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JP2016013188A - Tomographic imaging apparatus and control method thereof - Google Patents

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JP2016013188A JP2014135382A JP2014135382A JP2016013188A JP 2016013188 A JP2016013188 A JP 2016013188A JP 2014135382 A JP2014135382 A JP 2014135382A JP 2014135382 A JP2014135382 A JP 2014135382A JP 2016013188 A JP2016013188 A JP 2016013188A
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悠二 片芝
松本 和浩
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和浩 松本
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Yukio Sakakawa
幸雄 坂川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a tomographic imaging apparatus in which focus adjustment accuracy at the time of tomographic imaging has been improved.SOLUTION: A tomographic imaging apparatus includes a light source for generating light, light branching means for branching the light from the light source into reference light and measurement light, adjustment means for adjusting a focus position of the measurement light, light shielding means for shielding the reference light, and detection means for detecting the intensity of return light acquired by irradiating the measurement light to an object to be inspected in a state that the reference light is shielded by the light shielding means, and the intensity of interference light between the return light and the reference light in a state that the reference light is not shielded by the light shielding means. The adjustment means adjusts a focus position based on the intensity of the return light detected by the detection means in a state that the reference light is blocked by the light shielding means.

Description

本発明は、断層画像撮像装置及びその制御方法に関し、特に、眼底などの観察に用いられる断層画像撮像装置及びその制御方法に関する。   The present invention relates to a tomographic imaging apparatus and a control method thereof, and more particularly to a tomographic imaging apparatus used for observation of the fundus and the like and a control method thereof.

現在、低コヒーレント光による干渉を利用した光干渉断層法(OCT:Optical Coherence Tomography)を用いる撮像装置(以下、OCT装置とも呼ぶ。)が実用化されている。これは、被検査物の断層画像を高解像度に撮像することができる装置である。   Currently, an imaging apparatus (hereinafter also referred to as an OCT apparatus) using an optical coherence tomography (OCT) using interference by low-coherent light has been put into practical use. This is an apparatus capable of capturing a tomographic image of an inspection object with high resolution.

OCT装置において、光源からの光は、ビームスプリッタなどにより、測定光と参照光とに分けられる。測定光は、測定光路を介して眼などの被検査物に照射される。そして、被検査物からの戻り光は参照光と合波され、干渉光として検出光路を介して検出器に導かれる。ここで、戻り光とは、被検査物に対する光の照射方向における界面に関する情報等が含まれる反射光や散乱光のことである。戻り光と参照光との干渉光を検出器で検出し、解析することによって被検査物の断層画像を得ることができる。   In the OCT apparatus, light from a light source is divided into measurement light and reference light by a beam splitter or the like. The measurement light is irradiated to an object such as an eye through the measurement optical path. Then, the return light from the object to be inspected is combined with the reference light and guided as interference light to the detector via the detection light path. Here, the return light is reflected light or scattered light including information on the interface in the light irradiation direction with respect to the inspection object. A tomographic image of the object to be inspected can be obtained by detecting and analyzing the interference light between the return light and the reference light with a detector.

眼の断層画像を取得するOCT装置として、OCT装置に眼底カメラを複合させた眼科撮影装置が知られている(特許文献1)。また、OCT装置に走査レーザ検眼鏡(SLO:Scanning Laser Ophthalmoscope)を複合させた眼科撮影装置が知られている(特許文献2)。   As an OCT apparatus that acquires a tomographic image of an eye, an ophthalmologic photographing apparatus in which a fundus camera is combined with an OCT apparatus is known (Patent Document 1). There is also known an ophthalmologic photographing apparatus in which a scanning laser ophthalmoscope (SLO) is combined with an OCT apparatus (Patent Document 2).

このような複合装置においては、眼底カメラ光学系又はSLO光学系によって得られる眼底正面画像のフォーカス状態又は眼底に投影されたフォーカス指標の位置関係を、表示モニター上で確認しながらフォーカス位置を調整し、眼底正面画像及び眼底断層画像のフォーカス合わせを行っている。すなわち、眼底正面画像のフォーカス調整で得られたフォーカス位置をOCT光学系に適用している。   In such a composite apparatus, the focus position is adjusted while checking the focus state of the fundus front image obtained by the fundus camera optical system or the SLO optical system or the positional relationship of the focus index projected on the fundus on the display monitor. The fundus front image and the fundus tomographic image are focused. That is, the focus position obtained by focus adjustment of the fundus front image is applied to the OCT optical system.

特開2012−223428号公報JP 2012-223428 A 特開2009−291252号公報JP 2009-291252 A

しかし、このような複合装置では、OCT光学系とは別に眼底カメラ光学系又はSLO光学系が必要になるため、装置の構成が複雑になり、装置が高価格化する。また、眼底正面画像の合焦位置とOCT光学系によって得られる眼底断層画像の合焦位置は必ずしも一致しないため、眼底断層画像に対するフォーカス調整の精度は十分とはいえなかった。   However, such a composite apparatus requires a fundus camera optical system or an SLO optical system in addition to the OCT optical system, which complicates the configuration of the apparatus and increases the cost of the apparatus. In addition, since the focus position of the fundus front image and the focus position of the fundus tomographic image obtained by the OCT optical system do not always match, the accuracy of focus adjustment for the fundus tomographic image is not sufficient.

本発明は、断層画像撮像時のフォーカス調整の精度を向上させることを目的とする。   An object of the present invention is to improve the accuracy of focus adjustment during tomographic image capturing.

上記課題を解決するため、本発明に係る断層画像撮像装置は、光を発生させるための光源と、前記光源からの光を、参照光と測定光とに分岐するための光分岐手段と、前記測定光のフォーカス位置を調整するための調整手段と、前記参照光を遮光するための遮光手段と、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度、及び、前記遮光手段で前記参照光を遮光していない状態で前記戻り光と前記参照光との干渉光の強度を検出するための検出手段と、を備え、前記調整手段は、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記フォーカス位置を調整することを特徴とする。   In order to solve the above problems, a tomographic imaging apparatus according to the present invention includes a light source for generating light, a light branching unit for branching light from the light source into reference light and measurement light, By adjusting the focus position of the measurement light, the light shielding means for shielding the reference light, and irradiating the inspection light with the measurement light in a state where the reference light is shielded by the light shielding means And a detecting means for detecting the intensity of the obtained return light and the intensity of the interference light between the return light and the reference light in a state where the reference light is not shielded by the light shielding means, and the adjustment The means adjusts the focus position based on the intensity of the return light detected by the detection means in a state where the reference light is shielded by the light shielding means.

また、本発明に係る断層画像撮像装置の制御方法は、光源からの光を参照光と測定光とに分岐し、前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光と前記参照光との干渉光に基づき断層画像を生成する断層画像撮像装置の制御方法であって、前記参照光を遮光手段により遮光し、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を前記被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度を検出手段により検出し、前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記測定光のフォーカス位置を調整手段により調整することを特徴とする。   In the method for controlling a tomographic imaging apparatus according to the present invention, the return light and the reference light obtained by branching light from a light source into reference light and measurement light and irradiating the object with the measurement light. A tomographic imaging apparatus that generates a tomographic image based on interference light with the reference light, wherein the reference light is shielded by a light shielding means, and the measurement light is received by the light shielding means while the reference light is shielded by the light shielding means. Detecting the intensity of the return light obtained by irradiating the inspection object by the detection means, and adjusting the focus position of the measurement light by the adjustment means based on the intensity of the return light detected by the detection means. Features.

本発明によれば、OCT光学系でフォーカス位置の検出を行うため、断層画像撮像時のフォーカス調整の精度を向上させることができる。   According to the present invention, since the focus position is detected by the OCT optical system, it is possible to improve the accuracy of focus adjustment during tomographic image capturing.

本発明の第1の実施形態におけるOCT装置の概略を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the outline of the OCT apparatus in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態におけるフォーカス位置と光強度積算値の関係を示す図である。It is a figure which shows the relationship between the focus position and light intensity integrated value in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態における信号の形状を示す図である。It is a figure which shows the shape of the signal in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態における出力信号を示す図である。It is a figure which shows the output signal in the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態の断層画像を示す図である。It is a figure which shows the tomographic image of the 1st Embodiment of this invention.

[第1の実施形態]
本発明の実施形態について図面を参照しながら、以下に詳細に説明する。本実施形態の装置により撮像できるものは、例えば、人間の網膜、前眼部等の断層画像である。
[First Embodiment]
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. What can be imaged by the apparatus of the present embodiment is, for example, a tomographic image of a human retina, anterior eye portion, or the like.

(装置構成)
本実施形態に係るフーリエドメイン方式の光干渉断層法を眼底断層画像撮像装置に応用した例について、図1を用いて説明する。
(Device configuration)
An example in which the Fourier-domain optical coherence tomography according to this embodiment is applied to a fundus tomographic imaging apparatus will be described with reference to FIG.

1は、光(低コヒーレンス光)を発生させるための光源である。本実施形態において光源1には、中心波長850nm、帯域50nmのSLD(Super Luminescent Diode)光源を用いる。なお、光源1には、ASE(Amplified Spontaneous Emission)光源も適用することができる。また、光源1には、チタンサファイアレーザなどの超短パルスレーザ光源も適用することができる。このように、光源1は、低コヒーレンス光を発生させることの出来るものなら何でも良い。さらに、光源1から発生する光の波長は、特に制限されるものではないが、被検査物に応じて400nmから2μmの範囲で選択される。波長の帯域は広いほど縦分解能がよくなる。一般的に中心波長が850nmの場合、50nmの帯域では6μmの縦分解能、100nmの帯域では3μmの縦分解能である。   Reference numeral 1 denotes a light source for generating light (low coherence light). In the present embodiment, an SLD (Super Luminescent Diode) light source having a center wavelength of 850 nm and a bandwidth of 50 nm is used as the light source 1. Note that an ASE (Amplified Spontaneous Emission) light source can also be applied to the light source 1. The light source 1 can also be an ultrashort pulse laser light source such as a titanium sapphire laser. As described above, the light source 1 may be anything that can generate low-coherence light. Further, the wavelength of light generated from the light source 1 is not particularly limited, but is selected in the range of 400 nm to 2 μm depending on the object to be inspected. The wider the wavelength band, the better the vertical resolution. In general, when the center wavelength is 850 nm, the vertical resolution is 6 μm in the 50 nm band and 3 μm in the 100 nm band.

2、4、10、14は、光ファイバー等で構成される導光部である。光源1を発した光は、導光部2により光分岐部3に導かれる。光分岐部3は、ファイバーカプラなどを適用することができる。なお、分岐の比率は被検査物に合わせて適切なものを選択する。   Reference numerals 2, 4, 10, and 14 denote light guide sections formed of optical fibers or the like. The light emitted from the light source 1 is guided to the light branching unit 3 by the light guide unit 2. A fiber coupler or the like can be applied to the optical branching unit 3. Note that an appropriate branching ratio is selected according to the object to be inspected.

光分岐部3により導光部4側に分岐された光(測定光)の光路上には、コリメータレンズ5、光走査部6、フォーカスレンズ7、波長分岐ミラー8、対物レンズ9が配置され、サンプルアーム1001を構成する。光走査部6は、光軸方向に隣接して配置(タンデム配置)された互いに直交するX、Y方向に測定光をそれぞれ走査するガルバノミラー又は共振ミラー等が適用される。波長分岐ミラー8は、光源1を発した光(波長:λ=800〜900nm)を透過し、前眼部照明の光(λ=940nm)を反射する。導光部4に導かれた測定光は、サンプルアーム1001を通り被検眼Eの眼底Efに達する。   A collimator lens 5, an optical scanning unit 6, a focus lens 7, a wavelength branching mirror 8, and an objective lens 9 are disposed on the optical path of light (measurement light) branched to the light guide unit 4 side by the light branching unit 3. A sample arm 1001 is configured. As the optical scanning unit 6, a galvanometer mirror or a resonance mirror that is arranged adjacent to each other in the optical axis direction (tandem arrangement) and scans the measurement light in the X and Y directions orthogonal to each other is applied. The wavelength branching mirror 8 transmits light emitted from the light source 1 (wavelength: λ = 800 to 900 nm) and reflects light of the anterior ocular segment illumination (λ = 940 nm). The measurement light guided to the light guide 4 passes through the sample arm 1001 and reaches the fundus oculi Ef of the eye E to be examined.

光分岐部3により導光部10側に分岐された光(参照光)の光路上にはコリメータレンズ11、シャッター26、参照ミラー12が配置され参照アーム1002を構成する。シャッター26は、参照光路に挿脱可能に配置されている。また、参照ミラー12は、直動ステージ13上に配置され、直動ステージ13を光軸方向に移動することにより、参照アーム1002の光路長を調整する。   A collimator lens 11, a shutter 26, and a reference mirror 12 are arranged on the optical path of light (reference light) branched to the light guide unit 10 side by the light branching unit 3 to constitute a reference arm 1002. The shutter 26 is detachably disposed in the reference optical path. The reference mirror 12 is arranged on the linear motion stage 13 and adjusts the optical path length of the reference arm 1002 by moving the linear motion stage 13 in the optical axis direction.

レンズ15、回折格子であるグレーティングやプリズム等で構成される分光部16、結像レンズ17、CMOSやCCD等の光電変換素子を有する撮像部18は、分光器1003を構成する。光分岐部3に接続された導光部14により、光分岐部3からの光(干渉光)は分光器1003に導かれる。   A lens 15, a spectroscopic unit 16 including a grating or a prism as a diffraction grating, an imaging lens 17, and an imaging unit 18 having a photoelectric conversion element such as a CMOS or a CCD constitute a spectroscope 1003. The light (interference light) from the light branching unit 3 is guided to the spectroscope 1003 by the light guide unit 14 connected to the light branching unit 3.

19は制御部であり、光走査部6、直動ステージ13、撮像部18、シャッター26等の制御を行う。また、制御部19には表示部20が接続されている。また、制御部19には、メモリー24、マウス等のポインティングデバイス25が接続されている。   Reference numeral 19 denotes a control unit that controls the optical scanning unit 6, the linear motion stage 13, the imaging unit 18, the shutter 26, and the like. A display unit 20 is connected to the control unit 19. The control unit 19 is connected to a memory 24 and a pointing device 25 such as a mouse.

対物レンズ9の周りには前眼部照明光源21a、21bが配置され、これらの光源により照明された被検眼Eの前眼部の像は、対物レンズ9を通り、波長分岐ミラー8により反射され、レンズ22により二次元の撮像部23の撮像面に結像する。   Anterior segment illumination light sources 21 a and 21 b are arranged around the objective lens 9, and an image of the anterior segment of the eye E illuminated by these light sources passes through the objective lens 9 and is reflected by the wavelength branch mirror 8. The lens 22 forms an image on the imaging surface of the two-dimensional imaging unit 23.

本実施形態では干渉系としてマイケルソン干渉系を用いたが、マッハツェンダー干渉系を用いても良い。   In this embodiment, a Michelson interference system is used as the interference system, but a Mach-Zehnder interference system may be used.

(撮像方法)
次に、このような構成の装置を用いて、被検眼Eの眼底Efの網膜の断層画像を撮像する方法を説明する。
(Imaging method)
Next, a method for capturing a tomographic image of the retina of the fundus oculi Ef of the eye E using the apparatus having such a configuration will be described.

被検眼Eを本装置の前に配置すると、被検眼Eの前眼部は光源21a、21bが発した光により照明される。このように照明された前眼部の像は、対物レンズ9を通り、波長分岐ミラー8により反射されて、レンズ22により、撮像部23の撮像面に結像する。撮像部23からの映像信号は、制御部19に入力されデジタルデータにリアルタイムに変換され、前眼部像が生成される。   When the eye E is placed in front of the present apparatus, the anterior eye portion of the eye E is illuminated with light emitted from the light sources 21a and 21b. The image of the anterior segment illuminated in this way passes through the objective lens 9, is reflected by the wavelength branching mirror 8, and forms an image on the imaging surface of the imaging unit 23 by the lens 22. The video signal from the imaging unit 23 is input to the control unit 19 and converted into digital data in real time, and an anterior ocular segment image is generated.

制御部19は、この被検眼Eの前眼部像のうちの特に虹彩の模様より、被検眼Eの偏心及びピントの状態を判定する。撮像面の中心とサンプルアーム1001の光学系の光軸が一致するように調整されているため、撮像部23で撮像された前眼部像の瞳孔中心と撮像中心の偏心量が被検眼Eとサンプルアーム1001の光学系の偏心量に相当する。サンプルアーム1001の光学系は、被検眼Eに対し、上下左右、さらに光軸方向に位置調整が可能なように不図示のステージ上に配置されている。したがって、前述の通り、瞳孔中心と光軸が一致するように、上下左右の位置を調整し、虹彩の模様のコントラストが最も高くなるように、光軸方向の位置調整を行う。   The control unit 19 determines the eccentricity and focus state of the eye E based on the iris pattern in the anterior eye image of the eye E. Since the center of the imaging surface and the optical axis of the optical system of the sample arm 1001 are adjusted to coincide with each other, the eccentric amount between the pupil center and the imaging center of the anterior segment image captured by the imaging unit 23 is the same as that of the eye E. This corresponds to the amount of eccentricity of the optical system of the sample arm 1001. The optical system of the sample arm 1001 is arranged on a stage (not shown) so that the position of the eye E can be adjusted in the vertical and horizontal directions and in the optical axis direction. Therefore, as described above, the vertical and horizontal positions are adjusted so that the center of the pupil coincides with the optical axis, and the optical axis direction is adjusted so that the contrast of the iris pattern is the highest.

これにより、虹彩と同一面である被検眼Eの瞳孔とサンプルアーム1001の光学系の対物レンズ9との距離(ワーキングディスタンス)は一定に保たれている。前眼部像は、表示部20の表示領域20aに表示され、操作者は、この画像により光軸偏心を確認することができる。   Thereby, the distance (working distance) between the pupil of the eye E to be examined and the objective lens 9 of the optical system of the sample arm 1001 which is flush with the iris is kept constant. The anterior segment image is displayed in the display area 20a of the display unit 20, and the operator can confirm the optical axis decentering from this image.

このように、オートアライメントにより偏心量が所定の値以下になると、制御部19は、光源1を点灯し、シャッター26を参照光路に挿入して参照光を遮光する。さらに撮像部18の光電変換素子を所定のフレームレートで動作させ、フォーカス調整用の信号検出を開始する。光源1からの光は、導光部2により光分岐部3に導かれ、導光部4と導光部10に導かれる光量の比が、例えば1:9になるように分岐される。導光部4側に導かれた測定光は、ファイバー端4aに達する。ファイバー端4aを点光源として発した測定光は、コリメータレンズ5により平行光に変換され、光走査部6、フォーカスレンズ7、波長分岐ミラー8を透過し対物レンズ9により被検眼Eの瞳孔より眼底Efに照射される。   In this way, when the amount of eccentricity becomes a predetermined value or less by auto-alignment, the control unit 19 turns on the light source 1 and inserts the shutter 26 into the reference optical path to shield the reference light. Further, the photoelectric conversion element of the imaging unit 18 is operated at a predetermined frame rate, and signal detection for focus adjustment is started. The light from the light source 1 is guided to the light branching unit 3 by the light guide unit 2 and branched such that the ratio of the amount of light guided to the light guide unit 4 and the light guide unit 10 is 1: 9, for example. The measurement light guided to the light guide 4 side reaches the fiber end 4a. Measurement light emitted from the fiber end 4 a as a point light source is converted into parallel light by the collimator lens 5, passes through the optical scanning unit 6, the focus lens 7, and the wavelength branching mirror 8, and passes through the pupil of the eye E to be examined by the objective lens 9. Ef is irradiated.

眼底Efの網膜を構成する複数の層で反射・散乱された戻り光は、照射時と同一の光路を戻り、コリメータレンズ5を経てファイバー端4aより導光部4に入り、光分岐部3に導かれる。光分岐部3では、導光部2と導光部14に導かれる光量の比が1:9になるように分岐される。導光部14を経てファイバー端14aを出射した光は、コリメータレンズ15により平行光に変換され、分光部16に入射する。分光部16には、光の波長に近い寸法の回折格子が等間隔に複数形成されており、入射した光を回折により分光する。回折角度は波長により異なるため、回折された光は、結像レンズ17により線像として撮像部18のライン状の撮像領域に結像する。すなわちファイバー端14aを出射した光は、分光されたスリット像として結像する。したがって撮像部18からは、波長毎の強度に対応した信号が出力される。   Return light reflected and scattered by a plurality of layers constituting the retina of the fundus oculi Ef returns to the same optical path as that at the time of irradiation, enters the light guide unit 4 from the fiber end 4a through the collimator lens 5, and enters the light branching unit 3. Led. The light branching unit 3 is branched so that the ratio of the amount of light guided to the light guide unit 2 and the light guide unit 14 is 1: 9. The light emitted from the fiber end 14 a through the light guide unit 14 is converted into parallel light by the collimator lens 15 and enters the spectroscopic unit 16. In the spectroscopic unit 16, a plurality of diffraction gratings having dimensions close to the wavelength of light are formed at equal intervals, and the incident light is dispersed by diffraction. Since the diffraction angle varies depending on the wavelength, the diffracted light is imaged as a line image by the imaging lens 17 in the linear imaging region of the imaging unit 18. That is, the light emitted from the fiber end 14a forms an image as a split slit image. Therefore, a signal corresponding to the intensity for each wavelength is output from the imaging unit 18.

ここで、フォーカスレンズ7を光軸方向に移動させることによりフォーカス位置を変化させながら、撮像部18の出力をフォーカス位置と対応させてメモリー24に記憶する。フォーカスレンズ7は、例えば眼のディオプタで−15D〜+15Dに相当する範囲を0.25Dステップで移動させる。このとき、参照光はシャッター26により遮光されているため、撮像部18では眼底Efからの戻り光の強度のみが検出される。   Here, the output of the imaging unit 18 is stored in the memory 24 in correspondence with the focus position while changing the focus position by moving the focus lens 7 in the optical axis direction. The focus lens 7 is, for example, an eye diopter and moves in a range corresponding to −15D to + 15D in 0.25D steps. At this time, since the reference light is shielded by the shutter 26, the imaging unit 18 detects only the intensity of the return light from the fundus oculi Ef.

また、撮像部18の光電変換素子は、眼底Efからの微弱な戻り光の強度を検出できるよう、例えば70Hz程度の所定のフレームレートで動作する。ここで、よりフレームレートを遅くすると露光蓄積時間が増えるため、より微弱な光の強度を検出するのに有利になる。制御部19は、メモリー24に記憶された各フォーカス位置における撮像部18の出力データから、受光する全波長の光の強度の積算値を算出する。   Further, the photoelectric conversion element of the imaging unit 18 operates at a predetermined frame rate of, for example, about 70 Hz so that the intensity of weak return light from the fundus oculi Ef can be detected. Here, if the frame rate is made slower, the exposure accumulation time increases, which is advantageous for detecting weaker light intensity. The control unit 19 calculates an integrated value of the intensity of light of all wavelengths received from the output data of the imaging unit 18 at each focus position stored in the memory 24.

図2は、フォーカス位置に対する戻り光の強度の積算値の出力を示す図である。戻り光の強度の積算値はフォーカス位置が眼底Efと一致したときにピークになるため、そのピーク位置にフォーカスレンズ7を移動させることにより、眼底Efにフォーカスを合わせる。   FIG. 2 is a diagram illustrating an output of an integrated value of the intensity of the return light with respect to the focus position. Since the integrated value of the intensity of the return light reaches a peak when the focus position matches the fundus oculi Ef, the focus lens 7 is moved to the peak position to focus on the fundus oculi Ef.

制御部19は、フォーカス調整の完了を検知すると、シャッター26を参照光路から脱離し、撮像部18の光電変換素子を所定のフレームレートで動作させる。光分岐部3より導光部10に導かれた光は、ファイバー端10aから出射されレンズ11により平行光に変換され参照ミラー12に向かう。参照ミラー12は、平行光と垂直に、また、光軸方向に移動可能に直動ステージ13上に配置されている。これにより異なる眼軸長の被検眼Eに対しても、参照光路と測定光路の光路長を合わせることができる。   When detecting the completion of the focus adjustment, the control unit 19 detaches the shutter 26 from the reference optical path, and operates the photoelectric conversion element of the imaging unit 18 at a predetermined frame rate. The light guided from the light branching unit 3 to the light guide unit 10 is emitted from the fiber end 10 a, converted into parallel light by the lens 11, and travels toward the reference mirror 12. The reference mirror 12 is disposed on the linear motion stage 13 so as to be movable perpendicularly to the parallel light and in the optical axis direction. As a result, the optical path lengths of the reference optical path and the measurement optical path can be matched to the eye E having different axial lengths.

参照ミラー12で反射された参照光は、レンズ11により導光部10のファイバー端10aに集光され、導光部10により光分岐部3に導かれ導光部2と導光部14に分岐される。このときの分岐比は、被検眼Eからの戻り光とは逆であり、9:1である。そして、導光部14に導かれた光は、眼底Efからの戻り光との合波により干渉光となり、分光器1003に入り、分光部16により分光され、前述の様に、撮像部18の光電変換素子がライン上に配列する受光領域に結像する。   The reference light reflected by the reference mirror 12 is condensed on the fiber end 10a of the light guide unit 10 by the lens 11, guided to the light branch unit 3 by the light guide unit 10, and branched to the light guide unit 2 and the light guide unit 14. Is done. The branching ratio at this time is 9: 1 opposite to the return light from the eye E. Then, the light guided to the light guide unit 14 becomes interference light by combining with the return light from the fundus oculi Ef, enters the spectroscope 1003, is split by the spectroscopic unit 16, and as described above, The photoelectric conversion element forms an image on a light receiving region arranged on the line.

ここで、撮像部18の光電変換素子は、フォーカス調整時よりも速い、例えば70kHz程度の所定のフレームレートで動作する。参照光と戻り光の干渉光の強度は干渉により、戻り光のみの光強度よりも大きくなるため、その分フレームレートを速くしても信号検出時のノイズの影響が抑えられる。   Here, the photoelectric conversion element of the imaging unit 18 operates at a predetermined frame rate of, for example, about 70 kHz, which is faster than the focus adjustment. Since the intensity of the interference light between the reference light and the return light becomes larger than the intensity of the return light alone due to the interference, the influence of noise during signal detection can be suppressed even if the frame rate is increased accordingly.

また、フレームレートを速くすることで、短時間に眼底上のより広い領域の信号を得ることができる。撮像部18からの信号は、制御部19に入力され、断層画像が生成され表示部20の表示領域20bに表示される。制御部19は、断層画像の輝度を検知し、表示領域20bの所定の位置に関心部位の断層画像が位置するように参照ミラー12の位置調整(コヒーレンスゲート調整)を行う。制御部19は、直動ステージ13の位置を指示された方向に移動させるとともに、メモリー24に記憶している直動ステージ13の制御位置情報を移動量に応じて変更する。直動ステージは、不図示のステッピングモータにより駆動制御されており、直動ステージ13の位置は、ステッピングモータに指示するステップ数と対応している。例えば、60mmのストロークを60000ステップで駆動する場合1ステップあたりの移動量は1μmになる。0〜60000までのステップ数が、直動ステージの0〜60mmの位置に対応する。   Further, by increasing the frame rate, a signal in a wider area on the fundus can be obtained in a short time. A signal from the imaging unit 18 is input to the control unit 19, and a tomographic image is generated and displayed on the display area 20 b of the display unit 20. The control unit 19 detects the luminance of the tomographic image and adjusts the position of the reference mirror 12 (coherence gate adjustment) so that the tomographic image of the region of interest is positioned at a predetermined position in the display area 20b. The control unit 19 moves the position of the linear motion stage 13 in the instructed direction, and changes the control position information of the linear motion stage 13 stored in the memory 24 according to the amount of movement. The linear motion stage is driven and controlled by a stepping motor (not shown), and the position of the linear motion stage 13 corresponds to the number of steps instructed to the stepping motor. For example, when a 60 mm stroke is driven in 60000 steps, the amount of movement per step is 1 μm. The number of steps from 0 to 60000 corresponds to the 0 to 60 mm position of the linear motion stage.

またこの直動ステージ13の基準位置からレンズ11までの距離は設計的に精度よく配置されておりこの基準位置と前記ステージ位置の関係も設計的に明らかであるため、このステップ数より参照光路長を計算することができる。このように参照ミラー12の位置の変化とともに、参照光路の光路長が変化する。これにより表示領域20b内の断層画像の表示位置が変化する。このように、参照ミラー12の位置は常にメモリー24に記憶されている。以上の撮像準備の後、撮像ボタン20eが指示されると、断層画像の静止画撮像を行う。これにより、撮像された断層画像は、メモリー24に記憶される。   Further, since the distance from the reference position of the linear motion stage 13 to the lens 11 is accurately designed, and the relationship between the reference position and the stage position is also clear in design, the reference optical path length is determined from the number of steps. Can be calculated. As described above, the optical path length of the reference optical path changes as the position of the reference mirror 12 changes. As a result, the display position of the tomographic image in the display area 20b changes. Thus, the position of the reference mirror 12 is always stored in the memory 24. After the above imaging preparation, when the imaging button 20e is instructed, a still image of a tomographic image is captured. Thereby, the captured tomographic image is stored in the memory 24.

(断層画像生成)
次に断層画像の生成について説明する。
(Tomographic image generation)
Next, generation of a tomographic image will be described.

断層画像撮像時には、導光部14には、被検眼Eの眼底Efからの戻り光と、参照ミラー12から反射された参照光との干渉光が導かれる。光分岐部3から眼底Efまでの光路長と、光分岐部3から参照ミラー12までの光路長の差により、光分岐部3で合波されるとき戻り光と参照光は、位相差を有する。この位相差は波長により異なるため、撮像部18の受光領域上に現れる分光強度分布には干渉縞が生じる。また、網膜には複数の層があり、それぞれの層境界からの戻り光はそれぞれ異なる光路長を有するため、干渉縞には、異なる周波数の干渉縞が含まれる。この強度分布に含まれる干渉縞の周波数とその強度より、反射物体の位置とその位置からの反射・散乱に対応した明るさを求めることができる。   During tomographic imaging, interference light between the return light from the fundus oculi Ef of the eye E and the reference light reflected from the reference mirror 12 is guided to the light guide unit 14. Due to the difference between the optical path length from the optical branching section 3 to the fundus oculi Ef and the optical path length from the optical branching section 3 to the reference mirror 12, the return light and the reference light have a phase difference when combined at the optical branching section 3. . Since this phase difference varies depending on the wavelength, interference fringes are generated in the spectral intensity distribution appearing on the light receiving region of the imaging unit 18. In addition, since the retina has a plurality of layers, and the return light from each layer boundary has a different optical path length, the interference fringes include interference fringes having different frequencies. From the frequency of interference fringes included in the intensity distribution and the intensity thereof, the position of the reflecting object and the brightness corresponding to the reflection / scattering from the position can be obtained.

眼底上の1ラインをスキャンするBスキャンモードにおいては、制御部19は、光走査部6のX、Yのスキャンミラーの一つ、例えば、Xスキャンミラーだけを駆動しながら、撮像部18からの出力を読み出す。光走査部6からは、スキャンミラーの角度を示すデータが出力されており、読み出された信号はスキャンミラーの角度と共にデジタルデータに変換され、さらに光が被検眼に照射する角度θiに変換されてメモリー24に記憶される。スキャンミラーの角度と光線の照射角θiは、対応しており、光学系の設計値より求める。   In the B scan mode for scanning one line on the fundus, the control unit 19 drives only one of the X and Y scan mirrors of the optical scanning unit 6, for example, the X scan mirror, while Read the output. Data indicating the angle of the scan mirror is output from the optical scanning unit 6, and the read signal is converted into digital data together with the angle of the scan mirror, and further converted into an angle θi at which the light irradiates the eye to be examined. And stored in the memory 24. The angle of the scan mirror and the irradiation angle θi of the light beam correspond to each other and are obtained from the design value of the optical system.

図3は、スキャンミラーの角度θiにおける撮像部18上の光の強度分布を示す。横軸は、撮像部18上のセンサー位置であり、波長に対応する。縦軸は、信号強度である。ここでは、中心波長λ0、半値幅δλの強度分布に対して、干渉縞による波形が重なっている。   FIG. 3 shows the light intensity distribution on the imaging unit 18 at the scan mirror angle θi. The horizontal axis is the sensor position on the imaging unit 18 and corresponds to the wavelength. The vertical axis represents the signal intensity. Here, the waveform due to the interference fringes overlaps the intensity distribution of the center wavelength λ0 and the half-value width δλ.

この波形の強度情報を読み出し、不図示のA/D変換器によりデジタルデータに変換し、メモリー24に記憶する。このデータを波数変換し、周波数変換すると図4に示すような強度分布が得られる。これはh1、h2、h3の距離(コヒーレンスゲートからの距離)のところの干渉強度がI1、I2、I3であることを示す。したがって、スキャンミラーの角度θiを、θsからθeまで変化させながら、干渉強度を測定する。このように取得した干渉強度I(θi,hj)を、θを横軸、hを縦軸にして表示することにより図5に示すように眼底のBスキャン画像(光学的な距離に基づく画像)を表示することができる。   The intensity information of this waveform is read out, converted into digital data by an A / D converter (not shown), and stored in the memory 24. When this data is subjected to wave number conversion and frequency conversion, an intensity distribution as shown in FIG. 4 is obtained. This indicates that the interference intensities at the distances h1, h2, and h3 (distance from the coherence gate) are I1, I2, and I3. Therefore, the interference intensity is measured while changing the angle θi of the scan mirror from θs to θe. The interference intensity I (θi, hj) acquired in this way is displayed with θ on the horizontal axis and h on the vertical axis, so that a B-scan image of the fundus (image based on the optical distance) as shown in FIG. Can be displayed.

このように本実施形態によれば、測定光の眼底からの戻り光の強度に基づいてフォーカス位置の調整を行うことにより、OCT光学系とは別に眼底カメラ光学系又はSLO光学系を設けることなく、簡素な装置構成でフォーカスが合った眼底断層画像を得ることができる。さらに、OCT光学系でフォーカス位置の検知を行うため、眼底断層画像のフォーカス精度を向上させることができる。   As described above, according to the present embodiment, by adjusting the focus position based on the intensity of the return light from the fundus of the measurement light, a fundus camera optical system or an SLO optical system is not provided separately from the OCT optical system. Thus, a focused fundus tomographic image can be obtained with a simple apparatus configuration. Furthermore, since the focus position is detected by the OCT optical system, the focus accuracy of the fundus tomographic image can be improved.

[第2の実施形態]
第1の実施形態では、フォーカス調整時に測定光をスキャンさせていないが、スキャンさせてもよい。戻り光の強度を検出する撮像部18の出力は、眼底の反射率にも依存する。眼底の反射率は眼底上の位置によって異なるため、フォーカス調整中に眼が動いてしまうと、フォーカス位置の変化の影響だけではなく、眼底の反射率変化の影響でも撮像部18の出力が変化してしまう。出力が変化すると、戻り光の強度の積算値のピーク位置の検出に誤差が生じ、フォーカス位置の検出に誤差が生じる。そこで、例えば、フォーカス位置の移動ステップに同期して測定光をサークル状にスキャンさせてもよい。これにより、測定光を照射する眼底の反射率の影響がサークル上で平均化されるため、眼が動くことで測定光が照射される眼底上の位置が変化しても、フォーカス位置の検出への影響が小さくなる。
[Second Embodiment]
In the first embodiment, the measurement light is not scanned during focus adjustment, but may be scanned. The output of the imaging unit 18 that detects the intensity of the return light also depends on the reflectance of the fundus. Since the fundus reflectance varies depending on the position on the fundus, if the eye moves during focus adjustment, the output of the imaging unit 18 changes not only due to the influence of the focus position change but also due to the fundus reflectance change. End up. When the output changes, an error occurs in the detection of the peak position of the integrated value of the return light intensity, and an error occurs in the detection of the focus position. Therefore, for example, the measurement light may be scanned in a circle in synchronization with the movement step of the focus position. As a result, the influence of the reflectance of the fundus that irradiates the measurement light is averaged on the circle, so even if the position on the fundus where the measurement light is irradiated changes due to movement of the eye, the focus position is detected. The effect of.

ここで、眼底の反射率は視神経乳頭でとくに高いため、フォーカス位置の移動ステップ毎にスキャン範囲に視神経乳頭が含まれるステップと含まれないステップがあると、それにより撮像部18の出力の変化が大きくなり、フォーカス位置の検出への影響が大きくなる。その影響を抑えるためには、スキャン範囲に視神経乳頭が含まれないよう、例えば、測定光は黄斑と視神経乳頭の間におさまる大きさのサークルスキャンとしてもよい。さらに、測定光をスキャンさせた場合、スキャンさせない場合に比べてレーザ安全上制約される照射限界光量が緩和される。これにより測定光の照射光の強度を大きくすることができ、それに応じて戻り光の強度も大きくできるため、戻り光の強度を検出するときのノイズの影響を低減することができる。   Here, since the reflectance of the fundus is particularly high in the optic disc, if there is a step in which the optic disc is included in the scan range and a step in which the scan range is not included in each step of moving the focus position, the change in the output of the imaging unit 18 is thereby caused. This increases the influence on the detection of the focus position. In order to suppress the influence, for example, the measurement light may be a circle scan having a size that fits between the macula and the optic disc so that the scan range does not include the optic disc. Further, when the measurement light is scanned, the irradiation limit light amount that is restricted in terms of laser safety is reduced as compared with the case where the measurement light is not scanned. Thereby, the intensity of the irradiation light of the measurement light can be increased, and the intensity of the return light can be increased accordingly, so that the influence of noise when detecting the intensity of the return light can be reduced.

本実施形態によれば、測定光をスキャンさせることで、眼の動きの影響や検出器のノイズの影響を抑えてフォーカス調整を行うことができる。   According to the present embodiment, it is possible to adjust the focus by scanning the measurement light while suppressing the influence of the eye movement and the influence of the noise of the detector.

[第3の実施形態]
第1の実施形態では、制御部19により、フォーカス調整及び光路長調整を行ったが、その後、さらにフォーカス位置の微調整を行ってもよい。制御部19は、光路長調整の完了を検知した後、フォーカスレンズ7を光軸方向に移動してフォーカス位置を微小に変化させながら、各フォーカス位置における断層画像の輝度値をメモリー24へ記憶する。そして、輝度値がピークになるフォーカス位置にフォーカスレンズ7を調整する。例えば、第1の実施形態で行ったフォーカス調整後のフォーカス位置を原点として、フォーカスレンズ7を眼のディオプタで−1D〜+1Dの範囲を0.1Dステップで移動させ、断層画像の輝度がピークになる位置にフォーカスレンズ7を移動させる。
[Third Embodiment]
In the first embodiment, the control unit 19 performs the focus adjustment and the optical path length adjustment. However, the focus position may be further finely adjusted thereafter. After detecting the completion of the optical path length adjustment, the control unit 19 stores the luminance value of the tomographic image at each focus position in the memory 24 while moving the focus lens 7 in the optical axis direction to slightly change the focus position. . Then, the focus lens 7 is adjusted to a focus position where the luminance value reaches a peak. For example, with the focus position after the focus adjustment performed in the first embodiment as the origin, the focus lens 7 is moved in the range of −1D to + 1D in 0.1D steps with the diopter of the eye, and the luminance of the tomographic image reaches a peak. The focus lens 7 is moved to the position.

本実施形態によれば、光路長調整後にさらにフォーカス位置の微調整を行うことで、所望のコヒーレンスゲート位置の画像に対して、より精度よくフォーカスを合わせることができる。   According to the present embodiment, fine adjustment of the focus position is further performed after the optical path length adjustment, so that it is possible to focus on the image at the desired coherence gate position with higher accuracy.

[第4の実施形態]
第1から第3の実施形態では、制御部19により、オートフォーカス調整及びオート光路長調整を行ったが、その後、操作者が手動で微調整を行ってもよい。操作者は、表示部20の表示領域20bに表示される断層画像を観察し、断層画像が最も明るくなるようにポインティングデバイス25を用いてカーソルで表示領域20cのボタンを操作してフォーカス調整を行う。また、同様に、表示領域20bの所望の領域内に関心部位の断層画像が全て入るように表示領域20dのボタンを操作して参照ミラー12の位置調整(コヒーレンスゲート調整)を行う。
[Fourth Embodiment]
In the first to third embodiments, the control unit 19 performs the auto focus adjustment and the auto optical path length adjustment. However, the operator may perform fine adjustment manually thereafter. The operator observes the tomographic image displayed in the display area 20b of the display unit 20, and performs focus adjustment by operating the button of the display area 20c with the cursor using the pointing device 25 so that the tomographic image becomes brightest. . Similarly, the position adjustment (coherence gate adjustment) of the reference mirror 12 is performed by operating the button of the display area 20d so that all the tomographic images of the region of interest fall within the desired area of the display area 20b.

本実施形態によれば、オートフォーカス調整及びオート光路長調整後に手動調整を行うことで、所望のフォーカス位置及び所望のコヒーレンスゲート位置の断層画像を得ることができる。   According to the present embodiment, a tomographic image of a desired focus position and a desired coherence gate position can be obtained by performing manual adjustment after auto focus adjustment and auto optical path length adjustment.

[第5の実施形態]
第1から第4の実施形態では、制御部19によりオート調整しているが、操作者が手動でフォーカス調整及び光路長調整を行ってもよい。操作者は、表示切り替えスイッチ20fを操作して、戻り光の強度の積算値を表示領域20bに表示する。このとき、スイッチ操作により、制御部19は、シャッター26を参照光路に挿入して参照光を遮光し、微弱な戻り光の強度を検出するために撮像部18の光電変換素子を、例えば70Hz程度の所定のフレームレートで動作させる。操作者は、ポインティングデバイス25を用いてカーソルで表示領域20cのボタンを操作し、表示されている戻り光の強度の積算値がピークになるようにフォーカス調整を行う。フォーカス調整が完了したら、再び表示切り替えスイッチ20fを操作する。このスイッチ操作により、制御部19は、シャッター26を参照光路から脱離し、断層画像を観察するために撮像部18の光電変換素子を、例えば70kHz程度の所定のフレームレートに変更して動作させる。これにより、表示領域20bに断層画像が表示される。操作者は、第4の実施形態と同様に、断層画像を観察しながら表示領域20c及び表示領域20dのボタンを操作して、フォーカス調整とコヒーレンスゲート調整を行う。
[Fifth Embodiment]
In the first to fourth embodiments, automatic adjustment is performed by the control unit 19, but the operator may manually perform focus adjustment and optical path length adjustment. The operator operates the display changeover switch 20f to display the integrated value of the intensity of the return light in the display area 20b. At this time, by the switch operation, the control unit 19 inserts the shutter 26 into the reference optical path to shield the reference light, and the photoelectric conversion element of the imaging unit 18 is detected, for example, about 70 Hz to detect weak return light intensity. To operate at a predetermined frame rate. The operator operates the button of the display area 20c with the cursor using the pointing device 25, and performs focus adjustment so that the integrated value of the intensity of the displayed return light reaches a peak. When the focus adjustment is completed, the display changeover switch 20f is operated again. By this switch operation, the control unit 19 detaches the shutter 26 from the reference optical path, and operates the photoelectric conversion element of the imaging unit 18 by changing to a predetermined frame rate of, for example, about 70 kHz in order to observe a tomographic image. Thereby, a tomographic image is displayed in the display area 20b. As in the fourth embodiment, the operator operates the buttons of the display area 20c and the display area 20d while observing the tomographic image, and performs focus adjustment and coherence gate adjustment.

本実施形態によれば、戻り光強度を観察しながら手動調整することで、制御部19によるオート調整時にエラーが生じた場合でも、フォーカス位置及びコヒーレンスゲート位置を調整することができる。   According to the present embodiment, the focus position and the coherence gate position can be adjusted by performing manual adjustment while observing the return light intensity, even when an error occurs during automatic adjustment by the control unit 19.

[その他の実施形態]
本件は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、前述の実施形態では、被検査物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被検査物に本発明を適用することも可能である。この場合、本発明は眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って、本発明は眼科装置に例示される断層画像撮像装置として把握され、被検眼は被検査物の一態様として把握されることが望ましい。
[Other Embodiments]
The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications and changes can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above-described embodiment, the case where the object to be inspected is an eye has been described, but the present invention can also be applied to an object to be inspected other than the eye, such as skin or organ. In this case, the present invention has an aspect as a medical device such as an endoscope other than the ophthalmologic apparatus. Therefore, it is desirable that the present invention is grasped as a tomographic imaging apparatus exemplified by an ophthalmologic apparatus, and the eye to be examined is grasped as one aspect of the inspection object.

またコンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、コンピュータ上で稼動しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。   Further, by executing the program code read by the computer, an operating system (OS) or the like running on the computer performs part or all of the actual processing, and the functions of the above-described embodiments are realized by the processing. This is also included.

さらに記録媒体から読み出したプログラムコードが、コンピュータ付属の機能拡張カードや機能拡張ユニット内のメモリーに書込まれ、前記拡張カードや拡張ユニット内の演算装置が実際の処理の一部か全部を行い、前述の実施形態の機能が実現される場合も含む。   Furthermore, the program code read from the recording medium is written in the memory in the function expansion card or function expansion unit attached to the computer, and the arithmetic device in the expansion card or expansion unit performs part or all of the actual processing, This includes the case where the functions of the above-described embodiments are realized.

Claims (8)

光を発生させるための光源と、
前記光源からの光を、参照光と測定光とに分岐するための光分岐手段と、
前記測定光のフォーカス位置を調整するための調整手段と、
前記参照光を遮光するための遮光手段と、
前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度、及び、前記遮光手段で前記参照光を遮光していない状態で前記戻り光と前記参照光との干渉光の強度を検出するための検出手段と、を備え、
前記調整手段は、前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記フォーカス位置を調整することを特徴とする断層画像撮像装置。
A light source for generating light;
Light branching means for branching light from the light source into reference light and measurement light;
Adjusting means for adjusting the focus position of the measurement light;
A light shielding means for shielding the reference light;
The intensity of the return light obtained by irradiating the inspection light with the measurement light in a state where the reference light is shielded by the light shielding means, and the return light in a state where the reference light is not shielded by the light shielding means. And detecting means for detecting the intensity of interference light with the reference light,
The tomographic image pickup apparatus, wherein the adjusting unit adjusts the focus position based on the intensity of the return light detected by the detecting unit in a state where the reference light is blocked by the light blocking unit.
前記調整手段でフォーカス位置を移動させながら前記検出手段が前記戻り光を検出し、前記戻り光がピークとなる位置に前記フォーカス位置を調整することを特徴とする請求項1に記載の断層画像撮像装置。   2. The tomographic imaging according to claim 1, wherein the detection unit detects the return light while moving the focus position by the adjustment unit, and adjusts the focus position to a position where the return light reaches a peak. apparatus. 前記検出手段は、前記戻り光の強度を検出するとき、前記干渉光を検出するときよりも遅いフレームレートで動作することを特徴とする請求項1又は2に記載の断層画像撮像装置。   3. The tomographic imaging apparatus according to claim 1, wherein the detection unit operates at a slower frame rate when detecting the intensity of the return light than when detecting the interference light. 4. 前記調整手段が前記フォーカス位置を調整するとき、前記測定光はフォーカス位置の移動に同期して、前記被検査物を前記測定光でサークル状にスキャンする走査手段を更に備えることを特徴とする請求項2又は3に記載の断層画像撮像装置。   The said adjustment means is further provided with the scanning means which scans the said to-be-inspected object in a circle shape with the said measurement light synchronizing with the movement of a focus position, when the said adjustment means adjusts the said focus position. Item 4. The tomographic imaging apparatus according to Item 2 or 3. 前記フォーカス位置の調整を行った後に、前記遮光手段で前記参照光を遮光していない状態で、前記干渉光を検出することで前記被検査物の断層画像を生成することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の断層画像撮像装置。   The tomographic image of the inspection object is generated by detecting the interference light in a state where the reference light is not shielded by the light shielding unit after the focus position is adjusted. The tomographic imaging apparatus according to any one of 1 to 4. 前記参照光の光路長と前記測定光の光路長との何れかの光路長を調整する光路長調整手段を更に備え、
前記光路長調整手段で光路長を変化させながら前記断層画像の輝度を検出し、前記断層画像が表示領域の所定の位置になるように前記光路長調整手段で光路長を調整することを特徴とする請求項5に記載の断層画像撮像装置。
Optical path length adjusting means for adjusting any one of the optical path length of the reference light and the optical path length of the measurement light;
The luminance of the tomographic image is detected while changing the optical path length by the optical path length adjusting unit, and the optical path length is adjusted by the optical path length adjusting unit so that the tomographic image is at a predetermined position in a display area. The tomographic imaging apparatus according to claim 5.
前記光路長の調整を行った後に、さらに前記調整手段でフォーカス位置を変化させながら前記断層画像の輝度を検出し、輝度がピークになる位置に前記調整手段で前記フォーカス位置の調整をすることを特徴とする請求項6に記載の断層画像撮像装置。   After the adjustment of the optical path length, the brightness of the tomographic image is further detected while the focus position is changed by the adjustment means, and the focus position is adjusted by the adjustment means at a position where the brightness reaches a peak. The tomographic imaging apparatus according to claim 6, wherein 光源からの光を参照光と測定光とに分岐し、前記測定光を被検査物に照射することにより得られる戻り光と前記参照光との干渉光に基づき断層画像を生成する断層画像撮像装置の制御方法であって、
前記参照光を遮光手段により遮光し、
前記遮光手段で前記参照光を遮光した状態で前記測定光を前記被検査物に照射することにより得られる戻り光の強度を検出手段により検出し、
前記検出手段で検出された前記戻り光の強度に基づいて、前記測定光のフォーカス位置を調整手段により調整することを特徴とする断層画像撮像装置の制御方法。
A tomographic imaging apparatus for branching light from a light source into reference light and measurement light, and generating a tomographic image based on interference light between return light obtained by irradiating the object to be inspected with the measurement light and the reference light Control method,
Shielding the reference light by a light shielding means;
The detection means detects the intensity of the return light obtained by irradiating the inspection light with the measurement light in a state where the reference light is shielded by the light shielding means,
A method for controlling a tomographic imaging apparatus, comprising: adjusting a focus position of the measurement light based on an intensity of the return light detected by the detection means;
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