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JP2013211600A - Termination resistor adjustment circuit, and termination resistance adjusting method - Google Patents

Termination resistor adjustment circuit, and termination resistance adjusting method Download PDF

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JP2013211600A
JP2013211600A JP2012078503A JP2012078503A JP2013211600A JP 2013211600 A JP2013211600 A JP 2013211600A JP 2012078503 A JP2012078503 A JP 2012078503A JP 2012078503 A JP2012078503 A JP 2012078503A JP 2013211600 A JP2013211600 A JP 2013211600A
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determination
elements
termination
termination resistance
resistance value
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JP2012078503A
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Kazuyuki Imai
一之 今井
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a termination resistor adjustment circuit for optimally setting a termination resistance value of a transmission path to which plural receiving elements are connected.SOLUTION: In a termination resistor adjustment circuit of a transmission path to which plural elements are connected, each of the plural elements comprises: comparison means 10 for receiving reference signals supplied to the transmission path and comparing a waveform of the received signals with a predetermined reference level; and determination means 17 for determining whether the waveform of the received signals is good or not in light of a preset determination reference according to comparison results of the comparison means. The values of termination resistors are sequentially and variably controlled, and the resistance value when all of the determination results are good is set as a termination resistance value.

Description

本発明は終端抵抗調整回路及び終端抵抗調整方法に関し、特にバスの終端抵抗の調整をなすための終端抵抗調整回路及び終端抵抗調整方法に関するものである。   The present invention relates to a termination resistance adjustment circuit and a termination resistance adjustment method, and more particularly to a termination resistance adjustment circuit and a termination resistance adjustment method for adjusting a termination resistance of a bus.

半導体集積回路の高速化に伴って、信号の伝送路であるバスも高速化してきており、かかる高速化に伴う信号周波数の向上に起因して、伝送路のインピーダンスのバラツキによる信号の反射の影響が無視できなくなってきている。伝送路のインピーダンスのバラツキは、回路基板の製造上のバラツキと、当該伝送路に接続される種々の素子の入力容量のバラツキによる伝送線路のインピーダンス低下のバラツキ等によって発生するものである。   As the speed of semiconductor integrated circuits increases, so does the speed of buses, which are signal transmission paths, and the effect of signal reflection due to variations in the impedance of transmission paths due to the improvement in signal frequency associated with such higher speeds. Can no longer be ignored. The variation in the impedance of the transmission line is caused by the variation in the manufacturing of the circuit board and the variation in the impedance of the transmission line due to the variation in the input capacitance of various elements connected to the transmission line.

反射の影響を抑えるために終端抵抗が用いられるが、当該伝送路に接続される素子数の増加やバス構造の複雑化により、全てのバラツキを考慮して終端抵抗の値を設定しようとすると、十分なアイパターン開口が確保できなくなって、終端抵抗値を設定できないというケースが発生してきている。   Termination resistors are used to suppress the influence of reflection, but due to the increase in the number of elements connected to the transmission path and the complexity of the bus structure, when trying to set the termination resistor value in consideration of all variations, There has been a case where a sufficient eye pattern opening cannot be secured and the termination resistance value cannot be set.

仮に、設定したとしても、その設定値は実際の伝送路にとって最適値ではないので、信号品質の劣化を招くことになっている。一方で、終端抵抗の値を固定抵抗値とした場合、信号品質を過剰に良くすることになって、終端抵抗を流れる定常電流の増加を招き、結果として消費電流の低減が困難になるという問題がある。   Even if it is set, the set value is not the optimum value for the actual transmission path, so that the signal quality is deteriorated. On the other hand, when the value of the termination resistor is a fixed resistance value, the signal quality is excessively improved, resulting in an increase in steady current flowing through the termination resistor, resulting in difficulty in reducing current consumption. There is.

そこで、伝送路に接続される各素子や回路基板のインピーダンス等のばらつきを考慮して、シミュレーションを行って、終端抵抗値を決定する方法があるが、全ての組み合わせについて網羅的にシミュレーションを行うことは困難であることや、全ての場合を一つの終端抵抗値で対応するために、最適な値ではないことなどが問題である。   Therefore, there is a method to determine the termination resistance value by performing simulation in consideration of variations in the impedance of each element and circuit board connected to the transmission line, but comprehensive simulation is performed for all combinations. The problem is that it is difficult, and since all cases are handled with a single termination resistance value, it is not an optimal value.

この場合、バス構造の複雑化による構成要素の増加と高速化によるアイパターン開口の縮小により、全体を一つの終端抵抗値でカバーすることは、これまた非常に難しくなってきている。信号伝送の信頼性の向上のために、実際の各伝送路にあった終端抵抗値を選定することができる施策が要求されている。   In this case, it is becoming very difficult to cover the whole with one termination resistance value due to the increase in the number of components due to the complexity of the bus structure and the reduction in the eye pattern opening due to the increase in speed. In order to improve the reliability of signal transmission, a measure that can select a termination resistance value suitable for each actual transmission path is required.

ここで、特許文献1を参照すると、伝送路の終端抵抗を最適値に設定するために、伝送路に対して一つのインピーダンス調整回路を設けて、この一つのインピーダンス調整回路により、伝送路を伝播する信号波形を監視して、この監視結果に基づいて、伝送路の終端に設けられる終端抵抗の抵抗値を調整する技術が開示されている。   Here, referring to Patent Document 1, in order to set the terminating resistance of the transmission line to an optimum value, one impedance adjustment circuit is provided for the transmission line, and the transmission line is propagated by this one impedance adjustment circuit. A technique for monitoring a signal waveform to be adjusted and adjusting a resistance value of a termination resistor provided at the termination of a transmission line based on the monitoring result is disclosed.

また、特許文献2を参照すると、伝送路に接続された受信素子内において、アイパターン開口を検出し、このアイパターン開口が有するマスクに対してのマージンを算出し、この算出されたマージンの変動に基づいて受信波形に影響を及ぼす回路要素の設定値について評価して、この評価結果に基づいて受信素子内にそれぞれに設けられている内蔵終端抵抗の値を変更制御する技術が開示されている。   Further, referring to Patent Document 2, an eye pattern opening is detected in a receiving element connected to a transmission path, a margin for a mask included in the eye pattern opening is calculated, and fluctuations in the calculated margin are calculated. Has been disclosed that evaluates a set value of a circuit element that affects a received waveform based on the evaluation result, and changes and controls a value of a built-in termination resistor provided in each receiving element based on the evaluation result. .

特開2011−004216号公報JP 2011-004216 A 特開2009−159256号公報JP 2009-159256 A

特許文献1の技術においては、伝送路に対して単一のインピーダンス調整回路を設けて、この単一の調整回路で終端抵抗値を調整するようになっているが、伝送路には、種々の多くの受信素子が接続されるのが一般的であり、よって、これら多くの受信素子に対して最適な終端抵抗値の設定をなすには十分ではないという問題がある。   In the technique of Patent Document 1, a single impedance adjustment circuit is provided for the transmission line, and the termination resistance value is adjusted by this single adjustment circuit. In general, many receiving elements are connected. Therefore, there is a problem that it is not sufficient to set an optimum termination resistance value for these many receiving elements.

また、特許文献2の技術では、伝送路に接続された一つの受信素子内に設けられた内蔵終端抵抗の値を調整する技術であり、これまた、伝送路に多くの受信素子が共通に接続された場合における、当該伝送路の終端抵抗を調整するための技術ではなく、よって、これまた多くの受信素子に対して最適な終端抵抗値の設定をなすには十分ではないという問題がある。   The technique of Patent Document 2 is a technique for adjusting the value of a built-in termination resistor provided in one receiving element connected to the transmission line. In addition, many receiving elements are commonly connected to the transmission line. In this case, the technique is not a technique for adjusting the termination resistance of the transmission line. Therefore, there is a problem that it is not sufficient to set an optimum termination resistance value for many receiving elements.

本発明の目的は、複数の受信素子が接続された伝送路の終端抵抗の値を最適に設定可能な終端抵抗調整回路及び終端抵抗調整方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a termination resistance adjustment circuit and a termination resistance adjustment method capable of optimally setting the value of the termination resistance of a transmission line to which a plurality of receiving elements are connected.

本発明による終端抵抗調整回路は、
複数の素子が接続された伝送路の終端抵抗調整回路であって、
前記複数の素子の各々に、
前記伝送路に供給された基準用信号を受信してこの受信信号波形と所定基準レベルとを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記受信信号波形の良否を予め設定された判定基準に照らして判定する判定手段とを有し、
前記終端抵抗の値を順次可変制御して、前記複数の素子の各々の前記判定手段による判定結果を入力としてこれら判定結果が全て良を示す場合の抵抗値を、前記終端抵抗の値として設定する制御手段を、
含むことを特徴とする。
The termination resistance adjusting circuit according to the present invention includes:
A termination resistance adjusting circuit for a transmission line to which a plurality of elements are connected,
For each of the plurality of elements,
Comparison means for receiving a reference signal supplied to the transmission path and comparing the received signal waveform with a predetermined reference level;
Determination means for determining the quality of the received signal waveform based on a predetermined determination criterion based on the comparison result of the comparison means;
The termination resistance value is sequentially variably controlled, and the determination result of each of the plurality of elements is set as an input, and the resistance value when all the determination results indicate good is set as the termination resistance value. Control means,
It is characterized by including.

本発明による終端抵抗調整方法は、
複数の素子が接続された伝送路の終端抵抗調整方法であって、
前記複数の素子の各々において、
前記伝送路に供給された基準用信号を受信してこの受信信号波形と所定基準レベルとを比較する比較工程と、
前記比較工程の比較結果に基づいて前記受信信号波形の良否を予め設定された判定基準に照らして判定する判定工程とを設け、
前記終端抵抗の値を順次可変制御して、前記複数の素子の各々の前記判定工程による判定結果を入力としてこれら判定結果が全て良を示す場合の抵抗値を、前記終端抵抗の値として設定する制御工程を、
含むことを特徴とする。
The termination resistance adjusting method according to the present invention includes:
A method for adjusting a termination resistance of a transmission line in which a plurality of elements are connected,
In each of the plurality of elements,
A comparison step of receiving a reference signal supplied to the transmission line and comparing the received signal waveform with a predetermined reference level;
A determination step of determining the quality of the received signal waveform based on a predetermined determination criterion based on a comparison result of the comparison step; and
The terminal resistance value is sequentially variably controlled, and the determination result of each of the plurality of elements is set as an input, and the resistance value when all the determination results indicate good is set as the termination resistance value. Control process,
It is characterized by including.

本発明によれば、バス構造を有する複数の受信素子にそれぞれ入力される伝送波形を確認しつつ全受信素子が満足する最適な終端抵抗値に設定するようにしているので、伝送路の各種のバラツキにも十分に適応可能な最適値に設定されることになって、伝送路の信号品質が向上するという効果がある。   According to the present invention, the optimum termination resistance value satisfied by all the receiving elements is set while confirming the transmission waveforms respectively input to the plurality of receiving elements having the bus structure. The optimum value that can be sufficiently adapted to the variation is set, so that the signal quality of the transmission path is improved.

本発明の実施の形態が適用されるバス構造を示す図である。It is a figure which shows the bus structure to which embodiment of this invention is applied. 本発明の実施の形態の全体のブロック図である。1 is an overall block diagram of an embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態の受信素子の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the receiving element of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of embodiment of this invention. 本発明の実施の形態の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of embodiment of this invention.

以下に、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の実施の形態が適用されるバス構造を示す図である。図1において、送信用の出力バッファ回路(送信素子)1からの信号は、共通バス7に並列的に接続された複数の種々の受信素子2へそれぞれ入力されるようになっている。このバス7には、終端抵抗3及び4が接続されて終端されており、本発明は、この終端抵抗の値を調整するものである。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a bus structure to which an embodiment of the present invention is applied. In FIG. 1, signals from a transmission output buffer circuit (transmission element) 1 are input to a plurality of various reception elements 2 connected in parallel to a common bus 7. Termination resistors 3 and 4 are connected to the bus 7 and terminated, and the present invention adjusts the value of this termination resistor.

図2は、図1に示したバス構造に本発明を適用した場合のブロック図である。図2において、送信素子である出力バッファ1は、制御回路8からの制御タイミングにより、基準となる論理レベルのパルスをバス7へ導出するものであり、LSI構成である。このバス7には、可変終端抵抗回路9が接続されており、制御回路8から出力される制御信号に応じて抵抗値が制御可能となっている。   FIG. 2 is a block diagram when the present invention is applied to the bus structure shown in FIG. In FIG. 2, the output buffer 1 serving as a transmission element derives a reference logic level pulse to the bus 7 at the control timing from the control circuit 8, and has an LSI configuration. A variable termination resistor circuit 9 is connected to the bus 7, and the resistance value can be controlled in accordance with a control signal output from the control circuit 8.

このバス7へ出力された信号は、このバス7に接続された複数の受信素子(Chipとして示している)2へ入力されてこれら素子でそれぞれ受信される。これら複数の受信素子2の各々には、図3に示すような波形判定回路が内蔵されているものとする。これら波形判定回路からの各判定結果である判定信号に応じて、制御回路8は可変終端抵抗回路9の制御信号を出力するようになっている。   The signal output to the bus 7 is input to a plurality of receiving elements (denoted as Chip) 2 connected to the bus 7 and received by these elements. Each of the plurality of receiving elements 2 is assumed to incorporate a waveform determination circuit as shown in FIG. The control circuit 8 outputs a control signal for the variable termination resistor circuit 9 in accordance with the determination signal which is each determination result from the waveform determination circuit.

なお、制御回路8とLSI構成の出力バッファ1とは、互いに、終端抵抗の調整動作のタイミング同期をなすようになっている。   The control circuit 8 and the LSI-structured output buffer 1 synchronize the timing of the termination resistor adjustment operation.

図3を参照すると、各受信素子2に内蔵されている波形判定回路は、信号の高レベル(High)側確認用の基準レベルVref1を発生するVref1発生回路11と、信号の低レベル(Low)側確認用の基準レベルVref2を発生するVref2発生回路12と、通常動作時用の基準電圧Vref を発生するVref 発生回路13と、これらの基準電圧を選択するVref 選択回路14と、選択された基準電圧と受信した入力信号とのレベル比較をなす差動バッファ10と、この差動バッファ出力に基づいて受信した入力信号の波形の良否を、予め設定された基準に照らして判定する判定回路17とを含んでいる。   Referring to FIG. 3, the waveform determination circuit built in each receiving element 2 includes a Vref1 generation circuit 11 for generating a reference level Vref1 for checking a high level (High) side of the signal, and a low level (Low) of the signal. Vref2 generation circuit 12 for generating a reference level Vref2 for side confirmation, a Vref generation circuit 13 for generating a reference voltage Vref for normal operation, a Vref selection circuit 14 for selecting these reference voltages, and a selected reference A differential buffer 10 that compares the level of the voltage with the received input signal, and a determination circuit 17 that determines the quality of the waveform of the input signal received based on the output of the differential buffer in accordance with a preset reference. Is included.

更に、この素子内蔵の波形判定回路は、素子内部制御回路15と、タイミング設定回路16とを有している。素子内部制御回路15は、各部の動作タイミングを制御するためのものであり、タイミング設定回路16は、判定回路17の判定動作のためのタイミング信号を設定する機能を有している。そして、この判定回路17の判定出力が、全て制御回路8(図2参照)へ出力されるのである。   Further, the waveform determination circuit with a built-in element includes an element internal control circuit 15 and a timing setting circuit 16. The element internal control circuit 15 is for controlling the operation timing of each part, and the timing setting circuit 16 has a function of setting a timing signal for the determination operation of the determination circuit 17. All the determination outputs of the determination circuit 17 are output to the control circuit 8 (see FIG. 2).

終端抵抗の調整は、装置立ち上げ時などの初期設定の調整の一部として実行されるものとし、制御回路8により制御される。素子内部制御回路15の制御も制御回路8により実施される。   The adjustment of the termination resistance is executed as part of the initial adjustment at the time of starting up the apparatus and is controlled by the control circuit 8. The control of the element internal control circuit 15 is also performed by the control circuit 8.

図4に、バス7から受信した入力信号波形の判定基準を示している。図4に示した基準電圧Vref1とVref2とにより、差動バッファ10において入力信号波形の電圧方向の確認を行う。また、基準電圧Vref1とVref2とにより、高レベル期間(時間)tHigh及び低レベル期間(時間)tLow による時間方向の確認を、同様に行うのである。なお、基準電圧Vref1とVref2とは、素子内部制御回路15により設定されるものとする。   FIG. 4 shows the criteria for determining the input signal waveform received from the bus 7. The voltage direction of the input signal waveform is confirmed in the differential buffer 10 by the reference voltages Vref1 and Vref2 shown in FIG. Further, the time direction confirmation by the high level period (time) tHigh and the low level period (time) tLow is similarly performed by the reference voltages Vref1 and Vref2. The reference voltages Vref1 and Vref2 are set by the element internal control circuit 15.

図4の最上部の波形は、出力バッファ回路である送信素子1からバス7へ送信される判定基準波形である。そして、図4の最下部の例2に示す波形は、判定基準波形の正パルスがバス7を経由してある受信素子2へ入力された場合の波形の一例である。この例2の波形で示すように、実際に観測された時間(例では、t3 )が、タイミング設定回路16で設定された時間tHighよりも短いと、判定回路17により、否(NG:No Good)の判定がなされる。   The uppermost waveform in FIG. 4 is a determination reference waveform transmitted from the transmitting element 1 which is an output buffer circuit to the bus 7. The waveform shown in Example 2 at the bottom of FIG. 4 is an example of a waveform when a positive pulse of the determination reference waveform is input to a certain receiving element 2 via the bus 7. As shown in the waveform of this example 2, if the actually observed time (in the example, t3) is shorter than the time tHigh set by the timing setting circuit 16, the decision circuit 17 makes a negative (NG: No Good). ) Is made.

また、図4の中段部の例1で示す波形は、判定基準波形の正パルスがバス7を経由してある受信素子2へ入力された場合の波形の他の例である。この例1の波形で示すように、タイミング設定回路16で設定された時間tHigh内にエッジの数(レベル遷移の回数)が2回より多い場合には、NGの判定がなされる。   The waveform shown in Example 1 in the middle part of FIG. 4 is another example of the waveform when the positive pulse of the determination reference waveform is input to a certain receiving element 2 via the bus 7. As shown in the waveform of Example 1, when the number of edges (number of level transitions) is more than two within the time tHigh set by the timing setting circuit 16, NG is determined.

上記の例1や2では、判定基準波形のパルスが正パルスの場合あるが、負のパルスの場合にも同様であることは明白である。   In Examples 1 and 2 above, the pulse of the determination reference waveform may be a positive pulse, but it is obvious that the same applies to a negative pulse.

そして、各受信素子2の判定回路17から報告されるこれらの判定結果である判定信号が全て良(OK)を示すまで、制御回路8は可変終端抵抗回路9の制御信号を出力して、ステップ的に終端抵抗の抵抗値を順次変化させて、上記の測定を繰り返す。そして、各受信素子2の判定回路17から報告されるこれらの判定結果である判定信号が全て良(OK)を示す場合に、初めてその時の終端抵抗の値を設定値とするのである。   Then, the control circuit 8 outputs the control signal of the variable termination resistor circuit 9 until all the determination signals that are the determination results reported from the determination circuit 17 of each receiving element 2 indicate good (OK). The above measurement is repeated by sequentially changing the resistance value of the termination resistor. Then, when all the determination signals that are the determination results reported from the determination circuit 17 of each receiving element 2 indicate good (OK), the value of the termination resistance at that time is set as the set value for the first time.

図5は、上述した本発明の実施の形態の動作を示すフローチャートである。すなわち、先ず、終端抵抗値を初期値に設定し(ステップS1)、例えば、先ず判定基準用の正パルスをバス7へ送信する(ステップS2)。受信素子2の各々は、このパルスをバス7から受信して(ステップS3)、判定をなすことになる(ステップS4)。この場合の判定処理は、図4において述べたとおりである。   FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the above-described embodiment of the present invention. That is, first, the termination resistance value is set to an initial value (step S1). For example, first, a positive pulse for determination reference is transmitted to the bus 7 (step S2). Each of the receiving elements 2 receives this pulse from the bus 7 (step S3) and makes a determination (step S4). The determination process in this case is as described in FIG.

次に、判定基準用の負パルスをバス7へ送信する(ステップS5)。受信素子2の各々は、このパルスをバス7から受信して(ステップS6)、判定をなすことになる(ステップS7)。この場合の判定処理も、図4において述べたとおりである。   Next, a negative pulse for determination criteria is transmitted to the bus 7 (step S5). Each of the receiving elements 2 receives this pulse from the bus 7 (step S6) and makes a determination (step S7). The determination process in this case is also as described in FIG.

そして、受信素子2の各々は、判定結果を制御回路8へ出力し(ステップS8)、制御回路8は全ての判定結果がOKかどうかを判定する(ステップS9)。全ての判定結果がOKであれば、この時の終端抵抗の値を設定値とし(ステップS10)、そうでなければ、終端抵抗の値を1ステップだけ増加(または減少)させて(ステップS11)、再度ステップS2からの処理を、全ての判定結果がOKとなるまで繰り返すのである。   Each of the receiving elements 2 outputs the determination result to the control circuit 8 (step S8), and the control circuit 8 determines whether all the determination results are OK (step S9). If all the determination results are OK, the termination resistance value at this time is set as a set value (step S10). Otherwise, the termination resistance value is increased (or decreased) by one step (step S11). The process from step S2 is repeated again until all the determination results are OK.

この場合、終端抵抗の値は、より小さいほど定常電流が大きくなるので、全ての判定結果がOKとなった終端抵抗値のなかで、最も大きい値に設定すれば、消費電力と信頼性を両立することができ、より最適である。   In this case, the smaller the termination resistance value, the larger the steady-state current. Therefore, if the termination resistance value is set to the highest value among all termination resistance values, both power consumption and reliability are achieved. Can be more optimal.

なお、可変終端抵抗回路9の抵抗値の制御は、制御回路8からの制御信号をデジタル信号として、このデジタル信号の変更制御によりステップ的に、予め設定された最小値(最大値)から順次最大値(最小値)へ向けて、変更できる構成とするものとする。かかる構成は周知であるので説明を省略する。   The control of the resistance value of the variable termination resistor circuit 9 is performed by using the control signal from the control circuit 8 as a digital signal, and stepping up from a preset minimum value (maximum value) in a stepwise manner by changing the digital signal. It is assumed that the configuration can be changed toward the value (minimum value). Since such a configuration is well known, a description thereof will be omitted.

デジタル的な可変制御の代わりに、アナログ的な可変制御でも良いことは勿論である。すなわち、制御回路8からのデジタル制御信号をアナログ変換して、このアナログ制御信号に応じて可変抵抗値を制御することができる。   Of course, analog variable control may be used instead of digital variable control. That is, the digital control signal from the control circuit 8 can be converted to analog and the variable resistance value can be controlled in accordance with the analog control signal.

このように、バス構造を有している各受信素子に入力される伝送路波形を確認しつつ、全ての受信素子が満足する最適な終端抵抗の値を設定することができるので、実際の伝送路の各種のバラツキを含んだ最適な値に設定され、信号品質の向上が期待できることになる。   In this way, it is possible to set the optimum termination resistance value that satisfies all the receiving elements while confirming the transmission path waveform input to each receiving element having a bus structure. It is set to an optimum value including various variations of the road, and improvement in signal quality can be expected.

上記の実施の形態では、図3に示したように、Vref1発生回路11と、Vref2発生回路12と、Vref 発生回路13と、Vref 選択回路14とを、別に設けているが、これら回路を全て一つのVref 発生回路として、素子内部制御回路15で制御するようにしても良いことは勿論である。   In the above embodiment, as shown in FIG. 3, the Vref1 generation circuit 11, the Vref2 generation circuit 12, the Vref generation circuit 13, and the Vref selection circuit 14 are provided separately. Of course, the element internal control circuit 15 may be used as one Vref generating circuit.

なお、上記の例では、Vref1,Vref2を一定として、tHigh,tLow を設定しているが、Vref1,Vref2を可変として、全ての受動素子からの判定結果がOKとなりかつtHigh,tLow が一番大きいところでの終端抵抗値を設定値としても良く、これにより、最適な終端抵抗値が得られる。   In the above example, Vref1 and Vref2 are constant and tHigh and tLow are set. However, Vref1 and Vref2 are variable, the determination results from all the passive elements are OK, and tHigh and tLow are the largest. By the way, the termination resistance value may be set as a set value, whereby an optimum termination resistance value is obtained.

1 送信素子
2 受信素子
3,4 終端抵抗
7 伝送路
8 制御回路
9 可変終端抵抗回路
11 Vref1発生回路
12 Vref2発生回路
13 Vref (通常時)発生回路
14 Vref 選択回路
15 素子内部制御回路
16 タイミング設定回路
17 判定回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Transmission element 2 Reception element 3, 4 Termination resistance 7 Transmission path 8 Control circuit 9 Variable termination resistance circuit 11 Vref1 generation circuit 12 Vref2 generation circuit 13 Vref (normal time) generation circuit 14 Vref selection circuit 15 Element internal control circuit 16 Timing setting Circuit 17 judgment circuit

Claims (6)

複数の素子が接続された伝送路の終端抵抗調整回路であって、
前記複数の素子の各々に、
前記伝送路に供給された基準用信号を受信してこの受信信号波形と所定基準レベルとを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて前記受信信号波形の良否を予め設定された判定基準に照らして判定する判定手段とを有し、
前記終端抵抗の値を順次可変制御して、前記複数の素子の各々の前記判定手段による判定結果を入力としてこれら判定結果が全て良を示す場合の抵抗値を、前記終端抵抗の値として設定する制御手段を、
含むことを特徴とする終端抵抗調整回路。
A termination resistance adjusting circuit for a transmission line to which a plurality of elements are connected,
For each of the plurality of elements,
Comparison means for receiving a reference signal supplied to the transmission path and comparing the received signal waveform with a predetermined reference level;
Determination means for determining the quality of the received signal waveform based on a predetermined determination criterion based on the comparison result of the comparison means;
The termination resistance value is sequentially variably controlled, and the determination result of each of the plurality of elements is set as an input, and the resistance value when all the determination results indicate good is set as the termination resistance value. Control means,
A termination resistance adjusting circuit comprising:
前記複数の素子の各々における前記判定手段は、
前記受信信号波形と前記基準レベルとを比較して、前記受信信号波形の前記基準信号レベルに対するレベル方向及び時間方向の確認を行って、こられ確認結果を前記判定基準に照らしてその良否を判定することを特徴とする請求項1に記載の終端抵抗調整回路。
The determination means in each of the plurality of elements is:
The received signal waveform is compared with the reference level, and the level direction and time direction of the received signal waveform with respect to the reference signal level are confirmed, and the quality is judged based on the confirmation result. The termination resistance adjusting circuit according to claim 1, wherein:
前記制御手段は、
前記複数の素子の前記判定手段による全ての判定結果が良を示す場合の抵抗値のうちで最大の値を設定することを特徴とする請求項1または2に記載の終端抵抗調整回路。
The control means includes
3. The termination resistance adjusting circuit according to claim 1, wherein a maximum value is set among resistance values in a case where all determination results by the determination unit of the plurality of elements indicate good.
複数の素子が接続された伝送路の終端抵抗調整方法であって、
前記複数の素子の各々において、
前記伝送路に供給された基準用信号を受信してこの受信信号波形と所定基準レベルとを比較する比較工程と、
前記比較工程の比較結果に基づいて前記受信信号波形の良否を予め設定された判定基準に照らして判定する判定工程とを設け、
前記終端抵抗の値を順次可変制御して、前記複数の素子の各々の前記判定工程による判定結果を入力としてこれら判定結果が全て良を示す場合の抵抗値を、前記終端抵抗の値として設定する制御工程を、
含むことを特徴とする終端抵抗調整方法。
A method for adjusting a termination resistance of a transmission line in which a plurality of elements are connected,
In each of the plurality of elements,
A comparison step of receiving a reference signal supplied to the transmission line and comparing the received signal waveform with a predetermined reference level;
A determination step of determining the quality of the received signal waveform based on a predetermined determination criterion based on a comparison result of the comparison step; and
The terminal resistance value is sequentially variably controlled, and the determination result of each of the plurality of elements is set as an input, and the resistance value when all the determination results indicate good is set as the termination resistance value. Control process,
A terminal resistance adjusting method comprising:
前記複数の素子の各々における前記判定工程は、
前記受信信号波形と前記基準レベルとを比較して、前記受信信号波形の前記基準信号レベルに対するレベル方向及び時間方向の確認を行って、こられ確認結果を前記判定基準に照らしてその良否を判定することを特徴とする請求項4に記載の終端抵抗調整方法。
The determination step in each of the plurality of elements includes:
The received signal waveform is compared with the reference level, and the level direction and time direction of the received signal waveform with respect to the reference signal level are confirmed, and the quality is judged based on the confirmation result. The termination resistance adjusting method according to claim 4, wherein:
前記制御工程は、
前記複数の素子の前記判定工程による全ての判定結果が良を示す場合の抵抗値のうちで最大の値を設定することを特徴とする請求項4または5に記載の終端抵抗調整方法。
The control step includes
The termination resistance adjusting method according to claim 4, wherein a maximum value is set among resistance values when all the determination results of the determination steps of the plurality of elements indicate good.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2016010137A (en) * 2014-06-26 2016-01-18 株式会社デジタル Terminal resistance value setting device
US9571098B2 (en) 2014-08-11 2017-02-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Signal receiving circuits including termination resistance having adjustable resistance value, operating methods thereof, and storage devices therewith

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