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JP2016024371A - Printed wiring board and method for manufacturing the same - Google Patents

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JP2016024371A
JP2016024371A JP2014148976A JP2014148976A JP2016024371A JP 2016024371 A JP2016024371 A JP 2016024371A JP 2014148976 A JP2014148976 A JP 2014148976A JP 2014148976 A JP2014148976 A JP 2014148976A JP 2016024371 A JP2016024371 A JP 2016024371A
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wiring
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延也 高橋
Nobuya Takahashi
延也 高橋
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain thinner wiring lines in a printed wiring board.SOLUTION: A method for manufacturing a printed wiring board is provided, which includes steps of: forming an insulating layer made of an insulating material; forming a seed layer on the insulating layer; forming a first resist pattern composed of a plurality of conductor wiring patterns arranged at a narrow pitch on the seed layer; forming a second resist pattern composed of a plurality of conductor wiring patterns arranged at a narrow pitch on the seed layer; and forming wiring lines by selectively subjecting the seed layer exposed through the first and second resist patterns to electroplating with a wiring material. In the step of forming the second resist pattern, the second resist pattern is formed by applying a resist material while the first resist pattern remains and shifting a position of forming the pattern along the arrangement direction of the first resist pattern from the position where the first resist pattern is formed.SELECTED DRAWING: Figure 9

Description

本発明は、プリント配線基板及びその製造方法に関し、特に、プリント基板に微細な配線構造を形成する技術に関する。   The present invention relates to a printed wiring board and a method for manufacturing the same, and more particularly to a technique for forming a fine wiring structure on a printed board.

ICチップ(半導体素子)等を実装するための多層プリント配線基板として、スルーホール導体を有する樹脂性のコア基板上に層間絶縁層と導体層とを交互に積層し、導体層間をビア導体で接続するプリント配線基板などが知られている。   As a multilayer printed wiring board for mounting IC chips (semiconductor elements) etc., interlayer insulation layers and conductor layers are alternately stacked on a resinous core substrate with through-hole conductors, and the conductor layers are connected by via conductors. A printed wiring board is known.

近年のICチップの微細化、高集積化に伴い、例えば、プリント配線基板の最上層に形成される導体パッド数が増大し、導体パッド数の増大によって導体パッドの狭ピッチ化が進行している。このようなパッドの狭ピッチ化に伴い、プリント配線基板の配線ピッチも急速に細線化している(例えば、特許文献1を参照)。   With recent miniaturization and higher integration of IC chips, for example, the number of conductor pads formed on the uppermost layer of a printed wiring board has increased, and the pitch of conductor pads has been reduced due to the increase in the number of conductor pads. . Along with the narrowing of the pad pitch, the wiring pitch of the printed wiring board is also rapidly thinned (see, for example, Patent Document 1).

また、特許文献2では、ガラスなどを支持板として絶縁樹脂層上に高密度で配線パターンが形成される副配線基板と、この副配線基板が貼り付けられる主配線基板とを有する多層配線基板が開示されている。この多層配線基板では、2種類のICチップ(MPUやDRAM)が接続される部分、および、これらのICチップの電極間を接続する部分に、高密度配線の形成が可能な副配線基板が設けられている。このような構造とすることにより、実装パッドや配線パターンの狭ピッチ化への対応が図られている。   Further, in Patent Document 2, a multilayer wiring board having a sub wiring board on which a wiring pattern is formed at a high density on an insulating resin layer using glass or the like as a support plate and a main wiring board to which the sub wiring board is attached is disclosed. It is disclosed. In this multilayer wiring board, a sub wiring board capable of forming high-density wiring is provided in a portion where two types of IC chips (MPU and DRAM) are connected and a portion where the electrodes of these IC chips are connected. It has been. By adopting such a structure, it is possible to cope with a narrow pitch of mounting pads and wiring patterns.

国際公開第2007/129545号公報International Publication No. 2007/129545 特開2013−214578号公報JP 2013-214578 A

ところで、一般的な露光機において、パターンの解像度と焦点深度との関係について考察すると、解像度を高くする、例えばパターンのL/S(ラインアンドスペース)を細かくすると、焦点深度は小さくなる傾向にある。また、解像度の高い露光機は高価である。
そこで、解像度をより高くする必要があるICチップの製造工程では、解像度の高い露光機を用い、焦点深度を大きくする必要があるプリント基板の製造工程では、安価で比較的解像度の低い露光機を用いるのが一般的である。
By the way, considering the relationship between the resolution of the pattern and the depth of focus in a general exposure machine, if the resolution is increased, for example, if the pattern L / S (line and space) is made finer, the depth of focus tends to decrease. . An exposure machine with high resolution is expensive.
Therefore, in an IC chip manufacturing process that requires higher resolution, an exposure machine having a higher resolution is used, and in a printed circuit board manufacturing process that requires a larger depth of focus, an inexpensive and relatively lower resolution exposure machine is used. It is common to use.

しかしながら、例えば、図11(a)、(b)に示すような実装構造100では、隣接して配置される2つのICチップ(CPU103、メモリ105など)間を、プリント基板101上において高密度で配線(符号107)する場合等においては、従来のプリント基板よりも高い解像度が要求されるケースが増えてきている。IC用の露光機を利用すると、焦点深度が小さいこと、コストが高いことが問題となる。
本発明は、プリント配線基板における配線の微細化を、比較的解像度が低い露光機を用いても可能とする技術を提供することを目的とする。
However, for example, in the mounting structure 100 as shown in FIGS. 11A and 11B, the two IC chips (CPU 103, memory 105, etc.) arranged adjacent to each other have a high density on the printed circuit board 101. In the case of wiring (reference numeral 107), there are an increasing number of cases that require higher resolution than conventional printed circuit boards. When using an exposure apparatus for IC, there are problems that the depth of focus is small and the cost is high.
An object of the present invention is to provide a technique that enables miniaturization of wiring on a printed wiring board even by using an exposure machine having a relatively low resolution.

上記目的を達成するためになされた請求項1に係る発明は、絶縁材料からなる絶縁層 を形成する工程と、前記絶縁層上にシード層を形成する工程と、前記シード層上に、狭ピッチで配列された複数の導体配線パターンからなる第1のレジストパターンを形成する工程と、前記シード層上に、狭ピッチで配列された複数の導体配線パターンからなる第2のレジストパターンを形成する工程と、前記第1及び第2のレジストパターンから露出した前記シード層上に配線材料を選択的に電気めっきすることで配線を形成する工程とを有するプリント配線基板の製造方法であって、前記第2のレジストパターンを形成する工程は、前記第1のレジストパターンを残した状態でレジスト材料を塗布し、パターン形成位置を前記第1のレジストパターンを形成した位置から前記第1のレジストパターンの配列方向にシフトさせて第2のレジストパターンを形成する。   In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 includes a step of forming an insulating layer made of an insulating material, a step of forming a seed layer on the insulating layer, and a narrow pitch on the seed layer. Forming a first resist pattern comprising a plurality of conductor wiring patterns arranged in a step, and forming a second resist pattern comprising a plurality of conductor wiring patterns arranged at a narrow pitch on the seed layer. And forming a wiring by selectively electroplating a wiring material on the seed layer exposed from the first and second resist patterns, the method for manufacturing a printed wiring board, In the step of forming the resist pattern 2, a resist material is applied in a state where the first resist pattern is left, and the pattern formation position is changed to the first resist pattern. A second resist pattern is formed by shifting in the arrangement direction of the first resist pattern from the formed position.

本発明によれば、比較的解像度が低い露光機を用いても、プリント配線基板における微細配線を可能とすることができる。   According to the present invention, fine wiring on a printed wiring board can be achieved even with an exposure machine having a relatively low resolution.

本発明の一実施形態に係るプリント配線基板の製造方法の一例を示すプロセスフロー図The process flow figure showing an example of the manufacturing method of the printed wiring board concerning one embodiment of the present invention 微細配線の形成工程の詳細を示す断面図Sectional view showing details of fine wiring formation process 微細配線の形成工程の詳細を示す断面図Sectional view showing details of fine wiring formation process 微細配線の形成工程の要部における断面図と平面図との関係を示す図The figure which shows the relationship between sectional drawing in the principal part of the formation process of fine wiring, and a top view 微細配線の形成工程の要部における断面図と平面図との関係を示す図The figure which shows the relationship between sectional drawing in the principal part of the formation process of fine wiring, and a top view 微細配線の形成工程の要部における断面図と平面図との関係を示す図The figure which shows the relationship between sectional drawing in the principal part of the formation process of fine wiring, and a top view 微細配線の形成工程の要部における断面図と平面図との関係を示す図The figure which shows the relationship between sectional drawing in the principal part of the formation process of fine wiring, and a top view 微細配線の形成工程の要部における断面図と平面図との関係を示す図The figure which shows the relationship between sectional drawing in the principal part of the formation process of fine wiring, and a top view 微細配線の形成工程の要部における断面図と平面図との関係を示す図The figure which shows the relationship between sectional drawing in the principal part of the formation process of fine wiring, and a top view 微細配線の形成工程の要部における断面図と平面図との関係を示す図The figure which shows the relationship between sectional drawing in the principal part of the formation process of fine wiring, and a top view 微細配線構造を用いたプリント配線基板の実装例を示す断面図であり、(a)は内蔵タイプ、(b)は貼り付けタイプを示す図It is sectional drawing which shows the mounting example of the printed wiring board using a fine wiring structure, (a) is a built-in type, (b) is a figure which shows a bonding type

以下、本発明の一実施形態を図1〜図11に基づいて説明する。
本明細書において、プリント基板とは、例えば、多数の電子部品を表面に固定し、その部品間を配線で接続することで電子回路を構成する板状またはフィルム状の部品を指す。主に、基材に対して絶縁性のある樹脂を含浸した基板上に、銅箔など導電体で回路(パターン)配線を構成するものである。プリント基板は、プリント回路、プリント配線、プリント回路板、プリント配線基板などとも呼ばれているが、狭義に解釈されるものではない。また、その製造方法として、コアレス工法やコア有りの工法を用いることができるが、いずれを用いた場合にも適用できるのは言うまでもない。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
In this specification, a printed circuit board refers to, for example, a plate-like or film-like component that constitutes an electronic circuit by fixing a large number of electronic components on the surface and connecting the components by wiring. Mainly, a circuit (pattern) wiring is constituted by a conductor such as a copper foil on a substrate impregnated with a resin having an insulating property with respect to a base material. A printed circuit board is also called a printed circuit, a printed wiring, a printed circuit board, a printed wiring board, or the like, but is not interpreted in a narrow sense. Moreover, as a manufacturing method thereof, a coreless method or a method with a core can be used, but it goes without saying that any of these methods can be applied.

セミアディティブ法とは、例えば、銅箔のない接着剤を塗布した絶縁基板を用い、穴あけ後、全面に無電解銅めっきを析出させ(シード層形成)、めっきレジストで回路パターンを形成し、導体回路としての電解銅めっきを行い、不要部分の無電解めっきをエッチング除去する方法であり、サブトラクティブのパターンめっき法と同じプロセスで作られる。電解銅めっきを用いるため、通常のめっきレジストが使用できるという利点がある。   The semi-additive method is, for example, using an insulating substrate coated with an adhesive without copper foil, drilling, depositing electroless copper plating on the entire surface (seed layer formation), forming a circuit pattern with a plating resist, and conducting This is a method of performing electrolytic copper plating as a circuit and etching away unnecessary portions of electroless plating, and is made by the same process as the subtractive pattern plating method. Since electrolytic copper plating is used, there is an advantage that a normal plating resist can be used.

以下において、本発明の実施の形態によるプリント配線基板及びその製造方法について図面を参照しながら詳細に説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態によるプリント配線基板の製造方法の一例を示すプロセスフロー図であり、一例として、コアレス工法によりプリント基板の配線構造(以下、「プリント配線基板」と称する。)を作成する例を示す図である。図2及び図3は、微細配線の形成工程の詳細を示す断面図である。図4から図10までは、微細配線の形成工程の要部における断面図(図2及び図3の要部)と平面図との関係を示す図である。
以下においては、図11に示すような微細配線構造を製造する場合を例にして説明するが、本実施の形態による微細配線形成技術は、このような構造に限定されるものではない。レジスト形成工程としては、セミアディティブ法以外でも適用可能である。例えば、プリント配線板工法を例にすると、サブトラクティブ法、フルアディティブ法などにも適用できる。以下では、セミアディティブ法を用いた工程例を示す。
Hereinafter, a printed wiring board and a manufacturing method thereof according to embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a process flow diagram showing an example of a method of manufacturing a printed wiring board according to the first embodiment of the present invention. As an example, a wiring structure of a printed board (hereinafter referred to as “printed wiring board”) by a coreless method is shown. It is a figure which shows the example which produces. 2 and 3 are cross-sectional views showing details of the fine wiring formation process. 4 to 10 are diagrams showing the relationship between a cross-sectional view (essential part of FIGS. 2 and 3) and a plan view in the essential part of the fine wiring forming process.
In the following, a case of manufacturing a fine wiring structure as shown in FIG. 11 will be described as an example, but the fine wiring forming technique according to the present embodiment is not limited to such a structure. The resist forming process can be applied to methods other than the semi-additive method. For example, taking the printed wiring board method as an example, it can be applied to a subtractive method, a full additive method, and the like. Below, the example of a process using a semi-additive method is shown.

図1に示す工程例では、まず、例えば厚さ18μm程度のCu箔からなるキャリア3付きの銅箔5(厚さ3μmから5μm)をプリベーク材などの基材1の両面に形成した構造において(図1(a))、図1(b)、図4に示すように、銅箔5上に導体パターン7を形成する。尚、図4〜図10では、裏面側の銅箔5等を省略している。この導体パターン7は、例えば、プリント基板製造用の解像度を有する露光機で十分に解像できる程度の大きなサイズのパターンである。
次いで、図1(c)に示すように、その表面を絶縁層11で被覆し、次いで、図1(d)、図5に示すように、絶縁層11の所定領域を開口して導体パターン7の表面を露出させることで、ビア(コンタクトホール)15を形成する。絶縁層11は、例えば、無機フィラー(SiO2)を含有する絶縁性樹脂層や感光特性を持つ絶縁性樹脂層などからなる。主材は、主にエポキシ、ポリイミド、フェノール系の樹脂材料が挙げられるがこれらはあくまで例示であり限定はされるものではない。またフィラー材料は無機系材料に限定されず、有機系材料でもよい。含有物はガラスクロスのような繊維状態でもよい。また含有物を必ずしも含有しなくてもよい。絶縁層はフィルムでもワニスでもよい。
In the process example shown in FIG. 1, first, in a structure in which, for example, a copper foil 5 (with a thickness of 3 μm to 5 μm) with a carrier 3 made of a Cu foil having a thickness of about 18 μm is formed on both surfaces of a base material 1 such as a prebaked material ( As shown in FIG. 1A, FIG. 1B, and FIG. 4, a conductor pattern 7 is formed on the copper foil 5. 4 to 10, the copper foil 5 and the like on the back side are omitted. The conductor pattern 7 is a pattern having a large size that can be sufficiently resolved by an exposure machine having a resolution for manufacturing a printed circuit board, for example.
Next, as shown in FIG. 1 (c), the surface is covered with an insulating layer 11, and then, as shown in FIGS. 1 (d) and 5, a predetermined region of the insulating layer 11 is opened to form a conductor pattern 7 A via (contact hole) 15 is formed by exposing the surface of. The insulating layer 11 is made of, for example, an insulating resin layer containing an inorganic filler (SiO 2 ) or an insulating resin layer having photosensitive characteristics. Examples of the main material mainly include epoxy, polyimide, and phenol resin materials, but these are merely examples and are not limited. The filler material is not limited to an inorganic material and may be an organic material. The inclusion may be in a fiber state such as glass cloth. Moreover, the inclusion does not necessarily have to be contained. The insulating layer may be a film or varnish.

次いで、微細配線の形成を行う。この微細配線の形成工程の詳細については後述する。この段階で、例えば、その微細配線構造の外側に、絶縁層11を貫通するビア15を形成し、銅などのより基板実装部品等に接続する導電性の材料からなる導体パッドなども形成される(図1(f))。
次いで、図1(g)に示すように、キャリア3から下の構造を剥離工程により分離し、図1(h)に示すように、微細な配線構造17を有するプリント配線基板21を得ることができる。
上記では、コアレス工法を例にして説明したが、コアあり工法を用いても良い。コアあり工法は、例えば、従来技術である特開2013−214578号公報に開示された図7A〜図7Iのようなコアあり工法である。プリント配線基板21は、その最表層に図1(h)に示すよう微細な配線構造17を有するプリント配線基板21でもよい。
Next, fine wiring is formed. Details of the fine wiring forming process will be described later. At this stage, for example, a via 15 penetrating the insulating layer 11 is formed outside the fine wiring structure, and a conductive pad made of a conductive material connected to a board mounting component or the like such as copper is also formed. (FIG. 1 (f)).
Next, as shown in FIG. 1 (g), the lower structure is separated from the carrier 3 by a peeling process to obtain a printed wiring board 21 having a fine wiring structure 17 as shown in FIG. 1 (h). it can.
In the above, the coreless construction method has been described as an example, but a construction method with a core may be used. The cored construction method is, for example, a cored construction method as shown in FIGS. 7A to 7I disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-214578. The printed wiring board 21 may be a printed wiring board 21 having a fine wiring structure 17 as shown in FIG.

以下、微細配線の形成工程の詳細について、説明する。
まず、図1(c)、(d)に対応する図2(c)、(d)の工程を経て、図2(e−1)に示すように、図2(d)に示す構造上に、例えば、無電解銅めっきのシード層31を形成する。シード層31は、スパッタリング法により形成したTi/Cu層などでも良い。シード層31の厚さとしては、例えば、50〜150nm程度が好ましい。なお、下記工程に塗布されるレジスト層との密着性を確保するため、上記シード層に粗化処理工程を行ってもよい。
次いで、図2(e−2)に示すように、シード層31上に第1のレジストパターンを形成するための、例えば、厚さ7μm程度のi線ネガ型ドライフィルム(例えばアクリル系)を用いた第1のレジスト層33を塗布又はラミネートにより形成する。耐薬品性の高いネガ型ドライフィルムは、厚さ7から10μm程度であり、塗布又はラミネート後の加熱は行っていない。
Details of the fine wiring forming process will be described below.
First, after the steps of FIGS. 2C and 2D corresponding to FIGS. 1C and 1D, the structure shown in FIG. 2D is formed as shown in FIG. 2E-1. For example, the seed layer 31 of electroless copper plating is formed. The seed layer 31 may be a Ti / Cu layer formed by sputtering. The thickness of the seed layer 31 is preferably about 50 to 150 nm, for example. In addition, in order to ensure adhesiveness with the resist layer apply | coated to the following process, you may perform a roughening process process to the said seed layer.
Next, as shown in FIG. 2E-2, for example, an i-line negative dry film (for example, acrylic) having a thickness of about 7 μm is used to form the first resist pattern on the seed layer 31. The first resist layer 33 is formed by coating or laminating. A negative dry film having high chemical resistance has a thickness of about 7 to 10 μm and is not heated after coating or laminating.

次いで、第1のレジスト層33に、i線投影露光装置を用いて、所定の露光量で第1のレジストパターンの領域を形成するための露光を行う。露光後に、現像液を用いて現像を行うことで、図2(e−3)に示すように、微細配線用の第1のレジストパターン33aが形成される。
第1のレジストパターン33aを硬化させるとともに架橋を促進させるために、例えば110℃(100から120℃程度の範囲)で3分程度加熱を行い乾燥させる。これにより、次いで、図2(e−4)、図6に示すように、硬化させた第1のレジストパターン33bを形成することができる。この工程においては、第2のレジストパターン形成工程における加熱処理と同等或いはそれよりも高い温度、長い時間での加熱が好ましい。硬化により、以降のプロセスで第1のレジストパターン33bの変形等が生じにくくなる。
Next, the first resist layer 33 is exposed to form a first resist pattern region with a predetermined exposure amount using an i-line projection exposure apparatus. By performing development using a developer after the exposure, a first resist pattern 33a for fine wiring is formed as shown in FIG. 2 (e-3).
In order to cure the first resist pattern 33a and promote cross-linking, for example, heating is performed at 110 ° C. (in the range of about 100 to 120 ° C.) for about 3 minutes to dry. Thereby, the cured first resist pattern 33b can then be formed as shown in FIGS. 2 (e-4) and 6. In this step, heating at a temperature equal to or higher than the heat treatment in the second resist pattern forming step and a long time is preferable. Due to the curing, deformation of the first resist pattern 33b or the like hardly occurs in the subsequent processes.

第1のレジストパターン33bは、例えば、パターン幅が2μm、パターン間のスペースが6μmである。2μmは用いる露光機の性能に依存する寸法であり、一般的には配線を微細化するために利用される露光機の解像限界に近い寸法である。
第1のレジストパターン33bが延在する方向と交差する方向に、例えば6μm間隔で同様の配線パターンが形成される。ここでは、3本の配線用の第1のレジストパターン33bが例示的に示されている。
For example, the first resist pattern 33b has a pattern width of 2 μm and a space between patterns of 6 μm. 2 μm is a dimension that depends on the performance of the exposure machine to be used, and is generally a dimension close to the resolution limit of the exposure machine that is used for miniaturizing the wiring.
Similar wiring patterns are formed at intervals of 6 μm, for example, in a direction intersecting the direction in which the first resist pattern 33b extends. Here, three first resist patterns 33b for wiring are exemplarily shown.

次いで、図3(e−5)に示すように、第2のレジストパターンを形成するために、例えば、液状(ワニス状態)のi線ネガ型レジストを用いた第2のレジスト層35を5μmの厚さで塗布し、第1のレジストパターン33bを含む全領域を覆う。そして、例えば110℃、3分間の加熱処理を行う。加熱温度は100から120℃程度であり、第2のレジスト層35の厚さは5〜7μm程度である。i線投影露光装置を用いて、第1のレジストパターン形成時よりも少ない所定の露光量で第2のレジストパターンの領域を露光する。第2のレジストパターンの領域は、第1のレジストパターンの領域と同じように、例えば、幅が2μm、スペースが6μm程度であるが、第1のレジストパターンのスペース間に第2のレジストパターン35aが形成されるように露光(i線照射)位置をシフトする。
第2のレジストパターンとしては、第1のレジストパターンと同じパターンをシフトさせて用いても良いし、第1レジストパターンとは異なるパターンを用いても良い。
第1のレジストパターン33bと第2のレジストパターン35aとで同じレジスト材料を使用するのが好ましい。その理由の1つは、後述する電気銅めっき工程における前処理工程の内容やレジストの剥離性を同じにするためである。すなわち、同じレジスト材料を用いることによりレジストの反応性を同じにするためである。
Next, as shown in FIG. 3 (e-5), in order to form a second resist pattern, for example, a second resist layer 35 using a liquid (varnish state) i-line negative resist is formed to a thickness of 5 μm. It is applied with a thickness to cover the entire region including the first resist pattern 33b. Then, for example, heat treatment is performed at 110 ° C. for 3 minutes. The heating temperature is about 100 to 120 ° C., and the thickness of the second resist layer 35 is about 5 to 7 μm. Using the i-line projection exposure apparatus, the region of the second resist pattern is exposed with a predetermined exposure amount smaller than that at the time of forming the first resist pattern. Similar to the first resist pattern region, the second resist pattern region has, for example, a width of about 2 μm and a space of about 6 μm, but the second resist pattern 35a is between the spaces of the first resist pattern. The exposure (i-ray irradiation) position is shifted so that is formed.
As the second resist pattern, the same pattern as the first resist pattern may be shifted and used, or a pattern different from the first resist pattern may be used.
It is preferable to use the same resist material for the first resist pattern 33b and the second resist pattern 35a. One of the reasons is to make the content of the pretreatment process and the resist stripping property in the electrolytic copper plating process described later the same. That is, by using the same resist material, the reactivity of the resist is made the same.

第1のレジストパターン用のレジスト材料としてネガレジストを使う利点は、第1のレジストパターンにおいては耐薬性の高いフィルム材を使用することができる点である。第2のレジストパターン用のレジスト材料としてネガレジストを使うことによる利点の1つは、第1レジストパターンが存在しない領域を、第2のレジストパターン形成用の領域として露光したいためである。すなわち、ネガレジストではなくポジレジストを用いると、第2のレジストパターンを形成する際の露光領域内に第1のレジストパターンが存在することになり、第1のレジストパターンの影響で第2のレジストパターンを形成する際の露光時の光が均一にレジストに当たらなくなるため、精度の良いパターン形成が難しくなるためである。   The advantage of using a negative resist as the resist material for the first resist pattern is that a film material having high chemical resistance can be used in the first resist pattern. One advantage of using a negative resist as the resist material for the second resist pattern is that it is desired to expose a region where the first resist pattern does not exist as a region for forming the second resist pattern. That is, when a positive resist is used instead of a negative resist, the first resist pattern exists in the exposure region when the second resist pattern is formed, and the second resist is affected by the first resist pattern. This is because light during exposure when forming a pattern does not uniformly strike the resist, making it difficult to form a pattern with high accuracy.

露光後に、現像液を用いて現像を行うことで、第2のレジストパターン35aが形成される。現像後の加熱処理は行わない。
併せて、第1のレジストパターン33b上の第2のレジスト層35も除去されるため、図3(e−6)、図7に示すように、狭ピッチで配列する配線パターンの配列する方向に交互に配置された第1、第2のレジストパターン33b・35aが形成される。尚、本実施の形態では、導体パターン7上を、ビア15を介して露出させるための開口37も開口用の第2のレジストパターン35bとともに形成している。ここでは、L/S=2μm/2μm程度のパターンとなる。
After the exposure, the second resist pattern 35a is formed by performing development using a developer. Heat treatment after development is not performed.
At the same time, since the second resist layer 35 on the first resist pattern 33b is also removed, as shown in FIGS. 3E-6 and 7, in the direction in which the wiring patterns arranged at a narrow pitch are arranged. Alternatingly arranged first and second resist patterns 33b and 35a are formed. In the present embodiment, the opening 37 for exposing the conductor pattern 7 through the via 15 is also formed together with the second resist pattern 35b for opening. Here, the pattern is about L / S = 2 μm / 2 μm.

レジスト材料としてネガレジストを用いると、露光工程において光が当たった領域が架橋するため、第1のレジストパターン専用のフリージング(架橋)が必ずしも必要ないという利点もある。上記の例ではフリージングとして加熱工程を含めているが、実際には、加熱工程は、現像後の乾燥のためと、密着向上の意味合いが強く、実際の架橋は露光による工程において生じるものが支配的であると推定される。
次いで、図3(e−7)、図8に示すように、第1のレジストパターン33b、第2のレジストパターン35a、開口用の第2のレジストパターン35bをマスクとして、露出しているシード層31上に電解メッキ法により例えば厚さ3μm程度の電解銅めっき層(配線層)41a・41bが選択的に形成される。この際、めっき液のまわりを良くするために噴流ディップ、揺動などを行うと良い。また、この際、導体パッド41cを形成するようにしても良い。
次いで、図3(e−8)、図9に示すように、第1レジストパターン33b、第2レジストパターン35a、開口用の第2のレジストパターン35bを、例えば有機アミンと溶剤の混合液で剥離する。すると、配線層41a・41bを配線パターンの延在する方向と交差する方向に狭ピッチで配置することができる。
If a negative resist is used as the resist material, the region exposed to light in the exposure process is cross-linked, so that there is an advantage that freezing (cross-linking) dedicated to the first resist pattern is not necessarily required. In the above example, a heating step is included as freezing. However, in practice, the heating step has a strong meaning of improving adhesion because of drying after development, and the actual crosslinking is mainly caused by the exposure step. It is estimated that.
Next, as shown in FIGS. 3 (e-7) and 8, the exposed seed layer using the first resist pattern 33b, the second resist pattern 35a, and the second resist pattern 35b for opening as a mask. For example, electrolytic copper plating layers (wiring layers) 41a and 41b having a thickness of, for example, about 3 μm are selectively formed on 31 by electrolytic plating. At this time, in order to improve the surroundings of the plating solution, it is preferable to perform jet dip, rocking or the like. At this time, the conductor pad 41c may be formed.
Next, as shown in FIGS. 3 (e-8) and 9, the first resist pattern 33b, the second resist pattern 35a, and the second resist pattern 35b for opening are removed with, for example, a mixed solution of an organic amine and a solvent. To do. Then, the wiring layers 41a and 41b can be arranged at a narrow pitch in a direction intersecting with the direction in which the wiring pattern extends.

次いで、図3(e−9)、図10に示すように、シード層31aを、例えば、硫酸・過酸化水ベースの銅エッチング液で等方的にエッチング除去する。シードメタルがCuの場合のエッチング液は硫酸・過酸化水素水系又はリン酸・過酸化水素系の銅エッチング液であり、シードメタルがTiの場合のエッチング液は、過酸化水素水系、フッ酸などである。等方性のエッチングを行うため、この際、配線層41a・41bの幅も狭くなる。
以上の工程により、露光機における1回の露光での限界を超えたラインアンドスペース(L/S)、例えば2μm/2μmのラインアンドスペースを有する微細配線パターン、第1配線41a−1、第2配線41b−1を形成することができる。すなわち、露光機の解像限界を超えた微細パターンを形成することができる。
Next, as shown in FIGS. 3E-9 and 10, the seed layer 31a is isotropically etched away with, for example, a copper etchant based on sulfuric acid / peroxide water. Etching solution when the seed metal is Cu is sulfuric acid / hydrogen peroxide solution or phosphoric acid / hydrogen peroxide solution, and etching solution when the seed metal is Ti is hydrogen peroxide solution, hydrofluoric acid, etc. It is. Since isotropic etching is performed, the widths of the wiring layers 41a and 41b are also narrowed at this time.
Through the above steps, the fine wiring pattern, the first wiring 41a-1 and the second wiring having a line and space (L / S) exceeding the limit of one exposure in the exposure machine, for example, 2 μm / 2 μm. The wiring 41b-1 can be formed. That is, a fine pattern exceeding the resolution limit of the exposure device can be formed.

図10に示す構造は、絶縁層11と、絶縁層11上に設けられる、第1導電パターンと第2導電パターンからなる、それぞれ第1配線41a−1、第2配線41b−1と、を備えるプリント配線基板である。
複数の配線41a−1、41b−1のうち交互に設けられた第1配線41a−1と第2の配線41b−1とのサイズ(幅W1、W2、高さL1、L2、スペースL11、L12)が第1配線41a−1及び第2配線41b−1同士のプロセスの1回で行う工程における寸法等のプロセスバラツキを超えてわずかに異なるようになっている。プロセスによる寸法バラツキは、例えば、1回の形成工程においても10%程度の寸法バラツキが生じる。2回の形成工程では、二乗和平方根で概算すると14から15%程度の寸法バラツキが発生すると推定される。従って、L/S=2μm/2μmあれば、1回の工程でも10%の0.2μm程度のバラツキがある。従って、0.2μm以上の寸法バラツキが交互に生じていれば、本実施の形態の形態による方法を用いたと推定できる。
The structure shown in FIG. 10 includes an insulating layer 11 and a first wiring 41 a-1 and a second wiring 41 b-1 that are provided on the insulating layer 11 and are each composed of a first conductive pattern and a second conductive pattern. It is a printed wiring board.
The size (width W1, W2, height L1, L2, space L11, L12) of the first wiring 41a-1 and the second wiring 41b-1 provided alternately among the plurality of wirings 41a-1, 41b-1. ) Are slightly different from each other over process variations such as dimensions in a process performed in one process of the first wiring 41a-1 and the second wiring 41b-1. The dimensional variation due to the process, for example, results in a dimensional variation of about 10% even in a single formation process. In the two forming steps, it is estimated that a dimensional variation of about 14 to 15% is generated when estimated by the square sum of squares. Therefore, if L / S = 2 μm / 2 μm, there is a variation of about 0.2 μm of 10% even in one process. Therefore, if dimensional variations of 0.2 μm or more are alternately generated, it can be estimated that the method according to the embodiment is used.

同一の露光工程で同時に形成する導体パッド41c−1の位置P3と例えば第2配線41b−1の位置P1とが配列方向にほぼ設計寸法通りに並んでおり、異なる露光工程で形成する導体パッド41c−1の位置P3と第1配線41a−1の位置P2とは設計寸法通りには並んでいない。
同様の理由により、複数の配線層のうち交互に設けられた第1配線41a−1と第2配線41b−1との形成される位置、配線間の間隔、配線層の幅、配線層の厚さが、プロセスのバラツキを超えてわずかに異なっていることで本実施の形態による製造工程で製造されたことを認識することができる。但し、その寸法の相違は、実用上は全く問題ない程度である。
上記では、交互に配線を配置したが、例えば2本の第1配線間に2本の第2配線が形成されるなどの、規則性を保持したまま変形を施しても良い。
The position P3 of the conductor pad 41c-1 formed simultaneously in the same exposure process and the position P1 of the second wiring 41b-1, for example, are lined up almost according to the design dimension in the arrangement direction, and the conductor pad 41c formed in a different exposure process. The position P3 of -1 and the position P2 of the first wiring 41a-1 are not aligned according to the design dimensions.
For the same reason, the positions at which the first wiring 41a-1 and the second wiring 41b-1 provided alternately among the plurality of wiring layers are formed, the interval between the wirings, the width of the wiring layer, the thickness of the wiring layer However, it is possible to recognize that it is manufactured in the manufacturing process according to the present embodiment because it is slightly different from the variation of the process. However, the difference in dimensions is such that there is no problem in practical use.
In the above description, the wirings are alternately arranged. However, for example, two second wirings may be formed between the two first wirings, and the deformation may be performed while maintaining regularity.

上記の技術を用いることで、露光機の解像度の限界寸法を超えて狭ピッチの配線パターンを、プリント配線基板上に従来と同様の工程により形成することが可能となる。
また、露光機の解像度の限界寸法よりも大きなパターンを併せて形成することができ、を、例えば、図11(a)、(b)に示すような隣接して配置される2つのICチップ間をプリント基板上において配線する場合等において、従来のプリント基板よりも狭ピッチの配線層を形成するケースにも対応可能となる。図11(a)の配線107をプリント基板101に内蔵する内蔵タイプでは、配線107とICチップ103、105間を、ハンダバンプ109などで接続している。図11(b)の配線107をプリント基板101上に貼り付ける貼り付けタイプでは、配線107をプリント基板101上に貼り付けているため、プリント基板101上のハンダバンプ109aと配線107上のハンダバンプ109bとを異なる高さとして高さ調整を行っている。
本実施の形態の配線形成技術を用いることで、一般的なプリント基板用の露光機程度の露光機の解像度を有していれば良いため、露光機のコストを抑えることができる。
By using the above technique, it becomes possible to form a wiring pattern with a narrow pitch exceeding the critical dimension of the resolution of the exposure machine on the printed wiring board by a process similar to the conventional one.
Further, a pattern larger than the limit dimension of the resolution of the exposure apparatus can be formed together. For example, between two IC chips arranged adjacent to each other as shown in FIGS. In the case of wiring on a printed circuit board, it is possible to cope with a case where a wiring layer having a narrower pitch than that of a conventional printed circuit board is formed. In the built-in type in which the wiring 107 in FIG. 11A is built in the printed circuit board 101, the wiring 107 and the IC chips 103 and 105 are connected by solder bumps 109 or the like. In the pasting type in which the wiring 107 in FIG. 11B is pasted on the printed circuit board 101, the wiring 107 is pasted on the printed circuit board 101. Therefore, the solder bump 109a on the printed circuit board 101 and the solder bump 109b on the wiring 107 are The height is adjusted with different heights.
By using the wiring formation technique of the present embodiment, it is only necessary to have the resolution of an exposure machine similar to that of a general printed circuit board exposure machine, so that the cost of the exposure machine can be suppressed.

また、本発明の各構成要素は、任意に取捨選択することができ、取捨選択した構成を具備する発明も本発明に含まれるものである。
(1)上記実施形態において、レジスト材料をネガレジストとしたが、ポジレジストを用いても良い。
(2)上記実施形態において、配線パターンはストレートな形状としたが、目的に応じて種々のパターンを用いることができる。
(3)上記実施形態において、第2配線と導体パッドを同じレジストパターンを用いた工程で形成したが、第1配線と導体パッドを同じレジストパターンを用いた工程で形成しても良いし、導体パッドを独立した工程で形成しても良い。
(4)上記実施形態において、レジストパターンをラインアンドスペースのパターンとしたが、種々の微細構造で適用できる。
Each component of the present invention can be arbitrarily selected, and an invention having a selected configuration is also included in the present invention.
(1) Although the resist material is a negative resist in the above embodiment, a positive resist may be used.
(2) In the above embodiment, the wiring pattern has a straight shape, but various patterns can be used depending on the purpose.
(3) In the above embodiment, the second wiring and the conductor pad are formed by a process using the same resist pattern. However, the first wiring and the conductor pad may be formed by a process using the same resist pattern. The pad may be formed by an independent process.
(4) In the above embodiment, the resist pattern is a line and space pattern, but it can be applied to various fine structures.

本発明は、プリント配線基板に利用可能である。   The present invention is applicable to a printed wiring board.

1 基材(基板)
3 キャリア
5 銅箔
7 導体パターン
11 絶縁層
15 ビア(コンタクトホール)
17 配線構造
21 配線基板
31、31a シード層
33 第1のレジスト層
33a 第1のレジストパターン
33b 硬化させた第1のレジストパターン
35 第2のレジスト層
35a 第2のレジストパターン
35b 開口用第2のレジストパターン
41a・41b 配線層
41c 導体パッド
41a−1 第1配線
41b−1 第2配線
41c−1 導体パッド
1 Base material (substrate)
3 Carrier 5 Copper foil 7 Conductor pattern 11 Insulating layer 15 Via (contact hole)
17 Wiring structure 21 Wiring substrate 31, 31a Seed layer 33 First resist layer 33a First resist pattern 33b Cured first resist pattern 35 Second resist layer 35a Second resist pattern 35b Opening second Resist pattern 41a / 41b Wiring layer 41c Conductor pad 41a-1 First wiring 41b-1 Second wiring 41c-1 Conductor pad

Claims (20)

絶縁材料からなる絶縁層を形成する工程と、
前記絶縁層上にシード層を形成する工程と、
前記シード層上に、狭ピッチで配列された複数の導体配線パターンからなる第1のレジストパターンを形成する工程と、
前記シード層上に、狭ピッチで配列された複数の導体配線パターンからなる第2のレジストパターンを形成する工程と、
前記第1及び第2のレジストパターンから露出した前記シード層上に配線材料を選択的に電気めっきすることで配線を形成する工程と
を有するプリント配線基板の製造方法であって、
前記第2のレジストパターンを形成する工程は、前記第1のレジストパターンを残した状態でレジスト材料を塗布し、パターン形成位置を前記第1のレジストパターンを形成した位置から前記第1のレジストパターンの配列方向にシフトさせて第2のレジストパターンを形成する。
Forming an insulating layer made of an insulating material;
Forming a seed layer on the insulating layer;
Forming a first resist pattern comprising a plurality of conductor wiring patterns arranged at a narrow pitch on the seed layer;
Forming a second resist pattern comprising a plurality of conductor wiring patterns arranged at a narrow pitch on the seed layer;
Forming a wiring by selectively electroplating a wiring material on the seed layer exposed from the first and second resist patterns, the printed wiring board manufacturing method comprising:
In the step of forming the second resist pattern, a resist material is applied in a state where the first resist pattern is left, and a pattern formation position is changed from the position where the first resist pattern is formed to the first resist pattern. The second resist pattern is formed by shifting in the arrangement direction.
請求項1に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第1のレジストパターンを形成する工程は、
前記第1のレジストパターン形成用の第1のレジスト材料を前記シード層上に塗布又はラミネートする工程と、
前記第1のレジストパターンの領域又はそれ以外の領域のいずれかを選択的に露光する工程と、
現像液を用いて前記第1のレジストパターンの領域の第1のレジスト材料を残す工程と、を有する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 1,
The step of forming the first resist pattern includes:
Applying or laminating a first resist material for forming the first resist pattern on the seed layer;
Selectively exposing either the region of the first resist pattern or the other region;
Leaving a first resist material in the region of the first resist pattern using a developer.
請求項2に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第1のレジストパターンを形成する工程は、
露光時又はその直後に前記第1のレジストパターンを硬化させる工程を有する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 2,
The step of forming the first resist pattern includes:
A step of curing the first resist pattern during or immediately after the exposure;
請求項3に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第1のレジストパターンを硬化させる工程は、
前記第1のレジストパターンを加熱することより硬化を促進させる工程である。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 3,
The step of curing the first resist pattern includes:
It is a step of promoting curing by heating the first resist pattern.
請求項2に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第1のレジストパターンを形成する工程は、
ネガレジストを形成する工程と、
露光時に前記第1のレジストパターンの領域を選択的に露光することで、前記ネガレジストを架橋する工程と、を有する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 2,
The step of forming the first resist pattern includes:
Forming a negative resist;
Cross-linking the negative resist by selectively exposing a region of the first resist pattern during exposure.
請求項2に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第2のレジストパターンを形成する工程は、
前記第2のレジストパターン形成用のネガレジスト材料を前記第1のレジストパターンを含む全面に塗布する工程と、
前記シフトにより前記第1のレジストパターンを避けた前記第2のレジストパターンの領域を選択的に露光する工程と、
前記第2のレジストパターンの現像を行うことで、前記第2のレジストパターンを形成するとともに、前記第1のレジストパターンを露出させる工程と
を有する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 2,
The step of forming the second resist pattern includes:
Applying a negative resist material for forming the second resist pattern to the entire surface including the first resist pattern;
Selectively exposing a region of the second resist pattern avoiding the first resist pattern by the shift;
And developing the second resist pattern to form the second resist pattern and exposing the first resist pattern.
請求項1に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第2のレジストパターンを形成する工程は、
前記第1のレジストパターンと前記第2のレジストパターンとが交互に位置するように、前記シフトにより、狭ピッチで配列した前記第1のレジストパターンのピッチ間に前記第2のレジストパターンを形成する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 1,
The step of forming the second resist pattern includes:
The second resist pattern is formed between the pitches of the first resist patterns arranged at a narrow pitch by the shift so that the first resist pattern and the second resist pattern are alternately positioned. .
請求項7に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第1のレジストパターン及び前記第2のレジストパターンのピッチを、レジスト露光機の解像度に依存する最小ピッチとする。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 7,
The pitch of the first resist pattern and the second resist pattern is set to the minimum pitch depending on the resolution of the resist exposure machine.
請求項1に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第1及び第2のレジストパターンのレジスト材料として同じレジスト材料を用いる。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 1,
The same resist material is used as the resist material for the first and second resist patterns.
請求項1に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第2のレジストパターンを形成する工程において、導体パッドを形成するための開口パターンを形成し、
前記シード層上に配線材料を電解めっきする工程において、前記開口パターン内に導体パッドを形成する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 1,
In the step of forming the second resist pattern, an opening pattern for forming a conductor pad is formed,
In the step of electrolytic plating a wiring material on the seed layer, a conductor pad is formed in the opening pattern.
請求項10に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記配線と前記導体パッドとを同一工程で形成する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 10,
The wiring and the conductor pad are formed in the same process.
請求項1に記載のプリント配線基板の製造方法において、
さらに、基板実装部品に対する接続パッドを備える最外導電回路層を形成するための開口を前記絶縁層に形成する工程を含み、
前記シード層上に配線材料を電解めっきする工程において、前記最外導電回路層を形成する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 1,
Further, the method includes a step of forming an opening in the insulating layer for forming an outermost conductive circuit layer including a connection pad for a substrate mounting component,
In the step of electrolytic plating a wiring material on the seed layer, the outermost conductive circuit layer is formed.
請求項12に記載のプリント配線基板の製造方法において、
前記第2のレジストパターンを形成する工程において、前記最外導電回路層を形成するための開口パターンも形成する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 12,
In the step of forming the second resist pattern, an opening pattern for forming the outermost conductive circuit layer is also formed.
絶縁材料からなる絶縁層と、前記絶縁層の上に形成される複数の配線と、を備えるプリント配線基板であって、
前記複数の配線の幅が、狭ピッチで配列された前記複数の配線の配列方向において第1配線と第2配線とが交互に配列されており、
前記第1配線と前記第2配線とは、異なる幅を有する。
A printed wiring board comprising an insulating layer made of an insulating material, and a plurality of wirings formed on the insulating layer,
The first wiring and the second wiring are alternately arranged in the arrangement direction of the plurality of wirings arranged in a narrow pitch with the width of the plurality of wirings,
The first wiring and the second wiring have different widths.
請求項14に記載のプリント配線基板において、
前記第1配線と前記第2配線との間の間隔が、前記複数の配線の配列方向に交互に異なる。
The printed wiring board according to claim 14,
An interval between the first wiring and the second wiring is alternately different in the arrangement direction of the plurality of wirings.
絶縁材料からなる絶縁層と、
前記絶縁層の上に形成され、かつ、基板実装部品に接続される複数の導体パッドと、
前記導体パッドの間の前記絶縁層の上に形成された第1導体パターン及び第2導体パターンを有した導体配線パターンと、
を備えるプリント配線基板であって、
前記第1導体パターンは複数の第1配線を有し、前記第2導体パターンは複数の第2配線を有し、
前記第1配線と前記第2配線とは、前記絶縁層の上で交互に配列されており、
前記第1配線と第2配線とは、異なる幅を有する。
An insulating layer made of an insulating material;
A plurality of conductor pads formed on the insulating layer and connected to the board mounting component;
A conductor wiring pattern having a first conductor pattern and a second conductor pattern formed on the insulating layer between the conductor pads;
A printed wiring board comprising:
The first conductor pattern has a plurality of first wires, the second conductor pattern has a plurality of second wires,
The first wiring and the second wiring are alternately arranged on the insulating layer,
The first wiring and the second wiring have different widths.
請求項16に記載のプリント配線基板において、
前記導体パッドと前記第2配線との配列方向の端部の位置は等間隔で配置されており、前記導体パッドと前記第1配線の配列方向の端部の位置とは等間隔で配置されていない。
The printed wiring board according to claim 16, wherein
The positions of the end portions in the arrangement direction of the conductor pads and the second wiring are arranged at equal intervals, and the positions of the end portions in the arrangement direction of the first pads are arranged at equal intervals. Absent.
請求項17に記載のプリント配線基板において、
前記導体パッドの開口径のサイズは、前記第1配線及び前記第2配線の幅の2倍以上である。
The printed wiring board according to claim 17,
The size of the opening diameter of the conductor pad is at least twice the width of the first wiring and the second wiring.
請求項16から18までのいずれか1項に記載のプリント配線基板において、
前記第1配線と前記第2配線と前記導体パッドは同一工程で形成されている。
In the printed wiring board according to any one of claims 16 to 18,
The first wiring, the second wiring, and the conductor pad are formed in the same process.
請求項16から19までのいずれか1項に記載のプリント配線基板と、第1及び第2の半導体チップとからなる半導体装置の実装構造であって、
前記絶縁層上に、前記第1及び第2の半導体チップが近接して配置され、
前記第1配線と前記第2配線を介して、前記第1の半導体チップと前記第2の半導体チップとが電気的に接続されている。
A mounting structure for a semiconductor device comprising the printed wiring board according to any one of claims 16 to 19 and first and second semiconductor chips,
On the insulating layer, the first and second semiconductor chips are arranged close to each other,
The first semiconductor chip and the second semiconductor chip are electrically connected via the first wiring and the second wiring.
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