JP2016152550A - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
異なる撮像モードにおける画素の欠陥を判別するのに有利な撮像装置を提供する。
【解決手段】
複数の画素が行列状に配置されたフラットパネルセンサと、前記複数の撮像モードにそれぞれ対応する複数の判別情報が格納されたメモリとを備え、前記判別情報は、それに対応する撮像モードにおいて、前記フラットパネルセンサから信号を読み出される各画素が正常画素か欠陥画素かを示す。
【選択図】 図２

Description

本発明は、デジタルＸ線撮像装置などの撮像装置に関するものである。

近年、デジタル画像として被写体のＸ線画像を撮像するＸ線撮像システムが開発されている。このＸ線撮像システムは、従来のフィルムを用いるＸ線写真システムと比較して、極めて広範囲のＸ線露出域に渡って画像を記録できるという利点を有している。

Ｘ線撮像システムでは、極めて広範囲のダイナミックレンジのＸ線を、例えばシンチレータを介して光電変換して電気信号として読み取り、この電気信号を更にデジタル信号に変換する。そして、デジタル信号を処理して、写真感光材料等の記録材料や表示装置に、可視画像としてＸ線画像を出力することにより、Ｘ線露光量がある程度変動しても良好なＸ線画像が得られるようになっている。

近年、撮像装置は画素の高精細化と大画素数化が進み、例えば、１１インチ四方、２０００画素×２０００画素を超える大画面の撮像装置が開発されている。ユーザは、撮像対象部位やＸ線照射野に応じて、任意のサイズ指定・画素数指定での画像取得が可能となっている。

例えば、特許文献1には、適切なＸ線診断画像を得るために、ユーザの設定に応じて、撮像装置の全画素エリアの一部の領域を切出して画像出力する放射線撮像システムの技術が開示されている。

また、広範囲のダイナミックレンジのＸ線を画像化するために、例えば高感度と低感度の２つの感度で信号をそれぞれ取得し、画像データを生成する撮像装置が開発されている。この動作モードを達成する１つの方法として、２つの信号保持部を各センサに設け、各感度で得られた信号を、各保持部でそれぞれ保持して個別に読み出す方式が考えられる。特許文献２には、サンプルホールド回路を２つ備えた撮像装置が開示されている。

特開２００７−２８２７７２号公報 特開２００２−３４４８０９号公報

画素の中には出力する信号レベルが十分ではないような欠陥画素が含まれている場合がある。欠陥画素からの信号を含む画像信号の補正をするときは、欠陥画素の座標情報を保持したメモリからデータを読み出して欠陥画素を判別して補正を行う。複数の撮像モードが設定できる撮像装置においては、撮像モードに対応して欠陥画素の座標情報に基づき欠陥画素を判別するためのデータを生成する必要があるが、そのようなデータを生成する負担が大変だった。

本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、異なる撮像モードにおいて画素の欠陥を判別するのに有利な撮像装置を提供することを目的とする。

本発明の撮像装置は、複数の撮像モードを備え、複数の画素が行列状に配置されたフラットパネルセンサと、前記複数の撮像モードにそれぞれ対応する複数の判別情報が格納されたメモリとを備え、前記判別情報は、それに対応する撮像モードにおいて、前記フラットパネルセンサから信号を読み出される各画素が正常画素か欠陥画素かを示す。

本発明によれば、異なる撮像モードにおいて画素の欠陥を判別するのに有利な撮像装置を提供できる。

本発明を適用できるシステム構成例を示すブロック図。 実施形態に係る補正処理部ブロック図。 実施形態１に係る画像データの読み出し順番の例である。 実施形態１に係るメモリに記憶された判別情報の配置例。 実施形態１に係るメモリに記憶された判別情報の配置例。 実施形態１に係る撮像モード毎にメモリに記憶された判別情報の配置例。 実施形態２に係る画像データの読出し順番の例。 実施形態２に係るメモリに記憶された判別情報の配置例。 実施形態２に係る欠陥のある画素を示す情報の読み出しを示すフローチャート。

以下、図を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。

［実施形態１］
図１により、フラットパネル式の放射線撮像システム全体について説明する。放射線撮像システムは、撮像装置１００、画像処理・システム制御装置１０１、画像表示装置１０２、Ｘ線発生装置１０３、放射線源としてのＸ線管１０４を備える。撮像時には画像処理・システム制御装置１０１により、撮像装置１００とＸ線発生装置１０３が同期制御される。被写体を透過したＸ線は不図示のシンチレータにより可視光に変換され、光量に応じた光電変換がされた後Ａ／Ｄ変換が行われる。Ｘ線照射に対応したフレームデータが撮像装置１００から画像処理・システム制御装置１０１に転送され、画像処理が行われた後、画像表示装置１０２に放射線画像がリアルタイムに表示される。

撮像装置１００はフラットパネルセンサ１０５を有する。本実施形態のフラットパネルセンサ１０５には、光電変換素子が２次元状に配置されたシリコン半導体ウエハから短冊状に切り出されたＣＭＯＳ型撮像素子を有する複数の矩形のエリアセンサ１２０が配置されている。矩形のエリアセンサ１２０が、平面基台上（不図示）に例えば１６列×２行のマトリクス状にタイリングされている。エリアセンサ１２０は、タイリング用に開発されており、エリアセンサ１２０上に生成される光電変換素子を含む画素は等ピッチで行列状に配置されている。平面基台上で隣接するエリアセンサ１２０は、エリアセンサ同士の間の境界を挟んで光電変換素子が同じピッチになるように配置されている。フラットパネルセンサ１０５の上辺と下辺部には、マトリクス状に並んだエリアセンサ１２０の不図示の外部端子（電極パッド）が一列に並んで配置されている。エリアセンサ１２０の電極パッドは不図示のフレキシブルプリント配線板又はフレキシブルフラットケーブルで外部の回路と接続される。

エリアセンサ１２０の画素からの画像信号は、差動アンプ１０７を介し、Ａ／Ｄ変換装置１０８に入力されてデジタル信号に変換される。この時、１つのエリアセンサ１２０に対して、差動アンプ１０７とＡ／Ｄ変換装置１０８を含む１系統の読み出し回路を配置する。読み出し回路を各エリアセンサ１２０に対応して配置することにより各エリアセンサ１２０の画像信号を、並行して読出し制御することが可能となり、画像信号を読出す処理の高速化が達成できる。

撮像制御部１０９は、画像処理・システム制御装置１０１との間での制御コマンドの通信、同期信号の送信及び画像処理・システム制御装置１０１への画像データの送信等を行う。また、撮像制御部１０９は、フラットパネルセンサ１０５の制御機能も備えており、フラットパネルセンサ１０５の駆動制御、撮像モード制御等を行う。さらに、撮像制御部１０９は、複数のＡ／Ｄ変換装置１０８によりアナログデジタル変換されたエリアセンサ１２０ごとの画像データをフレームデータに合成し、画像処理・システム制御装置１０１に転送する。

画像処理・システム制御装置１０１と撮像制御部１０９とはコマンド制御用インターフェース１１０、画像データインターフェース１１１等の通信インターフェースで接続されている。画像処理・システム制御装置１０１からはコマンド制御用インターフェース１１０を介して撮像制御部１０９へ撮像モードの設定、各種パラメータの設定、撮像開始の設定、撮像終了の設定等が行われる。また、撮像制御部１０９からはコマンド制御用インターフェース１１０を介して、画像処理・システム制御装置１０１へ撮像装置の状態情報等が通知される。画像データインターフェース１１１は、画像データを撮像制御部１０９から画像処理・システム制御装置１０１へ送るのに使用される。ＲＥＡＤＹ信号１１２は、撮像装置１００が撮像可能状態になったことを撮像制御部１０９から画像処理・システム制御装置１０１へ伝える。外部同期信号１１３は、画像処理・システム制御装置１０１が撮像制御部１０９のＲＥＡＤＹ信号１１２を受け、撮像制御部１０９にＸ線曝射のタイミングを通知する。曝射許可信号１１４は、曝射許可信号１１４がイネーブルの間に画像処理・システム制御装置１０１からＸ線発生装置１０３に曝射の開始を通知するのに使用される。Ｘ線管１０４から曝射されたＸ線により、Ｘ線画像が形成される。

画像処理や画像データの通信速度は、撮像部の画素数が増えて扱うデータ量が増え、且つ、高速なフレームレートが要求されており、性能向上が求められる中、より、高速化が求められている。撮像装置１００と画像処理・システム制御装置１０１との通信には、撮像装置１００と画像処理・システム制御装置１０１との間の信号線数と通信速度を考慮し、双方向シリアル通信を採用してもよい。

図２により欠陥画素の補正処理について説明する。補正処理部は、例えば、ＦＰＧＡで構成される。フラットパネルセンサ１０５の各画素が正常画素か欠陥画素かを示す判別情報はメモリ２１０に記憶されている。コントローラ２０１はメモリ２１０から判別情報の読み出し制御を行う。メモリ２１０としては、判別情報を高速に読出すことを可能とするために、ＤＤＲメモリ等が使用される。欠陥処理部２０２は、各エリアセンサ１２０から読み出された画像データに対して、補正処理を行う。欠陥処理部２０２は各エリアセンサ１２０から並行して画像データを読み出して並行処理するために、エリアセンサの数分が備えられる。例えば、エリアセンサが１６列×２行で構成された場合は、３２系統分の欠陥処理部２０２が用意される。

判別情報は、コントローラ２０１の読み出し制御部２０３によりメモリ２１０から読み出される。詳細は後述するが、エリアセンサ１２０から１行毎に順次画像データが読み出されるのに対応してメモリ２１０からも順次、判別情報が読み出される。判別情報はＦＩＦＯ２０４を介して、セレクタ２０５により選択されて、各欠陥処理部２０２のシフトレジスタ２０７に書き込まれる。シフトレジスタ２０７への判別情報の書き込み処理は、エリアセンサ１２０から読み出される画像データの欠陥を補正するタイミングに間に合うように行われる。

ここで、ＦＩＦＯ２０４やシフトレジスタ２０７の容量は、１フレーム分用意する必要はなく、容量削減のため、行ごとの各データの処理に間に合う範囲で、例えば複数行分用意すればよい。欠陥処理部２０２には、エリアセンサ１２０から読み出された画像データが、ＦＩＦＯ２０６に順次書き込まれる。ＦＩＦＯ２０６に順次書き込まれた画像データに対して、シフトレジスタ２０７に書き込まれた判別情報を順次用いて、ＦＩＦＯ２０６に書き込まれた画像データが正常画素の画像データか欠陥画素の画像データかが判別される。判別は、読み出した画像データに対応する画素と判別情報が示す画素とを、ＦＩＦＯ２０６からの読み出しタイミングとシフトレジスタ２０７からの読み出しタイミングを調整することにより、対応付けて行う。画像データの読み出しの順番と判別情報の順番とが対応しているので、順次的に判別することができる。正常画素か欠陥画素かの判別結果に応じて補正部２０８にて画像データの補正を実施し、後段の画像データ結合部２０９へ補正処理後の画像データを転送する。

欠陥画素に対する処理は、例えば、欠陥画素を周辺の正常画素のデータを用いた値に置き換えたり、欠陥画素の画素値をゼロへ置き換えたりする。欠陥画素の画素値をゼロへ置き換える処理方法は、欠陥画素の判別情報の値をゼロとし、各画素毎に画像データと判別情報とのＡＮＤをとることにより、欠陥画素の画像データの画素値がゼロへ変換される。各欠陥処理部２０２により、並行して処理された画像データは、画像データ結合部２０９にて１画像分のフレームデータとするための結合処理が行われる。その後、フレームデータは画像処理・システム制御装置１０１との画像データ通信プロトコルに応じて、画像処理・システム制御装置１０１へと転送される。

ユーザは、撮像対象部位やＸ線照射野に応じて、任意のサイズや画素数を指定した画像の取得が可能となっている。これは、撮像対象部位外やＸ線照射外など、不要な画像部分をカットし、画像サイズを小さくすることにより、画像データサイズを減らし、フレームレートや画像処理スピードを早くするのに有利である。

撮像装置から出力される画像のサイズや画素数の設定は、画像処理・システム制御装置１０１と撮像装置１００との間での通信コマンドによって設定される。ユーザは、操作パネルから、任意のサイズを、画素数にて、或いは、データ量で入力する。すると、入力された設定値が、撮像装置１００に通知される。またその際に、ゲイン設定、画素加算の設定など、各種撮像モードのパラメータが設定できる。

本実施形態では、撮像モードの設定に従った画像データの読み出しの順番に応じた順番で、前記判別情報をメモリ２１０上に配置し、取得画像サイズ設定に応じて、前記欠陥座標情報の読み出し開始アドレスや読み出しサイズが決定される。

図３に、フラットパネルセンサ１０５からの画像データ読み出し順番を示す。本実施形態では、フラットパネルセンサ１０５を構成するエリアセンサ１２０はＣＨＩＰ１〜３２で構成されている。図３の左上を原点画素として、１６列×２行のマトリクス状にエリアセンサがタイリングされた例を示す。上段がセンサＣＨＩＰ１からセンサＣＨＩＰ１６、下段がセンサＣＨＩＰ１７からセンサＣＨＩＰ３２で構成されている。センサＣＨＩＰからの読み出しは、上下端の行において第０列から第１２７列へ向けて、各ＣＨＩＰで並行して実施される。すなわち、最初のスキャンにて、センサＣＨＩＰ１からセンサＣＨＩＰ３２の各１行目（Ｌｉｎｅ１で示す。）の画像信号が、各センサＣＨＩＰの０画素目から１２７画素目に向けて、各センサＣＨＩＰから並行して読み出される。続くスキャンにて、センサＣＨＩＰ１からセンサＣＨＩＰ３２の各センサＣＨＩＰのＬｉｎｅ２（不図示）の画像信号が、同様に並行に読み出される。

次にメモリ２１０に記憶される判別情報の配置について説明する。判別情報は、例えば１ｂｉｔが１画素の正常又は欠陥を表し、欠陥画素は‘０’、正常画素は‘１’の値を持つものとする。この場合、ある連続する８画素において、２画素目と４画素目が欠陥画素だった場合は、“１０１０１１１１”となる。これを、フラットパネルセンサから画像データを読み出す順番に応じた順番でメモリ２１０上に配置する。

図４に、メモリ２１０に判別情報を配置するフォーマットの一例を示す。判別情報は1画素に対して1bitとすると、各エリアセンサの1行の画素数が１２８画素の場合、１行分の判別情報は１２８ｂｉｔとなる。各センサＣＨＩＰに対応する１２８ｂｉｔの判別情報は、各センサＣＨＩＰからの画像データの読出し順番に応じて、ＬＳＢがｐｉｘｅｌ０、ＭＳＢがｐｉｘｅｌ１２７となるように配置される。この各ｂｉｔに、正常画素か欠陥画素かに応じて、‘０’か‘１’かの情報が入る。

メモリ２１０における判別情報の配置は、エリアセンサから画像信号を読み出す順番に応じた順番でメモリ２１０に配置する。つまり、センサＣＨＩＰ１のＬｉｎｅ１の判別情報１２８ｂｉｔの次のアドレスにはセンサＣＨＩＰ２のＬｉｎｅ１の判別情報１２８ｂｉｔを配置する。センサＣＨＩＰ３２のＬｉｎｅ１の判別情報の次のアドレスには、センサＣＨＩＰ１のＬｉｎｅ２の判別情報を配置する。判別情報はこのような並び順でメモリ２１０の連続したアドレスに配置されることにより、エリアセンサの各ラインから読み出される画像信号の順番に応じた順番でメモリ２１０に判別情報が配置される。メモリ２１０に配置された判別情報はＦＩＦＯ２０４に読み出され、セレクタ２０５により各センサＣＨＩＰに対応した欠陥処理部のシフトレジスタに順次送られる。

また、撮像モードによって、エリアセンサからの画像信号の読み出しの順番が変わる場合もある。例えば、一回のＸ線照射で感度の異なる画像信号を読み出すことが可能なセンサを使ってダイナミックレンジ拡張モードで撮像する場合がある。この場合では、１画素あたり高感度で取得したＨｉｇｈゲイン画像信号と低感度で取得したＬｏｗゲイン画像信号とを順に読み出し、得られた２画像のデータを画像処理装置で合成処理する。その際、Ｈｉｇｈゲイン画像信号とＬｏｗゲイン画像信号とをそれぞれ別の保持部に蓄積しておき、各画像信号を読み出す処理を行う。読み出しの際に、フラットパネルセンサからの画像信号の読み出し時間を短縮するために、行送り回数を減らすべく、１行ごとに、Ｈｉｇｈゲイン画像信号とＬｏｗゲイン画像信号とを交互に出力する読出し方法が用いられる。１行分のＨｉｇｈゲイン画像信号とＬｏｗゲイン画像信号が保持部から読み出された後、次の行のＨｉｇｈゲイン画像信号とＬｏｗゲイン画像信号を読み出す。所定の行の読み出しが終了すると、次の行の読み出しを行うというように、順次行毎に読み出しを実行する。

このように１画素あたり２回、画像信号の読み出しを行う場合は、図５に示すように、画像信号を読み出す順番に応じた順番で、判別情報をメモリ２１０に配置する。行毎に蓄積されたＨｉｇｈゲイン画像とＬｏｗゲイン画像とを読み出せるように、Ｈｉｇｈゲイン画像とＬｏｗゲイン画像の判別情報は交互に並べて配置される。図５では、センサからの画像読み出し順番に応じて、各センサＣＨＩＰのＬｉｎｅ１のＨｉｇｈゲイン画像の判別情報に続いて、Ｌｉｎｅ１のＬｏｗゲイン画像の判別情報を配置し、続いてＬｉｎｅ２のＨｉｇｈゲイン画像とＬｏｗゲイン画像の判別情報を順に配置する。ある行に位置するＨｉｇｈゲイン画像とＬｏｗゲイン画像とで判別情報を共用できる場合は、必要なメモリ容量を削減することが可能となる。

メモリ２１０からの判別情報の読み出しは、ＤＭＡバースト転送技術を用いて、連続アドレスデータ読出しを行う。本実施形態によれば、フラットパネルセンサから読み出される画像信号の順番に応じた順番でメモリ２１０から判別情報が読み出され、欠陥処理部２０２のシフトレジスタ２０７に保持される。判別情報を使って画像データを読み出しながら順次的に欠陥画素の判別を行うことができる。

メモリ２１０からの判別情報の読み出しを開始するアドレスは、読み出し制御部２０３のアドレスレジスタ（不図示）を設定することにより、任意のアドレスに設定可能である。また、画像データの読出しサイズも、同様に、任意のサイズに設定可能である。システム制御装置１０１から、取得する画像のサイズ或いは画素数の設定が行われると、それに応じて、読出し制御部２０３に対して、メモリ２１０からの判別情報の読み出し開始アドレスと読出すデータ量とが決定される。画像サイズの変更に対する読み出し開始アドレスの指定は簡単に行うことができる。例えば、縦方向に６４０画素分だけ小さくなるように切り出される場合は、上下チップで、３２０ラインずつ読み飛ばすために、判別情報の読み出し開始アドレスを、Ｌｉｎｅ１からではなく、３２０行飛ばしたアドレスに設定する。また、読出すデータ量も、３２０行減らした値を設定する。

画像サイズの設定に従って、判別情報の読み出し開始アドレスと読出すデータ量を設定することにより、フラットパネルセンサから読み出された画像信号の順番に応じた順番でメモリ２１０から判別情報が読み出される。判別情報はシフトレジスタ２０７に格納される。この判別情報を用いて、画像信号を読み出しながら順次的に欠陥画素の判別を行うことができる。

画素が欠陥画素と判別されるか否かは、センサの感度設定や、画素加算モードの設定によっても異なる。ある感度設定では欠陥画素と判別された画素が、別の感度設定では欠陥とならない場合もある。また、画素加算モードにおいて加算される画素に欠陥画素が含まれている場合は、加算された画素は欠陥画素として扱われるケースが多い。そのため、判別情報は、感度の変更、画素加算モードの設定等の撮像モードに対応して、例えば図６に示すように、異なるアドレスから始まる領域に個別に記憶される。例えば、Ｌｏｗゲイン設定・２画素×２画素の画素加算モードの判別情報は、メモリ２１０のアドレス０ｘ０００６＿００００から始まる領域に記憶される。また、画素加算なし・ダイナミックレンジ拡張モードの場合、メモリ２１０のアドレス０ｘ０００８＿００００から始まる領域に記憶される。撮像モードの設定に応じて、読み出す判別情報をモードに応じた情報に切り替える。切り替えは、判別情報の読み出しを開始するアドレスを撮像モードに応じて切り替えることによって実現される。このように、画像処理・システム制御装置から設定される撮像モード設定や、画像サイズに応じて、判別情報の読み出し開始アドレスが変更される。

高速読出しが可能なメモリ２１０への判別情報の格納は、撮像装置の起動時に、予め撮像装置に備える不揮発性メモリ（不図示）に保持しているデータから行ってもよい。また、撮像システム起動時に、画像処理・システム制御装置１０１の不揮発性メモリに予め保持する判別情報をメモリ２１０へ格納しても良い。その際、不揮発性メモリには、メモリ２１０へ記憶する欠陥画素を撮像モードに応じて記憶しておきメモリ２１０へそのまま格納してもよい。あるいは不揮発性メモリに記憶した情報をメモリ２１０へ格納する際に、撮像モードに応じた順番にして配置してもよい。

［実施形態２］
実施形態２では、フラットパネルセンサ１０５にオプティカルブラック領域（ＯＢ領域）が配置された例について説明する。オプティカルブラック領域は、Ｘ線画像を出力する際の画像信号の補正に用いられる。撮像装置の出力信号に、オプティカルブラック領域を含めるか含めないかは、画像処理・システム制御装置からの撮像モードの設定によって、任意に設定できる。オプティカルブラック領域を含む撮像モードでは、オプティカルブラック領域からの信号を補正に用いるために、図７に示すように、画像サイズを変更した時も、予めオプティカルブラック領域として配置された行数分（例えばＯＢＬｉｎｅ１〜ＯＢＬｉｎｅ６４で示す６４行分）の信号は出力される。

本実施形態では、判別情報は、図８に示すように、オプティカルブラック領域の判別情報（ＯＢで示す）と、撮像した信号を出力する撮像領域の判別情報（ＩＭＧで示す）とを、順番に並べてそれぞれ配置する。オプティカルブラック領域を含んだ撮像モードにおいて、取得する画像サイズの設定が行われた場合について説明する。設定された画像サイズに応じて、オプティカルブラック領域の判別情報の読み出し開始アドレスと、撮像領域の判別情報の読み出し開始アドレスとを個別に設定される。そのために、読み出し制御部２０３は、オプティカルブラック領域の判別情報の読み出し開始アドレスを設定するレジスタと、撮像領域の判別情報の読み出し開始アドレスを設定するレジスタとをそれぞれ有す。図９により、本実施形態での判別情報の読出しについて説明する。オプティカルブラック領域を含む撮像モードの設定が行われた際（Ｓ９１）、最初に、オプティカルブラック領域の判別情報読出し開始アドレスが設定される（Ｓ９２）。オプティカルブラック領域の判別情報を読出し開始アドレス設定に従ってＤＭＡバースト転送により連続して読出す。続いて、撮像領域の判別情報読出し開始アドレス・読出しサイズが設定され（Ｓ９４）、撮像領域の判別情報を、読出し開始アドレス・読出しサイズ設定に従って、ＤＭＡバースト転送により、連続アドレスデータ読出しを行う。

一方、オプティカルブラック領域を含まない撮像モード設定の場合は、撮像領域の判別情報読出し開始アドレス・読出しサイズが設定される（Ｓ９４）。撮像領域の判別情報のみを、読出し開始アドレス・読出しサイズ設定に従って、ＤＭＡバースト転送により、連続アドレスデータ読出しを行う。

これにより、オプティカルブラック領域を含む撮像モードか含まない撮像モードかに応じて、フラットパネルセンサ１０５から読み出される画像信号の順番に応じた順番でメモリ２１０から判別情報が読み出される。その後、判別情報を用いて、順次的に画像データの欠陥を判別することができる。オプティカルブラック領域を含むフラットパネルセンサ１０５を他の加算モード等の撮像モードで使用することもできる。

以上、説明したが、本発明は、実施形態に記載の撮像モード、撮像モードでの画像の読み出し順番や欠陥情報配置方法に限定されるものではなく、目的、状態、用途及び機能その他の仕様に応じて、適宜、変更が可能であり、他の実施形態によっても為されうる。

２０１：コントローラ、２０２：欠陥処理部、２０３：読み出し制御部、２０４：ＦＩＦＯ、２０５：セレクタ、２０６：ＦＩＦＯ、２０７：シフトレジスタ、２０８：補正部、２０９：画像データ結合部、２１０：メモリ

Claims (13)

1. 複数の撮像モードを備える撮像装置であって、
   複数の画素が行列状に配置されたフラットパネルセンサと、
   前記複数の撮像モードにそれぞれ対応する複数の判別情報が格納されたメモリと、を備え、
   前記判別情報は、それに対応する撮像モードにおいて、前記フラットパネルセンサから信号が読み出される各画素が、正常画素か欠陥画素かを示すことを特徴とする撮像装置。
2. 前記複数の判別情報は、各撮像モードにおいて前記画素の信号が読み出される順番に応じた順番で前記メモリに記憶されていることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
3. 前記フラットパネルセンサから信号を読み出す範囲に応じて、前記メモリから前記判別情報の読み出しを開始するアドレスと読み出すデータ量が決定されることを特徴とする請求項１又は２に記載の撮像装置。
4. 前記撮像モードは前記画素の信号を加算して読み出すモードを含み、前記加算して読み出すモードに対応する判別情報は、前記画素の信号が加算されて読み出される順番に応じた順番で前記メモリに記憶されていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
5. 前記フラットパネルセンサはオプティカルブラック領域を有し、前記オプティカルブラック領域の前記正常画素と前記欠陥画素とを示す判別情報と前記オプティカルブラック領域外の前記正常画素と前記欠陥画素とを示す判別情報とは、前記画素の信号が読み出される順番に応じた順番で前記メモリに記憶されていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項記載の撮像装置。
6. 前記複数の画素はそれぞれ、第１感度で取得した信号を保持する第１保持部と、前記第１感度と異なる第２感度で取得した信号を保持する第２保持部とを有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
7. 前記第１保持部及び前記第２保持部から信号を読み出す順番は、所定の行の画素が有する前記第１保持部が保持する信号と第２保持部が保持する信号とが読み出された後、次の行の画素が有する前記第１保持部が保持する信号と第２保持部が保持する信号を読み出す順番とすることを特徴とする請求項６に記載の撮像装置。
8. 前記判別情報は、前記第１保持部の信号が読み出されるときと前記第２保持部の信号が読み出されるときとで共用されることを特徴とする請求項６又は７に記載の撮像装置。
9. 前記欠陥画素の信号を補正する欠陥処理部を更に備え、前記欠陥処理部は前記欠陥画素の信号を、前記判別情報を用いて判別することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の撮像装置。
10. 前記欠陥処理部は、前記欠陥画素の信号を前記正常画素の信号を用いて補正することを特徴とする請求項９に記載の撮像装置。
11. 前記欠陥処理部は、前記判別情報に基づいて前記欠陥画素の値をゼロに置き換えることを特徴とする請求項９又は１０に記載の撮像装置。
12. 前記フラットパネルセンサには複数の画素が行列状に配置された複数のエリアセンサが配置され、前記画素の信号の読み出しは、前記複数のエリアセンサから並行して行われることを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の撮像装置。
13. 放射線を発生する放射線源と、
    請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の撮像装置と、
    を備えることを特徴とする放射線撮像システム。

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