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JP2014188420A - Method of manufacturing glass substrate, method of manufacturing glass substrate for display, and method of cleaning end surface of the glass substrate for display - Google Patents

Method of manufacturing glass substrate, method of manufacturing glass substrate for display, and method of cleaning end surface of the glass substrate for display Download PDF

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JP2014188420A
JP2014188420A JP2013065191A JP2013065191A JP2014188420A JP 2014188420 A JP2014188420 A JP 2014188420A JP 2013065191 A JP2013065191 A JP 2013065191A JP 2013065191 A JP2013065191 A JP 2013065191A JP 2014188420 A JP2014188420 A JP 2014188420A
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Abstract

【課題】ガラス基板の端面から残留異物を除去する洗浄して、後工程における発塵を抑える。
【解決手段】本発明のガラス基板の製造方法は、研磨加工された研磨処理部を有するガラス板の製造方法において、前記処理部は磁性体砥粒に接触することにより研磨され、研磨された前記処理部に酸性洗浄液を供給して前記処理部と、前記処理部に付着した前記磁性体の表面とを同一に帯電することで、前記処理部と前記磁性体とを反発させ、前記金属付着物を酸性洗浄液に移行させるものである。
【選択図】図1
Cleaning is performed to remove residual foreign matters from an end surface of a glass substrate, and dust generation in a subsequent process is suppressed.
A method for producing a glass substrate according to the present invention is the method for producing a glass plate having a polished processing portion, wherein the processing portion is polished and brought into contact with a magnetic abrasive grain. By supplying an acidic cleaning solution to the processing unit and charging the processing unit and the surface of the magnetic body attached to the processing unit to the same, the processing unit and the magnetic body are repelled, and the metal deposit Is transferred to an acidic cleaning solution.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、ガラス板の端面処理、ディスプレイ用ガラス基板の製造方法に関する。   The present invention relates to an end face treatment of a glass plate and a method for producing a glass substrate for display.

液晶ディスプレイ等のディスプレイ用パネルや、ディスプレイ用ガラス基板の製造工程は、ガラス基板を切断して形成される端面を面取りする工程を含む。ガラス基板の端面は、ダイヤモンドホイールによって研削され、切断により生じたクラックや鋭いエッジが取り除かる。例えば、ダイヤモンドホイールによって断面がR形状となるように形状が整えられる。その後、ガラス基板の端面は、例えば発泡樹脂からなる柔軟性を有する研磨ホイールを用いた研磨加工により研磨される。   A manufacturing process of a display panel such as a liquid crystal display or a glass substrate for display includes a step of chamfering an end surface formed by cutting the glass substrate. The end surface of the glass substrate is ground by a diamond wheel to remove cracks and sharp edges caused by cutting. For example, the shape is adjusted so that the cross section has an R shape by a diamond wheel. Thereafter, the end surface of the glass substrate is polished by a polishing process using a flexible polishing wheel made of, for example, a foamed resin.

また、研磨加工技術としては、特許文献1に記載されるように、ガラス基板の端面の研磨加工に磁性体を含む研磨スラリーを用いる技術が知られている。また、特許文献2、3に記載されるように、表面の鏡面加工を行うために磁性体を含む研磨スラリーを用いる技術が知られている。   As a polishing technique, a technique using a polishing slurry containing a magnetic material for polishing an end face of a glass substrate is known, as described in Patent Document 1. Further, as described in Patent Documents 2 and 3, a technique is known that uses a polishing slurry containing a magnetic material to perform mirror surface processing.

また、研磨加工されたガラス基板は、ガラス基板の表裏面及び端面を洗浄することで、研磨加工時に発生したガラス粉や付着した研磨材、研磨砥粒をガラス基板から除去する必要がある。   Moreover, it is necessary to remove the glass powder generated at the time of polishing, the attached abrasive, and abrasive grains from the glass substrate by cleaning the front and back surfaces and the end surface of the glass substrate.

国際公開第2012/067587号International Publication No. 2012/066757 特開2011−83827号JP 2011-83827 A 特開2000−233359号JP 2000-233359 A

近年、ディスプレイパネルの高精細化、高解像度化が進むにつれて、駆動パネル側ではTFT配線幅の細線化が求められ、またカラーフィルタパネル側ではブラックマトリックスの細線化がよりいっそう求められている。このようなガラス基板への要求に応えるべく、ガラス基板の表面にはより高い清浄度が求められている。
そこで本発明は、研磨加工によりガラス板の端面に付着する異物を洗浄する技術、及びディスプレイ用ガラス基板の製造方法を提供するものである。
In recent years, with the progress of higher definition and higher resolution display panels, thinning of the TFT wiring width is required on the drive panel side, and further thinning of the black matrix is required on the color filter panel side. In order to meet the demand for such a glass substrate, higher cleanliness is required on the surface of the glass substrate.
Therefore, the present invention provides a technique for cleaning foreign matter adhering to the end face of a glass plate by polishing and a method for producing a glass substrate for display.

ガラス基板の表面に付着する異物の発生要因の一つとして、ガラス基板の端面に付着していた異物が、表面に付着して残留することが知られている。磁性体砥粒で鏡面研磨されたガラス基板の端面でも、従来の洗浄工程では除去できない異物が残留、存在する。   As one of the generation factors of foreign matters attached to the surface of the glass substrate, it is known that foreign matters attached to the end face of the glass substrate remain attached to the surface. Even on the end face of the glass substrate mirror-polished with magnetic abrasive grains, foreign substances that cannot be removed by the conventional cleaning process remain.

そこで本発明は、研磨加工された処理部を有するガラス板の製造方法において、前記処理部は磁性体砥粒に接触することにより研磨され、研磨された前記処理部に洗浄液を供給して、前記処理部の表面と前記処理部に付着した前記磁性体の表面とを同極に帯電させて前記処理部と前記磁性体とを反発させ、前記磁性体を洗浄液に移行させ、除去する。例えば、磁性体砥粒により研磨加工された端面を有するガラス板において、研磨加工された端面に酸性洗浄液を、好ましくは有機酸を含む洗浄液を供給してガラス板の端面の表面と、磁性体加工により端面に付着する磁性体である金属付着物の表面とを同一に帯電させることで、端面と金属付着物とを反発させて、金属付着物を洗浄液に移行させるものである。   Accordingly, the present invention provides a method for producing a glass plate having a polished processing portion, wherein the processing portion is polished by contacting magnetic abrasive grains, and a cleaning liquid is supplied to the polished processing portion, The surface of the processing unit and the surface of the magnetic material attached to the processing unit are charged to the same polarity to repel the processing unit and the magnetic material, and the magnetic material is transferred to a cleaning liquid and removed. For example, in a glass plate having an end face polished by magnetic abrasive grains, an acidic cleaning liquid, preferably a cleaning liquid containing an organic acid, is supplied to the polished end face, and the surface of the end face of the glass plate is processed. By charging the surface of the metal deposit that is a magnetic substance attached to the end face with the same, the end face and the metal deposit are repelled, and the metal deposit is transferred to the cleaning liquid.

また、本発明は、磁性体砥粒で研磨加工されたガラス基板の端面に付着した磁性体を除去する方法として、所定のpH環境下においてガラス基板の端面に付着した磁性体異物の表面をイオン化すると共に、ガラス基板の端面の表面電位をプラスにして、磁性体異物をガラス基板の端面から浮上させると共に、キレート作用によって再付着を防止して、ガラス基板から洗浄除去する工程を備えるディスプレイ用ガラス基板の製造工程を提供する。また、ガラス基板は、端面洗浄工程の後、端面のリンス工程を経て、アルカリ洗浄洗剤などによるガラス基板表面の洗浄が行われる。   In addition, the present invention ionizes the surface of a magnetic foreign material adhering to the end surface of the glass substrate under a predetermined pH environment as a method of removing the magnetic material adhering to the end surface of the glass substrate polished with magnetic abrasive grains. In addition, the surface potential of the end surface of the glass substrate is made positive, and magnetic foreign substances are levitated from the end surface of the glass substrate, and are prevented from being reattached by chelating action, and washed and removed from the glass substrate. A substrate manufacturing process is provided. The glass substrate is subjected to an end surface rinsing step after the end surface cleaning step, and then the glass substrate surface is cleaned with an alkali cleaning detergent or the like.

また、本発明のガラス基板の製造方法は、溶融ガラスからガラスシートを成形する成形工程と、前記ガラスシートを切断してガラス基板を形成する切断工程と、前記ガラス基板の端面に、磁力体に保持された磁性体砥粒を接触させることで鏡面研磨する端面処理工程と、前記鏡面研磨する工程において前記ガラス端面に付着した前記磁性体砥粒を起因とする鉄系微粒子をpH2以下の酸性薬液を用いて洗浄する洗浄工程とを有し、前記洗浄工程は、前記鉄系微粒子を構成するFe3+をFe2+イオンに還元し、前記Feイオンの2座配位以上により錯体を形成することを特徴とする。 Moreover, the manufacturing method of the glass substrate of the present invention includes a forming step of forming a glass sheet from molten glass, a cutting step of cutting the glass sheet to form a glass substrate, and an end face of the glass substrate with a magnetic body. An end surface treatment step for mirror polishing by bringing the held magnetic abrasive grains into contact, and an iron-based fine particle caused by the magnetic abrasive particles adhering to the glass end surface in the mirror polishing step for an acidic chemical solution having a pH of 2 or less A cleaning step of cleaning using Fe, and the cleaning step reduces Fe 3+ constituting the iron-based fine particles to Fe 2+ ions, and forms a complex by the bidentate coordination or more of the Fe ions. Features.

また、本発明のディスプレイ用ガラス基板の製造方法は、溶融ガラスからガラスシートを成形する成形工程と、前記ガラスシートを切断してガラス基板を形成する切断工程と、前記ガラス基板の端面に、磁力体に保持された磁性体砥粒を接触させることで鏡面研磨処理する端面処理工程と、前記端面酸性薬液で洗浄する洗浄工程とを有する。前記端面処理工程は、磁性体砥粒を用いる磁性体砥粒研磨であって、前記回転軸の軸方向に間隔をあけて配置され、前記回転軸と共に回転する第1磁力体及び第2磁力体を備えた磁場形成部と、前記磁性体砥粒と液体とにより構成され、前記第1磁力体と前記第2磁力体との間に形成された磁場によって保持される研磨用磁性流動体とを備えた研磨ホイールを用い、前記磁性流動体中の前記磁性体砥粒の濃度を85%以上に調整して、前記回転軸を回転させた状態で前記磁性流動体と前記ガラス基板の端面と接触させて鏡面研磨加工する。そして、前記洗浄工程は、前記端面処理工程において前記ガラス端面に付着した前記磁性体砥粒を起因とする鉄系微粒子を除去するために、pH2以下の酸性薬液を用いて前記鉄系微粒子を構成するFe3+をFe2+イオンに還元し、前記Fe2+イオンの2箇所以上が配位して錯体を形成することを特徴とする。 Moreover, the manufacturing method of the glass substrate for a display of the present invention includes a forming step of forming a glass sheet from molten glass, a cutting step of cutting the glass sheet to form a glass substrate, and a magnetic force on the end surface of the glass substrate. It has an end surface processing step of performing mirror polishing by bringing magnetic abrasive grains held on the body into contact with each other, and a cleaning step of cleaning with the end surface acidic chemical solution. The end face processing step is magnetic abrasive grain polishing using magnetic abrasive grains, and is arranged with an interval in the axial direction of the rotary shaft, and rotates with the rotary shaft. A magnetic field forming unit comprising: a magnetic fluid for polishing, which is constituted by the magnetic abrasive grains and the liquid and is held by the magnetic field formed between the first magnetic body and the second magnetic body. Using the polishing wheel provided, the concentration of the magnetic abrasive grains in the magnetic fluid is adjusted to 85% or more, and the magnetic fluid is in contact with the end surface of the glass substrate in a state where the rotating shaft is rotated. And mirror polishing. The cleaning step comprises the iron-based fine particles using an acidic chemical solution having a pH of 2 or less in order to remove the iron-based fine particles caused by the magnetic abrasive grains adhering to the glass end surface in the end surface treatment step. the Fe 3+ which is reduced to Fe 2+ ions, two or more places of the Fe 2+ ions and forming a complex coordinated.

また、本発明のディスプレイ用ガラス基板の端面洗浄方法は、磁性体砥粒を用いて端面研磨されたガラス基板の端面洗浄方法であって、前記端面に所定のpH以下、好ましくは2以下、より好ましくは1.6以下の酸性薬液を供給し、前記端面を物理的に洗浄する洗浄工程を有する。前記洗浄工程に使用される前記酸性薬液は、所定のpHにおいてキレート効果を奏する、サリチル酸、フタル酸、グリオキシル酸、シュウ酸、フマル酸、マレイン酸、マロン酸、コハク酸、グルコン酸、トランス−アコニット酸、タルタロン酸、乳酸、ピルビン酸、クエン酸、イソクエン酸、グリコール酸、リンゴ酸、酒石酸等の有機酸。ニトリロ3酢酸、エチレンジアミン4酢酸、ヒドロキシエチルエチレンジアミン3酢酸、ジエチレントリアミン5酢酸等のアミノカルボン酸。セリン、アスパラギン酸、グルタミン酸、システイン等のアミノ酸から選択される1種以上が用いられ、前記ガラス基板の端面に付着した磁性体砥粒を除去することを特徴とする。   Further, the method for cleaning an end surface of a glass substrate for display of the present invention is a method for cleaning an end surface of a glass substrate that has been end-polished using a magnetic abrasive grain, and the end surface has a predetermined pH or lower, preferably 2 or lower. Preferably, an acidic chemical solution of 1.6 or less is supplied to physically wash the end face. The acidic chemical used in the washing step has a chelating effect at a predetermined pH, and includes salicylic acid, phthalic acid, glyoxylic acid, oxalic acid, fumaric acid, maleic acid, malonic acid, succinic acid, gluconic acid, trans-aconite. Organic acids such as acid, tartalonic acid, lactic acid, pyruvic acid, citric acid, isocitric acid, glycolic acid, malic acid, tartaric acid. Aminocarboxylic acids such as nitrilotriacetic acid, ethylenediaminetetraacetic acid, hydroxyethylethylenediaminetriacetic acid, and diethylenetriaminepentaacetic acid; One or more kinds selected from amino acids such as serine, aspartic acid, glutamic acid, cysteine and the like are used, and magnetic abrasive grains adhering to the end face of the glass substrate are removed.

本発明のガラス板の洗浄方法によれば、ガラス表面に付着する磁性体、金属付着物を除去することができ、また、ガラス表面への再付着を抑制することができる。   According to the method for cleaning a glass plate of the present invention, magnetic substances and metal deposits adhering to the glass surface can be removed, and reattachment to the glass surface can be suppressed.

本発明のガラス基板の製造方法の工程を説明する工程図である。It is process drawing explaining the process of the manufacturing method of the glass substrate of this invention. 本発明の溶解工程から切断工程までを説明するための図である。It is a figure for demonstrating from the melt | dissolution process of this invention to a cutting process. 本発明の端面加工を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the end surface processing of this invention. 本発明の磁性体砥粒を用いた研磨加工を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the grinding | polishing process using the magnetic body abrasive grain of this invention. 本発明により加工されるガラス基板を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the glass substrate processed by this invention. 本発明の洗浄装置を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the washing | cleaning apparatus of this invention. 本発明の洗浄装置に備えられる洗浄冶具を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the washing jig with which the washing | cleaning apparatus of this invention is equipped. 本発明の他の実施形態におけるガラス表面の加工を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the glass surface in other embodiment of this invention.

以下、図面を参照して、本実施携帯のガラス基板の製造方法について説明する。
(1)ガラス基板の製造方法の概要
図1は、本実施形態に係るガラス基板の製造方法の一部のフローチャートである。
ガラス基板は、図1に示しように、溶解工程T1、成形工程T2、切断工程T3、加工工程T4、洗浄工程T5、検査工程T6の工程を経て製造される。
Hereinafter, the manufacturing method of the portable glass substrate of the present embodiment will be described with reference to the drawings.
(1) Overview of Glass Substrate Manufacturing Method FIG. 1 is a partial flowchart of the glass substrate manufacturing method according to this embodiment.
As shown in FIG. 1, the glass substrate is manufactured through steps of a melting step T1, a forming step T2, a cutting step T3, a processing step T4, a cleaning step T5, and an inspection step T6.

図2を用いて、本発明のガラス基板の製造工程の一部(装置100)を説明する。
溶解工程T1では、溶解装置200内でガラス原料を加熱して溶解することにより溶融ガラスとする。そして、清澄装置300内で溶融ガラス中に含まれるガス成分を溶融ガラスから放出する、或いは、溶融ガラス中に含まれるガス成分を溶融ガラス中に吸収する。例えば、ガラス原料は、SiO、Al等の組成からなる。
A part (apparatus 100) of the manufacturing process of the glass substrate of this invention is demonstrated using FIG.
In the melting step T1, the glass raw material is heated and melted in the melting apparatus 200 to obtain molten glass. And the gas component contained in a molten glass is discharge | released from a molten glass within the refining apparatus 300, or the gas component contained in a molten glass is absorbed in a molten glass. For example, the glass raw material has a composition such as SiO 2 or Al 2 O 3 .

成形工程T2では、清澄された溶融ガラスが移送管400により成形装置500に供給され、帯状のガラスシートG1に成形される。   In the forming step T2, the clarified molten glass is supplied to the forming apparatus 500 through the transfer pipe 400 and formed into a strip-shaped glass sheet G1.

切断工程T3では、ガラスシートG1は図示しない切断装置で、幅方向に切断されて枚葉化される。さらに所定のサイズとなるよう4辺が切断され製品サイズのガラス基板Gとなる。   In the cutting step T3, the glass sheet G1 is cut in the width direction by a cutting device (not shown) to be turned into a single sheet. Further, the four sides are cut so as to have a predetermined size, and a glass substrate G having a product size is obtained.

加工工程T4では、図3に示す第1端面加工機30により、切断により形成された端面の加工が行われる。移動するガラス基板Gの両端面に、図示しない回転軸により自転する第1研削ホイール31と第2研削ホイール32が接触することにより、ガラス基板Gの端面33が加工される。ガラス基板Gの長辺側の端面33が加工された後、短辺側の端面33が加工される。その後、図4に示す第2端面加工機34に設けられた研磨装置40により、端面33の鏡面研磨加工が行われる。ここでは、磁性体を含む研磨スラリーが用いられ、鏡面研磨加工される。磁性体を含む研磨スラリーとは、磁性体が主として研磨砥粒として作用する磁性体砥粒や、磁性体が主として研磨砥粒を運ぶためのキャリアとして働く磁性流体を含む。   In the processing step T4, the end surface formed by cutting is processed by the first end surface processing machine 30 shown in FIG. The end surface 33 of the glass substrate G is processed by contacting the first grinding wheel 31 and the second grinding wheel 32 that are rotated by a rotating shaft (not shown) on both end surfaces of the moving glass substrate G. After the end surface 33 on the long side of the glass substrate G is processed, the end surface 33 on the short side is processed. Thereafter, mirror polishing of the end face 33 is performed by the polishing apparatus 40 provided in the second end face processing machine 34 shown in FIG. Here, a polishing slurry containing a magnetic material is used and mirror-polished. The polishing slurry containing a magnetic substance includes magnetic abrasive grains in which the magnetic substance mainly acts as polishing abrasive grains, and magnetic fluid that acts as a carrier for the magnetic substance to mainly carry abrasive grains.

次に、加工工程T4の研磨工程において付着した金属付着物である磁性体を端面から除去する工程を含む洗浄工程について説明する。   Next, a description will be given of a cleaning process including a process of removing from the end surface a magnetic material that is a metal deposit adhered in the polishing process of the processing process T4.

洗浄工程T5では、図6(a)に示す第1の端面洗浄装置60により加工工程T4で鏡面研磨処理されたガラス基板Gの端面が、端面洗浄冶具61により洗浄される。第1の端面洗浄装置60では、搬送ローラ62上を搬送されるガラス基板Gの両側に第1の端面洗浄冶具61が設けられると共に、ガラス基板Gの主表面側から端面側へシャワーを噴射する端面洗浄ノズル63が設けられる。   In the cleaning step T5, the end surface cleaning jig 61 cleans the end surface of the glass substrate G that has been mirror-polished in the processing step T4 by the first end surface cleaning device 60 shown in FIG. In the first end surface cleaning device 60, first end surface cleaning jigs 61 are provided on both sides of the glass substrate G transported on the transport roller 62, and a shower is sprayed from the main surface side to the end surface side of the glass substrate G. An end face cleaning nozzle 63 is provided.

第1の端面洗浄装置60を通過したガラス基板Gは、次いで、図6(b)に示す第2の端面洗浄装置70により、端面が洗い流される。第2の端面洗浄装置70では、搬送ローラ62上を搬送されるガラス基板Gの両側に第2の端面洗浄冶具64が設けられる。   The glass substrate G that has passed through the first end surface cleaning device 60 is then washed away by the second end surface cleaning device 70 shown in FIG. In the second end surface cleaning device 70, second end surface cleaning jigs 64 are provided on both sides of the glass substrate G transported on the transport roller 62.

第1の端面洗浄装置60、第2の端面洗浄装置70により、長辺側の端面33が洗浄されたガラス基板Gは、図示しない反転機によりガラス基板Gの向きを90度回転させて、ガラス基板Gの短辺側を、長辺側と同様に洗浄する。   The glass substrate G whose long side end surface 33 has been cleaned by the first end surface cleaning device 60 and the second end surface cleaning device 70 is rotated by 90 degrees with the reversing machine (not shown), The short side of the substrate G is cleaned in the same manner as the long side.

さらに、ガラス基板Gの端面33の4辺について洗浄した後、ガラス基板Gの主表面が洗浄される。図6(c)に示す表面洗浄装置80により、ガラス基板Gの表面・裏面が洗浄される。搬送ローラ62上を搬送されるガラス基板Gの表面側・裏面側に、洗浄ローラ65が設けられ、ガラス基板用のアルカリ洗浄洗剤が塗布され、ガラス基板Gの主表面が洗浄される。本実施形態では、洗浄ローラ65は、ブラシローラとスポンジローラを組み合わせて使用され、ガラス基板の表面に付着する有機物やパーティクルが除去される。   Further, after cleaning the four sides of the end surface 33 of the glass substrate G, the main surface of the glass substrate G is cleaned. The front and back surfaces of the glass substrate G are cleaned by the front surface cleaning apparatus 80 shown in FIG. A cleaning roller 65 is provided on the front side / back side of the glass substrate G transported on the transport roller 62, and an alkaline cleaning detergent for the glass substrate is applied to clean the main surface of the glass substrate G. In this embodiment, the cleaning roller 65 is used in combination with a brush roller and a sponge roller, and organic substances and particles adhering to the surface of the glass substrate are removed.

検査工程T6では、ガラス基板の端面および主表面の検査が行われて、その後、ディスプレイ用ガラス基板として、ディスプレイパネルメーカーなどに出荷される。   In the inspection step T6, the end face and the main surface of the glass substrate are inspected, and then shipped to a display panel manufacturer or the like as a display glass substrate.

以下、図面を参照して本発明の端面加工および端面洗浄について説明する。
本実施形態の加工工程では、図3に示す第1、2の研削工程、及び図4に示す研磨工程を有している。
Hereinafter, end face processing and end face cleaning of the present invention will be described with reference to the drawings.
The processing steps of the present embodiment include the first and second grinding steps shown in FIG. 3 and the polishing step shown in FIG.

まず、第1端面加工機30および第2端面加工機34について説明する。
図3に示すように、第1端面加工機30では、矢印の方向にガラス基板Gを搬送しながら、ガラス基板の両端に設けられた第1研削ホイール31、第2研削ホイール32により、まず長辺側の端面を順次研削加工する。そして、長辺側を研削加工した後、同様に短辺側の研削加工を行い、必要に応じて、図示しないオリフラ加工、コーナーカットを行う。
First, the 1st end surface processing machine 30 and the 2nd end surface processing machine 34 are demonstrated.
As shown in FIG. 3, in the first end face processing machine 30, the first grinding wheel 31 and the second grinding wheel 32 provided at both ends of the glass substrate are first long while conveying the glass substrate G in the direction of the arrow. The end face on the side is ground sequentially. Then, after the long side is ground, the short side is similarly ground, and orientation flat processing and corner cutting (not shown) are performed as necessary.

第1研削ホイール31は、ダイヤモンド砥粒を、鉄を含む金属系の結合剤で固めた研削ホイールである。第1研削ホイールの結合剤は第2研削ホイール32の結合剤よりも硬度及び剛性が高いものが用いられる。ここで硬度とはショア硬さであり、剛性とはヤング率をいう。第1研削ホイール31の結合剤が金属系であれば、例えばコバルト系、ブロンズ系などの他の金属結合剤を用いても良い。また、第2研削ホイールの結合剤よりも硬度及び剛性が高ければ、第1研削ホイール31の結合剤としてセラミックス質の結合剤を用いてもよい。第1研削ホイール31は、例えば、JIS R6001−1987で規定される♯300から♯400程度の粒度のダイヤモンド砥粒を用いることができる。本実施形態では、第1研削ホイール31は、♯400の粒度のダイヤモンド砥粒を用いる。砥粒はダイヤモンドに限らず、CBN(ボラゾン)であっても良い。
第1研削ホイール31の粒度は、第2研削ホイール32のダイヤモンド砥粒の粒度と等しいか又はそれよりも粗くてもよい。
The first grinding wheel 31 is a grinding wheel in which diamond abrasive grains are hardened with a metallic binder containing iron. As the binder for the first grinding wheel, a binder having higher hardness and rigidity than the binder for the second grinding wheel 32 is used. Here, hardness is Shore hardness, and rigidity is Young's modulus. If the binder of the first grinding wheel 31 is a metal, another metal binder such as a cobalt or bronze may be used. Further, if the hardness and rigidity are higher than the binder of the second grinding wheel, a ceramic binder may be used as the binder of the first grinding wheel 31. For the first grinding wheel 31, for example, diamond abrasive grains having a grain size of about # 300 to # 400 defined by JIS R6001-1987 can be used. In the present embodiment, the first grinding wheel 31 uses diamond abrasive grains having a particle size of # 400. The abrasive grains are not limited to diamond but may be CBN (borazone).
The grain size of the first grinding wheel 31 may be equal to or coarser than the grain size of the diamond abrasive grains of the second grinding wheel 32.

第2研削ホイール32は、ダイヤモンド砥粒を、エポキシを含む樹脂系の結合剤で固めた研削ホイールである。第2研削ホイール32の結合剤は第1研削ホイール31の結合剤よりも硬度及び剛性が低いものが用いられる。第2研削ホイール32の結合剤は、第1研削ホイール31の結合剤よりも硬度及び合成が低ければ、セラミックス質の結合剤を用いてもよい。樹脂系であれば、例えばポリイミド系の材質であってもよい。砥粒はダイヤモンドに限らず、CBNであっても良い。本実施形態では、第2研削ホイール32は、JIS R6001−1987で規定される♯400の粒度のダイヤモンド砥粒を用いる。
なお、第1研削ホイール31の砥粒の粒度は、第2研削ホイール32の砥粒の粒度と等しいか又はそれよりも粗いことが研削を効率よく行う上で好ましい。
The second grinding wheel 32 is a grinding wheel obtained by hardening diamond abrasive grains with a resin-based binder containing epoxy. As the binder for the second grinding wheel 32, one having lower hardness and rigidity than the binder for the first grinding wheel 31 is used. As the binder of the second grinding wheel 32, a ceramic binder may be used as long as the hardness and the synthesis are lower than the binder of the first grinding wheel 31. As long as it is resin-based, for example, a polyimide-based material may be used. The abrasive grains are not limited to diamond but may be CBN. In the present embodiment, the second grinding wheel 32 uses diamond abrasive grains having a grain size of # 400 defined by JIS R6001-1987.
Note that the grain size of the abrasive grains of the first grinding wheel 31 is preferably equal to or coarser than the grain size of the abrasive grains of the second grinding wheel 32 for efficient grinding.

第1研削工程では、第1研削ホイール31に形成された形状、例えば所定の曲率を有する研削溝によって、ガラス基板Gの端面を、所定の研削量、研削する。これにより、ガラス基板Gの端面は、元の端面よりもガラス基板の中央側に後退し、端面の断面形状は、第1研削ホイール31の研削溝の断面形状に対応して曲率のついた凸形状、円弧状またはR形状に研削される。ここで、研削量とは、研削前の元の端面から、研削されて後退した研削後の凸形状の端面の頂点までの距離である。すなわち、ガラス基板Gの端面がガラス基板Gの主表面の方向に研削された量である。第1研削ホイール31によるガラス基板Gの研削量は、例えば40μmから80μmまでの範囲内である。第1研削工程におけるガラス基板Gの搬送速度は、生産性を確保する観点から10m/分以上であることが好ましい。本実施形態では、ガラス基板Gの搬送速度は10m/分である。   In the first grinding step, the end surface of the glass substrate G is ground by a predetermined grinding amount with a shape formed on the first grinding wheel 31, for example, a grinding groove having a predetermined curvature. As a result, the end surface of the glass substrate G is retreated to the center side of the glass substrate from the original end surface, and the cross-sectional shape of the end surface is a convex having a curvature corresponding to the cross-sectional shape of the grinding groove of the first grinding wheel 31. It is ground into a shape, arc shape or R shape. Here, the grinding amount is the distance from the original end face before grinding to the apex of the convex end face after grinding which has been ground and retreated. That is, the amount of the end surface of the glass substrate G ground in the direction of the main surface of the glass substrate G. The amount of grinding of the glass substrate G by the first grinding wheel 31 is, for example, in the range from 40 μm to 80 μm. It is preferable that the conveyance speed of the glass substrate G in a 1st grinding process is 10 m / min or more from a viewpoint of ensuring productivity. In this embodiment, the conveyance speed of the glass substrate G is 10 m / min.

第1研削工程では、ガラス基板Gの端面のJIS B 0601−1982で規定される最大高さRmaxが、少なくとも10μm以上かつ18μm以下、より好ましくは13μm以上かつ14μm以下になるように、ガラス基板Gの端面が研削される。また、ガラス基板Gの端面のJIS B 0601−1994で規定される算術平均粗さRaは、例えば0.5μm程度になる。   In the first grinding step, the glass substrate G is adjusted such that the maximum height Rmax defined by JIS B 0601-1982 of the end surface of the glass substrate G is at least 10 μm and 18 μm, more preferably 13 μm and 14 μm. The end face of is ground. Moreover, the arithmetic average roughness Ra prescribed | regulated by JISB0601-1994 of the end surface of the glass substrate G will be about 0.5 micrometer, for example.

その後、第1研削工程に連続して設けられた第2研削工程において、ガラス基板Gは、第2研削ホイール32の研削溝によって端面が研削される。これにより、ガラス基板Gの端面の断面形状は、第2研削ホイール32の研削溝の断面形状に対応して曲率のついた凸形状、円弧状またはR形状に研削される。本実施形態では、第2研削ホイール32の研削溝を、第1研削ホイール31の研削溝とほぼ同一形状にすることで、ガラス基板の端面の見かけ上の形状を変えることなく、ガラス基板Gの端面を、所定の研削量、研削している。   Thereafter, in a second grinding step provided continuously with the first grinding step, the glass substrate G is ground at the end face by the grinding groove of the second grinding wheel 32. Thereby, the cross-sectional shape of the end surface of the glass substrate G is ground into a convex shape, a circular arc shape, or an R shape with a curvature corresponding to the cross-sectional shape of the grinding groove of the second grinding wheel 32. In the present embodiment, the grinding groove of the second grinding wheel 32 is made substantially the same shape as the grinding groove of the first grinding wheel 31, so that the apparent shape of the end surface of the glass substrate is not changed. The end face is ground for a predetermined grinding amount.

第2研削ホイール32によるガラス基板Gの研削量は、例えば10μmから30μmまでの範囲内である。第2研削工程では、ガラス基板Gの端面33のJIS B 0601−1982で規定される最大高さRmaxが、少なくとも4μm以上かつ8μm以下、より好ましくは6μm程度になるように、ガラス基板Gの端面を研削する。また、ガラス基板Gの端面の上記算術平均粗さRaは0.2μ以下、例えば0.1μmから0.2μm程度になる。   The amount of grinding of the glass substrate G by the second grinding wheel 32 is in the range of 10 μm to 30 μm, for example. In the second grinding step, the end surface of the glass substrate G is such that the maximum height Rmax defined by JIS B 0601-1982 of the end surface 33 of the glass substrate G is at least 4 μm and 8 μm or less, more preferably about 6 μm. Grind. The arithmetic average roughness Ra of the end face of the glass substrate G is 0.2 μm or less, for example, about 0.1 μm to 0.2 μm.

上述した第1、第2研削工程によりガラス基板Gの長辺側を加工した後、図示しない反転機によりガラス基板Gの向きを90度回転させて、ガラス基板Gの短辺側を、長辺側と同様に加工する。   After processing the long side of the glass substrate G by the first and second grinding steps described above, the direction of the glass substrate G is rotated 90 degrees by a reversing machine (not shown), and the short side of the glass substrate G is changed to the long side. Process the same as the side.

なお、第1研削ホイール31、第2研削ホイール32の回転方向については、ガラス基板Gと接触する点における研削ホイール31の外周面の移動方向が、ガラス基板Gの搬送方向と同じになるように設定されてもよいし、逆の方向に設定されてもよい。本実施形態では、第1、第2研削工程においてガラス基板Gと接触する点における第1研削ホイール31、第2研削ホイール32の外周面の移動方向が、ガラス基板Gの搬送方向と逆の方向になるように、第1、第2研削ホイール31、32を一方向に回転させている。   In addition, about the rotation direction of the 1st grinding wheel 31 and the 2nd grinding wheel 32, the moving direction of the outer peripheral surface of the grinding wheel 31 in the point which contacts the glass substrate G becomes the same as the conveyance direction of the glass substrate G. It may be set or may be set in the opposite direction. In the present embodiment, the movement direction of the outer peripheral surfaces of the first grinding wheel 31 and the second grinding wheel 32 at the point of contact with the glass substrate G in the first and second grinding steps is the direction opposite to the conveyance direction of the glass substrate G. Thus, the first and second grinding wheels 31 and 32 are rotated in one direction.

研削工程では、上述のようにガラス基板Gの端面の断面形状が曲率のついた凸形状、円弧状またはR形状に研削されるとともに、ガラス基板Gの端面の上記算術平均粗さRaは、0.2μm以下になるように研削される。しかしながら、ダイヤモンドホイールである研削ホイール12aによって研削されたガラス基板Gの端面には、マイクロクラックやヘアクラックと呼ばれる微小なクラックを含む層が形成される。この層は、加工変質層あるいは脆弱破壊層と呼ばれ、上記第1研削工程、第2研削工程を経ても、1μmから3μm程度の厚さで存在する。このような層が存在することで、ガラス基板Gの端面における破壊強度が低下したり、微小なクラックからガラスが脱落したりする。このような層を除去し、ガラス基板Gの端面における破壊強度を向上させるために、研磨加工が行われる。   In the grinding step, as described above, the cross-sectional shape of the end surface of the glass substrate G is ground into a convex shape having a curvature, an arc shape, or an R shape, and the arithmetic average roughness Ra of the end surface of the glass substrate G is 0. . Grind to 2 μm or less. However, a layer containing micro cracks called micro cracks or hair cracks is formed on the end surface of the glass substrate G ground by the grinding wheel 12a which is a diamond wheel. This layer is called a work-affected layer or a brittle fracture layer, and is present in a thickness of about 1 μm to 3 μm even after the first grinding step and the second grinding step. Due to the presence of such a layer, the breaking strength at the end face of the glass substrate G is reduced, or the glass falls off from minute cracks. In order to remove such a layer and improve the breaking strength at the end face of the glass substrate G, a polishing process is performed.

研磨工程では、ガラス基板Gの端面の加工変質層あるいは脆弱破壊層を除去し、ガラス基板Gの端面の算術平均粗さRaが、例えば0.01μm未満になるように、研磨ホイール12bによってガラス基板Gの端面を研磨する。   In the polishing process, the work-affected layer or the fragile fracture layer on the end surface of the glass substrate G is removed, and the glass substrate G is polished by the polishing wheel 12b so that the arithmetic average roughness Ra of the end surface of the glass substrate G is less than 0.01 μm, for example. Polish the end face of G.

図4に示すように、研削工程により、長辺側、短辺側のガラス基板の端面33の研削を終えたガラス基板Gは、研磨ホイール12bによる研磨を行う位置まで搬送される。その後、ガラス基板を図示しないステージ上に工程し、図4(a)(b)に示す第2端面加工機34に取り付けられた研磨装置40より加工する。図4(b)は、図4のII−II線に沿う断面図である。研磨装置40は、回転軸35を中心として研磨ホイール36を回転させる。回転ホイール36は、回転軸35の長さ方向に平行に設けられた円盤状の磁力体36a、36bの隙間(磁場形成部ともいう)に磁性体砥粒37(研磨メディアともいう)が設けられて構成される。   As shown in FIG. 4, the glass substrate G that has finished the grinding of the end surfaces 33 of the glass substrate on the long side and the short side in the grinding step is transported to a position where polishing is performed by the polishing wheel 12 b. Thereafter, the glass substrate is processed on a stage (not shown) and processed by the polishing apparatus 40 attached to the second end surface processing machine 34 shown in FIGS. FIG. 4B is a cross-sectional view taken along the line II-II in FIG. The polishing apparatus 40 rotates the polishing wheel 36 around the rotation shaft 35. In the rotating wheel 36, magnetic abrasive grains 37 (also referred to as polishing media) are provided in a gap (also referred to as a magnetic field forming portion) between disk-shaped magnetic bodies 36 a and 36 b provided in parallel with the length direction of the rotating shaft 35. Configured.

磁力体36a、36bにより磁場がかけられた磁性体砥粒37に、ガラス基板Gの端部が食い込んで、ガラス基板Gの端面が磁性体砥粒37と接触した状態で研磨ホイール36が回転する。これにより、磁性体砥粒37とガラス基板Gの端面とが相対的に移動して、ガラス基板Gの端面が、磁場形成部の形成する磁場により拘束された磁性体砥粒によって研磨される。   The end of the glass substrate G bites into the magnetic abrasive grains 37 applied with a magnetic field by the magnetic bodies 36 a and 36 b, and the polishing wheel 36 rotates in a state where the end face of the glass substrate G is in contact with the magnetic abrasive grains 37. . Accordingly, the magnetic abrasive grains 37 and the end face of the glass substrate G move relatively, and the end face of the glass substrate G is polished by the magnetic abrasive grains constrained by the magnetic field formed by the magnetic field forming unit.

磁性体砥粒37に含まれる砥粒形状は、真円度の小さい多角形状、又は角部を有する不定形状である。角部を有する不定形状とは、1つまたは複数の鋭い角を有する立体的な一様でない形状を含む。また、角部を有するとは、粒子が縁に向かって薄くなっていること、粒子の断面の輪郭線が1つまたは複数の鋭角または鈍角を形成すること、及び粒子の縁が尖っていることを含む。
また、磁性体砥粒は球状であってもよい。球状とは、断面形状が円形のものだけでなく、断面形状が楕円形、長円形などの角のない丸みを帯びた形状を含む。
The abrasive grain shape included in the magnetic abrasive grain 37 is a polygonal shape with a small roundness or an indefinite shape having corners. An indefinite shape having a corner includes a three-dimensional non-uniform shape having one or more sharp corners. Also, having a corner means that the particle is thinning toward the edge, that the cross-sectional outline of the particle forms one or more acute or obtuse angles, and that the edge of the particle is sharp. including.
The magnetic abrasive grains may be spherical. The spherical shape includes not only a circular cross-sectional shape but also a rounded shape with no corners such as an elliptical shape or an oval cross-sectional shape.

研磨工程を経て、ガラス基板Gの端面33は、図5に示すとおり、頂部Aと、端面と主表面の境界部B、Cを持ち、これらの箇所において、ガラス基板Gは、端面の加工変質層あるいは脆弱破壊層が除去され、算術平均粗さRaが、0.01μm未満に鏡面研磨処理される。特に、境界部B、CのRaが0.01未満になることで、端面33からのガラス粉の発生が抑制され、ガラス基板Gの主表面へ付着が軽減される。また、ガラス基板Gの曲げ強度の向上も図られる。   Through the polishing process, the end surface 33 of the glass substrate G has a top portion A and boundary portions B and C between the end surface and the main surface, as shown in FIG. The layer or the fragile fracture layer is removed, and the arithmetic average roughness Ra is mirror-polished to less than 0.01 μm. In particular, when Ra of the boundary portions B and C is less than 0.01, generation of glass powder from the end surface 33 is suppressed, and adhesion to the main surface of the glass substrate G is reduced. Further, the bending strength of the glass substrate G can be improved.

なお、本実施形態では、ステージ上に固定されたガラス基板Gを研磨する例を用いて説明をしたが、ガラス基板Gを、固定された研磨ホイールに対して移動させてもよい。また、ガラス基板Gの端面33を1辺ずつ研磨してもよく、研磨ホイールを複数用意して、ガラス基板Gの端面33の複数辺を同時に研磨してもよい。また、本実施形態に用いる磁性体を含む研磨スラリーとして、磁性体が主として研磨砥粒として作用する磁性体砥粒を用いて説明をしたが、磁性体が主として研磨砥粒を運ぶためのキャリアとして働く磁性流体による研磨加工であってもよい。   In addition, although this embodiment demonstrated using the example which grind | polishes the glass substrate G fixed on the stage, you may move the glass substrate G with respect to the fixed grinding | polishing wheel. Further, the end surface 33 of the glass substrate G may be polished one by one, or a plurality of polishing wheels may be prepared and the plurality of sides of the end surface 33 of the glass substrate G may be polished simultaneously. Further, as the polishing slurry containing the magnetic material used in the present embodiment, the magnetic material has been described using the magnetic material abrasive grains in which the magnetic material mainly acts as the abrasive grains. However, the magnetic material is mainly used as a carrier for carrying the abrasive grains. Polishing with a working magnetic fluid may be used.

また、ガラスの除去量及び表面粗さである算術平均粗さRaの測定は、東京精密社製のサーフコムA1400を用いて、図7に示すガラス基板Gの端面の頂点Aと、端面と表面との境界の近傍の点B及び点Cにおいて行った。ガラスの除去量の測定は、計測モードは断面計測モード、測定速度は0.6mm/s、傾斜補正は前半補正、測定距離は20mmで行った。また、表面粗さの測定は、計測モードは粗さ計測、測定速度は0.3mm/s、測定方法はJIS1994で行った。また、算術平均粗さRaの測定は、Ra<0.02のときにカットオフ0.08及び測定長さ0.4mmとし、0.02<Ra<0.2のときにカットオフ0.25及び測定長さ1.25mmとし、0.1<Ra<2のときにカットオフ0.8及び測定長さ4mmとした。   Moreover, the measurement of arithmetic removal average roughness Ra which is the removal amount and surface roughness of glass is using the surf comb A1400 by Tokyo Seimitsu Co., Ltd., the vertex A of the end surface of the glass substrate G shown in FIG. This was performed at points B and C in the vicinity of the boundary. The measurement of the glass removal amount was performed with the measurement mode being the cross-section measurement mode, the measurement speed being 0.6 mm / s, the inclination correction being the first half correction, and the measurement distance being 20 mm. Further, the surface roughness was measured by measuring the roughness in the measurement mode, measuring the measurement speed by 0.3 mm / s, and measuring the method by JIS 1994. The arithmetic average roughness Ra is measured with a cutoff of 0.08 and a measurement length of 0.4 mm when Ra <0.02, and a cutoff of 0.25 when 0.02 <Ra <0.2. The measurement length was 1.25 mm, and when 0.1 <Ra <2, the cut-off was 0.8 and the measurement length was 4 mm.

次に、本発明の洗浄作用について説明する。本発明では、磁性体砥粒で研磨加工されたガラス基板の端面に付着した磁性体を除去する方法として、所定のpH環境下においてガラス基板の端面に付着した磁性体異物の表面をプラスにイオン化すると共に、ガラス基板の端面の表面電位をプラスにして、磁性体異物をガラス基板の端面から浮上させると共に、キレート作用によって再付着を防止することを検討した。   Next, the cleaning action of the present invention will be described. In the present invention, as a method of removing the magnetic substance attached to the end face of the glass substrate polished with the magnetic abrasive grains, the surface of the magnetic foreign substance attached to the end face of the glass substrate is positively ionized under a predetermined pH environment. At the same time, the surface potential of the end face of the glass substrate was set to be positive so that the magnetic foreign matter floated from the end face of the glass substrate and the reattachment was prevented by chelating action.

まず、本発明では、第1の端面洗浄工程において、pHを2未満、好ましくはpH1.6未満の酸性薬液をガラス基板Gの端面に供給して、ガラス基板の端面表面に残留した磁性体砥粒(以下、磁性体異物ともいう)のイオン化を行う。これにより、表面電位がプラスとなったガラス表面と磁性体異物との静電相互作用を小さくして、磁性体異物をガラス基板の端面から離れやすくする。そして、ガラス表面と磁性体異物との静電相互作用を小さくした状態で、スポンジによる物理的洗浄を行うことで、磁性体異物をガラス基板の端面から確実に離脱させる。   First, in the present invention, in the first end face cleaning step, an acidic chemical solution having a pH of less than 2, preferably less than 1.6 is supplied to the end face of the glass substrate G, and the magnetic abrasive remaining on the end face surface of the glass substrate. Ionization of grains (hereinafter also referred to as magnetic foreign matter) is performed. Thereby, the electrostatic interaction between the glass surface having a positive surface potential and the magnetic foreign material is reduced, and the magnetic foreign material is easily separated from the end surface of the glass substrate. Then, in a state where electrostatic interaction between the glass surface and the magnetic foreign material is reduced, physical cleaning with a sponge is performed to reliably release the magnetic foreign material from the end surface of the glass substrate.

さらに、第1の端面洗浄工程において供給される薬液に、pH2未満の環境下において鉄に対するキレート効果を有する薬液を含ませることで、イオン化した鉄をキレートしてガラスへの再付着を防止している。   Furthermore, the chemical solution supplied in the first end face cleaning step includes a chemical solution having a chelating effect on iron in an environment of less than pH 2 to chelate ionized iron and prevent reattachment to the glass. Yes.

還元効果を有する薬液としては、少なくとも標準酸化還元電位が−0.35V以下の酸性薬液を含むことが好ましい。例えば、Fe3+イオンの還元には−0.77V必要とされているが、キレート効果を持つ薬液の使用することによりFe3+イオンの還元電位を下げる事ができる。つまり、上記の電位以上でも還元効果を得ることができ、より端面の洗浄作用が高くなる。 The chemical solution having a reducing effect preferably includes at least an acidic chemical solution having a standard oxidation-reduction potential of −0.35 V or less. For example, although there is a need -0.77V for the reduction of Fe 3+ ions, it can be lowered reduction potential of Fe 3+ ions by the use of a chemical solution with a chelating effect. That is, the reduction effect can be obtained even at the above potential or higher, and the end face cleaning action is further enhanced.

物理的洗浄によりガラスの表面から離れた磁性体異物が、ガラス表面と磁性体異物表面との静電相互作用が大きくなる程度のpHに変動しても、磁性体異物がキレートされていることで、磁性体異物がガラス基板に再付着することを防止する。   The magnetic foreign matter is chelated even if the magnetic foreign matter separated from the glass surface by physical cleaning fluctuates to a pH that increases the electrostatic interaction between the glass surface and the magnetic foreign matter surface. This prevents magnetic foreign matter from reattaching to the glass substrate.

第2の端面洗浄工程では、第1の端面洗浄工程においてキレートした磁性体異物を洗浄除去ためのリンスを行う。第2の端面洗浄工程では、後工程に磁性体異物を持ち込まないようにすることが好ましい。例えば、キレートされた鉄成分を除去するために、pH2程度の酸性薬液を使用し、その後、純水洗浄によりリンスに用いた薬液を落とすとよい。   In the second end face cleaning step, rinsing for cleaning and removing the magnetic foreign substance chelated in the first end face cleaning step is performed. In the second end face cleaning step, it is preferable not to bring magnetic foreign substances into the subsequent step. For example, in order to remove the chelated iron component, an acidic chemical solution having a pH of about 2 may be used, and then the chemical solution used for rinsing may be dropped by washing with pure water.

図6(a)の第1の端面洗浄冶具61について、図7(a)、(b)を用いて説明する。
図7(a)は、第1の端面洗浄機60中のガラス基板の端面の一部を示す。
第1の端面洗浄冶具61は、回転軸61aにより回転する支持部61b上に設けられた洗浄パッド61cを有し、搬送ローラ62により搬送されるガラス基板の両端を洗浄するものである。
The first end surface cleaning jig 61 in FIG. 6A will be described with reference to FIGS. 7A and 7B.
FIG. 7A shows a part of the end surface of the glass substrate in the first end surface cleaning machine 60.
The first end surface cleaning jig 61 has a cleaning pad 61c provided on a support portion 61b rotated by a rotating shaft 61a, and cleans both ends of the glass substrate conveyed by the conveying roller 62.

洗浄パッド61cとガラス基板との端面には、端面洗浄ノズル63aから、pH1.6程度の酸性薬液が吐出される。一例としては、シュウ酸と酒石酸の混合液がガラス基板の端面に塗布される。洗浄パッド61cが酸性薬液を含み、ガラス基板の端面に接触して摺動することで、ガラス基板の端面に対して、化学的な洗浄と物理的な洗浄とをもたらし、ガラス基板の端面に付着した磁性体異物をガラスから離脱させることができる。離脱した磁性体異物は、酒石酸によりキレートされる。   An acidic chemical solution having a pH of about 1.6 is discharged from the end surface cleaning nozzle 63a to the end surfaces of the cleaning pad 61c and the glass substrate. As an example, a mixed solution of oxalic acid and tartaric acid is applied to the end surface of the glass substrate. The cleaning pad 61c contains an acidic chemical solution and slides in contact with the end surface of the glass substrate, thereby bringing chemical cleaning and physical cleaning to the end surface of the glass substrate, and adhering to the end surface of the glass substrate. The magnetic foreign material can be detached from the glass. The detached magnetic foreign matter is chelated by tartaric acid.

ガラス基板の端面に接触する端面洗浄冶具は、図7(b)のように、端面に対して回転方向がほぼ垂直となる洗浄ローラ611であってもよい。また、薬液を63bのように端面に対して正面方向から供給してもよい。   The end surface cleaning jig that contacts the end surface of the glass substrate may be a cleaning roller 611 whose rotational direction is substantially perpendicular to the end surface, as shown in FIG. Moreover, you may supply a chemical | medical solution from the front direction with respect to an end surface like 63b.

次に、図6(b)の第2の端面洗浄装置70について、図7(c)を用いて説明する。
第1の端面洗浄装置60を通過したガラス基板Gは、第2の端面洗浄装置70に投入されて、第2の端面洗浄冶具64a、64bにより、前工程の薬液が洗い流される。
Next, the second end surface cleaning apparatus 70 in FIG. 6B will be described with reference to FIG.
The glass substrate G that has passed through the first end surface cleaning device 60 is put into the second end surface cleaning device 70, and the chemical solution of the previous process is washed away by the second end surface cleaning jigs 64a and 64b.

図7(c)は、第2の端面洗浄装置70中のガラス基板の端面の一部を示す。
第2の洗浄工程では、リンス液により、後工程の表面洗浄装置までにキレートされた磁性体異物を洗い流すと共に、ガラス基板に付着する酸性薬液のpHを下げて、後工程に酸性薬液が持ち込まれることを抑制ことが必要となる。
FIG. 7C shows a part of the end surface of the glass substrate in the second end surface cleaning apparatus 70.
In the second cleaning step, the magnetic foreign substance chelated to the surface cleaning device in the subsequent process is washed away by the rinse liquid, and the pH of the acidic chemical liquid adhering to the glass substrate is lowered, and the acidic chemical liquid is brought into the subsequent process. It is necessary to suppress this.

第2の端面洗浄冶具64は、図7(c)に示すように、ガラス基板Gの端面に対して、所定の角度を有するように対向して設けられた洗浄ノズル64を有する。まず、洗浄ノズル64aから吐出される第1リンス液によって端面を洗い流す。第1リンス液は、第1の洗浄工程において用いられた薬液と同等のpHを持つものを用いた。第1の洗浄工程から付着していた薬液が、第1リンス液により洗い流された後、第2リンス液として、純水を用いてガラス基板の端面を洗い流す。これにより、後工程の表面洗浄工程に酸性薬液を持ち込むことを防止できる。また、第1リンス液に、第1洗浄工程と同等のpHを持つ薬液を用いることで確実に磁性体異物を洗い流す。   As shown in FIG. 7C, the second end surface cleaning jig 64 has a cleaning nozzle 64 provided to face the end surface of the glass substrate G so as to have a predetermined angle. First, the end surface is washed away by the first rinse liquid discharged from the washing nozzle 64a. As the first rinsing liquid, one having a pH equivalent to that of the chemical liquid used in the first cleaning step was used. After the chemical solution adhering from the first cleaning step is washed away by the first rinse solution, the end surface of the glass substrate is washed away using pure water as the second rinse solution. Thereby, it can prevent bringing an acidic chemical | medical solution into the surface cleaning process of a post process. Moreover, the magnetic foreign material is reliably washed away by using a chemical solution having a pH equivalent to that in the first cleaning step as the first rinse solution.

なお、本実施の形態では、ガラス基板Gの主表面側には、主表面側から端面側へ、リンス液を吐出する洗浄ノズルが設けられると共に、端面の正面側かもリンス液を吐出する洗浄ノズルが設けられてもよい。   In the present embodiment, a cleaning nozzle that discharges the rinsing liquid from the main surface side to the end surface side is provided on the main surface side of the glass substrate G, and the cleaning nozzle that also discharges the rinsing liquid on the front side of the end surface May be provided.

本発明のディスプレイ用ガラス基板の製造方法では、鉄の価電子数をFe2+とした上で、錯体を形成することが好ましいと考えられるため、上記実施形態では、還元性の強いシュウ酸を第1の端面洗浄装置において用いられる酸性薬液に添加した。 In the method for producing a glass substrate for display according to the present invention, it is considered preferable to form a complex after setting the number of valence electrons of Fe to Fe 2+ . It added to the acidic chemical | medical solution used in 1 end surface washing | cleaning apparatus.

錯体の安定性では、鉄の価電子数はFe2+よりもFe3+の方が高い安定性を持つ。しかし、ガラス端面に付着した離れた鉄成分がFe3+の状態では、端面から離れた鉄成分を完全にキレートできなかった場合、ガラス基板上に残留した磁性体異物が、上述したリンス工程においてFe2+と比較してガラス基板の表面で不動態化して再付着が起こりやすい。
そのため、本発明では、磁性体異物がキレートされずに残留している可能性を小さくして、表面洗浄工程に搬送する前の、ガラス基板から磁性体異物の錯体を除去するリンス工程において、洗浄液のpHを酸性から中性側に移行しても、異物がガラス基板の表面に再付着して不動態化することを抑制する。
つまり、本発明では、磁性体異物を構成する鉄異物をFe2+に還元していることで、本発明の洗浄工程によっても、Fe3+に比べてガラス表面での不動態化による再付着を抑制できる、という効果を奏する。
Regarding the stability of the complex, Fe 3+ has higher stability than Fe 2+ in the number of valence electrons of iron. However, in a state where the separated iron component attached to the glass end face is in Fe 3+ , when the iron component separated from the end face cannot be completely chelated, the magnetic foreign matter remaining on the glass substrate is removed by Fe in the rinsing step described above. Compared to 2+ , it is passivated on the surface of the glass substrate and reattachment is likely to occur.
Therefore, in the present invention, in the rinsing step of removing the complex of magnetic foreign substances from the glass substrate before reducing the possibility that the magnetic foreign substances remain without being chelated and transported to the surface cleaning process, Even if the pH is shifted from acidic to neutral, foreign matter is prevented from reattaching to the surface of the glass substrate and being passivated.
In other words, in the present invention, the iron foreign matter constituting the magnetic foreign matter is reduced to Fe 2+ , thereby suppressing reattachment due to passivation on the glass surface compared to Fe 3+ even by the cleaning step of the present invention. There is an effect that it is possible.

本発明のキレート剤としては、2座配位以上を行うキレート剤が好ましい。
具体的には、Feの正八面体の六配位の鉄イオン中心から、xyz軸方向に3Å以下の距離において、分子構造を備えることが好ましい。
The chelating agent of the present invention is preferably a chelating agent that performs bidentate coordination or more.
Specifically, it is preferable to have a molecular structure at a distance of 3 mm or less in the xyz axis direction from the hexacoordinate iron ion center of the Fe octahedron.

具体例としては、前記キレート効果を有する薬液は、サリチル酸、フタル酸、グリオキシル酸、シュウ酸、フマル酸、マレイン酸、マロン酸、コハク酸、グルコン酸、トランス−アコニット酸、タルタロン酸、乳酸、ピルビン酸、クエン酸、イソクエン酸、グリコール酸、リンゴ酸、酒石酸等の有機酸。ニトリロ3酢酸、エチレンジアミン4酢酸、ヒドロキシエチルエチレンジアミン3酢酸、ジエチレントリアミン5酢酸等のアミノカルボン酸。セリン、アスパラギン酸、グルタミン酸、システイン等のアミノ酸から選択される1種以上とする。   As a specific example, the chemical solution having the chelating effect is salicylic acid, phthalic acid, glyoxylic acid, oxalic acid, fumaric acid, maleic acid, malonic acid, succinic acid, gluconic acid, trans-aconitic acid, tartalonic acid, lactic acid, pyruvin. Organic acids such as acid, citric acid, isocitric acid, glycolic acid, malic acid, tartaric acid. Aminocarboxylic acids such as nitrilotriacetic acid, ethylenediaminetetraacetic acid, hydroxyethylethylenediaminetriacetic acid, and diethylenetriaminepentaacetic acid; One or more selected from amino acids such as serine, aspartic acid, glutamic acid, and cysteine are used.

以上、本実施形態のガラス基板の製造方法の実施形態について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよい。   As mentioned above, although embodiment of the manufacturing method of the glass substrate of this embodiment was described in detail, this invention is not limited to the said embodiment, In the range which does not deviate from the main point of this invention, various improvement and a change are carried out. Also good.

以下、本発明の実施例について詳細に説明する。
まず、本発明の研磨加工に用いた、磁性体砥粒は、フェライト系の磁性体であり、粒子の形状が角部を有する不定形状であり、平均粒子径が5μm以上かつ10μm以下であり、最大磁束密度が1.3Tであり、最大透磁率が3.0H/mである磁性体からなる研磨砥粒を用意した。次に、用意した研磨砥粒と水とを混合することで、研磨メディアを作製した。一例としては、研磨メディア中の砥粒の濃度が85%以上となるよう磁性体砥粒と水とを混合するとよい。
Examples of the present invention will be described in detail below.
First, the magnetic abrasive used in the polishing process of the present invention is a ferrite-based magnetic body, the particle shape is an indefinite shape having a corner, and the average particle diameter is 5 μm or more and 10 μm or less, Abrasive grains made of a magnetic material having a maximum magnetic flux density of 1.3 T and a maximum permeability of 3.0 H / m were prepared. Next, polishing media were prepared by mixing the prepared abrasive grains and water. As an example, magnetic abrasive grains and water may be mixed so that the concentration of abrasive grains in the polishing media is 85% or more.

本実施例においては、管理の容易性、量産適用性を考慮してwt%を用いて磁性流動体の濃度の管理を行ったが、磁性流動体の濃度の管理はvol%を用いて行うこともできる。wt%とvol%との換算は、磁性体砥粒のかさ比重と、水の密度1g/cm3とに基づいて算出することができる。また、上記の比較例及び実施例においては、研磨加工中の磁性流動体からの水の蒸発を考慮して、蒸発した分の水を磁性流動体に補給するようにした。具体的には、ホイールに対して磁性体砥粒と水を混合した供給用磁性流動体を所定の間隔で供給した。供給用磁性流動体は、ホイールに保持される磁性流動体よりも濃度が低く、流動性が高い状態で供給される。   In this example, the concentration of the magnetic fluid was controlled using wt% in consideration of the ease of management and mass production applicability, but the concentration of the magnetic fluid should be controlled using vol%. You can also. The conversion between wt% and vol% can be calculated based on the bulk specific gravity of the magnetic abrasive grains and the density of water 1 g / cm 3. In the above comparative examples and examples, in consideration of evaporation of water from the magnetic fluid during polishing, the evaporated water is replenished to the magnetic fluid. Specifically, a magnetic fluid for supply in which magnetic abrasive grains and water were mixed was supplied to the wheel at a predetermined interval. The magnetic fluid for supply is supplied in a state where the concentration is lower than that of the magnetic fluid held on the wheel and the fluidity is high.

上記研磨処理によって得られるガラス基板Gの端面には、図5で示される境界部B、境界部Cに、磁性体砥粒からなる磁性体異物が付着する。
このガラス基板Gの端面に対して、以下の実施例に記載された酸性薬液を用いて洗浄を行い、評価した。評価結果を表1に示す。
On the end surface of the glass substrate G obtained by the above polishing process, magnetic foreign substances made of magnetic abrasive grains adhere to the boundary portions B and C shown in FIG.
The end surface of the glass substrate G was washed with an acidic chemical solution described in the following examples and evaluated. The evaluation results are shown in Table 1.

(実験1)
各々の有機酸薬液は濃度が2wt%になるよう調整した。リンスの際はpHが2以上にならないよう作業を実施した。
磁性砥粒による加工の後、以下の工程で端面の洗浄を実施した。
1)前述薬液をノズルによる噴射、2)薬液を浸漬させたディスクスポンジ、3)薬液をノズルによる噴射によるリンス、4)純水噴射によるリンス。なお、実施例、比較例では、0.5mmの厚さのガラス基板を用いた。
(Experiment 1)
Each organic acid chemical was adjusted to a concentration of 2 wt%. When rinsing, the work was performed so that the pH did not become 2 or more.
After processing with magnetic abrasive grains, the end face was cleaned in the following steps.
1) Injection of the above chemical solution with a nozzle, 2) Disc sponge in which the chemical solution is immersed, 3) Rinse by injection of the chemical solution with a nozzle, 4) Rinse by injection of pure water. In Examples and Comparative Examples, a glass substrate having a thickness of 0.5 mm was used.

評価方法は、ガラス基板の端面に残存する異物を、粘着性のある冶具で剥離して、その単位面積あたりの付着量を測定して行った。具体的には、ガラス基板端面に残存する異物の残存面積割合については、各試料のガラス基板の四辺の端面のそれぞれの中央部にセロハンテープを貼り、セロハンテープを剥がし、剥がしたセロハンテープの表面をCCD撮像装置付きの光学顕微鏡を用いて観察した。なお、ガラス基板の端面の加工領域の厚さ方向全長(図5のB点からC点にかけて)にセロハンテープが貼りつけられるようにした。   The evaluation method was performed by peeling the foreign matter remaining on the end face of the glass substrate with an adhesive jig and measuring the amount of adhesion per unit area. Specifically, regarding the remaining area ratio of the foreign matter remaining on the glass substrate end surface, the cellophane tape is applied to the center of each of the four side end surfaces of the glass substrate of each sample, the cellophane tape is peeled off, and the surface of the peeled cellophane tape Were observed using an optical microscope equipped with a CCD imaging device. In addition, the cellophane tape was affixed on the thickness direction full length (from the B point of FIG. 5 to the C point) of the process area | region of the end surface of a glass substrate.

光学顕微鏡による観察領域は、図5のガラス基板の端面のB点からC点までの距離である0.75mm×ガラス基板の長さ方向0.75mmの領域とした。この領域の異物の個数をカウントして、評価を行った。   The observation area by the optical microscope was an area of 0.75 mm which is a distance from point B to point C on the end face of the glass substrate in FIG. 5 × 0.75 mm in the length direction of the glass substrate. The number of foreign matters in this region was counted and evaluated.

また、洗浄工程後のガラス基板の主表面(表裏面)に付着する異物についても、評価を行った。具体的には、ガラス表裏面に付着した異物量については、ガラス基板表面検査装置(日立ハイテク電子エンジニアリング社製GI4830)を用いて測定した。測定条件としてはポリスチレン標準粒子1μm以上を検知する条件で測定を行った。   Moreover, it evaluated also about the foreign material adhering to the main surface (front and back) of the glass substrate after a washing | cleaning process. Specifically, the amount of foreign matter adhering to the front and back surfaces of the glass was measured using a glass substrate surface inspection device (GI4830 manufactured by Hitachi High-Tech Electronics Engineering). As measurement conditions, measurement was performed under the condition of detecting polystyrene standard particles of 1 μm or more.

Figure 2014188420
Figure 2014188420

表1に示すように、洗浄後のガラス基板の端面状態に関して、図5に示すA点、B点、及びC点について、レーザー顕微鏡による表面観察を行い、洗浄効果の評価を実施した。pH、還元効果、キレート効果各々条件については、薬液物性より尺度化を行った。   As shown in Table 1, with respect to the end face state of the glass substrate after cleaning, surface observation with a laser microscope was performed at points A, B, and C shown in FIG. 5 to evaluate the cleaning effect. The pH, reducing effect, and chelating effect conditions were scaled based on chemical properties.

表1の、実施例、比較例において、酸解離定数(pKa)は、pH4.4以下を◎、pH4.4〜6を◎、pH6未満を×と示した。また、還元力は標準水素電極の電極電位から、−0.35V以下を◎、−0.35V〜−0.05Vを◎、−0.05V以上を×とした。   In the examples and comparative examples of Table 1, the acid dissociation constant (pKa) is indicated as ◎ when pH is 4.4 or less, ◎ when pH is 4.4 to 6, and × when pH is less than 6. In addition, the reducing power was evaluated as ◎ for -0.35 V or less, ◎ for -0.35 V to -0.05 V, and x for -0.05 V or more from the electrode potential of the standard hydrogen electrode.

洗浄効果について洗浄後の端面パーティクルの個数が150未満である場合を「洗浄効果:高」とし、300未満である場合を「洗浄効果:有」とした。また、300で以上ある場合を「洗浄効果:無」とした。   Regarding the cleaning effect, the case where the number of end face particles after cleaning was less than 150 was set as “cleaning effect: high”, and the case where it was less than 300 was set as “cleaning effect: present”. Moreover, the case where it was 300 or more was made into "the cleaning effect: nothing".

上記観察面積のなかに300を超える異物がなければ、ディスプレイ製造工程において、鉄系異物の存在による歩留まり低下を引き起こすことがない。鉄系の異物による影響が懸念されるTFTパネル製造工程においても問題なかった。また、上記観察面積のなかに300を超える異物がないガラス基板からは、ガラス基板表面検査装置によって1μmを超える異物が検出されなかった。   If there is no foreign matter exceeding 300 in the observation area, the yield is not reduced due to the presence of iron-based foreign matter in the display manufacturing process. There was no problem even in the TFT panel manufacturing process in which the influence of iron-based foreign matters is a concern. Further, no foreign matter exceeding 1 μm was detected by the glass substrate surface inspection apparatus from a glass substrate having no foreign matter exceeding 300 in the observation area.

上記実施例、比較例の結果、有機酸の酸性度、還元能を有するシュウ酸、キレート価の高い酒石酸を用いると高い清浄効果が確認できた。実施例4では、特に高い洗浄効果が得られた。   As a result of the above Examples and Comparative Examples, a high cleaning effect could be confirmed by using organic acid acidity, oxalic acid having a reducing ability, and tartaric acid having a high chelate value. In Example 4, a particularly high cleaning effect was obtained.

上記実施例から、有機酸のカルボキシル基を含む薬液を使用し、カルボキシル基の少なくとも一部がイオン化されるpHを有するよう、薬液の調整を行うことが好ましい。より好ましくは、複数個所のカルボキシル基を有し、複数個所のカルボキシル基がイオン化するよう、かつガラス等電点のpHを下回るように調整した薬液を用いることが好ましい。   From the above examples, it is preferable to use a chemical solution containing a carboxyl group of an organic acid and adjust the chemical solution so as to have a pH at which at least a part of the carboxyl group is ionized. More preferably, it is preferable to use a chemical solution having a plurality of carboxyl groups, adjusted so that the carboxyl groups at a plurality of locations are ionized and lower than the pH of the glass isoelectric point.

上述した通り、本発明の一の態様では、pHを2未満、好ましくはpH1.6未満にすることで、ガラス表面と磁性体異物の静電相互作用を小さくして磁性体異物である鉄をイオン化してをガラス基板の端面から浮上させ、さらにイオン化した鉄をキレートすることでガラスへの再付着を防止する。そして後工程のリンス工程において、洗浄除去する。またリンス工程においても、リンスに用いる薬液は、還元又はキレートに使用した薬液と同様のpHを有すればよい。例えば、リンスに用いる薬液はpH3以下、又はpH2〜3の範囲内とすることが好ましい。
酸性の薬液でも濃硝酸や濃硫酸等の強い酸化力のある酸を用いると鉄の表面の不動態化するため、強い酸化力を有する酸は好ましくない。
As described above, in one aspect of the present invention, by making the pH less than 2, preferably less than 1.6, the electrostatic interaction between the glass surface and the magnetic foreign material is reduced to reduce the iron that is the magnetic foreign material. Ionization is caused to float from the end face of the glass substrate, and ionized iron is chelated to prevent reattachment to the glass. Then, it is removed by washing in a subsequent rinsing step. Also in the rinsing step, the chemical solution used for rinsing may have the same pH as the chemical solution used for reduction or chelation. For example, the chemical solution used for rinsing is preferably pH 3 or lower, or within a pH range of 2-3.
Even in an acidic chemical solution, if an acid having strong oxidizing power such as concentrated nitric acid or concentrated sulfuric acid is used, the surface of iron is passivated, and thus an acid having strong oxidizing power is not preferable.

また、本発明のガラス基板の製造方法では、鉄の価電子数をFe2+とした上で、錯体を形成することが好ましい。錯体の安定性では、鉄の価電子数はFe2+よりもFe3+の方が高い安定性を持つ。しかし、ガラス端面に付着した離れた鉄成分をFe3+に還元する場合、端面から離れた鉄成分を完全にキレートできなかった場合、リンス工程においてガラス基板の表面で不動態化して再付着してしまうおそれがある。
そのため、本発明では、鉄の錯体を除去すると共に、その他異物の除去を行うリンス工程において、リンスのために洗浄液のpHを酸性から中性側に移行したとしても、鉄異物をFe2+に還元していることで、Fe3+に比べてガラス表面での不動態化を抑制でき、鉄異物がガラス基板の表面に再付着することを抑制する。つまり、端面に付着していた鉄異物が表面に回りこむことを抑制する。
Moreover, in the manufacturing method of the glass substrate of this invention, it is preferable to form a complex after setting the valence electron number of iron to Fe <2+> . Regarding the stability of the complex, Fe 3+ has higher stability than Fe 2+ in the number of valence electrons of iron. However, when reducing the iron component adhering to the glass end face to Fe 3+ , if the iron component distant from the end face could not be chelated completely, it was passivated and reattached on the surface of the glass substrate in the rinsing process. There is a risk that.
Therefore, in the present invention, in the rinsing step of removing the iron complex and removing other foreign substances, the iron foreign substances are reduced to Fe 2+ even if the pH of the cleaning liquid is shifted from acidic to neutral for rinsing. As a result, passivation on the glass surface can be suppressed as compared with Fe 3+ , and iron foreign matter can be prevented from reattaching to the surface of the glass substrate. That is, the iron foreign matter adhering to the end face is prevented from entering the surface.

また、前記還元効果を有する薬液は、少なくとも標準酸化還元電位が−0.35V以下の酸性薬液を含むことが好ましい。Fe3+イオンの還元には−0.77V必要とされているが、キレート効果を持つ薬液の使用することによりFe3+イオンの還元電位を下げる事ができる。つまり、上記設定電位以上でも還元効果を得ることができ、端面洗浄が可能になる。上記実施例では、シュウ酸を用いている。なお、Fe3+イオンの還元には−0.77V必要とするため、より高い洗浄性を得るために、−0.8V以下の酸性薬液の標準酸化電位を有する薬液を用いても良い。 Moreover, it is preferable that the chemical | medical solution which has the said reduction effect contains an acidic chemical | medical solution with a standard oxidation-reduction potential of -0.35V or less at least. The reduction of Fe 3+ ions are needed -0.77V, but can be lowered reduction potential of Fe 3+ ions by the use of a chemical solution with a chelating effect. That is, a reduction effect can be obtained even at the set potential or higher, and end face cleaning becomes possible. In the above embodiment, oxalic acid is used. In addition, since -0.77V is required for reduction | restoration of Fe3 + ion, in order to obtain higher detergency, you may use the chemical | medical solution which has the standard oxidation potential of -0.8V or less acidic chemical | medical solution.

また、キレート剤としては、2座配位以上を行うキレート剤が好ましい。具体的には、Feの正八面体の六配位の鉄イオン中心から、xyz軸方向に 3Å以下の距離に電子供与基を有する分子構造を備えることが好ましい。具体例としては、前記キレート効果を有する薬液は、サリチル酸、フタル酸、グリオキシル酸、シュウ酸、フマル酸、マレイン酸、マロン酸、コハク酸、グルコン酸、トランス−アコニット酸、タルタロン酸、乳酸、ピルビン酸、クエン酸、イソクエン酸、グリコール酸、リンゴ酸、酒石酸等の有機酸。ニトリロ3酢酸、エチレンジアミン4酢酸、ヒドロキシエチルエチレンジアミン3酢酸、ジエチレントリアミン5酢酸等のアミノカルボン酸。セリン、アスパラギン酸、グルタミン酸、システイン等のアミノ酸から選択される1種以上とする。   Moreover, as a chelating agent, the chelating agent which performs bidentate coordination or more is preferable. Specifically, it is preferable to have a molecular structure having an electron donating group at a distance of 3 mm or less in the xyz-axis direction from the hexacoordinate iron ion center of the Fe octahedron. As a specific example, the chemical solution having the chelating effect is salicylic acid, phthalic acid, glyoxylic acid, oxalic acid, fumaric acid, maleic acid, malonic acid, succinic acid, gluconic acid, trans-aconitic acid, tartalonic acid, lactic acid, pyruvin. Organic acids such as acid, citric acid, isocitric acid, glycolic acid, malic acid, tartaric acid. Aminocarboxylic acids such as nitrilotriacetic acid, ethylenediaminetetraacetic acid, hydroxyethylethylenediaminetriacetic acid, and diethylenetriaminepentaacetic acid; One or more selected from amino acids such as serine, aspartic acid, glutamic acid, and cysteine are used.

端面の洗浄は、物理的洗浄を伴う洗浄であることが好ましい。ガラス基板の端面から離れた異物を確実に端面から除去するために、薬液を含みまたは保持した状態でガラス基板の端面に接触し、端面を洗浄する洗浄冶具が用いられるとよい。例えば、ディスクス状のスポンジやブラシなどが好ましい。   The end face is preferably washed with physical washing. In order to surely remove the foreign matter away from the end surface of the glass substrate, a cleaning jig for cleaning the end surface by contacting the end surface of the glass substrate while containing or holding a chemical solution may be used. For example, a disc-shaped sponge or brush is preferable.

本発明を用いて製造されるガラス基板としては、ディスプレイ用途に限定されるものではなく、その他のガラス基板の製造に適用されてもよい。また、ロール状に巻き取られる薄板のガラス基板に適用しても良い。ロール状に巻き取られるガラス基板では、成形されたガラスシートの両側部が切断され、この両側部の切断面に対して加工され、この切断面に対しての加工、洗浄が行われる。   As a glass substrate manufactured using this invention, it is not limited to a display use, You may apply to manufacture of another glass substrate. Moreover, you may apply to the thin glass substrate wound up by roll shape. In the glass substrate wound up in a roll shape, both side portions of the formed glass sheet are cut, processed on the cut surfaces of the both side portions, and processing and washing are performed on the cut surfaces.

上記実施形態では、実施形態および図4で説明した研磨装置40を用いて、回転軸35に取り付けられた磁力体36a、36b間に保持した研磨メディアによって端面の鏡面研磨加工をしたが、他の形態により磁性体砥粒とガラス基板の端面を接触させて研磨したガラスの洗浄にも用いることができる。図8に他の形態の研磨装置180を示す。磁性体を含む研磨スラリー187が供給部184から、図示しない溝を有する回転ホイール182の溝に供給され、回転ホイールに設けられる磁力体185により、磁性体を含む研磨スラリー187を保持して移動させる。磁性体を含む研磨スラリー187は、回転に伴いガラス板の端面に接触して、回収部186により回収される。   In the above embodiment, the polishing apparatus 40 described in the embodiment and FIG. 4 is used to perform mirror polishing of the end face by the polishing media held between the magnetic bodies 36a and 36b attached to the rotary shaft 35. Depending on the form, it can also be used for cleaning glass polished by bringing the magnetic abrasive grains into contact with the end face of the glass substrate. FIG. 8 shows another type of polishing apparatus 180. A polishing slurry 187 containing a magnetic material is supplied from a supply unit 184 to a groove of a rotating wheel 182 having a groove (not shown), and the polishing slurry 187 containing a magnetic material is held and moved by a magnetic body 185 provided on the rotating wheel. . The polishing slurry 187 containing a magnetic material comes into contact with the end surface of the glass plate as it rotates and is collected by the collection unit 186.

また、本発明を用いて製造されるガラス板、ガラス基板としては、ディスプレイ用途に限られるものではないが、ディスプレイ用途に好適に用いることができる。本発明を用いて製造されるディスプレイ用ガラス基板としては、駆動用のTFTパネル用ガラス基板に限定されるものではなく、例えば、カラーフィルタ用ガラス基板や、カバーガラス用のガラス基板なども含む。また、ディスプレイ装置としては、液晶ディスプレイや有機ELディスプレイに限定されるものではなく、その他のディスプレイ用途であってもよい。   The glass plate and glass substrate produced using the present invention are not limited to display applications, but can be suitably used for display applications. The glass substrate for display manufactured using the present invention is not limited to the glass substrate for driving TFT panel, and includes, for example, a glass substrate for color filter, a glass substrate for cover glass, and the like. Further, the display device is not limited to a liquid crystal display or an organic EL display, and may be used for other displays.

Claims (12)

研磨加工された処理部を有するガラス板の製造方法において、前記処理部は磁性体を含む研磨スラリーに接触することにより研磨され、研磨された前記処理部に洗浄液を供給して、前記処理部の表面と前記処理部に付着した前記磁性体の表面とを同極に帯電させて前記処理部と前記磁性体とを反発させ、前記磁性体を洗浄液に移行させる、ガラス板の製造方法。   In the method of manufacturing a glass plate having a polished processing unit, the processing unit is polished by contacting a polishing slurry containing a magnetic material, and a cleaning liquid is supplied to the polished processing unit, so that the processing unit A method for producing a glass plate, wherein the surface and the surface of the magnetic material attached to the processing unit are charged to the same polarity, the processing unit and the magnetic material are repelled, and the magnetic material is transferred to a cleaning liquid. 溶融ガラスからガラスシートを成形する成形工程と、前記ガラスシートを切断してガラス基板を形成する切断工程と、前記ガラス基板の端面に、磁力体に保持された磁性体を含む研磨スラリーを接触させることで鏡面研磨する端面処理工程と、
前記鏡面研磨する工程において前記端面に接触させた前記磁性体を起因とする鉄系微粒子をpH2以下の酸性薬液を用いて洗浄する洗浄工程を有し、
前記洗浄工程は、前記鉄系微粒子を構成するFe3+をFe2+イオンに還元し、前記Fe2+イオンの2座配位以上により錯体を形成することを特徴とするガラス基板の製造方法。
A forming step of forming a glass sheet from molten glass, a cutting step of cutting the glass sheet to form a glass substrate, and an end surface of the glass substrate are brought into contact with a polishing slurry containing a magnetic body held by a magnetic body End surface processing step for mirror polishing,
A cleaning step of cleaning the iron-based fine particles caused by the magnetic substance brought into contact with the end surface in the mirror polishing step using an acidic chemical solution having a pH of 2 or less;
In the method of manufacturing a glass substrate, the cleaning step includes reducing Fe 3+ constituting the iron-based fine particles into Fe 2+ ions to form a complex by bidentate coordination or more of the Fe 2+ ions.
前記酸性薬液は、キレート効果を有する薬液を含む、2種以上の薬液からなる請求項2に記載のガラス基板の製造方法。   The said acidic chemical | medical solution is a manufacturing method of the glass substrate of Claim 2 which consists of 2 or more types of chemical | medical solutions containing the chemical | medical solution which has a chelate effect. 前記洗浄工程は、前記端面に接触して、前記端面を物理的に洗浄するための洗浄冶具を備える、請求項2又は3に記載のガラス基板の製造方法。   The said cleaning process is a manufacturing method of the glass substrate of Claim 2 or 3 provided with the cleaning jig for contacting the said end surface and physically cleaning the said end surface. 前記キレート効果を有する薬液は、Feの正八面体の六配位の鉄イオン中心からxyz軸方向に3Å以下の距離に電子供与基を有する分子構造を持つ請求項2から4のいずれかに記載のガラス基板の製造方法。   5. The chemical solution having a chelate effect according to claim 2, wherein the chemical solution has a molecular structure having an electron donating group at a distance of 3 mm or less in the xyz axis direction from the hexacoordinate iron ion center of Fe octahedron. A method for producing a glass substrate. 前記キレート効果を有する薬液は、サリチル酸、フタル酸、グリオキシル酸、シュウ酸、フマル酸、マレイン酸、マロン酸、コハク酸、グルコン酸、トランス−アコニット酸、タルタロン酸、乳酸、ピルビン酸、クエン酸、イソクエン酸、グリコール酸、リンゴ酸、酒石酸等の有機酸、ニトリロ3酢酸、エチレンジアミン4酢酸、ヒドロキシエチルエチレンジアミン3酢酸、ジエチレントリアミン5酢酸等のアミノカルボン酸、セリン、アスパラギン酸、グルタミン酸、システイン等のアミノ酸から選択される1種以上とする、請求項4又は5に記載のガラス基板の製造方法。   The chemical solution having the chelating effect is salicylic acid, phthalic acid, glyoxylic acid, oxalic acid, fumaric acid, maleic acid, malonic acid, succinic acid, gluconic acid, trans-aconitic acid, tartalonic acid, lactic acid, pyruvic acid, citric acid, From organic acids such as isocitric acid, glycolic acid, malic acid and tartaric acid, aminocarboxylic acids such as nitrilotriacetic acid, ethylenediaminetetraacetic acid, hydroxyethylethylenediaminetriacetic acid and diethylenetriaminepentaacetic acid, amino acids such as serine, aspartic acid, glutamic acid and cysteine The manufacturing method of the glass substrate of Claim 4 or 5 made into 1 or more types selected. 前記洗浄工程では、シュウ酸、酒石酸、又はクエン酸から選択され、濃度が0.5wt%以上に調整された薬液を用いる請求項6に記載のガラス基板の製造方法。   The manufacturing method of the glass substrate of Claim 6 using the chemical | medical solution selected in the said washing | cleaning process from oxalic acid, tartaric acid, or a citric acid, and the density | concentration was adjusted to 0.5 wt% or more. 前記洗浄工程の後工程に第1リンス工程、第2リンス工程を有し、前記第1リンス工程ではpH3以下の薬液を用い、前記第2リンス工程ではpH3を超える薬液を用いる請求項2から7のいずれかに記載のガラス基板の製造方法。   The first rinsing step and the second rinsing step are included in the subsequent steps of the washing step, a chemical solution having a pH of 3 or less is used in the first rinsing step, and a chemical solution having a pH of more than 3 is used in the second rinsing step. The manufacturing method of the glass substrate in any one of. ディスプレイ用ガラス基板の製造方法において、溶融ガラスからガラスシートを成形する成形工程と、前記ガラスシートを切断してガラス基板を形成する切断工程と、
前記ガラス基板の端面に、磁力体に保持された磁性体を含む研磨スラリーを接触させることで鏡面研磨処理する端面処理工程と、前記端面酸性薬液で洗浄する洗浄工程を有し、
前記端面処理工程は、前記回転軸の軸方向に間隔をあけて配置され、前記回転軸と共に回転する第1磁力体及び第2磁力体を備えた磁場形成部と、前記磁性体砥粒と液体により構成され、前記第1磁力体と前記第2磁力体との間に形成された磁場によって保持される磁性体を含む研磨スラリーを備えた研磨ホイールを用いて、前記研磨スラリー中の前記磁性体の濃度を85%以上に調整して、前記回転軸を回転させた状態で前記磁性体と前記ガラス基板の端面と接触し、
前記洗浄工程は、前記端面処理工程において前記ガラス端面に付着した前記磁性体を起因とする鉄系微粒子を除去するために、pH1.6以下の酸性薬液を用いて前記鉄系微粒子を構成するFe3+をFe2+イオンに還元し、前記Feイオンの2箇所以上が配位して錯体を形成することを特徴とするディスプレイ用ガラス基板の製造方法。
In the method for manufacturing a glass substrate for display, a forming step of forming a glass sheet from molten glass, a cutting step of cutting the glass sheet to form a glass substrate,
An end surface processing step for mirror polishing by bringing a polishing slurry containing a magnetic body held by a magnetic body into contact with the end surface of the glass substrate; and a cleaning step for cleaning with the end surface acidic chemical solution,
The end face processing step includes a magnetic field forming unit provided with a first magnetic body and a second magnetic body that are arranged at an interval in the axial direction of the rotary shaft and rotate together with the rotary shaft, the magnetic abrasive grains, and the liquid The magnetic body in the polishing slurry using a polishing wheel comprising a polishing slurry comprising a magnetic body held by a magnetic field formed between the first magnetic body and the second magnetic body And adjusting the concentration of the magnetic material to 85% or more and contacting the end face of the glass substrate with the magnetic body in a state where the rotating shaft is rotated,
In the cleaning step, in order to remove the iron-based fine particles caused by the magnetic substance attached to the glass end surface in the end surface treatment step, Fe iron constituting the iron-based fine particles using an acidic chemical solution having a pH of 1.6 or less. A method for producing a glass substrate for a display, wherein 3+ is reduced to Fe 2+ ions, and two or more of the Fe ions are coordinated to form a complex.
前記端面処理工程は、前記鏡面研磨処理の前に、前記ガラス基板の端面を研削する研削処理を有し、
前記研削処理は、砥粒を第1の結合剤で固めた第1の研削ホイールを用いて前記ガラス基板の端面を研削する第1の研削処理と、
前記第1の研削処理の後、砥粒を前記第1の結合材よりも硬度及び剛性が低い第2の結合剤で固めた第2の研削ホイールを用いて前記ガラス基板の端面を研削する第2の研削処理を有する、請求項9に記載のガラス基板の製造方法。
The end surface processing step has a grinding process for grinding the end surface of the glass substrate before the mirror polishing process,
The grinding process includes a first grinding process for grinding an end surface of the glass substrate using a first grinding wheel in which abrasive grains are hardened with a first binder.
After the first grinding process, the end surface of the glass substrate is ground using a second grinding wheel in which abrasive grains are hardened with a second binder having lower hardness and rigidity than the first binder. The manufacturing method of the glass substrate of Claim 9 which has 2 grinding processes.
前記第1の結合剤は金属結合剤であり、前記第2の結合剤は樹脂結合剤である、
請求項10に記載のガラス基板の製造方法。
The first binder is a metal binder and the second binder is a resin binder;
The manufacturing method of the glass substrate of Claim 10.
前記研削処理において、前記ガラス基板の端面は、JIS B 0601−1994で規定される算術平均粗さRaが0.2μm以下となるように研削され、
前記鏡面研磨処理において、前記ガラス基板の端面は、前記算術平均粗さRaが0.01μm未満になるように研磨される、請求項10または請求項11に記載のガラス基板の製造方法。
In the grinding treatment, the end face of the glass substrate is ground so that the arithmetic average roughness Ra specified by JIS B 0601-1994 is 0.2 μm or less,
12. The method of manufacturing a glass substrate according to claim 10, wherein in the mirror polishing process, an end surface of the glass substrate is polished so that the arithmetic average roughness Ra is less than 0.01 μm.
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