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JP2016088978A - 導電性樹脂組成物およびそれを用いた電子部品装置 - Google Patents

導電性樹脂組成物およびそれを用いた電子部品装置 Download PDF

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JP2016088978A JP2014222312A JP2014222312A JP2016088978A JP 2016088978 A JP2016088978 A JP 2016088978A JP 2014222312 A JP2014222312 A JP 2014222312A JP 2014222312 A JP2014222312 A JP 2014222312A JP 2016088978 A JP2016088978 A JP 2016088978A
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崇広 秋月
Takahiro Akizuki
崇広 秋月
美江 藤森
Yoshie Fujimori
美江 藤森
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Abstract

【課題】粘度の経時変化や導電粉の沈降が抑制され、導電性、接着性、作業性に優れる導電性樹脂組成物、およびこのような導電性樹脂組成物を用いた信頼性の高い電子部品装置を提供する。【解決手段】(A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)硬化促進剤と、(D)導電粉と、(E)メタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%である微細シリカとを必須成分として含有する導電性樹脂組成物およびそれを用いた電子部品装置。【選択図】図1

Description

本発明は、半導体素子を金属フレームなどに接着、固定する際に用いられる導電性樹脂組成物およびそれを用いた電子部品装置に関する。
高度情報化社会の拡大とエレクトロニクス産業の著しい発展に伴い、トランジスタ、IC・LSI、LED等の半導体素子は、集積度が増大し、より高い熱放散性や信頼性が求められている。また、エレクトロニクス製品は、利便性および可搬性の要求から、より小型化や高性能化が求められ、これに従い、関連部品や半導体素子にも軽薄短小やコストダウンが要求されている。さらに、半導体素子と金属フレームとを接合するダイボンディング用の導電性樹脂組成物に対しても、導電性、接着性、作業性などの基本的な特性に加えて、高い信頼性とコストダウンが求められるようになってきた。
一般的に、導電性樹脂組成物は、ペースト状であり、銀粉を高配合することにより導電性を発現するものである。しかしながら、銀は高価であり、かつ、比重が10.5と重い。そのため、銀は、導電性樹脂組成物中で沈降しやすいという潜在的な問題を抱えていた。この問題に応えるべく、近年では、銀粉を配合した導電性樹脂組成物にかわり、軽量で安価な銀被覆粒子を配合した導電性樹脂組成物が提案されている。
例えば、シリカ粒子の表面を銀で被覆した銀被覆シリカ粒子を含む導電粉末と、有機バインダー樹脂と、有機溶剤とを含有する導電性ペースト(特許文献1参照)や、バインダーとフィラー粒子とを含み、フィラー粒子の少なくとも一部がメッキされた導電性組成物(特許文献2参照)が提案されている。また、アスペクト比(T(平均厚み)/D50)が0.3〜1.0であるフレーク状の銀被覆粒子を含む導電性組成物(特許文献3参照)が提案されている。
他方、微細シリカを添加することによって導電性組成物の物性改良を行うことが提案されている。例えば、微細シリカ粉末を含む導電性ペースト(特許文献4参照)や、疎水化された微細溶融シリカを含む導電性ペースト組成物(特許文献5参照)が提案されている。また、疎水性シリカを添加することによって接着性樹脂組成物の粘度の経時変化を抑制すること(特許文献6)が提案されている。
特開2012−79457号公報 特表2010−539650号公報 国際公開第2012/118061号 特開平5−331355号公報 特開平9−53049号公報 特開平10−287854号公報
しかし、特許文献1および特許文献2に開示される導電性材料では、接着強度不足や導電性不足など、接着剤として必ずしも十分な特性が得られていない。また、特許文献3に開示される導電性組成物に含まれる銀被覆粒子は、フレーク状であるために、粒子角部に銀を被覆しづらく、体積抵抗が高くなる。さらに、フレーク状の銀被覆粒子は、銀を均一に被覆することが難しく、銀の被覆量が多くなるために、比重が重くなる。こうしたことから、導電性組成物全体の重量が増加するとともに、銀被覆粒子は導電性組成物中で沈降しやすい。
特許文献4に開示される導電性ペーストでは、親水性シリカによる耐ブリーディング性の改良、特許文献5に開示される導電性ペースト組成物では、疎水性シリカによる埋め込み性の改良(特許文献5参照)などにとどまる。また、特許文献6に開示される接着性樹脂組成物では、初期粘度の増加が大きくなるため、当該接着性樹脂組成物を導電ペーストに適用する場合には作業性が悪くなってしまうという欠点がある。
本発明は、このような課題に対処してなされたものであり、粘度の経時変化や導電粉の沈降が抑制され、導電性、接着性、作業性に優れる導電性樹脂組成物、およびこのような導電性樹脂組成物を用いた信頼性の高い電子部品装置を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ねた結果、特定の微細シリカを必須成分として含む導電性樹脂組成物が、上記の目的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明の導電性樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)硬化促進剤と、(D)導電粉と、(E)メタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%である微細シリカとを必須成分として含有する導電性樹脂組成物である。
本発明によれば、粘度の経時変化や導電粉の沈降が抑制され、導電性、接着性、作業性に優れる導電性樹脂組成物を提供することができる。また、本発明によれば、上記の特性を有する導電性樹脂組成物を用いて、半導体素子を接着および固定することで、信頼性に優れた電子部品装置を提供することができる。
本発明の電子部品装置の一例を示す断面図である。
本発明の導電性樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)硬化促進剤、(D)導電粉および(E)微細シリカを必須成分として含有する。(E)微細シリカは、メタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%である。
本発明の導電性樹脂組成物に含まれる(A)成分であるエポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のグリシジル基を有するものであれば、いかなるエポキシ樹脂も使用することが出来る。
(A)成分であるエポキシ樹脂の具体例としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、エーテルまたはポリエーテル型エポキシ樹脂、エステルまたはポリエステル型エポキシ樹脂、ウレタン型エポキシ樹脂、多官能型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族エポキシ樹脂、水添型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、エチレンオキサイド変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂、プロピレンオキサイド変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂、グリシジル変性ポリブタジエン樹脂、グリシジル変性トリアジン樹脂、シリコーン変性エポキシ樹脂、アミノフェノール型エポキシ樹脂、可とう性エポキシ樹脂、メタクリル変性エポキシ樹脂、アクリル変性エポキシ樹脂、特殊変性エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、側鎖水酸基アルキル変性エポキシ樹脂、長鎖アルキル変性エポキシ樹脂、イミド変性エポキシ樹脂、CTBN変性エポキシ樹脂などが挙げられるが、これらに限定されない。
エポキシ樹脂は常温で液状であることが好ましいが、常温で固体であっても、他の液状のエポキシ樹脂や反応性希釈剤、溶剤などにより溶解し、液状で用いることができる。
ビスフェノール型エポキシ樹脂の市販品としてはjER1001、jER1002、jER1003、jER1004、jER1009、YL983U及びYL980(三菱化学製 商品名)などが挙げられる。
これらのエポキシ樹脂は、1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。
また、本発明の導電性樹脂組成物には、応力緩和性や密着性などをさらに改善する目的で、上記(A)成分以外の樹脂成分を配合してもよい。配合可能な樹脂としては、例えば、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリブタジエン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂、シリコーン樹脂、ポリウレタン樹脂、キシレン樹脂などが挙げられる。これらの樹脂は1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。本発明の導電性樹脂組成物が(A)成分であるエポキシ樹脂以外の他の樹脂を含む場合、エポキシ樹脂100質量部に対して、他の樹脂を50質量部まで配合することができる。
本発明の導電性樹脂組成物は(B)硬化剤を含む。(B)成分である硬化剤は、(A)成分であるエポキシ樹脂を硬化するものであれば、いかなるものでも使用できる。(B)成分である硬化剤の具体例としては、例えば、フェノール樹脂、アミン化合物、潜在性アミン化合物、ジシアンジアミド、カチオン化合物、酸無水物などが挙げられる。硬化性、接着性の観点から、ジシアンジアミドやフェノール樹脂がより好ましい。これらの硬化剤は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
(B)成分である硬化剤の配合量は、上記エポキシ樹脂を有効に硬化できればよく、特に制限されるものではない。(B)成分である硬化剤の配合量は、例えば使用される硬化剤の種類に応じた範囲が好ましい。硬化剤がフェノール樹脂の場合、硬化剤の配合量は、(A)成分であるエポキシ樹脂100質量部に対して、10〜300質量部が好ましい。
本発明の導電性樹脂組成物には、(C)成分である硬化促進剤が配合される。(C)成分である硬化促進剤としては、従来、エポキシ樹脂の硬化促進剤として使用されているものであれば特に制限されず、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。(C)成分である硬化促進剤の具体例としては、例えば、イミダゾール系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、トリフェニルホスフィン系硬化促進剤、ジアザビシクロ系硬化促進剤、ウレア系硬化促進剤、ボレート塩系硬化促進剤、ポリアミド系硬化促進剤などが挙げられる。硬化性および接着性の観点から、イミダゾール系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤が好ましく、イミダゾール系硬化促進剤であることがより好ましい。
イミダゾール系硬化促進剤の具体例としては、例えば、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−メチル−4−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−1H−イミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、2,4−ジアミノ−6−[2′−メチルイミダゾリル−(1′)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2′−ウンデシルイミダゾリル−(1′)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2′−メチルイミダゾリル−(1′)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、などが挙げられる。
また、アミン系硬化促進剤の具体例としては、例えば、エチレンジアミン、トリメチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、ジエチレントリアミン、1,4−ジアザビシクロ(2,2,2)オクタン(トリエチレンジアミン)、N,N,N′,N′−テトラメチルヘキサメチレンジアミンなどの脂肪族アミン類;ピペリジン、ピペラジン、メンタンジアミン、3,9−ビス(3−アミノプロピル)−2,4,8,10−テトラオキシスピロ(5,5)ウンデカンアダクト、N−アミノエチルピペラジン、トリメチルアミノエチルピペラジン、1,8−ジアザビシクロ(4,5,0)ウンデセン−7などの脂環式および複素環式アミン類;o−フェニレンジアミン、ジアミノジフェニルメタン、m−キシレンジアミン、ピリジン、ピコリン等の芳香族アミン類;エポキシ化合物付加ポリアミン三フッ化ホウ素−ピペリジン錯体;三フッ化ホウ素−モノエチルアミン錯体などが挙げられる。
硬化促進剤は、硬化性の観点から、イミダゾール系硬化促進剤である2−メチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール(2P4MZ)、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール(2PHZ)、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール(2P4MHZ)などがより好ましい。
(C)成分である硬化促進剤の配合量は、特に制限されるものではないが、(A)成分であるエポキシ樹脂100質量部に対して、0.1〜10質量部が好ましく、より好ましくは0.1〜5.0質量部である。
本発明の導電性樹脂組成物に含まれる(D)成分である導電粉は、導電性樹脂組成物に良好な導電性を付与するための成分である。本発明で用いられる(D)成分である導電粉としては、特に制限はないが、導電性、作業性の観点から、銀粉が好ましい。例えば、球状銀粉、フレーク状銀粉、樹枝状銀粉、棒状銀粉などの他、表面に銀層を有する銅粉末、表面に銀層を有するシリカ粉末などが挙げられる。銀粉以外の導電粉としての導電性粒子は、導電性、作業性の観点から銅粒子、ニッケル粒子、アルミニウム粒子、銀ナノ粒子などが挙げられる。
(D)成分である導電粉の平均粒径は、通常20μm以下であることが好ましく、0.1〜10μmであることがより好ましい。導電粉の平均粒径が20μm以下であれば、導電性樹脂組成物の均一性や各種物性が低下することがない。
(D)成分である導電粉の配合量は、本発明の導電性樹脂組成物100質量部に対して、70〜95質量部の範囲であることが好ましい。導電粉の当該配合量が70質量部以上であれば、導電性樹脂組成物の導電性が良好であり、当該配合量が95質量部以下であれば、導電性樹脂組成物の調製時の作業性や導電性樹脂組成物の使用時の塗布性に良好な粘度となり、さらに、導電性樹脂組成物の硬化物の強度に優れる。導電粉の配合量のより好ましい範囲は、本発明の導電性樹脂組成物100質量部に対して、75〜90質量部である。
本発明の導電性樹脂組成物に含まれる(E)成分である微細シリカは、メタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%である疎水性シリカである。例えば、本発明では、微細シリカ表面の疎水化のため、クロロアルキルシランで疎水化処理された疎水性シリカであるR972、R974(日本アエロジル製 商品名)や、アルキルシランで疎水化処理された疎水性シリカであるR805(日本アエロジル製 商品名)を用いている。微細シリカのメタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%であれば、導電性樹脂組成物の初期粘度および常温保管時の粘度の増加を防ぎ、作業性が良くなり、さらには、導電性樹脂組成物中の導電粉の沈降性が改善される。
メタノールウェッタビリティー法による疎水化度は、次のような手順で測定して求めることができる。あらかじめ、所定のメタノール濃度(例えば20%)となるようにメタノールと水の混合溶液を調製し、混合溶液と(E)成分である微細シリカを混合する。撹拌機などで混合溶液を撹拌しながらメタノールを滴下し、混合溶液中に微細シリカが分散するようになるメタノール濃度を求める。本発明では、このメタノール濃度を疎水化度としている。
また、本発明の導電性樹脂組成物には、本発明の所定の効果を損なわない範囲で、上記(E)成分である微細シリカ以外の非導電性粒子を配合してもよい。非導電性粒子の配合量は、(D)成分である導電粉および当該非導電性粒子の合計量中、50質量%以下であることが好ましく、より好ましくは30質量%以下であり、さらに好ましくは0質量%、すなわち、(D)成分である導電粉のみを使用する、言い換えると上記非導電性粒子を配合しないことである。
非導電性粒子としては、シリカ、アルミナ、窒化ホウ素、酸化チタン、バリウム、タルク、炭酸カルシウム、水酸化アルミニウムなどが挙げられる。作業性、接着性の観点から、好ましくはシリカである。より好ましくは、レーザー回折散乱式粒度分布測定法による累積体積粒径D50が0.5〜15μmである球状のシリカである。なお、当該シリカの一次粒子径は、上記微細シリカの一次粒子径よりも大きい。
また、本発明の導電性樹脂組成物には、作業性を改善する目的で、反応性希釈剤を配合することができる。反応性希釈剤の具体例としては、n−ブチルグリシジルエーテル、アリルグリシジルエーテル、2−エチルヘキシルグリシジルエーテル、スチレンオキサイド、フェニルグリシジルエーテル、クレジルグリシジルエーテル、p−sec−ブチルフェニルグリシジルエーテル、グリシジルメタクリレート、t−ブチルフェニルグリシジルエーテル、ジグリシジルエーテル、(ポリ)エチレングリコールグリシジルエーテル、オルソクレジルグリシジルエーテル、ブタンジオールグリシジルエーテル、トリメチロールプロパントリグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル等が挙げられる。これらの反応性希釈剤は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。これらの反応性希釈剤のうち、フェニルグリシジルエーテル、t−ブチルフェニルグリシジルエーテルが好ましい。
また、本発明の導電性樹脂組成物には、作業性を改善する目的で、溶剤を使用することができる。溶剤の具体例としては、例えば、ジエチレングリコールジエチルエーテル、スチレンオキシド、ジオキサン、ヘキサン、メチルセロソルブ、シクロヘキサン、ブチルセロソルブ、ブチルセロソルブアセテート、トリアセチングリセリントリアセテート、ブチルカルビトール、ブチルカルビトールアセテート、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジアセトンアルコール、N−メチルピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、γ−ブチロラクトン、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノンなどが挙げられる。
本発明の導電性樹脂組成物には、上記の各成分の他に、本発明の効果を阻害しない範囲で、この種の組成物に一般に配合される、粘度調整剤、カップリング剤、接着力向上剤、消泡剤、着色剤、難燃剤などを、必要に応じて配合することができる。
粘度調整剤の具体例としては、例えば、酢酸セロソルブ、エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、ブチルセロソルブアセテート、ブチルカルビトールアセテート、プロピレングリコールフェニルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジアセトンアルコールなどが挙げられる。これらの粘度調整剤は、1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。
また、カップリング剤の具体例としては、例えば、シランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、アルミニウム系カップリング剤、ジルコネート系カップリング剤、ジルコアルミネート系カップリング剤などが挙げられる。これらのカップリング剤のなかでも、シランカップリング剤が好ましく、特に、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランが好ましい。これらのカップリング剤は、1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。
本発明の導電性樹脂組成物は、E型粘度計(3°コーン)を用い、25℃、0.5rpmの条件で測定した粘度が40〜200Pa・sであることが好ましい。導電性樹脂組成物の粘度が40〜200Pa・sであると、作業性に優れる。導電性樹脂組成物の粘度が40Pa・sより小さいと、導電粉が作業時に沈降しやすく、粘度が200Pa・sより大きいと、ディスペンスが困難となり作業性が低下する。導電性樹脂組成物の当該粘度は、より好ましくは、60〜120Pa・sである。
本発明の導電性樹脂組成物は、上記した(A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)硬化促進剤、(D)導電粉および(E)メタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%である微細シリカの必須成分と、さらに、必要に応じて配合される反応性希釈剤、溶剤などの成分とを、高速混合機などを用いて均一に混合した後、ディスパース、ニーダ、三本ロールなどにより混練し、次いで、脱泡することにより、容易に調製することができる。
本発明の導電性樹脂組成物は、糸引き性や液ダレが少なく作業性に優れている。また、本発明の導電性樹脂組成物は、半導体素子と銀メッキ銅フレーム、銅フレームもしくはPPFフレームとの組み合わせにおいても、優れた導電性と接着強度を有する。すなわち、本発明の導電性樹脂組成物は、導電性に優れた安価な硬化物を与え、また、接着強度が大きく、作業性も良好であり、可使時間が長い。さらに、導電性樹脂組成物の硬化物はボイドを発生しない。
本発明の電子部品装置は、本発明の導電性樹脂組成物を用いて、半導体素子が支持部材上に接着および固定されてなる。例えば、電子部品装置は、本発明の導電性樹脂組成物を介して半導体素子をリードフレームにマウントし、導電性樹脂組成物を加熱硬化させた後、リードフレームのリード部と半導体素子上の電極とを常温で超音波によるワイヤボンディングにより接続し、次いで、これらを封止用樹脂により封止することにより製造することができる。
ここで、ワイヤボンディングに用いられるボンディングワイヤとしては、例えば、銅、金、アルミニウム、金合金、アルミニウム−シリコンなどからなるワイヤが例示され、コストおよびボンディング性の観点から、アルミニウムワイヤが好ましい。また、ボンディングの際の超音波の出力、荷重などの条件は、特に限定されるものではなく、常法の範囲で適宜選択されてよい。
図1に、本発明の電子部品装置の一例を示す。
銅フレームなどのリードフレーム1と半導体素子2との間に、本発明の導電性樹脂組成物の硬化物である接着剤層3が介在されている。また、半導体素子2上の電極4とリードフレーム1のリード部5とがボンディングワイヤ6により接続されており、さらに、これらが封止用樹脂7により封止されている。なお、接着剤層3の厚さは、10〜30μm程度が好ましい。
本発明の電子部品装置は、導電性に優れた安価な硬化物を与え、しかも、接着強度が良好で、作業性にも優れる導電性樹脂組成物を用いることにより、半導体素子を接着固定しているので、高い信頼性を具備している。本発明の導電性樹脂組成物は、半導体素子を半導体素子支持部材上に接着するための接着剤として広く使用することができ、特に、半導体素子の接着剤に適用した場合に有用である。
以下、本発明を実施例により説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
(実施例1〜3、比較例1〜6)
下記に示す材料を用い、表1および表2に示す配合割合(質量部)で各材料を十分に混合し、さらに三本ロールで混練して、ペースト状の導電性樹脂組成物を調製した。
・エポキシ樹脂1:ビスフェノールF型エポキシ樹脂(三菱化学社製、商品名:YL983U)
・エポキシ樹脂2:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製、商品名:YL980)
・硬化剤1:ポリパラビニルフェノール(丸善化学社製、商品名:マルカリンカ−M)
・硬化剤2:多官能フェノール硬化剤(明和化成社製、商品名:MEH−7851)
・硬化促進剤:2−エチル−4−メチルイミダゾール(四国化成工業社製、商品名:2E4MZ)
・導電粉:フレーク状銀粉(福田金属箔工業社製、商品名:AgC−A、平均粒径5μm)
・微細シリカ1:親水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:#200、一次粒子径12nm、M.W.0)
・微細シリカ2:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:R972、一次粒子径16nm、M.W.50)
・微細シリカ3:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:R805、一次粒子径12nm、M.W.55)
・微細シリカ4:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:RX200、一次粒子径12nm、M.W.70)
・微細シリカ5:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:RY200、一次粒子径12nm、M.W.70)
・反応性希釈剤:フェニルグリシジルエーテル(坂本薬品工業社製、商品名:PEG)
・カップリング剤:3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(モメンティブ社製、商品名:S−510)
Figure 2016088978
Figure 2016088978
上記各実施例および比較例で得られた導電性樹脂組成物を真空ポンプにて脱泡した後、下記に示す各種の特性を評価した。各種特性の評価結果を表3および表4に示した。
(1)粘度(η0.5rpm
東機産業社製のE型粘度計(3°コーン)を用い、25℃、0.5rpmの条件で粘度(η0.5rpm)を測定した。
(2)チキソ性
東機産業社製のE型粘度計(3°コーン)を用い、25℃、5.0rpmの条件で粘度(η5.0rpm)を測定し、上記(1)で測定した粘度(η0.5rpm)を用いて、異なる回転数で測定した粘度の比(η0.5rpm/η5.0rpm)をチキソ性として算出した。
(3)常温24時間後の粘度(η0.5rpm_24h
上記粘度測定後、常温(25℃インキュベーター)に24時間保存した導電性樹脂組成物について、上記の粘度(η0.5rpm)の測定と同条件で、再度粘度を測定した。
(4)粘度維持率
粘度維持率は、下記に示す式より算出した。粘度維持率の評価は、80%以上であれば「A」、50%以上80%未満であれば「B」、50%未満であれば「C」とした。
粘度維持率[%]=(常温24時間後の粘度(η0.5rpm_24h)/粘度(η0.5rpm))×100
(5)沈降性
シリンジに導電性樹脂組成物を10g充填し、25℃に制御したインキュベーター中にシリンジが垂直になるように静置した。24時間静置後、シリンジ上部およびシリンジ下部の導電性樹脂組成物を取出し、取出したサンプルを600℃、3時間の条件で熱処理を行うことにより、灰分を測定した。沈降性を下記に示す式より算出し、0.3%より大きければ、沈降しやすいと判断できる。沈降性の評価は、0.3%以下であれば「A」、0.3より大きく0.5以下であれば「B」、0.5より大きければ「C」とした。
沈降性[%]=(シリンジ下部灰分−シリンジ上部灰分)
(6)作業性
シリンジに導電性樹脂組成物を10g充填し、武蔵エンジニアリング社製のショットマスターを用い、温度25℃、湿度35%RH、ニードル径φ=0.3mm、吐出圧0.5kgf、ギャップ100μmの条件で、シリコンウェハー基板上に対するディスペンス試験を行った。光学顕微鏡を用いて、300ショット後の糸引きによる角倒れとシリンジ詰まりもしくは液ダレによる吐出なしとの合計数、つまり、吐出不良数(糸引きによる角倒れの数+吐出なしの数)を測定した。作業性を下記に示す式より算出し、10%より大きい場合は、作業性が悪いと判断できる。作業性の評価は、0%以上5%以下であれば「A」、5%より大きく10%以下であれば「B」、10%より大きければ「C」とした。
作業性[%]=(吐出不良数/300)×100
(7)ブリード性
導電性樹脂組成物を金属フレーム(銀メッキ銅フレーム、PPFフレーム)上に微小量点塗布し、温度25℃、湿度35%RHの環境下に24時間放置した後、導電性樹脂組成物に含まれる液状成分(樹脂や希釈剤)が発生した距離を測定した。ブリード性の評価は、0mm以上0.5mm未満であれば「A」、0.5mm以上であれば「B」とした。
(8)ダイシェア強度
導電性樹脂組成物を銀メッキした銅フレーム上に20μm厚に塗布し、その上に1mm×1mmの半導体素子をマウントし、150℃で1.5時間硬化した。硬化後、ダイシェア強度測定装置を用いて、25℃および260℃での常温および加熱時ダイシェア強度を測定した。
Figure 2016088978
Figure 2016088978
1…リードフレーム、2…半導体素子、3…接着剤層、4…電極、5…リード部、6…ボンディングワイヤ、7…封止用樹脂。

Claims (4)

  1. (A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)硬化促進剤と、(D)導電粉と、(E)メタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%である微細シリカとを必須成分として含有することを特徴とする導電性樹脂組成物。
  2. 前記(E)微細シリカの含有量は、前記(A)エポキシ樹脂100質量部に対して、5〜25質量部であることを特徴とする請求項1に記載の導電性樹脂組成物。
  3. 前記(E)微細シリカは、クロロアルキルシランまたはアルキルシランで疎水化処理された疎水性シリカであることを特徴とする請求項1または2に記載の導電性樹脂組成物。
  4. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の導電性樹脂組成物により、半導体素子が支持部材上に接着および固定されてなることを特徴とする電子部品装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017208907A1 (ja) * 2016-06-02 2018-06-14 日立化成株式会社 樹脂組成物及び積層体の製造方法
JP2019038877A (ja) * 2017-08-22 2019-03-14 信越ポリマー株式会社 硬化性組成物および帯電防止シリコーン皮膜
CN112166155A (zh) * 2018-05-31 2021-01-01 昭和电工材料株式会社 复合物、成形体及电子部件
CN112789323A (zh) * 2018-10-02 2021-05-11 昭和电工材料株式会社 树脂组合物、固化物及半导体器件
JP2022000522A (ja) * 2016-11-02 2022-01-04 バイオニア コーポレーション コア‐シェル構造の銀コーティングされた銅ナノワイヤを含むエポキシペースト組成物、およびそれを含む導電性フィルム
CN115044173A (zh) * 2022-07-11 2022-09-13 中山超分子新材料有限公司 一种耐腐蚀的高弹复合纤维及其制备方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04223007A (ja) * 1990-12-25 1992-08-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体用導電性樹脂ペースト
JPH04303937A (ja) * 1991-03-29 1992-10-27 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体用導電性樹脂ペースト
WO2007125956A1 (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Sekisui Chemical Co., Ltd. 光半導体用熱硬化性組成物、光半導体素子用ダイボンド材、光半導体素子用アンダーフィル材、光半導体素子用封止剤及び光半導体素子
JP2012216770A (ja) * 2011-03-30 2012-11-08 Tamura Seisakusho Co Ltd 異方性導電性ペーストおよびそれを用いた電子部品の接続方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04223007A (ja) * 1990-12-25 1992-08-12 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体用導電性樹脂ペースト
JPH04303937A (ja) * 1991-03-29 1992-10-27 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体用導電性樹脂ペースト
WO2007125956A1 (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Sekisui Chemical Co., Ltd. 光半導体用熱硬化性組成物、光半導体素子用ダイボンド材、光半導体素子用アンダーフィル材、光半導体素子用封止剤及び光半導体素子
EP2017295A1 (en) * 2006-04-26 2009-01-21 Sekisui Chemical Co., Ltd. Thermosetting composition for optical semiconductor, die bond material for optical semiconductor device, underfill material for optical semiconductor device, sealing agent for optical semiconductor device, and optical semiconductor device
JP2012216770A (ja) * 2011-03-30 2012-11-08 Tamura Seisakusho Co Ltd 異方性導電性ペーストおよびそれを用いた電子部品の接続方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017208907A1 (ja) * 2016-06-02 2018-06-14 日立化成株式会社 樹脂組成物及び積層体の製造方法
US10590232B2 (en) 2016-06-02 2020-03-17 Hitachi Chemical Company, Ltd. Resin composition and method of producing laminate
US10851200B2 (en) 2016-06-02 2020-12-01 Showa Denko Materials Co., Ltd. Resin composition and method of producing laminate
JP2022000522A (ja) * 2016-11-02 2022-01-04 バイオニア コーポレーション コア‐シェル構造の銀コーティングされた銅ナノワイヤを含むエポキシペースト組成物、およびそれを含む導電性フィルム
JP2019038877A (ja) * 2017-08-22 2019-03-14 信越ポリマー株式会社 硬化性組成物および帯電防止シリコーン皮膜
CN112166155A (zh) * 2018-05-31 2021-01-01 昭和电工材料株式会社 复合物、成形体及电子部件
CN112789323A (zh) * 2018-10-02 2021-05-11 昭和电工材料株式会社 树脂组合物、固化物及半导体器件
CN112789323B (zh) * 2018-10-02 2024-02-02 株式会社力森诺科 树脂组合物、固化物及半导体器件
CN115044173A (zh) * 2022-07-11 2022-09-13 中山超分子新材料有限公司 一种耐腐蚀的高弹复合纤维及其制备方法

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