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JP2016033529A - 光偏向器のカバー用光透過性部材、光偏向器、光学レンズ及び光学ミラー - Google Patents

光偏向器のカバー用光透過性部材、光偏向器、光学レンズ及び光学ミラー Download PDF

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JP2016033529A
JP2016033529A JP2014155499A JP2014155499A JP2016033529A JP 2016033529 A JP2016033529 A JP 2016033529A JP 2014155499 A JP2014155499 A JP 2014155499A JP 2014155499 A JP2014155499 A JP 2014155499A JP 2016033529 A JP2016033529 A JP 2016033529A
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optical
mirror
speckle
elimination pattern
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藤村 康浩
Yasuhiro Fujimura
康浩 藤村
梅木 和博
Kazuhiro Umeki
和博 梅木
深雪 小川
Miyuki Ogawa
深雪 小川
真久 川村
Masahisa Kawamura
真久 川村
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Ricoh Optical Industries Co Ltd
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Ricoh Optical Industries Co Ltd
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Abstract

【課題】光路上に配置される光学素子の数を増加させることなく、レーザ光のスペックルを低減する光偏向器のカバー用光透過性部材を提供する。
【解決手段】光偏向器1はミラー部11を振動させることによってミラー部11に入射するレーザ光の反射方向を走査する。光偏向器1にカバー用光透過性部材5が装着されている。カバー用光透過性部材5には、ミラー部11への入射光及び反射光を透過する部分の表面に、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が前記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるスペックル解消パターン17が形成されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、光偏向器のカバー用光透過性部材、光偏向器、光学レンズ及び光学ミラーに関するものである。
近年、レーザ光を光源としたレーザディスプレイが次世代のディスプレイとして注目されている。レーザディスプレイは、例えば、ランプを光源としたディスプレイよりも低消費電力、超小型(薄型、軽量)、低コスト、フォーカス・フリー、綺麗な映像など特徴があり、レーザディスプレイへの期待が高まっている。
レーザディスプレイは、光源の他に、ミラー部を振動させることによってミラー部に入射するレーザ光の反射方向を走査する光偏向器を備えている。光偏向器は、光源から射出されたレーザ光を所定の角度で反射させることを連続的に行うことで、対象範囲内又は所定範囲内に存在する物体までレーザ光を飛ばす装置である。光偏向器はレーザ走査装置とも呼ばれる。光偏向器としては、例えば、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)を用いた走査ミラー(MEMSミラー)や、ポリゴンミラー(回転多面鏡)などが知られている。
しかしながら、レーザディスプレイにはスペックルノイズの課題があり、実現が困難になっている。スペックルノイズはスクリーン上の微細な凹凸より散乱した光が干渉を起こす事で発生するものである。スペックルノイズに対してこれまで有効な防止方法や低減方法は確立されていなかった。
スペックルノイズを解消する有効な解決手段の1つとして、光軸を変調するパターンを領域の中で分割して配置して偏光を解消することで、スペックルが低減できることが知られている(例えば特許文献1,2を参照。)。
特開2004−341453号公報 特開2011−180581号公報 特開2003−57586号公報 特開2011−180581号公報 特開2006−133605号公報
スペックル解消素子は光路上に配置される。したがって、スペックル解消素子は光学系のスペース的な問題を発生させることがあった。このような問題は、レーザディスプレイの光学系に限らず、レーザ光を光源とする光学系全般において生じる。
本発明は、光路上に配置される光学素子の数を増加させることなく、レーザ光のペックルを低減することを目的とするものである。
本発明にかかる光偏向器のカバー用光透過性部材は、ミラー部を動作させることによって上記ミラー部に入射するレーザ光の反射方向を走査する光偏向器に装着されるカバー用光透過性部材であって、上記ミラー部の反射光を透過する部分の表面に、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が上記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるスペックル解消パターンが形成されていることを特徴とするものである。
本発明にかかる光偏向器は、ミラー部を振動させることによって上記ミラー部に入射するレーザ光の反射方向を走査する光偏向器であって、上記ミラー部への入射光及び反射光の光路上に本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材を備えていることを特徴とするものである。
本発明にかかる光学レンズは、レンズ機能を有する光透過性部材からなるレンズ部の表面に、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が上記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるスペックル解消パターンが形成されていることを特徴とするものである。
本発明にかかる光学ミラーは、光反射部材の光反射面の表面に、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が上記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるスペックル解消パターンが形成されていることを特徴とするものである。
本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材、光偏向器、光学レンズ及び光学ミラーは、光路上に配置される光学素子の数を増加させることなく、レーザ光のペックルを低減することができる。
光偏向器の一実施例を説明するための概略的な図であり、(A)は平面図、(B)は断面図である。 同実施例のカバー用光透過性部材を示す概略的な平面図である。 同実施例の光偏向器本体部を示す概略的な平面図である。 カバー用光透過性部材の他の実施例及び光偏向器の他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 カバー用光透過性部材のさらに他の実施例及び光偏向器のさらに他の実施例を説明するための概略的な断面図である。 サブ波長構造体を説明するための概略的な断面図である。 スペックル解消パターンの一例を概略的に示した平面図である。 スペックル解消パターンの他の例を概略的に示した平面図である。 光偏向器の実施例を適用した光走査装置の光学系の一例を説明するための概略図である。 光偏向器の実施例を適用したレーザプリンタの光学系の一例を説明するための概略図である。 カバー用光透過性部材の他の実施例を説明するための概略的な平面図である。 光学レンズの一実施例を説明するための概略的な断面図である。 光学ミラーの一実施例を説明するための概略的な断面図である。 光偏向器の他の実施例を説明するための概略的な図である。
本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材において、上記スペックル解消パターンは上記ミラー部への入射光を透過する部分の表面にも形成されている例を挙げることができる。これにより、ミラー部への入射光及びミラー部の反射光の両方についてレーザ光のペックルを低減することができるので、ミラー部の反射光の光路上のみにスペックル解消パターンが配置されている場合に比べて、レーザ光のペックルをより低減することができる。
また、本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材は、上記スペックル解消パターンの周囲に遮光部を備えている例を挙げることができる。本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材のこの態様は、上記ミラー部への入射光及び反射光について上記遮光部によって迷光を除去することができる。遮光部は、例えばクロム等の光吸収膜や、磨りガラスなどによって形成される。ただし、遮光部の構成はこれらに限定されない。また、本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材は上記遮光部を備えていなくてもよい。
また、本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材は、上記ミラー部に対向する面及びその反対側の面の両方に上記スペックル解消パターンをそれぞれ備えている例を挙げることができる。本発明の本発明の光偏向器のカバー用光透過性部材のこの態様は、上記ミラー部への入射光及び反射光について上記カバー用光透過性部材の両面でスペックル解消パターンを通過させることができるので、偏光状態をよりランダムにすることができ、より良くスペックルを低減できる。
本発明の光偏向器において、例えば、上記スペックル解消パターンは少なくとも上記反射光の光路上に配置されており、上記ミラー部側から上記スペックル解消パターンに入射する光の入射角θは0°≦θ≦30°である例を挙げることができる。これにより、スペックル解消パターンのスペックル解消機能が維持される。ただし、本発明において、スペックル解消パターンに入射する光の入射角θは0°≦θ≦30°に限定されず、30°よりも大きくてもよい。スペックル解消パターンに入射する光の入射角が30°を超えている場合、スペックル解消パターンのスペックル解消機能は低下するが、例えば入射角が40°までは85%以上の機能を維持する。
以下に本発明の実施の形態を説明する。
本発明の一態様は、MEMSミラーやポリゴンミラーなどの光偏向器のカバー用光透過部材、例えばカバーガラスにスペックル解消パターンを構築し、スペックル解消効果と防塵効果を同時に達成する。
また、本発明は、レーザ光が透過、屈折又は反射する光学素子の表面にスペックル解消パターンを構築することで、レーザ光の光学系の省部品化を実現することが可能となる。
本発明は、これまで別体で構成していた、光偏向器とスペックル解消素子(手段)を複合化することで、部品点数の削減や、設計自由度の向上を図ることができる。
本発明の光偏向器において、スペックル低減機能を奏するスペックル解消パターンはカバー用光透過部材に形成されているので、外部衝撃などの影響を受けにくい。
また、スペックル解消パターンの周囲に使用領域以外を遮光する遮光部が形成されていることで、迷光防止効果をもたせることも可能である。
次に図面を用いて本発明の実施例を説明する。なお、本発明は以下に説明される実施例に限定されるものではない。
図1は、光偏向器の一実施例を説明するための概略的な図であり、(A)は平面図、(B)は断面図である。図1(B)は図1(A)のA−A位置での断面に対応している。図2は、同実施例のカバー用光透過性部材を示す概略的な平面図である。図3は、同実施例の光偏向器本体部を示す概略的な平面図である。
光偏向器1は、大きく分けて本体部3とスペーサー4とカバーガラス5(カバー用光透過性部材)を備えている。本体部3は、枠部7とねじりバネ部9とミラー部11とミラー13を備えている。スペーサー4は本体部3の枠部7に沿って枠状に形成されている。カバーガラス5は光透過性基板15とスペックル解消パターン17を備えている。
光透過性基板15の材料は例えばガラスである。スペックル解消パターン17の材料は例えば石英や、Ta25などの金属酸化物、樹脂などである。なお、本発明においてカバー用光透過性部材の材料は、ガラスや石英、金属酸化物などに限定されず、他の光透過性材料であってもよい。また、光透過性基板15の表面やスペックル解消パターン17の表面など、カバーガラス5に反射防止膜(反射防止コート)が形成されていてもよい。
本体部3はMEMS技術によって作製されたものである。ミラー部11は、2本のねじりバネ部9,9に支持されて枠部7の開口部に配置されている。ミラー部11の上にミラー13が配置されている。また、本体部3はミラー部11を振動させるための駆動系(図示は省略)を備えている。本体部3は例えば特許文献3に開示されている。本体部3はMEMSミラーと呼ばれるものである。MEMSミラーの駆動方式としては、例えば、磁界とコイルを用いる電磁方式や、圧電素子を用いる圧電方式、静電気を利用する静電方式などがある。
スペックル解消パターン17は、例えば特許文献4に開示されたサブ波長構造の製造方法と同様の方法によって形成される。なお、スペックル解消パターン17を形成するための方法は特許文献4に開示された製造方法に限定されない。また、スペックル解消パターン17は、光透過性基板15自体が加工されて形成されたものであってもよいし、光透過性基板15上に形成された部材が加工されて形成されたものであってもよい。
カバーガラス5はスペーサー4を介して本体部3に装着されている。スペーサー4は本体部3の枠部7に接合されている。カバーガラス5の光透過性基板15はスペーサー4に接合されている。スペーサー4と枠部7の接合、及びスペーサー4とカバーガラス5の接合は、例えば陽極接合などの直接接合や、接着剤などを用いた間接接合など、どのような接合であってもよい。なお、本体部3をカバーガラス5に装着する方法は、スペーサー4を用いる方法に限定されない。例えば、本体部3に対向する光透過性基板15の面にザグリ(凹部)を形成して、光透過性基板15と枠部7を接合してもよい。また、カバーガラス5の上面の周縁部を覆い中央部に開口をもつ筒状のカバー部材を用いてカバーガラス5を直接又はスペーサー4を介して本体部3に装着するようにしてもよい。
カバーガラス5はねじりバネ部9及びミラー部11とは間隔をもって配置されている。カバーガラス5の光透過性基板15の表面にスペックル解消パターン17が形成されている。スペックル解消パターン17はミラー部11への入射光及び反射光を透過する部分に配置されている。
スペックル解消パターン17は、例えば光透過性基板15の本体部3側とは反対側の面に配置されている。ただし、スペックル解消パターン17は、図4に示されるように光透過性基板15の本体部3側の面に形成されていてもよいし、図5に示されるように光透過性基板15の両面に形成されていてもよい。
スペックル解消パターン17は、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されて形成されている。このようなスペックル解消パターン17は例えば特許文献1,2に開示されている。
図6はサブ波長構造体を説明するための概略的な断面図である。サブ波長構造体の複屈折作用について、図6を参照して説明する。
図6に示された構造は一般的なサブ波長構造体を示したものである。使用する光の波長よりも短い凹凸周期(ピッチ)Pを有するサブ波長凹凸構造が形成されている。サブ波長凹凸構造の媒質として空気と屈折率nの媒質を想定する。屈折率nの凸条のランドの幅がL、空気層からなる凹条の溝の幅がSであり、P=L+Sである。また、L/Pはフィリングファクタ(F)と呼ばれる。dは溝の深さである。
周期Pの目安としては、使用する最も短い入射光の波長より短い周期で、より望ましくは使用波長の半分以下の周期とする。周期Pが入射光の波長よりも短い周期構造は入射光を回折することはないため入射光はそのまま透過し、入射光に対して複屈折特性を示す。すなわち、入射光の偏光方向に応じて異なる屈折率を示す。その結果、構造に関するパラメータを調整することにより位相差を任意に設定することができるため各種波長板を実現できる。
構造性複屈折とは、屈折率の異なる2種類の媒質を光の波長よりも短い周期でストライプ状に配置したとき、ストライプに平行な偏光成分(TE波)とストライプに垂直な偏光成分(TM波)とで屈折率(有効屈折率と呼ぶ)が異なり、複屈折作用が生じることをいう。
サブ波長構造体の周期よりも2倍以上の波長をもつ光が垂直入射したと仮定する。このときの入射光の偏光方向がサブ波長構造体の溝に平行(TE方向)であるか垂直(TM方向)であるかによって、サブ波長構造体の有効屈折率は次の式で与えられる。
n(TE)=(F×n2+(1−F))1/2
n(TM)=(F/n2+(1−F))1/2
入射光の偏光方向がサブ波長構造体の溝に平行である場合の有効屈折率をn(TE)、垂直である場合の有効屈折率をn(TM)と表す。式中の符号Fは前述のフィリングファクタである。
このようなサブ波長構造体を透過した光のTE波とTM波の間の位相差(リタデーション)Δは、
Δ=Δn・d
である。ここで、Δnはn(TE)とn(TM)の差、dは前述の溝の深さである。
サブ波長構造体領域に直線偏光の光が入射すると、この位相差によってその透過光は楕円偏光に変わる。サブ波長構造体領域において光学軸方向が互いに異なる部分に直線偏光の光がそれぞれ透過すると、光学軸方向が互いに異なる部分間で楕円率が異なる。
図7は、スペックル解消パターンの一例を概略的に示した平面図である。
スペックル解消パターン17に複数のサブ波長構造体領域19が配置されている。サブ波長構造体領域19は、例えば互いに隙間のない状態に配置されている。ただし、隣り合うサブ波長構造体領域19は間隔をもって配置されていてもよい。
ここでは8×8=64個のサブ波長構造体領域19が配置されたものを示しているが、これは概略図であり、その個数に限定されるものではなく、サブ波長構造体領域19の数は多いほどよい。例えば、スペックル解消パターン17が5mm×5mmの正方形で、サブ波長構造体領域19が50μm×50μmであるとすると、100×100=10000個のサブ波長構造体領域19が配置されたスペックル解消パターン17となる。
サブ波長構造体領域19は使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝により構成されるストライプ状の凹凸構造をもっている。そのストライプ状の凹凸の配列方向が光学軸であり、図では光学軸は矢印で示されている。この実施例では各サブ波長構造体領域19は1つずつの光学軸をもっている。
光学軸方向は隣り合うサブ波長構造体領域19間では異なる部分をもつように、ここでは隣り合うサブ波長構造体領域19間で光学軸方向が異なるようにサブ波長構造体領域19が配置されている。サブ波長構造体領域19の光学軸方向は360度を15分割した方向のいずれかの方向をもつように形成されており、スペックル解消パターン17としては光学軸方向がランダムになるようにサブ波長構造体領域19が配置されている。
サブ波長構造体領域19内における光学軸は1つである必要はなく、互いに直交する2つの方向の光学軸をもつようにサブ波長構造体領域19を形成することもできる。また、さらに複数個の光学軸をもつようなサブ波長構造体領域19であってもよく、後述のように光学軸方向が中心から放射状に広がるようにサブ波長構造体を構成する凹凸構造の溝が同心円状に配列されているようなサブ波長構造体領域19であってもよい。
スペックル解消パターン17は、サブ波長構造体を構成する凹凸構造の溝の深さに関し、スペックル解消パターン17全体で溝の深さが同じであってもよいし、深さの異なるものを含んでいてもよい。
深さの異なるものを含んでいる場合、1つの形態は、各サブ波長構造体領域19内ではその溝の深さを均一にし、その溝の深さの異なるサブ波長構造体領域19をランダムに配置したものである。他の形態は、各サブ波長構造体領域19内においてその溝の深さを変化させたものである。このような形態は例えば特許文献2に開示されている。
図8は、スペックル解消パターンの他の例を概略的に示した平面図である。図8のスペックル解消パターンは、複数のサブ波長構造体領域に分割されることなく、全体として1つのサブ波長構造体領域からなる。
図8のスペックル解消パターン17では、スペックル解消パターンの全面にわたって、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝21をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体が形成されている。そのサブ波長構造体はサブ波長構造体を構成する溝の配列方向である光学軸方向が中心から放射状に広がるようにその溝21が同心円状に配列されている。したがって、図中に矢印で示される光学軸方向は360度にわたって分布している。
さらに、サブ波長構造体を構成する溝21の深さは、スペックル解消パターン17の中心(A1)から半径方向の一点(A2)に至る位置での断面図が、例えば、三角関数その他の任意の関数に従って連続して変化するように形成されている。
この実施例では入射光の中心が偏光解消素子の中心(A1)にくるように光学系を配置するのが最も効果的な使用方法である。
図7又は図8に示されたスペックル解消パターン17において、サブ波長構造体を構成する溝の深さが光学軸方向に沿って連続的に変化しているようにしてもよい。そのような連続的な変化を実現する1つの方法として、三角関数、指数関数又は他の任意の数式で表される関数に従うように変化させることができる。溝の深さの連続的な変化に伴って、このサブ波長構造体領域を通過する光の位相差が連続的に変化し、偏光状態が連続的に変化して種々の偏光状態を作成するのに一層寄与する。
スペックル解消パターン17で発生する位相差Δは使用する波長λに対して、
λ/4≦Δ≦λ
となるようにサブ波長構造体が設計されていることが好ましい。これにより、この偏光解消素子の異なる場所を通過した光束同士であってもその干渉を防止することができる。
なお、本発明において、スペックル解消パターンは、図7又は図8に示されたものに限定されない。本発明において、スペックル解消パターンは、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が上記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるものであれば、どのような構成であってもよい。
図1に戻って光偏向器1の説明を続ける。
光偏向器1は、ミラー部11の振動によってミラー13による反射方向を変化させる。これによって反射光の走査が行われる。
ミラー13への入射光はスペックル解消パターン17及び光透過性基板15を通過する。また、ミラー13の反射光は光透過性基板15及びスペックル解消パターン17を通過する。入射光及び反射光がスペックル解消パターン17を通過する際に偏光状態がランダムになり、スペックルが低減される。
このように、光偏向器1にスペックル解消機能を設けることにより、別途スペックル解消素子を用いることなく、レーザ光のスペックルを低減できる。したがって、光偏向器1は、光路上に配置される光学素子の数を増加させることなく、レーザ光のペックルを低減することができる。
光偏向器1を備えた光学系の一例を説明する。
(光走査装置への適用)
図9は光走査装置の光学系の概略的な構成図である。レーザ光を平行光として射出する光源装置56から射出されたレーザ光は全反射ミラー57で反射されて光偏向器1に入射する。光偏向器1に入射した光は光偏向器1によって偏向走査される。光偏向器1によって偏向走査された光は射出窓58を介して筐体59の外部に射出される。
光偏向器1に入射する光は入射角θ1でスペックル解消パターン17に入射する。スペックル解消パターン17及び光透過性基板15を透過した光はミラー部11のミラー13で反射される。
ミラー部11及びミラー13は、ミラー13で反射された光が所定の走査角度の範囲内で走査されるように振動されている。ミラー13で反射された光は光透過性基板15及びスペックル解消パターン17を介して光偏向器1の外部に射出される。このとき、ミラー13で反射された光のスペックル解消パターン17に対する入射角θ2は0°≦θ2の範囲内である。
光偏向器1の外部からスペックル解消パターン17に入射する光の入射角θ1は0°≦θ1≦30°であることが好ましい。また、ミラー部11側からスペックル解消パターン17に入射する光の入射角θ2は、0°≦θ2≦30°であることが好ましい。スペックル解消パターン17に入射する光の入射角θが0°≦θ≦30°であれば、スペックル解消パターン17のスペックル解消機能が維持されるからである。
図9の光学系において、射出窓58は、光入射面もしくは光射出面又はその両方にスペックル解消パターンを備えているようにしてもよい。この場合、スペックル解消パターンに入射する光の入射角θは0°≦θ1≦30°であることが好ましい。
(レーザプリンタへの適用)
図10はレーザプリンタの光学系を示したものである。レーザダイオード・ユニット31内部には、光源としてのレーザダイオードと、レーザダイオードから射出されるレーザビームは平行光線にするコリメートレンズが設けられている。レーザダイオード・ユニット31から平行光線となって射出されるレーザ光は、光偏向器1によって偏向走査され、F−θレンズ33やプリズム35等から構成される結像レンズ系によってドラム状の感光体ドラム37の帯電した表面に画像を結像する。
この光学系では、レーザダイオード・ユニット31から射出されるレーザ光をランダムな偏光状態をもったレーザ光とするために、光偏向器1にスペックル解消パターン17(図1を参照。)が配置されている。ここでも、光偏向器1のミラー部からスペックル解消パターンに入射する光の入射角θは0°≦θ≦30°であることが好ましい。さらに、光偏向器1の外部からスペックル解消パターンに入射する光の入射角θは0°≦θ≦30°であることが好ましい。
なお、光偏向器1が適用される光学系はレーザプリンタの光学系に限定されない。また、本発明の光偏向器は、ミラー部を振動させることによって上記ミラー部に入射するレーザ光の反射方向を走査する光偏向器を備えた光学系に適用可能である。
図11はカバー用光透過性部材の他の実施例を説明するための概略的な平面図である。図11において図2と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。
カバーガラス23(カバー用光透過性部材)は、図2に示されたカバーガラス5と比較して、光透過性基板15の表面に形成された遮光部25をさらに備えている。遮光部25はスペックル解消パターン17の周囲に配置されている。光透過性基板15において遮光部25が形成される面は、スペックル解消パターン17の形成面に対して同じ面であってもよいし、反対側の面であってもよい。
遮光部25は、例えばクロム等の光吸収膜や、磨りガラスなどによって形成されている。
カバーガラス23はカバーガラス5と同様にして光偏向器1の本体部3(図1及び図3を参照。)に装着されている。カバーガラス23が配置された光偏向器1は、ミラー部11への入射光及び反射光について遮光部25によって迷光を除去することができる。
次に、光学レンズの実施例を説明する。
図12は、光学レンズの一実施例を説明するための概略的な断面図である。
光学レンズ41は、レンズ部43とスペックル解消パターン45を備えている。
レンズ部43はレンズ機能を有する光透過性部材で形成されている。レンズ部43は例えば両凸レンズである。ただし、本発明においてレンズ部は両凸レンズに限定されない。本発明においてレンズ部は、レンズ機能を有する光透過性部材からなるものであればよく、例えば平凸レンズや両凹レンズ、平凹レンズであってもよい。
スペックル解消パターン45はレンズ部43の一表面に形成されている。スペックル解消パターン45の構造は、図1及び図6から図8を参照して説明したスペックル解消パターン17の構造と同様である。
光学レンズ41を透過するレーザ光は、スペックル解消パターン45よって偏光状態がランダムになり、スペックルが低減される。
光学レンズ41にスペックル解消機能を設けることにより、別途スペックル解消素子を用いることなく、レーザ光のスペックルを低減できる。したがって、光学レンズ41は、光路上に配置される光学素子の数を増加させることなく、レーザ光のペックルを低減することができる。
図12に示された光学レンズ41では、スペックル解消パターン45はレンズ部43の光入射面に配置されているが、本発明の光学レンズはこれに限定されない。本発明の光学レンズにおいて、スペックル解消パターンは、レンズ部の光射出面に配置されていてもよいし、レンズ部の光入射面及び光射出面の両方にそれぞれ配置されていてもよい。
スペックル解消パターン45は、例えば特許文献4に開示されたサブ波長構造の製造方法と同様の方法によって形成される。なお、スペックル解消パターン45を形成するための方法は特許文献4に開示された製造方法に限定されない。また、スペックル解消パターン45は、レンズ部43自体が加工されて形成されたものであってもよいし、レンズ部43上に形成された部材が加工されて形成されたものであってもよい。
次に、光学ミラーの実施例を説明する。
図13は、光学ミラーの一実施例を説明するための概略的な断面図である。
光学ミラー51は、光反射部材53とスペックル解消パターン55を備えている。
光反射部材53は光反射面を備えている。光反射部材53は例えば平面ミラーである。ただし、本発明において光反射部材は平面ミラーに限定されない。本発明において光反射部材は、光反射面を備えているものであればよく、例えば凸面ミラーや凹面ミラーであってもよい。
スペックル解消パターン55は光反射部材53の光反射面に形成されている。スペックル解消パターン55の構造は、図1及び図6から図8を参照して説明したスペックル解消パターン17の構造と同様である。
光学ミラー51への入射光及び反射光は、スペックル解消パターン55よって偏光状態がランダムになり、スペックルが低減される。
光学ミラー51にスペックル解消機能を設けることにより、別途スペックル解消素子を用いることなく、レーザ光のスペックルを低減できる。したがって、光学ミラー51は、光路上に配置される光学素子の数を増加させることなく、レーザ光のペックルを低減することができる。
スペックル解消パターン55は、例えば特許文献4に開示されたサブ波長構造の製造方法と同様の方法によって形成される。なお、スペックル解消パターン55を形成するための方法は特許文献4に開示された製造方法に限定されない。なお、スペックル解消パターン55は、光反射部材53上に形成された部材が加工されて形成されたものである。
次に、光偏向器の他の実施例を説明する。
図14は、光偏向器の他の実施例を説明するための概略的な構成図である。
光偏向器61は、図示されないカラー印画紙に、赤(R)、緑(G)、青(B)の3光束により光走査を行って、カラー画像書込みを行う装置である。
光偏向器61はレーザ光源63R,63G,63Bを備えている。レーザ光源63R,63G,63Bから放射される各色レーザ光束は、それぞれ対応する変調手段65R,65G,65Bを透過し、画像信号に応じて変調される。
変調手段65R,65G,65Bで変調された各光束は光源側からの発散性の光束として、コリメートレンズ系67R,67G,67Bに入射して平行光束化された後、ミラー69R,69G,69Bに入射する。ミラー69R,69G,69Bによって反射された各光束は、シリンドリカルレンズ系71R,71G,71Bによって副走査方向へ集光され、ダイクロイック膜を有する光路合成素子73によって1本の光束として合成される。合成された光束は、回転多面鏡75(ミラー部)の偏向反射面に入射する。
回転多面鏡75が等速回転すると、上記合成された光束は等角速度的に偏向しつつ、走査結像光学系であるFθレンズを構成するレンズ77,79,81を透過する。Fθレンズを透過した光束は、筐体83に配置されたカバー用光透過性部材85に形成されたスペックル解消パターン87を介して筐体83の外部外に射出され、図示されない被走査面、例えばカラー印画紙上に光スポットを形成する。この光スポットは、走査線89上で等速的に光走査され、被走査面に光書込みを行う。被走査面は、走査線89に直交する副走査方向へ等速で搬送される。この搬送に伴い、主走査が副走査方向に繰り返されて2次元的なカラー画像が被走査面に書込まれていく。光偏向器61と同様の光学系は、例えば特許文献5に開示されている。
光偏向器61から射出されるレーザ光は、カバー用光透過性部材85に形成されたスペックル解消パターン87よって偏光状態がランダムになり、スペックルが低減される。したがって、光偏向器61は、光路上に配置される光学素子の数を増加させることなく、レーザ光のペックルを低減することができる。
なお、スペックル解消パターン87の構造例や配置例、材料例、製造方法例などは、例えば、図1及び図6から図8を参照して説明したスペックル解消パターン17の構造例や配置例、材料例、製造方法例と同様である。
以上、本発明の実施例が説明されたが本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の範囲内で種々の変更が可能である。
1,61 光偏向器
11 ミラー部
15,23,85 カバー用光透過性部材
17,45,55,87 スペックル解消パターン
25 遮光部
41 光学レンズ
43 レンズ部
51 光学ミラー
53 光反射部材
75 回転多面鏡(ミラー部)

Claims (8)

  1. ミラー部を動作させることによって前記ミラー部に入射するレーザ光の反射方向を走査する光偏向器に装着されるカバー用光透過性部材であって、
    前記ミラー部の反射光を透過する部分の表面に、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が前記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるスペックル解消パターンが形成されていることを特徴とする光偏向器のカバー用光透過性部材。
  2. 前記スペックル解消パターンは前記ミラー部への入射光を透過する部分の表面にも形成されている、請求項1に記載の光偏向器のカバー用光透過性部材。
  3. 前記スペックル解消パターンの周囲に遮光部を備えている、請求項1又は2に記載の光偏向器のカバー用光透過性部材。
  4. 前記ミラー部に対向する面及びその反対側の面の両方に前記スペックル解消パターンをそれぞれ備えている、請求項1から3のいずれか一項に記載の光偏向器のカバー用光透過性部材。
  5. ミラー部を振動させることによって前記ミラー部に入射するレーザ光の反射方向を走査する光偏向器であって、
    前記ミラー部への入射光及び反射光の光路上に請求項1から4のいずれか一項に記載の光偏向器のカバー用光透過性部材を備えていることを特徴とする光偏向器。
  6. 前記スペックル解消パターンは少なくとも前記反射光の光路上に配置されており、
    前記ミラー部側から前記スペックル解消パターンに入射する光の入射角θは0°≦θ≦30°である、請求項5に記載の光偏向器。
  7. レンズ機能を有する光透過性部材からなるレンズ部の表面に、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が前記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるスペックル解消パターンが形成されていることを特徴とする光学レンズ。
  8. 光反射部材の光反射面の表面に、使用する光の波長よりも短い周期で繰り返して配列された溝をもち構造性複屈折を呈するサブ波長構造体領域が前記溝の配列方向である光学軸方向が互いに異なる部分をもつように配置されてなるスペックル解消パターンが形成されていることを特徴とする光学ミラー。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200041365A (ko) * 2017-08-21 2020-04-21 예놉틱 옵틱컬 시스템즈 게엠베하 커버 요소로 커버된 스캐닝 미러를 갖고 있는 lidar 스캐너용 송신 장치
JP2023035730A (ja) * 2021-09-01 2023-03-13 ミツミ電機株式会社 光偏向装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08334722A (ja) * 1995-06-06 1996-12-17 Olympus Optical Co Ltd 光偏向素子
US20030161029A1 (en) * 2002-02-26 2003-08-28 Kurtz Andrew F. Micro-mechanical polarization-based modulator
JP2007226108A (ja) * 2006-02-27 2007-09-06 Ricoh Co Ltd 光走査装置および画像形成装置
JP2009216938A (ja) * 2008-03-10 2009-09-24 Seiko Epson Corp 光学デバイス、光学ユニット、および画像形成装置
JP2010237492A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Stanley Electric Co Ltd 光偏向器用アクチュエータ装置
JP2011180581A (ja) * 2010-02-03 2011-09-15 Ricoh Optical Industries Co Ltd 偏光解消素子及びその素子を用いた光学機器
JP2012173701A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Stanley Electric Co Ltd 光散乱素子、光走査装置又は画像投影装置
JP2013047774A (ja) * 2011-05-31 2013-03-07 Lemoptix Sa 光学デバイス

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08334722A (ja) * 1995-06-06 1996-12-17 Olympus Optical Co Ltd 光偏向素子
US20030161029A1 (en) * 2002-02-26 2003-08-28 Kurtz Andrew F. Micro-mechanical polarization-based modulator
JP2007226108A (ja) * 2006-02-27 2007-09-06 Ricoh Co Ltd 光走査装置および画像形成装置
JP2009216938A (ja) * 2008-03-10 2009-09-24 Seiko Epson Corp 光学デバイス、光学ユニット、および画像形成装置
JP2010237492A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Stanley Electric Co Ltd 光偏向器用アクチュエータ装置
JP2011180581A (ja) * 2010-02-03 2011-09-15 Ricoh Optical Industries Co Ltd 偏光解消素子及びその素子を用いた光学機器
JP2012173701A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Stanley Electric Co Ltd 光散乱素子、光走査装置又は画像投影装置
JP2013047774A (ja) * 2011-05-31 2013-03-07 Lemoptix Sa 光学デバイス

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200041365A (ko) * 2017-08-21 2020-04-21 예놉틱 옵틱컬 시스템즈 게엠베하 커버 요소로 커버된 스캐닝 미러를 갖고 있는 lidar 스캐너용 송신 장치
US20200355801A1 (en) * 2017-08-21 2020-11-12 Jenoptik Optical Systems Gmbh Transmitting device for a lidar scanner having a scanning mirror covered by a cover element
US11764539B2 (en) * 2017-08-21 2023-09-19 Jenoptik Optical Systems Gmbh Transmitting device for a LIDAR scanner having a scanning mirror covered by a cover element
KR102623745B1 (ko) * 2017-08-21 2024-01-10 예놉틱 옵틱컬 시스템즈 게엠베하 커버 요소로 커버된 스캐닝 미러를 갖고 있는 lidar 스캐너용 송신 장치
JP2023035730A (ja) * 2021-09-01 2023-03-13 ミツミ電機株式会社 光偏向装置
JP7691616B2 (ja) 2021-09-01 2025-06-12 ミツミ電機株式会社 光偏向装置

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