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JP2016012073A - 表示装置 - Google Patents

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博文 加藤
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貴之 中西
矢田 竜也
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竜也 矢田
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Abstract

【課題】高品位のパネル特性補正を回路規模の増加を抑制して行うことのできる表示装置を提供する。【解決手段】発光素子(EL)と発光素子に発光電流を供給する駆動トランジスタ(DRT)とを含み基板上にマトリクス状に配置された複数の画素部(PX)と、外部から供給される映像信号に画素部に供給するための表示用の補正を行うパネル特性補正部と、を有し、パネル特性補正部は、映像信号を発光素子の発光特性の逆特性で変換するEL特性補正部(23)と、映像信号を駆動トランジスタの駆動特性の逆特性で変換するTFT特性補正部(24)とを備える表示装置である。【選択図】図3

Description

本発明の実施形態は、表示装置に関する。
近年、薄型、軽量、低消費電力の特徴を活かして、液晶表示装置に代表される平面表示装置の需要が急速に伸びている。中でも、オン画素とオフ画素とを電気的に分離し、かつオン画素への映像信号を保持する機能を有する画素スイッチを各画素に設けたアクティブマトリクス型表示装置は、携帯情報機器を始め、種々のディスプレイに利用されている。
このような平面型のアクティブマトリクス型表示装置として、自己発光素子を用いた有機EL表示装置が注目され、盛んに研究開発が行われている。有機EL表示装置は、バックライトを必要とせず、高速な応答性から動画再生に適し、さらに低温で輝度低下しないために寒冷地での使用にも適しているという特徴を有している。
一般に、有機EL表示装置は、複数行、複数列に並んで設けられた複数の画素を備えている。各画素は、自己発光素子である有機EL素子、及び有機EL素子に駆動電流を供給する画素回路により構成され、有機EL素子の発光輝度を制御することにより表示動作を行う。
また、有機EL表示装置では、高画質の画像を再現するため映像信号に各種の補正を行っている。特許文献1には、有機EL表示装置の駆動状態を検出して各種の補正を行う技術が開示されている。
国際公開第2008/136358号
ところで、有機EL表示装置では、入力された映像信号に対して主にEL素子特性とTFT特性の補正を行うパネル特性補正ブロックが設けられている。パネル特性補正では、一般に多点直線近似によるディジタル階調補正が用いられるが、補正ポイント数が少ない場合、滑らかな補正が行われずにスジが視認されることがある。一方、表示品位の低下を防止するために補正ポイント数を増加すると、補正のための回路規模を増大させることになる。
本願発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであって、高品位のパネル特性補正を回路規模の増加を抑制して行うことのできる表示装置を提供することを目的とする。
一実施形態に係る表示装置は、発光素子と、前記発光素子に発光電流を供給する駆動トランジスタとを含み、基板上にマトリクス状に配置された複数の画素部と、外部から供給される映像信号に前記画素部に供給するための表示用の補正を行うパネル特性補正部と、を有し、前記パネル特性補正部は、前記映像信号を前記発光素子の発光特性の逆特性で変換するEL特性補正部と、前記映像信号を前記駆動トランジスタの駆動特性の逆特性で変換するTFT特性補正部とを備える。
実施形態に係る表示装置を概略的に示す平面図である。 実施形態に係る表示装置の画素回路とEL素子との構成を示す図である。 実施形態に係る表示装置のコントローラの構成と信号の接続を示す図である。 実施形態に係る表示装置のパネル特性を例示する図である。 従来の多点直線近似による補正方法を示す図である。 従来の多点直線近似によるグラデーション表示例を示す図である。 実施形態に係る表示装置のパネル特性補正の構成を説明するための図である。 実施形態に係る表示装置のTFT特性補正方法を説明するための図である。 実施形態に係る表示装置のEL特性補正方法を説明するための図である。 実施形態に係る表示装置の他の特性補正方法を説明するための図である。 実施形態に係る表示装置の他の特性補正方法を説明するための図である。
以下に、本発明の各実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。
なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の主旨を保っての適宜変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面は説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宜省略することがある。
図1は、実施形態に係る表示装置を概略的に示す平面図である。図1に示すように、表示装置は、有機ELパネル1およびこの有機ELパネル1の動作を制御するコントローラ2を備えている。
有機ELパネル1は、表示領域3、走査線駆動回路4、及び信号線駆動回路5を有する。
表示領域3は、ガラス板等の光透過性を有する絶縁基板上にマトリクス状に配列されたm×n個の表示画素PXを備えている。そして、表示画素PXの配列する行に沿ってゲート線SG(1〜m)が配置され、各表示画素PXに接続されている。また、表示画素PXの配列する列に沿ってn本の信号線SL(1〜n)が配置され、列毎の各表示画素PXに接続されている。更に、高電位電源線Pvddと、低電位電源線Pvssとが各表示画素PXに接続されている。
走査線駆動回路4は、ゲート線SG(1〜m)を表示画素PXの行毎に順次駆動する。信号線駆動回路5は、複数の信号線SL(1〜n)を駆動する。走査線駆動回路4、および信号線駆動回路5は、表示領域3の外側で絶縁基板上に一体的に形成され、コントローラ2とともに制御部を構成している。
図2は、実施形態の表示装置の画素回路とEL素子との構成を示す図である。ゲート線SG及び信号線SLで囲まれるそれぞれの表示画素PXの領域内に、それぞれRGB各色に発光するEL(Electroluminescence)素子と、それぞれのEL素子を駆動する画素回路とを備えている。なお、図2に示す画素回路は基本的な動作を説明するために簡略化して記載している。
画素回路は、サンプリングトランジスタSST、駆動トランジスタDRT、及び補助容量Csを備えている。
画素回路において、駆動トランジスタDRTの第1端子は高電位電源線Pvdd(高電位電源)と電気的に接続し、駆動トランジスタDRTの第2端子は補助容量Csを介して駆動トランジスタDRTの制御端子と電気的に接続する。また、駆動トランジスタDRTの第3端子はEL素子のアノード電極と電気的に接続し、EL素子のカソード電極は低電位電源線Pvss(低電位電源)と電気的に接続している。
そして、サンプリングトランジスタSSTの第1端子は信号線SLと電気的に接続し、サンプリングトランジスタSSTの第2端子は駆動トランジスタDRTの制御端子(第3端子)と電気的に接続し、サンプリングトランジスタSSTの制御端子はゲート線SGと電気的に接続している。ここで、ゲート線SGは、有機ELパネル1の左側に配置された走査線駆動回路4によって駆動され、信号線SLは、有機ELパネル1の上部に配置された信号線駆動回路5によって駆動される。
実施形態に係る表示装置において、駆動トランジスタDRT、サンプリングトランジスタSSTは、ここでは同一導電型、例えばNチャネル型のTFT(薄膜トランジスタ)により構成されている。また、駆動トランジスタDRTおよびサンプリングトランジスタSSTをそれぞれ構成する薄膜トランジスタは、全て同一工程、同一層構造で形成され、例えば、半導体層にIGZO、a−Si、あるいはポリシリコンを用いたトップゲート構造の薄膜トランジスタである。なお、サンプリングトランジスタSSTおよび駆動トランジスタDRTは、Nチャネル型に限らず、Pチャネル型としてもよい。駆動トランジスタDRTにPチャネル型を用いる場合は補助容量Csは高電位電源線Pvdd(高電位電源)と制御端子(第3端子)との間に電気的に接続される。
有機ELパネル1の端部に設けられたコントローラ2は、外部の信号源(不図示)から映像信号、同期信号、各種コマンド信号などを通信により取得する。コントローラ2はこれらの信号を受けて走査線駆動回路4への制御信号の生成を行うとともに、信号線駆動回路5を駆動する。信号線駆動回路5は、ディジタル映像信号をD/A変換して信号線SLにアナログの映像信号Vsigを供給する。
nライン目のゲート線SG(n)がハイレベル“H”となることで接続されたサンプリングトランジスタSSTが導通し、信号線駆動回路5から出力された映像信号Vsigは補助容量Csに書き込まれる。これによって、駆動トランジスタDRTが導通して電源であるPvdd、Pvss間に電流が流れることでEL素子が発光する。このときに流れる電流の大きさは、補助容量Csの電位、即ち映像信号Vsigに対応する。EL素子の明るさは、EL素子に流れる電流値が大きいほど明るくなり、EL電流は映像信号Vsigによって制御される。従って映像信号Vsigの電圧が高いほどEL電流が増加してEL素子は明るく発光する。
図3は、実施形態の表示装置のコントローラの構成と信号の接続を示す図である。コントローラ2は、リニアガンマ部21、画像処理部22、EL特性補正部23、TFT特性補正部24、ディザ部25、ドライブ部26、及びタイミングコントローラ27を備えている。
リニアガンマ部21は、外部信号源から入力された映像信号のガンマ特性をリニアな特性に変換する。画像処理部22は、ホワイトバランス、色温度などのカラーマネージメントに関する処理を映像信号に施す。EL特性補正部23は、EL素子の輝度−電流特性を補正する。TFT特性補正部24は、駆動トランジスタDRTの電圧−電流特性を補正する。ここで、EL特性補正部23とTFT特性補正部24とが上述のパネル特性を構成するパネル特性補正部の主たる要素である。ディザ部25は、擬似的な階調表示を処理する。ドライブ部26は、映像信号を有機ELパネル1(信号線駆動回路5)に対して出力する。タイミングコントローラ27は、外部信号源の同期信号から生成した各種タイミング信号を有機ELパネル1(走査線駆動回路4、信号線駆動回路5など)に対して出力する。
図4は、実施形態の表示装置のパネル特性を例示する図である。
図4(a)はEL素子の発光特性、即ちEL素子の輝度−電流特性を示している。EL素子は、流れる電流により発光量が定まるが、図4(a)に示すように輝度−電流特性はリニアではない。また、色(RGB)毎に特性曲線が異なる。従って、EL特性の補正は、赤(R)、緑(G)青(B)の各色毎に独立して行うことが望ましい。
図4(b)は駆動トランジスタDRTの駆動特性、即ち駆動トランジスタDRTの電圧−電流特性を示している。トランジスタ特性は非線形なため、図4(b)に示すように電圧−電流特性はリニアではない。但し、赤(R)、緑(G)青(B)の各画素で同じ画素回路を用いれば、上記駆動トランジスタDRTの特性は同じであるため、TFT特性の補正は、RGB共通の特性曲線を用いて行うことができる。
続いて、従来の多点直線近似によるディジタル階調補正について説明する。
図5は、従来の多点直線近似による補正方法を示す図である。従来方式は、補正用の特性曲線の内から離散的な複数のポイントを選び、隣接するポイント間(区間)の中間値を直線近似により求めていた。即ち、隣接する2点の座標を(xref1、YREF1)、(xref2、YREF2)としたとき、X座標で(xref1+xadr)の位置におけるY座標の近似値YAPPXを式(1)により求める。
YAPPX = YREF1 + (YREF2 - YREF1) / delta_x * xadr・・・式(1)
delta_x = xref2 - xref1
図6は、従来の多点直線近似によるグラデーション表示例を示す図である。図6(1)は、ターゲット特性(真の特性)でのグラデーション表示例を示し、図6(2)は、多点直線近似方式でのグラデーション表示例を示している。
多点直線近似による補正では、図5に示す区間の境界において近似直線の傾きが不連続に変化する。このため、図6(2)に示すようにグラデーション表示において階調スジが観測されることがある。また、ターゲット特性曲線の曲率が大きい場合、あるいは直線近似の区間の数が少ない場合には、真の値YVALUと近似値YAPPXとの差(誤差)が大きくなる。
図7は、実施形態の表示装置のパネル特性補正の構成を説明するための図である。コントローラ2では、最初にEL特性補正部23がEL素子の輝度−電流特性を補正した後、TFT特性補正部24が駆動トランジスタDRTの電圧−電流特性を補正するように2つの特性補正部に分離して構成されている。図7に示すように、変換対象である物理量(輝度、電流、電圧)を明示した場合、コントローラ2で実行される変換の順序と、画素PX内で実行される変換の順序とが対称の関係にある。このように、コントローラ2では、有機ELパネル1内での変換の動作の順序と逆の順番となるようにパネル特性補正回路を構成することによって、EL補正とTFT補正とを互いに分離独立して扱うことが可能となる。
なお、EL特性は色毎に異なるため、EL特性補正部23は色毎に異なる特性を補正するように設けられる。一方、TFT特性補正部24の特性は、同じ画素回路を使用している有機ELパネル1内では同じであると見做せるため、TFT特性補正部24は有機ELパネル1内で同一の特性を補正するように設けられる。
図8は、実施形態の表示装置のTFT特性補正方法を説明するための図である。図8は、図4(b)に示すTFT特性曲線を、基準直線に対して対称となるように変換した補正曲線Aを表している。即ち、図8は、図4(b)に示すTFT特性の逆特性を表す曲線である。これにより入力された信号はTFT特性の逆特性によって変換される。ここで、基準直線は、入力値と出力値とがリニアな関係となるように設けられている。従って、補正曲線Aに従って、入力データ(電流)を出力データ(電圧)に変換することで、駆動トランジスタDRTが流す電流は基準直線に従った値となり、TFTの特性に影響されない値となる。
図8に示す方法では、特性曲線Aの形状に応じて区間を可変とする。X座標でXREF0〜XREF16の間は特性曲線Aの傾き又は曲率が大きく、XREF17〜XREF22の間は特性曲線Aの傾き及び曲率は小さい。そのため、区間の間隔をXREF0〜XREF16の間は狭くして、特性曲線Aの曲率の大きい部分については短い間隔で補正することによって誤差の小さい近似値を得ることができる。
図9は、実施形態の表示装置のEL特性補正方法を説明するための図である。図9は、図4(a)に示すEL特性曲線を、基準直線に対して対称となるように変換した特性曲線Bを表している。即ち、図9は、図4(a)に示すEL特性の逆特性を表す曲線である。これにより入力された信号はEL特性の逆特性によって変換される。図9では、特性曲線Bの傾き、曲率に応じて5種類の区間幅(XREF0〜XREF6、XREF6〜XREF7、XREF7〜XREF16、XREF16〜XREF19、XREF19〜XREF22)に区分している。
各区間の幅を任意の値に設定できるようにすると、区間の中間ポイントを算出する時に除算器が必要になり、補正に必要な回路規模の増大と補正処理負荷の増大とが発生することが考えられる。そこで、この回路規模及び処理負荷の増大を、区間幅の設定方法を規定することにより抑制することが可能である。即ち、区間幅は、例えば多点直線近似では式(1)のdelta_xで表される。そこで区間幅を基準値の2倍(あるいは1/2倍)(nは1以上の整数)として設定することにより、乗除算をビットシフト演算によって実現することができるため、各区間内の中間ポイントを近似計算するための回路規模の増大と処理負荷の増大とを抑制することができる。
なお、有機ELパネル1に使用するEL素子の材料が変更されたとき、あるいはTFTの設計が変更されたとき、変更された特性曲線の傾き、曲率に応じて自動で区間幅を設定しても良く、手動で区間幅を設定しても良い。
図10は、実施形態の表示装置の他の特性補正方法を説明するための図である。図10に示す特性補正方法では、新たな曲線近似方式を用いる。
区間1の2つの境界点P1、P2の座標をP1(xref1、YREF1)、P2(xref2、YREF2)とする。次に、境界点P1に対してX座標が同じxref1であり、Y座標がYREF1aである点P1a(xref1、YREF1a)を設ける。そして、入力データ(xref1+xadr1)に対しては、点P1aと点P2とを結ぶ直線を用いて出力データを求める。境界点P1に対してX座標が同じxref1であり、Y座標がYREF1bである点P1b(xref1、YREF1b)を設ける。そして、入力データ(xref1+xadr2)に対しては、点P1bと点P2とを結ぶ直線を用いて出力データを求める。同様にして、入力データの増加に対応した新たな直線を用いて出力データを求める。
上述の方法は、入力データをX座標軸、出力データをY座標軸として表されるXY座標系で表される補正曲線を近似する補正方法において、X座標軸を複数の区間に分割して補正曲線上に複数の境界点を設定し、隣接する境界点P1、P2間の補正曲線を近似する際、入力データが区間の境界点P1のX座標の値(xref1)からxadrだけ増加するに対応して、境界点P1のY座標の値をxadrの比例係数倍だけ増加させた新たな境界点Qを求め、点P2と点Qとを結ぶ直線を補正曲線として用いて出力データを求める、と表現することができる。
この方法は数式を用いると、隣接する2点の座標を(xref1、YREF1)、(xref2、YREF2)としたとき、X座標で(xref1+xadr)の位置におけるY座標の近似値YAPPXを以下の式(2)により求めると表現できる。
YAPPX = (YREF1 + xadr * α) + (YREF2 - (YREF1 + xadr * α)) / delta_x * xadr
・・・式(2)
delta_x = xref2 - xref1
αは、xadrの増加に対応する比例係数(0よりも大きい)である。
ここで、式(2)の右辺をxadrについて整理すると式(3)が得られる。
YAPPX = -α * (xadr)2 / delta_x +((YREF2 - YREF1)/ delta_x +α) * xadr + YREF1
・・・式(3)
即ち、近似値YAPPXは、xadrの2次関数として表現されるため、本補正方法は、2次曲線による近似として把握することができる。また、式(3)のxadrの2次の係数は、-α / delta_xである。従って、αが大きいほど(小さいほど)補正曲線の曲率は大きく(小さく)なる。このため、αを選択することによってターゲット補正曲線に近似する精度を調整することができる。
図11は、実施形態の表示装置の他の特性補正方法を説明するための図である。図10に示す曲線は上に凸の形状であった。図11に示す曲線は下に凸の形状である。
区間3の2つの境界点P3、P4の座標をP3(xref3、YREF3)、P4(xref4、YREF4)とする。次に、境界点P3に対してX座標が同じxref3であり、Y座標がYREF3aである点P3a(xref3、YREF3a)を設ける。そして、入力データ(xref3+xadr1)に対しては、点P3aと点P4とを結ぶ直線を用いて出力データを求める。境界点P3に対してX座標が同じxref3であり、Y座標がYREF3bである点P3b(xref3、YREF3b)を設ける。そして、入力データ(xref3+xadr2)に対しては、点P3bと点P4とを結ぶ直線を用いて出力データを求める。同様にして、入力データの増加に対応した新たな直線を用いて出力データを求める。
上述の方法は、入力データをX座標軸、出力データをY座標軸として表されるXY座標系で表される補正曲線を近似する補正方法において、X座標軸を複数の区間に分割して補正曲線上に複数の境界点を設定し、隣接する境界点P3、P4間の補正曲線を近似する際、入力データが区間の境界点P3のX座標の値(xref3)からxadrだけ増加するに対応して、境界点P3のY座標の値をxadrの比例係数倍だけ減少させた新たな境界点Qを求め、点Qと点P4とを結ぶ直線を補正曲線として用いて出力データを求める、と表現することができる。
この方法は数式を用いると、隣接する2点の座標を(xref3、YREF3)、(xref4、YREF4)としたとき、X座標で(xref3+xadr)の位置におけるY座標の近似値YAPPXを以下の式(4)により求めると表現できる。
YAPPX = (YREF3 - xadr * α) + (YREF4 - (YREF3 - xadr * α)) / delta_x * xadr
・・・式(4)
delta_x = xref4 - xref3
αは、xadrの増加に対応する比例係数(0よりも大きい)である。
ここで、式(4)の右辺をxadrについて整理すると式(5)が得られる。
YAPPX = α * (xadr)2 / delta_x +((YREF4 - YREF3)/ delta_x -α) * xadr + YREF3
・・・式(5)
即ち、近似値YAPPXは、xadrの2次関数として表現されるため、本補正方法は、2次曲線による近似として把握することができる。また、式(5)のxadrの2次の係数は、α / delta_xである。従って、αが大きいほど(小さいほど)補正曲線の曲率は大きく(小さく)なる。このため、αを選択することによってターゲット補正曲線に近似する精度を調整することができる。
なお、図10、図11に示すαの選択は次の手順によって実行することができる。
(1)ターゲット補正曲線の入力データと出力データとの関係をグラフに作成する。
(2)ターゲット補正曲線の傾き、曲率から複数の区間を設定する。
(3)設定した区間ごとにターゲット補正曲線に近似する多項式を求める。
(4)求めた多項式から各区間毎に曲率を設定する。
ここで、上述の手順はマニュアルで実行しても良く、所定のプログラムを用いて自動で実行しても良く、マニュアルによる処理と自動処理とを適宜組み合わせて実行しても良い。
しかし、αを任意の値に設定し、またαの種類を増加することで、補正に必要な回路規模の増大と補正処理負荷の増大とが発生することが考えられる。そこで、この回路規模及び処理負荷の増大を、αの値を規定することにより抑制することが可能である。即ち、αを設定する際、基準値の2倍(あるいは1/2倍)(nは1以上の整数)として設定することにより、乗除算をビットシフト演算によって実現することができるため、αを演算するための回路規模の増大と処理負荷の増大とを抑制することができる。
以上、本実施の形態に係る補正方式について説明した。上述のように、本願ではEL補正とTFT補正とを独立して扱うことが可能となっている。そして、図4に示すEL特性とTFT特性とを参照すると、EL特性はTFT特性よりも補正量が少ないことがわかる。従って、有機ELパネル1に求められる特性に応じて、図3に示すコントローラ2でのパネル特性補正機能は次のように複数の態様で構成することができる。
(1)コントローラ2にEL特性補正部23とTFT特性補正部24を設け、共に図10、図11に示す曲線近似補正を実行する。
(2)コントローラ2にEL特性補正部23とTFT特性補正部24を設け、EL特性補正部23は図5に示す直線近似補正を実行し、TFT特性補正部24は図10、図11に示す曲線近似補正を実行する。
(3)コントローラ2にはTFT特性補正部24のみを設け、EL特性補正部23は設けない。TFT特性補正部24は図10、図11に示す曲線近似補正を実行する。
なお、上述の実施形態に開示された技術思想は、RGB色に発光するEL素子を用いた表示装置に限られず、白色に発光するEL素子とRGBフィルタとを組み合わせた表示装置についても適用することができる。またEL素子は有機EL素子に限られず、無機EL素子を適用することができる。
本発明の実施の形態として上述した表示装置及び表示装置の駆動方法を基にして、当業者が適宜設計変更して実施し得る全ての表示装置及び表示装置の駆動方法も、本発明の要旨を包含する限り、本発明の範囲に属する。
本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。例えば、上述の各実施形態に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除もしくは設計変更を行ったもの、又は、工程の追加、省略若しくは条件変更を行ったものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含まれる。
また、本実施形態において述べた態様によりもたらされる他の作用効果について本明細書記載から明らかなもの、又は当業者において適宜想到し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。
上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
PX…画素、SST…サンプリングトランジスタ、DRT…駆動トランジスタ、1…有機ELパネル、2…コントローラ、4…走査線駆動回路、5…信号線駆動回路、21…リニアガンマ部、22…画像処理部、23…EL特性補正部、24…TFT特性補正部。

Claims (10)

  1. 発光素子と、前記発光素子に発光電流を供給する駆動トランジスタとを含み、基板上にマトリクス状に配置された複数の画素部と、
    外部から供給される映像信号に前記画素部に供給するための表示用の補正を行うパネル特性補正部と、を有し、
    前記パネル特性補正部は、
    前記映像信号を前記発光素子の発光特性の逆特性で変換するEL特性補正部と、
    前記映像信号を前記駆動トランジスタの駆動特性の逆特性で変換するTFT特性補正部とを備える、表示装置。
  2. 前記TFT特性補正部は、前記EL特性補正部が変換した映像信号を前記駆動トランジスタの駆動特性の逆特性で変換する、請求項1に記載の表示装置。
  3. 前記TFT特性補正部は、前記逆特性を表す補正曲線に近似する曲線を用いる曲線近似法によって前記映像信号を変換し、
    前記曲線近似法は、入力データをX座標軸、出力データをY座標軸として表されるXY座標系で表される補正曲線を近似する補正方法であって、
    X座標軸を複数の区間に分割して補正曲線上に複数の境界点を設定し、隣接する境界点P1、P2間の補正曲線を近似する際、
    入力データが区間の境界点P1のX座標の値(xref1)からxadrだけ増加するのに対応して、当該区間において前記補正曲線が上に凸の場合は境界点P1のY座標の値をxadrの比例係数倍だけ増加させた新たな境界点Qを求め、当該区間において前記補正曲線が下に凸の場合は境界点P1のY座標の値をxadrの比例係数倍だけ減少させた新たな境界点Qを求め、
    点P2と点Qとを結ぶ直線を補正曲線として用いて出力データを求める、
    請求項2に記載の表示装置。
  4. 前記TFT特性補正部は、前記逆特性を表す補正曲線に近似する曲線を用いる曲線近似法によって前記映像信号を変換し、
    前記曲線近似法は、入力データをX座標軸、出力データをY座標軸として表されるXY座標系で表される補正曲線を近似する補正方法であって、
    X座標軸を複数の区間に分割して補正曲線上に複数の境界点を設定し、隣接する2点の座標を(xref1、YREF1)、(xref2、YREF2)としたとき、X座標で(xref1+xadr)の位置におけるY座標の近似値YAPPXを以下の式により求める、請求項2に記載の表示装置。
    YAPPX = (YREF1 + xadr * α) + (YREF2 - (YREF1 + xadr * α)) / delta_x * xadr
    delta_x = xref2 - xref1
    αは、xadrの増加に対応する比例係数であり、前記補正曲線が上に凸の場合は0よりも大きい値であり、前記補正曲線が下に凸の場合は0よりも小さい値である。
  5. 前記区間の幅は、基準の区間幅に対して2倍または1/2倍である請求項3又は4に記載の表示装置。
  6. 前記比例係数は、基準の比例係数に対して2倍または1/2倍である請求項3又は4に記載の表示装置。
  7. 前記EL特性補正部は、前記逆特性を表す補正曲線に近似する直線を用いる直線近似法によって前記映像信号を変換し、
    前記直線近似法は、入力データをX座標軸、出力データをY座標軸として表されるXY座標系で表される補正曲線を近似する補正方法であって、
    X座標軸を複数の区間に分割して補正曲線上に複数の境界点を設定し、隣接する境界点P1、P2間の補正曲線を近似する際、点P1とP2とを結ぶ直線を補正曲線として用いて出力データを求める、請求項3又は4に記載の表示装置。
  8. 前記区間の幅は、基準の区間幅に対して2倍または1/2倍である請求項7に記載の表示装置。
  9. 前記EL特性補正部は、前記曲線近似法によって前記映像信号を変換する、請求項3又は4に記載の表示装置。
  10. 前記EL特性補正部に代わる新たなEL特性補正部を有し、
    前記新たなEL特性補正部は、前記映像信号を変換せずに出力する、請求項1乃至6の内のいずれか1項に記載の表示装置。
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