JP2016168575A - パターン形成装置及びパターン形成方法 - Google Patents
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Abstract
Description
しかるに、吐出対象となる液体が機能性材料を含む場合は、ノズル詰まりによる不吐出ノズルが発生したり、所定の着弾位置に着弾しない曲がり吐出ノズルが発生することがある。
かかる不吐出ノズルや曲がり吐出ノズルのような吐出異常ノズルの発生は、平行線パターンの形成異常を招き、その解決が望まれている。
基材に対して複数のノズルを有する液滴吐出装置を相対移動させながら、前記液滴吐出装置のノズル列の方向に対して平行に配置される画素組に対して複数のノズルから付与される機能性材料を含む液滴組を、ノズル列の方向と交差する方向に複数組付与し、複数組の前記液滴組を合一させて、ノズル列の方向と交差する方向に伸びるライン状液体を形成し、形成された前記ライン状液体を乾燥させる際に、該ライン状液体の縁に前記機能性材料を堆積させて、該機能性材料を含むパターンを形成するパターン形成装置であって、
吐出異常ノズルの発生によるパターンの形成異常を補正する制御部を有し、
該制御部は、吐出異常ノズルが検出されたら、正常時の基本液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を、補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とするパターン形成装置。
前記ライン状液体を、前記液滴吐出装置の相対移動方向に対して斜めに形成することを特徴とする前記1記載のパターン形成装置。
前記制御部は、変更候補として挙げられた複数の補正液滴吐出条件データの中から選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記1又は2記載のパターン形成装置。
前記制御部は、前記複数の補正液滴吐出条件データの各々を仮選定して前記パターンを形成し、最適な補正が成されたと判定された前記パターンに対応する補正液滴吐出条件データを本選定し、該本選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記3記載のパターン形成装置。
前記制御部は、前記正常時にはライン状液体を構成しない画素に対して、液滴を着弾させるような補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記1〜4の何れかに記載のパターン形成装置。
前記吐出異常ノズルによる液滴付与量の減少量を算出する算出部を有し、
前記制御部は、前記算出部により算出された前記減少量を補うような補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記1〜5の何れかに記載のパターン形成装置。
前記制御部は、前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更せずに、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記6記載のパターン形成装置。
前記制御部は、前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更させて、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記6記載のパターン形成装置。
前記制御部は、前記吐出異常ノズルの液滴吐出量を減じるような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記1〜4の何れかに記載のパターン形成装置。
前記制御部は、前記吐出異常ノズルに対応する前記基材上の画素に隣接する画素に対して液滴を付与するような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記1〜9の何れかに記載のパターン形成装置。
ライン状液体を形成する液滴を吐出する前記液滴吐出装置を複数有し、
該制御部は、吐出異常ノズルが検出されたら、前記各液滴吐出装置の1又は複数のノズルの正常時の基本液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を、補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記1〜10の何れかに記載のパターン形成装置。
基材に対して複数のノズルを有する液滴吐出装置を相対移動させながら、前記液滴吐出装置のノズル列の方向に対して平行に配置される画素組に対して複数のノズルから付与される機能性材料を含む液滴組を、ノズル列の方向と交差する方向に複数組付与し、複数組の前記液滴組を合一させて、ノズル列の方向と交差する方向に伸びるライン状液体を形成し、形成された前記ライン状液体を乾燥させる際に、該ライン状液体の縁に前記機能性材料を堆積させて、該機能性材料を含むパターンを形成するパターン形成方法であって、
前記吐出異常ノズルが検出されたら、1又は複数のノズルの正常時の基本液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を、補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とすることを特徴とするパターン形成方法。
前記ライン状液体を、前記液滴吐出装置の相対移動方向に対して斜めに形成することを特徴とする前記12記載のパターン形成方法。
前記複数の補正液滴吐出条件データの中から選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記12又は13記載のパターン形成方法。
前記複数の補正液滴吐出条件データの各々を仮選定して前記パターンを形成し、最適な補正が成されたと判定された前記パターンに対応する補正液滴吐出条件データを本選定し、該本選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記14記載のパターン形成方法。
前記正常時にはライン状液体を構成しない画素に対して、液滴を着弾させるような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記12〜15の何れかに記載のパターン形成方法。
前記吐出異常ノズルによる液滴付与量の減少量を算出し、前記算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を変更することを特徴とする前記12〜16の何れかに記載のパターン形成方法。
前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更せずに、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記17に記載のパターン形成方法。
前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更させて、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記17に記載のパターン形成方法。
前記吐出異常ノズルの液滴吐出量を減じるような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記12〜15の何れかに記載のパターン形成方法。
前記吐出異常ノズルに対応する前記基材上の画素に隣接する画素に対して液滴を付与するような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする前記12〜20の何れかに記載のパターン形成方法。
次いで、形成された前記ライン状液体を乾燥させる際に、該ライン状液体の縁に前記機能性材料を堆積させて、該機能性材料を含むパターンを形成する。
図1(a)に示すように、基材1上に、機能性材料を含むライン状液体2を付与する。
かかる補正動作の一例について、図3に示すフローチャートを用いて説明する。
吐出異常ノズルを検出する手法は格別限定されないが、イメージセンサー7から入力された撮像データを、予め記憶されている基本撮像データと比較することにより、パターンの形成異常の発生位置を検出し、かかる発生位置に基づいて、吐出異常ノズルの発生位置を検出する手法を例示できる。
不吐出ノズルであるか否かを判定する手法は、格別限定されないが、イメージセンサー7から入力された撮像データを、予め記憶されている基本撮像データと比較することにより、吐出異常ノズルが不吐出ノズルであるか否かを判定する手法を例示できる。
制御部5が、複数の補正液滴吐出条件データを取得する場合、制御部5は、これら補正液滴吐出条件データの中から1つの補正液滴吐出条件データを選定するように構成することができる。
イメージセンサー7から入力された各仮パターンの撮像データを、予め記憶されている基本撮像データと比較した結果に基づいて、最適な補正を判定することができる。
以下の説明において、画素xyという場合、xは列を特定し、yは行を特定する。例えば画素d4という場合、d列4行の画素を指す。各々の行(画素行という場合がある)は、ノズル列40の方向Nに対して平行な方向に並列する複数の画素により構成され、各々の列(画素列という場合がある)は、ノズル列40の方向Nに対して直交する方向に並列する複数の画素により構成されている。
図4(a)において、マス目内に数字が付与されている画素が液滴付与対象画素であり、マス目内に付与された数字は当該画素の階調数を示している。階調数の大きさは、当該画素に付与される液滴量の大きさに対応する。
各液滴組に付与される液滴数の合計は、正常時と同じになるように設定されている。即ち、不吐出ノズルによる液滴付与量の減少量を補うように、液滴付与量を増加させている。ここでは、減少量と、1又は複数のノズルの液滴吐出量の総増加量を等しくするように設定している。
これにより形成されるライン状液体は、該ライン状液体の長さ方向に沿って付与された複数の液滴同士を合一させたものであると共に、該ライン状液体の長さ方向と交差する方向に沿って付与された複数の液滴(液滴組)を合一させたものでもある。そのため、何れかのノズルに吐出異常が発生して液滴組を構成する液滴の一部が欠けたとしても、当該液滴組を構成する他の液滴の付与量(階調数)を変更することにより、正常時のライン状液体の形状を復元し易い効果が得られる。このことも、パターンの形成異常を好適に補正する効果に大きく寄与する。
H1、H1’、H2、H2’は変更候補としての補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を示している。
具体的には、第1液滴吐出装置4において吐出異常ノズルが発生したことにより液滴が付与されなくなった画素に対して、第2液滴吐出装置4’によって液滴を付与するように、第2液滴吐出装置4’のノズル9’cの液滴吐出を変更している。
具体的には、第1液滴吐出装置4によって液滴が付与されなくなった画素に対して、第2液滴吐出装置4’によって液滴を付与するようにしているのは、液滴吐出条件セットH1、H1’と同様である。
液滴吐出条件セットH2、H2’では、更に、第1液滴吐出装置4における正常ノズル9a、9b、9dの液滴吐出量を減少させ、画素に付与される液滴付与量を減少させると共に、第2液滴吐出装置4’によって、これらの画素に対する上記減少分に対応する液滴付与を行うようにノズル9’a、9’b、9’dの液滴吐出を変更している。このようにすることで、基材1が第1液滴吐出装置4から第2液滴吐出装置4’に搬送される過程でライン状液体の乾燥が進行していても、再度ライン状液体を潤して、より好適な状態で乾燥を進めることができる。
(イ)各線分31、32の幅をW1、W2としたときに、W1≦10μm、且つW2≦10μmであること。
(ウ)各線分31、32の高さをH1、H2としたときに、50nm<H1<5μm、且つ50nm<H2<5μmであること。
図5に示した液滴吐出条件の変更例について検証した。
ノズル解像度360npiのピエゾ方式インクジェットヘッド(標準液適量42pl)により構成されたラインヘッドを、ロール状巻回体から繰り出される長尺状フィルムの搬送方向に直交するように配置し、走査方向解像度360dpiにて下記インクを用いてライン状液体を形成した。図5Aに示したように、正常時において、ノズル9a〜9dから各画素に3dpdで液滴を付与した。
長尺状フィルムはベルト搬送とし、搬送ベルトの裏面側から当該搬送ベルトを55℃に加熱するようにヒーターを設けた。印字領域の搬送方向下流側に乾燥装置が設けられ、該乾燥装置によりライン状液体を温風により乾燥するようにした。ライン状液体の乾燥により、平行線パターンが形成された。ライン状液体の長さ方向に沿う両縁に、線幅6μmの銀ナノ粒子が連なった細線が形成された。
正常時において、2本の細線の配置間隔は290μmで均一であった。
図5Bに示したように、ノズル9bが完全な不吐出になったことを想定し、ノズル9bに対応する画素に対して液滴を付与しないようにしてライン状液体を形成したこと以外は、正常時と同様にしてパターン形成した。
かかる異常時において、各ノズルから付与された液滴は合一されライン状液体を形成したが、該ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔Iは200μmであり、正常時と異なる値となった。
まず、不吐出ノズルの発生による液滴付与量の減少量(1画素行あたり3液滴)を算出し、不足分を補う液滴吐出条件として図5C1〜C3に示した液滴吐出条件を候補として用いた。
各液滴吐出条件によりライン状液体を形成し、正常時と同様にしてパターン形成した。ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔I(図1(C)参照)の値を表1に示した。
表1より、液滴吐出条件C1〜C3により、配置間隔Iの値が正常時の値に近づくことがわかる。特に、液滴吐出条件C3を用いた場合の配置間隔Iは、正常時の値と一致した。
この結果から、液滴吐出条件C3により最適な補正が成されたと判定できる。
図7に示した液滴吐出条件の変更例について検証した。
実施例1と同様の装置を用い、図7Aに示したように、正常時において、ノズル9a〜9jから各画素に3dpdで液滴を付与し、ライン状液体を形成した。
ライン状液体の乾燥により、平行線パターンが形成された。ライン状液体の長さ方向に沿う両縁に、線幅6μmの銀ナノ粒子が連なった細線が形成された。
正常時において、2本の細線の配置間隔は260μmで均一であった。
図7Bに示したように、ノズル9cが完全な不吐出になったことを想定し、ノズル9cに対応する画素に対して液滴を付与しないようにしてライン状液体を形成したこと以外は、正常時と同様にしてパターン形成した。
かかる異常時において、各ノズルから付与された液滴は合一されライン状液体を形成したが、該ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔Iは、170〜260μmの範囲で変動した。
まず、不吐出ノズルの発生による液滴付与量の減少量(1画素行あたり3液滴)を算出し、不足分を補う液滴吐出条件として図7D1、D2に示した液滴吐出条件を候補として用いた。
各液滴吐出条件によりライン状液体を形成し、正常時と同様にしてパターン形成した。ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔Iの値を表2に示した。
表2より、液滴吐出条件D1、D2により、配置間隔Iの値が正常時の値に近づくことがわかる。特に、液滴吐出条件D2を用いた場合の配置間隔Iは、正常時の値と一致した。
この結果から、液滴吐出条件D2により最適な補正が成されたと判定できる。
図10に示した液滴吐出条件の変更例について検証した。
実施例1と同様の装置を用い、図10Aに示したように、正常時において、ノズル9a〜9jから各画素に3dpdで液滴を付与し、ライン状液体を形成した。
ライン状液体の乾燥により、平行線パターンが形成された。ライン状液体の長さ方向に沿う両縁に、線幅6μmの銀ナノ粒子が連なった細線が形成された。
正常時において、2本の細線の配置間隔は260μmで均一であった。
図10Bに示したように、ノズル9cが曲がり吐出ノズルとなるように調整したこと以外は、正常時と同様にしてパターン形成した。
かかる異常時において、各ノズルから付与された液滴は合一されライン状液体を形成したが、該ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔Iは、230〜260μmの範囲で変動した。
液滴吐出条件として図10G1、G2に示した液滴吐出条件を候補として用いた。
各液滴吐出条件によりライン状液体を形成し、正常時と同様にしてパターン形成した。ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔Iの値を表3に示した。
表3より、液滴吐出条件G1、G2により、配置間隔Iの値が正常時の値に近づくことがわかる。特に、液滴吐出条件D2を用いた場合の配置間隔Iは、正常時の値と一致した。
この結果から、液滴吐出条件G2により最適な補正が成されたと判定できる。
図12に示した液滴吐出条件の変更例について検証した。
ノズル解像度360npiのピエゾ方式インクジェットヘッド(標準液適量30pl)により構成された第1ラインヘッド(第1液滴吐出装置)を、ロール状巻回体から繰り出される長尺状フィルムの搬送方向に直交するように配置し、走査方向解像度360dpiにて下記インクを用いてライン状液体を形成した。図12Aに示したように、正常時において、第1ラインヘッドのノズル9a〜9dから各画素に3dpdで液滴を付与した。
長尺状フィルムはベルト搬送とし、基材温度は25℃とした。印字領域の搬送方向下流側に第1ラインヘッドと同様の構成を有する第2ラインヘッド(第2液滴吐出装置)を設け、更にその下流側に乾燥装置を設けた。正常時において、第2ラインヘッドは、図12A’に示したように駆動させなかった。
乾燥装置によりライン状液体を温風により乾燥するようにした。ライン状液体の乾燥により、平行線パターンが形成された。ライン状液体の長さ方向に沿う両縁に、線幅6μmの銀ナノ粒子が連なった細線が形成された。
正常時において、2本の細線の配置間隔は330μmで均一であった。
図12Bに示したように、ノズル9cが完全な不吐出になったことを想定し、ノズル9cに対応する画素に対して液滴を付与しないようにしてライン状液体を形成したこと以外は、正常時と同様にしてパターン形成した。
かかる異常時において、各ノズルから付与された液滴は合一されライン状液体を形成したが、該ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔Iは200μmであり、正常時と異なる値になった。
まず、不吐出ノズルの発生による液滴付与量の減少量(1画素行あたり3液滴)を算出し、不足分を補う液滴吐出条件セットとして図12H1、H1’並びにH2、H2’に示した液滴吐出条件セットを候補として用いた。
第1ラインヘッド及び第2ラインヘッドを各液滴吐出条件セットにて設定し、ライン状液体を形成し、正常時と同様にしてパターン形成した。このとき、第1ラインヘッドで形成されたライン状液体が完全に乾燥する前に、第2ラインヘッドからの液滴付与を行うようにした。ライン状液体から生成された2本の細線の配置間隔Iの値を表4に示した。
表4より、液滴吐出条件セットH1、H1’並びにH2、H2’により、配置間隔Iの値が正常時の値に近づくことがわかる。特に、液滴吐出条件セットH2、H2’を用いた場合の配置間隔Iは、正常時の値に最も近いものとなった。
この結果から、液滴吐出条件セットH2、H2’により最適な補正が成されたと判定できる。
2:ライン状液体
3:平行線パターン
31、32:細線
4:液滴吐出装置
5:制御部
51:算出部
6:乾燥装置
7:イメージセンサー
8:搬送装置
9a〜9j:ノズル
Claims (21)
- 基材に対して複数のノズルを有する液滴吐出装置を相対移動させながら、前記液滴吐出装置のノズル列の方向に対して平行に配置される画素組に対して複数のノズルから付与される機能性材料を含む液滴組を、ノズル列の方向と交差する方向に複数組付与し、複数組の前記液滴組を合一させて、ノズル列の方向と交差する方向に伸びるライン状液体を形成し、形成された前記ライン状液体を乾燥させる際に、該ライン状液体の縁に前記機能性材料を堆積させて、該機能性材料を含むパターンを形成するパターン形成装置であって、
吐出異常ノズルの発生によるパターンの形成異常を補正する制御部を有し、
該制御部は、吐出異常ノズルが検出されたら、正常時の基本液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を、補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とするパターン形成装置。 - 前記ライン状液体を、前記液滴吐出装置の相対移動方向に対して斜めに形成することを特徴とする請求項1記載のパターン形成装置。
- 前記制御部は、変更候補として挙げられた複数の補正液滴吐出条件データの中から選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項1又は2記載のパターン形成装置。
- 前記制御部は、前記複数の補正液滴吐出条件データの各々を仮選定して前記パターンを形成し、最適な補正が成されたと判定された前記パターンに対応する補正液滴吐出条件データを本選定し、該本選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項3記載のパターン形成装置。
- 前記制御部は、前記正常時にはライン状液体を構成しない画素に対して、液滴を着弾させるような補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載のパターン形成装置。
- 前記吐出異常ノズルによる液滴付与量の減少量を算出する算出部を有し、
前記制御部は、前記算出部により算出された前記減少量を補うような補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項1〜5の何れかに記載のパターン形成装置。 - 前記制御部は、前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更せずに、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項6記載のパターン形成装置。
- 前記制御部は、前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更させて、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項6記載のパターン形成装置。
- 前記制御部は、前記吐出異常ノズルの液滴吐出量を減じるような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載のパターン形成装置。
- 前記制御部は、前記吐出異常ノズルに対応する前記基材上の画素に隣接する画素に対して液滴を付与するような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項1〜9の何れかに記載のパターン形成装置。
- ライン状液体を形成する液滴を吐出する前記液滴吐出装置を複数有し、
前記制御部は、前記吐出異常ノズルが検出されたら、前記各液滴吐出装置の1又は複数のノズルの補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項1〜10の何れかに記載のパターン形成装置。 - 基材に対して複数のノズルを有する液滴吐出装置を相対移動させながら、前記液滴吐出装置のノズル列の方向に対して平行に配置される画素組に対して複数のノズルから付与される機能性材料を含む液滴組を、ノズル列の方向と交差する方向に複数組付与し、複数組の前記液滴組を合一させて、ノズル列の方向と交差する方向に伸びるライン状液体を形成し、形成された前記ライン状液体を乾燥させる際に、該ライン状液体の縁に前記機能性材料を堆積させて、該機能性材料を含むパターンを形成するパターン形成方法であって、
吐出異常ノズルが検出されたら、正常時の基本液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を、補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とするパターン形成方法。 - 前記ライン状液体を、前記液滴吐出装置の相対移動方向に対して斜めに形成することを特徴とする請求項12記載のパターン形成方法。
- 前記複数の補正液滴吐出条件データの中から選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項12又は13記載のパターン形成方法。
- 前記複数の補正液滴吐出条件データの各々を仮選定して前記パターンを形成し、最適な補正が成されたと判定された前記パターンに対応する補正液滴吐出条件データを本選定し、該本選定された補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項14記載のパターン形成方法。
- 前記正常時にはライン状液体を構成しない画素に対して、液滴を着弾させるような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項12〜15の何れかに記載のパターン形成方法。
- 前記吐出異常ノズルによる液滴付与量の減少量を算出し、前記算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件を変更することを特徴とする請求項12〜16の何れかに記載のパターン形成方法。
- 前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更せずに、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項17に記載のパターン形成方法。
- 前記ライン状液体を形成する液滴の総液滴吐出量を変更させて、前記算出部により算出された前記減少量を補うような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項17に記載のパターン形成方法。
- 前記吐出異常ノズルの液滴吐出量を減じるような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項12〜15の何れかに記載のパターン形成方法。
- 前記吐出異常ノズルに対応する前記基材上の画素に隣接する画素に対して液滴を付与するような前記補正液滴吐出条件データに基づく液滴吐出条件に変更することを特徴とする請求項12〜20の何れかに記載のパターン形成方法。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018094538A (ja) * | 2016-12-16 | 2018-06-21 | コニカミノルタ株式会社 | 細線パターン形成方法及び細線パターン形成装置 |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005095787A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Seiko Epson Corp | 膜形成方法、デバイス製造方法および電気光学装置 |
| JP2008142654A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Seiko Epson Corp | 画素観察システム、描画システム、液状体の描画方法、カラーフィルタの製造方法、有機el素子の製造方法 |
| JP2013169760A (ja) * | 2012-02-22 | 2013-09-02 | Fujifilm Corp | インクジェット記録装置及びその画像記録方法 |
| JP2014120353A (ja) * | 2012-12-17 | 2014-06-30 | Konica Minolta Inc | 平行線パターン形成方法、透明導電膜付き基材、デバイス及び電子機器 |
| JP2014210360A (ja) * | 2013-04-17 | 2014-11-13 | 富士フイルム株式会社 | 画像記録装置及びその制御方法並びにプログラム |
| JP2015003515A (ja) * | 2013-05-21 | 2015-01-08 | キヤノン株式会社 | 画像処理方法及び画像処理装置 |
| JP2015016604A (ja) * | 2013-07-10 | 2015-01-29 | 株式会社Screenホールディングス | 画像記録装置、補正係数取得方法および画像記録方法 |
| WO2015199204A1 (ja) * | 2014-06-25 | 2015-12-30 | コニカミノルタ株式会社 | パターン形成方法、透明導電膜付き基材、デバイス及び電子機器 |
| WO2016140284A1 (ja) * | 2015-03-02 | 2016-09-09 | コニカミノルタ株式会社 | パターン形成方法、透明導電膜付き基材、デバイス及び電子機器 |
| WO2016143715A1 (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-15 | コニカミノルタ株式会社 | 透明導電体及び透明導電体の製造方法 |
-
2015
- 2015-03-14 JP JP2015051517A patent/JP6406078B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005095787A (ja) * | 2003-09-25 | 2005-04-14 | Seiko Epson Corp | 膜形成方法、デバイス製造方法および電気光学装置 |
| JP2008142654A (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-26 | Seiko Epson Corp | 画素観察システム、描画システム、液状体の描画方法、カラーフィルタの製造方法、有機el素子の製造方法 |
| JP2013169760A (ja) * | 2012-02-22 | 2013-09-02 | Fujifilm Corp | インクジェット記録装置及びその画像記録方法 |
| JP2014120353A (ja) * | 2012-12-17 | 2014-06-30 | Konica Minolta Inc | 平行線パターン形成方法、透明導電膜付き基材、デバイス及び電子機器 |
| JP2014210360A (ja) * | 2013-04-17 | 2014-11-13 | 富士フイルム株式会社 | 画像記録装置及びその制御方法並びにプログラム |
| JP2015003515A (ja) * | 2013-05-21 | 2015-01-08 | キヤノン株式会社 | 画像処理方法及び画像処理装置 |
| JP2015016604A (ja) * | 2013-07-10 | 2015-01-29 | 株式会社Screenホールディングス | 画像記録装置、補正係数取得方法および画像記録方法 |
| WO2015199204A1 (ja) * | 2014-06-25 | 2015-12-30 | コニカミノルタ株式会社 | パターン形成方法、透明導電膜付き基材、デバイス及び電子機器 |
| WO2016140284A1 (ja) * | 2015-03-02 | 2016-09-09 | コニカミノルタ株式会社 | パターン形成方法、透明導電膜付き基材、デバイス及び電子機器 |
| WO2016143715A1 (ja) * | 2015-03-06 | 2016-09-15 | コニカミノルタ株式会社 | 透明導電体及び透明導電体の製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018094538A (ja) * | 2016-12-16 | 2018-06-21 | コニカミノルタ株式会社 | 細線パターン形成方法及び細線パターン形成装置 |
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