JP2016073983A - レーザ溶接装置およびレーザ溶接方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】従来のレーザ溶接装置は、YAGレーザであるため形成される2つの焦点は焦点距離が等しく、レーザ出力も分散される。そのため、加工物に合わせた最適な溶接を行うことができない。本開示は、高出力であり、焦点距離が異なる複数の焦点を形成できる多波長レーザによって溶接を行うレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法を提供する。
【解決手段】本開示のレーザ溶接装置は、レーザ発振装置と、ファイバと、レーザ出射部と、駆動装置とを有する。レーザ発振装置は、複数の波長を有する多波長レーザを出射する。ファイバは、第1の端部が、レーザ発振装置に接続され、多波長レーザを伝送する。レーザ出射部は、第1の端部とは反対側のファイバの第2の端部が接続され、多波長レーザを加工物に出射する。駆動装置は、レーザ出射部に接続され、レーザ出射部を動かす。
【選択図】図1
【解決手段】本開示のレーザ溶接装置は、レーザ発振装置と、ファイバと、レーザ出射部と、駆動装置とを有する。レーザ発振装置は、複数の波長を有する多波長レーザを出射する。ファイバは、第1の端部が、レーザ発振装置に接続され、多波長レーザを伝送する。レーザ出射部は、第1の端部とは反対側のファイバの第2の端部が接続され、多波長レーザを加工物に出射する。駆動装置は、レーザ出射部に接続され、レーザ出射部を動かす。
【選択図】図1
Description
本開示は、半導体レーザを用いたレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法に関し、特に、多波長レーザを用いたレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法に関する。
図10を用いて、従来のYAG(Yttrium Aluminum Garnet)レーザを用いたレーザ溶接装置について説明する。
図10は、特許文献1に記載された、従来のレーザ溶接装置101の構成を示すブロック図である。レーザ溶接装置101は、3相交流電源102と、ブレーカ103と、整流平滑回路104と、チョッパ回路105と、整流平滑化出力回路106と、YAGレーザ発振器107と、アークランプ108と、YAGレーザ棒109と、光ファイバケーブル110と、制御盤111と、PWM(Pulse Width Modulation)パルス発生器112と、制御回路113と、起動回路114と、YAGレーザ照射ヘッド115とを有する。YAGレーザ照射ヘッド115は、レンズ116と、プリズム117と、ノズルボディ118と、銅チップ119とを有する。
YAGレーザによって発振されるレーザは、材料によって特定された、1つの波長(1064nm)の光だけである。そのため、レーザをレンズで集光すると、焦点が1つだけ形成される。これに対し、従来のレーザ溶接装置101は、プリズム117を有しているため、レーザを右側レーザ光束120Rと左側レーザ光束120Lに分割し、右側焦点121Rと左側焦点121Lという2つの焦点を母材122上に形成できる。さらに、PWMパルス発生器112と制御回路113とを用いてアークランプ108の電流を制御し、レーザの出力を調整している。
しかしながら、従来のレーザ溶接装置101は、YAGレーザ照射ヘッド115にプリズム117を用いるため、YAGレーザ照射ヘッド115の構造が複雑になる。また、形成される2つの焦点は焦点距離が等しく、レーザ出力も分散される。そのため、加工物に合わせた最適な溶接を行うことができない。本開示は、高出力であり、焦点距離が異なる複数の焦点を形成できる多波長レーザによって溶接を行うレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法を提供する。
本開示のレーザ溶接装置は、レーザ発振装置と、ファイバと、レーザ出射部と、駆動装置とを有する。レーザ発振装置は、複数の波長を有する多波長レーザを出射する。ファイバは、第1の端部が、レーザ発振装置に接続され、多波長レーザを伝送する。レーザ出射部は、第1の端部とは反対側のファイバの第2の端部が接続され、多波長レーザを加工物に出射する。駆動装置は、レーザ出射部に接続され、レーザ出射部を動かす。
本開示のレーザ溶接方法は、第1の加工物と第2の加工物とを継手形状となるように配置する工程を有する。さらに、レーザ発振装置から多波長レーザを出力する工程を有する。さらに、多波長レーザをレーザ出射部から出射する工程を有する。さらに、継手形状の継手部分に、レーザ出射部から出射された多波長レーザを照射し、第1の加工物と第2の加工物とを接続する工程を有する。
本開示のレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法は、多波長レーザをレーザヘッドから出射するため、焦点距離が異なる複数の焦点を結ぶことができ、加工物に合わせた最適な溶接を行うことができる。
(実施の形態1)
本開示の、実施の形態1のレーザ溶接装置を、図面を用いて説明する。図1は、本実施の形態のレーザ溶接装置1を示す概略図である。図2は、本実施の形態のレーザ発振装置10を示す概略図である。図3(a)および(b)は、本実施の形態のファイバ30を示す概略図である。図4は、本実施の形態のレーザ出射部40を示す概略図である。図5は、本実施の形態のシールドガス供給装置50を示す概略図である。図6は、本実施の形態の制御装置80を示す概略図である。
本開示の、実施の形態1のレーザ溶接装置を、図面を用いて説明する。図1は、本実施の形態のレーザ溶接装置1を示す概略図である。図2は、本実施の形態のレーザ発振装置10を示す概略図である。図3(a)および(b)は、本実施の形態のファイバ30を示す概略図である。図4は、本実施の形態のレーザ出射部40を示す概略図である。図5は、本実施の形態のシールドガス供給装置50を示す概略図である。図6は、本実施の形態の制御装置80を示す概略図である。
図1に示すように、本実施の形態のレーザ溶接装置1は、レーザ発振装置10と、ファイバ30と、レーザ出射部40と、シールドガス供給装置50と、マニピュレータ60(駆動装置)と、制御装置80とを有する。レーザ発振装置10は複数の波長成分を有するレーザ(以下、多波長レーザ)を出力し、ファイバ30に入射する。ファイバ30は、レーザ発振装置10で出力された多波長レーザをレーザ出射部40に伝送する。レーザ出射部40は、ファイバ30によって伝送された多波長レーザを加工物70に出射する。シールドガス供給装置50はレーザ出射部40に接続され、シールドガスをレーザ出射部40に供給する。マニピュレータ60は、レーザ出射部40から出射される多波長レーザが、加工物70の加工位置に出射されるように、レーザ出射部40を移動させる。制御装置80は、レーザ発振装置10からの多波長レーザの出力と、シールドガス供給装置50からのシールドガス供給量と、マニピュレータ60の動作とを制御する。
(レーザ発振装置10について)
図2を用いて、レーザ発振装置10について、具体的に説明する。図2に示すように、レーザ発振装置10は、半導体レーザ11(第1の半導体レーザ)と、半導体レーザ12(第2の半導体レーザ)と、分光器13と、部分反射鏡14と、ファイバ30の入射端31(第1の端部)とを有する。半導体レーザ11は、分光器13側の端部がレーザ出射端21(第1の出射端)であり、レーザ出射端21と反対側の端部はレーザを全反射する全反射端22(第1の全反射端)である。半導体レーザ12は、分光器13側の端部がレーザ出射端23(第2の出射端)であり、レーザ出射端23と反対側の端部はレーザを全反射する全反射端24(第2の全反射端)である。部分反射鏡14は、半導体レーザ11、12側の第1の面25と、半導体レーザ11、12とは反対側の第2の面26とを有する。
図2を用いて、レーザ発振装置10について、具体的に説明する。図2に示すように、レーザ発振装置10は、半導体レーザ11(第1の半導体レーザ)と、半導体レーザ12(第2の半導体レーザ)と、分光器13と、部分反射鏡14と、ファイバ30の入射端31(第1の端部)とを有する。半導体レーザ11は、分光器13側の端部がレーザ出射端21(第1の出射端)であり、レーザ出射端21と反対側の端部はレーザを全反射する全反射端22(第1の全反射端)である。半導体レーザ12は、分光器13側の端部がレーザ出射端23(第2の出射端)であり、レーザ出射端23と反対側の端部はレーザを全反射する全反射端24(第2の全反射端)である。部分反射鏡14は、半導体レーザ11、12側の第1の面25と、半導体レーザ11、12とは反対側の第2の面26とを有する。
また、半導体レーザ11は、複数のエミッタを有する半導体レーザバー(第1の半導体レーザバー)を用いることも可能であり、さらに、複数の半導体レーザバーを積み重ねた半導体スタック(第1の半導体スタック)を用いても構わない。半導体レーザ12は、複数のエミッタを有する半導体レーザバー(第2の半導体レーザバー)を用いることも可能であり、さらに、複数の半導体レーザバーを積み重ねた半導体スタック(第2の半導体スタック)を用いても構わない。
半導体レーザ11のレーザ出射端21から出射されたレーザ(第1のレーザ)は、分光器13を通過し、部分反射鏡14で一部が反射する。部分反射鏡14で反射されたレーザは、分光器13を通過し、出射された半導体レーザ11に戻り、半導体レーザ11の全反射端22で反射される。このように、部分反射鏡14と全反射端22との間で共振が起こり、半導体レーザ11からのレーザが発振される。半導体レーザ11から発振されたレーザは、部分反射鏡14を透過し、ファイバ30の入射端31からファイバ30へ入射する。半導体レーザ12についても同様にレーザ(第2のレーザ)が発振され、ファイバ30へ入射する。これにより、ファイバ30には多波長レーザが入射される。以上のように、半導体レーザ11の全反射端22と部分反射鏡14との間で分光器13を介して発振器が構成される。この構成は、半導体レーザ11の外部の領域を含めてレーザが発振されるため、外部共振器と呼ばれる。半導体レーザ12についても同様である。
次に、半導体レーザ11、12と分光器13と部分反射鏡14とによる、レーザ発振の原理とレーザの波長について説明する。
図2に示すように、半導体レーザ11から出射されたレーザと半導体レーザ12から出射されたレーザとは、分光器13から見て異なる方向から分光器13に入射されている。半導体レーザ11は、分光器13の面に垂直な方向から、角度θ1(第1の角度)だけ傾いた方向に位置している。半導体レーザ12は、分光器13の面に垂直な方向から、角度θ2(第2の角度)だけ傾いた方向に位置している。分光器13は、例えば回折格子であり、回折格子は、入射角が互いに異なる複数のレーザを、共通の出射角で出射させる特徴を有する。ここで、分光器13が、スリット間隔dである回折格子であり、半導体レーザ11が発振するレーザの波長(第1の波長)がλ1nmであり、半導体レーザ12が発振するレーザの波長(第2の波長)がλ2nmであり、N、Mを整数とする場合のレーザ発振波長について説明する。この場合、以下の式1が半導体レーザ11からのレーザの回折条件であり、以下の式2が半導体レーザ12からのレーザの回折条件である。
d×sinθ1=N×λ1 ・・・(式1)
d×sinθ2=M×λ2 ・・・(式2)
このように、半導体レーザ11と半導体レーザ12とを分光器13に対し異なる方向に配置することにより、半導体レーザ11によるレーザと半導体レーザ12によるレーザとは出射方向を同一にできる。そして、波長が互いに異なる半導体レーザ11によるレーザと半導体レーザ12によるレーザとの出力を合算することができる。すなわち、半導体レーザ11、12と部分反射鏡14とが分光器13を介して外部共振器を構成することで、それぞれの半導体レーザのビーム品質を悪化することなく、両者の出力が合算された、より高い出力の半導体レーザを得ることができるという効果がある。また、半導体レーザ11、12を分光器13からみて異なる方向に配置することで、半導体レーザ11、12が、互いに波長が異なるレーザを発振できる。そして、半導体レーザ11が発振するレーザと半導体レーザ12が発振するレーザとをファイバ30に入射させることにより、2つの波長のレーザをファイバ30に出力できる。以上の説明では、2つの半導体レーザ11、12で説明したが、半導体レーザの数は2とは限らず、3以上でもよい。その場合も、半導体レーザが、複数のエミッタを有する半導体レーザバーや、複数の半導体レーザバーを積み重ねた半導体スタックであってもよい。なお、本実施の形態では、分光器13として透過型のものを使用しているが、反射型のものであってもよい。分光器13は、例えば、反射型回折素子でもよい。
d×sinθ2=M×λ2 ・・・(式2)
このように、半導体レーザ11と半導体レーザ12とを分光器13に対し異なる方向に配置することにより、半導体レーザ11によるレーザと半導体レーザ12によるレーザとは出射方向を同一にできる。そして、波長が互いに異なる半導体レーザ11によるレーザと半導体レーザ12によるレーザとの出力を合算することができる。すなわち、半導体レーザ11、12と部分反射鏡14とが分光器13を介して外部共振器を構成することで、それぞれの半導体レーザのビーム品質を悪化することなく、両者の出力が合算された、より高い出力の半導体レーザを得ることができるという効果がある。また、半導体レーザ11、12を分光器13からみて異なる方向に配置することで、半導体レーザ11、12が、互いに波長が異なるレーザを発振できる。そして、半導体レーザ11が発振するレーザと半導体レーザ12が発振するレーザとをファイバ30に入射させることにより、2つの波長のレーザをファイバ30に出力できる。以上の説明では、2つの半導体レーザ11、12で説明したが、半導体レーザの数は2とは限らず、3以上でもよい。その場合も、半導体レーザが、複数のエミッタを有する半導体レーザバーや、複数の半導体レーザバーを積み重ねた半導体スタックであってもよい。なお、本実施の形態では、分光器13として透過型のものを使用しているが、反射型のものであってもよい。分光器13は、例えば、反射型回折素子でもよい。
(ファイバ30について)
図3を用いて、ファイバ30について、具体的に説明する。図3(a)は、シングルクラッドファイバ32を示す断面図である。図3(b)は、ダブルクラッドファイバ35を示す断面図である。
図3を用いて、ファイバ30について、具体的に説明する。図3(a)は、シングルクラッドファイバ32を示す断面図である。図3(b)は、ダブルクラッドファイバ35を示す断面図である。
図3(a)に示すように、シングルクラッドファイバ32は、直径がd1であり、屈折率がn1であるコア33と、コア33の外側に形成され、直径がd2であり、屈折率がn2であるクラッド34からなる。コア33の屈折率n1は、クラッド34の屈折率n2よりも大きく、これにより、多波長レーザをコア33に閉じ込める効果がある。
図3(b)に示すように、ダブルクラッドファイバ35は、直径がd3であり、屈折率がn3であるコア36と、コア36の外側に形成され、直径がd4であり、屈折率がn4であるクラッド37と、クラッド37の外側に形成され、直径がd5であり屈折率がn5であるクラッド38とからなる。コア36の屈折率n3は、クラッド37の屈折率n4よりも大きく、これにより、多波長レーザをコア36に閉じ込める効果がある。クラッド37の屈折率n4は、クラッド38の屈折率n5よりも大きく、これにより、多波長レーザをクラッド37に閉じ込める効果があり、ひいては、多波長レーザをコア36に閉じ込める効果がある。
(レーザ出射部40について)
図4を用いて、レーザ出射部40について、具体的に説明する。
図4を用いて、レーザ出射部40について、具体的に説明する。
レーザ出射部40は、ファイバ30の出射端39から出射される多波長レーザに焦点を結ばせる光学的な機構と、加工物70の加工箇所にシールドガスを供給する物理的な機構とを有する。レーザ出射部40の光学的な機構は、さらに、ファイバ30から出射される多波長レーザの方向を制御する機構を有していてもよい。
まず、レーザ出射部40の、レーザを制御する光学的な機構について説明する。図4に示すように、ファイバ30の出射端39からレーザ出射部40内に出射された、広がった多波長レーザは、コリメートレンズ42によって平行にされる。そして、平行にされた多波長レーザは集光レンズ43によって集光されてレーザ出射部40から出射される。レーザが異なる2つの波長を持つ場合は、図4に示すように、2箇所で焦点を結ぶように集光される。
次に、レーザ出射部40の、シールドガスを供給する物理的な機構について説明する。図4に示すように、レーザ出射部40には、レーザが通過する空間41と、空間41のさらに外側の空間44との2つの空間が設けられている。空間41には、シールドガスを導入する導入口46と、シールドガスを排出する排出口48とが設けられている。排出口48は、レーザが出射されるレーザ出射口でもある。空間44には、シールドガスを導入する導入口47と、シールドガスを排出する排出口45とが設けられている。以上の説明では、レーザ出射部40に、空間41と空間44との両方を設けているが、どちらか一方のみを設けてもよい。その場合、シールドガスとしては導入口46と47のどちらを使用してもよい。また、以上の説明では、1枚のコリメートレンズ42と1枚の集光レンズ43とを使用した光学系について説明をした。しかし、複数のレンズを使用したコリメートレンズ系、または複数のレンズを使用した集光レンズ系を構成しても構わない。
(シールドガス供給装置50について)
図5を用いて、シールドガス供給装置50について、具体的に説明する。シールドガス供給装置50は、ガスボンベ51、52と、バルブ53〜56とを有する。ガスボンベ51に接続されたバルブ53の開閉は制御装置80によって制御される。ガスボンベ52に接続されたバルブ54の開閉は制御装置80によって制御される。ガスボンベ51とガスボンベ52とには、同じ種類のシールドガスを封入してもよく、互いに異なる種類のシールドガスを封入してもよい。後者の場合、バルブ53とバルブ54との開閉によりその混合比率を調整することができる。また、ガスボンベ51とガスボンベ52とはバルブ53、54を介して配管で接続されている。配管はさらに分離され、バルブ55を介してレーザ出射部40の導入口46に接続されるとともに、バルブ56を介してレーザ出射部40の導入口47に接続される。バルブ55、56の開閉は制御装置80によって制御される。なお、バルブ55とバルブ56ではその開閉により導入口46と導入口47へ送給するシールドガスの量をそれぞれ調整できるものである。導入口46または導入口47のどちらかに一方にだけシールドガスを供給してもよい。
図5を用いて、シールドガス供給装置50について、具体的に説明する。シールドガス供給装置50は、ガスボンベ51、52と、バルブ53〜56とを有する。ガスボンベ51に接続されたバルブ53の開閉は制御装置80によって制御される。ガスボンベ52に接続されたバルブ54の開閉は制御装置80によって制御される。ガスボンベ51とガスボンベ52とには、同じ種類のシールドガスを封入してもよく、互いに異なる種類のシールドガスを封入してもよい。後者の場合、バルブ53とバルブ54との開閉によりその混合比率を調整することができる。また、ガスボンベ51とガスボンベ52とはバルブ53、54を介して配管で接続されている。配管はさらに分離され、バルブ55を介してレーザ出射部40の導入口46に接続されるとともに、バルブ56を介してレーザ出射部40の導入口47に接続される。バルブ55、56の開閉は制御装置80によって制御される。なお、バルブ55とバルブ56ではその開閉により導入口46と導入口47へ送給するシールドガスの量をそれぞれ調整できるものである。導入口46または導入口47のどちらかに一方にだけシールドガスを供給してもよい。
図示していないが、バルブ53とバルブ54とから出たガスボンベ51とガスボンベ52とのガスを直接に導入口46と導入口47とに接続してもよい。この場合、ガスボンベ51とガスボンベ52とには同じ種類のシールドガスを封入してもよく、互いに異なる種類のシールドガスを封入してもよい。バルブ53とバルブ54とを調整することによって、ガスボンベ51とガスボンベ52とからのシールドガスの供給量を調整することができる。
(マニピュレータ60について)
図1に示すように、マニピュレータ60の先端には、レーザ出射部40が取り付けられており、レーザ出射部40を高い自由度で移動させることができる。すなわち、レーザ出射部40の位置および角度を高い自由度で変更できる。これにより、さまざまな溶接部位や継手形状に対応して、溶接を行うことができる。また、レーザの出射位置や出射方向を変更する手段は、レーザ出射部40とマニピュレータ60の組み合わせに限らず、2次元にスキャンできるようなスキャニングヘッドであってもよい。また、レーザ出射部40を固定し、マニピュレータ60が加工物70を移動させてもよい。
図1に示すように、マニピュレータ60の先端には、レーザ出射部40が取り付けられており、レーザ出射部40を高い自由度で移動させることができる。すなわち、レーザ出射部40の位置および角度を高い自由度で変更できる。これにより、さまざまな溶接部位や継手形状に対応して、溶接を行うことができる。また、レーザの出射位置や出射方向を変更する手段は、レーザ出射部40とマニピュレータ60の組み合わせに限らず、2次元にスキャンできるようなスキャニングヘッドであってもよい。また、レーザ出射部40を固定し、マニピュレータ60が加工物70を移動させてもよい。
(加工物70について)
加工物70の材質としては、軟鋼、ステンレス鋼、アルミ合金などがあり、形状としては、板状、棒状などが考えられる。
加工物70の材質としては、軟鋼、ステンレス鋼、アルミ合金などがあり、形状としては、板状、棒状などが考えられる。
(制御装置80について)
図6を用いて、制御装置80について、具体的に説明する。制御装置80は、レーザ発振装置10とシールドガス供給装置50とマニピュレータ60とに接続され、レーザ発振装置10とシールドガス供給装置50とマニピュレータ60との動作を制御する。制御装置80は、ティーチングペンダント81と、メイン制御部82と、レーザ発振装置通信部83と、シールドガス供給装置通信部84と、マニピュレータ通信部85と、記憶部86とを有する。
図6を用いて、制御装置80について、具体的に説明する。制御装置80は、レーザ発振装置10とシールドガス供給装置50とマニピュレータ60とに接続され、レーザ発振装置10とシールドガス供給装置50とマニピュレータ60との動作を制御する。制御装置80は、ティーチングペンダント81と、メイン制御部82と、レーザ発振装置通信部83と、シールドガス供給装置通信部84と、マニピュレータ通信部85と、記憶部86とを有する。
作業者は、ティーチングペンダント81を用いて、レーザ溶接装置1が行う溶接条件を設定する。メイン制御部82は、作業者がティーチングペンダント81に入力した溶接条件で溶接を行うように、記憶部86に蓄積されたデータを利用して、レーザ発振装置通信部83を介してレーザ発振装置10を、シールドガス供給装置通信部84を介してシールドガス供給装置50を、マニピュレータ通信部85を介してマニピュレータ60を制御する。メイン制御部82は、作業者によるティーチングペンダント81の操作なしに、記憶部86に蓄積されたデータを利用して、レーザ発振装置10とシールドガス供給装置50とマニピュレータ60とを制御してもよい。
次に、本開示の、実施の形態1のレーザ溶接方法を、図面を用いて説明する。図7(a)〜(c)は、本実施の形態のレーザ溶接方法の工程を示す概略図である。本実施の形態は、特に、前述したレーザ溶接装置1を用いて、重ね溶接を行うレーザ溶接方法である。
図7(a)に示すように、厚さT1である加工物71(第1の加工物)の下に、厚さT2である加工物72(第2の加工物)が重ねて配置された、重ね継手のレーザ溶接方法について説明する。
まず、図7(a)に示すように、加工物72の上に、加工物71を重なるように配置する。次に、制御装置80によってレーザ発振装置10を制御し、多波長レーザをレーザ発振装置10からファイバ30に出力する。そして、レーザ発振装置10から出力された多波長レーザは、ファイバ30を経由してレーザ出射部40に伝送される(図示せず)。
次に、図7(b)に示すように、レーザ出射部40からレーザを出射して、加工物71と加工物72とを、互いに重なる部分で溶接する。このとき、加工物71の上面に対して垂直方向における、加工物71の上面からのレーザ出射部40の先端の高さをH1とする。レーザ出射部40からの多波長レーザのうちの、一つのレーザの焦点をF1とし、加工物71の上面からの焦点F1の深さをD1とする。レーザ出射部40からの多波長レーザの波長の数と同じ数だけ、焦点F1および深さD1が存在する。
図7(b)に示す状態で、レーザ出射部40をマニピュレータ60によって動かして重ね継手に溶接を行う。溶接速度は、例えば、0.1〜50m/分であり、好ましくは0.5〜15m/分であり、さらに好ましくは1〜10m/分である。特に、溶接速度が、0.1〜50m/分であれば、広い範囲で、溶込み深さを制御できるため、広い範囲の板厚を組み合わせた重ね溶接ができるという利点がある。特に、溶接速度が0.5〜15m/分であれば、15m/分よりも速い速度で得られる溶接ビードよりも幅の広いビードが得られるので、加工物71と加工物72との間に隙間があった場合でも良好な溶接ができるという利点がある。特に溶接速度が1〜10m/分であれば、10m/分よりも速い速度で得られる溶接ビードよりも幅の広いビードが得られるので、加工物71と加工物72との間に隙間があった場合でも良好な溶接ができるという利点がある。
ここで、本実施の形態のレーザ溶接方法に用いる多波長レーザについて、詳細に説明する。
前述のレーザ発信装置では、2つの半導体レーザ11、12を用いて、2つの異なる波長λ1、λ2のレーザを出力するレーザ発振装置10について説明した。しかし、半導体レーザの数は2つに限らず、3つ以上の半導体レーザを用いても良い。例えば、25個の半導体レーザを互いに、分光器13から見た方向が異なるように配置することで、25種類の波長をもつ多波長レーザをファイバ30に出力できる。同様に、15個の半導体レーザによって15種類の波長をもつ多波長レーザを、12個の半導体レーザによって12種類の波長をもつ多波長レーザを、9個の半導体レーザによって9種類の波長をもつ多波長レーザを、ファイバ30に出力できる。このように、複数の波長を含んだ多波長レーザをレーザ出射部40で集光することにより、少しずつ焦点距離をずらした複数の焦点が形成できる。これにより、疑似的にレーリー長さが長くなるので、例えば、加工物の表面が微細に変形し、焦点位置が加工物に対して相対的に変動しても、溶接の仕上がりへの影響を低減させるという利点がある。また、加工物を複数の焦点によって均等に加熱することができる。特に、多波長レーザの波長の種類が25種類であれば、この効果が顕著に表れ、多波長レーザの波長の種類が15種類から12種類に変わっても、同様の効果が得られる。特に、多波長レーザの波長の種類が9種類であれば、この効果を確保しつつ、実用上、ビーム品質を落とさずに、高い出力のレーザが得られるという利点がある。
また、出力する多波長レーザの波長の範囲は、例えば、0.8μm〜5μmであり、レーザに対して反射率の高い材料、例えば、アルミニウム合金などにおいても高い吸収率が得られるという利点がある。この範囲内の波長で、25種類、15種類、12種類、9種類といった複数の波長のレーザを1つのファイバ30に入射させ、多波長レーザを形成する。出力する多波長レーザの波長の範囲は、0.8μm〜0.9μmでもよく、0.9μm〜1.0μmでもよく、また1.0μm〜2.0μmでもよい。特に、出力する多波長レーザの波長の範囲が0.8μm〜0.9μmでは、特に反射率の高い材料、例えば、アルミニウム合金においても、最も高い吸収率が得られるという利点がある。特に、出力する多波長レーザの波長の範囲が0.9μm〜1.0μmでは、特に反射率の高い材料、例えば、アルミニウム合金においても、多波長レーザの波長の範囲が0.8μm〜0.9μmの場合よりもわずかに低下するが、実用上ほとんど差のない、高い吸収率が得られるという利点がある。また、多波長レーザの波長の範囲が1.0μm〜2.0μmでは、この波長帯に吸収帯を持つ材料、例えば、プラスチック材料のような高分子材料を加工できる。
ここで、9種類の波長の多波長レーザの一例を(表1)に、15種類の波長の多波長レーザの一例を(表2)に、25種類の波長の多波長レーザの一例を(表3)に示す。
(表1)〜(表3)において、λは波長(μm)であり、fは集光レンズの焦点距離(mm)、Δfは最も長い波長のレーザの焦点と各波長のレーザの焦点との距離の差(焦点間の距離)である。
(表1)〜(表3)は、0.975μmを中心波長としており、(表1)は0.005μm間隔で9種類の波長のレーザであるため、多波長レーザの波長は0.955μm〜0.995μmであり、波長の分布幅は0.04μmである。(表2)は0.004μm間隔で15種類の波長のレーザであるため、多波長レーザの波長は0.947μm〜1.003μmであり、波長の分布幅は0.056μmである。(表3)は0.003μm間隔で25種類の波長のレーザであるため、多波長レーザの波長は0.939μm〜1.011μmであり、波長の分布幅は0.072μmである。
焦点間の距離Δfについて、以下のことがわかる。光は波長が短いほど屈折しやすいため、レーザの波長が短いほど焦点距離も短くなる。そのため、レーザの波長の差に比例して、焦点間の距離Δfは大きくなる。また、集光レンズの焦点距離fに比例して、焦点間の距離Δfは大きくなる。以上のことから、多波長レーザに含まれるレーザの波長の幅が広いほど、焦点の分布幅が広くなる。また、集光レンズの焦点距離が大きいほど、焦点の分布幅が広くなる。すなわち、加工物71の上面からのレーザ出射部40の先端の高さH1を大きくすると、焦点の分布幅を広くできる。
以下に、本実施の形態である重ね継手のレーザ溶接方法の一例を示す。
厚さT1が0.8mmの加工物71と、厚さT2が0.8mmの加工物72とを重ねて厚さ1.6mmの重ね継手をレーザ溶接する。集光レンズの焦点距離fを1500mmとし、(表1)の9種類の波長の多波長レーザを用いると、焦点F1の分布幅は1.8mmとなる。これにより、厚さ1.6mmの重ね継手の上面から下面までの全域に焦点F1を分布させることができる。集光レンズの焦点距離fを1000mmとし、(表1)の9種類の波長の多波長レーザを用いると、焦点F1の分布幅は1.2mmとなる。これにより、厚さ1.6mmの重ね継手の上面から下面までの範囲内に焦点F1を分布させることができる。以上のように、重ね継手の上面から下面にわたる領域の全域に焦点F1を分布させても良く、一部に焦点F1を分布させても良い。また、焦点F1の分布幅の中心は、重ね継手の上面から下面にわたる領域の中心と一致させても良い。また、焦点F1の分布幅の中心は、重ね継手の上面から下面にわたる領域の中心よりも上面側にしても良い。これにより、重ね継手の下面側への過剰な入熱を抑制できる。以上のように、多波長レーザを使用することにより重ね継手の上面から下面にわたる領域に複数の焦点を作ることができるので、個々の焦点位置におけるレーザパワーの均等に分配できるこれにより、重ね継手をより広い範囲で均等に、効率よく加熱することができる。
また、ファイバ30から出射される多波長レーザのBPP(Beam Parameter Product)は、例えば、2mm・mrad〜10mm・mradであり、従来技術であるYAGレーザより細いファイバにレーザを導入できるという利点がある。BPPが小さいほど、同一の光学系でレーザを集光した際には、レーザの焦点でのスポット径を小さくできる。ファイバ30から出射される多波長レーザのうちのそれぞれの波長のレーザのBPPは、2mm・mrad以上や、6mm・mrad以下や、8mm・mrad以下などでもよい。特に、レーザのBPPが2mm・mrad以上であればファイバにレーザを導入する際に、ファイバ端面におけるレーザビームのパワー密度を高めずに、光学系を容易に構成できるという利点がある。特に、レーザのBPPが6mm・mrad以下であればコア直径150μmのファイバにレーザを導入できるという利点がある。特に、レーザのBPPが8mm・mrad以下であればコア直径200μmのファイバにレーザを導入できるという利点がある。
また、ファイバ30から出射される多波長レーザの出力は、例えば、0.1kW〜30kWであり、広い範囲で溶込み深さを制御できるため、幅広い範囲の板厚を組み合わせた重ね溶接ができるという利点がある。ファイバ30から出射される多波長レーザの出力は、好ましくは0.5〜15kWであり、さらに好ましくは0.5〜10kWである。特に、多波長レーザの出力が0.5〜15kWであれば、15kWよりも高い場合よりレーザ発振装置の構成が簡単となり、レーザ溶接装置全体のコストパフォーマンスを高めることができるという利点がある。特に、多波長レーザの出力が0.5〜10kWであれば、10kWより高い場合よりレーザ発振装置の構成が簡単となり、レーザ溶接装置全体のコストパフォーマンスを高めることができるという利点がある。
また、ファイバ30から出射されるレーザは、レーザ発振装置10において、連続波発振させても構わないし、パルス発振させても構わない。レーザをパルス発振させる場合の周波数は、例えば、0.1Hz〜10kHz(周期は10秒〜0.1m秒)であり、広い範囲で、加工物へ投入するレーザエネルギーを調整することができ、広い範囲の板厚の加工物を加工しやすくできるという利点がある。多波長レーザをパルス発振させる場合の周波数は、好ましくは10Hz〜5kHz(周期は0.1秒〜0.2m秒)であり、さらに好ましくは10Hz〜500Hz(周期は0.1秒〜2m秒)である。特に、パルス発振させた多波長レーザの周波数が10Hz〜5kHzであれば、広い範囲で、加工物へ投入するレーザエネルギーを調整することができると共に、加工物に形成する溶融池を制御しやすくできるという利点がある。特に、パルス発振させた多波長レーザの周波数が10Hz〜500Hzであれば、広い範囲で、加工物へ投入するレーザエネルギーを調整することができると共に、特に低い溶接速度時において加工物に形成する溶融池を制御しやすくできるという利点がある。
また、レーザ発振装置10の立上り時間は、例えば、1μ秒〜10m秒であり、溶接開始時に加工物へ投入するエネルギーの投入速度を調整でき、溶接開始時のビード形状を制御しやすくできるという利点がある。立上り時間が短いほど、早く加工を開始できるため、製造のタクトタイムを短縮できる。また、多波長レーザをパルス発振させる場合は、発振パルスの周期よりも短い立上り時間でなければならない。レーザ発振装置10の立上り時間は、好ましくは10μ秒〜1m秒であり、さらに好ましくは10μ秒〜500μ秒である。特に、レーザ発振装置10の立上り時間が10μ秒〜1m秒であれば、溶接開始時に加工物へ投入するエネルギーの投入速度を調整でき、溶接開始時のビード形成を早くできるという利点がある。特に、レーザ発振装置10の立上り時間が10μ秒〜500μ秒であれば、溶接開始時に加工物へ投入するエネルギーの投入速度を調整でき、特に溶接速度の速い溶接を行う際に、溶接開始時のビード形成を早くできるという利点がある。
さらに、本実施の形態のレーザ溶接方法に用いる、多波長レーザを伝送するファイバについて、詳細に説明する。
図3(a)に示すシングルクラッドファイバ32を用いる場合は、コア33の直径d1が重要となる。例えば、コア33の直径d1が10μmから1000μmであれば、図4に示すレーザ出射部40と組み合わせることにより、焦点位置におけるビーム径は、例えば、コリメートレンズ42と集光レンズ43との焦点距離を組み合わせることにより、50μmから2000μmとなる。なお、クラッド34の直径d2は、ファイバの可とう性を損なわない範囲でよい。
図3(b)に示すダブルクラッドファイバ35を用いる場合は、コア36の直径d3が重要となる。例えば、コア36の直径d3が10μmから1000μmであれば、図4に示すレーザ出射部40と組み合わせることにより、焦点位置におけるビーム径は、例えば、コリメートレンズ42と集光レンズ43との焦点距離を組み合わせることにより、50μmから2000μmとなる。なお、クラッド37の直径d4は、コア36の直径d3より、例えば、10μmから1000μm大きければよい。クラッド38の直径d2は、ファイバの可とう性を損なわない範囲でよい。その場合、コア36と同様に、クラッド37でレーザビームの一部または全部伝送することができる。これにより、様々なビームプロファイルのビームを得ることができる。
さらに、本実施の形態のレーザ溶接方法における、多波長レーザを照射するレーザ出射部について、詳細に説明する。
レーザ出射部40は、多波長レーザを加工物70に照射するとともに、加工箇所にシールドガスを供給する。加工物70の材質が軟鋼である場合は、シールドガスとしては、空気、アルゴン、二酸化炭素、窒素、ヘリウムのいずれか、もしくは、これらの組み合わせが用いられ、このいずれを使用しても加工物の溶接部を保護できるという利点がある。また、加工物70の材質がステンレス鋼またはアルミニウム合金である場合は、シールドガスとしては、アルゴン、窒素、ヘリウムのいずれか、もしくは、これらの組み合わせが用いられ、このいずれを使用しても加工物の溶接部を保護できるという利点がある。
また、レーザ出射部40は必ずしもシールドガスを供給する機能を備える必要はない。特に、レーザ出射部40と加工物70,71との距離が長い場合には、レーザ出射部40にシールドガスを供給する機能は必要なく、これにより、レーザ出射部40の構造を簡略化できる。さらに、レーザ出射部40にシールドガスを供給する機能がない場合は、加工物の溶接箇所にシールドガスを供給するようなシールドガス供給ノズルを備えてもよい。また、レーザ出射部40にシールドガスを供給する機能がない場合は、加工物の溶接をシールドガスが満たされたチャンバーで行ってもよい。これにより、レーザ出射部40がシールドガスを供給する機能を備えていない場合も、加工物を最適な環境で溶接できる。
さらに、本実施の形態のレーザ溶接方法における、多波長レーザによって加工される加工物について、詳細に説明する。
加工物70の材質としては、軟鋼、ステンレス鋼、アルミ合金などがあり、形状としては、板状のものを例として説明する。加工物70が軟鋼またはステンレス鋼である場合、軟鋼またはステンレス鋼の厚さは、例えば、0.3mm〜50mmである。加工物70がアルミ合金である場合、アルミ合金の厚さは、例えば、0.5mm〜30mmである。
以上のようなレーザ溶接方法を行うことによって、図7(c)に示すように、加工物71および加工物72には、レーザによって、上部の幅がWt1であり、下部の幅がWb1である溶接部が形成され、加工物71と加工物72とが接続される。
このように、多波長レーザによって焦点距離が異なる複数の焦点を結ぶことができ、疑似的にレーリー長さが長くなるとともに加工物を複数の焦点によって均等に加熱することができる。これにより、加工物に合わせた最適な溶接条件で重ね継手を溶接することができる。
(実施の形態2)
本開示の、実施の形態2のレーザ溶接方法を、図面を用いて説明する。図8(a)〜(c)は、本実施の形態のレーザ溶接方法の工程を示す概略図である。本実施の形態は、特に、実施の形態1のレーザ溶接装置を用いて、突き合わせ溶接を行うレーザ溶接方法である。また、実施の形態1の重ね溶接を行うレーザ溶接方法と重複する事項であり、かつ、本実施の形態と矛盾なく適用できる事項については特に記載はせず、本実施の形態に適用するものである。
本開示の、実施の形態2のレーザ溶接方法を、図面を用いて説明する。図8(a)〜(c)は、本実施の形態のレーザ溶接方法の工程を示す概略図である。本実施の形態は、特に、実施の形態1のレーザ溶接装置を用いて、突き合わせ溶接を行うレーザ溶接方法である。また、実施の形態1の重ね溶接を行うレーザ溶接方法と重複する事項であり、かつ、本実施の形態と矛盾なく適用できる事項については特に記載はせず、本実施の形態に適用するものである。
図8(a)に示すように、厚さT3である加工物73(第3の加工物)の横に、厚さT4である加工物74(第4の加工物)を突き合わせて配置された、突き合わせ継手のレーザ溶接方法について説明する。本実施の形態では、加工物73の厚さT3と加工物74の厚さT4とは等しく、加工物73の右側面と加工物74の左側面とを接触(一致)させ、加工物73と加工物74のそれぞれの上面および下面が同じ高さになるように突き合わされて配置されている。しかし、加工物74の厚さT3と加工物74の厚さT4が異なってもよい。また、加工物73と加工物74のそれぞれの上面または下面が異なる高さになっていてもよい。
まず、図8(a)に示すように、加工物73と加工物74とを右側面および左側面が接触(一致)するように突き合わせて配置する。次に、制御装置80によってレーザ発振装置10を制御し、多波長レーザをレーザ発振装置10からファイバ30に出力する。そして、レーザ発振装置10から出力された多波長レーザは、ファイバ30を経由してレーザ出射部40に伝送される(図示せず)。
次に、図8(b)に示すように、レーザ出射部40からレーザを出射して、加工物73と加工物74とを、突き合わされた部分で溶接する。このとき、加工物73の上面に対して垂直方向における、加工物73の上面からのレーザ出射部40の先端の高さをH2とする。レーザ出射部40からの多波長レーザのうちの、一つのレーザの焦点をF1とし、加工物73の上面からの焦点F1の深さをD1とする。レーザ出射部40からのレーザの波長の数と同じ数だけ、焦点F1および深さD1が存在する。
溶接速度および多波長レーザに関しては、実施の形態1に記載された条件および効果が本実施の形態にも適用できる。すなわち、多波長レーザの波長、波長の種類、多波長レーザのBPP、多波長レーザの出力、多波長レーザの発振方法、レーザ発振装置10の立ち上がり時間などは、実施の形態1の記載が本実施の形態にも適用できる。
以下に、本実施の形態である突き合わせ継手のレーザ溶接方法の一例を示す。
厚さT3が0.8mmの加工物73と、厚さT4が0.8mmの加工物74とを突き合わせて厚さ0.8mmの突き合わせ継手をレーザ溶接する。集光レンズの焦点距離fを1000mmとし、実施の形態1の(表1)の9種類の波長の多波長レーザを用いると、焦点F1の分布幅は1.2mmとなる。これにより、厚さ0.8mmの突き合わせ継手の上面から下面までの全域に焦点F1を分布させることができる。集光レンズの焦点距離fを500mmとし、(表1)の9種類の波長の多波長レーザを用いると、焦点F1の分布幅は0.6mmとなる。これにより、厚さ0.8mmの突き合わせ継手の上面から下面までの範囲内に焦点F1を分布させることができる。以上のように、突き合わせ継手の上面から下面にわたる領域の全域に焦点F1を分布させても良く、一部に焦点F1を分布させても良い。また、焦点F1の分布幅の中心は、突き合わせ継手の上面から下面にわたる領域の中心と一致させても良い。また、焦点F1の分布幅の中心は、突き合わせ継手の上面から下面にわたる領域の中心よりも上面側にしても良い。これにより、突き合わせ継手の下面側への過剰な入熱を抑制できる。
また、多波長レーザを伝送するファイバ、レーザ出射部、シールドガス、加工物に関しては、実施の形態1に記載された条件および効果が本実施の形態にも適用できる。
以上のようなレーザ溶接方法を行うことによって、図8(c)に示すように、加工物73および加工物74には、レーザによって、上部の幅がWt2であり、下部の幅がWb2である溶接部が形成され、加工物73と加工物74とが接続される。
このように、多波長レーザによって焦点距離が異なる複数の焦点を結ぶことができ、疑似的にレーリー長さが長くなるとともに加工物を複数の焦点によって均等に加熱することができる。これにより、加工物に合わせた最適な溶接条件で突き合わせ継手を溶接することができる。
(実施の形態3)
本開示の、実施の形態4のレーザ溶接方法を、図面を用いて説明する。図9(a)〜(c)は、本実施の形態のレーザ溶接方法を示す概略図である。本実施の形態は、特に、実施の形態1のレーザ溶接装置を用いて、隅肉溶接を行うレーザ溶接方法である。また、実施の形態1の重ね溶接を行うレーザ溶接方法と重複する事項であり、かつ、本実施の形態と矛盾なく適用できる事項については特に記載はせず、本実施の形態に適用するものである。
本開示の、実施の形態4のレーザ溶接方法を、図面を用いて説明する。図9(a)〜(c)は、本実施の形態のレーザ溶接方法を示す概略図である。本実施の形態は、特に、実施の形態1のレーザ溶接装置を用いて、隅肉溶接を行うレーザ溶接方法である。また、実施の形態1の重ね溶接を行うレーザ溶接方法と重複する事項であり、かつ、本実施の形態と矛盾なく適用できる事項については特に記載はせず、本実施の形態に適用するものである。
図9(a)に示すように、厚さT5である加工物75(第5の加工物)と、厚さT6である加工物76(第6の加工物)とがT字型に配置された、隅肉継手のレーザ溶接方法について説明する。
まず、図9(a)に示すように、加工物76の上に、加工物75をT字型に配置する。次に、制御装置80によってレーザ発振装置10を制御し、多波長レーザをレーザ発振装置10からファイバ30に出力する。そして、レーザ発振装置10から出力された多波長レーザは、ファイバ30を経由してレーザ出射部40に伝送される(図示せず)。
次に、図9(b)に示すように、レーザ出射部40からレーザを出射して、加工物75と加工物76とを、互いに接する部分で溶接する。このとき、加工物75と加工物76と右端の接点に対して、加工物76の上面との角度がφ1で、距離がL1の位置にレーザ出射部40の先端を配置する。レーザ出射部40からの多波長レーザのうちの、一つのレーザの焦点をF1とし、加工物75と加工物76と右端の接点からの焦点F1の深さをD1とする。レーザ出射部40からのレーザの波長の数と同じ数だけ、焦点F1および深さD1が存在する。
溶接速度および多波長レーザに関しては、実施の形態1に記載された条件および効果が本実施の形態にも適用できる。すなわち、多波長レーザの波長、波長の種類、多波長レーザのBPP、多波長レーザの出力、多波長レーザの発振方法、レーザ発振装置10の立ち上がり時間などは、実施の形態1の記載が本実施の形態にも適用できる。
以下に、本実施の形態である隅肉継手のレーザ溶接方法の一例を示す。
厚さT5が0.8mmの加工物75と、厚さT6が0.8mmの加工物76とをT字型に配置した隅肉継手をレーザ溶接する。集光レンズの焦点距離fを500mmとし、実施の形態1の(表1)の9種類の波長の多波長レーザを用いると、焦点F1の分布幅は0.6mmとなる。これにより、厚さ0.8mmの隅肉継手の加工物75と加工物76の内部に焦点F1を分布させることができる。また、焦点F1の分布幅は、隅肉継手の加工物75と加工物76の内部に収まるようにしても良いし、隅肉継手の加工物75と加工物76よりも手前(レーザ出射側)にはみ出すようにしても良い。これにより、隅肉継手の加工物76の下面側への過剰な入熱を抑制できる。
また、多波長レーザを伝送するファイバ、レーザ出射部、シールドガス、加工物に関しては、実施の形態1に記載された条件および効果が本実施の形態にも適用できる。
以上のようなレーザ溶接方法を行うことによって、図9(c)に示すように、加工物75および加工物76には、レーザによって溶接部が形成され、加工物75と加工物76とが接続される。
このように、多波長レーザによって焦点距離が異なる複数の焦点を結ぶことができ、疑似的にレーリー長さが長くなるとともに加工物を複数の焦点から均等に加熱することができる。これにより、加工物に合わせた最適な溶接条件で隅肉継手を溶接することができる。
本開示に係るレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法によると、多波長レーザによって、焦点距離が異なる複数の焦点を結ぶことができ、加工物を複数の焦点から均等に加熱することができる。これにより、加工物に合わせた最適な溶接条件で溶接することができ、産業上有用である。
1 レーザ溶接装置
10 レーザ発振装置
11,12 半導体レーザ
13 分光器
14 部分反射鏡
21,23 レーザ出射端
22,24 全反射端
25 第1の面
26 第2の面
30 ファイバ
31 入射端
32 シングルクラッドファイバ
33,36 コア
34,37,38 クラッド
35 ダブルクラッドファイバ
39 出射端
40 レーザ出射部
41,44 空間
42 コリメートレンズ
43 集光レンズ
45,48 排出口
46,47 導入口
50 シールドガス供給装置
51,52 ガスボンベ
53〜56 バルブ
60 マニピュレータ
70〜76 加工物
80 制御装置
81 ティーチングペンダント
82 メイン制御部
83 レーザ発振装置通信部
84 シールドガス供給装置通信部
85 マニピュレータ通信部
86 記憶部
101 レーザ溶接装置
102 3相交流電源
103 ブレーカ
104 整流平滑回路
105 チョッパ回路
106 整流平滑化出力回路
107 YAGレーザ発振器
108 アークランプ
109 YAGレーザ棒
110 光ファイバケーブル
111 制御盤
112 PWMパルス発生器
113 制御回路
114 起動回路
115 YAGレーザ照射ヘッド
116 レンズ
117 プリズム
118 ノズルボディ
119 銅チップ
120R 右側レーザ光束
120L 左側レーザ光束
121R 右側焦点
121L 左側焦点
122 母材
10 レーザ発振装置
11,12 半導体レーザ
13 分光器
14 部分反射鏡
21,23 レーザ出射端
22,24 全反射端
25 第1の面
26 第2の面
30 ファイバ
31 入射端
32 シングルクラッドファイバ
33,36 コア
34,37,38 クラッド
35 ダブルクラッドファイバ
39 出射端
40 レーザ出射部
41,44 空間
42 コリメートレンズ
43 集光レンズ
45,48 排出口
46,47 導入口
50 シールドガス供給装置
51,52 ガスボンベ
53〜56 バルブ
60 マニピュレータ
70〜76 加工物
80 制御装置
81 ティーチングペンダント
82 メイン制御部
83 レーザ発振装置通信部
84 シールドガス供給装置通信部
85 マニピュレータ通信部
86 記憶部
101 レーザ溶接装置
102 3相交流電源
103 ブレーカ
104 整流平滑回路
105 チョッパ回路
106 整流平滑化出力回路
107 YAGレーザ発振器
108 アークランプ
109 YAGレーザ棒
110 光ファイバケーブル
111 制御盤
112 PWMパルス発生器
113 制御回路
114 起動回路
115 YAGレーザ照射ヘッド
116 レンズ
117 プリズム
118 ノズルボディ
119 銅チップ
120R 右側レーザ光束
120L 左側レーザ光束
121R 右側焦点
121L 左側焦点
122 母材
Claims (16)
- 第1の加工物と第2の加工物とを継手形状となるように配置する工程と、
レーザ発振装置から波長合成されたレーザを出力する工程と、
前記波長合成されたレーザをレーザ出射部から出射する工程と、
前記継手形状の継手部分に、前記波長合成されたレーザを照射し、前記第1の加工物と前記第2の加工物とを接続する工程と、
を備えたレーザ溶接方法。 - 前記継手形状は、重ね継手である請求項1に記載のレーザ溶接方法。
- 前記継手形状は、突き合わせ継手である請求項1に記載のレーザ溶接方法。
- 前記継手形状は、隅肉継手である請求項1に記載のレーザ溶接方法。
- 前記第1の加工物および前記第2の加工物は同じ材質であり、
前記材質は、軟鋼、ステンレス鋼およびアルミ合金のいずれか1つである請求項1〜4のいずれかに記載のレーザ溶接方法。 - 前記材質は軟鋼またはステンレス鋼であり、
前記第1の加工物および前記第2の加工物の厚さは、0.3mm〜50mmである請求項5に記載のレーザ溶接方法。 - 前記材質はアルミ合金であり、
前記第1の加工物および前記第2の加工物の厚さは、0.5mm〜30mmである請求項5に記載のレーザ溶接方法。 - 前記材質は軟鋼であり、
前記継手部分には、シールドガスとして、空気、アルゴン、二酸化炭素、窒素、ヘリウムのいずれか1つまたはこれらの組み合わせが供給される請求項5に記載のレーザ溶接方法。 - 前記材質はステンレス鋼またはアルミ合金であり、
前記継手部分には、シールドガスとして、アルゴン、窒素、ヘリウムのいずれか1つまたはこれらの組み合わせが供給される請求項5に記載のレーザ溶接方法。 - 溶接速度は、0.1〜50m/分である請求項1〜9のいずれかに記載のレーザ溶接方法。
- 前記レーザ発振装置は、第1のレーザ出射端および第1の全反射端とを有する第1の半導体レーザと、第2のレーザ出射端および第2の全反射端とを有する第2の半導体レーザと、分光器と、部分反射鏡とを有し、
前記第1の全反射端と前記部分反射鏡との間で、前記分光器を介して第1のレーザを発振し、
前記第2の全反射端と前記部分反射鏡との間で、前記分光器を介して第2のレーザを発振する請求項1〜10のいずれかに記載のレーザ溶接方法。 - 前記第1の半導体レーザは、複数のエミッタを有する第1の半導体レーザバーであり、
前記第2の半導体レーザは、複数のエミッタを有する第2の半導体レーザバーである請求項11に記載のレーザ溶接方法。 - 前記第1の半導体レーザは、複数の前記第1の半導体レーザバーが積み重ねられ、
前記第2の半導体レーザは、複数の前記第2の半導体レーザバーが積み重ねられている請求項12に記載のレーザ溶接方法。 - 前記レーザ出射部と前記継手部分とは、500mm以上離れて配置されている請求項1〜13のいずれかに記載のレーザ溶接方法。
- 前記レーザ出射部は、前記波長合成されたレーザを集光し、
集光された前記波長合成されたレーザは、前記第1の加工物および前記第2の加工物の厚さ方向に複数の焦点を結び、擬似的にレーリー長さを長くする請求項1〜14のいずれかに記載のレーザ溶接方法。 - 波長合成されたレーザを出射するレーザ発振装置と、
第1の端部が、前記レーザ発振装置に接続され、前記波長合成されたレーザを伝送するファイバと、
前記第1の端部とは反対側の前記ファイバの第2の端部が接続され、前記波長合成されたレーザを加工物に出射するレーザ出射部と、
前記レーザ出射部に接続され、前記レーザ出射部を動かす駆動装置と、を備えた、レーザ溶接装置。
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