JP2015161636A - Mercury atomic fluorescence analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、試料中に含有される水銀を分析する水銀原子蛍光分析装置に関する。 The present invention relates to a mercury atomic fluorescence analyzer for analyzing mercury contained in a sample.
水銀原子蛍光分析装置で測定時にキャリアガスとして空気を用いると、空気(酸素)の消光現象により水銀の原子蛍光強度が極めて低くなるので、キャリアガスとして一般的にアルゴンガスが用いられている(特許文献1)。 When air is used as a carrier gas during measurement with a mercury atomic fluorescence analyzer, the atomic fluorescence intensity of mercury becomes extremely low due to the quenching phenomenon of air (oxygen), so argon gas is generally used as the carrier gas (patent) Reference 1).
そのため、水銀原子蛍光分析装置に電源が投入された後の測定開始前に、水銀原子蛍光分析装置のキャリアガス流路にアルゴンガスを流して空気をアルゴンガスで置換してから測定している。 Therefore, before the measurement is started after the mercury atom fluorescence analyzer is turned on, the measurement is performed after flowing argon gas into the carrier gas channel of the mercury atom fluorescence analyzer and replacing the air with argon gas.
しかし、水銀原子蛍光分析装置に電源が投入された後の測定開始前に、水銀原子蛍光分析装置のキャリアガス流路にアルゴンガスを流して空気をアルゴンガスで置換した後に測定を開始しても感度が低下する場合がある、また、測定終了時から次測定開始までの待機時間が長くなると、感度が低下するという問題があった。 However, even if measurement is started after argon gas is flowed into the carrier gas channel of the mercury atomic fluorescence analyzer and air is replaced with argon gas before the measurement is started after the mercury atomic fluorescence analyzer is turned on. In some cases, the sensitivity is lowered, and when the waiting time from the end of the measurement to the start of the next measurement is increased, the sensitivity is lowered.
本発明は前記従来の問題に鑑みてなされたもので、測定開始時が何時であっても感度の低下がなく、高精度の分析ができる水銀原子蛍光分析装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and an object thereof is to provide a mercury atomic fluorescence analyzer capable of performing a highly accurate analysis without any reduction in sensitivity no matter what time the measurement starts.
前記目的を達成するために、本発明の第1構成にかかる水銀原子蛍光分析装置は、試料ガス中の水銀を捕集する水銀捕集剤が充填された水銀捕集管と、前記水銀捕集管を加熱して水銀を気化させる加熱気化手段と、前記加熱気化手段で加熱気化された水銀を定量する水銀測定器と、キャリアガスが流れるキャリアガス流路に設けられたバルブと、前記加熱気化手段および前記バルブを制御する制御手段と、を備え、前記制御手段に設定されたパージ設定時に、前記制御手段が、前記加熱気化手段と前記バルブとを制御して、前記水銀捕集管を300℃〜800℃に加熱するとともに、前記水銀捕集管にキャリアガスを流して前記水銀捕集管をパージする。 In order to achieve the above object, a mercury atomic fluorescence analyzer according to the first configuration of the present invention includes a mercury collecting tube filled with a mercury collecting agent for collecting mercury in a sample gas, and the mercury collecting A heating vaporization means for vaporizing mercury by heating a tube; a mercury measuring device for quantifying mercury heated and vaporized by the heating vaporization means; a valve provided in a carrier gas channel through which a carrier gas flows; and the heating vaporization And a control means for controlling the valve, and at the time of purge setting set in the control means, the control means controls the heating vaporization means and the valve to control the mercury collecting pipe to 300. While heating at a temperature of from -800 ° C., a carrier gas is passed through the mercury collection tube to purge the mercury collection tube.
本発明の第1構成にかかる水銀原子蛍光分析装置によれば、適切なタイミングで前記水銀捕集管を300℃〜800℃に加熱するとともに、前記水銀捕集管にキャリアガスを流してパージするので、測定開始時が何時であっても感度の低下がなく、高精度の分析を行うことができる。 According to the mercury atomic fluorescence spectrometer according to the first configuration of the present invention, the mercury collecting tube is heated to 300 ° C. to 800 ° C. at an appropriate timing, and a carrier gas is allowed to flow through the mercury collecting tube for purging. Therefore, no matter what time the measurement starts, there is no decrease in sensitivity, and highly accurate analysis can be performed.
本発明の第1構成にかかる水銀原子蛍光分析装置においては、電源が投入された後の測定開始前を前記パージ設定時とするのが好ましい。この構成により、水銀原子蛍光分析装置に電源が投入された直後の測定であっても感度低下がなく、高精度の分析を行うことができる。 In the mercury atomic fluorescence spectrometer according to the first configuration of the present invention, it is preferable that the start of measurement after the power is turned on before the purge setting. With this configuration, even when measurement is performed immediately after the mercury atomic fluorescence analyzer is turned on, the sensitivity is not lowered, and high-precision analysis can be performed.
本発明の第1構成にかかる水銀原子蛍光分析装置においては、前記制御手段が測定終了時から次測定開始までの時間を待機時間として監視し、待機時間が前記制御手段に設定されたパージ不要時間を経過した後の測定開始前を前記パージ設定時とするのが好ましい。この構成により、長い待機時間後の測定であっても感度の低下がなく、高精度の分析を行うことができる。 In the mercury atomic fluorescence spectrometer according to the first configuration of the present invention, the control means monitors the time from the end of the measurement to the start of the next measurement as a standby time, and the purge unnecessary time set in the control means It is preferable to set the purge setting before the start of measurement after elapse of. With this configuration, even when the measurement is performed after a long waiting time, the sensitivity is not lowered and a highly accurate analysis can be performed.
本発明の第2構成にかかる水銀原子蛍光分析装置は、試料ガス中の水銀を捕集する水銀捕集剤が充填された水銀捕集管と、前記水銀捕集管を加熱して水銀を気化させる加熱気化手段と、前記加熱気化手段で加熱気化された水銀を定量する水銀測定器と、キャリアガスが流れるキャリアガス流路に設けられたバルブと、前記加熱気化手段および前記バルブを制御する制御手段と、を備え、前記制御手段に設定されたパージ測定設定時に、前記制御手段が、前記加熱気化手段と前記バルブとを制御して、前記水銀捕集管を試料測定時と同じ温度に加熱し、前記水銀捕集管に試料測定時と同じ流量のキャリアガスを流すパージ測定を少なくとも1回行う。 The mercury atomic fluorescence spectrometer according to the second configuration of the present invention includes a mercury collecting tube filled with a mercury collecting agent for collecting mercury in a sample gas, and vaporizing mercury by heating the mercury collecting tube. Heating vaporization means, a mercury measuring device for quantifying mercury heated and vaporized by the heating vaporization means, a valve provided in a carrier gas channel through which a carrier gas flows, and a control for controlling the heating vaporization means and the valve And when the purge measurement is set in the control means, the control means controls the heating vaporization means and the valve to heat the mercury collecting tube to the same temperature as the sample measurement. Then, the purge measurement is performed at least once by flowing the carrier gas at the same flow rate as the sample measurement into the mercury collecting tube.
本発明の第2構成にかかる水銀原子蛍光分析装置によれば、適切なタイミングで前記水銀捕集管を試料測定時と同じ温度に加熱し、前記水銀捕集管に試料測定時と同じ流量のキャリアガスを流すパージ測定を少なくとも1回行うので、測定開始時が何時であっても感度の低下がなく、高精度の分析を行うことができる。 According to the mercury atomic fluorescence spectrometer according to the second configuration of the present invention, the mercury collecting tube is heated to the same temperature as when measuring the sample at an appropriate timing, and the mercury collecting tube has the same flow rate as when measuring the sample. Since the purge measurement for flowing the carrier gas is performed at least once, the sensitivity does not decrease at any time when the measurement is started, and a highly accurate analysis can be performed.
本発明の第2構成にかかる水銀原子蛍光分析装置においては、電源が投入された後の測定開始前を前記パージ測定設定時とするのが好ましい。この構成により、水銀原子蛍光分析装置に電源が投入された直後の測定であっても感度低下がなく、高精度の分析を行うことができる。 In the mercury atomic fluorescence spectrometer according to the second configuration of the present invention, it is preferable that the start of measurement after the power is turned on is set as the purge measurement. With this configuration, even when measurement is performed immediately after the mercury atomic fluorescence analyzer is turned on, the sensitivity is not lowered, and high-precision analysis can be performed.
本発明の第2構成にかかる水銀原子蛍光分析装置においては、前記制御手段が測定終了時から次測定開始までの時間を待機時間として監視し、待機時間が前記制御手段に設定されたパージ測定不要時間を経過した後の測定開始前を前記パージ測定設定時とするのが好ましい。この構成により、長い待機時間後の測定であっても感度の低下がなく、高精度の分析を行うことができる。 In the mercury atomic fluorescence spectrometer according to the second configuration of the present invention, the control means monitors the time from the end of the measurement to the start of the next measurement as a standby time, and the standby time set in the control means is not required. It is preferable to set the purge measurement before the start of measurement after a lapse of time. With this configuration, even when the measurement is performed after a long waiting time, the sensitivity is not lowered and a highly accurate analysis can be performed.
以下、本発明の第1実施形態である水銀原子蛍光分析装置について説明する。図1は本発明の第1実施形態に係る水銀原子蛍光分析装置70の概略を示す。この水銀原子蛍光分析装置70は、気中水銀を測定する装置であり、試料ガス中の水銀を捕集する水銀捕集剤11が充填された水銀捕集管1と、水銀捕集管1を加熱して水銀を気化させる、例えば加熱気化炉である加熱気化手段2と、加熱気化手段2で加熱気化された水銀を定量する水銀測定器4と、キャリアガスGが流れるキャリアガス流路に設けられたバルブV1、V2と、加熱気化手段2およびバルブV1、V2を制御する制御手段3と、を備え、制御手段3に設定されたパージ設定時に、制御手段3が、加熱気化手段2とバルブV1、V2とを制御して、水銀捕集管1を300℃〜800℃に加熱するとともに、水銀捕集管1にキャリアガスGを流して水銀捕集管1とキャリアガス流路とをパージする。
Hereinafter, a mercury atom fluorescence analyzer according to a first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 schematically shows a mercury
制御手段3に設定されたパージ設定時には、試料測定時に流される同じキャリアガスGである、例えば、アルゴンガスG1が流され、試料ガスS中の水銀を水銀捕集管1に捕集する捕集時にはキャリアガスGとして空気G2が流される。水銀原子蛍光分析装置70は、キャリアガス流路にキャリアガスGを水銀原子蛍光分析装置70内に吸引するポンプPと、ポンプPが吸引するキャリアガスGの流量を調節するバルブV3と、アルゴンガスG1の流量を調節するマスフローコントローラ5と、を備える。バルブV1は開閉電磁バルブ、バルブV2は三方電磁バルブ、バルブV3は手動式の流量調節バルブである。制御手段3は、例えば、コンピュータ6に備えられており、制御手段3は水銀測定器4、マスフローコントローラ5、ポンプPを含む装置全体を制御する。試料測定時に流されるキャリアガスGはアルゴンガスG1に限らず、窒素ガス、ネオンガス、ヘリウムガスなどであってもよい。
At the time of the purge setting set in the control means 3, the same carrier gas G that is flowed at the time of sample measurement, for example, argon gas G1 is flowed, and the mercury in the sample gas S is collected in the
本明細書において、測定とは、試料ガス中の水銀が水銀捕集剤11に捕集される工程と、その捕集された水銀が加熱気化されてガス状の水銀となり水銀測定器4で定量される工程とを言う。試料測定とは、試料ガスS中の水銀が水銀捕集剤11に捕集される工程を含まず、ガス状となった水銀が水銀測定器4で定量される工程のみを言う。
In this specification, the measurement means that the mercury in the sample gas is collected in the
水銀捕集管1には、金のナノ粒子が高濃度(例えば、50〜90wt%)で分散された酸性の水溶液に20〜30メッシュの粒状の珪藻土を入れて珪藻土(クロモソルブ)に金のナノ粒子を含浸させ、加熱処理した水銀捕集剤11が充填されている。水銀捕集剤11は珪藻土に塩化金酸を焼き付けたものであってもよい。珪藻土は金のナノ粒子を担持する担体であり、この担体に海砂を用いてもよい。
In the
水銀捕集管1は、例えば石英で形成された円筒容器の入口と出口に石英ウールが詰められ、これらの石英ウールの中間に水銀捕集剤11が充填されている。水銀捕集管1は、加熱気化手段2に挿入されて加熱される。
The
制御手段3に設定されるパージ設定時とは、例えば、水銀原子蛍光分析装置70に電源が投入された後の測定開始前、および制御手段が測定終了時から次測定開始までの時間を待機時間として監視し、待機時間が前記制御手段に設定されたパージ不要時間を経過した後の測定開始前である。
The purge setting time set in the control means 3 is, for example, the time before the start of measurement after the mercury
図2に示すように、水銀測定器4は、試料ガスSを試料測定する試料測定セル42と、試料測定セル42に水銀の分析線を照射する水銀ランプ41と、水銀ランプ41から放射される分析線が入射しない位置であり、かつ試料測定セル42に導入された試料ガスS中に存在する水銀が水銀ランプ41から照射された分析線によって励起されて発生する水銀の蛍光強度を検出できる位置に配置された検出器43と、検出器43が検出した水銀の蛍光強度に応じて試料ガスS中の水銀の含有量を定量する検出処理部44とを備えている。
As shown in FIG. 2, the
図1に示すように、キャリアガス流路は、試料ガスSまたは空気G2を水銀原子蛍光分析装置70に導入する試料導入口C1、試料ガスSまたは空気G2の導入時に開状態となる開閉電磁バルブV1、アルゴンガスG1を水銀原子蛍光分析装置70に導入するアルゴンガス導入口C2、アルゴンガス流量を調節するマスフローコントローラ5、試料ガス流路とアルゴンガス流路とが接続される接続路C3、水銀捕集管1、水銀捕集管1を通過するキャリアガスGが水銀測定器4と三方電磁バルブV2との流路に分岐される分岐路C4、水銀測定器4に備えられた測定セル42(図2)、三方電磁バルブV2、流量調節バルブV3、キャリアガスGを吸引するポンプPおよびキャリアガスGを水銀原子蛍光分析装置70から排出する排出口C5から構成される。開閉電磁バルブV1は電源遮断時、閉状態であり、通電時、開状態となる。三方電磁バルブV2は、電源遮断時、水銀捕集管側流路が開状態であって水銀測定器側流路が閉状態であり、通電時、水銀捕集管側流路が閉状態であって水銀測定器側流路が開状態となる。
As shown in FIG. 1, the carrier gas flow path includes a sample inlet C1 for introducing the sample gas S or air G2 into the mercury
次に、本発明の第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70の動作について説明する。図3は水銀原子蛍光分析装置70の動作の概略フロー図であり、水銀捕集管1をアルゴンガスG1でパージする動作に重点をおいて示している。水銀原子蛍光分析装置70に電源が投入されると、水銀測定器4がウォーミングアップ(主に水銀ランプ41の安定化)されるとともに、制御手段3が加熱気化手段2を制御して水銀捕集管1を、例えば150℃に加熱してスタンバイ状態になる。水銀原子蛍光分析装置70に電源が投入された後の測定開始前をパージ設定時(第1パージ設定時)として水銀捕集管1をパージするように制御手段3に設定されている。スタンバイ状態における水銀捕集管1の加熱温度は、試料ガスS中の水銀が水銀捕集管1の水銀捕集剤11に捕集されるときの加熱温度と同じ温度である。スタンバイ状態で水銀捕集管1を150℃に加熱するのは、水銀捕集剤11の表面が空気中のハイドロカーボン、妨害成分などによって汚染されるのを防止するためである。試料ガスS中の水銀の捕集については後述する。
Next, the operation of the mercury
水銀原子蛍光分析装置70がスタンバイ状態になると、第1パージが開始される。第1パージでは、制御手段3が加熱気化手段2を制御して水銀捕集管1を、例えば500℃に加熱するとともに、アルゴンガス導入口C2からポンプPによって吸引されたアルゴンガスG1が、マスフローコントローラ5、分岐路C3、500℃に加熱された水銀捕集管1、分岐路C4、三方電磁バルブV2、流量調節バルブV3、ポンプPおよび排出口C5の順に流れる(図1)。アルゴンガスG1がこの順に流れる流路を第1パージキャリアガス流路という。
When the mercury
アルゴンガスG1が第1パージキャリアガス流路を流れることによって、第1パージキャリアガス流路がパージされる。このとき、開閉電磁バルブV1は電源遮断の閉状態、三方電磁バルブV2は水銀捕集管側流路が電源遮断の開状態であって水銀測定器側流路が閉状態であり、アルゴンガスG1はマスフローコントローラ5によって0.4L(リットル)/minに調節されている。第1パージのパージ時間は、例えば30秒である。第1パージ時間は30秒に限らず、30秒より短くても長くてもよい。高精度分析の場合には、長いパージ時間が好ましい。
As the argon gas G1 flows through the first purge carrier gas flow path, the first purge carrier gas flow path is purged. At this time, the open / close electromagnetic valve V1 is in a closed state where the power supply is shut off, and the three-way electromagnetic valve V2 is in an open state where the mercury collecting tube side flow path is in the power cut off state and the mercury measuring instrument side flow path is closed. Is adjusted to 0.4 L (liter) / min by the
第1パージが終了すると、第2パージが開始される。第2パージでは、アルゴンガス導入口C2からポンプPによって吸引されたアルゴンガスG1によってマスフローコントローラ5、接続路C3、500℃に加熱された水銀捕集管1、分岐路C4、水銀測定器4に備えられた試料測定セル42(図2)、三方電磁バルブV2、流量調節バルブV3、ポンプPおよび排出口C5の順に流れる(図1)。アルゴンガスG1がこの順に流れる流路を第2パージキャリアガス流路という。アルゴンガスG1が第2パージキャリアガス流路を流れることによって、第2パージキャリアガス流路がパージされる。
When the first purge is finished, the second purge is started. In the second purge, the argon gas G1 sucked by the pump P from the argon gas inlet C2 is supplied to the
このとき、開閉電磁バルブV1は電源遮断の閉状態、三方電磁バルブV2は通電されており、水銀捕集管側流路が閉状態であって水銀測定器側流路が開状態である。アルゴンガスG1はマスフローコントローラ5によって0.4L/minに調節されている。第2パージのパージ時間は、例えば180秒である。第2パージでは試料測定セル42をパージするため、第1パージより長い時間パージしている。第2パージ時間は180秒に限らず、180秒より短くても長くてもよい。高精度分析の場合には、長いパージ時間が好ましい。
At this time, the open / close electromagnetic valve V1 is in a closed state in which the power is shut off, the three-way electromagnetic valve V2 is energized, the mercury collecting pipe side flow path is closed, and the mercury measuring instrument side flow path is open. The argon gas G1 is adjusted to 0.4 L / min by the
第1パージと第2パージによって、第1パージキャリアガス流路と第2パージキャリアガス流路がパージされ、水銀原子蛍光分析装置70のすべてのキャリアガス流路がパージされる。第1、第2パージによって、水銀原子蛍光分析装置70の電源オフの間にキャリアガス流路に入り込んだ空気や水分(湿気)がパージされる。特に、第1パージと第2パージにおいて水銀捕集管1が500℃に加熱されながら試料測定時のキャリアガスGであるアルゴンガスG1でパージされるので、水銀原子蛍光分析装置70の電源オフの間に、水銀捕集管1に充填された水銀捕集剤11において、金のナノ粒子の間隙や多孔質である珪藻土の孔や珪藻土の粒子の間隙などに入り込んだ空気や水分が効率よく追い出される。
By the first purge and the second purge, the first purge carrier gas channel and the second purge carrier gas channel are purged, and all the carrier gas channels of the mercury
第2パージが終了すると、制御手段3が第2パージ終了時から測定開始までの時間を待機時間として監視する。待機時間が制御手段3に設定されたパージ不要時間を経過した後の測定開始前をパージ設定時(第2パージ設定時)として水銀捕集管1をパージするように制御手段3に設定されている。測定開始前になると、制御手段3は待機時間がパージ不要時間、例えば1時間を超えているか、否かを判断し、待機時間が1時間を超えていると、再度、第1パージ、第2パージが行われる。
When the second purge is finished, the control means 3 monitors the time from the end of the second purge to the start of measurement as a standby time. The control means 3 is set so as to purge the
待機時間が1時間以内であれば、測定が開始されて試料ガスS中の水銀が水銀捕集剤11に捕集される。試料ガスS中の水銀を水銀捕集剤11に捕集するために、制御手段3が加熱気化手段2を制御して水銀捕集管1の加熱温度を、例えば150℃にし、マスフローコントローラ5を閉状態(アルゴンガスG1が流れない状態)に、開閉電磁バルブV1を開状態にしてポンプPを駆動させて試料導入口C1から試料ガスSを導入し、試料ガスS中の水銀を水銀捕集剤11に捕集する。このとき、試料ガスSが、開閉電磁バルブV1、分岐路C3、150℃に加熱された水銀捕集管1、分岐路C4、三方電磁バルブV2、流量調節バルブV3、ポンプPおよび排出口C5の順に流れる。流量調節バルブV3によって試料ガスSの流量は0.5L/minに調節されており、例えば5分間導入される。試料ガスSを導入する流量、導入時間は試料ガスSの種類によって適宜調節される。
If the waiting time is within 1 hour, the measurement is started and mercury in the sample gas S is collected in the
試料ガスS中の水銀が水銀捕集剤11に捕集されると、水銀捕集時にキャリアガス流路に流入した空気をアルゴンガスG1に置換する。試料測定前に、制御手段3が加熱気化手段2、マスフローコントローラ5、開閉電磁バルブV1、三方電磁バルブV2、ポンプPを制御して、水銀捕集管1の加熱温度を水銀捕集時と同じ温度である150℃に保持し、キャリアガス流路にアルゴンガスG1を流して空気をアルゴンガスで置換する。このアルゴンガス置換が行われた後に、試料測定が開始される。試料測定が開始されると、水銀捕集管1が加熱気化手段2によって500℃に加熱され、水銀捕集剤11に捕集された水銀が加熱気化されてガス状の水銀となる。ガス状の水銀はアルゴンガス導入口C2から導入されたアルゴンガスG1によって水銀測定器4に運ばれて試料測定される。試料測定時のアルゴンガスG1は第2パージキャリアガス流路を流れる。アルゴンガスG1はマスフローコントローラ5によって0.1L/minに調節されている。
When the mercury in the sample gas S is collected by the
測定が終了すると、制御手段3がその測定終了時から次測定開始までの時間を待機時間として監視する。待機時間が制御手段3に設定されたパージ不要時間を経過した後の測定開始前をパージ設定時(第3パージ設定時)として水銀捕集管1をパージするように制御手段3に設定されている。次測定開始前になると、制御手段3は待機時間がパージ不要時間、例えば1時間を超えているか、否かを判断し、1時間以内であれば、次測定が開始される。
When the measurement is completed, the control means 3 monitors the time from the end of the measurement to the start of the next measurement as a standby time. The control means 3 is set so as to purge the
待機時間が1時間を超えていると、第1パージ、第2パージが行われた後、次測定が開始される。 If the standby time exceeds 1 hour, the next measurement is started after the first purge and the second purge are performed.
本発明の第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70では、パージ設定時として第1〜第3パージ設定時が制御手段3に設定されていたが、この設定に限定されず、第1〜第3パージ設定時のいずれか1つであっても、いずれか2つであってもよい。また、4回以上のパージが設定されてもよい。
In the mercury
本発明の第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70では、スタンバイ状態の水銀捕集管1の加熱温度、試料ガスS中の水銀捕集時の水銀捕集管1の加熱温度を150℃としたが、この加熱温度に限ったものではなく、加熱温度が200℃を超えると、水銀捕集管1の水銀捕集効率が低下するので、150℃〜200℃の範囲の加熱温度であればよい。また、第2パージ時および試料測定時の水銀捕集管1の加熱温度を500℃としたが、この加熱温度に限ったものではなく、加熱温度が300℃未満であると、水銀捕集剤11に捕集された水銀の気化効率が低下するので、300℃〜800℃の範囲の加熱温度であればよい。
In the mercury
第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70では、第1パージで水銀捕集管1を500℃に加熱したが、水銀測定器4のウォーミングアップ時に、水銀捕集管1を、例えば500℃に加熱してスタンバイしてもよい。
In the mercury
第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70によれば、適切なタイミングで前記水銀捕集管を300℃〜800℃に加熱するとともに、前記水銀捕集管にキャリアガスを流してパージするので、水銀原子蛍光分析装置70に電源が投入された直後、長い待機時間後など測定開始時が何時であっても感度の低下がなく、高精度の分析を行うことができる。
According to the mercury
以下、本発明の第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置80について説明する。図1に示すように、この水銀原子蛍光分析装置80は第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70と制御手段30が異なるだけであり、その他の構成は同じである。制御手段30に設定されたパージ測定設定時に、制御手段30が、加熱気化手段2と開閉電磁バルブV1、三方電磁バルブV2とを制御して、水銀捕集管1を試料測定時と同じ温度に加熱し、水銀捕集管1に試料測定時と同じ流量のキャリアガスGである、例えば、アルゴンガスG1を流すパージ測定を少なくとも1回、例えば2回行う。制御手段30は、例えば、コンピュータ6に備えられており、制御手段30は水銀測定器4、マスフローコントローラ5、ポンプPを含む水銀原子蛍光分析装置80全体を制御する。
The mercury
第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置80の動作について説明する。図4は水銀原子蛍光分析装置80の動作の概略フロー図であり、パージ測定に重点をおいて示されている。水銀原子蛍光分析装置80に電源が投入されると、水銀原子蛍光分析装置70と同様にスタンバイ状態になる。さらに、水銀原子蛍光分析装置80に電源が投入された後の測定開始前をパージ測定設定時(第1パージ測定設定時)としてパージ測定を2回行うように制御手段30に設定されている。スタンバイ状態における水銀捕集管1の加熱温度は、試料ガスS中の水銀が水銀捕集管1の水銀捕集剤11に捕集されるときの加熱温度と同じ温度である。パージ測定はブランク試料に相当するパージ試料を測定するが、その測定値を定量分析には用いることはない。水銀捕集管1、第2パージキャリアガス流路をパージするためにパージ測定が行われる。
The operation of the mercury
スタンバイ状態になると、制御手段30が加熱気化手段2を制御して水銀捕集管1の加熱温度を、例えば150℃にし、マスフローコントローラ5を閉状態(アルゴンガスG1が流れない状態)に、開閉電磁バルブV1を開状態にしてポンプPを駆動させて試料導入口C1から水銀除去フィルタ(図示なし)を介して水銀原子蛍光分析装置周辺の空気を導入する。このとき、導入される空気は、開閉電磁バルブV1、分岐路C3、150℃に加熱された水銀捕集管1、分岐路C4、三方電磁バルブV2、流量調節バルブV3、ポンプPおよび排出口C5の順に流れる。導入される空気の流量は流量調節バルブV3によって0.5L/minに調節されており、例えば5分間導入される。5分間導入された空気が通過した水銀捕集剤11に捕集された物質を第1パージ試料とする。
In the standby state, the control means 30 controls the heating and vaporizing means 2 so that the heating temperature of the
空気の導入が終了すると、本発明の第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70と同様にキャリアガス流路に流入した空気をアルゴンガスG1に置換する。このアルゴンガス置換が行われた後に、第1パージ測定が開始される。第1パージ測定が開始されると、水銀捕集管1が加熱気化手段2によって500℃に加熱され、第1パージ試料はアルゴンガス導入口C2から導入されたアルゴンガスG1によって水銀測定器4に運ばれて試料測定される。試料測定時のアルゴンガスG1は第2パージキャリアガス流路を流れる。アルゴンガスG1はマスフローコントローラ5によって0.1L/minに調節されている。パージ測定の時間は、例えば30秒である。
When the introduction of air is completed, the air that has flowed into the carrier gas flow path is replaced with argon gas G1 as in the case of the mercury
第1パージ試料と同様にして、水銀原子蛍光分析装置周辺の空気が導入され、第2パージ試料が生成され、第2パージ測定が行われる。 Similarly to the first purge sample, air around the mercury atomic fluorescence spectrometer is introduced, a second purge sample is generated, and a second purge measurement is performed.
第1パージ測定と第2パージ測定によって、第2パージキャリアガス流路がパージされ、水銀原子蛍光分析装置80の電源オフの間にキャリアガス流路に入り込んだ空気や水分(湿気)がパージされる。特に、第1パージ測定と第2パージ測定において水銀捕集管1が500℃に加熱されながら試料測定時のキャリアガスGであるアルゴンガスG1でパージされるので、水銀原子蛍光分析装置80の電源オフの間に、水銀捕集管1に充填された水銀捕集剤11において、金のナノ粒子の間隙や多孔質である珪藻土の孔や珪藻土の粒子の間隙などに入り込んだ空気や水分が効率よく追い出される。
By the first purge measurement and the second purge measurement, the second purge carrier gas channel is purged, and the air and moisture (humidity) that have entered the carrier gas channel while the mercury
第2パージ測定が終了すると、制御手段3が第2パージ測定終了時から測定開始までの時間を待機時間として監視する。待機時間が制御手段3に設定されたパージ不要時間を経過した後の測定開始前をパージ測定設定時(第2パージ測定設定時)として水銀捕集管1をパージ測定するように制御手段3に設定されている。測定開始前になると、制御手段3は待機時間がパージ不要時間、例えば1時間を超えているか、否かを判断し、待機時間が1時間を超えていると、再度、第1パージ測定、第2パージ測定が行われる。
When the second purge measurement is completed, the control means 3 monitors the time from the end of the second purge measurement to the start of measurement as a standby time. The control means 3 is configured to perform the purge measurement of the
待機時間が1時間以内であれば、本発明の第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70と同様にして試料ガスS中の水銀が水銀捕集剤11に捕集されて試料測定が開始される。
If the waiting time is within one hour, mercury in the sample gas S is collected in the
測定が終了すると、制御手段30がその測定終了時から次測定開始までの時間を待機時間として監視する。待機時間が制御手段30に設定されたパージ測定不要時間を経過した後の測定開始前をパージ測定設定時(第3パージ測定設定時)としてパージ測定を2回行うように制御手段30に設定されている。次測定開始前になると、制御手段30は待機時間がパージ測定不要時間、例えば1時間を超えているか、否かを判断し、1時間以内であれば、次測定が開始される。 When the measurement is completed, the control means 30 monitors the time from the end of the measurement to the start of the next measurement as a standby time. It is set in the control means 30 so that the purge measurement is performed twice with the time before the start of measurement after the purge measurement unnecessary time set in the control means 30 has elapsed as the purge measurement setting time (when the third purge measurement is set). ing. Before the start of the next measurement, the control means 30 determines whether or not the standby time exceeds a purge measurement unnecessary time, for example, 1 hour. If it is within 1 hour, the next measurement is started.
待機時間が1時間を超えていると、第1パージ測定、第2パージ測定が行われた後、次測定が開始される。 If the standby time exceeds 1 hour, the first measurement and the second purge measurement are performed, and then the next measurement is started.
17時間待機後に第1、第2パージ測定をして測定を開始した場合の測定データを図5に示す。図5には、第1、第2パージ測定の測定ピークB1、B2および同じ試料ガスSを3回測定した測定ピークの測定データを示す。第1、第2パージ測定後の試料ガスSの3つの測定ピークは同じ高さを示しており、感度が低下していないことが分かる。このように、17時間待機した後であっても第1、第2パージ測定によって高精度の分析を行うことができる。 FIG. 5 shows measurement data when the measurement is started after the first and second purge measurements are made after waiting for 17 hours. FIG. 5 shows measurement data of measurement peaks obtained by measuring the measurement peaks B1 and B2 of the first and second purge measurements and the same sample gas S three times. The three measurement peaks of the sample gas S after the first and second purge measurements show the same height, and it can be seen that the sensitivity is not lowered. Thus, even after waiting for 17 hours, a highly accurate analysis can be performed by the first and second purge measurements.
図6は図5の測定データを100倍に拡大した図である。図6によって、拡大前の図5では目視できなかった第1、第2パージ測定の測定ピークB1、B2を確認することができる。第1、第2パージ測定の測定ピークB1、B2は第2パージキャリアガス流路に残留していた水銀によって発生したピークと思われる。第1パージ測定によって第2パージキャリアガス流路に残留する水銀が除去されて、第2パージ測定の測定ピークは第1パージ測定の測定ピークよりかなり低くなっている。このように、パージ測定はキャリアガス流路の汚染度合を確認することができる副次的効果がある。 FIG. 6 is an enlarged view of the measurement data of FIG. 5 by 100 times. FIG. 6 shows the measurement peaks B1 and B2 of the first and second purge measurements that were not visible in FIG. 5 before the enlargement. The measurement peaks B1 and B2 of the first and second purge measurements are considered to be peaks generated by mercury remaining in the second purge carrier gas channel. Mercury remaining in the second purge carrier gas flow path is removed by the first purge measurement, and the measurement peak of the second purge measurement is considerably lower than the measurement peak of the first purge measurement. Thus, the purge measurement has a secondary effect that can confirm the degree of contamination of the carrier gas channel.
本発明の第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置80では、パージ測定設定時として第1〜第3パージ測定設定時が制御手段3に設定されていたが、この設定に限定されず、第1〜第3パージ測定設定時のいずれか1つであっても、いずれか2つであってもよい。また、4回以上のパージ測定が設定されてもよい。
In the mercury
本発明の第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置80では、第1パージ測定で水銀捕集管1を500℃に加熱したが、水銀測定器4のウォーミングアップ時に、水銀捕集管1を、例えば500℃に加熱してスタンバイしてもよい。
In the mercury
本発明の第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置80によれば、適切なタイミングで前記水銀捕集管を試料測定時と同じ温度に加熱し、前記水銀捕集管に試料測定時と同じ流量のキャリアガスを流すパージ測定を少なくとも1回行うので、本発明の第1実施形態の水銀原子蛍光分析装置70と同様の作用・効果を奏することができる。
According to the mercury
本発明の第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置80では、スタンバイ状態の水銀捕集管1の加熱温度、試料ガスS中の水銀捕集時の水銀捕集管1の加熱温度を150℃としたが、この加熱温度に限ったものではなく、加熱温度が200℃を超えると、水銀捕集管1の水銀捕集効率が低下するので、150℃〜200℃の範囲の加熱温度であればよい。また、第1パージ測定時、第2パージ測定時および試料測定時の水銀捕集管1の加熱温度を500℃としたが、この加熱温度に限ったものではなく、加熱温度が300℃未満であると、水銀捕集剤11に捕集された水銀の気化効率が低下するので、300℃〜800℃の範囲の加熱温度であればよい。すなわち、第1パージ測定時、第2パージ測定時の水銀捕集管1の加熱温度は、試料測定時と同じ温度に加熱するのが好ましい。
In the mercury
本発明の第1、第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置70、80では、気中水銀を測定する装置について説明したが、この気中水銀を測定する水銀原子蛍光分析装置70、80に限ったものではなく、廃棄物焼却炉や火力発電炉などの煙道排気ガス中の水銀を測定する水銀原子蛍光分析装置、還元気化装置を備えて還元気化法により水銀ガスを発生させて試料中の水銀を測定する水銀原子蛍光分析装置、加熱分解装置を備えて試料を加熱分解して試料中の水銀を測定する水銀原子蛍光分析装置などであってもよい。
In the mercury
本発明の第1、第2実施形態の水銀原子蛍光分析装置70、80では、制御手段3、30に設定されたパージ設定時またはパージ測定設定時に、制御手段3、30が第1〜第3パージ、第1〜第3パージ測定を実行しているが、コンピュータ6が備える表示部(図示なし)に第1〜第3パージ、第1〜第3パージ測定を実行する旨を表示させ、その表示に応じて測定者が第1〜第3パージ、第1〜第3パージ測定を実行してもよい。
In the mercury
ここで、発明者が本発明に至る過程で発見したことを以下に説明する。感度低下と待機時間との関係を調べたところ、図7に示すような結果が得られた。図7の横軸は待機時間(min)である。縦軸は各待機時間における感度の相対値(%)であり、待機時間なく測定した時の感度を100%としている。この図から分かるように、待機時間が1時間を超えると感度低下が起こり、4時間になると10%近い感度低下が起こっている。感度低下への空気の影響度合を調べたところ、図8に示すような結果が得られた。図8の横軸はアルゴンガス中の空気含有率(体積%)、縦軸は感度の相対値(%)であり、アルゴンガス中の空気含有率が0%の時の感度を100%としている。この図8からアルゴンガス中に空気が1%混入すると、感度の相対値が約64%に低下することが分かる。感度低下への水分(湿気)の影響度合を調べたところ、アルゴンガス中の水分含有率が4%であると、感度の相対値が約35%に低下することが分かった。このように、感度低下の原因は水銀原子蛍光分析装置70、80のキャリアガス流路内へ混入した空気と水分(湿気)であることが分かった。
Here, what the inventor discovered in the process leading to the present invention will be described below. When the relationship between the decrease in sensitivity and the standby time was examined, the results shown in FIG. 7 were obtained. The horizontal axis in FIG. 7 is the waiting time (min). The vertical axis represents the relative value (%) of the sensitivity at each standby time, and the sensitivity when measured without the standby time is 100%. As can be seen from this figure, when the standby time exceeds 1 hour, the sensitivity decreases, and when it reaches 4 hours, the sensitivity decreases nearly 10%. When the degree of influence of air on the sensitivity reduction was examined, the result shown in FIG. 8 was obtained. The horizontal axis of FIG. 8 is the air content rate (volume%) in the argon gas, the vertical axis is the relative value (%) of the sensitivity, and the sensitivity when the air content rate in the argon gas is 0% is 100%. . It can be seen from FIG. 8 that when 1% of air is mixed in the argon gas, the relative sensitivity value is reduced to about 64%. When the degree of influence of moisture (humidity) on the sensitivity reduction was examined, it was found that when the moisture content in the argon gas was 4%, the relative value of sensitivity decreased to about 35%. Thus, it was found that the cause of the sensitivity decrease was air and moisture (humidity) mixed in the carrier gas flow paths of the mercury
そこで、この感度低下の原因を調査するために、実験A〜Cを行った。実験Aでは、前測定終了後、2時間待機後に水銀捕集管1を150℃に加熱しながら、第2パージキャリアガス流路に0.4L/minの流量のアルゴンガスG1で180秒間パージした後、同じ試料ガスSを3回測定した。その実験Aデータを図9に示す。実験Bでは、前測定終了後、2時間待機後に第2パージキャリアガス流路をアルゴンガスGでパージせずに水銀捕集管1を500℃に加熱後、同じ試料ガスSを3回測定した。その実験Bデータを図10に示す。実験Cでは、前測定終了後、2時間待機後に水銀捕集管1を500℃に加熱しながら、第2パージキャリアガス流路に0.4L/minの流量のアルゴンガスG1で180秒間パージした後、同じ試料ガスSを3回測定した。その実験Cデータを図11に示す。
Therefore, Experiments A to C were conducted in order to investigate the cause of the sensitivity decrease. In Experiment A, after waiting for 2 hours after the completion of the previous measurement, the second purge carrier gas flow path was purged with argon gas G1 at a flow rate of 0.4 L / min for 180 seconds while the
図9(実験Aデータ)、図10(実験Bデータ)の2時間待機後のそれぞれの1回目の測定ピーク(左側の測定ピーク)はそれぞれの2、3回目の測定ピーク(中央の測定ピーク、右側の測定ピーク)より低くなっており、1回目の測定は感度低下していることが分かる。一方、図11(実験Cデータ)の2時間待機後の1回目から3回目の測定ピークは同じ高さになっており、いずれの測定ピークも感度低下していないことが分かる。このことから水銀捕集管1を500℃にしながら第2パージキャリアガス流路をアルゴンガスG1でパージすると、待機時間の間にキャリアガス流路に入り込んだ空気や水分、および、水銀捕集管1に充填された水銀捕集剤11において、金のナノ粒子の間隙や多孔質である珪藻土の孔や珪藻土の粒子の間隙などに入り込んだ空気や水分が効率よく追い出されたことが分かる。
Each of the first measurement peak (left measurement peak) after waiting for 2 hours in FIG. 9 (experiment A data) and FIG. 10 (experiment B data) is the second and third measurement peaks (center measurement peak, It is lower than the measurement peak on the right side), and it can be seen that the first measurement has decreased sensitivity. On the other hand, the first to third measurement peaks after waiting for 2 hours in FIG. 11 (experiment C data) have the same height, and it can be seen that none of the measurement peaks has decreased in sensitivity. Therefore, when the second purge carrier gas flow path is purged with the argon gas G1 while keeping the
この実験A〜Cにより、制御手段3に設定されたパージ設定時に、制御手段3が、加熱気化手段2とバルブV1、V2とを制御して、水銀捕集管1を300℃〜800℃に加熱するとともに、水銀捕集管1にキャリアガスを流して水銀捕集管1をパージする発明、および、制御手段30に設定されたパージ測定設定時に、制御手段30が、加熱気化手段2とバルブV1、V2とを制御して、水銀捕集管1を試料測定時と同じ温度に加熱し、水銀捕集管1に試料測定時と同じ流量のキャリアガスGを流すパージ測定を少なくとも1回行う発明を想到することができた。
From the experiments A to C, the control means 3 controls the heating vaporization means 2 and the valves V1 and V2 to set the
上記の本発明の第1、第2実施形態では、波長非分散型の水銀原子蛍光分析装置70、80を図示しているが、本発明においては波長分散型の水銀原子蛍光分析装置であってもよい。
In the first and second embodiments of the present invention described above, the wavelength non-dispersion type mercury
1 水銀捕集管
2 加熱気化手段
3、30 制御手段
4 水銀測定器
11 水銀捕集剤
70、80 水銀原子蛍光分析装置
G キャリアガス
S 試料ガス
V1 開閉電磁バルブ
V2 三方電磁バルブ
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記水銀捕集管を加熱して水銀を気化させる加熱気化手段と、
前記加熱気化手段で加熱気化された水銀を定量する水銀測定器と、
キャリアガスが流れるキャリアガス流路に設けられたバルブと、
前記加熱気化手段および前記バルブを制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段に設定されたパージ設定時に、前記制御手段が、前記加熱気化手段と前記バルブとを制御して、前記水銀捕集管を300℃〜800℃に加熱するとともに、前記水銀捕集管にキャリアガスを流して前記水銀捕集管をパージする水銀原子蛍光分析装置。 A mercury collecting tube filled with a mercury collecting agent for collecting mercury in the sample gas;
Heating and vaporizing means for heating the mercury collecting tube to vaporize mercury;
A mercury measuring device for quantifying mercury heated and vaporized by the heating vaporization means;
A valve provided in a carrier gas flow path through which the carrier gas flows;
Control means for controlling the heating and vaporizing means and the valve;
With
At the time of purge setting set in the control means, the control means controls the heating vaporization means and the valve to heat the mercury collecting tube to 300 ° C. to 800 ° C., and the mercury collecting tube A mercury atomic fluorescence analyzer for purging the mercury collecting tube by flowing a carrier gas into the apparatus.
前記水銀原子蛍光分析装置に電源が投入された後の測定開始前を前記パージ設定時とする水銀原子蛍光分析装置。 The mercury atomic fluorescence analyzer according to claim 1,
A mercury atomic fluorescence analyzer in which the purge is set before the start of measurement after power is supplied to the mercury atomic fluorescence analyzer.
前記制御手段が測定終了時から次測定開始までの時間を待機時間として監視し、待機時間が前記制御手段に設定されたパージ不要時間を経過した後の測定開始前を前記パージ設定時とする水銀原子蛍光分析装置。 The mercury atomic fluorescence analyzer according to claim 1,
Mercury in which the control means monitors the time from the end of measurement until the start of the next measurement as a standby time, and the standby time before the start of measurement after the purge unnecessary time set in the control means has elapsed is set as the purge setting time Atomic fluorescence analyzer.
前記水銀捕集管を加熱して水銀を気化させる加熱気化手段と、
前記加熱気化手段で加熱気化された水銀を定量する水銀測定器と、
キャリアガスが流れるキャリアガス流路に設けられたバルブと、
前記加熱気化手段および前記バルブを制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段に設定されたパージ測定設定時に、前記制御手段が、前記加熱気化手段と前記バルブとを制御して、前記水銀捕集管を試料測定時と同じ温度に加熱し、前記水銀捕集管に試料測定時と同じ流量のキャリアガスを流すパージ測定を少なくとも1回行う水銀原子蛍光分析装置。 A mercury collecting tube filled with a mercury collecting agent for collecting mercury in the sample gas;
Heating and vaporizing means for heating the mercury collecting tube to vaporize mercury;
A mercury measuring device for quantifying mercury heated and vaporized by the heating vaporization means;
A valve provided in a carrier gas flow path through which the carrier gas flows;
Control means for controlling the heating and vaporizing means and the valve;
With
At the time of the purge measurement set in the control means, the control means controls the heating vaporization means and the valve to heat the mercury collecting tube to the same temperature as the sample measurement, and to collect the mercury A mercury atomic fluorescence spectrometer that performs at least one purge measurement in which a carrier gas having the same flow rate as that of a sample is passed through a tube.
前記水銀原子蛍光分析装置に電源が投入された後の測定開始前を前記パージ測定設定時とする水銀原子蛍光分析装置。 In the mercury atomic fluorescence analyzer according to claim 4,
A mercury atomic fluorescence analyzer in which the purge measurement is set before the start of measurement after power is turned on to the mercury atomic fluorescence analyzer.
前記制御手段が測定終了時から次測定開始までの時間を待機時間として監視し、待機時間が前記制御手段に設定されたパージ測定不要時間を経過した後の測定開始前を前記パージ測定設定時とする水銀原子蛍光分析装置。 In the mercury atomic fluorescence analyzer according to claim 4,
The control means monitors the time from the end of measurement until the start of the next measurement as a standby time, and the time before the start of measurement after the purge measurement unnecessary time set in the control means has elapsed is the time when the purge measurement is set. Mercury atomic fluorescence analyzer.
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