JP2012160775A - 発振停止検出回路、半導体装置、時計および電子機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 Pチャネルトランジスター11および12は、発振回路の出力信号から生成される制御信号SA、SBに従ってスイッチング動作して電荷を転送し、キャパシター20を充電する。インバーター30は、キャパシター20の充電電圧VCを2値化し、発振状態判別信号を出力する。Nチャネルトランジスター26は、キャパシター20を放電させるトランジスターである。基準電圧発生回路21は、ゲートおよびソースが互いに接続されたデプレッション型Pチャネルトランジスター22と、ゲートおよびドレインが互いに接続されたNチャネルトランジスター23とを直列接続してなるものであり、Nチャネルトランジスター23とNチャネルトランジスター26はカレントミラーを構成する。
【選択図】図2
Description
図1はこの発明による発振停止検出回路の適用例である電子時計の時計回路の構成を示すブロック図である。図1において、発振回路1は、水晶等の振動子を振動させて発振し、所定周波数の信号を出力する回路である。高周波分周回路2および中低周波分周回路3は、発振回路1の出力信号を順次分周し、各種の周波数の分周信号を出力する回路である。
図2はこの発明の第1実施形態である発振停止検出回路の構成を示す回路図である。図2において、電荷転送回路10は、スイッチング用電界効果トランジスターとしてのPチャネルトランジスター11および12と、キャパシター13とにより構成されている。
発振回路1の発振が停止した状態では、制御信号SAおよびSBの変化がなく、図示の例では、制御信号SAがLレベル、制御信号SBがHレベルとなっている。このため、電荷転送回路10では、Pチャネルトランジスター11または12の一方(図示の例ではPチャネルトランジスター11)がON状態を維持し、他方(図示の例ではPチャネルトランジスター12)がOFF状態を維持する。この状態では、電荷転送回路10を介したキャパシター20への電荷の転送は行われないため、キャパシター20の充電電圧VCは0Vとなる。従って、インバーター30は、発振回路の発振が停止している旨を示すHレベルの発振状態判別信号DETを出力する。
以上が本実施形態による発振停止検出回路の動作である。
図6はこの発明の第2実施形態である発振停止検出回路の構成を示す回路図である。二次電池を電源とする電子機器等、電源電圧が変動する電子機器に発振停止検出回路が搭載される場合、以下説明するように放電用電界効果トランジスターの放電電流が電源電圧の上昇により過度に大きくなる場合がある。
図8はこの発明の第3実施形態である発振停止検出回路における発振状態判別手段の構成を示す回路図である。上記第1実施形態では、発振状態判別手段をPチャネルトランジスター31およびNチャネルトランジスター32からなるCMOS構成のインバーター30とし、このインバーター30に対してキャパシター20の充電電圧VCを与えた。ここで、Pチャネルトランジスター31およびNチャネルトランジスター32は別々の製造工程において形成されるので、Pチャネルトランジスター31の特性ばらつきとNチャネルトランジスター32の特性ばらつきの間に相関はない。従って、インバーター30の論理スレッショルドがPチャネルトランジスター31の特性ばらつきとNチャネルトランジスター32の特性ばらつきの影響により変動する可能性がある。このようにインバーター30の論理スレッショルドが変動すると、その影響により、例えば発振回路が発振を開始してから発振状態判別信号が反転するまでの時間が長くなったり、あるいは制御信号SA、SBが瞬断したときに発振状態判別信号が反転し易くなるといった不具合が発生し得る。本実施形態はこの点を改善したものである。
図9はこの発明の第4実施形態である発振停止検出回路の構成を示す回路図である。上記第1実施形態(図2)における電荷転送回路10では、Pチャネルトランジスター11および12がスイッチング用電界効果トランジスターとして使用された。これに対し、本実施形態における電荷転送回路10Bは、Nチャネルトランジスター11Bおよび12Bがスイッチング用電界効果トランジスターとして使用されている。また、上記第1実施形態では、Nチャネルトランジスター26が放電用電界効果トランジスターとして使用された。これに対し、本実施形態では、放電用電界効果トランジスターとして、Pチャネルトランジスター28がキャパシター20に並列接続されている。また、上記第1実施形態では、デプレッション型Pチャネルトランジスター22とNチャネルトランジスター23により基準電圧発生回路21が構成され、Nチャネルトランジスター23が放電用電界効果トランジスターであるNチャネルトランジスター26とともにカレントミラーを構成した。これに対し、本実施形態では、デプレッション型Nチャネルトランジスター23BとPチャネルトランジスター22Bにより基準電圧発生回路21Bが構成され、Pチャネルトランジスター22Bが放電用電界効果トランジスターであるPチャネルトランジスター28とともにカレントミラーを構成している。また、本実施形態では、発振状態判別手段として例えばCMOSインバーターを2段接続したノンインバーティングバッファー30’が使用されている。
図10はこの発明の第5実施形態である発振停止検出回路の構成を示す回路図である。本実施形態による発振停止検出回路は、上記第4実施形態における電荷転送回路10Bを電荷転送回路10Cに置き換えた構成となっている。
以上、この発明の第1〜第5実施形態を説明したが、この発明には、他にも各種の実施形態が考えられる。例えば次の通りである。
また、上述した実施形態および変形例の発振停止検出回路は、ICなどの半導体装置の一部又は全部として形成されてもよい。
Claims (8)
- 発振回路の出力信号から生成される制御信号に従ってスイッチング動作することにより電荷を転送するスイッチング用電界効果トランジスターと、
前記スイッチング用電界効果トランジスターを介して転送される電荷が充電されるキャパシターと、
前記キャパシターの充電電荷を放電させる放電手段と、
前記キャパシターの充電電圧を2値化し、前記発振回路が発振しているか停止しているかを示す発振状態判別信号を出力する発振状態判別手段とを具備し、
前記放電手段が、
前記キャパシターに蓄積された電荷を放電させる放電用電界効果トランジスターと、
前記放電用電界効果トランジスターとともにカレントミラーを構成するミラー用電界効果トランジスターと、
前記スイッチング用電界効果トランジスターと同じ導電型を有し、ドレイン電流を前記ミラー用電界効果トランジスターのゲートおよびドレインの共通接続点に供給する電界効果トランジスターにより構成された定電流源と
を具備することを特徴とする発振停止検出回路。 - 前記定電流源がソースおよびゲートが互いに接続されたデプレッション型電界効果トランジスターにより構成されたことを特徴とする請求項1に記載の発振停止検出回路。
- 前記デプレッション型電界効果トランジスターは、当該デプレッション型電界効果トランジスターのドレイン電流の温度係数の符号が前記スイッチング用電界効果トランジスターのOFF電流の温度係数の符号と同じになる範囲内の閾値電圧を有することを特徴とする請求項2に記載の発振停止検出回路。
- 前記放電用電界効果トランジスターとして、直列接続された2段以上の放電用電界効果トランジスターを具備し、
前記ミラー用電界効果トランジスターとして、各々のゲートおよびドレインが共通接続され、かつ、各々が互いに直列接続され、各々のゲート電圧を前記2段以上の放電用電界効果トランジスターの各ゲートに供給する2段以上のミラー用電界効果トランジスターを具備することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の発振停止検出回路。 - 前記発振状態判別手段は、前記スイッチング用電界効果トランジスターと同じ導電型を有し、前記キャパシターの充電電圧がゲートに与えられる第1の電界効果トランジスターと、前記放電用電界効果トランジスターと同じ導電型を有し、前記放電用電界効果トランジスターに対するゲート電圧がゲートに与えられる第2の電界効果トランジスターとを高電位側電源線および低電位側電源線間に直列に介挿してなり、前記第1および第2の電界効果トランジスターの共通接続点から前記発振状態判別信号を出力することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の発振停止検出回路。
- 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の発振停止検出回路が形成されてなる半導体装置。
- 発振回路と、
電源と、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の発振停止検出回路と、
前記発振停止検出回路から前記発振回路の発振が停止した旨の判別結果が得られるのに応じて、前記発振回路の出力信号を利用する回路をリセットするとともに、前記発振回路を再起動するために前記電源から前記発振回路に与える電圧を上昇させる制御を行い、前記発振停止検出回路から前記発振回路が発振している旨の判別結果が得られるのに応じて、前記発振回路の出力信号を利用する回路のリセットを解除するとともに、前記電源から前記発振回路に与える電圧を低下させる制御を行う制御手段と
を具備することを特徴とする時計。 - 発振回路と、
電源と、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の発振停止検出回路と、
前記発振停止検出回路から前記発振回路の発振が停止した旨の判別結果が得られるのに応じて、前記発振回路の出力信号を利用する回路をリセットするとともに、前記発振回路を再起動するために前記電源から前記発振回路に与える電圧を上昇させる制御を行い、前記発振停止検出回路から前記発振回路が発振している旨の判別結果が得られるのに応じて、前記発振回路の出力信号を利用する回路のリセットを解除するとともに、前記電源から前記発振回路に与える電圧を低下させる制御を行う制御手段と
を具備することを特徴とする電子機器。
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Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000332585A (ja) * | 1999-05-18 | 2000-11-30 | Seiko Epson Corp | 発振検出回路、半導体装置、電子機器および発振検出方法 |
| JP2005311504A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Seiko Epson Corp | 発振開始検出回路及びそれを内蔵した半導体集積回路 |
| JP2008306597A (ja) * | 2007-06-08 | 2008-12-18 | Rohm Co Ltd | レベルシフト回路、方法およびそれを用いたチャージポンプ回路の制御回路 |
| JP2009038118A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Nec Electronics Corp | 電流駆動回路 |
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| JPS57111120A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-10 | Canon Inc | Reset pulse generator |
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| JP2658592B2 (ja) * | 1991-01-30 | 1997-09-30 | 日本電気株式会社 | 発振停止検出回路 |
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| EP0905877B1 (en) * | 1997-01-22 | 2004-01-02 | Seiko Epson Corporation | Oscillation circuit, electronic circuit, semiconductor device, electronic equipment and clock |
| US6288600B1 (en) * | 1997-03-04 | 2001-09-11 | Seiko Epson Corporation | Electronic circuit, semiconductor device, electronic equipment, and timepiece |
| US6388479B1 (en) * | 2000-03-22 | 2002-05-14 | Cypress Semiconductor Corp. | Oscillator based power-on-reset circuit |
| JP2002043906A (ja) * | 2000-07-24 | 2002-02-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | 発振停止検出回路 |
| JP3937888B2 (ja) * | 2002-03-27 | 2007-06-27 | ヤマハ株式会社 | 発振検知回路 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2000332585A (ja) * | 1999-05-18 | 2000-11-30 | Seiko Epson Corp | 発振検出回路、半導体装置、電子機器および発振検出方法 |
| JP2005311504A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Seiko Epson Corp | 発振開始検出回路及びそれを内蔵した半導体集積回路 |
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