JP2015049168A - ガス吸光度測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明のガス吸光度測定装置10は、試料ガスを収容する試料セル12、試料ガスに含まれる目的成分の吸収波長を有するレーザ光を出射する第1光源14、目的成分の吸収波長とは異なる波長のレーザ光を出射する第2光源16、第1光源14から出射されたレーザ光及び第2光源16から出射されたレーザ光を、試料セル12内の同一光路上を通過させる結合光学系を備え、試料セル12を通過した光のうち第1光源14からのレーザ光の強度を第1検出器221で、試料セル12を通過した光のうち第2光源16からのレーザ光の強度を第2検出器222でそれぞれ検出し、第2検出器222の検出信号を用いて、第1検出器221の検出信号を補正する。
【選択図】図1
Description
a) 試料ガスを収容する試料セルと、
b) 前記試料ガス中の目的成分の吸収波長を有するレーザ光を出射する第1光源と、
c) 前記目的成分の吸収波長とは異なる波長のレーザ光を出射する第2光源と、
d) 前記第1光源から出射されたレーザ光及び前記第2光源から出射されたレーザ光を、前記試料セル内の同一光路上を通過させる結合光学系と、
e) 前記試料セルを通過した光のうち前記第1光源からのレーザ光の強度を検出する第1検出器と、
f) 前記試料セルを通過したレーザ光のうち前記第2光源からのレーザ光の強度を検出する第2検出器と、
g) 前記第2検出器の検出信号を用いて、前記第1検出器の検出信号を補正するノイズ補正処理手段と
を備えることを特徴とする。
h) 前記第1光源からのレーザ光を、前記試料セル内を通過する第1光路と、該第1光路とは別の第2光路とに分岐する分岐手段と、
i) 前記第2光路に配置された、前記第1光源からのレーザ光の強度を検出する第1光源光量補正用検出器と、
j) 前記第1光源光量補正用検出器の検出信号を用いて、前記第1検出器の検出信号を補正する第1光量補正処理手段と
を備えることが好ましい。
上記構成によれば、第1光源からのレーザ光の試料セルの透過光強度から該第1光源の光量変化の影響を排除することができるため、試料ガス中の目的成分濃度をより正確に測定することができる。
k) 前記第2光源からのレーザ光を、前記試料セル内を通過する第1光路と、該第1光路とは別の第2光路とに分岐する分岐手段と、
l) 前記第2光路に配置された、前記第2光源からのレーザ光の強度を検出する第2光源光量補正用検出器と、
m) 前記第2光源光量補正用検出器の検出信号を用いて、前記第2検出器の検出信号を補正する第2光量補正処理手段と
を備えることが好ましい。
上記構成によれば、第2光源からのレーザ光の試料セルの透過光強度から該第2光源の光量変化の影響を排除することができるため、試料ガス中の目的成分濃度をより正確に測定することができる。
ガス吸光度測定装置10は、試料ガスが導入される試料セル12と、前記試料ガスの吸収波長のレーザ光を出射する第1光源14と、試料ガスの吸収波長とは異なるレーザ光を出射する第2光源16とを備えている。以下、第1光源14の出射レーザ光を「吸収波長光」、第2光源16の出射レーザ光を「非吸収波長光」ともいう。本実施例では、第1光源14としてCO2の赤外吸収スペクトルに対応した2.0μm帯のDFB−LD(分布帰還型レーザダイオード、Distributed FeedBack Laser Diode)を使用し、第2光源16として685nm帯のLD(レーザダイオード、Laser Diode)を使用している。
このように、本実施例では、第1光源14からのレーザ光と第2光源16からのレーザ光を結合させた後、試料セル12内の同一光路上を通過させて各レーザ光の透過光強度を検出するようにした。そして、第2光源16からのレーザ光の透過光強度を用いて第1光源14からのレーザ光の透過光強度を補正したため、試料セル12内はもちろん、ファイバカプラ18から試料セル12に至るまでの光路上に発生する外乱や埃の侵入といった目的成分の透過光強度に及ぼす影響を排除することができる。
例えば、ファイバから発せられた光は、レンズを使ってコリメートしているが、放物面鏡などの光学素子を使ってコリメートしても良い。
ファイバカプラに代えてビームスプリッタ等に第1光源及び第2光源からのレーザ光を入射させ、各レーザ光を二つに分岐すると共に、分岐後の各レーザ光の一方ずつを一つにまとめるようにしても良い。
試料セルを通過した吸収波長光と非吸収波長光の結合波をビームスプリッタで2つに分岐し、吸収波長に感度を持つ検出器と非吸収波長に感度を持つ検出器を用いて各波長光を検出するようにしても良い。
あるいは積分球と検出器を組み合わせて、入射された結合波を吸収波長に感度を持つ検出器と非吸収波長に感度を持つ検出器を用いて各波長光を検出するようにしても良い。
光量補正用検出器24としてInGaAsフォトダイオードとSiフォトダイオードの両方を備えた検出器を用いてもよい。この構成では、第1光源と第2光源の両方の光量補正を行うことができる。
12…試料セル
14…第1光源
16…第2光源
18…赤外線シングルモードファイバカプラ(結合光学系)
20…レンズ(結合光学系)
22…透過光検出器
24…光量補正用検出器
26…データ処理装置
Claims (4)
- a) 試料ガスを収容する試料セルと、
b) 前記試料ガス中の目的成分の吸収波長を有するレーザ光を出射する第1光源と、
c) 前記目的成分の吸収波長とは異なる波長のレーザ光を出射する第2光源と、
d) 前記第1光源から出射されたレーザ光及び前記第2光源から出射されたレーザ光を、前記試料セル内の同一光路上を通過させる結合光学系と、
e) 前記試料セルを通過した光のうち前記第1光源からのレーザ光の強度を検出する第1検出器と、
f) 前記試料セルを通過した光のうち前記第2光源からのレーザ光の強度を検出する第2検出器と、
g) 前記第2検出器の検出信号を用いて、前記第1検出器の検出信号を補正するノイズ補正処理手段と
を備えることを特徴とするガス吸光度測定装置。 - 前記結合光学系が、前記第1光源からの光と前記第2光源からの光を合波するファイバカプラを備えることを特徴とする請求項1に記載のガス吸光度測定装置。
- 請求項1又は2に記載のガス吸光度測定装置において、さらに、
h) 前記第1光源からのレーザ光を、前記試料セル内を通過する第1光路と、該第1光路とは別の第2光路とに分岐する分岐手段と、
i) 前記第2光路に配置された、前記第1光源からのレーザ光の強度を検出する第1光源光量補正用検出器と、
j) 前記第1光源光量補正用検出器の検出信号を用いて、前記第1検出器の検出信号を補正する第1光量補正処理手段と
を備えることを特徴とするガス吸光度測定装置。 - 請求項1又は2に記載のガス吸光度測定装置において、さらに、
k) 前記第2光源からのレーザ光を、前記試料セル内を通過する第1光路と、該第1光路とは別の第2光路とに分岐する分岐手段と、
l) 前記第2光路に配置された、前記第2光源からのレーザ光の強度を検出する第2光源光量補正用検出器と、
m) 前記第2光源光量補正用検出器の検出信号を用いて、前記第2検出器の検出信号を補正する第2光量補正処理手段と
を備えることを特徴とするガス吸光度測定装置。
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|---|---|
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Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105319173A (zh) * | 2015-11-25 | 2016-02-10 | 上海禾赛光电科技有限公司 | 气体遥测装置及方法 |
| WO2017029792A1 (ja) * | 2015-08-18 | 2017-02-23 | 国立大学法人徳島大学 | 濃度測定装置 |
| WO2017029791A1 (ja) * | 2015-08-18 | 2017-02-23 | 国立大学法人徳島大学 | 濃度測定装置 |
| JP2018017650A (ja) * | 2016-07-29 | 2018-02-01 | 大陽日酸株式会社 | ガス濃度検出ユニット及びガス濃度測定方法 |
| GB2560870A (en) * | 2016-12-01 | 2018-10-03 | Photon Fire Ltd | Gas concentration measurement apparatus |
| CN109100314A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-12-28 | 江西怡杉科技有限公司 | 一种分光光度检测方法及装置 |
| JP2019190952A (ja) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | 横河電機株式会社 | スペクトラム補正装置、スペクトラム補正方法、及びスペクトラム補正プログラム |
| CN113514408A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-10-19 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 具有校正功能的臭氧检测装置及方法 |
| WO2022024407A1 (ja) * | 2020-07-28 | 2022-02-03 | 株式会社トラステック愛知 | ガス濃度検知装置 |
| CN114993975A (zh) * | 2022-05-26 | 2022-09-02 | 东南大学 | 双光路补偿检测光学系统及基于5g的气体泄漏检测系统 |
| JP2023521000A (ja) * | 2020-03-30 | 2023-05-23 | ヘレウス クワルツグラス ゲーエムベーハー ウント コンパニー カーゲー | 円筒光学物体の屈折率プロファイルを決定するための方法 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6311840A (ja) * | 1986-03-10 | 1988-01-19 | Showa Denko Kk | ブタンガス濃度の測定方法およびその装置 |
| JPH04151546A (ja) * | 1990-10-15 | 1992-05-25 | Anritsu Corp | ガス検出装置 |
| JPH04326042A (ja) * | 1991-04-26 | 1992-11-16 | Tokyo Gas Co Ltd | 光ファイバを用いた多種ガス検出装置 |
| JPH09304274A (ja) * | 1996-05-10 | 1997-11-28 | Hitachi Cable Ltd | 光式ガス濃度検出方法及びその装置 |
| JP2009092450A (ja) * | 2007-10-05 | 2009-04-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 飲酒状態検知装置 |
| JP2011137645A (ja) * | 2009-12-25 | 2011-07-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光学式ガス分析装置、ガス分析方法及び分析装置制御方法 |
| JP2012026949A (ja) * | 2010-07-27 | 2012-02-09 | Shimadzu Corp | ガス濃度測定装置 |
| JP2013127414A (ja) * | 2011-12-19 | 2013-06-27 | Fuji Electric Co Ltd | 多成分用レーザ式ガス分析計 |
-
2013
- 2013-09-03 JP JP2013181842A patent/JP2015049168A/ja active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6311840A (ja) * | 1986-03-10 | 1988-01-19 | Showa Denko Kk | ブタンガス濃度の測定方法およびその装置 |
| JPH04151546A (ja) * | 1990-10-15 | 1992-05-25 | Anritsu Corp | ガス検出装置 |
| JPH04326042A (ja) * | 1991-04-26 | 1992-11-16 | Tokyo Gas Co Ltd | 光ファイバを用いた多種ガス検出装置 |
| JPH09304274A (ja) * | 1996-05-10 | 1997-11-28 | Hitachi Cable Ltd | 光式ガス濃度検出方法及びその装置 |
| JP2009092450A (ja) * | 2007-10-05 | 2009-04-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 飲酒状態検知装置 |
| JP2011137645A (ja) * | 2009-12-25 | 2011-07-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 光学式ガス分析装置、ガス分析方法及び分析装置制御方法 |
| JP2012026949A (ja) * | 2010-07-27 | 2012-02-09 | Shimadzu Corp | ガス濃度測定装置 |
| JP2013127414A (ja) * | 2011-12-19 | 2013-06-27 | Fuji Electric Co Ltd | 多成分用レーザ式ガス分析計 |
Cited By (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI644092B (zh) * | 2015-08-18 | 2018-12-11 | Tokushima University | Concentration measuring device |
| WO2017029792A1 (ja) * | 2015-08-18 | 2017-02-23 | 国立大学法人徳島大学 | 濃度測定装置 |
| WO2017029791A1 (ja) * | 2015-08-18 | 2017-02-23 | 国立大学法人徳島大学 | 濃度測定装置 |
| US10976240B2 (en) | 2015-08-18 | 2021-04-13 | Tokushima University | Concentration measurement device |
| CN107850533A (zh) * | 2015-08-18 | 2018-03-27 | 国立大学法人德岛大学 | 浓度测定装置 |
| CN107923841A (zh) * | 2015-08-18 | 2018-04-17 | 国立大学法人德岛大学 | 浓度测定装置 |
| JPWO2017029792A1 (ja) * | 2015-08-18 | 2018-05-31 | 国立大学法人徳島大学 | 濃度測定装置 |
| JPWO2017029791A1 (ja) * | 2015-08-18 | 2018-05-31 | 国立大学法人徳島大学 | 濃度測定装置 |
| US10324029B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-06-18 | Tokushima University | Concentration measurement device |
| TWI633294B (zh) * | 2015-08-18 | 2018-08-21 | 國立大學法人德島大學 | Concentration measuring device |
| CN105319173B (zh) * | 2015-11-25 | 2018-07-20 | 上海禾赛光电科技有限公司 | 气体遥测装置及方法 |
| CN105319173A (zh) * | 2015-11-25 | 2016-02-10 | 上海禾赛光电科技有限公司 | 气体遥测装置及方法 |
| JP2018017650A (ja) * | 2016-07-29 | 2018-02-01 | 大陽日酸株式会社 | ガス濃度検出ユニット及びガス濃度測定方法 |
| GB2560870A (en) * | 2016-12-01 | 2018-10-03 | Photon Fire Ltd | Gas concentration measurement apparatus |
| US10983004B2 (en) | 2018-04-23 | 2021-04-20 | Yokogawa Electric Corporation | Spectrum correction device, spectrum correction method, and non-transitory computer readable storage medium |
| JP2019190952A (ja) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | 横河電機株式会社 | スペクトラム補正装置、スペクトラム補正方法、及びスペクトラム補正プログラム |
| CN109100314A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-12-28 | 江西怡杉科技有限公司 | 一种分光光度检测方法及装置 |
| JP2023521000A (ja) * | 2020-03-30 | 2023-05-23 | ヘレウス クワルツグラス ゲーエムベーハー ウント コンパニー カーゲー | 円筒光学物体の屈折率プロファイルを決定するための方法 |
| JP7458502B2 (ja) | 2020-03-30 | 2024-03-29 | ヘレーウス クヴァルツグラース ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディートゲゼルシャフト | 円筒光学物体の屈折率プロファイルを決定するための方法 |
| US12085506B2 (en) | 2020-03-30 | 2024-09-10 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Method for determining the refractive-index profile of a cylindrical optical object |
| WO2022024407A1 (ja) * | 2020-07-28 | 2022-02-03 | 株式会社トラステック愛知 | ガス濃度検知装置 |
| JP2022024437A (ja) * | 2020-07-28 | 2022-02-09 | 株式会社トラステック愛知 | ガス濃度検知装置 |
| CN113514408A (zh) * | 2021-06-28 | 2021-10-19 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 具有校正功能的臭氧检测装置及方法 |
| CN113514408B (zh) * | 2021-06-28 | 2024-06-11 | 杭州谱育科技发展有限公司 | 具有校正功能的臭氧检测装置及方法 |
| CN114993975A (zh) * | 2022-05-26 | 2022-09-02 | 东南大学 | 双光路补偿检测光学系统及基于5g的气体泄漏检测系统 |
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