JP2013168575A - Elastic circuit board - Google Patents
Elastic circuit board Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013168575A JP2013168575A JP2012031854A JP2012031854A JP2013168575A JP 2013168575 A JP2013168575 A JP 2013168575A JP 2012031854 A JP2012031854 A JP 2012031854A JP 2012031854 A JP2012031854 A JP 2012031854A JP 2013168575 A JP2013168575 A JP 2013168575A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stretchable
- thin film
- base material
- organic
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Thin Film Transistor (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
【課題】有機薄膜トランジスタ素子を有する回路基板であって、曲面追従性に優れ、人体や曲面を有する部材にも取り付けが可能であり、しかも、そのような人体や曲面を有する部材に取り付けても、有機薄膜トランジスタ素子の破損や基板からの脱落を防止できる回路基板を提供する。
【解決手段】本発明の伸縮性回路基板は、基板と、基板上に形成された厚みが1〜1.2μmのパリレン薄膜層と、パリレン薄膜層上に形成された複数の有機薄膜トランジスタ素子と、該複数の有機薄膜トランジスタ素子間を接続する伸縮性導体とを有する伸縮性回路基板であって、前記基板は、(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーとアクリル系モノマーとを含有するエネルギー線硬化性組成物の硬化物からなる伸縮性母材中に特定のポリマー材料からなる難伸長部が部分的に且つ一体的に形成されており、前記複数の有機薄膜トランジスタ素子が前記基板の難伸長部上に載置されている。
【選択図】図1A circuit board having an organic thin film transistor element, having excellent curved surface followability, can be attached to a human body or a member having a curved surface, and even if attached to such a human body or a member having a curved surface, Provided is a circuit board capable of preventing breakage of an organic thin film transistor element and falling off from a substrate.
A stretchable circuit board according to the present invention includes a substrate, a parylene thin film layer having a thickness of 1 to 1.2 μm formed on the substrate, and a plurality of organic thin film transistor elements formed on the parylene thin film layer. An elastic circuit board having a stretchable conductor connecting the plurality of organic thin film transistor elements, wherein the board contains a (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and an acrylic monomer. The stretchable base material made of the cured product is formed with a partially stretched part made of a specific polymer material partially and integrally, and the plurality of organic thin film transistor elements are placed on the difficultly stretched part of the substrate Has been.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は伸縮性回路基板に関する。より詳細には、本発明は有機薄膜トランジスタ素子を有する伸縮可能な回路基板に関する。 The present invention relates to a stretchable circuit board. More particularly, the present invention relates to a stretchable circuit board having an organic thin film transistor element.
薄膜トランジスタ(TFT)は、液晶ディスプレイなどのフラット・パネルディスプレイ装置において、各ピクセルの表示動作を制御するスイッチング素子、各ピクセルを駆動させる駆動素子として利用されている。また、プラスチック基板を利用するため、薄膜トランジスタの動作層に利用される半導体薄膜層として、低温条件下で作製が可能な有機半導体の薄膜層を用いる有機薄膜トランジスタ(OTFT)の開発も進められている。 A thin film transistor (TFT) is used as a switching element for controlling the display operation of each pixel and a driving element for driving each pixel in a flat panel display device such as a liquid crystal display. In addition, since a plastic substrate is used, an organic thin film transistor (OTFT) using an organic semiconductor thin film layer that can be manufactured under a low temperature condition is being developed as a semiconductor thin film layer used for an operation layer of the thin film transistor.
特許文献1には、有機薄膜トランジスタの製造方法として、基板上にゲート電極を形成する工程と、前記前記ゲート電極表面を被覆するゲート絶縁膜を基板上に形成する工程と、前記ゲート絶縁膜上に有機半導体膜を形成する工程と、前記有機半導体膜上にソース電極およびドレイン電極を形成する工程を有し、前記有機半導体膜の形成工程では、真空蒸着法を用いて有機半導体膜の形成を行い、前記ソース電極およびドレイン電極の形成工程では、超微細インクジェット印刷装置を用いて金属ナノ粒子分散液を所定のパターン形状に塗布して、金属ナノ粒子分散液塗布層を形成し、該金属ナノ粒子分散液塗布層を加熱焼成処理して、金属ナノ粒子の焼結体層からなるソース電極およびドレイン電極を形成することを特徴とする有機薄膜トランジスタの製造方法が開示されている。また、この文献には、ゲート絶縁膜上に有機半導体の薄膜層を形成する際、予め、ゲート絶縁膜表面に、有機半導体を構成する有機化合物の「自己組織化単分子膜(Self Assembled Monolayer:SAM)」を形成する手法を利用することが好ましいと記載されている。また、この文献には、基板として、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリイミドなどのプラスチック材料で形成される基板を用いることができると記載されている。 In Patent Document 1, as a method of manufacturing an organic thin film transistor, a step of forming a gate electrode on a substrate, a step of forming a gate insulating film covering the surface of the gate electrode on the substrate, A step of forming an organic semiconductor film, and a step of forming a source electrode and a drain electrode on the organic semiconductor film, wherein the organic semiconductor film is formed by vacuum evaporation in the organic semiconductor film forming step. In the step of forming the source electrode and the drain electrode, the metal nanoparticle dispersion liquid is applied in a predetermined pattern shape using an ultrafine inkjet printing apparatus to form a metal nanoparticle dispersion liquid coating layer, and the metal nanoparticles An organic thin film transistor characterized by forming a source electrode and a drain electrode composed of a sintered body layer of metal nanoparticles by heating and baking the dispersion coating layer. Method for producing a register is disclosed. Further, in this document, when a thin film layer of an organic semiconductor is formed on a gate insulating film, a “self-assembled monolayer (Self Assembled Monolayer: SAM) "is preferably used. This document also describes that a substrate formed of a plastic material such as polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, or polyimide can be used as the substrate.
しかしながら、基板として上記のポリエチレンテレフタレートやポリイミド等の材料で形成された基板を用いる場合には、基板に伸縮性がないため、有機薄膜トランジスタ素子を有する回路基板を人体や曲面を有する部材に取り付けることが困難である。一方、基板として伸縮性材料からなる基板を用いる場合には、曲面には追従するものの、有機薄膜トランジスタ素子に応力が働き、該素子が破損したり、基板から脱落するおそれがある。 However, when a substrate formed of a material such as polyethylene terephthalate or polyimide is used as the substrate, since the substrate is not stretchable, a circuit substrate having an organic thin film transistor element can be attached to a human body or a member having a curved surface. Have difficulty. On the other hand, when a substrate made of a stretchable material is used as the substrate, although it follows a curved surface, a stress acts on the organic thin film transistor element, and the element may be damaged or fall off from the substrate.
従って、本発明の目的は、有機薄膜トランジスタ素子を有する回路基板であって、曲面追従性に優れ、人体や曲面を有する部材にも取り付けが可能であり、しかも、そのような人体や曲面を有する部材に取り付けても、有機薄膜トランジスタ素子の破損や基板からの脱落を防止できる回路基板を提供することにある。 Accordingly, an object of the present invention is a circuit board having an organic thin film transistor element, which has excellent curved surface followability, can be attached to a human body or a member having a curved surface, and has such a human body or curved surface. An object of the present invention is to provide a circuit board that can prevent the organic thin film transistor element from being damaged or coming off from the board even if it is attached to the board.
本発明者らは、上記の目的を達成するため鋭意検討した結果、有機薄膜トランジスタ素子を有する回路基板において、基板として特定構造のシート状伸縮性有機基材を用いると、人体や曲面を有する部材にも取り付けが可能であり、しかも、そのような人体や曲面を有する部材に取り付けても、有機薄膜トランジスタ素子の破損や基板からの脱落を防止できる回路基板が得られることを見出し、本発明を完成した。 As a result of intensive studies to achieve the above object, the present inventors have found that in a circuit board having an organic thin film transistor element, when a sheet-like stretchable organic base material having a specific structure is used as a board, a member having a human body or a curved surface is used. In addition, the present inventors have found that a circuit board capable of preventing damage to the organic thin film transistor element and falling off from the substrate can be obtained even when attached to such a human body or a member having a curved surface. .
すなわち、本発明は、基板と、基板上に形成された厚みが1〜1.2μmであるパリレン薄膜層と、パリレン薄膜層上に形成された複数の有機薄膜トランジスタ素子と、該複数の有機薄膜トランジスタ素子間を接続する伸縮性導体とを有する伸縮性回路基板であって、前記基板は、(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーとアクリル系モノマーとを含有するエネルギー線硬化性組成物の硬化物からなる伸縮性母材中に、多官能アクリル系モノマーに由来する構成単位をポリマーの全構成単位に対して50重量%以上含むアクリル系ポリマーを含有するポリマー材料からなり、表面形状又は伸縮性有機基材表面を投影面としたときの投影形状が略円形である難伸長部が部分的に且つ一体的に形成されているシート状伸縮性有機基材であり、前記パリレン薄膜層は、前記難伸長部側の面上に形成されており、かつ、前記有機薄膜トランジスタ素子は、p型半導体ジナフト[2,3−b:2′,3′−f]チエノ[3,2−b]チオフェン(DNTT)を用いたボトムゲートトップコンタクト型 2V駆動薄膜トランジスタ(TFT)であり、かつ、前記伸縮性導体は、単層カーボンナノチューブ、ゴム及びイオン性液体からなるカーボンナノチューブゴム組成物により形成された伸縮性導線であり、かつ、前記複数の有機薄膜トランジスタ素子が前記基板の難伸長部上に前記パリレン薄膜層を介して載置されていることを特徴とする伸縮性回路基板を提供する。 That is, the present invention relates to a substrate, a parylene thin film layer having a thickness of 1 to 1.2 μm formed on the substrate, a plurality of organic thin film transistor elements formed on the parylene thin film layer, and the plurality of organic thin film transistor elements. A stretchable circuit board having a stretchable conductor connecting between the stretchable circuit boards, the board being stretchable made of a cured product of an energy ray curable composition containing a (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and an acrylic monomer The surface shape or stretchable organic base material surface is made of a polymer material containing an acrylic polymer containing 50% by weight or more of a structural unit derived from a polyfunctional acrylic monomer with respect to all structural units of the polymer Is a sheet-like stretchable organic base material in which a difficult-to-extend portion having a substantially circular projection shape when formed as a projection surface is partially and integrally formed The parylene thin film layer is formed on the surface on the hardly elongated portion side, and the organic thin film transistor element is a p-type semiconductor dinaphtho [2,3-b: 2 ′, 3′-f] thieno [3]. , 2-b] bottom gate top contact type 2V driving thin film transistor (TFT) using thiophene (DNTT), and the stretchable conductor is a carbon nanotube rubber composition comprising single-walled carbon nanotube, rubber and ionic liquid A stretchable circuit board, wherein the stretchable conductive wire is formed of an object, and the plurality of organic thin film transistor elements are placed on the difficultly stretched portion of the substrate via the parylene thin film layer. provide.
前記シート状伸縮性有機基材の難伸長部と伸縮性母材の界面近傍において、伸び特性がグラデーションをなしているのが好ましい。 In the vicinity of the interface between the difficultly stretched portion of the sheet-like stretchable organic base material and the stretchable base material, it is preferable that the stretch properties have gradation.
本発明の伸縮性回路基板によれば、基板として、特定の組成物からなる伸縮性母材中に特定構造からなる難伸長部が部分的且つ一体に形成されたシート状伸縮性有機基材を用いているため、伸縮性及び曲面追従性に優れ、人体や曲面を有する部材等に取り付けることができるとともに、そのような人体や曲面を有する部材等に取り付けても、前記シート状伸縮性有機基材の難伸長部上に有機薄膜トランジスタ素子が載置されているので、有機薄膜トランジスタ素子に応力がかからず、該素子の破損や基板からの脱落を防止できる。 According to the stretchable circuit board of the present invention, as a substrate, a sheet-like stretchable organic base material in which a stretchable portion having a specific structure is partially and integrally formed in a stretchable base material made of a specific composition. Therefore, the sheet-like stretchable organic substrate can be attached to a human body or a member having a curved surface, and can be attached to a member having a human body or a curved surface. Since the organic thin film transistor element is placed on the difficultly stretched portion of the material, the organic thin film transistor element is not stressed, and the element can be prevented from being damaged or detached from the substrate.
本発明の伸縮性回路基板は、基板と、基板上に形成されたパリレン薄膜層と、パリレン薄膜層上に形成された複数の有機薄膜トランジスタ素子と、該複数の有機薄膜トランジスタ素子間を接続する伸縮性導体とを有している。 The stretchable circuit board of the present invention includes a substrate, a parylene thin film layer formed on the substrate, a plurality of organic thin film transistor elements formed on the parylene thin film layer, and a stretchability for connecting the plurality of organic thin film transistor elements. And a conductor.
図1は本発明の伸縮性回路基板の一例を示す有機薄膜トランジスタ素子搭載部を模式的に示す概略断面図である。この例では、基板1上にパリレン薄膜層4が形成され、該パリレン薄膜層4上に有機薄膜トランジスタ素子10が搭載されている。有機薄膜トランジスタ素子10は、パリレン薄膜層4に接しているゲート電極5と、前記ゲート電極5表面を被覆するゲート絶縁膜6と、前記ゲート絶縁膜6上に形成された自己組織化単分子膜7と、前記自己組織化単分子膜7上に形成された有機半導体膜8と、前記有機半導体膜8上に形成されたソース電極9a及びドレイン電極9bとで構成されている。 FIG. 1 is a schematic sectional view schematically showing an organic thin film transistor element mounting portion showing an example of the stretchable circuit board of the present invention. In this example, a parylene thin film layer 4 is formed on a substrate 1, and an organic thin film transistor element 10 is mounted on the parylene thin film layer 4. The organic thin film transistor element 10 includes a gate electrode 5 in contact with the parylene thin film layer 4, a gate insulating film 6 covering the surface of the gate electrode 5, and a self-assembled monolayer 7 formed on the gate insulating film 6. And an organic semiconductor film 8 formed on the self-assembled monomolecular film 7, and a source electrode 9 a and a drain electrode 9 b formed on the organic semiconductor film 8.
図2は本発明の伸縮性回路基板の一例を模式的に示す図(平面図)である。この例において、1は基板、4はパリレン薄膜層、10は有機薄膜トランジスタ素子、11は複数の有機薄膜トランジスタ素子10を接続する伸縮性導体である。 FIG. 2 is a diagram (plan view) schematically showing an example of the stretchable circuit board of the present invention. In this example, 1 is a substrate, 4 is a parylene thin film layer, 10 is an organic thin film transistor element, and 11 is a stretchable conductor connecting a plurality of organic thin film transistor elements 10.
[基板]
前記基板は、(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーとアクリル系モノマーとを含有するエネルギー線硬化性組成物の硬化物からなる伸縮性母材中に、多官能アクリル系モノマーに由来する構成単位をポリマーの全構成単位に対して50重量%以上含むアクリル系ポリマーを含有するポリマー材料からなり、表面形状又は伸縮性有機基材表面を投影面としたときの投影形状が略円形である難伸長部が部分的に且つ一体的に形成されているシート状伸縮性有機基材である。
[substrate]
The substrate is composed of a structural unit derived from a polyfunctional acrylic monomer in a stretchable base material made of a cured product of an energy ray-curable composition containing a (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and an acrylic monomer. A hard-to-extend part which is made of a polymer material containing an acrylic polymer containing 50% by weight or more with respect to all of the structural units, and whose projection shape is substantially circular when the surface shape or the stretchable organic substrate surface is the projection surface It is a sheet-like stretchable organic substrate formed partially and integrally.
図3は本発明において基板として用いるシート状伸縮性有機基材の一例を示す概略斜視図である。図4は図3のシート状伸縮性有機基材のIV−IV線断面を示す概略斜視図である。図3及び図4において、シート状伸縮性有機基材1は、伸縮性母材2(伸縮性母材部)と、該伸縮性母材2中に部分的に且つ一体的に形成されている難伸長部3とで構成されている。 FIG. 3 is a schematic perspective view showing an example of a sheet-like stretchable organic base material used as a substrate in the present invention. 4 is a schematic perspective view showing a cross section taken along line IV-IV of the sheet-like stretchable organic substrate of FIG. 3 and 4, the sheet-like stretchable organic substrate 1 is formed partially and integrally with a stretchable base material 2 (stretchable base material portion) and the stretchable base material 2. It is comprised with the difficult expansion | extension part 3. FIG.
難伸長部3は伸縮性母材2中に部分的且つ一体的に複数形成されていればよく、例えば、伸縮性母材2中の複数の箇所に非連続的に散在若しくは点在している。難伸長部3の表面形状又は伸縮性有機基材1表面を投影面としたときの投影形状(伸縮性有機基材1表面側から見た形状)は略円形である。難伸長部3はシート厚み方向に延びる柱状であるのが好ましい。 It is only necessary that a plurality of difficultly stretchable portions 3 are formed partially and integrally in the stretchable base material 2. For example, the stretchable portions 3 are discontinuously scattered or scattered in a plurality of locations in the stretchable base material 2. . The projection shape (the shape seen from the surface side of the stretchable organic substrate 1) when the surface shape of the difficultly stretchable portion 3 or the surface of the stretchable organic substrate 1 is used as the projection surface is substantially circular. The difficultly extending portion 3 is preferably a columnar shape extending in the sheet thickness direction.
難伸長部3の面方向の長軸(最長部)の長さ(例えば、直径)は、有機薄膜トランジスタ素子の大きさに応じて適宜選択できるが、通常、0.1〜10mmであり、好ましくは0.5〜5mmである。この長さが小さすぎると、有機薄膜トランジスタ素子10の搭載性、固定性が悪くなり、大きすぎると、製造しにくくなる。 Although the length (for example, diameter) of the long axis (longest part) of the surface direction of the difficult extension part 3 can be suitably selected according to the magnitude | size of an organic thin-film transistor element, it is 0.1-10 mm normally, Preferably 0.5-5 mm. When this length is too small, the mountability and fixing property of the organic thin film transistor element 10 are deteriorated, and when it is too large, it is difficult to manufacture.
難伸長部3と伸縮性母材部2の界面(境界部)近傍においては、組成及び/又は物性(伸び特性、硬度等)が徐々に変化するグラデーション(グラディエント)をなしていてもよい。難伸長部3と伸縮性母材部2の界面近傍にこのようなグラデーション(例えば、後述する伸長率についてのグラデーション)を有する伸縮性有機基材は、例えば該伸縮性有機基材を伸長させた時、難伸長部3と伸縮性母材部2との界面で切れにくいという特性を有する。また、難伸長部3と伸縮性母材部2の界面(境界部)近傍だけでなく、難伸長部3及び/又は伸縮性母材部2の多くの部分或いは全体に亘ってグラデーションを呈していてもよい。グラデーション部を有する伸縮性有機基材において、難伸長部3と伸縮性母材部2との境界は、伸縮性母材部2の非グラデーション部の硬度[伸縮性母材部の全体に亘ってグラデーションを呈している場合は、硬度の最も低い箇所の硬度]と、難伸長部3の非グラデーション部の硬度[難伸長部3の全体に亘ってグラデーションを呈している場合には、硬度の最も高い箇所の硬度]の平均値を結ぶ線によって定めることができる。 In the vicinity of the interface (boundary part) between the hardly stretchable part 3 and the stretchable base material part 2, a gradation (gradient) in which the composition and / or physical properties (elongation characteristics, hardness, etc.) gradually change may be formed. The stretchable organic base material having such a gradation (for example, a gradation about the elongation rate described later) in the vicinity of the interface between the hardly stretchable part 3 and the stretchable base material part 2 is obtained by, for example, stretching the stretchable organic base material. At this time, it has a characteristic that it is difficult to cut at the interface between the difficultly stretchable portion 3 and the stretchable base material portion 2. Further, gradation is exhibited not only in the vicinity of the interface (boundary portion) between the difficultly stretchable part 3 and the stretchable base material part 2 but also in many or all of the difficult stretchable part 3 and / or the stretchable base material part 2. May be. In the stretchable organic base material having a gradation portion, the boundary between the difficultly stretchable portion 3 and the stretchable base material portion 2 is the hardness of the non-gradient portion of the stretchable base material portion 2 [over the entire stretchable base material portion. When the gradation is exhibited, the hardness of the lowest hardness portion and the hardness of the non-gradient portion of the difficult extension portion 3 [when the gradation is exhibited over the entire difficult extension portion 3, the hardness is the highest. It can be determined by a line connecting the average value of the hardness of the high part].
本発明において、難伸長部3は伸縮性母材2中のどの部位に形成されていてもよいが、有機薄膜トランジスタ素子10の固定性の点で、少なくとも一方の表面に露出した状態で形成されているのが好ましい。難伸長部3は伸長性有機基材の表面に露出していない状態で形成されていてもよい。また、伸長性有機基材の円滑な伸縮性を担保するため、難伸長部3は、伸長性母材2の面方向の端部以外の箇所に形成されているのが好ましい。すなわち、難伸長部3は伸縮性母材2に包含される状態(但し、両表面を除く)で形成されているのが好ましい。但し、伸縮性母材2の面方向の端部を補強したり、該端部に異なる特性を付与する場合などには、難伸長部3を該端部に形成する場合もある。 In the present invention, the difficultly stretchable portion 3 may be formed in any part of the stretchable base material 2, but is formed in a state where it is exposed on at least one surface in terms of the fixing property of the organic thin film transistor element 10. It is preferable. The difficult extension part 3 may be formed in the state which is not exposed to the surface of an extensible organic base material. Moreover, in order to ensure smooth stretchability of the extensible organic base material, it is preferable that the difficultly stretchable portion 3 is formed at a place other than the end portion in the surface direction of the extensible base material 2. That is, it is preferable that the difficultly stretchable portion 3 is formed in a state of being included in the stretchable base material 2 (excluding both surfaces). However, when the end portion in the surface direction of the stretchable base material 2 is reinforced, or when different properties are imparted to the end portion, the hardly stretchable portion 3 may be formed at the end portion.
前記伸縮性母材2中に形成された複数の難伸長部3はランダムに形成されていてもよいが、利用性の点から規則的パターンで形成されているのが好ましい。複数の難伸長部3が規則的パターンで形成されている場合、隣接する難伸長部3間の距離(最短距離)は、例えば、0.1〜10mmであり、好ましくは0.5〜5mmである。 The plurality of difficultly elongated portions 3 formed in the stretchable base material 2 may be formed randomly, but are preferably formed in a regular pattern from the viewpoint of usability. In the case where the plurality of difficultly elongated portions 3 are formed in a regular pattern, the distance (shortest distance) between adjacent difficultly elongated portions 3 is, for example, 0.1 to 10 mm, preferably 0.5 to 5 mm. is there.
シート状伸縮性有機基材1の厚みは、例えば50μm以上であり、好ましくは100μm以上である。シート状伸縮性有機基材1の厚みの上限は、例えば1000μmであり、好ましくは500μmである。 The thickness of the sheet-like stretchable organic substrate 1 is, for example, 50 μm or more, and preferably 100 μm or more. The upper limit of the thickness of the sheet-like stretchable organic substrate 1 is, for example, 1000 μm, and preferably 500 μm.
前記難伸長部3は、シート状伸縮性有機基材1の一方の表面から連続して形成されていてもよく、シート状伸縮性有機基材1の一方の表面から他方の表面に至るまで連続して形成されていてもよい。また、前記難伸長部3は、シート状伸縮性有機基材1の内部に埋没されて形成されてもよい。前記難伸長部3の厚み方向の長さ(厚み)は、有用性の観点等から、上記何れの場合も、シート状伸縮性有機基材1の厚みの少なくとも1/50が好ましく、より好ましくは少なくとも1/20、さらに好ましくは少なくとも1/10、特に好ましくは少なくとも1/4である。また、有機薄膜トランジスタ素子10の保持性等の観点から、例えば、難伸長部3がシート状伸縮性有機基材1の一方の表面から連続して形成されている場合などには、前記難伸長部3の厚み方向の長さ(厚み)は、さらに、シート状伸縮性有機基材1の厚みの少なくとも1/3、中でも少なくとも1/2(とりわけ、少なくとも2/3)であるのが望ましい。 The difficultly stretchable portion 3 may be formed continuously from one surface of the sheet-like stretchable organic base material 1, and continues from one surface of the sheet-like stretchable organic base material 1 to the other surface. May be formed. Further, the difficultly stretched portion 3 may be formed by being buried in the sheet-like stretchable organic base material 1. In any case, the length (thickness) in the thickness direction of the difficultly stretchable portion 3 is preferably at least 1/50 of the thickness of the sheet-like stretchable organic substrate 1, more preferably from the viewpoint of usefulness. It is at least 1/20, more preferably at least 1/10, particularly preferably at least 1/4. In addition, from the viewpoint of retention of the organic thin film transistor element 10, for example, when the hardly stretchable portion 3 is continuously formed from one surface of the sheet-like stretchable organic base material 1, the hardly stretchable portion is used. The length (thickness) in the thickness direction of 3 is preferably at least 1/3 of the thickness of the sheet-like stretchable organic base material 1, more preferably at least 1/2 (especially at least 2/3).
本発明において、シート状伸縮性有機基材1の引張試験(試験片の幅20mm、チャック間距離50mm、温度25℃、引張速度200mm/min)における伸度(破断伸度)は、好ましくは50%以上、より好ましくは70%以上、さらに好ましくは120%以上であり、強度(破断応力)は、好ましくは1.0MPa以上、より好ましくは2.0MPa以上、さらに好ましくは3.0MPa以上である。前記強度は高いほどよいが、上限は、例えば100MPaであり、通常は50MPa以下である。引張試験機を用いた引張試験等に用いるシート状伸縮性有機基材1の試験サンプルの例を図6に示す。 In the present invention, the elongation (breaking elongation) of the sheet-like stretchable organic substrate 1 in the tensile test (test piece width 20 mm, distance between chucks 50 mm, temperature 25 ° C., tensile speed 200 mm / min) is preferably 50. % Or more, more preferably 70% or more, further preferably 120% or more, and the strength (breaking stress) is preferably 1.0 MPa or more, more preferably 2.0 MPa or more, and further preferably 3.0 MPa or more. . The higher the strength, the better, but the upper limit is, for example, 100 MPa, and usually 50 MPa or less. An example of a test sample of the sheet-like stretchable organic substrate 1 used for a tensile test using a tensile tester is shown in FIG.
前記シート状伸縮性有機基材において、伸縮性母材2は伸長性及び伸縮性に優れるが、難伸長部3は伸長性が低い。前記シート状伸縮性有機基材は、引張試験機を用いた伸長試験(温度25℃)において、該伸長性有機基材を1.5倍(元の長さの150%)まで伸長させた際(但し、1.5倍まで伸長しない有機基材については、1.25倍まで伸長させた際)、難伸長部3の伸長率S1(%)(元の長さに対する伸びた長さの割合)は、49%以下が好ましく、より好ましくは40%以下、さらに好ましくは25%以下、特に好ましくは10%以下である。 In the sheet-like stretchable organic base material, the stretchable base material 2 is excellent in stretchability and stretchability, but the difficult stretch portion 3 has low stretchability. When the stretchable organic substrate is stretched to 1.5 times (150% of the original length) in an elongation test (temperature: 25 ° C.) using a tensile tester. (However, for an organic base material that does not extend up to 1.5 times, when it is extended up to 1.25 times), the extension rate S 1 (%) of the difficult extension part 3 (of the extended length relative to the original length) The ratio is preferably 49% or less, more preferably 40% or less, still more preferably 25% or less, and particularly preferably 10% or less.
また、前記シート状伸縮性有機基材は、引張試験機を用いた伸長試験(温度25℃)において、該シート状伸縮性有機基材を1.5倍(元の長さの150%)まで伸長させた際(但し、1.5倍まで伸長しない有機基材については、1.25倍まで伸長させた際)、伸縮性母材部2の伸長率S2(%)(元の長さに対する伸びた長さの割合)と難伸長部3の伸長率S1(%)の比率[S2(%)/S1(%)]が1より大きいのが好ましい。このようなシート状伸縮性有機基材では、該基材を一方向に伸長させた際、伸縮性母材部2が伸長しても、難伸長部3が伸長しにくく、形状が変化しにくいため、難伸長部3に有機薄膜トランジスタ素子10を安定に固定、保持させることができる。前記比率[S2(%)/S1(%)]は、より好ましくは2以上であり、さらに好ましくは5以上(特に10以上)である。 The sheet-like stretchable organic base material is 1.5 times (150% of the original length) of the sheet-like stretchable organic base material in an extension test (temperature 25 ° C.) using a tensile tester. When stretched (however, when the organic base material does not stretch up to 1.5 times, when stretched up to 1.25 times), the stretch rate S 2 (%) of the stretchable base material part 2 (original length) It is preferable that the ratio [S 2 (%) / S 1 (%)] of the elongation ratio to the elongation ratio S 1 (%) of the difficult extension part 3 is larger than 1. In such a sheet-like stretchable organic base material, when the base material is stretched in one direction, even if the stretchable base material portion 2 is stretched, the difficult stretch portion 3 is difficult to stretch and the shape is difficult to change. Therefore, the organic thin film transistor element 10 can be stably fixed and held on the difficult extension portion 3. The ratio [S 2 (%) / S 1 (%)] is more preferably 2 or more, and further preferably 5 or more (particularly 10 or more).
さらに、前記シート状伸縮性有機基材は、引張試験機を用いた伸長試験(温度25℃)において、該シート状伸縮性有機基材を1.5倍(元の長さの150%)まで伸長させた際(但し、1.5倍まで伸長しない有機基材については、1.25倍まで伸長させた際)、伸縮性母材部2の伸長率S2(%)と難伸長部3の伸長率S1(%)の差[S2(%)−S1(%)]は、20%以上であるのが好ましく、40%以上であるのがより好ましい。 Furthermore, the sheet-like stretchable organic base material is 1.5 times (150% of the original length) of the sheet-like stretchable organic base material in an elongation test (temperature 25 ° C.) using a tensile tester. When stretched (however, when the organic base material does not stretch up to 1.5 times, when stretched up to 1.25 times), the stretch rate S 2 (%) of the stretchable base material part 2 and the difficult stretch part 3 The difference [S 2 (%) − S 1 (%)] in the elongation rate S 1 (%) of the resin is preferably 20% or more, and more preferably 40% or more.
本発明において、前記シート状伸縮性有機基材の伸長性は等方向性であるのが好ましい。例えば、一方向における前記伸縮性母材部2の伸長率S2(1)(%)と、該方向に対して直交する方向における前記伸縮性母材部2の伸長率S2(2)(%)との比[S2(1)/S2(2)][但し、S2(1)≧S2(2)とする]は、1〜1.3が好ましく、1〜1.2がより好ましく、1〜1.1が特に好ましい。 In the present invention, the extensibility of the sheet-like stretchable organic base material is preferably isotropic. For example, the stretch rate S 2 (1) (%) of the stretchable base material part 2 in one direction and the stretch rate S 2 (2) (2) of the stretchable base material part 2 in a direction orthogonal to the direction %) [S 2 (1) / S 2 (2)] [where S 2 (1) ≧ S 2 (2)] is preferably 1 to 1.3, preferably 1 to 1.2. Is more preferable, and 1 to 1.1 is particularly preferable.
本発明において、前記シート状伸縮性有機基材は伸縮性を有する。該シート状伸縮性有機基材において、引張試験機を用いた50%伸長時のヒステリシス試験(試験片の幅20mm、チャック間距離50mm、温度25℃、引張速度200mm/min)により得られる伸長回復率は、10%以上であるのが好ましく、より好ましくは30%以上、さらに好ましくは50%以上(特に好ましくは70%以上)である。 In the present invention, the sheet-like stretchable organic base material has stretchability. In the sheet-like stretchable organic substrate, elongation recovery obtained by a hysteresis test at 50% elongation using a tensile tester (test piece width 20 mm, distance between chucks 50 mm, temperature 25 ° C., tensile speed 200 mm / min) The rate is preferably 10% or more, more preferably 30% or more, still more preferably 50% or more (particularly preferably 70% or more).
また、前記シート状伸縮性有機基材では、通常、伸縮性母材2は軟質であり、難伸長部3は硬質である。例えば、前記シート状伸縮性有機基材においては、ゴム硬度計を用いた硬さ試験(試験片30mm×30mmの伸縮性有機基材の10枚積層品、針押し込み10秒後の硬さ、温度25℃)により求めた難伸長部3の硬さH1と伸縮性母材2の硬さH2との比(H1/H2)が1より大きいことが好ましく、より好ましくは1.01以上、さらに好ましくは1.10以上、特に好ましくは1.20以上である。 Moreover, in the said sheet-like stretchable organic base material, the stretchable base material 2 is usually soft, and the difficult extension part 3 is hard. For example, in the sheet-like stretchable organic base material, a hardness test using a rubber hardness tester (10 pieces of a stretchable organic base material having a test piece of 30 mm × 30 mm, hardness after 10 seconds of needle pressing, temperature is preferably greater than the ratio of the hardness H 1 of the flame extension portion 3 and the hardness of H 2 stretchable base material 2 (H 1 / H 2) is 1 as determined by 25 ° C.), more preferably 1.01 More preferably, it is 1.10 or more, and particularly preferably 1.20 or more.
また、伸縮性母材2及び難伸長部3の硬さの尺度として引張弾性率を用いることもできる。前記シート状伸縮性有機基材においては、固体粘弾性測定装置(サンプルサイズ:長さ25mm×幅3mm、チャック間距離:5mm、モード:時間分散、温度:27℃、周波数:1Hz、初期歪み:0.2%、測定時間:120秒、測定回数:10回)により測定した難伸長部3の引張弾性率E’1(Pa)と伸縮性母材2の引張弾性率E’2(Pa)の比(E’1/E’2)が1より大きいことが好ましく、より好ましくは5以上、さらに好ましくは10以上、特に好ましくは100以上である。 Moreover, a tensile elasticity modulus can also be used as a scale of the hardness of the stretchable base material 2 and the difficultly stretchable portion 3. In the sheet-like stretchable organic substrate, a solid viscoelasticity measuring device (sample size: length 25 mm × width 3 mm, distance between chucks: 5 mm, mode: time dispersion, temperature: 27 ° C., frequency: 1 Hz, initial strain: 0.2%, measurement time: 120 sec, number of measurements: 10 times) the tensile modulus of the flame extension portion 3 as measured by E '1 (Pa) and a tensile modulus E of the elastic base material 2' 2 (Pa) The ratio (E ′ 1 / E ′ 2 ) is preferably greater than 1, more preferably 5 or more, still more preferably 10 or more, and particularly preferably 100 or more.
さらに、伸縮性母材2及び難伸長部3の硬さの尺度としてナノインデンテーション測定における荷重を用いることもできる。前記伸縮性有機基材においては、ナノインデンテーション測定(押し込み深さ4μm、押し込み速度1.5μm/秒、温度25℃)における難伸長部3の荷重P1と伸縮性母材2の荷重P2との比(P1/P2)が1より大きいことが好ましく、より好ましくは1.01以上、さらに好ましくは1.10以上、特に好ましくは1.50以上である。 Furthermore, the load in the nanoindentation measurement can also be used as a measure of the hardness of the stretchable base material 2 and the hardly stretchable part 3. The stretch in the organic substrate, the nano-indentation measurements the load P 1 of the flame extension portion 3 in (indentation depth 4 [mu] m, indentation rate 1.5 [mu] m / sec, the temperature 25 ° C.) stretchable base material 2 of the load P 2 The ratio (P 1 / P 2 ) is preferably greater than 1, more preferably 1.01 or more, still more preferably 1.10 or more, and particularly preferably 1.50 or more.
なお、伸縮性母材部2の表面(少なくとも一方の表面)、難伸長部3の形成部位の表面(少なくとも一方の表面)の表面粗さRaは、それぞれ、100nm以下が好ましく、50nm以下がより好ましく、30nm以下がさらに好ましい。特に難伸長部3の表面粗さは小さいほど有機薄膜トランジスタ素子を精度よく設置することができ、有機薄膜トランジスタ素子の有する性能を確実に発揮させることができる。なお、RaはAFM(原子間力顕微鏡)により測定することができる。 In addition, the surface roughness Ra of the surface (at least one surface) of the stretchable base material portion 2 and the surface (at least one surface) of the formation site of the hardly stretchable portion 3 is preferably 100 nm or less, more preferably 50 nm or less. Preferably, it is 30 nm or less. In particular, the smaller the surface roughness of the difficult extension portion 3, the more accurately the organic thin film transistor element can be installed, and the performance of the organic thin film transistor element can be surely exhibited. Ra can be measured by an AFM (atomic force microscope).
[伸縮性母材]
本発明において、伸縮性母材2は(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーとアクリル系モノマーとを含有する活性エネルギー線硬化性組成物の硬化物により構成される。
[Elastic base material]
In the present invention, the stretchable base material 2 is composed of a cured product of an active energy ray-curable composition containing a (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and an acrylic monomer.
前記(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーは、公知の方法、例えば、末端にイソシアネート基を有するウレタンポリマーとヒドロキシルアルキル(メタ)アクリレートとを反応させることにより製造できる。 The (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer can be produced by a known method, for example, by reacting a urethane polymer having an isocyanate group at a terminal with hydroxylalkyl (meth) acrylate.
前記末端にイソシアネート基を有するウレタンポリマーは、ポリイソシアネート化合物と、長鎖ポリオール化合物、及び必要に応じて用いられる鎖伸長剤や他のイソシアネート反応性化合物とを、慣用の方法で反応させることにより得ることができる。 The urethane polymer having an isocyanate group at the terminal is obtained by reacting a polyisocyanate compound, a long-chain polyol compound, and a chain extender or other isocyanate-reactive compound used as necessary by a conventional method. be able to.
ポリイソシアネート化合物としては、例えば、ヘキサメチレンジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネート等の脂肪族ジイソシアネート;イソホロンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート、水添キシリレンジイソシアネート、ノルボルネンジイソシアネート、ノルボルナンジイソシアネート等の脂環式ジイソシアネート;ナフタレンジイソシアネート、フェニレンジイソシアネート、トリレンジイソシアネート、ジフェニルジイソシアネート、ジフェニルメタンジイソシアネート、ジフェニルエーテルジイソシアネート、ジフェニルプロパンジイソシアネート等の芳香族ジイソシアネート;キシリレンジイソシアネート、テトラメチレンキシリレンジイソシアネート等の芳香脂肪族ジイソシアネート;ダイマー酸ジイソシアネートなどが挙げられる。 Examples of the polyisocyanate compound include aliphatic diisocyanates such as hexamethylene diisocyanate and trimethylhexamethylene diisocyanate; alicyclic diisocyanates such as isophorone diisocyanate, dicyclohexylmethane diisocyanate, hydrogenated xylylene diisocyanate, norbornene diisocyanate, and norbornane diisocyanate; naphthalene diisocyanate, Aromatic diisocyanates, such as phenylene diisocyanate, tolylene diisocyanate, diphenyl diisocyanate, diphenylmethane diisocyanate, diphenyl ether diisocyanate, diphenylpropane diisocyanate; xylylene diisocyanate, tetramethylene xylylene diisocyanate, etc. ; And dimer acid diisocyanate.
長鎖ポリオール化合物としては、例えば、ポリエーテルポリオール、ポリエステルポリオール、ポリカーボネートポリオール、ポリオレフィンポリオール、ポリアクリルポリオールなどが挙げられる。長鎖ポリオールの数平均分子量は、通常、500以上であり、好ましくは500〜10000、より好ましくは550〜4000である。長鎖ポリオールは単独で又は2種以上を組み合わせて使用できる。 Examples of the long-chain polyol compound include polyether polyol, polyester polyol, polycarbonate polyol, polyolefin polyol, and polyacryl polyol. The number average molecular weight of the long-chain polyol is usually 500 or more, preferably 500 to 10000, more preferably 550 to 4000. Long chain polyols can be used alone or in combination of two or more.
ポリエーテルポリオールとしては、例えば、ポリエチレンエーテルグリコール、ポリプロピレンエーテルグリコール、ポリテトラメチレンエーテルグリコール(PTMG)などのポリアルキレンエーテルグリコールの他、エチレンオキシド−プロピレンオキシド共重合体などのモノマー成分として複数のアルキレンオキシドを含む(アルキレンオキサイド−他のアルキレンオキサイド)共重合体などが挙げられる。 Examples of the polyether polyol include polyalkylene ether glycols such as polyethylene ether glycol, polypropylene ether glycol, polytetramethylene ether glycol (PTMG), and a plurality of alkylene oxides as monomer components such as an ethylene oxide-propylene oxide copolymer. (Alkylene oxide-other alkylene oxide) copolymer containing etc. are mentioned.
ポリエステルポリオールとしては、例えば、多価アルコールと多価カルボン酸との縮合重合物;環状エステル(ラクトン)の開環重合物;多価アルコール、多価カルボン酸及び環状エステルの3種類の成分による反応物などを用いることができる。多価アルコールと多価カルボン酸との縮合重合物において、多価アルコールとしては、例えば、エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、2−メチル−1,3−プロパンジオール、1,5−ペンタンジオール、ネオペンチルグリコール、1,6−ヘキサンジオール、1,9−ノナンジオール、1,10−デカンジオール、グリセリン、トリメチロールプロパン、トリメチロールエタン、シクロヘキサンジオール類(1,4−シクロヘキサンジオールなど)、シクロヘキサンジメタノール類(1,4−シクロヘキサンジメタノールなど)、ビスフェノール類(ビスフェノールAなど)、糖アルコール類(キシリトールやソルビトールなど)などを用いることができる。一方、多価カルボン酸としては、例えば、マロン酸、マレイン酸、コハク酸、アジピン酸、スベリン酸、アゼライン酸、セバシン酸、ドデカンジオン酸等の脂肪族ジカルボン酸;1,4−シクロヘキサンジカルボン酸等の脂環式ジカルボン酸;テレフタル酸、イソフタル酸、オルトフタル酸、2,6−ナフタレンジカルボン酸、トリメリット酸等の芳香族ジカルボン酸などが挙げられる。また、環状エステルの開環重合物において、環状エステルとしては、例えば、プロピオラクトン、β−メチル−δ−バレロラクトン、ε−カプロラクトンなどが挙げられる。3種類の成分による反応物において、多価アルコール、多価カルボン酸、環状エステルとしては、前記例示のものなどを用いることができる。 Examples of the polyester polyol include a condensation polymer of a polyhydric alcohol and a polyvalent carboxylic acid; a ring-opening polymer of a cyclic ester (lactone); a reaction by three kinds of components: a polyhydric alcohol, a polyvalent carboxylic acid, and a cyclic ester. Things can be used. In the condensation polymerization product of polyhydric alcohol and polycarboxylic acid, examples of polyhydric alcohol include ethylene glycol, diethylene glycol, propylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 2-methyl-1 , 3-propanediol, 1,5-pentanediol, neopentyl glycol, 1,6-hexanediol, 1,9-nonanediol, 1,10-decanediol, glycerin, trimethylolpropane, trimethylolethane, cyclohexanediol (Such as 1,4-cyclohexanediol), cyclohexanedimethanols (such as 1,4-cyclohexanedimethanol), bisphenols (such as bisphenol A), sugar alcohols (such as xylitol and sorbitol), etc. Kill. On the other hand, examples of the polyvalent carboxylic acid include aliphatic dicarboxylic acids such as malonic acid, maleic acid, succinic acid, adipic acid, suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, and dodecanedioic acid; 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid, etc. And aromatic dicarboxylic acids such as terephthalic acid, isophthalic acid, orthophthalic acid, 2,6-naphthalenedicarboxylic acid and trimellitic acid. In the ring-opening polymer of cyclic ester, examples of the cyclic ester include propiolactone, β-methyl-δ-valerolactone, and ε-caprolactone. In the reaction product of the three types of components, those exemplified above can be used as the polyhydric alcohol, polycarboxylic acid, and cyclic ester.
ポリカーボネートポリオールとしては、例えば、多価アルコールとホスゲン、クロロギ酸エステル、ジアルキルカーボネート又はジアリールカーボネートとの反応物;環状炭酸エステル(アルキレンカーボネートなど)の開環重合物などが挙げられる。具体的には、多価アルコールとホスゲンとの反応物において、多価アルコールとしては、前記例示の多価アルコール(例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、ネオペンチルグリコール、1,6−ヘキサンジオール等)を用いることができる。また、環状炭酸エステルの開環重合物において、アルキレンカーボネートとしては、例えば、エチレンカーボネート、トリメチレンカーボネート、テトラメチレンカーボネート、ヘキサメチレンカーボネートなどが挙げられる。なお、ポリカーボネートポリオールは、分子内にカーボネート結合を有し、末端がヒドロキシル基である化合物であればよく、カーボネート結合とともにエステル結合を有していてもよい。ポリカーボネートポリオールの代表的な例として、ポリヘキサメチレンカーボネートジオール、ポリヘキサメチレンカーボネートジオールにラクトンを開環付加重合して得られるジオール、ポリヘキサメチレンカーボネートジオールとポリエステルジオール又はポリエーテルジオールとの共縮合物などが挙げられる。 Examples of the polycarbonate polyol include a reaction product of a polyhydric alcohol and phosgene, chloroformate, dialkyl carbonate or diaryl carbonate; a ring-opening polymer of a cyclic carbonate (such as alkylene carbonate). Specifically, in the reaction product of polyhydric alcohol and phosgene, the polyhydric alcohol includes the polyhydric alcohols exemplified above (for example, ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-butanediol, 1,4-butanediol). , Neopentyl glycol, 1,6-hexanediol, etc.) can be used. In the ring-opening polymer of cyclic carbonate, examples of the alkylene carbonate include ethylene carbonate, trimethylene carbonate, tetramethylene carbonate, hexamethylene carbonate, and the like. In addition, the polycarbonate polyol should just be a compound which has a carbonate bond in a molecule | numerator, and the terminal is a hydroxyl group, and may have an ester bond with a carbonate bond. Representative examples of polycarbonate polyols include polyhexamethylene carbonate diol, diol obtained by ring-opening addition polymerization of lactone to polyhexamethylene carbonate diol, and cocondensate of polyhexamethylene carbonate diol with polyester diol or polyether diol. Etc.
ポリオレフィンポリオールは、オレフィンを重合体又は共重合体の骨格(又は主鎖)の成分とし且つ分子内に(特に末端に)ヒドロキシル基を少なくとも2つ有するポリオールである。前記オレフィンとしては、末端に炭素−炭素二重結合を有するオレフィン(例えば、エチレン、プロピレン等のα−オレフィンなど)であってもよく、また末端以外の部位に炭素−炭素二重結合を有するオレフィン(例えば、イソブテンなど)であってもよく、さらにはジエン(例えば、ブタジエン、イソプレンなど)であってもよい。ポリオレフィンポリオールの代表的な例として、ブタジエンホモポリマー、イソプレンホモポリマー、ブタジエン−スチレンコポリマー、ブタジエン−イソプレンコポリマー、ブタジエン−アクリロニトリルコポリマーなどのブタジエン若しくはイソプレン系ポリマーの末端をヒドロキシル基に変性したものが挙げられる。 The polyolefin polyol is a polyol having an olefin as a component of the skeleton (or main chain) of the polymer or copolymer and having at least two hydroxyl groups in the molecule (particularly at the terminal). The olefin may be an olefin having a carbon-carbon double bond at the terminal (for example, an α-olefin such as ethylene or propylene), or an olefin having a carbon-carbon double bond at a position other than the terminal. (For example, isobutene and the like) and diene (for example, butadiene, isoprene and the like) may be used. Typical examples of polyolefin polyols include butadiene homopolymers, isoprene homopolymers, butadiene-styrene copolymers, butadiene-isoprene copolymers, butadiene-isoprene copolymers such as butadiene-modified polymers modified with hydroxyl groups at the ends. .
ポリアクリルポリオールは、(メタ)アクリレートを重合体又は共重合体の骨格(又は主鎖)の成分とし且つ分子内に(特に末端に)ヒドロキシル基を少なくとも2つ有するポリオールである。(メタ)アクリレートとしては、(メタ)アクリル酸アルキルエステル[例えば、(メタ)アクリル酸C1−20アルキルエステルなど]が好適に用いられる。 The polyacrylic polyol is a polyol having (meth) acrylate as a component of the polymer (or copolymer) skeleton (or main chain) and having at least two hydroxyl groups in the molecule (particularly at the terminal). As the (meth) acrylate, (meth) acrylic acid alkyl ester [for example, (meth) acrylic acid C 1-20 alkyl ester, etc.] is preferably used.
前記鎖伸長剤としては、熱可塑性ポリウレタンの製造に通常用いられる鎖伸長剤を使用でき、その種類は特に制限されないが、低分子量のポリオール、ポリアミン等を用いることができる。鎖伸長剤の分子量は、通常、500未満であり、好ましくは300以下である。鎖伸長剤は単独で又は2種以上を組み合わせて使用できる。 As the chain extender, a chain extender usually used in the production of thermoplastic polyurethane can be used, and the kind thereof is not particularly limited, but a low molecular weight polyol, polyamine or the like can be used. The molecular weight of the chain extender is usually less than 500, preferably 300 or less. A chain extender can be used individually or in combination of 2 or more types.
鎖伸長剤の代表的な例として、例えば、エチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,4−ブタンジオール、1,5−ペンタンジオール、ネオペンチルグリコール、1,6−ヘキサンジオール、1,4−シクロヘキサンジオール、1,4−シクロヘキサンジメタノールなどのポリオール(特に、ジオール);ヘキサメチレンジアミン、3,3′−ジメチル−4,4′−ジアミノジシクロヘキシルメタン、4,4′−メチレンビス−2−クロロアニリンなどのポリアミン(特に、ジアミン)などが挙げられる。 Representative examples of chain extenders include, for example, ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,5-pentanediol, neopentyl glycol, 1,6-hexanediol, Polyols (especially diols) such as 1,4-cyclohexanediol and 1,4-cyclohexanedimethanol; hexamethylenediamine, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminodicyclohexylmethane, 4,4'-methylenebis- Examples include polyamines such as 2-chloroaniline (particularly diamines).
前記末端にイソシアネート基を有するウレタンポリマーとしては、ポリイシソアネート化合物、長鎖ポリオール化合物、及び必要に応じて鎖伸長剤、他のイソシアネート反応性化合物とを、ポリイソシアネートのイソシアネート基のモル数と、長鎖ポリオール及び鎖伸長剤等が有するイソシアネート反応性基(水酸基、アミノ基等)のモル数との比(NCO/イソシアネート反応性基)が1以上となる範囲で反応させることにより得られる。この反応には、反応を促進するため、必要に応じて、第3級アミン、有機金属化合物、スズ化合物等の触媒を用いてもよい。 The urethane polymer having an isocyanate group at the terminal includes a polyisocyanate compound, a long-chain polyol compound, and optionally a chain extender and other isocyanate-reactive compounds, and the number of moles of isocyanate groups of the polyisocyanate. It is obtained by reacting within a range where the ratio (NCO / isocyanate reactive group) to the number of moles of isocyanate reactive groups (hydroxyl group, amino group, etc.) of the long-chain polyol and chain extender is 1 or more. In this reaction, in order to accelerate the reaction, a catalyst such as a tertiary amine, an organometallic compound, or a tin compound may be used as necessary.
前記ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートとしては、例えば、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、ヒドロキシブチル(メタ)アクリレートなどを用いることができる。これらのヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートは1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用できる。 As said hydroxyalkyl (meth) acrylate, hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate, hydroxybutyl (meth) acrylate etc. can be used, for example. These hydroxyalkyl (meth) acrylates can be used singly or in combination of two or more.
前記末端にイソシアネート基を有するウレタンポリマーとヒドロキシルアルキル(メタ)アクリレートとの反応は、公知乃至慣用の方法により行うことができる。 The reaction between the urethane polymer having an isocyanate group at the terminal and hydroxylalkyl (meth) acrylate can be performed by a known or conventional method.
本発明において、前記アクリル系モノマーとしては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸イソプロピル、(メタ)アクリル酸n−ブチル、(メタ)アクリル酸イソブチル、(メタ)アクリル酸s−ブチル、(メタ)アクリル酸t−ブチル、(メタ)アクリル酸ペンチル、(メタ)アクリル酸イソペンチル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸ヘプチル、(メタ)アクリル酸オクチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸イソオクチル、(メタ)アクリル酸ノニル、(メタ)アクリル酸イソノニル、(メタ)アクリル酸デシル、(メタ)アクリル酸イソデシル、(メタ)アクリル酸ウンデシル、(メタ)アクリル酸ドデシル、(メタ)アクリル酸トリデシル、(メタ)アクリル酸テトラデシル、(メタ)アクリル酸ペンタデシル、(メタ)アクリル酸ヘキサデシル、(メタ)アクリル酸ヘプタデシル、(メタ)アクリル酸オクタデシル、(メタ)アクリル酸ノナデシル、(メタ)アクリル酸エイコシルなどの(メタ)アクリル酸C1−20アルキルエステル;(メタ)アクリル酸シクロペンチル、(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アクリル酸イソボルニルなどの脂環式基を有する(メタ)アクリル酸エステル;(メタ)アクリル酸フェニル、(メタ)アクリル酸ベンジル、(メタ)アクリル酸フェノキシエチルなどの芳香族炭化水素基を有する(メタ)アクリル酸エステル;(メタ)アクリル酸メトキシエチル、(メタ)アクリル酸エトキシエチルなどの(メタ)アクリル酸アルコキシアルキル;(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸3−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシルなどの水酸基(ヒドロキシル基)含有モノマー;(メタ)アクリル酸、2−カルボキシエチル(メタ)アクリレート、2−(メタ)アクリロイルオキシエチルコハク酸、2−(メタ)アクリロイルオキシエチルフタル酸などのカルボキシル基又は酸無水物基含有モノマー;(メタ)アクリル酸グリシジル、(メタ)アクリル酸メチルグリシジルなどのエポキシ基含有モノマーなどが挙げられる。 In the present invention, as the acrylic monomer, for example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, Isobutyl (meth) acrylate, s-butyl (meth) acrylate, t-butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, isopentyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, (meth) acryl Heptyl acid, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, isononyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, (meth) Isodecyl acrylate, undecyl (meth) acrylate, dodecy (meth) acrylate , Tridecyl (meth) acrylate, tetradecyl (meth) acrylate, pentadecyl (meth) acrylate, hexadecyl (meth) acrylate, heptadecyl (meth) acrylate, octadecyl (meth) acrylate, nonadecyl (meth) acrylate, (Meth) acrylic acid C 1-20 alkyl ester such as (meth) acrylic acid eicosyl; having an alicyclic group such as (meth) acrylic acid cyclopentyl, (meth) acrylic acid cyclohexyl, (meth) acrylic acid isobornyl (meta) ) Acrylic acid ester; (meth) acrylic acid ester having an aromatic hydrocarbon group such as phenyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate; methoxyethyl (meth) acrylate, (Meth) Ethoxyethyl acrylate, etc. (Meth) acrylic acid alkoxyalkyl; (meth) acrylic acid 2-hydroxyethyl, (meth) acrylic acid 2-hydroxypropyl, (meth) acrylic acid 3-hydroxypropyl, (meth) acrylic acid 4-hydroxybutyl, Hydroxyl group-containing monomers such as 6-hydroxyhexyl (meth) acrylate; (meth) acrylic acid, 2-carboxyethyl (meth) acrylate, 2- (meth) acryloyloxyethyl succinic acid, 2- (meth) acryloyl Examples thereof include carboxyl group or acid anhydride group-containing monomers such as oxyethyl phthalic acid; epoxy group-containing monomers such as glycidyl (meth) acrylate and methyl glycidyl (meth) acrylate.
前記アクリル系モノマーとしては、上記のほか、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンEO付加トリ(メタ)アクリレート、グリセリンPO付加トリ(メタ)アクリレート、アリル(メタ)アクリレート、ビニル(メタ)アクリレート、ジビニルベンゼン、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート、ウレタンアクリレートなどの多官能性モノマーを使用することもできる。なお、「EO」はエチレンオキサイド、「PO」はプロピレンオキサイドを示す。 As the acrylic monomer, in addition to the above, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, (poly) ethylene glycol di (meth) acrylate, (poly) propylene Glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tri Methylolpropane tri (meth) acrylate, tetramethylolmethane tri (meth) acrylate, trimethylolpropane EO-added tri (meth) acrylate, glycerin PO-added tri (meth) acrylate , Can be used allyl (meth) acrylate, vinyl (meth) acrylate, divinylbenzene, epoxy acrylate, polyester acrylate, a polyfunctional monomer such as urethane acrylate. “EO” represents ethylene oxide, and “PO” represents propylene oxide.
本発明においては、前記アクリル系モノマーとして、少なくとも(メタ)アクリル酸C1−20アルキルエステルを用いるのが好ましい。また、伸縮性母材2と難伸長部3との界面における密着強度を向上させるため、前記アクリル系モノマーとして難伸長部3を構成するポリマーのモノマーと同一のモノマーを少なくとも用いるのも好ましい。 In the present invention, it is preferable to use at least (meth) acrylic acid C 1-20 alkyl ester as the acrylic monomer. In order to improve the adhesion strength at the interface between the stretchable base material 2 and the hardly stretchable portion 3, it is also preferable to use at least the same monomer as the polymer monomer constituting the difficult stretch portion 3 as the acrylic monomer.
前記アクリル系モノマーとして(メタ)アクリル酸C1−20アルキルエステル(メタ)アクリル酸C1−20アルキルエステルを用いる場合、前記アクリル系モノマー全体に占める(メタ)アクリル酸C1−20アルキルエステルの割合は、例えば、10重量%以上(10〜100重量%)、好ましくは40重量%以上(40〜100重量%)、より好ましくは50重量%以上(50〜100重量%)、さらに好ましくは60重量%以上(60〜100重量%)である。また、前記アクリル系モノマーとして(メタ)アクリル酸C1−20アルキルエステルとともに、(メタ)アクリル酸イソボルニルなどの脂環式基を有する(メタ)アクリル酸エステル、(メタ)アクリル酸等のカルボキシル基又は酸無水物基含有モノマーや(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル等のヒドロキシル基含有モノマーを用いてもよい。この場合、(メタ)アクリル酸イソボルニルなどの脂環式基を有する(メタ)アクリル酸エステル、カルボキシル基又は酸無水物基含有モノマー、ヒドロキシル基含有モノマーの使用量は、硬化性モノマー全体に対して、それぞれ、例えば0〜90重量%(0.1〜90重量%程度)、好ましくは0〜50重量%(0.1〜50重量%程度)の範囲から選択することができ、1〜45重量%程度用いてもよい。 When (meth) acrylic acid C 1-20 alkyl ester (meth) acrylic acid C 1-20 alkyl ester is used as the acrylic monomer, (meth) acrylic acid C 1-20 alkyl ester occupying the entire acrylic monomer. The ratio is, for example, 10% by weight or more (10 to 100% by weight), preferably 40% by weight or more (40 to 100% by weight), more preferably 50% by weight or more (50 to 100% by weight), and still more preferably 60%. % By weight (60 to 100% by weight). In addition, (meth) acrylic acid C 1-20 alkyl ester as the acrylic monomer, (meth) acrylic acid ester having an alicyclic group such as isobornyl (meth) acrylate, carboxyl group such as (meth) acrylic acid Alternatively, an acid anhydride group-containing monomer or a hydroxyl group-containing monomer such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate may be used. In this case, the amount of (meth) acrylic acid ester having a cycloaliphatic group such as isobornyl (meth) acrylate, a carboxyl group or acid anhydride group-containing monomer, and a hydroxyl group-containing monomer is used with respect to the entire curable monomer. , For example, can be selected from the range of 0 to 90% by weight (about 0.1 to 90% by weight), preferably 0 to 50% by weight (about 0.1 to 50% by weight), and 1 to 45% by weight. About% may be used.
前記(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーと前記アクリル系モノマーとの比率[前者/後者(重量比)]は、例えば、1/99〜99/1、好ましくは20/80〜95/5、より好ましくは25/75〜90/10、さらに好ましくは30/70〜75/25である。この割合が小さすぎると、伸長性や伸縮性が低下しやすくなる。 The ratio of the (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and the acrylic monomer [the former / the latter (weight ratio)] is, for example, 1/99 to 99/1, preferably 20/80 to 95/5, more preferably. Is 25/75 to 90/10, more preferably 30/70 to 75/25. When this ratio is too small, extensibility and stretchability tend to be lowered.
前記活性エネルギー線硬化性組成物中の前記(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーと前記アクリル系モノマーの占める割合(総量)は、例えば50重量%以上、好ましくは80重量%以上、より好ましくは90重量%以上である。 The proportion (total amount) of the (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and the acrylic monomer in the active energy ray-curable composition is, for example, 50% by weight or more, preferably 80% by weight or more, more preferably 90% by weight. % Or more.
伸縮性母材2は、前記活性エネルギー線硬化性組成物に紫外線等のエネルギー線を照射して硬化させることにより形成できる。この際、通常、光重合開始剤が用いられる。光重合開始剤として、例えば、ベンゾインエーテル系光重合開始剤、アセトフェノン系光重合開始剤、α−ケトール系光重合開始剤、芳香族スルホニルクロリド系光重合開始剤、光活性オキシム系光重合開始剤、ベンゾイン系光重合開始剤、ベンジル系光重合開始剤、ベンゾフェノン系光重合開始剤、ケタール系光重合開始剤、チオキサントン系光重合開始剤等が用いられる。 The stretchable base material 2 can be formed by irradiating the active energy ray-curable composition with an energy ray such as ultraviolet rays and curing it. At this time, a photopolymerization initiator is usually used. Examples of photopolymerization initiators include benzoin ether photopolymerization initiators, acetophenone photopolymerization initiators, α-ketol photopolymerization initiators, aromatic sulfonyl chloride photopolymerization initiators, and photoactive oxime photopolymerization initiators. Benzoin photopolymerization initiators, benzyl photopolymerization initiators, benzophenone photopolymerization initiators, ketal photopolymerization initiators, thioxanthone photopolymerization initiators, and the like are used.
上記ベンゾインエーテル系光重合開始剤としては、例えば、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインプロピルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、アニソールメチルエーテルなどが挙げられる。上記アセトフェノン系光重合開始剤としては、例えば、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、4−フェノキシジクロロアセトフェノン、4−(t−ブチル)ジクロロアセトフェノンなどが挙げられる。上記α−ケトール系光重合開始剤としては、例えば、2−メチル−2−ヒドロキシプロピオフェノン、1−[4−(2−ヒドロキシエチル)フェニル]−2−メチルプロパン−1−オンなどが挙げられる。上記芳香族スルホニルクロリド系光重合開始剤としては、例えば、2−ナフタレンスルホニルクロライドなどが挙げられる。上記光活性オキシム系光重合開始剤としては、例えば、1−フェニル−1,1−プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)−オキシムなどが挙げられる。上記ベンゾイン系光重合開始剤としては、例えば、ベンゾインなどが挙げられる。上記ベンジル系光重合開始剤としては、例えば、ベンジルなどが挙げられる。上記ベンゾフェノン系光重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン、ベンゾイル安息香酸、3,3′−ジメチル−4−メトキシベンゾフェノン、ポリビニルベンゾフェノン、α−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトンなどが挙げられる。上記ケタール系光重合開始剤としては、例えば、ベンジルジメチルケタールなどが挙げられる。上記チオキサントン系光重合開始剤としては、例えば、チオキサントン、2−クロロチオキサントン、2−メチルチオキサントン、2,4−ジメチルチオキサントン、イソプロピルチオキサントン、2,4−ジイソプロピルチオキサントン、ドデシルチオキサントンなどが挙げられる。 Examples of the benzoin ether photopolymerization initiator include benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin propyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one, Anisole methyl ether etc. are mentioned. Examples of the acetophenone photopolymerization initiator include 2,2-diethoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 4-phenoxydichloroacetophenone, and 4- (t-butyl). ) Dichloroacetophenone and the like. Examples of the α-ketol photopolymerization initiator include 2-methyl-2-hydroxypropiophenone and 1- [4- (2-hydroxyethyl) phenyl] -2-methylpropan-1-one. It is done. Examples of the aromatic sulfonyl chloride photopolymerization initiator include 2-naphthalenesulfonyl chloride. Examples of the photoactive oxime photopolymerization initiator include 1-phenyl-1,1-propanedione-2- (o-ethoxycarbonyl) -oxime. Examples of the benzoin photopolymerization initiator include benzoin. Examples of the benzyl photopolymerization initiator include benzyl. Examples of the benzophenone photopolymerization initiator include benzophenone, benzoylbenzoic acid, 3,3′-dimethyl-4-methoxybenzophenone, polyvinyl benzophenone, α-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, and the like. Examples of the ketal photopolymerization initiator include benzyl dimethyl ketal. Examples of the thioxanthone photopolymerization initiator include thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, isopropylthioxanthone, 2,4-diisopropylthioxanthone, dodecylthioxanthone, and the like.
光重合開始剤の使用量としては、特に限定されないが、活性エネルギー線硬化性組成物中の硬化性化合物全量100重量部に対して、例えば0.01〜3重量部であり、その上限は、好ましくは1重量部、さらに好ましくは0.5重量部であり、その下限は、好ましくは0.02重量部、さらに好ましくは0.05重量部である。 Although it does not specifically limit as the usage-amount of a photoinitiator, For example, it is 0.01-3 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of the curable compound in an active energy ray curable composition, The upper limit is Preferably it is 1 weight part, More preferably, it is 0.5 weight part, The lower limit becomes like this. Preferably it is 0.02 weight part, More preferably, it is 0.05 weight part.
伸縮性母材部2には、必要に応じて、例えば、架橋剤(例えば、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤など)、架橋促進剤、シランカップリング剤、粘着付与樹脂(ロジン誘導体、ポリテルペン樹脂、石油樹脂、油溶性フェノールなど)、老化防止剤、充填剤、着色剤(顔料や染料など)、紫外線吸収剤、酸化防止剤、可塑剤、軟化剤、界面活性剤、帯電防止剤などの添加剤が、本発明の特性を損なわない範囲で含まれていてもよい。 If necessary, the stretchable base material part 2 may be, for example, a crosslinking agent (for example, an isocyanate crosslinking agent, an epoxy crosslinking agent, a melamine crosslinking agent, a peroxide crosslinking agent, a urea crosslinking agent, a metal alkoxide). Crosslinking agent, metal chelate crosslinking agent, metal salt crosslinking agent, carbodiimide crosslinking agent, oxazoline crosslinking agent, aziridine crosslinking agent, amine crosslinking agent, etc.), crosslinking accelerator, silane coupling agent, tackifying resin (Rosin derivatives, polyterpene resins, petroleum resins, oil-soluble phenols, etc.), anti-aging agents, fillers, colorants (pigments and dyes, etc.), UV absorbers, antioxidants, plasticizers, softeners, surfactants, Additives such as antistatic agents may be included within the range not impairing the properties of the present invention.
[難伸長部]
本発明において、難伸長部3は、多官能アクリル系モノマーに由来する構成単位をポリマーの全構成単位に対して50重量%以上(より好ましくは60重量%以上、さらに好ましくは80重量%以上)含むアクリル系ポリマーを含有するポリマー材料から構成されている。前記ポリマー材料中のポリマーは1種単独であってもよく、2種以上の混合物であってもよい。
[Difficult to stretch]
In the present invention, the difficultly stretched portion 3 has a structural unit derived from a polyfunctional acrylic monomer in an amount of 50% by weight or more (more preferably 60% by weight or more, more preferably 80% by weight or more) with respect to all the structural units of the polymer. It is comprised from the polymer material containing the acrylic polymer to contain. The polymer in the polymer material may be a single type or a mixture of two or more types.
多官能アクリル系モノマーに由来する構成単位をポリマーの全構成単位に対して50重量%以上含むアクリル系ポリマーの、難伸長部を構成するポリマー材料全体に占める割合は、例えば5重量%以上、好ましくは10重量%以上、さらに好ましくは15重量%以上であり、50重量%以上(例えば90重量%以上)であってもよい。 The proportion of the acrylic polymer containing the structural unit derived from the polyfunctional acrylic monomer in an amount of 50% by weight or more based on the total structural unit of the polymer in the entire polymer material constituting the difficult extension part is, for example, 5% by weight or more, preferably Is 10% by weight or more, more preferably 15% by weight or more, and may be 50% by weight or more (for example, 90% by weight or more).
多官能アクリル系モノマーとして、例えば、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンEO付加トリ(メタ)アクリレート、グリセリンPO付加トリ(メタ)アクリレートなどが挙げられる。多官能モノマーの中でも3官能以上(例えば、3〜6官能)の多官能モノマーが最も好ましい。 Examples of polyfunctional acrylic monomers include 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, (poly) ethylene glycol di (meth) acrylate, and (poly) propylene glycol di (Meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, trimethylolpropane Such as tri (meth) acrylate, tetramethylolmethane tri (meth) acrylate, trimethylolpropane EO-added tri (meth) acrylate, and glycerin PO-added tri (meth) acrylate. And the like. Among the polyfunctional monomers, those having 3 or more functional groups (for example, 3 to 6 functional groups) are most preferable.
難伸長部3を、多官能アクリル系モノマーに由来する構成単位をポリマーの全構成単位に対して50重量%以上(より好ましくは60重量%以上、さらに好ましくは80重量%以上)含むアクリル系ポリマーを含有するポリマー材料で構成する場合は、例えば、前記多官能アクリル系モノマーをモノマー全体の50重量%以上含むモノマー成分を含有するエネルギー線硬化性組成物を伸縮性母材形成用材料層の所定部位に配した後、エネルギー線を照射して硬化(重合)させることにより形成できる。この場合、前記多官能アクリル系モノマー以外の他のモノマーとして、前記伸縮性母材形成用のアクリル系モノマーとして例示したモノマーのうち単官能モノマーを適宜選択して使用できる。 Acrylic polymer containing difficult-to-extend part 3 with 50% by weight or more (more preferably 60% by weight or more, more preferably 80% by weight or more) of structural units derived from polyfunctional acrylic monomers with respect to all structural units of the polymer For example, the energy ray-curable composition containing the monomer component containing the polyfunctional acrylic monomer in an amount of 50% by weight or more of the whole monomer is formed in the stretchable base material forming material layer. It can be formed by irradiating with energy rays and curing (polymerization) after being disposed on the site. In this case, as a monomer other than the polyfunctional acrylic monomer, a monofunctional monomer can be appropriately selected from the monomers exemplified as the acrylic monomer for forming the stretchable base material.
難伸長部3を形成する際には、通常、硬化性基を硬化させるため光重合開始剤が用いられる。光重合開始剤としては、特に限定されず、前記伸縮性母材2を形成する場合と同様の光重合開始剤を使用できる。光重合開始剤の使用量としては、特に限定されないが、硬化性化合物全量100重量部に対して、例えば0.01〜3重量部であり、その上限は、好ましくは1重量部、さらに好ましくは0.5重量部であり、その下限は、好ましくは0.02重量部、さらに好ましくは0.05重量部である。 When forming the difficult elongation part 3, a photopolymerization initiator is usually used to cure the curable group. It does not specifically limit as a photoinitiator, The photoinitiator similar to the case where the said elastic base material 2 is formed can be used. Although it does not specifically limit as the usage-amount of a photoinitiator, It is 0.01-3 weight part with respect to 100 weight part of sclerosing | hardenable compound whole quantity, The upper limit becomes like this. Preferably it is 1 weight part, More preferably The lower limit is preferably 0.02 parts by weight, more preferably 0.05 parts by weight.
難伸長部3には、必要に応じて、例えば、架橋剤(例えば、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤など)、架橋促進剤、シランカップリング剤、粘着付与樹脂(ロジン誘導体、ポリテルペン樹脂、石油樹脂、油溶性フェノールなど)、老化防止剤、充填剤、着色剤(顔料や染料など)、紫外線吸収剤、酸化防止剤、可塑剤、軟化剤、界面活性剤、帯電防止剤などの添加剤が、本発明の特性を損なわない範囲で含まれていてもよい。 In the difficult extension part 3, for example, a crosslinking agent (for example, an isocyanate crosslinking agent, an epoxy crosslinking agent, a melamine crosslinking agent, a peroxide crosslinking agent, a urea crosslinking agent, a metal alkoxide crosslinking agent) is used. Agents, metal chelate crosslinking agents, metal salt crosslinking agents, carbodiimide crosslinking agents, oxazoline crosslinking agents, aziridine crosslinking agents, amine crosslinking agents), crosslinking accelerators, silane coupling agents, tackifying resins (rosin) Derivatives, polyterpene resins, petroleum resins, oil-soluble phenols, etc.), anti-aging agents, fillers, colorants (pigments, dyes, etc.), UV absorbers, antioxidants, plasticizers, softeners, surfactants, antistatic agents Additives such as an agent may be included as long as the characteristics of the present invention are not impaired.
[シート状伸縮性有機基材の製造]
本発明におけるシート状伸縮性有機基材は、例えば、下記の工程A、工程B及び工程Cを経ることにより製造できる。
[Production of sheet-like stretchable organic substrate]
The sheet-like stretchable organic base material in the present invention can be produced, for example, through the following step A, step B and step C.
工程A:前記(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーとアクリル系モノマーとを含有するエネルギー線硬化性組成物を用いて、支持体上に伸縮性母材形成用材料層を形成する工程
工程B:前記伸縮性母材形成用材料層の所定部位に、難伸長部の表面形状又は基材表面投影形状が所望の形状となるように、前記難伸長部形成用のエネルギー線硬化性組成物を配する(含有させる)工程
工程C:前記難伸長部形成用のエネルギー線硬化性組成物を配した伸縮性母材形成用材料層にエネルギー線を照射して、前記難伸長部形成用のエネルギー線硬化性組成物及び伸縮性母材形成用材料層を硬化させて、伸縮性母材中に難伸長部が部分的に且つ一体的に形成されたシート状伸縮性有機基材を得る工程
図5は上記方法を示す概略説明図(断面図)である。図5の(a)は工程A、(b)は工程B、(c)、(d)、(e)、(f)[又は、(d′)、(e′)、(f)]は工程Cに該当する。
Step A: Step of forming a stretchable base material forming material layer on a support using an energy ray-curable composition containing the (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and an acrylic monomer Step B: The energy beam-curable composition for forming the difficultly stretched portion is disposed at a predetermined portion of the stretchable base material forming material layer so that the surface shape of the difficultly stretched portion or the projected surface shape of the base material has a desired shape. Step C: Energy ray curing for forming the difficultly stretched portion by irradiating the stretchable base material forming material layer provided with the energy beam curable composition for forming the difficultly stretchable portion. The process of obtaining the sheet-like stretchable organic base material in which the difficultly stretched part is partially and integrally formed in the stretchable base material by curing the stretchable composition and the stretchable base material forming material layer. Schematic illustration showing the above method (cross-sectional view) It is. In FIG. 5, (a) is step A, (b) is step B, (c), (d), (e), (f) [or (d '), (e'), (f)] It corresponds to process C.
工程Aでは、支持体40上に伸縮性母材形成用材料層20を形成する。支持体40としては、特に限定されないが、例えばセパレータを用いることができる。セパレータとしては、特に限定されず、慣用の剥離紙、剥離処理層を有するセパレータ、フッ素ポリマーからなる低接着性基材、無極性ポリマーからなる低接着性基材などを使用できる。上記剥離処理層を有するセパレータとしては、例えば、シリコーン系、長鎖アルキル系、フッ素系、硫化モリブデン等の剥離処理剤により表面処理されたプラスチックフィルムや紙等が挙げられる。上記フッ素ポリマーからなる低接着性基材におけるフッ素系ポリマーとしては、例えば、ポリテトラフルオロエチレン、ポリクロロトリフルオロエチレン、ポリフッ化ビニル、ポリフッ化ビニリデン、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、クロロフルオロエチレン−フッ化ビニリデン共重合体等が挙げられる。また、上記無極性ポリマーとしては、例えば、オレフィン系樹脂(例えば、ポリエチレン、ポリプロピレンなど)等が挙げられる。なお、セパレータは公知乃至慣用の方法により製造することができる。また、セパレータの厚さ等も特に限定されない。 In step A, the stretchable base material forming material layer 20 is formed on the support 40. Although it does not specifically limit as the support body 40, For example, a separator can be used. The separator is not particularly limited, and a conventional release paper, a separator having a release treatment layer, a low adhesive substrate made of a fluoropolymer, a low adhesive substrate made of a nonpolar polymer, and the like can be used. Examples of the separator having the release treatment layer include a plastic film or paper surface-treated with a release treatment agent such as silicone-based, long-chain alkyl-based, fluorine-based, or molybdenum sulfide. Examples of the fluorine-based polymer in the low adhesion substrate made of the above-mentioned fluoropolymer include polytetrafluoroethylene, polychlorotrifluoroethylene, polyvinyl fluoride, polyvinylidene fluoride, tetrafluoroethylene-hexafluoropropylene copolymer, chloro Examples include fluoroethylene-vinylidene fluoride copolymer. Moreover, as said nonpolar polymer, olefin resin (for example, polyethylene, a polypropylene, etc.) etc. are mentioned, for example. The separator can be manufactured by a known or conventional method. Further, the thickness of the separator is not particularly limited.
前記伸縮性母材形成用材料層20は、前記(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーとアクリル系モノマーとを含有するエネルギー線硬化性組成物(光重合開始剤を含む)30を支持体40上に塗工することにより形成できる。 The stretchable base material forming material layer 20 has an energy ray curable composition (including a photopolymerization initiator) 30 containing the (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and an acrylic monomer on a support 40. It can be formed by coating.
前記エネルギー線硬化性組成物には、必要に応じて溶剤を添加してもよいが、後で溶剤を除去する工程が増えるので、溶剤を使用しないのが好ましい。また、前記エネルギー線硬化性組成物には、熱による重合を防止するため、必要に応じて重合禁止剤を添加してもよい。 A solvent may be added to the energy beam curable composition as necessary, but it is preferable not to use a solvent because a process for removing the solvent later increases. Moreover, in order to prevent superposition | polymerization by a heat | fever, you may add a polymerization inhibitor to the said energy beam curable composition as needed.
前記エネルギー線硬化性組成物はシロップ状であるのが好ましい。前記エネルギー線硬化性組成物の粘度は、作業性等の観点から、塗工する際の温度(例えば10〜40℃の範囲内の所定温度、特に25℃)において、例えば、0.1〜50Pa・sであり、その上限は、好ましくは30Pa・s、さらに好ましくは20Pa・sであり、下限は、好ましくは0.5Pa・s、さらに好ましくは1Pa・sである。この粘度が低すぎると形状の保持が困難になりやすく、逆に高すぎると塗工作業性が低下しやすくなる。 The energy beam curable composition is preferably in the form of a syrup. The viscosity of the energy beam curable composition is, for example, 0.1 to 50 Pa at a coating temperature (for example, a predetermined temperature within a range of 10 to 40 ° C., particularly 25 ° C.) from the viewpoint of workability and the like. S, the upper limit is preferably 30 Pa · s, more preferably 20 Pa · s, and the lower limit is preferably 0.5 Pa · s, more preferably 1 Pa · s. If the viscosity is too low, the shape tends to be difficult to maintain. Conversely, if the viscosity is too high, the coating workability tends to decrease.
前記エネルギー線硬化性組成物の塗工方法は特に限定されず、例えば、マイヤーバー、ブレードコーター、エアナイフコーター、ロールコーター、ダイコーター等のコーター、押出機、印刷機などを使用できる。なお、伸縮性母材形成用材料層20の形成は、適宜な型を用いて行うこともできる。この場合には、前記エネルギー線硬化性組成物の粘度は前記範囲より低くてもよい。 The coating method of the energy beam curable composition is not particularly limited, and for example, a coater such as a Mayer bar, a blade coater, an air knife coater, a roll coater, a die coater, an extruder, a printing machine, or the like can be used. The stretchable base material forming material layer 20 can also be formed using an appropriate mold. In this case, the viscosity of the energy beam curable composition may be lower than the above range.
前記伸縮性母材形成用材料層20の厚みは、例えば、10〜2000μmであり、その上限は、好ましくは1000μm、さらに好ましくは500μmであり、下限は、好ましくは50μm、さらに好ましくは100μmである。 The thickness of the stretchable base material forming material layer 20 is, for example, 10 to 2000 μm, the upper limit is preferably 1000 μm, more preferably 500 μm, and the lower limit is preferably 50 μm, more preferably 100 μm. .
工程Bでは、前記伸縮性母材形成用材料層の所定部位に、難伸長部の表面形状又は基材表面投影形状が所望の形状となるように、前記難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30を配する(含有させる)。 In step B, the energy beam curable composition for forming the hardly stretchable portion is formed so that the surface shape of the difficultly stretched portion or the projected surface shape of the base material has a desired shape at a predetermined portion of the stretchable base material forming material layer. Dispose (include) the product 30.
工程Bは、多官能アクリル系モノマーを50重量%以上(より好ましくは60重量%以上、さらに好ましくは80重量%以上)含むモノマー成分と、光重合開始剤とを含有するエネルギー線硬化性組成物を、前記伸縮性母材形成用材料層20の所定箇所に上から添加(滴下)することにより行うことができる。 Step B is an energy beam curable composition containing a monomer component containing 50% by weight or more (more preferably 60% by weight or more, more preferably 80% by weight or more) of a polyfunctional acrylic monomer, and a photopolymerization initiator. Is added (dropped) from above to a predetermined portion of the stretchable base material forming material layer 20.
前記難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30はシロップ状であるのが好ましい。難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30の粘度は、作業性等の観点から、塗工する際の温度(例えば10〜40℃の範囲内の所定温度、特に25℃)において、例えば、10〜50000mPa・sであり、その上限は、好ましくは30000mPa・s、さらに好ましくは20000mPa・sであり、下限は、好ましくは20mPa・s、さらに好ましくは30mPa・sである。この粘度が低すぎると所望の形状が得られにくくなり、逆に高すぎると塗工作業性が低下しやすくなる。 It is preferable that the energy beam curable composition 30 for forming a difficultly stretched portion has a syrup shape. From the viewpoint of workability and the like, the viscosity of the energy beam curable composition 30 for forming a difficult elongation part is, for example, a temperature at the time of coating (for example, a predetermined temperature within a range of 10 to 40 ° C., particularly 25 ° C.). The upper limit is preferably 30000 mPa · s, more preferably 20000 mPa · s, and the lower limit is preferably 20 mPa · s, more preferably 30 mPa · s. If the viscosity is too low, it is difficult to obtain a desired shape. Conversely, if the viscosity is too high, the coating workability tends to be lowered.
難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30の添加、注入方法は特に限定されず、例えば、注射器、適宜な滴下装置等を使用できる。 The addition and injection method of the energy beam curable composition 30 for forming a difficult-to-extend part is not particularly limited, and for example, a syringe, an appropriate dropping device, or the like can be used.
難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30の使用量及び粘度を調整することにより、硬化後の難伸長部3の大きさ(面方向の大きさ及び高さ)をコントロールできる。難伸長性ポリマー部3を複数形成する場合は、適宜な間隔をおいて、難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30を適用する。なお、難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30の添加又は注入箇所を規制する手段を用いることにより、硬化後の難伸長部3の形状を制御することができる。 By adjusting the amount of use and the viscosity of the energy beam curable composition 30 for forming a hardly stretchable part, the size (size and height in the surface direction) of the difficultly stretched part 3 after curing can be controlled. In the case of forming a plurality of the hardly stretchable polymer portions 3, the energy ray curable composition 30 for forming the hardly stretchable portion is applied at an appropriate interval. In addition, the shape of the hard extension part 3 after hardening is controllable by using the means which regulates the addition or injection | pouring location of the energy beam curable composition 30 for hard extension part formation.
難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物の伸縮性母材形成用材料層への適用(塗工、滴下、印刷)の後、必要に応じて、難伸長部形成用材料が伸縮性母材形成用材料層の所定の深さまで浸透、移行するまで放置する。 After application (coating, dripping, printing) of the energy ray-curable composition for forming difficult stretchable parts to the stretchable base material forming material layer, the hard stretchable part forming material is stretchable base material as necessary. It is left until it penetrates and shifts to a predetermined depth of the forming material layer.
工程Cでは、前記難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30を配した伸縮性母材形成用材料層20にエネルギー線を照射して、前記難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30及び伸縮性母材形成用材料層20を硬化させて、伸縮性母材2中に難伸長部3が部分的に且つ一体的に形成されたシート状伸縮性有機基材を得る。 In step C, the stretchable base material-forming material layer 20 provided with the hardly stretchable part forming energy beam curable composition 30 is irradiated with energy rays to form the difficultly stretchable part energy beam curable composition 30. Then, the stretchable base material forming material layer 20 is cured to obtain a sheet-like stretchable organic base material in which the stretchable portions 3 are partially and integrally formed in the stretchable base material 2.
図5ではエネルギー線として紫外線(UV)を用いているが、α線、β線、γ線、中性子線、電子線などの電離性放射線や、可視光線であってもよい。 Although ultraviolet rays (UV) are used as energy rays in FIG. 5, ionizing radiation such as α rays, β rays, γ rays, neutron rays, electron rays, and visible rays may be used.
エネルギー線の照射エネルギー、照射時間、照射方法などは特に限定されず、光重合開始剤を活性化させて、モノマー成分の反応を生じさせることができればよい。 The irradiation energy, irradiation time, irradiation method, and the like of the energy beam are not particularly limited as long as the photopolymerization initiator can be activated to cause the monomer component to react.
エネルギー線の照射装置としては、慣用のものを使用できる。例えば、紫外線を照射する場合には、水銀灯、蛍光灯、ナトリウムランプ、メタルハライドランプ、キセノンランプ、ネオン管、ネオンランプ、高輝度放電灯などを用いることができる。 As the energy beam irradiation device, a conventional device can be used. For example, when irradiating ultraviolet rays, a mercury lamp, a fluorescent lamp, a sodium lamp, a metal halide lamp, a xenon lamp, a neon tube, a neon lamp, a high-intensity discharge lamp, or the like can be used.
エネルギー線照射の際、酸素による硬化阻害を防止する目的や、表面を平滑にする目的のため、前記難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30を含有させた伸縮性母材形成用材料層20の表面にカバーフィルム50を積層してもよい。カバーフィルム50としては、前記支持体40と同様のセパレータなどを使用できる。カバーフィルム50の積層は、例えば、ハンドローラー等を用いて行うことができる。 A stretchable base material forming material layer containing the energy beam curable composition 30 for forming a hardly stretchable part for the purpose of preventing curing inhibition by oxygen and the purpose of smoothing the surface during irradiation with energy rays. The cover film 50 may be laminated on the surface of 20. As the cover film 50, a separator similar to the support 40 can be used. Lamination | stacking of the cover film 50 can be performed using a hand roller etc., for example.
エネルギー線照射は数段階に分けて行ってもよい。例えば、紫外線を照射する場合、図5の(c)に示すように、予め高い照度(例えば、50〜1000mW/cm2)にて短時間照射(例えば、積算照射量10〜1000mJ/cm2)した後、図5の(d)に示すように、前記カバーフィルム50を積層し、その後、図5の(e)に示すように、低い照度(例えば、1〜40mW/cm2)にて長時間照射(例えば、積算照射量500〜10000mJ/cm2)してもよい。このように、エネルギー線照射を数段階に分けて照射することにより、ハンドローラーによるカバーフィルム50の積層時の作業性を向上することができる。図中、200は部分硬化した伸縮性母材形成用材料層であり、300は部分硬化した難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物である。 Energy beam irradiation may be performed in several stages. For example, in the case of irradiating ultraviolet rays, as shown in FIG. 5C, irradiation is performed for a short time (for example, an integrated irradiation amount of 10 to 1000 mJ / cm 2 ) at a high illuminance (for example, 50 to 1000 mW / cm 2 ). Then, as shown in FIG. 5 (d), the cover film 50 is laminated, and after that, as shown in FIG. 5 (e), it is long at a low illuminance (for example, 1 to 40 mW / cm 2 ). You may perform time irradiation (for example, integrated irradiation amount 500-10000mJ / cm < 2 >). Thus, the workability at the time of lamination | stacking of the cover film 50 by a hand roller can be improved by dividing energy beam irradiation in several steps. In the figure, 200 is a partially cured stretchable base material forming material layer, and 300 is a partially cured energy beam curable composition for forming a difficultly stretched portion.
エネルギー線照射を1段で行う場合には、例えば、工程Bの後、図5の(d′)に示すように、前記難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30を含有させた伸縮性母材形成用材料層20の表面にカバーフィルム50を積層し、図5の(e′)に示すように紫外線を照射してもよい。この場合の紫外線の照度は、例えば1〜40mW/cm2、積算照射量は、例えば500〜10000mJ/cm2である。 In the case where the energy beam irradiation is performed in a single stage, for example, after step B, as shown in FIG. 5 (d ′), the stretchability containing the energy beam curable composition 30 for forming a hardly stretchable portion is contained. A cover film 50 may be laminated on the surface of the base material forming material layer 20 and irradiated with ultraviolet rays as shown in FIG. Illuminance of ultraviolet in this case, for example 1~40mW / cm 2, integrated dose is, for example, 500~10000mJ / cm 2.
上記のようにして難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物30及び伸縮性母材形成用材料層20を硬化させた後、図5の(f)に示されるように、必要に応じてカバーフィルム50、支持体40を剥離し、必要に応じて適宜な大きさに切断し、シート状伸縮性有機基材1として使用に供される。切断操作はカバーフィルム50や支持体40の剥離前に行ってもよい。 After curing the energy beam curable composition 30 for forming a difficultly stretched portion and the stretchable base material forming material layer 20 as described above, as shown in FIG. The film 50 and the support 40 are peeled off and cut to an appropriate size as necessary, and used as the sheet-like stretchable organic substrate 1. The cutting operation may be performed before the cover film 50 or the support 40 is peeled off.
なお、難伸長部と伸縮性母材部の界面近傍において、組成及び/又は物性(伸び特性、硬度等)に関してグラデーションをなしているシート状伸縮性有機基材は、例えば、伸縮性母材形成用材料及び難伸長部形成用材料として、互いに共通又は類似する材料(モノマー等)を用いたり、互いに親和性のある材料(溶媒、モノマー等)を用いることにより製造することができる。このようなグラデーションは、モノマー成分、溶媒等の拡散、移行と、その後の硬化、溶媒の乾燥除去等により形成される。従って該グラデーションを有する伸長性有機基材のグラデーション部では、各部位(難伸長部、伸縮性母材部)の形成用材料から想定される組成とは異なるものとなる。なお、グラデーションの程度(幅)は、伸縮性母材形成用材料及び難伸長部形成用材料(モノマー等)の種類や量により調整できる。また、前記のように、難伸長部形成用材料としてのエネルギー線硬化性組成物中にポリマーを配合する場合には、該ポリマーの種類、量、重量平均分子量等によりグラデーションの程度(幅)を調整することもできる。 In addition, the sheet-like stretchable organic base material having gradation regarding the composition and / or physical properties (elongation characteristics, hardness, etc.) in the vicinity of the interface between the difficultly stretched portion and the stretchable base material portion is formed by, for example, stretchable base material. It can be manufactured by using materials that are common or similar to each other (monomers, etc.) or materials that are compatible with each other (solvents, monomers, etc.). Such gradation is formed by diffusion and migration of monomer components, solvents, and the like, and subsequent curing, solvent removal, and the like. Therefore, the gradation part of the extensible organic base material having the gradation is different from the composition assumed from the material for forming each part (difficult to stretch part, stretchable base material part). The gradation level (width) can be adjusted by the type and amount of the stretchable base material forming material and the difficult stretch portion forming material (monomer or the like). In addition, as described above, when a polymer is blended in the energy ray curable composition as the material for forming a difficultly stretched portion, the degree of gradation (width) is determined depending on the type, amount, weight average molecular weight, and the like of the polymer. It can also be adjusted.
こうして得られるシート状伸縮性有機基材は本発明の伸縮性回路基板における基板として使用される。 The sheet-like stretchable organic substrate thus obtained is used as a substrate in the stretchable circuit board of the present invention.
[パリレン薄膜層]
本発明では、基板1の難伸長部3側の面上にパリレン薄膜層4を有する。パリレン薄膜層4を設けることにより、有機薄膜トランジスタ素子10を載せる表面の耐熱性が向上し、基板1表面の硬度が高くなり、プロセスの熱などによる基材の曲りなどのダメージを低減できるため、有機薄膜トランジスタ素子10を安定に基板1の難伸長部3上に載置できる。また、基板1上にパリレン薄膜層4を設けることで、基板1の伸縮性母材2表面のタックにより該基板1と伸縮性回路基板製造工程で用いる装置やその部品とが貼着してプロセス上のトラブルが生じるのを防止できる。
[Parylene thin film layer]
In this invention, it has the parylene thin film layer 4 on the surface at the side of the difficult extension part 3 of the board | substrate 1. FIG. By providing the parylene thin film layer 4, the heat resistance of the surface on which the organic thin film transistor element 10 is placed is improved, the hardness of the surface of the substrate 1 is increased, and damage such as bending of the base material due to process heat can be reduced. The thin film transistor element 10 can be stably placed on the difficult extension 3 of the substrate 1. Further, by providing the parylene thin film layer 4 on the substrate 1, the substrate 1 and the device used in the elastic circuit board manufacturing process and its components are adhered to each other by the tack of the surface of the elastic base material 2 of the substrate 1. The above trouble can be prevented.
パリレンはパラキシリレン系ポリマーの総称であり、パリレンN、パリレンC、パリレンD、パリレンHT、パリレンdiX−SRなどが存在する。本発明では、これらのいずれのパリレンも使用できるが、中でも、耐熱性の高いパリレンdiX−SRが好ましい。 Parylene is a general term for paraxylylene-based polymers, and includes Parylene N, Parylene C, Parylene D, Parylene HT, Parylene diX-SR, and the like. In the present invention, any of these parylenes can be used, among which parylene diX-SR having high heat resistance is preferable.
パリレン薄膜層4は、特に制限されないが、例えば、パリレンを公知の蒸着法(例えば、真空蒸着法、熱CVD法など)によって基板1の表面に蒸着させることにより、形成することができる。 The parylene thin film layer 4 is not particularly limited, but can be formed, for example, by depositing parylene on the surface of the substrate 1 by a known vapor deposition method (for example, a vacuum vapor deposition method, a thermal CVD method, or the like).
パリレン薄膜層4の厚みは、1〜1.2μmである。パリレン薄膜層4の厚みが1μm未満では、有機薄膜トランジスタ素子10を載せるための難伸長部の耐熱性が十分とはいえず、また、真空蒸着法でゲート電極成膜時にパターニングに用いるメタルマスクがくっついてしまう。逆に、パリレン薄膜層4の厚みが1.2μmを超えると、基板であるシート状伸縮性有機基材の伸縮性を損ないやすく、かつ、難伸長部3表面の平坦性が損なわれる。 The parylene thin film layer 4 has a thickness of 1 to 1.2 μm. If the thickness of the parylene thin film layer 4 is less than 1 μm, it cannot be said that the heat resistance of the difficultly stretched portion for mounting the organic thin film transistor element 10 is sufficient, and a metal mask used for patterning at the time of gate electrode film formation by the vacuum evaporation method is stuck. End up. On the other hand, when the thickness of the parylene thin film layer 4 exceeds 1.2 μm, the stretchability of the sheet-like stretchable organic base material that is the substrate tends to be impaired, and the flatness of the surface of the difficultly stretchable portion 3 is impaired.
[有機薄膜トランジスタ素子]
本発明において、有機薄膜トランジスタ素子としては、p型半導体ジナフト[2,3−b:2′,3′−f]チエノ[3,2−b]チオフェン(DNTT)を用いたボトムゲートトップコンタクト型 2V駆動薄膜トランジスタ(TFT)を使用している。
[Organic thin film transistor element]
In the present invention, the organic thin film transistor element is a bottom gate top contact type 2V using p-type semiconductor dinaphtho [2,3-b: 2 ′, 3′-f] thieno [3,2-b] thiophene (DNTT). A driving thin film transistor (TFT) is used.
図1に示す有機薄膜トランジスタ素子10は、その一例である(例えば、特開2009−224714号公報等参照)。 The organic thin film transistor element 10 shown in FIG. 1 is an example thereof (see, for example, JP 2009-224714 A).
図1において、有機薄膜トランジスタ素子10は、前記のように、パリレン薄膜層4に接しているゲート電極5と、前記ゲート電極5表面を被覆するゲート絶縁膜6と、前記ゲート絶縁膜6上に形成された自己組織化単分子膜7と、前記自己組織化単分子膜7上に形成された有機半導体膜8と、前記有機半導体膜8上に形成されたソース電極9a及びドレイン電極9bとで構成されている。 In FIG. 1, the organic thin film transistor element 10 is formed on the gate insulating film 6 as described above, the gate electrode 5 in contact with the parylene thin film layer 4, the gate insulating film 6 covering the surface of the gate electrode 5. A self-assembled monolayer film 7, an organic semiconductor film 8 formed on the self-assembled monolayer film 7, and a source electrode 9 a and a drain electrode 9 b formed on the organic semiconductor film 8. Has been.
有機薄膜トランジスタ素子10において、例えば、ゲート電極5のサイズは、ゲート長:LGは、5μm〜30μmの範囲、好ましくは、7μm〜20μmの範囲に選択し、ゲート幅:WGは、100μm〜300μmの範囲に選択する。また、チャネル長:Lchannelは、ゲート長:LGを基準として、2LG≧Lchannel≧LGの範囲、好ましくは、4/3・LG≧Lchannel≧LGの範囲に選択する。すなわち、ゲート電極5を挟むように形成される。ソース電極9aおよびドレイン電極9bのゲート電極側の側端間の間隔:LS−Dは、ゲート長:LGを基準として、2LG≧LS−D≧LGの範囲、好ましくは、4/3・LG≧LS−D≧LGの範囲に選択する。 In the organic thin-film transistor element 10, for example, the size of the gate electrode 5, the gate length: L G is in the range of 5 m to 30 m, preferably, selected in the range of 7Myuemu~20myuemu, gate width: W G is 100 m to 300 m Select the range. The channel length: L channel, the gate length: based on the L G, the range of 2L G ≧ L channel ≧ L G , preferably, selected within the range of 4/3 · L G ≧ L channel ≧ L G. That is, it is formed so as to sandwich the gate electrode 5. The source electrode 9a and the drain electrode 9b spacing between the side edge of the gate electrode side: LS-D has a gate length: based on the L G, the range of 2L G ≧ L S-D ≧ L G, preferably, 4 / 3 · L G ≧ L selected from the range of S-D ≧ L G.
ゲート電極5はゲート絶縁膜6の下に位置し、ソース電極9aおよびドレイン電極9bは、ゲート絶縁膜6の上に位置するが、直上から観察した際、ソース電極9aおよびドレイン電極9bの形状は、実質的に、それぞれ、長さLSの短辺、長さWSの長辺を有する矩形、長さLDの短辺、長さWDの長辺を有する矩形と見做すことができ、また、ゲート絶縁膜6の形状は、長さLGの短辺、長さWGの長辺を有する矩形と見做すことができるように、各電極のパターン形状を選択することが好ましい。 The gate electrode 5 is located below the gate insulating film 6 and the source electrode 9a and the drain electrode 9b are located above the gate insulating film 6, but when viewed from directly above, the shape of the source electrode 9a and the drain electrode 9b is substantially each short side of length L S, rectangle having long sides of length W S, the short side length L D, be regarded as a rectangle having a long side length W D can, the shape of the gate insulating film 6, as can be regarded as rectangular having short sides, the long side length W G of the length L G, to select a pattern of the electrodes preferable.
通常、ゲート電極5、ソース電極9aおよびドレイン電極9bの形状を前記のように選択する際、ソース電極9aおよびドレイン電極9bの矩形パターンの一辺と、ゲート電極の5矩形パターンの長さWGの長辺が並行となるように配置する。例えば、ソース電極9aおよびドレイン電極9bの矩形パターンの長さWSの長辺、長さWDの長辺が、ゲート電極の矩形パターンの長さWGの長辺が並行となるように配置する。その際、ソース電極9aおよびドレイン電極9bの矩形パターンの長さWSの長辺、長さWDの長辺は、ゲート電極5の矩形パターンの長さWGの長辺より短くし、また、長さWSの長辺と長さWDの長辺を等しい長さに選択する。すなわち、WG>WS=WDの条件を満足するように選択する。例えば、WG>WS=WD≧1/2・WGの条件、好ましくは、WG>WS=WD≧2/3・WGの条件を満足するように選択する。例えば、ソース電極9aおよびドレイン電極9bの矩形パターンの長さWSの長辺、長さWDの長辺を、WG>WS=WD≧2/3・WGの条件を満す範囲で、70μm〜250μmの範囲に選択する。 Usually, the gate electrode 5, when selecting the shape of the source electrode 9a and the drain electrode 9b as described above, to one side of the rectangular pattern of the source electrode 9a and the drain electrode 9b, five rectangular pattern of the gate electrode length W G Arrange so that the long sides are parallel. For example, the long side length W S of the rectangular pattern of the source electrode 9a and the drain electrode 9b, the long side length W D is located such that a long side length W G of the rectangular pattern of the gate electrode is parallel To do. At that time, the long side length W S of the rectangular pattern of the source electrode 9a and the drain electrode 9b, the long side length W D is shorter than the long side length W G of the rectangular pattern of the gate electrode 5, also , it selects the long side of the long side and the length W D of the length W S equal length. That is, selected to satisfy the condition of W G> W S = W D . For example, the condition of W G> W S = W D ≧ 1/2 · W G, preferably selected so as to satisfy the condition W G> W S = W D ≧ 2/3 · W G. For example, the long side length W S of the rectangular pattern of the source electrode 9a and the drain electrode 9b, the long side length W D, satisfy the condition of W G> W S = W D ≧ 2/3 · W G to The range is selected from the range of 70 μm to 250 μm.
一方、有機薄膜トランジスタ素子10の動作層として利用される有機半導体の薄膜層(有機半導体膜)8は、少なくとも、チャネル長:Lchannelのチャネル領域は、実質的に、長さLchannelの短辺、長さWchannelの長辺を有する矩形と見做すことができるように、パターンニングする。このチャネル領域の幅:Wchannelは、ゲート電極5のゲート幅:WGより狭くする。通常、チャネル領域の幅:Wchannelは、ソース電極9aおよびドレイン電極9bの矩形パターンの長さWSの長辺、長さWDの長辺よりも狭くすることが好ましい。すなわち、少なくとも、WG>Wchannelの条件を満足し、好ましくは、WG>WS=WD≧Wchannelの条件を満足するように選択する。例えば、WG>WS=WD≧Wchannel≧1/2・WGの条件、より好ましくは、WG>WS=WD≧Wchannel≧2/3・WGの条件を満足するように選択する。例えば、チャネル領域の幅:Wchannelを、WG>WS=WD≧Wchannel≧2/3・WGの条件を満す範囲で、70μm〜250μmの範囲に選択する。 On the other hand, an organic semiconductor thin film layer (organic semiconductor film) 8 used as an operation layer of the organic thin film transistor element 10 has at least a channel region of channel length: L channel , substantially a short side of length L channel , Patterning is performed so that it can be regarded as a rectangle having a long side of length W channel . The width of the channel region: W channel is made smaller than the gate width of the gate electrode 5: WG. Usually, the width of the channel region: W channel is preferably smaller than the long sides of the long sides, the length W D of the length W S of the rectangular pattern of the source electrode 9a and the drain electrode 9b. That is, at least the condition of W G > W channel is satisfied, and preferably, the condition of W G > W S = W D ≧ W channel is satisfied. For example, the condition of W G> W S = W D ≧ W channel ≧ 1/2 · W G, more preferably, satisfies the conditions of W G> W S = W D ≧ W channel ≧ 2/3 · W G To choose. For example, the width of the channel region: a W channel, the W G> W S = W condition D ≧ W channel ≧ 2/3 · W G in full to the range, to select the range of 70Myuemu~250myuemu.
有機薄膜トランジスタにおいて、チャネル領域の長さ:Lchannelは、ソース電極9aおよびドレイン電極9bのゲート電極5側の側端間の間隔:LS−Dに相当している。チャネル領域の直上から観察した際、ソース電極9aのゲート電極5側の側端と、ゲート電極5の側端との間隙:ΔLS−Gと、ドレイン電極9bのゲート電極5側の側端と、ゲート電極5の側端との間隙:ΔLD−Gとは、その合計は、(LS−D−LG)=(ΔLS−G+ΔLD−G)となっている。従って、LG≧(ΔLS−G+ΔLD−G)≧0、好ましくは、1/3・LG≧(ΔLS−G+ΔLD−G)≧0の範囲とする。例えば、ゲート長:LGは、5μm〜30μmの範囲、好ましくは、7μm〜20μmの範囲に選択される際、(ΔLS−G+ΔLD−G)は、0μm〜20μmの範囲、好ましくは、0μm〜10μmの範囲に選択する。 In the organic thin film transistor, the length of the channel region: L channel corresponds to the distance between the side edges of the source electrode 9a and the drain electrode 9b on the gate electrode 5 side: L SD . When viewed from directly above the channel region, and a side edge of the gate electrode 5 side source electrode 9a, the gap between the side edge of the gate electrode 5: and [Delta] L S-G, and the side edge of the gate electrode 5 side drain electrode 9b The sum of the gap with the side edge of the gate electrode 5: ΔL D−G is (L S−D −L G ) = (ΔL S−G + ΔL D−G ). Therefore, L G ≧ (ΔL S−G + ΔL D−G ) ≧ 0, preferably 1/3 · L G ≧ (ΔL S−G + ΔL D−G ) ≧ 0. For example, gate length: L G is in the range of 5 m to 30 m, preferably, when it is selected in the range of 7μm~20μm, (ΔL S-G + ΔL D-G) is in the range of 0Myuemu~20myuemu, preferably, A range of 0 μm to 10 μm is selected.
ソース電極9aおよびドレイン電極9bの矩形パターンを形成する際、そのパターン描画精度は、前記の(ΔLS−G+ΔLD−G)の値よりも、より高い精度であることが必要である。換言するならば、そのパターン描画精度は、最小のスペース幅が、1μm〜10μmの範囲となるように選択することが好ましい。また、描画される線幅のバラツキ(直線からの揺らぎ幅)は、1μm〜10μmの範囲となるように、パターン描画精度を保持することが好ましい。超微細インクジェット印刷装置を用いて、描画する際、個々の液滴が塗布されるドット径(直径)は、描画精度に応じて、0.5μm〜5μmの範囲となるように、液滴の吐出条件を設定する。 When forming a rectangular pattern of the source electrode 9a and the drain electrode 9b, the pattern drawing accuracy needs to be higher than the value of (ΔL S−G + ΔL D−G ). In other words, the pattern drawing accuracy is preferably selected so that the minimum space width is in the range of 1 μm to 10 μm. Further, it is preferable to maintain the pattern drawing accuracy so that the line width variation (fluctuation width from the straight line) to be drawn is in the range of 1 μm to 10 μm. When drawing using an ultra-fine inkjet printer, droplet diameter is applied so that the dot diameter (diameter) to which each droplet is applied is in the range of 0.5 μm to 5 μm, depending on the drawing accuracy. Set conditions.
ゲート電極5を形成する金属として、従来から有機薄膜トランジスタ素子のゲート電極5の形成に利用されている金属種を利用できる。本発明においては、ゲート電極5を形成する金属として、Au、Ag、Cu、Al、Cr、Ni、Tiから選択される金属を採用することが好ましい。これらの中でも、Alが好ましい。パリレン薄膜層4上に、ゲート電極5を形成する際、蒸着法、スパッタ法を利用して金属薄膜を形成し、フォトリソグラフ法を適用して、所望の形状パターンにパターニングを行う手法が利用できる。また、ゲート電極5の形成工程でも、超微細インクジェット印刷装置を用いて、金属ナノ粒子分散液を所定のパターン形状に塗布して、基板上に金属ナノ粒子分散液塗布層を形成し、該金属ナノ粒子分散液塗布層を加熱焼成処理して、金属ナノ粒子の焼結体層からなるゲート電極5を形成することもできる。 As a metal for forming the gate electrode 5, a metal species conventionally used for forming the gate electrode 5 of the organic thin film transistor element can be used. In the present invention, it is preferable to employ a metal selected from Au, Ag, Cu, Al, Cr, Ni, and Ti as the metal that forms the gate electrode 5. Among these, Al is preferable. When forming the gate electrode 5 on the parylene thin film layer 4, a technique of forming a metal thin film by using a vapor deposition method or a sputtering method and applying a photolithographic method to pattern the desired shape pattern can be used. . Also in the formation process of the gate electrode 5, the metal nanoparticle dispersion liquid is applied in a predetermined pattern shape using an ultrafine ink jet printing apparatus to form a metal nanoparticle dispersion liquid coating layer on the substrate, and the metal The gate electrode 5 made of a sintered body layer of metal nanoparticles can also be formed by heating and baking the nanoparticle dispersion coating layer.
ゲート絶縁膜6を形成する絶縁材料として、従来から有機薄膜トランジスタ素子のゲート絶縁膜の形成に利用されている絶縁材料を利用できる。本発明においては、ゲート絶縁膜6を形成する絶縁材料として、無機絶縁材料、例えば、SiO2、SiN、AlOx(酸化アルミニウム;Al2O3等)、Ta2O5が好適に利用できる。これらの中でも、AlOxが好ましい。これら無機絶縁材料からなるゲート絶縁膜6の形成は、PE・CVD(Plasma-Enhanced Chemical Vapor Phase Deposition)法、スパッタ法を利用して、所望の膜厚の絶縁膜を形成し、フォトリソグラフ法を適用して、所望の形状パターンにパターニングを行う手法が利用できる。ゲート絶縁膜6の膜厚は、用いる絶縁膜の比誘電率:εr−I、ならびに、絶縁耐性を考慮して、所望のゲート耐圧を達成できる範囲に選択する。 As an insulating material for forming the gate insulating film 6, an insulating material conventionally used for forming a gate insulating film of an organic thin film transistor element can be used. In the present invention, as the insulating material for forming the gate insulating film 6, inorganic insulating materials such as SiO 2 , SiN, AlOx (aluminum oxide; Al 2 O 3, etc.) and Ta 2 O 5 can be suitably used. Among these, AlOx is preferable. The gate insulating film 6 made of these inorganic insulating materials is formed by using a PE-CVD (Plasma-Enhanced Chemical Vapor Phase Deposition) method or a sputtering method to form an insulating film having a desired film thickness, and using a photolithography method. A method of applying and patterning a desired shape pattern can be used. The film thickness of the gate insulating film 6 is selected in a range in which a desired gate breakdown voltage can be achieved in consideration of the relative dielectric constant: ε r-I of the insulating film to be used and the insulation resistance.
ゲート電極の厚さ:Tgateは、通常、その表面を被覆するゲート絶縁膜6の膜厚:Tinsulatorよりも、薄くなるように選択することが好ましい。すなわち、Tinsulator≧Tgateの条件を満足するように選択する。例えば、3/4・Tinsulator≧Tgate≧1/8・Tinsulatorの条件、好ましくは、2/3・Tinsulator≧Tgate≧1/6・Tinsulatorの条件を満足するように、ゲート電極の厚さ:Tgateを選択する。 The thickness of the gate electrode: Tgate is usually preferably selected to be smaller than the film thickness: Tinsulator of the gate insulating film 6 covering the surface. That is, the selection is made so as to satisfy the condition of Tinsulator ≧ Tgate. For example, the thickness of the gate electrode: Tgate is set so as to satisfy the condition of 3/4 · Tinsulator ≧ Tgate ≧ 1/8 · Tinsulator, preferably 2/3 · Tinsulator ≧ Tgate ≧ 1/6 · Tinsulator. select.
前記の条件を満たす範囲では、ゲート電極の側端による段差(Tgate)よりも、形成されるゲート絶縁膜の膜厚:Tinsulatorが厚いため、この段差部の側壁面に対しても、ゲート絶縁膜による被覆が確実に達成される。 As long as the above conditions are satisfied, since the gate insulating film thickness: Tinsulator is thicker than the step (Tgate) due to the side edge of the gate electrode, the gate insulating film is also formed on the side wall surface of the step portion. The coating by is reliably achieved.
あるいは、本発明においては、ゲート絶縁膜6を形成する絶縁材料として、有機絶縁材料、例えば、エポキシ樹脂などの絶縁性樹脂材料を利用することもできる。絶縁性樹脂材料を使用する場合も、ゲート絶縁膜6の膜厚は、用いる絶縁膜の比誘電率:εr−I、ならびに、絶縁耐性を考慮して、所望のゲート耐圧を達成できる範囲に選択する。 Alternatively, in the present invention, as the insulating material for forming the gate insulating film 6, an organic insulating material, for example, an insulating resin material such as an epoxy resin can be used. Even when an insulating resin material is used, the film thickness of the gate insulating film 6 is within a range in which a desired gate breakdown voltage can be achieved in consideration of the relative dielectric constant: ε r-I of the insulating film to be used and the insulation resistance. select.
ゲート絶縁膜6上に形成される有機半導体の薄膜層が、動作層として利用される。その際、チャネル領域では、ゲート電極の直上、ゲート絶縁膜6と有機半導体膜8との界面に実効的なチャネル層が形成される。すなわち、ゲート電極に印加されるゲート電圧:VGが、閾値バイアス:Vthを超えた時点(VG<Vth)で、前記の実効的なチャネル層を経由するドレイン電流:Id−ONが流れ、「ON状態」となる。 An organic semiconductor thin film layer formed on the gate insulating film 6 is used as an operation layer. At that time, in the channel region, an effective channel layer is formed immediately above the gate electrode at the interface between the gate insulating film 6 and the organic semiconductor film 8. That is, when the gate voltage: V G applied to the gate electrode exceeds the threshold bias: V th (V G <V th ), the drain current passing through the effective channel layer: I d-ON Flows into the “ON state”.
本発明においても、ゲート絶縁膜6上に有機半導体の薄膜層(有機半導体膜)8を形成する際、予め、ゲート絶縁膜6表面に、有機化合物の「自己組織化単分子膜(Self Assembled Monolayer:SAM)」7を形成する手法を利用することが好ましい。この手法に関しては、例えば、米国特許第6,433,359号明細書(特許文献1)、Frank-J. Meyer zu Heringdorf, et al. "Growth Dynamics of Pentacene Thin Films", Nature Vol.412, 517 (2001)などに、その詳細が開示されている。 Also in the present invention, when the organic semiconductor thin film layer (organic semiconductor film) 8 is formed on the gate insulating film 6, the “self-assembled monolayer (Self Assembled Monolayer) of the organic compound is previously formed on the surface of the gate insulating film 6. : SAM) "7 is preferably used. Regarding this method, for example, US Pat. No. 6,433,359 (Patent Document 1), Frank-J. Meyer zu Heringdorf, et al. “Growth Dynamics of Pentacene Thin Films”, Nature Vol. 412 517 (2001) discloses the details.
有機半導体膜8を構成する有機化合物の自己組織化単分子膜7を形成する手法としては、浸漬法、スタンプ法が挙げられる。 Examples of the method for forming the self-assembled monomolecular film 7 of the organic compound constituting the organic semiconductor film 8 include an immersion method and a stamp method.
浸漬法では、自己組織化単分子膜7を形成させる表面をアッシング処理(例えば、300Wで5分間)した後、その有機化合物が単分子で分散している単分子分散液中に浸漬する。これにより、ゲート絶縁膜6表面に吸着した単分子を核として、「自己組織的」にラテラル方向に単分子膜が成長し、最終的に、規則的な分子配向を有する自己組織化単分子膜7が形成される。 In the dipping method, the surface on which the self-assembled monomolecular film 7 is formed is subjected to an ashing treatment (for example, 300 W for 5 minutes), and then immersed in a monomolecular dispersion in which the organic compound is dispersed in a single molecule. Thereby, a monomolecular film grows in a “self-organizing” lateral direction with the monomolecule adsorbed on the surface of the gate insulating film 6 as a nucleus, and finally, a self-assembled monomolecular film having a regular molecular orientation. 7 is formed.
スタンプ法では、ポリジメチルシロキサンなどの支持体を加熱乾燥させた後、単分子分散液中に浸漬および乾燥させることにより支持体の表面に自己組織化単分子膜7を形成させ、スタンプを得る。その後、ゲート絶縁膜6表面をアッシング処理(例えば、300Wで5分間)し、自己組織化単分子膜7を密着させた後、支持体から自己組織化単分子膜7を剥離することにより、自己組織化単分子膜7を転写する。このスタンプ法によれば、シート状伸縮性有機基材の膨潤を防止できる。 In the stamp method, a support such as polydimethylsiloxane is heated and dried, and then immersed in a monomolecular dispersion and dried to form a self-assembled monolayer 7 on the surface of the support, thereby obtaining a stamp. Thereafter, the surface of the gate insulating film 6 is subjected to an ashing process (for example, at 300 W for 5 minutes), the self-assembled monolayer 7 is adhered, and then the self-assembled monolayer 7 is peeled off from the support. The organized monolayer 7 is transferred. According to this stamp method, swelling of the sheet-like stretchable organic base material can be prevented.
例えば、n−オクタデシルフォスフォン酸(C18H37PO3H)を用いて、「自己組織化単分子膜」を作製する際には、ゲート電極表面に形成された下地絶縁膜上に、n−オクタデシルフォスフォン酸(C18H37PO3H)の固定がなされることが好ましい。具体的には、下地絶縁膜の表面に存在するヒドロキシ基(−OH)と、該フォスフォン酸とのエステル結合を介して、固定がなされることが好ましい。この目的で利用される、下地絶縁膜としては、アルミニウム酸化物、銀酸化物、タンタル酸化物など、ゲート電極を構成する金属を酸化させることにより形成可能な金属酸化物からなる膜を採用することが好ましい。 For example, when a “self-assembled monomolecular film” is formed using n-octadecylphosphonic acid (C 18 H 37 PO 3 H), an n-octadecyl phosphonic acid is formed on the base insulating film formed on the surface of the gate electrode. - it is preferable that the fixing of the octadecyl phosphonic acid (C 18 H 37 PO 3 H ) is made. Specifically, it is preferable that fixation is performed through an ester bond between the hydroxy group (—OH) present on the surface of the base insulating film and the phosphonic acid. As a base insulating film used for this purpose, a film made of a metal oxide that can be formed by oxidizing a metal constituting a gate electrode, such as aluminum oxide, silver oxide, or tantalum oxide, is adopted. Is preferred.
その後、自己組織化単分子膜7を下地層として、有機化合物を、真空蒸着法を利用して、堆積すると、堆積される層も、下地層の規則性を反映した、秩序配列を保持した有機半導体の薄膜層(有機半導体膜)8となる。 Thereafter, when the organic compound is deposited using the self-assembled monomolecular film 7 as an underlayer using a vacuum evaporation method, the deposited layer also has an organic structure that maintains the ordered arrangement reflecting the regularity of the underlayer. A semiconductor thin film layer (organic semiconductor film) 8 is formed.
この自己組織化単分子膜7を下地層として利用する有機半導体の薄膜層(有機半導体膜)8の形成法は、下地層上での堆積過程は、真空蒸着法を利用するため、蒸散可能な低分子型の有機半導体材料に適用できる。例えば、テトラセン、ペンタセンなどのアセン類、オリゴチオフェン誘導体、フタロシアニン類、ジナフト[2,3−b:2′,3′−f]チエノ[3,2−b]チオフェン(ジナフトチオフェタフェン、DNTT)からなる有機半導体の薄膜層8の形成に好適に利用できる。作製する有機半導体層が、代表的なp型有機半導体であるペンタセン、または代表的なn型有機半導体であるヘキサデカフルオロ銅フタロシアニンからなる層である際、特に有効な手段となる。本発明においても、作製する有機半導体層は、ペンタセンまたはヘキサデカフルオロ銅フタロシアニン、ジナフト[2,3−b:2′,3′−f]チエノ[3,2−b]チオフェン(DNTT)からなる層であることが好ましい。 The organic semiconductor thin film layer (organic semiconductor film) 8 using the self-assembled monomolecular film 7 as an underlayer can be evaporated because the deposition process on the underlayer uses a vacuum evaporation method. It can be applied to low molecular organic semiconductor materials. For example, acenes such as tetracene and pentacene, oligothiophene derivatives, phthalocyanines, dinaphtho [2,3-b: 2 ′, 3′-f] thieno [3,2-b] thiophene (dinaphthothiofetaphene, DNTT The organic semiconductor thin film layer 8 can be suitably used. When the organic semiconductor layer to be produced is a layer made of pentacene, which is a typical p-type organic semiconductor, or hexadecafluorocopper phthalocyanine, which is a typical n-type organic semiconductor, this is a particularly effective means. Also in the present invention, the organic semiconductor layer to be formed is made of pentacene or hexadecafluoro copper phthalocyanine and dinaphtho [2,3-b: 2 ', 3'-f] thieno [3,2-b] thiophene (DNTT). A layer is preferred.
通常、有機半導体膜8の膜厚:Tchannelは、30nm〜100nmの範囲に選択することが好ましい。 Usually, it is preferable to select the film thickness T channel of the organic semiconductor film 8 in the range of 30 nm to 100 nm.
例えば、p型有機半導体材料であるペンタセンで形成される有機半導体膜を採用する場合には、該有機半導体膜の膜厚:Tchannelは、30nm〜50nmの範囲に選択することが好ましい。また、n型有機半導体材料であるヘキサデカフルオロ銅フタロシアニンで形成される有機半導体膜を採用する場合には、該有機半導体膜の膜厚:Tchannelは、30nm〜50nmの範囲に選択することが好ましい。さらに、ジナフト[2,3−b:2′,3′−f]チエノ[3,2−b]チオフェン(DNTT)で形成される有機半導体膜を採用する場合には、該有機半導体膜の膜厚:Tchannelは、30nm〜50nmの範囲に選択することが好ましい。 For example, when an organic semiconductor film formed of pentacene, which is a p-type organic semiconductor material, is employed, the thickness of the organic semiconductor film: T channel is preferably selected in the range of 30 nm to 50 nm. When an organic semiconductor film formed of hexadecafluorocopper phthalocyanine, which is an n-type organic semiconductor material, is employed, the thickness of the organic semiconductor film: T channel should be selected in the range of 30 nm to 50 nm. preferable. Further, when an organic semiconductor film formed of dinaphtho [2,3-b: 2 ′, 3′-f] thieno [3,2-b] thiophene (DNTT) is employed, the film of the organic semiconductor film Thickness: T channel is preferably selected in the range of 30 nm to 50 nm.
ゲート絶縁膜6上に、有機半導体膜8を形成した後、この有機半導体膜8の表面に、ソース電極9aおよびドレイン電極9bを形成する。前記ソース電極9aおよびドレイン電極9bの形成方法としては、公知の方法、例えば、超微細インクジェット印刷装置を用いて、金属ナノ粒子分散液を所定のパターン形状に塗布して、金属ナノ粒子分散液塗布層を形成し、該金属ナノ粒子分散液塗布層を加熱焼成処理して、金属ナノ粒子の焼結体層からなるソース電極9aおよびドレイン電極9bを形成する方法を採用できる(特開2009−224714号公報参照)。 After forming the organic semiconductor film 8 on the gate insulating film 6, the source electrode 9 a and the drain electrode 9 b are formed on the surface of the organic semiconductor film 8. As a method for forming the source electrode 9a and the drain electrode 9b, a metal nanoparticle dispersion liquid is applied in a predetermined pattern shape using a known method, for example, an ultrafine inkjet printing apparatus, and a metal nanoparticle dispersion liquid coating is performed. A method of forming a source electrode 9a and a drain electrode 9b made of a sintered body layer of metal nanoparticles by forming a layer and subjecting the metal nanoparticle dispersion liquid coating layer to heat baking treatment can be adopted (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-224714). No. publication).
上記方法では、前記金属ナノ粒子分散液塗布層の最小線幅を、1μm〜10μmの範囲に選択し、金属ナノ粒子分散液塗布層の塗布膜厚を、30nm〜600nmの範囲に選択できる。また、前記金属ナノ粒子分散液中に分散されている、金属ナノ粒子の平均粒子径を、1〜100nmの範囲とすることができる。 In the said method, the minimum line | wire width of the said metal nanoparticle dispersion liquid coating layer can be selected in the range of 1 micrometer-10 micrometers, and the coating film thickness of a metal nanoparticle dispersion liquid coating layer can be selected in the range of 30 nm-600 nm. Moreover, the average particle diameter of the metal nanoparticle currently disperse | distributed in the said metal nanoparticle dispersion liquid can be made into the range of 1-100 nm.
前記金属ナノ粒子としては、金、銀、銅、白金、パラジウム、ニッケル、タンタル、ビスマス、インジウム、錫、チタン、アルミニウムからなる金属の群より選択される、一種類の金属からなるナノ粒子、二種類以上の金属からなるナノ粒子の混合物、あるいは、該金属の群より選択される、二種類以上の金属の合金からなるナノ粒子が挙げられる。これらの中でも、特に、金が好ましい。 The metal nanoparticles may be selected from the group consisting of metals consisting of gold, silver, copper, platinum, palladium, nickel, tantalum, bismuth, indium, tin, titanium, and aluminum. Examples thereof include a mixture of nanoparticles composed of two or more kinds of metals, or nanoparticles composed of an alloy of two or more kinds of metals selected from the group of the metals. Among these, gold is particularly preferable.
本発明の伸縮性回路基板において、複数の有機薄膜トランジスタ素子10が基板1の難伸長部3の上に(パリレン薄膜層4を介して)載置されている。本発明の伸縮性回路基板では、シート状伸縮性有機基材1を伸縮させても、難伸長部3はほとんど伸長せず変形が極めて小さいので、難伸長部3の上部に載置、固定された有機薄膜トランジスタ素子10の破損、脱落を防止できる。 In the stretchable circuit board of the present invention, a plurality of organic thin film transistor elements 10 are mounted on the difficultly stretched portion 3 of the substrate 1 (via the parylene thin film layer 4). In the stretchable circuit board of the present invention, even if the sheet-like stretchable organic base material 1 is stretched, the hardly stretchable portion 3 hardly stretches and the deformation is very small. Further, the organic thin film transistor element 10 can be prevented from being damaged or dropped off.
[伸縮性導体]
本発明の伸縮性回路基板では、前記難伸長部3の上部に載置された複数の有機薄膜トランジスタ素子10間が伸縮性導体11により接続されている。
[Elastic conductor]
In the stretchable circuit board of the present invention, the plurality of organic thin film transistor elements 10 mounted on the upper portion of the difficult extension portion 3 are connected by the stretchable conductor 11.
伸縮性導体11は、ゲート電極に接続されるワード線11aと、ドレイン電極9bに接続されるビット線11bとを備えている。また、ワード線11aとビット線11bとの重なり部分は、公知の方法によって電気的に絶縁されている。 The stretchable conductor 11 includes a word line 11a connected to the gate electrode and a bit line 11b connected to the drain electrode 9b. The overlapping portion between the word line 11a and the bit line 11b is electrically insulated by a known method.
この伸縮性導体11は、カーボンナノチューブ、ゴム及びイオン性液体からなるカーボンナノチューブゴム組成物により形成されている。このカーボンナノチューブゴム組成物としては、公知のもの、例えば、国際第2009/102077号パンフレットに記載されているカーボンナノチューブゴム組成物を使用できる。 This stretchable conductor 11 is formed of a carbon nanotube rubber composition comprising carbon nanotubes, rubber and ionic liquid. As this carbon nanotube rubber composition, a well-known thing, for example, the carbon nanotube rubber composition described in the international 2009/102077 pamphlet can be used.
カーボンナノチューブとしては、特に限定されず、公知の種々のカーボンナノチューブを使用できる。好ましいカーボンナノチューブとして、基板から垂直配向した成長させたカーボンナノチューブ配向集合体を成長基板から剥離した粉体状の単層カーボンナノチューブが挙げられる。カーボンナノチューブの長さは、例えば、1μm以上10cm以下である。 The carbon nanotube is not particularly limited, and various known carbon nanotubes can be used. Preferable carbon nanotubes include powder-like single-walled carbon nanotubes in which an aligned aggregate of carbon nanotubes grown vertically aligned from a substrate is peeled off from the growth substrate. The length of the carbon nanotube is, for example, 1 μm or more and 10 cm or less.
前記イオン性液体としては、カーボンナノチューブと親和性が高く、分散処理をした際にゲル状となるものが好ましい。イオン性液体として、例えば、1−エチル−3−メチルイミダゾリウム テトラフルオロボレート、1−エチル−3−メチルイミダゾリウム ヘキサフルオロホスフェート、1−エチル−3−メチルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミド、1−ブチル−3−メチルイミダゾリウム テトラフルオロボレート、1−ブチル−3−メチルイミダゾリウム ヘキサフルオロホスフェート、1−ブチル−3−メチルイミダゾリウム ビス(トリフルオロメチルスルホニル)イミドなどが挙げられる。 The ionic liquid preferably has a high affinity for carbon nanotubes and becomes a gel when dispersed. Examples of ionic liquids include 1-ethyl-3-methylimidazolium tetrafluoroborate, 1-ethyl-3-methylimidazolium hexafluorophosphate, 1-ethyl-3-methylimidazolium bis (trifluoromethylsulfonyl) imide 1-butyl-3-methylimidazolium tetrafluoroborate, 1-butyl-3-methylimidazolium hexafluorophosphate, 1-butyl-3-methylimidazolium bis (trifluoromethylsulfonyl) imide and the like.
前記ゴムとしては、特に制限はなく、天然ゴム、合成ゴムを使用でき、例えば、フッ素ゴム、天然ゴム、プロピレンゴム、ブタジエンゴム、イソプレンゴム、スチレンブタジエンゴム、クロロプレンアクリロゴム、ニトリルブタジエンゴム、ブチルゴム、エチレンプロピレンゴム、ウレタンゴム、シリコーンゴム、クロロスチレン化ポリエチレンゴム、塩化ポリエチレンゴム、アクリルゴム、エピクロロヒドリンゴム、多硫化ゴムなどが挙げられる。これらの中でも、取扱性、弾性等の観点から、フッ素ゴム、シリコーンゴムが好ましい。 The rubber is not particularly limited, and natural rubber and synthetic rubber can be used. For example, fluorine rubber, natural rubber, propylene rubber, butadiene rubber, isoprene rubber, styrene butadiene rubber, chloroprene acrylo rubber, nitrile butadiene rubber, butyl rubber. Ethylene propylene rubber, urethane rubber, silicone rubber, chlorostyrenated polyethylene rubber, chlorinated polyethylene rubber, acrylic rubber, epichlorohydrin rubber, polysulfide rubber and the like. Among these, fluororubber and silicone rubber are preferable from the viewpoints of handleability and elasticity.
前記カーボンナノチューブゴム組成物は、例えば、有機溶剤にカーボンナノチューブ及びイオン性液体を添加し、撹拌混合して、カーボンナノチューブイオン液体ゲルを得、これにゴムを添加し、撹拌混合することにより得ることができる。前記有機溶剤としては、例えば、トルエン、キシレン、アセトン、四塩化炭素、4−メチル−2−ペンタノンなどが挙げられる。 The carbon nanotube rubber composition is obtained, for example, by adding carbon nanotubes and an ionic liquid to an organic solvent, stirring and mixing to obtain a carbon nanotube ionic liquid gel, adding rubber thereto, and stirring and mixing. Can do. Examples of the organic solvent include toluene, xylene, acetone, carbon tetrachloride, 4-methyl-2-pentanone, and the like.
カーボンナノチューブとイオン性液体は親和性が高く、カーボンナノチューブをイオン性液体中に分散処理することで、ゲル状になる。そして、このカーボンナノチューブイオン性液体ゲル中に、イオン性液体と混和性を有するゴムを添加して混合すると、ゴムがカーボンナノチューブイオン性液体ゲル中に均一に分散する。 Carbon nanotubes and ionic liquids have high affinity, and the carbon nanotubes are gelled by dispersing the carbon nanotubes in the ionic liquid. When a rubber miscible with the ionic liquid is added and mixed in the carbon nanotube ionic liquid gel, the rubber is uniformly dispersed in the carbon nanotube ionic liquid gel.
前記カーボンナノチューブゴム組成物において、前記イオン性液体の量は、カーボンナノチューブ100重量部に対して、例えば、50〜1000重量部であり、下限は、好ましくは100重量部、上限は、好ましくは500重量部である。また、前記ゴムの量は、カーボンナノチューブ100重量部に対して、例えば、100〜10000重量部であり、下限は、好ましくは150重量部、上限は、好ましくは7000重量部である。 In the carbon nanotube rubber composition, the amount of the ionic liquid is, for example, 50 to 1000 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the carbon nanotubes, the lower limit is preferably 100 parts by weight, and the upper limit is preferably 500 parts. Parts by weight. The amount of the rubber is, for example, 100 to 10,000 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the carbon nanotubes, the lower limit is preferably 150 parts by weight, and the upper limit is preferably 7000 parts by weight.
伸縮性導体11は、前記カーボンナノチューブゴム組成物を、基板1上のパリレン薄膜層上の所定箇所に所望のパターンで(有機薄膜トランジスタ素子間が接続されるように)、スクリーン印刷、型抜き印刷、インクジェット印刷、ディスペンサー等を用いて印刷、塗布し、乾燥させることにより形成できる。 The stretchable conductor 11 is formed by printing the carbon nanotube rubber composition in a predetermined pattern on the parylene thin film layer on the substrate 1 (so that the organic thin film transistor elements are connected) by screen printing, die cutting printing, It can be formed by printing, applying and drying using inkjet printing, a dispenser or the like.
これにより、伸縮性回路基板を得ることができる。 Thereby, an elastic circuit board can be obtained.
このような伸縮性回路基板は、面方向(一軸方向)に145%伸長させたときにも、トランジスタの電気特性が変化せず、また、面方向(一軸方向)に20%伸長させたときの有機薄膜トランジスタ素子のキャリア移動度は、例えば、0.1〜1.0cm2/Vsである。 When such a stretchable circuit board is stretched 145% in the plane direction (uniaxial direction), the electrical characteristics of the transistor do not change, and when it is stretched 20% in the plane direction (uniaxial direction). The carrier mobility of the organic thin film transistor element is, for example, 0.1 to 1.0 cm 2 / Vs.
なお、キャリア移動度とは、固体の物質中での電子の移動のしやすさを示す量で、物質の電気的特性を決めるパラメータのひとつである。移動度は抵抗値に反比例し、半導体の場合、キャリアとは、電子および正孔のことであり、キャリアの移動のしやすさを示す値として定義される。 Note that the carrier mobility is an amount indicating the ease of movement of electrons in a solid substance, and is one of the parameters that determine the electrical characteristics of the substance. The mobility is inversely proportional to the resistance value, and in the case of a semiconductor, carriers are electrons and holes, and are defined as values indicating the ease of carrier movement.
また、キャリア移動度は、半導体パラメータ・アナライザーにより測定することができる。 The carrier mobility can be measured with a semiconductor parameter analyzer.
キャリア移動度が上記範囲であれば、半導体と絶縁膜の良好なコンタクトが実現されており、トランジスタの入出力特性に影響する伝達曲線の往復のヒステリシスが小さく、キャリアが移動せず留まることをかなり抑制することができる。 If the carrier mobility is in the above range, good contact between the semiconductor and the insulating film is realized, and the reciprocal hysteresis of the transfer curve that affects the input / output characteristics of the transistor is small, so that the carrier stays stationary. Can be suppressed.
そして、本発明の伸縮性回路基板においては、複数の有機薄膜トランジスタ素子10間が前記伸縮性導体11により接続され、電気的に導通している。本発明の伸縮性回路基板は、伸縮性母材1と伸縮性導体11がともに伸縮性を有するので、曲面追従性に優れ、人体や曲面を有する部材に取り付けが可能である。そして、前記のように、シート状伸縮性有機基材1を伸縮させても、難伸長部3はほとんど伸長しないので、難伸長部3の上部に載置、固定された有機薄膜トランジスタ素子10の破損、脱落を防止できる。 In the stretchable circuit board of the present invention, the plurality of organic thin film transistor elements 10 are connected by the stretchable conductor 11 and are electrically connected. Since the stretchable base material 1 and the stretchable conductor 11 are both stretchable, the stretchable circuit board of the present invention has excellent curved surface followability and can be attached to a human body or a member having a curved surface. And as mentioned above, even if the sheet-like stretchable organic base material 1 is stretched, the hardly stretchable portion 3 hardly stretches, so that the organic thin film transistor element 10 placed and fixed on the difficult stretchable portion 3 is damaged. , Can prevent falling out.
従って、本発明の伸縮性回路基板は、アンビエントエレクトロニクスにおいて、例えば、人とインターラクチィブな電子機器、或いはヘルスケアのため人の体内で使用される電気機器等に利用可能である。 Therefore, the stretchable circuit board of the present invention can be used in ambient electronics, for example, electronic devices that are interactive with humans, or electrical devices that are used in human bodies for health care.
以下、本発明について実施例及び比較例を挙げてさらに具体的に説明するが、本発明はこれらにより何ら限定されるものではない。 EXAMPLES Hereinafter, although an Example and a comparative example are given and this invention is demonstrated more concretely, this invention is not limited at all by these.
製造例1(母材シロップの製造)
冷却管、温度計、および攪拌装置を備えた反応容器に、(メタ)アクリル系モノマーとして、イソボルニルアクリレート(商品名「IBXA」、大阪有機化学工業(株)製)を71重量部、n−ブチルアクリレート(BA、東亜合成(株)製)を19重量部、アクリル酸(AA、東亜合成(株)製)を10重量部、ポリオールとして、数平均分子量650のポリ(オキシテトラメチレン)グリコール(PTMG650、三菱化学(株)製)を68.4重量部、触媒としてジラウリン酸ジブチルスズ(DBTL)0.01重量部を投入し、攪拌しながら、水添キシリレンジイソシアネート(HXDI、三井化学ポリウレタン(株)製)を25.5重量部滴下し、65℃で5時間反応させ、ウレタンポリマー−アクリル系モノマー混合物を得た。その後、さらにヒドロキシエチルアクリレート(商品名「アクリックス HEA」、東亜合成(株)製)6.1重量部を投入し、65℃で1時間反応することでアクリロイル基末端ウレタンポリマー−アクリル系モノマー混合物を得た。その後、光重合開始剤として2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン(商品名「イルガキュア651」、BASF社製)を0.15重量部添加した。なお、イソシアネート基含有成分およびポリオール(ヒドロキシル基含有成分)のNCO/OH(官能基の当量比)は1.25、ポリマー濃度は50wt%であった。得られたシロップ(母材シロップ)の粘度(25℃)は8Pa・sであった。
Production Example 1 (Manufacture of base material syrup)
In a reaction vessel equipped with a condenser, a thermometer, and a stirrer, 71 parts by weight of isobornyl acrylate (trade name “IBXA”, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd.) as a (meth) acrylic monomer, n -Poly (oxytetramethylene) glycol having a number average molecular weight of 650 using 19 parts by weight of butyl acrylate (BA, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), 10 parts by weight of acrylic acid (AA, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.), and polyol. (PTMG650, manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) 68.4 parts by weight and 0.01 part by weight of dibutyltin dilaurate (DBTL) as a catalyst were added, and while stirring, hydrogenated xylylene diisocyanate (HXDI, Mitsui Chemicals Polyurethane ( 25.5 parts by weight) was added dropwise and reacted at 65 ° C. for 5 hours to obtain a urethane polymer-acrylic monomer mixture. Thereafter, 6.1 parts by weight of hydroxyethyl acrylate (trade name “Acrix HEA”, manufactured by Toa Gosei Co., Ltd.) was further added and reacted at 65 ° C. for 1 hour, whereby an acryloyl group-terminated urethane polymer-acrylic monomer mixture. Got. Thereafter, 0.15 parts by weight of 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one (trade name “Irgacure 651”, manufactured by BASF) was added as a photopolymerization initiator. The isocyanate group-containing component and polyol (hydroxyl group-containing component) had an NCO / OH (functional group equivalent ratio) of 1.25 and a polymer concentration of 50 wt%. The viscosity (25 ° C.) of the obtained syrup (base material syrup) was 8 Pa · s.
製造例2(難伸長部形成用シロップの製造)
トリメチロールプロパンEO付加トリアクリレート(商品名「ビスコート#360」、大阪有機化学工業(株)製)100重量部に、青色染料(商品名「SZ7620」、大日精化工業(株)製)0.1重量部および光重合開始剤として2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン(商品名「イルガキュア651」0.1重量部を投入して分散させ、アクリル系モノマー混合物(難伸長性ポリマー部(難伸長部)形成用シロップ)を得た。得られた難伸長部形成用シロップの粘度(25℃)は66mPa・sであった。
Production Example 2 (Manufacture of Syrup for Forming Difficult Extensions)
100 parts by weight of trimethylolpropane EO-added triacrylate (trade name “Biscoat # 360”, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry Co., Ltd.) and blue dye (trade name “SZ7620”, manufactured by Dainichi Seika Kogyo Co., Ltd.) 1 part by weight and 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one (trade name “Irgacure 651” 0.1 parts by weight as a photoinitiator were added and dispersed, and an acrylic monomer mixture (difficult A syrup for forming an extensible polymer part (hardly stretchable part) was obtained, and the viscosity (25 ° C.) of the syrup for forming a difficultly stretched part was 66 mPa · s.
製造例3(シート状伸縮性有機基材の製造)
セパレータ(商品名「MRF38」、三菱樹脂(株)製、厚み38μm)の表面に、製造例1で得られた母材シロップをアプリケーターにて塗工し、厚み200μmの母材シロップ層を形成した。この母材シロップ層の所定部位に、上から、製造例2で得られた難伸長部形成用シロップ(約0.01g)を滴下し、島状の難伸長部形成用シロップ部を長手方向に30mm間隔(中心間距離)でパターンを形成した。そして、上から、紫外線ランプ(ブラックライトタイプ)により紫外線を照射し(紫外線照度:3.4mW/cm2、積算照射量:100mJ/cm2)、母材シロップ及び難伸長性ポリマー部形成用シロップを半硬化させた後、半硬化したシロップ上にカバーセパレータ(商品名「MRF38」、三菱樹脂(株)製、厚み38μm)をハンドローラーにて貼り合わせ、さらに紫外線ランプ(ブラックライトタイプ)により紫外線を照射し(紫外線照度:3.4mW/cm2、積算照射量:2000mJ/cm2)、母材シロップの硬化物(=易伸長性ポリマー母材)中に略円柱状の難伸長部形成用シロップ硬化部(=難伸長性ポリマー部)(直径約8mm)が所定の間隔[30mm間隔(中心間の距離)]で配置された伸長性有機基材(厚み:200μm)を得た。
Production Example 3 (Production of sheet-like stretchable organic base material)
The base material syrup obtained in Production Example 1 was applied to the surface of a separator (trade name “MRF38”, manufactured by Mitsubishi Plastics Co., Ltd., thickness 38 μm) with an applicator to form a base material syrup layer having a thickness of 200 μm. . From above, the difficultly stretched part forming syrup (about 0.01 g) obtained in Production Example 2 is dropped onto a predetermined portion of the base material syrup layer, and the island-shaped difficultly stretched part forming syrup part is elongated in the longitudinal direction. Patterns were formed at 30 mm intervals (center-to-center distance). From above, ultraviolet rays are irradiated by an ultraviolet lamp (black light type) (ultraviolet illuminance: 3.4 mW / cm 2 , integrated irradiation amount: 100 mJ / cm 2 ), and a base material syrup and a syrup for forming an inextensible polymer part After semi-curing, a cover separator (trade name “MRF38”, manufactured by Mitsubishi Plastics Co., Ltd., thickness 38 μm) is pasted onto the semi-cured syrup with a hand roller, and then UV light is applied with an ultraviolet lamp (black light type). (Ultraviolet light illuminance: 3.4 mW / cm 2 , integrated irradiation amount: 2000 mJ / cm 2 ), for forming a substantially columnar difficult stretch portion in a cured product of the base material syrup (= easily stretchable polymer base material) Stretchable organic base material in which syrup hardened portions (= hardly stretchable polymer portions) (diameter of about 8 mm) are arranged at a predetermined interval [30 mm spacing (distance between centers)] (Thickness: 200 μm) was obtained.
得られたシート状伸縮性有機基材の伸縮性母材中における難伸長部境界近傍の写真を図7に示す。 FIG. 7 shows a photograph of the vicinity of the hardly stretchable part boundary in the stretchable base material of the obtained sheet-like stretchable organic base material.
実施例1
製造例3で得られた伸長性有機基材Aの難伸長部側の表面に、化学蒸着法によってパリレンdiX−SR(第三化成(株)製)を蒸着させ、厚み1.1μmのパリレン薄膜層を形成した。
Example 1
Parylene diX-SR (manufactured by Daisan Kasei Co., Ltd.) was vapor-deposited by a chemical vapor deposition method on the surface of the stretchable organic substrate A obtained in Production Example 3 on the difficultly stretched portion side, and a parylene thin film having a thickness of 1.1 μm. A layer was formed.
次いで、得られたパリレン薄膜層の表面における、伸長性有機基材Aの難伸長部に対応する箇所に、特開2009−224714号公報における実施例1と同様にして、ゲート電極、ゲート絶縁膜および自己組織化単分子膜を形成した後、その表面に、さらに、有機半導体層、ソース電極およびドレイン電極を形成した。これにより、パリレン薄膜層上に、有機薄膜トランジスタ素子を積層した。 Next, in the same manner as in Example 1 in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-224714, a gate electrode and a gate insulating film are formed on the surface of the obtained parylene thin film layer corresponding to the difficultly stretched portion of the stretchable organic base material A. After forming the self-assembled monolayer, an organic semiconductor layer, a source electrode, and a drain electrode were further formed on the surface. Thereby, the organic thin-film transistor element was laminated | stacked on the parylene thin film layer.
すなわち、ゲート電極において、TFTのスイッチング動作に利用されるチャネル領域の部分の形状は、矩形形状とした。その矩形形状において、ゲート長:LGは、1μmに、ゲート幅:WGは、300μmに選択している。ゲート電極の金属種は、アルミニウムであり、膜厚:Tgate=20nmの蒸着膜を、上記の形状パターンにパターニングした。 That is, in the gate electrode, the shape of the portion of the channel region used for the TFT switching operation is a rectangular shape. In the rectangular shape, the gate length: L G is the 1 [mu] m, the gate width: W G is selected 300 [mu] m. The metal species of the gate electrode was aluminum, and a deposited film having a film thickness: Tgate = 20 nm was patterned into the above-described shape pattern.
また、ゲート電極を被覆し、基板1の表面全体を覆うように、自己組織化単分子膜(SAM膜)/AlOxからなるゲート絶縁膜を形成した。その際、ゲート電極の直上のAlOx層の膜厚:TAlOxは、TAlOx=200nmとした。また、パリレン薄膜層の表面上の領域では、AlOx膜上に、自己組織化単分子膜(SAM膜)を形成した。 Further, a gate insulating film made of self-assembled monolayer (SAM film) / AlO x was formed so as to cover the gate electrode and cover the entire surface of the substrate 1. At that time, the thickness of the AlO x layer immediately above the gate electrode: T AlOx was set to T AlOx = 200 nm. In the region on the surface of the parylene thin film layer, a self-assembled monomolecular film (SAM film) was formed on the AlO x film.
また、ゲート絶縁膜上、ゲート電極を挟む位置に、ソース電極、ドレイン電極形成用の金属ナノ粒子分散液の塗布膜を形成する。該金属ナノ粒子分散液は、平均粒子径D:3nmの銀ナノ粒子の表面に、ドデシルアミン(融点28.3℃、沸点248℃、)による被覆剤分子層を形成したものを、分散溶媒N14(テトラデカン、粘度 2.0〜2.3 mPa・s(20℃)、融点5.86℃、沸点253.57℃、日鉱石油化学製)中に分散したものである。該金属ナノ粒子分散液中には、銀ナノ粒子100質量部当たり、被覆剤分子のドデシルアミンが20質量部、分散溶媒のN14が52質量部含ませた。なお、該銀ナノ粒子分散液の液粘度は、10mPa・s(20℃)であった。 Further, a coating film of the metal nanoparticle dispersion for forming the source electrode and the drain electrode is formed on the gate insulating film at a position sandwiching the gate electrode. The metal nanoparticle dispersion was prepared by forming a coating molecular layer of dodecylamine (melting point: 28.3 ° C., boiling point: 248 ° C.) on the surface of silver nanoparticles having an average particle diameter D: 3 nm. (Tetradecane, viscosity 2.0-2.3 mPa · s (20 ° C.), melting point 5.86 ° C., boiling point 253.57 ° C., manufactured by Nikko Petrochemical Co., Ltd.). The metal nanoparticle dispersion contained 20 parts by mass of the coating molecule dodecylamine and 52 parts by mass of N14 as the dispersion solvent per 100 parts by mass of the silver nanoparticles. In addition, the liquid viscosity of this silver nanoparticle dispersion liquid was 10 mPa * s (20 degreeC).
前記の銀ナノ粒子分散液を用いて、超微細インクジェット装置の吐出孔の口径:Dopenを0.2μmに選択し、噴射される液滴量を0.7fLに設定し、塗布膜を形成する。噴射時の液滴量VO:0.7fLの液滴は、球形形状と仮定すると、液滴径:D0(直径)は、1μmに相当する。この塗布条件では、噴射時の液滴量0.7fLの一液滴で描画されるドットの径は、平均1〜2μmであった。 Using silver nanoparticle dispersion of the bore diameter of the discharge hole of the ultra-fine inkjet device: Select D open to 0.2 [mu] m, and set the droplet volume to be injected into 0.7FL, to form a coating film . Assuming that a droplet having a droplet volume VO of 0.7 fL at the time of ejection has a spherical shape, the droplet diameter: D 0 (diameter) corresponds to 1 μm. Under these coating conditions, the average diameter of dots drawn with one droplet of 0.7 fL of droplet volume at the time of ejection was 1 to 2 μm.
ソース電極形成用の金属ナノ粒子分散液塗布膜の形状は、短辺:LS=2μm、長辺:WS=300μmの矩形とし、塗布膜の厚さ:TS−drawは、0.3μmに選択した。該塗布膜の矩形パターンの長辺と、ゲート電極のソース電極側の側端との間隔:ΔLS−Gは、ΔLS−G=1μmに選択した。 The shape of the metal nanoparticle dispersion liquid coating film for forming the source electrode is a rectangle with a short side: L S = 2 μm and a long side: W S = 300 μm, and the thickness of the coating film: T S-draw is 0.3 μm. Selected. The space between the long side of the rectangular pattern of the coating film and the side edge on the source electrode side of the gate electrode: ΔL S−G was selected to be ΔL S−G = 1 μm.
ドレイン電極5形成用の金属ナノ粒子分散液塗布膜の形状は、短辺:LD=2μm、長辺:WD=300μmの矩形とし、塗布膜の厚さ:TD−drawは、0.3μmに選択した。該塗布膜の矩形パターンの長辺と、ゲート電極のドレイン電極側の側端との間隔:ΔLD−Gは、ΔLD−G=1μmに選択した。 The shape of the coating film of the metal nanoparticle dispersion liquid for forming the drain electrode 5 is a rectangle having a short side: L D = 2 μm and a long side: W D = 300 μm, and the thickness of the coating film: T D-draw is 0. 3 μm was selected. The space between the long side of the rectangular pattern of the coating film and the side edge of the gate electrode on the drain electrode side: ΔL D−G was selected to be ΔL D−G = 1 μm.
そして、金属ナノ粒子分散液塗布膜に、温度130℃、時間60分間、窒素ガス気流中で低温焼成処理を施し、銀ナノ粒子の焼結体層を形成した。 The metal nanoparticle dispersion coating film was subjected to a low-temperature firing treatment in a nitrogen gas stream at a temperature of 130 ° C. for 60 minutes to form a sintered body layer of silver nanoparticles.
別途、ゲート絶縁膜に利用するSAM膜上に、同じ条件で作製される、幅2μm、長さ100μmの矩形形状の銀ナノ粒子の焼結体層において、該焼結体層の平均膜厚:Tbakedを測定すると、0.3μmであった。また、該銀ナノ粒子焼結体層の抵抗率は、25μΩ・cmであった。 Separately, in a sintered body layer of rectangular silver nanoparticles having a width of 2 μm and a length of 100 μm, which is produced under the same conditions on a SAM film used as a gate insulating film, the average film thickness of the sintered body layer: When T baked was measured, it was 0.3 μm. The resistivity of the silver nanoparticle sintered body layer was 25 μΩ · cm.
低温焼成処理により得られる銀ナノ粒子の焼結体層を、ソース電極、ドレイン電極として利用した。従って、ソース電極、ドレイン電極の膜厚:TS,TDは、平均0.3μmと見積もられる。また、銀ナノ粒子焼結体層の矩形パターンの各辺における線幅の乱れ(微小凹凸):δLS,δLDは、100nmと見積もられた。 The sintered body layer of silver nanoparticles obtained by low-temperature firing treatment was used as a source electrode and a drain electrode. Accordingly, the film thicknesses T S and T D of the source electrode and the drain electrode are estimated to be 0.3 μm on average. Further, the line width disturbance (micro unevenness): δL S , δL D at each side of the rectangular pattern of the silver nanoparticle sintered body layer was estimated to be 100 nm.
作製されたソース電極とドレイン電極の間隔:LS−Dは、2μmであった。チャネル領域の長さの設計値:Lchannel=3μmに対して、その差(Lchannel−LS−D)は、僅かに1μmであった。 The distance between the produced source electrode and drain electrode: L SD was 2 μm. The length of the design value of the channel region: For L channel = 3 [mu] m, the difference (L channel -L S-D) was slightly 1 [mu] m.
自己組織化単分子膜(SAM膜)/AlOxからなるゲート絶縁膜の形成は、下記の工程で行った。すなわち、まず、Alのゲート電極の表面に、プラズマ酸化処理を施し、Alの表面に、AlOx層を形成した。その後、水洗処理を施すと、このAlOx層の表面には、Al−OH型のヒドロキシ基が高密度で存在する状態となった。その後、単分子分散溶液中に浸漬し、AlOx層の表面に自己組成的に単分子膜を形成した。該単分子分散溶液は、n−オクタデシルフォスフォン酸(C18H37PO3H)を、分散溶媒2プロパノール中に、分散濃度1−5mmol/L以上で分散したものである。液温30℃の該単分子分散溶液中に、2時間浸漬した後、取り出し、残余する分散液を、窒素ブロー処理により除去し、100℃のオーブンで10分間アニールを行った。n−オクタデシルフォスフォン酸(C18H37PO3H)は、AlOx層表面のAl−OH型のヒドロキシ基と反応し、エステル結合を形成する結果、AlOx層表面に自己組織化単分子膜が形成された。 Formation of the gate insulating film made of self-assembled monomolecular film (SAM film) / AlO x was performed by the following steps. That is, first, plasma oxidation treatment was performed on the surface of the Al gate electrode, and an AlO x layer was formed on the Al surface. Thereafter, when a water washing treatment was performed, Al—OH type hydroxy groups were present at a high density on the surface of the AlO x layer. Thereafter, it was immersed in a monomolecular dispersion solution to form a monomolecular film in a self-compositional manner on the surface of the AlO x layer. The monomolecular dispersion solution is obtained by dispersing n-octadecylphosphonic acid (C 18 H 37 PO 3 H) in a dispersion solvent 2 propanol at a dispersion concentration of 1-5 mmol / L or more. After being immersed in the monomolecular dispersion solution at a liquid temperature of 30 ° C. for 2 hours, it was taken out, and the remaining dispersion liquid was removed by nitrogen blowing treatment, followed by annealing in an oven at 100 ° C. for 10 minutes. n- octadecyl phosphonic acid (C 18 H 37 PO 3 H ) reacts with Al-OH type hydroxy groups of the AlO x layer surface, result in the formation of an ester bond, SAM to AlO x layer surface A film was formed.
AlOx層の表面に「自己組織化単分子膜」が形成されたゲート絶縁膜の表面に、ペンタセンを蒸着法により堆積させた。堆積されるペンタセン蒸着膜の膜厚:Tchannelは、30nmに選択している。ペンタセンの蒸着条件は、ペンタセンの蒸着源温度230℃、基板温度60℃を選択している。なお、堆積されるペンタセン蒸着膜の膜厚:Tchannelは、別途、ゲート絶縁膜に利用するSAM膜/AlOx積層膜上に、同じ蒸着条件で、ペンタセン蒸着膜を作製し、蒸着時間と蒸着膜厚の相関を測定した結果に基づき、推定した値である。その際、ペンタセン蒸着膜の膜厚の測定は、ペンタセン蒸着膜の比屈折率を、固体の比屈折率と等しいと仮定して、エリプソメトリー法により行うことができる。 Pentacene was deposited on the surface of the gate insulating film in which the “self-assembled monolayer” was formed on the surface of the AlO x layer by an evaporation method. The film thickness of the deposited pentacene vapor deposition film: T channel is selected to be 30 nm. As the pentacene vapor deposition conditions, a pentacene vapor deposition source temperature of 230 ° C. and a substrate temperature of 60 ° C. are selected. In addition, the film thickness of the deposited pentacene vapor film: T channel is separately prepared on the SAM film / AlOx laminated film used for the gate insulating film under the same vapor deposition conditions, and the vapor deposition time and vapor deposition film. This is an estimated value based on the result of measuring the correlation of thickness. At that time, the thickness of the pentacene vapor-deposited film can be measured by ellipsometry, assuming that the relative refractive index of the pentacene vapor-deposited film is equal to the relative refractive index of the solid.
最終的に、有機半導体層を所定のパターン形状、長さ:LOS=40μm、幅:WOS=300μmの矩形形状にパターニングした。 Finally, the organic semiconductor layer was patterned into a rectangular shape having a predetermined pattern shape, length: L OS = 40 μm, and width: W OS = 300 μm.
なお、有機薄膜トランジスタ素子は、パリレン薄膜層上において、400個(40個(長手方向)×10個(幅方向))形成された。 In addition, 400 (40 (longitudinal direction) × 10 (width direction)) organic thin film transistor elements were formed on the parylene thin film layer.
一方、国際第2009/102077号パンフレットにおける実施例1と同様にして、カーボンナノチューブゴムペースト(カーボンナノチューブゴム組成物)を調製し、そのペーストを印刷法によって、上記の有機薄膜トランジスタ素子間を接続するように塗布した。その後、国際第2009/102077号パンフレットにおける実施例1と同様にして、カーボンナノチューブゴムペーストを乾燥させ、有機薄膜トランジスタ素子間をカーボンナノチューブゴムからなる配線で接続した。 On the other hand, a carbon nanotube rubber paste (carbon nanotube rubber composition) is prepared in the same manner as in Example 1 in International Publication No. 2009/102077 pamphlet, and the organic thin film transistor elements are connected by printing the paste. It was applied to. Thereafter, the carbon nanotube rubber paste was dried and the organic thin film transistor elements were connected by wiring made of carbon nanotube rubber in the same manner as in Example 1 in the pamphlet of International Publication No. 2009/102077.
すなわち、カーボンナノチューブとして、特願2009−001586、特願2006−527894に記載の方法などを用いて基板から垂直配向した成長させた、カーボンナノチューブ配向集合体を成長基板から剥離した、粉体状の単層カーボンナノチューブ(以下SWNT)を用いた。カーボンナノチューブは、密度:0.03g/cm3、BET−比表面積:1200m2/g、平均外径:2.5nm、半値幅2nm、炭素純度99.9%、ヘルマンの配向係数0.8、長さ300μm以上800μm以下の特性を持つ。 That is, as a carbon nanotube, a powder-like shape in which a carbon nanotube alignment aggregate which has been grown vertically aligned from a substrate using the method described in Japanese Patent Application Nos. 2009-001586 and 2006-527894 is peeled off from the growth substrate. Single-walled carbon nanotubes (hereinafter SWNT) were used. The carbon nanotube has a density of 0.03 g / cm 3 , a BET-specific surface area of 1200 m 2 / g, an average outer diameter of 2.5 nm, a half width of 2 nm, a carbon purity of 99.9%, a Herman orientation coefficient of 0.8, It has a length of 300 μm or more and 800 μm or less.
有機溶剤4−メチル−2−ペンタノン(典型量20ml)にSWNT(典型量30mg)およびイオン性液体BMITFSI(典型量60mg)を添加し、スターラーを用い、700rpmを超える回転数の条件下に、室温で16時間攪拌し、得られた混合物をジェットミル分散機(NANO−JET PAL,JN10、JOKOH株式会社)に入れ、60MPaでジェットし、カーボンナノチューブを有機溶剤中に均一分散させて、カーボンナノチューブイオン液体ゲルを得る。 SWNT (typical amount 30 mg) and ionic liquid BMITFSI (typical amount 60 mg) are added to the organic solvent 4-methyl-2-pentanone (typical amount 20 ml), and the mixture is stirred at room temperature under a rotation speed of over 700 rpm using a stirrer. The mixture obtained was stirred in a jet mill disperser (NANO-JET PAL, JN10, JOKOH Co., Ltd.) and jetted at 60 MPa to uniformly disperse the carbon nanotubes in an organic solvent. A liquid gel is obtained.
次に、このカーボンナノチューブイオン性液体ゲルに有機溶剤4−メチル−2−ペンタノン(典型量80ml)とイオン性液体との混和性、相溶性を有するフッ素ゴム(ダイキン工業社製Daiel−G912)(典型量50−1500mg)を添加し、スターラーを用い、約300rpmの条件下に、室温で16時間攪拌して、カーボンナノチューブゴムペーストを得る。 Next, this carbon nanotube ionic liquid gel is a fluororubber having a miscibility and compatibility with the organic solvent 4-methyl-2-pentanone (typical amount 80 ml) and the ionic liquid (Daikin Kogyo Daiel-G912) ( A typical amount of 50-1500 mg) is added and stirred with a stirrer at about 300 rpm at room temperature for 16 hours to obtain a carbon nanotube rubber paste.
このカーボンナノチューブ/ゴム分散ゲルを室温で12時間乾燥することにより、カーボンナノチューブゴムを得る。このカーボンナノチューブゴムの組成はSWNT 21重量%、BMITFSI 43重量%、G912 36重量%であり、導電性は73S/cmを示した。 This carbon nanotube / rubber dispersion gel is dried at room temperature for 12 hours to obtain a carbon nanotube rubber. The composition of the carbon nanotube rubber was 21 wt% SWNT, 43 wt% BMITFSI, 36 wt% G912, and the conductivity was 73 S / cm.
そして、カーボンナノチューブゴムペーストを室温で6時間乾燥し、4−メチル−2−ペンタノンの一部を蒸散させて、粘度を調整した後、有機薄膜トランジスタ素子間に印刷し、乾燥させて、幅100μmの線幅にパターンされたPDMS基板上のカーボンナノチューブゴムからなる配線を得た。 Then, the carbon nanotube rubber paste is dried at room temperature for 6 hours, and a part of 4-methyl-2-pentanone is evaporated to adjust the viscosity, then printed between the organic thin film transistor elements, dried, and dried to have a width of 100 μm. A wiring made of carbon nanotube rubber on a PDMS substrate patterned to a line width was obtained.
これにより、伸縮性回路基板を得た。 Thereby, an elastic circuit board was obtained.
[評価試験]
<伸び量の測定>
造例3で得られたシート状伸長性有機基材のサンプル(幅20mm)を、チャック間(50mm)に難伸長性ポリマー部が2つ以上入るように設置(2つの硬質ポリマー部の中心間距離:30mm)して、引張試験機(商品名「Autograph AG-X 200N」、(株)島津製作所製)により引張試験(温度:25℃、引張速度:200mm/min)を行い、50%伸長時(元の長さの150%)における難伸長性ポリマー部の伸長方向の伸長率S1(%)(平均値)と、難伸長性ポリマー部以外の部位[易伸長性ポリマー母材部(=易伸長部)]の伸長方向の伸長率S2(%)(平均値)を計測し、それらの比(S2/S1)及び差(S2−S1)(%)を計算で求めた。なお、S1=0の時は、S2/S1=∞とした。
[Evaluation test]
<Measurement of elongation>
Place the sample (20mm width) of the sheet-like extensible organic base material obtained in Example 3 so that two or more hardly extensible polymer parts can be inserted between the chucks (50mm) (between the centers of the two hard polymer parts) Distance: 30 mm), tensile test (temperature: 25 ° C., tensile speed: 200 mm / min) with a tensile tester (trade name “Autograph AG-X 200N”, manufactured by Shimadzu Corporation), 50% elongation The elongation rate S 1 (%) (average value) in the elongation direction of the hardly extensible polymer portion at the time (150% of the original length) and the site other than the hardly extensible polymer portion [easily extensible polymer base ( = Easy extension part)] is measured in the extension direction S 2 (%) (average value), and the ratio (S 2 / S 1 ) and difference (S 2 -S 1 ) (%) are calculated. Asked. When S 1 = 0, S 2 / S 1 = ∞.
伸長率S1(%)は、難伸長性ポリマー部の伸長方向の径(基材表面の略円の径)を伸長の前後で測定し、式:{(伸長後の長さ−伸長前の長さ)/(伸長前の長さ)}×100)により計算で求めた。 The elongation rate S 1 (%) is determined by measuring the elongation direction diameter of the hardly extensible polymer portion (substantially the diameter of the substrate surface) before and after elongation, and the formula: {(length after elongation−length before elongation) Length) / (length before stretching)} × 100).
伸長率S2(%)は、難伸長性ポリマー部以外の部位(易伸長性ポリマー母材部)の伸長方向に6箇所印を付けておき、隣り合う印の間の長さを伸長の前後で測定し、式:{(伸長後の長さ−伸長前の長さ)/(伸長前の長さ)}×100)により計算で求めた。 Elongation rate S 2 (%) is marked with 6 marks in the extension direction of the part other than the hardly-extensible polymer part (easily-extensible polymer base material part), and the length between adjacent marks before and after extension. And calculated by the formula: {(length after stretching−length before stretching) / (length before stretching)} × 100).
その結果、S1(%)=1、S2(%)=78、(S2/S1)=78、(S2−S1)(%)=77であった。 As a result, S 1 (%) = 1, S 2 (%) = 78, (S 2 / S 1 ) = 78, and (S 2 −S 1 ) (%) = 77.
なお、製造例3で得られたシート状伸長性有機基材は伸縮性をも有していた。 In addition, the sheet-like extensible organic base material obtained in Production Example 3 also had stretchability.
<伸長時および伸長後のトランジスタ特性>
実施例1で得られた伸縮性回路基板を、その面方向に引き伸ばし、その引き伸ばされた状態において、伸縮性回路基板に設けられたトランジスタの性質を調べた。
<Transistor characteristics during and after extension>
The stretchable circuit board obtained in Example 1 was stretched in the surface direction, and the properties of the transistors provided on the stretchable circuit board were examined in the stretched state.
すなわち、伸縮性回路基板を一軸方向に、0〜145%までの種々の伸長率(元の長さの1.0倍〜2.45倍)で引き伸ばし、伸長時のトランジスタの電気特性を測定した。 That is, the stretchable circuit board was stretched in various directions up to 0 to 145% in the uniaxial direction (1.0 to 2.45 times the original length), and the electrical characteristics of the transistor during stretching were measured. .
なお、伸長率が145%を超えると、シート状伸長性有機基材が破断したため、トランジスタの電気特性を測定できなかった。 Note that when the elongation ratio exceeded 145%, the electrical characteristics of the transistor could not be measured because the sheet-like extensible organic base material was broken.
また、伸長ひずみを開放し、伸長後のトランジスタにおける電気特性を測定した。 Further, the elongation strain was released, and the electrical characteristics of the stretched transistor were measured.
得られた電気特性をそれぞれ図8および図9に示す。 The obtained electrical characteristics are shown in FIGS. 8 and 9, respectively.
図8および図9からわかるように、伸長率が145%になるまで伸長させた場合にも、トランジスタの電気特性はほぼ変化することなく、優れた特性を示した。 As can be seen from FIG. 8 and FIG. 9, even when the elongation ratio was extended to 145%, the electrical characteristics of the transistor showed almost no change and showed excellent characteristics.
<キャリア移動度の測定>
実施例1で得られた伸縮性回路基板を、その面方向に20%引き伸ばし、有機薄膜トランジスタ素子のキャリア移動度を、半導体パラメータ・アナライザー(品番:4156C、アジレント社製)を用いて、伝達曲線を作成し、電界効果移動度を測定した。その結果、キャリア移動度は0.1〜1.0cm2/Vsであった。
<Measurement of carrier mobility>
The stretchable circuit board obtained in Example 1 was stretched by 20% in the plane direction, and the carrier mobility of the organic thin film transistor element was measured using a semiconductor parameter analyzer (part number: 4156C, manufactured by Agilent). And field effect mobility was measured. As a result, the carrier mobility was 0.1 to 1.0 cm 2 / Vs.
1 シート状伸縮性有機基材(基板)
2 伸縮性母材(部)
20 ポリマー母材形成用材料層(伸縮性母材形成用エネルギー線硬化性組成物層)
200 部分硬化した伸縮性母材形成用エネルギー線硬化性組成物層
3 難伸長部
30 難伸長部形成用材料(難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物)
300 部分硬化した難伸長部形成用エネルギー線硬化性組成物
4 パリレン薄膜層
5 ゲート電極
6 ゲート絶縁膜
7 自己組織化単分子膜
8 有機半導体膜
9a ソース電極
9b ドレイン電極
10 有機薄膜トランジスタ素子
11 伸縮性導線
40 支持体
50 カバーフィルム
1 Sheet-like stretchable organic substrate (substrate)
2 Elastic base material (part)
20 Polymer matrix forming material layer (stretchable matrix forming energy beam curable composition layer)
200 Partially cured energy ray curable composition layer for forming stretchable base material 3 Difficult elongation part 30 Difficult elongation part forming material (energy ray curable composition for difficult elongation part formation)
300 Partially cured energy beam curable composition for formation of difficultly stretched portion 4 Parylene thin film layer 5 Gate electrode 6 Gate insulating film 7 Self-assembled monolayer 8 Organic semiconductor film 9a Source electrode 9b Drain electrode 10 Organic thin film transistor element 11 Stretchable Conductor 40 Support 50 Cover film
Claims (2)
前記基板は、(メタ)アクリロイル基末端ウレタンポリマーとアクリル系モノマーとを含有するエネルギー線硬化性組成物の硬化物からなる伸縮性母材中に、多官能アクリル系モノマーに由来する構成単位をポリマーの全構成単位に対して50重量%以上含むアクリル系ポリマーを含有するポリマー材料からなり、表面形状又は伸縮性有機基材表面を投影面としたときの投影形状が略円形である難伸長部が部分的に且つ一体的に形成されているシート状伸縮性有機基材であり、
前記パリレン薄膜層は、前記難伸長部側の面上に形成されており、かつ、
前記有機薄膜トランジスタ素子は、p型半導体ジナフト[2,3−b:2′,3′−f]チエノ[3,2−b]チオフェン(DNTT)を用いたボトムゲートトップコンタクト型 2V駆動薄膜トランジスタ(TFT)であり、かつ、
前記伸縮性導体は、単層カーボンナノチューブ、ゴム及びイオン性液体からなるカーボンナノチューブゴム組成物により形成された伸縮性導線であり、かつ、
前記複数の有機薄膜トランジスタ素子が前記基板の難伸長部上に前記パリレン薄膜層を介して載置されていることを特徴とする伸縮性回路基板。 A substrate, a parylene thin film layer having a thickness of 1 to 1.2 μm formed on the substrate, a plurality of organic thin film transistor elements formed on the parylene thin film layer, and a stretchability for connecting the plurality of organic thin film transistor elements A stretchable circuit board having a conductor,
The substrate is composed of a structural unit derived from a polyfunctional acrylic monomer in a stretchable base material made of a cured product of an energy ray-curable composition containing a (meth) acryloyl group-terminated urethane polymer and an acrylic monomer. A hard-to-extend part which is made of a polymer material containing an acrylic polymer containing 50% by weight or more with respect to all of the structural units, and whose projection shape is substantially circular when the surface shape or the stretchable organic substrate surface is the projection surface It is a sheet-like stretchable organic substrate that is partially and integrally formed,
The parylene thin film layer is formed on the surface of the difficult extension portion side, and
The organic thin film transistor element is a bottom gate top contact type 2V driving thin film transistor (TFT) using p-type semiconductor dinaphtho [2,3-b: 2 ′, 3′-f] thieno [3,2-b] thiophene (DNTT). ) And
The stretchable conductor is a stretchable conductor formed of a carbon nanotube rubber composition comprising single-walled carbon nanotubes, rubber and ionic liquid, and
The stretchable circuit board, wherein the plurality of organic thin film transistor elements are placed on the difficultly stretched portion of the substrate via the parylene thin film layer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012031854A JP2013168575A (en) | 2012-02-16 | 2012-02-16 | Elastic circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012031854A JP2013168575A (en) | 2012-02-16 | 2012-02-16 | Elastic circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2013168575A true JP2013168575A (en) | 2013-08-29 |
Family
ID=49178750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012031854A Pending JP2013168575A (en) | 2012-02-16 | 2012-02-16 | Elastic circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2013168575A (en) |
Cited By (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014138179A (en) * | 2013-01-18 | 2014-07-28 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | Thin film transistor array substrate and display device |
| JP2014162124A (en) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Fujikura Ltd | Stretchable circuit board, production method therefor, and electronic component including stretchable circuit board |
| EP2889052A1 (en) | 2013-12-27 | 2015-07-01 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Posture correction apparatus and posture correction method |
| EP2889054A1 (en) | 2013-12-27 | 2015-07-01 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Phototherapeutic device and phototherapeutic method |
| EP2889053A1 (en) | 2013-12-27 | 2015-07-01 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Percutaneous penetration enhancing apparatus |
| EP2901964A1 (en) | 2014-01-31 | 2015-08-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Tooth whitening apparatus and tooth whitening method |
| EP2901999A1 (en) | 2014-01-31 | 2015-08-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massaging apparatus |
| EP2902000A1 (en) | 2014-01-31 | 2015-08-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Gum massaging device |
| EP2905049A2 (en) | 2014-02-07 | 2015-08-12 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Muscle supporter |
| EP2905052A1 (en) | 2014-02-07 | 2015-08-12 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Hair growth inhibition apparatus and hair growth inhibition method |
| EP2918256A1 (en) | 2014-03-13 | 2015-09-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massage apparatus |
| EP2918257A1 (en) | 2014-03-13 | 2015-09-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massage measurement apparatus and massage measurement method |
| WO2016002554A1 (en) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | 株式会社神戸製鋼所 | Quality evaluation method for laminate having protective layer on surface of oxide semiconductor thin film and quality control method for oxide semiconductor thin film |
| WO2016009868A1 (en) * | 2014-07-16 | 2016-01-21 | 株式会社神戸製鋼所 | Method for evaluating quality of oxide semiconductor thin film and laminated body having protective film on surface of oxide semiconductor thin film, and method for managing quality of oxide semiconductor thin film |
| EP3001975A1 (en) | 2014-10-03 | 2016-04-06 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Teeth surface stain removing apparatus and teeth surface stain removing method |
| WO2018079608A1 (en) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 日立化成株式会社 | Curable composition for forming elastic resin layer |
| US9991326B2 (en) | 2015-01-14 | 2018-06-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Light-emitting device comprising flexible substrate and light-emitting element |
| KR20190106808A (en) * | 2018-03-08 | 2019-09-18 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of preparing the stretchable substrate and method of preparing the flexible electronic device comprising the same |
| KR20190123241A (en) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of preparing the stretchable substrate using 2 or more species oligomer, and method of preparing the flexible electronic device comprising the same |
| KR20200031539A (en) * | 2018-09-14 | 2020-03-24 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of manufacturing stretchable substrate, and method of fabricating stretchable electronic device comprising the same |
| KR20200034627A (en) * | 2018-09-21 | 2020-03-31 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of manufacturing stretchable substrate including conductive particle or reinforced filler, and method of fabricating stretchable electronic device comprising the same |
| CN111724676A (en) * | 2019-03-21 | 2020-09-29 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | Stretchable wire, manufacturing method thereof and display device |
| CN113409684A (en) * | 2020-03-17 | 2021-09-17 | 三星电子株式会社 | Stretchable device, display panel, sensor, and electronic device |
| CN113990183A (en) * | 2020-07-27 | 2022-01-28 | 三星电子株式会社 | Stretchable device, display panel, sensor, and electronic apparatus |
-
2012
- 2012-02-16 JP JP2012031854A patent/JP2013168575A/en active Pending
Cited By (56)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014138179A (en) * | 2013-01-18 | 2014-07-28 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | Thin film transistor array substrate and display device |
| JP2014162124A (en) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Fujikura Ltd | Stretchable circuit board, production method therefor, and electronic component including stretchable circuit board |
| EP2889052A1 (en) | 2013-12-27 | 2015-07-01 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Posture correction apparatus and posture correction method |
| EP2889054A1 (en) | 2013-12-27 | 2015-07-01 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Phototherapeutic device and phototherapeutic method |
| EP2889053A1 (en) | 2013-12-27 | 2015-07-01 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Percutaneous penetration enhancing apparatus |
| US9504825B2 (en) | 2013-12-27 | 2016-11-29 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Percutaneous penetration enhancing apparatus and percutaneous penetration enhancing method |
| US9393410B2 (en) | 2013-12-27 | 2016-07-19 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Posture correction apparatus and posture correction method |
| US9555261B2 (en) | 2013-12-27 | 2017-01-31 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Phototherapeutic device and phototherapeutic method |
| EP2901999A1 (en) | 2014-01-31 | 2015-08-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massaging apparatus |
| US10022289B2 (en) | 2014-01-31 | 2018-07-17 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massaging apparatus and massage method |
| US10195104B2 (en) | 2014-01-31 | 2019-02-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Gum massaging device and method for massaging gum |
| US9622841B2 (en) | 2014-01-31 | 2017-04-18 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Tooth whitening apparatus and tooth whitening method |
| EP2902000A1 (en) | 2014-01-31 | 2015-08-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Gum massaging device |
| EP2901964A1 (en) | 2014-01-31 | 2015-08-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Tooth whitening apparatus and tooth whitening method |
| EP2905049A2 (en) | 2014-02-07 | 2015-08-12 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Muscle supporter |
| US9457185B2 (en) | 2014-02-07 | 2016-10-04 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Muscle supporter and muscle support method |
| EP2905052A1 (en) | 2014-02-07 | 2015-08-12 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Hair growth inhibition apparatus and hair growth inhibition method |
| US10010267B2 (en) | 2014-03-13 | 2018-07-03 | Panasonic Intellctual Property Management Co., Ltd. | Massage measurement apparatus and massage measurement method |
| EP2918257A1 (en) | 2014-03-13 | 2015-09-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massage measurement apparatus and massage measurement method |
| EP2918256A1 (en) | 2014-03-13 | 2015-09-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massage apparatus |
| US9814647B2 (en) | 2014-03-13 | 2017-11-14 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Massage apparatus and massage method |
| EP3166133A4 (en) * | 2014-07-01 | 2018-02-21 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) | Quality evaluation method for laminate having protective layer on surface of oxide semiconductor thin film and quality control method for oxide semiconductor thin film |
| JP2016015390A (en) * | 2014-07-01 | 2016-01-28 | 株式会社神戸製鋼所 | Oxide semiconductor thin film evaluation method, oxide semiconductor thin film quality control method, and evaluation element and evaluation device used for evaluation method |
| US10203367B2 (en) | 2014-07-01 | 2019-02-12 | Kobe Steel, Ltd. | Quality evaluation method for laminate having protective layer on surface of oxide semiconductor thin film and quality control method for oxide semiconductor thin film |
| CN106463433A (en) * | 2014-07-01 | 2017-02-22 | 株式会社神户制钢所 | Quality evaluation method for laminate having protective layer on surface of oxide semiconductor thin film and quality control method for oxide semiconductor thin film |
| WO2016002554A1 (en) * | 2014-07-01 | 2016-01-07 | 株式会社神戸製鋼所 | Quality evaluation method for laminate having protective layer on surface of oxide semiconductor thin film and quality control method for oxide semiconductor thin film |
| CN106463433B (en) * | 2014-07-01 | 2019-09-24 | 株式会社神户制钢所 | The method for evaluating quality and quality control method of oxide semiconductor thin film stack |
| WO2016009868A1 (en) * | 2014-07-16 | 2016-01-21 | 株式会社神戸製鋼所 | Method for evaluating quality of oxide semiconductor thin film and laminated body having protective film on surface of oxide semiconductor thin film, and method for managing quality of oxide semiconductor thin film |
| EP3171397A4 (en) * | 2014-07-16 | 2018-05-30 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) | Method for evaluating quality of oxide semiconductor thin film and laminated body having protective film on surface of oxide semiconductor thin film, and method for managing quality of oxide semiconductor thin film |
| CN106575629B (en) * | 2014-07-16 | 2019-05-14 | 株式会社神户制钢所 | Quality evaluation method of laminated body, and quality control method of oxide semiconductor thin film |
| CN106575629A (en) * | 2014-07-16 | 2017-04-19 | 株式会社神户制钢所 | Method for evaluating quality of oxide semiconductor thin film and laminated body having protective film on surface of oxide semiconductor thin film, and method for managing quality of oxide semiconductor thin film |
| EP3462196A1 (en) * | 2014-07-16 | 2019-04-03 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho (Kobe Steel, Ltd.) | Method for evaluating quality of oxide semiconductor thin film and laminated body having protective film on surface of oxide semiconductor thin film, and method for managing quality of oxide semiconductor thin film |
| CN106175954A (en) * | 2014-10-03 | 2016-12-07 | 松下知识产权经营株式会社 | Flank of tooth stains removing device and flank of tooth stains removing method |
| EP3001975A1 (en) | 2014-10-03 | 2016-04-06 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Teeth surface stain removing apparatus and teeth surface stain removing method |
| US9775986B2 (en) | 2014-10-03 | 2017-10-03 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Teeth surface stain removing apparatus and teeth surface stain removing method |
| US9991326B2 (en) | 2015-01-14 | 2018-06-05 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Light-emitting device comprising flexible substrate and light-emitting element |
| US12382789B2 (en) | 2015-01-14 | 2025-08-05 | Samsung Display Co., Ltd. | Light-emitting device comprising flexible substrate and light-emitting element |
| US10615243B2 (en) | 2015-01-14 | 2020-04-07 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Light-emitting device comprising flexible substrate and light-emitting element |
| WO2018079608A1 (en) * | 2016-10-28 | 2018-05-03 | 日立化成株式会社 | Curable composition for forming elastic resin layer |
| KR102119009B1 (en) * | 2018-03-08 | 2020-06-04 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of preparing the stretchable substrate and method of preparing the flexible electronic device comprising the same |
| KR20190106808A (en) * | 2018-03-08 | 2019-09-18 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of preparing the stretchable substrate and method of preparing the flexible electronic device comprising the same |
| KR20190123241A (en) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of preparing the stretchable substrate using 2 or more species oligomer, and method of preparing the flexible electronic device comprising the same |
| KR102119023B1 (en) * | 2018-04-23 | 2020-06-04 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of preparing the stretchable substrate using 2 or more species oligomer, and method of preparing the flexible electronic device comprising the same |
| KR102172349B1 (en) * | 2018-09-14 | 2020-10-30 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of manufacturing stretchable substrate, and method of fabricating stretchable electronic device comprising the same |
| KR20200031539A (en) * | 2018-09-14 | 2020-03-24 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of manufacturing stretchable substrate, and method of fabricating stretchable electronic device comprising the same |
| KR102196530B1 (en) * | 2018-09-21 | 2020-12-29 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of manufacturing stretchable substrate including conductive particle or reinforced filler, and method of fabricating stretchable electronic device comprising the same |
| KR20200034627A (en) * | 2018-09-21 | 2020-03-31 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method of manufacturing stretchable substrate including conductive particle or reinforced filler, and method of fabricating stretchable electronic device comprising the same |
| CN111724676A (en) * | 2019-03-21 | 2020-09-29 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | Stretchable wire, manufacturing method thereof and display device |
| CN111724676B (en) * | 2019-03-21 | 2022-09-02 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | Stretchable wire, manufacturing method thereof and display device |
| CN113409684A (en) * | 2020-03-17 | 2021-09-17 | 三星电子株式会社 | Stretchable device, display panel, sensor, and electronic device |
| CN113990183A (en) * | 2020-07-27 | 2022-01-28 | 三星电子株式会社 | Stretchable device, display panel, sensor, and electronic apparatus |
| KR20220013775A (en) * | 2020-07-27 | 2022-02-04 | 삼성전자주식회사 | Stretchable device and display panel and sensor and electronic device |
| EP3951901A1 (en) * | 2020-07-27 | 2022-02-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Stretchable device and display panel and sensor and electronic device |
| US12245368B2 (en) | 2020-07-27 | 2025-03-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Stretchable device and display panel and sensor and electronic device |
| CN113990183B (en) * | 2020-07-27 | 2025-12-12 | 三星电子株式会社 | Stretchable devices, display panels, sensors and electronic equipment |
| KR102905931B1 (en) * | 2020-07-27 | 2025-12-29 | 삼성전자주식회사 | Stretchable device and display panel and sensor and electronic device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2013168575A (en) | Elastic circuit board | |
| US12084583B2 (en) | Dielectric ink composition | |
| KR101837316B1 (en) | Electrically conductive paste | |
| US8741434B2 (en) | Transparent conductive films containing carbon nanotubes and touch panel | |
| JP2013168258A (en) | Extensible organic substrate with conductivity | |
| JP5876309B2 (en) | Stretchable organic substrate | |
| TWI573194B (en) | Insulation film for semiconductor and organic film transister using the same | |
| KR102526293B1 (en) | Surface protective film and method for manufacturing organic light emitting electronic device using same | |
| JP5876310B2 (en) | Sheet-like extensible organic substrate | |
| JP5876308B2 (en) | Sheet organic substrate | |
| JP5526534B2 (en) | Carbon nanotube ink composition and method of spraying carbon nanotube ink composition | |
| JP5876307B2 (en) | Stretchable organic substrate | |
| JP5876306B2 (en) | Stretchable organic substrate | |
| JP2013155121A (en) | Elongatable organic base material | |
| JP2013166277A (en) | Stretchable organic base material with thermal conductivity | |
| JP2013155241A (en) | Sheet-like elongatable organic base material | |
| JP2012214699A (en) | Sheet-shaped stretchable organic base material | |
| JP5293129B2 (en) | Carbon nanotube thin film | |
| JP2012214015A (en) | Method of manufacturing sheet like organic base material | |
| KR20250148244A (en) | Pressure sensor comprising photocrosslinkable stretchable substrate containing rigid region and soft region, and method of manufacturing the same | |
| WO2013172212A1 (en) | Organic base | |
| JP2013166281A (en) | Extensibility organic base material having surface layer | |
| WO2012133721A1 (en) | Sheet-elongatable organic base material | |
| WO2012133722A1 (en) | Sheet-form stretchable organic base material | |
| JP2013166838A (en) | Extensibility organic base material |