JP2014028458A - Image forming apparatus, and method for setting dither pattern - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、画像の筋を目立たなくする技術に関する。 The present invention relates to a technique for making an image stripe inconspicuous.
下記特許文献1には、LEDチップ間の距離に応じて、境界部における発光素子の光量を補正することで、白筋を目立たなくさせる技術が開示されている。下記特許文献2には、画像の階調を、斜め線の繰り返しパターンからなるディザパターンにより表すようにした技術が提案されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-151620 discloses a technique for making white stripes inconspicuous by correcting the light amount of the light emitting element at the boundary according to the distance between the LED chips.
画品質を高めるには、白筋や色筋を極力目立たなくすることが好ましい。ディザパターンを用いて画像を形成する際、ディザパターンの角度に着目したり、ディザパターン間に存在する空白部の面積変動比、詳しくは素子間距離の変化に対する面積変動比に着目したりして、チップ端に位置する発光素子の光量を補正することで、チップ端に対応する箇所の画素の濃度を、周辺部の画素の濃度に近づけることが出来、画像の筋を更に目立たなく出来る可能性がある。画像形成装置は、高速に画像形成を行うための高速画像形成モードや、高画質の画像形成を行うための高画質画像形成モード等、複数の画像形成モードを有することが主流であり、複数の画像形成モード毎に適したディザパターンが用意されることが多い。上記のように、ディザパターンの角度や面積変動比に着目してチップ端に位置する発光素子の光量を補正する場合、用意されたディザパターン毎に補正値が決定するが、ディザパターン毎の補正値の違いがさほど画質に影響しない場合であっても補正値をそれぞれ持つとなると、画像形成装置のメモリを浪費する虞があった。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、画像の筋を目立たなくしつつ、メモリの消費を抑制することを目的とする。
In order to improve the image quality, it is preferable to make the white stripes and color stripes as inconspicuous as possible. When forming an image using a dither pattern, pay attention to the angle of the dither pattern, or pay attention to the area fluctuation ratio of the blank portion existing between the dither patterns, specifically, the area fluctuation ratio with respect to the change in the distance between elements. By correcting the light intensity of the light emitting element located at the chip edge, the density of the pixel at the location corresponding to the chip edge can be made closer to the density of the peripheral pixel, and the image streak may be less noticeable There is. An image forming apparatus mainly has a plurality of image forming modes such as a high-speed image forming mode for forming images at high speed and a high-quality image forming mode for forming high-quality images. A dither pattern suitable for each image forming mode is often prepared. As described above, when correcting the light amount of the light emitting element located at the chip edge by paying attention to the dither pattern angle and area variation ratio, the correction value is determined for each prepared dither pattern. Even if the difference in values does not significantly affect the image quality, if each has a correction value, the memory of the image forming apparatus may be wasted.
The present invention has been completed based on the above-described circumstances, and an object of the present invention is to suppress the consumption of memory while making the streak of an image inconspicuous.
本明細書によって開示される画像形成装置は、複数の発光素子を有する発光チップを主走査方向に並べて配置した発光アレイを露光装置として備え、前記発光アレイにより露光される感光体に形成される静電潜像を用いて被記録媒体に画像を形成する画像形成部と、前記画像の階調を表すディザパターンであって、前記画像形成部によって画像が形成される時に使用されるディザパターンが複数格納されるメモリと、制御部と、を備え、前記制御部は、前記発光チップの端部に対応する画素の周辺画素に対する濃度差の発生しや易さを表すパラメータの値が第1値である第1ディザパターンを構成する画素のうち、前記発光チップの端部に対応する画素の濃度が周辺画素の濃度に近づくように、前記第1値に応じて、前記端部に位置する前記発光素子の光量を補正するため第1補正値を算出する第1算出処理と、前記発光チップの端部に対応する画素の周辺画素に対する濃度差の発生しや易さを表すパラメータの値が第2値であり、かつ前記第1ディザパターンと同一色に使用される第2ディザパターンを構成する画素のうち、前記発光チップの端部に対応する画素の濃度が周辺画素の濃度に近づくように、前記第2値に応じて、前記端部に位置する前記発光素子の光量を補正するため第2補正値を算出する第2算出処理と、前記第1算出処理にて算出された前記第1補正値と、前記第2算出処理にて算出された第2補正値とに基づいて、共通補正値を算出する共通補正値算出処理と、前記共通補正値算出処理にて算出された前記共通補正値を前記メモリに格納する格納処理と、
前記第1ディザパターンを使用して画像を形成する第1画像形成モード、前記第2ディザパターンを使用して画像を形成する第2画像形成モードの双方の画像形成モードで、前記格納処理にて前記メモリに格納された前記共通補正値を用いて、前記端部に位置する前記発光素子の光量を補正する補正処理と、を行う。このようにすれば、用意されたディザパターン毎に異なる補正値を使用する場合に比べて、メモリに記憶する補正値を減らすことが出来る。そのため、メモリの消費を抑制することが出来る。また、異なるディザパターンを使用する毎に、補正値を変更する必要がないため、動作速度を高速にできる。
An image forming apparatus disclosed in the present specification includes, as an exposure apparatus, a light emitting array in which light emitting chips having a plurality of light emitting elements are arranged in the main scanning direction, and is formed on a photosensitive member exposed by the light emitting array. An image forming unit that forms an image on a recording medium using an electrostatic latent image, and a dither pattern that represents the gradation of the image, and a plurality of dither patterns that are used when the image is formed by the image forming unit A memory to be stored, and a control unit, wherein the control unit has a first value of a parameter indicating the ease of occurrence of a density difference with respect to a peripheral pixel of a pixel corresponding to an end of the light emitting chip. Among the pixels constituting a certain first dither pattern, the pixel located at the end according to the first value so that the density of the pixel corresponding to the end of the light emitting chip approaches the density of a peripheral pixel. A first calculation process for calculating a first correction value for correcting the amount of light of the optical element, and a parameter value representing the ease of occurrence of a density difference with respect to peripheral pixels of the pixel corresponding to the end of the light emitting chip are Among the pixels constituting the second dither pattern that is binary and used for the same color as the first dither pattern, the density of the pixel corresponding to the edge of the light emitting chip is made closer to the density of the surrounding pixels. In accordance with the second value, a second calculation process for calculating a second correction value for correcting the light amount of the light emitting element located at the end, and the first calculation process calculated by the first calculation process. Based on the correction value and the second correction value calculated in the second calculation process, a common correction value calculation process for calculating a common correction value, and the common correction calculated in the common correction value calculation process A storage process for storing a value in the memory;
In the storage process, the image forming mode includes both a first image forming mode for forming an image using the first dither pattern and a second image forming mode for forming an image using the second dither pattern. Correction processing for correcting the light amount of the light emitting element located at the end using the common correction value stored in the memory is performed. In this way, the correction value stored in the memory can be reduced as compared with the case where a different correction value is used for each prepared dither pattern. Therefore, memory consumption can be suppressed. In addition, since it is not necessary to change the correction value every time a different dither pattern is used, the operation speed can be increased.
本明細書によって開示されるディザパターンの設定方法は、複数の発光素子を有する発光チップを主走査方向に並べて配置した発光アレイを用いて形成され、画像の階調を表すディザパターンの設定方法であって、前記発光チップの端部に対応する画素の周辺画素に対する濃度差の発生しや易さを表すパラメータの値の差が小さくなるように、同一色に使用される2つのディザパターンのパラメータの値を設定する。このようにすれば、2つのディザパターンで発光チップの端部における画素の濃度差が小さくなる。 The dither pattern setting method disclosed in this specification is a dither pattern setting method that is formed by using a light emitting array in which light emitting chips having a plurality of light emitting elements are arranged in the main scanning direction and represents the gradation of an image. The parameters of the two dither patterns used for the same color so that the difference between the values of the parameters corresponding to the edges of the light emitting chip and the peripheral pixels is reduced. Set the value of. In this way, the difference in pixel density at the edge of the light emitting chip is reduced by the two dither patterns.
また、本明細書に開示される画像形成装置又はディザパターンの設定方法では、以下がこの好ましい。
・前記パラメータを、前記ディザパターンを構成する線分の主走査方向に関する角度とする。角度であれば、濃度差の発生し易さを簡易的に把握するのに好適である。
In the image forming apparatus or the dither pattern setting method disclosed in this specification, the following is preferable.
The parameter is an angle with respect to the main scanning direction of the line segment constituting the dither pattern. If it is an angle, it is suitable for easily grasping the ease of occurrence of the density difference.
・前記パラメータを前記発光チップの端部に位置する2つの発光素子間距離の変化に対する、前記ディザパターン間に存在する空白部の面積変動比とする。面積変動比であれば、濃度差の発生し易さを正確に把握するのに好適である。 The parameter is an area variation ratio of a blank portion existing between the dither patterns with respect to a change in the distance between two light emitting elements located at the end of the light emitting chip. The area variation ratio is suitable for accurately grasping the ease of occurrence of the density difference.
本発明によれば、画像の筋を目立たなくしつつ、メモリの消費を抑制することが出来る。 According to the present invention, it is possible to suppress memory consumption while making an image stripe inconspicuous.
<実施形態1>
実施形態1について図1から図10を参照しつつ説明する。
1.カラープリンタの全体構成
図1に示すように、電子写真方式のカラープリンタ1は、本体筐体10内に、用紙(本発明の「被記録媒体」の一例)Sを供給する給紙部20と、給紙された用紙Sに画像を形成する画像形成部30と、画像が形成された用紙Sを排出する排紙部90と、これらの各部の動作を制御する制御装置100とを備えている。尚、以下の説明において、方向は、カラープリンタ使用時のユーザを基準にした方向で説明する。すなわち、図1において、紙面に向かって左側を「前側」、紙面に向かって右側を「後側」とする。また、用紙Sの搬送方向に直交する方向を主走査方向(図1の紙面直交方向、プリンタの左右方向)とし、主走査方向に直交する方向、すなわち用紙Sの搬送方向を副走査方向(図1の左右方向、プリンタの前後方向)とする。
<
The first embodiment will be described with reference to FIGS.
1. Overall Configuration of Color Printer As shown in FIG. 1, an
本体筐体10の上部には本体筐体10に対し相対的に開閉自在なアッパーカバー12が、後側に設けられたヒンジ12Aを支点として上下に回動自在に設けられている。アッパーカバー12の上面は、本体筐体10から排出された用紙Sを蓄積する排紙トレイ13となっており、下方には露光装置であるLEDユニット40が設けられている。
An
また、本体筐体10内には、各プロセスカートリッジ50を着脱自在に収容するカートリッジドロア15が設けられている。カートリッジドロア15は、左右に一対設けられた金属製のサイドプレート15A(片側のみ図示)と、一対のサイドプレート15Aを連結するクロスメンバー15Bが前後に一対設けられている。サイドプレート15Aは、LEDユニット40が有する露光ヘッドとしてのLEDアレイ41の左右方向の両側に配置され、感光体ドラム53を直接的または間接的に支持し、位置決めする部材である。LEDアレイ41の発光は、制御装置100及び発光制御装置110により制御される。尚、LEDアレイ41が本発明の発光アレイの一例である。
Further, a
給紙部20は、本体筐体10内の下部に設けられ、本体筐体10に着脱自在に装着される給紙トレイ21と、給紙トレイ21から用紙Sを画像形成部30へ搬送する用紙供給機構22を主に備えている。用紙供給機構22は、給紙トレイ21の前側に設けられ、給紙ローラ23、分離ローラ24を主に備えている。
The
このように構成される給紙部20では、給紙トレイ21内の用紙Sが、一枚ずつ分離されて上方へ送られ、搬送経路28を通って後ろ向きに方向転換され、画像形成部30に供給される。
In the
画像形成部30は4つのLEDユニット40と、4つのプロセスカートリッジ50と、転写ユニット70と、定着ユニット80とを備える。4つのLEDユニット40、4つのプロセスカートリッジ50はブラック、イエロー、マゼンタ、シアンの4色に対応する。
The
プロセスカートリッジ50は、アッパーカバー12と給紙部20との間で前後方向に並んで配置され、図2に示すように、ドラムユニット51と、ドラムユニット51に対して着脱自在に装着される現像ユニット61とを備えている。サイドプレート15Aは、プロセスカートリッジ50を支持しており、プロセスカートリッジ50は、感光体ドラム53を支持している。尚、各プロセスカートリッジ50は、現像ユニット61のトナー収容室66に収容されるトナーの色が相違するのみであり、構成は同一である。
The
ドラムユニット51は、ドラムフレーム52と、ドラムフレーム52に回転可能に支持される感光体の一例としての感光体ドラム53と、スコロトロン型帯電器54とを主に備えている。
The
現像ユニット61は、現像フレーム62と、現像フレーム62に回転可能に支持される現像ローラ63および供給ローラ64とを備え、トナーを収容するトナー収容室66を有している。プロセスカートリッジ50は、現像ユニット61がドラムユニット51に装着され、これにより、現像フレーム62とドラムフレーム52との間に上方から感光体ドラム53を臨める露光穴55が形成される。この露光穴55には下端にLEDアレイ41を保持したLEDユニット40が挿入される。LEDアレイ41の詳細については後述する。
The developing
転写ユニット70は、図1に示すように、給紙部20と各プロセスカートリッジ50との間に設けられ、駆動ローラ71、従動ローラ72、搬送ベルト73および転写ローラ74を主に備えている。
As shown in FIG. 1, the
駆動ローラ71および従動ローラ72は、前後方向に離間して平行に配置され、その間に搬送ベルト73が張設されている。搬送ベルト73は、その外側の面が各感光体ドラム53に接している。また、搬送ベルト73の内側には、各感光体ドラム53との間で搬送ベルト73を挟持する転写ローラ74が、各感光体ドラム53に対向して4つ配置されている。この転写ローラ74には、転写時に定電流制御によって転写バイアスが印加される。
The driving
定着ユニット80は、各プロセスカートリッジ50および転写ユニット70の奥側に配置され、加熱ローラ81と、加熱ローラ81と対向配置され加熱ローラ81を押圧する加圧ローラ82とを備えている。
The fixing
このように構成される画像形成部30では、まず、各感光体ドラム53の表面(感光面53A)が、スコロトロン型帯電器54により一様に帯電された後、各LEDアレイ41から照射されるLED光により露光される。これにより、露光された部分の電位が下がって、各感光体ドラム53上に画像データに基づく静電潜像が形成される(帯電プロセス、露光プロセス)。
In the
また、トナー収容室66内のトナーが、供給ローラ64の回転により現像ローラ63に供給され担持される。現像ローラ63上に担持されたトナーは、現像ローラ63が感光体ドラム53に対向して接触するときに、感光体ドラム53上に形成された静電潜像に供給される。これにより、感光体ドラム53上でトナーが選択的に担持されて静電潜像が可視像化され、反転現像によりトナー像が形成される(現像プロセス)。
Further, the toner in the
次に、搬送ベルト73上に供給された用紙Sが各感光体ドラム53と搬送ベルト73の内側に配置される各転写ローラ74との間を通過することで、各感光体ドラム53上に形成されたトナー像が用紙S上に転写される(転写プロセス)。そして、用紙Sが加熱ローラ81と加圧ローラ82との間を通過することで、用紙S上に転写されたトナー像が熱定着される(定着プロセス)。
Next, the sheet S supplied onto the
排紙部90は、定着ユニット80の出口から上方に向かって延び、手前側に反転するように形成された排紙側搬送経路91と、用紙Sを搬送する複数対の搬送ローラ92を主に備えている。トナー像が転写され、熱定着された用紙Sは、搬送ローラ92によって排紙側搬送経路91を搬送され、本体筐体10の外部に排出されて排紙トレイ13に蓄積される。
The
2.LEDアレイの構成
LEDアレイ41は、印字データに基づいて感光体ドラム53を露光する機能を果たすものであり、用紙の送り方向(図3の上下方向)に直交する主走査方向(図3の左右方向)に複数の発光素子Pを配置した構成となっている。
2. Configuration of LED Array The
LEDアレイ41は、複数のLEDアレイチップ(本発明の「発光チップ」の一例)CHから分割構成されている。各LEDアレイチップCHは半導体プロセスにより、半導体基板上に発光素子Pたる発光ダイオードを一列状に複数形成(一例として256個形成)したものであり、この実施形態では、回路基板CB上に20個のLEDアレイチップCHを副走査方向に位置をずらして千鳥状に配置している。このように、LEDアレイチップCHを千鳥配置しつつ各チップ端を主走査方向に重ねることで、チップ同士の継目における発光素子間の距離Dxを基準ピッチDpに一致させている。尚、図3はLEDアレイ41の模式図であり、各LEDアレイチップCHに形成された発光素子Pの個数を実際より少なく示してある。
The
また、各LEDアレイ41には不揮発性の記憶手段としてEEPROM43が設けられている。このEEPROM43には、LEDアレイ41の光量制御に必要なデータ、例えば、各LEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pb間の素子間距離Dxのデータや、素子間距離Dxの基準ピッチDpのデータなどが記憶されている。
Each
3.制御装置100と発光制御装置110の説明
制御装置100はカラープリンタ1の全体を制御するものであり、CPUなどから構成される演算制御部100Aと、ROM100BとRAM100CとからなるメモリMとを含む構成となっている。発光制御装置110は、図4に示すようにASIC120を備え、制御装置100から指令によって、LEDアレイ41の各発光素子Pを発光制御(光量調整)するものである。尚、演算制御部100Aが本発明の「制御部」の一例である。
3. Description of the
発光制御装置110には、4組のLEDアレイ41が共通接続されており、発光制御装置110のASIC120が4組のLEDアレイ41を一括して発光制御する構成となっている。また、制御装置100のROM100Cには、画像の階調を表すディザパターンなどのデータが格納される構成となっている。ディザパターンZとは、主走査方向に対して傾斜する斜め線の繰り返しパターン(ドットパターン)であり、画像に階調をつける時に使用されるものである。
Four sets of
4.LEDアレイ41の発光制御
LEDアレイ上の各発光素子Pは主走査方向において一定の基準ピッチDp、具体的には、画像の解像度が600dpiである場合は、42μmのピッチで並んでいる。そして、各LEDアレイチップCHの継目についても、発光素子間の素子間距離Dxが基準ピッチDpになるように、LEDアレイチップCHを配置している。
4). Light emission control of the
しかし、回路基板CB上に各LEDアレイチップCHをマウントする際に搭載位置が正規位置からずれることがあり、LEDアレイチップ同士の継目では、発光素子間の素子間距離Dxが基準ピッチDpに対して増減する場合がある。このように、発光素子間の素子間距離Dxが基準ピッチDpに対して増減すると、図5に示すように、主走査方向に対して傾斜した斜線の繰り返しであるディザパターンZを使用して画像を印字したときに、画像に筋が発生し易くなる(図5中の枠内)。すなわち、発光素子Pa、Pb間の素子間距離Dxが基準ピッチDpより大きい場合、継目部分では光の密度が下がる。そのため、ディザパターンZを構成する画素のうち、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素では、露光が薄くなってトナーが載り難くなる。そのため、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素(一例として、図5に示す画素G1)では、周辺画素(一例として、図5に示す画素G2)に対して濃度が下がって、白筋が発生し易くなる。 However, when each LED array chip CH is mounted on the circuit board CB, the mounting position may deviate from the normal position. At the joint between the LED array chips, the inter-element distance Dx between the light emitting elements is smaller than the reference pitch Dp. May increase or decrease. As described above, when the inter-element distance Dx between the light emitting elements increases or decreases with respect to the reference pitch Dp, as shown in FIG. 5, an image is obtained using a dither pattern Z that is a repetition of oblique lines inclined with respect to the main scanning direction. When the is printed, streaks are likely to occur in the image (in the frame in FIG. 5). That is, when the inter-element distance Dx between the light emitting elements Pa and Pb is larger than the reference pitch Dp, the light density decreases at the joint portion. For this reason, among the pixels constituting the dither pattern Z, in the pixels corresponding to the joints of the LED array chip CH, the exposure becomes thin and it is difficult to place toner. Therefore, in the pixel corresponding to the joint of the LED array chip CH (for example, the pixel G1 shown in FIG. 5), the density is lower than that of the peripheral pixel (for example, the pixel G2 shown in FIG. 5), and white stripes are generated. It becomes easy to do.
上記のように、発光素子Pa、Pb間の素子間距離Dxが基準ピッチDpより大きい場合、その部分だけ光量が低くなって白筋が発生し易くなる。そこで、本実施形態では、各LEDアレイチップCHの継目における、発光素子Pa、Pb間の素子間距離Dxが基準ピッチDpより大きい場合、継目に位置する発光素子Pの発光時間Tを、発光制御装置110にて調整して光量の不足を補うことにより、白筋の発生を抑えるようにしている。
As described above, when the inter-element distance Dx between the light emitting elements Pa and Pb is larger than the reference pitch Dp, the amount of light is reduced only in that portion, and white lines are likely to occur. Therefore, in the present embodiment, when the inter-element distance Dx between the light emitting elements Pa and Pb at the joint of each LED array chip CH is larger than the reference pitch Dp, the light emission time T of the light emitting element P located at the joint is controlled to emit light. The occurrence of white streak is suppressed by adjusting the
また、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差の発生し易さを示すパラメータには、素子間距離Dxの他にディザパターンZの主走査方向に対する角度θがある。濃度差の発生し易さにディザパターンZの角度θが関係している理由は、ディザパターンZの角度θが大きい場合(図6参照)には、角度θが小さい場合(図7参照)に比べて、濃度の低い領域が副走査方向に拡がるので(図6、図7中のA部参照)、濃度差が発生し易くなるからである。そして、角度θが大きい場合は、小さい場合に比べて、濃度差の拡がりの大きさを補うべく、光量の補正値を大きくするか、光量を補正する素子数を増やす必要がある。 In addition to the inter-element distance Dx, there is an angle θ with respect to the main scanning direction of the dither pattern Z as a parameter indicating the ease of occurrence of a density difference with respect to the peripheral pixel G2 of the pixel G1 corresponding to the joint of the LED array chip CH. . The reason why the angle θ of the dither pattern Z is related to the ease of occurrence of the density difference is that the angle θ of the dither pattern Z is large (see FIG. 6) or the angle θ is small (see FIG. 7). In comparison, the low density region expands in the sub-scanning direction (see A part in FIGS. 6 and 7), so that a density difference is likely to occur. When the angle θ is large, it is necessary to increase the light amount correction value or increase the number of elements for correcting the light amount in order to compensate for the spread of the density difference compared to the case where the angle θ is small.
従って、角度差の大きい複数のディザパターンを、共通の補正値を使用して光量補正しようとすると、どちらか一方しか、満足な補正を行うことが出来ないので、結局、補正値を分けなければならない。そのため、本実施形態では、以下説明するように、同色に使用されるディザパターンZの組み合わせを、角度差が小さくなるように決定している。 Therefore, if you try to correct the amount of light using a common correction value for multiple dither patterns with a large angle difference, only one of them can be corrected satisfactorily. Don't be. Therefore, in the present embodiment, as described below, the combination of dither patterns Z used for the same color is determined so that the angle difference becomes small.
尚、ディザパターンZの角度差Δは以下の方法で求めるものとする。すなわち、図8Aに示すように、ディザパターンZa、ZbともにX軸を基準とした角度90°以下である場合、角度差Δは、ディザパターンZaの角度θaとディザパターンZbの角度θbの差とする。一方、図8Bに示すように、一方の角度が90°を超えている場合、そのディザパターンZbを、Y軸を対象に折り返した線Zcの角度θcとディザパターンZaの角度θaの角度の差を角度差Δとする。 The angle difference Δ of the dither pattern Z is obtained by the following method. That is, as shown in FIG. 8A, when both the dither patterns Za and Zb are 90 ° or less with respect to the X axis, the angle difference Δ is the difference between the angle θa of the dither pattern Za and the angle θb of the dither pattern Zb. To do. On the other hand, as shown in FIG. 8B, when one angle exceeds 90 °, the difference between the angle θc of the line Zc and the angle θa of the dither pattern Za when the dither pattern Zb is folded back with respect to the Y axis. Is the angle difference Δ.
5.画質モードとディザパターンの組み合わせ例
このプリンタ1では、画質モードにノーマル、ファイン、スーパーファインの3種類(ノーマル→ファイン→スーパーファインの順に画質が高い)を設定している。ディザパターンZは画質が高くなるほど、線間距離を短くする必要がある。ディザパターンは、濃度により決まるドット数の条件や線間距離の条件を満たすように決定する必要があり、それら条件を満たすように、ディザパターンの角度が決定される。尚、本実施形態の画質モードが、本発明の「画像形成モード」に対応する。
5. Example of Combination of Image Quality Mode and Dither Pattern In this
例えば、図9は、「カラーはブラック」で、「濃度が50%」の場合について、各画質モードについて、条件を満たすディザパターンZを一覧にしてまとめたものである。図9に示すように、ファインモードでは、角度が45°のディザパターンZ1が条件を満たす。また、ノーマルモードでは、角度が23°と67°の2パターンのディザパターンZ2、Z3が条件を満たし、スーパーファインモードでは、角度が12°と78°の2パターンのディザパターンZ4、Z5が条件を満たす。 For example, FIG. 9 shows a list of dither patterns Z that satisfy the conditions for each image quality mode when “color is black” and “density is 50%”. As shown in FIG. 9, in the fine mode, a dither pattern Z1 having an angle of 45 ° satisfies the condition. In the normal mode, two dither patterns Z2 and Z3 having an angle of 23 ° and 67 ° satisfy the condition, and in the super fine mode, two dither patterns Z4 and Z5 having an angle of 12 ° and 78 ° are satisfied. Meet.
この場合、ディザパターンの組み合わせとして、以下の4つの組み合わせを使用候補とすることが考えられる。
(a)1番目のディザパターンZ1(ファイン)、3番目のディザパターンZ3(ノーマル)、5番目のディザパターンZ5(スーパーファイン)の組み合わせ
(b)1番目のディザパターンZ1(ファイン)、3番目のディザパターンZ3(ノーマル)、4番目のディザパターンZ4(スーパーファイン)を組み合わせ
(c)1番目のディザパターンZ1(ファイン)、2番目のディザパターンZ2(ノーマル)、5番目のディザパターンZ5(スーパーファイン)を組み合わせ
(d)1番目のディザパターンZ1(ファイン)、2番目のディザパターンZ2(ノーマル)、4番目のディザパターンZ4(スーパーファイン)を組み合わせ
In this case, as combinations of dither patterns, the following four combinations can be considered as use candidates.
(A) First dither pattern Z1 (fine), third dither pattern Z3 (normal), combination of fifth dither pattern Z5 (super fine) (b) first dither pattern Z1 (fine), third (C) first dither pattern Z1 (fine), second dither pattern Z2 (normal), and fifth dither pattern Z5 ( (D) First dither pattern Z1 (fine), second dither pattern Z2 (normal), fourth dither pattern Z4 (super fine)
上記(a)の組み合わせを選択すると、1番目のディザパターンZ1と3番目のディザパターンZ3の角度差は22°、3番目のディザパターンZ3と5番目のディザパターンZ5の角度差は11°、5番目のディザパターンZ5と1番目のディザパターンZ1の角度差は33°となる。この場合、ディザパターン間の最大角度差は33°になる。 When the combination (a) is selected, the angle difference between the first dither pattern Z1 and the third dither pattern Z3 is 22 °, the angle difference between the third dither pattern Z3 and the fifth dither pattern Z5 is 11 °, The angle difference between the fifth dither pattern Z5 and the first dither pattern Z1 is 33 °. In this case, the maximum angle difference between dither patterns is 33 °.
一方(b)の組み合わせを選択すると、1番目のディザパターンZ1と3番目のディザパターンZ3の角度差は22°、4番目のディザパターンZ4と1番目のディザパターンZ1の角度差は33°、3番目のディザパターンZ3と4番目のディザパターンZ4の角度差は55°になる。この場合、ディザパターン間の最大角度差は55°になる。 On the other hand, when the combination (b) is selected, the angle difference between the first dither pattern Z1 and the third dither pattern Z3 is 22 °, the angle difference between the fourth dither pattern Z4 and the first dither pattern Z1 is 33 °, The angle difference between the third dither pattern Z3 and the fourth dither pattern Z4 is 55 °. In this case, the maximum angle difference between dither patterns is 55 °.
また(c)の組み合わせとして選択すると、1番目のディザパターンZ1と2番目のディザパターンZ2の角度差は22°、5番目のディザパターンZ5と1番目のディザパターンZ1の角度差は33°、2番目のディザパターンZ2と5番目のディザパターンZ5の角度差は55°になる。この場合、ディザパターン間の最大角度差は55°になる。 When the combination (c) is selected, the angle difference between the first dither pattern Z1 and the second dither pattern Z2 is 22 °, the angle difference between the fifth dither pattern Z5 and the first dither pattern Z1 is 33 °, The angle difference between the second dither pattern Z2 and the fifth dither pattern Z5 is 55 °. In this case, the maximum angle difference between dither patterns is 55 °.
また(d)の組み合わせとして選択すると、1番目のディザパターンZ1と2番目のディザパターンZ2の角度差は22°、4番目のディザパターンZ4と1番目のディザパターンZ1の角度差は33°、2番目の23°のディザパターンZ2と4番目の12°のディザパターンZ4の角度差は11°になる。この場合、ディザパターン間の最大角度差は33°になる。 When the combination (d) is selected, the angle difference between the first dither pattern Z1 and the second dither pattern Z2 is 22 °, the angle difference between the fourth dither pattern Z4 and the first dither pattern Z1 is 33 °, The angle difference between the second 23 ° dither pattern Z2 and the fourth 12 ° dither pattern Z4 is 11 °. In this case, the maximum angle difference between dither patterns is 33 °.
従って、上記した(a)〜(d)の組み合わせから、(a)の組み合わせか、(d)の組み合わせを選択すると、(b)の組み合わせや(c)の組み合わせを選択した場合に比べて、使用するディザパターン間の最大角度差が小さくなる。 Therefore, when the combination (a) or the combination (d) is selected from the combinations (a) to (d) described above, the combination (b) or the combination (c) is selected. The maximum angle difference between the dither patterns used is reduced.
最大角度差が小さければ、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差が、各ディザパターンで概ね同じように発生し、濃度差の大きさに差が生じない。そのため、ファインモード、ノーマルモード、スーパーファインモードに使用される3パターンのディザパターンZを、共通の補正値を使用して光量補正を行った時に、各ディザパターン共通して濃度差が小さくすることが可能となり、全てのディザパターンZについて、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差の不均一を解消することが出来る。 If the maximum angle difference is small, the density difference of the pixel G1 corresponding to the joint of the LED array chip CH with respect to the peripheral pixel G2 is generated in substantially the same manner in each dither pattern, and there is no difference in the magnitude of the density difference. Therefore, when the dither pattern Z of the three patterns used in the fine mode, normal mode, and super fine mode is subjected to light amount correction using a common correction value, the density difference is reduced in common with each dither pattern. For all dither patterns Z, it is possible to eliminate the uneven density difference between the pixel G1 corresponding to the joint of the LED array chip CH and the peripheral pixel G2.
別の言い方をすれば、最大角度差が所定値以上の場合には、3つのディザパターンを共通の補正値では補正しきれないので、その場合、一部のディザパターンは補正値を専用に設定する必要がある。例えば、角度差の許容値が45°未満の場合、(b)の組み合わせや、(c)の組み合わせを選ぶと、角度差が45°を超えないようにするには、3つのディザパターンのうち、1つのディザパターンは専用に補正値を設定する必要がある。しかし、補正値を多く持つことは、それだけ、RAM100Bを消費することになる。
In other words, if the maximum angle difference is greater than or equal to the predetermined value, the three dither patterns cannot be corrected with the common correction value. In this case, some dither patterns are set with dedicated correction values. There is a need to. For example, when the allowable value of the angle difference is less than 45 °, the combination of (b) and (c) can be selected to prevent the angle difference from exceeding 45 ° out of three dither patterns. It is necessary to set a correction value exclusively for one dither pattern. However, having many correction values consumes the
従って、プリンタ10を設計する段階で、同一色に使用するディザパターンZの組み合わせを、ディザパターンZの角度差が小さくなるように予め決定しておくことにより、共通の補正値を使用することが可能となり、RAM100Bに記憶するデータ数を小さくすることが出来る。上記により、本発明の「前記発光チップ(ここではLEDアレイチップCH)の端部に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差の発生しや易さを表すパラメータ(ここでは角度)の値の差が小さくなるように、同一色に使用される2つのディザパターンのパラメータの値を設定(ここでは角度の組み合わせを決定)する」が実現されている。
Accordingly, at the stage of designing the
尚、ディザパターンZは、濃度に応じて設定する必要があるため、上記のようなディザパターンZの組み合わせを、濃度ごとに設定する必要がある。また、ディザパターンZはブラックの他に、イエロー、マゼンタ、シアンの各色についてそれぞれ異なるパターンを用意する必要があるので、ブラック以外の各色のディザパターンZについても、ディザパターン間の角度差が小さくなるようにディザパターンZの組み合わせを、設計段階で決定しなければならない。そして、設計段階で決定した各ディザパターンZのデータは、制御装置100のROM100Cに対して予め記憶されるようになっている。
Since the dither pattern Z needs to be set according to the density, it is necessary to set the combination of the dither patterns Z as described above for each density. In addition to black, it is necessary to prepare different patterns for each color of yellow, magenta, and cyan in addition to black, so the dither pattern Z for each color other than black also has a small angular difference between the dither patterns. Thus, the combination of dither patterns Z must be determined at the design stage. The data of each dither pattern Z determined at the design stage is stored in advance in the ROM 100C of the
次に、印刷時にプリンタ1で実行される発光時間Tの補正手順を説明する。尚、以下の説明においてノーマル用はディザパターンZ1を、ファイン用はディザパターンZ3を、スーパーファイン用はディザパターンZ5を使用するものとする。
Next, a procedure for correcting the light emission time T executed by the
まず、PC等の情報端末から印刷データを受信すると、制御装置100の演算制御部100Aは、画像形成部30により各感光体ドラム53を帯電させる帯電プロセスを実行する。また、制御装置100の演算制御部100Aは、受信した印刷データが通常印刷(ディザパターンZを使用しない印刷)か、階調印刷(ディザパターンZを使用する印刷)かを判断する。
First, when print data is received from an information terminal such as a PC, the
通常印刷(ディザパターンZを使用しない印刷)の場合、演算制御部100Aは、発光制御装置110を介して露光プロセスを実行する。すなわち、発光時間Tに初期値「To」を適用し、印刷データに従って、各LEDアレイ41上の各発光素子Pを、発光制御装置110を介して点灯して各感光体ドラム53に光を照射する。これにて、各感光体ドラム53が露光される。その後、制御装置100の制御により、画像形成部30にて現像プロセス、転写プロセス、定着プロセスが順に実行され、用紙に印刷データが印刷される。
In the case of normal printing (printing that does not use the dither pattern Z), the
一方、階調印刷(ディザパターンZを使用する印刷)の場合、制御装置100は、各LEDアレイ41のEEPROM43から各LEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pb間の素子間距離Dxのデータを読み出す。また、ROM100CからディザパターンZの角度のデータを読み出す(S10)。
On the other hand, in the case of gradation printing (printing using the dither pattern Z), the
そして、制御装置100の演算制御部100Aは、各ディザパターンZについて発光時間Tの補正値Xを、下記(1)式に基づいて算出する算出処理を、各LEDアレイ41について、各LEDアレイチップCHの継目ごとに行う(S20〜S40)。具体的には、ディザパターンZ1の場合、下記(1)式に「ΔD」のデータ、「θ1」のデータを代入して、発光時間Tの補正値X1を算出する(第1算出処理:S20)。ディザパターンZ3の場合、下記(1)式に「ΔD」のデータ、「θ3」のデータを代入して、発光時間の補正値X3を算出する(第2算出処理:S30)。ディザパターンZ5の場合、下記(1)式に「ΔD」のデータ、「θ5」のデータを代入して、発光時間の補正値X5を算出する(第3算出処理:S40)。尚、「θ1」が本発明の「第1値」の一例、「補正値X1」が本発明の「第1補正値」の一例であり、また「θ3」が本発明の「第2値」の一例、「補正値X3」が本発明の「第2補正値」の一例である。
Then, the
X=F(ΔD、θ)・・・・・・・・・・・(1)式
ΔD=|Dx−Dp|・・・・・・・・・・(2)式
「X」は発光時間の補正値である。「F」は、補正値Xを決定する関数である。
「θ」は使用されるディザパターンZの角度θである。
関数Fは「ΔD」が大きい程、値を大きくするように設定され、また「θ」が大きい程、値を大きくするように設定されている。
X = F (ΔD, θ) (1) Formula ΔD = | Dx−Dp | (2) Formula “X” is the light emission time. Is the correction value. “F” is a function for determining the correction value X.
“Θ” is the angle θ of the dither pattern Z to be used.
The function F is set to increase the value as “ΔD” increases, and to increase the value as “θ” increases.
その後、制御装置100の演算制御部100Aは、各ディザパターンZ1、Z3、Z5の発光時間の補正値X1、X3、X5から、共通補正値Xvを算出する(共通補正値算出処理:S50)。共通補正値Xvとは、各LEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pbの発光時間を補正する際に、各ディザパターンZ1、Z3、Z5で共通使用される補正値であり、各LEDアレイ41について、各LEDアレイチップCHの継目ごとに算出される。この実施形態では、以下の(3)式に示すように、共通補正値XvをX1、X3、X5の平均値としている。
Thereafter, the
Xv=(X1+X3+X5)/3・・・・・・・(3)式 Xv = (X1 + X3 + X5) / 3 (3)
尚、共通補正値Xvは、3つの補正値X1〜X3の最小値〜最大値の範囲内で決定すればよく平均値の他に、3つの補正値X1〜X3のうち、大きさが2番目の補正値(中間補正値)を使用することが可能である。 The common correction value Xv may be determined within the range from the minimum value to the maximum value of the three correction values X1 to X3. In addition to the average value, the common correction value Xv is the second of the three correction values X1 to X3. Correction values (intermediate correction values) can be used.
そして、制御装置100の演算制御部100Aは、各LEDアレイ41について、各LEDアレイチップCHの継目ごとに共通補正値Xvを算出すると、その値をRAM100Bに対して格納する格納処理を行う(S60)。その後、制御装置110の演算制御部100Aは、所定のタイミングで露光プロセスを実行する。具体的には、RAM100Bから記憶した共通補正値Xvを読み出す。そして、読み出した共通補正値Xvを(4)式に代入して発光素子Pa、Pbの発光時間Tを決定する。
Then, when the
T=To±Xv・・・・・・・・・(4)式
尚、(4)式の符号「+」は素子間距離Dxが基準ピッチDpより大きい場合、符号「−」は素子間距離Dxが基準ピッチDpより小さい場合である。
T = To ± Xv (4) Equation (4) The symbol “+” indicates that the inter-element distance Dx is greater than the reference pitch Dp, and the symbol “−” indicates the inter-element distance. This is a case where Dx is smaller than the reference pitch Dp.
そして、制御装置100の演算制御部100Aは、発光制御装置110を介して露光プロセスを実行する。すなわち、印刷データに従って、各LEDアレイ41上の各発光素子Pを、発光制御装置110を介して点灯して各感光体ドラム53に光を照射する。
Then, the
このとき、制御装置100の演算制御部100Aは、各LEDアレイ41について、各LEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pbの発光時間をノーマル、ファイン、スーパーファインのディザパターンZ1、Z3、Z5共通して、共通補正値Xvにより補正する(補正処理:S70)。すなわち、画質モードとしてノーマル、ファイン、スーパーファインのどのモードが選択されていても、各LEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pbを、(4)式に基づいて決定した発光時間Tで点灯させる。
At this time, the
これにより、ディザパターンZを構成する画素のうち、各LEDアレイチップCHの継目部分に対応する画素の濃度を、3モード共通して、周辺画素の濃度に近づけることが出来る。その後、制御装置100の制御により、画像形成部30にて、現像プロセス、転写プロセス、定着プロセスが順に実行され、用紙に印刷データが印刷される。
Thereby, among the pixels constituting the dither pattern Z, the density of the pixels corresponding to the joint portion of each LED array chip CH can be made close to the density of the peripheral pixels in common for the three modes. Thereafter, under the control of the
以上説明したように、本実施形態では、素子間距離Dxに加え、ディザパターンの角度θを考慮して発光時間Tを補正するので、角度θを考慮しない場合に比べて、ディザパターンZを構成する画素のうち、各LEDアレイチップCHの継目部分に対応する画素G1の濃度を、周辺画素G2の濃度に近づけることが出来る。そのため、白筋や色筋を目立たなくすることができ、画品質が高まる。 As described above, in the present embodiment, since the light emission time T is corrected in consideration of the dither pattern angle θ in addition to the inter-element distance Dx, the dither pattern Z is configured as compared with the case where the angle θ is not considered. Among the pixels to be processed, the density of the pixel G1 corresponding to the joint portion of each LED array chip CH can be made close to the density of the peripheral pixel G2. For this reason, white stripes and color stripes can be made inconspicuous, and the image quality is improved.
また、本実施形態では、同一色に使用される3種のディザパターンZ1、ディザパターンZ3、ディザパターンZ5について、LEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pbの発光時間を共通の補正値Xvにより補正する。このようにすれば、同一色として用意されたディザパターン毎に異なる補正値を使用して光量補正を行う場合に比べて、RAM100Bに記憶する補正値を減らすことが出来る。そのため、RAM100Bの消費を抑制することが出来る。また、同一色として用意されたディザパターン毎に、補正値Xを変更する必要がないため、動作速度を高速にできる。
In the present embodiment, the light emission times of the light emitting elements Pa and Pb at the joint of the LED array chip CH are set to the common correction value Xv for the three types of dither pattern Z1, dither pattern Z3, and dither pattern Z5 used for the same color. Correct by In this way, the correction value stored in the
また特に、このものではプリンタ10を設計する段階で、同一色に使用するディザディザパターンZの組み合わせを、ディザパターンZの角度差が小さくなるように決定してあるので、共通の補正値Xvを使用して光量補正を行った時に、各ディザパターンとも同じように濃度差の不均一を解消することが出来る。
In particular, in this case, at the stage of designing the
<実施形態2>
次に、本発明の実施形態2を図11ないし図14によって説明する。
実施形態1では、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差の発生し易さを示すパラメータの一例に、ディザパターンZの角度「θ」を例示し、設計段階で、同一色に使用するディザディザパターンZの組み合わせを、ディザパターンZの角度差が小さくなるように決定する例を説明した。
<
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
In the first embodiment, the angle “θ” of the dither pattern Z is exemplified as an example of the parameter indicating the ease of occurrence of the density difference with respect to the peripheral pixel G2 of the pixel G1 corresponding to the joint of the LED array chip CH. In the above description, the combination of the dither dither patterns Z used for the same color is determined so that the angle difference between the dither patterns Z is reduced.
実施形態2では、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差の発生し易さを示すパラメータの一例に、ディザパターン間に存在する空白部Nの素子間距離Dxの変化に対する面積変動比「Sr」を例示するものである。 In the second embodiment, as an example of a parameter indicating the ease of occurrence of a density difference with respect to the peripheral pixel G2 of the pixel G1 corresponding to the joint of the LED array chip CH, the inter-element distance Dx of the blank portion N existing between the dither patterns The area variation ratio “Sr” with respect to the change is illustrated.
空白部「N」とは、ディザパターン間のスペースで印字されない非印字領域のことである。別の言い方をすれば、ディザパターンZを構成するドットU間のスペースである。また、空白部Nの素子間距離Dxの変化に対する面積変動比Srは以下の(5)式にて表される。 The blank portion “N” is a non-printing area that is not printed with a space between dither patterns. In other words, it is a space between the dots U constituting the dither pattern Z. Further, the area variation ratio Sr with respect to the change in the inter-element distance Dx of the blank portion N is expressed by the following equation (5).
Sr=Sx/Sp・・・・・・・・・・・・(5)式
「Sx」は素子間距離Dxである場合の空白部Nの面積であり、「Sp」は、Dx=Dpである場合の、空白部Nの面積(基準値)である。
Sr = Sx / Sp (5) Equation “Sx” is the area of the blank portion N when the element distance is Dx, and “Sp” is Dx = Dp. This is the area (reference value) of the blank portion N in some cases.
面積変動比Srと濃度差の発生し易さの関係について、具体例を挙げて詳しく説明する。例えば、角度一定の条件で、線間距離Lの短いディザパターンZ11と線間距離Lの長いディザパターンZ12を比較すると、空白部Nの面積(基準値)Spは、線間距離Lの短い図11のディザパターンZ11の方が、線間距離Lの長い図12のディザパターンZ12より小さくなる。ここでは、一例として、線間距離Lの短いディザパターンZ11の空白部Nの面積(基準値)Spを「2」とし、線間距離Lの長いディザパターンZ12の空白部Nの面積(基準値)Spを「3」とする。 The relationship between the area variation ratio Sr and the ease of occurrence of the density difference will be described in detail with a specific example. For example, when a dither pattern Z11 having a short line-to-line distance L and a dither pattern Z12 having a long line-to-line distance L are compared under a condition where the angle is constant, the area (reference value) Sp of the blank portion N is The dither pattern Z11 of 11 is smaller than the dither pattern Z12 of FIG. Here, as an example, the area (reference value) Sp of the blank portion N of the dither pattern Z11 having a short line-to-line distance L is set to “2”, and the area (reference value) of the blank portion N of the dither pattern Z12 having a long line-to-line distance L is set. ) Let Sp be "3".
尚、図11、図12に示すように、ディザパターンZを形成するドットUが、主走査方向について連続する2ドット分を1単位として配列されている場合、空白部「N」は、2ドットを1単位として繰り返されるので、図11〜図12では、空白部Nの横幅(主走査方向の幅)を2ドット単位で区切っている。 As shown in FIGS. 11 and 12, when the dots U forming the dither pattern Z are arranged with 2 dots continuous in the main scanning direction as one unit, the blank portion “N” has 2 dots. 11 to 12 are repeated, the horizontal width (width in the main scanning direction) of the blank portion N is divided in units of 2 dots in FIGS.
そして、誤差量「ΔD」が同じであれば、同じドット数分だけ非印字領域(図11、図12にてハッチングで示す)が拡大するので、ディザパターンZ11側とZ12側とで、空白部Nの面積の増加分は同じになる。ここでは、空白部Nの面積の増加分を「0.2(1ドット分)」とする。 If the error amount “ΔD” is the same, the non-printing area (indicated by hatching in FIGS. 11 and 12) is enlarged by the same number of dots, so that a blank portion is formed between the dither pattern Z11 side and the Z12 side. The increase in the area of N is the same. Here, the increase in the area of the blank portion N is assumed to be “0.2 (one dot)”.
この場合、線間距離Lの短いディザパターンZ11の継目部分における空白部Nの面積Sxは、「2」+「0.2」で「2.2」になる。よって、ディザパターンZ11側の面積変動比「Sr」は「2.2」/「2.0」で「110」%になる。 In this case, the area Sx of the blank portion N at the joint portion of the dither pattern Z11 having a short line-to-line distance L is “2” + “0.2” and becomes “2.2”. Therefore, the area variation ratio “Sr” on the dither pattern Z11 side is “2.2” / “2.0” and becomes “110”%.
一方、線間距離Lの長いディザパターンZ12の空白部Nの継目部分における空白部Nの面積Sxは、「3」+「0.2」で「3.2」になる。よって、ディザパターンZ12側の面積変動比「Sr」は、「3.2」/「3.0」で「107」%になる。 On the other hand, the area Sx of the blank portion N at the joint portion of the blank portion N of the dither pattern Z12 having a long line-to-line distance L is “3.2” as “3” + “0.2”. Therefore, the area variation ratio “Sr” on the dither pattern Z12 side is “3.2” / “3.0” and becomes “107”%.
このように、線間距離Lの短いディザパターンZ11は、線間距離Lの長いディザパターンZ12に比べて、誤差量「ΔD」に対する継目部分における空白部Nの面積変動比「Sr」が大きくなる。面積変動比「Sr」が大きいということは、誤差量「ΔD」に対する空白部Nの拡張率が大きいこと、すなわち露光が薄くなって画素の濃度が下がり易いことを意味している。 As described above, the dither pattern Z11 having the short line-to-line distance L has a larger area variation ratio “Sr” of the blank portion N at the joint portion with respect to the error amount “ΔD” than the dither pattern Z12 having the long line-to-line distance L. . The large area variation ratio “Sr” means that the expansion ratio of the blank portion N with respect to the error amount “ΔD” is large, that is, the exposure becomes thin and the density of the pixel tends to decrease.
次に、ディザパターンの角度θが異なる場合について図13〜図14を参照して説明を行う。線間距離Lが同じであれば、ディザパターンZの角度θに関係なく、空白部Nの面積(基準値)Spは概ね一致する。ここでは、一例として、角度θの小さいディザパターンZ13、角度θの大きいディザパターンZ14とも、空白部Nの面積(基準値)Spは「2」とする。 Next, the case where the dither pattern angle θ is different will be described with reference to FIGS. If the line-to-line distance L is the same, the area (reference value) Sp of the blank portion N substantially matches regardless of the angle θ of the dither pattern Z. Here, as an example, the area (reference value) Sp of the blank portion N is “2” for both the dither pattern Z13 having a small angle θ and the dither pattern Z14 having a large angle θ.
そして、誤差量「ΔD」が同じであれば、非印字領域は角度θの大きいディザパターン方が、角度θの小さいディザパターンよりも拡大する。それは、角度θが大きい程、非印字領域を作るドットの数が増加するからである。ここでは、角度θの小さいディザパターンZ3の空白部Nの面積の増加分を「0.2(1ドット分)」とし、角度θの大きいディザパターンZ4の空白部Nの面積の増加分を「0.4(2ドット分)」とする。 If the error amount “ΔD” is the same, in the non-printing area, the dither pattern with a larger angle θ is enlarged than the dither pattern with a smaller angle θ. This is because the number of dots that form a non-printing area increases as the angle θ increases. Here, the increase in the area of the blank portion N of the dither pattern Z3 with a small angle θ is “0.2 (one dot)”, and the increase in the area of the blank portion N of the dither pattern Z4 with a large angle θ is “ 0.4 (2 dots) ".
この場合、図13に示す角度θの小さいディザパターンZ13の継目部分における空白部Nの面積Sxは、「2」+「0.2」で「2.2」になる。よって、角度の小さいディザパターンZ3側の面積変動比「Sr」は「2.2」/「2.0」で「110」%になる。 In this case, the area Sx of the blank portion N in the joint portion of the dither pattern Z13 having a small angle θ shown in FIG. 13 is “2” + “0.2” and becomes “2.2”. Therefore, the area variation ratio “Sr” on the dither pattern Z3 side with a small angle becomes “110”% at “2.2” / “2.0”.
一方、図14に示す角度θの大きいディザパターンZ14の空白部Nの継目部分における空白部Nの面積Sxは、「2」+「0.4」で「2.4」になる。よって、ディザパターンZ4の面積変動比「Sr」は、「2.4」/「2.0」で「120」%になる。 On the other hand, the area Sx of the blank portion N in the joint portion of the blank portion N of the dither pattern Z14 having a large angle θ shown in FIG. 14 is “2.4” as “2” + “0.4”. Therefore, the area variation ratio “Sr” of the dither pattern Z4 is “2.4” / “2.0” and becomes “120”%.
このように、角度θの大きいディザパターンZ14は、角度θの小さいディザパターンZ13に比べて、誤差量「ΔD」に対する継目部分における空白部Nの面積変動比「Sr」が大きくなる。面積変動比「Sr」が大きいということは、誤差量「ΔD」に対する空白部Nの拡張率が大きいこと、すなわち露光が薄くなって画素の濃度が下がり易いことを意味している。 Thus, the dither pattern Z14 having a large angle θ has a larger area variation ratio “Sr” of the blank portion N at the joint portion with respect to the error amount “ΔD” than the dither pattern Z13 having a small angle θ. The large area variation ratio “Sr” means that the expansion ratio of the blank portion N with respect to the error amount “ΔD” is large, that is, the exposure becomes thin and the density of the pixel tends to decrease.
以上説明したように、面積変動比「Sr」はLEDアレイチップCHの継目に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差の発生し易さを示している。実施形態2では、実施形態1で図9を参照して説明を行ったようにファインモード、ノーマルモード、スーパーファインモードに使用される3パターンのディザパターンZの組み合わせを、面積変動比「Sr」の差が小さくなるように設定する。すなわち、使用候補の各ディザパターンについて、パターンの角度θ、線間距離Lやドットの配列、大きさ等のデータを基にして、面積変動比「Sr」をそれぞれ算出し、算出した面積変動比「Sr」の差が小さくなるように、ファインモード、ノーマルモード、スーパーファインモードに使用される3パターンのディザパターンZの組み合わせを設定する。 As described above, the area variation ratio “Sr” indicates the ease of occurrence of a density difference with respect to the peripheral pixel G2 of the pixel G1 corresponding to the joint of the LED array chip CH. In the second embodiment, as described with reference to FIG. 9 in the first embodiment, the combination of the three dither patterns Z used in the fine mode, the normal mode, and the super fine mode is represented by an area variation ratio “Sr”. The difference is set to be small. That is, for each use dither pattern, the area variation ratio “Sr” is calculated based on data such as the pattern angle θ, the line distance L, the dot arrangement, and the size, and the calculated area variation ratio is calculated. A combination of three dither patterns Z used in the fine mode, normal mode, and super fine mode is set so that the difference in “Sr” is reduced.
このようにすることで、実施形態1と同様に、ファインモード、ノーマルモード、スーパーファインモードに使用される3パターンのディザパターンZを、共通の補正値を使用して光量補正を行った時に、各ディザパターンとも同じように濃度差の不均一を解消することが出来る。 By doing in this way, similarly to the first embodiment, when the light amount correction is performed on the three dither patterns Z used in the fine mode, the normal mode, and the super fine mode using a common correction value, Similarly to each dither pattern, it is possible to eliminate the uneven density difference.
尚、先に説明したように、面積変動比「Sr」はディザパターンZの角度θが大きい程大きくなり、また、線間距離「L」が大きい程小さくなる傾向を示す。そのため、面積変動比Srの差が小さくなるようにディザパターンの組み合わせを決定することは、結局、線間距離Lが比較的広いノーマルモードは、角度の大きなディザパターンを選択し、線間距離Lが中程度のファインモードは、角度が中程度のディザパターンを選択し、また線間距離Lが比較的狭いスーパーファインモードは角度θの小さなディザパターンを選択することと、実質的に等価である。 As described above, the area variation ratio “Sr” tends to increase as the angle θ of the dither pattern Z increases, and decreases as the interline distance “L” increases. Therefore, determining the combination of dither patterns so that the difference in the area variation ratio Sr is small means that, in the normal mode in which the inter-line distance L is relatively wide, a dither pattern having a large angle is selected and the inter-line distance L The medium fine mode is substantially equivalent to selecting a dither pattern having a medium angle, and the super fine mode having a relatively small distance L between lines is substantially equivalent to selecting a dither pattern having a small angle θ. .
そして、設計段階で決定した3種類のディザパターンZの面積変動比「Sr」はRAM100Bに対して予め記憶され、印字に伴って、LEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pbの光量補正を行う時に活用されるように構成されている。
Then, the area variation ratio “Sr” of the three types of dither patterns Z determined in the design stage is stored in advance in the
具体的には、実施形態2では、LEDアレイチップCHの継目に対応する画素G1の周辺画素G2に対する濃度差の発生し易さを示すパラメータに、面積変動比Srを適用している。そのため、ファインモード用のディザパターンZ、ノーマルモード用のディザパターンZ、スーパーファインモード用のディザパターンZについて、発光素子Pa、Pbの光量の補正値Xを、以下の(6)式に基づいてそれぞれ算出する。 Specifically, in the second embodiment, the area variation ratio Sr is applied to a parameter indicating the ease of occurrence of a density difference with respect to the peripheral pixel G2 of the pixel G1 corresponding to the joint of the LED array chip CH. Therefore, for the fine mode dither pattern Z, the normal mode dither pattern Z, and the super fine mode dither pattern Z, the correction values X of the light amounts of the light emitting elements Pa and Pb are based on the following equation (6). Calculate each.
X=F(ΔD、Sr)・・・・・・・・・・・(6)式 X = F (ΔD, Sr) (6)
そして、求めた各ディザパターンZの補正値Xから、実施形態1と同様にそれらの共通補正値Xvを算出し、算出した共通補正値Xvを使用して、各ディザパターンについてLEDアレイチップCHの継目における発光素子Pa、Pbの発光時間を補正する。 Then, the common correction value Xv is calculated from the obtained correction value X of each dither pattern Z in the same manner as in the first embodiment, and the LED array chip CH of each dither pattern is calculated for each dither pattern using the calculated common correction value Xv. The light emission times of the light emitting elements Pa and Pb at the joint are corrected.
このようにすれば、実施形態1と同様、用意されたディザパターン毎に異なる補正値を使用して光量補正を行う場合に比べて、RAM100Bに記憶する補正値を減らすことが出来る。そのため、RAM100Bの消費を抑制することが出来る。また、異なるディザパターンを使用する毎に、補正値を変更する必要がないため、動作速度を高速にできる。
In this way, the correction value stored in the
<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
<Other embodiments>
The present invention is not limited to the embodiments described with reference to the above description and drawings. For example, the following embodiments are also included in the technical scope of the present invention.
(1)実施形態1、2では、発光アレイの一例として、発光素子Pに発光ダイオードを用いたLEDアレイを例示したが、発光素子に有機EL(エレクトロルミネセンス)素子を用いた有機ELアレイを用いることも可能である。
(1) In
(2)実施形態1、2では、LEDアレイチップCHのチップ端に位置する発光素子Pa、Pbの光量を補正した例を挙げた。光量の補正対象は、発光素子Pa、Pbだけに限定されるものではなく、チップ端に位置する複数の発光素子を対象としてもよい。例えば、発光素子Pa、Pbと、それに隣接する2つの発光素子を含む、合計4つの発光素子としてもよい。 (2) In the first and second embodiments, the example in which the light amounts of the light emitting elements Pa and Pb located at the chip end of the LED array chip CH are corrected has been described. The correction target of the light amount is not limited to the light emitting elements Pa and Pb, and a plurality of light emitting elements located at the chip end may be targeted. For example, a total of four light emitting elements including the light emitting elements Pa and Pb and two light emitting elements adjacent thereto may be used.
(3)上記実施形態では、制御装置100の演算制御部100Aを、CPUにより構成する例を示したが、演算制御部100をASIC等のハード回路により構成してもよく、またCPUとASIC等のハード回路を組み合わせた構成にしてもよい。
(3) In the above embodiment, the
(4)上記実施形態では、画像モードに「ファインモード」、「ノーマルモード」、「スーパーファインモード」の3種類のモードを設定した例を説明した。画像モードは例えば、「ファインモード」と「ノーマルモード」など2種類だけにしてもよい。この場合、2種のモード間で線間距離に差があればよく、各色のディザパターンを次のように組み合わせることが出来る。すなわち、「ノーマルモード」の場合、「ブラック」を実施形態1の3種類のモード設定時の「ノーマルモード」に対応するディザパターンとし、「イエロー」を「ファインモード」に対応するディザパターンとし、「マゼンタ」を「ノーマルモード」に対応するディザパターンとし、「シアン」を「ノーマルモード」に対応するディザパターンとする。一方、「ファインモード」の場合、「ブラック」を実施形態1の3種類のモード設定時の「スーパーファインモード」に対応するディザパターンとし「イエロー」を「スーパーファインモード」に対応するディザパターンとし、「マゼンタ」を「ファインモード」に対応するディザパターンとし、「シアン」を「ファインモード」に対応するディザパターンとする。 (4) In the above embodiment, an example in which three types of modes of “fine mode”, “normal mode”, and “super fine mode” are set as the image mode has been described. For example, there may be only two image modes, such as “fine mode” and “normal mode”. In this case, it is only necessary that the distance between the two modes is different, and the dither patterns of the respective colors can be combined as follows. That is, in the case of “normal mode”, “black” is a dither pattern corresponding to “normal mode” at the time of setting the three types of modes of the first embodiment, “yellow” is a dither pattern corresponding to “fine mode”, “Magenta” is a dither pattern corresponding to “normal mode”, and “cyan” is a dither pattern corresponding to “normal mode”. On the other hand, in the case of the “fine mode”, “black” is a dither pattern corresponding to the “super fine mode” in the three types of mode setting of the first embodiment, and “yellow” is a dither pattern corresponding to the “super fine mode”. , “Magenta” is a dither pattern corresponding to “fine mode”, and “cyan” is a dither pattern corresponding to “fine mode”.
1...プリンタ(本発明の「画像形成装置」の一例)
30...画像形成部
40...LEDユニット
41...LEDアレイ(本発明の「発光アレイ」の一例)
53...感光体ドラム(本発明の「感光体」の一例)
100...制御装置
100A...演算制御部(本発明の「制御部」の一例)
110...発光制御装置
CH...LEDアレイチップ(本発明の「発光チップ」の一例)
M...メモリ
P...発光素子
T...発光時間
X...補正値
θ...ディザパターンの角度
Sr...面積変動比
Z...ディザパターン
1. Printer (an example of the “image forming apparatus” of the present invention)
30 ...
53. Photosensitive drum (an example of the “photosensitive member” of the present invention)
DESCRIPTION OF
110 ... light emission control device CH ... LED array chip (an example of the "light emitting chip" of the present invention)
M ... Memory P ... Light emitting element T ... Light emission time X ... Correction value θ ... Dither pattern angle Sr ... Area variation ratio Z ... Dither pattern
Claims (6)
前記画像の階調を表すディザパターンであって、前記画像形成部によって画像が形成される時に使用されるディザパターンが複数格納されるメモリと、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記発光チップの端部に対応する画素の周辺画素に対する濃度差の発生しや易さを表すパラメータの値が第1値である第1ディザパターンを構成する画素のうち、前記発光チップの端部に対応する画素の濃度が周辺画素の濃度に近づくように、前記第1値に応じて、前記端部に位置する前記発光素子の光量を補正するため第1補正値を算出する第1算出処理と、
前記発光チップの端部に対応する画素の周辺画素に対する濃度差の発生しや易さを表すパラメータの値が第2値であり、かつ前記第1ディザパターンと同一色に使用される第2ディザパターンを構成する画素のうち、前記発光チップの端部に対応する画素の濃度が周辺画素の濃度に近づくように、前記第2値に応じて、前記端部に位置する前記発光素子の光量を補正するため第2補正値を算出する第2算出処理と、
前記第1算出処理にて算出された前記第1補正値と、前記第2算出処理にて算出された第2補正値とに基づいて、共通補正値を算出する共通補正値算出処理と、
前記共通補正値算出処理にて算出された前記共通補正値を前記メモリに格納する格納処理と、
前記第1ディザパターンを使用して画像を形成する第1画像形成モード、前記第2ディザパターンを使用して画像を形成する第2画像形成モードの双方の画像形成モードで、前記格納処理にて前記メモリに格納された前記共通補正値を用いて、前記端部に位置する前記発光素子の光量を補正する補正処理と、を行う画像形成装置。 A light emitting array in which light emitting chips having a plurality of light emitting elements are arranged in the main scanning direction is provided as an exposure device, and an image is recorded on a recording medium using an electrostatic latent image formed on a photosensitive member exposed by the light emitting array. An image forming unit to be formed;
A dither pattern representing the gradation of the image, a memory storing a plurality of dither patterns used when an image is formed by the image forming unit;
A control unit,
The controller is
Of the pixels constituting the first dither pattern in which the value of the parameter representing the ease of occurrence of the density difference with respect to the peripheral pixels of the pixel corresponding to the edge of the light emitting chip is the first value, the edge of the light emitting chip A first calculation process for calculating a first correction value for correcting the light amount of the light emitting element located at the end in accordance with the first value so that the density of the pixel corresponding to the pixel approaches the density of the surrounding pixels. When,
A second dither value used for the same color as the first dither pattern is a parameter value representing the ease of occurrence of a density difference with respect to the peripheral pixels of the pixel corresponding to the edge of the light emitting chip. Among the pixels constituting the pattern, the light amount of the light emitting element located at the end is set according to the second value so that the density of the pixel corresponding to the end of the light emitting chip approaches the density of the peripheral pixel. A second calculation process for calculating a second correction value for correction;
A common correction value calculation process for calculating a common correction value based on the first correction value calculated in the first calculation process and the second correction value calculated in the second calculation process;
A storage process for storing the common correction value calculated in the common correction value calculation process in the memory;
In the storage process, the image forming mode includes both a first image forming mode for forming an image using the first dither pattern and a second image forming mode for forming an image using the second dither pattern. An image forming apparatus that performs a correction process for correcting the light amount of the light emitting element located at the end using the common correction value stored in the memory.
前記発光チップの端部に対応する画素の周辺画素に対する濃度差の発生しや易さを表すパラメータの値の差が小さくなるように、同一色に使用される2つのディザパターンのパラメータの値を設定するディザパターンの設定方法。 A method of setting a dither pattern formed using a light emitting array in which light emitting chips having a plurality of light emitting elements are arranged in the main scanning direction and representing the gradation of an image,
The parameter values of the two dither patterns used for the same color are reduced so that the difference in the parameter value indicating the ease of occurrence of the density difference with respect to the peripheral pixels of the pixel corresponding to the edge of the light emitting chip is reduced. How to set the dither pattern to be set.
前記主走査方向に関する角度差が小さくなるように、同一色に使用される2つのディザパターンの線分の角度を設定する請求項4に記載のディザパターンの設定方法。 The parameter is an angle with respect to a main scanning direction of a line segment constituting the dither pattern,
The dither pattern setting method according to claim 4, wherein an angle of a line segment of two dither patterns used for the same color is set so that an angle difference with respect to the main scanning direction is small.
前記面積変動比が小さくなるように、同一色に使用される2つのディザパターンの線分の角度と線間距離を設定する請求項4に記載のディザパターンの設定方法。 The parameter is an area variation ratio of a blank portion existing between the dither patterns with respect to a change in a distance between two light emitting elements located at an end portion of the light emitting chip.
The dither pattern setting method according to claim 4, wherein an angle and a distance between the line segments of two dither patterns used for the same color are set so that the area variation ratio becomes small.
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Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006035784A (en) * | 2004-07-30 | 2006-02-09 | Kyocera Mita Corp | Led-array exposure equipment and image formation device equipped with it |
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006035784A (en) * | 2004-07-30 | 2006-02-09 | Kyocera Mita Corp | Led-array exposure equipment and image formation device equipped with it |
| JP2010268359A (en) * | 2009-05-18 | 2010-11-25 | Brother Ind Ltd | Image processing apparatus and image processing program |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017064970A (en) * | 2015-09-29 | 2017-04-06 | ブラザー工業株式会社 | Exposure apparatus, control method therefor, and computer program applied to control apparatus in exposure apparatus |
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