JP2015149328A - 電子部品の実装構造 - Google Patents
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Abstract
【課題】電子部品の基板への実装を高精度かつ低コストで行う。
【解決手段】基板1の複数のパッド1aのうち一部のパッド1a(例えば、IC2の左側に位置する最上部のパッド1a1と最下部のパッド1a2)のみ、その大きさをIC2のリード2aの接触面とほゞ同じ大きさとする。このIC2のリード2aの接触面とほゞ同じ大きさとしたパッド1a(1a1,1a2)によって、リフロー時のIC2のX方向およびY方向の規定の位置からのずれが規制され、IC2の基板1への実装が高精度で行われるものとなる。また、位置決め用の治具を不要として、低コストでIC2の基板1への実装が行われるものとなる。
【選択図】 図1
【解決手段】基板1の複数のパッド1aのうち一部のパッド1a(例えば、IC2の左側に位置する最上部のパッド1a1と最下部のパッド1a2)のみ、その大きさをIC2のリード2aの接触面とほゞ同じ大きさとする。このIC2のリード2aの接触面とほゞ同じ大きさとしたパッド1a(1a1,1a2)によって、リフロー時のIC2のX方向およびY方向の規定の位置からのずれが規制され、IC2の基板1への実装が高精度で行われるものとなる。また、位置決め用の治具を不要として、低コストでIC2の基板1への実装が行われるものとなる。
【選択図】 図1
Description
この発明は、光学式センサや磁気式センサなどの電子部品の基板への実装構造に関するものである。
従来より、位置や角度を検出するセンサICとして光学式センサや磁気式センサなどの電子部品があり、基本的に何れのセンサICもプリント基板の上に実装したうえで製品として使用される。
一般的に、センサICは、矩形状の本体を有し、その本体の4つの縁辺のうち少なくとも1組の対向する縁辺から各縁辺に直交して外部へ延在する複数のリードを有している。また、プリント基板の上には、センサICの複数のリードに電気的に接続される複数のパッドが形成されている。
このセンサICをプリント基板に実装する場合、プリント基板の上に形成されたパッドにクリーム半田を塗布し、このクリーム半田の塗布面にセンサICのリードを載置した状態でリフロー炉を通すことによって、センサICのリードとプリント基板のパッドとを加熱溶着して電気的な接続を図る。
図7を用いて一般的な電子部品の基板への実装方法を説明する。同図において、1はプリント基板(以下、単に基板という)、2はセンサIC(以下、単にICという)である。基板1にはその表面に複数のパッド1aが形成されており、IC2は左右の1組の対向する縁辺から各縁辺に直交して外部へ延在する複数のリード2aを有している。
IC2を基板1に実装する場合、先ず、パッド1aの形成面を上にして基板1をラインに流し(図7(a):開始)、基板1のパッド1aにクリーム半田3を塗布する(図7(b):半田ペースト)。そして、IC2を基板1の上面に位置させ、IC2のリード2aをパッド1a上のクリーム半田3の塗布面に載置する(図7(c):マウント(実装部品設置))。
そして、この基板1上に載置したIC2をリフロー炉4に入れて、クリーム半田3を溶融させる(図7(d):半田溶融(部品とパッドを接続))。リフロー炉4を出ると、溶融したクリーム半田3が固まり、IC2のリード2aと基板1のパッド1aとの半田接続(加熱溶着)が完了する(図7(e):完成)。
光学式センサや磁気式センサなどの位置センサは、基板への実装位置の精度によってセンサ自体の精度が大きく左右されることが知られている。したがって、高精度計測を目的として、これらのセンサを使用する場合には、IC自体を高精度に基板に実装する必要がある。
しかしながら、上述したIC2の基板1への実装方法では、リフロー炉4を通す際(リフロー時)に、溶融したクリーム半田3の上をIC2のリード2aが浮上した状態で自由に移動するので、高精度にIC2を実装することが困難であるという問題があった。
この問題は、基板1上のパッド1aの大きさを全てIC2のリード2aに対して余裕を持った大きさとしていることに起因している。すなわち、接合強度の低下や接触不良につながるため、パッド1aの大きさを全てリード2aに対して余裕を持った大きさとしていることに起因している。
図8に従来のIC2の基板1への実装構造の要部を示す。図8(a)は平面図、図8(b)は図8(a)におけるI−I線断面図である。なお、図8(a)において、基板1のパッド1aはIC2のリード2aとの関係を分かり易くするために斜線で示している(図8(a)に対応する後述する他の図も同様である)。
この場合、セルフアライメント効果により、リード2aがパッド1aの中央に移動しようとするが、実際には、振動や温度、基板の傾きなどの影響を受けるため、完全に理想位置(規定の位置)に移動することができず、リード2aの延在方向(X方向)およびリード2aの延在方向と直交する方向(Y方向)にパッド1aの大きさ分だけの位置ずれが生じる可能性がある。
なお、セルフアライメント効果とは、半田溶融時に、半田の表面張力によって実装部品(リード)が基板のパターン(パッド)の中央に移動しようとする現象である。
なお、特許文献1では、図9に示すように、パッド1aのY方向の長さAとリード2aのY方向の長さaとの比A/aをパッド1aのX方向の長さBとリード2aのX方向の長さ(リード2aのパッド1aとの接触面の長さ)bとの比B/bより小さくするようにしている。しかし、この特許文献1に示された技術では、Y方向の規定の位置からのずれを規制することはできるが、X方向の規定の位置からのずれを規制することはできない。
また、特許文献2では、図10に示すように、治具5上に基板1とIC2とを位置決めする位置決めピン6a〜6dおよび凹部7を設け、凹部7にIC2を嵌合し、位置決めピン6a〜6dに基板1の位置決め用孔8a〜8dを挿入し、基板1に形成された注入孔9から接着剤を注入して、IC2を基板1に接着固定するようにしている。しかしながら、IC2のパッケージ自身の精度はそれほど高くなく、かつIC2の側面はテーパ形状であるため高精度な位置決めは困難である。また、位置決め用の治具5が必要となる。
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、電子部品の基板への実装を高精度かつ低コストで行うことが可能な電子部品の実装構造を提供することにある。
このような目的を達成するために本発明は、少なくとも1組の対向する縁辺から各縁辺に直交して外部へ延在する複数のリードを有する電子部品と、この電子部品の複数のリードに電気的に接続される複数のパッドを有する基板とを備え、電子部品のリードを基板のパッドに塗布された半田に載置した状態でリフロー炉を通すことによって電子部品のリードと基板のパッドとが加熱溶着される電子部品の実装構造において、基板の複数のパッドは、リフロー炉を通過する際のリードの延在方向の規定の位置からのずれを規制する第1のリード位置決めパッドと、リードの延在方向と直交する方向の規定の位置からのずれを規制する第2のリード位置決めパッドとを含むことを特徴とする。
この発明によれば、リフロー炉を通過する際、電子部品のリードの延在方向(X方向)の規定の位置からのずれが第1のリード位置決めパッドによって規制され、電子部品のリードの延在方向と直交する方向(Y方向)の規定の位置からのずれが第2のリード位置決めパッドによって規制される。
本発明において、基板の複数のパッドは、第1のリード位置決めパッドと第2のリード位置決めパッドとを含んでいればよく、複数のパッドの全てを第1のリード位置決めパッドおよび第2のリード位置決めパッドとする必要はない。また、第1のリード位置決めパッドと第2のリード位置決めパッドとは1つのパッドで兼用されていてもよく、1対のパッドで構成されていてもよい。
本発明によれば、基板の複数のパッドに、リフロー炉を通過する際のリードの延在方向(X方向)の規定の位置からのずれを規制する第1のリード位置決めパッドと、リードの延在方向と直交する方向(Y方向)の規定の位置からのずれを規制する第2のリード位置決めパッドとを含ませるようにしたので、リフロー炉を通過する際、電子部品のリードのX方向の規定の位置からのずれが第1のリード位置決めパッドによって規制され、電子部品のリードのY方向の規定の位置からのずれが第2のリード位置決めパッドによって規制されるものとなり、電子部品のXY両方向の規定の位置からのずれを基板のパッドで規制するようにして、電子部品の基板への実装を高精度で行うことが可能となる。また、位置決め用の治具を不要として、低コストで電子部品の基板への実装を行うことが可能となる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
〔実施の形態1〕
図1は本発明に係る電子部品の実装構造の一実施の形態(実施の形態1)の要部を示す図であり、図1(a)は平面図、図1(b)は図1(a)におけるI−I線断面図、図1(c)は図1(a)におけるII−II線断面図である。
〔実施の形態1〕
図1は本発明に係る電子部品の実装構造の一実施の形態(実施の形態1)の要部を示す図であり、図1(a)は平面図、図1(b)は図1(a)におけるI−I線断面図、図1(c)は図1(a)におけるII−II線断面図である。
この電子部品の実装構造101では、基板1の複数のパッド1aのうち2箇所のパッド1a(図1の例では、IC2の左側に位置する最上部のパッド1a1と最下部のパッド1a2)のみ、その大きさをIC2のリード2aの接触面とほゞ同じ大きさとしている。すなわち、パッド1a1,1a2のX方向の長さをリード2aの接触面のX方向の長さとほゞ等しくし、パッド1a1,1a2のY方向の長さをリード2aの接触面のY方向の長さとほゞ等しくしている。他のパッド1aの大きさは、全て、リード2aの接触面に対して余裕を持った大きさ(通常の大きさ)としている。
この電子部品の実装構造101では、リード2aの接触面とほゞ同じ大きさとした2箇所のパッド1a1,1a2によって、リフロー時のIC2のX方向およびY方向の規定の位置からのずれが規制される。すなわち、セルフアライメント効果により、IC2のリード2a1,2a2が基板1のパッド1a1,1a2のX方向およびY方向の寸法を超えて移動することがないため、IC2のX方向の規定の位置からのずれとY方向の規定の位置からのずれの両方が規制されるものとなる。
このようにして、この電子部品の実装構造101では、IC2のXY両方向の規定の位置からのずれが基板1のパッド1a1,1a2で規制されるものとなり、IC2の基板1への実装が高精度で行われるものとなる。また、位置決め用の治具を不要として、低コストでIC2の基板1への実装が行われるものとなる。
また、この電子部品の実装構造101では、基板1の複数のパッド1aのうちパッド1a1,1a2以外は通常の大きさのパッドとされているので、すなわちリード2aの接触面に対して余裕を持った大きさのパッドとされているので、全体としてのIC2の接合強度が低下することもない。
なお、この電子部品の実装構造101では、リード2aの接触面とほゞ同じ大きさとするパッドをパッド1a1,1a2の2箇所としたが、1箇所としてもよく、2箇所以上としてもよい。この電子部品の実装構造101において、リード2aの接触面とほゞ同じ大きさとしたパッド1a1,1a2のそれぞれは、本発明でいう第1のリード位置決めパッドと第2のリード位置決めパッドとを兼ねた1つのパッドに相当する。
また、この電子部品の実装構造101において、リード2aの接触面とほゞ同じ大きさとするパッド(リード位置決めパッド)は任意であるが、一般的にICのパッケージは規格化されたものが使用されており、リードの数とセンサ素子の必要出力端子数は合わないことが多く、センサ毎に不要なリードが複数発生する場合が多い。したがって、基本的には、IC2の複数のリード2aのうち不要なリードに対応するパッドをリード位置決めパッドに割り当てるようにして、信頼性を低下させないようにするものとする。
〔実施の形態2〕
図2に本発明に係る電子部品の実装構造の他の実施の形態(実施の形態2)の要部を示す。図2(a)は平面図、図2(b)は図2(a)におけるI−I線断面図である。
図2に本発明に係る電子部品の実装構造の他の実施の形態(実施の形態2)の要部を示す。図2(a)は平面図、図2(b)は図2(a)におけるI−I線断面図である。
この電子部品の実装構造102では、基板1の全てのパッド1aのY方向の長さをリード2aの接触面のY方向の長さとほゞ等しくし、基板1の全てのパッド1aのX方向の長さをリード2aの接触面のX方向の長さよりも長くし、基板1の全てのパッド1aのX方向のIC2の縁辺から外部へ向かう方向側の先端をリード2aの接触面の先端部が位置する規定の位置付近から尖らせた形状としている。
この電子部品の実装構造102では、IC2の左側に位置するパッド1aによって、リフロー時のIC2のIC2の左側の縁辺から外部へ向かう方向(X方向)およびY方向の規定の位置からのずれが規制され、IC2の右側に位置するパッド1aによって、リフロー時のIC2のIC2の右側の縁辺から外部へ向かう方向(X方向)およびY方向(IC2を中心とするY方向の両方)の規定の位置からのずれが規制される。
すなわち、左右に位置する1対のパッド1aを1つのパッドとみなした場合、セルフアライメント効果により、IC2の左側のリード2aおよび右側のリード2aが基板1の1対のパッド1aのX方向およびY方向の寸法(X方向はパッド1aの先端の尖った部分が始まるまでの寸法)を超えて移動することがないため、IC2のX方向の規定の位置からのずれとY方向の規定の位置からのずれの両方が規制されるものとなる。
このようにして、この電子部品の実装構造102では、IC2のXY両方向の規定の位置からのずれが左右のパッド1aで規制されるものとなり、IC2の基板1への実装が高精度で行われるものとなる。また、位置決め用の治具を不要として、低コストでIC2の基板1への実装が行われるものとなる。
また、この電子部品の実装構造102では、パッド1aの先端を尖らせた形状としていることから、IC2の接合強度を確保するために必要な半田の先端フィレットとバックフィレットを損なわず、全体としてのIC2の接合強度を低下させることもない。
なお、この電子部品の実装構造102では、左右のパッド1aの全てを先端を尖らせた幅の狭いパッドとしたが、例えば、左側の最上段のパッド1aと右側の最下段のパッド1aとの対を先端を尖らせた幅の狭いパッドとするなどとしてもよい。この電子部品の実装構造102において、先端を尖らせた幅の狭い左右の1対のパッド1aは、本発明でいう第1のリード位置決めパッドと第2のリード位置決めパッドとを構成する1対のパッドに相当する。
〔実施の形態3〕
図3に本発明に係る電子部品の実装構造の他の実施の形態(実施の形態3)の要部を示す。図3(a)は平面図、図3(b)は図3(a)におけるI−I線断面図である。
図3に本発明に係る電子部品の実装構造の他の実施の形態(実施の形態3)の要部を示す。図3(a)は平面図、図3(b)は図3(a)におけるI−I線断面図である。
この電子部品の実装構造103では、基板1の全てのパッド1aのY方向の長さをリード2aの接触面のY方向の長さとほゞ等しくし、基板1の全てのパッド1aのX方向の長さをリード2aの接触面のX方向の長さよりも長くし、基板1の全てのパッド1aのX方向のIC2の縁辺から外部へ向かう方向側の先端およびIC2の縁辺へ向かう方向側の先端をリード2aの接触面の端部が位置する規定の位置付近から尖らせた形状としている。
この電子部品の実装構造103では、基板1のパッド1aによって、リフロー時のIC2のX方向およびY方向の規定の位置からのずれが規制される。すなわち、セルフアライメント効果により、IC2のリード2aが基板1のパッド1aのX方向およびY方向の寸法(X方向はパッド1aの両側の先端の尖った部分が始まるまでの寸法)を超えて移動することがないため、IC2のX方向の規定の位置からのずれとY方向の規定の位置からのずれの両方が規制されるものとなる。
このようにして、この電子部品の実装構造103では、IC2のXY両方向の規定の位置からのずれが基板1のパッド1aで規制されるものとなり、IC2の基板1への実装が高精度で行われるものとなる。また、位置決め用の治具を不要として、低コストでIC2の基板1への実装が行われるものとなる。
また、この電子部品の実装構造103では、パッド1aの先端を尖らせた形状としていることから、IC2の接合強度を確保するために必要な半田の先端フィレットとバックフィレットを損なわず、全体としてのIC2の接合強度が低下することもない。
なお、この電子部品の実装構造103では、パッド1aの全てを両側の先端を尖らせた幅の狭いパッドとしたが、例えば1つだけ両側の先端を尖らせた幅の狭いパッドとするなどとしてもよい。この電子部品の実装構造103において、両側の先端を尖らせた幅の狭いパッド1aは、本発明でいう第1のリード位置決めパッドと第2のリード位置決めパッドとを兼ねた1つのパッドに相当する。
〔実施の形態4〕
図4に本発明に係る電子部品の実装構造の他の実施の形態(実施の形態4)の要部を示す。図4(a)は平面図、図4(b)は図4(a)におけるI−I線断面図、図4(c)は図4(a)におけるII−II線断面図である。
図4に本発明に係る電子部品の実装構造の他の実施の形態(実施の形態4)の要部を示す。図4(a)は平面図、図4(b)は図4(a)におけるI−I線断面図、図4(c)は図4(a)におけるII−II線断面図である。
この電子部品の実装構造104では、パッド1aの面積自体は通常の大きさのパッドと同じとし、位置によって、X方向の長さ比が大きいパッドと、Y方向の長さ比が大きいパッドとを形成している。
この例では、4隅のパッド1a1〜1a4について、X方向の長さをリード2aの接触面のX方向の長さとほゞ等しくし、Y方向の長さをリード2aの接触面のY方向の長さよりも長くしている。4隅のパッド1a1〜1a4以外のパッド1aについては、Y方向の長さをリード2aの接触面のY方向の長さとほゞ等しくし、X方向の長さをリード2aの接触面のX方向の長さよりも長くしている。
この電子部品の実装構造104では、基板1のパッド1a1〜1a4によって、リフロー時のIC2のX方向の規定の位置からのずれが規制され、基板1のパッド1a1〜1a4以外のパッド1aによって、リフロー時のIC2のY方向の規定の位置からのずれが規制される。
すなわち、セルフアライメント効果により、IC2のリード2a1〜2a4が基板1のパッド1a1〜1a4のX方向の寸法を超えて移動することがないため、またIC2のリード2a1〜2a4以外のリード2aが基板1のパッド1a1〜1a4以外のパッド1aのY方向の寸法を超えて移動することがないため、IC2のX方向の規定の位置からのずれとY方向の規定の位置からのずれの両方が規制されるものとなる。
このようにして、この電子部品の実装構造104では、IC2のXY両方向の規定の位置からのずれが基板1のパッド1aで規制されるものとなり、IC2の基板1への実装が高精度で行われるものとなる。また、位置決め用の治具を不要として、低コストでIC2の基板1への実装が行われるものとなる。
また、この電子部品の実装構造104では、パッド1aの面積自体は通常の大きさのパッドと同じとしていることから、接合強度低下といった問題も発生しない。
なお、この電子部品の実装構造104では、4隅のパッド1a1〜1a4のY方向の長さを長くし、4隅のパッド1a1〜1a4以外のパッド1aのX方向の長さを長くしたが、Y方向への長さの長いパッド1aおよびX方向への長さの長いパッド1aを1つずつ設けるなどとしてもよい。この電子部品の実装構造102において、X方向への長さの長いパッド1aは本発明でいう第1のリード位置決めパッドに相当し、Y方向への長さの長いパッド1aは本発明でいう第2のリード位置決めパッドに相当する。
また、上述した実施の形態1〜4では、左右の1組の対向する縁辺に複数のリード2aを有するIC2を例にとって説明したが、左右の1組の対向する縁辺に加えて上下の1組の対向する縁辺にも複数のリード2aを有するIC2とした場合も同様にして適用することができる。
図5および図6に左右の1組の対向する縁辺および上下の1組の対向する縁辺に複数のリード2aを有するIC2を用いた場合の実施の形態1の変形例を示す。
図5に示した電子部品の実装構造105では、IC2の上下の1組の対向する縁辺に設けられた複数のリード2aに対応して、基板1の上下に複数のパッド1aを設け、基板1の上側の複数のパッド1aのうち2つのパッド1a1,1a2をIC2のリード2a(2a1,2a2)の接触面とほゞ同じ大きさとしている。
図6に示した電子部品の実装構造106では、IC2の上下の1組の対向する縁辺に設けられた複数のリード2aに対応して、基板1の上下に複数のパッド1aを設け、基板1の左側の複数のパッド1aのうち1つのパッド1a1および基板1の上側の複数のパッド1aのうちの1つのパッド1a2をIC2のリード2a(2a1,2a2)の接触面とほゞ同じ大きさとしている。
〔実施の形態の拡張〕
以上、実施の形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明の技術思想の範囲内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
以上、実施の形態を参照して本発明を説明したが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明の技術思想の範囲内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
1…プリント基板(基板)、1a…パッド、2…センサIC(IC)、2a…リード、3…クリーム半田、4…リフロー炉、101〜106…電子部品の実装構造。
Claims (3)
- 少なくとも1組の対向する縁辺から各縁辺に直交して外部へ延在する複数のリードを有する電子部品と、この電子部品の複数のリードに電気的に接続される複数のパッドを有する基板とを備え、前記電子部品のリードを前記基板のパッドに塗布された半田に載置した状態でリフロー炉を通すことによって前記電子部品のリードと前記基板のパッドとが加熱溶着される電子部品の実装構造において、
前記基板の複数のパッドは、
前記リフロー炉を通過する際の前記リードの延在方向の規定の位置からのずれを規制する第1のリード位置決めパッドと、前記リードの延在方向と直交する方向の規定の位置からのずれを規制する第2のリード位置決めパッドとを含む
ことを特徴とする電子部品の実装構造。 - 請求項1に記載された電子部品の実装構造において、
前記第1のリード位置決めパッドと前記第2のリード位置決めパッドとは1つのパッドで兼用されている
ことを特徴とする電子部品の実装構造。 - 請求項1に記載された電子部品の実装構造において、
前記第1のリード位置決めパッドと前記第2のリード位置決めパッドとは1対のパッドで構成されている
ことを特徴とする電子部品の実装構造。
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