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JP2016012796A - フィルタ、デュプレクサおよびモジュール。 - Google Patents

フィルタ、デュプレクサおよびモジュール。 Download PDF

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JP2016012796A JP2014132939A JP2014132939A JP2016012796A JP 2016012796 A JP2016012796 A JP 2016012796A JP 2014132939 A JP2014132939 A JP 2014132939A JP 2014132939 A JP2014132939 A JP 2014132939A JP 2016012796 A JP2016012796 A JP 2016012796A
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鉄 李
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Abstract

【課題】通過帯域外の減衰特性を向上させること。
【解決手段】入力端子Inと出力端子Outとの間に直列に接続された1または複数の直列共振器Sと、前記入力端子と前記出力端子との間に並列に接続された1または複数の並列共振器Pと、前記入力端子または前記出力端子の少なくとも一方に一端が接続された第1インダクタL1と、前記1または複数の並列共振器の少なくとも1つの並列共振器のグランド側の端子に一端が接続された第2インダクタL2と、前記第1インダクタの他端と前記第2インダクタの他端とを接続する第1ノードN1と、グランドと、の間に接続された第3インダクタL3と、を具備するフィルタ。
【選択図】図1

Description

本発明は、フィルタ、デュプレクサおよびモジュールに関し、例えばラダー型フィルタ、ラダー型フィルタを含むデュプレクサおよびモジュールに関する。
近年、携帯電話機等の移動通信端末の小型化および軽量化の要求にともない、移動通信端末に搭載される部品の小型化および軽量化が要求されている。さらに、複数の機能を備えた部品も要求されている。このような状況において、通過帯域外の減衰量が大きいフィルタやデュプレクサが開発されている。移動通信端末に用いられるフィルタとしてラダー型フィルタがある。
特許文献1および2には、ラダー型フィルタの複数の並列共振器のグランド側に接続された複数のインダクタを共通なノードに接続し、このノードとグランドとの間に、インダクタを接続することが記載されている。
特開2010−177770号公報 特開2012−231437号公報
並列共振器とグランドとの間にインダクタを設けることにより、通過帯域外の減衰量を大きくできる。しかしながら、減衰量の向上は十分ではない。
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、通過帯域外の減衰量を向上させることを目的とする。
本発明は、入力端子と出力端子との間に直列に接続された1または複数の直列共振器と、前記入力端子と前記出力端子との間に並列に接続された1または複数の並列共振器と、前記入力端子または前記出力端子の少なくとも一方に一端が接続された第1インダクタと、前記1または複数の並列共振器の少なくとも1つの並列共振器のグランド側の端子に一端が接続された第2インダクタと、前記第1インダクタの他端と前記第2インダクタの他端とを接続する第1ノードと、グランドと、の間に接続された第3インダクタと、を具備することを特徴とするフィルタである。
上記構成において、前記少なくとも1つの並列共振器のうち少なくとも2つに前記第2インダクタの一端が接続されており、前記第2インダクタを共通に接続する第2ノードと前記第1ノードとの間に接続された第4インダクタを具備する構成とすることができる。
上記構成において、前記第1インダクタは、前記入力端子と前記第1ノードとの間と、前記出力端子と前記第1ノードとの間と、のいずれか一方に接続されている構成とすることができる。
上記構成において、前記1または複数の直列共振器と前記1または複数の並列共振器とが形成された第1基板と、前記第1基板を搭載し、前記第1インダクタ、前記第2インダクタおよび前記第3インダクタが形成された第2基板と、を具備する構成とすることができる。
本発明は、共通端子と送信端子との間の接続された送信フィルタと、前記共通端子と受信端子との間に接続された受信フィルタと、を具備し、前記送信フィルタおよび前記受信フィルタの少なくとも一方は、上記フィルタであることを特徴とするデュプレクサである。
上記構成において、前記第1インダクタは、前記共通端子と前記第1ノードとに接続されている構成とすることができる。
本発明は、上記フィルタを含むことを特徴とするモジュールである。
本発明によれば、通過帯域外の減衰量を向上させることができる。
図1(a)および図1(b)は、実施例1に係るフィルタの回路図である。 図2は、実施例1の変形例1に係るデュプレクサの回路図である。 図3(a)は、実施例1の変形例1および比較例1における送信フィルタの減衰特性を示す図であり、図3(b)は、送信端子から受信端子へのアイソレーション特性を示す図である。 図4は、実施例1の変形例2に係るデュプレクサの回路図である。 図5(a)は、実施例1の変形例2および比較例2における送信フィルタの減衰特性を示す図であり、図5(b)は、送信端子から受信端子へのアイソレーション特性を示す図である。 図6(a)および図6(b)は、実施例2に係るフィルタの回路図である。 図7は、実施例2の変形例1に係るデュプレクサの回路図である。 図8(a)は、実施例2の変形例1および比較例3における送信フィルタの減衰特性を示す図であり、図8(b)は、送信端子から受信端子へのアイソレーション特性を示す図である。 図9(a)は、実施例3に係るデュプレクサのブロック図であり、図9(b)は、断面図である。 図10(a)から図10(e)は、パッケージ基板の各層の平面図(その1)である。 図11(a)から図11(d)は、パッケージ基板の各層の平面図(その2)である。 図12は、積層基板に搭載されたチップの表面を上から透過した平面図である。 図13は、積層基板に搭載された別のチップの表面を上から透過した平面図である。 図14は、実施例4に係るモジュールを含むシステムのブロック図である。
以下、図面を参照し、本発明の実施例について説明する。
図1(a)および図1(b)は、実施例1に係るフィルタの回路図である。図1(a)に示すように、入力端子Tinと出力端子Toutとの間に1または複数の直列共振器Sが接続されている。入力端子Tinと出力端子Toutとの間に1または複数の並列共振器Pが接続されている。直列共振器Sおよび並列共振器Pの個数および/または接続方法は任意に設定できる。出力端子ToutとノードN1との間に共振器SおよびPを介さずインダクタL1が接続されている。並列共振器Pの少なくとも1つの共振器とノードN1との間にインダクタL2が接続されている。ノードN1とグランドとの間にインダクタL3が接続されている。インダクタL1は、例えば出力端子Toutのインピーダンスを整合させるためのものである。
図1(b)に示すように、入力端子TinとノードN1との間にインダクタL1が共振器SおよびPを介さず接続されている。インダクタL1は、例えば入力端子Tinのインピーダンスを整合させるためのものである。その他の構成は図1(a)と同じであり説明を省略する。
実施例1において、インダクタL1は、入力端子Tinと出力端子Toutの両方に接続されていてもよい。インダクタL2は、並列共振器Pの全てに接続されていてもよいが、一部に接続されていてもよい。ノードN1には、全ての並列共振器Pが接続されていてもよいが、一部が接続されていてもよい。インダクタL2は複数の並列共振器Pごとに設けられていてもよい。インダクタL2は、複数の並列共振器Pに対し1つ設けられていてもよい。
実施例1の変形例1として、バンド4のデュプレクサの送信フィルタに実施例1に係るフィルタを用い、減衰特性およびアイソレーション特性をシミュレーションした。バンド4の送信帯域は1710MHzから1755MHz、受信帯域は2110MHzから2155MHzである。
図2は、実施例1の変形例1に係るデュプレクサの回路図である。図2に示すように、共通端子Antと送信端子Txとの間に送信フィルタ12が接続されている。共通端子Antは送信フィルタ12の出力端子に相当し、送信端子Txは送信フィルタ12の入力端子に相当する。共通端子Antと受信端子Rxとの間に受信フィルタ14が接続されている。送信フィルタ12において、共通端子Antと送信端子Txとの間に直列共振器S1からS4が直列に接続されている。共通端子Antと送信端子Txとの間に並列共振器P1からP3が並列に接続されている。共通端子AntとノードN1との間にインダクタL1が接続されている。並列共振器P1とノードN1との間にインダクタL21が接続されている。並列共振器P2およびP3とグランドとの間に、それぞれインダクタL22およびL23が接続されている。ノードN1とグランドとの間にインダクタL3が接続されている。
インダクタL1、L21およびL3のインダクタンスは、それぞれ2.5nH、2.2nHおよび0.01nHである。インダクタL22およびL23のインダクタンスは、受信帯域において減衰量が大きくなるよう最適化している。
比較例1として、図2においてインダクタL3を設けず、インダクタL1およびL21を直接接地した。各インダクタのインダクタンスは、受信帯域において減衰量が大きくなるよう最適化している。
図3(a)は、実施例1の変形例1および比較例1における送信フィルタの減衰特性を示す図であり、図3(b)は、送信端子から受信端子へのアイソレーション特性を示す図である。図3(a)に示すように、実施例1の変形例1は、比較例1に比べ、送信フィルタ12の通過帯域外の周波数において減衰量が大きくなる。受信帯域においても減衰量が大きい。図3(b)に示すように、受信帯域において、実施例1の変形例1は、比較例1に比べ、アイソレーション特性が向上している。
実施例1の変形例2として、バンド8のデュプレクサの送信フィルタに実施例1に係るフィルタを用い、減衰特性およびアイソレーション特性をシミュレーションした。バンド8の送信帯域は880MHzから915MHz、受信帯域は925MHzから960MHzである。
図4は、実施例1の変形例2に係るデュプレクサの回路図である。図4に示すように、送信フィルタ12において、共通端子Antと送信端子Txとの間に直列共振器S1からS5が直列に接続されている。共通端子Antと送信端子Txとの間に並列共振器P1からP4が並列に接続されている。送信端子TxとノードN1との間にインダクタL1が接続されている。並列共振器P2とノードN1との間にインダクタL22が接続されている。並列共振器P1、P3およびP4とグランドとの間に、それぞれインダクタL21、L23およびL24が接続されている。ノードN1とグランドとの間にインダクタL3が接続されている。その他の構成は実施例1の変形例1と同じであり説明を省略する。
インダクタL1、L22およびL3のインダクタンスは、それぞれ33nH、1.9nHおよび0.4nHである。インダクタL21、L23およびL24のインダクタンスは、受信帯域において減衰量が大きくなるよう最適化している。
比較例2として、図4においてインダクタL3を設けず、インダクタL1およびL22を直接接地した。各インダクタのインダクタンスは、受信帯域において減衰量が大きくなるよう最適化している。
図5(a)は、実施例1の変形例2および比較例2における送信フィルタの減衰特性を示す図であり、図5(b)は、送信端子から受信端子へのアイソレーション特性を示す図である。図5(a)に示すように、実施例1の変形例2は、比較例2に比べ、送信フィルタ12の通過帯域外の周波数において減衰量が大きくなる。受信帯域においても減衰量が大きい。図5(b)に示すように、受信帯域において、実施例1の変形例2は、比較例2に比べ、アイソレーション特性が向上している。
実施例1によれば、インダクタL1(第1インダクタ)の一端は入力端子Tinと出力端子Toutとの少なくとも一方に接続され、他端はノードN1(第1ノード)に接続されている。インダクタL2(第2インダクタ)の一端は並列共振器Pの少なくとも1つの並列共振器のグランド側の端子に接続され、他端はノードN1に接続されている。インダクタL3(第3インダクタ)は、ノードN1とグランドとの間に接続されている。このように、インダクタL1からL3を用いることにより、フィルタの通過帯域外の減衰量を大きくできる。
このように、実施例1において、減衰特性を向上できる理由は明確ではないが、インダクタL1およびL2を介し信号をフィードバックできるためと考えられる。
図6(a)および図6(b)は、実施例2に係るフィルタの回路図である。図6(a)に示すように、並列共振器Pに接続されたインダクタL2は、共通にノードN2に接続されている。ノードN2とN1との間にインダクタL4が接続されている。その他の構成は、図1(a)と同じであり、説明を省略する。
図6(b)に示すように、並列共振器Pに接続されたインダクタL2は、共通にノードN2に接続されている。ノードN2とN1との間にインダクタL4が接続されている。その他の構成は、図1(b)と同じであり、説明を省略する。
実施例2において、並列共振器Pのうち少なくとも2つにインダクタL2が接続されていればよい。インダクタL2のうち少なくとも2つがノードN2に接続されていればよい。ノードN2は複数設けられ、インダクタL4が複数設けられていてもよい。
実施例2の変形例1として、バンド1のデュプレクサの送信フィルタに実施例2に係るフィルタを用い、減衰特性およびアイソレーション特性をシミュレーションした。バンド1の送信帯域は1920MHzから1980MHz、受信帯域は2110MHzから2170MHzである。
図7は、実施例2の変形例1に係るデュプレクサの回路図である。図7に示すように、送信フィルタ12において、共通端子Antと送信端子Txとの間に直列共振器S1からS5が直列に接続されている。共通端子Antと送信端子Txとの間に並列共振器P1からP4が並列に接続されている。共通端子AntとノードN1との間にインダクタL1が接続されている。並列共振器P1およびP2とノードN2との間に、それぞれインダクタL21およびL22が接続されている。並列共振器P3およびP4とグランドとの間に、それぞれインダクタL23およびL24が接続されている。ノードN2とN1との間にインダクタL4が接続されている。ノードN1とグランドとの間にインダクタL3が接続されている。その他の構成は実施例1の変形例1と同じであり説明を省略する。
インダクタL1、L3およびL4のインダクタンスは、それぞれ2.7nH、0.01nHおよび0.7nHである。インダクタL21からL24のインダクタンスは、受信帯域において減衰量が大きくなるよう最適化している。
比較例3として、図7においてインダクタL3を設けず、インダクタL1およびL4を直接接地した。各インダクタのインダクタンスは、受信帯域において減衰量が大きくなるよう最適化している。
図8(a)は、実施例2の変形例1および比較例3における送信フィルタの減衰特性を示す図であり、図8(b)は、送信端子から受信端子へのアイソレーション特性を示す図である。図8(a)に示すように、実施例2の変形例1は、比較例3に比べ、送信フィルタ12の通過帯域外の周波数において減衰量が大きくなる。受信帯域においても減衰量が大きい。図8(b)に示すように、受信帯域において、実施例2の変形例1は、比較例3に比べ、アイソレーション特性が向上している。
実施例2によれば、並列共振器Pのうち少なくとも2つにインダクタL2の接続されている。インダクタL2は共通にノードN2(第2ノード)に接続されている。インダクタL4は、ノードN1とノードN2との間に接続されている。このように、インダクタL4を設けた場合も通過帯域外の減衰量を大きくできる。
実施例3は、積層基板内にインダクタを形成する例である。図9(a)は、実施例3に係るデュプレクサのブロック図である。図9(a)に示すように、共通端子Antと送信端子Txとの間に送信フィルタ12が接続されている。共通端子Antと受信端子Rxとの間に受信フィルタ14が接続されている。送信フィルタ12と受信フィルタ14とが共通に接続するノードN3と共通端子Antとの間のノードとノードN1との間にインダクタL1が接続されている。送信フィルタ12のグランドの少なくとも一部とノードN1との間にインダクタL2が接続されている。ノードN1とグランドGndとの間にインダクタL3が接続されている。
図9(b)は、実施例3に係るデュプレクサの断面図である。積層基板20は、積層された複数の層21から28を備えている。層21から28は、セラミックス層または樹脂層等の絶縁層である。積層基板20の上面にはパッド44が形成され、積層基板20の下面にはフットパッド46が形成されている。パッド44およびフットパッド46は、金、銅またはアルミニウム等の金属膜である。積層基板20の上面のパッド44にチップ32および34がバンプ36を介しフリップチップ実装されている。チップ32および34には、それぞれ送信フィルタ12および受信フィルタ14が形成されている。チップ32および34は、1つのチップでもよい。すなわち、送信フィルタ12および受信フィルタ14は同じチップに形成されていてもよい。バンプ36は、例えば金バンプまたは半田バンプである。
図10(a)から図11(d)は、パッケージ基板の各層の平面図である。図10(a)から図11(c)は、それぞれ層21から28の上面の平面図であり、図11(d)は、層28の下面を上から透視した平面図である。図10(a)に示すように、層21上にはパッド44が形成されている。層21を貫通するビア金属42が形成されている。パッド44は、送信パッドPtx、アンテナパッドPant、受信パッドPrxおよびグランドパッドPgndを含む。
図10(b)から図11(c)に示すように、層22から層28上に金属膜40が形成されている。金属膜40は、配線を形成する。層22から28を貫通するようにビア金属42が形成されている。金属膜40およびビア金属42は、金、銅またはアルミニウム等の金属膜である。
図11(d)に示すように、層28下にはフットパッド46が形成されている。フットパッド46は、送信フットパッドFtx、アンテナフットパッドFant、受信フットパッドFrxおよびグランドフットパッドFgndを含む。送信フットパッドFtx、アンテナフットパッドFant、受信フットパッドFrx、グランドフットパッドFgndは、それぞれ図9(a)の送信端子Tx、共通端子Ant、受信端子RxおよびグランドGndに相当する。
図10(b)から図11(b)に示した配線またはビア金属L1aからL1fがインダクタL1に相当する。配線またはビア金属L2aからL2fがインダクタL2に相当する。図11(b)のように、層27において、配線L1fとL2fとはノードN1において接続する。ノードN1に配線L3aが接続される。図11(b)および図11(c)のように、配線L3aのノードN1と反対側の端は、ビア金属42を介し層28のグランド配線Lgndに接続される。配線L3aがインダクタL3に相当する。
グランド配線Lgndは、層28を貫通するビア金属42を介しグランドフットパッドFgndに電気的に接続される。パッドPtx、PrxおよびPantは、それぞれフットパッドFtx、FrxおよびFantに電気的に接続される。
図12は、積層基板に搭載されたチップの表面を上から透過した平面図である。チップ32の表面(図9(b)に示したチップ32の下面)には金属膜48が形成されている。直列共振器S1からS3および並列共振器P1からP2は、弾性表面波共振器であり、金属膜48により形成された櫛型電極を有する。パッドPPant、PPtx、PPgnd1およびPPgnd2は、金属膜48により形成されている。直列共振器S1からS3はパッドPPantとPPtxとの間に形成されている。並列共振器P1およびP2はパッドPPgnd1およびPPgnd2に接続されている。パッドPPant、PPtx、PPgnd1およびPPgnd2は、バンプ36を介しそれぞれ層21上のパッドPant、Ptx、PgndおよびPgnd´に接続されている。
図13は、積層基板に搭載された別のチップの表面を上から透過した平面図である。チップ32の表面には共振領域45および金属膜48が形成されている。共振領域45は、圧電膜を挟み下部電極と上部電極とが対向した領域である。直列共振器S1からS3および並列共振器P1からP2は、共振領域45を有する圧電薄膜共振器である。その他の構成は図12と同じであり説明を省略する。
実施例3のように、チップ32および34(第1基板)の少なくとも一方が搭載された積層基板20(第2基板)にインダクタL1からL3の少なくとも1つを形成することができる。実施例2に係るフィルタの場合、インダクタL4を積層基板30に形成してもよい。
送信フィルタ12および受信フィルタ14を備えるデュプレクサにおいて、送信フィルタ12および受信フィルタ14の少なくとも一方を、実施例1または2のフィルタとすることができる。これにより、実施例1または2のフィルタの相手方の通過帯域における減衰量を向上できる。また、アイソレーション特性を向上できる。
また、実施例3のように、インダクタL1は、デュプレクサの共通端子AntとノードN1との間に接続されている整合回路用のインダクタとすることができる。
直列共振器および並列共振器としては、図12のように弾性表面波共振器、または図13のように圧電薄膜共振器を用いることができる。また、直列共振器および並列共振器として、弾性境界波共振器またはラブ波共振器を用いることもできる。
実施例4は、実施例1および2のフィルタ、または実施例3のデュプレクサを有するモジュールの例である。図14は、実施例4に係るモジュールを含むシステムのブロック図である。図14に示すように、システムは、モジュール50、集積回路52およびアンテナ54を備えている。モジュール50は、ダイプレクサ70、スイッチ76、デュプレクサ60およびパワーアンプ66を備えている。ダイプレクサ70は、ローパスフィルタ(LPF)72およびハイパスフィルタ(HPF)74を備えている。LPF72は、端子71と73との間に接続されている。HPF74は、端子71と75との間に接続されている。端子71はアンテナ54に接続されている。LPF72は、アンテナ54から送受信される信号のうち低周波信号を通過させ、高周波数信号を抑圧する。HPF74は、アンテナ54から送受信される信号のうち高周波信号を通過させ、低周波数信号を抑圧する。
スイッチ76は端子73を複数の端子61のうち1つの端子に接続する。デュプレクサ60は、送信フィルタ62および受信フィルタ64を備えている。送信フィルタ62は、端子61と63との間に接続されている。受信フィルタ64は、端子61と65との間に接続されている。送信フィルタ62は送信帯域の信号を通過させ、他の信号を抑圧する。受信フィルタ64は、受信帯域の信号を通過させ、他の信号を抑圧する。パワーアンプ66は、送信信号を増幅し、端子63に出力する。ローノイズアンプ68は端子65に出力された受信信号を増幅する。
デュプレクサ60の送信フィルタ62および受信フィルタ64の少なくとも一方に実施例1または2のフィルタを用いることができる。実施例3のフィルタまたはデュプレクサを用いる場合、モジュール50が有する基板を実施例3の積層基板20とすることができる。
実施例4では、モジュールの例として、移動通信端末用のフロントエンドモジュールを例に説明したが、他の種類のモジュールでもよい。
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明はかかる特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
12 送信フィルタ
14 受信フィルタ
20 積層基板
21−28 層
32、34 チップ
36 バンプ

Claims (7)

  1. 入力端子と出力端子との間に直列に接続された1または複数の直列共振器と、
    前記入力端子と前記出力端子との間に並列に接続された1または複数の並列共振器と、
    前記入力端子または前記出力端子の少なくとも一方に一端が接続された第1インダクタと、
    前記1または複数の並列共振器の少なくとも1つの並列共振器のグランド側の端子に一端が接続された第2インダクタと、
    前記第1インダクタの他端と前記第2インダクタの他端とを接続する第1ノードと、グランドと、の間に接続された第3インダクタと、
    を具備することを特徴とするフィルタ。
  2. 前記少なくとも1つの並列共振器のうち少なくとも2つに前記第2インダクタが接続されており、
    前記第2インダクタの他端を共通に接続する第2ノードと前記第1ノードとの間に接続された第4インダクタを具備することを特徴とする請求項1記載のフィルタ。
  3. 前記第1インダクタは、前記入力端子と前記第1ノードとの間と、前記出力端子と前記第1ノードとの間と、のいずれか一方に接続されていることを特徴とする請求項1または2記載のフィルタ。
  4. 前記1または複数の直列共振器と前記1または複数の並列共振器とが形成された第1基板と、
    前記第1基板を搭載し、前記第1インダクタ、前記第2インダクタおよび前記第3インダクタが形成された第2基板と、
    を具備することを特徴とする請求項1または2記載のフィルタ。
  5. 共通端子と送信端子との間の接続された送信フィルタと、
    前記共通端子と受信端子との間に接続された受信フィルタと、
    を具備し、
    前記送信フィルタおよび前記受信フィルタの少なくとも一方は、請求項1から4のいずれか一項記載のフィルタであることを特徴とするデュプレクサ。
  6. 前記第1インダクタは、前記共通端子と前記第1ノードとに接続されていることを特徴とする請求項5記載のデュプレクサ。
  7. 請求項1から4のいずれか一項記載のフィルタを含むことを特徴とするモジュール。
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