の法線方向における光透過率が90%以上であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein a light transmittance in a normal direction of the second surface is 90% or more. 前記透光性の基板の屈折率は、1.2から1.6の範囲にあることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein a refractive index of the translucent substrate is in a range of 1.2 to 1.6. 前記透光性の基板の前記第2の面に接する媒質は、大気であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the medium in contact with the second surface of the translucent substrate is air. 前記X3は、25.4mm以下であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の表示装置。 The display device according to claim 1, wherein X 3 is 25.4 mm or less. 前記表示領域は、少なくとも一部にカラーフィルター又はブラックマトリックスが配置されていない領域を有していることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の表示装置。   The display device according to claim 1, wherein the display region includes a region where a color filter or a black matrix is not disposed at least in part. 請求項1乃至10のいずれか1項に記載の表示装置を備えていることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the display device according to claim 1.
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