JP2013058169A - ディスクアレイ装置及びディスクアレイ装置制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】RAIDグループが設定された複数のハードディスク110を有する。そして、ボリューム設定部131は、RAIDグループに1つ又は複数の使用領域を設定する。データチェック制御部105は、使用領域の設定状態に基づいて前記RAIDグループにおける診断対象とする領域を決定する。データチェック実行部132は、データチェック制御部105が決定した診断対象の領域に対して周期的な診断を実行する。
【選択図】図1
Description
次に、図5を参照して、本実施例に係るディスクアレイ装置のコントロールモジュールのハードウェア構成について説明する。図5は、実施例に係るディスクアレイ装置のコントロールモジュールのハードウェアの構成図である。ここでは、ディスクアレイ装置がコントロールモジュール301とコントロールモジュール302とを有しており、コントロールモジュール301とコントロールモジュール302が接続されている場合で説明する。また、コントロールモジュール301とコントロールモジュール302とは、同じ構成を有するため、コントロールモジュール301を例に説明する。
2 ホスト
10 コントロールモジュール(CM)
11 ハードディスク群
101 CA制御部
102 キャッシュ制御部
103 RAID制御部
104 構成記憶部
105 データチェック制御部
106 DA制御部
110 ハードディスク
111〜113 RAIDグループ
131 ボリューム設定部
132 データチェック実行部
141 構成定義
Claims (5)
- RAIDグループが設定された複数のハードディスクと、
前記RAIDグループに1つ又は複数の使用領域を設定する使用領域設定部と、
前記使用領域の設定状態に基づいて前記RAIDグループにおける診断対象とする領域を決定する診断対象決定部と、
前記診断対象決定部が決定した診断対象の領域に対して周期的な診断を実行する診断実行部と
を備えたことを特徴とするディスクアレイ装置。 - 前記診断対象決定部は、前記RAIDグループに設定された最も小さい使用領域のサイズが未使用領域のサイズよりも小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象とし、前記RAIDグループに設定された最も小さい使用領域のサイズが未使用領域のサイズ以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象とすることを特徴とする請求項1に記載のディスクアレイ装置。
- 前記診断対象決定部は、前記RAIDグループにおける全ての領域に対する未使用領域の割合を求め、求めた割合が所定値より小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象とし、求めた割合が所定値以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象とすることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のディスクアレイ装置。
- 前記診断対象決定部は、前記RAIDグループの未使用領域が所定サイズよりも小さい場合、前記使用領域が設定されている領域のみを診断対象とし、前記RAIDグループの未使用領域が所定サイズ以上の場合、前記RAIDグループの全ての領域を診断対象とすることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のディスクアレイ装置。
- 複数のハードディスクを用いて設定されたRAIDグループに1つ又は複数の使用領域を設定し、
前記使用領域の設定状態に基づいて前記RAIDグループにおける診断対象とする領域を決定し、
決定した診断対象の領域に対して周期的な診断を実行する
ことを特徴とするディスクアレイ装置制御方法。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016004592A (ja) * | 2014-06-17 | 2016-01-12 | 富士通株式会社 | 制御装置、診断制御プログラム、および診断制御方法 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007065788A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Hitachi Ltd | ディスクアレイ装置及びその制御方法並びにプログラム |
| JP2009151393A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Nec Corp | 記憶媒体制御装置、記憶媒体管理システム、記憶媒体の制御方法、及び記憶媒体の制御プログラム |
| JP2009176101A (ja) * | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Fujitsu Ltd | 情報処理装置及びシステム、並びに、記憶領域管理方法及びプログラム |
| JP2011164868A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Fujitsu Ltd | ストレージ装置、パトロール方法、パトロールプログラム及びストレージシステム |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04167046A (ja) | 1990-10-31 | 1992-06-15 | Toshiba Corp | 記憶装置の動作監視装置 |
| US5933847A (en) * | 1995-09-28 | 1999-08-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Selecting erase method based on type of power supply for flash EEPROM |
| US7012835B2 (en) * | 2003-10-03 | 2006-03-14 | Sandisk Corporation | Flash memory data correction and scrub techniques |
| JP4984613B2 (ja) * | 2006-04-10 | 2012-07-25 | 富士通株式会社 | Raid装置の制御方法、raid装置、およびraid装置の制御プログラム |
| JP4606455B2 (ja) * | 2007-12-20 | 2011-01-05 | 富士通株式会社 | ストレージ管理装置、ストレージ管理プログラムおよびストレージシステム |
| JP4645741B2 (ja) * | 2009-01-09 | 2011-03-09 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
| US8347043B2 (en) * | 2009-03-25 | 2013-01-01 | Hitachi, Ltd. | Storage management task distribution method and system on storage virtualizer |
| US8166269B2 (en) * | 2009-11-05 | 2012-04-24 | Oracle America, Inc. | Adaptive triggering of garbage collection |
-
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-
2012
- 2012-07-25 US US13/557,282 patent/US9164838B2/en active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007065788A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Hitachi Ltd | ディスクアレイ装置及びその制御方法並びにプログラム |
| JP2009151393A (ja) * | 2007-12-18 | 2009-07-09 | Nec Corp | 記憶媒体制御装置、記憶媒体管理システム、記憶媒体の制御方法、及び記憶媒体の制御プログラム |
| JP2009176101A (ja) * | 2008-01-25 | 2009-08-06 | Fujitsu Ltd | 情報処理装置及びシステム、並びに、記憶領域管理方法及びプログラム |
| JP2011164868A (ja) * | 2010-02-08 | 2011-08-25 | Fujitsu Ltd | ストレージ装置、パトロール方法、パトロールプログラム及びストレージシステム |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016004592A (ja) * | 2014-06-17 | 2016-01-12 | 富士通株式会社 | 制御装置、診断制御プログラム、および診断制御方法 |
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