JP2012235071A - Solar cell - Google Patents
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Abstract
【課題】短絡電流密度が大きい電流を出力することができる太陽電池を提供する。
【解決手段】太陽電池は、p型半導体層2と、n型半導体層4と、前記p型半導体層と前記n型半導体層とに挟まれた超格子半導体層8とを備え、前記超格子半導体層は、障壁層と、前記障壁層を構成する半導体材料に囲まれた量子ドットからなる量子ドット層とが複数回交互に積層され、かつ、前記超格子半導体層の厚さ方向と前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向との両方に中間バンドが形成されるように積層された積層構造を有する。
【選択図】図1A solar cell capable of outputting a current having a high short-circuit current density is provided.
A solar cell includes a p-type semiconductor layer, an n-type semiconductor layer, and a superlattice semiconductor layer sandwiched between the p-type semiconductor layer and the n-type semiconductor layer. The semiconductor layer is formed by alternately stacking a barrier layer and a quantum dot layer made of quantum dots surrounded by a semiconductor material constituting the barrier layer, and the thickness direction of the superlattice semiconductor layer and the superlattice layer. It has a stacked structure in which intermediate bands are formed in both the direction perpendicular to the thickness direction of the lattice semiconductor layer.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、超格子構造を有する太陽電池に関する。 The present invention relates to a solar cell having a superlattice structure.
太陽電池は、より広い波長範囲の光を光電変換に利用し光電変換効率を高めるために様々な研究開発が行われている。例えば、量子ドット技術を利用して価電子帯と伝導帯との間に中間バンドを設け、価電子帯の電子を二段階で伝導帯に励起することにより、より長波長の光を光電変換に利用する太陽電池が提案されている(例えば、非特許文献1)。 Various research and development have been conducted on solar cells in order to increase the photoelectric conversion efficiency by using light in a wider wavelength range for photoelectric conversion. For example, using quantum dot technology, an intermediate band is provided between the valence band and the conduction band, and electrons in the valence band are excited into the conduction band in two steps, thereby converting light with a longer wavelength into photoelectric conversion. The solar cell to utilize is proposed (for example, nonpatent literature 1).
特許文献1および特許文献2では、トンネル障壁を有し無機マトリックス内に埋め込まれた複数の量子ドットを備える中間バンド太陽電池やエネルギー囲み障壁に埋設された量子ドットを有する中間バンド太陽電池が提案されている。
このような量子ドットを有する中間バンド太陽電池は、化合物太陽電池に量子ドット層を含んだ超格子半導体層をi層として挿入したものである。量子ドットを有する中間バンド太陽電池は、母体半導体材料中に量子ドット層からなる超格子半導体層を挿入することで、図14(b)に示すように、量子ドット間の電子的結合により、超格子半導体層の厚さ方向に中間バンドを形成する。この中間バンドを介した二段階の光励起によって、図14(a)のような一般的な太陽電池では吸収できなかった、母体半導体材料のバンドギャップより小さいエネルギー光子の吸収が可能となる。
In Patent Document 1 and Patent Document 2, an intermediate band solar cell having a plurality of quantum dots having a tunnel barrier and embedded in an inorganic matrix and an intermediate band solar cell having quantum dots embedded in an energy enclosure barrier are proposed. ing.
An intermediate band solar cell having such quantum dots is a compound solar cell in which a superlattice semiconductor layer including a quantum dot layer is inserted as an i layer. As shown in FIG. 14B, an intermediate band solar cell having quantum dots can be obtained by inserting a superlattice semiconductor layer composed of a quantum dot layer into a base semiconductor material. An intermediate band is formed in the thickness direction of the lattice semiconductor layer. The two-stage photoexcitation via the intermediate band enables absorption of energy photons smaller than the band gap of the base semiconductor material, which could not be absorbed by a general solar cell as shown in FIG.
そして、光子によって生成したキャリアは、中間バンドおよび伝導帯、又は価電子帯を移動して、p型およびn型の半導体領域から外部へ取り出すことができる。
つまり、量子ドットを有する中間バンド太陽電池は、一般的な太陽電池では利用できなかった波長域の光を光電変換し電流として外部に取り出すことができるため、一般的な太陽電池よりも短絡電流密度を増加させることができると考えられている。
Then, carriers generated by photons can move out of the p-type and n-type semiconductor regions by moving through the intermediate band and the conduction band or the valence band.
In other words, an intermediate band solar cell having quantum dots can photoelectrically convert light in a wavelength region that could not be used in a general solar cell and take it out as a current, so that the short circuit current density is higher than that of a general solar cell. It is believed that can be increased.
図15(a)は、従来の量子ドットを有する太陽電池の超格子半導体層近傍の概略断面図であり、図15(b)は、図15(a)の一点鎖線D−Dにおける超格子半導体層の伝導帯のエネルギー準位を示す概略バンド図であり、図15(c)は、図15(a)の点線E−Eにおける超格子半導体層の伝導帯のエネルギー準位を示す概略バンド図である。なお、図15(b)、(c)において、pin接合により生じる内部電界は無視している。また、図15(b)、(c)において、量子ドット105の量子準位は中間バンドを形成する準位のみを示しており、また、電子が存在できるバンドを斜線で示している。
また、図16は、図15(a)の点線で囲んだ範囲Fにおける超格子半導体層の拡大断面図であり、中間バンドを伝導する電子を説明するための説明図である。
FIG. 15A is a schematic cross-sectional view of the vicinity of a superlattice semiconductor layer of a solar cell having conventional quantum dots, and FIG. 15B is a superlattice semiconductor taken along one-dot chain line DD in FIG. FIG. 15C is a schematic band diagram showing the energy level of the conduction band of the superlattice semiconductor layer along the dotted line EE of FIG. 15A. It is. In FIGS. 15B and 15C, the internal electric field generated by the pin junction is ignored. In FIGS. 15B and 15C, the quantum level of the quantum dot 105 shows only the level that forms the intermediate band, and the band in which electrons can exist is indicated by hatching.
FIG. 16 is an enlarged cross-sectional view of the superlattice semiconductor layer in a range F surrounded by a dotted line in FIG. 15A, and is an explanatory diagram for explaining electrons conducted in the intermediate band.
従来の量子ドットを有する太陽電池は、図15(a)のように量子ドット105からなる量子ドット層110と障壁層106とが交互に繰り返し積層された超格子半導体層108がp型半導体層102とn型半導体層104とに挟まれた構造を有している。
図15(a)(b)(c)のように、この太陽電池に含まれる量子ドット105は、障壁層106の材料よりも狭いバンドギャップを有する材料からなる微粒子であり、量子ドット105の伝導帯は障壁層106により閉じ込められ、量子準位となっている。
このような太陽電池は、超格子半導体層108の厚さ方向(z方向)の量子ドット105の直径taと隣接する2つの量子ドット105の間隔tbとを制御することにより、z方向に隣接する2つの量子ドットの量子準位の波動関数を相互作用させ、図15(b)のようにz方向に中間バンドを発生させている。このため、価電子帯の電子は、中間バンドを介した2段階光励起により伝導帯に励起可能となり、母体半導体材料のバンドギャップより小さいエネルギー光子を利用した光電変換が可能となっている。
In a conventional solar cell having quantum dots, a superlattice semiconductor layer 108 in which quantum dot layers 110 and barrier layers 106 made of quantum dots 105 are alternately and repeatedly stacked as shown in FIG. And the n-type semiconductor layer 104.
As shown in FIGS. 15A, 15B, and 15C, the quantum dots 105 included in the solar cell are fine particles made of a material having a narrower band gap than the material of the barrier layer 106. The band is confined by the barrier layer 106 and has a quantum level.
Such a solar cell controls the diameter t a of the quantum dot 105 in the thickness direction (z direction) of the superlattice semiconductor layer 108 and the interval t b between two adjacent quantum dots 105 in the z direction. The wave functions of the quantum levels of two adjacent quantum dots are allowed to interact to generate an intermediate band in the z direction as shown in FIG. For this reason, electrons in the valence band can be excited to the conduction band by two-step photoexcitation via the intermediate band, and photoelectric conversion using energy photons smaller than the band gap of the base semiconductor material is possible.
しかし、従来の量子ドットを有する中間バンド太陽電池では、実際に出力される短絡電流密度が小さいという課題がある。この原因は明らかではないが、キャリアパスとなる中間バンド内に欠陥等のキャリアトラップが存在するためと考えられる。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、短絡電流密度が大きい電流を出力することができる太陽電池を提供する。
However, the intermediate band solar cell having the conventional quantum dots has a problem that the actually output short-circuit current density is small. The cause of this is not clear, but it is considered that a carrier trap such as a defect exists in an intermediate band serving as a carrier path.
This invention is made | formed in view of such a situation, and provides the solar cell which can output the electric current with a large short circuit current density.
本発明は、p型半導体層と、n型半導体層と、前記p型半導体層と前記n型半導体層とに挟まれた超格子半導体層とを備え、前記超格子半導体層は、障壁層と、前記障壁層を構成する半導体材料に囲まれた量子ドットからなる量子ドット層とが複数回交互に積層され、かつ、前記超格子半導体層の厚さ方向と前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向との両方に中間バンドが形成されるように積層された積層構造を有することを特徴とする太陽電池を提供する。 The present invention includes a p-type semiconductor layer, an n-type semiconductor layer, and a superlattice semiconductor layer sandwiched between the p-type semiconductor layer and the n-type semiconductor layer, and the superlattice semiconductor layer includes a barrier layer, A quantum dot layer composed of quantum dots surrounded by a semiconductor material constituting the barrier layer is alternately stacked a plurality of times, and the thickness direction of the superlattice semiconductor layer and the thickness direction of the superlattice semiconductor layer A solar cell is provided that has a stacked structure in which intermediate bands are formed in both directions perpendicular to each other.
本発明によれば、超格子半導体層の厚さ方向と、超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向(量子ドット層の面内方向)との両方に中間バンドを形成することができるため、価電子帯から中間バンドに励起された電子は、超格子半導体層の厚さ方向と、超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向との両方に伝導することができる。このため、中間バンドに励起された電子は、内部電界によって超格子半導体層の厚さ方向に伝導するが、フォノン散乱等によって、超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向への移動も可能となる。このことにより、たとえ中間バンド内に欠陥等のキャリアトラップが存在したとしても、中間バンドを伝導する電子がトラップを回避して移動することが可能となり、中間バンドを伝導する電子が伝導帯に励起される確率を高くすることができる。その結果、中間バンドを介して伝導帯に励起される電子を多くすることができ、太陽電池が出力することができる短絡電流密度を高くすることができる。 According to the present invention, an intermediate band can be formed both in the thickness direction of the superlattice semiconductor layer and in the direction orthogonal to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer (in-plane direction of the quantum dot layer). Electrons excited from the valence band to the intermediate band can be conducted both in the thickness direction of the superlattice semiconductor layer and in the direction perpendicular to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer. For this reason, electrons excited in the intermediate band are conducted in the thickness direction of the superlattice semiconductor layer by an internal electric field, but can also move in a direction perpendicular to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer by phonon scattering or the like. It becomes. As a result, even if there is a carrier trap such as a defect in the intermediate band, electrons passing through the intermediate band can move while avoiding the trap, and the electrons passing through the intermediate band are excited to the conduction band. The probability of being made can be increased. As a result, the number of electrons excited to the conduction band through the intermediate band can be increased, and the short-circuit current density that can be output from the solar cell can be increased.
本発明の太陽電池は、p型半導体層と、n型半導体層と、前記p型半導体層と前記n型半導体層とに挟まれた超格子半導体層とを備え、前記超格子半導体層は、障壁層と、前記障壁層を構成する半導体材料に囲まれた量子ドットからなる量子ドット層とが複数回交互に積層され、かつ、前記超格子半導体層の厚さ方向と前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向との両方に中間バンドが形成されるように積層された積層構造を有することを特徴とする。 The solar cell of the present invention includes a p-type semiconductor layer, an n-type semiconductor layer, and a superlattice semiconductor layer sandwiched between the p-type semiconductor layer and the n-type semiconductor layer, A barrier layer and a quantum dot layer composed of quantum dots surrounded by a semiconductor material constituting the barrier layer are alternately stacked a plurality of times, and the thickness direction of the superlattice semiconductor layer and the superlattice semiconductor layer It has a stacked structure in which an intermediate band is formed in both the direction orthogonal to the thickness direction.
本発明において、超格子構造とは、共に半導体からなりバンドギャップが異なる2つの層が繰り返し積層された構造であり、バンドギャップが小さい層の電子波動関数と、隣接するバンドギャップが小さい層の電子波動関数が、大きく相互作用する構造をいう。また、バンドギャップが大きい層を障壁層と呼び、小さい層を井戸層と呼ぶ。なお、量子ドット層は井戸層である。 In the present invention, the superlattice structure is a structure in which two layers each made of a semiconductor and having different band gaps are repeatedly laminated. The electron wave function of a layer having a small band gap and the electrons of adjacent layers having a small band gap. A structure in which wave functions interact greatly. A layer having a large band gap is called a barrier layer, and a layer having a small band gap is called a well layer. The quantum dot layer is a well layer.
量子ドットとは、100nm以下の粒子サイズを有する半導体微粒子であり、量子ドットを構成する半導体よりもバンドギャップの大きい半導体で囲まれた微粒子である。
量子ドット層とは、複数の量子ドットを含む層のことを指し、超格子構造の井戸層となる。
量子準位とは、量子ドットの電子の離散的なエネルギー準位をいう。
障壁層とは、量子ドットを構成する半導体よりもバンドギャップの大きい半導体からなり、超格子構造を構成する。
中間バンドとは、超格子構造の井戸層の電子の波動関数が隣接井戸の波動関数と相互作用し、量子井戸の量子準位間の共鳴トンネル効果が生じ形成されるバンドをいう。尚、本発明において、中間バンドの幅が室温のエネルギーに相当する26meV以上である場合を、中間バンドが形成されている状態と定義する。通常太陽電池は、室温以上の温度で用いられるため、26meV以上の中間バンド幅を有していれば、通常の太陽電池の利用条件下において中間バンド内をキャリアが移動できることを意味している。
A quantum dot is a semiconductor fine particle having a particle size of 100 nm or less, and is a fine particle surrounded by a semiconductor having a larger band gap than the semiconductor constituting the quantum dot.
The quantum dot layer refers to a layer including a plurality of quantum dots, and becomes a well layer having a superlattice structure.
A quantum level means the discrete energy level of the electron of a quantum dot.
The barrier layer is made of a semiconductor having a larger band gap than the semiconductor constituting the quantum dots, and constitutes a superlattice structure.
The intermediate band is a band in which the electron wave function of a well layer having a superlattice structure interacts with the wave function of an adjacent well, and a resonant tunneling effect occurs between quantum levels of quantum wells. In the present invention, a case where the width of the intermediate band is 26 meV or more corresponding to room temperature energy is defined as a state where the intermediate band is formed. Since a normal solar cell is used at a temperature of room temperature or higher, if it has an intermediate band width of 26 meV or higher, it means that carriers can move in the intermediate band under the usage conditions of a normal solar cell.
本発明の太陽電池において、前記超格子半導体層は、前記量子ドットの第1量子準位により前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向に中間バンドが形成されるように積層された積層構造を有することが好ましい。
第2以上の量子準位に存在するキャリアの数割は、緩和により第1量子準位にエネルギーが低下する。ここで、面内方向(超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向)の中間バンドが、第1量子準位について形成されていた場合には、第2以上の量子準位から第1量子準位にエネルギーが低下したキャリアを、面内方向の中間バンドを介して伝導させることができる。よって、量子ドット層面内方向の中間バンドが、第1量子準位について形成されていれば、キャリアを効率的に電流として取り出すことができる。
本発明の太陽電池において、前記障壁層は、GaAsからなり、前記量子ドット層は、InxGa1-xAs(0<x≦1)からなることが好ましい。
このような構成によれば、障壁層の材料に禁制帯幅が約1.42eVのGaAsを用いることにより、太陽電池の光起電力を十分に大きくすることができ、また、量子ドットの材料にGaAsより狭い禁制帯幅を有するInxGa1-xAsを用いることにより量子ドット内の電子を3次元的に閉じ込めることができ、量子サイズ効果を発現させ、中間バンドを形成させることが可能となる。
また、GaAsとInxGa1-xAsの格子定数の差により、InxGa1-xAsの結晶成長においてSKモード成長を生じさせることができ、量子ドットを容易に形成することができる。
In the solar cell of the present invention, the superlattice semiconductor layer is laminated such that an intermediate band is formed in a direction perpendicular to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer by the first quantum level of the quantum dots. It preferably has a structure.
The number of carriers present in the second and higher quantum levels is reduced in energy to the first quantum level due to relaxation. Here, in the case where an intermediate band in the in-plane direction (direction perpendicular to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer) is formed for the first quantum level, the first quantum from the second or higher quantum level. Carriers whose energy has been reduced to the level can be conducted through the intermediate band in the in-plane direction. Therefore, if an intermediate band in the in-plane direction of the quantum dot layer is formed for the first quantum level, carriers can be efficiently extracted as a current.
In the solar cell of the present invention, the barrier layer is preferably made of GaAs, and the quantum dot layer is preferably made of In x Ga 1-x As (0 <x ≦ 1).
According to such a configuration, by using GaAs having a forbidden band width of about 1.42 eV as the material of the barrier layer, the photovoltaic power of the solar cell can be sufficiently increased. By using In x Ga 1-x As, which has a narrower forbidden band than GaAs, electrons in the quantum dot can be confined three-dimensionally, a quantum size effect can be exhibited, and an intermediate band can be formed. Become.
Further, due to the difference in lattice constant between GaAs and In x Ga 1-x As, SK mode growth can be caused in the crystal growth of In x Ga 1-x As, and quantum dots can be easily formed.
本発明の太陽電池において、前記量子ドット層は、前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向の前記量子ドットの直径をraとし、前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向の隣接する2つの前記量子ドット間の距離をrbとしたとき、3.2 ln(ra)+rbが8.9以下であることが好ましい。
障壁層がGaAs、量子ドットがInxGa1-xAsの量子ドット層を用いた太陽電池において、その効果を十分に発揮できるのは、0.4≦x≦1.0の範囲である。
一方、量子ドットInxGa1-xAsの作製において、多少の組成ばらつきが存在する。この条件は、障壁層がGaAs、量子ドットがInxGa1-xAsである中間バンド太陽電池において、0.4≦x≦1.0の全範囲において、量子ドットに組成ばらつきが生じた場合であっても、中間バンドの形成が保たれる条件である。そのため、組成ばらつきにより中間バンド形成が妨げられる可能性を考慮する必要がない。よって、0.4≦x≦1.0の全範囲で、組成ばらつきの影響を考慮しない、簡便な設計および作製手法によって超格子半導体層を形成することができる。
In the solar cell of the present invention, the quantum dot layer, the direction of the said diameter of the quantum dots direction perpendicular to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer and r a, perpendicular to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer when the distance between adjacent two of the quantum dots was r b, it is preferable 3.2 ln (r a) + r b is 8.9 or less.
In a solar cell using a quantum dot layer in which the barrier layer is GaAs and the quantum dots are In x Ga 1-x As, the effect can be sufficiently exerted in the range of 0.4 ≦ x ≦ 1.0.
On the other hand, there is some composition variation in the production of quantum dots In x Ga 1 -x As. This condition is that, in an intermediate band solar cell in which the barrier layer is GaAs and the quantum dots are In x Ga 1-x As, the composition variation occurs in the quantum dots in the entire range of 0.4 ≦ x ≦ 1.0. Even so, it is a condition that the formation of the intermediate band is maintained. Therefore, it is not necessary to consider the possibility that the formation of the intermediate band is hindered by the composition variation. Therefore, the superlattice semiconductor layer can be formed by a simple design and manufacturing method that does not consider the influence of the composition variation in the entire range of 0.4 ≦ x ≦ 1.0.
本発明の太陽電池において、前記量子ドット層は、前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向(量子ドット層の面内方向)の前記量子ドットの直径をraとし、前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向の隣接する2つの前記量子ドット間の距離をrbとしたとき、2.6 ln(ra)+rbが8.4以下であることが好ましい。
障壁層がGaAs、量子ドットがInxGa1-xAsという代表的な量子ドットを有する中間バンド太陽電池の中で、量子ドットがInAs(x=1)である場合が最も作製が容易である。一方、2.6ln(ra)+rbが8.4以下であるという条件は、障壁層がGaAs、量子ドットがInxGa1-xAsである中間バンド太陽電池において、0.9≦x≦1.0の範囲において、量子ドットに組成ばらつきが生じた場合であっても、中間バンドの形成が保たれる条件である。最も作製が容易なInAsの作製において、量子ドットの組成ばらつきは、通常0.9≦x≦1.0の範囲に収まるため、組成ばらつきが生じた場合であっても、中間バンドの形成が保たれる。そのため、組成ばらつきにより中間バンド形成が妨げられる可能性を考慮する必要がない。さらに、2.6ln(ra)+rbが8.4以下であるという条件は3.2ln(ra)+rbが8.9以下である条件よりも、量子ドットサイズと量子ドット間距離のとりえる範囲が広いため、これらパラメータの選択自由度が大きい。よって、作製が容易なInAs量子ドットの、組成ばらつきの影響を考慮することなく、簡便な設計および作製手法によって超格子半導体層を形成することができる。
In the solar cell of the present invention, the quantum dot layer, the said diameter of the quantum dots in the direction orthogonal to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer (in-plane direction of the quantum dot layer) and r a, the superlattice semiconductor when the distance between two of the quantum dots that are adjacent in a direction perpendicular to the thickness direction of the layer was set to r b, it is preferable 2.6 ln (r a) + r b is 8.4 or less.
Among intermediate band solar cells having a representative quantum dot in which the barrier layer is GaAs and the quantum dot is In x Ga 1-x As, the case where the quantum dot is InAs (x = 1) is the easiest to fabricate. . On the other hand, 2.6ln (r a) + proviso that r b is 8.4 or less, the barrier layer is GaAs, the intermediate band solar cell quantum dots are In x Ga 1-x As, 0.9 ≦ x In the range of ≦ 1.0, it is a condition that the formation of the intermediate band is maintained even when the composition variation occurs in the quantum dots. In the manufacture of InAs, which is the easiest to fabricate, the composition variation of quantum dots is usually in the range of 0.9 ≦ x ≦ 1.0, so that even if composition variation occurs, the formation of the intermediate band is maintained. Be drunk. Therefore, it is not necessary to consider the possibility that the formation of the intermediate band is hindered by the composition variation. Furthermore, 2.6ln (r a) + proviso that r b is 8.4 or less than conditions 3.2ln (r a) + r b is 8.9 or less, the distance between the quantum dot size and quantum dots Since the possible range is wide, the degree of freedom in selecting these parameters is great. Therefore, a superlattice semiconductor layer can be formed by a simple design and manufacturing method without considering the influence of composition variations of InAs quantum dots that are easy to manufacture.
以下、本発明の実施形態を図面を用いて説明する。図面や以下の記述中で示す構成は、例示であって、本発明の範囲は、図面や以下の記述中で示すものに限定されない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The configurations shown in the drawings and the following description are merely examples, and the scope of the present invention is not limited to those shown in the drawings and the following description.
太陽電池の構成
図3は本発明の一実施形態の太陽電池の構成を示す概略断面図である。
本実施形態の太陽電池30は、p型半導体層2と、n型半導体層4と、p型半導体層2とn型半導体層4とに挟まれた超格子半導体層8とを備え、超格子半導体層8は、障壁層6と、障壁層6を構成する半導体材料に囲まれた量子ドット5からなる量子ドット層10とが複数回交互に積層され、かつ、超格子半導体層8の厚さ方向と超格子半導体層8の厚さ方向に直交する方向(量子ドット層10の面内方向)との両方に中間バンドが形成されるように積層された積層構造を有することを特徴とする。
また、本実施形態の太陽電池30は、陽極21、バッファー層23、ベース層24、窓層27、コンタクト層28または陰極29を有してもよい。
ここで、バッファー層23は、p型半導体層2と超格子半導体層8との緩衝層としての役割を担っている。ベース層24は、超格子半導体層8のベースとするために導入している。また、窓層27は太陽光を透過させる役割を担っており、コンタクト層28は、陰極29の材料とn型半導体層4の材料との密着性を向上させる目的で用いている。
Configuration of Solar Cell FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing the configuration of the solar cell according to one embodiment of the present invention.
The solar cell 30 of this embodiment includes a p-type semiconductor layer 2, an n-type semiconductor layer 4, and a superlattice semiconductor layer 8 sandwiched between the p-type semiconductor layer 2 and the n-type semiconductor layer 4. In the semiconductor layer 8, the barrier layer 6 and the quantum dot layer 10 composed of the quantum dots 5 surrounded by the semiconductor material constituting the barrier layer 6 are alternately stacked a plurality of times, and the thickness of the superlattice semiconductor layer 8 is increased. It has a stacked structure in which intermediate bands are formed in both the direction and the direction orthogonal to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer 8 (in-plane direction of the quantum dot layer 10).
In addition, the solar cell 30 of this embodiment may include the anode 21, the buffer layer 23, the base layer 24, the window layer 27, the contact layer 28, or the cathode 29.
Here, the buffer layer 23 plays a role as a buffer layer of the p-type semiconductor layer 2 and the superlattice semiconductor layer 8. The base layer 24 is introduced to serve as the base of the superlattice semiconductor layer 8. The window layer 27 has a role of transmitting sunlight, and the contact layer 28 is used for the purpose of improving the adhesion between the material of the cathode 29 and the material of the n-type semiconductor layer 4.
1.陽極および陰極
陽極21および陰極29は太陽電池30が有することができ、陽極21および陰極29から太陽電池30の光起電力を出力できるように設けられる。
陽極21および陰極29は、金、銀、銅、チタン、もしくはアルミニウム等の金属材料やこれらを含む合金、インジウム・スズ酸化物(ITO)もしくはインジウム・亜鉛酸化物(IZO)等の導電性酸化物材料、シリコン、ガリウム砒素やこれら材料にホウ素やリン等のドーパントを高濃度で注入し導電性を高めるなどした各種の半導体材料、またはPEDOT:PSSやポリチオフェン等の導電性有機材料など、各種導電性材料またはこれらの混合物もしくは化合物を用いることができる。また、デバイス構成要素として基板を用いた場合、基板との密着性を向上させるために、基板と良好な密着性を有する材料と陽極材料もしくは陰極材料との二層構造とするなど、多層構造からなる陽極21および陰極29を用いてもよい。
1. Anode and Cathode The anode 21 and the cathode 29 can be provided in the solar cell 30, and are provided so that the photovoltaic power of the solar cell 30 can be output from the anode 21 and the cathode 29.
The anode 21 and the cathode 29 are made of a metal material such as gold, silver, copper, titanium, or aluminum, an alloy containing them, or a conductive oxide such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO). Various conductive materials such as materials, silicon, gallium arsenide, various semiconductor materials in which dopants such as boron and phosphorus are implanted at a high concentration to increase the conductivity, or conductive organic materials such as PEDOT: PSS and polythiophene Materials or mixtures or compounds thereof can be used. In addition, when a substrate is used as a device component, in order to improve the adhesion to the substrate, a two-layer structure of a material having good adhesion to the substrate and an anode material or a cathode material is used. An anode 21 and a cathode 29 may be used.
陽極21および陰極29の形成方法としては、例えば抵抗加熱法、電子ビーム蒸着法、またはスパッタリング法といった物理気相成長法によって、基板上に目的の電極材料を形成する方法が挙げられる。また、半導体材料に、イオン注入法によって、高濃度でドーパントを注入した高導電性材料として陽極21および陰極29を形成することが可能である。また、適宜、フォトリソグラフィー等を用いたパターニングによって形成することも可能である。
なお、基板と陽極21もしくは陰極29が同一材料から一体的に形成されてもよい。例えば、基板として不純物を高濃度に注入した低抵抗シリコン基板を用い、これ自体を陽極21もしくは陰極29として利用してもよい。
Examples of a method for forming the anode 21 and the cathode 29 include a method of forming a target electrode material on a substrate by a physical vapor deposition method such as a resistance heating method, an electron beam evaporation method, or a sputtering method. In addition, the anode 21 and the cathode 29 can be formed as a highly conductive material in which a dopant is implanted at a high concentration into a semiconductor material by an ion implantation method. Further, it can be formed by patterning using photolithography or the like as appropriate.
The substrate and the anode 21 or the cathode 29 may be integrally formed from the same material. For example, a low-resistance silicon substrate into which impurities are implanted at a high concentration may be used as the substrate, and the substrate itself may be used as the anode 21 or the cathode 29.
2.p型半導体層およびn型半導体層
p型半導体層2は、p型不純物を含む半導体からなり、超格子半導体層8、n型半導体層4とともにpin接合またはpn接合を構成することができる。
n型半導体層4は、n型不純物を含む半導体からなり、超格子半導体層8、p型半導体層とともにpin接合またはpn接合を構成することができる。
このpin接合またはpn接合が受光することにより、起電力が生じる。また、このことにより、太陽電池が電力を出力することができる。
p型半導体層2またはn型半導体層4は、超格子半導体層8が受光することにより生じる電子および正孔を分離し光起電力として出力できるものであれば特に限定されない。
2. The p-type semiconductor layer and the n-type semiconductor layer The p-type semiconductor layer 2 is made of a semiconductor containing a p-type impurity, and can form a pin junction or a pn junction together with the superlattice semiconductor layer 8 and the n-type semiconductor layer 4.
The n-type semiconductor layer 4 is made of a semiconductor containing an n-type impurity, and can form a pin junction or a pn junction together with the superlattice semiconductor layer 8 and the p-type semiconductor layer.
When this pin junction or pn junction receives light, an electromotive force is generated. This also allows the solar cell to output power.
The p-type semiconductor layer 2 or the n-type semiconductor layer 4 is not particularly limited as long as the superlattice semiconductor layer 8 can separate electrons and holes generated by receiving light and output them as a photovoltaic power.
3.超格子半導体層
超格子半導体層8は、p型半導体層2とn型半導体層4に挟まれ、pin接合またはpn接合を構成することができる。また、超格子半導体層8は、障壁層6と、障壁層6を構成する半導体材料に囲まれた量子ドット5からなる量子ドット層10とが交互に繰り返し積層された超格子構造を有する。超格子半導体層8は、i型半導体であってもよく、受光することにより起電力が生じれば、p型不純物またはn型不純物を含む半導体層であってもよい。
図1(a)は、本発明の一実施形態の太陽電池に含まれる超格子半導体層などの概略断面図であり、図1(b)は図1(a)の一点鎖線A−Aにおける超格子半導体層の伝導帯のエネルギー準位を示す概略バンド図であり、図1(c)は図1(a)の点線B−Bにおける超格子半導体層の伝導帯のエネルギー準位を示す概略バンド図である。なお、図1(b)、(c)において、pin接合により生じる内部電界は無視している。また、図1(b)、(c)において、量子ドット5の量子準位は中間バンドを形成する準位のみを示しており、また、電子が存在できるバンドを斜線で示している。
また、図2は、図1(a)の点線で囲んだ範囲Cにおける超格子半導体層の拡大断面図であり、中間バンドを伝導する電子を説明するための説明図である。
図1(a)(b)(c)のように、この太陽電池に含まれる量子ドット5は、障壁層6の材料よりも狭いバンドギャップを有する材料からなる微粒子であり、量子ドット5の伝導帯は障壁層6により閉じ込められ、量子準位となっている。
3. Superlattice Semiconductor Layer The superlattice semiconductor layer 8 is sandwiched between the p-type semiconductor layer 2 and the n-type semiconductor layer 4 and can constitute a pin junction or a pn junction. The superlattice semiconductor layer 8 has a superlattice structure in which a barrier layer 6 and quantum dot layers 10 composed of quantum dots 5 surrounded by a semiconductor material constituting the barrier layer 6 are alternately and repeatedly stacked. The superlattice semiconductor layer 8 may be an i-type semiconductor, and may be a semiconductor layer containing a p-type impurity or an n-type impurity if an electromotive force is generated by receiving light.
FIG. 1A is a schematic cross-sectional view of a superlattice semiconductor layer and the like included in a solar cell according to an embodiment of the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along one-dot chain line AA in FIG. FIG. 1C is a schematic band diagram showing the energy level of the conduction band of the lattice semiconductor layer, and FIG. 1C is a schematic band showing the energy level of the conduction band of the superlattice semiconductor layer along the dotted line BB in FIG. FIG. In FIGS. 1B and 1C, the internal electric field generated by the pin junction is ignored. In FIGS. 1B and 1C, the quantum level of the quantum dot 5 shows only the level that forms the intermediate band, and the band in which electrons can exist is indicated by hatching.
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of the superlattice semiconductor layer in a range C surrounded by a dotted line in FIG. 1A, and is an explanatory diagram for explaining electrons conducted in the intermediate band.
As shown in FIGS. 1A, 1B, and 1C, the quantum dots 5 included in the solar cell are fine particles made of a material having a narrower band gap than the material of the barrier layer 6, and the conduction of the quantum dots 5 is achieved. The band is confined by the barrier layer 6 and has a quantum level.
超格子半導体層8は、超格子半導体層8の厚さ方向(図1のz方向)と、量子ドット層10の面内方向(超格子半導体層8の厚さ方向に直交する方向)(図1のx方向またはy方向)との両方に中間バンドが形成されるように積層された積層構造を有する。なお、従来の中間バンド太陽電池に含まれる超格子半導体層108は、超格子半導体層108の厚さ方向(図15のz方向)にのみ中間バンドが形成される。このことを図面を使って説明する。 The superlattice semiconductor layer 8 has a thickness direction (z direction in FIG. 1) of the superlattice semiconductor layer 8 and an in-plane direction of the quantum dot layer 10 (a direction orthogonal to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer 8) (FIG. 1 in the x direction or the y direction), and a stacked structure in which the intermediate band is formed. Note that, in the superlattice semiconductor layer 108 included in the conventional intermediate band solar cell, an intermediate band is formed only in the thickness direction of the superlattice semiconductor layer 108 (z direction in FIG. 15). This will be described with reference to the drawings.
従来の中間バンド太陽電池は、図15(b)のようにz方向に中間バンドを発生させている。しかし、量子ドット層110の面内方向(x方向またはy方向)の量子ドット105の直径saや隣接する2つの量子ドット105の間隔sbは制御されていないため、x方向またはy方向に隣接する2つの量子ドットの量子準位の波動関数はほとんど相互作用しないため、図15(c)のようにx方向またはy方向には中間バンドが発生していない。このため、図16のように価電子帯から中間バンドに励起された電子112は、超格子半導体層108の厚さ方向(z方向)に形成された中間バンド115を伝導する。そのため、キャリア(電子112)の自由度は量子ドット層110の積層方向(z方向)のみに限定される。一方で、超格子構造作製工程において、欠陥等のキャリアトラップ113は主に量子ドット105の内部に生じる。つまり、キャリアパスとなる中間バンド115内に欠陥等のキャリアトラップ113が生じやすい。 The conventional intermediate band solar cell generates an intermediate band in the z direction as shown in FIG. However, the interval s b diameter s a and two adjacent quantum dots 105 of the quantum dots 105 in the plane direction of the quantum dot layer 110 (x direction or y-direction) is not controlled, the x or y direction Since the wave functions of the quantum levels of two adjacent quantum dots hardly interact, no intermediate band is generated in the x direction or the y direction as shown in FIG. Therefore, as shown in FIG. 16, the electrons 112 excited from the valence band to the intermediate band conduct through the intermediate band 115 formed in the thickness direction (z direction) of the superlattice semiconductor layer 108. Therefore, the degree of freedom of carriers (electrons 112) is limited only to the stacking direction (z direction) of the quantum dot layer 110. On the other hand, in the superlattice structure manufacturing process, carrier traps 113 such as defects are mainly generated inside the quantum dots 105. That is, a carrier trap 113 such as a defect is likely to occur in the intermediate band 115 serving as a carrier path.
このような従来技術の量子ドット105を有する中間バンド太陽電池において、中間バンド115内にキャリアトラップ113が存在すると、キャリア(電子112)の自由度が量子ドット層110の積層方向(z方向)にのみ存在するため、容易にキャリアが捕捉されてしまう。捕捉されたキャリアは光起電力に寄与することなく失活するため、短絡電流密度が小さくなってしまうと考えられる。
よって、従来の量子ドットを有する中間バンド太陽電池においては、キャリアが失活しやすく、電流として取り出しにくい構造となっているため、外部に取り出す電流値が低い値となってしまうと考えられる。
In the intermediate band solar cell having such a conventional quantum dot 105, when the carrier trap 113 exists in the intermediate band 115, the degree of freedom of carriers (electrons 112) is increased in the stacking direction (z direction) of the quantum dot layer 110. Since the carrier exists only, the carrier is easily captured. Since the trapped carriers are deactivated without contributing to the photovoltaic power, it is considered that the short-circuit current density is reduced.
Therefore, the conventional intermediate band solar cell having quantum dots has a structure in which carriers are easily deactivated and are difficult to take out as a current. Therefore, the current value taken out to the outside is considered to be a low value.
これに対し、図1に示したような本実施形態の太陽電池30に含まれる超格子半導体層8は、超格子半導体層8の厚さ方向(z方向)の量子ドット5の直径daおよび隣接する2つの量子ドット5の間隔dbに加え、量子ドット層8の面内方向(x方向またはy方向)の量子ドット5の直径raおよび隣接する2つの量子ドット5の間隔rbも制御されて積層されるため、超格子半導体層8の厚さ方向(z方向)と、量子ドット層10の面内方向(x方向またはy方向)との両方に中間バンドが形成される。
まず、daおよびdbを制御することにより、z方向に隣接する2つの量子ドット5の量子準位の波動関数を相互作用させ、図1(b)のように超格子半導体層8のz方向に中間バンドを形成することができる。つまり、量子ドット層積層方向(z方向)には、量子ドット層積層方向の量子ドット5を通り、量子ドット層積層方向全体に渡って繋がった中間バンドを形成することができる。
On the other hand, the superlattice semiconductor layer 8 included in the solar cell 30 of this embodiment as shown in FIG. 1 has the diameter d a of the quantum dots 5 in the thickness direction (z direction) of the superlattice semiconductor layer 8 and in addition to the distance d b of two adjacent quantum dots 5, the interval r b of diameter r a and two adjacent quantum dots 5 of the quantum dots 5 in the plane direction of the quantum dot layer 8 (x or y direction) Since the lamination is controlled, intermediate bands are formed both in the thickness direction (z direction) of the superlattice semiconductor layer 8 and in the in-plane direction (x direction or y direction) of the quantum dot layer 10.
First, d by controlling the a and d b, the two quantum levels of the wave functions of the quantum dots 5 adjacent in the z-direction to interact, z superlattice semiconductor layer 8 as shown in FIG. 1 (b) An intermediate band can be formed in the direction. That is, in the quantum dot layer stacking direction (z direction), an intermediate band that passes through the quantum dots 5 in the quantum dot layer stacking direction and is connected over the entire quantum dot layer stacking direction can be formed.
この中間バンドは、波動関数が、積層方向の各量子ドット5上に局在化することなく、積層方向全体に渡って延伸することで形成されている。つまり、量子ドット5それぞれが隣接する量子ドット5と強く相互作用し合い、波動関数が非局在化することで形成されている。
ここで、中間バンドが形成される中間バンド幅を、太陽電池が持つ温度に相当するエネルギー以上の幅とする。例えば、室温では中間バンド幅が26meV以上であればバンドが形成されているとみなすことができる。
量子ドット層10で生成されたキャリアは、波動関数が超格子半導体層8のp型半導体層側からn型半導体層側まで超格子半導体層全体に渡って繋がることで形成された中間バンド中を移動し、n型半導体層まで容易に移動することができる。
This intermediate band is formed by extending the wave function over the entire stacking direction without being localized on each quantum dot 5 in the stacking direction. That is, each quantum dot 5 is formed by strongly interacting with the adjacent quantum dot 5 and the wave function is delocalized.
Here, the intermediate band width in which the intermediate band is formed is a width equal to or larger than the energy corresponding to the temperature of the solar cell. For example, if the intermediate band width is 26 meV or more at room temperature, it can be considered that a band is formed.
Carriers generated in the quantum dot layer 10 pass through an intermediate band formed by a wave function connected over the entire superlattice semiconductor layer from the p-type semiconductor layer side to the n-type semiconductor layer side of the superlattice semiconductor layer 8. It can move to the n-type semiconductor layer easily.
次に、raおよびrbを制御することにより、x方向またはy方向に隣接する2つの量子ドット5の量子準位の波動関数を相互作用させ、図1(c)のように超格子半導体層8のx方向またはy方向に中間バンドを形成することができる。つまり、量子ドット層面内方向(x方向またはy方向)にも、量子ドット層面内方向の量子ドット5を通り、量子ドット層面内方向全体に渡って繋がった中間バンドを形成することができる。
この量子ドット層面内方向の中間バンドに関しても、量子ドット層積層方向と同様に考えることができる。
つまり、量子ドット層面内方向には、量子ドット層面内方向の量子ドット5を通り、量子ドット層面内方向全体に渡って繋がった中間バンドが形成されている。
この中間バンドは、波動関数が、面内方向の各量子ドット5上に局在化することなく、面内方向全体に渡って延伸することで形成されている。つまり、量子ドット5それぞれが隣接する量子ドットと強く相互作用し合い、波動関数が非局在化することで形成されている。
Then, by controlling the r a and r b, the wave functions of the two quantum level of the quantum dots 5 adjacent in the x or y direction to interact, superlattice as shown in FIG. 1 (c) An intermediate band can be formed in the x or y direction of the layer 8. That is, in the in-plane direction (x direction or y direction) of the quantum dot layer, an intermediate band that passes through the quantum dots 5 in the in-plane direction of the quantum dot layer and is connected over the entire in-plane direction of the quantum dot layer can be formed.
The intermediate band in the in-plane direction of the quantum dot layer can be considered in the same manner as in the quantum dot layer stacking direction.
That is, in the in-plane direction of the quantum dot layer, an intermediate band that passes through the quantum dots 5 in the in-plane direction of the quantum dot layer and is connected over the entire in-plane direction of the quantum dot layer is formed.
The intermediate band is formed by extending the wave function over the entire in-plane direction without being localized on each quantum dot 5 in the in-plane direction. That is, each quantum dot 5 is formed by strongly interacting with adjacent quantum dots and the wave function is delocalized.
そして、量子ドット層面内方向においても中間バンドが形成されると、図2のように量子ドット層10の積層方向と面内方向にキャリア伝導パスができる。キャリアは生成後、内部電界によって量子ドット層積層方向に移動するが、フォノン散乱等によって、量子ドット層面内方向への移動も可能となる。本来、欠陥等のキャリアトラップに捕らえられ、従来の太陽電池では失活していたキャリアが、面内方向への移動によりトラップを回避して移動することが可能となるため、失活することなく電流として取り出すことができる。よって、効率的にキャリアを電流として取り出すことができる。 When the intermediate band is formed also in the in-plane direction of the quantum dot layer, a carrier conduction path is formed in the stacking direction and the in-plane direction of the quantum dot layer 10 as shown in FIG. After generation, the carrier moves in the quantum dot layer stacking direction by an internal electric field, but can also move in the in-plane direction of the quantum dot layer by phonon scattering or the like. Carriers that were originally captured by carrier traps such as defects and deactivated in conventional solar cells can be moved while avoiding traps by moving in the in-plane direction, so that they do not deactivate It can be taken out as an electric current. Therefore, carriers can be efficiently extracted as current.
また、量子ドット5の第2以上の量子準位に存在するキャリアの何割かは、緩和により第1量子準位にエネルギーが低下する。よって、面内方向の中間バンドが、第1量子準位について形成されていれば、第2以上の量子準位から第1量子準位にエネルギーが低下したキャリアを、効率的に電流として取り出すことができる。 In addition, some of the carriers present in the second and higher quantum levels of the quantum dot 5 have their energy lowered to the first quantum level due to relaxation. Therefore, when an in-plane intermediate band is formed for the first quantum level, carriers whose energy has decreased from the second or higher quantum level to the first quantum level can be efficiently extracted as a current. Can do.
以下、量子ドット層面内方向の中間バンドについて、さらに詳しく説明する。
量子ドット層10の面内方向の量子ドット間隔がある範囲以下になると、量子ドット間の電子的結合が生じる。また、量子ドット層積層方向、および面内方向の考えている方向以外については、変数分離して考えることができる。即ち、量子ドット層面内方向の超格子構造の波動関数は、量子ドット5を通った量子ドット層面内軸方向についての、1次元量子井戸構造の波動関数と同じとみなすことができる。
Hereinafter, the intermediate band in the in-plane direction of the quantum dot layer will be described in more detail.
When the distance between the quantum dots in the in-plane direction of the quantum dot layer 10 falls below a certain range, electronic coupling between the quantum dots occurs. In addition, the direction other than the direction in which the quantum dot layer is laminated and the in-plane direction can be considered as a variable separation. That is, the wave function of the superlattice structure in the in-plane direction of the quantum dot layer can be regarded as the same as the wave function of the one-dimensional quantum well structure in the in-plane axial direction of the quantum dot layer passing through the quantum dots 5.
1次元量子井戸構造の波動関数は、周期的境界条件を用いたクローニッヒ・ペニーのモデルを用いてシミュレーションすることができ、その結果から中間バンド幅を算出することができる(例えばJOURNAL OF APPLIED PHYSICS、89巻、5509ページ、2001年、を参照)。ここで、中間バンド幅に寄与するパラメータとして、主に、量子ドットサイズ、量子ドット間の間隔、量子ドット材料および障壁層材料の有効質量、量子ドット材料および障壁層材料の、価電子帯および伝導帯準位があり、これらの値を前述のクローニッヒ・ペニーのモデルに代入することによって、ある温度における、中間バンドが形成される条件を求めることができる。 The wave function of the one-dimensional quantum well structure can be simulated using a Kronig-Penny model using periodic boundary conditions, and an intermediate bandwidth can be calculated from the result (for example, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 89, p. 5509, 2001). Here, the parameters contributing to the intermediate bandwidth mainly include quantum dot size, spacing between quantum dots, effective mass of quantum dot material and barrier layer material, valence band and conduction of quantum dot material and barrier layer material. There are band levels, and by substituting these values into the Kronig-Penny model described above, a condition for forming an intermediate band at a certain temperature can be obtained.
超格子半導体層8を構成する障壁層6と量子ドット層10(量子ドット5)とを構成する材料は、特に限定されないが、例えば、第III族と第V族からなる化合物半導体、第II族と第VI族からなる化合物半導体あるいはこれらの混晶材料としてもよい。また、カルコパイライト系材料を用いてもよい。量子ドット層10は、障壁層6よりもバンドギャップの狭い半導体材料で構成される。 Although the material which comprises the barrier layer 6 and the quantum dot layer 10 (quantum dot 5) which comprise the superlattice semiconductor layer 8 is not specifically limited, For example, the compound semiconductor which consists of III group and V group, II group And a compound semiconductor consisting of Group VI and mixed crystal materials thereof. A chalcopyrite-based material may be used. The quantum dot layer 10 is made of a semiconductor material having a narrower band gap than the barrier layer 6.
例えば、障壁層6と量子ドット5の材料の組合せとして、GaAsとInxGa1-xAs、GaNAsとInAs、GaPとInAs、GaNとGaxIn1-xN、GaAsとGaSb、AlAsとInAs、CuGaS2とCuInSe2、等が挙げられる。ここで、xは、0<x≦1である。
ここで、障壁層6と量子ドット5の材料がGaAsとInxGa1-xAsの組合せ等、量子ドットの材料が障壁層の材料をxの割合で含む混晶系であった場合、意味のある超格子構造とするためには、一定のx以上である必要がある。これは、xが小さい場合には障壁層と量子ドットの材料組成がほぼ同じとなるために、超格子構造を形成するメリットがなくなるためである。xの範囲としては、例えば、障壁層と量子ドット材料がGaAsとInxGa1-xAsの系においてはx=0.4が挙げられる。
For example, the combination of the material of the barrier layer 6 and the quantum dots 5 includes GaAs and In x Ga 1-x As, GaNAs and InAs, GaP and InAs, GaN and Ga x In 1-x N, GaAs and GaSb, AlAs and InAs. CuGaS 2 , CuInSe 2 , and the like. Here, x is 0 <x ≦ 1.
Here, when the material of the barrier layer 6 and the quantum dot 5 is a mixed crystal system in which the material of the quantum dot is a combination of GaAs and In x Ga 1 -x As, etc. In order to obtain a superlattice structure with a certain thickness, it is necessary to be a certain x or more. This is because, when x is small, the barrier layer and the quantum dot have substantially the same material composition, so that the merit of forming the superlattice structure is lost. The range of x includes, for example, x = 0.4 when the barrier layer and the quantum dot material are GaAs and In x Ga 1-x As.
超格子半導体層8に含まれる超格子構造は、例えば、分子線エピタキシー(MBE)法や有機金属化学気相成長法(MOCVD)等を用いて形成することができる。一般的には、Stranski―Krastanov(S―K)成長と呼ばれる方法で量子ドットを成長させることができる。上記手法の材料構成比を変えることで量子ドットの混晶比を調整することができ、原材料・成長温度・圧力・堆積時間等を変えることによって量子ドットのサイズを調整することができる。また、量子ドット層10は、フェリチンと中性粒子ビームを用いたバイオナノプロセス法などにより形成することもできる。 The superlattice structure included in the superlattice semiconductor layer 8 can be formed using, for example, molecular beam epitaxy (MBE), metal organic chemical vapor deposition (MOCVD), or the like. In general, quantum dots can be grown by a method called Stranski-Krastanov (SK) growth. The mixed crystal ratio of the quantum dots can be adjusted by changing the material composition ratio of the above method, and the size of the quantum dots can be adjusted by changing raw materials, growth temperature, pressure, deposition time, and the like. The quantum dot layer 10 can also be formed by a bio-nano process method using ferritin and a neutral particle beam.
太陽電池の製造方法
以下、図3に示した本実施形態の太陽電池30の製造方法を具体的に説明する。
まず、p型半導体層2であるp−GaAs基板を有機系洗浄液で洗浄した後、硫酸系エッチング液によってエッチングし、さらに10分間流水洗浄を施した後、MOCVD装置内に支持する。このp型半導体層2であるp−GaAs基板の上にバッファー層23として300nmのp+−GaAs層を形成する。バッファー層23は、その上に形成すべき光吸収層の結晶性を向上させるための層である。続いてp+−GaAsバッファー層23上に300nmのp−GaAsベース層24および障壁層6となる1nmのGaAs層を結晶成長させた後、SK成長法などの自己組織化機構を用いてInAs(x=1)の量子ドット5を含む量子ドット層10を形成する。
The following method for manufacturing a solar cell will be specifically described the method of manufacturing the solar cell 30 of the present embodiment shown in FIG.
First, the p-GaAs substrate, which is the p-type semiconductor layer 2, is cleaned with an organic cleaning solution, etched with a sulfuric acid-based etching solution, washed with running water for 10 minutes, and then supported in the MOCVD apparatus. A 300 nm p + -GaAs layer is formed as a buffer layer 23 on the p-GaAs substrate which is the p-type semiconductor layer 2. The buffer layer 23 is a layer for improving the crystallinity of the light absorption layer to be formed thereon. Subsequently, after a 300 nm p-GaAs base layer 24 and a 1 nm GaAs layer serving as the barrier layer 6 are grown on the p + -GaAs buffer layer 23, InAs (a self-organization mechanism such as an SK growth method) is used. The quantum dot layer 10 including the quantum dots 5 of x = 1) is formed.
この障壁層6と量子ドット層10の結晶成長を、p型半導体層2に最近接する量子ドットからn型半導体層4に最近接する量子ドットまで、繰り返し行うことができる。
量子ドット層10を結晶成長させた後は、結晶表面の平坦性を回復するためにGaAsキャップ層(図示せず)を約4nm成長させて超格子半導体層8を完成させる。続いて、キャップ層の上に250nmのn−GaAsからなるn型半導体層4を結晶成長させてpin構造を形成し、次いで、窓層27として50nmのn−Al0.75 Ga0.25 As層を形成する。次いで、100nmのp+−GaAsコンタクト層28を結晶成長により形成する。次に、MOCVD装置から取り出した後、陽極21を基板裏面の全面に形成する。次いで、コンタクト層28上にフォトリソグラフィーとリフトオフ技術により櫛型電極を形成し、この櫛型電極をマスクとしてコンタクト層28を選択エッチングして陰極29を形成することで、量子ドット5を有する中間バンド太陽電池30を形成することができる。
The crystal growth of the barrier layer 6 and the quantum dot layer 10 can be repeatedly performed from the quantum dot closest to the p-type semiconductor layer 2 to the quantum dot closest to the n-type semiconductor layer 4.
After crystal growth of the quantum dot layer 10, a GaAs cap layer (not shown) is grown by about 4 nm to complete the superlattice semiconductor layer 8 in order to restore the flatness of the crystal surface. Subsequently, an n-type semiconductor layer 4 made of 250 nm n-GaAs is grown on the cap layer to form a pin structure, and then a 50 nm n-Al 0.75 Ga 0.25 As layer is formed as the window layer 27. . Next, a 100 nm p + -GaAs contact layer 28 is formed by crystal growth. Next, after taking out from the MOCVD apparatus, the anode 21 is formed on the entire back surface of the substrate. Next, a comb-shaped electrode is formed on the contact layer 28 by photolithography and lift-off technique, and the contact layer 28 is selectively etched using the comb-shaped electrode as a mask to form a cathode 29, whereby an intermediate band having the quantum dots 5 is formed. The solar cell 30 can be formed.
基板処理温度は、例えば、Inの再脱離を防ぐために量子ドット層10を含む超格子半導体層8の作製時のみ520℃とし、それ以外の層は590℃として結晶成長を行うことができる。
また、n型ドーパントとして例えばSiを、p型ドーパントとしては例えばBeを用いることができる。電極材料としては例えば、Auを用い、抵抗加熱蒸着法により真空蒸着で形成することができる。
尚、ここで示した例は一例であり、本発明の太陽電池に用いる基板、バッファー層、量子ドット、ドーパント、電極などの各材料や、各プロセスで使用する洗浄剤、基板処理温度、製造装置等は、ここで示した例に限定されない。
For example, the substrate processing temperature can be set to 520 ° C. only when the superlattice semiconductor layer 8 including the quantum dot layer 10 is manufactured in order to prevent re-desorption of In, and crystal growth can be performed by setting the other layers to 590 ° C.
Further, for example, Si can be used as the n-type dopant, and Be can be used as the p-type dopant. For example, Au can be used as the electrode material, and the electrode material can be formed by vacuum vapor deposition using a resistance heating vapor deposition method.
In addition, the example shown here is an example, each material, such as a board | substrate used for the solar cell of this invention, a buffer layer, a quantum dot, a dopant, an electrode, a cleaning agent used at each process, a substrate processing temperature, and a manufacturing apparatus Etc. are not limited to the examples shown here.
シミュレーション実験1
数値計算シミュレーションソフトウェアMATLABを用いた、クローニッヒ・ペニーのモデルに基づいたシミュレーション実験により、量子ドット層面内方向について、量子ドットの第1量子準位により中間バンドが形成されるための、量子ドットの直径raと隣接する2つの量子ドットの間隔rbとの関係を調べた。
Simulation experiment 1
The diameter of the quantum dot for the intermediate band to be formed by the first quantum level of the quantum dot in the in-plane direction of the quantum dot layer by a simulation experiment based on the Kronig-Penny model using the numerical simulation software MATLAB We investigated the relationship between the distance r b between two quantum dots adjacent to r a.
ここでは例として、障壁層にGaAs、量子ドット材料にInxGa1-xAsを考えた場合の、伝導帯に中間バンドが形成される条件を算出した。
一般的なクローニッヒ・ペニーの式において、パラメータは量子ドットサイズra、量子ドット間の間隔rb、量子ドット材料および障壁層材料の伝導帯の有効質量ma *およびmb *、量子ドット材料と障壁層材料の伝導帯準位の差Vである。
これらパラメータは、この例では、x=1の時、ma *=0.023m0、mb *=0.067m0、V=0.697eVであり、xの値に応じて、mb *とVの値は変化する。ここで、m0は電子の質量9.11×10-31kgである。各xに対するmb *とVの値は、文献等を参照して容易に計算することが可能である。また、これらma *、mb *、Vのパラメータを、クローニッヒ・ペニーの式に代入して計算することで、量子ドット層面内方向の中間バンドが形成されるraとrbの関係を導出することができる。
Here, as an example, the conditions under which an intermediate band is formed in the conduction band when GaAs is considered as the barrier layer and In x Ga 1-x As is considered as the quantum dot material were calculated.
In the general Kronig-Penny equation, the parameters are quantum dot size r a , quantum dot spacing r b , effective mass m a * and m b * of the conduction band of quantum dot material and barrier layer material, quantum dot material And the difference V between the conduction band levels of the barrier layer material.
These parameters, in this example, when x = 1, a m a * = 0.023m 0, m b * = 0.067m 0, V = 0.697eV, depending on the value of x, m b * And the value of V varies. Here, m 0 is an electron mass of 9.11 × 10 −31 kg. The values of m b * and V for each x can be easily calculated with reference to literatures and the like. These m a *, m b *, a parameter and V, by calculating by substituting the equation Kronig-Penny, the relationship between r a and r b which intermediate band of the quantum dot layer plane direction is formed Can be derived.
〔計算例1〕
x=0.4の場合について、量子ドット層面内方向のバンドが形成される条件を計算した。尚、x=0.4は障壁層にGaAs、量子ドット材料にInxGa1-xAsを用いた量子ドット層において、超格子構造を形成する組成として意味のあるxの範囲(0.4≦x≦1.0)の下限である。
x=0.4の場合の各パラメータは、ma *=0.0494m0、mb *=0.067m0、V=0.353eVである。
この時の、raとrbについての関係式を次のようにして導出した。
まず、raを5nmとした時の、伝導帯におけるrbに対する量子準位エネルギーを計算した結果を図4に示す。
[Calculation Example 1]
In the case of x = 0.4, the conditions under which a band in the in-plane direction of the quantum dot layer was formed were calculated. Note that x = 0.4 is a range of x that is meaningful as a composition for forming a superlattice structure in a quantum dot layer using GaAs as a barrier layer and In x Ga 1-x As as a quantum dot material (0.4 ≦ x ≦ 1.0).
The parameters in the case of x = 0.4 are m a * = 0.0494 m 0 , m b * = 0.067 m 0 , and V = 0.353 eV.
At this time, it was derived by the relationship equation for r a and r b as follows.
First, FIG. 4 shows the result of calculating the quantum level energy for r b in the conduction band when r a is 5 nm.
図4中の網掛部が有限の中間バンド幅を有しており、そのうち斜線縞部で中間バンドが形成されている。網掛部中の、矢印が室温エネルギーの26meVに相当していることから、rbが、矢印よりも小さければ、中間バンドが形成されている。raが5nmの場合、rbが3.8nmより小さければ第1量子準位の中間バンドが形成されることが分かった。 The shaded portion in FIG. 4 has a finite intermediate band width, of which the intermediate band is formed by the hatched portion. In shaded portion, since the arrow corresponds to 26meV at room temperature energy, r b is smaller than the arrow, the intermediate band is formed. If r a is 5 nm, r b has been found that an intermediate band of the first quantum level is formed is smaller than 3.8 nm.
同様に、raを10nmとし、rbを0から10まで変化させた時の、伝導帯における量子準位エネルギーを計算した結果を図5に示す。この場合、rbが1.7nmより小さければ、第1量子準位の中間バンドが形成されることが分かった。
このように、様々なraについて、同様に計算し、中間バンドが形成される閾値のra、rbの組をプロットしたグラフを図6に示す。
図6中には、各ra、rbの組に対するフィッティング曲線も示してある。このフィッティング曲線は
(式1) 3.2ln(ra)+rb=8.9
で表される。
図6中のra、rbの組は、中間バンドが形成される閾値であるため、
(式2) 3.2ln(ra)+rb≦8.9
を満たすra,rbにおいて、量子ドット層面内方向に中間バンドが形成されることが分かった。
Similarly, r a and 10 nm, when varying the r b from 0 to 10, Figure 5 shows the results of calculating the quantum level energy in the conduction band. In this case, r b is smaller than 1.7 nm, the intermediate band of the first quantum level is found to be formed.
Thus, for various r a, likewise calculated and shown r a threshold intermediate band is formed, a graph plotting a set of r b in FIG.
In the figure 6, each r a, are also shown fitting curve for the set of r b. This fitting curve is (Formula 1) 3.2ln (r a ) + r b = 8.9
It is represented by
Since the combination of r a and r b in FIG. 6 is a threshold at which an intermediate band is formed,
(Formula 2) 3.2ln (r a ) + r b ≦ 8.9
It was found that an intermediate band is formed in the in-plane direction of the quantum dot layer at r a and r b that satisfy the above conditions.
〔計算例2〕
x=0.9の場合について、量子ドット層面内方向の中間バンドが形成される条件を計算した。
x=0.9の場合の各パラメータは、ma *=0.0274m0、mb *=0.067m0、V=0.655eVである。
計算例1と同様に、この時のraとrbについての関係式を次のようにして導出することができる。
[Calculation Example 2]
For x = 0.9, the conditions under which the intermediate band in the in-plane direction of the quantum dot layer was formed were calculated.
The parameters in the case of x = 0.9 are m a * = 0.0274m 0 , m b * = 0.067 m 0 , and V = 0.655 eV.
Similar to the calculation example 1, a relational expression for r a and r b at this time can be derived as follows.
まず、raを3nmとした時の、伝導帯におけるrbに対する量子準位エネルギーを計算した結果を図7に示す。
図7中の網掛部が有限のバンド幅を有しており、そのうち斜線縞部で中間バンドが形成されている。網掛部中の、矢印が室温エネルギーの26meVに相当していることから、rbが、矢印よりも小さければ、中間バンドが形成されている。raが3nmの場合、rbが5.4nmより小さければ第1量子準位の中間バンドが形成されることが分かった。
同様に、raを7nmとし、rbを0から10まで変化させた時の、伝導帯における量子準位エネルギーを計算した結果を図8に示す。この場合、rbが3.3nmより小さければ、第1量子準位のバンドが形成されることが分かった。
First, FIG. 7 shows the result of calculating the quantum level energy for r b in the conduction band when r a is 3 nm.
The shaded portion in FIG. 7 has a finite bandwidth, and an intermediate band is formed by the hatched stripe portion. In shaded portion, since the arrow corresponds to 26meV at room temperature energy, r b is smaller than the arrow, the intermediate band is formed. It was found that when r a is 3 nm, an intermediate band of the first quantum level is formed if r b is smaller than 5.4 nm.
Similarly, FIG. 8 shows the result of calculating the quantum level energy in the conduction band when r a is 7 nm and r b is changed from 0 to 10. In this case, r b is smaller than 3.3 nm, it was found that the band of the first quantum level is formed.
このように、様々なraについて、同様に計算し、中間バンドが形成される閾値のra、rbの組をプロットしたグラフを図9に示す。
図9中には、各ra、rbの組に対するフィッティング曲線も示してある。このフィッティング曲線は、
(式3)2.6ln(ra)+rb=8.4
で表される。
図9中のra、rbの組は、中間バンドが形成される閾値であるため、
(式4)2.6ln(ra)+rb≦8.4
を満たすra,rbにおいて、量子ドット層面内方向に中間バンドが形成されることが分かった。
Thus, shown for various r a, similarly computed, r a threshold intermediate band is formed, a graph plotting a set of r b in FIG.
In the figure 9, each r a, are also shown fitting curve for the set of r b. This fitting curve is
(Formula 3) 2.6 ln (r a ) + r b = 8.4
It is represented by
Since the combination of r a and r b in FIG. 9 is a threshold at which an intermediate band is formed,
(Formula 4) 2.6 ln (r a ) + r b ≦ 8.4
It was found that an intermediate band is formed in the in-plane direction of the quantum dot layer at r a and r b that satisfy the above conditions.
〔計算例3〕
x=1.0の場合について、量子ドット層面内方向の中間バンドが形成される条件を計算した。尚、x=1.0の場合、障壁層にGaAs、量子ドット材料にInAsを用いた量子ドット層となる。
x=1.0の場合の各パラメータは、ma *=0.023m0、mb *=0.067m0、V=0.697eVである。
計算例1と同様に、この時のraとrbについての関係式を次のようにして導出することができる。
まず、raを3nmとした時の、伝導帯におけるrbに対する量子準位エネルギーを計算した結果を図10に示す。
図10中の網掛部が有限の中間バンド幅を有しており、そのうち斜線縞部で中間バンドが形成されている。網掛部中の、矢印が室温エネルギーの26meVに相当していることから、rbが、矢印よりも小さければ、中間バンドが形成されている。raが3nmの場合、rbが5.6nmより小さければ第1量子準位の中間バンドが形成されることが分かった。
[Calculation Example 3]
In the case of x = 1.0, the condition for forming an intermediate band in the in-plane direction of the quantum dot layer was calculated. When x = 1.0, the quantum dot layer uses GaAs as the barrier layer and InAs as the quantum dot material.
The parameters when x = 1.0 are m a * = 0.023 m 0 , m b * = 0.067 m 0 , and V = 0.697 eV.
Similar to the calculation example 1, a relational expression for r a and r b at this time can be derived as follows.
First, FIG. 10 shows the result of calculating the quantum level energy for r b in the conduction band when r a is 3 nm.
The shaded portion in FIG. 10 has a finite intermediate band width, of which the intermediate band is formed by the hatched portion. In shaded portion, since the arrow corresponds to 26meV at room temperature energy, r b is smaller than the arrow, the intermediate band is formed. It was found that when r a is 3 nm, an intermediate band of the first quantum level is formed if r b is smaller than 5.6 nm.
同様に、raを9nmとし、rbを0から10まで変化させた時の、伝導帯における量子準位エネルギーを計算した結果を図11に示す。この場合、rbが3.0nmより小さければ、第1量子準位の中間バンドが形成されることが分かった。
このように、様々なraについて、同様に計算し、中間バンドが形成される閾値のra、rbの組をプロットしたグラフを図12に示す。
図12中には、各ra、rbの組に対するフィッティング曲線も示してある。このフィッティング曲線は、
(式5)2.5ln(ra)+rb=8.5
で表される。
図12中のra、rbの組は、中間バンドが形成される閾値であるため、
(式6)2.5ln(ra)+rb≦8.5
を満たすra,rbにおいて、量子ドット層面内方向に中間バンドが形成されることが分かった。
Similarly, FIG. 11 shows the result of calculating the quantum level energy in the conduction band when r a is 9 nm and r b is changed from 0 to 10. In this case, r b is smaller than 3.0 nm, the intermediate band of the first quantum level is found to be formed.
Thus, for various r a, likewise calculated and shown r a threshold intermediate band is formed, a graph plotting a set of r b in FIG.
In the figure 12, each r a, are also shown fitting curve for the set of r b. This fitting curve is
(Formula 5) 2.5ln (r a ) + r b = 8.5
It is represented by
Since the set of r a and r b in FIG. 12 is a threshold at which an intermediate band is formed,
(Formula 6) 2.5ln (r a ) + r b ≦ 8.5
It was found that an intermediate band is formed in the in-plane direction of the quantum dot layer at r a and r b that satisfy the above conditions.
以上の計算例1〜3のように、障壁層にGaAs、量子ドット材料にInxGa1-xAsを用いた場合について、xを0.4≦x≦1まで変化させて計算した結果、raとrbの関係式は以下の式7に統合することができる。
(式7)Aln(ra)+rb≦B
ここで、Aは3.2以下の正の実数、Bは8.9以下の正の実数である。
この中で、x=0.4、0.9、1.0について、バンドが形成されるra、rbの閾値をプロットしたものを図13に示す。
図13ではx=0.4、0.9、1.0以外は示していないが、0.4≦x≦1.0の範囲では、閾値曲線はx=0.4とx=1.0の2曲線の間にある。そのため、0.4≦x≦1.0においては、x=0.4の閾値曲線の下部である全てのra、rbにおいて、中間バンドが形成される。
As in the above calculation examples 1 to 3, when GaAs was used for the barrier layer and In x Ga 1-x As was used for the quantum dot material, the calculation was performed by changing x to 0.4 ≦ x ≦ 1, relationship of r a and r b may be integrated into equation 7 below.
(Expression 7) Aln (r a ) + r b ≦ B
Here, A is a positive real number of 3.2 or less, and B is a positive real number of 8.9 or less.
In this, the x = 0.4,0.9,1.0, showing r a band is formed, a plot of the threshold value of r b in FIG.
FIG. 13 does not show other than x = 0.4, 0.9, 1.0, but in the range of 0.4 ≦ x ≦ 1.0, the threshold curves are x = 0.4 and x = 1.0. Between the two curves. Therefore, in the 0.4 ≦ x ≦ 1.0, all r a is the lower threshold value curves for x = 0.4, the r b, the intermediate band is formed.
また、0.9≦x≦1.0の範囲では、閾値曲線はx=0.9とx=1.0の2曲線の間にある。そのため、0.9≦x≦1.0においては、x=0.9の閾値曲線の下部全てのra、rbにおいて、中間バンドが形成される。
また、x=1.0においては、x=1.0の閾値曲線の下部全てのra、rbにおいて、中間バンドが形成される。
尚、本発明において、raが2nm以下の部分については考えていない。これは、2nmよりも小さい量子ドットを作製するのは技術的に困難を極め、現実的な量子ドットサイズではないためである。
In the range of 0.9 ≦ x ≦ 1.0, the threshold curve is between two curves of x = 0.9 and x = 1.0. Therefore, in the 0.9 ≦ x ≦ 1.0, lower all r a threshold curve of x = 0.9, the r b, the intermediate band is formed.
Further, in the x = 1.0 is, x = 1.0 under all r a threshold curve of at r b, the intermediate band is formed.
In the present invention, r a is not considered the following parts 2 nm. This is because it is extremely difficult to produce quantum dots smaller than 2 nm, and it is not a realistic quantum dot size.
シミュレーション実験2
数値計算シミュレーションソフトウェアMATLABを用いた、クローニッヒ・ペニーのモデルに基づいたシミュレーション実験により、量子ドットの材料、障壁層の材料、量子ドット層の面内方向における量子ドットの直径ra、隣接する2つの量子ドットの間隔rbを設定し、中間バンドの形成について調べるシミュレーション実験を行った。
本シミュレーション実験では、図1(a)、(c)に示した量子ドット5の量子ドット層10の面内方向の直径ra、隣接する2つの量子ドット5の間隔rb、障壁層の材料の伝導帯下端のエネルギー準位と量子ドットの材料の伝導帯の下端のエネルギー準位との差Vを用いており、raとrbの和であるra+bを計算における一周期の距離となっており、この周期を元にした周期的境界条件によってシミュレーションを行った。
Simulation experiment 2
Numerical using computational simulation software MATLAB, the simulation experiments based on Kronig-Penney model, the material of the quantum dots, the material of the barrier layer, the diameter r a of the quantum dots in the plane direction of the quantum dot layer, two adjacent of set the distance r b of the quantum dots was simulated experiment to investigate the formation of the intermediate band.
In the simulation experiment, FIG. 1 (a), the in-plane direction of diameter r a of the quantum dot layers 10 of quantum dots 5 shown (c), the distance r b between two adjacent quantum dots 5, barrier layer material the uses a difference V between the energy level and the energy level of the conduction band bottom of the material of the quantum dots at the bottom of the conduction band, of one period in the calculation of r a + b is the sum of r a and r b The simulation was performed with periodic boundary conditions based on this period.
〔計算例4〕
量子ドット5の材料をInAs(x=1)、障壁層6の材料をGaAsとし、量子ドット5の直径raを5nm、量子ドット5の間隔rbを4nmとした場合のシミュレーション実験を行った。
本計算例において、ra=5nmと、rb=4nmをそれぞれクローニッヒ・ペニーの式に代入した。さらに、この材料系における量子ドット5の伝導帯有効質量0.0274m0、障壁層41の伝導帯有効質量0.067m0、量子ドット5と障壁層6の伝導帯エネルギー準位の差Vである0.697eVを、それぞれクローニッヒ・ペニーのモデル式に代入した。
計算の結果、中間バンド幅は34meVであり、量子ドット層の面内方向に中間バンドが形成されていることが分かった。
また、この場合、2.6ln(ra)+rbが8.18であり、8.9以下であることを確認した。
[Calculation Example 4]
The material of the quantum dots 5 InAs (x = 1), the material of the barrier layer 6 and GaAs, was simulated experiments in the case where the diameter r a of the quantum dots 5 5 nm, and 4nm spacing r b of the quantum dots 5 .
In this calculation example, r a = 5 nm and r b = 4 nm were substituted into the Kronig-Penny equation, respectively. Furthermore, the conduction band effective mass of the quantum dot 5 in this material system is 0.0274 m 0 , the conduction band effective mass of the barrier layer 41 is 0.067 m 0 , and the difference V between the conduction band energy levels of the quantum dots 5 and the barrier layer 6 is V. 0.697 eV was substituted into the Kronig-Penny model equation.
As a result of calculation, it was found that the intermediate band width was 34 meV, and an intermediate band was formed in the in-plane direction of the quantum dot layer.
In this case, 2.6ln (r a) + r b is 8.18, it was confirmed that the 8.9 or less.
[計算例5]
量子ドット5の材料をIn0.4Ga0.6As(x=0.4)、障壁層6の材料をGaAsとし、量子ドット5の直径raを7nm、量子ドット5の間隔rbを2nmとした場合のシミュレーション実験を行った。
本計算例において、ra=7nmと、rb=2nmをそれぞれクローニッヒ・ペニーの式に代入した。さらに、この材料系における量子ドット5の伝導帯有効質量0.0494m0、障壁層6の伝導帯有効質量0.067m0、量子ドット5と障壁層6の伝導帯エネルギー準位の差Vである0.353eVを、それぞれクローニッヒ・ペニーのモデル式に代入した。
計算の結果、中間バンド幅は44meVであり、量子ドット層の面内方向に中間バンドが形成されていることが分かった。
また、この場合、3.2ln(ra)+rbが8.22であり、8.9以下であることが確認され、2.6ln(ra)+rbが7.06であり、8.4以下であることが確認された。
[Calculation Example 5]
The material of the quantum dots 5 In 0.4 Ga 0.6 As (x = 0.4), if the material of the barrier layer 6 and GaAs, and the diameter r a of the quantum dots 5 7 nm, and 2nm intervals r b of the quantum dots 5 A simulation experiment was conducted.
In this calculation example, r a = 7 nm and r b = 2 nm are substituted into the Kronig-Penny equation, respectively. Further, the conduction band effective mass of the quantum dot 5 in this material system is 0.0494 m 0 , the conduction band effective mass of the barrier layer 6 is 0.067 m 0 , and the difference V between the conduction band energy levels of the quantum dots 5 and the barrier layer 6 is V. 0.353 eV was substituted into the Kronig-Penny model equation.
As a result of calculation, it was found that the intermediate band width was 44 meV, and an intermediate band was formed in the in-plane direction of the quantum dot layer.
Further, in this case, 3.2ln (r a ) + r b is 8.22 and confirmed to be 8.9 or less, and 2.6ln (r a ) + r b is 7.06. 4 or less was confirmed.
[計算例6]
量子ドット5の材料をIn0.6Ga0.4As(x=0.6)、障壁層6の材料をGaAsとし、量子ドット5の直径raを10nm、量子ドット5の間隔rbを1.5nmとした場合のシミュレーション実験を行った。
本計算例において、ra=10nmと、rb=1.5nmをそれぞれクローニッヒ・ペニーの式に代入した。さらに、この材料系における量子ドット5の伝導帯有効質量0.0406m0、障壁層6の伝導帯有効質量0.067m0、量子ドット5と障壁層6の伝導帯エネルギー準位の差Vである0.493eVを、それぞれクローニッヒ・ペニーのモデル式に代入した。
計算の結果、中間バンド幅は34meVであり、量子ドット層の面内方向に中間バンドが形成されていることが分かった。
また、この場合、3.2ln(ra)+rbが8.86であり、8.9以下であることが確認され、2.6ln(ra)+rbが7.46であり、8.4以下であることが確認された。
[Calculation Example 6]
The material of the quantum dots 5 In 0.6 Ga 0.4 As (x = 0.6), and GaAs the material of the barrier layer 6, 10 nm in diameter r a of the quantum dots 5, and 1.5nm spacing r b of the quantum dots 5 A simulation experiment was conducted.
In this calculation example, r a = 10 nm and r b = 1.5 nm were substituted into the Kronig-Penny equation, respectively. Furthermore, the conduction band effective mass of the quantum dot 5 in this material system is 0.0406 m 0 , the effective conduction band mass of the barrier layer 6 is 0.067 m 0 , and the conduction band energy level difference V between the quantum dot 5 and the barrier layer 6 is V. 0.493 eV was substituted into the Kronig-Penny model equation.
As a result of calculation, it was found that the intermediate band width was 34 meV, and an intermediate band was formed in the in-plane direction of the quantum dot layer.
In this case, 3.2ln (r a ) + r b is 8.86, which is confirmed to be 8.9 or less, and 2.6 ln (r a ) + r b is 7.46. 4 or less was confirmed.
量子ドット層が上記構造を有することにより、量子ドット層の面内方向についてもキャリアが移動可能となる。このようにして、面内方向に中間バンドが形成された量子ドット層を用いて形成された超格子半導体層は、キャリアが3次元的な自由度を持つ。そのため、従来積層方向にしか移動できなかったために、欠陥等のキャリアトラップに補足されていたキャリアが、面内方向に移動することが可能になるため、フォノン散乱等によって、トラップを避ける方向に伝導することができるようになる。即ち、本発明の量子ドット中間バンド太陽電池によれば、超格子半導体層内で発生したキャリアのうち、電極まで到達できるキャリアが増加するため、太陽電池の電流値が増大する。 Since the quantum dot layer has the above structure, carriers can move in the in-plane direction of the quantum dot layer. Thus, in the superlattice semiconductor layer formed using the quantum dot layer in which the intermediate band is formed in the in-plane direction, the carrier has a three-dimensional degree of freedom. For this reason, since it was only possible to move in the stacking direction in the past, carriers trapped by carrier traps such as defects can be moved in the in-plane direction. Will be able to. That is, according to the quantum dot intermediate band solar cell of the present invention, among the carriers generated in the superlattice semiconductor layer, the number of carriers that can reach the electrode increases, and thus the current value of the solar cell increases.
2、102:p型半導体層 4、104:n型半導体層 5、105:量子ドット 6、106:障壁層 8、108:超格子半導体層 10、110:量子ドット層 12、112:電子 13、113:キャリアトラップ 15、115:超格子半導体層の厚さ方向の中間バンド 16:量子ドット層の面内方向の中間バンド 21:陽極 23:バッファー層 24:ベース層 27:窓層 28:コンタクト層 29:陰極 30:太陽電池 2, 102: p-type semiconductor layer 4, 104: n-type semiconductor layer 5, 105: quantum dot 6, 106: barrier layer 8, 108: superlattice semiconductor layer 10, 110: quantum dot layer 12, 112: electron 13, 113: Carrier trap 15, 115: Intermediate band in the thickness direction of the superlattice semiconductor layer 16: Intermediate band in the in-plane direction of the quantum dot layer 21: Anode 23: Buffer layer 24: Base layer 27: Window layer 28: Contact layer 29: Cathode 30: Solar cell
Claims (5)
前記超格子半導体層は、障壁層と、前記障壁層を構成する半導体材料に囲まれた量子ドットからなる量子ドット層とが複数回交互に積層され、かつ、前記超格子半導体層の厚さ方向と前記超格子半導体層の厚さ方向に直交する方向との両方に中間バンドが形成されるように積層された積層構造を有することを特徴とする太陽電池。 a p-type semiconductor layer, an n-type semiconductor layer, and a superlattice semiconductor layer sandwiched between the p-type semiconductor layer and the n-type semiconductor layer,
In the superlattice semiconductor layer, a barrier layer and a quantum dot layer composed of quantum dots surrounded by a semiconductor material constituting the barrier layer are alternately stacked a plurality of times, and the thickness direction of the superlattice semiconductor layer And a stacked structure in which intermediate bands are formed in both the direction perpendicular to the thickness direction of the superlattice semiconductor layer.
前記量子ドット層は、InxGa1-xAs(0<x≦1)からなる請求項1または2に記載の太陽電池。 The barrier layer is made of GaAs,
The solar cell according to claim 1, wherein the quantum dot layer is made of In x Ga 1-x As (0 <x ≦ 1).
Priority Applications (3)
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-
2011
- 2011-05-09 JP JP2011104591A patent/JP2012235071A/en active Pending
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|---|---|---|---|---|
| JP2010098268A (en) * | 2008-10-20 | 2010-04-30 | Toyota Central R&D Labs Inc | Photoelectric conversion element |
| JP2010258194A (en) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Seiko Epson Corp | Method for manufacturing photoelectric conversion device |
| JP2011249579A (en) * | 2010-05-27 | 2011-12-08 | Fujifilm Corp | Solar battery and method for manufacturing the same |
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