JP2014035449A - 投影露光装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】反射型マスクMに形成されたパターンを感応基板P上に投影露光する。反射型マスクと感応基板との間に反射型マスクのパターンの中間像を形成する第1結像光学系PF1と、中間像を感応基板上に再結像する第2結像光学系PF2とを有する投影光学系PLと、反射型マスクのパターンを照明するための照明光を生成する照明系ILと、第1結像光学系と第2結像光学系との間で中間像が形成される空間に配置され、照明系からの照明光が第1結像光学系を介して反射型マスクのパターンに向かうように導くとともに、反射型マスクのパターンからの結像光が第1結像光学系を介して第2結像光学系に向かうように導く光分割器DLと、を備えた。
【選択図】図1
Description
特許文献1に開示されたプロセスでは、印刷方式(インクジェット等の液滴法)によって、一連のパターニング工程を実現しているが、要求されるパターニング微細度(線幅等)が数十μmから数μm程度に高まると、ロール方式のプロセスにおいても、光パターニング(露光技術)が必要になるものと予想されている。
その場合、一定速度で送られる可撓性の長尺状のフィルムやシートの光感応層に、有機EL等による表示デバイス(ディスプレーパネル)用のマスクパターンを連続的に繰り返して忠実に転写する投影型の露光装置が必要であり、そのような露光装置として、円筒状の透過型マスクを使った露光技術が提案されている(特許文献2参照)。
また、連続的な繰り返し露光の為に、反射型の円筒状マスクを使って、半導体ウェハ上の複数のショット領域を走査露光する露光装置も提案されている(特許文献3参照)。
透過型の円筒マスクの場合には、特許文献2に開示されているように、円筒マスクの内部を中空にして露光用の光(照明光やマスクパターンからの結像光)を円筒マスクの外周方向に向ける必要がある為、円筒マスクの構造、露光装置側の構成が複雑になる傾向がある。一方、反射型の円筒マスクを用いる場合には、マスクの外周空間に、露光用の照明光を照射する照明光学系と、外周面に形成されたパターンからの反射光を基板(フィルムやシート)に向けて投影する投影光学系とを設ける必要があり、要求される解像力や転写忠実度等を満たす為には、同様に、装置側の構成が複雑になる懸念がある。
まず、投影露光装置の第1実施形態について、図1を参照して説明する。
図1は、投影露光装置を原理的に示す概略的な構成図である。
なお、本実施形態では、鉛直方向をZ方向とし、マスク保持部MU及び基板保持部PUの回転軸線と平行な方向をY方向とし、Z方向及びY方向と直交する方向をX方向として説明する。
次に、投影露光装置の第2実施形態について、図2を参照して説明する。
この図において、図1に示す第1実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
上記第1実施形態では、投影露光装置EXを原理的に説明したが、第2実施形態では投影露光装置EXの具体的な構成について説明する。
次に、投影露光装置の第3実施形態について、図3を参照して説明する。
この図において、図2に示す第2実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
上記第2実施形態では、マスク保持部MUが円筒面に沿って反射型マスクMを保持する構成としたが、第3実施形態では、無端帯状の反射型マスクMを周回させる構成について説明する。
他の構成は、上記第2実施形態と同様である。
この構成を採ることにより、感応基板Pに対する像面形状を補正するための調整部についても不要とすることができる。
このようなステージSTは、図4中の無端ベルト状のマスクMを、先の図1や図2のような円筒状のマスクMに置き換えた場合(円筒面上のパターンを投影露光する場合)であっても、同様に適用可能である。
次に、投影露光装置の第4実施形態について、図5を参照して説明する。
この図において、図2に示す第2実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
上記第2実施形態では、光源LSから射出された光のうち、S偏光の光を用いてマスクMのパターンを感応基板Pに投影露光したが、本実施形態では光源LSからS偏光及びP偏光の光を射出させ、各偏光の光をそれぞれ用いて投影露光する構成について説明する。
次に、投影露光装置の第5実施形態について、図6及び図7を参照して説明する。
これらの図において、図5に示す第4実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
上記第4実施形態では、第1露光部EX1においてマスクMのパターンを感応基板Pに投影露光し、第2露光部EX2において第2マスクM2の第2パターンを第2感応基板P2に投影露光する構成としたが、本実施形態では、第2露光部EX2においてもマスクMのパターンを感応基板Pに投影露光する場合について説明する。
図6及び図7に示すように、本実施形態における投影露光装置EXは、無端帯状(無限軌道状)の反射型マスクMを周回させる周回保持部MUa、MUbと、感応基板PをXY平面に沿って非接触で支持するステージSTと、2つの第1露光部EX1と2つの第2露光部EX2とを備えている。
なお、感応基板Pを支持する構成としては、マスクMと同様に、無端帯状(無限軌道状)の感応基板Pを周回させる周回保持部を設ける構成としてもよい。
次に、上記の投影露光装置EXを備えたデバイス製造システムについて、図8を参照して説明する。
図8は、デバイス製造システム(フレキシブル・ディスプレー製造ライン)SYSの一部の構成を示す図である。ここでは、供給ロールFR1から引き出された可撓性の基板P(シート、フィルム等)が、順次、n台の処理装置U1,U2,U3,U4,U5,…Unを経て、回収ロールFR2に巻き上げられるまでの例を示している。上位制御装置CONTは、製造ラインを構成する各処理装置U1〜Unを統括制御する。
このように、本発明の各実施形態のような露光装置では、円筒状、又は無端ベルト状のマスクの外周空間、或いは内側の空間内に照明光学系を設ける必要がなくなり、装置構成をシンプル化することができる。
Claims (12)
- 反射型マスクに形成されたパターンを感応基板上に投影露光する投影露光装置であって、
前記反射型マスクと前記感応基板との間に前記反射型マスクのパターンの中間像を形成する第1結像光学系と、該中間像を前記感応基板上に再結像する第2結像光学系とを有する投影光学系と、
前記反射型マスクのパターンを照明するための照明光を生成する照明系と、
前記第1結像光学系と前記第2結像光学系との間で前記中間像が形成される空間に配置され、前記照明系からの照明光が前記第1結像光学系を介して前記反射型マスクのパターンに向かうように導くとともに、前記反射型マスクのパターンからの結像光が前記第1結像光学系を介して前記第2結像光学系に向かうように導く光分割器と、
を備えた投影露光装置。 - 所定の軸線周りに回転可能で、前記反射型マスクを円筒面に沿って保持するマスク保持部を備える請求項1記載の投影露光装置。
- 前記マスク保持部と前記光分割器との間に配置され前記反射型マスクのパターンの像面形状を前記円筒面の形状に応じて調整する調整部を備える請求項2記載の投影露光装置。
- 前記反射型マスクが接触保持されるマスク保持面を備え、所定の軸線周りに周回可能な周回保持部を備える請求項1記載の投影露光装置。
- 前記周回保持部は、無端帯状に形成された前記反射型マスクを保持する請求項4記載の投影露光装置。
- 第2反射型マスクに形成された第2パターンを第2感応基板上に投影露光する為に、前記第2反射型マスクと前記第2感応基板との間に前記第2パターンの中間像を形成する第3結像光学系と、該中間像を前記第2感応基板上に再結像する第4結像光学系とを有する第2投影光学系と、
前記光分割器に入射した前記照明系からの照明光のうち、前記反射型マスクに向かわない照明光を導入して、前記第2反射型マスクの第2パターンを照明するための第2照明光を生成する第2照明系と、
前記第3結像光学系と前記第4結像光学系との間で前記中間像が形成される空間に配置され、前記第2照明系からの第2照明光が前記第3結像光学系を介して前記第2反射型マスクに向かうように導くとともに、前記第2反射型マスクのパターンからの結像光が前記第3結像光学系を介して前記第4結像光学系に向かうように導く第2光分割器と、
を備える請求項1から5のいずれか一項に記載の投影露光装置。 - 前記反射型マスクのパターンと前記第2反射型マスクの第2パターンとを共に保持するマスク保持部を備え、
前記第2感応基板は、前記感応基板であり、
前記投影光学系の投影領域と前記第2投影光学系の投影領域とは、前記感応基板の移動方向に離間し、且つ前記移動方向と直交する方向に関して一部重複して配置される請求項6記載の投影露光装置。 - 回転可能な円筒マスクの周面に沿って形成された表示デバイス用の反射型のパターンを、可撓性の長尺シート基板の感応表面に連続的に繰り返し投影露光する投影露光装置であって、
所定の曲率半径で湾曲した外周面を有し、該外周面に倣って前記シート基板を支持する基板支持部材と、
前記円筒マスクと前記基板支持部材との間に、前記反射型のパターンの中間像を形成する第1結像光学系と、
前記基板支持部材で支持された前記シート基板の感応表面上に、前記中間像を再結像する第2結像光学系と、
前記円筒マスクの反射型のパターンを照明するための照明光を生成する照明系と、
前記第1結像光学系と前記第2結像光学系との間で前記中間像が形成される空間に配置され、前記照明系からの照明光が前記第1結像光学系を介して前記円筒マスクに向かうように導くとともに、前記反射型のパターンからの反射光が前記第1結像光学系を介して前記第2結像光学系に向かうように導く光分割器と、
を備えた投影露光装置。 - 前記光分割器は、偏光ビームスプリッタを含む請求項8記載の投影露光装置。
- 前記基板支持部材は、前記外周面として所定の中心軸から一定半径の円筒面を有し、該中心軸の回りに回転可能な円筒ドラムで構成される請求項9記載の投影露光装置。
- 前記基板支持部材の外周面の曲率半径は0.5m〜無限大の任意の値に設定され、前記シート基板の感応表面を、湾曲面または平坦面にして支持する請求項9記載の投影露光装置。
- 請求項1から11のいずれか一項に記載の投影露光装置を用いて基板を露光することと、 露光された基板を現像することと、を含むデバイス製造方法。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195530A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Nikon Corp | 基板処理装置、デバイス製造システム及びデバイス製造方法 |
| WO2017094770A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 株式会社ニコン | 露光装置、露光システム、基板処理方法、および、デバイス製造装置 |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07294819A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-10 | Nikon Corp | 反射屈折投影光学系 |
| US20010022691A1 (en) * | 2000-02-05 | 2001-09-20 | Gerd Furter | Projection exposure system having a reflective reticle |
| JP2003241099A (ja) * | 2002-12-02 | 2003-08-27 | Nikon Corp | 反射屈折投影光学系、並びに投影露光方法及び装置 |
| WO2005096098A2 (en) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Carl Zeiss Smt Ag | Projection objective, projection exposure apparatus and reflective reticle for microlithography |
| JP2007299918A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Nikon Corp | 露光装置及び方法、露光用マスク、並びにデバイス製造方法 |
| WO2008029917A1 (en) * | 2006-09-08 | 2008-03-13 | Nikon Corporation | Mask, exposure apparatus and device manufacturing method |
| JP2010204588A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-16 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法 |
| WO2011129369A1 (ja) * | 2010-04-13 | 2011-10-20 | 株式会社ニコン | 露光装置、基板処理装置及びデバイス製造方法 |
| JP2011221537A (ja) * | 2010-04-13 | 2011-11-04 | Nikon Corp | 露光装置、基板処理装置及びデバイス製造方法 |
| JP2011221538A (ja) * | 2010-04-13 | 2011-11-04 | Nikon Corp | マスクケース、マスクユニット、露光装置、基板処理装置及びデバイス製造方法 |
-
2012
- 2012-08-08 JP JP2012176501A patent/JP6069941B2/ja active Active
Patent Citations (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07294819A (ja) * | 1994-04-28 | 1995-11-10 | Nikon Corp | 反射屈折投影光学系 |
| US5808805A (en) * | 1994-04-28 | 1998-09-15 | Nikon Corporation | Exposure apparatus having catadioptric projection optical system |
| US20010022691A1 (en) * | 2000-02-05 | 2001-09-20 | Gerd Furter | Projection exposure system having a reflective reticle |
| JP2001297980A (ja) * | 2000-02-05 | 2001-10-26 | Carl Zeiss:Fa | マイクロリソグラフィーの投影露光装置 |
| JP2003241099A (ja) * | 2002-12-02 | 2003-08-27 | Nikon Corp | 反射屈折投影光学系、並びに投影露光方法及び装置 |
| WO2005096098A2 (en) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Carl Zeiss Smt Ag | Projection objective, projection exposure apparatus and reflective reticle for microlithography |
| JP2007531024A (ja) * | 2004-03-30 | 2007-11-01 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | 投影対物レンズ、マイクロリソグラフィのための投影露光装置及び反射レチクル |
| JP2007299918A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Nikon Corp | 露光装置及び方法、露光用マスク、並びにデバイス製造方法 |
| WO2008029917A1 (en) * | 2006-09-08 | 2008-03-13 | Nikon Corporation | Mask, exposure apparatus and device manufacturing method |
| JP2010204588A (ja) * | 2009-03-06 | 2010-09-16 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法 |
| WO2011129369A1 (ja) * | 2010-04-13 | 2011-10-20 | 株式会社ニコン | 露光装置、基板処理装置及びデバイス製造方法 |
| JP2011221537A (ja) * | 2010-04-13 | 2011-11-04 | Nikon Corp | 露光装置、基板処理装置及びデバイス製造方法 |
| JP2011221538A (ja) * | 2010-04-13 | 2011-11-04 | Nikon Corp | マスクケース、マスクユニット、露光装置、基板処理装置及びデバイス製造方法 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195530A (ja) * | 2012-03-16 | 2013-09-30 | Nikon Corp | 基板処理装置、デバイス製造システム及びデバイス製造方法 |
| WO2017094770A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2017-06-08 | 株式会社ニコン | 露光装置、露光システム、基板処理方法、および、デバイス製造装置 |
| JPWO2017094770A1 (ja) * | 2015-11-30 | 2018-09-20 | 株式会社ニコン | 露光装置、露光システム、基板処理方法、および、デバイス製造装置 |
| CN108604063A (zh) * | 2015-11-30 | 2018-09-28 | 株式会社尼康 | 曝光装置、曝光系统、基板处理方法、以及元件制造装置 |
| CN109375475A (zh) * | 2015-11-30 | 2019-02-22 | 株式会社尼康 | 基板处理方法以及元件制造装置 |
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| Publication number | Publication date |
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