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JP2014067791A - Method for manufacturing printed wiring board - Google Patents

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JP2014067791A
JP2014067791A JP2012210699A JP2012210699A JP2014067791A JP 2014067791 A JP2014067791 A JP 2014067791A JP 2012210699 A JP2012210699 A JP 2012210699A JP 2012210699 A JP2012210699 A JP 2012210699A JP 2014067791 A JP2014067791 A JP 2014067791A
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JP
Japan
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hole
plating layer
metal plating
printed wiring
resist film
Prior art date
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Application number
JP2012210699A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichiro Katakura
功一朗 片倉
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Kyocera Circuit Solutions Inc
Original Assignee
Kyocera Circuit Solutions Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Kyocera Circuit Solutions Inc filed Critical Kyocera Circuit Solutions Inc
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

【課題】スルーホールの信頼性が高い印刷配線板を得る。
【解決手段】絶縁樹脂で構成する積層基板に貫通孔を形成する工程と、次に、前記積層基板の表面と前記貫通孔の内壁面に金属めっき層を設ける工程と、前記金属めっき層上に電着処理により電着レジスト膜を形成する工程と、前記積層基板の表面の前記電着レジスト膜を表面研磨処理によって除去して前記金属めっき層を露出させる工程と、前記金属めっき層をソフトエッチングにより薄化する工程と、前記貫通孔の内壁面の金属めっき層上の前記電着レジスト膜を除去する工程と、薄化した前記金属めっき層をエッチングして表層配線パターンを形成する工程とで印刷配線板を製造する。
【選択図】図2
A printed wiring board having high through-hole reliability is obtained.
A step of forming a through hole in a laminated substrate made of insulating resin, a step of providing a metal plating layer on the surface of the laminated substrate and an inner wall surface of the through hole, and a step of forming a metal plating layer on the metal plating layer Forming an electrodeposition resist film by an electrodeposition process; removing the electrodeposition resist film on the surface of the multilayer substrate by a surface polishing process to expose the metal plating layer; and soft etching the metal plating layer The step of thinning, the step of removing the electrodeposition resist film on the metal plating layer on the inner wall surface of the through hole, and the step of etching the thinned metal plating layer to form a surface wiring pattern. Manufactures printed wiring boards.
[Selection] Figure 2

Description

本発明は、印刷配線板に精密な微細回路の配線パターンと一緒にスルーホールを形成した印刷配線板の製造方法に関し、特に、そのスルーホールめっきの電気接続の信頼性が高い印刷配線板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board in which a through hole is formed together with a wiring pattern of a precise fine circuit on the printed wiring board, and in particular, manufacturing a printed wiring board with high reliability of electrical connection of the through hole plating. It is about the method.

従来の印刷配線板の製造方法では、精密な微細回路の配線パターンとスルーホールとを一緒に存在させた印刷配線板を製造する場合、絶縁基板の表面からドリルで穴あけ加工を実施しスルーホール穴を形成する。その後、スルーホール壁及び基板表面上に銅めっき処理を施し絶縁基板の表裏並びに内層とをスルーホール壁の銅めっき膜で導通をとるめっきスルーホールの構造を形成する。次に、回路形成工程へと進み、銅めっき膜の表面に感光性ドライフィルムレジストをラミネートし、パターンの絵柄を露光する。次に、現像にて銅をエッチングする部分のレジストを溶解し取り除く。次に、銅が露出した部分をエッチングし、回路の配線パターンを形成する。   In the conventional printed wiring board manufacturing method, when manufacturing a printed wiring board in which a precise fine circuit wiring pattern and a through hole exist together, drilling is performed from the surface of the insulating substrate with a through hole. Form. Thereafter, a copper plating process is performed on the through hole wall and the substrate surface to form a plated through hole structure in which the front and back surfaces of the insulating substrate and the inner layer are electrically connected by the copper plating film on the through hole wall. Next, it progresses to a circuit formation process, the photosensitive dry film resist is laminated on the surface of a copper plating film, and the pattern picture is exposed. Next, the resist for etching the copper is dissolved and removed by development. Next, the exposed copper portion is etched to form a circuit wiring pattern.

ここで、サブトラクティブ工法を用いて印刷配線板に微細回路の配線パターンを形成する場合、印刷配線板における微細回路の配線パターンの形成面の金属めっき層の厚さを薄く形成する必要がある。その理由は、回路の配線パターンを形成するためのエッチングファクターを確保するためであり、金属めっき層が厚い状態でサブトラクティブ工法を用いて回路を形成した場合は、エッチングファクターが悪化し回路の形状を確保することができなくなるのみならず、回路間のショートに至る可能性があるからである。   Here, when forming the wiring pattern of the fine circuit on the printed wiring board using the subtractive method, it is necessary to reduce the thickness of the metal plating layer on the formation surface of the wiring pattern of the fine circuit on the printed wiring board. The reason is to secure an etching factor for forming the circuit wiring pattern. When a circuit is formed using a subtractive method with a thick metal plating layer, the etching factor deteriorates and the circuit shape is reduced. This is because not only cannot be ensured, but also a short circuit may occur.

従来は、金属めっき層を薄く形成する手法としては、
(1)化学的に金属めっき層を溶解し薄く形成する手法と、
(2)物理的に金属めっき層を機械研磨により切削し金属めっき層を薄く形成する手法があり、
両手法をスルーホールに銅めっきの層を形成する処理後に実施する。
Conventionally, as a method of forming a thin metal plating layer,
(1) a method of chemically dissolving and forming a thin metal plating layer;
(2) There is a method of physically cutting the metal plating layer by mechanical polishing to form a thin metal plating layer,
Both methods are performed after the process of forming a copper plating layer in the through hole.

(サブトラクティブ工法による微細回路の配線パターンの形成)
サブトラクティブ工法では、スルーホールと微細回路の配線パターンを共存させることが困難となっている。その理由としては、スルーホール内のめっき厚を確保することと細線回路を形成するための金属めっき層の厚さの薄化手法がトレードオフの関係にあるためである。
(Formation of fine circuit wiring pattern by subtractive method)
In the subtractive method, it is difficult to coexist the through hole and the wiring pattern of the fine circuit. The reason is that there is a trade-off between securing the plating thickness in the through hole and reducing the thickness of the metal plating layer for forming the thin wire circuit.

金属めっき層を薄化する手法として化学的手法と物理的手法があるが、それぞれには、以下の問題があった。すなわち、化学的手法で金属めっき層を薄化する場合は、スルーホール内への液の流れが速く表層よりもスルーホール穴の壁面の金属めっき層が過剰に溶解されてスルーホール内の金属めっき層の厚さを厚く保つことが困難となる問題がある。   There are chemical methods and physical methods for thinning the metal plating layer, but each has the following problems. In other words, when the metal plating layer is thinned by a chemical method, the flow of the liquid into the through hole is faster and the metal plating layer on the wall surface of the through hole hole is dissolved excessively than the surface layer, so that the metal plating in the through hole is There is a problem that it is difficult to keep the layer thickness thick.

一方で物理的手法で機械研磨によって金属めっき層を薄化する場合は、機械研磨の際に、スルーホールに追従する形でスルーホール淵の金属めっき層が過剰に研磨・切削されてしまい、スルーホールの淵における電気接続の信頼性が低くなる問題がある。   On the other hand, when the metal plating layer is thinned by mechanical polishing using a physical method, the metal plating layer of the through-hole 追 従 is excessively polished and cut in the form of following the through-hole during mechanical polishing. There is a problem that the reliability of the electrical connection at the base of the hall is lowered.

そのように、化学的手法においても物理的手法においても、サブトラクティブ工法を用いて微細回路の配線パターンを形成するために必要な金属めっき層の薄化処理が、スルーホールの電気接続の信頼性を確保する条件と両立させることが困難である。   In this way, in both chemical and physical methods, the thinning process of the metal plating layer required to form a fine circuit wiring pattern using the subtractive method is the reliability of the electrical connection of the through hole. It is difficult to make it compatible with the conditions for ensuring the above.

そのため、従来は、特許文献1や特許文献2のように、熱硬化性絶縁樹脂や導電樹脂などの穴埋め樹脂をスルーホール内に充填させてスルーホールを封止した上で、絶縁基板の表面の金属めっき層を薄化する技術が用いられていた。   Therefore, conventionally, as in Patent Document 1 and Patent Document 2, after filling a through hole with a hole filling resin such as a thermosetting insulating resin or a conductive resin, the through hole is sealed, and then the surface of the insulating substrate is sealed. A technique for thinning the metal plating layer has been used.

特開2002−016357号公報JP 2002-016357 A 特開2003−273488号公報JP 2003-273488 A

特許文献1や特許文献2の技術では、穴埋め樹脂/ペーストをスルーホール内に充填し、スルーホールを封止した状態で金属めっき層厚調整を実施する。スルーホール内の金属めっき層は、穴埋め樹脂またはペーストにて保護されているため、エッチング液の影響を受けず金属めっき層が維持され、絶縁基板の表面の金属めっき層のみを薄化することが可能である。   In the techniques of Patent Literature 1 and Patent Literature 2, the filling resin / paste is filled in the through hole, and the metal plating layer thickness is adjusted in a state where the through hole is sealed. Since the metal plating layer in the through hole is protected by hole filling resin or paste, the metal plating layer is maintained without being affected by the etching solution, and only the metal plating layer on the surface of the insulating substrate can be thinned. Is possible.

しかし、この従来技術で穴埋め樹脂を用いる場合は、穴埋め樹脂を硬化後に除去することが出来ないため、実装部品の端子ピンをスルーホールに挿入し接続をとることが不可能となる問題があった。   However, when the hole filling resin is used in this conventional technique, the hole filling resin cannot be removed after curing, and thus there is a problem that it is impossible to connect the terminal pin of the mounting component by inserting it into the through hole. .

また、この従来技術でペーストを用いる場合は、ペーストは後工程にて取り除くことが可能であるが、スルーホール内を完全に封ししている状態のペーストを取り除くため、ペーストがスルーホール内に残留することで実装部品の接続不具合を発生させるリスクとなる問題があった。   In addition, when using the paste in this conventional technique, the paste can be removed in a later process, but in order to remove the paste that is completely sealed in the through hole, the paste is placed in the through hole. There is a problem that becomes a risk of causing a connection failure of the mounted parts by remaining.

また、これらの従来技術では、エッチングにより金属めっき層を薄くした後に、基板表面から突起した穴埋め樹脂/ペーストの部分を研磨加工にて取り除く必要がある。その突起の高さは20〜30μmであり、そのため、ある程度の切削研磨処理が必要となる。その切削研磨処理を行うことで、絶縁基板の表面の金属めっき層が更に薄化され、しかも、研磨のバラツキにより、絶縁基板の表面の金属めっき層の厚さにバラツキを生じさせる問題があった。   Further, in these conventional techniques, after the metal plating layer is thinned by etching, it is necessary to remove the portion of the hole filling resin / paste protruding from the substrate surface by polishing. The height of the protrusion is 20 to 30 μm, and therefore a certain amount of cutting and polishing treatment is required. By performing the cutting and polishing treatment, the metal plating layer on the surface of the insulating substrate is further thinned, and there is a problem that the thickness of the metal plating layer on the surface of the insulating substrate varies due to the variation in polishing. .

本発明は、かかる問題を解決し、スルーホールの信頼性が高い印刷配線板を得る印刷配線板の製造方法を提供することを課題とする。   It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a printed wiring board that solves such problems and obtains a printed wiring board having high through-hole reliability.

本発明は、上記課題を解決するために、絶縁樹脂で構成する積層基板に貫通孔を形成する工程と、次に、前記積層基板の表面と前記貫通孔の内壁面に金属めっき層を設ける工程と、前記金属めっき層上に電着処理により電着レジスト膜を形成する工程と、前記積層基板の表面の前記電着レジスト膜を表面研磨処理によって除去して前記金属めっき層を露出させる工程と、前記金属めっき層をソフトエッチングにより薄化する工程と、前記貫通孔の内壁面の金属めっき層上の前記電着レジスト膜を除去する工程と、薄化した前記金属めっき層をエッチングして表層配線パターンを形成する工程とを有することを特徴とする印刷配線板の製造方法である。   In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a step of forming a through hole in a laminated substrate made of an insulating resin, and a step of providing a metal plating layer on the surface of the laminated substrate and the inner wall surface of the through hole. And a step of forming an electrodeposition resist film on the metal plating layer by an electrodeposition process; a step of removing the electrodeposition resist film on the surface of the laminated substrate by a surface polishing process to expose the metal plating layer; A step of thinning the metal plating layer by soft etching; a step of removing the electrodeposition resist film on the metal plating layer on the inner wall surface of the through hole; and etching the thinned metal plating layer to obtain a surface layer. And a process for forming a wiring pattern.

また、本発明は、上記の印刷配線板の製造方法であって、前記金属めっき層上に電着処理により電着レジスト膜を形成する工程が、ポジ型感光性電着レジスト膜を形成し、次に前記ポジ型感光性電着レジスト膜に、前記積層基板の面に垂直な方向から紫外線を照射する工程を有し、次に、前記積層基板の表面の前記ポジ型感光性電着レジスト膜を表面研磨
処理によって除去して前記金属めっき層を露出させることを特徴とする印刷配線板の製造方法である。
Further, the present invention is a method for producing the above printed wiring board, wherein the step of forming an electrodeposition resist film by electrodeposition treatment on the metal plating layer forms a positive photosensitive electrodeposition resist film, Next, the step of irradiating the positive photosensitive electrodeposition resist film with ultraviolet rays from a direction perpendicular to the surface of the multilayer substrate, and then the positive photosensitive electrodeposition resist film on the surface of the multilayer substrate Is a surface polishing process to expose the metal plating layer.

また、本発明は、上記の印刷配線板の製造方法であって、前記貫通孔が、前記積層基板にドリルによって形成されたことを特徴とする印刷配線板の製造方法である。   Moreover, this invention is a manufacturing method of said printed wiring board, Comprising: The said through-hole was formed in the said laminated substrate with the drill, It is a manufacturing method of the printed wiring board characterized by the above-mentioned.

また、本発明は、上記の印刷配線板の製造方法であって、前記積層基板が、内層基板の表面にプリプレグと金属箔とを積層して成ることを特徴とする印刷配線板の製造方法である。   The present invention is also a method for producing a printed wiring board as described above, wherein the laminated substrate is formed by laminating a prepreg and a metal foil on the surface of an inner layer substrate. is there.

また、本発明は、上記の印刷配線板の製造方法であって、前記積層基板が、内層基板の表面に樹脂付き銅箔を設けて成ることを特徴とする印刷配線板の製造方法である。   Moreover, this invention is a manufacturing method of said printed wiring board, Comprising: The said laminated substrate provides the copper foil with resin on the surface of an inner layer board | substrate, It is a manufacturing method of the printed wiring board characterized by the above-mentioned.

また、本発明は、上記の印刷配線板の製造方法であって、前記積層基板の前記絶縁樹脂にレーザー穴あけによってビアホール下穴をあける工程と、該ビアホール下穴を金属めっきで充填する工程を有することを特徴とする印刷配線板の製造方法である。   Moreover, this invention is a manufacturing method of said printed wiring board, Comprising: The process of drilling a via-hole pilot hole by laser drilling to the said insulating resin of the said laminated substrate, and the process of filling this via-hole pilot hole with metal plating This is a method for manufacturing a printed wiring board.

本発明の印刷配線板の製造方法によれば、積層基板の表面に形成した電着レジスト膜は7μmの皮膜で、10μm程度の研磨を設定した表面研磨が可能であり、それにより、積層基板の両面上の電着レジスト膜を表面研磨して除去する際に、貫通孔の淵部分の電着レジスト膜を除去せず残すことができ、高い信頼性のスルーホールを形成できる効果がある。   According to the method for producing a printed wiring board of the present invention, the electrodeposition resist film formed on the surface of the multilayer substrate is a 7 μm film, and surface polishing with a polishing of about 10 μm is possible. When removing the electrodeposition resist film on both surfaces by polishing the surface, it is possible to leave the electrodeposition resist film at the ridge portion of the through-hole without removing it, and there is an effect that a highly reliable through hole can be formed.

また、電着レジスト膜として、ポジ型感光性電着レジスト膜を用い、積層基板の面に垂直な方向から紫外線を照射した上で、その積層基板の表面のポジ型感光性電着レジスト膜を表面研磨処理によって除去すれば、貫通孔内のスルーホールめっき層を覆う電着レジスト膜が、貫通孔の淵部分で硬く形成できる効果がある。   Further, a positive photosensitive electrodeposition resist film is used as the electrodeposition resist film, and after irradiating ultraviolet rays from a direction perpendicular to the surface of the multilayer substrate, the positive photosensitive electrodeposition resist film on the surface of the multilayer substrate is used. If removed by the surface polishing treatment, there is an effect that the electrodeposition resist film covering the through-hole plating layer in the through hole can be hardly formed at the flange portion of the through hole.

この発明の実施例を示すプリント配線板の製造方法の工程断面図である(その1)。It is process sectional drawing of the manufacturing method of the printed wiring board which shows the Example of this invention (the 1). この発明の実施例を示すプリント配線板の製造方法の工程断面図である(その2)。It is process sectional drawing of the manufacturing method of the printed wiring board which shows the Example of this invention (the 2). この発明の実施例を示すプリント配線板の製造方法の工程断面図である(その3)。It is process sectional drawing of the manufacturing method of the printed wiring board which shows the Example of this invention (the 3).

以下に、本発明の実施形態による印刷配線板の製造方法を、図1から図3を用いて説明する。   Below, the manufacturing method of the printed wiring board by embodiment of this invention is demonstrated using FIGS. 1-3.

(工程1)
先ず、絶縁基板1に厚さ12μmから70μmの銅箔を張り合わせた内層基板2を製造する。ここで、絶縁基板1としては、補強材入り絶縁樹脂の基板を用いる。すなわち、ガラス繊維入りエポキシ樹脂材、あるいは、ガラス繊維入りビスマレイミド−トリアジン樹脂(以下、BT樹脂と称す)材、ガラス繊維入りポリイミド樹脂材、ガラス繊維入りPPE樹脂材を用いることができる。この絶縁基板1の補強材としては、ガラス繊維に替えて以下の材料を使用できる。すなわち、アラミド不織布、アラミド繊維、ポリエステル繊維を用いることができる。
(Process 1)
First, an inner layer substrate 2 in which a copper foil having a thickness of 12 μm to 70 μm is bonded to the insulating substrate 1 is manufactured. Here, as the insulating substrate 1, a substrate of an insulating resin with a reinforcing material is used. That is, a glass fiber-containing epoxy resin material, a glass fiber-containing bismaleimide-triazine resin (hereinafter referred to as BT resin) material, a glass fiber-containing polyimide resin material, or a glass fiber-containing PPE resin material can be used. As a reinforcing material for the insulating substrate 1, the following materials can be used instead of glass fibers. That is, an aramid nonwoven fabric, an aramid fiber, and a polyester fiber can be used.

(工程2)
次に、この内層基板2の銅箔をエッチングによりパターニングして、図1(a)のように内層配線パターン3を形成する。
(Process 2)
Next, the copper foil of the inner layer substrate 2 is patterned by etching to form an inner layer wiring pattern 3 as shown in FIG.

(工程3)
次に、内層配線パターン3の表面を、過水硫酸系のソフトエッチング、蟻酸溶液(例えばメック株式会社製「メックエッチボンド」)を用いたCZ処理、あるいは、酸化還元処理による黒化処理などで、0.1〜10μmの最大粗度(Rmax)となるように粗化処理する。
(Process 3)
Next, the surface of the inner layer wiring pattern 3 is subjected to perhydrosulfuric acid-based soft etching, CZ treatment using a formic acid solution (for example, “Meck Etch Bond” manufactured by MEC Co., Ltd.), or blackening treatment by oxidation-reduction treatment. , Roughening treatment is performed so that the maximum roughness (Rmax) is 0.1 to 10 μm.

(工程4)
この内層基板2と同様に、第2の内層基板4を作成する。
(Process 4)
Similar to the inner layer substrate 2, a second inner layer substrate 4 is formed.

(工程5)
次に、図1(b)のように、上層から順に、厚さが12μm厚の銅箔やアルミニウム箔などの第1の金属箔5と、第1のプリプレグ6と、内層基板2と、第2のプリプレグ7と、第2の内層基板4と、第3のプリプレグ8と、その下に第2の金属箔9を重ねた積層材を形成する。
(Process 5)
Next, as shown in FIG. 1B, in order from the upper layer, a first metal foil 5 such as a copper foil or an aluminum foil having a thickness of 12 μm, a first prepreg 6, an inner layer substrate 2, A laminated material in which the second prepreg 7, the second inner layer substrate 4, the third prepreg 8, and the second metal foil 9 are stacked thereunder is formed.

ここで、プリプレグと金属箔との組み合わせの代わりに樹脂付き金属箔を用いることもできる。   Here, instead of the combination of the prepreg and the metal foil, a resin-attached metal foil can be used.

(工程6)
次に、図1(c)のように、この積層材を積層プレスで加熱・加圧し、プリプレグの樹脂材を溶融・流出させて、溶融した樹脂で積層材の各材料を接着させる。これによって、上層から下層に向けて順次に、第1の金属箔5、第1の絶縁樹脂層6a、第1の内層基板2、第2の絶縁樹脂層7a、第2の内層基板4、第3の絶縁樹脂層8a、第2の金属箔9が積層された積層基板10を形成する。ここで、第1の絶縁樹脂層6aや第3の絶縁樹脂層8aの厚さは30〜90μm程度に形成することが望ましい。
(Step 6)
Next, as shown in FIG. 1 (c), this laminated material is heated and pressurized with a lamination press to melt and flow out the resin material of the prepreg, and each material of the laminated material is bonded with the molten resin. Accordingly, the first metal foil 5, the first insulating resin layer 6a, the first inner layer substrate 2, the second insulating resin layer 7a, the second inner layer substrate 4, the first metal foil 5, the first insulating resin layer 6a, and the second inner layer substrate 4 are sequentially formed from the upper layer to the lower layer. A laminated substrate 10 in which the three insulating resin layers 8a and the second metal foil 9 are laminated is formed. Here, the thickness of the first insulating resin layer 6a and the third insulating resin layer 8a is preferably about 30 to 90 μm.

(工程7)
次に、図1(d)のように、この積層基板10の第1の金属箔5と第2の金属箔9を全面エッチングして除去する。このエッチング処理において、第1の金属箔5と第2の金属箔9が銅箔の場合は、塩化第二鉄水溶液などのエッチング液を使用してエッチングする。
(Step 7)
Next, as shown in FIG. 1D, the first metal foil 5 and the second metal foil 9 of the multilayer substrate 10 are etched and removed. In this etching process, when the first metal foil 5 and the second metal foil 9 are copper foils, etching is performed using an etchant such as a ferric chloride aqueous solution.

(変形例1)
この工程7の変形例1として、第1の金属箔5と第2の金属箔9を全面エッチングする代わりに、ビアホール下穴11を形成する位置に、エッチングにより第1の金属箔5と第2の金属箔9に開口部を、ビアホール下穴11より大きく形成しても良い。
(Modification 1)
As a first modification of the step 7, instead of etching the entire surface of the first metal foil 5 and the second metal foil 9, the first metal foil 5 and the second metal foil 5 are etched by etching at a position where the via hole prepared hole 11 is formed. The opening may be formed in the metal foil 9 larger than the via hole pilot hole 11.

(変形例2)
この工程7の変形例2として、第1の金属箔5と第2の金属箔9を薄銅箔、例えば9μm箔で形成しておき、工程7では、その第1の金属箔5と第2の金属箔9の表面を粗化して黒化させる処理をして、後の工程8において、その薄銅箔の第1の金属箔5と第2の金属箔9をレーザー光線で貫いてビアホール下穴11を形成し、次に工程9で貫通孔12を形成しても良い。そのビアホール下穴11を形成した後には、第1の金属箔5と第2の金属箔9の表面の黒化面をソフトエッチングにより平滑面にした上で工程10以降の処理を行う。
(Modification 2)
As modification 2 of this process 7, the 1st metal foil 5 and the 2nd metal foil 9 are formed with thin copper foil, for example, 9 micrometers foil, and in process 7, the 1st metal foil 5 and the 2nd The surface of the metal foil 9 is roughened and blackened, and in the subsequent step 8, the first metal foil 5 and the second metal foil 9 of the thin copper foil are penetrated with a laser beam and a via hole pilot hole is formed. 11 may be formed, and then the through hole 12 may be formed in step 9. After the via hole pilot hole 11 is formed, the blackened surfaces of the surfaces of the first metal foil 5 and the second metal foil 9 are made smooth by soft etching, and then the processes after step 10 are performed.

(工程8)
次に、図1(e)のように、第2の絶縁樹脂層6aと第3の絶縁樹脂層8aの外面から炭酸ガスレーザー光線やYAGレーザー光線を照射することで、内層配線パターン3に達するビアホール下穴11をレーザー穴あけする。このビアホール下穴11は、後工程で、内層配線パターン3を積層基板10の上下層の配線パターン15に電気接続するビアホールめっき11aを形成する下穴である。ビアホール下穴11の形状は、例えば外層側の径が80μm、内層側の穴底の径が50μm、第1の絶縁樹脂層6aや第3の絶縁樹脂層8aによる層間厚を30〜90μmに形成する。
(Process 8)
Next, as shown in FIG. 1E, under the via hole reaching the inner layer wiring pattern 3 by irradiating a carbon dioxide laser beam or a YAG laser beam from the outer surfaces of the second insulating resin layer 6a and the third insulating resin layer 8a. Hole 11 is laser drilled. This via-hole prepared hole 11 is a prepared hole for forming a via-hole plating 11 a that electrically connects the inner layer wiring pattern 3 to the upper and lower wiring patterns 15 of the multilayer substrate 10 in a subsequent process. The shape of the via hole prepared hole 11 is, for example, an outer layer side diameter of 80 μm, an inner layer side hole bottom diameter of 50 μm, and an interlayer thickness of the first insulating resin layer 6a and the third insulating resin layer 8a formed to be 30 to 90 μm. To do.

(工程9)
次に、積層基板10にドリルで穴あけすることで、貫通孔12を形成する。
(Step 9)
Next, the through hole 12 is formed by drilling the laminated substrate 10 with a drill.

(工程10)
次に、積層基板10の表面および貫通孔12の壁面を粗化する。ここで、工程8で、レーザー光線にてビアホール下穴11を形成すると、ビアホール下穴11の底に薄い樹脂膜が残る場合があり、その場合は、強アルカリにより樹脂を膨潤させ、その後、クロム酸や過マンガン酸塩水溶液などの酸化剤を使用して樹脂を分解除去するデスミア処理を行う。また研磨材によるサンドブラスト処理やプラズマ処理にて穴の底に残った樹脂膜を除去してもよい。
(Process 10)
Next, the surface of the multilayer substrate 10 and the wall surface of the through hole 12 are roughened. Here, if the via hole pilot hole 11 is formed with a laser beam in step 8, a thin resin film may remain at the bottom of the via hole pilot hole 11. In this case, the resin is swollen with strong alkali, and then chromic acid is used. And desmear treatment that decomposes and removes the resin using an oxidizing agent such as a permanganate aqueous solution. Further, the resin film remaining on the bottom of the hole may be removed by sandblasting with an abrasive or plasma treatment.

積層基板10の貫通孔12の壁面の粗化処理は、内層基板2及び4の絶縁基板1に熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂を使用した場合、クロム酸、過マンガン酸塩の水溶液などの酸化剤による表面粗化処理などのウェットプロセスや、プラズマ処理やアッシング処理などのドライプロセスが有効である。   The roughening treatment of the wall surface of the through-hole 12 of the laminated substrate 10 is performed by oxidizing an aqueous solution of chromic acid or permanganate when a thermosetting resin or a thermoplastic resin is used for the insulating substrate 1 of the inner layer substrates 2 and 4. A wet process such as surface roughening with an agent and a dry process such as plasma or ashing are effective.

(工程11)
次に、ビアホール下穴11の壁面、貫通孔12の壁面、および積層基板の表面にめっき触媒付与及び無電解銅めっきを行って、めっき下地導電層を形成する。次に、電解銅めっきを行って、図2(f)のように、貫通孔12の壁面にスルーホールめっき層12aを形成し、積層基板10の両面のめっき下地導電層上に、ビアホール下穴11を銅のビアホールめっき11aで充填した上で、両面の全面に銅の金属めっき層13を形成する。
(Step 11)
Next, plating catalyst application and electroless copper plating are performed on the wall surface of the via-hole prepared hole 11, the wall surface of the through-hole 12, and the surface of the multilayer substrate to form a plating base conductive layer. Next, electrolytic copper plating is performed to form a through-hole plating layer 12a on the wall surface of the through-hole 12 as shown in FIG. 2 (f), and via-hole pilot holes are formed on the plating base conductive layers on both sides of the multilayer substrate 10. 11 is filled with copper via-hole plating 11a, and a copper metal plating layer 13 is formed on the entire surface of both surfaces.

(工程12)
次に、図2(g)に示すように、積層基板10の上下の金属めっき層13の全面と貫通孔12内のスルーホールめっき層12aの表面にポジ型感光性電着レジスト膜14を厚さ7μmまで電着処理によって析出形成させる。次に、80℃で10分加熱してポジ型感光性電着レジスト膜14を乾燥させる。
(Step 12)
Next, as shown in FIG. 2G, a positive photosensitive electrodeposition resist film 14 is formed on the entire surface of the upper and lower metal plating layers 13 of the multilayer substrate 10 and the surface of the through hole plating layer 12 a in the through hole 12. A thickness of 7 μm is formed by electrodeposition. Next, the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 is dried by heating at 80 ° C. for 10 minutes.

(工程13)
次に、積層基板10の上下面から面に垂直に紫外線を露光し、上下面のポジ型感光性電着レジスト膜14を露光する。この紫外線の露光により、積層基板10の上下面のポジ型感光性電着レジスト膜14の分子の化学結合部分を切り離し、ポジ型感光性電着レジスト膜14の硬さを軟らかくする。この際に、積層基板10の上下面に垂直な紫外線は、貫通孔12内のスルーホールめっき層12aを覆うポジ型感光性電着レジスト膜14には、積層基板10の表面側から一定の深さ以上には露光されない。それにより、貫通孔12内の深部のポジ型感光性電着レジスト膜14の分子には紫外線が露光されず、貫通孔12内のポジ型感光性電着レジスト膜14の分子は強い化学結合で結びついていて硬い硬度が維持される。
(Step 13)
Next, ultraviolet light is exposed perpendicularly to the surface from the upper and lower surfaces of the laminated substrate 10 to expose the upper and lower positive photosensitive electrodeposition resist films 14. By this ultraviolet light exposure, the chemical bond portions of the molecules of the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 on the upper and lower surfaces of the multilayer substrate 10 are cut off, and the hardness of the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 is softened. At this time, ultraviolet rays perpendicular to the upper and lower surfaces of the multilayer substrate 10 are applied to the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 covering the through-hole plating layer 12 a in the through hole 12 at a certain depth from the surface side of the multilayer substrate 10. No more exposure. As a result, ultraviolet rays are not exposed to the molecules of the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 in the deep part of the through hole 12, and the molecules of the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 in the through hole 12 have strong chemical bonds. Bonded and hard hardness is maintained.

(工程14)
次に、図2(h)に示すように、この積層基板10の表面を覆うポジ型感光性電着レジ
スト膜14を、表面に研磨バフ(繊維にシリコンカーバイドなどを含浸させたもの)が形成された研磨ロールにて表面研磨を行う。これにより、紫外線で露光され軟らかくなった積層基板10の上下面のポジ型感光性電着レジスト膜14が機械研磨により除去される。その際に、貫通孔12内のスルーホールめっき層12aを覆うポジ型感光性電着レジスト膜14は、紫外線で露光されないので硬度が硬い状態に保たれていて、また、バフ研磨の研磨材にも直接には接触しないので、除去されずに残る。また、貫通孔12のスルーホールめっき層12aを被覆する膜の近くの、貫通孔12の淵部分を覆うポジ型感光性電着レジスト膜14も、この機械研磨によっては除去されずに残留する。
(Step 14)
Next, as shown in FIG. 2 (h), a positive photosensitive electrodeposition resist film 14 covering the surface of the laminated substrate 10 is formed on the surface with a polishing buff (fiber impregnated with silicon carbide or the like). Surface polishing is performed with the polished polishing roll. As a result, the positive photosensitive electrodeposition resist films 14 on the upper and lower surfaces of the laminated substrate 10 that have been softened by being exposed to ultraviolet rays are removed by mechanical polishing. At that time, the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 covering the through-hole plating layer 12a in the through-hole 12 is not exposed to ultraviolet rays, so that it is kept in a hard state, and is used as an abrasive for buffing. Since it does not contact directly, it remains without being removed. Further, the positive type photosensitive electrodeposition resist film 14 covering the flange portion of the through hole 12 near the film covering the through hole plating layer 12a of the through hole 12 remains without being removed by this mechanical polishing.

すなわち、本実施形態によれば、貫通孔12内のスルーホールめっき層12aを覆うポジ型感光性電着レジスト膜14が、貫通孔12の淵部分でも硬いので、積層基板10の両面上のポジ型感光性電着レジスト膜14を表面研磨して除去する際に、貫通孔12の淵部分のポジ型感光性電着レジスト膜14を除去せず残すことができ、高い信頼性のスルーホールを形成できる効果がある。   That is, according to the present embodiment, the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 covering the through-hole plating layer 12a in the through-hole 12 is hard even at the ridge portion of the through-hole 12, so When the type photosensitive electrodeposition resist film 14 is removed by polishing the surface, the positive type photosensitive electrodeposition resist film 14 at the end of the through hole 12 can be left without being removed, and a highly reliable through hole can be formed. There is an effect that can be formed.

(工程15)
次に、160℃で40分間加熱することで、貫通孔12の淵部分と内部に残ったポジ型感光性電着レジスト膜14を加熱硬化させる。これにより、貫通孔12の淵部分におけるエッチングレジストとしてのポジ型感光性電着レジスト膜14の硬度が強化される効果がある。
(Step 15)
Next, by heating at 160 ° C. for 40 minutes, the ridges of the through holes 12 and the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 remaining inside are cured by heating. Thereby, there is an effect that the hardness of the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 as an etching resist in the flange portion of the through hole 12 is enhanced.

(工程16)
次に、図2(i)に示すように、塩化第二鉄溶液、又は、過硫酸ナトリウム、もしくは、過酸化水素/硫酸溶液のエッチング液を用いたソフトエッチングにより、積層基板10の表面の金属めっき層13をソフトエッチングすることで厚みを薄くする。このソフトエッチングにより除去する金属めっき層13の厚みは、エッチングの温度、時間またはエッチング液の濃度により制御する。このソフトエッチングの際に、貫通孔12内のスルーホールめっき層12aは、貫通孔12の淵部分に至るまでポジ型感光性電着レジスト膜14により保護されているので、貫通孔12内のスルーホールめっき層12aの全体がエッチングされずに残り、良好なスルーホールめっき構造体が形成される。
(Step 16)
Next, as shown in FIG. 2 (i), the metal on the surface of the laminated substrate 10 is obtained by soft etching using a ferric chloride solution, sodium persulfate, or an etching solution of hydrogen peroxide / sulfuric acid solution. The plating layer 13 is soft etched to reduce the thickness. The thickness of the metal plating layer 13 to be removed by this soft etching is controlled by the etching temperature, time, or etching solution concentration. During this soft etching, the through-hole plating layer 12a in the through-hole 12 is protected by the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 up to the flange portion of the through-hole 12, so that the through-hole plating layer 12a in the through-hole 12 is protected. The entire hole plating layer 12a remains without being etched, and a good through-hole plating structure is formed.

(工程17)
次に、図3(j)のように、積層基板10の貫通孔12内のスルーホールめっき層12aを覆うポジ型感光性電着レジスト膜14を除去する。
(Step 17)
Next, as shown in FIG. 3J, the positive photosensitive electrodeposition resist film 14 covering the through-hole plating layer 12a in the through hole 12 of the multilayer substrate 10 is removed.

(工程18)
次に、積層基板10の両面の金属めっき層13上に感光性レジスト、例えばドライフィルムのエッチングレジストをロールラミネートで貼り付け、そのエッチングレジストを露光・現像することで表層配線パターン15の部分以外の銅めっき層を露出させる。
(Step 18)
Next, a photosensitive resist, for example, an etching resist of a dry film is pasted on the metal plating layers 13 on both surfaces of the multilayer substrate 10 by roll lamination, and the etching resist is exposed and developed, so that the portions other than the surface wiring pattern 15 portions are exposed. Expose the copper plating layer.

次に、図3(k)のように、そのエッチングレジストから露出した部分の銅の金属めっき層13を、塩化第二鉄水溶液などのエッチング液でエッチングして除去し、表層配線パターン15を形成し、次に、そのエッチングレジストを剥離する。   Next, as shown in FIG. 3 (k), the copper metal plating layer 13 exposed from the etching resist is removed by etching with an etchant such as ferric chloride aqueous solution to form a surface wiring pattern 15 Then, the etching resist is peeled off.

(工程19)
次に、図3(l)のように、積層基板10の両面に感光性ソルダーレジストを形成して露光・現像し、次に、加熱硬化させることでソルダーレジストパターン16を形成する。
(Step 19)
Next, as shown in FIG. 3 (l), a photosensitive solder resist is formed on both surfaces of the laminated substrate 10, exposed and developed, and then the solder resist pattern 16 is formed by heating and curing.

なお、本発明は、上記の実施形態に限定されず、工程12において、金属めっき層13の全面と貫通孔12内のスルーホールめっき層12aの表面に、感光性を有さない電着レ
ジスト膜を形成しても良い。その場合は、その電着レジストに紫外線を照射する工程13を省いた工程で印刷配線板を製造する。
In addition, this invention is not limited to said embodiment, In the process 12, the electrodeposition resist film which does not have photosensitivity on the whole surface of the metal plating layer 13, and the surface of the through-hole plating layer 12a in the through-hole 12 May be formed. In that case, a printed wiring board is manufactured in a process that omits the process 13 of irradiating the electrodeposition resist with ultraviolet rays.

また、内層基板は2つに限らず1つでも、また3つ以上の内層基板を用いても良く、更に積層基板10の最外層に内層基板を用いても良い。また、積層基板10は、内層基板とプリプレグを重ねて積層プレスで加熱・加圧して形成する方法以外に、内層基板上に樹脂付き銅箔等をラミネートしてビルドアップする方法で積層基板10を形成しても良い。更に、積層基板10は、支持板上にビルドアップして形成した絶縁樹脂層から支持基板を分離することで形成しても良い。また、積層基板10に形成する貫通孔12は、ドリルで形成する以外に、レーザー穴あけによって貫通孔12を形成しても良い。   Further, the number of inner layer substrates is not limited to two, and one or three or more inner layer substrates may be used, and an inner layer substrate may be used as the outermost layer of the laminated substrate 10. In addition to the method of forming the laminated substrate 10 by stacking the inner layer substrate and the prepreg and heating and pressing with a lamination press, the laminated substrate 10 is formed by laminating a copper foil with resin on the inner layer substrate and building up. It may be formed. Furthermore, the laminated substrate 10 may be formed by separating the support substrate from the insulating resin layer formed by building up on the support plate. Moreover, the through-hole 12 formed in the laminated substrate 10 may be formed by laser drilling other than forming with a drill.

1・・・絶縁基板
2、4・・・内層基板
3・・・内層配線パターン
5、9・・・金属箔
6、7、8・・・プリプレグ
6a、7a、8a・・・絶縁樹脂層
10・・・積層基板
11・・・ビアホール下穴
11a・・・ビアホールめっき
12・・・貫通孔
12a・・・スルーホールめっき層
13・・・金属めっき層
14・・・ポジ型感光性電着レジスト膜
15・・・表層配線パターン
16・・・ソルダーレジストパターン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Insulating substrate 2, 4 ... Inner layer board 3 ... Inner layer wiring pattern 5, 9 ... Metal foil 6, 7, 8 ... Prepreg 6a, 7a, 8a ... Insulating resin layer 10 ... Laminated substrate 11 ... via hole pilot hole 11a ... via hole plating 12 ... through hole 12a ... through hole plating layer 13 ... metal plating layer 14 ... positive photosensitive electrodeposition resist Film 15 ... Surface wiring pattern 16 ... Solder resist pattern

Claims (6)

絶縁樹脂で構成する積層基板に貫通孔を形成する工程と、次に、前記積層基板の表面と前記貫通孔の内壁面に金属めっき層を設ける工程と、前記金属めっき層上に電着処理により電着レジスト膜を形成する工程と、前記積層基板の表面の前記電着レジスト膜を表面研磨処理によって除去して前記金属めっき層を露出させる工程と、前記金属めっき層をソフトエッチングにより薄化する工程と、前記貫通孔の内壁面の金属めっき層上の前記電着レジスト膜を除去する工程と、薄化した前記金属めっき層をエッチングして表層配線パターンを形成する工程とを有することを特徴とする印刷配線板の製造方法。   A step of forming a through hole in a laminated substrate made of insulating resin, a step of providing a metal plating layer on the surface of the laminated substrate and an inner wall surface of the through hole, and an electrodeposition treatment on the metal plating layer A step of forming an electrodeposition resist film, a step of removing the electrodeposition resist film on the surface of the multilayer substrate by a surface polishing process to expose the metal plating layer, and thinning the metal plating layer by soft etching And a step of removing the electrodeposition resist film on the metal plating layer on the inner wall surface of the through hole, and a step of etching the thinned metal plating layer to form a surface wiring pattern. A method for manufacturing a printed wiring board. 請求項1記載の印刷配線板の製造方法であって、前記金属めっき層上に電着処理により電着レジスト膜を形成する工程が、ポジ型感光性電着レジスト膜を形成し、次に前記ポジ型感光性電着レジスト膜に、前記積層基板の面に垂直な方向から紫外線を照射する工程を有し、次に、前記積層基板の表面の前記ポジ型感光性電着レジスト膜を表面研磨処理によって除去して前記金属めっき層を露出させることを特徴とする印刷配線板の製造方法。   The method for producing a printed wiring board according to claim 1, wherein the step of forming an electrodeposition resist film by electrodeposition treatment on the metal plating layer forms a positive photosensitive electrodeposition resist film, A step of irradiating the positive photosensitive electrodeposition resist film with ultraviolet rays from a direction perpendicular to the surface of the multilayer substrate, and then polishing the positive photosensitive electrodeposition resist film on the surface of the multilayer substrate A method for producing a printed wiring board, wherein the metal plating layer is exposed by removal by treatment. 請求項1又は2に記載の印刷配線板の製造方法であって、前記貫通孔が、前記積層基板にドリルによって形成されたことを特徴とする印刷配線板の製造方法。   The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein the through hole is formed in the laminated substrate by a drill. 請求項1乃至3の何れか一項に記載の印刷配線板の製造方法であって、前記積層基板が、内層基板の表面にプリプレグと金属箔とを積層して成ることを特徴とする印刷配線板の製造方法。   4. The printed wiring board manufacturing method according to claim 1, wherein the laminated substrate is formed by laminating a prepreg and a metal foil on a surface of an inner layer substrate. 5. A manufacturing method of a board. 請求項1乃至3の何れか一項に記載の印刷配線板の製造方法であって、前記積層基板が、内層基板の表面に樹脂付き銅箔を設けて成ることを特徴とする印刷配線板の製造方法。   4. The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 1, wherein the laminated substrate is provided with a resin-coated copper foil on a surface of an inner layer substrate. 5. Production method. 請求項1乃至5の何れか一項に記載の印刷配線板の製造方法であって、前記積層基板の前記絶縁樹脂にレーザー穴あけによってビアホール下穴をあける工程と、該ビアホール下穴を金属めっきで充填する工程を有することを特徴とする印刷配線板の製造方法。   It is a manufacturing method of the printed wiring board as described in any one of Claims 1 thru | or 5, Comprising: The process of drilling a via-hole pilot hole by laser drilling to the said insulating resin of the said laminated substrate, and this via-hole pilot hole by metal plating A method for manufacturing a printed wiring board, comprising a step of filling.
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