JP2013030755A - 多部品出力構造体及びその形成方法 - Google Patents
多部品出力構造体及びその形成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013030755A JP2013030755A JP2012125792A JP2012125792A JP2013030755A JP 2013030755 A JP2013030755 A JP 2013030755A JP 2012125792 A JP2012125792 A JP 2012125792A JP 2012125792 A JP2012125792 A JP 2012125792A JP 2013030755 A JP2013030755 A JP 2013030755A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature material
- layer
- matrix
- high temperature
- melting point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H10W40/255—
-
- H10W40/10—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/34—Strap connectors, e.g. copper straps for grounding power devices; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/39—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process
- H01L2224/40—Structure, shape, material or disposition of the strap connectors after the connecting process of an individual strap connector
- H01L2224/401—Disposition
- H01L2224/40151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/40221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/40225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H10W40/47—
-
- H10W72/07336—
-
- H10W72/07631—
-
- H10W72/07653—
-
- H10W72/322—
-
- H10W72/352—
-
- H10W72/534—
-
- H10W72/5363—
-
- H10W72/5524—
-
- H10W72/652—
-
- H10W72/871—
-
- H10W72/884—
-
- H10W72/886—
-
- H10W72/952—
-
- H10W90/734—
-
- H10W90/754—
-
- H10W90/764—
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Pressure Welding/Diffusion-Bonding (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
Abstract
【解決手段】電気自動車に用いるための多部品出力構造体を形成する方法であって、半導体ダイ110、第一の金属層124と第二の金属層126を有する絶縁性基板120、及び液体冷却用のサーマルデバイス150を準備すること、導電性及び熱伝導性である第一の一時的液相ボンドにより半導体ダイ110と第一の金属層124を結合させること、第二の金属層126とサーマルデバイス150の間に母材系を固定すること、ここでこの母材系は比較的融点の低い低温材料と比較的融点の高い高温材料を含み、この比較的低い融点は比較的高い融点よりも低い、母材系を比較的低い融点よりも高く、比較的高い融点よりも低い融点に加熱して低温材料を高温材料中に拡散させること、母材系を固化させて導電性及び熱伝導性である第二の一時的液相ボンドを形成することを含む。
【選択図】図1
Description
Claims (20)
- 電気自動車に用いるための多部品出力構造体を形成する方法であって、
半導体ダイ、第一の金属層と第二の金属層を有する絶縁性基板、及び液体冷却用の密閉された通路を有するサーマルデバイスを準備すること、
導電性及び熱伝導性である第一の一時的液相ボンドにより半導体ダイと絶縁性基板の第一の金属層を結合させること、
絶縁性基板の第二の金属層とサーマルデバイスの間に母材系を固定すること、ここでこの母材系は比較的融点の低い低温材料と比較的融点の高い高温材料を含み、この比較的低い融点は比較的高い融点よりも低い、
母材系を比較的低い融点よりも高く、比較的高い融点よりも低い融点に加熱して低温材料を高温材料中に拡散させること、
母材系を固化させて導電性及び熱伝導性である第二の一時的液相ボンドを形成することを含む方法。 - 絶縁性基板の第一の層を母材系の高温材料の第一の層でコートすること、及び
サーマルデバイスの表面を母材系の高温材料の第二の層でコートすること
をさらに含む、請求項1記載の方法。 - 母材系の高温材料の第一の層及び母材系の高温材料の第二の層が電気メッキ、無電解メッキ、又はスパッタ蒸着により形成される、請求項2記載の方法。
- 母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間に層状プレフォームを配置することをさらに含み、この層状プレフォームが母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間に配置された高温材料の第三の層を含む、請求項2記載の方法。
- 母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間に1つの合金プレフォームを配置することをさらに含み、この1つの合金プレフォームが低温材料を含む、請求項2記載の方法。
- 母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間にペーストを配置することをさらに含み、このペーストが低温材料を含む、請求項2記載の方法。
- 前記ペーストが高温材料を含む、請求項6記載の方法。
- 母材系の高温材料の第一の層及び/又は母材系の高温材料の第二の層に母材系の低温材料の層をコートすることをさらに含む、請求項2記載の方法。
- 前記サーマルデバイスがアルミニウムより形成されている、請求項1記載の方法。
- 前記多部品出力構造体が約−40℃〜約200℃の作動温度で作動可能である、請求項1記載の方法。
- 前記高温材料がAu、Ag、Ni、又はCuを含み、前記低温材料がSn又はInを含む、請求項1記載の方法。
- 前記第二の一時的液相ボンドが比較的低い融点よりも高い融点を有する、請求項1記載の方法。
- 電気自動車に用いるための、約−40℃〜約200℃の作動温度を有する多部品出力構造体を形成する方法であって、
比較的融点の低い低温材料と比較的融点の高い高温材料を含む母材系を準備すること、ここでこの比較的低い融点は比較的高い融点よりも低い、
第一の出力成分の第一の表面を母材系の高温材料の第一の層でコートすること、
サーマルデバイスの第二の表面を母材系の高温材料の第二の層でコートすること、ここでこの母材系の高温材料の第一の層及び母材系の高温材料の第二の層は、母材系を構成する前に電気メッキ、無電解メッキ、又はスパッタ蒸着により形成されている、
サーマルデバイスと第一の出力成分の間に母材系を固定すること、ここでサーマルデバイスは液体冷却用の密閉された通路を有する、
母材系を比較的低い融点よりも高くかつ比較的高い融点よりも低い融点に加熱して低温材料を高温材料中に拡散させること、
母材系を固化させて導電性及び熱伝導性である第一の一時的液相ボンドを形成すること、
第二の一時的液相ボンドを形成して第一の出力成分と第二の出力成分を結合させること、ここで第二の一時的液相ボンドは導電性及び熱伝導性であり、第一の一時的液相ボンド及び第二の一時的液相ボンドは、第一の一時的液相ボンドと第二の一時的液相ボンドの一方が加熱され、第一の一時的液相ボンドと第二の一時的液相ボンドのもう一方が形成されるように順次に形成される、
を含む方法。 - 母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間に層状プレフォームを配置することをさらに含み、この層状プレフォームが母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間に配置された高温材料の第三の層を含む、請求項13記載の方法。
- 母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間に1つの合金プレフォームを配置することをさらに含み、この1つの合金プレフォームが低温材料を含む、請求項2記載の方法。
- 母材系の高温材料の第一の層と母材系の高温材料の第二の層の間にペーストを配置することをさらに含み、このペーストが低温材料を含む、請求項13記載の方法。
- 母材系の高温材料の第一の層及び/又は母材系の高温材料の第二の層に母材系の低温材料の層をコートすることをさらに含む、請求項13記載の方法。
- 第一の出力成分が電気的相互接続、半導体デバイス、絶縁性基板、又はベースプレートである、請求項13記載の方法。
- 電気自動車に用いるための多部品出力構造体であって、
第一の金属層及び第二の金属層を含む絶縁性基板、ここでこの絶縁性基板は第一の金属層を第二の金属層から電気的に絶縁している、
導電性かつ熱伝導性である第一の一時的液相ボンドにより絶縁性基板の第一の金属層に結合している半導体ダイ、
導電性かつ熱伝導性である第二の一時的液相ボンドにより絶縁性基板の第二の金属層に結合しているベースプレート、及び
導電性かつ熱伝導性である第三の一時的液相ボンドによりベースプレートに結合しているサーマルデバイス、ここでこのサーマルデバイスはその内部に熱流体を有する密閉通路を含む、
を含み、この多部品出力構造体は約−40℃〜約200℃の温度で作動可能であり、電気インバーター又はDC−DCコンバーターである多部品出力構造体。 - 第一の一時的液相ボンド、第二の一時的液相ボンド、及び第三の一時的液相ボンドの各々が合金を含み、この合金がNi、Cu、Ag、Au、In又はSnを含む、請求項19記載の多部品出力構造体。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US13/150,645 | 2011-06-01 | ||
| US13/150,645 US8431445B2 (en) | 2011-06-01 | 2011-06-01 | Multi-component power structures and methods for forming the same |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2015223076A Division JP6034472B2 (ja) | 2011-06-01 | 2015-11-13 | 多部品出力構造体及びその形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2013030755A true JP2013030755A (ja) | 2013-02-07 |
| JP2013030755A5 JP2013030755A5 (ja) | 2013-08-01 |
Family
ID=47261062
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012125792A Withdrawn JP2013030755A (ja) | 2011-06-01 | 2012-06-01 | 多部品出力構造体及びその形成方法 |
| JP2015223076A Expired - Fee Related JP6034472B2 (ja) | 2011-06-01 | 2015-11-13 | 多部品出力構造体及びその形成方法 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2015223076A Expired - Fee Related JP6034472B2 (ja) | 2011-06-01 | 2015-11-13 | 多部品出力構造体及びその形成方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8431445B2 (ja) |
| JP (2) | JP2013030755A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015024443A (ja) * | 2013-07-05 | 2015-02-05 | トヨタ モーター エンジニアリング アンド マニュファクチャリング ノース アメリカ,インコーポレイティド | 両面パワーモジュールのための液相拡散接合プロセス |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8872328B2 (en) * | 2012-12-19 | 2014-10-28 | General Electric Company | Integrated power module package |
| US10933489B2 (en) * | 2013-07-09 | 2021-03-02 | Raytheon Technologies Corporation | Transient liquid phase bonding of surface coatings metal-covered materials |
| KR102208961B1 (ko) | 2013-10-29 | 2021-01-28 | 삼성전자주식회사 | 반도체소자 패키지 및 그 제조방법 |
| DE102014218426A1 (de) | 2014-09-15 | 2016-03-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Baugruppe mit mindestens zwei Tragkörpern und einen Lotverbund |
| DE102014219759A1 (de) * | 2014-09-30 | 2016-03-31 | Siemens Aktiengesellschaft | Leistungsmodul |
| US20160339538A1 (en) * | 2015-05-18 | 2016-11-24 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | High temperature bonding processes incorporating traces |
| US10426037B2 (en) | 2015-07-15 | 2019-09-24 | International Business Machines Corporation | Circuitized structure with 3-dimensional configuration |
| US10115716B2 (en) | 2015-07-18 | 2018-10-30 | Semiconductor Components Industries, Llc | Die bonding to a board |
| US9847310B2 (en) * | 2015-07-18 | 2017-12-19 | Semiconductor Components Industries, Llc | Flip chip bonding alloys |
| DE102015114086B4 (de) * | 2015-08-25 | 2022-01-27 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines Bauelements |
| JP2020516054A (ja) * | 2017-04-06 | 2020-05-28 | セラムテック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングCeramTec GmbH | 両面で冷却される回路 |
| US10886251B2 (en) * | 2017-04-21 | 2021-01-05 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Multi-layered composite bonding materials and power electronics assemblies incorporating the same |
| DE102017206930A1 (de) * | 2017-04-25 | 2018-10-25 | Siemens Aktiengesellschaft | Lotformteil zum Diffusionslöten, Verfahren zu dessen Herstellung und Verfahren zu dessen Montage |
| DE102019217061A1 (de) * | 2019-11-06 | 2021-05-06 | Zf Friedrichshafen Ag | Anordnung mit einem Substrat für eine Aufnahme von wenigstens einem Halbleiterbauelement für einen Stromrichter und Verfahren zum Diffusionsverlöten wenigstens eines Halbleiterbauelements mit einem Substrat für einen Stromrichter |
| CN111584346B (zh) * | 2020-05-28 | 2021-02-12 | 浙江大学 | 具有热沉结构的GaN器件及其制备方法 |
| KR102580589B1 (ko) * | 2020-12-28 | 2023-09-20 | 주식회사 아모센스 | 전력반도체 모듈의 제조방법 및 이에 의해 제조된 전력반도체 모듈 |
| US20230317670A1 (en) * | 2022-03-29 | 2023-10-05 | Wolfspeed, Inc. | Packaged electronic devices having transient liquid phase solder joints and methods of forming same |
| CN116786933B (zh) * | 2023-06-27 | 2025-07-01 | 北京科技大学 | 一种异向单晶高温合金连接方法 |
| US20250275099A1 (en) * | 2024-02-28 | 2025-08-28 | Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. | Liquid metal based thermal interface material |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001230351A (ja) * | 2000-02-14 | 2001-08-24 | Shibafu Engineering Corp | 電子モジュール用接合材料、モジュール型半導体装置及びその製造方法 |
| JP2002224882A (ja) * | 2001-01-29 | 2002-08-13 | Hitachi Metals Ltd | Au/Sn複合箔及びAu/Sn合金箔並びにそれを用いてなるロウ材、Au/Sn複合箔の製造方法及びAu/Sn合金箔の製造方法、ロウ材の接合方法 |
| US20060151871A1 (en) * | 2005-01-07 | 2006-07-13 | Rockwell Scientific Licensing, Llc | High temperature, stable SiC device interconnects and packages having low thermal resistance |
| JP2010179336A (ja) * | 2009-02-05 | 2010-08-19 | Toyota Central R&D Labs Inc | 接合体、半導体モジュール、及び接合体の製造方法 |
Family Cites Families (38)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2937049A1 (de) | 1979-09-13 | 1981-04-02 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Leistungs-halbleiterbauelement |
| US4482418A (en) | 1983-08-17 | 1984-11-13 | International Business Machines Corporation | Bonding method for producing very thin bond lines |
| JPS63194879A (ja) * | 1987-02-09 | 1988-08-12 | Hitachi Ltd | インサ−ト材を用いる接合方法 |
| JPH01206575A (ja) | 1988-02-15 | 1989-08-18 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 接着性熱融着形コネクタ |
| JPH10135634A (ja) | 1990-03-19 | 1998-05-22 | Hitachi Ltd | 多層配線基板及びその製造方法 |
| US5590460A (en) | 1994-07-19 | 1997-01-07 | Tessera, Inc. | Method of making multilayer circuit |
| US5542602A (en) | 1994-12-30 | 1996-08-06 | International Business Machines Corporation | Stabilization of conductive adhesive by metallurgical bonding |
| US5574630A (en) | 1995-05-11 | 1996-11-12 | International Business Machines Corporation | Laminated electronic package including a power/ground assembly |
| US6002177A (en) | 1995-12-27 | 1999-12-14 | International Business Machines Corporation | High density integrated circuit packaging with chip stacking and via interconnections |
| US5829124A (en) | 1995-12-29 | 1998-11-03 | International Business Machines Corporation | Method for forming metallized patterns on the top surface of a printed circuit board |
| US5759737A (en) | 1996-09-06 | 1998-06-02 | International Business Machines Corporation | Method of making a component carrier |
| US5897341A (en) | 1998-07-02 | 1999-04-27 | Fujitsu Limited | Diffusion bonded interconnect |
| TW536794B (en) | 1999-02-26 | 2003-06-11 | Hitachi Ltd | Wiring board and its manufacturing method, semiconductor apparatus and its manufacturing method, and circuit board |
| US6465879B1 (en) | 1999-10-19 | 2002-10-15 | Citizen Watch Co., Ltd. | Structure for mounting semiconductor device, method of mounting same, semiconductor device, and method of fabricating same |
| US6495771B2 (en) | 2001-03-29 | 2002-12-17 | International Business Machines Corporation | Compliant multi-layered circuit board for PBGA applications |
| JP2003086747A (ja) * | 2001-09-10 | 2003-03-20 | Hitachi Ltd | 絶縁回路基板とその製法およびそれを用いた半導体パワー素子 |
| US6634543B2 (en) | 2002-01-07 | 2003-10-21 | International Business Machines Corporation | Method of forming metallic z-interconnects for laminate chip packages and boards |
| US6624003B1 (en) | 2002-02-06 | 2003-09-23 | Teravicta Technologies, Inc. | Integrated MEMS device and package |
| US7211103B2 (en) | 2002-04-11 | 2007-05-01 | Second Sight Medical Products, Inc. | Biocompatible bonding method and electronics package suitable for implantation |
| US20050029109A1 (en) | 2002-05-07 | 2005-02-10 | Gang Zhang | Method of electrochemically fabricating multilayer structures having improved interlayer adhesion |
| US20050045585A1 (en) | 2002-05-07 | 2005-03-03 | Gang Zhang | Method of electrochemically fabricating multilayer structures having improved interlayer adhesion |
| KR100908949B1 (ko) | 2002-12-20 | 2009-07-22 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 미세-가공되고 일체화된 유체 전달 시스템 |
| US6992887B2 (en) * | 2003-10-15 | 2006-01-31 | Visteon Global Technologies, Inc. | Liquid cooled semiconductor device |
| US7357293B2 (en) | 2004-03-24 | 2008-04-15 | Intel Corporation | Soldering an electronics package to a motherboard |
| US7023089B1 (en) * | 2004-03-31 | 2006-04-04 | Intel Corporation | Low temperature packaging apparatus and method |
| US7628309B1 (en) | 2005-05-03 | 2009-12-08 | Rosemount Aerospace Inc. | Transient liquid phase eutectic bonding |
| US7400042B2 (en) | 2005-05-03 | 2008-07-15 | Rosemount Aerospace Inc. | Substrate with adhesive bonding metallization with diffusion barrier |
| US7830021B1 (en) | 2005-09-06 | 2010-11-09 | Rockwell Collins, Inc. | Tamper resistant packaging with transient liquid phase bonding |
| US7727806B2 (en) | 2006-05-01 | 2010-06-01 | Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Systems and methods for high density multi-component modules |
| US7557434B2 (en) | 2006-08-29 | 2009-07-07 | Denso Corporation | Power electronic package having two substrates with multiple electronic components |
| US20080156475A1 (en) | 2006-12-28 | 2008-07-03 | Daewoong Suh | Thermal interfaces in electronic systems |
| US7798388B2 (en) | 2007-05-31 | 2010-09-21 | Applied Materials, Inc. | Method of diffusion bonding a fluid flow apparatus |
| US20090004500A1 (en) | 2007-06-26 | 2009-01-01 | Daewoong Suh | Multilayer preform for fast transient liquid phase bonding |
| US8716805B2 (en) | 2008-06-10 | 2014-05-06 | Toshiba America Research, Inc. | CMOS integrated circuits with bonded layers containing functional electronic devices |
| US8023269B2 (en) | 2008-08-15 | 2011-09-20 | Siemens Energy, Inc. | Wireless telemetry electronic circuit board for high temperature environments |
| JP2010283169A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Honda Motor Co Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| US8348139B2 (en) * | 2010-03-09 | 2013-01-08 | Indium Corporation | Composite solder alloy preform |
| US8592986B2 (en) * | 2010-11-09 | 2013-11-26 | Rohm Co., Ltd. | High melting point soldering layer alloyed by transient liquid phase and fabrication method for the same, and semiconductor device |
-
2011
- 2011-06-01 US US13/150,645 patent/US8431445B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-06-01 JP JP2012125792A patent/JP2013030755A/ja not_active Withdrawn
-
2015
- 2015-11-13 JP JP2015223076A patent/JP6034472B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001230351A (ja) * | 2000-02-14 | 2001-08-24 | Shibafu Engineering Corp | 電子モジュール用接合材料、モジュール型半導体装置及びその製造方法 |
| JP2002224882A (ja) * | 2001-01-29 | 2002-08-13 | Hitachi Metals Ltd | Au/Sn複合箔及びAu/Sn合金箔並びにそれを用いてなるロウ材、Au/Sn複合箔の製造方法及びAu/Sn合金箔の製造方法、ロウ材の接合方法 |
| US20060151871A1 (en) * | 2005-01-07 | 2006-07-13 | Rockwell Scientific Licensing, Llc | High temperature, stable SiC device interconnects and packages having low thermal resistance |
| JP2010179336A (ja) * | 2009-02-05 | 2010-08-19 | Toyota Central R&D Labs Inc | 接合体、半導体モジュール、及び接合体の製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015024443A (ja) * | 2013-07-05 | 2015-02-05 | トヨタ モーター エンジニアリング アンド マニュファクチャリング ノース アメリカ,インコーポレイティド | 両面パワーモジュールのための液相拡散接合プロセス |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20120306105A1 (en) | 2012-12-06 |
| JP6034472B2 (ja) | 2016-11-30 |
| US8431445B2 (en) | 2013-04-30 |
| JP2016066806A (ja) | 2016-04-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6034472B2 (ja) | 多部品出力構造体及びその形成方法 | |
| CN103974601B (zh) | 电气装置的散热结构及其制造方法 | |
| CN202454546U (zh) | 半导体器件 | |
| US20080079021A1 (en) | Arrangement for cooling a power semiconductor module | |
| US20150115452A1 (en) | Semiconductor device packages and methods of manufacturing the same | |
| TW200818418A (en) | Semiconductor die package including stacked dice and heat sink structures | |
| JP2008205383A (ja) | 半導体モジュールおよびその製造方法 | |
| CN108133915A (zh) | 功率器件内置且双面散热的功率模组及其制备方法 | |
| JP5642336B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| CN111656519A (zh) | 电路装置以及电力变换装置 | |
| US12208448B2 (en) | Transient liquid phase bonding compositions and power electronics assemblies incorporating the same | |
| US8958209B2 (en) | Electronic power module, and method for manufacturing said module | |
| CN118591971A (zh) | 半导体装置 | |
| CN117476559A (zh) | 具有嵌入式电力电子器件的电力电子组件 | |
| CN104835794A (zh) | 智能功率模块及其制造方法 | |
| JP2014120638A (ja) | パワーモジュール半導体装置およびその製造方法 | |
| CN102856282A (zh) | 叠层高熔点焊接层及其制造方法以及半导体器件 | |
| JP2017524248A (ja) | 冷却装置、冷却装置の製造方法及び電力回路 | |
| CN106898590A (zh) | 功率半导体装置及其制造方法 | |
| US10748835B2 (en) | Aluminum heat sink having a plurality of aluminum sheets and power device equipped with the heat sink | |
| JP5011088B2 (ja) | 放熱装置及びパワーモジュール | |
| JP2018107481A (ja) | パワーモジュール半導体装置 | |
| CN117877991A (zh) | 一种功率模块的制造方法 | |
| WO2023157522A1 (ja) | 半導体装置 | |
| JP2014053406A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130618 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130618 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140722 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140729 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20141028 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20141031 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150120 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20150714 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151113 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20151120 |
|
| A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20160129 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20160209 |