[go: up one dir, main page]

JP2015020100A - Cleaning fluid of resist peeling liquid filtration filter, cleaning device and cleaning method - Google Patents

Cleaning fluid of resist peeling liquid filtration filter, cleaning device and cleaning method Download PDF

Info

Publication number
JP2015020100A
JP2015020100A JP2013148925A JP2013148925A JP2015020100A JP 2015020100 A JP2015020100 A JP 2015020100A JP 2013148925 A JP2013148925 A JP 2013148925A JP 2013148925 A JP2013148925 A JP 2013148925A JP 2015020100 A JP2015020100 A JP 2015020100A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
filter
tank
cleaning liquid
liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013148925A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6311956B2 (en
Inventor
真一郎 淵上
Shinichiro Fuchigami
真一郎 淵上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2013148925A priority Critical patent/JP6311956B2/en
Priority to PCT/JP2014/003524 priority patent/WO2015008443A1/en
Priority to TW103123271A priority patent/TWI615186B/en
Publication of JP2015020100A publication Critical patent/JP2015020100A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6311956B2 publication Critical patent/JP6311956B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D19/00Degasification of liquids
    • B01D19/02Foam dispersion or prevention
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D41/00Regeneration of the filtering material or filter elements outside the filter for liquid or gaseous fluids
    • B01D41/04Regeneration of the filtering material or filter elements outside the filter for liquid or gaseous fluids of rigid self-supporting filtering material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • B08B3/10Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • B08B3/10Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
    • B08B3/108Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration by lowering and raising the level of the cleaning liquid
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/42Stripping or agents therefor
    • G03F7/422Stripping or agents therefor using liquids only
    • G03F7/423Stripping or agents therefor using liquids only containing mineral acids or salts thereof, containing mineral oxidizing substances, e.g. peroxy compounds
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • B08B3/10Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
    • B08B3/14Removing waste, e.g. labels, from cleaning liquid
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C11ANIMAL OR VEGETABLE OILS, FATS, FATTY SUBSTANCES OR WAXES; FATTY ACIDS THEREFROM; DETERGENTS; CANDLES
    • C11DDETERGENT COMPOSITIONS; USE OF SINGLE SUBSTANCES AS DETERGENTS; SOAP OR SOAP-MAKING; RESIN SOAPS; RECOVERY OF GLYCEROL
    • C11D2111/00Cleaning compositions characterised by the objects to be cleaned; Cleaning compositions characterised by non-standard cleaning or washing processes
    • C11D2111/10Objects to be cleaned
    • C11D2111/14Hard surfaces
    • C11D2111/20Industrial or commercial equipment, e.g. reactors, tubes or engines

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Degasification And Air Bubble Elimination (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reuse again as a filtration filter by removing resist from a filter having filtrated resist peeling liquid obtained by removing positive type resist from a substrate.SOLUTION: A resist peeling liquid filtration filter after use is immersed into a cleaning fluid of the resist peeling liquid filtration filter containing ammonia as much as 2.5-12.5 mass% with respect to the whole amount of the cleaning fluid and hydrogen peroxide as much as 8.8-17.5 mass% with respect to the whole amount of the cleaning fluid. Hereby, attached resist can be removed, and further the resist peeling liquid filtration filter can be reused.

Description

本発明は、液晶、有機EL等のディスプレイデバイスや半導体の製造時に用いるレジスト剥離液をろ過するレジスト剥離液ろ過フィルタを、洗浄するためのレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液と、洗浄装置および洗浄方法に関する。   The present invention relates to a resist stripper filtration filter cleaning liquid, a cleaning apparatus, and a cleaning method for cleaning a resist stripper filter for filtering a resist stripper used for manufacturing liquid crystal and organic EL display devices and semiconductors. .

液晶や有機EL(Electro−Luminescence)等のTFT(Thin Film Transistor)製造プロセスにおける、レジスト剥離洗浄工程においては、剥離液中のレジスト析出物、各種の異物が基板に再付着し、製品の歩留まりが悪化するのを防ぐために、剥離装置内に剥離液や洗浄液をろ過するためのフィルタを備えている。   In the resist stripping cleaning process in TFT (Thin Film Transistor) manufacturing processes such as liquid crystal and organic EL (Electro-Luminescence), resist deposits in the stripping solution and various foreign substances are reattached to the substrate, resulting in a product yield. In order to prevent deterioration, a peeling device is provided with a filter for filtering the peeling solution and the cleaning solution.

近年、第8〜第10世代と基板の大型化が進み、かつ、フルHD〜4K2Kと高精細化も進んでおり、異物がTFTのパターンに付着することによる不良リスクが、飛躍的に高まっている。   In recent years, the size of the substrate has increased with the 8th to 10th generations, and the resolution has increased with full HD to 4K2K, and the risk of defects due to foreign matter adhering to the TFT pattern has increased dramatically. Yes.

そこで、フィルタのろ過精度を高める若しくは、ろ過流量を増やすといった対策がなされる。しかし、その結果、フィルタの目詰まりが頻発し、多い場合では、数日のサイクルでフィルタ交換が必要となるケースも生じる場合がある。   Therefore, measures such as increasing the filtration accuracy of the filter or increasing the filtration flow rate are taken. However, as a result, clogging of the filter occurs frequently, and in the case where there are many, there may be a case where the filter needs to be replaced in a cycle of several days.

例えば、第8世代以降の大型基板の剥離洗浄装置には、1台あたり通常3個以上のフィルタが設置されており、フィルタ交換が頻発することによる、フィルタのコスト、フィルタ交換の手間及び設備稼働率の低下が工場運用上の大きな課題となる。そこで、目詰まりしたフィルタの再生が考えられる。   For example, in the 8th generation and later large substrate peeling and cleaning devices, usually 3 or more filters are installed per unit, and filter replacement, filter replacement labor and equipment operation due to frequent filter replacement Decreasing the rate is a major issue for factory operation. Therefore, regeneration of a clogged filter can be considered.

エッチング工程で使用するフィルタの再生という観点では、従来いくつかの提案がされていた。例えば、LSI(Large Scale Integration)回路やTFT製造プロセスにおける窒化シリコン(SiNx)等の絶縁膜のエッチング工程において、エッチング液中に難溶解性のスケールが析出し、エッチング液フィルタが閉塞する。そのため、エッチング装置を停止することなくフィルタの交換や再生ができる装置が提案されている。   Several proposals have heretofore been made from the viewpoint of regenerating the filter used in the etching process. For example, in an etching process of an insulating film such as silicon nitride (SiNx) in an LSI (Large Scale Integration) circuit or a TFT manufacturing process, a hardly soluble scale is deposited in the etchant, and the etchant filter is blocked. Therefore, an apparatus capable of exchanging and regenerating the filter without stopping the etching apparatus has been proposed.

特許文献1には、エッチング工程で使用するフッ素系エッチング液をろ過するフィルタを、2系統用意し、一方が目詰まりした際には、他方のフィルタに切換え、目詰まりした方のフィルタを洗浄液で洗浄し、再利用する技術が開示されている。   In Patent Document 1, two filters for filtering a fluorine-based etching solution used in the etching process are prepared. When one of the filters is clogged, the filter is switched to the other filter, and the clogged filter is washed with a cleaning solution. Techniques for cleaning and reusing are disclosed.

ここで用いられる洗浄液は、アルキレンポリアミンポリ酢酸又はそのアンモニウム塩若しくはアルカリ金属塩から選択される第1のキレート剤が1〜20重量%と、水酸基を有していてもよいカルボン酸又はそのアンモニウム塩若しくはアルカリ金属塩から選択され且つ第1のキレート剤と異なる第2のキレート剤を1〜20重量%と、洗浄液のpHを9〜11にするに足りるアルカリ剤、および水を含有し、第1のキレート剤と第2のキレート剤の合計量が5〜30重量%であるフッ素系スケール除去用洗浄液とされている。   The cleaning liquid used here is 1 to 20% by weight of a first chelating agent selected from alkylene polyamine polyacetic acid or an ammonium salt or alkali metal salt thereof, and a carboxylic acid or an ammonium salt thereof optionally having a hydroxyl group. Or 1 to 20% by weight of a second chelating agent selected from alkali metal salts and different from the first chelating agent, an alkali agent sufficient to make the pH of the cleaning liquid 9 to 11 and water, The total amount of the chelating agent and the second chelating agent is 5 to 30% by weight.

また、エッチングの際の処理液をろ過するフィルタの再生という観点では、特許文献2もある。特許文献2は、エッチング用の処理液をろ過するフィルタに溜まるパーティクルを薬液で溶解除去する点を開示している。この場合、エッチングされる材料は窒化珪素膜で、エッチングの処理液はリン酸であり、薬液はフッ酸を使用する。   Further, there is Patent Document 2 from the viewpoint of regeneration of a filter that filters the processing liquid at the time of etching. Patent Document 2 discloses that particles accumulated in a filter for filtering a processing solution for etching are dissolved and removed with a chemical solution. In this case, the material to be etched is a silicon nitride film, the etching treatment liquid is phosphoric acid, and the chemical liquid uses hydrofluoric acid.

一方、エッチングにはフォトリソグラフィの技術が使用されるが、その際に使用するレジストの剥離液をろ過するフィルタの洗浄についても、開示された技術がある。特許文献3によれば、まずレジストが残っている基板を、硫酸溶液にオゾン及び/又は過酸化水素が添加された過硫酸溶液で洗浄する。次に洗浄後のレジスト等が含まれた過硫酸溶液からレジスト等をフィルタで分離する。   On the other hand, a photolithography technique is used for etching, and there is a disclosed technique for cleaning a filter for filtering a resist stripping solution used at that time. According to Patent Document 3, first, the substrate on which the resist remains is washed with a persulfuric acid solution in which ozone and / or hydrogen peroxide is added to a sulfuric acid solution. Next, the resist and the like are separated from the persulfuric acid solution containing the washed resist and the like by a filter.

このフィルタは2系統設けてあり、一方が目詰まりを起こしたときは、他方に切換えてろ過を続ける。目詰まりを起こした方のフィルタは、まず圧縮空気で過硫酸溶液を排除する。そして、フィルタに超純水を供給し、フィルタに詰まったレジストを除去する。   This filter is provided with two systems. When one of the filters is clogged, the filter is switched to the other and the filtration is continued. The filter that has been clogged first removes the persulfuric acid solution with compressed air. Then, ultrapure water is supplied to the filter, and the resist clogged in the filter is removed.

特開2005−251936号公報JP 2005-251936 A 特開平06−310487号公Japanese Patent Laid-Open No. 06-310487 特開2007−266477号公報JP 2007-266477 A

特許文献1および2は、主に窒化珪素をエッチングしたエッチング液をろ過したフィルタの再生に関するものである。したがって、フィルタを2系統用意し、切り換えながら再生するというフィルタの洗浄装置に関しては知見が得られるとしても、フォトレジストをろ過したフィルタの再生という点では、開示されているとは言えない。   Patent documents 1 and 2 mainly relate to regeneration of a filter obtained by filtering an etching solution obtained by etching silicon nitride. Therefore, even if knowledge is obtained regarding a filter cleaning apparatus in which two systems of filters are prepared and regenerated while switching, it cannot be said that it is disclosed in terms of regeneration of the filter after filtering the photoresist.

一方、特許文献3は、エッチング工程で用いられるフォトレジストを含む溶液をろ過したフィルタの再生に係る発明である。しかしながら、基板洗浄に用いているのが、過硫酸溶液であり、この溶液にはレジストは殆ど溶解しないとされている。また、圧縮空気で過硫酸溶液を排除した後、超純水でレジスト残物をフィルタから除去している。   On the other hand, Patent Document 3 is an invention relating to regeneration of a filter obtained by filtering a solution containing a photoresist used in an etching process. However, it is said that a persulfuric acid solution is used for substrate cleaning, and the resist hardly dissolves in this solution. Further, after removing the persulfuric acid solution with compressed air, the resist residue is removed from the filter with ultrapure water.

しかしながら、通常、エッチングが終了した際に基板上に残っているレジストは、レジスト剥離液で溶解して除去する。そのレジスト剥離液をろ過すると、フィルタにはべっとりしたレジスト溶液がろ過残留物として残る。このろ過残留物はフィルタを構成する繊維質に付着する。したがって、特許文献3で開示されているような、超純水で除去できるものではない。   However, usually, the resist remaining on the substrate when etching is completed is dissolved and removed with a resist stripping solution. When the resist stripping solution is filtered, a sticky resist solution remains as a filtration residue on the filter. This filtration residue adheres to the fibers constituting the filter. Therefore, it cannot be removed with ultrapure water as disclosed in Patent Document 3.

したがって、特許文献3にも、レジストを基板から除去したレジスト剥離液をろ過したフィルタの再生に関する知見は開示されていないと結論できる。   Therefore, it can be concluded that Patent Document 3 does not disclose any knowledge about regeneration of a filter obtained by filtering a resist stripping solution obtained by removing a resist from a substrate.

本発明は上記の課題に鑑みて想到されたものであり、レジストを基板から除去したレジスト剥離液をろ過したフィルタ(レジスト剥離液ろ過フィルタ)を洗浄し、付着したレジストを除去する洗浄液と、レジスト剥離液ろ過フィルタを洗浄する装置と洗浄方法を提供するものである。   The present invention has been conceived in view of the above problems, and a cleaning liquid for removing a resist that has been removed by washing a filter (resist peeling liquid filtration filter) obtained by filtering a resist peeling liquid from which a resist has been removed from a substrate, and a resist An apparatus and a cleaning method for cleaning a stripping solution filtration filter are provided.

より具体的に本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液は、
アンモニアと過酸化水素を含むことを特徴とする。
More specifically, the resist remover filtration filter cleaning liquid according to the present invention is:
It contains ammonia and hydrogen peroxide.

さらに、前記アンモニアは、前記洗浄液全量に対して、2.5〜12.5質量%含有され、
前記過酸化水素は、前記洗浄液全量に対して8.8〜17.5質量%含有されていることを特徴とする。
Further, the ammonia is contained in an amount of 2.5 to 12.5% by mass with respect to the total amount of the cleaning liquid,
The hydrogen peroxide is contained in an amount of 8.8 to 17.5% by mass with respect to the total amount of the cleaning liquid.

また、本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置は、
洗浄槽と、
前記洗浄槽内に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、
前記洗浄槽内に配置されたフィルターカートリッジ接続部と、
前記フィルターカートリッジ接続部に連結された第1の配管と、
出水口が前記第1の配管に連結され、入水口には、前記洗浄槽内と連通する第2の配管が連結されたポンプと、
前記洗浄槽内の洗浄液を冷却する冷却手段と、
前記洗浄槽に設けられた排気手段を有することを特徴とする。
Moreover, the resist stripping solution filtration filter cleaning device according to the present invention is:
A washing tank;
Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid into the cleaning tank;
A filter cartridge connection disposed in the cleaning tank;
A first pipe coupled to the filter cartridge connection part;
A water outlet is connected to the first pipe, and the water inlet is connected to a pump connected to a second pipe communicating with the inside of the cleaning tank;
A cooling means for cooling the cleaning liquid in the cleaning tank;
It has exhaust means provided in the washing tank.

また、本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄方法は、
被洗浄フィルターカートリッジを洗浄液に会合させる会合工程と、
前記洗浄液を冷却する冷却工程と、
前記洗浄液と前記被洗浄フィルターカートリッジを乖離させる乖離工程と、
前記被洗浄フィルターカートリッジをリンス液で洗浄するリンス工程を有することを特徴とする。
Moreover, the resist stripping solution filtration filter cleaning method according to the present invention includes:
An association process for associating the filter cartridge to be cleaned with the cleaning liquid;
A cooling step for cooling the cleaning liquid;
A separation step for separating the cleaning liquid and the filter cartridge to be cleaned;
It has a rinse process which wash | cleans the said to-be-cleaned filter cartridge with a rinse liquid.

本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液は、現像後のポジ型レジストを基板から剥離させるレジスト剥離液をろ過するフィルタに付着したレジストを溶解・除去することができる。そのため、使用後のレジスト剥離液ろ過フィルタを廃棄するのではなく、再生して使用することができる。   The cleaning solution for the resist stripping solution filtering filter according to the present invention can dissolve and remove the resist attached to the filter that filters the resist stripping solution that strips the developed positive resist from the substrate. Therefore, the used resist stripping solution filtration filter can be regenerated and used instead of being discarded.

また、本発明に係る洗浄液は、使用後のレジスト剥離液ろ過フィルタを浸漬させておくだけで、襞状のエレメントの奥に付着したレジストまで除去することができる。   In addition, the cleaning liquid according to the present invention can remove even the resist adhering to the back of the bowl-shaped element only by immersing the used resist stripping solution filtration filter.

また、本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄装置は、本発明に係る洗浄液で使用後フィルタを洗浄する際に、発生する熱と泡に対して、冷却手段、消泡手段および排気手段を有するので、安全に洗浄を行うことができる。   In addition, the cleaning device for the resist stripping solution filtration filter according to the present invention includes a cooling unit, a defoaming unit, and an exhaust unit against the heat and bubbles generated when the post-use filter is cleaned with the cleaning solution according to the present invention. Since it has, it can wash | clean safely.

また、攪拌手段を有することで、単に浸漬させ放置する場合よりも素早く洗浄を終えることができる。   Moreover, by having a stirring means, washing | cleaning can be completed more rapidly than the case where it is just immersed and left.

本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the resist peeling liquid filtration filter washing | cleaning apparatus which concerns on this invention. 洗浄槽内のフィルターカートリッジ接続部に使用後フィルタを設置して、洗浄液を導入している状態を示す図である。It is a figure which shows the state which installed the filter after use in the filter cartridge connection part in a washing tank, and has introduce | transduced the washing | cleaning liquid. 使用後フィルタが完全に洗浄液に浸漬され洗浄されている状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the filter after use is completely immersed and wash | cleaned in the washing | cleaning liquid. 洗浄液による洗浄が終了し、洗浄槽から洗浄液を排出している状態を示す図である。It is a figure which shows the state which the washing | cleaning by a washing | cleaning liquid is complete | finished and the washing | cleaning liquid is discharged | emitted from the washing tank. 純水を洗浄槽に導入し、リンス工程を行っている状態を示す図である。It is a figure which shows the state which introduce | transduces a pure water into a washing tank and is performing the rinse process. 実施の形態2に係るレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the resist stripping solution filtration filter washing | cleaning apparatus which concerns on Embodiment 2. FIG. 使用後フィルタが、洗浄液中に浸漬された会合工程を示す図である。It is a figure which shows the association process in which the filter after use was immersed in the washing | cleaning liquid. 洗浄液による洗浄の後、第1リンス槽でリンス工程が行われている状態を示す図である。It is a figure which shows the state in which the rinse process is performed by the 1st rinse tank after the washing | cleaning by a washing | cleaning liquid. 第2リンス槽でリンス工程が行われている状態を示す図である。It is a figure which shows the state in which the rinse process is performed by the 2nd rinse tank. (a)通水性を調べるための評価治具の構成と、(b)計測結果例を示す図である。(A) It is a figure which shows the structure of the evaluation jig | tool for investigating water permeability, and (b) the example of a measurement result.

以下本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液、洗浄装置および洗浄方法について説明する。なお、以下の説明は本発明に係るフォトレジスト剥離液の一実施形態を示すものであり、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、以下の実施形態および実施例は改変されてもよい。   Hereinafter, the cleaning liquid, the cleaning apparatus, and the cleaning method of the resist stripping solution filtration filter according to the present invention will be described. The following description shows an embodiment of the photoresist stripping solution according to the present invention, and the following embodiments and examples may be modified without departing from the gist of the present invention.

(実施の形態1)
図1に本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄装置(以下単に「洗浄装置」と呼ぶ。)を示す。洗浄装置1は、洗浄槽10と、フィルターカートリッジ接続部12と、ポンプ14と、洗浄液供給手段16と、泡排出手段20と、排気手段22を含む。また、制御器30を有していてもよい。図1では、フィルターカートリッジ接続部12が、3つある場合を示している。
(Embodiment 1)
FIG. 1 shows a cleaning apparatus for a resist stripping solution filtration filter according to the present invention (hereinafter simply referred to as “cleaning apparatus”). The cleaning apparatus 1 includes a cleaning tank 10, a filter cartridge connection unit 12, a pump 14, a cleaning liquid supply unit 16, a foam discharge unit 20, and an exhaust unit 22. Moreover, you may have the controller 30. FIG. FIG. 1 shows a case where there are three filter cartridge connecting portions 12.

洗浄槽10は、内部に使用後のレジスト剥離液ろ過フィルタ(以後単に「使用後フィルタ」ともいう。)を配置し、洗浄液で使用後フィルタ9(図2参照)に付着したレジストを除去する槽である。洗浄槽10には、ドレイン10eと、泡排出手段20が設けられている。ドレイン10eは洗浄槽10内の溶液を排出する排水経路である。ドレインバルブ10evが設けられている。ドレインバルブ10evは外部からの指示CV10vによって開閉が制御されるように構成されるのが好ましい。   The cleaning tank 10 has a used resist stripping solution filtration filter (hereinafter also simply referred to as “after-use filter”) disposed therein, and a tank for removing the resist adhering to the post-use filter 9 (see FIG. 2) with the cleaning liquid. It is. The cleaning tank 10 is provided with a drain 10e and a bubble discharging means 20. The drain 10 e is a drainage path for discharging the solution in the cleaning tank 10. A drain valve 10ev is provided. The drain valve 10ev is preferably configured to be opened and closed by an external instruction CV10v.

泡排出手段20は、洗浄槽10の上方側面に設けられた排出口である。洗浄槽10で用いる洗浄液は後述するように過酸化水素とアンモニアの混合溶液である。この洗浄液で使用後フィルタを洗浄すると、発熱し発泡する。そこで、泡排出手段20によって、この泡を洗浄槽10から排出する。泡排出手段20は、洗浄槽10の上部側面に形成された貫通孔であってもよい。   The foam discharging means 20 is a discharge port provided on the upper side surface of the cleaning tank 10. As will be described later, the cleaning liquid used in the cleaning tank 10 is a mixed solution of hydrogen peroxide and ammonia. When the filter is cleaned after use with this cleaning solution, it generates heat and foams. Therefore, the bubbles are discharged from the washing tank 10 by the bubble discharging means 20. The bubble discharging means 20 may be a through hole formed on the upper side surface of the cleaning tank 10.

泡排出手段20を貫通孔で構成した場合は、この貫通孔まで洗浄液の液面が上がり、洗浄液をオーバーフローさせながら泡を排出することができる。したがって、この貫通孔は、洗浄槽10中に配置させる使用後フィルタが完全に洗浄液に浸漬する液面以上の位置に設けるのが好適である。   When the bubble discharging means 20 is configured by a through hole, the liquid level of the cleaning liquid rises up to the through hole, and the bubbles can be discharged while overflowing the cleaning liquid. Therefore, it is preferable to provide the through hole at a position above the liquid level where the post-use filter disposed in the cleaning tank 10 is completely immersed in the cleaning liquid.

また、泡排出手段20は、洗浄槽10の上部から泡を吸引除去する構成であってもよい。また、洗浄槽10の上面を開口させ、周囲にさらにオーバーフロー槽(図示せず)を設け、洗浄槽10の上端から洗浄液をオーバーフローさせて、泡を排出する構成であってもよい。   Further, the bubble discharging means 20 may be configured to suck and remove bubbles from the upper part of the cleaning tank 10. Moreover, the upper surface of the cleaning tank 10 may be opened, and an overflow tank (not shown) may be provided around the cleaning tank 10 to overflow the cleaning liquid from the upper end of the cleaning tank 10 and discharge the bubbles.

洗浄槽10には、排気手段22も設けられる。洗浄液は過酸化水素を含有するため、レジストを溶解する際に多量の酸素を放出する。したがって、引火等には注意が必要だからである。洗浄槽10の上端を開放しておくことでよいが、洗浄槽10の上方で吸引ファンを回し、強制的に排出するのが望ましい。   The cleaning tank 10 is also provided with an exhaust means 22. Since the cleaning liquid contains hydrogen peroxide, a large amount of oxygen is released when the resist is dissolved. Therefore, attention is necessary for ignition. The upper end of the cleaning tank 10 may be opened, but it is desirable that the suction fan is rotated above the cleaning tank 10 to forcibly discharge it.

また洗浄槽10には温度センサ28が設けられているのが望ましい。洗浄液が使用後フィルタに付着したレジストを溶解する際には、反応熱が発生し、洗浄液の温度が上昇する。そのため後述する冷却手段24を動作させる。したがって温度センサ28による洗浄液の温度測定は、冷却手段24の動作の有無および動作の効果に関する情報を得ることができる。なお、温度センサ28は測定した温度を信号Stによって外部(後述する制御器30)に送信することができるように構成されるのが望ましい。   The cleaning tank 10 is preferably provided with a temperature sensor 28. When the cleaning liquid dissolves the resist adhering to the filter after use, reaction heat is generated and the temperature of the cleaning liquid rises. Therefore, the cooling means 24 mentioned later is operated. Therefore, the measurement of the temperature of the cleaning liquid by the temperature sensor 28 can obtain information on the presence or absence of the operation of the cooling means 24 and the effect of the operation. Note that the temperature sensor 28 is preferably configured to transmit the measured temperature to the outside (a controller 30 described later) by a signal St.

また、洗浄槽10には、液面センサ27が設けられるのが望ましい。洗浄槽10内の液面を検出することで、洗浄液の入出および純水の入出を制御することができるからである。   The cleaning tank 10 is preferably provided with a liquid level sensor 27. This is because the detection of the liquid level in the cleaning tank 10 can control the input / output of the cleaning liquid and the input / output of pure water.

洗浄槽10内には、使用後フィルタをセットするための、フィルターカートリッジ接続部12が設けられる。フィルターカートリッジ接続部12は、レジスト剥離液ろ過フィルタの接続口に嵌合する洗浄液噴出口である。洗浄対象となる使用後フィルタの接続口に合わせて形成される。フィルターカートリッジ接続部12は、洗浄槽10中に複数個配置されてよい。   In the cleaning tank 10, a filter cartridge connection part 12 for setting a filter after use is provided. The filter cartridge connection part 12 is a cleaning liquid spout fitted into the connection port of the resist stripping liquid filtration filter. It is formed according to the connection port of the post-use filter to be cleaned. A plurality of filter cartridge connection portions 12 may be arranged in the cleaning tank 10.

フィルターカートリッジ接続部12には、第1の配管11aが連結される。第1の配管11aは、洗浄槽10の外側にあるポンプ14の出水口14oと連結される。第1の配管11aの取り回しは特に限定されるものではない。洗浄槽10の側面に液密な貫通孔を設け、その液密な貫通孔から洗浄槽10の外に延設してもよい。第1の配管11aを通って供給される液体は、フィルターカートリッジ接続部12から噴出される。   A first pipe 11 a is connected to the filter cartridge connection portion 12. The first pipe 11 a is connected to the water outlet 14 o of the pump 14 outside the cleaning tank 10. The handling of the first piping 11a is not particularly limited. A liquid-tight through hole may be provided on the side surface of the cleaning tank 10, and may extend outside the cleaning tank 10 from the liquid-tight through hole. The liquid supplied through the first pipe 11a is ejected from the filter cartridge connection part 12.

第1の配管11aとポンプ14の間には、圧力センサ(図1では「PI」と表示する。)26が設けられる。圧力センサ26の形式は特に限定されない。なお、圧力センサ26は現在測定した圧力の値を外部に信号Spとして送信できる機能を有しているのが望ましい。   A pressure sensor (indicated as “PI” in FIG. 1) 26 is provided between the first pipe 11 a and the pump 14. The type of the pressure sensor 26 is not particularly limited. The pressure sensor 26 preferably has a function of transmitting the currently measured pressure value to the outside as a signal Sp.

ポンプ14の入水口14iには第2の配管11bが連結される。第2の配管11bの他方の開口は、洗浄槽10の底部に配置される。洗浄槽10内の洗浄液の液面が低い場合でも、洗浄液を汲み上げることができるからである。ポンプ14は外部からの指示Cpによって運転の開始・停止また供給量の調節などが行えるように構成するのが望ましい。   A second pipe 11 b is connected to the water inlet 14 i of the pump 14. The other opening of the second pipe 11 b is disposed at the bottom of the cleaning tank 10. This is because the cleaning liquid can be pumped even when the level of the cleaning liquid in the cleaning tank 10 is low. It is desirable that the pump 14 is configured so that the operation can be started / stopped or the supply amount can be adjusted by an instruction Cp from the outside.

洗浄装置1は、洗浄液の冷却手段24を有するのが望ましい。図では、「HEX」と記した。過酸化水素を含む洗浄液は、発熱発泡するからである。冷却手段24は、第1の配管11a若しくは、第2の配管11bに設けることができる。冷却手段24の形態は特に限定されない。図1では、第2の配管11bに冷却手段24を設けた構成を示した。図1の冷却手段24は、熱交換器を表している。冷却水が供給口24iに供給されると、第2の配管11bとの間で熱交換が行われ、熱を受け取った冷却水が排出口24oから排出される。   The cleaning apparatus 1 preferably has a cleaning liquid cooling means 24. In the figure, “HEX” is indicated. This is because the cleaning liquid containing hydrogen peroxide foams exothermically. The cooling means 24 can be provided in the 1st piping 11a or the 2nd piping 11b. The form of the cooling means 24 is not particularly limited. In FIG. 1, the structure which provided the cooling means 24 in the 2nd piping 11b was shown. The cooling means 24 in FIG. 1 represents a heat exchanger. When the cooling water is supplied to the supply port 24i, heat exchange is performed with the second pipe 11b, and the cooling water that has received the heat is discharged from the discharge port 24o.

なお、冷却手段24は、例えば、洗浄槽10の側面の周囲に冷却パイプを配置した構造若しくは、洗浄槽10の内部に直接冷却パイプを配設した構造であってもよい。また、冷却手段24は外部からの指示Ctmによって冷却効率を調整できるものであってもよい。   The cooling unit 24 may have, for example, a structure in which a cooling pipe is disposed around the side surface of the cleaning tank 10 or a structure in which a cooling pipe is directly disposed inside the cleaning tank 10. Further, the cooling means 24 may be capable of adjusting the cooling efficiency by an instruction Ctm from the outside.

洗浄液供給手段16は、洗浄槽10の外部から洗浄液を洗浄槽10に供給する。洗浄液供給のための供給配管16aと、開閉バルブ16bで構成することができる。供給配管16aの上流には図示しない洗浄液タンクが配置されている。なお、開閉バルブ16bは外部からの指示CV16bによって開閉可能に構成されているのが望ましい。   The cleaning liquid supply means 16 supplies the cleaning liquid to the cleaning tank 10 from the outside of the cleaning tank 10. A supply pipe 16a for supplying cleaning liquid and an open / close valve 16b can be used. A cleaning liquid tank (not shown) is disposed upstream of the supply pipe 16a. The open / close valve 16b is preferably configured to be opened and closed by an external instruction CV16b.

純水供給手段17は、洗浄槽10の外部から純水を洗浄槽10に供給する。純水供給手段17は、純水供給のための供給配管17aと、開閉バルブ17bで構成することができる。供給配管17aの上流には図示しない純水タンクが配置されている。なお、開閉バルブ17bは、外部からの指示CV17bによって開閉可能に構成されているのが望ましい。   The pure water supply means 17 supplies pure water to the cleaning tank 10 from the outside of the cleaning tank 10. The pure water supply means 17 can be composed of a supply pipe 17a for supplying pure water and an open / close valve 17b. A pure water tank (not shown) is disposed upstream of the supply pipe 17a. Note that the opening / closing valve 17b is preferably configured to be opened and closed by an instruction CV17b from the outside.

また、洗浄槽10には、シャワー手段18が設けられていてもよい。シャワー手段18は、洗浄液を洗浄槽10の液面若しくは洗浄槽10中に配置されたレジスト剥離液ろ過フィルタに散布する。特にシャワー手段18は、洗浄槽10の洗浄液の液面に発生する泡を消泡する場合に有効である。   The washing tank 10 may be provided with shower means 18. The shower means 18 spreads the cleaning liquid on the liquid level of the cleaning tank 10 or on the resist stripping solution filtration filter disposed in the cleaning tank 10. In particular, the shower means 18 is effective in removing bubbles generated on the liquid surface of the cleaning liquid in the cleaning tank 10.

シャワー手段18は、供給配管18a、開閉バルブ18b、散水口18cで構成することができる。なお、供給配管18aは、洗浄液供給手段16の供給配管16aと兼用することもできる。同じ洗浄液を流すからである。また、開閉バルブ18bは、外部からの指示CV18bによって開閉可能に構成されているのが望ましい。   The shower means 18 can be constituted by a supply pipe 18a, an opening / closing valve 18b, and a water spout 18c. The supply pipe 18 a can also be used as the supply pipe 16 a of the cleaning liquid supply means 16. This is because the same cleaning solution is allowed to flow. Further, the opening / closing valve 18b is preferably configured to be opened and closed by an instruction CV18b from the outside.

また、全体の動作を制御する制御器30が設けられていてもよい。制御器30は、ポンプ14、冷却手段24、圧力センサ26、液面センサ27、温度センサ28、開閉バルブ16b、17b、18b、ドレインバルブ10evと接続される。そして、制御器30は、ポンプ14、冷却手段24、開閉バルブ16b、17b、18b、ドレインバルブ10evに対して、指示信号Cp、Ctm、CV16b、CV17b、CV18b、CV10vの信号を送信し、その動作を制御する。   Moreover, the controller 30 which controls the whole operation | movement may be provided. The controller 30 is connected to the pump 14, the cooling means 24, the pressure sensor 26, the liquid level sensor 27, the temperature sensor 28, the open / close valves 16b, 17b, 18b, and the drain valve 10ev. Then, the controller 30 transmits the signals of the instruction signals Cp, Ctm, CV16b, CV17b, CV18b, CV10v to the pump 14, the cooling means 24, the open / close valves 16b, 17b, 18b, and the drain valve 10ev, and the operation To control.

また、圧力センサ26、液面センサ27、温度センサ28からは、信号Sp、SL、Stを受信する。   In addition, signals Sp, SL, and St are received from the pressure sensor 26, the liquid level sensor 27, and the temperature sensor 28.

以上の構成を有する洗浄装置1の動作について説明する。まず、洗浄槽10内は、洗浄液がない状態である。つまり、前回の洗浄後、洗浄槽10内の溶液はドレイン10eを介して排出してある。また、純水供給手段17の開閉バルブ17b、洗浄液供給手段16の開閉バルブ16b、シャワー手段18の開閉バルブ18b、ドレイン10eのドレインバルブ10evは閉じている。   Operation | movement of the washing | cleaning apparatus 1 which has the above structure is demonstrated. First, the cleaning tank 10 is in a state where there is no cleaning liquid. That is, after the previous cleaning, the solution in the cleaning tank 10 is discharged through the drain 10e. The open / close valve 17b of the pure water supply means 17, the open / close valve 16b of the cleaning liquid supply means 16, the open / close valve 18b of the shower means 18, and the drain valve 10ev of the drain 10e are closed.

このような状態で、被洗浄物である使用後フィルタ9は、フィルターカートリッジ接続部12に取り付けられる(図2参照)。この後、操作者は、制御器30に指示を出してもよいし、自身の手で各操作を行ってもよい。以後の説明は制御器30が処理を行うとして説明を行う。   In such a state, the post-use filter 9 that is an object to be cleaned is attached to the filter cartridge connecting portion 12 (see FIG. 2). Thereafter, the operator may issue an instruction to the controller 30 or may perform each operation with his / her own hand. The following description will be made assuming that the controller 30 performs processing.

制御器30は、開閉バルブ16bに対して指示CV16bを送信し、開閉バルブ16bを開く。開閉バルブ16bが開くと、洗浄液が供給配管16aを通って流れ、洗浄槽10中に注入される。ここで、使用後フィルタ9は、洗浄液と会合する(会合工程)。なお、洗浄液は後述する実施例に示すように、過酸化水素とアンモニアの混合溶液である。また、図2では、閉じた開閉バルブ17b、18b、10evは黒で塗りつぶした。   The controller 30 transmits an instruction CV16b to the opening / closing valve 16b and opens the opening / closing valve 16b. When the opening / closing valve 16b is opened, the cleaning liquid flows through the supply pipe 16a and is injected into the cleaning tank 10. Here, the post-use filter 9 associates with the cleaning liquid (association step). The cleaning liquid is a mixed solution of hydrogen peroxide and ammonia as shown in the examples described later. In FIG. 2, the closed on-off valves 17b, 18b, and 10ev are filled with black.

洗浄液が洗浄槽10の下部に配置される第2の配管11bの開口部より高い液面になったら、制御器30は、ポンプ14に対して指示Cpを送信し、ポンプ14を稼動させる。なお、洗浄液の液面は、液面センサ27からの信号SLによって、制御器30は知ることができる。   When the cleaning liquid reaches a higher liquid level than the opening of the second pipe 11b disposed at the lower part of the cleaning tank 10, the controller 30 transmits an instruction Cp to the pump 14 to operate the pump 14. The controller 30 can know the liquid level of the cleaning liquid from the signal SL from the liquid level sensor 27.

ポンプ14が作動すると、洗浄槽10内の洗浄液が第2の配管11bに吸引され、ポンプ14の入水口14iに吸引される。洗浄液はポンプ14の出水口14oから第1の配管11aを介して洗浄槽10内のフィルターカートリッジ接続部12に供給される。そして洗浄液は、使用後フィルタ9の中から外に向かって噴出する。この際、使用後フィルタ9に付着しているレジストが、洗浄液に溶解される。これは洗浄液を攪拌する工程(撹拌工程)といっても良い。   When the pump 14 is activated, the cleaning liquid in the cleaning tank 10 is sucked into the second pipe 11b and sucked into the water inlet 14i of the pump 14. The cleaning liquid is supplied from the water outlet 14o of the pump 14 to the filter cartridge connecting portion 12 in the cleaning tank 10 through the first pipe 11a. Then, the cleaning liquid is ejected from the inside of the filter 9 after use. At this time, the resist adhering to the filter 9 after use is dissolved in the cleaning liquid. This may be referred to as a step of stirring the cleaning liquid (stirring step).

洗浄液は、レジストを溶解する際に、発熱反応を生じ、温度が上昇する。制御器30は、温度センサ28からの信号Stによって、洗浄液の温度を監視する。そして、予め決められた温度以上になったら、冷却手段24に冷却の指示Ctmを送信する。冷却手段24は、ポンプ14と第1の配管11aおよび第2の配管11bで循環している洗浄液を所定の温度に冷却する(冷却工程)。   When the cleaning solution dissolves the resist, an exothermic reaction occurs and the temperature rises. The controller 30 monitors the temperature of the cleaning liquid based on the signal St from the temperature sensor 28. When the temperature reaches a predetermined temperature or higher, a cooling instruction Ctm is transmitted to the cooling means 24. The cooling means 24 cools the cleaning liquid circulating in the pump 14, the first pipe 11a, and the second pipe 11b to a predetermined temperature (cooling step).

洗浄液は、発熱反応によって温度が高くなる。使用後フィルタ9に付着したレジストを溶解するには、洗浄液はある程度温度が高い方が良い。しかし、高くなりすぎると使用後フィルタ9の素材が耐えられなくなる。洗浄液は、50℃乃至70℃程度が好適である。   The temperature of the cleaning liquid increases due to an exothermic reaction. In order to dissolve the resist adhering to the filter 9 after use, it is better that the temperature of the cleaning liquid is high to some extent. However, if it becomes too high, the material of the filter 9 after use becomes unbearable. The cleaning liquid is preferably about 50 ° C. to 70 ° C.

洗浄槽10の液面が高くなり、泡排出手段20のレベルまで到達すると、洗浄液はオーバーフローする(図3参照)。また、洗浄液の温度が高くなると発泡する。したがって、洗浄液の液面が泡排出手段20のレベルまで到達したら、制御器30は開閉バルブ18bに指示CV18bを送り、シャワー手段18を作動させる(消泡工程)。シャワー手段18は、洗浄液の液面上方から洗浄液を散布し消泡する。また、洗浄液が泡排出手段20からオーバーフローする際に泡も共に排除される(排泡工程)。なお、消泡工程は液面が泡排出手段20のレベルに到達する前に作動させてもよい。   When the liquid level of the cleaning tank 10 increases and reaches the level of the bubble discharging means 20, the cleaning liquid overflows (see FIG. 3). Further, foaming occurs when the temperature of the cleaning liquid increases. Therefore, when the liquid level of the cleaning liquid reaches the level of the bubble discharging means 20, the controller 30 sends an instruction CV 18b to the opening / closing valve 18b to activate the shower means 18 (defoaming step). The shower unit 18 sprays the cleaning liquid from above the liquid surface of the cleaning liquid and defoams it. Further, when the cleaning liquid overflows from the bubble discharging means 20, bubbles are also removed (bubble discharging step). The defoaming step may be operated before the liquid level reaches the level of the bubble discharging means 20.

制御器30は、ポンプ14を稼動させた後は、圧力センサ26からの信号Spをモニタする。そして、洗浄液の循環は、圧力センサ26の圧力(洗浄液の送圧)が所定の圧力以下になるまで継続する。レジストが付着している間は、洗浄液の送圧は高い。しかし、レジストが溶解し使用後フィルタ9から除去されると、洗浄液の送圧は低くなる。   The controller 30 monitors the signal Sp from the pressure sensor 26 after operating the pump 14. Then, the circulation of the cleaning liquid is continued until the pressure of the pressure sensor 26 (feeding pressure of the cleaning liquid) becomes a predetermined pressure or less. While the resist is adhered, the pressure of the cleaning liquid is high. However, when the resist is dissolved and removed from the filter 9 after use, the pressure of the cleaning liquid is lowered.

制御器30は、洗浄液の送圧が所定の値以下になったら、シャワー手段18、ポンプ14および冷却手段24を停止させる。そして、指示CV10vを送り、ドレインバルブ10evを開く。これで、洗浄槽10内の洗浄液は、排出される(図4参照)。これは洗浄液とレジスト剥離液ろ過フィルタの乖離工程といえる。   The controller 30 stops the shower unit 18, the pump 14, and the cooling unit 24 when the cleaning liquid supply pressure becomes a predetermined value or less. Then, the instruction CV10v is sent and the drain valve 10ev is opened. Thus, the cleaning liquid in the cleaning tank 10 is discharged (see FIG. 4). This can be said to be a separation process between the cleaning solution and the resist stripping solution filtration filter.

制御器30は、洗浄槽10から洗浄液が排出されたら、ドレインバルブ10evを閉じ、指示CV17bを送信し、開閉バルブ17bを開く。開閉バルブ17bが開くと、供給配管17aを通って、洗浄槽10内に純水が導入される(図5参照)。   When the cleaning liquid is discharged from the cleaning tank 10, the controller 30 closes the drain valve 10ev, transmits an instruction CV17b, and opens the open / close valve 17b. When the opening / closing valve 17b is opened, pure water is introduced into the cleaning tank 10 through the supply pipe 17a (see FIG. 5).

純水の水面が第2の配管11bの洗浄槽10内の開口より上になったら、制御器30は、ポンプ14を始動させる。洗浄槽10内の純水は、ポンプ14から使用後フィルタ9の内側から外側に噴出する。この操作で使用後フィルタ9のリンス(すすぎ洗い)を行う(リンス工程)。リンス工程では、あらかじめ決めておいた所定時間の間、ポンプ14を稼働させ、純水を使用後フィルタ9に通液させる。また、リンス工程では、ポンプ14からの送圧をチェックしなくてもよい。すでにレジストは溶解されているので、流れ抵抗は低くなっているからである。   When the surface of the pure water is above the opening in the cleaning tank 10 of the second pipe 11b, the controller 30 starts the pump 14. The pure water in the washing tank 10 is ejected from the inside of the filter 9 after use from the pump 14 to the outside. With this operation, the post-use filter 9 is rinsed (rinse washed) (rinsing step). In the rinsing step, the pump 14 is operated for a predetermined time determined in advance, and pure water is passed through the filter 9 after use. Further, in the rinsing process, it is not necessary to check the pressure supplied from the pump 14. This is because the flow resistance is low because the resist is already dissolved.

所定時間の純水の通液が終了したら、制御器30はポンプ14を停止させ、ドレインバルブ10evを開き、純水を排出する。なお、リンス工程は、複数回行ってもよい。以上の操作によって、使用後フィルタ9に付着したレジストは溶解され、使用後フィルタ9は再使用可能になる。洗浄後のレジスト剥離液ろ過フィルタを洗浄後フィルタと呼ぶ。   When the passage of pure water for a predetermined time is completed, the controller 30 stops the pump 14, opens the drain valve 10ev, and discharges pure water. In addition, you may perform a rinse process in multiple times. By the above operation, the resist adhering to the post-use filter 9 is dissolved, and the post-use filter 9 can be reused. The resist stripping solution filtration filter after cleaning is referred to as a post-cleaning filter.

なお、リンス行程を複数回行う場合は、洗浄槽10の水位が泡排出手段20のレベルまで到達したら純水の供給を止めて、所定時間通液させる。その後洗浄槽10の純水を排出し、リンス行程を複数回繰り返す。リンス行程が1回の場合は純水をオーバーフローさせながら行っても良い。もちろん複数回リンス工程を行う場合でも各工程で純水をオーバーフローさせてもよい。   In addition, when performing the rinse process in multiple times, when the water level of the washing tank 10 reaches the level of the bubble discharging means 20, the supply of pure water is stopped and the liquid is passed for a predetermined time. Thereafter, the pure water in the washing tank 10 is discharged, and the rinsing process is repeated a plurality of times. When the rinsing process is performed once, it may be performed while overflowing pure water. Of course, even when the rinsing process is performed a plurality of times, the pure water may overflow in each process.

(実施の形態2)
図6に、本実施の形態に係るレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置2の構成を示す。実施の形態1の場合は、1つの洗浄槽10で洗浄液による洗浄とリンスを行っているので、洗浄とリンスが終了しなければ、次の使用後フィルタ9の洗浄を始めることができない。本実施の形態では、洗浄液で洗浄する槽とリンスを行う槽を別々に用意する。
(Embodiment 2)
In FIG. 6, the structure of the resist stripping solution filtration filter washing | cleaning apparatus 2 which concerns on this Embodiment is shown. In the case of Embodiment 1, since cleaning and rinsing with a cleaning liquid are performed in one cleaning tank 10, cleaning of the filter 9 after the next use cannot be started unless cleaning and rinsing are completed. In the present embodiment, a tank for cleaning with a cleaning liquid and a tank for rinsing are prepared separately.

本実施の形態に係るレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置2は、洗浄槽40とリンス槽42、44を有する。このように、洗浄槽40とリンス槽42、44を別々に有することで、使用後フィルタ9を流れ作業的に洗浄し、再生可能にすることができる。なお、本実施の形態ではリンス槽が2つの場合について説明するが、リンス槽の数は1つでもよいし、3つ以上あってもよい。   The resist stripping solution filtration filter cleaning device 2 according to the present embodiment includes a cleaning tank 40 and rinse tanks 42 and 44. Thus, by separately having the cleaning tank 40 and the rinsing tanks 42 and 44, the post-use filter 9 can be washed in a flowing manner and made recyclable. In this embodiment, the case where there are two rinsing tanks will be described. However, the number of rinsing tanks may be one, or may be three or more.

使用後フィルタ9は、洗浄籠8に入れられて、洗浄槽40、リンス槽42、44を移動する。つまり、実施の形態1では、使用後フィルタ9に通液する液体の種類を変えたが、本実施の形態では使用後フィルタ9自身が、移動する。なお、洗浄籠8は、移動装置50によって移動される。移動装置50は、例えば、レール51と、巻き上げ滑車52と、チャック53で構成されるクレーン等が好適に使用できる。   The post-use filter 9 is placed in the cleaning tub 8 and moves between the cleaning tank 40 and the rinsing tanks 42 and 44. In other words, in the first embodiment, the type of liquid that passes through the post-use filter 9 is changed, but in this embodiment, the post-use filter 9 itself moves. The cleaning bowl 8 is moved by the moving device 50. As the moving device 50, for example, a crane including a rail 51, a winding pulley 52, and a chuck 53 can be suitably used.

洗浄槽40には、ドレイン40e、ドレインバルブ40ev、泡排出手段20、シャワー手段18、洗浄液供給手段16、ポンプ14、第2の配管11b、排気手段22、冷却手段24、圧力センサ26、温度センサ28が設けられている。しかし、フィルターカートリッジ接続部12は有していない。したがって、第1の配管11aは、洗浄槽40内に連通するだけで、フィルターカートリッジ接続部12に連通してはいない。   The cleaning tank 40 includes a drain 40e, a drain valve 40ev, a foam discharge unit 20, a shower unit 18, a cleaning liquid supply unit 16, a pump 14, a second pipe 11b, an exhaust unit 22, a cooling unit 24, a pressure sensor 26, and a temperature sensor. 28 is provided. However, the filter cartridge connection part 12 is not provided. Therefore, the first pipe 11 a communicates only with the cleaning tank 40 and does not communicate with the filter cartridge connection portion 12.

リンス槽42、44は、第1リンス槽42、第2リンス槽44とする。第1リンス槽42と第2リンス槽44は、同じ構成であるので、第1リンス槽42で説明する。第1リンス槽42は、ドレイン42e、ドレインバルブ42evを有する。また、純水供給手段41を有している。純水供給手段41は、供給配管41aと開閉バルブ41vで構成されている。開閉バルブ41vは、外部からの指示CV41vで開閉できるように構成されるのが望ましい。   The rinse tanks 42 and 44 are a first rinse tank 42 and a second rinse tank 44. Since the first rinse tank 42 and the second rinse tank 44 have the same configuration, the first rinse tank 42 will be described. The first rinse tank 42 includes a drain 42e and a drain valve 42ev. Further, pure water supply means 41 is provided. The pure water supply means 41 includes a supply pipe 41a and an opening / closing valve 41v. The opening / closing valve 41v is preferably configured to be opened / closed by an external instruction CV41v.

また、第1リンス槽42は、オーバーフロー手段42ovと、曝気手段43を有していてもよい。オーバーフロー手段42ovは、リンス用の純水を入れ替えるための廃水手段である。第1リンス槽42の上方側面に穿設された貫通孔であってよい。   Further, the first rinsing tank 42 may have an overflow means 42 ov and an aeration means 43. The overflow means 42ov is a waste water means for replacing pure water for rinsing. It may be a through hole formed in the upper side surface of the first rinse tank 42.

また、曝気手段43は、散気管43a、空気配管43b、開閉バルブ43vで構成される。散気管43aは、使用後フィルタ9が入った洗浄籠8の下側になるように配置される。空気配管43bは、図示しない圧縮エア源から延設されてくる。空気配管43bの途中には、開閉バルブ43vが設けられている。すなわち、開閉バルブ43vが開くと、圧縮空気が散気管43aから放出される。開閉バルブ43vは外部からの指示CV43vによって開閉可能に構成されるのが望ましい。   The aeration means 43 includes an air diffusion pipe 43a, an air pipe 43b, and an open / close valve 43v. The air diffuser 43a is disposed so as to be under the washing basket 8 containing the filter 9 after use. The air pipe 43b extends from a compressed air source (not shown). An open / close valve 43v is provided in the middle of the air pipe 43b. That is, when the opening / closing valve 43v is opened, the compressed air is released from the diffuser tube 43a. The opening / closing valve 43v is preferably configured to be opened and closed by an instruction CV43v from the outside.

第2リンス槽44も第1リンス槽42と同様の部品で構成されていてよい。したがって、ドレイン44e、ドレインバルブ44ev、純水供給手段47、オーバーフロー手段44ov、曝気手段45を有している。   The second rinsing tank 44 may be composed of the same components as the first rinsing tank 42. Therefore, it has the drain 44e, the drain valve 44ev, the pure water supply means 47, the overflow means 44ov, and the aeration means 45.

また、レジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置2は、洗浄槽40から第1リンス槽42へ、第1リンス槽42から第2リンス槽44へ、洗浄籠8を移送する移動装置50が配置される。この移動装置50は、洗浄籠8を最初の載置場所から洗浄槽40内へ配置させることができる。   Further, the resist stripping solution filtration filter cleaning device 2 is provided with a moving device 50 for transferring the cleaning basket 8 from the cleaning tank 40 to the first rinse tank 42 and from the first rinse tank 42 to the second rinse tank 44. The moving device 50 can place the cleaning basket 8 into the cleaning tank 40 from the initial placement location.

また、洗浄槽40から第1リンス槽42へ、第1リンス槽42から第2リンス槽44へ、さらに、第2リンス槽44から次の工程若しくは次の工程への移送パレット(図示せず)上に載置することができる。なお、移動装置50の巻き上げ滑車52と、チャック53の上げ下げおよび把持・開放は、外部からの指示Cmによって制御されるようにしてもよい。   Further, a transfer pallet (not shown) from the cleaning tank 40 to the first rinse tank 42, from the first rinse tank 42 to the second rinse tank 44, and from the second rinse tank 44 to the next process or the next process. Can be placed on top. Note that the hoisting pulley 52 of the moving device 50 and the raising / lowering and gripping / opening of the chuck 53 may be controlled by an instruction Cm from the outside.

また、レジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置2は制御器32を有していてもよい。制御器32は、洗浄籠8の各槽への移動と、各槽毎の滞留時間、各槽への溶液供給量の管理を行う。   Further, the resist stripping solution filtration filter cleaning device 2 may have a controller 32. The controller 32 manages the movement of the washing tub 8 to each tank, the residence time for each tank, and the amount of solution supplied to each tank.

以上の構成を有するレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置2の動作について説明する。図7を参照して、洗浄槽40内は、洗浄液に満たされていてもよい。使用後フィルタ9は、洗浄籠8に入れられ、洗浄槽40に漬けられるからである。   Operation | movement of the resist stripping solution filtration filter washing | cleaning apparatus 2 which has the above structure is demonstrated. Referring to FIG. 7, the inside of cleaning tank 40 may be filled with a cleaning liquid. This is because the post-use filter 9 is put in the cleaning basket 8 and immersed in the cleaning tank 40.

制御器32は、移動装置50に指示Cm(図6参照)を送信し、最初の載置場所から洗浄籠8を1つ取得させ、洗浄槽40に浸漬させる(会合工程)。なお、洗浄籠8の中には、洗浄対象となる使用後フィルタ9が、入れられているのは、いうまでもない。   The controller 32 transmits an instruction Cm (see FIG. 6) to the moving device 50, causes the cleaning device 8 to be acquired from the first placement location, and is immersed in the cleaning tank 40 (association step). Needless to say, a post-use filter 9 to be cleaned is placed in the cleaning bowl 8.

制御器32は、ポンプ14を稼働させ、洗浄槽40内の洗浄液を循環させる(攪拌工程)。洗浄籠8中の使用後フィルタ9が洗浄液と会合すると、洗浄液が付着したレジストを溶解する。なお、後述する実施例でも示すように、本発明に係る洗浄液は、使用後フィルタ9が浸漬されるだけで、付着したレジストを除去することができる。したがって、攪拌工程は必ずしもなくてもよい。   The controller 32 operates the pump 14 to circulate the cleaning liquid in the cleaning tank 40 (stirring step). When the post-use filter 9 in the cleaning bowl 8 associates with the cleaning liquid, the resist to which the cleaning liquid has adhered is dissolved. In addition, as shown also in the Example mentioned later, the washing | cleaning liquid which concerns on this invention can remove the adhering resist only by immersing the filter 9 after use. Therefore, the stirring step is not necessarily required.

使用後フィルタ9が洗浄液に浸漬されると、発熱と発泡が生じる。したがって、制御器32は、洗浄槽40の温度センサ28の温度を検知して、所定の温度より高くなった場合は、冷却手段24を稼働させ、洗浄液の冷却を行う(冷却工程)。   When the filter 9 is immersed in the cleaning liquid after use, heat generation and foaming occur. Therefore, the controller 32 detects the temperature of the temperature sensor 28 in the cleaning tank 40, and when the temperature becomes higher than a predetermined temperature, the controller 32 operates the cooling means 24 to cool the cleaning liquid (cooling process).

また、発泡するので、シャワー手段18を稼働させ、洗浄槽40中の泡を消泡してもよい(消泡工程)。なお、排気手段22は常に作動させておくのがよい。本実施の形態では、洗浄液による洗浄は、予め決めておいた所定時間だけ継続させる。   Moreover, since it foams, the shower means 18 may be operated and the foam in the washing tank 40 may be defoamed (defoaming process). The exhaust means 22 is preferably always operated. In the present embodiment, the cleaning with the cleaning liquid is continued for a predetermined time determined in advance.

したがって、所定時間の洗浄が終了したら、制御器32は、移動装置50に指示Cm(図6参照)を送信し、洗浄籠8を洗浄槽40から第1リンス槽42に移送する(図8参照)。第1リンス槽42では、洗浄籠8が水に浸漬される(リンス工程)と、曝気手段43を稼動させる。具体的には、制御器32が、開閉バルブ43vに指示CV43v(図6参照)を送信し、散気管43aに空気を送る。曝気手段43の稼動によって、洗浄籠8にエアで衝撃が与えられる(曝気工程)。   Therefore, when the cleaning for a predetermined time is completed, the controller 32 transmits an instruction Cm (see FIG. 6) to the moving device 50, and transfers the cleaning basket 8 from the cleaning tank 40 to the first rinse tank 42 (see FIG. 8). ). In the first rinsing tank 42, the aeration means 43 is activated when the cleaning tub 8 is immersed in water (rinsing step). Specifically, the controller 32 transmits an instruction CV43v (see FIG. 6) to the open / close valve 43v, and sends air to the air diffuser 43a. By the operation of the aeration means 43, an impact is given to the cleaning basket 8 with air (aeration process).

このエアの衝撃によって、使用後フィルタ9は洗浄籠8の中で振動し、洗浄液の除去が促進される。この第1リンス工程も所定の時間行われる。なお、この間、純水供給手段41から所定量の純水を第1リンス槽42に供給し、オーバーフロー手段42ovから純水を排出させるようにしてもよい。これは、一定量の純水を入れ替えるためである。   Due to the impact of the air, the post-use filter 9 vibrates in the cleaning basket 8 and the removal of the cleaning liquid is promoted. This first rinsing step is also performed for a predetermined time. During this time, a predetermined amount of pure water may be supplied from the pure water supply means 41 to the first rinsing tank 42 and the pure water may be discharged from the overflow means 42ov. This is to replace a certain amount of pure water.

制御器32は、所定の時間第1リンス工程をおこなったら、移動装置50に指示Cm(図6参照)を送信し、洗浄籠8を第2リンス槽44に移送させる(図9参照)。第2リンス槽44でも、曝気手段45を稼働させ、圧縮空気で使用後フィルタ9に衝撃を与えながら、すすぎを行う。第2リンス工程も予め決められた所定時間行う。また、純水供給手段47によって所定量の純水を第2リンス槽44に供給し、オーバーフロー手段44ovからあふれさせるようにし、第2リンス槽44中の純水を入れ替えるようにしてもよい。   When the controller 32 performs the first rinsing process for a predetermined time, the controller 32 transmits an instruction Cm (see FIG. 6) to the moving device 50, and transfers the cleaning basket 8 to the second rinsing tank 44 (see FIG. 9). Even in the second rinse tank 44, the aeration means 45 is operated, and rinsing is performed while applying a shock to the filter 9 after use with compressed air. The second rinsing step is also performed for a predetermined time. Alternatively, a predetermined amount of pure water may be supplied to the second rinse tank 44 by the pure water supply means 47 so as to overflow from the overflow means 44ov, and the pure water in the second rinse tank 44 may be replaced.

第2リンス槽44でのリンス工程が終了したら、制御器32は、移動装置50に指示Cmを送信し、洗浄籠8の中のレジスト剥離液ろ過フィルタを乾燥させる所定位置に移送させる。洗浄後のレジスト剥離液ろ過フィルタを洗浄後フィルタと呼ぶ。   When the rinsing process in the second rinsing tank 44 is completed, the controller 32 transmits an instruction Cm to the moving device 50 and moves it to a predetermined position for drying the resist stripping solution filtration filter in the cleaning tub 8. The resist stripping solution filtration filter after cleaning is referred to as a post-cleaning filter.

なお、リンス槽を本実施の形態のように複数用意した場合は、各リンス槽への純水の供給量は同じでなくてもよい。具体的に本実施の形態の場合は、第1リンス槽42への純水供給量と、第2リンス槽44への純水供給量は、同じでなくてもよい。例えば、第1リンス槽42への純水供給量は、第2リンス槽44への純水供給量より少なくしてもよい。   When a plurality of rinse tanks are prepared as in the present embodiment, the amount of pure water supplied to each rinse tank may not be the same. Specifically, in the case of the present embodiment, the pure water supply amount to the first rinse tank 42 and the pure water supply amount to the second rinse tank 44 may not be the same. For example, the amount of pure water supplied to the first rinse tank 42 may be less than the amount of pure water supplied to the second rinse tank 44.

複数のリンス槽を有することで、第1リンス槽42のリンス用純水が多少洗浄液が混じっていても、洗浄液を除去するという効果は確保される。一方、第1リンス槽42への純水供給量を減らせれば、コスト削減が可能だからである。   By having a plurality of rinsing tanks, the effect of removing the cleaning liquid is ensured even if the rinsing pure water in the first rinsing tank 42 is somewhat mixed with the cleaning liquid. On the other hand, if the amount of pure water supplied to the first rinse tank 42 can be reduced, the cost can be reduced.

また、図7から図9は1つの洗浄籠8が順次各槽を移動するように説明をしたが、洗浄籠8が移動した後の槽には次の洗浄籠8を入れても良い。例えば、図6では、3つの槽にそれぞれ洗浄籠8が浸漬されている様子を示している。   Moreover, although FIG. 7 to FIG. 9 have been described so that one washing basket 8 sequentially moves in each tank, the next washing bowl 8 may be placed in the tank after the washing bowl 8 has moved. For example, FIG. 6 shows a state in which the cleaning basket 8 is immersed in three tanks.

以上のように本実施の形態に係るレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置2は、レジストが付着したレジスト剥離液ろ過フィルタからレジストを溶解除去し、再度使用できるようにする。   As described above, the resist stripping solution filtration filter cleaning device 2 according to the present embodiment dissolves and removes the resist from the resist stripping solution filtration filter to which the resist is attached, and can be used again.

以下にレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液の実施例を説明する。レジスト剥離液ろ過フィルタは、ポリプロピレン製で直径が数μmから数十μmの繊維でできたものである。レジストは、ポジ型レジストである。ポジ型レジストは、FPDや有機ELのエッチングに多用されている。樹脂成分としてノボラック系樹脂が使用され、溶解防止剤としてジアゾナフトキノン(DNQ)等の感光性物質が使用されている。   Examples of the cleaning solution for the resist stripping solution filtration filter will be described below. The resist remover filtration filter is made of polypropylene and has a diameter of several μm to several tens of μm. The resist is a positive resist. Positive resists are frequently used for FPD and organic EL etching. A novolac resin is used as the resin component, and a photosensitive substance such as diazonaphthoquinone (DNQ) is used as the dissolution inhibitor.

レジスト剥離液ろ過フィルタは、直径が数μmから数十μmのポリプロピレン(PP)の繊維を束ねて襞状のエレメントに構成したものである。ろ過精度(ろ過で濾し取れる異物の大きさ)は10μmとされている。外形は、直径130mm、長さ250mmである。側面には30×50mm四方の格子が形成されたPP製のフィルターカートリッジに、入れられている。フィルターカートリッジの一方の端部には、配管接続用のフランジ付開口(直径50mm)が設けられている。   The resist stripping solution filtration filter is formed by bundling polypropylene (PP) fibers having a diameter of several μm to several tens of μm into a bowl-shaped element. The filtration accuracy (the size of foreign matter that can be filtered off) is 10 μm. The outer shape is 130 mm in diameter and 250 mm in length. It is put in a PP filter cartridge with a 30 × 50 mm square grid formed on the side. One end of the filter cartridge is provided with a flanged opening (diameter 50 mm) for pipe connection.

レジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄効果を評価するためには、フィルターカートリッジに通液し、所定流量におけるフィルターカートリッジ前後の静圧差を測定するのが一般的である。しかし、フィルターカートリッジそのものは200L/minもの大流量を処理するものであり、洗浄評価実験で実スケールのフィルターカートリッジそのものを評価するためには装置が大型化する。また、装置が大型化すると、薬液やエネルギーの消費量が大きく、コスト、手間、安全、環境負荷などの面から実用的とはいえない。したがって、ろ過フィルタの通水性を評価するための評価治具が必要となる。   In order to evaluate the cleaning effect of the resist stripping solution filtering filter, it is common to pass the liquid through the filter cartridge and measure the static pressure difference before and after the filter cartridge at a predetermined flow rate. However, the filter cartridge itself processes a large flow rate of 200 L / min, and the apparatus becomes large in order to evaluate the actual scale filter cartridge itself in the cleaning evaluation experiment. In addition, when the apparatus is increased in size, the amount of chemical solution and energy consumed is large, and it cannot be said that it is practical in terms of cost, labor, safety, and environmental load. Therefore, an evaluation jig for evaluating the water permeability of the filtration filter is required.

図10(a)には、ろ過フィルタの通水性を評価するための評価治具60の構成を示す。評価治具60は、純水供給源67、フィルタホルダー62、1次側配管66a、2次側配管66b、手動バルブ63、流量計64、ブルドン管圧力計65を含む。   FIG. 10A shows a configuration of an evaluation jig 60 for evaluating the water permeability of the filtration filter. The evaluation jig 60 includes a pure water supply source 67, a filter holder 62, a primary side pipe 66a, a secondary side pipe 66b, a manual valve 63, a flow meter 64, and a Bourdon tube pressure gauge 65.

測定対象のろ過フィルターは、フィルターカートリッジが分解され、ろ材部分(エレメント)が取り出され、φ47mmの円形に切り出され、実験用のフィルター小片61とされた。このフィルター小片61をメルクミリポア(株)製In−Line Filter Holder,47mm(フィルタホルダー62と呼ぶ)にセットした。フィルタホルダー62の1次側62aは、純水供給源67に連通された。またフィルタホルダー62の2次側62bは、大気開放状態とした。純水供給源67は、大気圧より0.3MPa高い圧力で純水が供給される。なお、以下の圧力表示はすべて大気圧を基準(0MPa)として示す。   The filtration filter to be measured was obtained by disassembling the filter cartridge, taking out the filter material portion (element), cutting it into a circular shape with a diameter of 47 mm, and forming a filter piece 61 for experiments. The filter piece 61 was set on an In-Line Filter Holder, 47 mm (referred to as a filter holder 62) manufactured by Merck Millipore Corporation. The primary side 62 a of the filter holder 62 communicated with the pure water supply source 67. Further, the secondary side 62b of the filter holder 62 was in an open state. The pure water supply source 67 is supplied with pure water at a pressure higher by 0.3 MPa than the atmospheric pressure. In addition, all the following pressure displays show atmospheric pressure as a reference | standard (0 Mpa).

フィルタホルダー62の1次側62aの配管66aには流量調整用の手動バルブ63、流量測定用の流量計64、圧力測定用のブルドン管圧力計65を設置した。尚、フィルタホルダー62の2次側62bの配管66bの吐出口66bxは、2次側配管66b内が純水で満たされるようにするため、フィルタホルダー62よりも重力方向上側となるように配置されている。1次側配管66aは通常の水道用の塩ビ管やSUS配管を用い、2次側配管66bは軟質塩ビホースを用いた。   A manual valve 63 for adjusting the flow rate, a flow meter 64 for measuring the flow rate, and a Bourdon tube pressure gauge 65 for measuring the pressure are installed on the pipe 66a on the primary side 62a of the filter holder 62. Note that the discharge port 66bx of the pipe 66b on the secondary side 62b of the filter holder 62 is arranged to be above the filter holder 62 in the gravity direction so that the secondary side pipe 66b is filled with pure water. ing. As the primary side pipe 66a, a normal PVC pipe or SUS pipe for water supply was used, and as the secondary side pipe 66b, a soft PVC hose was used.

評価は以下の手順で行った。上記の評価治具60のフィルタホルダー62に、評価対象となるフィルタのエレメントから作成されたフィルター小片61を挟持させた。フィルター小片61は1次側配管66aと2次側配管66bとの間で液密に保持される。手動バルブ63を開いて、純水を流す。そして、流量Qを流量計64からまた、圧力ΔPをブルドン管圧力計65から読み取る。この評価治具60によるフィルター小片61の検査を「通水検査」と呼ぶ。   The evaluation was performed according to the following procedure. A filter piece 61 made from the filter element to be evaluated was held between the filter holder 62 of the evaluation jig 60. The filter piece 61 is held liquid-tight between the primary side pipe 66a and the secondary side pipe 66b. The manual valve 63 is opened and pure water is allowed to flow. Then, the flow rate Q is read from the flow meter 64 and the pressure ΔP is read from the Bourdon tube pressure meter 65. The inspection of the filter piece 61 by the evaluation jig 60 is referred to as “water passage inspection”.

図10(b)に通水検査の結果として流量Qと圧力ΔPとの関係をプロットしたグラフを例示する。横軸は流量Qであり、縦軸は圧力ΔPである。新品フィルタのΔP−Qの関係がライン72で表されるとすると、使用後フィルタのΔP−Qの関係は、ライン70のようになる。したがって、洗浄後フィルタのΔP−Qの関係がライン72に近似すれば、フィルタを再生利用することができると言える。   FIG. 10B illustrates a graph in which the relationship between the flow rate Q and the pressure ΔP is plotted as a result of the water flow inspection. The horizontal axis is the flow rate Q, and the vertical axis is the pressure ΔP. If the ΔP-Q relationship of the new filter is represented by a line 72, the relationship of ΔP-Q of the post-use filter is as shown by the line 70. Therefore, if the ΔP-Q relationship of the post-cleaning filter approximates the line 72, it can be said that the filter can be recycled.

より具体例を示すと、新品の状態のレジスト剥離液ろ過フィルタ(以後「新品フィルタ」と呼ぶ。)は、毎分600mlの純水を流すのに、0.005MPaの送圧である。一方、レジスト剥離液をろ過して交換された時の使用後フィルタでは、毎分500mlの純水を流すのに、0.058MPaの送圧が必要になる。すなわち、使用後のレジスト剥離液ろ過フィルタは、新品と比較して1桁送圧が高くなっている。   More specifically, a new resist stripping filter (hereinafter referred to as a “new filter”) has a pressure of 0.005 MPa to flow 600 ml of pure water per minute. On the other hand, in the post-use filter when the resist stripping solution is filtered and replaced, a pressure of 0.058 MPa is required to flow 500 ml of pure water per minute. That is, the resist stripping solution filtration filter after use has a single digit feeding pressure higher than that of a new one.

以下の要領で本発明に係る洗浄液の効果を確認した。本発明に係る洗浄液(6水準)と比較例の洗浄液(10水準)に対して、使用後フィルタを所定時間浸漬させ、エレメントの色の変化を目視で確認した。また、洗浄後に純水による通水性を通水検査で確認した。また、いくつかの洗浄後フィルタに関しては、フィルターカートリッジを分解し、襞状のエレメントを取り出し、目視、電子顕微鏡観察およびIR吸光度分析を行った。   The effect of the cleaning liquid according to the present invention was confirmed in the following manner. The filter after use was immersed for a predetermined time in the cleaning liquid according to the present invention (6 levels) and the cleaning liquid of the comparative example (10 levels), and the color change of the elements was visually confirmed. In addition, water permeability was checked with pure water after washing. For some of the filters after washing, the filter cartridge was disassembled, the bowl-shaped element was taken out, and visual observation, electron microscope observation, and IR absorbance analysis were performed.

実施例および比較例の洗浄液(以後「サンプル洗浄液」とも呼ぶ。)組成を表1に示す。また、各組成における使用後フィルタの洗浄可能性についての判定も記す。なお、判定は、実用上使用できると判断できる場合を「○」(丸)で表し、洗浄は可能であるが、実用上使用は困難と判断できる場合を「△」(三角)で表し、洗浄は可能とはいえない場合を「×」(バツ)で表した。なお、実用上使用できるとは、使用後フィルタから付着したレジストを、数時間で除去することができる場合をいう。   Table 1 shows the compositions of cleaning liquids of Examples and Comparative Examples (hereinafter also referred to as “sample cleaning liquids”). It also describes the determination of the washability of the post-use filter for each composition. In the determination, a case where it can be determined that it can be used practically is indicated by “◯” (circle), and cleaning is possible, but a case where it can be determined that practical use is difficult is indicated by “Δ” (triangle). The case where is not possible is represented by “x” (X). In addition, that it can be used practically means the case where the resist adhering to the filter after use can be removed in a few hours.

表1を参照して、実施例は、アンモニア水と過酸化水素水から調製した。25質量%のアンモニア水と、35質量%の過酸化水素水および純水を適量に混合することで、所定の組成比の洗浄液を作製した。例えば、実施例1の洗浄液では、アンモニア2.5質量%、過酸化水素17.5質量%の組成比とした。   Referring to Table 1, the examples were prepared from aqueous ammonia and aqueous hydrogen peroxide. A cleaning liquid having a predetermined composition ratio was prepared by mixing an appropriate amount of 25% by mass of ammonia water, 35% by mass of hydrogen peroxide water and pure water. For example, in the cleaning liquid of Example 1, the composition ratio was 2.5 mass% ammonia and 17.5 mass% hydrogen peroxide.

一方、比較例を見ると、以下のようである。
比較例1の洗浄液は、8.8質量%の濃度の過酸化水素水である。
比較例2の洗浄液は、17.5質量%の濃度の過酸化水素水である。
比較例3の洗浄液は、35.0質量%の濃度の過酸化水素水である。
比較例4の洗浄液は、硫酸が5.0質量%であり、過酸化水素が17.5質量%の比率の混合液である。
比較例5の洗浄液は、68.0質量%の硫酸である。
比較例6の洗浄液は、96.0質量%の硫酸である。
比較例7の洗浄液は、99.8質量%のアセトンである。
比較例8の洗浄液は、2.5質量%のテトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)である。
比較例9の洗浄液は、25質量%のTMAHである。
比較例10の洗浄液は、モノエタノールアミン(MEA)である。
On the other hand, a comparative example is as follows.
The cleaning liquid of Comparative Example 1 is a hydrogen peroxide solution having a concentration of 8.8% by mass.
The cleaning liquid of Comparative Example 2 is a hydrogen peroxide solution having a concentration of 17.5% by mass.
The cleaning liquid of Comparative Example 3 is a hydrogen peroxide solution having a concentration of 35.0% by mass.
The cleaning liquid of Comparative Example 4 is a mixed liquid in which sulfuric acid is 5.0% by mass and hydrogen peroxide is 17.5% by mass.
The cleaning liquid of Comparative Example 5 is 68.0% by mass sulfuric acid.
The cleaning liquid of Comparative Example 6 is 96.0% by mass sulfuric acid.
The cleaning liquid of Comparative Example 7 is 99.8% by mass of acetone.
The cleaning liquid of Comparative Example 8 is 2.5% by mass of tetramethylammonium hydroxide (TMAH).
The cleaning liquid of Comparative Example 9 is 25% by mass of TMAH.
The cleaning liquid of Comparative Example 10 is monoethanolamine (MEA).

各サンプル洗浄液が4L入った容器を用意し、使用後フィルタをサンプル洗浄液に浸漬させた。   A container containing 4 L of each sample cleaning solution was prepared, and the filter was immersed in the sample cleaning solution after use.

実施例1〜6のサンプル洗浄液では、3時間の浸漬後、純水ですすぎ、目視検査を行うと、全ての場合で、洗浄後フィルタは白色になった。これらの洗浄後フィルタを解体し、襞状のエレメントを詳細に観察したが、茶色に残っている部分はなかった。電子顕微鏡による観察でも、繊維間に異物の残留は認められなかった。   In the sample cleaning solutions of Examples 1 to 6, after immersion for 3 hours, rinsing with pure water and visual inspection, the filter after cleaning became white in all cases. After washing these filters, the filters were disassembled and the saddle-like elements were observed in detail, but no portion remained brown. Even by observation with an electron microscope, no foreign matter remained between the fibers.

また、通水検査をおこなってみたが、新品フィルタと同じ通水圧であった。さらに、IR吸光度を調べてみたが、ノボラック樹脂や感光後の感光剤由来物質(インデンカルボン酸)の特性ピークは観測されなかった。なお、浸漬させてから40分ほど経過すると激しく発泡し、洗浄液の温度も60℃まで上昇していた。   Also, a water flow test was conducted, but the water flow pressure was the same as that of a new filter. Further, when IR absorbance was examined, no characteristic peak of novolak resin or a photosensitizer-derived substance (indenecarboxylic acid) after exposure was observed. In addition, when about 40 minutes passed after being immersed, it foamed violently and the temperature of the cleaning liquid also rose to 60 ° C.

比較例1乃至3は、濃度が異なる過酸化水素水である。これらのサンプル洗浄液中に浸漬させた使用後フィルタは、3時間では茶色の色が落ちることはなかった。そこで、継続して10日浸漬させておいた。10日の浸漬後、純水ですすぎを行い比較例1乃至3の洗浄後フィルタを得た。目視観察を行ったところ、薄く茶色は残っているものの、使用後フィルタと比較すると、かなり薄い茶色になっていた。薄さの程度は、過酸化水素の含有比率の高い比較例3が最も薄く、過酸化水素の含有比率の低い比較例1は比較例3と比べると、濃かった。   Comparative Examples 1 to 3 are hydrogen peroxide solutions having different concentrations. The filter after use immersed in these sample cleaning solutions did not lose the brown color in 3 hours. Therefore, it was continuously immersed for 10 days. After immersion for 10 days, the filter was rinsed with pure water to obtain the washed filters of Comparative Examples 1 to 3. As a result of visual observation, although a light brown color remained, it was considerably lighter brown than the filter after use. As for the degree of thinness, Comparative Example 3 having a high hydrogen peroxide content ratio was the thinnest, and Comparative Example 1 having a low hydrogen peroxide content ratio was darker than Comparative Example 3.

洗浄後フィルタを解体し、電子顕微鏡で観察したところ、比較例1の場合は、繊維の間に付着物が残っているのが確認された。比較例3は、わずかに付着物の存在を確認した程度であった。通水検査を行ってみると、使用後フィルタの場合と比較した結果、3分の1程度に送圧が低くなっていた。しかし、実施例のように、新品フィルタ程度に送圧が低下することはなかった。   When the filter was disassembled after washing and observed with an electron microscope, in the case of Comparative Example 1, it was confirmed that deposits remained between the fibers. In Comparative Example 3, the presence of deposits was slightly confirmed. When the water flow test was performed, the pressure was reduced to about one third as a result of comparison with the post-use filter. However, as in the example, the feed pressure did not decrease to the extent of a new filter.

比較例4は、硫酸と過酸化水素の混合液である。比較例4のサンプル洗浄液に浸漬させた使用後フィルタは、比較例1乃至3同様に3時間での浸漬では、茶色いエレメントに色の変化はなかった。そこで、比較例1乃至3同様に、10日間放置してみた。10日の浸漬後、すすぎを行い洗浄後フィルタを得た。比較例4の洗浄後フィルタは、使用後フィルタと比べると、エレメントの色は薄くなっていた。色の濃さは、比較例2と同じ程度と判断された。   Comparative Example 4 is a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. The filter after use immersed in the sample cleaning solution of Comparative Example 4 did not change the color of the brown element when immersed for 3 hours as in Comparative Examples 1 to 3. Therefore, as in Comparative Examples 1 to 3, it was allowed to stand for 10 days. After immersion for 10 days, rinsing was performed to obtain a filter after washing. The washed filter of Comparative Example 4 had a lighter element color than the used filter. The color intensity was determined to be the same as in Comparative Example 2.

比較例5および6は、濃硫酸である。比較例5および6のサンプル洗浄液に浸漬させた使用後フィルタのエレメントは、3時間では色の変化はなかった。そこで、10日間浸漬させておいた。しかし、10日間浸漬させた使用後フィルタのエレメントの色は、ほとんど変化なかった。比較例4の結果を考慮すると、硫酸は使用後フィルタの再生へほとんど寄与しないと考えられた。   Comparative Examples 5 and 6 are concentrated sulfuric acid. The post-use filter elements immersed in the sample cleaning solutions of Comparative Examples 5 and 6 did not change color in 3 hours. Therefore, it was immersed for 10 days. However, the color of the filter element after use for 10 days was almost unchanged. Considering the result of Comparative Example 4, it was considered that sulfuric acid hardly contributed to the regeneration of the filter after use.

比較例7は、単独のアセトンである。比較例1乃至6同様、3時間の浸漬では使用後フィルタのエレメントの色に変化はなかった。そこで10日の間、浸漬させておいた。しかし、エレメントの色に変化はなかった。   Comparative Example 7 is a single acetone. As in Comparative Examples 1 to 6, there was no change in the color of the filter element after use after immersion for 3 hours. Therefore, it was immersed for 10 days. However, there was no change in the color of the elements.

比較例8および9はTMAHである。TMAHは、エッチングの現像時に用いる薬品で、感光させたレジストを除去する際に使用する。しかし、TMAHに10日間浸漬させた場合でも、使用後フィルタのエレメントの色に変化はなかった。10日間の浸漬後、すすぎを行い、通水検査を行ったが、使用後フィルタと同じ送圧であった。   Comparative Examples 8 and 9 are TMAH. TMAH is a chemical used at the time of development of etching, and is used when removing the exposed resist. However, even when immersed in TMAH for 10 days, there was no change in the color of the filter element after use. After immersion for 10 days, rinsing was performed and a water flow test was performed.

比較例10は、モノエタノールアミン(MEA)である。MEAも10日間浸漬させた後も、エレメントの色は変化しなかった。   Comparative Example 10 is monoethanolamine (MEA). The element color did not change after the MEA was also immersed for 10 days.

以上のように、レジスト剥離液ろ過フィルタから付着物を除去し、新品同様に再生させるには、アンモニアと過酸化水素を含む洗浄液が有効であることがわかった。比較例1乃至3で示されたように、過酸化水素水であっても一定の効力はあると考えられるが、付着物の除去に10日もかかるのであれば、レジスト剥離液ろ過フィルタの交換サイクルに間に合わない場合もある。したがって、過酸化水素水単独では、有効であるとはいえない。   As described above, it has been found that a cleaning solution containing ammonia and hydrogen peroxide is effective for removing deposits from the resist stripping solution filter and regenerating it like a new one. As shown in Comparative Examples 1 to 3, it is considered that hydrogen peroxide solution has a certain effect, but if it takes 10 days to remove the deposit, the resist stripping solution filtration filter should be replaced. Sometimes it is not in time for the cycle. Therefore, hydrogen peroxide solution alone is not effective.

また、本発明に係るレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液は、使用後フィルタを数時間浸漬させておくだけで、襞状に折りたたまれフィルターカートリッジに収納されたエレメントの最深部の付着物まで除去することができる。   The cleaning solution for the resist stripping filter according to the present invention removes even the deepest part of the element folded in a bowl and stored in the filter cartridge by simply immersing the filter for several hours after use. Can do.

本発明のレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液、洗浄装置および洗浄方法は、ポジ型レジストを用いた場合のレジスト剥離液をろ過するフィルタの再生に好適に利用することができる。これは、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ、有機ELなどFPDの製造一般に好適に利用することができる。   The cleaning solution, cleaning device, and cleaning method for the resist stripping filter of the present invention can be suitably used for regeneration of a filter that filters the resist stripping solution when a positive resist is used. This can be suitably used for general production of FPD such as a liquid crystal display, a plasma display, and an organic EL.

1、2 レジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置
8 洗浄籠
9 使用後フィルタ
10 洗浄槽
10e ドレイン
10ev ドレインバルブ
11a 第1の配管
11b 第2の配管
12 フィルターカートリッジ接続部
14 ポンプ
14i 入水口
14o 出水口
16 洗浄液供給手段
16a 供給配管
16b 開閉バルブ
17 純水供給手段
17a 供給配管
17b 開閉バルブ
18 シャワー手段
18a 供給配管
18b 開閉バルブ
18c 散水口
20 泡排出手段
22 排気手段
24 冷却手段
24i (冷却水の)供給口
24o (冷却水の)排出口
26 圧力センサ
27 液面センサ
28 温度センサ
30、32 制御器
40 洗浄槽
40e ドレイン
40ev ドレインバルブ
41 純水供給手段
41a 供給配管
41v 開閉バルブ
42 第1リンス槽
42e ドレイン
42ev ドレインバルブ
42ov オーバーフロー手段
43 曝気手段
43a 散気管
43b 空気配管
43v 開閉バルブ
44 第2リンス槽
44e ドレイン
44ev ドレインバルブ
44ov オーバーフロー手段
45 曝気手段
47 純水供給手段
50 移動装置
51 レール
52 巻き上げ滑車
53 チャック
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 2 Resist stripping solution filtration filter washing | cleaning apparatus 8 Washing bowl 9 After use filter 10 Washing tank 10e Drain 10ev Drain valve 11a First piping 11b Second piping 12 Filter cartridge connection part 14 Pump 14i Water inlet 14o Water outlet 16 Cleaning liquid Supply means 16a Supply pipe 16b Open / close valve 17 Pure water supply means 17a Supply pipe 17b Open / close valve 18 Shower means 18a Supply pipe 18b Open / close valve 18c Sprinkling port 20 Foam discharge means 22 Exhaust means 24 Cooling means 24i (Cooling water) supply port 24o (Cooling water) outlet 26 Pressure sensor 27 Liquid level sensor 28 Temperature sensor 30, 32 Controller 40 Washing tank 40e Drain 40ev Drain valve 41 Pure water supply means 41a Supply pipe 41v Open / close valve 42 First rinse tank 42e Drain 42ev Drain Valve 42ov Overflow means 43 Aeration means 43a Aeration pipe 43b Air pipe 43v Open / close valve 44 Second rinse tank 44e Drain 44ev Drain valve 44ov Overflow means 45 Aeration means 47 Pure water supply means 50 Moving device 51 Rail 52 Winding pulley 53 Chuck

Claims (13)

被洗浄フィルターカートリッジを洗浄液に会合させる会合工程と、
前記洗浄液を冷却する冷却工程と、
前記洗浄液と前記被洗浄フィルターカートリッジを乖離させる乖離工程と、
前記被洗浄フィルターカートリッジをリンス液で洗浄するリンス工程を有することを特徴とするレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄方法。
An association process for associating the filter cartridge to be cleaned with the cleaning liquid;
A cooling step for cooling the cleaning liquid;
A separation step for separating the cleaning liquid and the filter cartridge to be cleaned;
A resist stripping liquid filtration filter cleaning method comprising a rinsing step of cleaning the filter cartridge to be cleaned with a rinsing liquid.
前記会合工程の後に前記洗浄液を攪拌する攪拌工程を有することを特徴とする請求項1に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄方法。   The resist stripping solution filtration filter cleaning method according to claim 1, further comprising a stirring step of stirring the cleaning solution after the association step. さらに、発泡する泡を消泡する消泡工程を有することを特徴とする請求項1または2の何れかの請求項に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄方法。   Furthermore, it has the defoaming process of defoaming the foaming foam, The resist stripping solution filtration filter washing | cleaning method described in the claim of any one of Claim 1 or 2 characterized by the above-mentioned. 前記リンス工程では、
前記被洗浄フィルターカートリッジを前記リンス液中で曝気に曝す曝気工程を有することを特徴とする請求項1乃至3の何れか1の請求項に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄方法。
In the rinsing step,
The resist stripping solution filtration filter cleaning method according to any one of claims 1 to 3, further comprising an aeration step of exposing the filter cartridge to be cleaned to aeration in the rinse liquid.
前記被洗浄フィルターカートリッジを洗浄液に会合させる工程は、
前記被洗浄フィルターカートリッジに前記洗浄液を通過させ、
前記洗浄液の送圧が所定の圧力以下になるまで継続することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1の請求項に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄方法。
The step of associating the filter cartridge to be cleaned with the cleaning liquid,
Allowing the cleaning liquid to pass through the filter cartridge to be cleaned;
The resist stripping solution filtration filter cleaning method according to any one of claims 1 to 4, wherein the cleaning solution is continued until a feeding pressure of the cleaning solution becomes a predetermined pressure or less.
前記洗浄液は、アンモニアと過酸化水素を含有することを特徴とする請求項1乃至5の何れか1の請求項に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄方法。   6. The method of cleaning a resist stripping solution filter according to claim 1, wherein the cleaning liquid contains ammonia and hydrogen peroxide. アンモニアと過酸化水素を含むことを特徴とするレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液。   A cleaning solution for a resist stripping solution filtration filter, comprising ammonia and hydrogen peroxide. 前記アンモニアは、前記洗浄液全量に対して、2.5〜12.5質量%含有され、
前記過酸化水素は、前記洗浄液全量に対して8.8〜17.5質量%含有されていることを特徴とする請求項7に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタの洗浄液。
The ammonia is contained in an amount of 2.5 to 12.5% by mass with respect to the total amount of the cleaning liquid,
The cleaning solution for a resist stripping solution filtration filter according to claim 7, wherein the hydrogen peroxide is contained in an amount of 8.8 to 17.5 mass% with respect to the total amount of the cleaning solution.
洗浄槽と、
前記洗浄槽内に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、
前記洗浄槽内に配置されたフィルターカートリッジ接続部と、
前記フィルターカートリッジ接続部に連結された第1の配管と、
出水口が前記第1の配管に連結され、入水口には、前記洗浄槽内と連通する第2の配管が連結されたポンプと、
前記洗浄槽内の洗浄液を冷却する冷却手段と、
前記洗浄槽に設けられた排気手段を有することを特徴とするレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置。
A washing tank;
Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid into the cleaning tank;
A filter cartridge connection disposed in the cleaning tank;
A first pipe coupled to the filter cartridge connection part;
A water outlet is connected to the first pipe, and the water inlet is connected to a pump connected to a second pipe communicating with the inside of the cleaning tank;
A cooling means for cooling the cleaning liquid in the cleaning tank;
An apparatus for cleaning a resist stripping solution filtration filter, comprising exhaust means provided in the cleaning tank.
前記第1の配管に圧力センサが設けられたことを特徴とする請求項9に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置。   The resist stripping solution filtration filter cleaning device according to claim 9, wherein a pressure sensor is provided in the first pipe. 洗浄槽と、
前記洗浄槽内に洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、
前記洗浄槽内と連通した第1の配管と、
出水口が前記第1の配管に連結され、入水口には、前記洗浄槽内と連通する第2の配管が連結されたポンプと、
前記洗浄槽内の洗浄液を冷却する冷却手段と、
前記洗浄槽に設けられた排気手段を有することを特徴とするレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置。
A washing tank;
Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid into the cleaning tank;
A first pipe communicating with the inside of the cleaning tank;
A water outlet is connected to the first pipe, and the water inlet is connected to a pump connected to a second pipe communicating with the inside of the cleaning tank;
A cooling means for cooling the cleaning liquid in the cleaning tank;
An apparatus for cleaning a resist stripping solution filtration filter, comprising exhaust means provided in the cleaning tank.
前記洗浄槽の上部から洗浄液を散水させるシャワー手段と、
前記洗浄槽に設けられた泡オーバーフロー排出手段を有することを特徴とする請求項9乃至11の何れか1の請求項に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置。
Shower means for spraying a cleaning liquid from the upper part of the cleaning tank;
The resist stripping solution filtering filter cleaning device according to any one of claims 9 to 11, further comprising foam overflow discharge means provided in the cleaning tank.
前記洗浄液は、アンモニアと過酸化水素を含有することを特徴とする請求項9乃至12の何れか1の請求項に記載されたレジスト剥離液ろ過フィルタ洗浄装置。   The resist cleaning solution filtration filter cleaning device according to any one of claims 9 to 12, wherein the cleaning solution contains ammonia and hydrogen peroxide.
JP2013148925A 2013-07-17 2013-07-17 Cleaning liquid, cleaning device and cleaning method for resist stripping filter Active JP6311956B2 (en)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013148925A JP6311956B2 (en) 2013-07-17 2013-07-17 Cleaning liquid, cleaning device and cleaning method for resist stripping filter
PCT/JP2014/003524 WO2015008443A1 (en) 2013-07-17 2014-07-02 Cleaning liquid, cleaning apparatus and cleaning method for resist remover liquid filtration filter
TW103123271A TWI615186B (en) 2013-07-17 2014-07-07 Cleaning solution of photoresist stripping liquid filter, washing device and washing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013148925A JP6311956B2 (en) 2013-07-17 2013-07-17 Cleaning liquid, cleaning device and cleaning method for resist stripping filter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015020100A true JP2015020100A (en) 2015-02-02
JP6311956B2 JP6311956B2 (en) 2018-04-18

Family

ID=52345926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013148925A Active JP6311956B2 (en) 2013-07-17 2013-07-17 Cleaning liquid, cleaning device and cleaning method for resist stripping filter

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP6311956B2 (en)
TW (1) TWI615186B (en)
WO (1) WO2015008443A1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017063107A (en) * 2015-09-24 2017-03-30 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 Semiconductor substrate processing apparatus, photoresist stripping method, and semiconductor device manufacturing method
JP2020199486A (en) * 2019-06-13 2020-12-17 日野自動車株式会社 Cleaning device and cleaning method
JP2023104694A (en) * 2022-01-18 2023-07-28 株式会社Screenホールディングス SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2617087B2 (en) 1994-02-08 1997-06-04 株式会社椿本チエイン Individual separation and transport device for rubber tires
CN108176108A (en) * 2017-12-20 2018-06-19 新阳硅密(上海)半导体技术有限公司 Photoresist filter
IT201900001509A1 (en) * 2019-02-01 2020-08-01 Nuova A F R Air Filter Recycling S R L Cleaning apparatus for motor vehicle unloading units
CN109589692B (en) * 2019-02-14 2024-07-09 西安净源水处理科技有限公司 Filter element cleaning device

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6276624A (en) * 1985-09-30 1987-04-08 Toshiba Corp Resist removing device
JPS6323326A (en) * 1985-08-13 1988-01-30 シ−エフエム・テクノロジ−ズ・リミテツド・パ−トナ−シツプ Method and apparatus for treating wafer with processing fluid
JPS63294989A (en) * 1987-05-28 1988-12-01 Nippon Rensui Kk Treatment of photoresist-containing waste water
JPH1079369A (en) * 1996-08-09 1998-03-24 Samsung Electron Co Ltd Sulfuric acid boil station in semiconductor manufacturing process
JP2001353424A (en) * 2000-06-14 2001-12-25 Fuji Photo Film Co Ltd Filtration method of wafer washing liquid for semiconductor integrated circuit
JP2002151459A (en) * 2000-11-10 2002-05-24 Kurita Water Ind Ltd Cleaning method
JP2003210912A (en) * 2001-11-16 2003-07-29 Nippon Mykrolis Kk Filter cartridge with gas vent
JP2004298680A (en) * 2003-03-28 2004-10-28 Asahi Eng Co Ltd Wastewater treatment method for photoresist development
JP2005251936A (en) * 2004-03-03 2005-09-15 St Lcd Kk Chemical treatment apparatus
JP2007266477A (en) * 2006-03-29 2007-10-11 Kurita Water Ind Ltd Semiconductor substrate cleaning system

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2541443B2 (en) * 1993-04-20 1996-10-09 日本電気株式会社 Wet etching apparatus and filter regeneration method

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6323326A (en) * 1985-08-13 1988-01-30 シ−エフエム・テクノロジ−ズ・リミテツド・パ−トナ−シツプ Method and apparatus for treating wafer with processing fluid
JPS6276624A (en) * 1985-09-30 1987-04-08 Toshiba Corp Resist removing device
JPS63294989A (en) * 1987-05-28 1988-12-01 Nippon Rensui Kk Treatment of photoresist-containing waste water
JPH1079369A (en) * 1996-08-09 1998-03-24 Samsung Electron Co Ltd Sulfuric acid boil station in semiconductor manufacturing process
JP2001353424A (en) * 2000-06-14 2001-12-25 Fuji Photo Film Co Ltd Filtration method of wafer washing liquid for semiconductor integrated circuit
JP2002151459A (en) * 2000-11-10 2002-05-24 Kurita Water Ind Ltd Cleaning method
JP2003210912A (en) * 2001-11-16 2003-07-29 Nippon Mykrolis Kk Filter cartridge with gas vent
JP2004298680A (en) * 2003-03-28 2004-10-28 Asahi Eng Co Ltd Wastewater treatment method for photoresist development
JP2005251936A (en) * 2004-03-03 2005-09-15 St Lcd Kk Chemical treatment apparatus
JP2007266477A (en) * 2006-03-29 2007-10-11 Kurita Water Ind Ltd Semiconductor substrate cleaning system

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017063107A (en) * 2015-09-24 2017-03-30 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 Semiconductor substrate processing apparatus, photoresist stripping method, and semiconductor device manufacturing method
CN106919014A (en) * 2015-09-24 2017-07-04 精工半导体有限公司 The manufacture method of semiconductor substrate processing apparatus, stripping means and semiconductor device
US10504755B2 (en) 2015-09-24 2019-12-10 Ablic Inc. Semiconductor-substrate processing apparatus, method of stripping a photoresist, and method of manufacturing a semiconductor device
US10916454B2 (en) 2015-09-24 2021-02-09 Ablic Inc. Method of stripping a photoresist, and method of manufacturing a semiconductor device
CN106919014B (en) * 2015-09-24 2021-05-11 艾普凌科有限公司 Semiconductor substrate processing apparatus, lift-off method, and manufacturing method of semiconductor device
JP2020199486A (en) * 2019-06-13 2020-12-17 日野自動車株式会社 Cleaning device and cleaning method
JP7220125B2 (en) 2019-06-13 2023-02-09 日野自動車株式会社 Cleaning equipment and cleaning method
JP2023104694A (en) * 2022-01-18 2023-07-28 株式会社Screenホールディングス SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD

Also Published As

Publication number Publication date
TW201513922A (en) 2015-04-16
JP6311956B2 (en) 2018-04-18
WO2015008443A1 (en) 2015-01-22
TWI615186B (en) 2018-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6311956B2 (en) Cleaning liquid, cleaning device and cleaning method for resist stripping filter
JP2009141332A (en) Ozone water mixture supply apparatus and method, and substrate processing apparatus having the same
KR101913465B1 (en) Washing hydrogen water producing method and producing apparatus
CN110813888A (en) Mask plate cleaning device and mask plate cleaning method
JPH07273077A (en) Wafer rinsing method and rinsing device
JP2006013015A (en) Cleaning device and cleaning method
US20140305471A1 (en) Reduced consumptions stand alone rinse tool having self-contained closed-loop fluid circuit, and method of rinsing substrates using the same
US20080135498A1 (en) Method and apparatus for filter conditioning
TW201513189A (en) Method and apparatus for removal of photoresist using improved chemistry
JP5133305B2 (en) Substrate cleaning apparatus and cleaning method
JP5317531B2 (en) Method for cleaning slurry supply apparatus and slurry supply apparatus
KR100441249B1 (en) Toc measure apparatus for a semiconductor device fabrication installation and toc measure method for using the apparatus
JP2005081302A (en) Cleaning method and cleaning apparatus for electronic parts using supercritical fluid
JP2007035733A (en) Chemical treatment equipment
JP7380738B2 (en) Cleaning method for exhaust gas treatment equipment
KR20030021691A (en) Bubble removing device for removing bubbles in chemicals and bubble removing method using the same
KR20110081482A (en) Cleaning liquid supply device
KR19980015080A (en) Wafer cleaning apparatus and cleaning liquid supply method and wafer cleaning method using same
CN207552124U (en) Online cleaning aeration system
JP2008124203A (en) Cleaning device
KR100801656B1 (en) Treatment liquid supply method
CN114288865B (en) Offline air vibration cleaning method for reverse osmosis membrane
KR100806845B1 (en) Chemical Liquid Coating Nozzle for Substrate Treatment
CN104916528A (en) Automatic cleaning device of chemical tank
JP3519603B2 (en) Substrate processing equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160613

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170822

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170922

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180306

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180308

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6311956

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151