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JP2012242520A - Production method of original plate for pattern alignment layer for three-dimensional display - Google Patents

Production method of original plate for pattern alignment layer for three-dimensional display Download PDF

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JP2012242520A
JP2012242520A JP2011110865A JP2011110865A JP2012242520A JP 2012242520 A JP2012242520 A JP 2012242520A JP 2011110865 A JP2011110865 A JP 2011110865A JP 2011110865 A JP2011110865 A JP 2011110865A JP 2012242520 A JP2012242520 A JP 2012242520A
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layer
forming step
alignment film
dimensional display
concavo
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JP2011110865A
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Japanese (ja)
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Kei Kato
圭 加藤
Yosuke Kosaka
洋介 高坂
Rikiya Yamashita
力也 山下
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

【課題】高品質な3次元表示装置用パターン位相差フィルムを形成することが可能なパターン配向膜を、容易かつ大量に作製することができる3次元表示用パターン配向膜用原版を提供する。
【解決手段】金属材料または無機材料からなる第1層を形成する第1層形成工程と、第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第1凹凸構造形成工程と、第1凹凸構造形成工程後の第1層の表面に金属材料または無機材料からなる第2層を形成する第2層形成工程と、第2層の表面に第1凹凸構造形成工程とは90°異なる方向となる微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第2凹凸構造形成工程と、第2凹凸構造形成工程後の第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成するレジスト形成工程と、レジスト形成工程後、露出した第2層を剥離する第2層剥離工程と、レジストを剥離するレジスト剥離工程と、を有する3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法。
【選択図】図1
There is provided an original plate for a three-dimensional display pattern alignment film capable of easily and mass-producing a pattern alignment film capable of forming a high-quality three-dimensional display pattern retardation film.
A first layer forming step of forming a first layer made of a metal material or an inorganic material, and a first uneven structure forming step of forming a minute line-shaped uneven structure on the surface of the first layer in a substantially constant direction. The second layer forming step of forming a second layer made of a metal material or an inorganic material on the surface of the first layer after the first uneven structure forming step, and the first uneven structure forming step on the surface of the second layer are 90. A second concavo-convex structure forming step for forming minute line-like concavo-convex structures in different directions in a substantially constant direction, and resist formation for forming a resist in a strip shape parallel to the surface of the second layer after the second concavo-convex structure forming step The manufacturing method of the original for pattern alignment films for three-dimensional displays which has a process, the 2nd layer peeling process which peels the exposed 2nd layer after a resist formation process, and the resist peeling process which peels a resist.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、高品質な3次元表示用パターン位相差フィルムを形成することが可能な3次元表示用パターン配向膜を容易かつ大量に作製することができる3次元表示用パターン配向膜用原版に関するものである。   The present invention relates to a three-dimensional display pattern alignment film master capable of easily and mass-producing a three-dimensional display pattern alignment film capable of forming a high-quality three-dimensional display pattern retardation film. It is.

フラットパネルディスプレイとしては、従来、2次元表示のものが主流であったが、近年においては3次元表示可能なフラットパネルディスプレイが注目を集め始めており、一部市販されているものも存在しつつある。そして、今後のフラットパネルディスプレイにおいては3次元表示可能であることが、その性能として当然に求められる傾向にあり、3次元表示可能なフラットパネルディスプレイの検討が幅広い分野において進められている。   Conventionally, as a flat panel display, a two-dimensional display has been mainstream, but in recent years, a flat panel display capable of three-dimensional display has begun to attract attention, and some of them are commercially available. . Further, in future flat panel displays, it is a natural tendency to be capable of three-dimensional display, and flat panel displays capable of three-dimensional display are being studied in a wide range of fields.

フラットパネルディスプレイにおいて3次元表示をするには、通常、視聴者に対して何らかの方式で右目用の映像と、左目用の映像とを別個に表示することが必要とされる。右目用の映像と左目用の映像とを別個に表示する方法としては、例えば、パッシブ方式というものが知られている。このようなパッシブ方式の3次元表示方式について図を参照しながら説明する。図18はパッシブ方式の3次元表示の一例を示す概略図である。図18に示すようにこの方式では、まず、フラットパネルディスプレイを構成する画素を、右目用映像表示画素と左目用映像表示画素の2種類の複数の画素にパターン状に分割し、一方のグループの画素では右目用の映像を表示させ、他方のグループの画素では左目用の映像を表示させる。また、直線偏光板と当該画素の分割パターンに対応したパターン状の位相差層が形成されたパターン位相差フィルムとを用い、右目用の映像と、左目用の映像とを円偏光に変換する。さらに、視聴者には右目用と左目用の円偏光メガネを装着させ、右目用の映像が右目のみに届き、左目用の映像が左目のみに届くようにすることによって3次元表示を可能とするものがパッシブ方式である。   In order to perform three-dimensional display on a flat panel display, it is usually necessary to display a right-eye video and a left-eye video separately to the viewer in some manner. As a method for separately displaying the right-eye video and the left-eye video, for example, a passive method is known. Such a passive three-dimensional display method will be described with reference to the drawings. FIG. 18 is a schematic diagram illustrating an example of a passive three-dimensional display. As shown in FIG. 18, in this method, first, the pixels constituting the flat panel display are divided into a plurality of types of pixels, that is, a right-eye video display pixel and a left-eye video display pixel. The pixel displays a right-eye image, and the other group of pixels displays a left-eye image. In addition, the image for the right eye and the image for the left eye are converted into circularly polarized light by using a linearly polarizing plate and a pattern retardation film in which a patterned retardation layer corresponding to the division pattern of the pixel is formed. In addition, viewers can wear 3D display by wearing right-eye and left-eye circular polarizing glasses so that the right-eye video reaches only the right eye and the left-eye video only reaches the left eye. Things are passive.

このようなパッシブ方式では、上記パターン位相差フィルムと、対応する円偏光メガネとを用いることにより容易に3次元表示が可能なものにできるという利点がある。   Such a passive method has an advantage that three-dimensional display can be easily performed by using the pattern retardation film and the corresponding circular polarizing glasses.

ところで、特許文献1では、パターン位相差フィルムの製造方法として、レーザーによりパターンを形成したロール版を用い、このようなロール版と、配向膜形成用層とを接触させることにより表面にパターン状の微細凹凸を有する賦型されたパターン配向膜を形成する方法が開示されている。また、特許文献1には同一平面に研磨により微細凹凸をパターン状に形成する方法が記載されている。
しかしながら、レーザーによりパターンが形成された原版を用いて製造されたパターン位相差フィルムは、右目用および左目用の位相差層のパターン、すなわち、液晶化合物の配列方向の異なる領域間の端部近傍、すなわち、第1位相差領域および第2位相差領域の境界部分で液晶化合物の配列方向が乱れる配向欠陥が生じやすく、液晶表示装置に用いた場合には、上記端部近傍の液晶に配向欠陥を生じさせるといった問題があった。その結果、端部近傍からの光漏れを生じ、コントラストが低いものとなるといった問題があった。また、レーザーにより微細凹凸を描画する場合、微細凹凸を一本一本描画するため数十nm、数百nmの凹凸を大面積(液晶TVサイズ)に渡って形成するのに相当の時間を要する。また数十nm、数百nmの凹凸のピッチで高精度で制御する装置が必要となるといった問題があった。
また、一般にレーザーでの加工は線幅が数百nmレベルが下限であり数十nmレベルの線幅は困難であり、優れた配向規制力を有するパターン配向膜とすることが難しいといった問題や、レーザー加工装置が高価であるといった問題があった。
また、特許文献1は研磨方法による原版作製の記載があるが特許文献1の方法では同一平面上に研磨によりパターンを形成した場合には、数百μmのパターン領域毎に研磨を実施したり、微細凹凸が形成された領域パターンを組み合わせてロール版を形成する必要があり、プロセスが複雑で相当な時間と高精度の作業が必要であるといった問題があった。
By the way, in patent document 1, as a manufacturing method of a pattern phase difference film, the roll plate which formed the pattern with the laser was used, and by contacting such a roll plate and the layer for alignment film formation, pattern-like on the surface. A method of forming a shaped pattern alignment film having fine irregularities is disclosed. Patent Document 1 describes a method of forming fine irregularities in a pattern on the same plane by polishing.
However, the pattern retardation film manufactured using the original plate on which the pattern is formed by the laser is a pattern of the retardation layer for the right eye and the left eye, i.e., near the end between the regions in which the alignment directions of the liquid crystal compounds are different, That is, an alignment defect in which the alignment direction of the liquid crystal compound is disturbed easily occurs at the boundary between the first retardation region and the second retardation region, and when used in a liquid crystal display device, the alignment defect is present in the liquid crystal near the end portion. There was a problem of causing it. As a result, there is a problem that light leaks from the vicinity of the end portion and the contrast becomes low. Further, when drawing fine irregularities with a laser, it takes considerable time to form irregularities of several tens nm and several hundreds nm over a large area (liquid crystal TV size) because fine irregularities are drawn one by one. . In addition, there is a problem that a device for controlling with high accuracy with a pitch of unevenness of several tens nm or several hundreds nm is required.
In general, the processing with a laser has a problem that the line width is several hundreds of nanometers at the lower limit and the line width of several tens of nanometers is difficult, and it is difficult to obtain a pattern alignment film having excellent alignment regulation power, There was a problem that the laser processing apparatus was expensive.
Moreover, although patent document 1 has description of the original plate preparation by a grinding | polishing method, when a pattern is formed by grinding | polishing on the same plane in the method of patent document 1, grinding | polishing is performed for every several hundred micrometer pattern area | region, There is a problem that a roll plate needs to be formed by combining region patterns on which fine irregularities are formed, and the process is complicated, requiring considerable time and high-precision work.

特開2010−152296号公報JP 2010-152296 A

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、高品質な3次元表示装置用パターン位相差フィルムを形成することが可能な3次元表示用パターン配向膜(以下、単に配向膜と称して説明する場合がある。)を容易かつ大量に作製することができる3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法を提供することを主目的とするものである。   The present invention has been made in view of such circumstances, and a three-dimensional display pattern alignment film (hereinafter simply referred to as an alignment film) capable of forming a high-quality three-dimensional display pattern retardation film. The main object of the present invention is to provide a method for producing an original plate for a three-dimensional display pattern alignment film, which can be produced easily and in large quantities.

上記課題を解決するために、本発明は、金属材料または無機材料からなる第1層を形成する第1層形成工程と、上記第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第1凹凸構造形成工程と、上記第1凹凸構造形成工程後の上記第1層の表面に金属材料または無機材料からなる第2層を形成する第2層形成工程と、上記第2層の表面に上記第1凹凸構造形成工程とは異なる方向となる微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第2凹凸構造形成工程と、上記第2凹凸構造形成工程後の上記第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成するレジスト形成工程と、上記レジスト形成工程後、露出した上記第2層を剥離する第2層剥離工程と、上記レジストを剥離するレジスト剥離工程と、を有することを特徴とする3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法を提供する。   In order to solve the above-described problems, the present invention provides a first layer forming step of forming a first layer made of a metal material or an inorganic material, and a fine line-shaped uneven structure on the surface of the first layer in a substantially constant direction. A first concavo-convex structure forming step to be formed; a second layer forming step of forming a second layer made of a metal material or an inorganic material on the surface of the first layer after the first concavo-convex structure forming step; and the second layer. A second concavo-convex structure forming step for forming a minute line-like concavo-convex structure in a substantially different direction on the surface of the first concavo-convex structure forming step, and the second layer after the second concavo-convex structure forming step. A resist forming step for forming a resist in a strip shape parallel to the surface of the substrate, a second layer peeling step for peeling the exposed second layer after the resist forming step, and a resist peeling step for peeling the resist. 3D table characterized by To provide a method of manufacturing a use pattern for alignment film precursor.

本発明によれば、第1凹凸構造形成工程および第2凹凸構造形成工程において、第1層および第2層の全表面に微小なライン状凹凸構造を形成し、その後、第2層のみをエッチングする第2層剥離工程を有することで、微小なライン状凹凸構造を容易に形成することができ、かつ第2層の表面の微小なライン状凹凸構造形成の際に、上記第2層とは形成方向が異なった微小なライン状凹凸構造を有する第1層の表面を傷つける等の悪影響を与えることを防止することができる。また、上記第2層剥離工程において、第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成し、上記第2層において露出した部分のみを選択的に剥離することで、微小なライン状凹凸構造が形成された第1層と第1層とは方向が異なる微小なライン状凹凸構造が形成された第2層との境界が明瞭となる。このようにして製造される3次元表示用パターン配向膜用原版は、第1層の表面および第2層の表面の高さが異なり、かつ第1層の表面および第2層の表面において微小なライン状凹凸構造の形成方向が異なる。そのため、3次元表示用パターン配向膜用原版を用いることにより、第1層配向領域と第2配向領域との境界が明瞭で、かつ微小なライン状凹凸構造の形成方向の差に相当する分の位相差値を示すパターン位相差フィルムを形成できる高品質な配向膜を得ることができる。   According to the present invention, in the first concavo-convex structure forming step and the second concavo-convex structure forming step, a fine line-shaped concavo-convex structure is formed on the entire surface of the first layer and the second layer, and then only the second layer is etched. By having the second layer peeling step, a fine line-shaped uneven structure can be easily formed, and when forming a fine line-shaped uneven structure on the surface of the second layer, It is possible to prevent adverse effects such as damaging the surface of the first layer having a minute line-shaped uneven structure with different formation directions. Also, in the second layer peeling step, a resist is formed in a strip shape parallel to the surface of the second layer, and only a portion exposed in the second layer is selectively peeled, so that a minute line-shaped uneven structure is formed. The boundary between the formed first layer and the second layer on which the fine line-shaped uneven structure having different directions is formed becomes clear. The three-dimensional display pattern alignment film original plate manufactured in this way has different heights on the surface of the first layer and the surface of the second layer, and is minute on the surface of the first layer and the surface of the second layer. The formation direction of the line-shaped uneven structure is different. Therefore, by using the original plate for a 3D display pattern alignment film, the boundary between the first layer alignment region and the second alignment region is clear and corresponds to the difference in the formation direction of the minute line-shaped uneven structure. A high-quality alignment film capable of forming a pattern retardation film showing a retardation value can be obtained.

本発明は、金属材料または無機材料からなる第1層を形成する第1層形成工程と、上記第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第1凹凸構造形成工程と、上記第1凹凸構造形成工程後の上記第1層の表面に金属材料または無機材料からなる第2層を形成する第2層形成工程と、上記第2層の表面に上記第1凹凸構造形成工程と同一方向となる微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第2凹凸構造形成工程と、上記第2凹凸構造形成工程後の上記第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成するレジスト形成工程と、上記レジスト形成工程後、露出した上記第2層を剥離する第2層剥離工程と、上記レジストを剥離するレジスト剥離工程と、を有することを特徴とする3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法を提供する。   The present invention provides a first layer forming step of forming a first layer made of a metal material or an inorganic material, and a first uneven structure forming step of forming a minute line-shaped uneven structure on the surface of the first layer in a substantially constant direction. A second layer forming step of forming a second layer made of a metal material or an inorganic material on the surface of the first layer after the first uneven structure forming step, and the first uneven structure on the surface of the second layer. A second concavo-convex structure forming step for forming a fine line-like concavo-convex structure in the same direction as the forming step in a substantially constant direction; and a strip in parallel to the surface of the second layer after the second concavo-convex structure forming step. A three-dimensional display comprising: a resist forming step to be formed; a second layer peeling step for peeling the exposed second layer after the resist forming step; and a resist peeling step for peeling the resist Manufacture of master for pattern alignment film The law provides.

本発明によれば、第1凹凸構造形成工程および第2凹凸構造形成工程において、第1層および第2層の全表面に微小なライン状凹凸構造を形成し、その後、第2層のみをエッチングする第2層剥離工程を有することで、微小なライン状凹凸構造を容易に形成することができ、かつ第2層の表面の微小なライン状凹凸構造形成の際に、第1層の表面を傷つける等の悪影響を与えることを防止することができる。このような3次元表示用パターン配向膜用原版を用いることにより、第1層配向領域と第2配向領域との境界が明瞭で、かつ第1層と第2層の厚みの差に相当する分の位相差値を示すパターン位相差フィルムを形成できる高品質な配向膜を得ることができる。   According to the present invention, in the first concavo-convex structure forming step and the second concavo-convex structure forming step, a fine line-shaped concavo-convex structure is formed on the entire surface of the first layer and the second layer, and then only the second layer is etched. By having the second layer peeling step, the fine line-shaped uneven structure can be easily formed, and the surface of the first layer is formed when forming the fine line-shaped uneven structure on the surface of the second layer. It is possible to prevent adverse effects such as damage. By using such an original plate for a three-dimensional display pattern alignment film, the boundary between the first layer alignment region and the second alignment region is clear and an amount corresponding to the difference in thickness between the first layer and the second layer. It is possible to obtain a high-quality alignment film capable of forming a pattern retardation film showing a retardation value of.

本発明によれば、上記3次元表示用パターン配向膜用原版がロール状であるロール版であることが好ましい。本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版がロール状であること、すなわち、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版がロール版であることにより、3次元表示用パターン配向膜用原版を回転しながら連続的に配向膜形成用層に賦型可能なもの、すなわち、容易かつ大量にパターン配向膜を形成可能なものとすることができ製造効率の高いものとすることができる。   According to the present invention, it is preferable that the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film is a roll plate having a roll shape. The original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of the present invention is a roll, that is, the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of the present invention is a roll plate. Can be formed into the alignment film forming layer continuously, that is, the pattern alignment film can be formed easily and in large quantities, and the production efficiency can be increased.

本発明によれば、上記第1凹凸構造形成工程または上記第2凹凸構造形成工程の少なくとも一方がロールプレス加工により実施されることが好ましい。ロールプレス加工を施して微小なライン状凹凸構造を形成することにより、本発明における凹凸構造形成工程を容易に行うことが可能となる。また、ロールプレス加工をすることにより、定位・定圧プレスが可能となり、加工された第1層または/および第2層の厚みを均一化することができ、また断続・連続的な生産が可能となる。   According to the present invention, it is preferable that at least one of the first concavo-convex structure forming step or the second concavo-convex structure forming step is performed by roll pressing. By performing a roll press process to form a minute line-shaped uneven structure, the uneven structure forming step in the present invention can be easily performed. In addition, by roll pressing, it is possible to perform orientation and constant pressure, the thickness of the processed first layer and / or the second layer can be made uniform, and intermittent and continuous production is possible. Become.

本発明は、高品質な3次元表示装置用パターン位相差フィルムを形成することが可能なパターン配向膜を、容易かつ大量に作製することが可能な3次元表示用パターン配向膜用原版を製造できるという効果を奏する。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can manufacture a pattern alignment film master for 3D display that can easily and in large quantities produce a pattern alignment film capable of forming a high-quality 3D display pattern retardation film. There is an effect.

本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the manufacturing method of the original for pattern alignment films for three-dimensional displays of this invention. 本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the original plate for 3D display pattern orientation films of this invention. 本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の表面を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the surface of the original plate for three-dimensional display pattern alignment films of this invention. 図3のA−A線断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line AA in FIG. 3. 本発明により得られる配向膜を用いたパターン位相差フィルムの一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the pattern phase difference film using the orientation film obtained by this invention. 本発明におけるロールプレス加工の一例を示す概略図である。It is the schematic which shows an example of the roll press process in this invention. 本発明における第1層および第2層の表面の微小なライン状凹凸構造が形成されている態様の一例を示す概略斜視図である。It is a schematic perspective view which shows an example of the aspect in which the fine line-shaped uneven structure of the surface of the 1st layer in this invention and a 2nd layer is formed. 本発明における微小なライン状凹凸構造を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the minute line-shaped uneven structure in this invention. 本発明における微小なライン状凹凸構造を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the minute line-shaped uneven structure in this invention. 本発明における微小なライン状凹凸構造を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the minute line-shaped uneven structure in this invention. 本発明における微小なライン状凹凸構造を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the minute line-shaped uneven structure in this invention. 本発明の原版を用いて製造されるパターン配向膜を使用したパターン位相差フィルムを説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the pattern phase difference film using the pattern orientation film manufactured using the original plate of this invention. 本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の表面を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the surface of the original plate for three-dimensional display pattern alignment films of this invention. 図13のB−B線断面図である。It is the BB sectional view taken on the line of FIG. 本発明により得られる配向膜を用いたパターン位相差フィルムの他の例を示す概略図である。It is the schematic which shows the other example of the pattern phase difference film using the orientation film obtained by this invention. 本発明における微小なライン状凹凸構造を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the minute line-shaped uneven structure in this invention. 本発明における微小なライン状凹凸構造を説明する説明図である。It is explanatory drawing explaining the minute line-shaped uneven structure in this invention. パッシブ方式で3次元映像を表示可能な液晶表示装置の例を示す概略図である。It is the schematic which shows the example of the liquid crystal display device which can display a three-dimensional image | video with a passive system.

本発明は、3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法に関するものである。
以下、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法について第1態様と第2態様の2態様に分けて説明する。
The present invention relates to a method for producing an original plate for a three-dimensional display pattern alignment film.
Hereinafter, the method for producing an original plate for a three-dimensional display pattern alignment film according to the present invention will be described in two modes, a first mode and a second mode.

A.第1態様
本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版において、第1層および第2層の表面の微小なライン状凹凸構造が異なる方向に形成される態様の製造方法である。
A. 1st aspect It is a manufacturing method of the aspect in which the fine line-shaped uneven structure of the surface of a 1st layer and a 2nd layer is formed in a different direction in the original plate for three-dimensional display pattern orientation films of this invention.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法は、金属材料または無機材料からなる第1層を形成する第1層形成工程と、上記第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第1凹凸構造形成工程と、上記第1凹凸構造形成工程後の上記第1層の表面に金属材料または無機材料からなる第2層を形成する第2層形成工程と、上記第2層の表面に上記第1凹凸構造形成工程とは異なる方向となる微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第2凹凸構造形成工程と、上記第2凹凸構造形成工程後の上記第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成するレジスト形成工程と、上記レジスト形成工程後、露出した上記第2層を剥離する第2層剥離工程と、上記レジストを剥離するレジスト剥離工程と、を有することを特徴とするものである。   The method for producing an original plate for a three-dimensional display pattern alignment film according to this aspect includes a first layer forming step of forming a first layer made of a metal material or an inorganic material, and a fine line-shaped uneven structure on the surface of the first layer. And a second layer forming step of forming a second layer made of a metal material or an inorganic material on the surface of the first layer after the first uneven structure forming step. A second concavo-convex structure forming step for forming a fine line-shaped concavo-convex structure in a substantially different direction on the surface of the second layer in a direction different from the first concavo-convex structure forming step; and after the second concavo-convex structure forming step A resist forming step for forming a resist in a strip shape parallel to the surface of the second layer, a second layer peeling step for peeling the exposed second layer after the resist forming step, and a resist peeling for peeling the resist Having a process It is an butterfly.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法について図を参照して説明する。
図1は、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法の一例を示す工程図である。図1に例示するように、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法は、まず金属基板を準備して単層もしくは複数層からなる第1層1を形成する(図1(a))。
次に、上記第1層1の表面全体に切削加工またはロールプレス加工を施して微小なライン状凹凸構造11を略一定方向に形成し、微小なライン状凹凸構造11を有する第1層1を形成する(図1(b))。
その後、上記第1層1の表面全体にドライメッキ処理を施し、金属材料または無機材料からなる第2層3をすることにより形成する(図1(c))。
次いで、上記第2層3の表面全体に上記第1凹凸構造形成工程において形成された微小なライン状凹凸構造11とは異なる方向となる微小なライン状凹凸構造31を、切削加工またはロールプレス加工を施すことにより形成する(図1(d))。
このようにして、微小なライン状凹凸構造31が形成された第2層3の表面にレジスト材を塗工してレジスト膜を形成し、上記レジスト膜をレーザー描画法等により平行な帯状に露光することで、上記第1層1の表面に平行な帯状のレジスト2を形成する(図1(e))。
レジスト2が形成されることにより露出した第2層3表面を、エッチング液を用いて選択的に剥離して、微小なライン状凹凸構造11が形成された第1層1を露出させる(図1(f))。
最後に、上記レジスト2を剥離して、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版100を得るものである(図1(g))。
なお、図1(a)が第1層形成工程、(b)が第1凹凸構造形成工程、(c)が第2層形成工程、(d)が第2凹凸構造形成工程、(e)がレジスト形成工程、(f)が第2層剥離工程、(g)がレジスト剥離工程である。
A method for manufacturing the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of this embodiment will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a process diagram showing an example of a method for producing a three-dimensional display pattern alignment film master according to this embodiment. As illustrated in FIG. 1, in the method for manufacturing a pattern alignment film master for three-dimensional display according to this aspect, first, a metal substrate is prepared and a first layer 1 composed of a single layer or a plurality of layers is formed (see FIG. 1 ( a)).
Next, the entire surface of the first layer 1 is subjected to cutting or roll pressing to form a minute line-shaped uneven structure 11 in a substantially constant direction, and the first layer 1 having the minute line-shaped uneven structure 11 is formed. Form (FIG. 1B).
Thereafter, the entire surface of the first layer 1 is dry-plated to form the second layer 3 made of a metal material or an inorganic material (FIG. 1C).
Next, the fine line-shaped concavo-convex structure 31 having a different direction from the fine line-shaped concavo-convex structure 11 formed in the first concavo-convex structure forming step on the entire surface of the second layer 3 is cut or roll pressed. (Fig. 1 (d)).
In this way, a resist material is applied to the surface of the second layer 3 on which the fine line-shaped concavo-convex structure 31 is formed to form a resist film, and the resist film is exposed in parallel strips by a laser drawing method or the like. Thus, a strip-shaped resist 2 parallel to the surface of the first layer 1 is formed (FIG. 1E).
The surface of the second layer 3 exposed by forming the resist 2 is selectively peeled off using an etching solution to expose the first layer 1 in which the minute line-shaped uneven structure 11 is formed (FIG. 1). (F)).
Finally, the resist 2 is peeled off to obtain a master plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film of the present invention (FIG. 1 (g)).
1A is a first layer forming step, FIG. 1B is a first uneven structure forming step, FIG. 1C is a second layer forming step, FIG. 1D is a second uneven structure forming step, and FIG. The resist forming step, (f) is the second layer peeling step, and (g) is the resist peeling step.

次に、このような製造方法によって得られる3次元表示用パターン配向膜用原版100について図を参照して説明する。図2は本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の一例を示す概略図である。図3は3次元表示用パターン配向膜用原版100の表面を示す概略平面図であり、図4は図3のA−A線断面図である。
図3、図4に例示するように、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版100は、表面に微小なライン状凹凸構造11が略一定方向に形成された金属材料または無機材料からなる第1層1と、上記第1層1上に平行な帯状に形成され、表面に微小なライン状凹凸構造31が略一定方向に形成された金属材料または無機材料からなる第2層3と、を有し、上記微小なライン状凹凸構造11、31の形成方向が、上記第1層1および第2層3の表面、すなわち、上記第2層3に隣接する露出した第1層1および第2層3の表面で異なるものである。
なお、図2は、上記3次元表示用パターン配向膜用原版100がロール状であるロール版である場合の一例である。図3が図2に示す3次元表示用パターン配向膜用原版100の表面である場合、上記第1層1および第2層3表面の上記微小なライン状凹凸構造11、31の形成方向が、3次元表示用パターン配向膜用原版(ロール版)100の回転方向に対して135°および45°であり、90°異なるものである。また、図3中の矢印は、微小なライン状凹凸構造11、31の形成方向を示すものである。
Next, the master plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film obtained by such a manufacturing method will be described with reference to the drawings. FIG. 2 is a schematic view showing an example of a three-dimensional display pattern alignment film master according to the present invention. FIG. 3 is a schematic plan view showing the surface of the original plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.
As illustrated in FIG. 3 and FIG. 4, the pattern alignment film original plate 100 for the three-dimensional display according to this aspect is made of a metal material or an inorganic material on the surface of which fine line-shaped uneven structures 11 are formed in a substantially constant direction. A first layer 1 and a second layer 3 formed of a metal material or an inorganic material formed in a parallel strip shape on the first layer 1 and having a fine line-shaped uneven structure 31 formed on the surface in a substantially constant direction; The formation direction of the minute line-shaped uneven structures 11 and 31 is such that the surface of the first layer 1 and the second layer 3, that is, the exposed first layer 1 and the second layer 3 adjacent to the second layer 3. The surface of the two layers 3 is different.
FIG. 2 shows an example in which the original plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film is a roll plate having a roll shape. When FIG. 3 is the surface of the original plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film shown in FIG. 2, the formation direction of the minute line-shaped concavo-convex structures 11 and 31 on the surfaces of the first layer 1 and the second layer 3 is as follows. They are 135 ° and 45 ° with respect to the rotation direction of the original plate (roll plate) 100 for a three-dimensional display pattern alignment film, and are different by 90 °. Moreover, the arrow in FIG. 3 shows the formation direction of the fine line-shaped uneven structures 11 and 31.

次に、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法により製造された3次元表示用パターン配向膜用原版(以下、単に本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版と称して説明する場合がある。)を用いて製造された配向膜により構成されたパターン位相差フィルムについて図を参照して説明する。図5(a)、(b)は、本態様により製造された配向膜により構成されたパターン位相差フィルムの一例を示す概略図である。図5(a)に例示するようにパターン位相差フィルム300は、透明フィルム基材7と、上記透明フィルム基材7上に形成された配向膜8と、上記配向膜8上に形成された位相差層9とを有するものである。ここで、パターン位相差フィルム300においては、上記配向膜8が、上記棒状化合物10を一方向に配列させることができるように微小なライン状凹凸構造が形成されている第1配向領域8Aと、上記棒状化合物10を上記第1配向領域8Aにおける配列方向と直交する方向に配列させることができるように微小なライン状凹凸構造が形成されている第2配向領域8Bとが表面にパターン状に配置されており、第1配向領域8Aおよび第2配向領域8Bは、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の第1層および第2層に対応して形成されるものである。図5(b)に例示するようにパターン位相差フィルム300(300A)においては、位相差層9において遅相軸方向が互いに直交する第1位相差領域9Aおよび第2位相差領域9Bが、上記第1配向領域8Aおよび第2配向領域8Bが形成されたパターンと同一パターンで形成されることになる。   Next, a three-dimensional display pattern alignment film master manufactured by the method for manufacturing a three-dimensional display pattern alignment film master according to this embodiment (hereinafter simply referred to as a three-dimensional display pattern alignment film master according to this embodiment). The pattern phase difference film constituted by the alignment film manufactured using the above-described method will be described with reference to the drawings. FIGS. 5A and 5B are schematic views showing an example of a patterned retardation film constituted by the alignment film produced according to this embodiment. As illustrated in FIG. 5A, the pattern retardation film 300 includes a transparent film substrate 7, an alignment film 8 formed on the transparent film substrate 7, and a position formed on the alignment film 8. And a phase difference layer 9. Here, in the patterned retardation film 300, the alignment film 8 has a first alignment region 8A in which a minute line-shaped uneven structure is formed so that the rod-shaped compound 10 can be arranged in one direction; A second alignment region 8B on which fine line-shaped uneven structures are formed is arranged in a pattern on the surface so that the rod-shaped compound 10 can be arranged in a direction orthogonal to the arrangement direction in the first alignment region 8A. The first alignment region 8A and the second alignment region 8B are formed corresponding to the first layer and the second layer of the three-dimensional display pattern alignment film original plate according to this aspect. As illustrated in FIG. 5B, in the patterned retardation film 300 (300A), the first retardation region 9A and the second retardation region 9B in which the slow axis directions are orthogonal to each other in the retardation layer 9, The first alignment region 8A and the second alignment region 8B are formed in the same pattern as the pattern formed.

本態様によれば、第1凹凸構造形成工程および第2凹凸構造形成工程において、第1層および第2層の全表面に微小なライン状凹凸構造を形成し、その後、第2層のみをエッチングする第2層剥離工程を有することで、微小なライン状凹凸構造を容易に形成することができ、かつ第2層の表面の微小なライン状凹凸構造形成の際に、上記第2層とは形成方向が異なった微小なライン状凹凸構造を有する第1層の表面を傷つける等の悪影響を与えることを防止することができる。また、上記第2層剥離工程において、第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成し、上記第2層において露出した部分のみを選択的に剥離することで、微小なライン状凹凸構造が形成された第1層と第1層とは形成方向が異なる微小なライン状凹凸構造が形成された第2層とを有する3次元表示用パターン配向膜用原版とすることができる。
また、第1層の表面および第2層の表面に形成される微小なライン状凹凸構造の形成方向が異なることにより、第1配向領域の表面および第2配向領域の表面に形成方向が異なる微小なライン状凹凸構造が形成された配向膜を得ることができる。配向膜は、パターン位相差フィルムを構成するものであり、位相差層に含まれる棒状化合物を配列させる機能を有するものである。つまり、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて配向膜を製造すると、第1配向領域および第2配向領域における形成方向が異なる微小なライン状凹凸構造により、位相差層に含まれる棒状化合物への配向規制力を付与することができる。従って、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の第1層の表面および第2層の表面に形成される微小なライン状凹凸構造の形成方向が異なることにより、第1配向領域および第2配向領域の微小なライン状凹凸構造の形成方向が異なる配向膜を製造することができ、上記配向膜を用いることで、上記微小なライン状凹凸構造の形成方向の差に相当する分だけ異なった位相差値を示すパターン位相差フィルムを得ることができる。
この時、第1配向領域と第2配向領域とで異なる配向となるように棒状化合物が配列さるため、第1配向領域と第2配向領域の境界において配向が乱れるといった問題があった。しかしながら、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版は、第1層の表面および第2層の表面の高さが異なる、すなわち、第1層および第2層の厚みが異なることにより、第1配向領域と第2配向領域との高さが異なった配向膜を得ることができる。そのため、第1配向領域と第2配向領域との境界を明瞭にし、隣接する第1配向領域と第2配向領域とのパターンの境界近傍に生じ易い液晶の配向欠陥を抑制することができる。これにより、境界近傍からの光漏れを抑制でき、その結果、ディスプレイに使用した際のコントラストの低下を抑制することができる高品質な配向膜とすることができる。
According to this aspect, in the first concavo-convex structure forming step and the second concavo-convex structure forming step, a fine line-shaped concavo-convex structure is formed on the entire surface of the first layer and the second layer, and then only the second layer is etched. By having the second layer peeling step, a fine line-shaped uneven structure can be easily formed, and when forming a fine line-shaped uneven structure on the surface of the second layer, It is possible to prevent adverse effects such as damaging the surface of the first layer having a minute line-shaped uneven structure with different formation directions. Also, in the second layer peeling step, a resist is formed in a strip shape parallel to the surface of the second layer, and only a portion exposed in the second layer is selectively peeled, so that a minute line-shaped uneven structure is formed. The formed first layer and the first layer can be a three-dimensional display pattern alignment film original plate having a second layer formed with a fine line-shaped concavo-convex structure having different formation directions.
In addition, since the formation direction of the minute line-shaped uneven structure formed on the surface of the first layer and the surface of the second layer is different, the formation direction is different on the surface of the first alignment region and the surface of the second alignment region. It is possible to obtain an alignment film in which a simple line-shaped uneven structure is formed. The alignment film constitutes a pattern retardation film and has a function of arranging rod-shaped compounds contained in the retardation layer. In other words, when an alignment film is manufactured using the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of the present invention, it is included in the retardation layer due to the minute line-shaped uneven structure in which the first alignment region and the second alignment region are formed in different directions. It is possible to impart an orientation regulating force to the rod-shaped compound. Accordingly, the first alignment region and the first alignment region are different from each other in the formation direction of the fine line-shaped uneven structure formed on the surface of the first layer and the surface of the second layer of the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of this aspect. An alignment film in which the direction of formation of the fine line-shaped uneven structure in the two alignment regions can be manufactured, and the use of the alignment film differs by an amount corresponding to the difference in the direction of formation of the fine line-shaped uneven structure. A pattern retardation film showing the obtained retardation value can be obtained.
At this time, since the rod-shaped compounds are arranged so that the first alignment region and the second alignment region have different alignments, there is a problem that the alignment is disturbed at the boundary between the first alignment region and the second alignment region. However, the three-dimensional display pattern alignment film master according to this aspect of the present invention is different in that the first layer surface and the second layer surface have different heights, that is, the first layer and the second layer have different thicknesses. An alignment film in which the heights of the first alignment region and the second alignment region are different can be obtained. Therefore, it is possible to clarify the boundary between the first alignment region and the second alignment region, and to suppress alignment defects of the liquid crystal that are likely to occur in the vicinity of the pattern boundary between the adjacent first alignment region and the second alignment region. Thereby, the light leakage from the boundary vicinity can be suppressed, As a result, it can be set as the high quality alignment film which can suppress the fall of the contrast at the time of using for a display.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法は、第1層形成工程、第1凹凸構造形成工程、第2層形成工程、第2凹凸構造形成工程、レジスト形成工程、第2層剥離工程、レジスト剥離工程を有するものである。
以下、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法の各工程について詳細に説明する。
The manufacturing method of the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film according to this aspect includes a first layer forming step, a first concavo-convex structure forming step, a second layer forming step, a second concavo-convex structure forming step, a resist forming step, and a second layer. It has a peeling process and a resist peeling process.
Hereafter, each process of the manufacturing method of the original for pattern orientation films for three-dimensional displays of this aspect is demonstrated in detail.

1.第1層形成工程
本態様における第1層形成工程は、図1の(a)に例示するように金属材料または無機材料からなる第1層1を形成する工程である。
なお、上記第1層は単層からなるものであってもよく、または下地層の表面に第1層が形成されたものであってもよい。本態様においては、中でも下地層上に形成されたものであることが好ましい。3次元表示用パターン配向膜用原版をロール版とすることが容易となり、また第1層表面に平滑性を付与することが容易となるからである。
以下、下地層準備工程と第1層形成工程とに分けて説明する。
1. 1st layer formation process The 1st layer formation process in this aspect is a process of forming the 1st layer 1 which consists of a metal material or an inorganic material so that it may illustrate in Drawing 1 (a).
Note that the first layer may be a single layer, or the first layer may be formed on the surface of the base layer. In this embodiment, it is particularly preferable that it is formed on the underlayer. This is because it becomes easy to use the original plate for the three-dimensional display pattern alignment film as a roll plate, and to impart smoothness to the surface of the first layer.
Hereinafter, the description will be divided into the base layer preparation step and the first layer formation step.

(1)下地層準備工程
本態様における下地層準備工程は、第1層の下地となる金属材料または無機材料からなる層を準備する工程である。
なお、本態様における3次元表示用パターン配向膜用原版としては、下地層を有するものであってもよく、または有さないものであってもよいが、下地層を有するものであることがより好ましい。
(1) Underlayer preparation step The underlayer preparation step in this embodiment is a step of preparing a layer made of a metal material or an inorganic material that becomes the underlayer of the first layer.
The original plate for a three-dimensional display pattern alignment film in this aspect may or may not have a base layer, but it preferably has a base layer. preferable.

本態様に用いられる下地層の材料としては、金属材料または無機材料からなり、下地層上に形成される第1層と密着性を有するものであれば特に限定されるものではない。
下地層が金属材料である場合には、クロム、ニッケル、ステンレス(SUS)、銅、アルミニウム等であることが好ましく、中でも、アルミニウムであることが好ましい。
また、下地層が無機材料である場合には、酸化チタン(TiO、Ti)、酸化タンタル(Ta)、酸化ケイ素(SiO、SiO)、酸化錫(SnO)、酸化アルミニウム(Al)、酸化クロム(Cr)、チタン酸バリウム(BaTiO)、酸化インジウム(In)、酸化亜鉛(ZnO、ZnO)のような金属酸化物、TiC、SiC、BC、WCのような炭化物、TiN、SiN、CrN、BN、AIN、CN、ZrNのような窒化物、フッ化バリウム(BaF)、フッ化マグネシウム(MgF)、酸化マグネシウム(MgO)、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)、グラッシーカーボン、セラミック、窒化珪素、窒化炭素等を挙げることができ、なかでも、ダイヤモンドライクコーティング、TiC、SiC、BC、WCのような炭化物、TiN、SiN、CrN、BN、AIN、CN、ZrNのような窒化物であることが好ましい。これらの無機材料は比較的高い硬度を有するため、第1凹凸構造を精度良く形成することが可能となる。
The material for the underlayer used in this embodiment is not particularly limited as long as it is made of a metal material or an inorganic material and has adhesion with the first layer formed on the underlayer.
When the underlayer is a metal material, it is preferably chromium, nickel, stainless steel (SUS), copper, aluminum or the like, and among them, aluminum is preferable.
Further, when the base layer is an inorganic material, titanium oxide (TiO 2 , Ti 3 O 5 ), tantalum oxide (Ta 2 O 5 ), silicon oxide (SiO, SiO 2 ), tin oxide (SnO 2 ), Metal oxides such as aluminum oxide (Al 2 O 3 ), chromium oxide (Cr 2 O 3 ), barium titanate (BaTiO 3 ), indium oxide (In 2 O 3 ), zinc oxide (ZnO, ZnO 2 ), Carbides such as TiC, SiC, BC, WC, nitrides such as TiN, SiN, CrN, BN, AIN, CN, ZrN, barium fluoride (BaF 2 ), magnesium fluoride (MgF 2 ), magnesium oxide ( MgO), diamond-like carbon (DLC), glassy carbon, ceramic, silicon nitride, carbon nitride, etc. Command like coating, TiC, SiC, BC, carbides such as WC, TiN, SiN, CrN, BN, AIN, CN, be a nitride such as ZrN preferred. Since these inorganic materials have a relatively high hardness, the first concavo-convex structure can be formed with high accuracy.

このような下地層の形状としては、例えば、板状、ロール状等が挙げられ、なかでも、ロール状であることが好ましい。本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版がロール状であること、すなわち、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版をロール版とすることができることにより、3次元表示用パターン配向膜用原版を回転しながら連続的に配向膜形成用層に賦型可能なもの、すなわち、容易かつ大量に配向膜を形成可能なものとすることができ製造効率の高いものとすることができるからである。   Examples of the shape of such an underlayer include a plate shape and a roll shape, and among these, a roll shape is preferable. The pattern alignment film for 3D display according to this aspect is a roll, that is, the pattern alignment film for 3D display according to this aspect can be used as a roll, so that the pattern alignment film for 3D display Since it can be formed into an alignment film forming layer continuously while rotating the original plate, that is, it can be easily formed in a large amount and can be manufactured with high production efficiency. It is.

また、ロール状としては、安定的に配向膜を形成できるものであれば特に限定されるものではないが、具体的には、ロール形状、スリーブ形状等とすることができ、なかでも、スリーブ形状であることが好ましい。
スリーブ形状であることにより、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて、パターン配向膜を製造効率高く製造することが可能となるからである。また、スリーブ形状の3次元表示用パターン配向膜用原版は、ロール形状のものに比べて軽量であり、取扱いが容易となるといった利点を有するからである。
ここで、ロール形状としては、具体的には、軸付ロール、軸なしパイプ等を挙げることができる。ここで、軸なしパイプとは、その厚みが3000μm以上である円筒形状のものを指すものである。
また、スリーブ形状とはシームレスの帯状体を表し、空気圧力や応力により容易に変形させることができるものであり、具体的にはその厚みが1000μm以下の円筒形状を指すものである。
本態様においては、ロール形状またはスリーブ形状等のロール状の場合には、継ぎ目のないシームレスであることが好ましいが、板状の下地層を円筒状にした継ぎ目を有するものも用いることができる。
Further, the roll shape is not particularly limited as long as it can stably form an alignment film. Specifically, the roll shape can be a roll shape, a sleeve shape, etc. It is preferable that
This is because, by using the sleeve shape, it is possible to manufacture the pattern alignment film with high manufacturing efficiency using the original plate for the three-dimensional display pattern alignment film. Further, the sleeve-shaped original plate for pattern alignment film for three-dimensional display is advantageous in that it is lighter and easier to handle than the roll-shaped original.
Here, specifically as a roll shape, a roll with a shaft, a pipe without a shaft, etc. can be mentioned. Here, the shaftless pipe refers to a cylindrical pipe having a thickness of 3000 μm or more.
The sleeve shape represents a seamless belt-like body, which can be easily deformed by air pressure or stress, and specifically refers to a cylindrical shape having a thickness of 1000 μm or less.
In the present embodiment, in the case of a roll shape such as a roll shape or a sleeve shape, it is preferable that the seamless shape is seamless, but a plate-like base layer having a cylindrical seam can also be used.

後述する第1層を下地層上に積層する場合には、上記下地層の表面は平滑性に優れていることが好ましい。第1層の表面にライン状凹凸構造を形成する際、上記第1層の下地層が表面平滑性に劣ると、上記第1層の表面の平滑性に悪影響を与え、ライン状凹凸構造を精度良く形成することが困難となる場合がある。特に第1層がDLC層である場合、上記DLC層は比較的薄い層であるため、下地層の表面粗さ等の影響を受けやすい。   When a first layer described later is laminated on the underlayer, the surface of the underlayer is preferably excellent in smoothness. When forming the line-shaped uneven structure on the surface of the first layer, if the underlying layer of the first layer is inferior in surface smoothness, the surface smoothness of the first layer is adversely affected, and the line-shaped uneven structure is accurate. It may be difficult to form well. In particular, when the first layer is a DLC layer, the DLC layer is a relatively thin layer and thus is easily affected by the surface roughness of the underlayer.

下地層に優れた平滑性を付与する方法としては、所望の平滑性を得られる方法であれば特に限定されるものではなく、例えば、スーパーミラー研磨等の切削法を挙げることができる。   The method for imparting excellent smoothness to the underlayer is not particularly limited as long as the desired smoothness can be obtained, and examples thereof include a cutting method such as supermirror polishing.

上記下地層の表面粗さとしては、第1層表面に悪影響を与えない程度であれば特に限定されるものではなく、例えば、Ra=10000nm以下であることが好ましく、中でもRa=5000nm以下であることが好ましく、特にRa=1000nm以下であることが好ましい。
なお、ここでの「表面粗さ(Ra)」は、「算術平均表面粗さ」であり、JIS−B0601に準拠して測定される。
The surface roughness of the underlayer is not particularly limited as long as it does not adversely affect the surface of the first layer. For example, Ra = 10000 nm or less is preferable, and Ra = 5000 nm or less is particularly preferable. It is particularly preferable that Ra = 1000 nm or less.
In addition, "surface roughness (Ra)" here is "arithmetic mean surface roughness", and is measured based on JIS-B0601.

(2)第1層形成工程
本態様における第1層形成工程は、下地層を有する場合には、上記下地層上に金属材料または無機材料からなる第1層を形成する工程であり、一方、下地層を有さない場合には、金属材料または無機材料からなる第1層を準備する工程である。
以下、下地層を有する場合と有さない場合とに分けて説明する。
(2) First layer forming step The first layer forming step in this aspect is a step of forming a first layer made of a metal material or an inorganic material on the underlayer when having an underlayer, When the base layer is not provided, this is a step of preparing a first layer made of a metal material or an inorganic material.
Hereinafter, the case where the base layer is provided and the case where the base layer is not provided will be described separately.

(a)下地層を有する場合
本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版が下地層を有する場合、本態様に用いられる第1層は、上述した下地層の表面に形成される。
(A) When it has a base layer When the original for pattern orientation film for three-dimensional displays of this aspect has a base layer, the 1st layer used for this aspect is formed in the surface of the base layer mentioned above.

第1層の形成方法としては、上述した下地層の表面に金属材料または無機材料からなる第1層を形成できる方法であれば特に限定されるものではなく、例えば、ウェットメッキ処理、ドライメッキ処理等を挙げることができる。
ウェットメッキ処理としては、電気メッキ法、無電解メッキ法、溶融亜鉛メッキ法、溶融アルミニウムメッキ法、不溶解性アノード法等が挙げられる。
ドライメッキ処理としては、真空蒸着メッキ法、抵抗加熱法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理蒸着法(PVD法)、常圧熱CVD法、減圧熱CVD法、プラズマCVD法等の化学蒸着法(CVD法)等が挙げられる。
The method for forming the first layer is not particularly limited as long as it is a method capable of forming the first layer made of a metal material or an inorganic material on the surface of the base layer described above. For example, wet plating treatment, dry plating treatment Etc.
Examples of the wet plating process include an electroplating method, an electroless plating method, a hot dip galvanizing method, a hot dip aluminum plating method, and an insoluble anode method.
As the dry plating treatment, chemical vapor deposition such as vacuum deposition plating method, resistance heating method, sputtering method, ion plating method, etc., physical vapor deposition method (PVD method), atmospheric pressure CVD method, reduced pressure CVD method, plasma CVD method, etc. Method (CVD method) and the like.

このように、下地層の表面に形成される第1層の材料としては、金属材料または無機材料からなり、上述した下地層と所望の密着性を有し、さらに後述する第2層剥離工程において、第1層上に形成された第2層の剥離に用いられるエッチング液に対して耐性を有するものであれば特に限定されるものではない。また、後述する第1凹凸構造形成工程において、第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を形成できるものであれば特に限定されるものではない。具体的には、上述した下地層の材料と同様とすることができるが、本態様における第1層の材料としては、ニッケル、クロム、銅、ステンレス(SUS)、ダイアモンドライクカーボン(DLC)、アルミニウム等であることが好ましく、なかでも、ニッケル、クロム、DLCであることが好ましく、特にDLCであることが好ましい。DLCは硬いため、表面に微小なライン状凹凸構造を精度良く形成できるからである。   As described above, the material of the first layer formed on the surface of the underlayer is made of a metal material or an inorganic material, has a desired adhesiveness with the above-described underlayer, and further in a second layer peeling step described later. There is no particular limitation as long as it has resistance to the etching solution used for peeling the second layer formed on the first layer. Moreover, in the 1st uneven | corrugated structure formation process mentioned later, if a micro linear uneven | corrugated structure can be formed in the surface of a 1st layer, it will not specifically limit. Specifically, it can be the same as the material of the underlayer described above, but as the material of the first layer in this embodiment, nickel, chromium, copper, stainless steel (SUS), diamond-like carbon (DLC), aluminum Of these, nickel, chromium and DLC are preferable, and DLC is particularly preferable. This is because DLC is hard, so that a fine line-shaped uneven structure can be formed on the surface with high accuracy.

なお、下地層の材料および第1層の材料は、同一材料であってもよく、異なる材料であってもよい。下地層および第1層の材料が異なる場合、それぞれの材料の組合せとしては(下地層/第1層)、クロム/DLC、ニッケル/DLCであることが好ましい。所望の密着性を得られるからである。
また、下地層がアルミニウムであって、第1層がLDCである場合には、上記下地層と上記第1層との間にクロムまたはニッケルからなる層を設けることが好ましい。アルミニウム層とDLC層の密着性を向上させることができるからである。
Note that the material of the underlayer and the material of the first layer may be the same material or different materials. When the material of the underlayer and the first layer are different, the combination of the respective materials (underlayer / first layer) is preferably chromium / DLC or nickel / DLC. This is because desired adhesion can be obtained.
Further, when the base layer is aluminum and the first layer is LDC, it is preferable to provide a layer made of chromium or nickel between the base layer and the first layer. This is because the adhesion between the aluminum layer and the DLC layer can be improved.

また、上記第1層の表面は、平滑性に優れていることが好ましい。上記第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を形成する際、上記第1層が表面平滑性に劣ると、後述する第1凹凸構造形成工程において第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を精度良く形成することが困難となる場合があるからである。
第1層の表面に優れた平滑性を付与する方法としては、所望の平滑性を得られるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、スーパーミラー研磨等の切削法を挙げることができる。
The surface of the first layer is preferably excellent in smoothness. When forming the fine line-shaped uneven structure on the surface of the first layer, if the first layer is inferior in surface smoothness, the fine line-shaped unevenness is formed on the surface of the first layer in the first uneven structure forming step described later. This is because it may be difficult to accurately form the structure.
The method for imparting excellent smoothness to the surface of the first layer is not particularly limited as long as desired smoothness can be obtained, and examples thereof include a cutting method such as super mirror polishing. .

上記第1層の表面粗さとしては、後述する第1凹凸構造形成工程において第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を精度良く形成することができる程度であれば特に限定されるものではなく、例えば、Ra=10000nm以下であることが好ましく、中でもRa=5000nm以下であることが好ましく、特にRa=1000nm以下であることが好ましい。
なお、ここでの「表面粗さ(Ra)」は、「算術平均表面粗さ」であり、JIS−B0601に準拠して測定される。
The surface roughness of the first layer is not particularly limited as long as a fine line-shaped uneven structure can be accurately formed on the surface of the first layer in the first uneven structure forming step described later. For example, Ra = 10000 nm or less is preferable, Ra = 5000 nm or less is particularly preferable, and Ra = 1000 nm or less is particularly preferable.
In addition, "surface roughness (Ra)" here is "arithmetic mean surface roughness", and is measured based on JIS-B0601.

このような第1層の厚みとしては、後述する第1凹凸構造形成工程においてライン状凹凸構造を形成できる程度であれば特に限定されるものではなく、例えば、1nm〜5000μmの範囲内であることが好ましく、中でも10nm〜1000μmの範囲内であることが好ましく、特に50nm〜5μmの範囲内であることが好ましい。
なお、上記第1層の厚みは、第1層の厚みと下地層の厚みとを合計した総厚みを指すものとする。
The thickness of the first layer is not particularly limited as long as a line-shaped uneven structure can be formed in the first uneven structure forming step described later, and is, for example, in the range of 1 nm to 5000 μm. Is preferable, and in particular, it is preferably in the range of 10 nm to 1000 μm, and particularly preferably in the range of 50 nm to 5 μm.
In addition, the thickness of the said 1st layer shall point out the total thickness which totaled the thickness of the 1st layer, and the thickness of the base layer.

(b)下地層を有さない場合
本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版が下地層を有さない場合、本態様における第1層形成工程は、金属材料または無機材料からなる第1層を準備する工程である。
(B) When the base layer is not provided When the three-dimensional display pattern alignment film master of this aspect does not have the base layer, the first layer forming step in this aspect is the first made of a metal material or an inorganic material. It is a process of preparing a layer.

本態様に用いられる第1層の材料としては、金属材料または無機材料からなり、上述した下地層と所望の密着性を有し、さらに後述する第2層剥離工程において、第1層上に形成された第2層の剥離に用いられるエッチング液等に耐性を有するものであれば特に限定されるものではない。また、後述する第1凹凸構造形成工程において、第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を形成できるものであれば特に限定されるものではない。具体的には、上述した下地層の材料と同様とすることができるが、本態様における第1層の材料としては、ニッケル、クロム、銅、ステンレス(SUS)、ダイアモンドライクカーボン(DLC)、アルミニウム等であることが好ましく、なかでも、ニッケル、クロム、DLCであることが好ましく、特にDLCであることが好ましい。DLCは硬いため、表面に微小なライン状凹凸構造を精度良く形成できるからである。   The material of the first layer used in this embodiment is made of a metal material or an inorganic material, has the desired adhesion to the above-described underlayer, and is formed on the first layer in the second layer peeling step described later. There is no particular limitation as long as it has resistance to an etching solution or the like used for peeling the second layer. Moreover, in the 1st uneven | corrugated structure formation process mentioned later, if a micro linear uneven | corrugated structure can be formed in the surface of a 1st layer, it will not specifically limit. Specifically, it can be the same as the material of the underlayer described above, but as the material of the first layer in this embodiment, nickel, chromium, copper, stainless steel (SUS), diamond-like carbon (DLC), aluminum Of these, nickel, chromium and DLC are preferable, and DLC is particularly preferable. This is because DLC is hard, so that a fine line-shaped uneven structure can be formed on the surface with high accuracy.

このような第1層の形状としては、表面に微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成することができれば特に限定されるものではなく、例えば、板状、ロール状等が挙げられ、なかでも、ロール状であることが好ましい。第1層の形状については、「(1)下地層準備工程」の項に記載した内容と同様とすることができるので、ここでの説明は省略する。   The shape of the first layer is not particularly limited as long as a fine line-shaped uneven structure can be formed on the surface in a substantially constant direction, and examples thereof include a plate shape and a roll shape. However, a roll shape is preferable. The shape of the first layer can be the same as the contents described in the section “(1) Preparatory layer preparation step”, and thus the description thereof is omitted here.

また、上記第1層の表面は、平滑性に優れていることが好ましい。上記第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を形成する際、上記第1層が表面平滑性に劣ると、後述する第1凹凸構造形成工程において第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を精度良く形成することが困難となる場合があるからである。表面平滑性については、「(a)下地層を有する場合」の項に記載した内容と同様とすることができるので、ここでの記載は省略する。   The surface of the first layer is preferably excellent in smoothness. When forming the fine line-shaped uneven structure on the surface of the first layer, if the first layer is inferior in surface smoothness, the fine line-shaped unevenness is formed on the surface of the first layer in the first uneven structure forming step described later. This is because it may be difficult to accurately form the structure. The surface smoothness can be the same as the content described in the section “(a) When a base layer is provided”, and thus description thereof is omitted here.

このような第1層の厚みとしては、後述する第1凹凸構造形成工程においてライン状凹凸構造を形成でき、自己支持性を有するものであれば特に限定されるものではない。   The thickness of the first layer is not particularly limited as long as it can form a line-shaped uneven structure in the first uneven structure forming step described later and has a self-supporting property.

2.第1凹凸構造形成工程
本態様における第1凹凸構造形成工程は、図1(b)に示すように、金属材料または無機材料からなる第1層1を形成し、上記第1層1の表面に微小なライン状凹凸構造11を略一定方向に形成する工程である。
2. 1st uneven | corrugated structure formation process The 1st uneven | corrugated structure formation process in this aspect forms the 1st layer 1 which consists of a metal material or an inorganic material, as shown in FIG.1 (b), On the surface of the said 1st layer 1 This is a step of forming the minute line-shaped uneven structure 11 in a substantially constant direction.

本態様の微小なライン状凹凸構造の形成方法としては、所望のサイズかつ形成方向のライン状凹凸構造を形成できる方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、第1層の表面に対して研磨する切削加工や、凹凸パターンのある金型を押し当てて成型するロールプレス加工を挙げることができる。
以下、切削加工およびロールプレス加工について説明する。
The method for forming the fine line-shaped concavo-convex structure of this aspect is not particularly limited as long as it is a method that can form a line-shaped concavo-convex structure in a desired size and direction, but for example, on the surface of the first layer On the other hand, there can be exemplified a cutting process for polishing and a roll press process for forming by pressing a mold having an uneven pattern.
Hereinafter, cutting and roll pressing will be described.

(1)切削加工
本工程に用いられる切削加工とは、表面に研磨を施して所望の凹凸構造を成型する切削式加工である。本工程においては一般的な方法を用いることができ、例えば、砥石研磨、ペーパー研磨、テープ研磨、サンドブラスト法、ショットブラスト法、グリットブラスト法、ガラスビーズブラスト法等のブラスト法、ナイロン、ポリプロピレン、塩化ビニル樹脂などの合成繊維からなる合成樹脂毛、不織布、動物毛、スチールワイヤ等のブラシ材を用いるブラシグレイニング法、金属ワイヤーで引っかくワイヤーグレイニング法、研磨剤を含有するスラリー液を供給しながらブラシ研磨する方法(ブラシグレイニング法)、ボールグレイン法、液体ホーニング法等のバフ研磨法、ショットピーニング法等を挙げることができる。本工程においては、なかでもテープ研磨法、ペーパー研磨であることが好ましい。微小なライン状凹凸の方向を制御しやすいからである。
(1) Cutting process The cutting process used in this step is a cutting process in which a desired uneven structure is formed by polishing the surface. In this step, a general method can be used, for example, grinding stone polishing, paper polishing, tape polishing, sand blasting method, shot blasting method, grit blasting method, blasting method such as glass bead blasting method, nylon, polypropylene, chloride While supplying synthetic resin hair made of synthetic fibers such as vinyl resin, non-woven fabric, animal hair, brush graining method using brush material such as steel wire, wire graining method by scratching with metal wire, supplying slurry liquid containing abrasive Examples thereof include a brush polishing method (brush graining method), a ball grain method, a buffing method such as a liquid honing method, and a shot peening method. In this step, tape polishing and paper polishing are particularly preferable. This is because the direction of minute line-shaped irregularities can be easily controlled.

(2)ロールプレス加工
本工程に用いられるロールプレス加工とは、凹凸パターンのある回転ローラーを押し当てることにより、表面に所望の凹凸構造を成型する転造式加工である。また、ロールプレス加工は、被成型体がロールプレス機中の回転ローラーを複数回通過することにより、表面に凹凸構造を成型するものである。
(2) Roll press process The roll press process used in this step is a rolling process for forming a desired concavo-convex structure on the surface by pressing a rotating roller having a concavo-convex pattern. Further, in the roll press process, a concavo-convex structure is formed on the surface of the molding object by passing a rotating roller in the roll press machine a plurality of times.

図6は、ロールプレス加工の一例を示す概略図である。図6に示すように、ロールプレス機200は、被成型体6と接するように凹凸パターンを有する回転ローラー5が設けられている。被成型体6と接するように設けられた回転ローラー5が回転することによって、上記回転ローラー5に設置された凹凸パターンが被成型体6に押し付けられる。
このように、ロールプレス加工は、被成型体と接するように設けられた回転ローラーによって加圧されることによって、回転ローラーに設置された凹凸パターンが金型となり、切削ではなく、押し付けによる変形によって加工することができる。
FIG. 6 is a schematic view showing an example of roll press processing. As shown in FIG. 6, the roll press machine 200 is provided with a rotating roller 5 having a concavo-convex pattern so as to contact the workpiece 6. By rotating the rotating roller 5 provided so as to be in contact with the molding object 6, the uneven pattern installed on the rotating roller 5 is pressed against the molding object 6.
In this way, the roll press process is performed by pressurizing with a rotating roller provided in contact with the object to be molded, whereby the uneven pattern installed on the rotating roller becomes a mold, and not by cutting but by deformation by pressing. Can be processed.

このようなロールプレス加工をすることにより、定位・定圧プレスが可能となり、成型体の厚みを均一化することができ、また断続・連続的な生産が可能となる。   By performing such a roll press process, it is possible to perform a localization / constant pressure press, the thickness of the molded body can be made uniform, and intermittent / continuous production is possible.

上記ロールプレス加工に用いられる回転ローラー表面の凹凸パターンの断面形状、高さ、幅、周期については、後述する微小なライン状凹凸構造の高さ、幅、周期と同様とすることができるので、ここでの記載は省略する。   About the cross-sectional shape, height, width, and period of the concavo-convex pattern on the surface of the rotating roller used in the roll press process, since it can be the same as the height, width, and period of the minute line-shaped concavo-convex structure described later, The description here is omitted.

(3)微小なライン状凹凸構造
本態様における微小なライン状凹凸構造としては、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて高品質なパターン位相差フィルムを形成することが可能なパターン配向膜を製造できるものであれば特に限定されるものではない。
このような微小なライン状凹凸構造は、ランダムに形成されていてもよく、ストライプ状に形成されていてもよい。また、両者が組み合わされていてもよい。図7(a)では、微小なライン状凹凸構造が略一定方向にランダムに形成された態様を示し、図7(b)では、微小なライン状凹凸構造が略一定方向にストライプ状に形成された態様を示し、さらに、図7(c)では、両者が組み合わされた態様を示している。
(3) Minute line-like uneven structure As the minute line-like uneven structure in this embodiment, a high-quality pattern retardation film can be formed using the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of this embodiment. There is no particular limitation as long as the pattern alignment film can be produced.
Such a fine line-shaped uneven structure may be formed at random or may be formed in a stripe shape. Moreover, both may be combined. FIG. 7A shows a mode in which minute line-shaped uneven structures are randomly formed in a substantially constant direction, and FIG. 7B shows a minute line-shaped uneven structure formed in a stripe shape in a substantially constant direction. Further, FIG. 7C shows a mode in which both are combined.

ここで、微小なライン状凹凸構造が略一定方向にランダムに形成された態様とは、例えば、表面にラビング処理がなされた場合等に形成されるような微小な傷のようなライン状凹凸構造が、略一定方向に形成された態様を意味するものである。一方、ライン状凹凸構造がストライプ状に形成された態様とは、壁状に形成された凸部が一定の間隔でストライプ状に形成された態様を意味するものである。ライン状凹凸構造の大きさは前述のランダムの態様よりも比較的大きく、例えば表面にラビング処理がなされた場合に形成されるような微小な傷のような凹凸構造はこれに含まれないものである。   Here, a mode in which minute line-shaped uneven structures are randomly formed in a substantially constant direction is, for example, a line-shaped uneven structure such as a minute scratch formed when the surface is rubbed. Means an aspect formed in a substantially constant direction. On the other hand, the aspect in which the line-shaped uneven structure is formed in a stripe shape means an aspect in which convex portions formed in a wall shape are formed in a stripe shape at regular intervals. The size of the line-shaped concavo-convex structure is relatively larger than the above-described random mode, and for example, the concavo-convex structure such as a minute scratch formed when the surface is rubbed is not included. is there.

本態様においては、第1層の表面に形成される微小なライン状凹凸構造と、後述する第2層の表面に形成され微小なライン状凹凸構造とが同一態様であってもよく、あるいは異なる態様であってもよい。   In this aspect, the fine line-shaped uneven structure formed on the surface of the first layer may be the same as or different from the fine line-shaped uneven structure formed on the surface of the second layer described later. An aspect may be sufficient.

本態様における微小なライン状凹凸構造がストライプ状である場合、その断面形状としては、凹凸構造を有し、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて配向膜を形成した際に、上記配向膜に形成された凹凸構造によって上記液晶化合物を所定の方向に配列できるものであれば特に限定されるものではなく、略矩形、略三角形、略台形等とすることができる。また、一定の形状でなくてもよい。   When the fine line-like uneven structure in this embodiment is a stripe shape, the cross-sectional shape thereof has an uneven structure, and when the alignment film is formed using the original plate for a 3D display pattern alignment film of this embodiment There is no particular limitation as long as the liquid crystal compound can be arranged in a predetermined direction by the concavo-convex structure formed in the alignment film, and it can be a substantially rectangular shape, a substantially triangular shape, a substantially trapezoidal shape, or the like. Moreover, it may not be a fixed shape.

本態様において、図8に示すように、微小なライン状凹凸構造11の高さl、幅m、および周期nとしては、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて配向膜を形成した際に、上記配向膜に形成された凹凸構造によって液晶化合物を配列させることができる範囲内であれば特に限定されるものではない。本態様において、ストライプ状のライン状凹凸構造が形成される場合、微小なライン状凹凸構造11の高さlは、1nm〜500nmの範囲内であることが好ましく、なかでも、1nm〜100nmの範囲内であることがより好ましく、特に、1nm〜50μmの範囲内であることが好ましい。
また、ストライプ状のライン状凹凸構造が形成される場合、微小なライン状凹凸構造11の幅mは、1nm〜1000nmの範囲内であることが好ましく、なかでも、1nm〜500nmの範囲内であることがより好ましく、特に、1nm〜100nmの範囲内であることがさらに好ましい。
さらに、ストライプ状のライン状凹凸構造が形成される場合、微小なライン状凹凸構造11の周期nは、必ずしも一定ではなくても良いが、概ね1nm〜1000nmの範囲内であることが好ましく、なかでも1nm〜100nmの範囲内であることが好ましい。
ストライプ状のライン状凹凸構造が形成される場合、微小なライン状凹凸構造が上述のサイズであることにより、安定的に液晶化合物を配列させることができるからである。
In this embodiment, as shown in FIG. 8, the height l, the width m, and the period n of the minute line-shaped concavo-convex structure 11 are the same as that of the alignment film using the pattern alignment film master for three-dimensional display of this embodiment. There is no particular limitation as long as it is within a range in which the liquid crystal compound can be aligned by the uneven structure formed in the alignment film when formed. In this embodiment, when a striped line-shaped uneven structure is formed, the height l of the minute line-shaped uneven structure 11 is preferably in the range of 1 nm to 500 nm, and in particular, in the range of 1 nm to 100 nm. It is more preferable that the thickness is within the range of 1 nm to 50 μm.
Further, when a stripe-shaped line-shaped uneven structure is formed, the width m of the minute line-shaped uneven structure 11 is preferably in the range of 1 nm to 1000 nm, and in particular, in the range of 1 nm to 500 nm. It is more preferable, and it is further more preferable that it is in the range of 1 nm-100 nm especially.
Further, when a striped line-shaped uneven structure is formed, the period n of the minute line-shaped uneven structure 11 is not necessarily constant, but is preferably in the range of approximately 1 nm to 1000 nm. However, it is preferably in the range of 1 nm to 100 nm.
This is because, when the stripe-shaped line-shaped uneven structure is formed, the liquid crystal compound can be stably arranged because the minute line-shaped uneven structure has the above-described size.

なお、図8は、微小なライン状凹凸構造11の断面形状が矩形状である場合を示す説明図である。   In addition, FIG. 8 is explanatory drawing which shows the case where the cross-sectional shape of the minute line-shaped uneven structure 11 is a rectangular shape.

3.第2層形成工程
本態様における第2層形成工程は、図1(c)に示すように上記第1凹凸構造形成工程後、金属材料または無機材料からなる第2層3を形成する工程である。
3. Second Layer Forming Step The second layer forming step in this embodiment is a step of forming the second layer 3 made of a metal material or an inorganic material after the first uneven structure forming step as shown in FIG. .

本態様においては、金属材料または無機材料からなる第2層を精度良く形成するできる方法であれば特に限定されるものではなく、例えば、ドライメッキ処理、ウェットメッキ処理等が挙げられる。
第2層が金属材料からなる場合には、ドライメッキ処理、ウェットメッキ処理により第2層を形成することができる。なお、第2層が金属材料からなる場合のドライメッキ処理としては、真空蒸着メッキ法、抵抗加熱法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理蒸着法(PVD法)等が挙げられる。また、ウェットメッキ処理としては、電気メッキ法、無電解メッキ法、溶融亜鉛メッキ法、溶融アルミニウムメッキ法、不溶解性アノード法等が挙げられるが、ウェットメッキ処理を用いて第2層を形成する場合には、第1層としては金属材料からなるものが選択される。
また、第2層が無機材料からなる場合には、ドライメッキ処理を挙げることができる。ドライメッキ処理としては、真空蒸着メッキ法、抵抗加熱法、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理蒸着法(PVD法)、常圧熱CVD法、減圧熱CVD法、プラズマCVD法等の化学蒸着法(CVD法)等が挙げられる。
In this embodiment, the method is not particularly limited as long as it is a method capable of forming the second layer made of a metal material or an inorganic material with high accuracy, and examples thereof include dry plating treatment and wet plating treatment.
When the second layer is made of a metal material, the second layer can be formed by a dry plating process or a wet plating process. In addition, as a dry plating process in case a 2nd layer consists of metal materials, physical vapor deposition methods (PVD method), such as a vacuum evaporation plating method, resistance heating method, sputtering method, ion plating method, etc. are mentioned. Examples of the wet plating process include an electroplating method, an electroless plating method, a hot dip galvanizing method, a hot dip aluminum plating method, an insoluble anode method, and the like. The second layer is formed using the wet plating process. In this case, a material made of a metal material is selected as the first layer.
Further, when the second layer is made of an inorganic material, a dry plating process can be exemplified. As the dry plating treatment, chemical vapor deposition such as vacuum deposition plating method, resistance heating method, sputtering method, ion plating method, etc., physical vapor deposition method (PVD method), atmospheric pressure CVD method, reduced pressure CVD method, plasma CVD method, etc. Method (CVD method) and the like.

本態様に用いられる第2層を構成する金属材料または無機材料としては、上記第1層上に安定的に積層できるものであることが好ましい。また、後述する第2層剥離工程において、レジストの形成により露出した第2層を選択的に剥離するためにエッチング液を用いる。そのため、第2層の材料としては、エッチング液を用いて選択的に剥離することが可能なものであることが好ましい。
上記第2層の具体的な材料としては、ニッケル、銅、アルミニウム、スズ、クロム、ステンレス(SUS)、鉄等の金属材料;SiO、SiO、Al、GeO、TiO、Cr、ZrO、Ta、Nb等の無機酸化物;Si、AlN、TiN、TiCN等の無機窒化物;SiO等の無機酸化窒化物;SiC等の無機炭化物;ダイアモンドライクカーボン(DLC)等を挙げることができ、なかでも、金属材料、無機酸化窒化物、無機炭化物等であることが好ましく、特に、TiNであることが好ましい。第1層上に容易に形成可能だからであり、微小なライン状凹凸構造の形成が容易だからである。さらに、後述する第2層剥離工程において、エッチング液を用いて第2層を選択的に剥離することが可能だからである。
なお、第2層に用いられる材料は第1層に用いられる材料と異なることが好ましい。後述する第2層剥離工程において、第1層表面に形成された第2層を、エッチング液を用いて選択的に剥離することができるからである。
The metal material or inorganic material constituting the second layer used in this embodiment is preferably one that can be stably laminated on the first layer. Further, in the second layer peeling step described later, an etching solution is used to selectively peel the second layer exposed by forming the resist. Therefore, it is preferable that the material of the second layer be a material that can be selectively peeled off using an etching solution.
Specific materials for the second layer include nickel, copper, aluminum, tin, chromium, stainless steel (SUS), iron, and other metal materials; SiO 2 , SiO x , Al 2 O 3 , GeO 2 , TiO 2 , Inorganic oxides such as Cr 2 O 3 , ZrO 3 , Ta 2 O 5 and Nb 2 O 3 ; Inorganic nitrides such as Si 3 N 4 , AlN, TiN and TiCN; Inorganic oxynitrides such as SiO x N y ; Examples thereof include inorganic carbides such as SiC; diamond-like carbon (DLC) and the like. Among these, metal materials, inorganic oxynitrides, inorganic carbides and the like are preferable, and TiN is particularly preferable. This is because it can be easily formed on the first layer, and it is easy to form a fine line-shaped uneven structure. Furthermore, it is because it is possible to selectively peel off the second layer using an etchant in a second layer peeling step described later.
Note that the material used for the second layer is preferably different from the material used for the first layer. This is because, in the second layer peeling step described later, the second layer formed on the surface of the first layer can be selectively peeled using an etching solution.

なお、第2層の材料および第1層の材料の組合せとしては(第2層/第1層)、第1層および第2層の間で所望の密着性を得られ、また第2層剥離工程おいて用いられるエッチング液に対して、第1層が耐性を示すものであることが好ましい。例えば、DLC/Ti、DLC/TiN、Cr/TiNであることが好ましい。 As a combination of the material of the second layer and the material of the first layer (second layer / first layer), desired adhesion can be obtained between the first layer and the second layer, and the second layer is peeled off. The first layer is preferably resistant to the etching solution used in the process. For example, DLC / Ti, DLC / TiN, and Cr 2 O 3 / TiN are preferable.

また、上記第2層の表面は、平滑性に優れていることが好ましい。上記第2層の表面に微小なライン状凹凸構造を形成する際、上記第2層が表面平滑性に劣ると、後述する第2凹凸構造形成工程において第2層の表面に微小なライン状凹凸構造を精度良く形成することが困難となる場合があるからである。
第2層の表面に優れた平滑性を付与する方法としては、所望の平滑性を得られるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、スーパーミラー研磨等の切削法を挙げることができる。
The surface of the second layer is preferably excellent in smoothness. When forming the fine line-like uneven structure on the surface of the second layer, if the second layer is inferior in surface smoothness, the fine line-like unevenness is formed on the surface of the second layer in the second uneven structure forming step described later. This is because it may be difficult to accurately form the structure.
The method for imparting excellent smoothness to the surface of the second layer is not particularly limited as long as desired smoothness can be obtained, and examples thereof include a cutting method such as super mirror polishing. .

上記第2層の表面粗さとしては、後述する第2凹凸構造形成工程において第2層の表面に微小なライン状凹凸構造を精度良く形成することができる程度であれば特に限定されるものではなく、例えば、Ra=10000nm以下であることが好ましく、中でもRa=5000nm以下であることが好ましく、特にRa=1000nm以下であることが好ましい。
なお、ここでの「表面粗さ(Ra)」は、「算術平均表面粗さ」であり、JIS−B0601に準拠して測定される。
The surface roughness of the second layer is not particularly limited as long as a fine line-shaped uneven structure can be accurately formed on the surface of the second layer in the second uneven structure forming step described later. For example, Ra = 10000 nm or less is preferable, Ra = 5000 nm or less is particularly preferable, and Ra = 1000 nm or less is particularly preferable.
In addition, "surface roughness (Ra)" here is "arithmetic mean surface roughness", and is measured based on JIS-B0601.

本態様における第2層の厚み、すなわち、第1層および第2層の段差としては、10nm〜5μmの範囲内であることが好ましく、なかでも、50nm〜1μmの範囲内であることが好ましい。上記段差が上述の範囲内であることにより、本態様の3次元表示用パターン配向膜を用いて配向膜を形成した際、上記第1層および第2層に対応して形成される配向膜の第1配向領域および第2配向領域によって配列される液晶化合物の端部近傍での配向の乱れを効果的に抑制できるからである。   The thickness of the second layer in this embodiment, that is, the step between the first layer and the second layer is preferably within a range of 10 nm to 5 μm, and more preferably within a range of 50 nm to 1 μm. When the step is within the above-described range, when the alignment film is formed using the three-dimensional display pattern alignment film of this aspect, the alignment film formed corresponding to the first layer and the second layer This is because disorder of alignment in the vicinity of the end portion of the liquid crystal compound arranged by the first alignment region and the second alignment region can be effectively suppressed.

なお、上記第2層の厚みは、図4中のD1で示す距離を意味するものとする。また、図4に示すように、表面に形成された微小なライン状凹凸構造11、31を含む厚みをいうものとする。
なお、表面に微小なライン状凹凸構造が形成された第2層の厚みとは、図4中のD1で示す距離を意味するものとする。また、D1については、第1層表面から第2層表面に形成された微小なライン状凹凸構造の凸部分までの距離と第1層表面から第2層表面に形成された微小なライン状凹凸構造の凹部分までの距離との平均値とする。また、第1層の表面(第2層の厚みの測定の基準点)に形成された微小なライン状凹凸構造の凸部分と凹部分との平均値を算出することにより求めるものとする。
また、図4中の符号については、図1のものと同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
In addition, the thickness of the said 2nd layer shall mean the distance shown by D1 in FIG. Moreover, as shown in FIG. 4, it shall mean the thickness containing the fine line-shaped uneven structure 11 and 31 formed in the surface.
In addition, the thickness of the 2nd layer in which the fine line-shaped uneven structure was formed on the surface shall mean the distance shown by D1 in FIG. For D1, the distance from the surface of the first layer to the convex portion of the fine line-shaped uneven structure formed on the surface of the second layer and the fine line-shaped unevenness formed on the surface of the second layer from the first layer surface The average value with the distance to the concave portion of the structure. Further, it is obtained by calculating an average value of the convex portions and the concave portions of the minute line-shaped concavo-convex structure formed on the surface of the first layer (reference point for measuring the thickness of the second layer).
Moreover, since the reference numerals in FIG. 4 indicate the same members as those in FIG. 1, description thereof is omitted here.

4.第2凹凸構造形成工程
本態様における第2凹凸構造形成工程は、図1(d)に示すように第1層1上に形成された第2層3の表面に微小なライン状凹凸構造31を形成する工程である。
4). 2nd uneven | corrugated structure formation process The 2nd uneven | corrugated structure formation process in this aspect WHEREIN: As shown in FIG.1 (d), the fine line-shaped uneven structure 31 is formed on the surface of the 2nd layer 3 formed on the 1st layer 1. As shown in FIG. It is a process of forming.

本態様の微小なライン状凹凸構造の形成方法としては、所望のサイズかつ形成方向のライン状凹凸構造を形成できる方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、第1層の表面に対して研磨する切削加工や、凹凸パターンのある金型を押し当てて成型するロールプレス加工を挙げることができる。
なお、第2凹凸構造形成工程における微小なライン状凹凸構造の形成方法については、「2.第1凹凸構造形成工程」の項に記載したものと同様とすることができるので、ここでの説明は省略する。
The method for forming the fine line-shaped concavo-convex structure of this aspect is not particularly limited as long as it is a method that can form a line-shaped concavo-convex structure in a desired size and direction, but for example, on the surface of the first layer On the other hand, there can be exemplified a cutting process for polishing and a roll press process for forming by pressing a mold having an uneven pattern.
The method for forming a fine line-shaped uneven structure in the second uneven structure forming process can be the same as that described in the section “2. First uneven structure forming process”, and will be described here. Is omitted.

ここで、本態様における微小なライン状凹凸形状の形成方向としては、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版における第1層の表面および第2層の表面で異なるものであれば特に限定されるものではない。
本態様においては、中でも、図5に示すように上記3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて製造される配向膜8の第1配向領域8Aおよび第2配向領域8Bが、上記微小なライン状凹凸構造の形成方向に従って位相差層9に含まれる棒状化合物10を配列させることができるものが好ましい。上記配向膜を用いて3次元表示可能なパターン位相差フィルムを製造できるからである。なお、図5は第1配向領域8Aおよび第2配向領域8Bの微小なライン状凹凸構造の形成方向の差が90°である場合を示すものである。このように、上記パターン位相差フィルムを製造した際、上記パターン位相差フィルムが、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版における第1層および第2層の表面に形成される微小なライン状凹凸形状の形成方向の差に相当する分だけ異なった位相差値を示すことが好ましい。
具体的には、上述した第1凹凸構造形成工程で形成された第1層表面の微小なライン状凹凸構造に対して、第2層表面に形成される微小なライン状凹凸構造が90°異なる場合と、45°異なる場合と、を挙げることができる。
以下、それぞれの場合に分けて説明する。
Here, the formation direction of the minute line-shaped unevenness in this aspect is particularly limited as long as it is different between the surface of the first layer and the surface of the second layer in the original pattern alignment film for three-dimensional display of this aspect. Is not to be done.
In this embodiment, as shown in FIG. 5, the first alignment region 8A and the second alignment region 8B of the alignment film 8 manufactured using the three-dimensional display pattern alignment film original plate have the minute lines. It is preferable that the rod-shaped compound 10 contained in the retardation layer 9 can be arranged in accordance with the formation direction of the concavo-convex structure. This is because a pattern retardation film capable of three-dimensional display can be manufactured using the alignment film. FIG. 5 shows a case where the difference in the formation direction of the minute line-shaped uneven structure between the first alignment region 8A and the second alignment region 8B is 90 °. Thus, when the said pattern phase difference film is manufactured, the said pattern phase difference film is a minute line formed on the surface of the 1st layer and the 2nd layer in the original plate for three-dimensional display pattern orientation films of this mode. It is preferable that the phase difference value differs by an amount corresponding to the difference in the formation direction of the concavo-convex shape.
Specifically, the fine line-like concavo-convex structure formed on the second layer surface is 90 ° different from the fine line-like concavo-convex structure on the first layer surface formed in the first concavo-convex structure forming step described above. And a case different by 45 °.
Hereinafter, each case will be described separately.

(1)90°異なる場合
本態様の微小なライン状凹凸構造は、上記第1層および第2層の表面で90°異なるものである。
このような本態様の微小なライン状凹凸構造としては、上記第1層および上記第2層の表面で90°異なるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、3次元表示用パターン配向膜用原版がロール版である場合には、ロールの回転方向に対して上記第1層および上記第2層微小なライン状凹凸構造の形成方向(第1層/第2層)が、45°/135°、0°/90°であることが好ましい。
このように互いに直交する方向の場合、本態様の微小なライン状凹凸構造を有する3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて第1配向領域および第2配向領域が形成された配向膜を形成し、さらに第1配向領域および第2配向領域上に形成される第1位相差領域および第2位相差領域の面内レターデーションをλ/4とすることにより、これらの位相差領域を透過することで直線偏光がそれぞれ右円偏光、左円偏光になるため、容易に3次元表示が可能な表示装置を製造するために好適に用いられるものにできる。
図3は、第1層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造11および第2層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造31の方向が45°および135°であり、図9は0°および90°の場合のロール版表面を示すものである。
なお、図9中の符号については、図3のものと同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
(1) When 90 degrees are different The fine line-shaped uneven structure of this aspect differs 90 degrees on the surfaces of the first layer and the second layer.
Such a fine line-shaped uneven structure of this embodiment is not particularly limited as long as it differs by 90 ° on the surfaces of the first layer and the second layer. For example, pattern orientation for three-dimensional display When the film original plate is a roll plate, the formation direction (first layer / second layer) of the first layer and the second layer minute line uneven structure with respect to the rotation direction of the roll is 45 °. / 135 ° and 0 ° / 90 ° are preferable.
In the case of the directions orthogonal to each other in this way, an alignment film in which the first alignment region and the second alignment region are formed is formed using the three-dimensional display pattern alignment film master having the fine line-shaped uneven structure of this embodiment. Further, by setting the in-plane retardation of the first retardation region and the second retardation region formed on the first alignment region and the second alignment region to λ / 4, the retardation regions are transmitted. Thus, since the linearly polarized light becomes right circularly polarized light and left circularly polarized light, respectively, it can be suitably used for manufacturing a display device capable of easily performing three-dimensional display.
In FIG. 3, the directions of the minute line-shaped uneven structure 11 formed on the surface of the first layer and the minute line-shaped uneven structure 31 formed on the surface of the second layer are 45 ° and 135 °. Indicates the roll plate surface at 0 ° and 90 °.
Note that the reference numerals in FIG. 9 indicate the same members as those in FIG. 3, and a description thereof will be omitted here.

ここで、面内レターデーション(Re)値とは、屈折率異方体の面内方向における複屈折性の程度を示す指標であり、面内方向において屈折率が最も大きい遅相軸方向の屈折率をNx、遅相軸方向に直交する進相軸方向の屈折率をNy、屈折率異方体の面内方向に垂直な方向の厚みをdとした場合に、
Re[nm]=(Nx−Ny)×d[nm]
で表わされる値である。面内レターデーション値(Re値)は、例えば、王子計測機器株式会社製 KOBRA−WRを用い、平行ニコル回転法により測定することができるし、微小領域の面内レターデーション値はAXOMETRICS社(米国)製のAxoScanでミューラーマトリクスを使って測定することも出来る。また、本願明細書においては特に別段の記載をしない限り、Re値は波長589nmにおける値を意味するものとする。
Here, the in-plane retardation (Re) value is an index indicating the degree of birefringence in the in-plane direction of the refractive index anisotropic body, and the refraction in the slow axis direction having the largest refractive index in the in-plane direction. When the refractive index is Nx, the refractive index in the fast axis direction orthogonal to the slow axis direction is Ny, and the thickness in the direction perpendicular to the in-plane direction of the refractive index anisotropic body is d,
Re [nm] = (Nx−Ny) × d [nm]
It is a value represented by. The in-plane retardation value (Re value) can be measured by, for example, KOBRA-WR manufactured by Oji Scientific Instruments Co., Ltd. by the parallel Nicol rotation method. It is also possible to measure using the Mueller matrix with AxoScan made by. In the present specification, unless otherwise stated, the Re value means a value at a wavelength of 589 nm.

第1態様における第2層表面に形成される微小なライン状凹凸構造の断面形状および高さ、幅、周期、形成方法等の詳しい内容については、「2.第1凹凸構造形成工程」の項で説明したものと同様とすることができるので、ここでの記載は省略する。   For detailed contents such as the cross-sectional shape and height, width, period, and forming method of the fine line-shaped uneven structure formed on the surface of the second layer in the first aspect, refer to “2. First uneven structure forming step”. Since it can be the same as that described in FIG.

(2)45°異なる場合
本態様の微小なライン状凹凸構造は、上記第1層および第2層の表面で45°異なるものである。
このような本態様の微小なライン状凹凸構造としては、上記第1層および第2層の表面で45°異なるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、原版がロール版である場合には、ロールの回転方向に対して第1層および第2層の微小なライン状凹凸構造の形成方向(第1層/第2層)が、0°/45°、180°/135°であることが好ましい。
このように上記微小なライン状凹凸構造の形成方向が45°異なる方向の場合、本態様の微小なライン状凹凸構造を有する3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて第1配向領域および第2配向領域が形成された配向膜を形成した場合には、上記第1位相差領域および第2位相差領域の面内レターデーション値をλ/2分に相当するものとし、さらに、λ/4板と組み合わせて用いることにより、容易に3D表示装置を製造するために好適に用いられるものにできるからである。
図10は、第1層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造11および第2層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造31の方向が0°/45°、図11は180°/135°の場合のロール版表面を示すものである。
なお、図10、図11中の符号については、図3のものと同一の部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。また、図中の矢印は、微小なライン状凹凸構造の形成方向を示すものである。
(2) When 45 ° is different The minute line-shaped uneven structure of this aspect is 45 ° different between the surfaces of the first layer and the second layer.
Such a fine line-shaped uneven structure of this embodiment is not particularly limited as long as it differs by 45 ° on the surfaces of the first layer and the second layer. For example, when the original plate is a roll plate The direction of formation of the fine line-shaped uneven structure of the first layer and the second layer (first layer / second layer) is 0 ° / 45 °, 180 ° / 135 ° with respect to the rotation direction of the roll. Preferably there is.
Thus, when the formation direction of the fine line-shaped uneven structure is a direction different by 45 °, the first alignment region and the first alignment region are formed using the three-dimensional display pattern alignment film master having the fine line-shaped uneven structure according to this aspect. When an alignment film in which two alignment regions are formed is formed, the in-plane retardation values of the first retardation region and the second retardation region correspond to λ / 2, and further, λ / 4 It is because it can be used suitably for manufacturing a 3D display device easily by using it in combination with a plate.
In FIG. 10, the direction of the minute line-like uneven structure 11 formed on the surface of the first layer and the minute line-like uneven structure 31 formed on the surface of the second layer are 0 ° / 45 °, and FIG. The roll plate surface in the case of ° / 135 ° is shown.
10 and 11 indicate the same members as those shown in FIG. 3, and a description thereof will be omitted here. Moreover, the arrow in a figure shows the formation direction of a fine line-shaped uneven structure.

ここで、このような位相差領域を有するパターン位相差フィルムと、λ/4板と組み合わせることにより、容易に3D表示装置を製造することができる点について、より詳細に説明する。図12は、本発明の製造方法により製造される原版を用いて形成されたパターン位相差フィルムと、λ/4板とを組み合わせて用い、3次元表示可能な液晶表示装置を作製した場合の一例を示す概略図である。図12に示すように、本発明の製造方法により製造される原版を用いて形成されたパターン位相差フィルムと、λ/4板を組み合わせて用いる液晶表示装置は、パッシブ方式により3次元表示が可能なものとなる。その原理は次の通りである。
まず、発光型ディスプレイの画素部を、右目用映像表示画素と左目用映像表示画素の2種類の複数の画素にパターン状に分割し、一方のグループの画素では右目用の映像を表示させ、他方のグループの画素では左目用の映像を表示させる。次に、パターン位相差フィルムとして、位相差層の第1位相差領域が左目用映像表示画素の配列パターンに対応するように形成され、かつ第2位相差領域が右目用映像表示画素の配列パターンに対応するように形成されたものを用意する。そして、このようなパターン位相差フィルムを、偏光板の表示面側に配置し、さらにλ/4板をパターン位相差フィルムの表示面側に配置する。このとき、第1位相差領域の遅相軸の方向と、偏光板の偏光軸の方向とが45°で交差するようにし、さらに第1位相差領域の遅相軸方向とλ/4板の遅相軸方向とが平行または直交の関係になるようにする。このようにパターン位相差フィルムとλ/4板とを配置することによって、右目用映像表示画素および左目用映像表示画素によって表示された映像(以下、それぞれ「右目用映像」、「左目用映像」と称する場合がある。)は、次のような経路で観察者に視認されることになる。
すなわち、右目用映像表示画素および左目用映像表示画素によって表示された各映像は、まず、偏光板を透過することから、それぞれが直線偏光に変換されることになる。ここで、図12においては、偏光板の偏光軸は0°方向となっているため、偏光板を透過した各映像も、0°方向の直線偏光となる。次に、このように直線偏光(0°)に変換された各映像は、パターン位相差フィルムに入射することになるが、左目用映像は第1位相差領域を通過し、右目用映像は第2位相差領域を通過するため、左目用映像は偏光軸が90°の直線偏光(L1)として、パターン位相差フィルムを透過するが、右目用映像には変化はなく、偏光軸が0°の直線偏光(L2)のままパターン位相差フィルムを透過することになる。次に、L1およびL2がλ/4板に入射することにより、左目用映像は右旋回の円偏光(C1)に、右目用映像は左旋回の円偏光(C2)に、それぞれ変換されることになる。
このように、パターン位相差フィルムおよびλ/4板を通過した右目用映像および左目用映像は、互いに直交する円偏光に変換されることになるため、視聴者に右目用レンズと左目用レンズとに互いに直交する円偏光レンズを採用した円偏光メガネを装着させ、右目用映像が右目用レンズのみを通過し、かつ左目用映像が左目用レンズのみを通過するようにすることによって、右目用映像が右目のみに届き、左目用映像が左目のみに届くようにすることができ、3次元表示が可能となるのである。
Here, the point that a 3D display device can be easily manufactured by combining a pattern retardation film having such a retardation region and a λ / 4 plate will be described in more detail. FIG. 12 shows an example of a case where a liquid crystal display device capable of three-dimensional display is produced using a combination of a pattern retardation film formed using an original produced by the production method of the present invention and a λ / 4 plate. FIG. As shown in FIG. 12, a liquid crystal display device using a combination of a pattern retardation film formed by using an original plate manufactured by the manufacturing method of the present invention and a λ / 4 plate enables three-dimensional display by a passive method. It will be something. The principle is as follows.
First, the pixel portion of the light-emitting display is divided into a plurality of two types of pixels, a right-eye video display pixel and a left-eye video display pixel, and a right-eye video is displayed on one group of pixels, The left eye image is displayed on the pixels of the group. Next, as the pattern retardation film, the first retardation region of the retardation layer is formed so as to correspond to the arrangement pattern of the left-eye image display pixels, and the second retardation region is the arrangement pattern of the right-eye image display pixels. Prepare one that is formed to correspond to. And such a pattern phase difference film is arrange | positioned at the display surface side of a polarizing plate, Furthermore, (lambda) / 4 board is arrange | positioned at the display surface side of a pattern phase difference film. At this time, the direction of the slow axis of the first retardation region and the direction of the polarization axis of the polarizing plate intersect at 45 °, and further, the slow axis direction of the first retardation region and the λ / 4 plate The slow axis direction should be parallel or orthogonal. By disposing the pattern retardation film and the λ / 4 plate in this manner, images displayed by the right-eye image display pixel and the left-eye image display pixel (hereinafter referred to as “right-eye image” and “left-eye image”, respectively) Is visually recognized by the observer through the following route.
That is, each image displayed by the right-eye image display pixel and the left-eye image display pixel first passes through the polarizing plate, and thus is converted into linearly polarized light. Here, in FIG. 12, since the polarization axis of the polarizing plate is in the 0 ° direction, each image transmitted through the polarizing plate is also linearly polarized light in the 0 ° direction. Next, each image converted into linearly polarized light (0 °) in this way enters the pattern phase difference film, but the image for the left eye passes through the first phase difference region, and the image for the right eye is the first image. Since it passes through the two phase difference regions, the left-eye image is transmitted through the pattern retardation film as linearly polarized light (L1) having a polarization axis of 90 °, but the right-eye image has no change and the polarization axis is 0 °. The pattern retardation film is transmitted through the linearly polarized light (L2). Next, when L1 and L2 are incident on the λ / 4 plate, the left-eye image is converted into right-handed circularly polarized light (C1), and the right-eye image is converted into left-handed circularly polarized light (C2). It will be.
As described above, the right-eye image and the left-eye image that have passed through the pattern retardation film and the λ / 4 plate are converted into circularly polarized light orthogonal to each other. Wearing circularly polarized glasses with circularly polarized lenses that are orthogonal to each other so that the right-eye image passes only through the right-eye lens and the left-eye image passes only through the left-eye lens. Can reach only the right eye, and the left-eye video can reach only the left eye, and three-dimensional display becomes possible.

本態様における第2層表面に形成される微小なライン状凹凸構造の断面形状および高さ、幅、周期、形成方法等の詳しい内容については、「2.第1凹凸構造形成工程」の項で説明したものと同様とすることができるので、ここでの記載は省略する。   For detailed contents such as the cross-sectional shape and height, width, period, and formation method of the fine line-shaped concavo-convex structure formed on the surface of the second layer in this aspect, refer to “2. First concavo-convex structure forming step”. Since it can be the same as that described, description thereof is omitted here.

5.レジスト形成工程
本態様におけるレジスト形成工程は、図1(e)に示すように上記第1凹凸構造形成工程後の第1層1の表面に、平行な帯状にレジスト2を形成する工程である。
5. Resist Forming Step The resist forming step in this embodiment is a step of forming a resist 2 in a parallel strip shape on the surface of the first layer 1 after the first concavo-convex structure forming step as shown in FIG.

まず、本工程に用いられるレジスト材料としては、後述する第2層剥離工程において用いられるエッチング液に対して耐性を有し、かつ後述する第2層を形成した後、剥離することが可能であれば特に限定されるものではなく、ポジ型レジスト材料(光照射部分が溶解するもの)およびネガ型レジスト材料(光照射部分が固まるもの)のいずれも用いることができる。ポジ型レジスト材料としては、例えばノボラック樹脂をベース樹脂とした化学増幅型レジスト等が挙げられる。また、ネガ型レジスト材料としては、例えば架橋型樹脂をベースとした化学増幅型レジスト、具体的にはポリビニルフェノールに架橋剤を加え、さらに酸発生剤を加えた化学増幅型レジスト等が挙げられる。   First, the resist material used in this step should be resistant to the etching solution used in the second layer peeling step described later, and can be peeled off after the second layer described later is formed. There is no particular limitation, and any of a positive resist material (which dissolves the light-irradiated portion) and a negative resist material (which solidifies the light-irradiated portion) can be used. Examples of the positive resist material include a chemically amplified resist using a novolac resin as a base resin. Examples of the negative resist material include a chemically amplified resist based on a crosslinked resin, specifically, a chemically amplified resist obtained by adding a crosslinking agent to polyvinylphenol and further adding an acid generator.

このようなレジスト材料を塗工してレジスト膜を形成する方法としては、一般的な塗工方法を用いることができ、例えばスピンコート法、キャスティング法、ディッピング法、バーコート法、ブレードコート法、ロールコート法、グラビアコート法、フレキソ印刷法、スプレーコート法等を使用することができる。   As a method of forming a resist film by applying such a resist material, a general coating method can be used, for example, a spin coating method, a casting method, a dipping method, a bar coating method, a blade coating method, A roll coating method, a gravure coating method, a flexographic printing method, a spray coating method, or the like can be used.

その後、上記レジスト膜を平行な帯状に露光する方法としては、通常のフォトマスク描画に用いられる電子線描画法、もしくはレーザー描画法等を用いることができる。また、マスクを介して紫外線照射を行う方法を用いることもできる。
本工程においては、なかでも、レーザー描画法であることが好ましい。上記金属基材の形状がロール状である場合であっても、精度良くパターン状に露光することができるからである。
また、露光後のレジスト膜の現像方法としては、一般的な現像方法を用いることができる。
Thereafter, as a method of exposing the resist film in parallel strips, an electron beam drawing method or a laser drawing method used for normal photomask drawing can be used. Alternatively, a method of performing ultraviolet irradiation through a mask can be used.
In this step, the laser drawing method is particularly preferable. This is because even if the shape of the metal substrate is a roll shape, the pattern can be accurately exposed.
Moreover, as a developing method of the resist film after exposure, a general developing method can be used.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版においては、レジストが形成される形状によって、図1(g)に示す本態様により製造される3次元表示用パターン配向膜用原版100の第1層1に形成される微小なライン状の凹凸構造11の幅W1’および第2層3に形成される微小なライン状の凹凸構造31の幅W2’が画定される。   In the three-dimensional display pattern alignment film original plate of this aspect, the first layer of the three-dimensional display pattern alignment film original plate 100 manufactured according to this aspect shown in FIG. The width W1 ′ of the minute line-shaped uneven structure 11 formed in 1 and the width W2 ′ of the minute line-shaped uneven structure 31 formed in the second layer 3 are defined.

本工程において形成されるレジストの形成方向、すなわち、平行な帯状の方向としては、図2に示すように、上記3次元表示用パターン配向膜用原版100がロール版である場合には、第1層1および第2層3がロールの回転方向に沿った方向であることが好ましい。   The resist forming direction formed in this step, that is, the direction of the parallel strips, is the first when the three-dimensional display pattern alignment film original plate 100 is a roll plate as shown in FIG. It is preferable that the layer 1 and the 2nd layer 3 are the directions along the rotation direction of a roll.

また、図1(e)に示すようにレジスト2の幅W1および隣接する各レジスト2の間隙の幅W2としては、それぞれ異なっていてもよく、あるいは同一であってもよい。しかしながら、本態様においては、レジスト2の幅W1および隣接する各レジスト2の間隙の幅W2は同一であることが好ましい。
通常、3次元表示可能な液晶表示装置等では、右目用の画素と左目用の画素部が同一の幅で形成されていることから、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の第1層に形成される微小なライン状の凹凸構造の幅(W1’)および第2層に形成される微小なライン状の凹凸構造の幅(W2’)(すなわち、図1(e)においては、レジスト2の幅W1と隣接する各レジスト2の間隙の幅W2)を同一にすることにより、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いてパターン配向膜を製造した際、第1層および第2層の微小なライン状の凹凸構造に対応して形成される上記パターン配向膜の第1配向領域および第2配向領域の幅を同一にすることができるからである。その結果、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版により形成されるパターン配向膜を3次元表示可能な液晶表示装置に用いる場合に、上記第1配向領域および上記第2配向領域が形成されたパターンと、液晶表示装置に用いられるカラーフィルタにおいて画素部が形成されているパターンとを対応関係にすることが容易になり、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版により形成されるパターン配向膜を用いて容易に3D液晶表示装置を製造することができるようになるからである。
また、発光型表示装置に用いられる画素部も同一の幅で形成されていることから、上記第1配向領域および上記第2配向領域の幅を同一幅とすることにより、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版により形成されるパターン配向膜を3次元表示可能な発光型表示装置に用いる場合に、上記第1配向領域および上記第2配向領域が形成されたパターンと、発光型表示装置に用いられる画素部が形成されているパターンとを対応関係にすることが容易になり、その結果、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版により形成されるパターン配向膜を用いて容易に3D発光型表示装置を製造することができるようになるからである。
Further, as shown in FIG. 1E, the width W1 of the resist 2 and the width W2 of the gap between the adjacent resists 2 may be different or the same. However, in this embodiment, the width W1 of the resist 2 and the width W2 of the gap between the adjacent resists 2 are preferably the same.
Usually, in a liquid crystal display device or the like capable of three-dimensional display, the right-eye pixel and the left-eye pixel portion are formed with the same width. Therefore, the first three-dimensional display pattern alignment film master of the present invention is used. The width (W1 ′) of the minute line-shaped uneven structure formed in the layer and the width (W2 ′) of the minute line-shaped uneven structure formed in the second layer (that is, in FIG. 1 (e), When the pattern alignment film is manufactured using the master for pattern alignment film for three-dimensional display of the present invention by making the width W1 of the resist 2 and the width W2 of the gap between adjacent resists 2 the same, the first layer This is because the width of the first alignment region and the second alignment region of the pattern alignment film formed corresponding to the minute line-shaped uneven structure of the second layer can be made the same. As a result, the first alignment region and the second alignment region are formed when the pattern alignment film formed from the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of the present invention is used in a liquid crystal display device capable of three-dimensional display. The pattern formed by the master for a three-dimensional display pattern alignment film according to this aspect can be easily associated with the pattern in which the pixel portion is formed in the color filter used in the liquid crystal display device. This is because a 3D liquid crystal display device can be easily manufactured using the alignment film.
Further, since the pixel portion used in the light emitting display device is also formed with the same width, the width of the first alignment region and the second alignment region is set to the same width, so that the three-dimensional display of the present invention is performed. When the pattern alignment film formed from the pattern alignment film master for use is used in a light-emitting display device capable of three-dimensional display, the pattern in which the first alignment region and the second alignment region are formed, and the light-emitting display device It is easy to make the correspondence with the pattern in which the pixel portion used in the present invention is formed, and as a result, it is easy to use the pattern alignment film formed by the three-dimensional display pattern alignment film master of this aspect. This is because a 3D light emitting display device can be manufactured.

図1(e)に示すレジスト2の幅W1および隣接する各レジスト2の間隙の幅W2の具体的な幅(図1(g)においては、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版100の第1層1の幅W1’および第2層3の幅W2’)としては、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて形成されるパターン配向膜の用途に応じて適宜決定される。例えば、3次元表示可能な液晶表示装置を製造するために使用する場合、レジスト2の幅W1および隣接する各レジスト2の間隙の幅W2の幅は3次元表示可能な液晶表示装置の右目用、左目用の画素部が形成されている幅に対応するように適宜決定されることになる。このようにレジスト2の幅W1および隣接する各レジスト2の間隙の幅W2は特に限定されるものではないが、通常、50μm〜1000μmの範囲内であることが好ましく、100μm〜600μmの範囲内であることがより好ましい。   A specific width of the width W1 of the resist 2 and the width W2 of the gap between the adjacent resists 2 shown in FIG. 1 (e) (in FIG. 1 (g), the original 100 for a pattern alignment film for three-dimensional display of the present invention is used. The width W1 ′ of the first layer 1 and the width W2 ′ of the second layer 3) are appropriately determined according to the use of the pattern alignment film formed using the pattern alignment film master for three-dimensional display of this embodiment. Is done. For example, when used for manufacturing a liquid crystal display device capable of three-dimensional display, the width W1 of the resist 2 and the width W2 of the gap between adjacent resists 2 are for the right eye of the liquid crystal display device capable of three-dimensional display. It is determined appropriately so as to correspond to the width in which the pixel portion for the left eye is formed. As described above, the width W1 of the resist 2 and the width W2 of the gap between the adjacent resists 2 are not particularly limited, but are usually preferably in the range of 50 μm to 1000 μm, and in the range of 100 μm to 600 μm. More preferably.

6.第2層剥離工程
本態様における第2層剥離工程は、図1(f)に示すように上記レジスト2を平行な帯状に形成した後、露出した第2層3を剥離する工程である。
6). Second Layer Stripping Step The second layer stripping step in this embodiment is a step of stripping the exposed second layer 3 after forming the resist 2 in a parallel strip shape as shown in FIG.

上記第2層剥離工程における第2層の剥離方法としては、第1層の表面に形成され、レジスト形成工程後、露出した第2層のみを選択的に除去でき、かつ第1層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造に変化を与えない方法であれば特に限定されるものではないが、例えば、エッチング液を用いてエッチングする方法を挙げることができる。   As the second layer peeling method in the second layer peeling step, only the exposed second layer formed on the surface of the first layer can be selectively removed after the resist forming step, and the surface of the first layer can be removed. Although it will not specifically limit if it is a method which does not change the formed fine line-shaped uneven structure, For example, the method of etching using an etching liquid can be mentioned.

本工程においては、エッチング液を基材に塗布することにより、ウェットエッチングを行っても良く、エッチング液に基材を浸漬することにより、ウェットエッチングを行っても良い。また、ウェットエッチングを行う時間は、基材がエッチングされるエッチングレートを参考にして、所望の形状となるように適宜調整する。   In this step, wet etching may be performed by applying an etching solution to the substrate, or wet etching may be performed by immersing the substrate in the etching solution. In addition, the time for performing wet etching is appropriately adjusted so as to obtain a desired shape with reference to the etching rate at which the substrate is etched.

本工程に用いられるエッチング液としては、第2層形成材料をエッチングすることができ、かつ第1層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造に変化を与えないエッチング液であれば特に限定されず、第2層形成材料および上記第2層が積層される第1層の形成材料に応じて異なるものである。例えば、塩酸、混酸、過酸化水素水、アンモニア水、有機アルカリ等を挙げることができる。
また、第1層形成材料がクロム系材料であり、上記第2層形成材料がチタン系材料である場合には、フッ酸や、水酸化カリウムと過酸化液との混合溶液を用いることができ、なかでも水酸化カリウムと過酸化水素との混合溶液を好ましく用いることができる。
さらに、上記第1層形成材料がチタン系材料であり、上記第2層形成材料がクロム系材料である場合には、硝酸セリウム第二アンモンと過塩素酸との混合溶液や、硫酸とリン酸との混合溶液を用いることができ、なかでも硝酸セリウム第二アンモン溶液と過塩素酸との混合溶液を好ましく用いることができる。
The etching solution used in this step is not particularly limited as long as it can etch the second layer forming material and does not change the minute line-shaped uneven structure formed on the surface of the first layer. However, it differs depending on the second layer forming material and the first layer forming material on which the second layer is laminated. For example, hydrochloric acid, mixed acid, hydrogen peroxide water, ammonia water, organic alkali, etc. can be mentioned.
When the first layer forming material is a chromium-based material and the second layer forming material is a titanium-based material, hydrofluoric acid or a mixed solution of potassium hydroxide and a peroxide solution can be used. Of these, a mixed solution of potassium hydroxide and hydrogen peroxide can be preferably used.
Further, when the first layer forming material is a titanium-based material and the second layer forming material is a chromium-based material, a mixed solution of cerium nitrate second ammonium and perchloric acid, sulfuric acid and phosphoric acid are used. In particular, a mixed solution of cerium nitrate second ammonium solution and perchloric acid can be preferably used.

7.レジスト剥離工程
本態様におけるレジスト剥離工程は、図1(g)に示すように露出した上記第2層3を剥離した後、残った第2層上のレジスト2を剥離する工程である。
7). Resist stripping process
The resist stripping step in this embodiment is a step of stripping the remaining resist 2 on the second layer after stripping the exposed second layer 3 as shown in FIG.

上記レジスト剥離工程におけるレジストの剥離方法としては、一般的なレジストの剥離方法を用いることができる。具体的には、酸素プラズマ処理による灰化や、有機アルカリ液による洗浄によって行う方法を挙げることができる。本態様においては、有機アルカリ液等の剥離剤を塗布することにより、レジストを剥離することが好ましい。レジストを剥離する操作がより簡易的であるからである。   As a resist stripping method in the resist stripping step, a general resist stripping method can be used. Specifically, a method of ashing by oxygen plasma treatment or cleaning with an organic alkali solution can be exemplified. In this embodiment, it is preferable to remove the resist by applying a release agent such as an organic alkali solution. This is because the operation of stripping the resist is simpler.

8.その他の工程
本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法は、第1層形成工程、第1凹凸構造形成工程、レジスト形成工程、第2層形成工程、レジスト剥離工程、保護層形成工程、第2凹凸構造形成工程および保護層剥離工程を有するものであるが、必要に応じてその他の工程を有するものであっても良い。
このようなその他の工程としては、例えば、上記第1凹凸構造形成工程および第2凹凸構造形成工程として切削加工を施した際に、第1層または第2層の表面を切削することで生じる研磨カスを除去する除去工程等を挙げることができる。なお、除去方法としては、例えば、吸引する方法や、溶剤等を用いて除去する方法等を挙げることができる。
また、第1層および第2層の間に接着層を設ける接着層形成工程を挙げることができる。
以下、接着層形成工程について説明する。
8). Other Steps The manufacturing method of the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film according to this aspect includes a first layer forming step, a first uneven structure forming step, a resist forming step, a second layer forming step, a resist peeling step, and a protective layer forming. Although it has a process, a 2nd uneven | corrugated structure formation process, and a protective layer peeling process, you may have another process as needed.
As such other processes, for example, polishing performed by cutting the surface of the first layer or the second layer when the first concavo-convex structure forming process and the second concavo-convex structure forming process are performed. Examples include a removal step for removing waste. Examples of the removal method include a suction method, a removal method using a solvent, and the like.
Moreover, the contact bonding layer formation process which provides an contact bonding layer between a 1st layer and a 2nd layer can be mentioned.
Hereinafter, the adhesive layer forming step will be described.

本態様における接着層形成工程は、レジスト形成工程後、露出した第1層の表面に接着層を形成する工程である。
接着層を形成する方法としては、第1層の表面に形成でき、かつ第1層と第2層との接着性を向上することができれば特に限定されるものではない。また、接着層の形成方法は、上記接着層に用いられる接着性樹脂の種類等に応じて適宜選択されるものである。
The adhesive layer forming step in this aspect is a step of forming an adhesive layer on the exposed surface of the first layer after the resist forming step.
The method for forming the adhesive layer is not particularly limited as long as the adhesive layer can be formed on the surface of the first layer and the adhesion between the first layer and the second layer can be improved. Moreover, the formation method of an adhesive layer is suitably selected according to the kind etc. of adhesive resin used for the said adhesive layer.

このような接着層の材料としては、接着性樹脂を含有し、第1層と第2層とを所望の接着力で接着できるものであれば特に限定されるものではない。従って、上記接着性樹脂の種類は、第1層および第2層の種類によって適宜選択されものになる。本態様に用いられる接着性樹脂としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリイソブチレン、ポリスチレン、エチレン‐プロピレンゴム等のポリオレフィン、エチレン‐酢酸ビニル共重合体、エチレン‐アクリル酸共重合体、エチルセルロース、トリ酢酸セルロース等のセルロース誘導体、ポリ(メタ)アクリル酸とそのエステルとの共重合体、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアルコール、ポリビニルブチラール等のポリビニルアセタール、ポリアセタール、ポリアミド、ポリイミド、ナイロン、ポリエステル樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂等を挙げることができる。   The material for the adhesive layer is not particularly limited as long as it contains an adhesive resin and can bond the first layer and the second layer with a desired adhesive force. Accordingly, the type of the adhesive resin is appropriately selected depending on the types of the first layer and the second layer. Examples of the adhesive resin used in this embodiment include polyethylene, polypropylene, polyisobutylene, polystyrene, polyolefin such as ethylene-propylene rubber, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-acrylic acid copolymer, ethyl cellulose, triacetic acid. Cellulose derivatives such as cellulose, copolymers of poly (meth) acrylic acid and its esters, polyvinyl acetals such as polyvinyl acetate, polyvinyl alcohol, polyvinyl butyral, polyacetals, polyamides, polyimides, nylons, polyester resins, urethane resins, epoxies Examples thereof include resins.

なお、本発明に用いられる接着性樹脂は1種類のみであってもよく、あるいは、2種類以上であってもよい。   In addition, the adhesive resin used for this invention may be only 1 type, or 2 or more types may be sufficient as it.

本発明に用いられる接着層の厚みは、上記接着性樹脂の種類等に応じて上記第1層と上記第2層とを所望の接着力で接着できる範囲内であれば特に限定されるものではない。   The thickness of the adhesive layer used in the present invention is not particularly limited as long as it is within a range in which the first layer and the second layer can be bonded with a desired adhesive force depending on the type of the adhesive resin and the like. Absent.

B.第2態様
本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版において、第1層および第2層の表面の微小なライン状凹凸構造が同一方向に形成される態様の製造方法である。
B. 2nd aspect It is a manufacturing method of the aspect in which the fine line-shaped uneven structure of the surface of a 1st layer and a 2nd layer is formed in the same direction in the original for pattern alignment films for three-dimensional displays of this invention.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法について図を参照して説明する。
図1は、第1態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法の一例を示す工程図であり、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法は、上述した第1態様の製造方法と同様とすることができるので、ここでの詳しい説明は省略する。
なお、図1(a)が第1層形成工程、(b)が第1凹凸構造形成工程、(c)が第2層形成工程、(d)が第2凹凸構造形成工程、(e)がレジスト形成工程、(f)が第2層剥離工程、(g)がレジスト剥離工程である。
A method for manufacturing the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of this embodiment will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a process diagram showing an example of a method for manufacturing a three-dimensional display pattern alignment film master according to the first aspect. The method for manufacturing a three-dimensional display pattern alignment film according to the first aspect includes the first method described above. Since it can be the same as the manufacturing method of an aspect, detailed description here is abbreviate | omitted.
1A is a first layer forming step, FIG. 1B is a first uneven structure forming step, FIG. 1C is a second layer forming step, FIG. 1D is a second uneven structure forming step, and FIG. The resist forming step, (f) is the second layer peeling step, and (g) is the resist peeling step.

次に、このような製造方法によって得られる3次元表示用パターン配向膜用原版100について図を参照して説明する。図2は本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版の一例を示す概略図である。図13は3次元表示用パターン配向膜用原版100の表面を示す概略平面図であり、図14は図12のB−B線断面図である。
図13、図14に例示するように、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版100は、表面に微小なライン状凹凸構造11が略一定方向に形成された金属材料または無機材料からなる第1層1と、上記第1層1上に平行な帯状に形成され、表面に微小なライン状凹凸構造31が略一定方向に形成された金属材料または無機材料からなる第2層3と、を有し、上記微小なライン状凹凸構造11、31の形成方向が、上記第1層1および第2層3の表面、すなわち、上記第2層3に隣接する露出した第1層1および第2層3の表面で同一となるものである。
なお、図2は、上記3次元表示用パターン配向膜用原版100がロール状であるロール版である場合の一例である。図13が図2に示す3次元表示用パターン配向膜用原版100の表面である場合、上記第1層1および第2層3表面の上記微小なライン状凹凸構造11、31の形成方向が、3次元表示用パターン配向膜用原版(ロール版)100の回転方向に対して45°であり、同一となるものである。また、図13中の矢印は、微小なライン状凹凸構造11、31の形成方向を示すものである。
Next, the master plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film obtained by such a manufacturing method will be described with reference to the drawings. FIG. 2 is a schematic view showing an example of a three-dimensional display pattern alignment film master according to the present invention. 13 is a schematic plan view showing the surface of the original plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film, and FIG. 14 is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG.
As illustrated in FIG. 13 and FIG. 14, the pattern alignment film original plate 100 for the three-dimensional display according to the present embodiment is made of a metal material or an inorganic material on the surface of which a fine line-shaped uneven structure 11 is formed in a substantially constant direction. A first layer 1 and a second layer 3 formed of a metal material or an inorganic material formed in a parallel strip shape on the first layer 1 and having a fine line-shaped uneven structure 31 formed on the surface in a substantially constant direction; The formation direction of the minute line-shaped uneven structures 11 and 31 is such that the surface of the first layer 1 and the second layer 3, that is, the exposed first layer 1 and the second layer 3 adjacent to the second layer 3. It is the same on the surface of the two layers 3.
FIG. 2 shows an example in which the original plate 100 for a three-dimensional display pattern alignment film is a roll plate having a roll shape. When FIG. 13 is the surface of the three-dimensional display pattern alignment film master 100 shown in FIG. 2, the formation direction of the minute line-shaped uneven structures 11 and 31 on the surfaces of the first layer 1 and the second layer 3 is as follows. It is 45 ° with respect to the rotation direction of the original plate (roll plate) 100 for the three-dimensional display pattern alignment film, and is the same. Moreover, the arrow in FIG. 13 shows the formation direction of the minute line-shaped uneven structures 11 and 31.

次に、本態様における3次元表示用パターン配向膜用原版の表面における第1層および第2層の表面までの厚みは互いに異なる。このような3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて製造される配向膜を使用したパターン位相差フィルムについて、図を参照して説明する。図15(a)は、3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて製造される配向膜を使用したパターン位相差フィルムを示す概略図であり、図15(b)は、図15(a)の点線で囲った領域を拡大した概略図である。
パターン位相差フィルム300は、位相差層9において第2層の厚みに相当する分だけ異なる位相差値を示すパターンが形成されるものである。このため、本態様における第2層の厚みは、第1位相差領域9Aと第2位相差領域9Bとの位相差値の差をどの程度にするかによって適宜決定されるものである。
また、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて製造された配向膜により得られるパターン位相差フィルム300(300A)は、上記3次元表示用パターン配向膜用原版の第1層および第2層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造の形成方向が同一方向であるため、配向膜8における第1配向領域8Aおよび第2配向領域8B表面の微小なライン状凹凸構造の形成方向も同一方向となり、これにより、位相差層9の第1位相差領域9Aおよび第2位相差領域9Bに含まれる棒状化合物10は同一方向を向くように配列される。
なお、図15中の符号については、図5のものと同一部材を示すものであるので、ここでの説明は省略する。
Next, the thickness to the surface of the 1st layer and the 2nd layer in the surface of the original for pattern orientation film for three-dimensional displays in this mode differs mutually. A pattern retardation film using an alignment film manufactured using such a three-dimensional display pattern alignment film master will be described with reference to the drawings. FIG. 15A is a schematic diagram showing a pattern retardation film using an alignment film manufactured using a pattern alignment film master for three-dimensional display, and FIG. It is the schematic which expanded the area | region enclosed with the dotted line.
The pattern retardation film 300 is formed with a pattern showing a retardation value that is different in the retardation layer 9 by an amount corresponding to the thickness of the second layer. For this reason, the thickness of the second layer in this aspect is appropriately determined depending on how much the difference in the retardation value between the first retardation region 9A and the second retardation region 9B is.
In addition, the pattern retardation film 300 (300A) obtained from the alignment film manufactured using the three-dimensional display pattern alignment film original plate according to the present aspect includes the first layer of the three-dimensional display pattern alignment film original plate and Since the formation direction of the minute line-shaped uneven structure formed on the surface of the second layer is the same direction, formation of the minute line-shaped uneven structure on the surface of the first alignment region 8A and the second alignment region 8B in the alignment film 8 The direction is also the same direction, whereby the rod-shaped compounds 10 included in the first retardation region 9A and the second retardation region 9B of the retardation layer 9 are arranged to face the same direction.
In addition, about the code | symbol in FIG. 15, since it shows the same member as the thing of FIG. 5, description here is abbreviate | omitted.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法による効果は、上述した第1態様の製造方法の効果と同様である。   The effect of the manufacturing method of the original for pattern alignment film for three-dimensional display of this aspect is the same as the effect of the manufacturing method of the first aspect described above.

第1態様に記載した3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法についての効果の他に、本態様によれば、第1層および第2層の厚みが3次元表示用パターン配向膜用原版とすることにより、第1配向領域および第2配向の厚みが異なる配向膜を得ることができる。配向膜は、パターン位相差フィルムを構成するものであり、位相差層に含まれる棒状化合物を配列させる機能を有するものである。本態様においては、第1配向領域および第2配向領域の厚みの差に相当する分だけ異なった位相差値を示す配向膜を製造する3次元表示用パターン配向膜用原版とすることができる。
従来、第1配向領域と第2配向領域とで異なる配向となるように棒状化合物が配列される場合、第1配向領域と第2配向領域の境界において配向が乱れるといった問題があった。しかしながら、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版により得られる配向膜は、第1配向領域および第2配向領域の厚みが異なるため、第1配向領域と第2配向領域との境界を明瞭にし、隣接する第1配向領域と第2配向領域とのパターンの境界近傍に生じ易い液晶の配向欠陥を抑制することができる。これにより、境界近傍からの光漏れを抑制でき、その結果、ディスプレイに使用した際のコントラストの低下を抑制することができる高品質な配向膜とすることができる。
In addition to the effects of the method for producing the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film described in the first aspect, according to this aspect, the thickness of the first layer and the second layer is a three-dimensional display pattern alignment film original plate. By doing so, alignment films having different thicknesses of the first alignment region and the second alignment can be obtained. The alignment film constitutes a pattern retardation film and has a function of arranging rod-shaped compounds contained in the retardation layer. In this embodiment, it is possible to provide a three-dimensional display pattern alignment film original plate for manufacturing an alignment film having different retardation values corresponding to the difference in thickness between the first alignment region and the second alignment region.
Conventionally, when the rod-shaped compounds are arranged so that the first alignment region and the second alignment region have different alignments, there is a problem that the alignment is disturbed at the boundary between the first alignment region and the second alignment region. However, since the thickness of the first alignment region and the second alignment region is different in the alignment film obtained from the three-dimensional display pattern alignment film master according to this aspect, the boundary between the first alignment region and the second alignment region is clear. In addition, it is possible to suppress alignment defects of the liquid crystal that are likely to occur in the vicinity of the pattern boundary between the adjacent first alignment region and the second alignment region. Thereby, the light leakage from the boundary vicinity can be suppressed, As a result, it can be set as the high quality alignment film which can suppress the fall of the contrast at the time of using for a display.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法は、第1層形成工程、第1凹凸構造形成工程、第2層形成工程、第2凹凸構造形成工程、レジスト形成工程、第2層剥離工程、レジスト剥離工程を有するものである。   The manufacturing method of the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film according to this aspect includes a first layer forming step, a first concavo-convex structure forming step, a second layer forming step, a second concavo-convex structure forming step, a resist forming step, and a second layer. It has a peeling process and a resist peeling process.

本態様における製造方法は、第1凹凸構造形成工程および第2凹凸構造形成工程において、微小なライン状凹凸構造を同一方向に形成し、第2層の厚みが所定の厚みとなるように形成すること以外は、上述した第1態様に記載したものと同様とすることができるので、各工程の詳細な説明については省略する。
以下、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版において、第1層および第2層の厚みについて、また、その表面に同一方向に形成される微小なライン状凹凸構造について説明する。
In the manufacturing method in this aspect, in the first concavo-convex structure forming step and the second concavo-convex structure forming step, a minute line-shaped concavo-convex structure is formed in the same direction, and the second layer is formed to have a predetermined thickness. Since it can be the same as that of what was described in the 1st aspect mentioned above except for this, detailed description of each process is abbreviate | omitted.
In the following, the thickness of the first layer and the second layer and the minute line-shaped concavo-convex structure formed in the same direction on the surface of the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of this embodiment will be described.

ここで、本態様により形成される第2層の厚みは、通常、本態様の製造方法により製造される3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて作製される配向膜を用いたパターン位相差フィルムにおいて、第1位相差領域と第2位相差領域との位相差値の差をどの程度にするかによって適宜決定されるものである。以下、この点について説明する。   Here, the thickness of the second layer formed according to this aspect is usually a pattern phase difference using an alignment film produced using a three-dimensional display pattern alignment film original plate produced by the production method of this aspect. In the film, it is determined as appropriate depending on how much the difference in the retardation value between the first retardation region and the second retardation region is. Hereinafter, this point will be described.

本態様により製造される3次元表示用パターン配向膜用原版は、第1層の表面上に第2層を有することから、3次元表示用パターン配向膜用原版の表面に凸部と凹部とを有するものである。このような3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて製造される配向膜の表面には上述した凸部と凹部とが賦型されていることから、配向膜の表面において互いに厚みが異なる部位、すなわち、厚膜領域と薄膜領域とが形成されることとなる。また、このような配向膜を用いたパターン位相差フィルムにおいては、位相差層において厚膜領域と薄膜領域との厚みの差に相当する分だけ位相差値が異なるパターンが形成されることになる。   Since the original plate for 3D display pattern alignment film manufactured according to this aspect has the second layer on the surface of the first layer, the surface of the original 3D display pattern alignment film has a convex portion and a concave portion. It is what you have. Since the above-mentioned convex portions and concave portions are formed on the surface of the alignment film manufactured using such a three-dimensional display pattern alignment film original plate, the portions having different thicknesses on the surface of the alignment film That is, a thick film region and a thin film region are formed. Further, in a patterned retardation film using such an alignment film, a pattern having a different retardation value corresponding to the difference in thickness between the thick film region and the thin film region is formed in the retardation layer. .

従って、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版における第2層の厚みは、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版により製造される配向膜の厚膜領域と薄膜領域との厚みの差に相当する。
ここで、厚膜領域と薄膜領域との厚みの差は、第1位相差領域と第2位相差領域との位相差値の差をどの程度にするかによって適宜決定されるものである。したがって、厚膜領域と薄膜領域との厚みの差は、パターン位相差フィルムの用途、および後述する位相差層に用いられる棒状化合物の種類等に応じて適宜決定されるものであり特に限定されるものではない。中でも本発明においては上記厚膜領域と上記薄膜領域との厚みの差が、位相差層における高位相差領域の面内レターデーション値と、位相差層における低位相差領域の面内レターデーション値との差がλ/2分に相当する距離であることが好ましい。これにより、例えば、配向層上に位相差層を形成する際に、低位相差領域の面内レターデーションがλ/4分に相当するようにすることにより、得られるパターン位相差フィルムは、低位相差領域の面内レターデーション値がλ/4分に相当し、かつ高位相差領域の面内レターデーション値がλ/4+λ/2に相当することになるが、このような態様のパターン位相差フィルムにおいては、上記低位相差領域、上記高位相差領域を通過する直線偏光がそれぞれ互いに直交関係にある円偏光になるため、3次元表示装置を製造するためにより好適に用いられるものにできるからである。
Therefore, the thickness of the second layer in the three-dimensional display pattern alignment film master of this embodiment is the thickness between the thick film region and the thin film region of the alignment film manufactured by the three-dimensional display pattern alignment film master of this embodiment. It corresponds to the difference.
Here, the difference in thickness between the thick film region and the thin film region is appropriately determined depending on how much the difference in the retardation value between the first retardation region and the second retardation region is to be made. Accordingly, the difference in thickness between the thick film region and the thin film region is appropriately determined depending on the use of the pattern retardation film, the type of rod-shaped compound used in the retardation layer described later, and the like, and is particularly limited. It is not a thing. In particular, in the present invention, the difference in thickness between the thick film region and the thin film region is the difference between the in-plane retardation value of the high retardation region in the retardation layer and the in-plane retardation value of the low retardation region in the retardation layer. The difference is preferably a distance corresponding to λ / 2 minutes. Thereby, for example, when forming the retardation layer on the alignment layer, the in-plane retardation of the low retardation region corresponds to λ / 4 minutes, so that the obtained pattern retardation film has a low retardation. The in-plane retardation value of the region corresponds to λ / 4 minutes, and the in-plane retardation value of the high retardation region corresponds to λ / 4 + λ / 2. In such a pattern retardation film, This is because the linearly polarized light passing through the low phase difference region and the high phase difference region becomes circularly polarized light that is orthogonal to each other, so that it can be more suitably used for manufacturing a three-dimensional display device.

したがって、第2層の厚みとしては、本態様の製造方法により製造される3次元表示用パターン配向膜用原版を用いて製造される配向膜において、厚膜領域と薄膜領域との厚みの差が上述した距離となるように調整して形成することが好ましい。   Therefore, the thickness of the second layer is the difference in thickness between the thick film region and the thin film region in the alignment film manufactured using the pattern alignment film master for 3D display manufactured by the manufacturing method of this aspect. It is preferable to adjust and form so that it may become the distance mentioned above.

上記第1層および上記第2層の表面までの厚みとしては、第1層および第2層の表面までの厚みの差を所定の範囲にすることができる範囲内であれば特に限定されるものではない。例えば、図14に示すように、第2層の厚みD2は2.0μm程度となることが好ましい。   The thickness up to the surfaces of the first layer and the second layer is particularly limited as long as the difference in thickness up to the surfaces of the first layer and the second layer is within a predetermined range. is not. For example, as shown in FIG. 14, the thickness D2 of the second layer is preferably about 2.0 μm.

なお、図14に示すように上記第1層および上記第2層の表面までの厚みは、表面に形成された微小なライン状凹凸構造を含むものとする。   In addition, as shown in FIG. 14, the thickness to the surface of the said 1st layer and the said 2nd layer shall include the fine line-shaped uneven structure formed in the surface.

本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版における第1層および第2層の表面の微小なライン状凹凸構造の形成方向としては、第1層と第2層とで同一方向であれば特に限定されるものではなく、例えば、図16に示すように、第1層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造11および第2層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造31の方向が0°であってもよく、あるいは、図17に示すように、第1層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造11および第2層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造31の方向が90°であってもよい。
なお、上記以外の微小なライン状凹凸構造についての詳しい内容は、上述した第1態様に記載したものと同様とすることができる。
The formation direction of the fine line-shaped uneven structure on the surfaces of the first layer and the second layer in the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of this aspect is particularly the same if the first layer and the second layer are in the same direction. For example, as shown in FIG. 16, the fine line-shaped uneven structure 11 formed on the surface of the first layer and the fine line-shaped uneven structure 31 formed on the surface of the second layer are provided. The direction may be 0 °, or, as shown in FIG. 17, the minute line-like uneven structure 11 formed on the surface of the first layer and the minute line-like unevenness formed on the surface of the second layer The direction of the structure 31 may be 90 °.
The detailed contents of the fine line-shaped uneven structure other than those described above can be the same as those described in the first aspect.

C.その他の態様
その他の態様として、本発明の3次元表示用パターン配向膜用原版において、第1層および第2層の表面の微小なライン状凹凸構造が異なる方向に形成され、かつ第1層および第2層の厚みが異なるものであってもよい。
C. Other Embodiments As other embodiments, in the original plate for a three-dimensional display pattern alignment film of the present invention, the fine line-shaped uneven structures on the surfaces of the first layer and the second layer are formed in different directions, and the first layer and The thickness of the second layer may be different.

なお、上記態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法についての効果は、上述した第1態様、第2態様の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法についての効果と同様とすることができる。
上記第1態様、第2態様と同様の効果の他に、本態様においては次のような効果が得られる。本態様では、3次元表示用パターン配向膜用原版の第1層の表面および第2層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造の形成方向と、上記第1層および第2層の厚みの差とが異なる。そのため、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版により得られた配向膜をパターン位相差フィルムに用いることで、上記第1層の表面および上記第2層の表面に形成された微小なライン状凹凸構造の形成方向の差と、上記第1層および上記第2層の厚みの差とに相当する分だけ異なった位相差値を示すこととなる。なお、本態様の3次元表示用パターン配向膜用原版における第1層、第2層は、配向膜の第1配向領域、第2配向領域に対応し、パターン位相差フィルムの第1位相差領域、第2位相差領域にそれぞれ対応している。
In addition, the effect about the manufacturing method of the pattern alignment film original plate for 3D display of the said aspect is the same as the effect about the manufacturing method of the pattern alignment film original plate for 3D display of the 1st aspect mentioned above and the 2nd aspect. can do.
In addition to the same effects as those of the first and second aspects, the following effects can be obtained in this aspect. In this aspect, the formation direction of the fine line-shaped concavo-convex structure formed on the surface of the first layer and the surface of the second layer of the original plate for three-dimensional display pattern alignment film, and the thicknesses of the first layer and the second layer. The difference is different. Therefore, the fine lines formed on the surface of the first layer and the surface of the second layer by using the alignment film obtained from the original plate for the three-dimensional display pattern alignment film of this aspect for the pattern retardation film. Different retardation values corresponding to the difference in the direction of formation of the concavo-convex structure and the difference in thickness between the first layer and the second layer. Note that the first layer and the second layer in the three-dimensional display pattern alignment film master according to this aspect correspond to the first alignment region and the second alignment region of the alignment film, and the first retardation region of the pattern retardation film. , Respectively corresponding to the second phase difference region.

D.その他
本発明の製造方法により製造される3次元表示用パターン配向膜用原版は、帯状に形成された凹部(第1層)および凸部(第2層)を有し、表面に微小なライン状凹凸構造が略一定方向に形成されたものである。
D. Others The original plate for a three-dimensional display pattern alignment film produced by the production method of the present invention has a concave portion (first layer) and a convex portion (second layer) formed in a strip shape, and has a fine line shape on the surface. The concavo-convex structure is formed in a substantially constant direction.

また、上記3次元表示用パターン配向膜用原版は、3次元表示用パターン位相差フィルムに用いられる3次元表示用パターン配向膜を製造する際に用いられるものである。より具体的には、樹脂組成物からなる配向膜形成用層に上記原版の微小なライン状凹凸構造を賦型し、この形状に対応した微小なライン状凹凸構造を有する第1配向領域(凸形状)および第2配向領域(凹形状)を有する3次元表示用パターン配向膜を製造する際に用いられるものである。   The original plate for a three-dimensional display pattern alignment film is used when a three-dimensional display pattern alignment film used for a three-dimensional display pattern retardation film is produced. More specifically, a fine line-shaped uneven structure of the original plate is formed on the alignment film forming layer made of the resin composition, and a first alignment region (convex having a fine line-shaped uneven structure corresponding to this shape is formed. Shape) and a pattern alignment film for three-dimensional display having a second alignment region (concave shape).

本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。   The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has any configuration that has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention and that exhibits the same effects. Are included in the technical scope.

以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples.

[実施例]
(第1層形成工程)
Φ300mm、面長1260mmのアルミパイプ(5000系アルミ材)を用いて製版加工を行った。
アルミ表面を旋盤により面出し後、第1層形成用の下地層としてアルミニウム表面に電解メッキ処理により銅層を200〜300μmの厚みで形成することで下地層を形成した。その後、表面に平滑性を付与するため、砥石研磨処理を施した。
次いで、上記下地層上にメッキ処理を施し、ニッケル層を約5μmの厚みで形成した。ニッケル層形成により、上述した砥石研磨時の傷を埋めた。次いで、上記ニッケル層上にプラズマCVD法を用いてダイアモンドライクカーボン(DLC)を約2μmの厚みで形成し、第1層を形成した。
[Example]
(First layer forming step)
Plate making was performed using an aluminum pipe (5000 series aluminum material) having a diameter of 300 mm and a surface length of 1260 mm.
After surface-facing the aluminum surface with a lathe, a base layer was formed by forming a copper layer with a thickness of 200 to 300 μm on the aluminum surface by electrolytic plating as a base layer for forming the first layer. Thereafter, in order to impart smoothness to the surface, a grinding wheel polishing treatment was performed.
Next, the base layer was plated, and a nickel layer was formed with a thickness of about 5 μm. By forming the nickel layer, the scratches at the time of grinding the above-described grindstone were filled. Next, diamond-like carbon (DLC) was formed to a thickness of about 2 μm on the nickel layer using a plasma CVD method to form a first layer.

(第1凹凸構造形成工程)
上記第1層形成後、ペーパー研磨機を用いて上記第1層表面に研磨角度が45°となるようにラビング処理を施し、第1層の表面全面に微小なライン状凹凸構造を形成した。
(First uneven structure forming step)
After the formation of the first layer, a rubbing treatment was performed on the surface of the first layer using a paper grinder so that the polishing angle was 45 °, and a fine line-shaped uneven structure was formed on the entire surface of the first layer.

(除去工程)
第1凹凸構造形成工程後、微小なライン状凹凸構造が形成された第1層表面を溶剤等で洗浄し、研磨カス、砥粒を除去した。
(Removal process)
After the first concavo-convex structure forming step, the surface of the first layer on which the fine line-shaped concavo-convex structure was formed was washed with a solvent or the like to remove polishing residue and abrasive grains.

(第2層形成工程)
その後、スパッタリング法を用いてTiからなる第2層を0.1μm〜1μmの厚みで形成した。
(Second layer forming step)
Then, the 2nd layer which consists of Ti was formed with thickness of 0.1 micrometer-1 micrometer using sputtering method.

(第2凹凸構造形成工程)
上記第2層形成工程後、上記第2層の表面全面に微小なライン状凹凸構造を形成した。なお、具体的な方法としては、上記第1凹凸構造形成工程と同様である。
(Second uneven structure forming step)
After the second layer forming step, a fine line-shaped uneven structure was formed on the entire surface of the second layer. In addition, as a specific method, it is the same as that of the said 1st uneven | corrugated structure formation process.

(除去工程)
第2凹凸構造形成工程後、微小なライン状凹凸構造が形成された第1層表面を溶剤等で洗浄し、研磨カス、砥粒を除去した。
(Removal process)
After the second concavo-convex structure forming step, the surface of the first layer on which the fine line-shaped concavo-convex structure was formed was washed with a solvent or the like to remove polishing residue and abrasive grains.

(レジスト形成工程)
上記除去工程後、ネガレジストを上記第1層表面全面に適正厚み(約3〜5μm)をコーティングし、常温にて乾燥させた。レジスト膜形成後、レジストの感光波長に調整されたレーザーヘッドでパターン描画、現像を行い、レジストを平行な帯状に形成した。
(Resist formation process)
After the removing step, a negative resist was coated on the entire surface of the first layer with an appropriate thickness (about 3 to 5 μm) and dried at room temperature. After forming the resist film, pattern drawing and development were performed with a laser head adjusted to the photosensitive wavelength of the resist to form parallel resist strips.

(第2層剥離工程)
その後、ソルファイン−SE−TW10/A(昭和電工社)および過酸化水素水(関東化学社)の4:1混合溶液を用いて、室温で20分エッチングし、次いで、水、メチルアルコールの順にリンスした。水洗の際、レジスト残渣を取り除くため、高圧洗浄機を用いた。
(Second layer peeling step)
Then, etching was performed at room temperature for 20 minutes using a 4: 1 mixed solution of Solfine-SE-TW10 / A (Showa Denko) and hydrogen peroxide (Kanto Chemical Co.), and then water and methyl alcohol in this order. Rinse. A high pressure washer was used to remove the resist residue during the water washing.

(レジスト剥離工程)
その後、メチルエチルケトン(MEK)、イソプロピルアルコール(IPA)、メタノールの混合溶液を用いて、上記第1層表面からレジストを溶解・剥離した。
(Resist stripping process)
Thereafter, the resist was dissolved and peeled from the surface of the first layer using a mixed solution of methyl ethyl ketone (MEK), isopropyl alcohol (IPA), and methanol.

[評価]
上記実施例で製作した3次元表示用パターン配向膜用原版にレターデーションの無い基材フィルムを用いて紫外線硬化樹脂に3次元表示用パターン配向膜用原版表面の形状を賦型し、その賦型樹脂側にメルク製紫外線硬化型液晶をスピンコートにてレターデーション値が125nmになるように膜厚を調整して、パターン位相差フィルムを作製した。
上記パターン位相差フィルムを評価した結果、レジスト保護膜があるために、第2層研磨時に第1層の研磨傷を上書きすることなく、第2層のみを研磨することができ、ストライプ毎に45度/135度の研磨目が入っており、それに従って液晶の光軸が45度/135度に綺麗に整列していることを確認できた。
[Evaluation]
Using the substrate film having no retardation for the three-dimensional display pattern alignment film original plate produced in the above embodiment, the shape of the surface of the three-dimensional display pattern alignment film original plate is formed on an ultraviolet curable resin. A film retardation film was prepared by adjusting the film thickness so that the retardation value was 125 nm by spin coating with Merck UV-curable liquid crystal on the resin side.
As a result of evaluating the pattern retardation film, since there is a resist protective film, only the second layer can be polished without overwriting polishing scratches of the first layer at the time of polishing the second layer, and 45 for each stripe. It was confirmed that the optical axis of the liquid crystal was neatly aligned at 45 degrees / 135 degrees.

1 … 第1層
11 … 微小なライン状凹凸構造
2 … レジスト
3 … 第2層
31 … 微小なライン状凹凸構造
4 … 保護層
5 … 回転ローラー
6 … 被成型体
7 … 透明フィルム基材
8 … 配向膜
9 … 位相差層
10 … 棒状化合物
100 … 3次元表示用パターン配向膜用原版
200 … ロールプレス機
300 … パターン位相差フィルム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... 1st layer 11 ... Minute line-like uneven structure 2 ... Resist 3 ... 2nd layer 31 ... Minute line-like uneven structure 4 ... Protective layer 5 ... Rotating roller 6 ... Molding object 7 ... Transparent film base material 8 ... Alignment film 9 ... Retardation layer 10 ... Bar-shaped compound 100 ... Master plate for pattern alignment film for three-dimensional display 200 ... Roll press machine 300 ... Pattern retardation film

Claims (4)

金属材料または無機材料からなる第1層を形成する第1層形成工程と、
前記第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第1凹凸構造形成工程と、
前記第1凹凸構造形成工程後の前記第1層の表面に金属材料または無機材料からなる第2層を形成する第2層形成工程と、
前記第2層の表面に前記第1凹凸構造形成工程とは異なる方向となる微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第2凹凸構造形成工程と、
前記第2凹凸構造形成工程後の前記第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成するレジスト形成工程と、
前記レジスト形成工程後、露出した前記第2層を剥離する第2層剥離工程と、
前記レジストを剥離するレジスト剥離工程と、
を有することを特徴とする3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法。
A first layer forming step of forming a first layer made of a metal material or an inorganic material;
A first concavo-convex structure forming step of forming a minute line-like concavo-convex structure on the surface of the first layer in a substantially constant direction;
A second layer forming step of forming a second layer made of a metal material or an inorganic material on the surface of the first layer after the first uneven structure forming step;
A second concavo-convex structure forming step of forming a minute line-like concavo-convex structure in a direction substantially different from the first concavo-convex structure forming step on the surface of the second layer;
A resist forming step of forming a resist in a strip shape parallel to the surface of the second layer after the second uneven structure forming step;
A second layer peeling step of peeling the exposed second layer after the resist forming step;
A resist stripping process for stripping the resist;
A method for producing an original plate for a pattern alignment film for three-dimensional display, comprising:
金属材料または無機材料からなる第1層を形成する第1層形成工程と、
前記第1層の表面に微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第1凹凸構造形成工程と、
前記第1凹凸構造形成工程後の前記第1層の表面に金属材料または無機材料からなる第2層を形成する第2層形成工程と、
前記第2層の表面に前記第1凹凸構造形成工程と同一方向となる微小なライン状凹凸構造を略一定方向に形成する第2凹凸構造形成工程と、
前記第2凹凸構造形成工程後の前記第2層の表面に平行な帯状にレジストを形成するレジスト形成工程と、
前記レジスト形成工程後、露出した前記第2層を剥離する第2層剥離工程と、
前記レジストを剥離するレジスト剥離工程と、
を有することを特徴とする3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法。
A first layer forming step of forming a first layer made of a metal material or an inorganic material;
A first concavo-convex structure forming step of forming a minute line-like concavo-convex structure on the surface of the first layer in a substantially constant direction;
A second layer forming step of forming a second layer made of a metal material or an inorganic material on the surface of the first layer after the first uneven structure forming step;
A second concavo-convex structure forming step of forming a minute line-shaped concavo-convex structure in the same direction as the first concavo-convex structure forming step on the surface of the second layer;
A resist forming step of forming a resist in a strip shape parallel to the surface of the second layer after the second uneven structure forming step;
A second layer peeling step of peeling the exposed second layer after the resist forming step;
A resist stripping process for stripping the resist;
A method for producing an original plate for a pattern alignment film for three-dimensional display, comprising:
前記3次元表示用パターン配向膜用原版がロール状であるロール版であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法。   The method for producing a three-dimensional display pattern alignment film precursor according to claim 1 or 2, wherein the three-dimensional display pattern alignment film original plate is a roll plate having a roll shape. 前記第1凹凸構造形成工程または前記第2凹凸構造形成工程の少なくとも一方がロールプレス加工により実施されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の3次元表示用パターン配向膜用原版の製造方法。   3. The original plate for three-dimensional display pattern alignment film according to claim 1, wherein at least one of the first concavo-convex structure forming step or the second concavo-convex structure forming step is performed by roll pressing. Manufacturing method.
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