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JP2013128100A - コンデンサ用封止部材と、コンデンサの製造方法 - Google Patents

コンデンサ用封止部材と、コンデンサの製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】封止部材の封止性を安定して高めることを目的とする。
【解決手段】コンデンサ用封止部材は弾性材料で構成され、軸方向に伸びた円柱状の形状を有し、この軸方向に垂直な断面は円形である。また軸方向に平行に一対の貫通孔が設けられている。封止部材の軸方向に垂直な断面における貫通孔の形状は、封止部材の円周に向けて突出した第一の弧と、封止部材の中心に向けて突出し、第一の弧よりも曲率が小さい第二の弧とで構成されている。
【選択図】図2

Description

本発明は各種電子機器、電気機器、産業機器、自動車用機器等に使用されるコンデンサの中で、特に電解液を用いたコンデンサおよびこれに用いられる封止部材に関するものである。
図4はこの種の従来のコンデンサ1の一例としてのアルミ電解コンデンサの構成を示した一部切り欠き斜視図である。このコンデンサ1は、正負一対の電極箔2、3を、セパレータ4を介して巻回したコンデンサ素子5と、このコンデンサ素子5および電解液を収容した有底筒状のケース6と、このケース6の開口部を封止した封止部材7と、正負の電極箔2、3とそれぞれ接続されたリード端子8、9と、を備えている。
封止部材7には垂直方向に二つの孔10が設けられ、これらの孔10にそれぞれのリード端子8、9が挿入される。リード端子8、9や孔10の水平断面形状は、円形が一般的である。
封止部材7は、ケース6の開口部近傍6Aの絞り加工と開口端6Bのカーリング加工により押圧され、ケース6の開口部を封止している。
封止部材7としては、一般的に電解液の漏れを抑制するため、封止性の高いゴム材が用いられる。
ここで液漏れはリード端子8、9と封止部材7の孔10との界面から発生することが多い。したがって従来から、リード端子8、9と封止部材7の孔10との密着性を高め、より長期信頼性を高める構成が検討されている。
なお、上記技術に関連する技術文献として、下記特許文献1、2が挙げられる。
特公昭60−036094号公報 特開昭60−224212号公報
近年、各種電子機器等の品質の高信頼化や、使用する電子部品の配置変更による小型化が進展してきており、コンデンサに対しても、より長寿命化、高耐熱化していくことを求められてきている。
しかし、上記従来のコンデンサ1では、より長寿命化、高耐熱化していくと、リード端子8、9と封止部材7の孔10との密着性が不足し、リード端子8、9と封止部材7の孔10との界面から液漏れが発生してしまうという恐れがあった。
この液漏れの主な理由として、コンデンサ1が、長期間に渡って、高温度等の苛酷な環境下に晒された場合など(例えば、コンデンサが、自動車のエンジンルーム内に設置される電子機器に使用され、135〜150℃付近の高温環境下に晒される場合)、ゴム材からなる封口部材7自身の特性劣化が進行し、ケース6の開口部近傍6Aの絞り加工により封口部材7に発生していた応力が減少してしまうことが挙げられる。また、孔10の内壁との接触位置によって、リード端子8、9が受ける応力負荷が異なっており、初期的に応力負荷がかかりにくい箇所で液漏れが発生しやすいことが判明した。
ここで、図4に示す従来のコンデンサ1において、ケース6の開口部近傍6Aを絞り加工した際の、リード端子8、9と封止部材7の接触位置と応力負荷との関係をシミュレーションで算出した結果を(表1)に示した。
なお、シミュレーション時のパラメータとしては、封止部材7の弾性率、ポアソン比、リード端子8、9のヤング率、ポアソン比、絞り加工前後の実際のケース6の形状変化等が挙げられる。従来の封止部材7として、孔10は真円形状とした。
また、図3は、リード端子8、9と封止部材7の接触面における応力を算出した算出位置を示す。
Figure 2013128100
(表1)に示すように、リード端子8、9と封止部材7の接触面、すなわちリード端子8、9と孔10の内壁との接触位置によって、応力負荷は異なり、封止部材7の外側に最も近い算出位置No.1、6において大きく、封止部材7の内側(中心側)に最も近い算出位置No.5、10において小さいことが分かる。
つまり、従来の封止部材7では、絞り加工時に外側から大きな応力が掛かり、封止部材7が大きく歪むため、リード端子8、9は孔10内で、外側から大きな接触面圧を受ける。一方で、内側では封止部材の歪が小さいため、応力負荷が小さくなる。これにより孔10の内壁との接触位置(外側か内側か)によって応力負荷が不均一になり、リード端子8、9と孔10との密着性が不安定になる。
そこで本発明は、孔10の内壁との接触位置による応力負荷のばらつきを低減し、リード端子と封止部材との密着性を安定して向上させることを目的とする。
この目的を達成するため本発明は、弾性材料で構成され、軸方向に伸びた円柱状の形状を有し、前記軸方向に垂直な断面は円形であり、前記軸方向に平行に一対の貫通孔が設けられ、前記一対の貫通孔のそれぞれの、前記軸方向に垂直な断面の形状は、前記円形の円周に向けて突出した第一の弧と、前記円形の中心に向けて突出し、前記第一の弧よりも曲率が小さい第二の弧とで構成された、コンデンサ用封止部材としたものである。
これにより本発明は、孔の内壁との接触位置による応力負荷のばらつきを低減し、リード端子と孔との密着性を安定して向上させることができる。
その理由は、孔の水平断面形状を、外側より内側を小さくすることにより、内側における応力負荷を増やすことができるからである。
これにより本発明は、孔の内壁との接触位置による応力負荷のばらつきを低減し、リード端子と孔との密着性を安定して向上させることができる。
本発明の実施の形態におけるコンデンサの一部切り欠き斜視図 (a)本発明の実施の形態における封止部材の軸方向に垂直な断面図、(b)同封止部材の軸方向に平行な断面図 従来のリード端子と封止部材の接触面における応力を算出した位置を示す図 従来のコンデンサの一部切り欠き斜視図
本発明の実施の形態における封止部材及びこれを用いたコンデンサの製造方法について図面を参照しながら説明する。図1は本発明の実施の形態におけるコンデンサの一例である、電解コンデンサ(以下、コンデンサ)11の一部切り欠き斜視図である。コンデンサ11は、コンデンサ素子15と、図示しない電解液と、ケース16と、封止部材17とを有する。
コンデンサ素子15は正極である電極箔12と、負極である電極箔13と、セパレータ14と、一対のリード端子18、19とを有する。セパレータ14は電極箔12と電極箔13の間に介在し、電極箔13は電極箔12に対向している。リード端子18、19はそれぞれ、電極箔12、13に接続されている。リード端子18、19は互いに所定の間隔で平行に延出している。電解液はコンデンサ素子15に含浸している。なお図1の構成ではセパレータ14を介して電極箔12、13が巻回されているが、この構成に限定されない。筒状のケース16は開口部と底とを有する。ケース16はコンデンサ素子15と電解液とを収容している。封止部材17はケース16の開口部を封止している。リード端子18、19は封止部材17を貫通して外部に引き出されている。
次に、各構成部材について詳細に説明する。電極箔12、13には、例えばエッチング処理によって実効表面積を拡大させたアルミニウム箔を用いる。電極箔12の表面にはさらに、化成処理によって誘電体酸化皮膜が形成されている。セパレータ14には、セルロース、クラフト、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリフェニレンサルファイド、ナイロン、芳香族ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド、レーヨン、ガラス質等を含有する不織布を用いることができる。リード端子18、19は電極箔12、13との接続性を考慮してアルミ線材で形成されている。
電解液の溶媒には、水、エチレングリコール、γブチロラクトン、スルホランなどを用いることができる。また、電解質としてホウ酸やアジピン酸やフタル酸などを用いることができる。
ケース16はアルミやステンレスなどの金属で形成できる。封止部材17は、ブチルゴムやシリコンゴムやフッ素ゴムやエチレンプロピレンゴムやニトリルゴムなどのゴム材からなり、円柱状の形状を有している。すなわち、封止部材17は弾性材料で構成され、軸方向に垂直な断面は円形である。例えば、ケース16の直径は6.3mm、高さは7.3mmである。また封止部材17の厚みは1.5mm程度である。
次に、封止部材17についてさらに詳細に説明する。図2(a)はコンデンサ11における封止部材17の軸方向に垂直な断面図である。図2(b)は封止部材17の軸方向に平行な断面図である。図2(a)、図2(b)は封止部材17の圧縮前の状態を示している。封止部材17には、予めリード端子18、19を挿入するための貫通孔(以下、孔)20A、20Bが形成されている。孔20A、20Bは封止部材17の軸方向に平行に、封止部材17を貫通している。
封止部材17は、例えば以下のようにして作製することができる。まず未架橋のゴムシートに孔20A、20Bと同形状のピンを立て、あるいはピンを立てた金型内に未架橋のゴム材を充填し、その後押圧成型する。そして、金型ごと加熱して架橋させ、所望の形状に打ち抜き加工する。ピンによって孔20A、20Bが形成される。なお、リード端子18、19の、孔20A、20Bに挿入される部分は円柱形状であり、その中心軸が挿入時の軸中心(挿入軸21)となる。
図2(a)、図2(b)において、リード端子18、19の挿入軸21から外側へ向けて孔20A、20Bの内壁に至るまでの長さをd1とする。またリード端子18、19の挿入軸21から内側へ向けて孔20A、20Bの内壁に至るまでの長さをd2とする。このとき、封止部材17の軸方向に垂直な断面における孔20A、20Bでは、d1より、d2の方が短い。
より具体的には、孔20A、20Bの内壁は、挿入軸21を通り孔20A、20Bが並列する方向に対して垂直な線L1に対し、封止部材17の外側に近い側が半円である。一方、内側(封止部材17の断面の中心)に近い形状は半円の弧よりも短い弧で形成されている。すなわち孔20A、20Bのそれぞれの、封止部材17の軸方向に垂直な断面の形状は、第一の弧22と、第一の弧22よりも曲率が小さい第二の弧23とで構成されており、この第一の弧22と第二の弧23とが円滑に接続されている。第一の弧22は封止部材17の断面の円形の円周に向けて突出し、第二の弧は円形の中心に向けて突出している。
なおリード端子18、19の挿入軸21に垂直な断面の形状は円形であり、その直径は、孔20A、20Bの外側の半円(第一の弧22)よりやや大きい。
次に、コンデンサ11の製造方法を簡単に説明する。まず、コンデンサ素子15を準備する。コンデンサ素子15は前述のように電極箔12、13とセパレータ14とリード端子18、19とを有する。負極である電極箔13は、正極である電極箔12に対向している。セパレータ14は電極箔12、13の間に介在している。リード端子18、19はそれぞれ電極箔12、13に接続されている。
コンデンサ素子15を作製するには、まず電極箔12、13にそれぞれリード端子18、19を接続する。この状態の電極箔12、13の間にセパレータ14を挿入する。これらを巻回軸に沿って巻き取り、外周をテープなどで固定し、巻回軸を取り外すことで巻回型のコンデンサ素子15を作製することができる。
次にコンデンサ素子15に電解液を含浸させ、ケース16にコンデンサ素子15と電解液とを収容する。この際、多量の電解液にコンデンサ素子15を浸してから引き上げてケース16にコンデンサ素子15を挿入する。あるいは、ケース16内に予め電解液を注入しておき、その後にケース16にコンデンサ素子15を挿入してもよい。逆にケース16にコンデンサ素子15を挿入した後に電解液を注入してもよい。
そして封止部材17の孔20A、20Bにそれぞれリード端子18、19を挿入するとともに、封止部材17をケース16の開口部に配置する。その後、ケース16の開口部付近の外周を内側に向けて絞り加工して内側に突出する開口部近傍16Aを形成する。これにより封止部材17を径方向に圧縮してケース16の開口部を封止する。またケース16の開口端16Bをカーリング加工する。この加工により、コンデンサ素子15をケース16内に確実に封止する。
以上のように、封止部材17及びこれを用いたコンデンサ11では、リード端子18、19と封止部材17に設けられた孔20A、20Bの内壁との接触位置による応力負荷のばらつきを低減することができる。そのためリード端子18、19と孔20A、20Bの内壁との密着性を安定して向上させることができる。コンデンサ11が、長期間に渡って、高温度等の苛酷な環境下に晒された場合には、封止部材17の材料劣化が進行し、ケース16の開口部近傍16Aにより封止部材17に発生していた応力が減少する。このような場合でも、封止部材17には局部的に応力負荷が弱い箇所がない。そのため、電解液の液漏れ発生を抑制することができる。
一方、図4に示す従来の封止部材7を用いたコンデンサ1では、リード端子8、9と封止部材7に設けられた孔10の内壁との接触位置による応力負荷のばらつきがある。そのため、応力負荷の小さい方に十分な応力負荷を与えようとすると、絞り加工を深くする必要がある。その結果、ケース6の開口部近傍6Aに破断を生じたり、封止部材7に亀裂を生じたりしてしまう虞がある。また、孔10の直径を小さくして、応力負荷の小さい方に十分な応力負荷を与えようとすると、リード端子8、9を孔10に挿入しにくくなったり、封止部材7に亀裂を生じたりする虞がある。
以下、具体的な実施例について説明をする。
(実施例)
本実施の形態におけるコンデンサの実施例として、定格電圧35V、初期静電容量33μF(許容公差±20%)の電解コンデンサ(直径6.3mm、高さ5.8mm)を作製する。
まず、図1に示すように、所定の幅と長さを有する電極箔12と、電極箔13と、セパレータ14とを用意する。そして、リード端子18、19の一方の端部をそれぞれ電極箔12、13に針カシメ等によって接続する。その後、電極箔12、13の間にセパレータ14を介在させてロール状に捲回し、その外周側面を絶縁テープで捲き止めて固定して略円筒形のコンデンサ素子15を形成する。
電極箔12としては、純度99.99%以上のアルミニウム箔を用いる。このアルミニウム箔にエッチング処理を施してその表面積を拡大し、さらに、陽極酸化処理を施し、誘電体である酸化アルミニウム層(陽極酸化皮膜)を形成する。このように処理したアルミニウム箔を方形状に裁断して所定の投影面積となるように調整して電極箔12を予め作製する。
電極箔13としては、純度99.99%以上のアルミニウム箔を用いる。このアルミニウム箔にエッチング処理を施してその表面積を拡大し、さらに、化成処理(化成電圧2V)を施し、アルミニウム箔の表面に酸化アルミニウム層を形成する。このように処理したアルミニウム箔を方形状に裁断し、その投影面積が電極箔12に対向する所定の面積となるように調整して電極箔13を予め作製する。
セパレータ14としては、厚み40μmのセルロース紙を用いる。このセルロース紙を電極箔12と電極箔13との接触を防止できる所定の面積となるように裁断してセパレータ14を予め準備する。
次に、ゴム材で形成された封止部材17に設けられた孔20A、20Bにコンデンサ素子15から引出されたリード端子18、19をそれぞれ挿通させ、コンデンサ素子15に封止部材17を装着する。
リード端子18、19は、アルミニウムを含む金属製の引き出し電極と、この引き出し電極の第1端に、錫メッキを有する金属ワイヤを溶接した構成を有する。また、引き出し電極としては、直径0.8mmの丸棒状のアルミニウム線を用い、この引き出し電極の第2端を偏平状に加工する。丸棒状のアルミニウム線の部分を孔20A、20Bに配置するようにし、偏平状に加工した部分を電極箔12、13に接続する。
封止部材17は、ブチルゴムを主体としたゴム材で形成されている。封止部材17の軸方向に垂直な断面における孔20A、20Bの形状は、図2(a)に示す形状である。すなわち、リード端子18、19の挿入軸21、すなわちリード端子18、19の中心軸から外側へ向けて孔20A、20Bの内壁に至るまでの長さd1を0.35mm、挿入軸21から内側へ向けて孔20A、20Bの内壁に至るまでの長さd2を0.25mmとしている。また孔20A、20Bの内壁は、挿入軸21を通り孔20A、20Bの並列方向に対し垂直な線L1に対し、封止部材17の外側に近い側が半円であり、内側(中心)に近い形状は半円の弧よりも短い弧で形成している。またリード端子18、19の垂直断面形状は円形状であり、挿入軸21を中心とした外側の半円は、孔20A、20Bの外側の半円よりやや大きい相似形である。
一方、電解液を準備し、この電解液をケース16内に予め注入しておく。電解液は、溶質としてはフタル酸エチルジメチルアミン塩を含み、溶媒としてγ−ブチロラクトン、スルホランを含んでいる。
そして、ケース16内にコンデンサ素子15を挿入してコンデンサ素子15に電解液を含浸させると共に、コンデンサ素子15に装着した封止部材17をケース16の開口部に配置する。
次に、ケース16の開口部付近の外周側面からケース16を巻き締めて開口部近傍16Aを形成し、封止部材17に圧縮応力を発生させることによってケース16の開口部を封止する。
その後、外部に導出されたリード端子18、19間に所定の電圧を印加して再化成を行い、実施例の電解コンデンサを作製する。
(比較例)
比較例の電解コンデンサは、実施例と比較して封止部材が異なる。すなわち比較例で用いた封止部材7では、図4に示すように、封止部材7の軸方向に垂直な断面における孔10の形状は、真円形状である。そしてリード端子8、9の挿入軸、すなわちリード端子8、9の中心軸から外側へ向けて孔10の内壁に至るまでの長さは0.35mmである。リード端子8、9の挿入軸から内側へ向けて孔10の内壁に至るまでの長さも0.35mmである。これ以外は実施例と同様とし、定格電圧35V、初期静電容量33μFの電解コンデンサを作製している。
次に、実施例および比較例の電解コンデンサを各30個ずつ作製し、高温負荷試験も実施した結果を説明する。高温負荷試験では、各電解コンデンサに定格電圧を印加しながら145℃で1000時間放置している。この試験の前後において、リード端子と封止部材の孔との界面からの液漏れを目視で調べ、液漏れが発生した個数を(表2)に示している。
Figure 2013128100
(表2)からわかるように、実施例の電解コンデンサでは、高温負荷試験後において、30個全てにおいて液漏れは発生していない。これに対し、比較例に示す従来の電解コンデンサでは、高温負荷試験後において、30個中20個が、リード端子8またはリード端子9と封止部材7の孔10との界面から液漏れしている。
この試験結果から、実施例および比較例の電解コンデンサ共に、初期的にはリード端子と封止部材の孔との界面からの液漏れを抑制できることがわかる。しかしながら、比較例の電解コンデンサでは、高温環境下に晒されて封止部材7が劣化すると、封止部材7の応力負荷が減少し、その影響を受けて液漏れが発生し易いことがわかる。比較例の電解コンデンサは、封止部材7の孔10の内壁とリード端子8、9の接触位置によって応力負荷が不均一である。そのため、局部的に応力負荷が弱い箇所から電解液の液漏れを生じている。
一方、実施例の電解コンデンサでは、孔20A、20Bの形状を上記構成とすることで、封止部材17の軸方向に垂直な断面における孔20A、20Bが、外側より内側が小さくなっている。この形状により、内側における封止部材17の歪が大きくなり、リード端子18、19の接触面圧を増やすことができる。そのため、孔20A、20Bの内壁との接触位置による応力負荷のばらつきが低減され、局部的に応力負荷が弱い箇所をなくすことができる。その結果、実施例の電解コンデンサは、高温環境下に晒されて封止部材17が劣化し、封止部材17の応力負荷が減少しても、液漏れの発生が防止できる。
本発明によるコンデンサは、封止部材による封止性を高めることにより、電解液の液漏れおよびドライアップを抑制することができるという効果を有し、特に、高温環境下での使用が要求される分野のコンデンサとして有用である。
11 コンデンサ
12 電極箔
13 電極箔
14 セパレータ
15 コンデンサ素子
16 ケース
16A 開口部近傍
16B 開口端
17 封止部材
18 リード端子
19 リード端子
20A 孔
20B 孔
21 挿入軸
22 第一の弧
23 第二の弧

Claims (3)

  1. 弾性材料で構成され、軸方向に伸びた円柱状の形状を有し、前記軸方向に垂直な断面は円形であり、
    前記軸方向に平行に一対の貫通孔が設けられ、
    前記一対の貫通孔のそれぞれの、前記軸方向に垂直な断面の形状は、前記円形の円周に向けて突出した第一の弧と、前記円形の中心に向けて突出し、前記第一の弧よりも曲率が小さい第二の弧とで構成された、
    コンデンサ用封止部材。
  2. 正極と、前記正極に対向した負極と、前記正極と前記負極との間に介在するセパレータと、前記正極と前記負極とにそれぞれ接続され、互いに所定の間隔で平行に延出した一対のリード端子と、を含むコンデンサ素子を準備するステップと、
    前記コンデンサ素子に電解液を含浸するステップと、
    開口部と底とを有する筒状のケースに前記コンデンサ素子と前記電解液とを収容するステップと、
    弾性材料で構成され、軸方向に伸びた円柱状の形状を有し、前記軸方向に平行に一対の貫通孔が設けられた封止部材の前記一対の貫通孔にそれぞれ、前記一対のリード端子を挿入するとともに、前記封止部材を前記ケースの前記開口部に配置するステップと、
    前記ケースの外周を内側に向けて絞り加工することで前記封止部材を径方向に圧縮して前記ケースの前記開口部を封止するステップと、を備え、
    前記封止部材の圧縮前の状態において、前記一対の貫通孔のそれぞれの、前記軸方向に垂直な断面では、前記リード端子の挿入軸から外側に向けて前記孔の内壁に至るまでの長さより、前記リード端子の挿入軸から内側へ向けて前記孔の内壁に至るまでの長さの方が短い、
    コンデンサの製造方法。
  3. 正極と、前記正極に対向した負極と、前記正極と前記負極との間に介在するセパレータと、前記正極と前記負極とにそれぞれ接続され、互いに所定の間隔で平行に延出した一対のリード端子と、を含むコンデンサ素子を準備するステップと、
    前記コンデンサ素子に電解液を含浸するステップと、
    開口部と底とを有する筒状のケースに前記コンデンサ素子と前記電解液とを収容するステップと、
    弾性材料で構成され、軸方向に伸びた円柱状の形状を有し、前記軸方向に垂直な断面は円形であり、前記軸方向に平行に一対の貫通孔が設けられた封止部材の前記一対の貫通孔にそれぞれ、前記一対のリード端子を挿入するとともに、前記封止部材を前記ケースの前記開口部に配置するステップと、
    前記ケースの外周から内側に向けて溝を形成することで前記封止部材を径方向に圧縮して前記ケースの前記開口部を封止するステップと、を備え、
    前記封止部材の圧縮前の状態において、前記一対の貫通孔のそれぞれの、前記軸方向に垂直な断面の形状は、前記円形の円周に向けて突出した第一の弧と、前記円形の中心に向けて突出し、前記第一の弧よりも曲率が小さい第二の弧とで構成された、
    コンデンサの製造方法。
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