JP2016088978A - 導電性樹脂組成物およびそれを用いた電子部品装置 - Google Patents
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Abstract
Description
銅フレームなどのリードフレーム1と半導体素子2との間に、本発明の導電性樹脂組成物の硬化物である接着剤層3が介在されている。また、半導体素子2上の電極4とリードフレーム1のリード部5とがボンディングワイヤ6により接続されており、さらに、これらが封止用樹脂7により封止されている。なお、接着剤層3の厚さは、10〜30μm程度が好ましい。
下記に示す材料を用い、表1および表2に示す配合割合(質量部)で各材料を十分に混合し、さらに三本ロールで混練して、ペースト状の導電性樹脂組成物を調製した。
・エポキシ樹脂2:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製、商品名:YL980)
・硬化剤1:ポリパラビニルフェノール(丸善化学社製、商品名:マルカリンカ−M)
・硬化剤2:多官能フェノール硬化剤(明和化成社製、商品名:MEH−7851)
・硬化促進剤:2−エチル−4−メチルイミダゾール(四国化成工業社製、商品名:2E4MZ)
・導電粉:フレーク状銀粉(福田金属箔工業社製、商品名:AgC−A、平均粒径5μm)
・微細シリカ1:親水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:#200、一次粒子径12nm、M.W.0)
・微細シリカ2:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:R972、一次粒子径16nm、M.W.50)
・微細シリカ3:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:R805、一次粒子径12nm、M.W.55)
・微細シリカ4:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:RX200、一次粒子径12nm、M.W.70)
・微細シリカ5:疎水性シリカ粉(日本アエロジル社製、商品名:RY200、一次粒子径12nm、M.W.70)
・反応性希釈剤:フェニルグリシジルエーテル(坂本薬品工業社製、商品名:PEG)
・カップリング剤:3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(モメンティブ社製、商品名:S−510)
東機産業社製のE型粘度計(3°コーン)を用い、25℃、0.5rpmの条件で粘度(η0.5rpm)を測定した。
東機産業社製のE型粘度計(3°コーン)を用い、25℃、5.0rpmの条件で粘度(η5.0rpm)を測定し、上記(1)で測定した粘度(η0.5rpm)を用いて、異なる回転数で測定した粘度の比(η0.5rpm/η5.0rpm)をチキソ性として算出した。
上記粘度測定後、常温(25℃インキュベーター)に24時間保存した導電性樹脂組成物について、上記の粘度(η0.5rpm)の測定と同条件で、再度粘度を測定した。
粘度維持率は、下記に示す式より算出した。粘度維持率の評価は、80%以上であれば「A」、50%以上80%未満であれば「B」、50%未満であれば「C」とした。
粘度維持率[%]=(常温24時間後の粘度(η0.5rpm_24h)/粘度(η0.5rpm))×100
シリンジに導電性樹脂組成物を10g充填し、25℃に制御したインキュベーター中にシリンジが垂直になるように静置した。24時間静置後、シリンジ上部およびシリンジ下部の導電性樹脂組成物を取出し、取出したサンプルを600℃、3時間の条件で熱処理を行うことにより、灰分を測定した。沈降性を下記に示す式より算出し、0.3%より大きければ、沈降しやすいと判断できる。沈降性の評価は、0.3%以下であれば「A」、0.3より大きく0.5以下であれば「B」、0.5より大きければ「C」とした。
沈降性[%]=(シリンジ下部灰分−シリンジ上部灰分)
シリンジに導電性樹脂組成物を10g充填し、武蔵エンジニアリング社製のショットマスターを用い、温度25℃、湿度35%RH、ニードル径φ=0.3mm、吐出圧0.5kgf、ギャップ100μmの条件で、シリコンウェハー基板上に対するディスペンス試験を行った。光学顕微鏡を用いて、300ショット後の糸引きによる角倒れとシリンジ詰まりもしくは液ダレによる吐出なしとの合計数、つまり、吐出不良数(糸引きによる角倒れの数+吐出なしの数)を測定した。作業性を下記に示す式より算出し、10%より大きい場合は、作業性が悪いと判断できる。作業性の評価は、0%以上5%以下であれば「A」、5%より大きく10%以下であれば「B」、10%より大きければ「C」とした。
作業性[%]=(吐出不良数/300)×100
導電性樹脂組成物を金属フレーム(銀メッキ銅フレーム、PPFフレーム)上に微小量点塗布し、温度25℃、湿度35%RHの環境下に24時間放置した後、導電性樹脂組成物に含まれる液状成分(樹脂や希釈剤)が発生した距離を測定した。ブリード性の評価は、0mm以上0.5mm未満であれば「A」、0.5mm以上であれば「B」とした。
導電性樹脂組成物を銀メッキした銅フレーム上に20μm厚に塗布し、その上に1mm×1mmの半導体素子をマウントし、150℃で1.5時間硬化した。硬化後、ダイシェア強度測定装置を用いて、25℃および260℃での常温および加熱時ダイシェア強度を測定した。
Claims (4)
- (A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)硬化促進剤と、(D)導電粉と、(E)メタノールウェッタビリティー法による疎水化度が40〜60%である微細シリカとを必須成分として含有することを特徴とする導電性樹脂組成物。
- 前記(E)微細シリカの含有量は、前記(A)エポキシ樹脂100質量部に対して、5〜25質量部であることを特徴とする請求項1に記載の導電性樹脂組成物。
- 前記(E)微細シリカは、クロロアルキルシランまたはアルキルシランで疎水化処理された疎水性シリカであることを特徴とする請求項1または2に記載の導電性樹脂組成物。
- 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の導電性樹脂組成物により、半導体素子が支持部材上に接着および固定されてなることを特徴とする電子部品装置。
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