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JP2012518271A - マルチテーブルリソグラフィシステム - Google Patents

マルチテーブルリソグラフィシステム Download PDF

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JP2012518271A JP2011549565A JP2011549565A JP2012518271A JP 2012518271 A JP2012518271 A JP 2012518271A JP 2011549565 A JP2011549565 A JP 2011549565A JP 2011549565 A JP2011549565 A JP 2011549565A JP 2012518271 A JP2012518271 A JP 2012518271A
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

リソグラフィ加工物処理装置は、加工物をロードするローディングエリア(108)と、加工物を処理する処理エリア(106)とを含む。加工物処理装置はさらに、ローディングエリアと処理エリアとの間に配置されたマルチテーブルシステム(10)を含む。マルチテーブルシステムは、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動しながら、すれ違うように構成された少なくとも2つのテーブル(110,112)を含む。少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、加工物を保持するように構成される。

Description

(関連出願の相互参照)
本特許出願は、2009年2月13日に出願された仮米国特許出願番号第61/202,289号に対する優先権を主張する。
加工物(たとえば、基板またはウェハ)に書込むかまたはパターニングする従来のデバイスでは、ワークフローは、通常、少なくとも4つのプロセスステップ、すなわち、ロード、測定、書込み、およびアンロードを含む。これらのプロセスステップは、直列に実施され、システム資源についてのアイドル時間が存在し、比較的低いスループットをもたらす。
システム資源利用を改善するために、パイプラインアーキテクチャが使用されてもよい。複数基板搬送テーブルを有するデバイスは、並列動作を可能にし、システム資源についてのアイドル時間を低減する。1つの例のデバイスでは、2つのテーブルが、対向する端部から書込みエリアに入るように、単一並進軸上に配置される。
しかし、こうした配置構成は、2重のローディングおよびアライメントシステムおよびエリアを必要とする。
例示的な実施形態は、テーブルが、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するときにすれ違うマルチテーブルシステムを提供する。こうした例示的な実施形態は、単一ローディングエリアおよび単一処理エリアだけを必要とする。
少なくとも1つの例示的な実施形態は、リソグラフィのための処理装置を提供する。装置は、加工物をロードするローディングエリア、加工物を処理する処理エリア、およびローディングエリアと処理エリアとの間に配置されたマルチテーブルシステムを含む。マルチテーブルシステムは、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動しながら、すれ違うように構成された少なくとも2つのテーブルを含む。少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、加工物を保持するように構成される。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、少なくとも2つのテーブルの別のテーブルの上または下を通過するように構成されてもよい。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するときに、少なくとも2つのテーブルがすれ違うように高くされるかまたは低くされる、の少なくとも一方であるように構成されてもよい。
少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、軸受上に載置されてもよい。軸受は、シャフトに沿う並進移動および軸の周りの回転移動を提供する。装置は、パターン発生器、測定装置、検査装置、走査マルチビームシステム、あるいは1つまたは複数の回転光学アームを含む光学処理デバイスであってよく、1つまたは複数の回転光学アームは、変調器から加
工物の表面へ画像情報を中継するように構成された光学部品を含む。
例示的な実施形態は、図面に関してより詳細に論じられるであろう。
例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムを示す図。 例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの一部を示す図。 例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの例示的な動作を示す斜視図。 別の例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの例示的な動作を示す斜視図。 別の例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの一部分を示す図。 さらに別の例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの一部分を示す図。 さらに別の例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの一部分を示す図。 エンコーダ出力を結合する方法の例示的な実施形態を示す図。 例示的な実施形態による加工物を処理する方法を示すフローチャート。
例示的な実施形態は、ここで、いくつかの例示的な実施形態が示される添付図面を参照してより完全に述べられるであろう。図面では、層および領域の厚さは、明確にするために誇張される。図面の同じ参照数字は、同じ要素を示す。
詳細な例証的な実施形態が本明細書で開示される。しかし、本明細書で開示される特定の構造的および機能的詳細は、例示的な実施形態を述べるために典型であるに過ぎない。例示的な実施形態は、多くの代替の形態で具現化されてもよく、また、本明細書に述べる例示的な実施形態だけに限定されるものと考えられるべきではない。
しかし、例示的な実施形態を、開示される特定の実施形態に限定するという意図が存在するのではなく、逆に、例示的な実施形態が、適切な範囲内に入る全ての変更物、等価物、および代替物をカバーすることが理解されるべきである。同じ数字は、図の説明全体を通して同じ要素を指す。
用語、第1、第2などが、種々の要素を述べるために本明細書で使用されてもよいが、これらの要素は、これらの用語によって制限されるべきではないことが理解されるであろう。これらの用語は、1つの要素と別の要素を区別するために使用されるだけである。たとえば、例示的な実施形態の範囲から逸脱することなく、第1の要素は第2の要素と呼ばれることができ、同様に、第2の要素は第1の要素と呼ばれることができる。本明細書で使用されるように、用語「および/または(and/or)」は、関連する列挙アイテムの1つまたは複数の任意のまた全ての組合せを含む。
ある要素が、別の要素に「接続される(connected)」または「結合される(coupled)」として言及されるとき、ある要素は、他の要素に直接接続されるまたは結合されうる、または、介在する要素が存在する可能性があることが理解されるであろう。対照的に、ある要素が、別の要素に「直接接続される(directly connected)」または「直接結合される(directly coupled)」として言及されるとき、介在する要素は存在しない。要素間の関係を記述するために使用される他の言葉(word)(たとえば、「の間で(between)」対「直接…の
間で(directly between)」、「隣接して(adjacent)」対「直接隣接して(directly adjacent)」など)は、同じように解釈されるべきである。
本明細書で使用される用語法は、特定の実施形態だけを述べるためのものであり、例示的な実施形態について制限的であることを意図されない。本明細書で使用されるように、単数形「ある(a)」、「ある(an)」、および「その(the)」は、文脈が別途明確に指示しない限り、複数形も含むことが意図される。用語「備える(comprises)」、「備える(comprising)」、「含む(includes)」、および/または「含む(including)」は、本明細書で使用されると、述べる特徴、完全体、ステップ、動作、要素、および/またはコンポーネントの存在を指定するが、1つまたは複数の他の特徴、完全体、ステップ、動作、要素、コンポーネント、および/またはそのグループの存在または追加を排除しないことがさらに理解されるであろう。
いくつかの代替の実施態様では、述べる機能/行為は、図で述べる順序からはずれて起こってもよいことも留意されるべきである。たとえば、連続して示す2つの図は、実際には、関係する機能/行為に応じて、実質的に同時に実行されてもよく、または、時として逆順で実行されてもよい。
例示的な実施形態は、パターンおよび/または画像を読出しまた書込むための、基板またはウェハなどの加工物の走査に関する。例示的な実施形態はまた、加工物を測定することに関する。例示的な基板またはウェハは、フラットパネルディスプレイ、プリント回路板(PCB)、アプリケーションをパッケージングする基板または加工物、太陽電池パネル、および同様なものを含む。
例示的な実施形態によれば、読出しおよび書込みは、広い意味で理解される。たとえば、読出し動作は、比較的小さなまたは比較的大きな加工物についての顕微鏡測定、検査、計測、分光測定、干渉測定、散乱測定を含んでもよい。書込みは、フォトレジストを露光すること、光学加熱によってアニーリングすること、アブレーティングすること、光ビームによって表面に対して任意の他の変化を生成することなどを含んでもよい。
例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムは、基板上に画像を書込むパターン発生器(または他の装置)内に(または、それと共に)実装されてもよく、たとえば、パターン発生器は、画像生成変調器の1つまたは複数を備える。
例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムは、加工物を測定する測定および/または検査装置内に(または、それと共に)実装されてもよい。1つまたは複数の例示的な実施形態が実装されてもよい測定および/または検査装置は、検出器、センサ(たとえば時間遅延および積分(time delay and integration)(TDI)センサ)、カメラ(たとえば、電荷結合素子(CCD)など)、または同様なものの1つまたは複数を備えてもよい。
例示的な実施形態はまた、3次元(3D)基板などの比較的厚い基板上にパターンを書込むパターン発生器内に実装されてもよく、または、比較的厚い加工物または基板を測定するかまたは検査する装置(たとえば、約2μmと約100μm以上との間の値より厚いフォトレジスト内で3次元(3D)パターンを測定するかまたは検査する装置)に実装されてもよい。
例示的な実施形態はまた、少なくとも1つの偏向器を備える音響光学マルチビームシステムなどの走査マルチビームシステムに実装されてもよい。
なおさらに、例示的な実施形態は、加工物上の情報と回転光学アームのハブにおける情報との間の本質的に一貫性がある配向関係を、アームが加工物にわたって孤を掃引するときでさえも維持しながら、変調器から加工物の表面へ画像情報を中継する光学部品を有す
る1つまたは複数の回転光学アームを含む比較的高スループットの光学処理デバイスに実装されてもよい。
例示的な実施形態はまた、検出器センサの1つまたは複数を備える1つまたは複数の回転アームを含む測定および/または検査装置に実装されてもよい。
例示的な実施形態は、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動しながら、テーブルがすれ違うシステムを提供する。少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、処理エリアは、読取りエリア、書込みエリア、および/または測定エリアであってよい。
例示的な実施形態は、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するときに、テーブルがすれ違ってもよいマルチテーブルシステムを提供する。こうした例示的な実施形態は、単一ローディングエリアおよび単一処理エリアだけを必要とする。
少なくとも1つの例示的な実施形態は、リソグラフィ処理装置を提供する。装置は、加工物をロードするローディングエリア、加工物を処理する処理エリア、およびローディングエリアと処理エリアとの間に配置されたマルチテーブルシステムを含む。マルチテーブルシステムは、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動しながら、すれ違うように構成された少なくとも2つのテーブルを含む。少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、加工物を保持するように構成される。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するときに、少なくとも2つのテーブルがすれ違うように高くされるかまたは低くされる、の少なくとも一方であるように構成されてもよい。
少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、軸受上に載置されてもよい。軸受は、シャフトに沿う並進移動および軸の周りの回転移動を提供する。装置は、パターン発生器、測定装置、検査装置、走査マルチビームシステム、あるいは1つまたは複数の回転光学アームを含む光学処理デバイスであってよく、1つまたは複数の回転光学アームは、変調器から加工物の表面へ画像情報を中継するように構成された光学部品を含む。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、少なくとも2つのテーブルの別のテーブルの上または下を通過するように構成されてもよい。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、装置は、さらに、少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルが、少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルの下を通過するように、第1のテーブルを持上げるように構成されてもよい。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、装置は、さらに、少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルが、少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルの下を通過するように、第1のテーブルを持上げるように構成された少なくとも第1のメカニカルハンドを含んでもよい。
マルチテーブルシステムは、さらに、第1のテーブル組立体および第2のテーブル組立体を含む。第1のテーブル組立体は、少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルを含んでもよく、第1のテーブル組立体は、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するように構成される。第2のテーブル組立体は、少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルを含んでもよく、第2のテーブル組立体は、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するように構成される。第1のテーブルは第1の支持部上に載置され、第2のテーブルは第2の支持部上に載置され、第1のテーブルは、ローディングエリアと処理エリアとの
間を移動するときに、第2のテーブルの上を通過するように、アクチュエータによって上げられるかまたは下げられるように構成される。
第1のテーブル組立体の支持部および第2のテーブル組立体の支持部は、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するときに、同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さですれ違ってもよい。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルは、第1の垂直に作動可能なシャフト上に載置され、少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルは、第2の垂直に作動可能なシャフト上に載置される。第1および第2のテーブルは、第1および第2のテーブルの一方のテーブルが、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するときに、第1および第2のテーブルの他のテーブルの下を通過するように、上げられるかまたは下げられるように構成されてもよい。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルは、少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルより小さく、第1のテーブルは、ローディングエリアと処理エリアとの間を移動するときに、第2のテーブルの下を通過するように構成される。
少なくとも1つの他の例示的な実施形態は、リソグラフィアプリケーションについて加工物を処理する方法を提供する。少なくともこの例示的な実施形態によれば、第1の加工物は、少なくとも2つのテーブルの第1のテーブル上にロードされ、第1のテーブルは、処理ユニットまで移動される。第1の加工物は処理され、第2の加工物は、少なくとも2つのテーブルの第2のテーブル上にロードされる。ある実施形態では、第1の加工物が処理される時間は、第2の加工物がロードされる時間に少なくとも部分的にオーバラップする。これは、最新の単一テーブルシステムの場合より高いレートの生産を可能にすることになる。
最新の複数テーブルシステムは、生産ラインにおいて、加工物(piece)の不均一な流れ
および他のシステムに対する不良のインタフェースに悩むことが多い。本発明の例示的な実施形態の対称デュアルテーブル設計は、複数のテーブル間で共有される本質的に平行なシャフトおよびリニアモータレールおよび/またはリニアスケールを設け、それにより、生産ラインにおける他のシステムに対するインタフェースを同様に容易にする均等ペースでの加工物の処理を可能にすることによって、上記問題を解決するかまたは軽減する。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、処理ユニットまで移動するときに、第1のテーブルは、第2のテーブルの上または下を通過する。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、第2のテーブルは処理エリアまで移動されてもよく、第1のテーブルは、ローディングエリアまで戻るように移動させてもよい。第1および第2のテーブルがすれ違うときに、テーブルの少なくとも一方のテーブルの少なくとも一方の側部が、テーブルの通過を可能にするために上げられるかまたは下げられる。
少なくとも1つの他の例示的な実施形態は、パターン発生器を提供する。パターン発生器は、加工物上でパターンを生成するように構成されたパターン発生ユニットと、パターン発生ユニットへ/から加工物を移動させるように構成されたテーブルシステムとを含む。テーブルシステムは、ローディングエリアとパターン発生ユニットとの間に延在する各シャフト上に載置される少なくとも2つのテーブルを含む。少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、加工物を搬送するように構成され、また、少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルが少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルの上または下を通過するように、
シャフトのうちのそれぞれ一方のシャフトの軸に沿って旋回するように構成される。
図1は、例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの平面図である。
図1を参照して、マルチテーブルシステム10は、ローディングエリア108および処理エリア106を含む。テーブル110は、シャフトまたはレール102上に載置され、テーブル112は、シャフトまたはレール104上に載置される。シャフト102および104は、少なくとも、ローディングエリア108と処理エリア106との間でかつ両者を通って延在する。テーブル110および112は、シャフト102および104上で、ローディングエリア108と処理エリア106との間で同時発生的にまたは同時に移動するように構成される。1つの例では、シャフト102および104は、磁気レールであってよく、テーブル110および112は、リニアモータ(図示せず)によって駆動されてもよい。図1には示さないが、テーブル110および112は、同じリニアモータあるいはさらに同じシャフトまたはレールを共有してもよい。そのため、ある実施形態では、テーブル110および112は、共通リニアモータ(図示せず)によって駆動されてもよく、なお別の実施形態では、テーブル110および112は、その後、同じリニアモータマグネットレールを共有してもよい。本発明の例示的な実施形態による複数テーブルシステムにおいてテーブル間で共通リニアモータを共有することによって、システムの総合コストが、複数マグネットレールを有するシステムと比較して大幅に低減される可能性がある。複数テーブルシステムについての単一共通マグネットレールの使用は、組立て時間も低減する。
非常に正確な速度制御を必要とする高精度システムは、各マグネットレールに沿う力変動を測定し補償する必要がある。本発明の例示的な実施形態に従って、テーブルについて共通レールを導入することは、高精度システムにおいて正確な速度制御を実現する、または、正確な速度制御および較正についての必要性を減少させる可能性がある。
例示的な動作では、テーブル110および112の一方は、ローディングエリア108と処理エリア106との間を移動するときに、他のテーブルの上または下を通過する。
ローディングエリア108では、加工物が、ロードされるまたアンロードされる。処理エリア106では、加工物が処理される。処理エリア106は、読取りエリア、書込みエリア、および/または測定エリアであってよい。1つの例では、処理エリア106は、テーブル110および112上にロードされた加工物を処理するように構成された処理ユニットまたは装置(たとえば、読取りユニット、書込みユニット、および/または測定ユニット)を含んでもよい。たとえば、処理エリア106は、パターン発生装置、加工物を測定する測定および/または検査装置、音響光学マルチビームパターン発生装置、ならびに比較的高スループットの光学処理デバイスの1つまたは複数を含む。
少なくともいくつかの例示的な実施形態によれば、第1のテーブル(たとえばテーブル110)上の加工物が処理される時間は、加工物が第2のテーブル(たとえばテーブル112)上にロードされる時間に少なくとも部分的にオーバラップする。
依然として図1を参照して、テーブル110および112が互いに移動することができるとき、同じローディングシステム、アライメントシステム、および/または処理システムが、テーブル110と112の両方の上に配置された加工物のために使用されてもよい。したがって、総合スループットが増加する可能性があり、一方、全体システムについてのコストおよび/または空間要件が低減される可能性がある。
図2は、例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの一部分を示す。図2に示すマルチテーブルシステムの部分は、テーブル110および112が互いに移動する例示的な方法を示す。
図2を参照して、テーブル110は、少なくとも2自由度を有するピボット軸受202を介してシャフト102上に載置される。テーブル110はまた、垂直軸受204上に載置される。テーブル112はまた、少なくとも2自由度を有するピボット軸受202を介してシャフト104上に載置される。テーブル112はまた、垂直軸受204上に載置される。図2は、軸受上に載置されたテーブル110と112の両方を示すが、テーブル110および112の一方だけが、ピボット軸受202上に載置されてもよい。軸受202および204は、シャフト102および104に沿うテーブル110および112の並進移動および回転軸としてのシャフト102および104の周りのテーブル110および112の回転移動を可能にする。2自由度を有するピボット軸受202は、たとえば、ラジアル空気軸受け、空気ブッシング、磁気軸受、玉軸受、または並進および回転自由度を提供することが可能な任意の種類の軸受であってよい。
ピボット軸受202によって提供される回転自由度を使用して、テーブル110は、テーブル110および112がローディングエリアと処理エリアとの間をすれ違うときに、テーブル112がテーブル110の下を通過するように持上げられてもよい。図2には示さないが、回転自由度はまた、他のテーブル(たとえばテーブル110)が、下げられたテーブルの上を通過する間に、テーブルの一方(たとえばターブル112)を下げるために使用されてもよい。
少なくとも1つの例示的な実施形態によれば、テーブル110および112は、すれ違うときを除いて常に、同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さで基板またはウェハを搬送してもよい。
例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムは、可動部品をほとんどまたは全く持たずに構築されてもよい。さらに、テーブルは、単一平面にまたがる少なくとも3つの支持点を有する運動学的軸受設計を有してもよく、マルチテーブルシステムの組立ておよび/または調整を簡略化する可能性がある。さらに、先に論じたように、例示的な実施形態によるテーブルは、リニアモータによって駆動されるように設計される場合、同じ磁気レールを共有してもよい。なおさらに、テーブル位置がリニアエンコーダによって測定される場合、テーブルはまた、同じリニアスケールを共有してもよい。複数テーブル用の1つの共通リニアスケールは、コストを低減し、組立てを簡略化し、アライメントについて必要とされる作業を最小にする。さらに、複数テーブル用の1つのスケールは、テーブル間の位置偏差を最小にするであろう。これは、どのテーブルが使用されているかによらず、再現性のある結果を有する処理を容易にする。再現性のある結果を得ることは、処理される各加工物間の重なりが重要な因子であるバッチ処理について特に重要である。複数のスケールと比較した単一のリニアスケールに関する別の利点は、リニアスケールが、通常、粒子および汚染に敏感であるため、単一のリニアスケールが、保護し清浄するのが容易であることである。少なくとも1つの例示的な実施形態では、モータおよび/またはスケールは、テーブルの回転中心の比較的近くに位置決めされてもよく、寄生回転を低減する、かつ/または、最小にする可能性がある。
図3(A)〜(E)は、テーブル110が、ローディングエリア108と処理エリア106との間を移動するときき、テーブル112の下を通過する例示的な動作を示すシーケンスである。
図3(A)に示すように、テーブル110および112はそれぞれ、最初に、同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さに位置決めされる。
図3(B),(C)を参照すると、テーブル110が、処理エリア106に向かって移動し、テーブル112に近づくにつれて、テーブル112は、テーブル110がテーブル112の下を通過するように持上げられる。この例では、テーブル112は、テーブル1
12がシャフト104の周りに回転し、テーブル112の側部が持上げられるように、シャフト104上で旋回する。
図3(C),(D)を参照して、テーブル112が持上げられた後、テーブル110は、テーブル112の下を通過する。
図3(E)を参照して、テーブル110がテーブル112の下を通過した後、テーブル112は、その元の位置に戻るように下げられ、処理エリア106に向かって移動し続ける。
図3(A)〜(E)に示す例示的な実施形態は、別の加工物の処理と並列に、1つの加工物のローディング、アンローディング、および測定を可能にする。
少なくともいくつかの実施形態によれば、システム資源は、テーブルがローディングエリアと処理エリアとの間でまたはその逆に移動する間だけ、アイドル状態になる。
少なくともいくつかの実施形態によれば、テーブルの持上げ運動は、テーブルの自由端(たとえば、テーブルがシャフトに載置される側部と対向する)の機械ハンドまたは磁気アクチュエータによって、または、シャフトの周りにトルクを生成するように構成された電磁デバイスによって生成されてもよい。
図4(A)〜(D)は、機械ハンドがテーブルの側部を持上げる例示的な実施形態を示すシーケンスを示す。この例示的な実施形態では、テーブル406は、シャフト402上で旋回するようにシャフト402上に載置され、テーブル406の側部は、機械ハンド404によって持上げられることが可能である。機械ハンド404は、テーブル406を持上げまた持下げるために上げ下げされるように構成される。
図4(A)を参照して、機械ハンド404は、テーブル406の自由端に載置される。この例では、機械ハンド404は、シャフト402と対向する側部に載置され、機械ハンド404の下側部分が、テーブル406の上側表面の上になるように上側位置で位置決めされる。
図4(B)を参照して、テーブル406が機械ハンド404に近づくにつれて、機械ハンド404の持上げ部分の上側表面がテーブル406の下側表面の下になるように、機械ハンド404が下げられる。
図4(C)を参照して、一旦下側位置になると、テーブル406は、機械ハンド404の持上げ部分の上を通過する。
図4(D)を参照して、機械ハンド404は、その後、別のテーブル(図示せず)がテーブル406の下を通過できるように、テーブル406の側部を持上げるために、上側位置に移動する。
以下でより詳細に述べるように、他の時間に同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さにテーブルを維持しながら、少なくとも2つのテーブルが、異なる垂直レベルで通過することを可能にする考えられる他の設計選択が使用されてもよい。
図5は、別の例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムの一部分を示す。
図5に示すように、テーブル組立体500Aおよび500Bは、複数の部品を含む。この例では、1つのテーブル組立体の少なくとも1つの部品は、上げられてもよく、下げられてもよい。
図5を参照して、テーブル組立体500Aは、シャフト506Aに沿って並進移動が可
能であるようにシャフト506A上に載置される。テーブル組立体500Bは、シャフト506Bに沿って並進移動が可能であるようにシャフト506B上に載置される。
テーブル組立体500Aは、支持部品508A上に載置されるテーブル502Aを含む。テーブル組立体500Bは、支持部品508B上に載置されるテーブル502Bを含む。支持部品508Aおよび508Bはそれぞれ、同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さに配置され、ローディングエリアと処理エリアとの間でまたはその逆に移動するときに、すれ違うように配置される。
図5に示す例示的な実施形態では、テーブル502Aおよび502Bは、(たとえば、少なくとも水平方向に)支持部品508Aおよび508Bより大きい。
テーブル502Aおよび502Bは、すれ違うまで同じ垂直高さに位置決めされてもよい。この例では、テーブル組立体500Aおよび500Bが互いに近づくにつれて、テーブル502Aは、テーブル502Bの上を通過するようにアクチュエータ504Aによって上げられる。
図5には示さないが、テーブル組立体500Bはまた、テーブル502Aと同じ方法で上げられるかまたは下げられるようにアクチュエータを含んでもよい。
図6は、なお別の例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムを示す。
図6を参照して、テーブル600Aは、一方の側部で垂直に作動可能なシャフト602Aに固定される。テーブル600Bはまた、一方の側部で垂直に作動可能なシャフト602Bに固定される。垂直に作動可能なシャフト602Aおよび602Bは、垂直に作動可能なシャフト602Aおよび602Bに取付けられていないテーブル600Aおよび600Bの端部が互いに面するように、反対側に配置される。
図6に示す例示的な実施形態では、テーブル600Aおよび600Bは、ローディングエリアと処理エリアとの間でまたはその逆に移動するときに、すれ違うことができるように離散的な位置に(または連続して)上げられるかまたは下げられてもよい。
例示的な実施形態によれば、テーブル600Aおよび600Bの一方は、他方より小さくてもよい。1つの例では、より小さなテーブルは、処理および/またはアライメント中に上げられてもよい。
図7は、なお別の例示的な実施形態によるマルチテーブルシステムを示す。
図7に示すように、テーブル組立体700Bは、テーブル組立体700Aのテーブル702Aより小さいテーブル702Bを含む。この例では、より大きなテーブル702Aは、ローディングエリアと処理エリアとの間でまたはその逆に移動するときに、より小さなテーブル702Bがより大きなテーブル702Aの下を通過するように上げられてもよい。
より詳細に図7を参照して、テーブル組立体700Aは、ローディングエリアと処理エリアとの間で並進移動が可能になるようにシャフト706A上に載置される。テーブル組立体700Bは、ローディングエリアと処理エリアとの間で並進移動が可能になるようにシャフト706B上に載置される。
テーブル702Aおよび702Bは、すれ違うまで同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さに位置決めされてもよい。あるいは、テーブル702Aおよび702Bは、異なる垂直高さに位置決めされてもよい。1つの例では、より小さなテーブル702Bは、より大きなテーブル702Aの下を通過するように、より大きなテーブル702Aに対して低
い垂直高さに位置決めされてもよい。
テーブル702Aおよび702Bが、すれ違うまで同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さに位置決めされる例では、テーブル組立体700Aおよび700Bが互いに近づくにつれて、テーブル702Aは、より大きなテーブル702Aがより小さなテーブル702Bの上を通過するように、テーブル組立体700Aの側部に配置されたアクチュエータ(図示せず)によって上げられる。
例示的な実施形態によるスループットシステムは、位置測定のためにリニアエンコーダを使用してもよい。リニアエンコーダは、速度と分解能との間のトレードオフを強制する帯域幅制限を有する可能性がある。比較的高スループットのシステムでは、比較的高い速度で運搬移動を実施すること、および/または、書込みおよび/またはアライメント中に比較的高い分解能を使用することが有益である可能性がある。これは、1テーブルにつき2つ以上のエンコーダ読取りヘッドを使用すること、および、図8に示すように2つのエンコーダの出力を結合することによって達成されてもよい。
図8は、エンコーダ出力を結合する方法の例示的な実施形態を示す。
図8を参照して、第1のエンコーダは、比較的高い速度(たとえば、約2.5m/分の最高速度)および比較的低い分解能(たとえば、約50nm)のために構成され、一方、第2のエンコーダは、比較的低い速度(たとえば、約0.25m/分の最低速度)および比較的高い分解能(たとえば、約5nm)のために構成される。第1のエンコーダは、約400×で補間することが可能であり、一方、第2のエンコーダは、約4000×で補間することが可能である。
その後、絶対位置が、第1のエンコーダによって与えられ、特別な高分解能ディジットが、第2のエンコーダから付加され、比較的高い分解能の位置がもたらされる可能性があり、その位置は、比較的高い速度の移動中は最後のディジットに誤差を有するが、比較的低い速度の移動中は正確である。
少なくともこの例示的な実施形態によるエンコーダシステムは、エンコーダおよび比較的低い速度−比較的高い分解能のモードと組合せた比較的高い速度−比較的低い分解能のモードを使用する、他のシステム、ステージ解決策、および/または可動物体のために使用されてもよい。
図9は、例示的な実施形態による加工物を処理する方法を示す。明確にするために、図9に示す方法は、図1に示すマルチテーブルシステムに関して述べられるであろう。しかし、例示的な実施形態は、他のマルチテーブルおよび/またはリソグラフィシステムに適用可能であってもよいことが理解される。
図9を参照して、S902にて、加工物が、ローディングエリア108のテーブル110上にロードされる。
S904にて、テーブル110は、シャフト102上を処理エリア106に移動する。ローディングエリア108と処理エリア106との間を移動しながら、たとえば図2〜7に関して上述したように、テーブル110はテーブル112を通過する。より特定の例では、テーブル110および112の一方は、持上げられ、それにより、テーブル110および112の他方は、持上げられたテーブルの下を通過する。
なお図9を参照して、S906Aにて、テーブル110上にロードされた第1の加工物が、処理エリア106にて処理される。同時発生的にまたは同時に、S906Bにて、第2の加工物が、ローディングエリア108においてテーブル112にロードされる。
S908Aにて、第1の加工物が処理された後、テーブル110は、ローディングエリア108に戻るように移動する。同時発生的にまたは同時に、S908Bにて、テーブル112が、処理エリア106に移動する。先に論じたように、ローディングエリア108と処理エリア106との間で移動しながら、テーブル110および112は、たとえば、図2〜7に関して上述したようにすれ違う。より特定の例では、テーブル110および112の一方は、持上げられ、それにより、他のテーブルが、上げられたテーブルの下を通過できる。
なお図9を参照して、S910Aにて、第1の加工物は、ローディングエリア108においてテーブル110から下ろされる。同時発生的にまたは同時に、S910Bにて、第2の加工物が、処理エリア106で処理される。
図9に関して述べる方法は、マルチテーブルシステムのスループットを改善するために反復して繰返されてもよく、それにより、一方のテーブル上にロードされた加工物が、別のテーブル上の加工物のローディングと同時発生的にまたは同時に処理されてもよい。
図9に示す例示的な実施形態によれば、第1の加工物が処理される時間は、第2の加工物がテーブル上にロードされる時間に少なくとも部分的にオーバラップする。
先の説明は、例証および説明のために提供された。先の説明は、網羅的であることを意図されない。特定の例示的な実施形態の個々の要素または特徴は、一般に、その特定の例に限定されるのではなく、適用可能である場合には交換可能であり、たとえ具体的に示されるかまたは述べられなくても、選択された実施形態で使用されうる。同じことはまた、多くの方法で変わってもよい。こうした変形は、例示的な実施形態からの逸脱とみなされず、全てのこうした変更は、本明細書で述べる例示的な実施形態の範囲内に含まれることが意図される。

Claims (20)

  1. リソグラフィ処理装置において、
    加工物をロードするローディングエリアと、
    加工物を処理する処理エリアと、
    前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間に配置されたマルチテーブルシステムとを備え、前記マルチテーブルシステムは、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動しながら、すれ違うように構成された少なくとも2つのテーブルを備え、前記少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、加工物を保持すべく形成されている、リソグラフィ処理装置。
  2. 前記少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動するときに、前記少なくとも2つのテーブルがすれ違うように、上昇、または下降の少なくとも一方をするように構成される請求項1に記載の装置。
  3. 前記少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、軸受上に載置され、シャフトに沿う並進移動および同じ軸の周りの回転移動を与える、請求項1に記載の装置。
  4. 前記少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルは、前記少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルが前記第1のテーブルの下を通過するように、前記シャフト上で旋回して、前記第1のテーブルの側部を上昇させる、請求項1に記載の装置。
  5. パターン発生器である請求項1に記載の装置。
  6. 測定装置または検査装置の少なくとも一方である請求項1に記載の装置。
  7. 走査マルチビームシステムである請求項1に記載の装置。
  8. 1つまたは複数の回転光学アームを含む光学処理デバイスであり、前記1つまたは複数の回転光学アームは、変調器から前記加工物の表面へ画像情報を中継するように構成された光学部品を含む請求項1に記載の装置。
  9. 前記少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、前記少なくとも2つのテーブルの他のテーブルの上または下を通過するように構成される請求項1に記載の装置。
  10. 前記少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルが、前記少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルの下を通過するように、前記第1のテーブルを持上げるように構成された少なくとも第1のメカニカルハンドをさらに備える、請求項1に記載の装置。
  11. 前記マルチテーブルシステムは、
    前記少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルおよび第2のテーブルを含む第1のテーブル組立体であって、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動するように構成される、第1のテーブル組立体と、
    前記少なくとも2つのテーブルの第3のテーブルおよび第4のテーブルを含む第2のテーブル組立体であって、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動するように構成される、第2のテーブル組立体とをさらに備え、
    前記第1のテーブルは前記第2のテーブル上に載置され、
    前記第3のテーブルは前記第4のテーブル上に載置され、
    前記第1のテーブルは、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動するときに、前記第3のテーブルの上を通過するように、アクチュエータによって上昇または
    下降される、請求項1に記載の装置。
  12. 前記第2のテーブルおよび第4のテーブルは、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動するときに、同じ垂直高さまたは実質的に同じ垂直高さですれ違う、請求項11に記載の装置。
  13. 前記少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルは、第1の垂直に作動可能なシャフト上に載置され、前記少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルは、第2の垂直に作動可能なシャフト上に載置され、
    前記第1および第2のテーブルは、前記第1および第2のテーブルの一方のテーブルが、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動するときに、前記第1および第2のテーブルの他のテーブルの下を通過するように、上昇または下降される、請求項1に記載の装置。
  14. 前記少なくとも2つのテーブルの第1のテーブルは、前記少なくとも2つのテーブルの第2のテーブルより小さく、前記第1のテーブルは、前記ローディングエリアと前記処理エリアとの間を移動するときに、前記第2のテーブルの下を通過するように構成される請求項1に記載の装置。
  15. 加工物にリソグラフィの処理を行うための方法において、
    少なくとも2つのテーブルの第1のテーブル上に第1の加工物をロードする工程と、
    前記第1のテーブルを処理エリアまで移動させる工程と、
    前記第1の加工物を処理する工程と、
    前記少なくとも2つのテーブルの第2のテーブル上に第2の加工物をロードする工程とを備え、
    前記第1の加工物が処理される時間は、前記第2の加工物がロードされる時間に少なくとも部分的に重複している、加工物にリソグラフィの処理を行うための方法。
  16. 前記処理ユニットまで移動するときに、前記第1のテーブルは、前記第2のテーブルの上または下を通過する、請求項15に記載の方法。
  17. 前記第2のテーブルを前記処理ユニットまで移動させる工程と、
    前記第1のテーブルを前記ローディングエリアまで戻るように移動させる工程とをさらに備え、
    前記第1および第2のテーブルがすれ違うときに、前記テーブルの少なくとも一方のテーブルの少なくとも一方の側部が、前記テーブルの通過を可能にするために上昇され、または下降される、請求項16に記載の方法。
  18. パターン発生器であって、
    加工物上でパターンを生成することができるパターン発生ユニットと、
    前記パターン発生ユニットとの間で加工物を移動させるべく形成されているテーブルシステムとを備え、前記テーブルシステムは、
    ローディングエリアと前記パターン発生ユニットとの間に延在するシャフト上に載置される少なくとも2つのテーブルを含み、前記少なくとも2つのテーブルは、加工物を搬送すべく形成されており、かつ、前記少なくとも2つのテーブルのうちの第1のテーブルが前記少なくとも2つのテーブルのうちの第2のテーブルの上または下を通過するように、前記シャフトの軸に沿って旋回すべく形成されている、パターン発生器。
  19. 前記少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、前記ローディングエリアと前記パターン発生ユニットとの間を移動するときに、前記少なくとも2つのテーブルがすれ違うために、
    上昇または下降の少なくとも一方であるように構成される請求項18に記載のパターン発生器。
  20. 前記少なくとも2つのテーブルはそれぞれ、軸受上に載置され、シャフトに沿う並進移動および同じ軸の周りの回転移動を与える、請求項1に記載の装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014068009A (ja) * 2012-09-12 2014-04-17 Lam Research Corporation 半導体処理装置に関する方法およびシステム

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102495531B (zh) * 2011-11-12 2014-02-05 哈尔滨工业大学 一种基于自主同步调向的双工件台回转交换方法与装置
CN102681363B (zh) * 2012-05-11 2014-02-19 清华大学 一种多工位硅片台多台交换系统及其交换方法
US10012910B2 (en) 2013-10-22 2018-07-03 Applied Materials, Inc. Pattern generators employing processors to vary delivery dose of writing beams according to photoresist thickness, and associated methods

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000338432A (ja) 1999-05-31 2000-12-08 Dainippon Screen Mfg Co Ltd レーザー露光装置及びその方法
EP1111471B1 (en) * 1999-12-21 2005-11-23 ASML Netherlands B.V. Lithographic projection apparatus with collision preventing device
JP4197129B2 (ja) 2003-03-19 2008-12-17 シャープ株式会社 ワーク搬送装置
TWI246848B (en) * 2003-07-03 2006-01-01 Fuji Photo Film Co Ltd Image formation device
JP2005294468A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Canon Inc 位置決め装置、露光装置及びデバイス製造方法
US7106420B2 (en) * 2004-09-28 2006-09-12 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7538857B2 (en) * 2004-12-23 2009-05-26 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing a substrate handler
EP2469339B1 (en) * 2010-12-21 2017-08-30 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014068009A (ja) * 2012-09-12 2014-04-17 Lam Research Corporation 半導体処理装置に関する方法およびシステム
US10256124B2 (en) 2012-09-12 2019-04-09 Lam Research Corporation Method and system related to semiconductor processing equipment

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