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JP2014085303A - Automatic analysis device - Google Patents

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JP2014085303A
JP2014085303A JP2012236667A JP2012236667A JP2014085303A JP 2014085303 A JP2014085303 A JP 2014085303A JP 2012236667 A JP2012236667 A JP 2012236667A JP 2012236667 A JP2012236667 A JP 2012236667A JP 2014085303 A JP2014085303 A JP 2014085303A
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reagent
cleaning
sample
constant temperature
cuvette
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Asuka Uchikawa
明日香 内川
Shoichi Kanayama
省一 金山
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Toshiba Corp
Canon Medical Systems Corp
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Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Corp
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

【課題】反応ラインの半径方向に対する幅が検査容器より大きい構造物が検査容器どうしの間に配置されている場合においても、効果的に検査容器の表面の洗浄が可能な自動分析装置を提供する。
【解決手段】サンプルを収容するための検査容器4と、所定の経路に沿って整列した複数の検査容器を、所定の経路に沿って搬送する搬送手段と、恒温に保持された液体を収容し、液体中に検査容器を浸漬する恒温槽30と、検査容器の外壁に向けて洗浄用の液体を放出する洗浄手段28aと、を備える。
【選択図】図6
The present invention provides an automatic analyzer capable of effectively cleaning the surface of a cuvette even when a structure having a larger width in the radial direction of a reaction line is disposed between cuvettes. .
A test container for storing a sample, a transport means for transporting a plurality of test containers arranged along a predetermined path along a predetermined path, and a liquid held at a constant temperature are stored. And a constant temperature bath 30 in which the cuvette is immersed in the liquid, and a cleaning means 28a for discharging the liquid for cleaning toward the outer wall of the cuvette.
[Selection] Figure 6

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to an automatic analyzer.

自動分析装置は、血液などの検査試料と種々検査項目に対応する試薬とを混合することで得られる検査液を、例えば光学的に測定すること(測光)によって、検査項目に対応した検査試料の成分を分析する装置である。   The automatic analyzer can measure the test liquid corresponding to the test item by, for example, optically measuring the test liquid obtained by mixing the test sample such as blood and the reagent corresponding to various test items (photometry). It is a device for analyzing components.

自動分析装置は、環状の反応ラインに沿って一列に整列した検査容器の搬送に合わせて、検査試料の分注、試薬の分注、検査液の攪拌、測光、検査容器の洗浄を行う。   The automatic analyzer performs dispensing of the test sample, dispensing of the reagent, stirring of the test liquid, photometry, and washing of the test container in accordance with the transport of the test containers aligned in a line along the annular reaction line.

通常、自動分析装置では、分析の精度を高めるために、検査液の温度を一定に保つことが必要とされている。そのため、検査容器は恒温水中に浸漬されている。しかし、検査容器が恒温水中に浸漬されることによって検査容器表面に気泡や水垢などが付着してしまい、このことが測光の障害になってしまう。従来の自動分析装置では、検査容器表面の洗浄手段として、恒温水を収容している恒温槽の一部にワイパを設け、検査容器表面にワイパを圧接することで洗浄していた(特許文献1)。   In general, in an automatic analyzer, it is necessary to keep the temperature of the test solution constant in order to increase the accuracy of analysis. Therefore, the inspection container is immersed in constant temperature water. However, when the cuvette is immersed in constant temperature water, bubbles, scales, and the like adhere to the cuvette surface, which becomes an obstacle to photometry. In the conventional automatic analyzer, as a cleaning means for the surface of the inspection container, a wiper is provided in a part of the constant temperature bath containing constant temperature water, and the wiper is pressed against the surface of the inspection container for cleaning (Patent Document 1). ).

特公平1−43268号公報Japanese Patent Publication No. 1-343268

しかし、反応ラインの半径方向における幅が検査容器より大きい構造物が検査容器どうしの間に配置されている場合、特許文献1のような洗浄手段では、検査容器の表面にワイパが十分に圧接しないため、検査容器表面をうまく洗浄できない。また、構造物との干渉によるワイパの劣化も激しくなってしまう。   However, when structures having a reaction line radial width larger than the cuvette are arranged between the cuvettes, the wiper does not sufficiently press the surface of the cuvette in the cleaning means as in Patent Document 1. Therefore, the surface of the inspection container cannot be cleaned well. Moreover, the deterioration of the wiper due to the interference with the structure also becomes severe.

本発明が解決しようとする課題は、反応ラインの半径方向に対する幅が検査容器より大きい構造物が検査容器どうしの間に配置されている場合においても、効果的に検査容器の表面の洗浄が可能な自動分析装置を提供することである。
The problem to be solved by the present invention is that the surface of the cuvette can be effectively cleaned even when a structure having a larger width in the radial direction of the reaction line is arranged between the cuvettes. Is to provide a simple automatic analyzer.

上記課題を解決するために、実施形態の自動分析装置は、サンプルを収容するための検査容器と、所定の経路に沿って整列した複数の前記検査容器を、前記所定の経路に沿って搬送する搬送手段と、前記検査容器の外壁に向けて洗浄用の液体を放出する洗浄手段と、を備える。   In order to solve the above-described problem, an automatic analyzer according to an embodiment transports a test container for containing a sample and a plurality of test containers aligned along a predetermined path along the predetermined path. A transport unit; and a cleaning unit that discharges a cleaning liquid toward the outer wall of the cuvette.

本実施形態における自動分析装置の概観図。1 is an overview diagram of an automatic analyzer according to the present embodiment. 本実施形態における自動分析装置のブロック図。The block diagram of the automatic analyzer in this embodiment. 本実施形態における検査容器及び構造物の配列の平面図。The top view of the arrangement | sequence of the test container and structure in this embodiment. 本実施形態における検査容器及び構造物の斜視図。The perspective view of the inspection container and structure in this embodiment. 本実施形態における洗浄ユニット近傍の断面図。Sectional drawing of the washing | cleaning unit vicinity in this embodiment. 本実施形態における洗浄ユニット近傍の平面図。The top view of the washing | cleaning unit vicinity in this embodiment. 本実施形態における洗浄ユニット近傍の平面図2。The top view 2 of the washing | cleaning unit vicinity in this embodiment. 本実施形態における反応ディスク及び洗浄ユニットの動作のタイムチャート1。The time chart 1 of operation | movement of the reaction disk and washing | cleaning unit in this embodiment. 本実施形態における反応ディスク及び洗浄ユニットの動作のタイムチャート2。The time chart 2 of the operation | movement of the reaction disk and washing | cleaning unit in this embodiment. 本実施形態における反応ディスク及び洗浄ユニットの動作のタイムチャート3。The time chart 3 of the operation | movement of the reaction disk and washing | cleaning unit in this embodiment. 本実施形態の変形例における洗浄ユニット近傍の断面図。Sectional drawing of the washing | cleaning unit vicinity in the modification of this embodiment.

以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施例1)
図1及び図2は、本実施例に係る自動分析装置の外観図及びブロック図である。本実施例に係る自動分析装置は、反応ディスク5、サンプルディスク6、第一試薬庫2、第二試薬庫3、検査容器4、サンプルアーム10、サンプルプローブ16、サンプル容器17、第一試薬アーム8、第一試薬プローブ14、第一試薬容器7、第二試薬アーム9、第二試薬プローブ15、第二試薬容器27、撹拌機構11、測光機構13、洗浄機構12、分析機構制御部21、解析部22、表示部23、操作部24、洗浄ユニット28、恒温槽30を有する。
Example 1
1 and 2 are an external view and a block diagram of an automatic analyzer according to the present embodiment. The automatic analyzer according to this embodiment includes a reaction disk 5, a sample disk 6, a first reagent container 2, a second reagent container 3, a test container 4, a sample arm 10, a sample probe 16, a sample container 17, and a first reagent arm. 8, first reagent probe 14, first reagent container 7, second reagent arm 9, second reagent probe 15, second reagent container 27, stirring mechanism 11, photometric mechanism 13, washing mechanism 12, analysis mechanism control unit 21, An analysis unit 22, a display unit 23, an operation unit 24, a cleaning unit 28, and a constant temperature bath 30 are included.

反応ディスク5は、脱気した恒温水の入った恒温槽30の中に、複数の検査容器4を環状に保持する。反応ディスク5は、分析機構制御部21からの指示に従って、既定の時間間隔で回動と停止とを交互に繰り返す。   The reaction disk 5 holds a plurality of cuvettes 4 in an annular shape in a thermostatic bath 30 containing degassed isothermal water. The reaction disk 5 repeats rotation and stop alternately at predetermined time intervals according to instructions from the analysis mechanism control unit 21.

サンプルディスク6は、反応ディスク5の近傍に位置する。サンプルディスク6は、検査試料を収容するためのサンプル容器17を保持する。サンプルディスク6は、分析機構制御部21からの指示に従って、分注対象の検査試料を収容したサンプル容器17をサンプル吸入位置に配置するように回動する。   The sample disk 6 is located in the vicinity of the reaction disk 5. The sample disk 6 holds a sample container 17 for accommodating a test sample. The sample disk 6 is rotated in accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21 so as to place the sample container 17 containing the test sample to be dispensed at the sample suction position.

第一試薬庫2は、反応ディスク5の近傍に位置する。第一試薬庫2は、検査試料の検査項目に選択的に反応する第一試薬を収容するための複数の第一試薬容器7を保持する。第一試薬庫2は、分析機構制御部21からの指示に従って、分注対象の第一試薬を収容した第一試薬容器7を第一試薬吸入位置に配置するように回動する。   The first reagent storage 2 is located in the vicinity of the reaction disk 5. The first reagent storage 2 holds a plurality of first reagent containers 7 for containing a first reagent that selectively reacts with an inspection item of an inspection sample. In accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21, the first reagent container 2 rotates so as to place the first reagent container 7 containing the first reagent to be dispensed at the first reagent suction position.

第二試薬庫3は、反応ディスク5の近傍に位置する。第二試薬庫3は、第二試薬を収容するための複数の第二試薬容器27を保持する。第二試薬庫3は、分析機構制御部21からの指示に従って、分注対象の第二試薬を収容した第二試薬容器27を第二試薬吸入位置に配置するように回動する。   The second reagent storage 3 is located in the vicinity of the reaction disk 5. The second reagent storage 3 holds a plurality of second reagent containers 27 for accommodating the second reagent. In accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21, the second reagent container 3 rotates so as to place the second reagent container 27 containing the second reagent to be dispensed at the second reagent suction position.

サンプルアーム10は、反応ディスク5とサンプルディスク6との間に位置する。サンプルアーム10は、自身の先端部にサンプルプローブ16を有する。また、サンプルアーム10は、サンプルプローブ16を有していない端部を軸として回動可能である。   The sample arm 10 is located between the reaction disk 5 and the sample disk 6. The sample arm 10 has a sample probe 16 at its tip. Further, the sample arm 10 is rotatable about an end portion that does not have the sample probe 16 as an axis.

サンプルアーム10は、サンプルプローブ16を上下動可能に支持する。分析機構制御部21は、サンプルプローブ16の上下動の移動量及びタイミングを制御する。また、分析機構制御部21は、検査試料の吸入と吐出の量及びタイミングを制御する。   The sample arm 10 supports the sample probe 16 so as to be movable up and down. The analysis mechanism control unit 21 controls the amount and timing of vertical movement of the sample probe 16. The analysis mechanism control unit 21 controls the amount and timing of inhalation and ejection of the test sample.

サンプルプアーム10は、分析機構制御部21からの指示に従って、サンプルプローブ16がサンプルディスク6におけるサンプル吸入位置の直上と、反応ディスク5におけるサンプル吐出位置の直上との間を往復するように回動する。   In accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21, the sample probe 10 rotates so that the sample probe 16 reciprocates between the sample suction position on the sample disk 6 and the sample discharge position on the reaction disk 5. To do.

サンプルプローブ16がサンプル吸入位置の直上に位置すると、サンプルプローブ16は下方向に移動する。サンプルプローブ16は、サンプル吸入位置のサンプル容器17から、図示しないポンプなどの吸引吐出機構を介して、分注対象の検査試料を吸入する。サンプルプローブ16は、検査試料の吸入後、上方向に移動する。その後、サンプルアーム10は、サンプルプローブ16がサンプル吐出位置の直上まで移動するように回動する。   When the sample probe 16 is located immediately above the sample suction position, the sample probe 16 moves downward. The sample probe 16 sucks a test sample to be dispensed from a sample container 17 at a sample suction position via a suction / discharge mechanism such as a pump (not shown). The sample probe 16 moves upward after inhalation of the test sample. Thereafter, the sample arm 10 rotates so that the sample probe 16 moves to a position immediately above the sample discharge position.

サンプルプローブ16がサンプル吐出位置の直上に位置すると、サンプルプローブ16は下方向に移動する。サンプルプローブ16は、サンプル吐出位置の検査容器4に、サンプル吸入位置で吸入した検査試料を、図示しないポンプなどの吸引吐出機構を介して、吐出する。サンプルプローブ16は、検査試料の吐出後、上方向に移動する。その後、サンプルアーム10は、サンプルプローブ16がサンプル吸入位置の直上まで移動するように回動する。   When the sample probe 16 is located immediately above the sample discharge position, the sample probe 16 moves downward. The sample probe 16 discharges the test sample sucked at the sample suction position to the test container 4 at the sample discharge position via a suction / discharge mechanism such as a pump (not shown). The sample probe 16 moves upward after discharging the inspection sample. Thereafter, the sample arm 10 rotates so that the sample probe 16 moves to a position just above the sample suction position.

第一試薬アーム8は、反応ディスク5の外周近傍に位置する。第一試薬アーム8は、自身の先端に第一試薬プローブ14を有する。また、第一試薬アーム8は、第一試薬プローブ14を有していない端部を軸として回動可能である。   The first reagent arm 8 is located near the outer periphery of the reaction disk 5. The first reagent arm 8 has a first reagent probe 14 at its tip. Further, the first reagent arm 8 is rotatable about an end portion that does not have the first reagent probe 14 as an axis.

第一試薬アーム8は、第一試薬プローブ14を上下動可能に支持する。分析機構制御部21は、第一試薬プローブ14の上下動の移動量及びタイミングを制御する。また、分析機構制御部21は、第一試薬の吸入と吐出の量及びタイミングを制御する。   The first reagent arm 8 supports the first reagent probe 14 so as to be movable up and down. The analysis mechanism control unit 21 controls the amount and timing of vertical movement of the first reagent probe 14. The analysis mechanism control unit 21 controls the amount and timing of inhalation and ejection of the first reagent.

第一試薬アーム8は、分析機構制御部21からの指示に従って、第一試薬プローブ14が第一試薬庫2における第一試薬吸入位置の直上と、反応ディスク5における第一試薬吐出位置直上との間を往復するように回動する。   In accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21, the first reagent arm 8 has a first reagent probe 14 immediately above the first reagent suction position in the first reagent storage 2 and immediately above the first reagent discharge position in the reaction disk 5. It rotates to reciprocate between them.

第一試薬プローブ14が第一試薬吸入位置の直上に位置すると、第一試薬プローブ14は下方向に移動する。第一試薬プローブ14は、第一試薬吸入位置の第一試薬容器7から、図示しないポンプなどの吸引吐出機構を介して、第一試薬を吸入する。第一試薬プローブ14は、第一試薬の吸入後、上方向に移動する。その後、第一試薬アーム8は、第一試薬プローブ14が第一試薬吐出位置の直上まで移動するように回動する。   When the first reagent probe 14 is located immediately above the first reagent inhalation position, the first reagent probe 14 moves downward. The first reagent probe 14 sucks the first reagent from the first reagent container 7 at the first reagent suction position via a suction / discharge mechanism such as a pump (not shown). The first reagent probe 14 moves upward after inhalation of the first reagent. Thereafter, the first reagent arm 8 rotates so that the first reagent probe 14 moves to a position immediately above the first reagent discharge position.

第一試薬プローブ14が第一試薬吐出位置の直上に位置すると、第一試薬吐出位置の検査容器4に、第一試薬吸入位置で吸入した検査試料を、図示しないポンプなどの吸引吐出機構を介して吐出する。その後、第一試薬アーム8は、第一試薬プローブ14が第一試薬吸入位置の直上まで移動するように回動する。   When the first reagent probe 14 is located immediately above the first reagent discharge position, the test sample sucked at the first reagent suction position into the test container 4 at the first reagent discharge position is passed through a suction / discharge mechanism such as a pump (not shown). To discharge. Thereafter, the first reagent arm 8 rotates so that the first reagent probe 14 moves to a position immediately above the first reagent suction position.

第二試薬アーム9は、反応ディスク5と第2試薬庫3との間に位置する。第二試薬アーム9は、自身の先端に第二試薬プローブ15を有する。また、第二試薬アーム9は、第二試薬プローブ15を有していない端部を軸として回動可能である。   The second reagent arm 9 is located between the reaction disk 5 and the second reagent storage 3. The second reagent arm 9 has a second reagent probe 15 at its tip. Further, the second reagent arm 9 is rotatable about an end portion that does not have the second reagent probe 15 as an axis.

第二試薬アーム9は、第二試薬プローブ15を上下動可能に支持する。分析機構制御部21は、第二試薬プローブ15の上下動の移動量及びタイミングを制御する。また、分析機構制御部21は、第二試薬の吸入と吐出の量及びタイミングを制御する。   The second reagent arm 9 supports the second reagent probe 15 so as to be movable up and down. The analysis mechanism control unit 21 controls the amount and timing of vertical movement of the second reagent probe 15. The analysis mechanism controller 21 controls the amount and timing of the second reagent inhalation and ejection.

第二試薬アーム9は、分析機構制御部21からの指示に従って、第二試薬プローブ15が第二試薬庫3における第二試薬吸入位置の直上と、反応ディスク5における第二試薬吐出位置の直上との間を往復するように回動する。   In accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21, the second reagent arm 9 includes the second reagent probe 15 directly above the second reagent suction position in the second reagent storage 3 and immediately above the second reagent discharge position in the reaction disk 5. Rotate to reciprocate between.

第二試薬プローブ15が第二試薬吸入位置の直上に位置すると、第二試薬プローブ15は下方向に移動する。第二試薬プローブ15は、第二試薬吸入位置の第二試薬容器27から、図示しないポンプなどの吸引吐出機構を介して、第二試薬を吸入する。第二試薬プローブ15は、第二試薬の吸入後、上方向に移動する。その後、第二試薬アーム9は、第二試薬プローブ15が第二試薬吐出位置の直上まで移動するように回動する。   When the second reagent probe 15 is positioned immediately above the second reagent suction position, the second reagent probe 15 moves downward. The second reagent probe 15 sucks the second reagent from the second reagent container 27 at the second reagent suction position via a suction / discharge mechanism such as a pump (not shown). The second reagent probe 15 moves upward after inhalation of the second reagent. Thereafter, the second reagent arm 9 rotates so that the second reagent probe 15 moves to a position immediately above the second reagent discharge position.

第二試薬プローブ15が第二試薬吐出位置の直上に位置すると、第二試薬吐出位置の検査容器4に、第二試薬吸入位置で吸入した検査試料を、図示しないポンプなどの吸引吐出機構を介して吐出する。その後、第二試薬アーム9は、第二試薬プローブ15が第二試薬吸入位置の直上まで移動するように回動する。   When the second reagent probe 15 is positioned immediately above the second reagent discharge position, the test sample sucked at the second reagent suction position into the test container 4 at the second reagent discharge position is passed through a suction / discharge mechanism such as a pump (not shown). To discharge. Thereafter, the second reagent arm 9 rotates so that the second reagent probe 15 moves to a position immediately above the second reagent suction position.

以下、検査試料と試薬との混合液を検査液と呼ぶこととする。   Hereinafter, the liquid mixture of the test sample and the reagent is referred to as a test liquid.

撹拌機構11は、反応ディスク5の外周近傍に位置する。撹拌機構11は、攪拌子を自身の先端部に、上下動が可能なように保持する。また、攪拌子は、反応ディスク5の撹拌位置の直上に位置する。   The stirring mechanism 11 is located near the outer periphery of the reaction disk 5. The stirring mechanism 11 holds the stirring bar at its tip so that it can move up and down. Further, the stirring bar is located immediately above the stirring position of the reaction disk 5.

攪拌機構11は、分析機構制御部21からの指示に従って動作する。未攪拌の検査液を収容している検査容器4が攪拌位置に移動した場合、攪拌子は下方向に移動し、検査液を攪拌する。攪拌後、攪拌子は上方向に移動し、元の位置で停止する。   The stirring mechanism 11 operates according to instructions from the analysis mechanism control unit 21. When the test container 4 containing the unstirred test liquid moves to the stirring position, the stirrer moves downward to stir the test liquid. After stirring, the stirring bar moves upward and stops at the original position.

測光機構13は、検出部25と光源26を有する。測光機構13は、反応ディスク5近傍に位置する。測光機構13は、分析機構制御部21からの指示に従って、検査容器4に対して、光源26より光を照射する。   The photometric mechanism 13 includes a detection unit 25 and a light source 26. The photometric mechanism 13 is located in the vicinity of the reaction disk 5. The photometric mechanism 13 irradiates the cuvette 4 with light from the light source 26 in accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21.

検出部25は、検査容器4及び検査液を透過した光、検査容器4及び検査液によって反射した光、あるいは、検査容器4及び検査液によって散乱した光を検出する。検出部25は、検出した光の強度に応じた計測値を有するデータ(測光データ)を生成する。検出部25は測光データを、解析部22に送信する。   The detection unit 25 detects light transmitted through the inspection container 4 and the inspection liquid, light reflected by the inspection container 4 and the inspection liquid, or light scattered by the inspection container 4 and the inspection liquid. The detection unit 25 generates data (photometry data) having a measurement value corresponding to the detected light intensity. The detection unit 25 transmits the photometric data to the analysis unit 22.

洗浄機構12は、反応ディスク5の外周近傍に位置する。洗浄機構12は、分析機構制御部21からの指示に従って、図示しない洗浄ノズルなどを介して、測光を終えた検査液の廃棄および検査容器4の内部の洗浄を行う。   The cleaning mechanism 12 is located near the outer periphery of the reaction disk 5. In accordance with an instruction from the analysis mechanism control unit 21, the cleaning mechanism 12 discards the test solution after photometry and cleans the inside of the test container 4 through a cleaning nozzle (not shown).

分析機構制御部21は、操作部24からの指示に従って、反応ディスク5の回動、サンプルディスク6の回動、第一試薬庫2の回動、第二試薬庫3の回動、サンプルアーム10の回動と上下動、サンプルプローブ16の吸引と吐出、第一試薬アーム8の回動と上下動、第一試薬プローブ14の吸引と吐出、第二試薬アーム9の回動と上下動、第二試薬プローブ15の吸引と吐出、攪拌機構11の動作、測光機構13による測光、洗浄機構12の動作、洗浄ユニット28の動作(後述)を制御する。   The analysis mechanism control unit 21 rotates the reaction disk 5, the sample disk 6, the first reagent container 2, the second reagent container 3, and the sample arm 10 according to instructions from the operation unit 24. Rotation and vertical movement, suction and discharge of the sample probe 16, rotation and vertical movement of the first reagent arm 8, suction and discharge of the first reagent probe 14, rotation and vertical movement of the second reagent arm 9, The suction and discharge of the two-reagent probe 15, the operation of the stirring mechanism 11, the photometry by the photometry mechanism 13, the operation of the cleaning mechanism 12, and the operation (described later) of the cleaning unit 28 are controlled.

解析部22は、検出部25から送信された測光データを受信し、解析用のアプリケーションソフトウェアなどを用いて解析データを作成する。また解析部22は、当該解析データを表示部23に送信する。   The analysis unit 22 receives the photometric data transmitted from the detection unit 25, and creates analysis data using application software for analysis. The analysis unit 22 transmits the analysis data to the display unit 23.

表示部23は、解析部22から受け取った解析データや、所定の操作画面を表示する。   The display unit 23 displays analysis data received from the analysis unit 22 and a predetermined operation screen.

操作部24は、オペレータが分析機構制御部21と解析部22に指示を行うための操作手段(マウスやトラックボール、キーボードなど)を有する。   The operation unit 24 includes operation means (such as a mouse, a trackball, and a keyboard) for an operator to give instructions to the analysis mechanism control unit 21 and the analysis unit 22.

図3は、本実施例における検査容器4及び構造物29の配列の平面図である。図3のように、本実施例では、反応容器4と構造物29とが、交互、且つ、環状に整列している。構造物29は、検査容器4の搬送経路の半径方向における幅が検査容器4より大きい。そのため、検査容器4と構造物29とが交互に整列した場合、検査容器4の搬送経路の半径方向において構造物29の方が検査容器4より突出する。   FIG. 3 is a plan view of the arrangement of the cuvette 4 and the structure 29 in the present embodiment. As shown in FIG. 3, in this embodiment, the reaction vessels 4 and the structures 29 are alternately and annularly aligned. The width of the structure 29 in the radial direction of the transport path of the cuvette 4 is larger than that of the cuvette 4. Therefore, when the inspection container 4 and the structure 29 are alternately arranged, the structure 29 protrudes from the inspection container 4 in the radial direction of the conveyance path of the inspection container 4.

本実施形態において、構造物29は、例えば、本特許出願人が別途出願中の特願2012−192587に示す、磁石を意図している。検査容器4どうしの間に設置された磁石は、所定の磁場を発生する。この磁場の影響で、検査液中の磁性粒子及び当該磁性粒子に結合している分子と、検査液中のその他の分子とが分離し、当該磁性粒子に結合した分子のみを対象にした測定を行うことができる。   In the present embodiment, the structure 29 is intended to be a magnet, for example, shown in Japanese Patent Application No. 2012-192587 filed separately by the applicant of the present patent application. Magnets installed between the cuvettes 4 generate a predetermined magnetic field. Due to the influence of this magnetic field, the magnetic particles in the test solution and the molecules bound to the magnetic particles are separated from the other molecules in the test solution, and measurement is performed only on the molecules bound to the magnetic particles. It can be carried out.

また、図3において、検出部25及び光源26、更に洗浄ユニット28の配置を示す。   3 shows the arrangement of the detection unit 25, the light source 26, and the cleaning unit 28.

測光による正確な分析結果を得るためには、測光を行う直前、即ち測光機構13の近傍において検査容器4の表面を洗浄する必要がある。しかし、あまりにも測光機構13に近い位置で検査容器4の洗浄を行うと、洗浄による水流や洗浄によって掃き出された汚れの影響によって、正確な分析結果を得られなくなる。したがって、洗浄ユニット28は、測光の直前に検査容器4の表面を洗浄できる位置であって、尚且つ、恒温槽30の水流の変化による測光への影響が小さい位置、例えば、図3におけるB−Bの範囲に配置するのが好ましい。   In order to obtain an accurate analysis result by photometry, it is necessary to clean the surface of the cuvette 4 immediately before photometry, that is, in the vicinity of the photometry mechanism 13. However, if the cuvette 4 is washed too close to the photometric mechanism 13, an accurate analysis result cannot be obtained due to the influence of the water flow caused by washing or the dirt swept out by washing. Therefore, the cleaning unit 28 is a position where the surface of the cuvette 4 can be cleaned immediately before photometry, and the position where the influence on the photometry due to the change of the water flow in the thermostat 30 is small, for example, B- in FIG. It is preferable to arrange in the range of B.

図4は、検査容器4及び構造物29の配列の一部の斜視図である。なお、図3以降の図面においては全て座標系を共有しているものとし、反応ディスクの中心方向をx方向、反応ディスク5の回動方向をy方向、反応ディスクの鉛直上方向をz方向とする。また、図4における破線内の領域は、図3における光源26から照射した光が通過する測光領域31である。   FIG. 4 is a perspective view of a part of the arrangement of the cuvette 4 and the structure 29. 3 and the subsequent drawings all share a coordinate system, the central direction of the reaction disk is the x direction, the rotation direction of the reaction disk 5 is the y direction, and the vertical upward direction of the reaction disk is the z direction. To do. Moreover, the area | region within the broken line in FIG. 4 is the photometry area | region 31 through which the light irradiated from the light source 26 in FIG. 3 passes.

図5は、図3におけるA−Aを通る断面図である。本実施例における洗浄ユニット28は、図5に示すように、ノズル28aを有しており、検査容器4の表面を洗浄するために、恒温槽30に収容している恒温水と同様の恒温水を、図示しないポンプなどの水流調整手段を介して、図5の破線の矢印のように放出する。なお、恒温水の代わりに、より洗浄能力の高い洗浄液を放出しても良いが、十分に脱気することが必要である。オペレータは、操作部24及び分析機構制御部21を介して、放出のタイミング及び強弱を制御する。   FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. As shown in FIG. 5, the cleaning unit 28 in the present embodiment has a nozzle 28 a, and constant temperature water similar to the constant temperature water stored in the constant temperature bath 30 for cleaning the surface of the cuvette 4. Is discharged as indicated by a broken line arrow in FIG. 5 through a water flow adjusting means such as a pump (not shown). Note that a cleaning solution having a higher cleaning ability may be discharged instead of the constant temperature water, but it is necessary to sufficiently deaerate. The operator controls the timing and intensity of release via the operation unit 24 and the analysis mechanism control unit 21.

図5に示すように、ノズル28aによる恒温水の放出軌道を図3のA−Aを通る断面(xz平面)に投影した場合、恒温水の放出軌道は、x方向に対して仰角である角度θ1を成している。一般的に気泡は、液体に対する比重の関係から、水面の方向(のz方向)に移動しやすいため、z方向の成分を有する力を気泡に加えた方が気泡の移動を促進しやすい。したがって、角度θ1を図5のような仰角にすると、気泡は測光領域31付近へ漂うことなく情報の水面方向へ移動するので、気泡の排除が容易になる。一方、当該放出軌道が伏角をなす場合、あるいは、水平方向を向いている場合(θ=0)においては、恒温槽30が収容している恒温水の水面が波立ちにくくなり、検査容器4に恒温水が入り込む可能性を低減できる。   As shown in FIG. 5, when the constant temperature water discharge trajectory by the nozzle 28 a is projected on a cross section (xz plane) passing through AA in FIG. 3, the constant temperature water discharge trajectory is an angle that is an elevation angle with respect to the x direction. θ1 is formed. Generally, bubbles are likely to move in the direction of the water surface (in the z direction) because of the specific gravity relative to the liquid. Therefore, it is easier to promote the movement of bubbles when a force having a component in the z direction is applied to the bubbles. Therefore, when the angle θ1 is set to an elevation angle as shown in FIG. 5, the bubbles move in the direction of the water surface of the information without drifting to the vicinity of the photometric region 31, so that the bubbles can be easily removed. On the other hand, when the discharge trajectory forms an dip or is oriented in the horizontal direction (θ = 0), the water surface of the constant temperature water stored in the constant temperature bath 30 is less likely to ripple, and the constant temperature is maintained in the cuvette 4. The possibility of entering water can be reduced.

図6は、本実施形態における洗浄ユニット28付近の平面図である。図6に示すように、ノズル28aによる恒温水の放出軌道を当該平面図(xy平面)に投影した場合、恒温水の放出軌道は、x方向に対して角度θ2を成している。このとき角度θ2は、図6のようにy方向とは逆の方向の成分を有しているため、ノズル28aから放出した恒温水が、回動する検査容器4と交差的に衝突することになる。この場合、検査容器4に衝突する恒温水の力は、ノズル28aが放出した力より強くなる。したがって、検査容器4を洗浄するのに所定の強さが必要である場合、ノズル28aは当該所定の強さより実質的に弱い力で恒温水を放出しても、恒温水は当該所定の強さで検査容器4に衝突することになるので、消費電力の低減することができる。また、恒温水の放出軌道がy方向とは逆の方向の成分を有している場合は、図6の下側の構造物29と検査容器4との間に堆積する汚れを特に取り除くことができる。   FIG. 6 is a plan view of the vicinity of the cleaning unit 28 in the present embodiment. As shown in FIG. 6, when the constant temperature water discharge trajectory by the nozzle 28 a is projected on the plan view (xy plane), the constant temperature water discharge trajectory forms an angle θ <b> 2 with respect to the x direction. At this time, since the angle θ2 has a component in the direction opposite to the y direction as shown in FIG. 6, the constant temperature water discharged from the nozzle 28a collides with the rotating cuvette 4 in a crossing manner. Become. In this case, the force of the constant temperature water that collides with the cuvette 4 is stronger than the force released by the nozzle 28a. Therefore, when a predetermined strength is required to clean the cuvette 4, even if the nozzle 28a discharges the constant temperature water with a force substantially weaker than the predetermined strength, the constant temperature water has the predetermined strength. Therefore, it will collide with the cuvette 4, so that power consumption can be reduced. Moreover, when the constant temperature water discharge trajectory has a component in the direction opposite to the y direction, the dirt accumulated between the lower structure 29 and the cuvette 4 in FIG. it can.

一方、恒温水の放出軌道がy方向の成分を有している場合は、y方向とは逆の方向の成分を有している場合とは逆に、図6の上側の構造物29と検査容器4との間に堆積する汚れを特に取り除くことができる。   On the other hand, when the constant temperature water discharge trajectory has a component in the y direction, the structure 29 on the upper side of FIG. In particular, dirt accumulated between the container 4 and the container 4 can be removed.

また、恒温水の放出軌道がy方向の成分及びy方向と逆の方向の成分を有していない場合(θ2=0の場合)は、図6における上側及び下側の構造物29と検査容器4との間に均等に恒温水が当たるため、ムラ無く検査容器4及び構造物29を洗浄できる。   When the constant temperature water discharge trajectory does not have a component in the y direction and a component in the direction opposite to the y direction (when θ2 = 0), the upper and lower structures 29 and the inspection container in FIG. Therefore, the inspection container 4 and the structure 29 can be cleaned without any unevenness.

図7のように、恒温槽30の片方の壁面に複数のノズル28を設置しても良い。図7の場合では、y方向及びy方向とは逆の方向に強い洗浄力を発揮することができる。   As shown in FIG. 7, a plurality of nozzles 28 may be installed on one wall surface of the constant temperature bath 30. In the case of FIG. 7, a strong detergency can be exhibited in the y direction and the direction opposite to the y direction.

図8、図9、図10は、反応ディスク5の動作に対する洗浄ユニット28の動作を示したタイムチャートである。図8、図9、図10において、T1はスタートアップ中(装置の起動及び動作確認状態)、T2は装置の待機中、T3は検査中に相当する。   8, 9, and 10 are time charts showing the operation of the cleaning unit 28 with respect to the operation of the reaction disk 5. 8, 9, and 10, T <b> 1 corresponds to start-up (device activation and operation check state), T <b> 2 corresponds to device standby, and T <b> 3 corresponds to inspection.

図8に示すように、本実施形態における洗浄ユニット28は、反応ディスク5の回動中及び停止中において、検査容器4に対して常に一定の恒温水を放出する。これによって、図8に示す仕様は、後述する図9及び図10の仕様に比べて検査容器4及び構造物29を洗浄する時間が長くなるため、高い洗浄力を発揮する。更に、図8に示す仕様は、図9及び図10の仕様のように恒温水の放出及び停止と、反応ディスク5の回動及び停止とを連動させる必要が無いため、単純な機構あるいは制御で実施可能であり、装置を小型化できる。   As shown in FIG. 8, the cleaning unit 28 in the present embodiment always discharges constant temperature water to the cuvette 4 while the reaction disk 5 is rotating and stopped. Accordingly, the specification shown in FIG. 8 exhibits a high cleaning power because the time for cleaning the cuvette 4 and the structure 29 becomes longer than the specification shown in FIGS. 9 and 10 described later. Further, the specification shown in FIG. 8 does not need to interlock the discharge and stop of the constant temperature water and the rotation and stop of the reaction disk 5 unlike the specification of FIG. 9 and FIG. This is possible, and the apparatus can be miniaturized.

図9に示す仕様においては、反応ディスク5が回動しているときに洗浄ユニット28は恒温水を放出し、反応ディスク5が停止しているときに洗浄ユニット28は恒温水の放出を停止する。反応ディスク5が回動しているときに洗浄ユニット28が所定の位置に向かって恒温水を放出すると、洗浄の対象となる検査容器4が反応ディスク5の回動によって自動的に変わるため、洗浄効率は非常に高くなる。逆に、反応ディスク5が停止しているときに洗浄ユニット28が所定の位置に向かって恒温水を放出しても、常に同じ検査容器4あるいは構造物29に恒温水が当たり続けることになるため、洗浄効率は低くなる。図9の仕様では、高い洗浄効率を有する場合にのみ洗浄ユニット28が恒温水を放出するので、図8の仕様に比べて、消費電力を低減できる。   In the specification shown in FIG. 9, the washing unit 28 releases constant temperature water when the reaction disk 5 is rotating, and the washing unit 28 stops releasing constant temperature water when the reaction disk 5 is stopped. . If the cleaning unit 28 releases constant temperature water toward the predetermined position while the reaction disk 5 is rotating, the inspection container 4 to be cleaned automatically changes by the rotation of the reaction disk 5, so that the cleaning is performed. Efficiency is very high. On the contrary, even if the washing unit 28 discharges the constant temperature water toward the predetermined position when the reaction disk 5 is stopped, the constant temperature water always hits the same inspection container 4 or structure 29. , Cleaning efficiency is low. In the specification of FIG. 9, the cleaning unit 28 releases constant temperature water only when it has a high cleaning efficiency, so that power consumption can be reduced compared to the specification of FIG.

図10に示す仕様においては、反応ディスク5が回動しているときに洗浄ユニット28は強く恒温水を放出し、反応ディスク5が停止しているときに洗浄ユニット28は弱く恒温水を放出する。反応ディスク5の回動中に恒温水を強く放出すると、検査容器4及び構造物29に付着していた汚れが洗浄ユニット28の周囲を浮遊することになる。このような状態において反応ディスク5の停止中に恒温水を弱く放出すると、浮遊している汚れを、検査容器4及び構造物29に押し当てることなく、洗浄ユニット28の周囲から退けることができる。この結果、再度恒温水を強く放出したときに、放出した恒温水によって一度検査容器4及び構造物29から出た汚れを検査容器4及び構造物29に再付着することを防ぐことができる。   In the specification shown in FIG. 10, the washing unit 28 strongly discharges constant temperature water when the reaction disk 5 is rotating, and the washing unit 28 weakly discharges constant temperature water when the reaction disk 5 is stopped. . If the constant temperature water is strongly released while the reaction disk 5 is rotating, dirt attached to the cuvette 4 and the structure 29 will float around the cleaning unit 28. If the constant temperature water is weakly released while the reaction disk 5 is stopped in such a state, the suspended dirt can be moved away from the periphery of the cleaning unit 28 without being pressed against the cuvette 4 and the structure 29. As a result, when the constant temperature water is strongly discharged again, it is possible to prevent the dirt that has once come out of the inspection container 4 and the structure 29 from being released again from the inspection container 4 and the structure 29.

図8及び図10のような仕様の場合、反応ディスク5の停止中に恒温水を当てる位置を変更することによって洗浄効果が向上する。例えば、T1及びT2の期間では測光が実施されないため、恒温水が当たることによって出た汚れが恒温槽30内を漂うことによる測光への影響を考慮する必要がない。したがって、T1及びT2の期間では、検査容器4と構造物29の恒温水を当てることで、検査容器4と構造物29の隙間に堆積しやすい汚れの排除を優先すると良い。逆に、T3の期間では測光が実施されているため、恒温水が当たることによって出た汚れが恒温槽30内を漂うことによる測光への影響を考慮する必要が十分にある。したがって、T3の期間では、測光の障害となる図4の測光領域31に恒温水を当て、測光領域31に付着した気泡や水垢を排除するだけに止める。   In the case of the specifications as shown in FIGS. 8 and 10, the cleaning effect is improved by changing the position where constant temperature water is applied while the reaction disk 5 is stopped. For example, since the photometry is not performed in the period of T1 and T2, it is not necessary to consider the influence on the photometry caused by the dirt that has come out from the constant temperature water drifting in the constant temperature bath 30. Therefore, in the period of T1 and T2, it is preferable to prioritize the removal of dirt that easily accumulates in the gap between the inspection container 4 and the structure 29 by applying constant temperature water between the inspection container 4 and the structure 29. On the contrary, since the photometry is performed during the period T3, it is necessary to consider the influence on the photometry caused by the dirt that has come out from the constant temperature water drifting in the thermostat 30. Therefore, in the period of T3, constant temperature water is applied to the photometric area 31 of FIG. 4 which becomes an obstacle to photometry, and only bubbles and scales adhering to the photometric area 31 are excluded.

このように恒温水を当てる位置を変更する場合、洗浄ユニット28は、図5のように恒温槽30とノズル28aが一体になっているようなものではなく、図11のように外付けノズル28bを有していて、自身の配置を簡便に変更できるものであると良い。また、外付けノズル28bの先端の角度を可変にし、恒温水の放出角度を変更できるような機能を有していても良い。これらは自動あるいは手動で変更できるようにし、自動で変更を行う場合は、分析機構制御部21が洗浄ユニット28の位置や外付けノズル28bの角度を制御する。あるいは、反応ディスク5の停止位置を制御することで、洗浄ユニット28の配置を変更しなくともT1及びT2とT3とで恒温水が検査容器4や構造物29に当たる位置を変更することも可能である。   When changing the position where the constant temperature water is applied in this way, the cleaning unit 28 is not such that the constant temperature bath 30 and the nozzle 28a are integrated as shown in FIG. 5, but the external nozzle 28b as shown in FIG. It is preferable that it can be easily changed. Further, the tip of the external nozzle 28b may be made variable so that the function of changing the constant temperature water discharge angle may be provided. These can be changed automatically or manually, and when changing automatically, the analysis mechanism control unit 21 controls the position of the cleaning unit 28 and the angle of the external nozzle 28b. Alternatively, by controlling the stop position of the reaction disk 5, it is possible to change the position where the constant temperature water hits the cuvette 4 or the structure 29 at T1, T2, and T3 without changing the arrangement of the cleaning unit 28. is there.

また、T1及びT2の期間においては、T1及びT2の期間では測光が実施されないため、恒温水が当たることによって出た汚れが恒温槽30内を漂うことによる測光への影響を考慮する必要がない。したがって、T1及びT2の期間においては、恒温水を強く放出すると良い。逆に、T3の期間においては、測光が実施されているため、恒温水が当たることによって出た汚れが恒温槽30内を漂うことによる測光への影響を考慮する必要が十分にある。したがって、T3の期間においては、恒温水を弱く放出すると良い。   Moreover, in the period of T1 and T2, since the photometry is not performed in the period of T1 and T2, it is not necessary to consider the influence on the photometry due to the dirt that comes out from the constant temperature water drifting in the constant temperature bath 30. . Therefore, in the period of T1 and T2, it is good to discharge | release constant temperature water strongly. On the contrary, in the period of T3, since the photometry is performed, it is necessary to consider the influence on the photometry caused by the dirt that comes out from the constant temperature water drifting in the constant temperature bath 30. Therefore, in the period of T3, it is good to discharge | release constant temperature water weakly.

このように、本実施形態では、検査容器4の搬送経路の半径方向における幅が検査容器4より大きい構造物29が検査容器4どうしの間に配置されている場合においても、検査容器4の十分な洗浄が可能である。また、検査容器4の洗浄に従来技術のようなワイパを用いていないため、構造物29との干渉によるワイパの劣化の問題を解消でき、尚且つ、反応ディスク5の回動精度への影響も小さくできる。   As described above, in the present embodiment, even when the structure 29 having a larger width in the radial direction of the transport path of the cuvette 4 than the cuvette 4 is arranged between the cuvettes 4, the cuvette 4 is sufficient. Can be cleaned. Further, since the conventional wiper is not used for cleaning the cuvette 4, the problem of the wiper deterioration due to the interference with the structure 29 can be solved, and the rotation accuracy of the reaction disk 5 is also affected. Can be small.

以上、本発明の実施形態を説明したが、これらの実施形態は例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, these embodiment is shown as an example and is not intending limiting the range of invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

2・・・第一試薬庫
3・・・第二試薬庫
4・・・検査容器
5・・・反応ディスク
6・・・サンプルディスク
7・・・第一試薬容器
8・・・第一試薬アーム
9・・・第二試薬アーム
10・・・サンプルアーム
11・・・攪拌機構
12・・・洗浄機構
13・・・測光機構
14・・・第一試薬プローブ
15・・・第二試薬プローブ
16・・・サンプルプローブ
17・・・サンプル容器
21・・・分析機構制御部
22・・・解析部
23・・・表示部
24・・・操作部
25・・・検出部
26・・・光源
27・・・第二試薬容器
28・・・洗浄ユニット
28a・・・ノズル
28b・・・外付けノズル
29・・・構造物
30・・・恒温槽
31・・・測光領域
2 ... 1st reagent storage 3 ... 2nd reagent storage 4 ... Test container 5 ... Reaction disk 6 ... Sample disk 7 ... 1st reagent container 8 ... 1st reagent arm 9 ... Second reagent arm 10 ... Sample arm 11 ... Stirring mechanism 12 ... Cleaning mechanism 13 ... Photometric mechanism 14 ... First reagent probe 15 ... Second reagent probe 16 Sample probe 17 ... Sample container 21 ... Analysis mechanism control unit 22 ... Analysis unit 23 ... Display unit 24 ... Operation unit 25 ... Detection unit 26 ... Light source 27 ... Second reagent container 28 ... cleaning unit 28a ... nozzle 28b ... external nozzle 29 ... structure 30 ... constant temperature bath 31 ... photometric area

Claims (8)

サンプルを収容するための検査容器と、
所定の経路に沿って整列した複数の前記検査容器を、前記所定の経路に沿って搬送する搬送手段と、
恒温に保持された液体を収容し、前記恒温に保持された液体中に前記検査容器を浸漬する恒温槽と、
前記検査容器の外壁に向けて洗浄用の液体を放出する洗浄手段と、
を備えた自動分析装置。
A test container for containing the sample;
Transport means for transporting the plurality of cuvettes aligned along a predetermined path along the predetermined path;
A thermostatic chamber for storing a liquid held at a constant temperature, and immersing the inspection container in the liquid held at the constant temperature;
Cleaning means for discharging a cleaning liquid toward the outer wall of the inspection container;
Automatic analyzer equipped with.
前記洗浄手段は、前記検査容器の搬送中において前記洗浄用の液体の放出する請求項1に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 1, wherein the cleaning unit discharges the cleaning liquid during conveyance of the cuvette. 前記洗浄手段は、仰角をつけて前記洗浄用の液体を放出する請求項1又は2に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 1, wherein the cleaning unit discharges the cleaning liquid at an angle of elevation. 前記洗浄手段は、前記検査容器を搬送中以外の場合において前記洗浄用の液体の放出を中止する請求項1乃至3のうちいずれかひとつに記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 3, wherein the cleaning unit stops the discharge of the cleaning liquid when the inspection container is not being transported. 前記洗浄手段は、前記検査容器の搬送中と搬送中以外とで前記洗浄用の液体の放出の強弱を変更する請求項1乃至3のうちいずれかひとつに記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 3, wherein the cleaning unit changes the strength of discharge of the cleaning liquid during transfer of the cuvette and during non-transport. 前記洗浄手段は、前記検査容器が前記サンプルを収容している状態と収容していない状態とで前記洗浄用の液体の放出の強弱を変更する請求項1乃至3のうちいずれかひとつに記載の自動分析装置。   The said washing | cleaning means changes the strength of discharge | release of the said liquid for washing | cleaning with the state in which the said test container accommodates the said sample, and the state which does not accommodate the sample. Automatic analyzer. 前記検査容器に収容されている前記サンプルの成分を光学的に測定する測光機構を備え、
前記洗浄手段は、前記検査容器の搬送方向に対して前記測光機構の手前に配置される請求項1乃至6のうちいずれかひとつに記載の自動分析装置。
Comprising a photometric mechanism for optically measuring the components of the sample contained in the cuvette;
The automatic analyzer according to any one of claims 1 to 6, wherein the cleaning unit is disposed in front of the photometric mechanism with respect to a conveyance direction of the cuvette.
前記所定の経路は環状であり、前記所定の経路の半径方向における幅が前記検査容器より大きい構造物を前記検査容器どうしの間に配置する請求項1乃至7のうちいずれかひとつに記載の自動分析装置。   The automatic according to any one of claims 1 to 7, wherein the predetermined path is annular, and a structure in which a radial width of the predetermined path is larger than the inspection container is disposed between the inspection containers. Analysis equipment.
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