[go: up one dir, main page]

JP2014082452A - Airtight sealing package and manufacturing method for the same - Google Patents

Airtight sealing package and manufacturing method for the same Download PDF

Info

Publication number
JP2014082452A
JP2014082452A JP2013137800A JP2013137800A JP2014082452A JP 2014082452 A JP2014082452 A JP 2014082452A JP 2013137800 A JP2013137800 A JP 2013137800A JP 2013137800 A JP2013137800 A JP 2013137800A JP 2014082452 A JP2014082452 A JP 2014082452A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metallized layer
base material
lid
layer
weld metal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013137800A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6236929B2 (en
Inventor
Nozomi Nishimura
望 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2013137800A priority Critical patent/JP6236929B2/en
Publication of JP2014082452A publication Critical patent/JP2014082452A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6236929B2 publication Critical patent/JP6236929B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

【課題】内部を気密状態に保つことを目的とした気密封止パッケージの構造及びその製造方法を提供する。
【解決手段】この気密封止パッケージは、赤外線検知素子1が搭載されたセラミック基板3と、該基板3に接続され、キャビティ部2を形成している赤外線透過窓4と、はんだ材料5で接続された第1のメタライズ層6a,6bと、第1のメタライズ層6bにはんだ材料5で接続された第2のメタライズ層7とを備える。第1のメタライズ層6a,6bは該基板3と該窓4の互いに対向している2つの面それぞれにキャビティ部2の全周にわたり連続して形成されている。第2のメタライズ層7は、該基板3と該窓4の互いに対向している2つの面のいずれか一方において該キャビティ部2の周囲に島状に配置されている。基板3の各第2のメタライズ層7に対面する該窓4の各部位のはんだ材料5が接合する接合部は、該窓4の第1のメタライズ層6bの一部分からなっている。
【選択図】図1
An object of the present invention is to provide a structure of a hermetically sealed package for the purpose of keeping the inside airtight and a manufacturing method thereof.
The hermetically sealed package is connected with a ceramic substrate 3 on which an infrared detecting element 1 is mounted, an infrared transmitting window 4 connected to the substrate 3 and forming a cavity portion 2, and a solder material 5. The first metallized layers 6a and 6b and the second metallized layer 7 connected to the first metallized layer 6b by the solder material 5 are provided. The first metallized layers 6 a and 6 b are continuously formed over the entire circumference of the cavity portion 2 on each of the two surfaces of the substrate 3 and the window 4 facing each other. The second metallized layer 7 is arranged in an island shape around the cavity portion 2 on one of two surfaces of the substrate 3 and the window 4 facing each other. The joint where the solder material 5 at each part of the window 4 facing each second metallized layer 7 of the substrate 3 is composed of a part of the first metallized layer 6 b of the window 4.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、内部を気密状態に保つことを目的とした気密封止パッケージの構造及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a structure of a hermetically sealed package for the purpose of keeping the inside in an airtight state and a manufacturing method thereof.

気密封止パッケージは例えば赤外線検知器の囲いとして以下の理由で必要とされる。   The hermetically sealed package is required, for example, as an enclosure for an infrared detector for the following reasons.

赤外線検知器は、赤外領域の光を受光し電気信号に変換して、必要な情報を取り出して応用する素子である。人間の視覚を刺激しないで物を見られる、対象物の温度を遠くから非接触で瞬時に測定できるなどの特徴を持つ。   An infrared detector is an element that receives light in the infrared region, converts it into an electrical signal, extracts necessary information, and applies it. It has features such as being able to see an object without stimulating human vision and measuring the temperature of an object instantly from a distance without contact.

赤外線検知器は動作原理により、熱型と量子型の2種類に分けられる。このうち熱型赤外線検知器は、赤外線を受光すると熱によって赤外線検知素子が温められ、素子温度の上昇によって変化する電気信号を検知する。量子型に比べ感度、応答速度は低いが、波長帯域が広く常温で使えるのが特徴である。応用例として熱起電力効果を原理としたサーモパイル、焦電センサーのPZT、温度変化による電気抵抗の変化のサーミスター、ボロメーターなどがある。   Infrared detectors are classified into two types, thermal and quantum, depending on the operating principle. Among them, the thermal infrared detector warms the infrared detecting element by receiving heat, and detects an electrical signal that changes as the element temperature rises. Although it has lower sensitivity and response speed than the quantum type, it has a wide wavelength band and can be used at room temperature. Examples of applications include thermopiles based on the thermoelectromotive force effect, pyroelectric sensor PZT, thermistors that change the electrical resistance due to temperature changes, and bolometers.

赤外線検知器は赤外線エネルギーを熱に変え温度変化を計測することで光を検出するため、大気を通した熱放散を阻止するために真空状態の密閉容器に収納し、機能させることが望ましい。内部を真空に維持することで空気を通じた熱の放出が減少するため赤外線検知素子の感度が上昇することが知られている。   Since the infrared detector detects light by changing the infrared energy into heat and measuring a temperature change, it is desirable that the infrared detector be housed in a vacuum sealed container and function in order to prevent heat dissipation through the atmosphere. It is known that the sensitivity of the infrared detection element increases because the heat release through the air is reduced by maintaining the inside in a vacuum.

このような赤外線検知素子が封入される内部空間を真空状態に保持した赤外線検知器を製造する方法として、例えば特許文献1には、内側に赤外線検知素子が設置されたセラミック容器と蓋材とを真空チャンバ内で溶着する方法が開示されている。具体的には、真空チャンバ内の上下に配置されたヒータにセラミック容器と赤外線透過窓材が取り付けられた蓋材とをそれぞれセットし、真空チャンバ内を真空状態になるように排気する。その後、セラミック容器に配置されたロウ材をヒータの加熱により溶融させた状態で、セラミック容器と蓋材とを動かして加圧密着させ、ヒータの加熱を停止して該ロウ材を凝固させることによって、赤外線検知器を成すセラミック容器と蓋材の間の隙間を封止する。   As a method for manufacturing an infrared detector in which the internal space in which such an infrared detection element is sealed is kept in a vacuum state, for example, Patent Document 1 discloses a ceramic container having an infrared detection element installed therein and a lid. A method of welding in a vacuum chamber is disclosed. Specifically, a ceramic container and a lid member to which an infrared transmitting window material is attached are set on heaters arranged above and below in the vacuum chamber, and the inside of the vacuum chamber is evacuated to be in a vacuum state. After that, in a state where the brazing material arranged in the ceramic container is melted by heating of the heater, the ceramic container and the lid material are moved to press and adhere, and the heating of the heater is stopped to solidify the brazing material. The gap between the ceramic container constituting the infrared detector and the lid is sealed.

また、特許文献2には、赤外線検知器の蓋材に設置した貫通穴の開口部に封止材料を置き、真空チャンバ内で封止材を加熱溶融させる方法が開示されている。この方法では真空チャンバに機械部品を上下させることができるような機構は不要であるため、真空チャンバのコストを低くすることが可能である。   Patent Document 2 discloses a method in which a sealing material is placed in an opening of a through hole installed in a lid material of an infrared detector, and the sealing material is heated and melted in a vacuum chamber. This method does not require a mechanism capable of moving a machine part up and down in the vacuum chamber, and thus the cost of the vacuum chamber can be reduced.

また、特許文献3には、電子デバイスを収容する基材と、該基材と接続することにより該基材とで中空部を形成する蓋材とから構成される構造体であって、前記基材と前記蓋材を第1の熱溶融性材料で接合する環状の接合部と、該環状の接合部の外側に配置され、前記基材と前記蓋材を第2の熱溶融性材料で接合する孤立した接合部と、を備えた構造体が開示されている。この構造体を作成する際に、第2の熱溶融性材料の厚みを第1の熱溶融性材料よりも厚くすることで基材と蓋材の間に隙間を確保することができる。このため、初めから基材と蓋材を積層した状態で真空チャンバに設置したとしても、構造体の中空部内の排気を実施できる。   Patent Document 3 discloses a structure that includes a base material that houses an electronic device and a lid member that forms a hollow portion with the base material when connected to the base material. An annular joint for joining the material and the lid with a first heat-meltable material, and an outer part of the annular joint, the base and the lid are joined with a second heat-meltable material An isolated joint is disclosed. When creating this structure, a gap can be secured between the base material and the lid member by making the thickness of the second heat-meltable material thicker than that of the first heat-meltable material. For this reason, even if it installs in a vacuum chamber in the state which laminated | stacked the base material and the cover material from the beginning, the exhaust in the hollow part of a structure can be implemented.

さらに上記構造体の製造プロセスでは、上記構造体の中空部内を排気した後、前記第2の熱溶融性材料を溶融することにより、該第2の熱溶融性材料の高さが低くなって、基材と蓋材の間の隙間が前記第1の熱溶融性材料による環状の接合部で封止されている。このためには、前記基材側のパッド部上に供給された前記第2の熱溶融性材料を、該基材側のパッド部に対面する前記蓋材側のパッド部に濡れ広がらせる必要があり、対面する前記蓋材側のパッド部の面積が前記基材側のパッド部よりも大きくされている。   Furthermore, in the manufacturing process of the structure, after evacuating the hollow portion of the structure, by melting the second heat-meltable material, the height of the second heat-meltable material is reduced, A gap between the base material and the lid member is sealed with an annular joint portion made of the first heat-meltable material. For this purpose, the second heat-meltable material supplied on the pad portion on the base material side needs to be wetted and spread on the pad portion on the lid material side facing the pad portion on the base material side. In addition, the area of the pad portion on the side of the lid material facing is larger than that of the pad portion on the base material side.

特開2003-139616号公報JP2003-139616 特開平11-326037号公報JP 11-326037 A 特開2007-67400号公報JP 2007-67400 JP

特許文献1に開示される方法では赤外線検知器の内部を真空状態にすることは可能であるが、真空チャンバ内部で機械部品を上下させることができるような機構やロボットのハンドリング機構等を設置しなければならない。そのため、真空チャンバ自体が高価になってしまい、製造装置の設備投資コストが高くなってしまうという課題がある。   In the method disclosed in Patent Document 1, it is possible to make the inside of the infrared detector in a vacuum state, but a mechanism capable of moving up and down mechanical parts inside the vacuum chamber, a robot handling mechanism, and the like are installed. There must be. Therefore, there is a problem that the vacuum chamber itself becomes expensive and the equipment investment cost of the manufacturing apparatus becomes high.

特許文献2に開示される方法においては、微細な貫通穴からパッケージ内部の気体を排気するため、真空排気時の排気抵抗が高くなり、所望の真空状態に達するまでに要する排気時間が長くなるという課題がある。加えて、排気時に封止材料が動いて貫通穴の開口部から外れたり、加熱溶融時、封止材料が開口部を避けるように流動したり、貫通穴を通って落下したりして貫通穴を完全に封止することが出来ない問題が生じやすいという課題がある。   In the method disclosed in Patent Document 2, since the gas inside the package is exhausted from the minute through hole, the exhaust resistance at the time of vacuum exhaust is increased, and the exhaust time required to reach a desired vacuum state is increased. There are challenges. In addition, the sealing material moves during exhaust to disengage from the opening of the through hole, and when heated and melted, the sealing material flows so as to avoid the opening, or falls through the through hole, thereby causing the through hole. There is a problem that a problem that cannot be completely sealed tends to occur.

特許文献3に開示される方法では、前記基材側のパッド部上に供給された前記第2の熱溶融性材料が多くなってしまった場合には、前記第2の熱溶融性材料が溶融しても、基材と蓋材の間の隙間が前記第1の熱溶融性材料で封止されるように該第2の熱溶融性材料の高さが減少しない可能性がある。前記基材側のパッド部に対面する前記蓋材側のパッド部の面積を、前記第2の熱溶融性材料の供給量のばらつきを見越して大きくすることで、この課題は回避可能であるが、上記構造体のサイズが大きくなってしまう課題が生じる。   In the method disclosed in Patent Document 3, when the amount of the second heat-meltable material supplied onto the pad portion on the base material side increases, the second heat-meltable material is melted. Even so, there is a possibility that the height of the second heat-meltable material does not decrease so that the gap between the base material and the lid member is sealed with the first heat-meltable material. This problem can be avoided by increasing the area of the pad part on the lid material side facing the pad part on the base material side in anticipation of variations in the supply amount of the second heat-meltable material. There arises a problem that the size of the structure increases.

本発明の目的は上述した課題に鑑みてなされたもので、内部を気密状態に保つことを目的とした気密封止パッケージの構造及びその製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a structure of a hermetically sealed package and a manufacturing method thereof for the purpose of keeping the inside airtight.

本発明の一態様は、電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージを製造する方法に係わる。   One embodiment of the present invention includes a base material on which an electronic device is mounted, and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material. The present invention relates to a method of manufacturing an airtight sealed package.

この製造方法の態様は、該基材と該蓋材の互いに対向させる2つの面それぞれに該中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、該基材と該蓋材の互いに対向させる2つの面のいずれか一方において該中空部の周囲に島状に配置された第2のメタライズ層と、を備える該基材および該蓋材と、該電子デバイスとを用意する工程を有する。   The aspect of this manufacturing method includes: a first metallized layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two surfaces of the base material and the lid material facing each other; the base material and the lid material A step of preparing the base material, the lid member, and the electronic device, each of which has a second metallization layer arranged in an island shape around the hollow portion on any one of the two surfaces facing each other Have

さらに、この態様の製造方法は、
該基材に該電子デバイスを搭載する搭載工程と、
該基材または該蓋材のいずれか一方の該第1のメタライズ層上に第1の溶着金属を形成する第1の溶着金属形成工程と、
該基材または該蓋材のいずれか一方の該第2のメタライズ層上に該第1の溶着金属よりも厚さが厚い第2の溶着金属を形成する第2の溶着金属形成工程と、
該基材と該蓋材を該第2の溶着金属を介して積層する積層工程と、
該基材と該蓋材の積層状態で該中空部を排気して真空状態にする排気工程と、
前記第1及び第2の溶着金属を溶融させることにより前記基材と前記蓋材を接続する接続工程であって、前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は前記基材の前記第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層に対面する前記蓋材に形成された一続きのメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、前記第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続するか、あるいは、前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は前記蓋材の前記第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層に対面する前記基材に形成された一続きのメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、前記第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する接続工程と、
を含む。
Furthermore, the manufacturing method of this aspect includes
A mounting step of mounting the electronic device on the substrate;
A first weld metal forming step of forming a first weld metal on the first metallized layer of either the base material or the lid;
A second weld metal forming step of forming a second weld metal having a thickness greater than that of the first weld metal on the second metallized layer of either the base material or the lid;
A laminating step of laminating the base material and the lid material via the second weld metal;
An evacuation step in which the hollow portion is evacuated to a vacuum state in a laminated state of the base material and the lid material;
In the connecting step of connecting the base material and the lid material by melting the first and second weld metals, the base is formed when the second metallized layer is formed on the base material side. Wetting and spreading the second deposited metal on the second metallization layer of the material onto the continuous metallization layer formed on the lid material facing the second metallization layer, The base metal and the first metallized layer of the lid member are connected with a weld metal, or when the second metallized layer is formed on the lid member side, the second of the lid member The second deposited metal on the metallized layer is wetted and spread on the continuous metallized layer formed on the base material facing the second metallized layer, whereby the first welded metal forms the base. Material and the first member of the lid material. A connecting step of connecting the rise layer each other,
including.

上記態様の第2のメタライズ層が島状あるいは一続きのメタライズ層であり、上記態様の第2の溶着金属が前記第1の溶着金属よりも厚さが厚く該第2のメタライズ層よりも面積が小さいものであってもよい。このような別の態様では、上記態様の接続工程が、前記第1及び第2の溶着金属を溶融させ、前記基材と前記蓋材のいずれか一方の前記第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、前記第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する工程に変更されてもよい。   The second metallized layer of the above aspect is an island shape or a continuous metallized layer, and the second weld metal of the above aspect is thicker than the first weld metal and has an area larger than that of the second metallized layer. May be small. In such another aspect, the connecting step of the above aspect melts the first and second weld metals, and the first metallization layer on the second metallized layer of either the base material or the lid material. Even if it changes into the process of connecting the said 1st metallization layer of the said base material and the said lid | cover material with the said 1st welding metal by making 2 welding metal spread on the said 2nd metallization layer, Good.

また本発明の他の態様は、電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージに係わる。本発明の気密封止パッケージの態様は、第1のメタライズ層と第1の溶着金属と第2のメタライズ層と第2の溶着金属をさらに備える。   According to another aspect of the present invention, there is provided a hermetic seal comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device. Related to the package. The embodiment of the hermetically sealed package of the present invention further includes a first metallized layer, a first weld metal, a second metallize layer, and a second weld metal.

該第1のメタライズ層は、該基材と該蓋材の互いに対向している2つの面それぞれに該中空部の全周にわたり連続して形成されている。該第1の溶着金属は、該基材と該蓋材の該第1のメタライズ層どうしを接続している。該第2のメタライズ層は、該基材と該蓋材の互いに対向している2つの面のいずれか一方において該中空部の周囲に島状に配置されている。該第2の溶着金属は、第2のメタライズ層と該第2のメタライズ層に対面する前記基材もしくは前記蓋材の部位とを接続している。   The first metallized layer is continuously formed over the entire circumference of the hollow portion on each of two opposing surfaces of the base material and the lid member. The first weld metal connects the base material and the first metallized layers of the lid member. The second metallized layer is arranged in an island shape around the hollow portion on either one of the two surfaces of the base material and the cover member facing each other. The second weld metal connects the second metallized layer and the portion of the base material or the lid material facing the second metallized layer.

さらに、基材側に第2のメタライズ層が形成されている場合は、基材の第2のメタライズ層に対面する蓋材の部位に、第2のメタライズ層上の第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、接合部は前蓋材の第1のメタライズ層の一部分からなっているか、又は前記蓋材に第1のメタライズ層とは別に形成された一続きのメタライズ層の一部分である。あるいは、蓋材側に第2のメタライズ層が形成されている場合は、蓋材の第2のメタライズ層に対面する基材の部位に、該第2のメタライズ層上の第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、接合部は基材の第1のメタライズ層の一部分からなっているか、又は前記基材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された一続きのメタライズ層の一部分である。   Furthermore, when the 2nd metallization layer is formed in the base material side, the 2nd weld metal on a 2nd metallization layer joins the site | part of the cover material which faces the 2nd metallization layer of a base material. And the joint portion is formed of a part of the first metallization layer of the front lid member, or a part of the continuous metallization layer formed on the lid member separately from the first metallization layer. It is. Or when the 2nd metallization layer is formed in the lid material side, the 2nd welding metal on this 2nd metallization layer is in the part of the substrate which faces the 2nd metallization layer of a lid material. There is a joint portion to be joined, and the joint portion is composed of a part of the first metallization layer of the base material, or a continuous metallization layer formed on the base material separately from the first metallization layer. It is a part.

この他の態様は、上記態様の第2のメタライズ層が、上記態様の第1のメタライズ層とは別に形成された島状あるいは一続きのメタライズ層でもよく、当該島状あるいは一続きのメタライズ層には第2の溶着金属が形成されており、該第2の溶着金属は前記第1の溶着金属より厚さが薄いことを含む気密封止パッケージでもよい。   In another aspect, the second metallization layer of the above aspect may be an island shape or a continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer of the above aspect, and the island shape or the continuous metallization layer. A second weld metal is formed in the airtight seal package including that the second weld metal is thinner than the first weld metal.

本発明によれば、基材と蓋材からなる構造体の中空部を排気して真空状態にする必要がある気密封止パッケージにおいて、その排気にかかる設備や時間を削減することができる。さらに、パッケージの大型化を招くことなく、パッケージ内部を気密状態に保つことができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, in the airtight sealing package which needs to evacuate the hollow part of the structure which consists of a base material and a cover material and make it a vacuum state, the installation and time concerning the exhaustion can be reduced. Furthermore, the inside of the package can be kept airtight without increasing the size of the package.

本発明の気密封止パッケージに適用可能な構成例を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the structural example applicable to the airtight sealing package of this invention. 本発明の気密封止パッケージに適用可能な構成例を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the structural example applicable to the airtight sealing package of this invention. 本発明の気密封止パッケージに適用可能な構成例を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the structural example applicable to the airtight sealing package of this invention. 本発明の気密封止パッケージに適用可能な製造工程を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the manufacturing process applicable to the airtight sealing package of this invention. 本発明の気密封止パッケージに適用可能な製造工程のうちの赤外線検知素子搭載工程を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the infrared rays detection element mounting process among the manufacturing processes applicable to the airtight sealing package of this invention. 本発明の気密封止パッケージに適用可能な製造工程のうちのはんだ供給工程を示す概略平面図。The schematic plan view which shows the solder supply process of the manufacturing processes applicable to the airtight sealing package of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る気密封止パッケージの概略断面図。1 is a schematic cross-sectional view of an airtight sealed package according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施形態に係る気密封止パッケージの製造工程を示す概略断面図。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a manufacturing process of the hermetic sealing package according to the first embodiment of the present invention. 本発明の第2の実施形態に係る気密封止パッケージの概略断面図。The schematic sectional drawing of the airtight sealing package which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態に係る気密封止パッケージの製造工程を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the manufacturing process of the airtight sealing package which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態に係る気密封止パッケージの概略断面図。The schematic sectional drawing of the airtight sealing package which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態に係る気密封止パッケージの製造工程を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the manufacturing process of the airtight sealing package which concerns on the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態に係る気密封止パッケージの概略断面図。The schematic sectional drawing of the airtight sealing package which concerns on the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態による気密封止パッケージを構成するセラミック基板(図(a))と赤外線透過窓(図(b))それぞれの平面図。The top view of each of the ceramic substrate (FIG. (A)) and infrared rays transmission window (FIG. (B)) which comprise the airtight sealing package by the 4th Embodiment of this invention. 図14の変形例によるセラミック基板(図(a))と赤外線透過窓(図(b))それぞれの平面図。FIG. 15 is a plan view of a ceramic substrate (FIG. (A)) and an infrared transmission window (FIG. (B)) according to a modification of FIG. 本発明の第5の実施形態に係る気密封止パッケージの概略断面図。The schematic sectional drawing of the airtight sealing package which concerns on the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施形態に係る気密封止パッケージの製造工程を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the manufacturing process of the airtight sealing package which concerns on the 5th Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1に本発明による気密封止パッケージに適用可能な構成例の概略断面図を示す。以下では電子デバイスとして赤外線検知素子を実装した赤外線検知器を例に説明する。   FIG. 1 shows a schematic sectional view of a configuration example applicable to the hermetic sealing package according to the present invention. Hereinafter, an infrared detector mounted with an infrared detection element as an electronic device will be described as an example.

赤外線検知器は、赤外線検知素子1と、キャビティ部2を有する基材としてのセラミック基板3と、キャビティ部2を塞ぐ蓋材として赤外線透過窓4と、から構成されている。セラミック基板3と赤外線透過窓4とによって形成される中空部は赤外線検知器外部と連通することなく気密封止され、かつ真空状態に保たれている。赤外線検知素子1はセラミック基板3のキャビティ部2に実装され、かつワイヤによりセラミック基板3と接続されている。   The infrared detector includes an infrared detection element 1, a ceramic substrate 3 as a base material having a cavity portion 2, and an infrared transmission window 4 as a lid member that closes the cavity portion 2. A hollow portion formed by the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 is hermetically sealed without communicating with the outside of the infrared detector and kept in a vacuum state. The infrared detection element 1 is mounted in the cavity portion 2 of the ceramic substrate 3 and connected to the ceramic substrate 3 by a wire.

なお、赤外線透過窓4はゲルマニウム、シリコン、サファイヤなどの赤外線透過性を有する材料から形成されている。   The infrared transmission window 4 is made of a material having infrared transparency such as germanium, silicon, sapphire and the like.

さらに詳述すると、セラミック基板3のキャビティ部2周囲の縁と、赤外線透過窓4との間が、はんだ材料5により気密封止されている。接続されるセラミック基板3とはんだ材料5の間および、接続される赤外線透過窓4とはんだ材料5の間にはそれぞれ、第1のメタライズ層6a、6bが形成されている。第1のメタライズ層6a、6bの幅(図1の図面で見て横方向の幅)については0.2mmから5mmの範囲であることが望ましい。   More specifically, the space around the cavity 2 of the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are hermetically sealed with the solder material 5. First metallized layers 6 a and 6 b are formed between the ceramic substrate 3 and the solder material 5 to be connected and between the infrared transmitting window 4 and the solder material 5 to be connected, respectively. The width of the first metallized layers 6a and 6b (the width in the horizontal direction as viewed in FIG. 1) is preferably in the range of 0.2 mm to 5 mm.

本例ではセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aは、部分的に、各第2のメタライズ層7に対面するように大きくされている。例えば図2(a)はセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aの形状を示し、図2(b)は赤外線透過窓4側の第1のメタライズ層6bの形状を示している。赤外線透過窓4側の第1のメタライズ層6bはセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aと対面するように同じ形状(四角い環形状)とし、例えば幅1mmで形成される。そして、後述のセラミック基板3上の第2のメタライズ層7に対面する部分にはんだ接合部6b−1が位置するように、赤外線透過窓4側の第1のメタライズ層6bの一部の幅が広くなっている。   In this example, the first metallized layer 6 a on the ceramic substrate 3 side is partially enlarged to face each second metallized layer 7. For example, FIG. 2A shows the shape of the first metallized layer 6a on the ceramic substrate 3 side, and FIG. 2B shows the shape of the first metallized layer 6b on the infrared transmitting window 4 side. The first metallized layer 6b on the infrared transmission window 4 side has the same shape (square ring shape) so as to face the first metallized layer 6a on the ceramic substrate 3 side, and is formed with a width of 1 mm, for example. And the width | variety of a part of 1st metallization layer 6b by the side of the infrared rays transmission window 4 is so that the solder joint part 6b-1 may be located in the part which faces the 2nd metallization layer 7 on the ceramic substrate 3 mentioned later. It is getting wider.

図1を参照すると、セラミック基板3のキャビティ部2周囲の縁面には、第1のメタライズ層6aよりも内側に第2のメタライズ層7が形成されている。第2のメタライズ層7は、独立したパッド形状を持つ。セラミック基板3上に第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7が形成され、赤外線透過窓4上には第1のメタライズ層6bのみが形成されている。第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bははんだ材料5で接続されている。   Referring to FIG. 1, a second metallized layer 7 is formed on the inner peripheral surface of the first metallized layer 6a on the edge surface around the cavity 2 of the ceramic substrate 3. The second metallized layer 7 has an independent pad shape. A first metallized layer 6 a and a second metallized layer 7 are formed on the ceramic substrate 3, and only the first metallized layer 6 b is formed on the infrared transmission window 4. The second metallized layer 7 and the first metallized layer 6 b are connected by a solder material 5.

本例では、第2のメタライズ層7はセラミック基板3のキャビティ部2周囲の縁面において、第1のメタライズ層6aよりも内側に形成されているが、図3(a)に示すように第2のメタライズ層7を第1のメタライズ層6aよりも外側に設置することも可能である。   In the present example, the second metallized layer 7 is formed on the inner side of the first metallized layer 6a on the edge surface around the cavity 2 of the ceramic substrate 3, but as shown in FIG. It is also possible to dispose the second metallized layer 7 outside the first metallized layer 6a.

さらに本例では、第2のメタライズ層7は、セラミック基板3側においてキャビティ部2の周囲に島状に配置されているが、図3(b)に示すように赤外線透過窓4側においてキャビティ部2の周囲に島状に配置されていてもよい。図3(b)の場合は、赤外線透過窓4上に第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7が形成され、セラミック基板3上には第1のメタライズ層6bのみが形成されている。つまり、第2のメタライズ層7は、セラミック基板3と赤外線透過窓4の互いに対向させる2つの面のいずれか一方に配置されていればよい。   Further, in this example, the second metallized layer 7 is arranged in an island shape around the cavity portion 2 on the ceramic substrate 3 side, but as shown in FIG. 3B, the cavity portion is disposed on the infrared transmission window 4 side. 2 may be arranged in an island shape. In the case of FIG. 3B, the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7 are formed on the infrared transmission window 4, and only the first metallized layer 6 b is formed on the ceramic substrate 3. . That is, the second metallized layer 7 only needs to be disposed on one of the two surfaces of the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 that face each other.

また本例において、セラミック基板3と赤外線透過窓4が、図2に示すように上面から見て四角形状を有しており、パッド形状の第2のメタライズ層7の位置は、四角形状のセラミック基板3のコーナー部の4箇所としている。しかし、第2のメタライズ層7の位置は任意の位置に設置することも可能である。つまり、第2のメタライズ層7は、キャビティ部2の周囲に島状に配置されていればよい。   Further, in this example, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 have a quadrangular shape as viewed from above as shown in FIG. 2, and the pad-shaped second metallized layer 7 is positioned at the quadrangular ceramic shape. Four corners of the substrate 3 are provided. However, the position of the second metallized layer 7 can be set at an arbitrary position. That is, the second metallized layer 7 only needs to be arranged in an island shape around the cavity portion 2.

パッド形状の第2のメタライズ層7のサイズは、φ0.25〜2mm程度であることが望ましく、本例では第2のメタライズ層7のサイズをφ0.5mmとしている。第2のメタライズ層7の形状は円形ではなく、四角形や六角形などに変更することも可能である。   The size of the pad-shaped second metallization layer 7 is desirably about φ0.25 to 2 mm, and in this example, the size of the second metallization layer 7 is φ0.5 mm. The shape of the second metallized layer 7 is not circular but can be changed to a square or hexagon.

はんだ材料5としてははんだ接続時の温度が、赤外線検知素子1の耐熱温度(素子が熱で壊れない温度)を超えないことが求められ、赤外線検知素子1の耐熱温度に応じてSnAg系はんだやSnBi系はんだなどが用いられる。また、セラミック基板3側に形成されたメタライズ層6a、7aとしては、Mo、Mn、Ti、Agなどの導電性パターン上にNi、Auなどのメッキがされたものが適用される。赤外線透過性窓4側に形成されたメタライズ層6b、7bは、例えば、Cr、Cu、Ni、Ag、Auなどから形成される。   As the solder material 5, it is required that the temperature at the time of solder connection does not exceed the heat resistance temperature of the infrared detection element 1 (temperature at which the element is not broken by heat). Depending on the heat resistance temperature of the infrared detection element 1, SnAg solder or SnBi solder is used. Further, as the metallized layers 6a and 7a formed on the ceramic substrate 3 side, those obtained by plating Ni, Au or the like on a conductive pattern such as Mo, Mn, Ti or Ag are applied. The metallized layers 6b and 7b formed on the infrared transmissive window 4 side are formed of, for example, Cr, Cu, Ni, Ag, Au, or the like.

次に、本例に係る気密封止パッケージの製造方法について説明する。   Next, a manufacturing method of the hermetic sealing package according to this example will be described.

まず、図4(a)に示すようにセラミック基板3のキャビティ部2に赤外線検知素子1を搭載し、ワイヤボンディングにより赤外線検知素子1とセラミック基板3を電気接続する。この搭載工程後のセラミック基板の平面図を図5(a)に示す。本例では四角形状のセラミック基板3の4箇所のコーナー部にそれぞれ個別に、パッド状の第2のメタライズ層7が形成されている。しかし、図5(b)に示すような他の形状とすることもできる。図5(b)の形状では、一続きの第2のメタライズ層7aが、四角形状のセラミック基板3の4箇所のコーナー部すべてを通って延在しているが、第2のメタライズ層7aの両端は繋がらずに離れている。   First, as shown in FIG. 4A, the infrared detecting element 1 is mounted in the cavity portion 2 of the ceramic substrate 3, and the infrared detecting element 1 and the ceramic substrate 3 are electrically connected by wire bonding. A plan view of the ceramic substrate after the mounting step is shown in FIG. In this example, pad-shaped second metallized layers 7 are individually formed at four corners of the quadrangular ceramic substrate 3. However, other shapes as shown in FIG. In the shape of FIG. 5B, the continuous second metallized layer 7a extends through all four corners of the quadrangular ceramic substrate 3, but the second metallized layer 7a Both ends are separated without being connected.

続いて、図4(b)に示すようにセラミック基板3の外周縁面に形成された第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の上にそれぞれ、はんだ材料5を供給する。第1のメタライズ層6aに供給したはんだ材料5(第1の融着金属)の厚さは、第2のメタライズ層7に供給したはんだ材料5(第2の融着金属)の厚さより薄く形成されている。本例ではセラミック基板3の第1のメタライズ層6aに形成したはんだ材料5の厚さは0.2mm、第2のメタライズ層7aに形成したはんだ材料5の厚さは0.5mmとした。   Subsequently, as shown in FIG. 4B, the solder material 5 is supplied onto the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7 formed on the outer peripheral surface of the ceramic substrate 3, respectively. The thickness of the solder material 5 (first fused metal) supplied to the first metallized layer 6a is formed to be thinner than the thickness of the solder material 5 (second fused metal) supplied to the second metallized layer 7. Has been. In this example, the thickness of the solder material 5 formed on the first metallized layer 6a of the ceramic substrate 3 is 0.2 mm, and the thickness of the solder material 5 formed on the second metallized layer 7a is 0.5 mm.

また、セラミック基板3の第1のメタライズ層6a上へのはんだ材料5の供給(第1の溶着金属形成工程)は、板状のはんだを第1のメタライズ層6aの上に設置し、溶融させることで行われることが望ましい。第2のメタライズ層7a上へのはんだ材料5の供給(第2の溶着金属形成工程)は、ボール形状のはんだを第2のメタライズ層7の上に設置し、溶融させることで形成することが望ましい。   In addition, in supplying the solder material 5 onto the first metallized layer 6a of the ceramic substrate 3 (first weld metal forming step), a plate-like solder is placed on the first metallized layer 6a and melted. It is desirable that this is done. The supply of the solder material 5 onto the second metallized layer 7a (second weld metal forming step) can be formed by placing ball-shaped solder on the second metallized layer 7 and melting it. desirable.

また、本例ではセラミック基板3の第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方にはんだ材料を供給した。しかし、図3(b)に示したように赤外線透過窓4側に第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7が形成され、セラミック基板3側に第1のメタライズ層6bが形成されている場合は、図6(a)に示すように、赤外線透過窓4に形成された第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方にはんだ材料を供給することが可能である。あるいは、図6(b)に示すように、赤外線透過窓4側の第2のメタライズ層7とセラミック基板3側の第1のメタライズ層6bにはんだ材料を供給することも可能である。これらの場合、赤外線透過窓4側に形成された第2のメタライズ層7がパッド形状に形成されている。   In this example, the solder material is supplied to both the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7 of the ceramic substrate 3. However, as shown in FIG. 3B, the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 are formed on the infrared transmitting window 4 side, and the first metallized layer 6b is formed on the ceramic substrate 3 side. 6A, it is possible to supply the solder material to both the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 formed in the infrared transmission window 4, as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 6B, a solder material can be supplied to the second metallized layer 7 on the infrared transmission window 4 side and the first metallized layer 6b on the ceramic substrate 3 side. In these cases, the second metallized layer 7 formed on the infrared transmission window 4 side is formed in a pad shape.

また、本例ではセラミック基板3に赤外線検知素子1を実装後に、第1のメタライズ層6と第2のメタライズ層7にはんだ材料5を供給している。しかし、セラミック基板3へ赤外線検知素子を搭載する工程は第1のメタライズ層6、第2のメタライズ層7へのはんだ材料5の供給後に実施してもよい。   In this example, the solder material 5 is supplied to the first metallized layer 6 and the second metallized layer 7 after the infrared detection element 1 is mounted on the ceramic substrate 3. However, the step of mounting the infrared detecting element on the ceramic substrate 3 may be performed after supplying the solder material 5 to the first metallized layer 6 and the second metallized layer 7.

次に、図4(c)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態で、不図示の真空チャンバ内に設置する。セラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態では、第2のメタライズ層7に供給したはんだ材料5により、セラミック基板3と赤外線透過窓4の間には隙間が形成されている。この積層工程において、赤外線透過窓4の上におもりを載せることも可能である。   Next, as shown in FIG. 4C, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are stacked and installed in a vacuum chamber (not shown). In the state where the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are laminated, a gap is formed between the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 by the solder material 5 supplied to the second metallized layer 7. In this lamination process, it is possible to place a weight on the infrared transmission window 4.

続いて、図4(d)に示すように、セラミック基板3と赤外線透過窓4から構成される赤外線検知器の中空部を真空チャンバ内で排気して真空状態にした後、該赤外線検知器をはんだ材料5の融点以上に加熱することで、該はんだ材料5を溶融させ、セラミック基板3と赤外線透過窓4を接続する(接続工程)。なお、該赤外線検知器の中空部を真空にするために排気している際に、該赤外線検知器を、はんだ材料5が溶融しない温度であって赤外線検知素子1の耐熱性に問題がない温度まで予備加熱すると良い。これにより、該赤外線検知器の中空部が所定の真空度に達するまでの時間を短縮できるため、上記接続工程の時間を短縮することが可能である。この接続工程は真空雰囲気中で行われるが、真空チャンバ内に不活性ガスを導入して行われてもよい。   Subsequently, as shown in FIG. 4 (d), the hollow portion of the infrared detector composed of the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 is evacuated into a vacuum chamber, and then the infrared detector is moved to a vacuum state. By heating to the melting point or higher of the solder material 5, the solder material 5 is melted and the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are connected (connection process). When the hollow portion of the infrared detector is evacuated to make a vacuum, the infrared detector is at a temperature at which the solder material 5 does not melt and the heat resistance of the infrared detector 1 is not a problem. It is good to preheat until. Thereby, since the time until the hollow part of the infrared detector reaches a predetermined degree of vacuum can be shortened, it is possible to shorten the time of the connecting step. This connection step is performed in a vacuum atmosphere, but may be performed by introducing an inert gas into the vacuum chamber.

なお、上記接続工程では第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間のはんだ材料5が溶融することで該はんだが濡れ広がって該はんだの高さが低くなり、その結果、第1のメタライズ層6a,6b間が接続される。このとき、はんだが供給されるパッド状の第2のメタライズ層7の面積よりも、キャビティ2を取り囲んだ一続きの第1のメタライズ層6bの面積の方がはるかに大きい。このため、溶融した該はんだは、はんだ接合部6b−1とつながった第1のメタライズ層6bを濡れ広がって、該はんだの高さが目的の高さまで低くなる。   In the connection step, the solder material 5 between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b is melted, so that the solder wets and spreads to lower the height of the solder. The metallized layers 6a and 6b are connected. At this time, the area of the continuous first metallized layer 6b surrounding the cavity 2 is much larger than the area of the pad-shaped second metallized layer 7 to which the solder is supplied. For this reason, the melted solder wets and spreads the first metallized layer 6b connected to the solder joint portion 6b-1, and the height of the solder is lowered to a target height.

すなわち本実施例の場合、図2に示したように、はんだ材料が供給されるセラミック基板3側の第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に、第1のメタライズ層6bの一部を拡大してなるはんだ接合部6b−1が形成されている。言い換えれば、第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に設ける必要のあるパッド部が第1のメタライズ層6bと一体化された形態になっている。一方、該パッド部が第1のメタライズ層6bから孤立している形態では、パッド状の第2のメタライズ層7へのはんだ供給量のばらつきを見越して、該パッド部の径を該パッド状の第2のメタライズ層7よりも大きくすることで、上記接続工程を良好に実施することが可能になる。しかし、単純に該パッド部の径を大きくすると気密封止パッケージのサイズアップを招く虞がある。そこで本実施例は、該パッド部を第1のメタライズ層6bの一部(はんだ接合部6b−1)で形成することで、該気密封止パッケージのサイズアップを抑制している。   That is, in the case of the present embodiment, as shown in FIG. 2, the first metallized layer 6b is located at the position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side to which the solder material is supplied. A solder joint 6b-1 is formed by enlarging a part of the solder. In other words, the pad portion that needs to be provided at a position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 is integrated with the first metallized layer 6b. On the other hand, in a form in which the pad portion is isolated from the first metallized layer 6b, the diameter of the pad portion is reduced to the pad-like shape in anticipation of variations in the amount of solder supplied to the pad-like second metallized layer 7. By making it larger than the second metallized layer 7, it is possible to satisfactorily perform the connection process. However, simply increasing the diameter of the pad portion may increase the size of the hermetically sealed package. Therefore, in this embodiment, the pad portion is formed by a part of the first metallized layer 6b (solder joint portion 6b-1), thereby suppressing an increase in the size of the hermetic sealing package.

以上のように、第1のメタライズ層6aに供給したはんだ材料5より厚いサイズのはんだ材料5を第2のメタライズ層7に供給することにより、セラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態で両者の間に隙間が確保される。このため、セラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態で真空チャンバに設置したとしても、赤外線検知器の中空部を排気して真空状態にすることができる。これは、真空チャンバ内を真空状態にした後に、該真空チャンバ内で何らかの機構によりセラミック基板3と赤外線透過窓4を積層する方法に比べて、設備投資を安価にできる。   As described above, by supplying the second metallized layer 7 with a solder material 5 that is thicker than the solder material 5 supplied to the first metallized layer 6a, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are stacked. A gap is secured between the two. For this reason, even if it installs in the vacuum chamber in the state which laminated | stacked the ceramic substrate 3 and the infrared rays transmission window 4, the hollow part of an infrared detector can be exhausted and can be made into a vacuum state. This makes it possible to reduce the capital investment compared to a method in which the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are laminated by some mechanism in the vacuum chamber after the vacuum chamber is evacuated.

また、赤外線検知器の中空部を真空状態にするために微細な貫通穴から排気を行う方法に比べて、はんだ材の厚さにより制御されたセラミック基板3と赤外線透過窓4の間の隙間から排気を行うため、排気するためのエリアを広くできる。結果、該中空部が真空状態に排気されるまでに要する時間を短縮することができる。   Moreover, compared with the method of exhausting from a fine through-hole in order to make the hollow part of an infrared detector into a vacuum state, the gap between the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 controlled by the thickness of the solder material Since exhaust is performed, an area for exhaust can be increased. As a result, the time required until the hollow portion is evacuated to a vacuum state can be shortened.

次に、上述した構成および方法を用いた本発明の実施形態をいくつか示す。なお、上述した構成例の部材と同じ部材については同一の符号を用いて説明する。   Next, some embodiments of the present invention using the above-described configuration and method will be described. Note that the same members as those in the configuration example described above will be described using the same reference numerals.

(第1の実施形態)
図7は、本発明の第1の実施形態による気密封止パッケージを示す概略断面図である。
(First embodiment)
FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing a hermetically sealed package according to the first embodiment of the present invention.

本実施の形態においては、第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方のすぐ下のセラミック基板3の内層に抵抗体8が形成されている。   In the present embodiment, the resistor 8 is formed in the inner layer of the ceramic substrate 3 immediately below both the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7.

セラミック基板3の内層の抵抗体8は第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7から0.05〜1mm下にあることが望ましい。本実施形態では抵抗体8を第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7から0.1mm下の層に形成している。   It is desirable that the resistor 8 in the inner layer of the ceramic substrate 3 is 0.05 to 1 mm below the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7. In this embodiment, the resistor 8 is formed in a layer 0.1 mm below the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7.

抵抗体8は、セラミック基板3に形成された不図示の配線により、セラミック基板3の裏面のパッドまで結線されている。セラミック基板3の裏面パッドに電圧を印加し、抵抗体8に電流を流すことで、抵抗体8を発熱させることができる。   The resistor 8 is connected to a pad on the back surface of the ceramic substrate 3 by wiring (not shown) formed on the ceramic substrate 3. The resistor 8 can be caused to generate heat by applying a voltage to the back surface pad of the ceramic substrate 3 and passing a current through the resistor 8.

本実施形態によれば、赤外線検知器全体を加熱するのでなくはんだ材料5を抵抗体8で直接加熱することができる。このため、第1のメタライズ層6a及び6bを接続するはんだ材料5と、第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7を接続するはんだ材料5は、赤外線検知素子1の耐熱温度を超える温度で溶融するはんだ材料であっても問題ない。本実施形態ではSnSb系はんだを使用している。   According to this embodiment, the solder material 5 can be directly heated by the resistor 8 instead of heating the entire infrared detector. For this reason, the solder material 5 that connects the first metallized layers 6 a and 6 b and the solder material 5 that connects the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7 have a temperature exceeding the heat resistance temperature of the infrared detection element 1. There is no problem even if the solder material melts at the same time. In this embodiment, SnSb solder is used.

次に、本実施の形態に係る気密封止パッケージの製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the hermetic sealing package according to the present embodiment will be described.

まず、図8(a)に示すようにセラミック基板3のキャビティ部2に赤外線検知素子1を搭載し、ワイヤボンディングにより赤外線検知素子1とセラミック基板3を電気接続する。   First, as shown in FIG. 8A, the infrared detection element 1 is mounted in the cavity portion 2 of the ceramic substrate 3, and the infrared detection element 1 and the ceramic substrate 3 are electrically connected by wire bonding.

続いて、図8(b)に示すようにセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の上にはんだ材料5を供給する。本実施形態ではセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7にそれぞれはんだ材料5を供給した。しかし、図3(b)に示したように赤外線透過窓4側に第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7が形成され、セラミック基板3側に第1のメタライズ層6bが形成されている場合は、図6(a)に示すように、赤外線透過窓4に形成された第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方にはんだ材料を供給することが可能である。あるいは、図6(b)に示すように、赤外線透過窓4側の第2のメタライズ層7とセラミック基板3側の第1のメタライズ層6bにはんだ材料を供給することも可能である。これらの場合、赤外線透過窓4側に形成された第2のメタライズ層7がパッド形状に形成されている。   Subsequently, as shown in FIG. 8B, the solder material 5 is supplied onto the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side. In the present embodiment, the solder material 5 is supplied to each of the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side. However, as shown in FIG. 3B, the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 are formed on the infrared transmitting window 4 side, and the first metallized layer 6b is formed on the ceramic substrate 3 side. 6A, it is possible to supply the solder material to both the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 formed in the infrared transmission window 4, as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 6B, a solder material can be supplied to the second metallized layer 7 on the infrared transmission window 4 side and the first metallized layer 6b on the ceramic substrate 3 side. In these cases, the second metallized layer 7 formed on the infrared transmission window 4 side is formed in a pad shape.

第2のメタライズ層7に形成されたボール状のはんだ材料5の厚さは、第1のメタライズ層6aに形成された板状のはんだ材料5の厚みより厚い。   The thickness of the ball-shaped solder material 5 formed on the second metallized layer 7 is larger than the thickness of the plate-shaped solder material 5 formed on the first metallized layer 6a.

次に、図8(c)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態で、不図示の真空チャンバ内に設置する。セラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態では、第1のメタライズ層6aのはんだ材料5よりも厚い第2のメタライズ層7のはんだ材料5により、セラミック基板3と赤外線透過窓4の間には隙間が形成されている。   Next, as shown in FIG. 8C, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are stacked and installed in a vacuum chamber (not shown). In a state in which the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are laminated, the solder material 5 of the second metallization layer 7 thicker than the solder material 5 of the first metallization layer 6a causes a gap between the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4. A gap is formed.

その後、セラミック基板3と赤外線透過窓4から構成される赤外線検知器の中空部を真空チャンバ内で排気して真空状態にした後、セラミック基板3の内層に形成された抵抗体8に電圧を印加し、電流を流すことで抵抗体8を発熱させる。そして、その熱により、第1のメタライズ層6a及び6b間のはんだ材料5と、第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間のはんだ材料5を溶融させ、図8(d)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を接続する。   Thereafter, the hollow portion of the infrared detector composed of the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 is evacuated in a vacuum chamber to be in a vacuum state, and then a voltage is applied to the resistor 8 formed in the inner layer of the ceramic substrate 3. Then, the resistor 8 is caused to generate heat by passing a current. The heat melts the solder material 5 between the first metallized layers 6a and 6b and the solder material 5 between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b, as shown in FIG. As shown, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are connected.

該赤外線検知器の中空部を真空にするために排気している際には、該赤外線検知素子の耐熱温度以下であってはんだ材料5が溶融しない温度近くまで該赤外線検知器を予備加熱することが好ましい。この方法によると、該赤外線検知器の中空部が所定の真空度に達するまでの時間を短縮できるため、上記セラミック基板3と赤外線透過窓4の接続工程の時間を短縮することが可能である。   When evacuating the hollow portion of the infrared detector to make a vacuum, the infrared detector is preheated to a temperature not higher than the heat resistance temperature of the infrared detector element and close to a temperature at which the solder material 5 does not melt. Is preferred. According to this method, the time required for the hollow portion of the infrared detector to reach a predetermined degree of vacuum can be shortened, so that the time for connecting the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 can be shortened.

なお、図8(c)〜(d)の接続工程では第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間のはんだ材料5が溶融することで該はんだが濡れ広がって該はんだの高さが低くなり、その結果、第1のメタライズ層6a,6b間が接続される。このとき、はんだが供給されるパッド状の第2のメタライズ層7の面積よりも、キャビティ2を取り囲んだ一続きの第1のメタライズ層6bの面積の方がはるかに大きいため、溶融した該はんだは、はんだ接合部6b−1とつながった第1のメタライズ層6bを濡れ広がって、該はんだの高さが目的の高さまで低くなる。   8C to 8D, the solder material 5 between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b is melted so that the solder wets and spreads. As a result, the first metallized layers 6a and 6b are connected to each other. At this time, since the area of the continuous first metallized layer 6b surrounding the cavity 2 is much larger than the area of the pad-shaped second metallized layer 7 to which the solder is supplied, the molten solder Causes the first metallized layer 6b connected to the solder joint portion 6b-1 to wet and spread, and the height of the solder is lowered to a target height.

すなわち本実施例の場合、図2に示したように、はんだ材料が供給されるセラミック基板3側の第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に、第1のメタライズ層6bの一部を拡大してなるはんだ接合部6b−1が形成されている。言い換えれば、第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に設ける必要のあるパッド部が第1のメタライズ層6bと一体化された形態になっている。一方、該パッド部が第1のメタライズ層6bから孤立している形態では、パッド状の第2のメタライズ層7へのはんだ供給量のばらつきを見越して、該パッド部の径を該パッド状の第2のメタライズ層7よりも大きくすることで、上記接続工程を良好に実施することが可能になる。しかし、単純に該パッド部の径を大きくすると気密封止パッケージのサイズアップを招く虞がある。そこで本実施例は、該パッド部を第1のメタライズ層6bの一部(はんだ接合部6b−1)で形成することで、該気密封止パッケージのサイズアップを抑制している。   That is, in the case of the present embodiment, as shown in FIG. 2, the first metallized layer 6b is located at the position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side to which the solder material is supplied. A solder joint 6b-1 is formed by enlarging a part of the solder. In other words, the pad portion that needs to be provided at a position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 is integrated with the first metallized layer 6b. On the other hand, in a form in which the pad portion is isolated from the first metallized layer 6b, the diameter of the pad portion is reduced to the pad-like shape in anticipation of variations in the amount of solder supplied to the pad-like second metallized layer 7. By making it larger than the second metallized layer 7, it is possible to satisfactorily perform the connection process. However, simply increasing the diameter of the pad portion may increase the size of the hermetically sealed package. Therefore, in this embodiment, the pad portion is formed by a part of the first metallized layer 6b (solder joint portion 6b-1), thereby suppressing an increase in the size of the hermetic sealing package.

さらに、本実施形態の製造方法によると、第1のメタライズ層6a上及び第2のメタライズ層7上に供給されたはんだ材料5が、抵抗体8の発熱による局所加熱により溶融する。このため、はんだ材料5の溶融温度が赤外線検知素子の耐熱温度以上の温度であっても赤外線検知素子にダメージを与えずにセラミック基板3と赤外線透過窓4を接続することが出来る。さらに、溶融温度の比較的高いはんだ材料を使用することができるため、測定環境に対してより信頼性の高い赤外線検知器を提供することができる。   Furthermore, according to the manufacturing method of the present embodiment, the solder material 5 supplied onto the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7 is melted by local heating due to heat generated by the resistor 8. For this reason, even if the melting temperature of the solder material 5 is equal to or higher than the heat resistance temperature of the infrared detection element, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 can be connected without damaging the infrared detection element. Furthermore, since a solder material having a relatively high melting temperature can be used, it is possible to provide an infrared detector with higher reliability for the measurement environment.

また、抵抗体の発熱による局所加熱であるため、赤外線検知器の周囲全体を加熱する方法に比べて、短時間ではんだ材料を昇温することが出来る。   Moreover, since it is the local heating by heat_generation | fever of a resistor, compared with the method of heating the whole circumference | surroundings of an infrared detector, it can heat up solder material in a short time.

また、製造された赤外線検知器の蓋材である赤外線透過窓4を開けて内部の電子デバイスの検査や交換を行い場合、抵抗体8に通電することによりはんだ材料5を溶融させて赤外線透過窓4を取り外すことが容易である。また抵抗体8の発熱は蓋材の接続部への局所加熱であるため、パッケージ内の電子部品への熱的ダメージが少ない。こうした装置における利点もある。   When the infrared transmission window 4 that is the lid of the manufactured infrared detector is opened to inspect or replace the internal electronic device, the solder material 5 is melted by energizing the resistor 8 to cause the infrared transmission window. It is easy to remove 4. Further, since the heat generated by the resistor 8 is local heating of the connecting portion of the lid member, there is little thermal damage to the electronic components in the package. There are also advantages in such devices.

(第2の実施形態)
図9は、本発明の第2の実施形態による気密封止パッケージを示す概略断面図である。
(Second Embodiment)
FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing an airtight sealed package according to the second embodiment of the present invention.

上記した第1の実施形態と同様に、本実施の形態においても、抵抗体8が、第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方のすぐ下のセラミック基板3の内層に形成されている。   Similar to the first embodiment described above, also in this embodiment, the resistor 8 is formed in the inner layer of the ceramic substrate 3 immediately below both the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7. ing.

第1のメタライズ層6a及び6b間に配置される第1のはんだ材料5aは、第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間に配置される第2のはんだ材料5bより融点が低いものとしている。本実施形態では、第1のはんだ材料5aにSnAg系はんだが使用され、第2のはんだ材料5bにSnSb系はんだが使用されている。   The first solder material 5a disposed between the first metallized layers 6a and 6b has a lower melting point than the second solder material 5b disposed between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b. It is supposed to be. In the present embodiment, SnAg solder is used for the first solder material 5a, and SnSb solder is used for the second solder material 5b.

次に、本実施の形態に係る気密封止パッケージの製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the hermetic sealing package according to the present embodiment will be described.

まず、図10(a)に示すようにセラミック基板3のキャビティ部2に赤外線検知素子1を搭載し、ワイヤボンディングにより赤外線検知素子1とセラミック基板3を電気接続する。   First, as shown in FIG. 10A, the infrared detecting element 1 is mounted in the cavity portion 2 of the ceramic substrate 3, and the infrared detecting element 1 and the ceramic substrate 3 are electrically connected by wire bonding.

次いで、図10(b)に示すようにセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aに第1のはんだ材料5a、第2のメタライズ層7に第2のはんだ材料5bを供給する。第2のはんだ材料5bは第1のはんだ材料5aより溶融温度が高いものを使用している。本実施例では例えば第1のはんだ材料5aにSnAg系はんだ、第2のはんだ材料5bにSnSb系はんだを使用している。   Next, as shown in FIG. 10B, the first solder material 5 a is supplied to the first metallized layer 6 a on the ceramic substrate 3 side, and the second solder material 5 b is supplied to the second metallized layer 7. As the second solder material 5b, a material having a melting temperature higher than that of the first solder material 5a is used. In this embodiment, for example, SnAg solder is used for the first solder material 5a, and SnSb solder is used for the second solder material 5b.

第2のメタライズ層7に形成されたボール状のはんだ材料5bの厚さは、第1のメタライズ層6aに形成された板状のはんだ材料5aの厚みより厚い。   The thickness of the ball-shaped solder material 5b formed on the second metallized layer 7 is greater than the thickness of the plate-shaped solder material 5a formed on the first metallized layer 6a.

本実施形態ではセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7にはんだ材料5a、5bをそれぞれ供給した。しかし、図3(b)に示したように赤外線透過窓4側に第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7が形成され、セラミック基板3側に第1のメタライズ層6bが形成されている場合は、図6(a)に示すように、赤外線透過窓4に形成された第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方にはんだ材料を供給することが可能である。あるいは、図6(b)に示すように、赤外線透過窓4側の第2のメタライズ層7とセラミック基板3側の第1のメタライズ層6bにはんだ材料を供給してもよい。これらの場合、第2のメタライズ層7に供給するはんだ材料の方が、第1のメタライズ層6a又は6bに供給するはんだ材料よりも溶融温度が高い。また、赤外線透過窓4側に形成された第2のメタライズ層7がパッド形状に形成されている。   In the present embodiment, the solder materials 5a and 5b are respectively supplied to the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side. However, as shown in FIG. 3B, the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 are formed on the infrared transmitting window 4 side, and the first metallized layer 6b is formed on the ceramic substrate 3 side. 6A, it is possible to supply the solder material to both the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 formed in the infrared transmission window 4, as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 6B, a solder material may be supplied to the second metallization layer 7 on the infrared transmission window 4 side and the first metallization layer 6b on the ceramic substrate 3 side. In these cases, the melting temperature of the solder material supplied to the second metallized layer 7 is higher than that of the solder material supplied to the first metallized layer 6a or 6b. A second metallized layer 7 formed on the infrared transmitting window 4 side is formed in a pad shape.

次に、図10(c)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態で、不図示の真空チャンバ内に設置する。セラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態では、第1のメタライズ層6aのはんだ材料5aよりも厚い第2のメタライズ層7のはんだ材料5bにより、セラミック基板3と赤外線透過窓4の間には隙間が形成されている。   Next, as shown in FIG. 10C, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are stacked and installed in a vacuum chamber (not shown). In a state where the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are laminated, the solder material 5b of the second metallization layer 7 thicker than the solder material 5a of the first metallization layer 6a causes a gap between the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4. A gap is formed.

その後、セラミック基板3と赤外線透過窓4から構成される赤外線検知器の中空部を真空チャンバ内で排気して真空状態にした後、セラミック基板3の内層に形成された抵抗体8に電圧を印加し、電流を流すことで抵抗体8を発熱させる。そして、その熱により、第1のメタライズ層6a及び6b間のはんだ材料5aと、第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間のはんだ材料5bを溶融させ、図10(d)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を接続する。   Thereafter, the hollow portion of the infrared detector composed of the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 is evacuated in a vacuum chamber to be in a vacuum state, and then a voltage is applied to the resistor 8 formed in the inner layer of the ceramic substrate 3. Then, the resistor 8 is caused to generate heat by passing a current. Then, the heat melts the solder material 5a between the first metallized layers 6a and 6b and the solder material 5b between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b, as shown in FIG. As shown, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are connected.

該赤外線検知器の中空部を真空にするために排気している際には、該赤外線検知素子の耐熱温度以下であって第2のはんだ材料5bが溶融しない温度近くまで該赤外線検知器を予備加熱することが好ましい。この方法によると、該赤外線検知器の中空部が所定の真空度に達するまでの時間を短縮できるため、上記セラミック基板3と赤外線透過窓4の接続工程の時間を短縮することが可能である。   When the hollow portion of the infrared detector is evacuated to make a vacuum, the infrared detector is preliminarily kept at a temperature not higher than the heat resistance temperature of the infrared detector element and close to a temperature at which the second solder material 5b does not melt. It is preferable to heat. According to this method, the time required for the hollow portion of the infrared detector to reach a predetermined degree of vacuum can be shortened, so that the time for connecting the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 can be shortened.

本実施形態では、上記赤外線検知器の中空部の排気中、第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間に配置された第2のはんだ材料5bによってセラミック基板3と赤外線透過窓4の間の隙間が維持されている。このため、第1のメタライズ層6a上に供給するはんだ材料は該排気中に溶融するはんだ材であっても問題がない。この事により、第1のメタライズ層6a上のはんだ材料については、第2のはんだ材料5bよりも汎用的で低コストのはんだを選定することができる。   In the present embodiment, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are disposed by the second solder material 5b disposed between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b during the exhaust of the hollow portion of the infrared detector. The gap between is maintained. For this reason, there is no problem even if the solder material supplied onto the first metallized layer 6a is a solder material that melts in the exhaust. As a result, for the solder material on the first metallized layer 6a, a general-purpose and low-cost solder can be selected as compared with the second solder material 5b.

なお、図10(c)〜(d)の接続工程では第2のメタライズ層7aと第1のメタライズ層6bの間の第2のはんだ材料5bが溶融することで該はんだが濡れ広がって該はんだの高さが低くなり、その結果、第1のメタライズ層6a,6b間が接続される。このとき、はんだが供給されるパッド状の第2のメタライズ層7の面積よりも、キャビティ2を取り囲んだ一続きの第1のメタライズ層6bの面積の方がはるかに大きい。このため、溶融した該はんだは、はんだ接合部6b−1とつながった第1のメタライズ層6bを濡れ広がって、該はんだの高さが目的の高さまで低くなる。   10C to 10D, when the second solder material 5b between the second metallized layer 7a and the first metallized layer 6b is melted, the solder is spread and wetted. As a result, the first metallized layers 6a and 6b are connected to each other. At this time, the area of the continuous first metallized layer 6b surrounding the cavity 2 is much larger than the area of the pad-shaped second metallized layer 7 to which the solder is supplied. For this reason, the melted solder wets and spreads the first metallized layer 6b connected to the solder joint portion 6b-1, and the height of the solder is lowered to a target height.

すなわち本実施例の場合、図2に示したように、はんだ材料が供給されるセラミック基板3側の第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に、第1のメタライズ層6bの一部を拡大してなるはんだ接合部6b−1が形成されている。言い換えれば、第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に設ける必要のあるパッド部が第1のメタライズ層6bと一体化された形態になっている。一方、該パッド部が第1のメタライズ層6bから孤立している形態では、パッド状の第2のメタライズ層7へのはんだ供給量のばらつきを見越して、該パッド部の径を該パッド状の第2のメタライズ層7よりも大きくすることで、上記接続工程を良好に実施することが可能になる。しかし、単純に該パッド部の径を大きくすると気密封止パッケージのサイズアップを招く虞がある。そこで本実施例は、該パッド部を第1のメタライズ層6bの一部(はんだ接合部6b−1)で形成することで、該サイズアップを抑制している。   That is, in the case of the present embodiment, as shown in FIG. 2, the first metallized layer 6b is located at the position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side to which the solder material is supplied. A solder joint 6b-1 is formed by enlarging a part of the solder. In other words, the pad portion that needs to be provided at a position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 is integrated with the first metallized layer 6b. On the other hand, in a form in which the pad portion is isolated from the first metallized layer 6b, the diameter of the pad portion is reduced to the pad-like shape in anticipation of variations in the amount of solder supplied to the pad-like second metallized layer 7. By making it larger than the second metallized layer 7, it is possible to satisfactorily perform the connection process. However, simply increasing the diameter of the pad portion may increase the size of the hermetically sealed package. Therefore, in this embodiment, the size increase is suppressed by forming the pad portion by a part of the first metallized layer 6b (solder joint portion 6b-1).

(第3の実施形態)
図11は、本発明の第3の実施形態による気密封止パッケージを示す概略断面図である。
(Third embodiment)
FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing an airtight sealed package according to the third embodiment of the present invention.

本実施の形態においては、抵抗体8が、第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方に対応する位置ではなく、第2のメタライズ層7のみの下に位置するセラミック基板3の内層に形成されている。   In the present embodiment, the resistor 8 is not located at a position corresponding to both the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7, but is formed only on the second metallized layer 7. It is formed in the inner layer.

第1のメタライズ層6a及び6b間に配置される第1のはんだ材料5aは、第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間に配置される第2のはんだ材料5bより融点が低いものとしている。本実施形態では、第1のはんだ材料5aにSnAg系はんだが使用され、第2のはんだ材料5bにSnSb系はんだが使用されている。   The first solder material 5a disposed between the first metallized layers 6a and 6b has a lower melting point than the second solder material 5b disposed between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b. It is supposed to be. In the present embodiment, SnAg solder is used for the first solder material 5a, and SnSb solder is used for the second solder material 5b.

次に、本実施の形態に係る気密封止パッケージの製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the hermetic sealing package according to the present embodiment will be described.

まず、図12(a)に示すようにセラミック基板3のキャビティ部2に赤外線検知素子1を搭載し、ワイヤボンディングにより赤外線検知素子1とセラミック基板3を電気接続する。   First, as shown in FIG. 12A, the infrared detecting element 1 is mounted in the cavity portion 2 of the ceramic substrate 3, and the infrared detecting element 1 and the ceramic substrate 3 are electrically connected by wire bonding.

次いで、図12(b)に示すようにセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aに第1のはんだ材料5a、第2のメタライズ層7に第2のはんだ材料5bを供給する。第2のはんだ材料5bは第1のはんだ材料5aより溶融温度が高いものを使用している。本実施例では例えば第1のはんだ材料5aにSnAg系はんだ、第2のはんだ材料5bにSnSb系はんだを使用している。   Next, as shown in FIG. 12B, the first solder material 5 a is supplied to the first metallized layer 6 a on the ceramic substrate 3 side, and the second solder material 5 b is supplied to the second metallized layer 7. As the second solder material 5b, a material having a melting temperature higher than that of the first solder material 5a is used. In this embodiment, for example, SnAg solder is used for the first solder material 5a, and SnSb solder is used for the second solder material 5b.

第2のメタライズ層7aに形成されたボール状のはんだ材料5bの厚さは、第1のメタライズ層6aに形成された板状のはんだ材料5aの厚みより厚い。   The thickness of the ball-shaped solder material 5b formed on the second metallized layer 7a is larger than the thickness of the plate-shaped solder material 5a formed on the first metallized layer 6a.

本実施形態ではセラミック基板3側の第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7にはんだ材料5a、5bをそれぞれ供給した。しかし、図3(b)に示したように赤外線透過窓4側に第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7が形成され、セラミック基板3側に第1のメタライズ層6bが形成されている場合は、図6(a)に示すように、赤外線透過窓4に形成された第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の両方にはんだ材料を供給することが可能である。あるいは、図6(b)に示すように、赤外線透過窓4側の第2のメタライズ層7とセラミック基板3側の第1のメタライズ層6bにはんだ材料を供給してもよい。これらの場合、第2のメタライズ層7に供給するはんだ材料の方が、第1のメタライズ層6a又は6bに供給するはんだ材料よりも溶融温度が高い。また、赤外線透過窓4側に形成された第2のメタライズ層7がパッド形状に形成されている。   In the present embodiment, the solder materials 5a and 5b are respectively supplied to the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side. However, as shown in FIG. 3B, the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 are formed on the infrared transmitting window 4 side, and the first metallized layer 6b is formed on the ceramic substrate 3 side. 6A, it is possible to supply the solder material to both the first metallized layer 6a and the second metallized layer 7 formed in the infrared transmission window 4, as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 6B, a solder material may be supplied to the second metallization layer 7 on the infrared transmission window 4 side and the first metallization layer 6b on the ceramic substrate 3 side. In these cases, the melting temperature of the solder material supplied to the second metallized layer 7 is higher than that of the solder material supplied to the first metallized layer 6a or 6b. A second metallized layer 7 formed on the infrared transmitting window 4 side is formed in a pad shape.

次に、図12(c)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態で、不図示の真空チャンバ内に設置する。セラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態では、第1のメタライズ層6aのはんだ材料5aよりも厚い第2のメタライズ層7のはんだ材料5bにより、セラミック基板3と赤外線透過窓4の間には隙間が形成されている。   Next, as shown in FIG. 12C, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are stacked and installed in a vacuum chamber (not shown). In a state where the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are laminated, the solder material 5b of the second metallization layer 7 thicker than the solder material 5a of the first metallization layer 6a causes a gap between the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4. A gap is formed.

その後、セラミック基板3と赤外線透過窓4から構成される赤外線検知器の中空部を真空チャンバ内で排気して真空状態にする。この排気中は、第1のはんだ材料5aが溶融する温度で該赤外線検知器を加熱する。その排気後、セラミック基板3の内層に形成された抵抗体8に電圧を印加し、電流を流すことで抵抗体8を発熱させる。そして、その熱により、第2のメタライズ層7と第1のメタライズ層6bの間の第2のはんだ材料5bを溶融させ、図12(d)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を接続する。   Thereafter, the hollow portion of the infrared detector composed of the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 is evacuated into a vacuum state in the vacuum chamber. During the exhaust, the infrared detector is heated at a temperature at which the first solder material 5a is melted. After the evacuation, a voltage is applied to the resistor 8 formed in the inner layer of the ceramic substrate 3 to cause the resistor 8 to generate heat by flowing a current. Then, by the heat, the second solder material 5b between the second metallized layer 7 and the first metallized layer 6b is melted, and the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 are moved as shown in FIG. Connecting.

本実施形態の製造方法によると、セラミック基板3の内層に抵抗体8を形成する箇所を第2のメタライズ層7の下層のみとすることで、抵抗体8に印加する電圧を小さくすることが出来るほか、より短時間で加熱することができるというメリットがある。   According to the manufacturing method of the present embodiment, the voltage applied to the resistor 8 can be reduced by forming the resistor 8 on the inner layer of the ceramic substrate 3 only under the second metallized layer 7. In addition, there is an advantage that heating can be performed in a shorter time.

なお、図12(c)〜(d)の接続工程では第2のメタライズ層7aと第1のメタライズ層6bの間の第2のはんだ材料5bが溶融することで該はんだが濡れ広がって該はんだの高さが低くなり、その結果、第1のメタライズ層6a,6b間が接続される。このとき、はんだが供給されるパッド状の第2のメタライズ層7の面積よりも、キャビティ2を取り囲んだ一続きの第1のメタライズ層6bの面積の方がはるかに大きい。このため、溶融した該はんだは、はんだ接合部6b−1とつながった第1のメタライズ層6bを濡れ広がって、該はんだの高さが目的の高さまで低くなる。   In the connection process of FIGS. 12C to 12D, the second solder material 5b between the second metallized layer 7a and the first metallized layer 6b is melted so that the solder wets and spreads. As a result, the first metallized layers 6a and 6b are connected to each other. At this time, the area of the continuous first metallized layer 6b surrounding the cavity 2 is much larger than the area of the pad-shaped second metallized layer 7 to which the solder is supplied. For this reason, the melted solder wets and spreads the first metallized layer 6b connected to the solder joint portion 6b-1, and the height of the solder is lowered to a target height.

すなわち本実施例の場合、図2に示したように、はんだ材料が供給されるセラミック基板3側の第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に、第1のメタライズ層6bの一部を拡大してなるはんだ接合部6b−1が形成されている。言い換えれば、第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側の位置に設ける必要のあるパッド部が第1のメタライズ層6bと一体化された形態になっている。一方、該パッド部が第1のメタライズ層6bから孤立している形態では、パッド状の第2のメタライズ層7へのはんだ供給量のばらつきを見越して、該パッド部の径を該パッド状の第2のメタライズ層7よりも大きくすることで、上記接続工程を良好に実施することが可能になる。しかし、単純に該パッド部の径を大きくすると気密封止パッケージのサイズアップを招く虞がある。そこで本実施例は、該パッド部を第1のメタライズ層6bの一部(はんだ接合部6b−1)で形成することで、該サイズアップを抑制している。   That is, in the case of the present embodiment, as shown in FIG. 2, the first metallized layer 6b is located at the position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side to which the solder material is supplied. A solder joint 6b-1 is formed by enlarging a part of the solder. In other words, the pad portion that needs to be provided at a position on the infrared transmitting window 4 side facing the second metallized layer 7 is integrated with the first metallized layer 6b. On the other hand, in a form in which the pad portion is isolated from the first metallized layer 6b, the diameter of the pad portion is reduced to the pad-like shape in anticipation of variations in the amount of solder supplied to the pad-like second metallized layer 7. By making it larger than the second metallized layer 7, it is possible to satisfactorily perform the connection process. However, simply increasing the diameter of the pad portion may increase the size of the hermetically sealed package. Therefore, in this embodiment, the size increase is suppressed by forming the pad portion by a part of the first metallized layer 6b (solder joint portion 6b-1).

以上のように、本発明の気密封止パッケージとして、電子デバイスに赤外線検知素子を実装した赤外線検知器を例に説明したが、電子デバイスに赤外線検知素子以外のデバイスを使用することも出来る。またセラミック基板のキャビティ部の形状や赤外線透過窓の形状は四角形状に限らず、円形や三角形などとすることも可能である。   As described above, as the hermetic sealing package of the present invention, the infrared detector in which the infrared detection element is mounted on the electronic device has been described as an example. However, a device other than the infrared detection element can be used for the electronic device. Further, the shape of the cavity portion of the ceramic substrate and the shape of the infrared transmission window are not limited to a square shape, but may be a circle or a triangle.

(第4の実施形態)
その他に、図13に示すようにセラミック基板3はキャビティ部がない構造体とすることもでき、その場合は赤外線透過窓4とスペーサ部材9を組み合わせることで中空部を構成する。
(Fourth embodiment)
In addition, as shown in FIG. 13, the ceramic substrate 3 can be a structure without a cavity portion. In that case, the hollow portion is configured by combining the infrared transmitting window 4 and the spacer member 9.

また、上述したように、セラミック基板3と赤外線透過窓4との接続工程を良好に実施するためには、はんだが供給されるセラミック基板3側のパッド状の第2のメタライズ層7に対面する赤外線透過窓4側のはんだ接合部を、該第2のメタライズ層7の面積よりも大きく設ける必要がある。この方策の一つとして、例えば図2(b)のように、該はんだ接合部を第1のメタライズ層6bと一体化させた構成例を示した。しかし、これ以外でも、例えば図14及び図15に示すように、セラミック基板3側のパッド状の第2のメタライズ層7aそれぞれに対面する赤外線透過窓4側の各はんだ接合部を一続きのメタライズ層で接続した構成(第2のメタライズ層7b)を採ることが可能である。   Further, as described above, in order to satisfactorily carry out the connection process between the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4, it faces the pad-like second metallized layer 7 on the ceramic substrate 3 side to which the solder is supplied. It is necessary to provide a solder joint on the infrared transmitting window 4 side larger than the area of the second metallized layer 7. As one of the measures, for example, as shown in FIG. 2B, a configuration example in which the solder joint portion is integrated with the first metallized layer 6b is shown. However, other than this, for example, as shown in FIGS. 14 and 15, each solder joint portion on the infrared transmitting window 4 side facing each of the pad-like second metallization layers 7 a on the ceramic substrate 3 side is connected to a series of metallizations. It is possible to adopt a structure (second metallized layer 7b) connected by layers.

特に図15に示すように、セラミック基板3及び赤外線透過窓4の平面形状が四角形状でなく円形の場合、上記第2のメタライズ層7bをリング形状にするとともに、第1のメタライズ層6a及び6bも同じリング形状にして該リング状の第2のメタライズ層7bの内側または外側に配置することが可能である。この構成の場合、セラミック基板3に対して垂直な軸線を中心として回転方向に赤外線透過窓4がずれても、セラミック基板3に赤外線透過窓4を接続することが容易である。   In particular, as shown in FIG. 15, when the planar shape of the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 is not a square shape but a circle, the second metallized layer 7b is formed in a ring shape, and the first metallized layers 6a and 6b are formed. Can be formed in the same ring shape and disposed inside or outside the ring-shaped second metallized layer 7b. In the case of this configuration, it is easy to connect the infrared transmission window 4 to the ceramic substrate 3 even if the infrared transmission window 4 is displaced in the rotation direction about the axis perpendicular to the ceramic substrate 3.

なお、図14及び図15に示した例では、セラミック基板3側にパッド状の第2のメタライズ層7aを島状に配置し、すべての第2のメタライズ層7aに接合できるように赤外線透過窓4側にリング形状の第2のメタライズ層7bを配置している。しかし、パッド状の第2のメタライズ層7aを赤外線透過窓4側に配置し、リング形状の第2のメタライズ層7bをセラミック基板3側に配置することも可能である。   In the example shown in FIGS. 14 and 15, a pad-like second metallization layer 7a is arranged in an island shape on the ceramic substrate 3 side, and an infrared transmission window is provided so that it can be joined to all the second metallization layers 7a. A ring-shaped second metallized layer 7b is disposed on the side 4. However, it is also possible to arrange the pad-like second metallized layer 7a on the infrared transmitting window 4 side and the ring-shaped second metallized layer 7b on the ceramic substrate 3 side.

(第5の実施形態)
図16は、本発明の第5の実施形態による気密封止パッケージを示す概略断面図である。本実施の形態においてはセラミック基板3のキャビティ部2周囲の縁と、赤外線透過窓4との間が、はんだ材料5により気密封止されている。接続されるセラミック基板3とはんだ材料5の間および、接続される赤外線透過窓4とはんだ材料5の間にはそれぞれ、第1のメタライズ層6a、6bが形成されている。
(Fifth embodiment)
FIG. 16 is a schematic cross-sectional view showing an airtight sealed package according to the fifth embodiment of the present invention. In the present embodiment, the space around the cavity 2 of the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are hermetically sealed with the solder material 5. First metallized layers 6 a and 6 b are formed between the ceramic substrate 3 and the solder material 5 to be connected and between the infrared transmitting window 4 and the solder material 5 to be connected, respectively.

セラミック基板3のキャビティ部2周囲の縁面には、第1のメタライズ層6aよりも内側に第2のメタライズ層7が形成されており、第2のメタライズ層7には、はんだ材料5が形成されている。本実施例では第1のメタライズ層6aの外側4箇所に第2のメタライズ層7が形成されている。第2のメタライズ層7上に形成されたはんだ材料5は第1のメタライズ層6a,6bどうしを接続するはんだ材料5と比べて厚さが同等もしくは薄いことが望ましい。本例では、該第2のメタライズ層7が形成された部材と接続される部材(本例ではセラミック基板3と接続される赤外線透過窓4)の、該該第2のメタライズ層7に対向する部位にはメタライズ層は設けられていない。つまり本発明は、図16に示すように、該第2のメタライズ層7上のはんだ材料5でセラミック基板3と赤外線透過窓4の接合を行なっていない構成であってもよい。このような構成により、気密封止パッケージのサイズアップの抑制とともにコストダウンを図ることが出来る。   A second metallized layer 7 is formed inside the first metallized layer 6 a on the edge surface around the cavity 2 of the ceramic substrate 3, and a solder material 5 is formed on the second metallized layer 7. Has been. In the present embodiment, the second metallized layer 7 is formed at four locations outside the first metallized layer 6a. The solder material 5 formed on the second metallized layer 7 is desirably equal in thickness or thinner than the solder material 5 connecting the first metallized layers 6a and 6b. In this example, a member connected to the member on which the second metallized layer 7 is formed (in this example, the infrared transmitting window 4 connected to the ceramic substrate 3) faces the second metallized layer 7. The metallized layer is not provided at the site. That is, as shown in FIG. 16, the present invention may have a configuration in which the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are not joined by the solder material 5 on the second metallized layer 7. With such a configuration, it is possible to reduce the cost while suppressing the increase in size of the hermetically sealed package.

第2のメタライズ層7は、独立したパッド形状を持ち、本実施の形態では第2のメタライズ層7のサイズは例えば1×3mm角としている。図16には第2のメタライズ層7はセラミック基板3のキャビティ部2周囲の縁面において、第1のメタライズ層6aよりも内側に形成されているが、第2のメタライズ層7を第1のメタライズ層6aよりも外側に設置することも可能である。   The second metallized layer 7 has an independent pad shape. In the present embodiment, the size of the second metallized layer 7 is, for example, 1 × 3 mm square. In FIG. 16, the second metallized layer 7 is formed on the inner surface of the ceramic substrate 3 around the cavity portion 2 around the first metallized layer 6 a. It is also possible to install it outside the metallized layer 6a.

また、図16では第2のメタライズ層7は独立した島状のパッド形状としたが、一続きのリング形状とすることもできる。   In FIG. 16, the second metallized layer 7 has an independent island-like pad shape, but may be a continuous ring shape.

次に、本実施の形態に係る気密封止パッケージの製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the hermetic sealing package according to the present embodiment will be described.

まず、図17(a)に示すように、セラミック基板3のキャビティ部2に赤外線検知素子1を搭載し、ワイヤボンディングにより赤外線検知素子1とセラミック基板3を電気接続する。   First, as shown in FIG. 17A, the infrared detection element 1 is mounted in the cavity portion 2 of the ceramic substrate 3, and the infrared detection element 1 and the ceramic substrate 3 are electrically connected by wire bonding.

続いて、図17(b)に示すように、セラミック基板3の外周縁面に形成された第1のメタライズ層6aと第2のメタライズ層7の上にそれぞれ、はんだ材料5を供給する。第1のメタライズ層6aに供給したはんだ材料5(第1の融着金属)の厚さは、第2のメタライズ層7に供給したはんだ材料5(第2の融着金属)の厚さより薄く形成されている。本例ではセラミック基板3の第1のメタライズ層6aに形成したはんだ材料5の厚さは0.2mm、第2のメタライズ層7aに形成したはんだ材料5の厚さは0.5mmとした。   Subsequently, as shown in FIG. 17B, the solder material 5 is supplied onto the first metallized layer 6 a and the second metallized layer 7 formed on the outer peripheral surface of the ceramic substrate 3, respectively. The thickness of the solder material 5 (first fused metal) supplied to the first metallized layer 6a is formed to be thinner than the thickness of the solder material 5 (second fused metal) supplied to the second metallized layer 7. Has been. In this example, the thickness of the solder material 5 formed on the first metallized layer 6a of the ceramic substrate 3 is 0.2 mm, and the thickness of the solder material 5 formed on the second metallized layer 7a is 0.5 mm.

また、セラミック基板3の第1のメタライズ層6a上へのはんだ材料5の供給(第1の溶着金属形成工程)は、板状のはんだを第1のメタライズ層6aの上に設置し、溶融させることで行われることが望ましい。第2のメタライズ層7上へのはんだ材料5の供給(第2の溶着金属形成工程)は、板状(直方体形状)のはんだを第2のメタライズ層7の上に設置するだけでよい。このとき、板状(直方体形状)のはんだサイズは第2のメタライズ層7のサイズより小さいことが望ましく、本実施例では第2のメタライズ層7のサイズが1×3mm角に対して、板状のはんだサイズは0.5×1mm角としている。尚、第2のメタライズ層7のサイズとこの上のはんだ材料5のサイズの大小関係は、それらが形成される面を平面視した際のそれらの占有面積での大小を意図する。   In addition, in supplying the solder material 5 onto the first metallized layer 6a of the ceramic substrate 3 (first weld metal forming step), a plate-like solder is placed on the first metallized layer 6a and melted. It is desirable that this is done. The supply of the solder material 5 onto the second metallized layer 7 (second weld metal forming step) may be performed simply by placing a plate-like (cuboid shape) solder on the second metallized layer 7. At this time, the solder size of the plate shape (cuboid shape) is preferably smaller than the size of the second metallized layer 7. In this embodiment, the size of the second metallized layer 7 is 1 × 3 mm square with respect to the plate shape. The solder size is 0.5 × 1 mm square. The size relationship between the size of the second metallized layer 7 and the size of the solder material 5 on the second metallized layer 7 is intended to be the size of the occupied area when the surface on which they are formed is viewed in plan.

また、本例ではセラミック基板3の第1のメタライズ層6aにはんだ材料を供給しているが、赤外線透過窓4に形成された第1のメタライズ層6bにはんだ材料を供給することが可能である。   In this example, the solder material is supplied to the first metallized layer 6 a of the ceramic substrate 3, but the solder material can be supplied to the first metallized layer 6 b formed in the infrared transmission window 4. .

次に、図17(c)に示すようにセラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態で、不図示の真空チャンバ内に設置する。セラミック基板3と赤外線透過窓4を積層した状態では、第2のメタライズ層7に供給したはんだ材料5により、セラミック基板3と赤外線透過窓4の間には隙間が形成されている。   Next, as shown in FIG. 17C, the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are stacked and installed in a vacuum chamber (not shown). In the state where the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are laminated, a gap is formed between the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 by the solder material 5 supplied to the second metallized layer 7.

続いて、図17(d)に示すように、セラミック基板3と赤外線透過窓4から構成される赤外線検知器の中空部を真空チャンバ内で排気して真空状態にした後、該赤外線検知器をはんだ材料5の融点以上に加熱する。これにより、該はんだ材料5(第1のメタライズ層6b及び第2のメタライズ層7の両方の上のはんだ材料5)を溶融させ、セラミック基板3と赤外線透過窓4を接続する(接続工程)。なお、該赤外線検知器の中空部を真空にするために排気している際に、該赤外線検知器を、はんだ材料5が溶融しない温度であって赤外線検知素子1の耐熱性に問題がない温度まで予備加熱すると良い。これにより、該赤外線検知器の中空部が所定の真空度に達するまでの時間を短縮できるため、上記接続工程の時間を短縮することが可能である。   Subsequently, as shown in FIG. 17 (d), the hollow portion of the infrared detector composed of the ceramic substrate 3 and the infrared transmitting window 4 is evacuated in a vacuum chamber, and then the infrared detector is moved to a vacuum state. Heat above the melting point of the solder material 5. Thereby, the solder material 5 (solder material 5 on both the first metallized layer 6b and the second metallized layer 7) is melted, and the ceramic substrate 3 and the infrared transmission window 4 are connected (connection process). When the hollow portion of the infrared detector is evacuated to make a vacuum, the infrared detector is at a temperature at which the solder material 5 does not melt and the heat resistance of the infrared detector 1 is not a problem. It is good to preheat until. Thereby, since the time until the hollow part of the infrared detector reaches a predetermined degree of vacuum can be shortened, it is possible to shorten the time of the connecting step.

なお、上記接続工程では第2のメタライズ層7上のはんだ材料5が溶融することで該はんだが濡れ広がって該はんだの高さが低くなり、その結果、第1のメタライズ層6a,6b間が接続される。このとき、はんだが供給されるパッド状の第2のメタライズ層7の面積よりも、第2のメタライズ層7上のはんだ材料5のサイズがはるかに小さい。このため、溶融した該はんだは、第2のメタライズ層7上を濡れ広がって、該はんだの高さが目的の高さまで低くなる。   In the above connection step, the solder material 5 on the second metallized layer 7 is melted, so that the solder wets and spreads to lower the height of the solder. As a result, the space between the first metallized layers 6a and 6b is reduced. Connected. At this time, the size of the solder material 5 on the second metallized layer 7 is much smaller than the area of the pad-shaped second metallized layer 7 to which the solder is supplied. For this reason, the melted solder wets and spreads on the second metallized layer 7, and the height of the solder is lowered to a target height.

以上のように本実施例では、第2のメタライズ層7のサイズに対して、はるかに小さいサイズのはんだ材料5を供給しているため、はんだ材料を供給する際の搭載精度は低くても問題がない。このため、はんだ材料5を供給する設備費用を安価にできる。また、セラミック基板3の第2のメタライズ層7上に形成したはんだ材料5は赤外線透過窓4と接続していない。このため、セラミック基板3の4箇所に設置した第2のメタライズ層7上のはんだ材料5が夫々の第2のメタライズ層7上を濡れ広がる際、時間差があったとしても、赤外線透過窓4が傾くことを防止できる。   As described above, in this embodiment, since the solder material 5 having a much smaller size than that of the second metallized layer 7 is supplied, there is a problem even if the mounting accuracy when supplying the solder material is low. There is no. For this reason, the installation expense which supplies the solder material 5 can be made cheap. The solder material 5 formed on the second metallized layer 7 of the ceramic substrate 3 is not connected to the infrared transmission window 4. For this reason, when the solder material 5 on the second metallized layer 7 installed at four locations on the ceramic substrate 3 spreads on the second metallized layer 7 even if there is a time difference, the infrared transmitting window 4 Inclination can be prevented.

以上に例示した本発明に係る気密封止パッケージの製造方法によれば、次のような作用・効果を奏する。   According to the method for manufacturing the hermetic sealing package according to the present invention exemplified above, the following operations and effects are achieved.

基材と蓋材それぞれに、電子デバイスを取り囲むように第1のメタライズ層が形成されており、基材または蓋材の一方には、電子デバイスを取り囲むように孤立した島状の第2のメタライズ層が配置されている。そして、孤立した各第2のメタライズ層に対面する、該基材または蓋材の他方の各部位には、該第2のメタライズ層上の第2の溶着金属が接合する接合部が存在する。第1のメタライズ層は、積層した基材と蓋材の間にできる中空部を気密封止するために該中空部の周りに連続して形成され、第2のメタライズ層は、その中空部の気密封止前に中空部内を排気する排気口を確保するために該中空部の周りに島状に設けられている。その排気後、該第2のメタライズ層上の第2の溶着金属を溶融させて該第2の溶着金属の厚みを小さくすることで、該中空部の周りの該第1のメタライズ層どうしが第1の溶着金属で接続される。   A first metallization layer is formed on each of the base material and the cover material so as to surround the electronic device, and one of the base material and the cover material is an island-like second metalization isolated so as to surround the electronic device. Layers are arranged. And in each other site | part of this base material or cover material which faces each isolated 2nd metallization layer, the junction part which the 2nd welding metal on this 2nd metallization layer joins exists. The first metallized layer is continuously formed around the hollow part in order to hermetically seal the hollow part formed between the laminated base material and the lid member, and the second metallized layer is formed of the hollow part. In order to secure an exhaust port for exhausting the inside of the hollow portion before hermetic sealing, an island shape is provided around the hollow portion. After the evacuation, the second metallization layer on the second metallization layer is melted to reduce the thickness of the second metallization metal, so that the first metallization layers around the hollow portion are separated from each other. 1 are connected by welding metal.

このような接続工程を良好に行うためには、第2の溶着金属が溶融時に濡れ広がれるように、上記各第2のメタライズ層に対面する各接合部の面積を大きくすることが望ましいが、接合部の面積を単独で拡大するとパッケージの大型化を招く虞がある。しかし本発明では、各接合部を、該基材または蓋材の他方に形成されている第1のメタライズ層の一部分からなるものとするか、あるいは、当該第1のメタライズ層とは別に形成された一続きのメタライズ層の一部分であることにした。これにより、接合部とつながったメタライズ層へ第2の溶着金属を濡れ広げることができる。また接合部の面積を単独で拡大しないので、パッケージの大型化を招かない。   In order to perform such a connection step satisfactorily, it is desirable to increase the area of each joint facing each of the second metallized layers so that the second weld metal spreads when wet. If the area of the joint is enlarged alone, there is a risk of increasing the size of the package. However, in the present invention, each joint portion is made of a part of the first metallization layer formed on the other of the base material or the lid member, or is formed separately from the first metallization layer. Decided to be part of a series of metallization layers. Thereby, the 2nd welding metal can be spread on the metallization layer connected with the junction part. In addition, since the area of the joint is not enlarged independently, the package does not increase in size.

また、気密封止パッケージのサイズアップの抑制とともにコストダウンを図るため、孤立した各第2のメタライズ層に対面する該基材または蓋材に、該第2のメタライズ層上の第2の溶着金属が接合する接合部を設けない構成であってもよい。この構成の場合は、該第2の溶着金属を供給する第2のメタライズ層の面積よりも該第2の溶着金属を十分小さくしておくことで、基材と蓋材の接合時に第2の溶着金属を溶融させて第2のメタライズ層上に濡れ広がらせ、該第2の溶着金属の厚みを小さくすることが可能である。つまり、上記排気後の接続工程で該第2の溶着金属の高さを容易に目的の高さまで低くして、該中空部の周りの該第1のメタライズ層どうしを第1の溶着金属で接続させられる。   Further, in order to suppress the increase in the size of the hermetically sealed package and to reduce the cost, the second weld metal on the second metallized layer is attached to the base material or the cover material facing each isolated second metallized layer. The structure which does not provide the junction part which joins may be sufficient. In the case of this configuration, the second weld metal is sufficiently smaller than the area of the second metallized layer that supplies the second weld metal, so that the second weld metal is bonded to the base material and the lid member. The weld metal can be melted and spread on the second metallized layer, and the thickness of the second weld metal can be reduced. That is, in the connection step after exhaust, the height of the second weld metal is easily lowered to the target height, and the first metallized layers around the hollow portion are connected with the first weld metal. Be made.

加えて、本発明に係る気密封止パッケージによれば、次のような効果も得られる。   In addition, according to the hermetic sealing package of the present invention, the following effects can be obtained.

第一に、第1の溶着金属よりも厚さが厚い第2の溶着金属により、基材と蓋材の間に隙間が確保される。このため、基材と蓋材を積層した状態で真空チャンバに設置したとしても、気密封止パッケージの中空部を排気して真空状態にする工程を実施できる。よって、内部を真空状態にした真空チャンバ内で基材と蓋材を積層する方法に比べて、設備投資を安価にできる。   First, a gap is secured between the base material and the cover material by the second weld metal having a thickness larger than that of the first weld metal. For this reason, even if it installs in a vacuum chamber in the state which laminated | stacked the base material and the cover material, the process of exhausting the hollow part of an airtight sealing package and making it a vacuum state can be implemented. Therefore, compared with the method of laminating the base material and the lid material in the vacuum chamber whose inside is in a vacuum state, the capital investment can be made inexpensive.

第二に、気密封止パッケージの中空部を排気して真空状態にする工程を、蓋材に開けた微細な貫通穴を使って排気する方法に比べて、第2の溶着金属の高さにより制御された基材と蓋材の隙間から排気するため、排気するためのエリアを広くでき、中空部を真空状態にするのに要する排気時間を短縮できる。   Secondly, the process of evacuating the hollow portion of the hermetically sealed package to a vacuum state is more dependent on the height of the second weld metal than the method of evacuating using a fine through hole opened in the lid. Since the air is exhausted from the gap between the controlled base material and the lid member, the exhaust area can be widened, and the exhaust time required for making the hollow portion into a vacuum state can be shortened.

第三に、積層した基材と蓋材の間にできた中空部を上記隙間から排気した後、該中空部を気密封止するために、上記第1及び第2の溶着金属を溶融させることで該第2の溶着金属の高さを容易に目的の高さまで低くして、基材と蓋材の第1のメタライズ層どうしを接続することができる。該第2の溶着金属が十分に濡れ広がることができる部位が確保されている為である。   Third, after the hollow portion formed between the laminated base material and the lid member is exhausted from the gap, the first and second weld metals are melted in order to hermetically seal the hollow portion. Thus, the height of the second weld metal can be easily lowered to the target height to connect the base material and the first metallized layers of the lid. This is because a portion where the second weld metal can be sufficiently wet and spread is secured.

なお、本発明の気密封止パッケージ及びその製造方法は、上記実施形態に基づいて説明されているが、上記実施形態に限定されない。つまり、本発明の範囲内において、かつ本発明の基本的技術思想に基づいて、上記実施形態に対し種々の変形、変更及び改良をしたものも本願発明に含まれる。また、本発明の請求の範囲の枠内において、種々の開示要素の多様な組み合わせ・置換ないし選択が可能である。   In addition, although the airtight sealing package and its manufacturing method of this invention were demonstrated based on the said embodiment, it is not limited to the said embodiment. That is, the present invention includes various modifications, changes, and improvements made to the above embodiment within the scope of the present invention and based on the basic technical idea of the present invention. Further, various combinations, substitutions, or selections of various disclosed elements are possible within the scope of the claims of the present invention.

さらに、本願発明は、以下の付記1〜付記16を包含する。
(付記1)
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージを製造する方法であって、
前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に島状に配置された一又は複数の第2のメタライズ層と、を備える前記基材および前記蓋材と、前記電子デバイスとを用意する工程と、
前記基材に前記電子デバイスを搭載する搭載工程と、
前記基材または前記蓋材のいずれか一方の前記第1のメタライズ層上に第1の溶着金属を形成する第1の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材のいずれか一方の各前記第2のメタライズ層上に前記第1の溶着金属よりも厚さが厚い第2の溶着金属を形成する第2の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材を前記第2の溶着金属を介して積層する積層工程と、
前記基材と前記蓋材の積層状態で前記中空部を排気して真空状態にする排気工程と、
前記第1及び第2の溶着金属を溶融させることにより前記基材と前記蓋材を接続する接続工程であって、前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は前記基材の各前記第2のメタライズ層上の該溶融した第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層に対面する前記蓋材に形成された一続きのメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、該溶融した第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続するか、あるいは、前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は前記蓋材の各前記第2のメタライズ層上の該溶融した第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層に対面する前記基材に形成された一続きのメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、該溶融した第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する接続工程と、
を含む、気密封止パッケージの製造方法。
(付記2)
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の各部位に、該各第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該各接合部は前記一続きのメタライズ層を形成するように前記蓋材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっており、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の各部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該各接合部は前記一続きのメタライズ層を形成するように前記基材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっていることを含む、付記1に記載の気密封止パッケージの製造方法。
(付記3)
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の各部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該各接合部は、前記蓋材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された前記一続きのメタライズ層の一部分であり、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の各部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該各接合部は、前記蓋材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された前記一続きのメタライズ層の一部分であることを含む、付記1に記載の気密封止パッケージの製造方法。
(付記4)
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージを製造する方法であって、
前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に形成された島状あるいは一続きの第2のメタライズ層と、を備える前記基材および前記蓋材と、前記電子デバイスとを用意する工程と、
前記基材に前記電子デバイスを搭載する搭載工程と、
前記基材または前記蓋材のいずれか一方の前記第1のメタライズ層上に第1の溶着金属を形成する第1の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材のいずれか一方の各前記第2のメタライズ層上に前記第1の溶着金属よりも厚さが厚く該第2のメタライズ層よりも面積が小さい第2の溶着金属を搭載する第2の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材を前記第2の溶着金属を介して積層する積層工程と、
前記基材と前記蓋材の積層状態で前記中空部を排気して真空状態にする排気工程と、
前記第1及び第2の溶着金属を溶融させ、前記基材と前記蓋材のいずれか一方の各前記第2のメタライズ層上の該溶融した第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、前記第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する接続工程と、
を含む、気密封止パッケージの製造方法。
(付記5)
少なくとも前記第2のメタライズ層に対応する前記基材の内部の位置に抵抗体が設置されており、
前記接続工程において、前記基材の内部の前記抵抗体に通電することにより発熱した熱で前記第1の溶着金属と前記第2の溶着金属を溶融させることを含む、付記1から付記4のいずれかに記載の気密封止パッケージの製造方法。
(付記6)
前記抵抗体は前記第2のメタライズ層に対応する位置にのみ設置されていることを含む、付記5に記載の気密封止パッケージの製造方法。
(付記7)
前記第2の溶着金属形成工程は、
前記第1の溶着金属の溶融温度より高い温度で溶融する前記第2の溶着金属を形成する工程を含む、付記1から付記6のいずれかに記載の気密封止パッケージの製造方法。
(付記8)
前記接続工程は、
前記第1の溶着金属の溶融温度より高く、前記第2の溶着金属の溶融温度より低い温度にて、前記積層工程で積層された前記基材と前記蓋材の周囲全体を加熱する工程と、
前記基材の内部の前記抵抗体に通電することにより該抵抗体を発熱させ、前記第2の溶着金属を溶融させる工程と、
を含む、付記5または付記6に記載の気密封止パッケージの製造方法。
(付記9)
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージにおいて、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、
前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する第1の溶着金属と、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に島状に配置された一又は複数の第2のメタライズ層と、
各前記第2のメタライズ層と該各第2のメタライズ層に対面する前記基材もしくは前記蓋材の各部位とを接続する第2の溶着金属と、
をさらに備え、
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の各部位に、該各第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該各接合部は前記蓋材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっており、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の各部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該各接合部は前記基材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっていることを含む、気密封止パッケージ。
(付記10)
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージにおいて、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、
前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する第1の溶着金属と、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に島状に配置された一又は複数の第2のメタライズ層と、
各前記第2のメタライズ層と該各第2のメタライズ層に対面する前記基材もしくは前記蓋材の各部位とを接続する第2の溶着金属と、
をさらに備え、
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の各部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該各接合部は、前記蓋材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された一続きのメタライズ層の一部分であり、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の各前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の各部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該各接合部は、前記基材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された一続きのメタライズ層の一部分であることを含む、気密封止パッケージ。
(付記11)
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージにおいて、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、
前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する第1の溶着金属と、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に前記第1のメタライズ層とは別に形成された島状あるいは一続きのメタライズ層を備え、
前記第1のメタライズ層とは別に形成された島状あるいは一続きのメタライズ層には第2の溶着金属が形成されており、該第2の溶着金属は前記第1の溶着金属と比べて厚さが同等もしくは薄いことを含む、気密封止パッケージ。
(付記12)
前記第1のメタライズ層及び前記一続きのメタライズ層は円環形状を有することを含む、付記9から付記11のいずれかに記載の気密封止パッケージ。
(付記13)
少なくとも前記第2のメタライズ層に対応する前記基材の内部の位置に設置された抵抗体をさらに備えたことを含む、付記9から付記12のいずれかに記載の気密封止パッケージ。
(付記14)
前記抵抗体は前記第2のメタライズ層に対応する位置にのみ設置されていることを含む、付記13に記載の気密封止パッケージ。
(付記15)
前記第1の溶着金属の溶融温度は前記第2の溶着金属の溶融温度より低いことを含む、付記9から付記12のいずれかに記載の気密封止パッケージ。
(付記16)
前記蓋材は赤外線透過性を有することを含む、付記9から付記15のいずれかに記載の気密封止パッケージ。
Furthermore, this invention includes the following supplementary notes 1 to 16.
(Appendix 1)
An airtight sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material. A method,
A first metallized layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two surfaces of the base material and the lid material facing each other, and two surfaces of the base material and the lid material opposed to each other A step of preparing one or a plurality of second metallized layers arranged in an island shape around the hollow portion in any one of the base material, the lid member, and the electronic device;
A mounting step of mounting the electronic device on the substrate;
A first weld metal forming step of forming a first weld metal on the first metallized layer of either the base material or the lid;
A second weld metal forming step of forming a second weld metal having a thickness greater than that of the first weld metal on each of the second metallized layers of either the base material or the lid;
A laminating step of laminating the base material and the lid material via the second weld metal;
An evacuation step of evacuating the hollow portion in a laminated state of the base material and the lid material to make a vacuum state;
In the connecting step of connecting the base material and the lid material by melting the first and second weld metals, the base is formed when the second metallized layer is formed on the base material side. Spreading the molten second deposited metal on each second metallization layer of material onto a series of metallization layers formed on the lid material facing the second metallization layer; The molten first weld metal connects the base material and the first metallized layers of the lid material, or the lid when the second metallized layer is formed on the lid material side. Wetting and spreading the molten second deposited metal on each second metallization layer of material onto a series of metallization layers formed on the substrate facing the second metallization layer; The molten first deposited metal A connecting step of connecting the timber to the first metallization layer to each other of said cap member,
A method for manufacturing a hermetically sealed package.
(Appendix 2)
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, on each second metallized layer on each part of the lid material facing each second metallized layer of the base material There are joints to which the second weld metal is joined, each joint comprising a portion of the first metallization layer of the lid so as to form the continuous metallization layer;
When the second metallized layer is formed on the lid material side, the portions of the base material facing the second metallized layer of the lid material are arranged on the second metallized layer. Additional notes, wherein there are joints to which the second weld metal joins, each joint comprising a portion of the first metallization layer of the substrate so as to form the continuous metallization layer. 2. A method for producing a hermetic sealing package according to 1.
(Appendix 3)
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, the portions on the second metallized layer on each part of the lid material facing each second metallized layer of the base material There are joints to which the second weld metal is joined, and each joint is a part of the continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer on the lid;
When the second metallized layer is formed on the lid material side, the portions of the base material facing the second metallized layer of the lid material are arranged on the second metallized layer. Note that there are joint portions to which the second weld metal is joined, and each joint portion is a part of the continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer on the lid member. 2. A method for producing a hermetic sealing package according to 1.
(Appendix 4)
An airtight sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material. A method,
A first metallized layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two surfaces of the base material and the lid material facing each other, and two surfaces of the base material and the lid material opposed to each other A step of preparing the base material, the lid member, and the electronic device, each having an island shape or a continuous second metallization layer formed around the hollow portion in any one of
A mounting step of mounting the electronic device on the substrate;
A first weld metal forming step of forming a first weld metal on the first metallized layer of either the base material or the lid;
A second weld metal that is thicker than the first weld metal and has a smaller area than the second metallization layer on each of the second metallization layers of either the base material or the lid. A second weld metal forming step to be mounted;
A laminating step of laminating the base material and the lid material via the second weld metal;
An evacuation step of evacuating the hollow portion in a laminated state of the base material and the lid material to make a vacuum state;
The first and second weld metals are melted, and the melted second weld metal on each of the second metallized layers of either the base material or the lid is placed on the second metallized layer. Connecting the base metal and the first metallized layers of the lid material with the first deposited metal by wetting and spreading,
A method for manufacturing a hermetically sealed package.
(Appendix 5)
A resistor is installed at a position inside the base material corresponding to at least the second metallization layer,
Any one of appendix 1 to appendix 4, wherein in the connecting step, the first weld metal and the second weld metal are melted by heat generated by energizing the resistor inside the base material. A manufacturing method of the hermetic sealing package according to claim 1.
(Appendix 6)
6. The method for manufacturing an airtight sealed package according to appendix 5, wherein the resistor is disposed only at a position corresponding to the second metallized layer.
(Appendix 7)
The second weld metal forming step includes
The manufacturing method of the hermetic sealing package in any one of appendix 1 to appendix 6 including the process of forming the said 2nd weld metal fuse | melted at the temperature higher than the melting temperature of a said 1st weld metal.
(Appendix 8)
The connecting step includes
Heating the entire periphery of the base material and the lid member laminated in the lamination step at a temperature higher than the melting temperature of the first weld metal and lower than the melting temperature of the second weld metal;
Causing the resistor to generate heat by energizing the resistor inside the substrate, and melting the second deposited metal;
The manufacturing method of the hermetic sealing package of appendix 5 or appendix 6.
(Appendix 9)
In a hermetically sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material.
A first metallization layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two opposing surfaces of the base material and the lid material;
A first weld metal that connects the base and the first metallized layer of the lid;
One or a plurality of second metallization layers disposed in an island shape around the hollow portion on either one of the two surfaces of the base material and the cover material facing each other;
A second weld metal that connects each second metallized layer and each part of the base material or the lid facing the second metallized layer;
Further comprising
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, on each second metallized layer on each part of the lid material facing each second metallized layer of the base material There are joints to which the second weld metal is joined, and each joint comprises a portion of the first metallized layer of the lid;
When the second metallized layer is formed on the lid material side, the portions of the base material facing the second metallized layer of the lid material are arranged on the second metallized layer. A hermetic sealing package, comprising: a joining portion to which a second weld metal is joined, and each joining portion including a part of the first metallized layer of the substrate.
(Appendix 10)
In a hermetically sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material.
A first metallization layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two opposing surfaces of the base material and the lid material;
A first weld metal that connects the base and the first metallized layer of the lid;
One or a plurality of second metallization layers disposed in an island shape around the hollow portion on either one of the two surfaces of the base material and the cover material facing each other;
A second weld metal that connects each second metallized layer and each part of the base material or the lid facing the second metallized layer;
Further comprising
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, the portions on the second metallized layer on each part of the lid material facing each second metallized layer of the base material There are joints to which the second weld metal is joined, and each joint is a part of a continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer on the lid;
When the second metallized layer is formed on the lid material side, the portions of the base material facing the second metallized layer of the lid material are arranged on the second metallized layer. There are joints to which the second weld metal is joined, and each joint includes a part of a series of metallization layers formed separately from the first metallization layer on the base material. Airtight sealed package.
(Appendix 11)
In a hermetically sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material.
A first metallization layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two opposing surfaces of the base material and the lid material;
A first weld metal that connects the base and the first metallized layer of the lid;
In either one of the two surfaces of the base material and the cover material facing each other, an island shape or a continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer around the hollow portion,
A second weld metal is formed on the island-shaped or continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer, and the second weld metal is thicker than the first weld metal. Hermetically sealed package, including the same or thin.
(Appendix 12)
12. The hermetic sealed package according to any one of appendix 9 to appendix 11, wherein the first metallization layer and the continuous metallization layer include an annular shape.
(Appendix 13)
13. The hermetically sealed package according to any one of appendix 9 to appendix 12, further comprising a resistor disposed at a position inside the base material corresponding to at least the second metallized layer.
(Appendix 14)
14. The hermetic sealing package according to appendix 13, wherein the resistor is disposed only at a position corresponding to the second metallized layer.
(Appendix 15)
The hermetic sealing package according to any one of appendix 9 to appendix 12, wherein the melting temperature of the first weld metal is lower than the melt temperature of the second weld metal.
(Appendix 16)
The hermetic sealing package according to any one of appendix 9 to appendix 15, wherein the lid member includes infrared transparency.

1 赤外線検知素子
2 キャビティ部
3 セラミック基板
4 赤外線透過窓
5、5a、5b はんだ材料
6a、6b 第1のメタライズ層
7、7a、7b 第2のメタライズ層
8 抵抗体
9 スペーサ部材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Infrared sensing element 2 Cavity part 3 Ceramic substrate 4 Infrared transmission window 5, 5a, 5b Solder material 6a, 6b 1st metallized layer 7, 7a, 7b 2nd metallized layer 8 Resistor 9 Spacer member

Claims (10)

電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージを製造する方法であって、
前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に島状に配置された第2のメタライズ層と、を備える前記基材および前記蓋材と、前記電子デバイスとを用意する工程と、
前記基材に前記電子デバイスを搭載する搭載工程と、
前記基材または前記蓋材のいずれか一方の前記第1のメタライズ層上に第1の溶着金属を形成する第1の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材のいずれか一方の前記第2のメタライズ層上に前記第1の溶着金属よりも厚さが厚い第2の溶着金属を形成する第2の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材を前記第2の溶着金属を介して積層する積層工程と、
前記基材と前記蓋材の積層状態で前記中空部を排気して真空状態にする排気工程と、
前記第1及び第2の溶着金属を溶融させることにより前記基材と前記蓋材を接続する接続工程であって、前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は前記基材の前記第2のメタライズ層上の該溶融した第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層に対面する前記蓋材に形成された一続きのメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、該溶融した第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続するか、あるいは、前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は前記蓋材の前記第2のメタライズ層上の該溶融した第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層に対面する前記基材に形成された一続きのメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、該溶融した第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する接続工程と、
を含むことを特徴とする気密封止パッケージの製造方法。
An airtight sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material. A method,
A first metallized layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two surfaces of the base material and the lid material facing each other, and two surfaces of the base material and the lid material opposed to each other A step of preparing the base material, the lid member, and the electronic device comprising a second metallization layer disposed in an island shape around the hollow portion in any one of
A mounting step of mounting the electronic device on the substrate;
A first weld metal forming step of forming a first weld metal on the first metallized layer of either the base material or the lid;
A second weld metal forming step of forming a second weld metal having a thickness greater than that of the first weld metal on the second metallized layer of either the base material or the lid;
A laminating step of laminating the base material and the lid material via the second weld metal;
An evacuation step of evacuating the hollow portion in a laminated state of the base material and the lid material to make a vacuum state;
In the connecting step of connecting the base material and the lid material by melting the first and second weld metals, the base is formed when the second metallized layer is formed on the base material side. The molten second deposited metal on the second metallized layer of material by wetting and spreading on the continuous metallized layer formed on the lid material facing the second metallized layer The base metal and the first metallized layer of the lid material are connected to each other by the first weld metal, or the lid material when the second metallized layer is formed on the lid material side. The molten second deposited metal on the second metallized layer is wetted and spread on a series of metallized layers formed on the substrate facing the second metallized layer. The base material with the first weld metal A connecting step of connecting said first metallization layer to each other of said cap member,
The manufacturing method of the airtight sealing package characterized by including.
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該接合部は前記一続きのメタライズ層を形成するように前記蓋材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっており、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該接合部は前記一続きのメタライズ層を形成するように前記基材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっていることを特徴とする請求項1に記載の気密封止パッケージの製造方法。
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the lid material facing the second metallized layer of the base material. There is a joint portion to which the weld metal is joined, and the joint portion includes a part of the first metallized layer of the lid member so as to form the continuous metallized layer,
In the case where the second metallized layer is formed on the lid material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the base material facing the second metallized layer of the lid material. 2. A bonding portion to which the weld metal is bonded, and the bonding portion is formed of a part of the first metallized layer of the substrate so as to form the continuous metallized layer. The manufacturing method of the airtight sealing package as described in 2.
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該接合部は、前記蓋材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された前記一続きのメタライズ層の一部分であり、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、該接合部は、前記蓋材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された前記一続きのメタライズ層の一部分であることを特徴とする請求項1に記載の気密封止パッケージの製造方法。
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the lid material facing the second metallized layer of the base material. The weld metal is joined, the joint is a part of the continuous metallized layer formed separately from the first metallized layer on the lid,
In the case where the second metallized layer is formed on the lid material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the base material facing the second metallized layer of the lid material. 2. A bonding portion to which the weld metal is bonded, and the bonding portion is a part of the continuous metallized layer formed separately from the first metallized layer on the lid member. The manufacturing method of the airtight sealing package as described in 2.
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージを製造する方法であって、
前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、前記基材と前記蓋材の互いに対向させる2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に形成された島状あるいは一続きの第2のメタライズ層と、を備える前記基材および前記蓋材と、前記電子デバイスとを用意する工程と、
前記基材に前記電子デバイスを搭載する搭載工程と、
前記基材または前記蓋材のいずれか一方の前記第1のメタライズ層上に第1の溶着金属を形成する第1の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材のいずれか一方の前記第2のメタライズ層上に前記第1の溶着金属よりも厚さが厚く該第2のメタライズ層よりも面積が小さい第2の溶着金属を搭載する第2の溶着金属形成工程と、
前記基材と前記蓋材を前記第2の溶着金属を介して積層する積層工程と、
前記基材と前記蓋材の積層状態で前記中空部を排気して真空状態にする排気工程と、
前記第1及び第2の溶着金属を溶融させ、前記基材と前記蓋材のいずれか一方の前記第2のメタライズ層上の該溶融した第2の溶着金属を当該第2のメタライズ層上に濡れ広がらせることにより、前記第1の溶着金属で前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する接続工程と、
を含むことを特徴とする気密封止パッケージの製造方法。
An airtight sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material. A method,
A first metallized layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two surfaces of the base material and the lid material facing each other, and two surfaces of the base material and the lid material opposed to each other A step of preparing the base material, the lid member, and the electronic device, each having an island shape or a continuous second metallization layer formed around the hollow portion in any one of
A mounting step of mounting the electronic device on the substrate;
A first weld metal forming step of forming a first weld metal on the first metallized layer of either the base material or the lid;
Mounted on the second metallized layer of either the base material or the lid is a second welded metal that is thicker than the first welded metal and smaller in area than the second metallized layer. A second weld metal forming step,
A laminating step of laminating the base material and the lid material via the second weld metal;
An evacuation step of evacuating the hollow portion in a laminated state of the base material and the lid material to make a vacuum state;
The first and second weld metals are melted, and the melted second weld metal on the second metallized layer of either the base material or the lid is placed on the second metallized layer. Connecting the base metal and the first metallized layers of the lid member with the first deposited metal by wetting and spreading; and
The manufacturing method of the airtight sealing package characterized by including.
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージにおいて、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、
前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する第1の溶着金属と、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に島状に配置された第2のメタライズ層と、
前記第2のメタライズ層と該第2のメタライズ層に対面する前記基材もしくは前記蓋材の部位とを接続する第2の溶着金属と、
をさらに備え、
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該接合部は前記蓋材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっており、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該接合部は前記基材の前記第1のメタライズ層の一部分からなっていることを特徴とする気密封止パッケージ。
In a hermetically sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material.
A first metallization layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two opposing surfaces of the base material and the lid material;
A first weld metal that connects the base and the first metallized layer of the lid;
A second metallization layer disposed in an island shape around the hollow portion on either one of the two surfaces of the base material and the cover material facing each other;
A second weld metal that connects the second metallized layer and the portion of the base material or the cover material facing the second metallized layer;
Further comprising
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the lid material facing the second metallized layer of the base material. There is a joint to which the weld metal is joined, and the joint consists of a part of the first metallized layer of the lid,
In the case where the second metallized layer is formed on the lid material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the base material facing the second metallized layer of the lid material. A hermetic sealing package comprising: a joining portion to which the weld metal is joined; and the joining portion is formed of a part of the first metallized layer of the base material.
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージにおいて、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、
前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する第1の溶着金属と、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に島状に配置された第2のメタライズ層と、
前記第2のメタライズ層と該第2のメタライズ層に対面する前記基材もしくは前記蓋材の部位とを接続する第2の溶着金属と、
をさらに備え、
前記基材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記基材の前記第2のメタライズ層に対面する前記蓋材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該接合部は、前記蓋材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された一続きのメタライズ層の一部分であり、
前記蓋材側に前記第2のメタライズ層が形成されている場合は、前記蓋材の前記第2のメタライズ層に対面する前記基材の部位に、該第2のメタライズ層上の前記第2の溶着金属が接合する接合部があり、かつ、該接合部は、前記基材に前記第1のメタライズ層とは別に形成された一続きのメタライズ層の一部分であることを特徴とする気密封止パッケージ。
In a hermetically sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material.
A first metallization layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two opposing surfaces of the base material and the lid material;
A first weld metal that connects the base and the first metallized layer of the lid;
A second metallization layer disposed in an island shape around the hollow portion on either one of the two surfaces of the base material and the cover material facing each other;
A second weld metal that connects the second metallized layer and the portion of the base material or the cover material facing the second metallized layer;
Further comprising
In the case where the second metallized layer is formed on the base material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the lid material facing the second metallized layer of the base material. The weld metal is joined, and the joint is a part of a continuous metallized layer formed separately from the first metallized layer on the lid,
In the case where the second metallized layer is formed on the lid material side, the second metallized layer on the second metallized layer is formed on the portion of the base material facing the second metallized layer of the lid material. There is a joint part to which the weld metal is joined, and the joint part is a part of a continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer on the base material. Stop package.
電子デバイスが搭載された基材と、該基材に接続され、該基材とで少なくとも該電子デバイスを包含する中空部を形成している蓋材と、を備えた気密封止パッケージにおいて、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面それぞれに前記中空部の全周にわたり連続して形成された第1のメタライズ層と、
前記基材と前記蓋材の前記第1のメタライズ層どうしを接続する第1の溶着金属と、
前記基材と前記蓋材の互いに対向している2つの面のいずれか一方において前記中空部の周囲に前記第1のメタライズ層とは別に形成された島状あるいは一続きのメタライズ層を備え、
前記第1のメタライズ層とは別に形成された島状あるいは一続きのメタライズ層には第2の溶着金属が形成されており、該第2の溶着金属は前記第1の溶着金属と比べて厚さが同等もしくは薄いことを特徴とする気密封止パッケージ。
In a hermetically sealed package comprising: a base material on which an electronic device is mounted; and a lid member connected to the base material and forming a hollow portion including at least the electronic device with the base material.
A first metallization layer formed continuously over the entire circumference of the hollow portion on each of two opposing surfaces of the base material and the lid material;
A first weld metal that connects the base and the first metallized layer of the lid;
In either one of the two surfaces of the base material and the cover material facing each other, an island shape or a continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer around the hollow portion,
A second weld metal is formed on the island-shaped or continuous metallization layer formed separately from the first metallization layer, and the second weld metal is thicker than the first weld metal. Hermetically sealed package characterized by being equal or thin.
少なくとも前記第2のメタライズ層に対応する前記基材の内部の位置に設置された抵抗体をさらに備えたこと特徴とする請求項5から7のいずれか1項に記載の気密封止パッケージ。   The hermetic sealing package according to any one of claims 5 to 7, further comprising a resistor disposed at a position inside the base material corresponding to at least the second metallized layer. 前記抵抗体は前記第2のメタライズ層に対応する位置にのみ設置されていることを特徴とする請求項8に記載の気密封止パッケージ。   The hermetic package according to claim 8, wherein the resistor is installed only at a position corresponding to the second metallized layer. 前記第1の溶着金属の溶融温度は前記第2の溶着金属の溶融温度より低いことを特徴とする請求項5から9のいずれか1項に記載の気密封止パッケージ。   The hermetic sealing package according to any one of claims 5 to 9, wherein a melting temperature of the first welding metal is lower than a melting temperature of the second welding metal.
JP2013137800A 2012-09-26 2013-07-01 Hermetic sealing package and manufacturing method thereof Active JP6236929B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013137800A JP6236929B2 (en) 2012-09-26 2013-07-01 Hermetic sealing package and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012212622 2012-09-26
JP2012212622 2012-09-26
JP2013137800A JP6236929B2 (en) 2012-09-26 2013-07-01 Hermetic sealing package and manufacturing method thereof

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014082452A true JP2014082452A (en) 2014-05-08
JP6236929B2 JP6236929B2 (en) 2017-11-29

Family

ID=50786342

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013137800A Active JP6236929B2 (en) 2012-09-26 2013-07-01 Hermetic sealing package and manufacturing method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6236929B2 (en)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016191644A (en) * 2015-03-31 2016-11-10 Necトーキン株式会社 Pyroelectric infrared sensor
KR20180015742A (en) * 2015-06-24 2018-02-13 레이던 컴퍼니 Wafer-level MEMS package with dual seal rings
WO2018159227A1 (en) * 2017-03-01 2018-09-07 浜松ホトニクス株式会社 Light detector
WO2018225841A1 (en) * 2017-06-08 2018-12-13 北陸電気工業株式会社 Sensor device and production method therefor
CN114628532A (en) * 2022-04-06 2022-06-14 江苏鼎茂半导体有限公司 A Novel Package Structure of Infrared Image Sensor
US11394170B2 (en) 2018-12-14 2022-07-19 Nichia Corporation Light emitting device and method for manufacturing light emitting device
US20220399697A1 (en) * 2021-06-15 2022-12-15 Nichia Corporation Light-emitting device and method of manufacturing light-emitting device
JP2023088082A (en) * 2021-12-14 2023-06-26 日亜化学工業株式会社 Method for manufacturing light-emitting device, light-emitting device
WO2023149250A1 (en) * 2022-02-03 2023-08-10 日本電気硝子株式会社 Composite body and airtight package comprising composite body
WO2023199799A1 (en) * 2022-04-12 2023-10-19 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Semiconductor device and electronic equipment
US12527130B2 (en) 2021-09-22 2026-01-13 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing light emitting device

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3065477B2 (en) 1994-04-18 2000-07-17 靜甲株式会社 Article processing method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0982825A (en) * 1995-09-13 1997-03-28 Kyocera Corp Package for storing semiconductor devices
US6566170B1 (en) * 1998-06-22 2003-05-20 Commissariat A L'energie Atomique Method for forming a device having a cavity with controlled atmosphere
JP2006278809A (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Kyocera Corp Electronic component storage package
JP2008298708A (en) * 2007-06-04 2008-12-11 Showa Optronics Co Ltd Infrared detector and manufacturing method thereof

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0982825A (en) * 1995-09-13 1997-03-28 Kyocera Corp Package for storing semiconductor devices
US6566170B1 (en) * 1998-06-22 2003-05-20 Commissariat A L'energie Atomique Method for forming a device having a cavity with controlled atmosphere
JP2006278809A (en) * 2005-03-30 2006-10-12 Kyocera Corp Electronic component storage package
JP2008298708A (en) * 2007-06-04 2008-12-11 Showa Optronics Co Ltd Infrared detector and manufacturing method thereof

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016191644A (en) * 2015-03-31 2016-11-10 Necトーキン株式会社 Pyroelectric infrared sensor
KR20180015742A (en) * 2015-06-24 2018-02-13 레이던 컴퍼니 Wafer-level MEMS package with dual seal rings
JP2018519173A (en) * 2015-06-24 2018-07-19 レイセオン カンパニー Wafer level MEMS package including double seal ring
KR102137331B1 (en) * 2015-06-24 2020-07-23 레이던 컴퍼니 Wafer-level MEMS package with double sealing rings
WO2018159227A1 (en) * 2017-03-01 2018-09-07 浜松ホトニクス株式会社 Light detector
JP2018146263A (en) * 2017-03-01 2018-09-20 浜松ホトニクス株式会社 Photodetector
WO2018225841A1 (en) * 2017-06-08 2018-12-13 北陸電気工業株式会社 Sensor device and production method therefor
JP6469327B1 (en) * 2017-06-08 2019-02-13 北陸電気工業株式会社 Sensor device and manufacturing method thereof
US11855409B2 (en) 2018-12-14 2023-12-26 Nichia Corporation Light emitting device
US11394170B2 (en) 2018-12-14 2022-07-19 Nichia Corporation Light emitting device and method for manufacturing light emitting device
US20220399697A1 (en) * 2021-06-15 2022-12-15 Nichia Corporation Light-emitting device and method of manufacturing light-emitting device
US12527130B2 (en) 2021-09-22 2026-01-13 Nichia Corporation Light emitting device and method of manufacturing light emitting device
JP2023088082A (en) * 2021-12-14 2023-06-26 日亜化学工業株式会社 Method for manufacturing light-emitting device, light-emitting device
JP7791418B2 (en) 2021-12-14 2025-12-24 日亜化学工業株式会社 Light emitting device manufacturing method, light emitting device
WO2023149250A1 (en) * 2022-02-03 2023-08-10 日本電気硝子株式会社 Composite body and airtight package comprising composite body
JP2023113388A (en) * 2022-02-03 2023-08-16 日本電気硝子株式会社 Composite and hermetic package with this composite
JP7792064B2 (en) 2022-02-03 2025-12-25 日本電気硝子株式会社 Composite and airtight package including the composite
CN114628532A (en) * 2022-04-06 2022-06-14 江苏鼎茂半导体有限公司 A Novel Package Structure of Infrared Image Sensor
CN114628532B (en) * 2022-04-06 2024-05-14 江苏鼎茂半导体有限公司 Novel packaging structure of infrared image sensor
WO2023199799A1 (en) * 2022-04-12 2023-10-19 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 Semiconductor device and electronic equipment

Also Published As

Publication number Publication date
JP6236929B2 (en) 2017-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6236929B2 (en) Hermetic sealing package and manufacturing method thereof
JP4665959B2 (en) Vacuum package
WO2010095367A1 (en) Vacuum sealed package, printed circuit board having vacuum sealed package, electronic device, and method for manufacturing vacuum sealed package
JP6044227B2 (en) Hermetic sealing package and manufacturing method thereof
JP4475976B2 (en) Airtight sealed package
CN103224218A (en) Encapsulation method of MEMS device
JP5900006B2 (en) Electronic device sealing method
TWI543305B (en) Component packaging method and structure thereof
JP3913037B2 (en) Infrared detector
JP5078933B2 (en) Package and package manufacturing method
JP5500056B2 (en) Infrared sensor package and electronic device equipped with the infrared sensor package
CN109292727A (en) A Two-Chip MEMS Gyroscope with Temperature Compensation
JP7476708B2 (en) Hermetically sealed package, infrared detector, and method for manufacturing hermetically sealed package
CN101421178A (en) A method for manufacturing an electronic assembly, electronic assembly, covering piece and substrate
CN107727246A (en) High-vacuum infrared sensor and packaging method thereof
JP6384081B2 (en) Method for manufacturing hermetically sealed package and method for manufacturing infrared detector
JP2008311429A (en) Package and manufacturing method thereof
JP2008216174A (en) Infrared detector and method of manufacturing the same
JP2011035436A (en) Method of manufacturing vacuum package
JPH09229765A (en) Infrared detector
JP2010038549A (en) Infrared detector
JPH01225140A (en) Manufacture of semiconductor device
TWI791590B (en) Method for joining quartz pieces and quartz electrodes and other devices of joined quartz
JP3422193B2 (en) Infrared detector
JPH09126882A (en) Infrared image detector, manufacturing method thereof, and die bonding jig

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20140509

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160610

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170425

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170623

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171003

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171016

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6236929

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150