JP2015152854A - 感光性樹脂組成物、感光性樹脂積層体及びレジストパターン形成方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】(A)アルカリ可溶性高分子;(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物;及び
(C)光重合開始剤を含む感光性樹脂組成物であって、銅基板に前記感光性樹脂組成物をラミネートし、60℃で加熱し、次いで最小現像時間の1.2倍で現像したときに、現像残渣が出るのに要する加熱時間が、7時間以上である、前記感光性樹脂組成物が提供される。
【選択図】図1
Description
[1]
(A)アルカリ可溶性高分子;
(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物;及び
(C)光重合開始剤;
を含む感光性樹脂組成物であって、
銅基板に前記感光性樹脂組成物をラミネートし、60℃で加熱し、次いで最小現像時間の1.2倍で現像したときに、現像残渣が出るのに要する加熱時間が、7時間以上である、
前記感光性樹脂組成物。
[2]
前記(A)アルカリ可溶性高分子:10質量%〜90質量%;
前記(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物:5質量%〜70質量%;及び
前記(C)光重合開始剤:0.01質量%〜20質量%;
を含む、[1]に記載の感光性樹脂組成物。
[3]
0.70の光学濃度(OD)を有するマスクを通して露光した前記感光性樹脂組成物を最小現像時間の2倍の時間で現像した際に、前記感光性樹脂組成物を硬化させるのに必要な露光量(mJ/cm2)が、16mJ/cm2以下である、[1]または[2]に記載の感光性樹脂組成物。
[4]
(D)ベンゾトリアゾール誘導体:0.1質量%〜10質量%;
を更に含む、[1]〜[3]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[5]
前記(D)ベンゾトリアゾール誘導体として、下記一般式(I):
で表される化合物を含む、[1]〜[4]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[6]
前記(C)光重合開始剤として、0.01質量%〜0.2質量%のN−アリールアミノ酸を含む、[1]〜[5]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[7]
前記(C)光重合開始剤として、0.1質量%〜20質量%のアクリジン誘導体を含む、[1]〜[6]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[8]
(E)エポキシ化合物:0.20質量%〜10質量%;
を更に含む、[1]〜[7]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[9]
前記(E)エポキシ化合物として、下記一般式(III):
で表される化合物を含む、[1]〜[8]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
[10]
支持体上に[1]〜[8]のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層が積層されている感光性樹脂積層体。
[11]
[10]に記載の感光性樹脂積層体を基板に積層する積層工程、前記感光性樹脂積層体の感光性樹脂層を露光する露光工程、及び前記感光性樹脂層の未露光部を現像除去する現像工程を含む、レジストパターンの形成方法。
[12]
前記露光工程を、描画パターンの直接描画による露光方法、又はフォトマスクの像をレンズを通して投影させる露光方法により行う、[11]に記載のレジストパターンの形成方法。
[13]
前記露光工程を、描画パターンの直接描画による露光方法により行う、[12]に記載のレジストパターンの形成方法。
本実施形態では、感光性樹脂組成物は、(A)アルカリ可溶性高分子、(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物、及び(C)光重合開始剤を含む。この感光性樹脂組成物を銅基板にラミネートし、60℃で加熱し、次いで最小現像時間の1.2倍で現像したときに、現像残渣が出るのに要する加熱時間が、7時間以上、8時間以上、9時間以上、又は9時間超である。
一般に、(A)アルカリ可溶性高分子はカルボキシル基を含有する。(A)アルカリ可溶性高分子は、典型的には、カルボキシル基含有単量体を共重合成分として含む、カルボキシル基含有量が酸当量で100〜600、かつ重量平均分子量が5,000〜500,000の熱可塑性共重合体である。
(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物は、エチレン性不飽和基を有することによって付加重合性を有するモノマーである。高解像性及び耐エッジフューズ性の観点から、(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物は、下記一般式(IV):
R10及びR11は、それぞれ独立に、H又はCH3であり;
Aは、C2H4であり、Bは、C3H6であり、−(A−O)−及び−(B−O)−の繰り返し単位の配列はランダムであってもブロックであってもよく、ブロックの場合−(A−O)−及び−(B−O)−のいずれがビスフェノールA基側でもよく;
r及びsは、各々独立に1〜29の整数であり、かつr+sは2〜30の整数であり;そして
x及びyは、各々独立に0〜29の整数であり、かつx+yは0〜30の整数である。}
で表される光重合可能な不飽和化合物から成る群から選ばれる少なくとも1種の化合物を含有することが好ましい。
(C)光重合開始剤としては感光性樹脂の分野で一般的に用いられる光重合開始剤を使用できる。感光性樹脂組成物中の(C)光重合開始剤の含有量は、0.1質量%〜20質量%である。この含有量は、感度の観点から0.1質量%以上であり、解像度の観点から20質量%以下である。好ましい含有量は、0.1質量%〜15質量%であり、0.1質量%〜10質量%が更に好ましい。(C)光重合開始剤は1種類単独で使用してもよいし2種類以上組み合わせて用いてもよい。
(D)ベンゾトリアゾール誘導体としては、例えば、下記一般式(I):
で表される化合物が挙げられる。
中でも、R5として、1−N−ジブチルアミノメチル基を含むことが現像残に至る時間延長の観点から好ましい。
(E)エポキシ化合物は、エポキシ基を有する化合物である。本実施形態では、(E)エポキシ化合物による酸の捕捉作用によって、ドライフィルムレジストの保存時の着色が効果的に防止されて色相の良好な保存安定性が得られるとともに、良好な解像性が得られる。
で表される化合物が挙げられる。
感光性樹脂組成物は、上記成分(A)〜(E)に加えて、必要に応じて、添加剤、例えば変色剤、染料、可塑剤、酸化防止剤、有機ハロゲン化合物、及びラジカル重合禁止剤から成る群から選ばれる1種以上の化合物等)を含んでよい。
感光性樹脂組成物は、これに溶媒を添加して形成した感光性樹脂組成物調合液として用いてもよい。好適な溶媒としては、メチルエチルケトン(MEK)に代表されるケトン類、並びにメタノール、エタノール、及びイソプロピルアルコール等のアルコール類が挙げられる。感光性樹脂組成物調合液の粘度が25℃で500mPa・sec〜4000mPa・secとなるように、溶媒を感光性樹脂組成物に添加することが好ましい。
本発明の別の態様は、支持体と、該支持体上に積層された、上述の本発明に係る感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層とを有する感光性樹脂積層体を提供する。この感光性樹脂積層体は、感光性樹脂層と該層を支持する支持体とに加え、必要により、感光性樹脂層の支持体形成側と反対側の表面に保護層を有していても良い。
本発明の別の態様は、上述した本発明の感光性樹脂積層体を基板に積層する積層工程、該感光性樹脂積層体の感光性樹脂層を露光する露光工程、及び露光後の感光性樹脂層における未露光部を現像液で除去することによってレジストパターンを形成する現像工程を順に含む、レジストパターン形成方法を提供する。本発明の感光性樹脂積層体を用いてレジストパターンを形成する具体的な方法の一例を以下に説明する。
高分子の重量平均分子量は、日本分光(株)製ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)(ポンプ:Gulliver、PU−1580型、カラム:昭和電工(株)製Shodex(登録商標)(KF−807、KF−806M、KF−806M、KF−802.5)4本直列、移動層溶媒:テトラヒドロフラン、ポリスチレン標準サンプル(昭和電工(株)製Shodex STANDARD SM−105)による検量線使用)によりポリスチレン換算として求められる。
実施例及び比較例における評価用サンプルは以下のように作製した。
<感光性樹脂積層体の作製>
下記表1に示す成分(但し、各成分の数字は固形分としての配合量(質量部)を示す。)及び溶媒を十分に攪拌、混合して感光性樹脂組成物調合液とした。
現像性及びエッチング耐性の評価基板として、35μm圧延銅箔を積層した0.4mm厚の銅張積層板を用いた。基板表面をスプレー圧0.2MPaで研削材(日本カーリット(株)製、サクランダムR(登録商標#220))を用いてジェットスクラブ研磨した。
感光性樹脂積層体のポリエチレンフィルムを剥がしながら、製面して60℃に予熱した銅張り積層板に、ホットロールラミネーター(旭化成(株)社製、AL−700)により、ロール温度105℃でラミネートした。エアー圧は0.35MPaとし、ラミネート速度は1.5m/minとした。
直接描画露光機(日立ビアメカニクス(株)製、DE−1DH、光源:GaN青紫ダイオード、主波長405±5nm)により、旭化成27段ステップタブレット(O.D.=0.50〜1.80、△OD=0.05)または所定のDI露光用のマスクパターンを用いて、照度90mW/cm2の条件で16mJ/cm2の露光量で露光した。
現像性及びエッチング耐性の評価基板については、ポリエチレンテレフタラートフィルムを剥離した後、アルカリ現像機(フジ機工(株)製、ドライフィルム用現像機)を用いて30℃の1質量%Na2CO3水溶液を所定時間スプレーし、感光性樹脂層の未露光部分を溶解除去した。この際、最小現像時間の2倍の時間にて現像し、硬化レジストパターンを作製した。ここで、最小現像時間とは、加熱していないレジストの未露光部分の感光性樹脂層が完全に溶解するのに要する最も少ない時間である。
次に、サンプルの評価方法について説明する。
(i)感度評価
ラミネート後15分経過した感度及び解像度評価用基板を旭化成27段ステップタブレットのマスクを通して露光した。最小現像時間の2倍の時間で現像を行なって、マスク部分における残膜限界段数を測定することにより、感光性樹脂組成物の感度を評価した。なお、感度とは、旭化成27段ステップタブレットの5段(O.D.=0.70)において硬化レジストパターンの四隅を残膜させるのに必要な露光量(mJ/cm2)である。
ラミネート後15分経過した感度及び解像度評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:1の比率のラインパターンマスクを通して照度90mW/cm2の条件で16mJ/cm2の露光量で露光した。最小現像時間の2倍の現像時間で現像を行なって、硬化レジストラインが正常に形成されている最小マスクライン幅を解像度の値として測定した。
ラミネート後15分経過した感度及び解像度評価用基板を、露光部と未露光部の幅が1:100の比率のラインパターンマスクを通して露光した。最小現像時間の2倍の現像時間で現像し、硬化レジストラインが正常に形成されている最小マスクライン幅を密着性の値として測定した。
上記(1)評価用サンプルの作製方法に従い、ラミネートした評価基板を、オーブン(アドバンテック東洋(株)製、FC−610)を用いて60℃で加熱を行った。加熱していない評価基板における最小現像時間の1.2倍の現像時間で現像を行なって、現像残渣が出始める加熱時間を測定した。ここで、現像残渣が出始めるとは、現像後に評価基板にラミネートした基板面積の1%以上の現像残渣(有機成分)が残る状態を意味する。例えば、図1に示されるように、ラミネートした評価基板を所定の時間に亘って加熱して現像した後に、該基板の被現像面の写真を観察することによって、現像残渣の有無を確認することができる。
実施例及び比較例の評価結果を下記表1に示す。
Claims (13)
- (A)アルカリ可溶性高分子;
(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物;及び
(C)光重合開始剤;
を含む感光性樹脂組成物であって、
銅基板に前記感光性樹脂組成物をラミネートし、60℃で加熱し、次いで最小現像時間の1.2倍で現像したときに、現像残渣が出るのに要する加熱時間が、7時間以上である、
前記感光性樹脂組成物。 - 前記(A)アルカリ可溶性高分子:10質量%〜90質量%;
前記(B)エチレン性不飽和二重結合を有する化合物:5質量%〜70質量%;及び
前記(C)光重合開始剤:0.01質量%〜20質量%;
を含む、請求項1に記載の感光性樹脂組成物。 - 0.70の光学濃度(OD)を有するマスクを通して露光した前記感光性樹脂組成物を最小現像時間の2倍の時間で現像した際に、前記感光性樹脂組成物を硬化させるのに必要な露光量(mJ/cm2)が、16mJ/cm2以下である、請求項1または2に記載の感光性樹脂組成物。
- (D)ベンゾトリアゾール誘導体:0.1質量%〜10質量%;
を更に含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。 - 前記(D)ベンゾトリアゾール誘導体として、下記一般式(I):
{式中、R1〜R4は、それぞれ独立に、水素またはアルキル基であるか、または、R1〜R4の少なくとも1つがカルボキシル基であり、かつR1〜R4の残りが、それぞれ独立に、水素またはアルキル基であり、そしてR5は、水素、アルキル基、または下記一般式(II):
(式中、R6及びR7は、それぞれ独立に、水素、アルキル基またはヒドロキシルアルキル基であり、そしてnは、1〜4の整数である。)で表される基である。}
で表される化合物を含む、請求項1〜4のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。 - 前記(C)光重合開始剤として、0.01質量%〜0.2質量%のN−アリールアミノ酸を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- 前記(C)光重合開始剤として、0.1質量%〜20質量%のアクリジン誘導体を含む、請求項1〜6のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。
- (E)エポキシ化合物:0.20質量%〜10質量%;
を更に含む、請求項1〜7のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。 - 前記(E)エポキシ化合物として、下記一般式(III):
{式中、Xは、酸素原子、又は式−O−X1−O−(式中、X1は、炭素数1〜100の直鎖もしくは分岐のアルキレン基、炭素数3〜10の脂環式アルキレン基、及び炭素数5〜20のアリーレン基から成る群から選ばれる少なくとも1つの炭化水素基を含有する2価基であり、かつ前記炭化水素基は、ハロゲン原子、酸素原子、及び窒素原子から成る群から選ばれる少なくとも1つの原子で置換されていてもよい)で表される基であり;R8及びR9は、それぞれ独立に、炭素数1〜100の直鎖もしくは分岐のアルキレン基、炭素数3〜10の脂環式アルキレン基、及び炭素数5〜20のアリーレン基から成る群から選ばれる少なくとも1つの炭化水素基を含有する2価基であり、かつ前記炭化水素基は、ハロゲン原子、酸素原子、及び窒素原子から成る群から選ばれる少なくとも1つの原子で置換されていてもよく、かつR8及びR9がともに存在する場合には、R8及びR9は、同一でも異なっていてもよく、R8及びR9が異なる場合には、−(R8−O)−及び−(R9−O)−の繰り返し単位の配列は、ブロックでもランダムでもよく;そしてm及びnは、それぞれ独立に、0〜50の整数であり、かつm+nは、1〜50の整数である。}
で表される化合物を含む、請求項1〜8のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。 - 支持体上に請求項1〜8のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物から成る感光性樹脂層が積層されている感光性樹脂積層体。
- 請求項10に記載の感光性樹脂積層体を基板に積層する積層工程、前記感光性樹脂積層体の感光性樹脂層を露光する露光工程、及び前記感光性樹脂層の未露光部を現像除去する現像工程を含む、レジストパターンの形成方法。
- 前記露光工程を、描画パターンの直接描画による露光方法、又はフォトマスクの像をレンズを通して投影させる露光方法により行う、請求項11に記載のレジストパターンの形成方法。
- 前記露光工程を、描画パターンの直接描画による露光方法により行う、請求項12に記載のレジストパターンの形成方法。
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