JP2012151111A - Method of forming structure in plastic substrate - Google Patents
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Abstract
Description
ここで開示される本発明は、一般に、半導体デバイスに関する。より詳しくは、本発明は、半導体デバイスにおいて、射出成形される基板の製造に関する。 The present invention disclosed herein generally relates to semiconductor devices. More particularly, the present invention relates to the manufacture of injection molded substrates in semiconductor devices.
半導体材料は、有機発光デバイス(OLED)におけるエレクトロルミネセンス材料及び有機光電デバイス(OPV)における光起電性材料として汎用される。 Semiconductor materials are widely used as electroluminescent materials in organic light-emitting devices (OLED) and photovoltaic materials in organic photoelectric devices (OPV).
OLED及び/又はOPVは、通常、その機能を実現するために半導体材料層を含む。OPVでは、例えば、太陽光放射を受け取る半導体材料は、半導体材料層を通じて拡散されるエキシトンを生成する。これは、次に、分離されて、電子及び正孔としての自由電荷キャリアとなり、半導体材料層の両側に電極対が提供され、自由電荷キャリアを収集し、電流の生成を助ける。 OLEDs and / or OPVs typically include a semiconductor material layer to achieve their function. In OPV, for example, a semiconductor material that receives solar radiation generates excitons that are diffused through the semiconductor material layer. This is then separated into free charge carriers as electrons and holes, and electrode pairs are provided on both sides of the semiconductor material layer to collect free charge carriers and help generate current.
同様にOLEDでは、例えば、電圧が半導体材料層を横切って印加されると、電子及び正孔が個々の電極から注入される。電子及び正孔は、半導体材料層において再結合し、エキシトンを形成する、それによって発光する。 Similarly, in an OLED, for example, when a voltage is applied across the semiconductor material layer, electrons and holes are injected from the individual electrodes. The electrons and holes recombine in the semiconductor material layer to form excitons, thereby emitting light.
従って、OLED及びOPVのような半導体デバイスの機能では、光管理がこのようなデバイスの効率に大きな影響を与える非常に重要な観点である。 Thus, in the function of semiconductor devices such as OLEDs and OPVs, light management is a very important aspect that has a significant impact on the efficiency of such devices.
一般に、半導体材料層の屈折率は、OLED及びOPVの基板の屈折率より大きい。OLEDでは、この屈折率の差異によって、放射された光が基板から反射されて半導体材料の層を通じて戻され、それによって放射された光のうち取り出し可能であるものの割合が低下する。また、基板と、OLEDが使用される周囲媒体の屈折率の差異によって、いくらかの光が基板と周囲媒体の間の界面で反射されて基板内に戻される。それによって、さらにOLEDの効率が低下する。同様にOPVでは、光トラッピングは、その効率に影響を与える主要ファクターである。従って、その吸収を増大させるためにOPVでの光路を増大させる必要がある。 In general, the refractive index of the semiconductor material layer is larger than that of the OLED and OPV substrates. In OLEDs, this refractive index difference causes the emitted light to be reflected off the substrate and returned through the layer of semiconductor material, thereby reducing the percentage of the emitted light that can be extracted. Also, due to the difference in refractive index between the substrate and the surrounding medium where the OLED is used, some light is reflected back into the substrate at the interface between the substrate and the surrounding medium. This further reduces the efficiency of the OLED. Similarly, in OPV, optical trapping is a major factor that affects its efficiency. Therefore, it is necessary to increase the optical path in the OPV in order to increase the absorption.
このようなデバイスの効率を増大させるために、光管理テクスチャーを有するラッカー層が異なる屈折率材料の間の界面においてこのようなデバイスへ加えられる。例えば、OLEDは、半導体材料層と基板又は基板と周囲媒体の間に堆積されたラッカー層上に光取り出しテクスチャーを有する場合があり、OPVデバイスは、半導体材料層と基板の間に堆積されたラッカー層上に光トラッピングテクスチャーを有する場合がある。 In order to increase the efficiency of such devices, a lacquer layer having a light management texture is added to such devices at the interface between different refractive index materials. For example, an OLED may have a light extraction texture on a semiconductor material layer and a substrate or a lacquer layer deposited between the substrate and the surrounding medium, and an OPV device may have a lacquer deposited between the semiconductor material layer and the substrate. There may be a light trapping texture on the layer.
しかしながら、OLED及びOPVへラッカー層を追加することは、このようなデバイスを製造するコストを増大させる。また、ラッカー層の材料は、製造プロセスの間に放出される溶媒によって半導体材料層を汚染する傾向がある。さらに、OLEDでは、ラッカー層は、基板上に提供されるので、従って、基板と封入カバーの間に来る傾向がある。これは、封入の効果を減少させ、水分がOLEDに入ることを可能にし、それによってデバイスを汚染する。また、ラッカー層の存在は、電極が半導体層上に堆積されるエリアでは極めて望ましくない。なぜなら、これらのエリアにおけるラッカーの存在は、ラッカーを通じて水又は空気の剥離又は侵入を引き起こす場合があるからである。 However, adding a lacquer layer to OLEDs and OPVs increases the cost of manufacturing such devices. Also, the material of the lacquer layer tends to contaminate the semiconductor material layer with the solvent released during the manufacturing process. Furthermore, in OLEDs, the lacquer layer is provided on the substrate and therefore tends to be between the substrate and the encapsulating cover. This reduces the effectiveness of encapsulation and allows moisture to enter the OLED, thereby contaminating the device. Also, the presence of a lacquer layer is highly undesirable in areas where electrodes are deposited on the semiconductor layer. This is because the presence of lacquer in these areas can cause water or air to peel or penetrate through the lacquer.
上述した内容に照らすと、従来技術の1又は複数の欠点を除去するために現在のOPV及びOLEDにおける改良に対して要求がある。 In light of the above, there is a need for improvements in current OPVs and OLEDs to eliminate one or more disadvantages of the prior art.
本発明は、基板が光取り出しテクスチャー又は光トラッピングテクスチャーを有するように、OLED又はOPVのような半導体デバイスで使用される基板を製造する方法を提供する。この方法は、第一テクスチャーに対応する第一テンプレート及び第二テクスチャーに対応する第二テンプレートを有するモールドを用いることによって基板を形成するために射出成形を行うことを含む。第一テクスチャー及び第二テクスチャーは、光トラッピング及び/又は光取り出しテクスチャーとして働くことができる。
基板がこの方法を用いて製造されると、基板上に追加の光取り出し又は光トラッピング層を堆積する必要がなく、それによって半導体デバイスのコストを低減する。また、射出成形によって形成された基板は、通常使用されるガラス基板を置き換えることができるので、コスト的な利点がさらに大きい。一つの例示的実施形態では、この基板をOLEDで使用する場合、内部及び外部光取り出しテクスチャーの両方に対応するテンプレートを有するモールドが使用可能である。このような基板の使用は、内部光取り出し及び外部光取り出しの堆積に対応する2つの堆積プロセスを半導体デバイスの製造プロセスから除去するのを助け、それによって半導体デバイスのコストを低減する。
The present invention provides a method of manufacturing a substrate for use in a semiconductor device such as an OLED or OPV such that the substrate has a light extraction texture or a light trapping texture. The method includes performing injection molding to form a substrate by using a mold having a first template corresponding to the first texture and a second template corresponding to the second texture. The first texture and the second texture can serve as light trapping and / or light extraction textures.
When the substrate is manufactured using this method, it is not necessary to deposit an additional light extraction or light trapping layer on the substrate, thereby reducing the cost of the semiconductor device. In addition, since the substrate formed by injection molding can replace a commonly used glass substrate, the cost advantage is even greater. In one exemplary embodiment, when the substrate is used in an OLED, a mold having a template corresponding to both internal and external light extraction textures can be used. The use of such a substrate helps remove the two deposition processes corresponding to internal light extraction and external light extraction deposition from the semiconductor device manufacturing process, thereby reducing the cost of the semiconductor device.
本発明の実施形態では、半導体デバイスで使用される基板を製造する方法が提供される、これによって、この基板が第一表面及び第二表面によって特徴付けられる。この方法は、第一テクスチャーに対応する第一テンプレート及び/又は第二テクスチャーに対応する第二テンプレートを有するモールドを提供することを含む。この方法は、モールド内に基板を形成するための材料を射出成形して基板を形成することを含み、これによって、材料は、第一表面上に第一テクスチャー及び/又は第二表面上に第二テクスチャーを作成するように射出成形される。第一テクスチャー及び/又は第二テクスチャーは、この基板が使用される半導体デバイスでの光取り出し及び/又は光トラッピングを容易にする。 In an embodiment of the present invention, a method for manufacturing a substrate for use in a semiconductor device is provided, whereby the substrate is characterized by a first surface and a second surface. The method includes providing a mold having a first template corresponding to a first texture and / or a second template corresponding to a second texture. The method includes injection molding a material for forming a substrate in a mold to form a substrate, whereby the material is first texture on the first surface and / or second on the second surface. Injection molded to create two textures. The first texture and / or the second texture facilitate light extraction and / or light trapping in the semiconductor device in which the substrate is used.
本発明のいくつかの実施形態では、半導体デバイスが提供される。この半導体デバイスは、第一表面及び第二表面を有する射出成形された基板を含む。この基板において、第一表面は、第一テクスチャーを含み、及び/又は第二表面は、第二テクスチャーを含む。第一テクスチャー及び/又は第二テクスチャーは、半導体デバイスにおいて光取り出し及び/又は光トラッピングを容易にするように構成されている。この半導体デバイスは、基板上に第一電極、第一電極上に1又は複数の半導体層、1又は複数の半導体層上に第二電極をさらに含む。これらの層は、基板とカバー基板の間に封入され、半導体デバイスを形成する。 In some embodiments of the invention, a semiconductor device is provided. The semiconductor device includes an injection molded substrate having a first surface and a second surface. In this substrate, the first surface includes a first texture and / or the second surface includes a second texture. The first texture and / or the second texture are configured to facilitate light extraction and / or light trapping in the semiconductor device. The semiconductor device further includes a first electrode on the substrate, one or more semiconductor layers on the first electrode, and a second electrode on the one or more semiconductor layers. These layers are encapsulated between the substrate and the cover substrate to form a semiconductor device.
本発明のいくつかの実施形態では、基板の屈折率は、光学的均一性のために半導体デバイスの1又は複数の半導体層の屈折率と実質的に同じであるか又はこれより大きい。 In some embodiments of the invention, the refractive index of the substrate is substantially the same as or greater than the refractive index of the semiconductor layer or layers of the semiconductor device for optical uniformity.
本発明のいくつかの実施形態では、基板を形成するための材料は、プラスチック、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート(PET)、及びポリエチレンナフタレート(PEN)を含む群から選択される。 In some embodiments of the invention, the material for forming the substrate is selected from the group comprising plastic, polycarbonate, polyethylene terephthalate (PET), and polyethylene naphthalate (PEN).
本発明の別の実施形態では、半導体デバイスは、有機発光デバイス(OLED)であり、基板は、OLEDのベース層を形成し、OLEDは、基板上に配置された1又は複数の半導体層を有する。 In another embodiment of the invention, the semiconductor device is an organic light emitting device (OLED), the substrate forms a base layer of the OLED, and the OLED has one or more semiconductor layers disposed on the substrate. .
本発明のさらに別の実施形態では、第二テクスチャーは、基板と1又は複数の半導体層の間の界面で、1又は複数の半導体層内への光の反射を防ぐことができ、第一テクスチャーは、基板と周囲媒体の間の界面で、基板内へ光の反射を防ぐ。 In yet another embodiment of the invention, the second texture can prevent reflection of light into the one or more semiconductor layers at the interface between the substrate and the one or more semiconductor layers, and the first texture Prevents reflection of light into the substrate at the interface between the substrate and the surrounding medium.
本発明の別の実施形態では、前記半導体デバイスは、有機光電デバイス(OPV)であり、前記基板は、OPVのベース層を形成し、前記OPVは、基板上に配置された1又は複数の半導体層を有する。 In another embodiment of the present invention, the semiconductor device is an organic photoelectric device (OPV), the substrate forms an OPV base layer, and the OPV is one or more semiconductors disposed on the substrate. Has a layer.
本発明のさらに別の実施形態では、第二テクスチャーは、基板と1又は複数の半導体層の間の界面で、基板内へ光の反射を防ぐことができ、第一テクスチャーは、基板と周囲媒体の間の界面で、周囲媒体内へ光の反射を防ぐ。 In yet another embodiment of the present invention, the second texture can prevent reflection of light into the substrate at the interface between the substrate and the one or more semiconductor layers, and the first texture is the substrate and the surrounding medium. Prevents reflection of light into the surrounding medium at the interface between
新規であると信じられている本発明の特徴は、添付の請求の範囲で詳細に言及している。本発明は、添付図面と共に次の説明を参照して最もよく理解することができる。これらの図面及び関連する説明は、本発明のいくつかの実施形態を例示するために提供され、本発明の範囲を限定しない。 The features of the invention believed to be novel are set forth with particularity in the appended claims. The invention may best be understood with reference to the following description taken in conjunction with the accompanying drawings. These drawings and the associated description are provided to illustrate some embodiments of the invention and do not limit the scope of the invention.
当業者は、図中の要素は、簡潔さ及び明確さのための例示であり、寸法は必ずしも正確ではないことを理解するであろう。例えば、図中の要素のいくつかの寸法は、本発明の理解を向上させるために、他の要素に比べて誇張している。 Those skilled in the art will appreciate that the elements in the figures are illustrative for the sake of brevity and clarity and that the dimensions are not necessarily accurate. For example, some dimensions of elements in the figures are exaggerated relative to other elements to improve the understanding of the invention.
明細書中には説明があって図面には記載していない構造がある場合、そのような構造が明細書から省略されていると解釈すべきではない。 If there is a structure in the specification that is not illustrated in the drawing, such structure should not be construed as omitted from the specification.
本発明を詳細に説明する前に、本発明が半導体デバイスを製造する方法に関連した方法ステップ及び装置コンポーネントの組み合わせを利用することに注目すべきである。従って、装置コンポーネント及び方法ステップは、図面中では慣用的な記号を用いて表され、本発明の理解に関連がある部分のみを詳細に表している。これは、当業者にとって明らかな内容を詳細に記載しすぎて本発明の開示をぼやかすことが無いようにするためである。 Before describing the present invention in detail, it should be noted that the present invention utilizes a combination of method steps and apparatus components associated with a method of manufacturing a semiconductor device. Accordingly, apparatus components and method steps are represented in the drawings using conventional symbols and represent only those portions that are relevant to an understanding of the present invention in detail. This is so as not to obscure the disclosure of the present invention with details that are obvious to those skilled in the art.
明細書は、本発明の新規であると思われる特徴を規定する請求の範囲で締めくくっているが、本発明は、次の説明と、符号を付した図面からより良く理解されるであろう。 The specification concludes with claims that define the features believed to be novel of the invention, which will be better understood from the following description and the accompanying drawings.
本発明の詳細な実施形態をここに開示しているが、開示された実施形態は、本発明の単なる例示であり、本発明は、種々の形態で実施可能であることを理解すべきである。従って、ここで開示される具体的な構造及び機能の詳細は、権利範囲を限定するものと解釈すべきではなく、請求の範囲の基礎となり、かつ本発明を種々の形態で実施する際に当業者に与える教示の代表的な基礎であるとして解釈すべきである。さらに、ここで示される用語とフレーズは、限定的に解釈すべきではなく、本発明の理解可能な説明を提供するためものであると解釈すべきである。 Although detailed embodiments of the present invention are disclosed herein, it is to be understood that the disclosed embodiments are merely exemplary of the invention, and that the invention can be embodied in various forms. . Accordingly, specific structural and functional details disclosed herein should not be construed as limiting the scope of the claims, but are the basis of the claims and are intended to be practiced in various forms of the invention. It should be construed as a representative basis for the teaching given to vendors. Further, the terms and phrases presented herein are not to be construed as limiting, but are to be construed as providing an understandable description of the invention.
本明細書では、「一つ」は、1又は複数を意味している。「他の」は、「少なくとも第2の」を意味しており、「含む」及び/又は「有する」は、他の要素の追加を許容するオープンな用語である。「連結」又は「作動的に連結」は、結合されていることを意味するが、直接である必要はなく、機械的である必要もない。 In this specification, “one” means one or more. “Other” means “at least a second”, and “includes” and / or “have” is an open term that allows the addition of other elements. “Coupled” or “operably linked” means joined, but need not be direct or mechanical.
ここで図面を参照すると、図1aに本発明の前に最新技術において知られている例示的OLED100aにおける層のスタックを示す。OLED100aは、外部光取り出し層102、透明基板104、内部光取り出し層106、第一電気コンタクト108、1又は複数の半導体層110及び112、第二電気コンタクト114及びカバー基板116を含むように示され、透明基板104とカバー基板の間に内部光取り出し層106、第一電極108、1又は複数の半導体層110及び112及び第二電極114を封入する。OLED100aの各層は、外部光取り出し層102及び内部光取り出し層106を除いて、コーティング等の方法で隣接した層に形成され、本発明が実施される。 Referring now to the drawings, FIG. 1a shows a stack of layers in an exemplary OLED 100a known in the state of the art prior to the present invention. OLED 100a is shown to include an external light extraction layer 102, a transparent substrate 104, an internal light extraction layer 106, a first electrical contact 108, one or more semiconductor layers 110 and 112, a second electrical contact 114 and a cover substrate 116. The internal light extraction layer 106, the first electrode 108, the one or more semiconductor layers 110 and 112, and the second electrode 114 are sealed between the transparent substrate 104 and the cover substrate. Each layer of the OLED 100a is formed in an adjacent layer by a method such as coating except for the external light extraction layer 102 and the internal light extraction layer 106, and the present invention is carried out.
説明の目的で、OLED100aは、本発明の説明に関連する層のみを含むように示した。しかしながら、本発明が上記リストされた層に限定されないことは理解すべきである。いくつかの場合には、OLED100aは、本発明の範囲から逸脱することなく、効率を高めるか又は信頼性を向上させるために追加の層を含んでもよい。 For illustration purposes, OLED 100a is shown to include only the layers relevant to the description of the present invention. However, it should be understood that the invention is not limited to the layers listed above. In some cases, OLED 100a may include additional layers to increase efficiency or improve reliability without departing from the scope of the present invention.
透明基板104は、OLED100aへ強度を提供し、使用時にOLED100aの発光面としても役立つ。透明基板104の例は、ガラス、フレキシブルガラス、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、及び他の透明又は半透明材料を含むがこれに限定されない。 The transparent substrate 104 provides strength to the OLED 100a and also serves as a light emitting surface of the OLED 100a when in use. Examples of the transparent substrate 104 include, but are not limited to, glass, flexible glass, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), and other transparent or translucent materials.
第1電気コンタクト108及び第二電気コンタクト114は、1又は複数の半導体層110及び112を横切って電圧を印加するために使用される。第1電気コンタクト108は、例えば、透明導電酸化物(TCO)で実施可能である。TCOは、ドープされた金属酸化物であり、TCOでの例は、アルミニウム-ドープされた酸化亜鉛(AZO)、インジウム酸化亜鉛(IZO)、ボロンドープされた酸化亜鉛(BZO)、ガリウムドープされた酸化亜鉛(GZO)、フッ素ドープされた酸化スズ(FTO)及びインジウムドープされた酸化スズ(ITO)を含むがこれに限定されない。さらに、第二電気コンタクト114は、電荷キャリアを注入するのに適切な仕事関数を有する金属(例:カルシウム、アルミニウム、金、又は銀)で実施可能である。 First electrical contact 108 and second electrical contact 114 are used to apply a voltage across one or more semiconductor layers 110 and 112. The first electrical contact 108 can be implemented with, for example, a transparent conductive oxide (TCO). TCO is a doped metal oxide, examples of TCO are aluminum-doped zinc oxide (AZO), indium zinc oxide (IZO), boron-doped zinc oxide (BZO), gallium-doped oxide. Including but not limited to zinc (GZO), fluorine doped tin oxide (FTO) and indium doped tin oxide (ITO). Further, the second electrical contact 114 can be implemented with a metal (eg, calcium, aluminum, gold, or silver) that has an appropriate work function for injecting charge carriers.
1又は複数の半導体層110及び112は、有機エレクトロルミネセンス材料(例:発光ポリマー、蒸着した低分子材料、発光デンドリマ又は分子状にドープされたポリマー)で実施可能である。 The one or more semiconductor layers 110 and 112 can be implemented with an organic electroluminescent material (eg, a light emitting polymer, a deposited low molecular weight material, a light emitting dendrimer, or a molecularly doped polymer).
高屈折率材料から、より低屈折率材料又は媒体を有する界面への入射光は、θc=sin-1(n2/n1)によって定義される臨界角θcより大きい全ての入射角について全反射(TIR)となる(n1及びn2は、それぞれ、高屈折率材料及び低屈折率材料の屈折率である)。同じ理由により、半導体層110又は112によって放射された光は、透明基板104との界面に到達すると、相当な量の光が反射されて半導体層110及び112に戻される。 The incident light from the high refractive index material to the interface with the lower refractive index material or medium is for all incident angles greater than the critical angle θ c defined by θ c = sin -1 (n 2 / n 1 ) Total reflection (TIR) results (n 1 and n 2 are the refractive indices of the high and low refractive index materials, respectively). For the same reason, when the light emitted by the semiconductor layer 110 or 112 reaches the interface with the transparent substrate 104, a considerable amount of light is reflected back to the semiconductor layers 110 and 112.
1又は複数の半導体層110又は112によって放射された光の伝播方向を基板104との界面で変えることができるテクスチャーを有する内部光取り出し層106の存在は、OLED100a内への光の反射(又はTIR)を減少させるのを助ける。内部光取り出し層106上のテクスチャーは、放射された光の伝播方向の変化を回折によって容易にするために光の波長のオーダーでの寸法を有する形状を含んでもよい。内部光取り出し層106上のテクスチャーは、放射された光の伝播方向の変化を屈折によって容易にするために光の波長より大きい寸法を有する形状を含んでもよい。従って、テクスチャーを有する内部光取り出し層106の存在は、TIRを除去又は減少させ、OLEDの効率をさらに増大させる吸収及び散乱体として役立つ。同様に、外部光取り出し層102は、透明基板104と周囲媒体の間の界面でのTIRを減少又は除去する。 The presence of an internal light extraction layer 106 with a texture that can change the direction of propagation of light emitted by one or more semiconductor layers 110 or 112 at the interface with the substrate 104 is a reflection of light (or TIR) into the OLED 100a. ) Help reduce. The texture on the inner light extraction layer 106 may include a shape having dimensions in the order of the wavelength of the light to facilitate changes in the propagation direction of the emitted light by diffraction. The texture on the inner light extraction layer 106 may include a shape having a dimension larger than the wavelength of the light in order to facilitate the change in the propagation direction of the emitted light by refraction. Thus, the presence of textured internal light extraction layer 106 serves as an absorber and scatterer that removes or reduces TIR and further increases the efficiency of the OLED. Similarly, the external light extraction layer 102 reduces or eliminates TIR at the interface between the transparent substrate 104 and the surrounding medium.
他の例示的実施形態では、ホール移動層(図示せず)も半導体層110を堆積する前に第1電気コンタクト108上に堆積してもよい。ホール移動層は、第1電気コンタクト108から半導体層110への正孔の流れを高め、それによってOLED100aの効率を増大させることができる。 In other exemplary embodiments, a hole transport layer (not shown) may also be deposited on the first electrical contact 108 prior to depositing the semiconductor layer 110. The hole transport layer can enhance the flow of holes from the first electrical contact 108 to the semiconductor layer 110, thereby increasing the efficiency of the OLED 100a.
同様に、さらに別の例示的実施形態では、電子移動層(図示せず)も第二電気コンタクト114を堆積する前に半導体層112上に堆積してもよい。電子移動層は、第二電気コンタクト114から半導体層112への電子の流れを高め、及びそれによってOLED100aの効率を増大させることができる。 Similarly, in yet another exemplary embodiment, an electron transfer layer (not shown) may also be deposited on the semiconductor layer 112 prior to depositing the second electrical contact 114. The electron transfer layer can enhance the flow of electrons from the second electrical contact 114 to the semiconductor layer 112 and thereby increase the efficiency of the OLED 100a.
ここで、図1bを参照すると、本発明の実施形態に従って例示的OPV100bでの層のスタックが示される。OPV100bは、透明基板118、光トラッピング層120、第一電気コンタクト122、1又は複数の半導体層124及び126、第二電気コンタクト128及びカバー基板130を含むように示される。 Referring now to FIG. 1b, a stack of layers in an exemplary OPV 100b is shown according to an embodiment of the present invention. OPV 100b is shown to include a transparent substrate 118, a light trapping layer 120, a first electrical contact 122, one or more semiconductor layers 124 and 126, a second electrical contact 128 and a cover substrate 130.
OPV100bでは、光は、1又は複数の半導体層124及び126に当たり、半導体層124及び126を通じて電気の生成を可能にする。この電気は、第一及び第二電気コンタクト122及び128によって外部回路へ取り出される。OPV100bでは、光トラッピング層120は、OPV100bへ送られた光の光路を増大させるように提供される。 In the OPV 100b, light strikes one or more semiconductor layers 124 and 126 and allows generation of electricity through the semiconductor layers 124 and 126. This electricity is extracted to the external circuit by first and second electrical contacts 122 and 128. In OPV 100b, an optical trapping layer 120 is provided to increase the optical path of light sent to OPV 100b.
OLED及びOPVのようなデバイスにおける光取り出し及び光トラッピングのためにラッカー層の存在は、望ましい。しかしながら、ラッカー層の使用は、このようなデバイスの製造コストを増大させる。また、ラッカー層の存在は、基板とカバー基板が接合するエリア、及び電気コンタクトが半導体層上に堆積されるエリアにおいて望ましくない、なぜなら、ラッカー層で使用されるラッカー材料の存在が剥離、又はラッカー層を通じた水又は空気の侵入を引き起こす場合があるからである。これは、腐食を引き起こし、このようなデバイス(OLED又はOPV)の実施に悪影響を与える場合がある。本発明は、光取り出し及び/又は光トラッピングテクスチャーを含む基板を提供することによってこれらの問題に対する解決手段を提供する。これは、OLED及びOPVのようなデバイスが光取り出し及び光トラッピング層の製造コストを抑制することを可能にする。また、このことは、光取り出し及び光トラッピング層の存在によって以前に生じていた、水、空気及び他の汚染物質の侵入の問題を最小にする。 The presence of a lacquer layer is desirable for light extraction and light trapping in devices such as OLEDs and OPVs. However, the use of a lacquer layer increases the manufacturing costs of such devices. Also, the presence of the lacquer layer is undesirable in the area where the substrate and cover substrate are joined and in the area where electrical contacts are deposited on the semiconductor layer, because the presence of the lacquer material used in the lacquer layer is delaminated or lacquered This is because water or air may enter through the layers. This can cause corrosion and adversely affect the implementation of such devices (OLED or OPV). The present invention provides a solution to these problems by providing a substrate that includes light extraction and / or light trapping texture. This allows devices such as OLEDs and OPVs to control the light extraction and light trapping layer manufacturing costs. This also minimizes water, air and other contaminant ingress problems previously caused by the presence of light extraction and light trapping layers.
ここで、図2を参照すると、本発明の実施形態に従って基板の射出成形に使用される例示的モールド200が図2に示される。当業者は、モールド200が図2に示すものより多い又はより少ない数のコンポーネント又は領域を含んでもよいことを理解するであろう。モールド200は、図示せず且つ本発明の種々の実施形態に関係がないコンポーネント又は領域を含んでもよい。 Referring now to FIG. 2, an exemplary mold 200 used for substrate injection molding in accordance with an embodiment of the present invention is shown in FIG. One skilled in the art will appreciate that the mold 200 may include more or fewer components or regions than those shown in FIG. The mold 200 may include components or regions not shown and not relevant to various embodiments of the present invention.
モールド200は、第一ダイ202a、第二ダイ202b、及びノズル204を含むように示される。本発明によれば、基板を形成する材料は、溶融状態で、ノズル204を介して第一ダイ202aと第二ダイ202bの間に形成されたキャビティー内へ注入可能である。その後、基板を形成する溶融材料は、冷却され、基板を形成する。モールド200は、冷却を容易にするために内蔵の冷却機構、例えば、冷却ジャケット/キャビティーを含んでもよい。テクスチャーは、キャビティーの構成に基づいて基板上に形成される。一実施形態では、基板上に形成されるテクスチャーは、光取り出し及び/又は光トラッピングテクスチャーであってもよい。基板を形成するための材料は、通常、熱可塑性材料である。材料の例は、プラスチック、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)及び他の透明熱可塑性材料を含むがこれに限定されない。モールド200用の材料の例は、鉄、スチール、ステンレススチール、アルミニウム合金、及び真ちゅうを含むがこれに限定されない。 The mold 200 is shown to include a first die 202a, a second die 202b, and a nozzle 204. According to the present invention, the material forming the substrate can be injected in a molten state into the cavity formed between the first die 202a and the second die 202b via the nozzle 204. Thereafter, the molten material forming the substrate is cooled to form the substrate. The mold 200 may include a built-in cooling mechanism, such as a cooling jacket / cavity, to facilitate cooling. The texture is formed on the substrate based on the cavity configuration. In one embodiment, the texture formed on the substrate may be a light extraction and / or light trapping texture. The material for forming the substrate is usually a thermoplastic material. Examples of materials include, but are not limited to, plastic, polycarbonate, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), and other transparent thermoplastic materials. Examples of materials for the mold 200 include, but are not limited to, iron, steel, stainless steel, aluminum alloy, and brass.
図3に移ると、本発明の実施形態に従って図3に第一ダイ202a及び第二ダイ202bの例示的図が示される。第一ダイ202aは、第一テクスチャーに対応する第一テンプレート302及びノズル204の部分204aを含むように示される。同様に、第二ダイ202bは、第二テクスチャーに対応する第二テンプレート304及びノズル204の部分204bを含むように示される。第一ダイ202a及び第二ダイ202b用の材料の例は、鉄、スチール、ステンレススチール、アルミニウム合金、及び真ちゅうを含むがこれに限定されない。 Turning to FIG. 3, an exemplary view of a first die 202a and a second die 202b is shown in FIG. 3 in accordance with an embodiment of the invention. The first die 202a is shown to include a first template 302 and a portion 204a of the nozzle 204 corresponding to the first texture. Similarly, the second die 202b is shown to include a second template 304 and a portion 204b of the nozzle 204 corresponding to the second texture. Examples of materials for the first die 202a and the second die 202b include, but are not limited to, iron, steel, stainless steel, aluminum alloy, and brass.
モールド200を用いて形成される基板は、第一表面及び第二表面によって特徴付けられる。基板を形成するための材料は、モールド200内で射出成形され、これによって、第一テクスチャーが基板の第一表面上に形成され、第二テクスチャーが基板の第二表面上に形成される。いくつかの実施形態では、基板を形成するための材料は、テクスチャーが基板の一表面上においてのみ形成されるように成形してもよい。 The substrate formed using the mold 200 is characterized by a first surface and a second surface. The material for forming the substrate is injection molded in the mold 200, whereby a first texture is formed on the first surface of the substrate and a second texture is formed on the second surface of the substrate. In some embodiments, the material for forming the substrate may be shaped such that the texture is formed only on one surface of the substrate.
実際の応用では、例えばOLEDでは、第一テクスチャー及び第二テクスチャーは、光取り出しを容易にし、第一表面及び第二表面がそれぞれ外部光取り出し層及び内部光取り出し層として働くことを可能にする。同様に、OPVの場合、第一テクスチャー及び第二テクスチャーは、光トラッピングを容易にしてもよい。 In practical applications, for example in OLEDs, the first texture and the second texture facilitate light extraction, allowing the first and second surfaces to act as an external light extraction layer and an internal light extraction layer, respectively. Similarly, for OPV, the first texture and the second texture may facilitate light trapping.
例えば、OLEDでは光取り出しを容易にするために、光伝播方向を変化させなければならない。基板へ提供されたテクスチャーは、光伝播方向を変化させるであろう。テクスチャーは、回折又は屈折によって光伝播方向の変化を引き起こすことができる。光の波長のオーダーでの寸法を有するテクスチャーは、通常、回折によって光伝播方向を変化させる。回折によって光伝播方向を変化させるテクスチャーの例は1D回折格子及び2D回折格子を含むがこれに限定されない。光の波長より大きい寸法を有するテクスチャーは、通常、屈折によって光伝播方向を変化させる。屈折によって光伝播方向を変化させるテクスチャーの例は、レンズ、コーン、及びピラミッドを含むがこれに限定されない。 For example, in OLED, the light propagation direction must be changed to facilitate light extraction. The texture provided to the substrate will change the light propagation direction. Texture can cause changes in the direction of light propagation by diffraction or refraction. Textures having dimensions in the order of the wavelength of light usually change the light propagation direction by diffraction. Examples of textures that change the light propagation direction by diffraction include, but are not limited to, 1D diffraction gratings and 2D diffraction gratings. Textures having dimensions larger than the wavelength of light usually change the light propagation direction by refraction. Examples of textures that change the light propagation direction by refraction include, but are not limited to, lenses, cones, and pyramids.
通常、外部及び内部光取り出しを容易にするテクスチャーは、回折又は屈折によって光伝播方向を変化させ、それによってTIRを除去又は減少させるのを助けることができる。しかしながら、内部光取り出しを容易にするテクスチャーは、多くの場合には、回折によって光伝播方向を変化させることができ、外部光取り出しを容易にするテクスチャーは、多くの場合には、屈折によって光伝播方向を変化させることができる。 Typically, textures that facilitate external and internal light extraction can help to change the light propagation direction by diffraction or refraction, thereby removing or reducing TIR. However, textures that facilitate internal light extraction can often change the direction of light propagation by diffraction, and textures that facilitate external light extraction are often light propagation by refraction. The direction can be changed.
第二テクスチャーに加えて、モールド200の第二ダイ202bは、ガター状の1又は複数の溝も含むことができる。これらのガターの形状は、基板の第二表面上の1又は複数の溝によって形成される形状に収容可能である電子回路に対応する。 In addition to the second texture, the second die 202b of the mold 200 can also include one or more gutter-shaped grooves. The shape of these gutters corresponds to an electronic circuit that can be accommodated in the shape formed by one or more grooves on the second surface of the substrate.
これらの1又は複数の溝は、大面積半導体デバイスの場合に通常必要な電子回路を収容するように構成されている。半導体デバイスのTCOベースの電極層によって提供される導電度は、不十分である場合が多く、大面積半導体デバイスでの電圧降下に繋がる。この電圧降下は、TCO層に加えて電子回路を提供することによって防止可能である。電子回路は、導電度が高い金属線又はバスバーのグリッド、又は電子グリッド線又は基板及びTCO層の全表面に渡って電流パスを提供することができる回路の形態にすることができる。 These one or more grooves are configured to accommodate electronic circuitry normally required for large area semiconductor devices. The conductivity provided by the TCO-based electrode layer of a semiconductor device is often insufficient, leading to a voltage drop in large area semiconductor devices. This voltage drop can be prevented by providing an electronic circuit in addition to the TCO layer. The electronic circuit can be in the form of a metal wire or busbar grid with high conductivity, or a circuit that can provide a current path across the entire surface of the electronic grid wire or substrate and TCO layer.
しかしながら、同時に、第二テクスチャー及び電子回路の上面は、第二テクスチャーの表面と次の層の間にギャップがないことを保証するために類似の高さにすべきである。これは、第二テクスチャーと共にモールド200の第二ダイ202bにガター状の1又は複数の溝を提供することによって維持することができる。1又は複数の溝は、第二テクスチャーの表面から突出しないように形成され、電子回路の形状に完全に対応し、それによって次の堆積のための実質的に均一の表面を提供する。これは、次の層の厚さにおける不均一性を防ぐのを助ける。いくつかの実施形態では、1又は複数の溝は、20〜100ミクロンの範囲の幅及び2〜30ミクロンの範囲の深さを有するように設計されている。 At the same time, however, the second texture and the top surface of the electronic circuit should be of similar height to ensure that there is no gap between the surface of the second texture and the next layer. This can be maintained by providing one or more gutter-like grooves in the second die 202b of the mold 200 along with the second texture. The one or more grooves are formed so as not to protrude from the surface of the second texture and fully correspond to the shape of the electronic circuit, thereby providing a substantially uniform surface for subsequent deposition. This helps to prevent non-uniformities in the thickness of the next layer. In some embodiments, the one or more grooves are designed to have a width in the range of 20-100 microns and a depth in the range of 2-30 microns.
第二ダイ202bに1又は複数の溝を提供することは、より高いアスペクト比の溝を提供するのを助け、より目立たちにくい、より狭いグリッド線が得られる。さらに、1又は複数の溝を提供する追加のステップが省かれ、プロセスが単純で低コストになる。 Providing one or more grooves in the second die 202b helps provide a higher aspect ratio groove, resulting in a narrower grid line that is less noticeable. Furthermore, the additional step of providing one or more grooves is omitted, making the process simple and low cost.
続いて、図4aは、例示的テクスチャーに対応する例示的テンプレート404を含む例示的ダイ402の図示である。図4aにテンプレート402のセクション406も示す。セクション406は、本発明のいくつかの実施形態に従って例示的テクスチャーを説明するために図4b、4c及び4dで利用する。 Continuing, FIG. 4a is an illustration of an example die 402 that includes an example template 404 corresponding to an example texture. FIG. 4a also shows section 406 of template 402. Section 406 is utilized in FIGS. 4b, 4c and 4d to describe exemplary textures in accordance with some embodiments of the present invention.
ダイ402は、図2を用いて説明した第一ダイ202a及び第二ダイ202bに本質的に類似している。また、ダイ402は、本発明に従って基板を形成するために使用されるモールドの一部であってもよい。 The die 402 is essentially similar to the first die 202a and the second die 202b described using FIG. The die 402 may also be part of a mold used to form a substrate according to the present invention.
本発明の実施形態に従って、セクション406は、対応するテクスチャーを有するテンプレート404を提供する4つの逆ピラミッドを含むように示される。この場合、基板の表面上に形成されるテクスチャーは、複数のピラミッドの形態である。しかしながら、テンプレートは、本発明の範囲から逸脱することなく光取り出し/光トラッピング特徴を提供する対応する他のこのようなテクスチャーであってもよいことを当業者は理解するであろう。 In accordance with an embodiment of the present invention, section 406 is shown to include four inverted pyramids that provide template 404 with a corresponding texture. In this case, the texture formed on the surface of the substrate is in the form of a plurality of pyramids. However, those skilled in the art will appreciate that the template may be any other such texture that provides light extraction / light trapping features without departing from the scope of the present invention.
図4b、4c及び4dに例示されるテクスチャーは、屈折を用いて光伝播方向を変化させることができる。しかしながら、光取り出し/光トラッピング特徴を提供する他のこのようなテクスチャー、例えば、レンズ、1D回折格子、2D回折格子などは、本発明の範囲から逸脱することなく、同様に、適用可能であることを当業者は理解するであろう。 The textures illustrated in FIGS. 4b, 4c and 4d can change the light propagation direction using refraction. However, other such textures that provide light extraction / light trapping features, such as lenses, 1D diffraction gratings, 2D diffraction gratings, etc., can be applied as well without departing from the scope of the present invention. Will be understood by those skilled in the art.
一実施形態では、テクスチャーにおける個々のピラミッドの半径'a'は、5ミクロン〜250ミクロンからの範囲、テクスチャーにおける個々のピラミッドの高さ'b'は、10ミクロン〜500ミクロンからの範囲、頂角'c'は、30度〜150度からの範囲にすることができる。しかしながら、個々のピラミッドは、本発明の範囲から逸脱することなく、必要な機能を実現することを可能にする他の適切な寸法であってもよいことを当業者は理解するであろう。 In one embodiment, the radius 'a' of the individual pyramids in the texture ranges from 5 microns to 250 microns, and the height 'b' of the individual pyramids in the texture ranges from 10 microns to 500 microns, the apex angle 'c' can range from 30 degrees to 150 degrees. However, those skilled in the art will appreciate that the individual pyramids may be of other suitable dimensions that allow the necessary functions to be performed without departing from the scope of the present invention.
別の実施形態では、個々のピラミッドは、セクション406のx-軸に沿った距離'd'及びy-軸に沿った距離'e'で隣接した個々のピラミッドから分離可能である。一実施形態では、距離'd'及び'e'は、0〜200ミクロンからの範囲にしてもよい。しかしながら、隣接した個々のピラミッドは、本発明の範囲から逸脱することなく、必要な機能を実現することを可能にする他の適切な距離で分離可能であることを当業者は理解するであろう。 In another embodiment, individual pyramids are separable from adjacent individual pyramids at a distance 'd' along the x-axis of section 406 and a distance 'e' along the y-axis. In one embodiment, the distances 'd' and 'e' may range from 0 to 200 microns. However, those skilled in the art will appreciate that adjacent individual pyramids can be separated by other suitable distances that allow the necessary functions to be performed without departing from the scope of the present invention. .
一実施形態では、回折を用いて光伝播方向を変化させる場合、テクスチャーの寸法は、通常200nm〜400nmの範囲である。同様に、x-軸及びy-軸に沿って隣接したテクスチャーの間の距離は、500nm〜700nmの範囲である。しかしながら、テクスチャーは、他の寸法であってもよく、本発明の範囲から逸脱することなく、必要な機能を実現するテクスチャーを可能にする他の適切な距離によって隣接したテクスチャーから分離されるものであってもよいことを当業者は理解するであろう。 In one embodiment, when using diffraction to change the light propagation direction, the texture dimensions are typically in the range of 200 nm to 400 nm. Similarly, the distance between adjacent textures along the x-axis and y-axis ranges from 500 nm to 700 nm. However, the texture may be of other dimensions and is separated from the adjacent texture by other suitable distances that allow the texture to achieve the required function without departing from the scope of the present invention. One skilled in the art will understand that this may be the case.
図5に移ると、本発明の実施形態に従って例示的基板502の例示的第一表面504上に形成される例示的テクスチャーが示される。本発明の理解のために、テクスチャーは、基板502の第一表面504上においてのみ示している。しかしながら、テクスチャーが基板502の第二表面506上にも形成可能であることを当業者は理解するであろう。また、この図中の要素は、簡潔さ及び明確さのための例示であり、寸法は必ずしも正確ではないことを理解すべきである。例えば、図に示すテクスチャーの寸法は、本発明の理解を向上させるために基板502に対して誇張している場合がある。 Turning to FIG. 5, an exemplary texture formed on an exemplary first surface 504 of an exemplary substrate 502 is shown in accordance with an embodiment of the present invention. For the understanding of the present invention, the texture is shown only on the first surface 504 of the substrate 502. However, those skilled in the art will appreciate that a texture can also be formed on the second surface 506 of the substrate 502. It should also be understood that the elements in this figure are illustrative for the sake of brevity and clarity and that the dimensions are not necessarily accurate. For example, the texture dimensions shown in the figures may be exaggerated with respect to the substrate 502 to improve understanding of the present invention.
本発明の実施形態に従って図6aに、例示的OLED600aにおける層のスタックを示す。OLED600aは、第一表面604及び第二表面606を有する基板602を含むように示される。第一表面604は、第一テクスチャー608を含み、第二表面606は、第二テクスチャー610を含む。第一テクスチャー608を含む第一表面604は、外部光取り出し層として役立ち、第二テクスチャー610を含む第二表面606は、内部光取り出し層として役立つ。従って、本発明に従って形成されたOLED600aは、外部及び光取り出し層を別途設けることなく機能することができる。 In accordance with an embodiment of the present invention, FIG. 6a shows a stack of layers in an exemplary OLED 600a. The OLED 600a is shown to include a substrate 602 having a first surface 604 and a second surface 606. The first surface 604 includes a first texture 608 and the second surface 606 includes a second texture 610. The first surface 604 including the first texture 608 serves as an external light extraction layer, and the second surface 606 including the second texture 610 serves as an internal light extraction layer. Therefore, the OLED 600a formed according to the present invention can function without providing an external and light extraction layer separately.
OLED600aにおける層のスタック中の他の層は、図1aで説明したOLED100aのものに類似しており、第1電気コンタクト108、1又は複数の半導体層110及び112、第二電気コンタクト114及びカバー基板116を含む。 The other layers in the stack of layers in the OLED 600a are similar to those of the OLED 100a described in FIG. 1a, with the first electrical contact 108, one or more semiconductor layers 110 and 112, the second electrical contact 114 and the cover substrate. Including 116.
OLED600aのいくつかの実例は、、有機発光ダイオード(OLED)、白色有機発光ダイオード(W-OLED)、アクティブマトリクス有機発光ダイオード(AMOLED)、単純マトリクス有機発光ダイオード(PMOLED)、フレキシブル有機発光ダイオード(FOLED)、スタックされた有機発光ダイオード(SOLED)、タンデム有機発光ダイオード、透明有機発光ダイオード(TOLED)、上部発光有機発光ダイオード、下部発光有機発光ダイオード、蛍光ドープされた有機発光ダイオード(F-OLED)及び燐光有機発光ダイオード(PHOLED)を含むがこれに限定されない。 Some examples of OLED600a are organic light emitting diode (OLED), white organic light emitting diode (W-OLED), active matrix organic light emitting diode (AMOLED), simple matrix organic light emitting diode (PMOLED), flexible organic light emitting diode (FOLED) ), Stacked organic light emitting diode (SOLED), tandem organic light emitting diode, transparent organic light emitting diode (TOLED), top light emitting organic light emitting diode, bottom light emitting organic light emitting diode, fluorescent doped organic light emitting diode (F-OLED) and Including but not limited to phosphorescent organic light emitting diodes (PHOLED).
基板602は、OLED600aへ強度を提供し、使用時にOLED600aの発光面としても役立つ。基板602を形成するために使用可能である材料の例は、プラスチック、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)及び他のこのような透明熱可塑性材料を含むがこれに限定されない。さらに、基板602は、光学的に透明であり、つまり、基板602は、入射光の通過を可能にする。 The substrate 602 provides strength to the OLED 600a and also serves as the light emitting surface of the OLED 600a when in use. Examples of materials that can be used to form the substrate 602 include, but are not limited to, plastic, polycarbonate, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), and other such transparent thermoplastic materials. Further, the substrate 602 is optically transparent, that is, the substrate 602 allows the passage of incident light.
一実施形態では、基板602は、1又は複数の半導体層110及び112と実質的に同じであるか又はこれより大きい屈折率を有する材料でも形成可能である。このような材料の例は、ポリエチレンナフタレート(PEN)を含むがこれに限定されない。これは、光学的均一性を向上させる、つまり基板602の屈折率が1又は複数の半導体層110及び112の屈折率より小さいときに起こり且つOLED600aへ戻る光のTIRを除去又は最小化する。基板602の材料の屈折率が1又は複数の半導体層110及び112の屈折率と実質的に同じであるか又はこれより大きい場合、基板602の第一表面604は、外部光取り出しを提供する第一テクスチャー610を設けることができ、第二表面608が内部光取り出しを提供するテクスチャーを含まなくてもよい。なぜなら、TIRは、すでに除去又は最小化されているからである。 In one embodiment, the substrate 602 can be formed of a material having a refractive index that is substantially the same as or greater than the one or more semiconductor layers 110 and 112. Examples of such materials include but are not limited to polyethylene naphthalate (PEN). This improves optical uniformity, ie, removes or minimizes the TIR of light that occurs when the refractive index of the substrate 602 is less than the refractive index of the one or more semiconductor layers 110 and 112 and returns to the OLED 600a. If the refractive index of the material of the substrate 602 is substantially the same as or greater than the refractive index of the one or more semiconductor layers 110 and 112, the first surface 604 of the substrate 602 provides a first light extraction. One texture 610 may be provided and the second surface 608 may not include a texture that provides internal light extraction. This is because the TIR has already been removed or minimized.
一実施形態では、第二表面606上の第二テクスチャー610は、基板602が回折によって光伝播方向を変化させ、それによってTIRを除去又は減少させるのを助けることを可能にし、これによって、光に第二表面606を通過させる。回折によって光伝播方向を変化させる第二テクスチャー610の例は、光の波長のオーダーでの寸法を有するテクスチャーを含む。 In one embodiment, the second texture 610 on the second surface 606 allows the substrate 602 to change the light propagation direction by diffraction, thereby helping to remove or reduce TIR, thereby allowing light to enter. Pass the second surface 606. An example of a second texture 610 that changes the direction of light propagation by diffraction includes a texture having dimensions in the order of the wavelength of light.
別の実施形態では、第二表面606上の第二テクスチャー610は、基板602が屈折によって光伝播方向を変化させ、それによってTIRを除去又は減少させるのを助けることを可能にし、これによって、光に第二表面606を通過する。屈折によって光伝播方向を変化させる第二テクスチャー610の例は、光の波長より大きい寸法を有するテクスチャーを含む。 In another embodiment, the second texture 610 on the second surface 606 allows the substrate 602 to change the light propagation direction by refraction, thereby helping to remove or reduce the TIR, thereby reducing the light Passes through the second surface 606. An example of the second texture 610 that changes the light propagation direction by refraction includes a texture having a dimension larger than the wavelength of light.
同様に、第一テクスチャー608は、基板602と周囲媒体の間の界面でTIRを減少させるか又はこれを除去する。しかしながら、多くの場合には第一テクスチャー608は、屈折によって光伝播方向を変化させる。このような第一テクスチャー608の例は、光の波長より大きい寸法を有するテクスチャーを含む。 Similarly, the first texture 608 reduces or eliminates TIR at the interface between the substrate 602 and the surrounding medium. However, in many cases, the first texture 608 changes the light propagation direction by refraction. An example of such a first texture 608 includes a texture having a dimension larger than the wavelength of light.
例えば光取り出しの場合、1又は複数の半導体層110及び112によって放射され第二テクスチャー610に到達した光は、これを通過して基板602に到達可能である。第二テクスチャー610は、光を屈折させ、光が反射されて1又は複数の半導体層110及び112に戻されることを防ぐ。また、第一テクスチャー608は、光が基板602を通過して周囲媒体に入ることを可能にする。第一テクスチャー608は、光を屈折させ、光が反射されてOLED600aに戻されることを防ぐ。 For example, in the case of light extraction, the light emitted by the one or more semiconductor layers 110 and 112 and reaching the second texture 610 can pass through this and reach the substrate 602. The second texture 610 refracts light and prevents the light from being reflected back to the one or more semiconductor layers 110 and 112. The first texture 608 also allows light to pass through the substrate 602 and enter the surrounding medium. The first texture 608 refracts light and prevents the light from being reflected back to the OLED 600a.
例示的実施形態では、1又は複数の半導体層110及び112を堆積する前に第1電気コンタクト108上にホール移動層(図示せず)を堆積してもよい。ホール移動層は、第1電気コンタクト108から半導体層110への正孔の流れを高め、それによってOLED600aの効率を増大させることができる。 In the exemplary embodiment, a hole transport layer (not shown) may be deposited on the first electrical contact 108 before depositing the one or more semiconductor layers 110 and 112. The hole transport layer can enhance the flow of holes from the first electrical contact 108 to the semiconductor layer 110, thereby increasing the efficiency of the OLED 600a.
同様に、さらに別の例示的実施形態では、半導体層112上に電子移動層(図示せず)を堆積してもよい。電子移動層は、第二電気コンタクト114から半導体層112への電子の流れを高め、それによってOLED600aの効率を増大させることができる。 Similarly, in yet another exemplary embodiment, an electron transfer layer (not shown) may be deposited on the semiconductor layer 112. The electron transfer layer can enhance the flow of electrons from the second electrical contact 114 to the semiconductor layer 112, thereby increasing the efficiency of the OLED 600a.
図6aでは、OELD600aは、平坦な層のスタックとして示している。しかしながら、別の実施形態では、内部光取り出しを提供する第二テクスチャーは、OLED600aを通じて伝播してもよく、これによって、全ての層が類似のテクスチャーを含んでもよい。 In FIG. 6a, the OELD 600a is shown as a flat layer stack. However, in another embodiment, the second texture that provides internal light extraction may propagate through the OLED 600a, so that all layers may contain similar textures.
ここで、図6bを参照すると、本発明の実施形態に従って例示的OPV600bにおける層のスタックが示される。OPV600bは、第一表面614及び第二表面616を有する基板612を含むように示される。第二表面616は、第二テクスチャー618を含み、第一表面614は、テクスチャーを含まない。第二テクスチャー618を含む第二表面616は、光トラッピング層として役立つ。しかしながら、基板612の第一表面614上にテクスチャーが形成可能であることを当業者は理解するであろう。本発明に従って形成されたOPV600bは、光トラッピング層を別に設けること無く機能することができる。 Referring now to FIG. 6b, a stack of layers in an exemplary OPV 600b is shown according to an embodiment of the present invention. OPV 600b is shown to include a substrate 612 having a first surface 614 and a second surface 616. The second surface 616 includes a second texture 618 and the first surface 614 does not include a texture. A second surface 616 comprising a second texture 618 serves as a light trapping layer. However, those skilled in the art will appreciate that a texture can be formed on the first surface 614 of the substrate 612. The OPV 600b formed according to the present invention can function without a separate optical trapping layer.
OPV600bにおける層のスタックでの他の層は、図1bで説明したOPV100bのものに類似しており、第一電気コンタクト122、1又は複数の半導体層124及び126、第二電気コンタクト128及びカバー基板130を含む。 The other layers in the stack of layers in OPV 600b are similar to those of OPV 100b described in FIG. 1b, and include a first electrical contact 122, one or more semiconductor layers 124 and 126, a second electrical contact 128 and a cover substrate. Including 130.
OPV600bでは、半導体層124及び126に当たる光は、半導体層124及び126を通じて電気の生成を可能にし、この電気は、第一及び第二電気コンタクト122及び128によって外部回路へ取り出される。OPV600bでは、第二テクスチャー618は、OPV600bに送られた光の光路を増大させるために提供される。例えば光トラッピングの場合、周囲媒体から基板612に入って第二テクスチャー618に到達した光は、これを通過して1又は複数の半導体層124及び126に到達する。第一テクスチャー608は、光を屈折させ、光が反射されて周囲媒体に戻されることを防ぐ。 In the OPV 600b, light striking the semiconductor layers 124 and 126 allows generation of electricity through the semiconductor layers 124 and 126, and this electricity is extracted to external circuitry by the first and second electrical contacts 122 and 128. In OPV 600b, a second texture 618 is provided to increase the optical path of the light sent to OPV 600b. For example, in the case of light trapping, light that enters the substrate 612 from the surrounding medium and reaches the second texture 618 passes through it and reaches one or more semiconductor layers 124 and 126. The first texture 608 refracts light and prevents it from being reflected back to the surrounding medium.
ここで、図7を参照すると、基板(例えば、基板602)にテクスチャーを形成するためのテクスチャー形成プロセス700が提供される。方法700を説明するために、図2、3、4、5、及び6を参照するが、方法700が他の適切な環境でも実施可能であることは理解されるであろう。さらに、本発明は、方法700にリストされる工程の順序に限定されない。さらに、本発明によれば、方法700が方法700の効果をさらに高めるが方法700に本質的でない1又は複数の追加のステップを含んでもよいことは当業者に明らかであろう。 Referring now to FIG. 7, a texture formation process 700 is provided for forming a texture on a substrate (eg, substrate 602). To illustrate the method 700, reference is made to FIGS. 2, 3, 4, 5, and 6, but it will be understood that the method 700 may be implemented in other suitable environments. Further, the present invention is not limited to the order of steps listed in method 700. Furthermore, it will be apparent to those skilled in the art that the method 700 may include one or more additional steps that further enhance the effectiveness of the method 700 but are not essential to the method 700 in accordance with the present invention.
この方法は、ステップ702で開始される。ステップ704で、モールド(例えば、モールド200)が提供される。モールド200は、第一ダイ202a及び第二ダイ202bを含む。第一ダイ202aは、第一テクスチャーに対応する第一テンプレート302を含み、第二ダイ202bは、第二テクスチャーに対応する第二テンプレート304を含む。第一ダイ202a及び第二ダイ202bが閉じたときに、モールド200が形成され、それによって、モールド内にキャビティーが形成される。キャビティーは、一方の側に第一テクスチャー及び他方の側に第二テクスチャーが定義される。 The method begins at step 702. At step 704, a mold (eg, mold 200) is provided. The mold 200 includes a first die 202a and a second die 202b. The first die 202a includes a first template 302 corresponding to the first texture, and the second die 202b includes a second template 304 corresponding to the second texture. When the first die 202a and the second die 202b are closed, the mold 200 is formed, thereby forming a cavity in the mold. The cavity is defined with a first texture on one side and a second texture on the other side.
一実施形態では、第一テクスチャー及び第二テクスチャーは、光取り出し及び/又は光トラッピングテクスチャーであってもよい。別の実施形態では、モールド200には、一方のテクスチャーのみ、つまり第一テクスチャー又は第二テクスチャーを設けることができる。第一ダイ202a上の第一テクスチャー及び第二ダイ202b上の第二テクスチャーは、彫刻(engraving)、ミリング(milling)、リソグラフィーなどの群から選択された何れの方法を用いて生成してもよい。 In one embodiment, the first texture and the second texture may be light extraction and / or light trapping textures. In another embodiment, the mold 200 can be provided with only one texture, ie, the first texture or the second texture. The first texture on the first die 202a and the second texture on the second die 202b may be generated using any method selected from the group of engraving, milling, lithography, etc. .
その後、ステップ706では、基板(例えば、基板602)を形成する材料がモールド200内で射出成形される。一実施形態では、基板602を形成するための材料は、溶融状態で、ノズル204を介してモールド200内へ注入される。モールド200内のキャビティーに材料が充填されると、その後、材料収縮を補うために圧力が維持される。基板602を形成するための材料の例は、プラスチック、ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)及び他のこのような透明熱可塑性材料を含むがこれに限定されない。一実施形態では、基板602は、1又は複数の半導体層110及び112と実質的に同じであるか又はこれより大きい屈折率を有する材料を用いて形成できる。
これは、光学的均一性を向上させ、つまりOLED600aへ戻る光のTIR(これは、基板602の屈折率が1又は複数の半導体層110及び112の屈折率より小さいときに起こる。)を除去又は最小化する。基板602の材料の屈折率が1又は複数の半導体層110及び112の屈折率と実質的に同じであるか又はこれより大きい場合、基板602の第一表面604は、外部光取り出しを提供する第一テクスチャー610を備え、第二表面608は、内部光取り出しを提供するテクスチャーを含まなくてもよい。なぜなら、TIRは、すでに除去又は最小化されているからである。
Thereafter, in step 706, the material forming the substrate (eg, substrate 602) is injection molded in mold 200. In one embodiment, the material for forming the substrate 602 is injected into the mold 200 through the nozzle 204 in a molten state. Once the cavity in mold 200 is filled with material, pressure is then maintained to compensate for material shrinkage. Examples of materials for forming the substrate 602 include, but are not limited to, plastic, polycarbonate, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), and other such transparent thermoplastic materials. In one embodiment, the substrate 602 can be formed using a material having a refractive index that is substantially the same as or greater than the one or more semiconductor layers 110 and 112.
This improves optical uniformity, ie, removes or removes the TIR of light returning to the OLED 600a (which occurs when the refractive index of the substrate 602 is less than the refractive index of the one or more semiconductor layers 110 and 112). Minimize. When the refractive index of the material of the substrate 602 is substantially the same as or greater than the refractive index of the one or more semiconductor layers 110 and 112, the first surface 604 of the substrate 602 provides a first external light extraction. With one texture 610, the second surface 608 may not include a texture that provides internal light extraction. This is because the TIR has already been removed or minimized.
その後、ステップ708では、基板602が形成される。溶融材料は、モールド200に接触すると冷却し始める。溶融材料は、ガラス転移温度を超える温度であり、モールド200は、溶融材料のガラス転移温度より低い温度である。溶融材料は、冷却及び固化し、モールド200は、その温度を維持する。さらに、モールド200は、通常、高熱導電度を有する金属材料で形成され、溶融材料が急速に冷却され、基板602を形成することを可能にする。また、モールドの温度が多かれ少なかれ維持され、追加の冷却ステップが必要でないので、方法700は、サイクルタイムを短縮できる。 Thereafter, in step 708, the substrate 602 is formed. When the molten material contacts the mold 200, it begins to cool. The molten material is at a temperature above the glass transition temperature, and the mold 200 is at a temperature lower than the glass transition temperature of the molten material. The molten material cools and solidifies, and the mold 200 maintains its temperature. In addition, the mold 200 is typically formed of a metallic material having a high thermal conductivity, allowing the molten material to cool rapidly and form the substrate 602. Also, the method 700 can reduce cycle time because the mold temperature is more or less maintained and no additional cooling steps are required.
別の実施形態では、溶融材料を冷却するために追加のクーラントを使用してもよい。モールド200は、冷却を容易にするために内蔵の冷却機構、例えば、冷却ジャケット/キャビティーを含んでもよい。 In another embodiment, additional coolant may be used to cool the molten material. The mold 200 may include a built-in cooling mechanism, such as a cooling jacket / cavity, to facilitate cooling.
その後、方法700は、ステップ710で終了する。 The method 700 then ends at step 710.
ここで、図8を参照すると、OLED(例えば、OLED600a)を製造する例示的方法が提供される。方法800を説明するために、図2、3、4、5、6、及び7を参照するが、方法800が他の適切な環境でも実施可能であることは理解されるであろう。さらに、本発明は、方法800にリストされる工程の順序に限定されない。さらに、本発明によれば、方法800は、方法800の効果をさらに高めるが方法800に本質的でない1又は複数の追加のステップを含んでもよいことは、当業者に明らかであろう。 Referring now to FIG. 8, an exemplary method for manufacturing an OLED (eg, OLED 600a) is provided. To illustrate the method 800, reference is made to FIGS. 2, 3, 4, 5, 6, and 7, but it will be understood that the method 800 may be implemented in other suitable environments. Further, the present invention is not limited to the order of steps listed in method 800. Furthermore, it will be apparent to those skilled in the art that the method 800 may include one or more additional steps that further enhance the effectiveness of the method 800 but are not essential to the method 800 according to the present invention.
説明の目的のために、方法800は、OLED及び光取り出しを参照して説明してきたが、本発明がOPVにおける光トラッピングのような光管理目的に対しても実施可能であることは当業者に明らかであろう。 For illustrative purposes, the method 800 has been described with reference to OLEDs and light extraction, but it will be appreciated by those skilled in the art that the present invention can be implemented for light management purposes such as light trapping in OPVs. It will be clear.
この方法は、ステップ802で開始される。ステップ804では、テクスチャーが形成された基板が提供される。例えば、テクスチャーが形成された基板は、基板602であってもよい。一実施形態では、テクスチャーが形成された基板は、図7を用いて説明した方法700を用いて準備可能である。 The method begins at step 802. In step 804, a textured substrate is provided. For example, the substrate on which the texture is formed may be the substrate 602. In one embodiment, the textured substrate can be prepared using the method 700 described using FIG.
その後、ステップ806では、テクスチャーが形成された基板上に第一電気コンタクトが堆積される。例えば、第一電気コンタクトは、第1電気コンタクト108であってもよく、基板602の第二表面606上に堆積可能である。第1電気コンタクト108は、種々の方法(例:ディップコーティング、スピンコーティング、ドクターブレード、スプレーコーティング、スクリーン印刷、スパッタリング、ガラスマスタリング、フォトレジストマスタリング、電鋳、及びエバポレーション)を用いることによって堆積可能である。一実施形態では、第1電気コンタクト108は、アノードとして役立つ。 Thereafter, in step 806, a first electrical contact is deposited on the textured substrate. For example, the first electrical contact may be the first electrical contact 108 and can be deposited on the second surface 606 of the substrate 602. The first electrical contact 108 can be deposited by using various methods (eg, dip coating, spin coating, doctor blade, spray coating, screen printing, sputtering, glass mastering, photoresist mastering, electroforming, and evaporation). It is. In one embodiment, the first electrical contact 108 serves as the anode.
その後、ステップ808では、第一半導体層が堆積される。例えば、第一半導体層は、半導体層110であってもよい。一実施形態では、半導体層110は、導電タイプ半導体層であり、これによって、第一電気コンタクト、つまり、アノードからの正孔の輸送を容易にすることができる。半導体層110に使用される材料の例は、ポリアニリンを含むがこれに限定されない。半導体層110は、種々の方法(例:ディップコーティング、スピンコーティング、ドクターブレード、スプレーコーティング、スクリーン印刷、スパッタリング、ガラスマスタリング、フォトレジストマスタリング、電鋳、及びエバポレーション)を用いることによって堆積可能である。 Thereafter, in step 808, a first semiconductor layer is deposited. For example, the first semiconductor layer may be the semiconductor layer 110. In one embodiment, the semiconductor layer 110 is a conductive type semiconductor layer, which can facilitate transport of holes from the first electrical contact, ie, the anode. Examples of materials used for the semiconductor layer 110 include, but are not limited to, polyaniline. The semiconductor layer 110 can be deposited by using various methods (eg, dip coating, spin coating, doctor blade, spray coating, screen printing, sputtering, glass mastering, photoresist mastering, electroforming, and evaporation). .
その後、ステップ810では、第二半導体層が堆積される。例えば、第二半導体層は、半導体層112であってもよい。一実施形態では、半導体層112は、放出タイプ半導体層であり、これによって、カソードからの電子の輸送を容易にすることができる。半導体層112に使用される材料の例は、ポリフルオレンを含むがこれに限定されない。第二半導体層は、種々の方法(例:ディップコーティング、スピンコーティング、ドクターブレード、スプレーコーティング、スクリーン印刷、スパッタリング、ガラスマスタリング、フォトレジストマスタリング、電鋳、及びエバポレーション)を用いることによって堆積可能である。 Thereafter, in step 810, a second semiconductor layer is deposited. For example, the second semiconductor layer may be the semiconductor layer 112. In one embodiment, the semiconductor layer 112 is an emission-type semiconductor layer, which can facilitate the transport of electrons from the cathode. Examples of materials used for the semiconductor layer 112 include, but are not limited to, polyfluorene. The second semiconductor layer can be deposited by using various methods (eg, dip coating, spin coating, doctor blade, spray coating, screen printing, sputtering, glass mastering, photoresist mastering, electroforming, and evaporation). is there.
その後、ステップ812では、第二電気コンタクトは、第二半導体層上に堆積される。例えば、第二電気コンタクトは、第二電気コンタクト114であってもよく、半導体層112上に堆積されてもよい。第二電気コンタクト114は、種々の方法(例:ディップコーティング、スピンコーティング、ドクターブレード、スプレーコーティング、スクリーン印刷、スパッタリング、ガラスマスタリング、フォトレジストマスタリング、電鋳、及びエバポレーション)を用いることによって堆積可能である。一実施形態では、第二電気コンタクトは、カソードとして働く。 Thereafter, in step 812, a second electrical contact is deposited on the second semiconductor layer. For example, the second electrical contact may be the second electrical contact 114 and may be deposited on the semiconductor layer 112. The second electrical contact 114 can be deposited by using various methods (eg, dip coating, spin coating, doctor blade, spray coating, screen printing, sputtering, glass mastering, photoresist mastering, electroforming, and evaporation). It is. In one embodiment, the second electrical contact serves as the cathode.
その後、ステップ814では、カバー基板(例えば、カバー基板116)は、第二電気コンタクト114上に提供され、これによって、カバー基板116は、基板602に接合され、カバー基板116と基板602の間に、第一電気コンタクト108、1又は複数の半導体層110及び112、第二電気コンタクト114を封じ込める。 Thereafter, in step 814, a cover substrate (eg, cover substrate 116) is provided on the second electrical contact 114, whereby the cover substrate 116 is bonded to the substrate 602, and between the cover substrate 116 and the substrate 602. The first electrical contact 108, the one or more semiconductor layers 110 and 112, and the second electrical contact 114.
その後、方法800は、ステップ816で終了する。 The method 800 then ends at step 816.
上述した種々の実施形態は、いくつかの利点を有する基板を製造する方法及び半導体デバイスを製造する方法を提供する。いくつかの利点の一つは、基板が光管理の機能を担うので、追加の光取り出し/光トラッピング層が半導体デバイスの要求に対して過剰になり、従って、半導体デバイスにおける層の数を減らすことができることである。これは、半導体デバイスのコストの低減に役立つ。また、本発明に従って射出成形によって形成された基板は、通常使用されるガラス基板を置き換えることができる。これは、追加のコスト削減に繋がる。他の利点は、光取り出し/光トラッピング層が存在しないことは、封入の剥離の機会を減少させる。これは、半導体デバイスへの水分又は湿気の侵入をさらに減少させるか又はこれを除去し、それによって半導体デバイスの汚染を防ぐ。 The various embodiments described above provide a method of manufacturing a substrate and a method of manufacturing a semiconductor device having several advantages. One of several advantages is that the substrate is responsible for light management, so that additional light extraction / light trapping layers are excessive for the requirements of the semiconductor device, thus reducing the number of layers in the semiconductor device It is possible to do. This helps to reduce the cost of the semiconductor device. In addition, the substrate formed by injection molding according to the present invention can replace a commonly used glass substrate. This leads to additional cost savings. Another advantage is that the absence of a light extraction / light trapping layer reduces the chance of encapsulation delamination. This further reduces or eliminates moisture or moisture intrusion into the semiconductor device, thereby preventing contamination of the semiconductor device.
また、光取り出し/光トラッピング層は、製造プロセスの間又は高温条件での半導体デバイスの使用中にいくつかのガス及び他の流体を発する。このガス及び他の流体は、電気コンタクトを腐食させる傾向がある。従って、本発明の他の利点は、電気コンタクトの腐食を防ぐことである。 The light extraction / light trapping layer also emits several gases and other fluids during the manufacturing process or during use of the semiconductor device at high temperature conditions. This gas and other fluids tend to corrode electrical contacts. Accordingly, another advantage of the present invention is to prevent corrosion of electrical contacts.
好ましい実施形態に基づいて本発明の開示を行ってきたが、種々の修正及び改良は、当業者に明らかになるであろう。従って、本発明の精神及び範囲は、前記例によって制限されず、法律によって許容される最も広い意味で理解される。 While the present invention has been disclosed based on preferred embodiments, various modifications and improvements will become apparent to those skilled in the art. Accordingly, the spirit and scope of the present invention is not limited by the above examples, but is understood in the broadest sense permitted by law.
本明細書中で参照した全ての文献は、ここに参照取り込みされる。 All documents referred to herein are hereby incorporated by reference.
Claims (15)
前記基板は、第一表面及び第二表面によって特徴付けられ、前記方法は、
第一テクスチャーに対応する第一テンプレート及び第二テクスチャーに対応する第二テンプレートの少なくとも1つを有するモールドを提供し、
前記モールド内で前記基板を形成するように材料を射出成形して前記基板を形成する工程を備え、
前記材料は、前記第一表面上に前記第一テクスチャー及び前記第二表面上に前記第二テクスチャーの少なくとも1つを作成するように射出成形され、前記第一テクスチャー及び前記第二テクスチャーの少なくとも1つは、前記半導体デバイスにおいて光取り出し及び光トラッピングの少なくとも1つを容易にする、方法。 A method of manufacturing a substrate used in a semiconductor device, comprising:
The substrate is characterized by a first surface and a second surface, the method comprising:
Providing a mold having at least one of a first template corresponding to a first texture and a second template corresponding to a second texture;
Forming a substrate by injection molding a material so as to form the substrate in the mold;
The material is injection molded to create at least one of the first texture on the first surface and the second texture on the second surface, and at least one of the first texture and the second texture. And a method of facilitating at least one of light extraction and light trapping in the semiconductor device.
第一テクスチャーに対応する第一テンプレート及び第二テクスチャーに対応する第二テンプレートの少なくとも1つを有するモールドを提供し、
前記モールド内で第一表面及び第二表面を有する基板を形成するように材料を射出成形し、
前記基板上に第一電極を提供し、
前記第一電極上に1又は複数の半導体層を提供し、
前記1又は複数の半導体層上に第二電極を提供し、
前記基板と前記カバー基板の間に前記第一電極、前記1又は複数の半導体層及び前記第二電極を封入するカバー基板を提供する工程を備え、
前記材料は、前記第一表面上に前記第一テクスチャー及び前記第二表面上に前記第二テクスチャーの少なくとも1つを作成するために射出成形され、前記第一テクスチャー及び前記第二テクスチャーの少なくとも1つは、前記半導体デバイスにおいて光取り出し及び光トラッピングの少なくとも1つを容易にする、方法。 A method of manufacturing a semiconductor device, the method comprising:
Providing a mold having at least one of a first template corresponding to a first texture and a second template corresponding to a second texture;
Injection molding the material to form a substrate having a first surface and a second surface in the mold;
Providing a first electrode on the substrate;
Providing one or more semiconductor layers on the first electrode;
Providing a second electrode on the one or more semiconductor layers;
Providing a cover substrate enclosing the first electrode, the one or more semiconductor layers, and the second electrode between the substrate and the cover substrate;
The material is injection molded to create at least one of the first texture on the first surface and the second texture on the second surface, and at least one of the first texture and the second texture. And a method of facilitating at least one of light extraction and light trapping in the semiconductor device.
前記基板の前記第二表面上に提供された第一電極と、
前記第一電極上に提供された1又は複数の半導体層と、
前記1又は複数の半導体層上に提供された第二電極と、
前記基板と前記カバー基板の間に前記第一電極、前記1又は複数の半導体層及び前記第二電極を封入するカバー基板とを備え、
前記第一表面が第一テクスチャーを含むか、及び/又は前記第二表面が第二テクスチャーを含み、
前記第一テクスチャー及び前記第二テクスチャーは、前記半導体デバイスにおいて光取り出し及び光トラッピングの少なくとも1つを容易にする、半導体デバイス。 An injection molded substrate having a first surface and a second surface;
A first electrode provided on the second surface of the substrate;
One or more semiconductor layers provided on the first electrode;
A second electrode provided on the one or more semiconductor layers;
A cover substrate enclosing the first electrode, the one or more semiconductor layers and the second electrode between the substrate and the cover substrate;
The first surface comprises a first texture and / or the second surface comprises a second texture;
The semiconductor device, wherein the first texture and the second texture facilitate at least one of light extraction and light trapping in the semiconductor device.
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| IN130DE2011 | 2011-01-19 | ||
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- 2012-01-11 JP JP2012002709A patent/JP2012151111A/en active Pending
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