JP2016036374A - 放射線撮影装置およびゲイン画像作成方法 - Google Patents

Abstract

【課題】放射線の照射開始を自動的に検出して撮影された画像を用いて、精度の高いゲイン画像を得る放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】放射線検出器において検出される放射線量に基づいて放射線の照射開始を検出して前記放射線検出器を用いた放射線画像の撮影を実行する放射線撮影装置は、被写体が存在しない状態で放射線を照射することにより撮影を実行して複数の基画像を取得しＳ２１１、取得された複数の基画像について、放射線の実際の照射開始から照射開始の検出までの時間差に起因して生じたアーチファクト領域を判別しＳ２２１、判別されたアーチファクト領域の画像情報を用いずに複数の基画像を合成することによりゲイン補正のためのゲイン画像を作成するＳ２２３。
【選択図】図２Ｂ

Description

本発明は、放射線撮影装置に関し、特に、放射線撮影装置が撮影した放射線画像のゲイン補正に用いられるゲイン画像の作成に関する。

医療用Ｘ線撮影装置等で用いられる人体を透過したＸ線の分布を観測するための検出器として、近年、フラットパネルディテクタ（Flat Panel Detector：以降ＦＰＤと略す）と呼ばれる固体撮像素子を用いた大判のイメージセンサを用いることが一般化しつつある。このようなＦＰＤを用いるＸ線撮影装置では、ＦＰＤ（もしくはＦＰＤに接続されているパーソナルコンピュータ（ＰＣ）や中継装置）とＸ線発生装置との間でＸ線の照射タイミングを同期させることが必要となる。そのため、ＦＰＤとＸ線発生装置との間で同期をとるための通信を行い、ＦＰＤは取得したＸ線画像データを画像処理や保存のためにＰＣ等の画像処理装置に転送するよう構成されている。

ＦＰＤと画像処理装置、及びＸ線を照射するＸ線発生装置は、互いに通信するために必要なインタフェースを介したうえで、ケーブルなどを用いて接続されるのが一般的である。また、設置容易性や取り回し・撮影の自由度向上の目的から、無線ＬＡＮなどの無線インタフェースにより接続される事例も多くなっている。

さらには、Ｘ線発生装置からのＸ線の照射開始をＦＰＤ自身が検出可能とすることでＦＰＤとＸ線発生装置との同期通信を不要とし、設置性や操作性などをさらに向上させたＸ線撮影装置等も実現されている。特許文献１，２には、このようなＸ線撮影装置が記載されており、ＦＰＤの各行を順次に選択してオン状態／オフ状態を切り換える検知走査を行って装置内に流れる電流の変化を検出することによりＸ線の照射開始の検知を行う。

特許文献１，２に記載されたＸ線の照射開始の検知方法によると、実際にＸ線の照射が開始されてからＸ線撮影装置が照射開始を検出して照射開始を検知するための検知走査を停止するまでに時間差（検知遅れ）が発生する。この時間差の範囲で検知走査が実行された行の画素においては、Ｘ線照射によって生じた電荷の一部が流出することになる、その結果、Ｘ線画像上に線状またはくさび状の欠陥（以降、この現象を検知遅れアーチファクトと記す）を生じる可能性がある。代表例として、くさび状の検知遅れアーチファクトの例を、図５に示した。図５（ａ）は、Ｘ線の照射開始を自動的に検出して撮影を実行した場合の画像の一例を示す。図５（ａ）では、Ｘ線が実際に照射開始された時点において検知走査が実行された行（Ｘ線照射開始行５０２）からＸ線撮影装置が照射開始を検出した行（Ｘ線検知行５０１）までの間で一行ごとに画素値が低くなっていることを示している。また、図５（ａ）のｙ軸プロファイルを図５（ｂ）に示す。図５（ｂ）において点線で示した画素値が、検知遅れアーチファクトが無かった場合の本来とりうる画素値を示している。

特許文献１、２では、検知遅れアーチファクトの対策の一つとして、Ｘ線照射の開始を検出するのに用いられる上記電流の値を用いて、Ｘ線画像に生じた検知遅れアーチファクトを補正することを提案している。

特開２０１１−２４７６０５ 特開２０１１−２４９８９１

一方、Ｘ線画像を取得した後の画像処理の中で、取得したＸ線画像に対してゲイン補正処理が行われる。これは、Ｘ線検出センサの成膜プロセスなどによるムラ、特異的に生じた特性の異なる画素の発生、使用するにつれて生じる経年劣化や焼きつき、などに起因して生じる各画素のゲインのバラつきを補正するためである。ゲイン補正で使用する補正データとして、被写体を配置せずにＸ線を照射して撮影を実行することにより得られたゲイン画像が用いられる。ゲイン補正は、オフセット補正（ここでは暗電流成分を取り除く又は低減する補正処理を指す）後のＸ線画像をゲイン画像で除算し、得られたＸ線画像にゲイン画像全体の平均値などの適当な係数を乗算することにより実施される。

しかし、前述したＸ線の照射開始の検知を行う方法でゲイン画像を撮影した場合、ゲイン画像にも同様に検知遅れアーチファクトが生じてしまう。また、ゲイン画像の検知遅れアーチファクトを何らかの画像処理により補正した場合、その検知遅れアーチファクトが生じていた画素は本来のゲインを正しく表すことができないのでゲイン補正が正しく行えない可能性がある。かといって従来のＸ線撮影装置とＸ線発生装置とを接続し同期通信を行って撮影する方法でゲイン画像を取得すれば前述の検知遅れアーチファクトは生じないが、接続が不要というメリットと相反してしまう。また、そもそもそのような接続部の無いＸ線発生装置と組み合わせて使用したいという状況もあり、このような場合にはＸ線の照射開始の検知を行う撮影方法と、その撮影方法でゲイン画像を作成することを両立することは難しい。

本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、放射線の照射開始を自動的に検出して撮影された画像を用いて、精度の高いゲイン画像を得ることを可能とすることを目的とする。

上記目的を達成するための本発明の位置態様による放射線撮影装置は以下の構成を備える。すなわち、
放射線検出器において検出される放射線量に基づいて放射線の照射開始を検出して前記放射線検出器を用いて放射線画像を撮影する撮影手段と、
被写体が存在しない状態で放射線を照射し、前記撮影手段により撮影を行うことにより、複数の基画像を取得する取得手段と、
前記複数の基画像について、放射線の実際の照射開始から照射開始の検出までの時間差に起因して生じたアーチファクト領域を判別する判別手段と、
前記判別手段により判別されたアーチファクト領域の画像情報は用いずに前記複数の基画像を合成して、ゲイン補正のためのゲイン画像を作成する作成手段と、を備える。

本発明によれば、放射線の照射開始を自動的に検出して撮影された画像を用いて精度の高いゲイン画像を得ることができる。

実施形態によるＸ線撮影システムの装置構成例を示す図。 実施形態によるＸ線画像撮影処理を示すフローチャート。 実施形態によるゲイン画像の作成処理を示すフローチャート。 検知遅れアーチファクト行を判別する処理を示すフローチャート。 正規化処理を示すフローチャート。 検知遅れアーチファクト行を説明する図。 検知遅れアーチファクト行におけるプロファイルの補間処理を説明する図。 正規化画像の合成によるゲイン画像の作成を説明する図。

以下、本発明の好適な実施形体の一例について添付の図面を用いて説明する。

本実施形態の放射線撮影システムは、複数画素から構成される放射線検出器を用いた撮影により得られた放射線画像に対して、放射線の検知遅れにより生じたアーチファクト領域を補正するとともにゲイン補正を行う。ゲイン補正に用いられるゲイン画像は、放射線の検知遅れにより生じたアーチファクト領域の影響が低減するように作成され、高精度なゲイン補正を実現する。以下、放射線としてＸ線を用いた場合の実施形態を説明するが、Ｘ線以外の放射線撮影装置にも適用可能である。

図１は、本実施形態によるＸ線撮影システムの構成例を示す図である。放射線発生装置としてのＸ線発生装置１０１は、放射線検出器としてのＦＰＤ１０２に向けてＸ線を照射する。ＦＰＤ１０２と画像処理装置１０３はＸ線撮影装置を構成しており、ＦＰＤ１０２は、検出したＸ線量に応じた画像信号を接続されている画像処理装置１０３に送信する。

画像処理装置１０３は、データの送受信等を行うＩ／Ｏ部１０６、画像処理装置１０３の各種動作を制御するＣＰＵ１０７（中央処理装置）、ＣＰＵ１０７により実行されるプログラムを格納するとともに各種データ等を読み書きするメモリ１０８を有する。また画像処理装置１０３は、画像データ等を記録・保存するための記憶媒体１０９を有する。さらに、画像処理装置１０３には、処理結果や画像等を表示する表示装置１０４や、ユーザの操作を受け付けるための操作装置１０５が接続されている。

以上のような構成を備えたＸ線撮影システムにおけるＸ線画像撮影処理について説明する。図２Ａは、本実施形態によるＸ線画像撮影処理を説明するフローチャートである。Ｓ２０１において、ＣＰＵ１０７は、ＦＰＤ１０２において検出される放射線量（Ｘ線量）に基づいてＸ線の照射開始を検出する。本実施形態では、ＣＰＵ１０７が、ＦＰＤ１０２から行単位で順次に読み取ったＸ線量に基づいて放射線の照射開始を検出する。照射開始が検出されると、ＣＰＵ１０７はＦＰＤ１０２を用いてＸ線画像の撮影を開始する。撮影において、ＦＰＤ１０２は、内部の各Ｘ検出素子で受けたＸ線量をデジタル信号に変換したＸ線画像データ（以降、原画像と記す）を画像処理装置１０３のＩ／Ｏ部１０６に送る。Ｓ２０３において、ＣＰＵ１０７は、たとえば特許文献１や２に記載された方法により、原画像における、放射線の実際の照射開始から照射開始の検出までの時間差に起因して生じたアーチファクトの領域（検知遅れアーチファクト領域）の画像情報を補正する。その後、ＣＰＵ１０７は、Ｓ２０３によるアーチファクト補正後の原画像から暗電流成分を取り除くためのオフセット補正を行い（Ｓ２０４）、オフセット補正後の原画像についてゲイン画像を用いたゲイン補正を行う（Ｓ２０５）。

次に、Ｓ２０５で用いられるゲイン画像を作成する処理について説明する。ゲイン画像の作成を行う際の、本実施形態のＸ線画像撮影装置における動作の概要は以下のとおりである。

操作者が操作装置１０５を用いて、ゲイン画像の作成を指示し、撮影を開始するための操作を入力する。この操作は、ＦＰＤ１０２と画像処理装置１０３との間で撮影準備のための情報のやり取りを行うための操作を指す。ここで撮影準備のための情報とは、ＦＰＤ１０２が撮影可能な状態であることを画像処理装置に伝えることを指す。ＦＰＤ１０２が撮影可能な状態とは、組み込みソフトの初期化処理が完了していることや、ハードウェアが電源投入時の不安定な状態から安定した状態になるまでのスタンバイが完了していること、等を指す。

Ｘ線発生装置１０１からＦＰＤ１０２に遮蔽物（被写体）の無い状態で放射線を照射する。Ｘ線を受けたＦＰＤ１０２は、Ｓ２０１、Ｓ２０２と同じように、Ｘ線の照射開始を検出し、内部の各Ｘ検出素子で受けたＸ線量をデジタル信号に変換した画像データ（原画像）を画像処理装置１０３のＩ／Ｏ部１０６に送る。画像処理装置１０３は受け取った原画像をメモリ１０８もしくは記憶媒体１０９に保存する。これらの画像処理装置１０３の内部の処理は、ＣＰＵ１０７により実現される。画像処理装置１０３では、受け取った原画像からゲイン画像を作成し（ゲイン画像を作成する処理の詳細は図２Ｂのフローチャートにより後述する）、その処理結果を表示装置１０４に送る。ここで処理結果の表示としては、例えば、正常にゲイン画像が作成できた旨のメッセージを表示することや、作成したゲイン画像を表示すること等が挙げられる。

次に、ゲイン画像を作成する処理の流れを図２Ｂのフローチャートを用いて詳しく説明する。ゲイン画像を作成する処理は、ゲイン画像の基となる複数の撮影画像（以下、基画像）を作成する基画像取得処理（Ｓ２１０）と、複数の基画像からゲイン画像を作成するゲイン画像取得処理（Ｓ２２０）から構成される。

基画像取得処理（Ｓ２１０）では、ゲイン画像作成に必要な枚数の基画像が取得できるまで繰り返し基画像の作成が行われる。ゲイン画像作成に必要な複数の基画像は、検知遅れアーチファクト領域が重複しない２枚の基画像を含むことが必須となる。量子ノイズや電気回路上のノイズ等のノイズ成分を低減したい場合は、３枚以上の基画像を作成しゲイン画像作成に使用することが好ましい。検知遅れアーチファクト領域の重複の有無は、たとえばＦＰＤ１０２でＸ線の照射開始を検知した際の画像中の行の位置に基づいて判断することができる。

この場合、たとえば、照射開始が検知された行とその直前の検知走査が行われた所定数の行を検知遅れアーチファクト領域として判定するようにしてもよい。この場合、所定数は、たとえば、［検知走査が要する１行あたりの時間］×［実際の照射開始から照射が検知されるまでの時間差］から求めることができる。ここで、実際の照射開始時刻は、Ｘ線発生装置１０１から画像処理装置１０３が取得することとしてもよい。例えば、Ｘ線発生装置１０１と画像処理装置１０３とがそれぞれ有する時計を同期させておき、照射が開始された時刻の情報をＸ線発生装置から取得する。この場合には、Ｘ線発生装置１０１と画像処理装置１０３との通信が行われる。なお、この場合でもＸ線発生装置１０１とＦＰＤ１０２との通信は不要である。また、照射が検知された時刻はＦＰＤ１０２から画像処理装置１０３が受信する。これら両方の時刻の差を算出することにより、画像処理装置１０３が上述の時間差を算出する。あるいは、表示装置１０４に撮影した基画像を表示装置１０４に表示して、ユーザがアーチファクト領域の重複を判断するようにしても良い。

基画像取得処理（Ｓ２１０）の処理内容について説明する。Ｓ２１１において、画像処理装置１０３は、遮蔽物の無い状態でＸ線照射をして、検知遅れアーチファクト領域が重複しない複数の原画像を取得する。Ｘ線の照射開始を自動検知して撮影を行う処理は、Ｓ２０１、Ｓ２０２で上述したとおりである。次に、Ｓ２１２において、ＣＰＵ１０７は、原画像から暗電流成分を取り除くために、オフセット補正処理を行う。例えばそれぞれの原画像を得た後に、Ｘ線が照射されていない状態でＦＰＤ１０２から暗電流画像を読み取っておき、原画像から暗電流画像を減算することでオフセット補正処理が行われる。なお、オフセット補正処理はこれに限られるものではなく、たとえば、撮影前に暗電流画像を読み取っておき、これを原画像から減算することによりオフセット補正処理を実施するようにしても良い。こうして、被写体が存在しない状態で撮影された複数の基画像が取得される。

ゲイン画像取得処理（Ｓ２２０）では、以上説明した処理により作成された検知遅れアーチファクトが重複しない２枚以上の基画像を用いてゲイン画像を作成する。以下、ゲイン画像作成処理Ｓ２２０について説明する。

まず、Ｓ２２１において、ＣＰＵ１０７は、基画像取得処理（Ｓ２１０）で取得された各基画像に対して検知遅れアーチファクト領域を構成する検知遅れアーチファクト行を判別する判別処理を行う。検知遅れアーチファクト行の判別処理では、各基画像の各行に対して検知遅れアーチファクトが発生している行であるか否かを判別する。判別処理の詳細は後述する。次に、Ｓ２２２において、ＣＰＵ１０７は、各基画像と検知遅れアーチファクト行の判別処理結果を用いて、正規化処理を行って正規化画像を作成する。この正規化処理は、各基画像が撮影された際のＸ線量を正規化するために行う。そして、Ｓ２２３において、ＣＰＵ１０７は、検知遅れアーチファクト行の判別処理（Ｓ２２１）の結果と正規化画像（Ｓ２１２）を用いてゲイン画像を作成する。

次に、検知遅れアーチファクト行の判別処理（Ｓ２２１）について具体的に説明する。図３は、検知遅れアーチファクト行の判別処理（Ｓ２２１）を示すフローチャートである。図３に示されるように、判別処理は、各基画像個別に、プロファイル作成処理（Ｓ３０１）、近似式作成処理（Ｓ３０２）、フラグ作成処理（Ｓ３０３）を有する。なお、検知遅れアーチファクト行の判別処理の結果は、後の処理である正規化処理（Ｓ２２２）とゲイン画像の作成処理（Ｓ２２３）において用いられる。

まず、プロファイル作成処理（Ｓ３０１）では、ＣＰＵ１０７は、基画像において行単位で算出された特徴量のプロファイルを作成する。本実施形態では、行方向に並ぶ画素の画素値（輝度値）の平均値のプロファイルを作成する。なお、特徴量は行内の画素値の平均値に限られるものではなく、他の特徴量でもよい。例えば、中央値や、頻度グラフ(ヒストグラム)から得られる特徴量がある。ヒストグラムから得られる特徴量の例としては、値の大きい方と小さい方の頻度の１パーセントを除外した後の平均値や、中央値がある。次に、近似式作成処理（Ｓ３０２）では、ＣＰＵ１０７は、Ｓ３０１で作成したプロファイルからＸ線検出器に入力されたＸ線量の分布を表す近似式を作成する。具体的には、ＣＰＵ１０７は、Ｓ３０１で作成されたプロファイルに２次式又は１次式等のモデルをあてはめ、最小二乗法等を使用することで近似式を求める。このとき、検知遅れアーチファクト行はＸ線量の分布に従わない値となるため、ロバスト推定法等の誤差に対し重みづけを行うことのできる方法をとることが好ましい。

次に、フラグ作成処理（Ｓ３０３）において、ＣＰＵ１０７は、基画像の各行について検知遅れアーチファクト行であるか否かを判別して、その判定結果をフラグとして記録する。本実施形態では、ＣＰＵ１０７は、近似式作成処理（Ｓ３０２）によって導出した近似式とプロファイル作成処理（Ｓ３０１）で作成した行平均値のプロファイルを行ごとに比較する。そしてＣＰＵ１０７は、その比較結果に基づいて検知遅れアーチファクトか否かを判定する。たとえば、近似式により表される値に対して行平均値が所定の比率以下になる場合に、その行を検知遅れアーチファクト行と判定する。ＣＰＵ１０７は、基画像の各行に対応づけて、例えばアーチファクト行であればフラグ＝１、そうでなければフラグ＝０を格納する。

なお、上記判別処理では、プロファイルの近似式を利用した例を説明したが、これに限られるものではない。たとえば、基画像取得処理（Ｓ２１０）で説明したような検知遅れアーチファクト行の検出を利用してもよい。すなわち、照射開始が検出された行と、検知走査における読み取りの順番において該行の直前の所定数の行を検知遅れアーチファクト行として判別するようにしてもよい。

次に、図２の正規化処理（Ｓ２２２）について具体的に説明する。図４は、正規化処理（Ｓ２２２）の流れを示すフローチャートである。この正規化処理では、各基画像に対して、プロファイル作成処理（Ｓ４０１）、補間処理（Ｓ４０２）、平均値算出処理Ｓ２２３、正規化画像の作成処理（Ｓ４０４）を行う。なお、正規化処理（Ｓ２２２）は、検知遅れアーチファクトの影響を取り除いた値で正規化することで、複数の基画像における、Ｘ線発生装置１０１から照射されるＸ線量のバラつきの影響を無くすために行われる。

まず、プロファイル作成処理（Ｓ４０１）では、ＣＰＵ１０７は、行単位の特徴量のプロファイルを作成する。本実施形態では、ＣＰＵ１０７は、基画像の行方向の平均値のプロファイルを作成する。なお、この処理は検知遅れアーチファクト行の判別処理におけるプロファイル作成処理（Ｓ３０１）と同様であるので、Ｓ３０１の処理結果を利用するようにしてもよい。

補間処理（Ｓ４０２）では、検知遅れアーチファクト領域の特徴量を、検知遅れアーチファクト領域以外の領域の特徴量に基づいて補間して決定する。すなわち、ＣＰＵ１０７は、プロファイル作成処理（Ｓ４０１）で求めた行平均値のプロファイルのうち、検知遅れアーチファクト行と判別された行以外の行平均値を用いて、検知遅れアーチファクト行と判別された行の行平均値を補間により決定する。こうして、検知遅れアーチファクト領域以外の各行の画素値の平均値と、検知遅れアーチファクト領域の行の補間値とに基づく補間平均値プロファイルが作成される。たとえば、図６に示す様に、検知遅れアーチファクト行を除いた行平均値のプロファイルから近似式を作成し、その近似式の値を用いてアーチファクト行を補間する。近似式は、例えば１次式でも良いし２次式等でも良い。

次に、平均値算出処理（Ｓ４０３）では、ＣＰＵ１０７は、補間処理（Ｓ４０２）で得た補間平均値プロファイルからプロファイル全体の平均値を計算する。ここで得られたプロファイルの平均値は、基画像の検知遅れアーチファクト行の影響の無い平均値として扱うことができる。

次に、正規化画像の作成処理（Ｓ４０４）では、ＣＰＵ１０７は、平均値算出処理（Ｓ４０３）で算出した平均値を用いて基画像を正規化し、正規化画像を作成する。たとえば、ＣＰＵ１０７は、基画像の各画素の画素値を平均値算出処理（Ｓ４０３）で算出した平均値で除算することにより正規化画像を得る。

図２Ｂのゲイン画像の作成処理（Ｓ２２３）では、以上のようにして作成された複数の正規化画像を用いてゲイン画像を作成する。本実施形態において、ＣＰＵ１０７は、検知遅れアーチファクト行の判別処理（Ｓ２２１）で判別された検知遅れアーチファクト行の画像情報は用いずに複数の正規化画像を合成することのより、ゲイン補正のためのゲイン画像を作成する。たとえば、ＣＰＵ１０７は、正規化処理（Ｓ２２２）で作成された各基画像（正規化画像）における同じ座標の画素値の平均値をゲイン画像の画素値として算出することによりゲイン画像を作成する。このとき、ＣＰＵ１０７は、判別処理（Ｓ２２１）により検知遅れアーチファクト行であると判別された行の画素値は平均値の計算に含めないようにする。

図７は、ゲイン画像の作成処理を説明する図である。ゲイン画像を作成するために合成される正規化画像として第１の正規化画像７０１と第２の正規化画像７２１が得られたとする。第１の正規化画像７０１においては検知遅れアーチファクト領域７０２が検出されており、第２の正規化画像７２１においては検知遅れアーチファクト領域７２２が検出されている。これら正規化画像を合成してゲイン画像７４１を作成する場合、検知遅れアーチファクト領域に属していない画素同士についてそれらの平均値が算出されてゲイン画像の画素値として用いられる。たとえば、第１の正規化画像７０１の画素７０３、第２の正規化画像７２１の画素７２３は、共に（ｘ１，ｙ１）の座標の画素であり、それらの画素値の平均値がゲイン画像７４１の座標（ｘ１，ｙ１）の画素７４３の画素値となる。他方、座標（ｘ２，ｙ２）における画素７０４と画素７２４の場合、画素７０４は検知遅れアーチファクト領域に属しているため平均値の算出には用いられない。したがって、この例では画素７２４の画素値がそのままゲイン画像７４１における画素７４４の画素値となる。座標（ｘ３，ｙ３）における画素７０５と画素７２５の場合、画素７２５は検知遅れアーチファクト領域に属しているため平均値の算出には用いられず、画素７０５の画素値がそのままゲイン画像７４１における画素７４５の画素値となる。

以上の様に、本実施形態によれば、作成されたゲイン画像は、本来のゲインを正しく表すことができ、検知遅れアーチファクトが発生してもゲイン補正を適切に実施可能とするゲイン画像を得ることができる。

また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

１０１ Ｘ線発生装置、１０２ ＦＰＤ、１０３ 画像処理装置、１０４ 表示装置、１０５ 操作装置、１０６ Ｉ／Ｏ部、１０７ ＣＰＵ、１０８ メモリ、１０９ 記憶媒体

Claims (10)

1. 放射線撮影装置であって、
   放射線検出器において検出される放射線量に基づいて放射線の照射開始を検出して前記放射線検出器を用いて放射線画像を撮影する撮影手段と、
   被写体が存在しない状態で放射線を照射し、前記撮影手段により撮影を行うことにより、複数の基画像を取得する取得手段と、
   前記複数の基画像について、放射線の実際の照射開始から照射開始の検出までの時間差に起因して生じたアーチファクト領域を判別する判別手段と、
   前記判別手段により判別されたアーチファクト領域の画像情報は用いずに前記複数の基画像を合成して、ゲイン補正のためのゲイン画像を作成する作成手段と、を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
2. 前記取得手段は、前記時間差に起因したアーチファクト領域が重複しない少なくとも２つの基画像が含まれるように前記複数の基画像を取得することを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
3. 前記取得手段は、前記複数の基画像の各々における前記照射開始が検出された行の位置に基づいてアーチファクト領域の重複の有無を判断することを特徴とする請求項２に記載の放射線撮影装置。
4. 前記判別手段は、前記複数の基画像の各々について行単位で算出された特徴量のプロファイルを表す近似式を取得し、前記近似式で示される特徴量に対する行の特徴量が所定の比率以下になる場合に、その行を検知遅れアーチファクト行と判別することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
5. 前記撮影手段は、前記放射線検出器から行単位で順次に読み取った放射線量に基づいて放射線の照射開始を検出し、
   前記判別手段は、照射開始が検出された行と、読み取りの順番において該行より直前の所定数の行を含む領域を前記アーチファクト領域とすることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
6. 前記アーチファクト領域以外の領域の特徴量に基づいて前記アーチファクト領域の特徴量を補間する補間手段と、
   前記複数の基画像の各々において、前記補間手段により得られた前記アーチファクト領域の特徴量と前記アーチファクト領域以外の領域の特徴量とに基づいて、基画像の画像情報を正規化する正規化手段とをさらに備え、
   前記作成手段は、正規化された前記複数の基画像を用いて前記ゲイン画像を作成することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
7. 前記補間手段は、前記アーチファクト領域に属する行を除く行について行単位で算出された特徴量のプロファイルの近似式を取得し、該近似式を用いて前記アーチファクト領域に属する行の特徴量を補間することを特徴とする請求項６に記載の放射線撮影装置。
8. 前記作成手段は、前記複数の基画像のそれぞれのアーチファクト領域以外の領域から得られる画像情報の平均値を前記ゲイン画像の画像情報とすることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の放射線撮影装置。
9. 放射線検出器において検出される放射線量に基づいて放射線の照射開始を検出して前記放射線検出器を用いて放射線画像を撮影する撮影手段を有する放射線撮影装置によるゲイン画像作成方法であって、
   被写体が存在しない状態で放射線を照射し、前記撮影手段により撮影を行うことにより、複数の基画像を取得する取得手段と、
   前記複数の基画像について、放射線の実際の照射開始から照射開始の検出までの時間差に起因して生じたアーチファクト領域を判別する判別工程と、
   前記判別工程で判別されたアーチファクト領域の画像情報は用いずに前記複数の基画像を合成して、ゲイン補正のためのゲイン画像を作成する作成工程と、を有することを特徴とするゲイン画像作成方法。
10. 請求項９に記載されたゲイン画像作成方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。