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JP2016012580A - Film forming apparatus and film forming method - Google Patents

Film forming apparatus and film forming method Download PDF

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JP2016012580A
JP2016012580A JP2014131993A JP2014131993A JP2016012580A JP 2016012580 A JP2016012580 A JP 2016012580A JP 2014131993 A JP2014131993 A JP 2014131993A JP 2014131993 A JP2014131993 A JP 2014131993A JP 2016012580 A JP2016012580 A JP 2016012580A
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JP
Japan
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substrate
stage
nozzle head
top frame
film forming
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JP2014131993A
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Japanese (ja)
Inventor
裕司 岡本
Yuji Okamoto
裕司 岡本
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Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a film forming apparatus which prevents a substrate held on a stage from being floated and is capable of preventing a nozzle head from being damaged.SOLUTION: The stage holds the substrate thereon. The nozzle head is disposed at an upper side of the stage and discharges droplets towards the substrate held on the stage. A movement mechanism moves one of the substrate held on the stage and the nozzle head toward the other in a direction parallel to a top face of the substrate. A lift mechanism lifts the stage relatively to the nozzle head. When the substrate is moved up, a top frame disposed at the upper side of the stage is brought into contact with an outer peripheral part of the top face of the substrate and presses the outer peripheral part of the substrate onto the stage.

Description

本発明は、ステージに保持された基板に向けて、ノズルヘッドから膜材料を液滴化して吐出することにより膜を形成する膜形成装置、及び膜形成方法に関する。   The present invention relates to a film forming apparatus and a film forming method for forming a film by forming a film material into droplets from a nozzle head and discharging them toward a substrate held on a stage.

ノズルヘッドから膜材料を液滴化して吐出して、基板の表面に、所定のパターンを有する膜を形成する技術が知られている(例えば、特許文献1)。膜を形成すべき対象物は、例えばプリント基板であり、膜材料はソルダーレジストである。   A technique for forming a film having a predetermined pattern on the surface of a substrate by discharging a film material from a nozzle head and discharging it is known (for example, Patent Document 1). The object on which the film is to be formed is, for example, a printed board, and the film material is a solder resist.

膜材料を液滴化して吐出する際には、基板がステージ上に真空チャック等によって固定される。形成される膜の解像度を高めるために、基板とノズルヘッドとの間隔を狭めることが好ましい。   When the film material is discharged as droplets, the substrate is fixed on the stage by a vacuum chuck or the like. In order to increase the resolution of the film to be formed, it is preferable to reduce the distance between the substrate and the nozzle head.

特開2004−104104号公報JP 2004-104104 A

プリント基板は、樹脂及び金属薄膜が積層された構造を有するため、これらの熱膨張係数の相違により、反りが発生する。真空チャックによりプリント基板を吸引しても、基板の反りに起因して基板の縁がステージから浮き上がってしまう場合がある。ステージから浮き上がった部分の高さが、プリント基板とノズルヘッドとの間隔の設定値を超えると、ノズルヘッドの直下にプリント基板を移動させるときに、ノズルヘッドがプリント基板に接触してしまう。   Since the printed circuit board has a structure in which a resin and a metal thin film are laminated, warpage occurs due to the difference in the thermal expansion coefficient. Even when the printed circuit board is sucked by the vacuum chuck, the edge of the circuit board may be lifted off the stage due to the warping of the circuit board. If the height of the part floating from the stage exceeds the set value of the interval between the printed board and the nozzle head, the nozzle head comes into contact with the printed board when the printed board is moved directly below the nozzle head.

基板の縁を押さえるクランプ機構をステージ上に取り付けることにより、基板の浮き上がりを解消することが可能である。例えば、クランプを上昇させ、その下に基板を配置した後、クランプを下降させることにより、基板の浮き上がり部分を押さえ付けることができる。この構造では、クランプが上昇した状態でクランプがノズルヘッドの直下に移動すると、クランプがノズルヘッドに接触し、ノズルヘッドが損傷する危険性がある。   By mounting a clamp mechanism for holding the edge of the substrate on the stage, it is possible to eliminate the floating of the substrate. For example, the raised portion of the substrate can be pressed by raising the clamp, placing the substrate underneath, and then lowering the clamp. In this structure, when the clamp moves up directly below the nozzle head in a state where the clamp is raised, there is a risk that the clamp contacts the nozzle head and the nozzle head is damaged.

本発明の目的は、ステージに保持した基板の浮き上がりを防止するとともに、ノズルヘッドの損傷を回避することが可能な膜形成装置、及び膜形成方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a film forming apparatus and a film forming method capable of preventing a substrate held on a stage from being lifted and avoiding damage to a nozzle head.

本発明の一観点によると、
基板を保持するステージと、
前記ステージの上方に配置され、前記ステージに保持された前記基板に向けて液滴を吐出するノズルヘッドと、
前記ステージに保持された前記基板と、前記ノズルヘッドとの一方を他方に対して前記基板の上面に平行な方向に移動させる移動機構と、
前記ステージを前記ノズルヘッドに対して昇降させる昇降機構と、
前記ステージの上方に配置され、前記基板を上昇させたときに、前記基板の上面の外周部に接触して前記基板の外周部を前記ステージに押し付けるトップフレームと
を有する膜形成装置が提供される。
According to one aspect of the invention,
A stage for holding a substrate;
A nozzle head that is disposed above the stage and discharges droplets toward the substrate held on the stage;
A moving mechanism for moving one of the substrate held on the stage and the nozzle head in a direction parallel to the upper surface of the substrate with respect to the other;
An elevating mechanism for elevating the stage relative to the nozzle head;
There is provided a film forming apparatus that includes a top frame that is disposed above the stage and has a top frame that contacts the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate and presses the outer peripheral portion of the substrate against the stage when the substrate is raised. .

本発明の他の観点によると、
ステージに基板を載せて上昇させ、前記基板の上面の外周部を、前記ステージの上方に配置されて高さが固定されたトップフレームに接触させることにより、前記基板の外周部を下方に押し付けて、前記基板の反りを解消する工程と、
前記基板の反りを解消した状態で、前記基板の上面に、ノズルヘッドから滴化を吐出し、前記液滴を前記基板に塗布する工程と
を有する膜形成方法が提供される。
According to another aspect of the invention,
Place the substrate on the stage and raise it, and press the outer peripheral part of the substrate downward by bringing the outer peripheral part of the upper surface of the substrate into contact with the top frame that is arranged above the stage and has a fixed height. Removing the warpage of the substrate;
There is provided a film forming method including a step of discharging droplets from a nozzle head onto the upper surface of the substrate in a state in which the warpage of the substrate is eliminated, and applying the droplets to the substrate.

トップフレームが基板の外周部をステージに押し付けることにより、基板の浮き上がりを解消することができる。トップフレームを昇降させる代わりに、ステージを昇降させるため、トップフレームとノズルヘッドとの接触によるノズルヘッドの損傷を回避することができる。   When the top frame presses the outer peripheral portion of the substrate against the stage, it is possible to eliminate the floating of the substrate. Since the stage is raised and lowered instead of raising and lowering the top frame, damage to the nozzle head due to contact between the top frame and the nozzle head can be avoided.

図1は、実施例による膜形成装置の概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram of a film forming apparatus according to an embodiment. 図2Aは、トップフレームの平面図であり、図2B及び図2Cは、図2Aの一点鎖線2−2における断面図である。2A is a plan view of the top frame, and FIGS. 2B and 2C are cross-sectional views taken along one-dot chain line 2-2 in FIG. 2A. 図3は、実施例による膜形成方法のフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart of the film forming method according to the embodiment. 図4Aは、比較例による膜形成装置のステージに保持した基板の縁の近傍の断面図であり、図4B及び図4Cは、実施例による膜形成装置のステージに保持した基板の縁の近傍の断面図である。4A is a cross-sectional view of the vicinity of the edge of the substrate held on the stage of the film forming apparatus according to the comparative example, and FIGS. 4B and 4C are views of the vicinity of the edge of the substrate held on the stage of the film forming apparatus according to the embodiment. It is sectional drawing. 図5は、他の実施例による膜形成装置のトップフレーム、及びトップフレームの下方に配置されているステージ及び基板の平面図である。FIG. 5 is a plan view of a top frame of a film forming apparatus according to another embodiment, and a stage and a substrate disposed below the top frame. 図6Aは、図5に示した実施例による膜形成装置に用いられている可動部の端部の斜視図であり、図6Bは、可動部と固定部との連係箇所の斜視図である。6A is a perspective view of an end portion of a movable portion used in the film forming apparatus according to the embodiment shown in FIG. 5, and FIG. 6B is a perspective view of a link portion between the movable portion and the fixed portion. 図7は、さらに他の実施例による膜形成装置のトップフレーム、及びトップフレームの下方に配置されているステージ及び基板の平面図である。FIG. 7 is a plan view of a top frame of a film forming apparatus according to still another embodiment, and a stage and a substrate disposed below the top frame. 図8A及び図8Bは、図7の一点鎖線8−8における断面図である。8A and 8B are cross-sectional views taken along one-dot chain line 8-8 in FIG. 図9は、図7に示した実施例による膜形成装置に用いられている第1の可動部と第2の可動部との連係箇所、及び第1の部材と第2の部材との連結箇所の斜視図である。FIG. 9 is a connection portion between the first movable portion and the second movable portion used in the film forming apparatus according to the embodiment shown in FIG. 7 and a connection portion between the first member and the second member. FIG.

図1に、実施例による膜形成装置の概略図を示す。基台10の上に、移動機構11及び昇降機構12によりステージ13が支持されている。ステージ13の上面に、基板15が保持されている。基板15は、例えば真空チャックにより、ステージ13の上面に吸着される。水平面をxy面とし、鉛直方向をz方向とするxyz直交座標系を定義する。移動機構11は、ステージ13を、x方向及びy方向に移動させることができる。昇降機構12は、ステージ13を基台10に対してz方向に昇降させる。   FIG. 1 shows a schematic diagram of a film forming apparatus according to an embodiment. A stage 13 is supported on the base 10 by a moving mechanism 11 and an elevating mechanism 12. A substrate 15 is held on the upper surface of the stage 13. The substrate 15 is attracted to the upper surface of the stage 13 by, for example, a vacuum chuck. An xyz orthogonal coordinate system in which the horizontal plane is the xy plane and the vertical direction is the z direction is defined. The moving mechanism 11 can move the stage 13 in the x direction and the y direction. The elevating mechanism 12 elevates the stage 13 with respect to the base 10 in the z direction.

ステージ13の上方にトップフレーム18が配置されている。昇降機構12を動作させてステージ13を昇降させるとき、基台10に対するトップフレーム18の相対位置は変化せず、その高さは一定である。   A top frame 18 is disposed above the stage 13. When the elevating mechanism 12 is operated to move the stage 13 up and down, the relative position of the top frame 18 with respect to the base 10 does not change and its height is constant.

ステージ13の上方に、ノズルヘッド20が支持されている。ノズルヘッド20は、ヘッド用昇降機構21により、基台10に対して昇降可能である。ノズルヘッド20は、ステージ13に保持された基板15に向けて、複数のノズル孔から膜材料を液滴化して吐出する。基板15に塗布された液状の膜材料を硬化することにより、膜が形成される。例えば、膜材料として紫外線硬化性の樹脂が用いられ、基板15に塗布された膜材料に紫外線
を照射することにより、膜材料を硬化させることができる。
A nozzle head 20 is supported above the stage 13. The nozzle head 20 can be moved up and down with respect to the base 10 by a head lifting mechanism 21. The nozzle head 20 discharges the film material into droplets from a plurality of nozzle holes toward the substrate 15 held on the stage 13. A film is formed by curing the liquid film material applied to the substrate 15. For example, an ultraviolet curable resin is used as the film material, and the film material can be cured by irradiating the film material applied to the substrate 15 with ultraviolet light.

移動機構11を動作させることにより、ステージ13に保持された基板15を、基板15の上面に平行なx方向及びy方向に移動させることができる。なお、ステージ13を移動させる代わりに、ノズルヘッド20をx方向及びy方向に移動させてもよい。または、ステージ13をy方向に移動させ、ノズルヘッド20をx方向に移動させてもよい。上述のように、移動機構11として、ステージ13に保持された基板15と、ノズルヘッド20との一方を他方に対して基板15の上面に平行な方向に移動させる機構を採用してもよい。   By operating the moving mechanism 11, the substrate 15 held on the stage 13 can be moved in the x and y directions parallel to the upper surface of the substrate 15. Instead of moving the stage 13, the nozzle head 20 may be moved in the x direction and the y direction. Alternatively, the stage 13 may be moved in the y direction and the nozzle head 20 may be moved in the x direction. As described above, a mechanism that moves one of the substrate 15 held on the stage 13 and the nozzle head 20 in the direction parallel to the upper surface of the substrate 15 as the other may be employed as the moving mechanism 11.

制御装置23が、移動機構11、昇降機構12、ノズルヘッド20、及びヘッド用昇降機構21を制御する。制御装置23に、形成すべき膜の平面形状を定義する画像データが記憶されている。制御装置23が、画像データに基づいて、移動機構11及びノズルヘッド20を制御することにより、所望の平面形状を有する膜を形成することができる。   The control device 23 controls the moving mechanism 11, the lifting mechanism 12, the nozzle head 20, and the head lifting mechanism 21. The control device 23 stores image data that defines the planar shape of the film to be formed. The control device 23 can form a film having a desired planar shape by controlling the movement mechanism 11 and the nozzle head 20 based on the image data.

図2Aに、トップフレーム18の平面図を示す。トップフレーム18の下方に配置されているステージ13及び基板15を破線で示している。トップフレーム18は長方形の開口部19を有する。トップフレーム18の内周側の縁(開口部19の縁)は、長方形の基板15の縁よりやや内側、例えば5mm程度内側に位置する。このため、トップフレーム18の内周側の縁を、基板15の上面の外周部に接触させることができる。   FIG. 2A shows a plan view of the top frame 18. The stage 13 and the substrate 15 disposed below the top frame 18 are indicated by broken lines. The top frame 18 has a rectangular opening 19. The inner peripheral edge of the top frame 18 (the edge of the opening 19) is located slightly inside the edge of the rectangular substrate 15, for example, about 5 mm inside. For this reason, the inner peripheral edge of the top frame 18 can be brought into contact with the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate 15.

図2B及び図2Cに、図2Aの一点鎖線2−2における断面図を示す。図2Bに、ステージ13を下降させた状態の断面図を示す。ステージ13の上面に基板15が保持されている。基板15の反りに起因して、基板15の縁が、ステージ13の上面から浮き上がっている。基板15の縁は、開口部19の縁よりもやや外側に位置する。   2B and 2C are cross-sectional views taken along one-dot chain line 2-2 in FIG. 2A. FIG. 2B shows a cross-sectional view of the stage 13 lowered. A substrate 15 is held on the upper surface of the stage 13. Due to the warpage of the substrate 15, the edge of the substrate 15 is lifted from the upper surface of the stage 13. The edge of the substrate 15 is located slightly outside the edge of the opening 19.

図2Cに、ステージ13を上昇させた状態の断面図を示す。昇降機構12を動作させてステージ13を上昇させると、基板15の上面の外周部が、トップフレーム18に接触する。トップフレーム18の高さは固定されているため、基板15の外周部がステージ13に押し付けられる。これにより、基板15の縁の浮き上がりが解消する。   FIG. 2C shows a cross-sectional view of the stage 13 in the raised state. When the elevating mechanism 12 is operated to raise the stage 13, the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate 15 contacts the top frame 18. Since the height of the top frame 18 is fixed, the outer periphery of the substrate 15 is pressed against the stage 13. Thereby, the rising of the edge of the substrate 15 is eliminated.

次に、図3を参照して、実施例による膜形成方法について説明する。なお、必要に応じて、図1を参照する。   Next, with reference to FIG. 3, the film forming method according to the embodiment will be described. In addition, FIG. 1 is referred as needed.

図3に、実施例による膜形成方法のフローチャートを示す。まず、ステップS1において、昇降機構12(図1)を動作させてステージ13(図1)を下降させる。この状態で、ステージ13とトップフレーム18(図2B)との間に、基板15を挿入するための十分な空間が確保される。ステップS2において、基板15(図2B)をステージ13に保持させる。基板15の搬入には、例えばロボットアームが用いられる。   FIG. 3 shows a flowchart of the film forming method according to the embodiment. First, in step S1, the elevating mechanism 12 (FIG. 1) is operated to lower the stage 13 (FIG. 1). In this state, a sufficient space for inserting the substrate 15 is secured between the stage 13 and the top frame 18 (FIG. 2B). In step S2, the substrate 15 (FIG. 2B) is held on the stage 13. For example, a robot arm is used to carry in the substrate 15.

ステップS3において、ステージ13を上昇させ、図2Cに示したように、基板15の縁の浮き上がりを解消する。ステップS4において、ステージ13(図1)をy方向に移動させながら、ノズルヘッド20の複数のノズル孔から膜材料を液滴化して吐出することにより、基板15の上面に膜材料を塗布する。形成すべき膜の平面形状を定義する画像データに基づいて、ノズル孔からの吐出タイミングを制御することにより、所望の形状の領域に膜材料が塗布される。液状の膜材料に紫外線を照射することにより、膜材料を硬化させ、膜を形成する。紫外線は、例えば、ノズルヘッド20の脇に取り付けられた光源から基板15に向かって放射される。   In step S3, the stage 13 is raised to eliminate the lifting of the edge of the substrate 15 as shown in FIG. 2C. In step S <b> 4, the film material is applied to the upper surface of the substrate 15 by moving the stage 13 (FIG. 1) in the y direction and discharging the film material from a plurality of nozzle holes of the nozzle head 20. A film material is applied to a region having a desired shape by controlling the discharge timing from the nozzle hole based on image data defining the planar shape of the film to be formed. By irradiating the liquid film material with ultraviolet rays, the film material is cured to form a film. For example, the ultraviolet rays are emitted toward the substrate 15 from a light source attached to the side of the nozzle head 20.

ステップS5において、ステージ13(図1)を下降させる。ステップS6において、
ステージ13が下降した状態で、基板15をステージ13から搬出する。未処理の基板が残っている場合には、ステップS2に戻り、次の基板に対する膜形成処理を実行する。全ての基板の処理が終了した場合には、膜形成処理を終了する。
In step S5, the stage 13 (FIG. 1) is lowered. In step S6
The substrate 15 is unloaded from the stage 13 with the stage 13 lowered. If an unprocessed substrate remains, the process returns to step S2 to execute a film forming process for the next substrate. When all the substrates have been processed, the film forming process ends.

図4A〜図4Cを参照して、上記実施例の優れた効果について説明する。図4A〜図4Cは、基板15の縁の近傍の断面図を示す。   With reference to FIG. 4A-FIG. 4C, the outstanding effect of the said Example is demonstrated. 4A to 4C are sectional views in the vicinity of the edge of the substrate 15.

図4Aに、比較例による膜形成装置のステージ13に基板15を保持した状態の断面図を示す。比較例においては、トップフレーム18(図1)が配置されていない。基板15の反りに起因して、基板15の縁がステージ13の上面から浮き上がっている。基板15の縁とステージ13の上面との間隔が大きい場合には、真空チャックによって基板15の縁をステージ13に吸着することが困難である。基板15の縁が浮き上がった状態で、ステージ13をy方向に移動させると、基板15の浮き上がった縁がノズルヘッド20に接触してしまう場合がある。   FIG. 4A shows a cross-sectional view of a state in which the substrate 15 is held on the stage 13 of the film forming apparatus according to the comparative example. In the comparative example, the top frame 18 (FIG. 1) is not disposed. Due to the warpage of the substrate 15, the edge of the substrate 15 is lifted from the upper surface of the stage 13. When the distance between the edge of the substrate 15 and the upper surface of the stage 13 is large, it is difficult to adsorb the edge of the substrate 15 to the stage 13 by a vacuum chuck. If the stage 13 is moved in the y direction while the edge of the substrate 15 is lifted, the lifted edge of the substrate 15 may come into contact with the nozzle head 20.

図4Bに、実施例による膜形成装置において、ステップS2(図3)の直後のステージ13、基板15、及びトップフレーム18の断面図を示す。基板15の縁がステージ13の上面から浮き上がっている。基板15の浮き上がった縁の上方にトップフレーム18が配置されている。トップフレーム18の上面は、ノズルヘッド20の下端よりも低い。   FIG. 4B is a cross-sectional view of the stage 13, the substrate 15, and the top frame 18 immediately after step S2 (FIG. 3) in the film forming apparatus according to the embodiment. The edge of the substrate 15 is lifted from the upper surface of the stage 13. A top frame 18 is disposed above the raised edge of the substrate 15. The upper surface of the top frame 18 is lower than the lower end of the nozzle head 20.

図4Cに、実施例による膜形成装置において、ステップS3(図3)の直後のステージ13、基板15、及びトップフレーム18の断面図を示す。昇降機構12を動作させてステージ13を上昇させることにより、トップフレーム18によって基板15の縁がステージ13に押し付けられる。このため、基板15の縁の浮き上がりが解消する。   FIG. 4C shows a cross-sectional view of the stage 13, the substrate 15, and the top frame 18 immediately after step S3 (FIG. 3) in the film forming apparatus according to the embodiment. By operating the lifting mechanism 12 to raise the stage 13, the edge of the substrate 15 is pressed against the stage 13 by the top frame 18. For this reason, lifting of the edge of the substrate 15 is eliminated.

昇降機構12を動作させてステージ13を上昇させるとき、トップフレーム18の高さは固定されたままである。このため、基板15とノズルヘッド20との接触を防止することができる。ノズルヘッド20とトップフレーム18との高さ方向の間隔Gを約0.1mmに固定し、トップフレーム18の厚さHを約0.3mmにすれば、基板15とノズルヘッド20との間隔を約0.4mmに設定することが可能である。   When operating the elevating mechanism 12 to raise the stage 13, the height of the top frame 18 remains fixed. For this reason, the contact between the substrate 15 and the nozzle head 20 can be prevented. If the gap G in the height direction between the nozzle head 20 and the top frame 18 is fixed to about 0.1 mm, and the thickness H of the top frame 18 is set to about 0.3 mm, the gap between the substrate 15 and the nozzle head 20 is reduced. It can be set to about 0.4 mm.

基板15を押し付けるためのクランプ等をステージ13に対して昇降させる場合には、クランプが上昇した状態でノズルヘッド20とクランプとが接触する危険性がある。実施例においては、トップフレーム18がノズルヘッド20に対して昇降しないため、操作ミス等があったとしても、ノズルヘッド20とトップフレーム18との接触事故が発生する危険性は低い。   When a clamp or the like for pressing the substrate 15 is moved up and down with respect to the stage 13, there is a risk that the nozzle head 20 and the clamp come into contact with each other while the clamp is raised. In the embodiment, since the top frame 18 does not move up and down with respect to the nozzle head 20, even if there is an operation mistake or the like, the risk of occurrence of a contact accident between the nozzle head 20 and the top frame 18 is low.

トップフレーム18は、基板15の上面のうち、膜を形成しない外周部の領域と接触している。このため、トップフレーム18は、基板15への膜形成の阻害要因にはならない。基板15とトップフレーム18とが接触している領域の幅Wは、基板15の上面の外周部分のうち膜を形成しない領域の幅よりも小さくなるように決定される。一例として、幅Wは5mm以下にされる。また、幅Wが小さくなりすぎると、基板15を安定して押さえ付けることができない。基板15を安定して押さえ付けるために、幅Wを1mm以上にすることが好ましい。   The top frame 18 is in contact with an outer peripheral region of the upper surface of the substrate 15 where no film is formed. For this reason, the top frame 18 does not become an obstacle to film formation on the substrate 15. The width W of the region where the substrate 15 and the top frame 18 are in contact is determined to be smaller than the width of the region where no film is formed in the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate 15. As an example, the width W is 5 mm or less. If the width W is too small, the substrate 15 cannot be stably pressed down. In order to hold down the substrate 15 stably, the width W is preferably set to 1 mm or more.

図5に、他の実施例による膜形成装置のトップフレーム18、及びトップフレーム18の下方に配置されているステージ13及び基板15の平面図を示す。以下、図1〜図4Cに示した実施例との相違点について説明し、同一の構成については説明を省略する。   FIG. 5 is a plan view of the top frame 18 of the film forming apparatus according to another embodiment, and the stage 13 and the substrate 15 disposed below the top frame 18. Hereinafter, differences from the embodiment shown in FIGS. 1 to 4C will be described, and description of the same configuration will be omitted.

図5に示した実施例では、トップフレーム18が、固定部30と可動部31とを含む。
固定部30は、図2Aに示した実施例のトップフレーム18と同一の平面形状を有する。可動部31は、開口部19の1つの辺(図5においてy軸に平行な辺)から、それに対向する辺まで達している。また、可動部31は、可動部31が連係している開口部19の辺に平行な方向(図5においてy方向)に移動可能である。
In the embodiment shown in FIG. 5, the top frame 18 includes a fixed portion 30 and a movable portion 31.
The fixing part 30 has the same planar shape as the top frame 18 of the embodiment shown in FIG. 2A. The movable portion 31 extends from one side of the opening 19 (a side parallel to the y axis in FIG. 5) to a side facing it. The movable portion 31 is movable in a direction parallel to the side of the opening 19 with which the movable portion 31 is linked (y direction in FIG. 5).

基板15は開口部19より小さい。このため、固定部30の内周側の縁で基板15の外周部の全体を押さえ付けることができない。トップフレーム18の固定部30が、基板15の上面の外周部の一部分に接触し、可動部31が、基板15の上面の外周部の他の一部分に接触する。具体的には、長方形の基板15の相互に隣り合う2つの辺に、固定部30が接触し、他の1つの辺に、可動部31が接触する。残りの1つの辺には、トップフレーム18が接触しない。基板15の3つの辺をステージ13に押さえ付けることにより、基板15の反りを解消し、基板15の全域をステージ13に吸着することができる。   The substrate 15 is smaller than the opening 19. For this reason, the entire outer peripheral portion of the substrate 15 cannot be pressed by the inner peripheral edge of the fixed portion 30. The fixed part 30 of the top frame 18 contacts a part of the outer peripheral part of the upper surface of the substrate 15, and the movable part 31 contacts another part of the outer peripheral part of the upper surface of the substrate 15. Specifically, the fixed portion 30 contacts two adjacent sides of the rectangular substrate 15, and the movable portion 31 contacts the other one side. The top frame 18 does not contact the remaining one side. By pressing the three sides of the substrate 15 against the stage 13, the warpage of the substrate 15 can be eliminated and the entire area of the substrate 15 can be adsorbed to the stage 13.

図6Aに、可動部31の一方の端部の斜視図を示す。他方の端部も同様の構造を有する。可動部31は、x方向に長い平板状の主部32、及び主部32の端部に設けられた連係部33を含む。連係部33の一部分が、主部32の端部からx方向に突出している。連係部33の上面が、主部32の底面と同じ高さに配置される。連係部33のy方向の寸法は、主部32のy方向の寸法(幅)より小さい。このため、主部32は連係部33よりもy方向に突出している。   FIG. 6A shows a perspective view of one end of the movable portion 31. The other end also has a similar structure. The movable portion 31 includes a flat plate-like main portion 32 that is long in the x direction, and a linkage portion 33 provided at an end of the main portion 32. A part of the linkage portion 33 protrudes from the end portion of the main portion 32 in the x direction. The upper surface of the linkage portion 33 is disposed at the same height as the bottom surface of the main portion 32. The dimension of the linkage part 33 in the y direction is smaller than the dimension (width) of the main part 32 in the y direction. For this reason, the main part 32 protrudes in the y direction from the linkage part 33.

図6Bに、可動部31と固定部30との連係箇所の斜視図を示す。主部32の端面が、固定部30の内周側の側面に接触し、連係部33が、固定部30の下に挿入される。これにより、可動部31の上方への移動が禁止され、基板15に対して下向きの力を印加することが可能になる。連係部33の上面が主部32の底面と同じ高さになるため、主部32の底面と、固定部30の底面とは、同一平面上に位置する(面一になる)。このため、固定部30の底面と可動部31の主部32の底面との両方が、基板15の上面の外周部に接触する。   FIG. 6B shows a perspective view of a link location between the movable portion 31 and the fixed portion 30. The end surface of the main portion 32 contacts the side surface on the inner peripheral side of the fixed portion 30, and the linkage portion 33 is inserted under the fixed portion 30. As a result, the upward movement of the movable portion 31 is prohibited, and a downward force can be applied to the substrate 15. Since the upper surface of the linkage portion 33 is the same height as the bottom surface of the main portion 32, the bottom surface of the main portion 32 and the bottom surface of the fixing portion 30 are located on the same plane (being flush with each other). For this reason, both the bottom surface of the fixed portion 30 and the bottom surface of the main portion 32 of the movable portion 31 are in contact with the outer peripheral portion of the top surface of the substrate 15.

図5〜図6Bに示した実施例では、可動部31を固定部30に対して移動させることにより、種々の大きさの基板15に対応することが可能である。   In the embodiment shown in FIGS. 5 to 6B, the movable portion 31 can be moved with respect to the fixed portion 30 to cope with the substrates 15 of various sizes.

図7に、さらに他の実施例による膜形成装置のトップフレーム18、及びトップフレーム18の下方に配置されているステージ13及び基板15の平面図を示す。以下、図5〜図6Bに示した実施例との相違点について説明し、同一の構成については説明を省略する。   FIG. 7 shows a plan view of a top frame 18 of a film forming apparatus according to still another embodiment, and a stage 13 and a substrate 15 arranged below the top frame 18. Hereinafter, differences from the embodiment shown in FIGS. 5 to 6B will be described, and description of the same configuration will be omitted.

図7に示した実施例においては、トップフレーム18が固定部30及び可動部31以外に、他の可動部34を含む。以下、可動部31を「第1の可動部」といい、可動部34を「第2の可動部」ということとする。第2の可動部34は、開口部19の1つの辺(図5においてx軸に平行な上側の辺)から、第1の可動部31まで達しており、第1の可動部31に平行な方向(図5においてx方向)に移動可能である。第2の可動部34は、図5に示した実施例において、トップフレーム18で押さえ付けられていなかった基板15の1つの辺(図7において左側の辺)接触し、基板15をステージ13に押さえつける。   In the embodiment shown in FIG. 7, the top frame 18 includes another movable part 34 in addition to the fixed part 30 and the movable part 31. Hereinafter, the movable part 31 is referred to as a “first movable part”, and the movable part 34 is referred to as a “second movable part”. The second movable portion 34 extends from one side of the opening 19 (upper side parallel to the x axis in FIG. 5) to the first movable portion 31 and is parallel to the first movable portion 31. It can move in the direction (x direction in FIG. 5). In the embodiment shown in FIG. 5, the second movable portion 34 contacts one side (the left side in FIG. 7) of the substrate 15 that has not been pressed by the top frame 18, and the substrate 15 is brought into contact with the stage 13. Press down.

図8Aに、図7の一点鎖線8−8における断面図を示す。ステージ13の上に基板15が保持されている。固定部30が、基板15の右側の縁をステージ13に押し付け、第1の可動部31が、基板15の左側の縁をステージ13に押し付けている。第2の可動部34が、固定部30から第1の可動部31まで達する。第1の可動部31がy方向に移動すると、可動部34は、第1の可動部31の移動に応じて伸縮する。   FIG. 8A is a cross-sectional view taken along one-dot chain line 8-8 in FIG. A substrate 15 is held on the stage 13. The fixed portion 30 presses the right edge of the substrate 15 against the stage 13, and the first movable portion 31 presses the left edge of the substrate 15 against the stage 13. The second movable part 34 reaches from the fixed part 30 to the first movable part 31. When the first movable part 31 moves in the y direction, the movable part 34 expands and contracts according to the movement of the first movable part 31.

第2の可動部34は、固定部30に連係する第1の部材35と、第1の可動部31に連係する第2の部材36とを含む。第1の部材35の底面に第1の溝37が形成されている。第1の溝37は、第1の部材35の第1の可動部31側の端部(図8Aにおいて左端)から、第1の部材35の長さ方向(y方向)に延びる。第2の部材36が、第1の部材35の左端から第1の溝37内に挿入されている。第1の部材35への第2の部材36の挿入の深さは可変である。図8Bに示すように、基板15の大きさに応じて第1の可動部31をy方向に移動させると、第1の部材35への第2の部材36の挿入の深さが変化し、第2の可動部34が伸縮する。   The second movable part 34 includes a first member 35 linked to the fixed part 30 and a second member 36 linked to the first movable part 31. A first groove 37 is formed on the bottom surface of the first member 35. The first groove 37 extends in the length direction (y direction) of the first member 35 from the end portion of the first member 35 on the first movable portion 31 side (left end in FIG. 8A). The second member 36 is inserted into the first groove 37 from the left end of the first member 35. The depth of insertion of the second member 36 into the first member 35 is variable. As shown in FIG. 8B, when the first movable portion 31 is moved in the y direction according to the size of the substrate 15, the depth of insertion of the second member 36 into the first member 35 changes, The second movable part 34 expands and contracts.

第2の部材36の左端近傍の底面に、第2の溝38が形成されている。第2の溝38はx方向に延び、第2の部材36の一方の側面から他方の側面まで達する。第1の可動部31は、第2の溝38に挿入されて、第2の部材36をx方向に貫通している。第1の可動部31が第2の溝38に挿入された状態で、第2の部材36を第1の可動部31に対してx方向に移動させることができる。   A second groove 38 is formed on the bottom surface near the left end of the second member 36. The second groove 38 extends in the x direction and reaches from one side surface of the second member 36 to the other side surface. The first movable portion 31 is inserted into the second groove 38 and penetrates the second member 36 in the x direction. With the first movable portion 31 inserted in the second groove 38, the second member 36 can be moved in the x direction with respect to the first movable portion 31.

第1の部材35の右端(固定部30に連係している端部)の構造は、図6Aに示した第1の可動部31の端部の構造と同一である。   The structure of the right end of the first member 35 (the end linked to the fixed portion 30) is the same as the structure of the end of the first movable portion 31 shown in FIG. 6A.

図9に、第1の可動部31と第2の可動部34との連係箇所、及び第1の部材35と第2の部材36との連結箇所の斜視図を示す。図9においては、天地が逆転されて表されており、第1の可動部31及び第2の可動部34の底面が上方を向いている。   FIG. 9 is a perspective view of a link location between the first movable portion 31 and the second movable portion 34 and a connection location between the first member 35 and the second member 36. In FIG. 9, the top and bottom are shown reversed, and the bottom surfaces of the first movable portion 31 and the second movable portion 34 face upward.

第1の部材35の底面に第1の溝37が形成され、第1の溝37に第2の部材36が挿入されている。第1の溝37の、y軸に直交する断面形状は、第2の部材36の、y軸に直交する断面形状に整合する。第1の溝37及び第2の部材36の断面は、第1の部材35に対する第2の部材36のy方向への移動を許容するが、y軸と直交する方向への移動を禁止する形状を有する。   A first groove 37 is formed on the bottom surface of the first member 35, and a second member 36 is inserted into the first groove 37. The cross-sectional shape of the first groove 37 perpendicular to the y-axis matches the cross-sectional shape of the second member 36 perpendicular to the y-axis. The cross sections of the first groove 37 and the second member 36 allow the movement of the second member 36 in the y direction with respect to the first member 35, but prohibit the movement in the direction perpendicular to the y axis. Have

第2の部材36の底面に第2の溝38が形成され、第2の溝38に第1の可動部31が挿入されている。第2の溝38の、x軸に直交する断面形状は、第1の可動部31の、x軸に直交する断面形状に整合する。第2の溝38及び第1の可動部31の断面は、第1の可動部31に対する第2の部材36のx方向への移動を許容するが、x軸と直交する方向への移動を禁止する形状を有する。   A second groove 38 is formed on the bottom surface of the second member 36, and the first movable portion 31 is inserted into the second groove 38. The cross-sectional shape perpendicular to the x-axis of the second groove 38 matches the cross-sectional shape perpendicular to the x-axis of the first movable portion 31. The cross sections of the second groove 38 and the first movable portion 31 allow the second member 36 to move in the x direction with respect to the first movable portion 31, but prohibit the movement in the direction perpendicular to the x axis. Have a shape to

第1の可動部31、第1の部材35、及び第2の部材36の底面は、同一平面上に位置する(面一である)。これらの底面が基板15(図8A、図8B)の上面の外周部に接触することにより、基板15の縁をステージ13(図1)に押し付けることができる。   The bottom surfaces of the first movable portion 31, the first member 35, and the second member 36 are located on the same plane (they are flush). When these bottom surfaces come into contact with the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate 15 (FIGS. 8A and 8B), the edge of the substrate 15 can be pressed against the stage 13 (FIG. 1).

図5に示した実施例では、トップフレーム18が基板15の上面の3つの辺に接触するが、残りの1つの辺には接触しない。これに対し、図7〜図9に示した実施例では、トップフレーム18が基板15の上面の4つの辺に接触する。このため、基板15をより安定してステージ13(図1)に押し付けることができる。   In the embodiment shown in FIG. 5, the top frame 18 contacts the three sides of the upper surface of the substrate 15, but does not contact the remaining one side. In contrast, in the embodiment shown in FIGS. 7 to 9, the top frame 18 contacts the four sides of the upper surface of the substrate 15. For this reason, the board | substrate 15 can be more stably pressed to the stage 13 (FIG. 1).

以上実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に自明であろう。   Although the present invention has been described with reference to the embodiments, the present invention is not limited thereto. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, improvements, combinations, and the like can be made.

10 基台
11 移動機構
12 昇降機構
13 ステージ
15 基板
18 トップフレーム
19 開口部
20 ノズルヘッド
21 ヘッド用昇降機構
30 固定部
31 可動部(第1の可動部)
32 主部
33 連係部
34 可動部(第2の可動部)
35 第1の部材
36 第2の部材
37 第1の溝
38 第2の溝
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Base 11 Moving mechanism 12 Elevating mechanism 13 Stage 15 Board | substrate 18 Top frame 19 Opening part 20 Nozzle head 21 Elevating mechanism 30 for heads Fixed part 31 Movable part (1st movable part)
32 Main part 33 Linking part 34 Movable part (second movable part)
35 First member 36 Second member 37 First groove 38 Second groove

Claims (5)

基板を保持するステージと、
前記ステージの上方に配置され、前記ステージに保持された前記基板に向けて液滴を吐出するノズルヘッドと、
前記ステージに保持された前記基板と、前記ノズルヘッドとの一方を他方に対して前記基板の上面に平行な方向に移動させる移動機構と、
前記ステージを前記ノズルヘッドに対して昇降させる昇降機構と、
前記ステージの上方に配置され、前記基板を上昇させたときに、前記基板の上面の外周部に接触して前記基板の外周部を前記ステージに押し付けるトップフレームと
を有する膜形成装置。
A stage for holding a substrate;
A nozzle head that is disposed above the stage and discharges droplets toward the substrate held on the stage;
A moving mechanism for moving one of the substrate held on the stage and the nozzle head in a direction parallel to the upper surface of the substrate with respect to the other;
An elevating mechanism for elevating the stage relative to the nozzle head;
A film forming apparatus comprising: a top frame that is disposed above the stage and has a top frame that contacts the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate and presses the outer peripheral portion of the substrate against the stage when the substrate is raised.
前記移動機構は、前記ステージに保持された前記基板と前記トップフレームとの相対位置を固定させた状態で、前記基板と、前記ノズルヘッドとの一方を他方に対して移動させる請求項1に記載の膜形成装置。   The said moving mechanism moves one of the said board | substrate and the said nozzle head with respect to the other in the state which fixed the relative position of the said board | substrate hold | maintained at the said stage, and the said top frame. Film forming apparatus. 前記ノズルヘッドに対して前記トップフレームの高さが固定された状態で、前記昇降機構が前記ステージを上昇させる請求項1または2に記載の膜形成装置。   The film forming apparatus according to claim 1, wherein the elevating mechanism raises the stage in a state where the height of the top frame is fixed with respect to the nozzle head. 前記トップフレームは、
前記基板の上面の外周部の一部分に接触する固定部と、
前記基板の上面の外周部のうち、前記固定部が接触しない部分に接触し、前記基板の大きさに応じて移動する可動部と
を含む請求項1または2に記載の膜形成装置。
The top frame is
A fixing portion that contacts a part of the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate;
The film forming apparatus according to claim 1, further comprising: a movable portion that contacts a portion of the outer peripheral portion of the upper surface of the substrate that does not contact the fixed portion and moves according to the size of the substrate.
ステージに基板を載せて上昇させ、前記基板の上面の外周部を、前記ステージの上方に配置されて高さが固定されたトップフレームに接触させることにより、前記基板の外周部を下方に押し付けて、前記基板の反りを解消する工程と、
前記基板の反りを解消した状態で、前記基板の上面に、ノズルヘッドから膜材料を液滴化して吐出し、前記膜材料を前記基板に塗布する工程と
を有する膜形成方法。
Place the substrate on the stage and raise it, and press the outer peripheral part of the substrate downward by bringing the outer peripheral part of the upper surface of the substrate into contact with the top frame that is arranged above the stage and has a fixed height. Removing the warpage of the substrate;
A film forming method including a step of applying a film material to the substrate by discharging the film material into a droplet from a nozzle head on the upper surface of the substrate in a state in which the warpage of the substrate is eliminated.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102829363B1 (en) * 2024-10-31 2025-07-03 주식회사 비즈포스 Deep learning-based intelligent substrate inspection system
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