JP2012053967A - Optical disk device and jitter measuring method for optical disk device - Google Patents
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Abstract
【課題】ジッタの誤差を低減することができる光ディスク装置を提供する。
【解決手段】本発明の光ディスク装置200は、光ディスク1に記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置であって、再生手段30,40、分類手段80、測定手段90、および記録パルス調整手段110,120,140を有する。再生手段は、光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する。分類手段は、前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する。ジッタ測定手段は、分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。記録パルス調整手段は、第1の分類の存在分布と第2の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第1および第2の分類の存在分布と第3の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第1の分類についての記録パルスを調整する。
【選択図】図1An optical disc apparatus capable of reducing jitter errors is provided.
An optical disk apparatus 200 according to the present invention is an optical disk apparatus that records information by irradiating a recording pulse light onto an optical disk 1 to form marks and spaces, and includes reproducing means 30 and 40, classification means 80, It has a measuring means 90 and recording pulse adjusting means 110, 120, 140. The reproduction means reproduces information recorded on the optical disc to generate a reproduction pulse signal. The classifying unit classifies a plurality of marks or spaces included in the reproduction pulse signal with a clock cycle as a reference unit. The jitter measuring means measures the jitter or deviation of the presence distribution for each classified mark or space. The recording pulse adjusting means increases the overlap between the existence distribution of the first classification and the existence distribution of the second classification, while the existence distribution of the first and second classifications and the existence distribution of the third classification The recording pulses for the first classification are adjusted so as to reduce the overlap of the first classification.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法に関する。 The present invention relates to an optical disc apparatus and a jitter measurement method for the optical disc apparatus.
近年、光ディスクの記録密度が飛躍的に高まるにつれ、より高精度に光ディスクに情報を記録することが望まれている。その一方で、光ディスクメーカからは、多種多様な光ディスクが供給されており、各々の光ディスクに対して精度良く情報を記録するには、記録パルス光を照射するレーザの駆動電流の変調波形を光ディスクの種類に応じて操作する必要がある。この操作は、ふつうライトストラテジと呼ばれており、種々の記録制御パラメータを光ディスクの種類に応じて調整することにより実行される。また、光ディスクにレーザを照射してマークまたはスペースを形成する際に生じる熱干渉など、記録時における光ディスクの特性変化に応じてライトストラテジを自動的に変更する技術の開発も進んでいる。ライトストラテジを自動的に変更する技術では、再生されたパルスの時間的な揺らぎを統計的に処理して測定されるジッタおよびデビエーションに基づいて記録制御パラメータが調整される。たとえば下記の特許文献1およびに特許文献2には、測定されたジッタに基づいて記録制御パラメータを調整する技術が開示されている。
In recent years, as the recording density of optical discs has increased dramatically, it is desired to record information on optical discs with higher accuracy. On the other hand, a wide variety of optical discs are supplied from optical disc manufacturers. In order to record information on each optical disc with high accuracy, the modulation waveform of the drive current of the laser that emits the recording pulse light is changed to that of the optical disc. It is necessary to operate according to the type. This operation is usually called a write strategy, and is executed by adjusting various recording control parameters according to the type of the optical disc. In addition, development of a technique for automatically changing a write strategy in accordance with a change in characteristics of an optical disk at the time of recording, such as thermal interference that occurs when a mark or space is formed by irradiating a laser on an optical disk, is also progressing. In the technique of automatically changing the write strategy, recording control parameters are adjusted based on jitter and deviation measured by statistically processing temporal fluctuations of a reproduced pulse. For example, the following
通常、光ディスクへ情報を記録する際は、規定長のマークおよびスペースが記録されるようにライトストラテジが調整される。しかしながら、レーザ照射によって光ディスク表面に実際に記録されるマークの長さ(マーク長)またはスペースの長さ(スペース長)は、光ディスクの特性変化の影響により規定長に対してずれが生じる可能性がある。とくに、規定長に対するずれが大きい場合、再生されたパルス同士が互いに干渉してしまい、ジッタおよびデビエーションの誤差が大きくなるという問題がある。その結果、ジッタおよびデビエーションに基づいて調整されるライトストラテジの精度は向上しない。 Normally, when information is recorded on an optical disc, the write strategy is adjusted so that marks and spaces of a specified length are recorded. However, the mark length (mark length) or space length (space length) actually recorded on the surface of the optical disc by laser irradiation may be deviated from the specified length due to the effect of changes in the characteristics of the optical disc. is there. In particular, when the deviation from the specified length is large, the reproduced pulses interfere with each other, and there is a problem that jitter and deviation errors increase. As a result, the accuracy of the write strategy adjusted based on jitter and deviation does not improve.
本発明は、上述した問題を解決するためになされたものである。したがって、本発明の目的は、ジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる光ディスク装置を提供することである。 The present invention has been made to solve the above-described problems. Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical disc apparatus capable of reducing jitter and deviation errors.
また、本発明の他の目的は、ジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる光ディスク装置用のジッタ測定方法を提供することである。 Another object of the present invention is to provide a jitter measuring method for an optical disc apparatus capable of reducing jitter and deviation errors.
本発明の上記目的は、下記の手段によって達成される。 The above object of the present invention is achieved by the following means.
本発明の光ディスク装置は、光ディスクに記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置であって、再生手段、分類手段、測定手段、および記録パルス調整手段を有する。再生手段は、光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する。分類手段は、前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する。ジッタ測定手段は、分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。記録パルス調整手段は、第1の分類の存在分布と第2の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第1および第2の分類の存在分布と第3の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第1の分類についての記録パルスを調整する。 An optical disk apparatus according to the present invention is an optical disk apparatus for recording information by irradiating a recording pulse light onto an optical disk to form marks and spaces, and has a reproducing means, a classification means, a measuring means, and a recording pulse adjusting means. . The reproduction means reproduces information recorded on the optical disc to generate a reproduction pulse signal. The classifying unit classifies a plurality of marks or spaces included in the reproduction pulse signal with a clock cycle as a reference unit. The jitter measuring means measures the jitter or deviation of the presence distribution for each classified mark or space. The recording pulse adjusting means increases the overlap between the existence distribution of the first classification and the existence distribution of the second classification, while the existence distribution of the first and second classifications and the existence distribution of the third classification The recording pulses for the first classification are adjusted so as to reduce the overlap of the first classification.
本発明の光ディスク装置用のジッタ測定方法は、光ディスクに記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置用のジッタ測定方法であって、前記光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成し、前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類し、分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定し、第1の分類の存在分布と第2の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第1および第2の分類の存在分布と第3の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第1の分類についての記録パルスを調整する。 A jitter measuring method for an optical disc device according to the present invention is a jitter measuring method for an optical disc device for recording information by irradiating a recording pulse light onto an optical disc to form a mark and a space, and recorded on the optical disc. Reproducing information to generate a regenerative pulse signal, classifying a plurality of marks or spaces included in the regenerative pulse signal with a clock period as a reference unit, and jitter or deviation of existence distribution for each classified mark or space , And the overlap between the distribution of the first classification and the distribution of the second classification is increased while the distribution of the distribution of the first and second classifications and the distribution of the third classification exists. The recording pulses for the first classification are adjusted so as to reduce the.
本発明の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。 According to the optical disc device and the jitter measuring method for the optical disc device of the present invention, pulses having different lengths are prevented from interfering with each other, so that jitter and deviation errors are reduced.
以下、添付した図面を参照して本発明の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法の実施の形態を説明する。なお、以下の各実施の形態では、光ディスクとしてDVD+Rを例示して説明する。 Embodiments of an optical disc apparatus and a jitter measuring method for the optical disc apparatus according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In the following embodiments, a DVD + R will be described as an example of an optical disk.
(第1の実施の形態)
図1は、本発明の第1の実施の形態における光ディスク装置のブロック図である。本実施の形態の光ディスク装置は、光ディスク面を実際のデータ記録時の熱的な分布特性に近い状態に維持しつつ、パルス同士の干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減するものである。図1に示すとおり、本実施の形態の光ディスク装置200は、光ピックアップ10、スピンドルモータ20、ヘッドアンプ30、二値化回路40、デコーダ50、マークエッジ検出部60、RAM70、データ分類弁別部(分類手段)80、ジッタ測定部(ジッタ測定手段)90、エンコーダ100、ライトストラテジ演算部110、記録パルス調整部120、レーザ駆動部130、および制御部140を有する。ヘッドアンプ30および二値化回路40は再生手段として機能し、ライトストラテジ演算部110、記録パルス調整部120、および制御部140は記録パルス調整手段として機能する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram of an optical disc apparatus according to the first embodiment of the present invention. The optical disk apparatus according to the present embodiment reduces jitter and deviation errors due to interference between pulses while maintaining the optical disk surface in a state close to thermal distribution characteristics during actual data recording. As shown in FIG. 1, the
制御部140は、光ディスク装置200の記録動作および再生動作を制御する。具体的には、制御部140は、光ピックアップ10、スピンドルモータ20、ヘッドアンプ30、二値化回路40、およびデコーダ50を制御して光ディスクから読み出された情報から再生信号を生成する。また、制御部140は、エンコーダ100、ライトストラテジ演算部110、記録パルス調整部120、およびレーザ駆動部130を制御して記録信号を光ディスクに記録する。
The
さらに、制御部140は、マークエッジ検出部60、RAM70、データ分類弁別部80、ジッタ測定部90、およびライトストラテジ演算部110を制御して、ライトストラテジ準備処理を実行する。ライトストラテジ準備処理は、デフォルトのライトストラテジで記録および再生したのち、必要に応じて分類別ジッタ測定処理を実行する。ライトストラテジ準備処理および分類別ジッタ測定処理については後述する。
Further, the
以下、光ディスク装置200の再生信号処理系および記録信号処理系の主な構成を順に説明する。なお、本実施の形態の光ディスク装置の他の構成要素については、従来の光ディスク装置と同様であるので説明を省略する。
Hereinafter, main configurations of the reproduction signal processing system and the recording signal processing system of the
光ピックアップ10は、光ディスク1にパルス光を照射するとともに、光ディスク1からの反射光を受光するためのものである。より具体的には、光ピックアップ10は、レーザ光源および受光部を有し、スピンドルモータ20により回転された光ディスク1にレーザパルス光を照射するとともに、光ディスク1の記録面で反射された反射光を受光する。レーザ光源としては、レーザダイオードなどの発光素子が用いられる。受光部は、光ディスク1の記録面で反射されたレーザ光を受光して電気信号に変換する複数の受光素子を有する。
The
光ディスク1は、記録情報を書き込むための記録領域と、内周に沿って配置された内側テスト領域と、外周に沿って配置された外側テスト領域とを有する。また、光ディスク1には、光ディスクの製造メーカ、型番などの固有情報が予め記録されている。
The
光ディスクの種類としては、たとえば、CD−R、CD−RW、DVD±R、DVD−RW、DVD−RAM、ブルーレイなどが挙げられる。本実施の形態では、光ディスクとしてDVD+Rディスクの場合を例示して説明する。また、光ディスク1の記録材料としては、DVD+Rの場合、たとえばシアニン系、アゾ系などの有機色素材料が使用される。
Examples of the optical disk include CD-R, CD-RW, DVD ± R, DVD-RW, DVD-RAM, and Blu-ray. In the present embodiment, the case of a DVD + R disc as an optical disc will be described as an example. As the recording material for the
ヘッドアンプ30は、光ピックアップ10により読み込まれた光ディスク1の記録情報からRF信号を生成するものである。より具体的には、ヘッドアンプ30は、光ピックアップ10の受光部からの信号を演算および増幅して、読み込まれた光ディスク1の記録情報からRF信号を生成する。
The
二値化回路40は、ヘッドアンプ30により生成されたRF信号をハイまたはローの二値の再生パルス信号に変換する。
The
デコーダ50は、二値化回路40により生成された再生パルス信号を復号し、再生信号として出力する。また、デコーダ50は、再生信号からクロック信号を抽出する。
The
以上のとおり、光ディスク装置200の再生信号処理系では、光ピックアップ10から照射されたレーザ光が光ディスク1の記録面で反射され、反射光は光ピックアップ10に内蔵された受光部によって取り込まれたのち電気信号に変換される。受光部から出力された電気信号は、ヘッドアンプ30により演算および増幅されたのち二値化回路に伝達され、デコーダ50を介して再生信号として出力される。
As described above, in the reproduction signal processing system of the
マークエッジ検出部60は、再生パルス信号のマークエッジを検出する。より具体的には、マークエッジ検出部60は、二値化回路40により生成された再生パルス信号のマークエッジ(マークからスペースに変化するエッジ、またはスペースからマークに変化するエッジ)を検出し、マークおよびスペースを再生する。再生されたマークおよびスペースのデータはRAM70に伝達される。また、マークエッジ検出部60は、再生パルス信号とデコーダ50で抽出されたクロックとに基づいて、マークエッジのクロックからのずれであるマークエッジずれを算出する。マークエッジずれのデータもRAM70に伝達される。なお、以降本明細書では、再生されたマークまたはスペースを単にパルスと称し、マーク長またはスペース長をパルス長と称する。
The
RAM70は、再生パルスデータを格納する。より具体的には、RAM70は、マークエッジ検出部60で再生されたマークおよびスペースのデータと、マークエッジずれのデータとを格納する。
The
データ分類弁別部80は、再生パルスデータを分類または弁別する。より具体的には、データ分類弁別部80は、RAM70に格納されたマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として特定の項目に関して分類して存在分布を生成する。たとえば、データ分類弁別部80は、RAM70に格納された複数のマークを、クロック周期を基準単位としてマーク長で分類してマークの存在分布を生成する。また、データ分類弁別部80は、RAM70に格納された複数のスペースを、クロック周期を基準単位としてスペース長で分類してスペースの存在分布を生成する。
The data
また、データ分類弁別部80は、RAM70に格納された再生パルスデータを必要に応じてライトストラテジ演算部110に伝達する。たとえば、データ分類弁別部80は、RAM70に格納されたマークエッジずれのデータをライトストラテジ演算部110に伝達する。
Further, the data
ジッタ測定部90は、データ分類弁別部80で生成された存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。より具体的には、データ分類弁別部80で分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態では、ジッタ測定部90は、マークまたはスペースの存在分布の標準偏差に基づいてジッタ値を測定する。また、デビエーションは存在分布の平均値に相当するものである。
The
エンコーダ100は、入力された記録信号を符号化された所定の信号に変換する。より具体的には、エンコーダ100は、たとえば、記録信号を8/16変調で符号化する。
The
ライトストラテジ演算部110は、ライトストラテジを演算する。より具体的には、ライトストラテジ演算部110は、ジッタ測定部90で測定されたジッタまたはデビエーション、データ分類弁別部80で弁別されたマークエッジずれのデータなどに基づいてライトストラテジを演算する。ライトストラテジ演算部110は、光ディスクの特定の記録条件下における記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングと、記録パルスのレーザ照射パワーとを最適化する。
The write
また、ライトストラテジ演算部110は、記録パルスの立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングを、たとえば3T〜14T(Tはクロックの周期)の範囲において、所定の分解能で自由に設定する機能も有する。したがって、光ディスクフォーマットの特定のパルス長について、記録パルスを自由に調整することができる。
Further, the write
さらに、ライトストラテジ演算部110は、デフォルトのライトストラテジを格納するためのROMと、演算により求められたライトストラテジを一時的に記憶するためのRAMとを有する。ROMには、光ディスク1の種類に応じたデフォルトのライトストラテジが格納されている。たとえば、CAV記録方式の光ディスクに情報を記録する場合、記録速度が光ディスクの内側と外側とで異なる。ライトストラテジ演算部110は、記録速度に応じてライトストラテジをどのように変化させるかを規定する情報をROMに保持しており、記録速度に応じてライトストラテジを適宜変更する。RAMには、演算により得られた記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングなどに関する記録制御パラメータが格納される。
Furthermore, the write
記録パルス調整部120は、記録パルスを生成するものである。より具体的には、記録パルス調整部120は、エンコーダ110で符号化された信号とライトストラテジ演算部110で規定されたライトストラテジとに基づいて記録パルスを生成する。
The recording
レーザ駆動部130は、光ピックアップ10のレーザを駆動するものである。より具体的には、レーザ駆動部130は、記録パルス調整部120で生成された記録パルスを光ピックアップ10のレーザダイオードに供給することによりレーザダイオードを駆動する。
The
以上のとおり、光ディスク装置200の記録信号処理系では、エンコーダ110に入力された記録信号は、符号化されたのち記録パルス調整部120に入力される。記録パルス調整部120では、ライトストラテジ演算部110で規定されたライトストラテジに基づいて記録パルスが生成される。生成された記録パルスは、レーザ駆動部130に供給され、照射された記録パルス光により光ディスク1の記録面に情報が記録される。
As described above, in the recording signal processing system of the
次に、本実施の形態の光ディスク装置用のジッタ測定方法について説明する。図2は、本実施の形態のライトストラテジ準備処理のフローチャートである。ライトストラテジ準備処理は、一般的なライトストラテジ調整処理の前段階における予備的な処理であり、ライトストラテジ準備処理を実行したのちに一般的なライトストラテジ調整処理が実行される。本実施の形態では、一般的なライトストラテジ調整処理についての説明は省略する。以下で説明するように、ライトストラテジ準備処理では、デフォルトのライトストラテジで記録および再生したのちジッタまたはデビエーションを測定し、必要に応じて分類別ジッタ測定処理を実行する。 Next, a jitter measurement method for the optical disk device according to the present embodiment will be described. FIG. 2 is a flowchart of the write strategy preparation process of the present embodiment. The write strategy preparation process is a preliminary process before the general write strategy adjustment process, and the general write strategy adjustment process is executed after the write strategy preparation process. In the present embodiment, description of general write strategy adjustment processing is omitted. As will be described below, in the write strategy preparation process, jitter or deviation is measured after recording and reproduction with a default write strategy, and a classification-specific jitter measurement process is executed as necessary.
図2に示すとおり、まず、ライトストラテジをデフォルトに設定する(ステップS101)。より具体的には、ライトストラテジ演算部110が、ROMに格納されたデフォルトの記録制御パラメータを光ディスク1の種類に応じて設定する。
As shown in FIG. 2, first, the write strategy is set to default (step S101). More specifically, the write
次に、光ディスク1にテストデータを記録する(ステップS102)。より具体的には、ステップS101で設定された記録制御パラメータを用いたライトストラテジで光ディスク1にテストデータを記録する。
Next, test data is recorded on the optical disc 1 (step S102). More specifically, test data is recorded on the
次に、光ディスク1を再生する(ステップS103)。より具体的には、テストデータが記録された光ディスク1を再生して再生パルス信号を生成する。そして、マークエッジ検出部60で再生パルス信号に含まれるマークエッジを検出し、マークおよびスペースを再生し、再生パルスデータとしてRAM70に格納する。
Next, the
次に、パルスを分類する(ステップS104)。より具体的には、たとえばRAM70に格納されたマークを、クロック周期を基準単位としてマーク長に関して分類してマークの存在分布を生成する。
Next, the pulses are classified (step S104). More specifically, for example, the marks stored in the
次に、ジッタを測定する(ステップS105)。より具体的には、ステップS104で生成された存在分布のジッタ値を算出する。以下、図3を参照して、ジッタについてより詳細に説明する。 Next, jitter is measured (step S105). More specifically, the jitter value of the presence distribution generated in step S104 is calculated. Hereinafter, the jitter will be described in more detail with reference to FIG.
図3は、ジッタについて説明するための図である。図3において、横軸は再生されたマークのマーク長であり、縦軸はマーク長が出現する頻度である。そして、実線は測定によって得られる存在分布を示す曲線であり、破線は各々のマーク長による存在分布への寄与を示す仮想的な曲線である。 FIG. 3 is a diagram for explaining jitter. In FIG. 3, the horizontal axis represents the mark length of the reproduced mark, and the vertical axis represents the frequency at which the mark length appears. The solid line is a curve indicating the presence distribution obtained by measurement, and the broken line is a virtual curve indicating the contribution of each mark length to the presence distribution.
上述したとおり、本実施の形態では、ジッタはマークまたはスペースの存在分布の標準偏差に基づいて得られる。図3に示すとおり、測定によって得られるジッタは、全体として実線で示される波状の曲線となる。一方、破線で示される各々のマークの存在分布は、たとえば3Tおよび4Tパルスのように、隣接するマークが相互干渉を受けて互いに重なる部分を有しており、この部分に含まれるマークは、記録時にどちらのマークとして記録されたものかを区別することができない。したがって、マーク間で相互干渉が生じている図3のようなジッタは、誤差を含んでいる。以下、図2を再び参照してライトストラテジ準備処理を説明する。 As described above, in the present embodiment, the jitter is obtained based on the standard deviation of the distribution of the mark or space. As shown in FIG. 3, the jitter obtained by the measurement is a wave-like curve as a whole indicated by a solid line. On the other hand, the existence distribution of each mark indicated by a broken line has a portion where adjacent marks overlap each other due to mutual interference such as 3T and 4T pulses, and the marks included in this portion are recorded. Sometimes it is impossible to distinguish which mark was recorded. Therefore, the jitter as shown in FIG. 3 in which mutual interference occurs between the marks includes an error. Hereinafter, the write strategy preparation process will be described with reference to FIG. 2 again.
次に、ジッタと所定値との大小関係が判断される(ステップS106)。ジッタが所定値より小さい場合(ステップS106:YES)、処理を終了する。 Next, the magnitude relationship between the jitter and the predetermined value is determined (step S106). If the jitter is smaller than the predetermined value (step S106: YES), the process is terminated.
一方、ジッタが所定値以上の場合(ステップS106:NO)、分類別ジッタ測定処理(ステップS107)を実行したのち、処理を終了する。分類別ジッタ測定処理については、以下で説明する。 On the other hand, when the jitter is equal to or greater than the predetermined value (step S106: NO), the classification-specific jitter measurement process (step S107) is executed, and then the process ends. The classification jitter measurement process will be described below.
図4は、本実施の形態の分類別ジッタ測定処理のフローチャートであり、図5はパルス長を調整した後の存在分布を示す図であり、図6はパルス長の調整を説明するための図である。本実施の形態の分類別ジッタ測定処理では、3T〜8Tのパルスを3つのグループに分け、グループごとにジッタまたはデビエーションを測定する。なお、以下では、便宜上3T〜8Tのパルスについてのみ説明するが、9T以降のパルスについても同様に処理することができる。 4 is a flowchart of classification-specific jitter measurement processing according to the present embodiment, FIG. 5 is a diagram showing an existence distribution after adjusting the pulse length, and FIG. 6 is a diagram for explaining adjustment of the pulse length. It is. In the jitter measurement processing classified by classification according to this embodiment, 3T to 8T pulses are divided into three groups, and jitter or deviation is measured for each group. In the following description, only the 3T to 8T pulses will be described for convenience, but the 9T and subsequent pulses can be processed in the same manner.
図4に示すとおり、まず、3Tおよび6Tパルスについてジッタまたはデビエーションを測定する(ステップS201)。隣接するパルス同士の存在分布が干渉しないようにするためには、たとえば、図5に示すように4T、5T、7T、および8Tパルスを移動させればよい。すなわち、4Tパルス(第1の分類)の存在分布と5Tパルス(第2の分類)の存在分布との重なりを増大させる一方で、4Tパルス(第1の分類)および5Tパルス(第2の分類)の存在分布と3Tパルス(第3の分類)の存在分布との重なりを減少させるように記録パルスのパルス長を調整する。 As shown in FIG. 4, first, jitter or deviation is measured for 3T and 6T pulses (step S201). In order to prevent the presence distribution of adjacent pulses from interfering with each other, for example, 4T, 5T, 7T, and 8T pulses may be moved as shown in FIG. That is, while increasing the overlap between the presence distribution of the 4T pulse (first classification) and the presence distribution of the 5T pulse (second classification), the 4T pulse (first classification) and the 5T pulse (second classification) are increased. ) And the pulse length of the recording pulse are adjusted so as to reduce the overlap between the presence distribution of 3T pulses (third classification).
より具体的には、図6に示すとおり、4Tパルスを拡張して(4+2ΔT4)Tに設定し、5Tを縮小して(5−2ΔT5)Tに設定する。また、7Tパルスを拡張して(7+2ΔT7)Tに設定し、8Tパルスを縮小して(8−2ΔT8)Tに設定する。ここで、ΔT4〜ΔT8は、たとえば0.05〜0.2の範囲に設定されうる。なお、図6ではマークを拡大または縮小する例を示したが、スペースについても同様に拡張または縮小することができる。 More specifically, as shown in FIG. 6, the 4T pulse is expanded and set to (4 + 2ΔT 4 ) T, and 5T is reduced and set to (5-2ΔT 5 ) T. Further, the 7T pulse is expanded and set to (7 + 2ΔT 7 ) T, and the 8T pulse is reduced and set to (8−2ΔT 8 ) T. Here, ΔT 4 to ΔT 8 can be set in a range of 0.05 to 0.2, for example. Although FIG. 6 shows an example in which the mark is enlarged or reduced, the space can be similarly enlarged or reduced.
このように設定することにより、図5に示すとおり、4Tパルスの存在分布と5Tパルスの存在分布との重なりが増大する一方で、3Tパルスおよび6Tパルスの存在分布と他のパルス長の存在分布との重なりが減少する。以上のとおり各パルス長を設定し、3Tパルスおよび6Tパルスについてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。また、4Tパルスおよび5Tパルスの存在分布は、依然として3Tパルスと6Tパルスとの間に存在するので、光ディスク面の熱的な分布特性が移動前と大幅に変化してしまうことが防止される。 By setting in this way, as shown in FIG. 5, the overlap between the 4T pulse existence distribution and the 5T pulse existence distribution increases, while the 3T pulse and 6T pulse existence distributions and the existence distributions of other pulse lengths. The overlap with is reduced. By setting each pulse length as described above and measuring jitter or deviation for 3T pulse and 6T pulse, it is possible to prevent pulses having different lengths from interfering with each other, thereby reducing jitter and deviation errors. . In addition, since the existence distribution of the 4T pulse and the 5T pulse still exists between the 3T pulse and the 6T pulse, it is possible to prevent the thermal distribution characteristic of the optical disc surface from changing significantly before the movement.
次に、4Tおよび7Tパルスについてジッタまたはデビエーションを測定する(ステップS202)。3Tパルスを縮小して(3−2ΔT3)Tに設定し、5Tパルスを拡張して(5+2ΔT5)Tに設定する。また、6Tパルスを縮小して(6−2ΔT6)Tに設定し、8Tパルスを拡張して(8+2ΔT8)Tに設定する。ここで、ΔT3〜ΔT8は、たとえば0.05〜0.2の範囲に設定されうる。このように設定することにより、5Tパルスの存在分布と6Tパルスの存在分布との重なりが増大する一方で、4Tパルスおよび7Tパルスの存在分布と他のパルスの存在分布との重なりが減少する。以上のとおり各パルス長を設定し、4Tパルスおよび7Tパルスについてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。また、5Tパルスおよび6Tパルスの存在分布は、依然として4Tパルスと7Tパルスとの間に存在するので、光ディスク面の熱的な分布特性が移動前と大幅に変化してしまうことが防止される。 Next, jitter or deviation is measured for 4T and 7T pulses (step S202). The 3T pulse is reduced to (3-2ΔT 3 ) T, and the 5T pulse is expanded to (5 + 2ΔT 5 ) T. Further, the 6T pulse is reduced and set to (6-2ΔT 6 ) T, and the 8T pulse is expanded and set to (8 + 2ΔT 8 ) T. Here, ΔT 3 to ΔT 8 can be set in a range of 0.05 to 0.2, for example. By setting in this way, the overlap between the presence distribution of the 5T pulse and the presence distribution of the 6T pulse increases, while the overlap between the presence distribution of the 4T pulse and the 7T pulse and the presence distribution of other pulses decreases. By setting each pulse length as described above and measuring jitter or deviation for the 4T pulse and 7T pulse, it is possible to prevent pulses having different lengths from interfering with each other, thereby reducing jitter and deviation errors. . In addition, since the existence distribution of the 5T pulse and the 6T pulse still exists between the 4T pulse and the 7T pulse, it is possible to prevent the thermal distribution characteristic of the optical disc surface from changing significantly before the movement.
次に、5Tおよび8Tパルス長についてジッタまたはデビエーションを測定する(ステップS203)。4Tパルスを縮小して(4−2ΔT4)Tに設定し、6Tパルスを拡張して(6+2ΔT6)Tに設定し、7Tパルスを縮小して(7−2ΔT7)Tに設定する。ここで、ΔT4〜ΔT7は、たとえば0.05〜0.2の範囲に設定されうる。このように設定することにより、3Tパルスの存在分布と4Tパルスの存在分布との重なりが増大する一方で、5Tパルスおよび8Tパルスの存在分布と他のパルス長の分布との重なりが減少する。以上のとおり各マーク長を設定し、5Tパルスおよび8Tパルスについてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。また、6Tパルスおよび7Tパルスの存在分布は、依然として5Tパルスおよび8Tパルスとの間に存在するので、光ディスク面の熱的な分布特性が移動前と大幅に変化してしまうことが防止される。 Next, jitter or deviation is measured for 5T and 8T pulse lengths (step S203). The 4T pulse is reduced to (4-2ΔT 4 ) T, the 6T pulse is extended to (6 + 2ΔT 6 ) T, and the 7T pulse is reduced to (7-2ΔT 7 ) T. Here, ΔT 4 to ΔT 7 can be set in a range of 0.05 to 0.2, for example. By setting in this way, the overlap between the 3T pulse existence distribution and the 4T pulse existence distribution increases, while the overlap between the 5T pulse and 8T pulse existence distributions and other pulse length distributions decreases. By setting each mark length as described above and measuring jitter or deviation for the 5T pulse and 8T pulse, it is possible to prevent pulses having different lengths from interfering with each other, thereby reducing jitter and deviation errors. . In addition, since the 6T pulse and 7T pulse existence distributions still exist between the 5T pulse and the 8T pulse, it is possible to prevent the thermal distribution characteristics of the optical disc surface from changing significantly before the movement.
以上のとおり、本実施の形態では、複数のパルス(マークまたはスペース)のパルス長(分類)をクロック周期長について昇順に並べたとき、nを自然数として、n+1番目およびn+2番目のパルス長(分類)の存在分布の重なりを増大させる一方で、n番目およびn+3番目のパルス長(分類)の存在分布と他のパルス長(分類)の存在分布との重なりを減少させるように、n+1番目およびn+2番目のパルス長(分類)についての記録パルスを調整する。 As described above, in this embodiment, when the pulse lengths (classifications) of a plurality of pulses (marks or spaces) are arranged in ascending order with respect to the clock cycle length, n + 1 and n + 2th pulse lengths (classifications) are assumed to be natural numbers. N + 1 and n + 2 so as to reduce the overlap between the distribution of the nth and n + 3th pulse length (classification) and the distribution of other pulse lengths (classification). Adjust the recording pulse for the second pulse length (classification).
なお、以上ではパルスの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジが同じ調整量(ΔT3〜ΔT8)だけ拡張または縮小する例を示した。しかしながら、調整量は立ち上がりエッジと立ち下がりとで異なっていてもよい。 In the above, an example in which the rising edge and the falling edge of the pulse are expanded or contracted by the same adjustment amount (ΔT 3 to ΔT 8 ) has been shown. However, the adjustment amount may be different between the rising edge and the falling edge.
以上のとおり、説明した本実施の形態は、以下の効果を奏する。 As described above, the described embodiment has the following effects.
(a)本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる。 (A) According to the optical disk device and the jitter measurement method for the optical disk device of the present embodiment, pulses having different lengths are prevented from interfering with each other, so that jitter and deviation errors due to interference can be reduced. Can do.
(b)本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、光ディスク面を実際のデータ記録時の熱的な分布特性に近い状態に維持しつつ、干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる。 (B) According to the optical disk apparatus and the jitter measurement method for the optical disk apparatus of the present embodiment, the jitter and deviation due to interference are maintained while maintaining the optical disk surface in a state close to the thermal distribution characteristic during actual data recording. The error can be reduced.
(第2の実施の形態)
第1の実施の形態では、3T〜8Tパルスを3つのグループに分け、グループごとにジッタまたはデビエーションを測定した。本実施の形態では、3T〜8Tパルスを奇数番目および偶数番目のパルス長に分けてジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態は、パルス長を奇数番目および偶数番目に分けてジッタまたはデビエーションを測定することを除いては第1の実施の形態と同様であるので、他の構成についての説明を省略する。
(Second Embodiment)
In the first embodiment, 3T to 8T pulses are divided into three groups, and jitter or deviation is measured for each group. In this embodiment, 3T-8T pulses are divided into odd and even pulse lengths to measure jitter or deviation. Since this embodiment is the same as the first embodiment except that the pulse length is divided into odd and even numbers and jitter or deviation is measured, description of other configurations is omitted.
図7は、本実施の形態の分類別ジッタ測定処理のフローチャートであり、図8(A)は偶数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図であり、図8(B)は奇数番目パルス長を調整した後の存在分布を説明するための図である。 FIG. 7 is a flowchart of the classification-specific jitter measurement processing of the present embodiment, and FIG. 8A is a diagram for explaining the existence distribution after adjusting the even-numbered pulse length, and FIG. () Is a diagram for explaining the existence distribution after adjusting the odd-numbered pulse length.
図7に示すとおり、まず、偶数番目のパルス長の存在分布を奇数番目のパルス長の存在分布に重ねてジッタまたはデビエーションを測定する(ステップS301)。より具体的には、図8(A)に示すとおり、偶数番目のパルス長をそれぞれ1T分縮小して奇数番目のパルス長と等しくなるように記録パルスを調整することにより、偶数番目のパルス長(分類)の存在分布を奇数番目のパルス長(分類)の存在分布に重ねる。以上のとおり各パルス長を設定し、奇数番目のパルスの存在分布についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。 As shown in FIG. 7, first, jitter or deviation is measured by superimposing the even-numbered pulse length existence distribution on the odd-numbered pulse length existence distribution (step S301). More specifically, as shown in FIG. 8A, the even-numbered pulse length is reduced by reducing the even-numbered pulse length by 1T and adjusting the recording pulse so as to be equal to the odd-numbered pulse length. The existence distribution of (classification) is superimposed on the existence distribution of odd-numbered pulse lengths (classification). By setting each pulse length as described above and measuring jitter or deviation for the existence distribution of odd-numbered pulses, pulses of different lengths are prevented from interfering with each other, so jitter and deviation errors are reduced. Reduce.
次に、奇数番目のパルス長の存在分布を偶数番目のパルス長の存在分布に重ねてジッタまたはデビエーションを測定する(ステップS302)。より具体的には、図8(B)に示すとおり、奇数番目のパルス長をそれぞれ1T分拡大して偶数番目のパルス長と等しくなるように記録パルスを調整することにより、奇数番目のパルス長(分類)の存在分布を偶数番目のパルス長(分類)の存在分布に重ねる。以上のとおり各パルス長を設定し、偶数番目のパルス長の存在分布についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。 Next, jitter or deviation is measured by superimposing the existence distribution of the odd-numbered pulse length on the existence distribution of the even-numbered pulse length (step S302). More specifically, as shown in FIG. 8B, the odd-numbered pulse length is adjusted by expanding the odd-numbered pulse length by 1T and adjusting the recording pulse to be equal to the even-numbered pulse length. The existence distribution of (classification) is superimposed on the existence distribution of even-numbered pulse lengths (classification). By setting each pulse length as described above and measuring jitter or deviation for the even number pulse length distribution, it is possible to prevent pulses of different lengths from interfering with each other. Is reduced.
以上のとおり、説明した本実施の形態は、第1の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。 As described above, the described embodiment has the following effects in addition to the effects of the first embodiment.
(c)本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、奇数番目および偶数番目のパルス長に分けてジッタまたはデビエーションを測定するので、ジッタ測定処理にかかる時間を短縮することができる。 (C) According to the optical disk device and the jitter measurement method for the optical disk device of the present embodiment, jitter or deviation is measured separately for odd and even pulse lengths, so the time required for jitter measurement processing is shortened. be able to.
(第3の実施の形態)
第2の実施の形態では、奇数番目および偶数番目のパルス長に分けてジッタまたはデビエーションを測定した。本実施の形態では、奇数番目および偶数番目のパルス長のいずれか一方を、光ディスクのフォーマットとして存在しない1Tパルスに重ねてジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態は、奇数番目および偶数番目のパルス長のいずれか一方を、1Tパルスに重ねてジッタまたはデビエーションを測定することを除いては第2の実施の形態と同様であるので、他の構成についての説明を省略する。
(Third embodiment)
In the second embodiment, jitter or deviation is measured separately for odd-numbered and even-numbered pulse lengths. In the present embodiment, jitter or deviation is measured by superimposing one of the odd and even pulse lengths on a 1T pulse that does not exist as an optical disc format. The present embodiment is the same as the second embodiment except that either one of the odd-numbered pulse length and the even-numbered pulse length is superimposed on the 1T pulse to measure jitter or deviation. A description of the configuration is omitted.
図9は、本実施の形態の分類別ジッタ測定処理のフローチャートであり、図10(A)は偶数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図であり、図10(B)は奇数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図である。 FIG. 9 is a flowchart of the classification-specific jitter measurement processing of the present embodiment, and FIG. 10A is a diagram for explaining the existence distribution after adjusting the even-numbered pulse length, and FIG. ) Is a diagram for explaining the existence distribution after adjusting the odd-numbered pulse length.
図9に示すとおり、まず、偶数番目のパルス長の存在分布を1Tパルスの存在分布に重ねて奇数番目のパルス長の存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する(ステップS401)。より具体的には、図10(A)に示すとおり、偶数番目のパルス長をそれぞれ縮小して1Tパルスと等しくなるように記録パルスを調整することによって、偶数番目のパルス長(分類)の存在分布を1Tパルスの存在分布に重ねる。以上のとおり各マーク長を設定し、奇数番目のパルス長についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。 As shown in FIG. 9, first, the presence distribution of the even-numbered pulse length is overlapped with the presence distribution of the 1T pulse, and the jitter or deviation of the presence distribution of the odd-numbered pulse length is measured (step S401). More specifically, as shown in FIG. 10A, the even-numbered pulse length (classification) is present by adjusting the recording pulse so that the even-numbered pulse length is reduced to be equal to the 1T pulse. The distribution is superimposed on the 1T pulse presence distribution. By setting each mark length as described above and measuring jitter or deviation for odd-numbered pulse lengths, it is possible to prevent pulses of different lengths from interfering with each other, thereby reducing jitter and deviation errors. .
次に、奇数番目のパルス長の存在分布を1Tパルスの存在分布に重ねて偶数番目のパルス長の存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する(ステップS402)。より具体的には、図10(B)に示すとおり、奇数番目のパルス長をそれぞれ縮小して1Tパルスと等しくなるように記録パルスを調整することによって、奇数番目のパルス長(分類)の存在分布を1Tパルスの存在分布に重ねる。以上のとおり各マーク長を設定し、偶数番目のパルス長についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。 Next, the presence distribution of the odd-numbered pulse length is superimposed on the presence distribution of the 1T pulse, and the jitter or deviation of the even-numbered pulse length distribution is measured (step S402). More specifically, as shown in FIG. 10B, the odd-numbered pulse length (classification) is present by adjusting the recording pulse so that the odd-numbered pulse length is reduced to be equal to the 1T pulse. The distribution is superimposed on the 1T pulse presence distribution. By setting each mark length as described above and measuring jitter or deviation for even-numbered pulse lengths, it is possible to prevent pulses of different lengths from interfering with each other, thus reducing jitter and deviation errors. .
なお、本実施の形態では、光ディスクのフォーマットの存在しないパルス長として1Tを例示したが、1Tより小さいパルス長であってもよい。 In the present embodiment, 1T is exemplified as the pulse length that does not have the format of the optical disc. However, the pulse length may be smaller than 1T.
以上のとおり、説明した本実施の形態は、第1および第2の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。 As described above, the described embodiment has the following effects in addition to the effects of the first and second embodiments.
(d)本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、奇数番目および偶数番目のパルス長のいずれか一方を、光ディスクのフォーマットとして存在しない1Tパルスに重ねるので、異なる長さのパルス同士の干渉を確実に防止することができる。 (D) According to the optical disk apparatus and the jitter measurement method for the optical disk apparatus according to the present embodiment, one of the odd-numbered and even-numbered pulse lengths is superimposed on the 1T pulse that does not exist as an optical disk format. It is possible to reliably prevent interference between the pulses.
(第4の実施の形態)
第1〜第3の実施の形態では、パルスに関する存在分布をパルス長で分類してパルス長を調整した。パルス長は、マークエッジ間の長さであるので、パルス長を調整することはマークエッジ位置を調整することに置き換えられる。本実施の形態では、マークエッジ位置に関する存在分布をマーク長とスペース長とで分類し、マークエッジ位置を調整してジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態は、上記の構成上の違いを除いては第1〜第3の実施の形態と同様であるので、他の構成についての説明を省略する。
(Fourth embodiment)
In the first to third embodiments, the pulse length is adjusted by classifying the existence distribution relating to the pulse by the pulse length. Since the pulse length is the length between mark edges, adjusting the pulse length is replaced by adjusting the mark edge position. In the present embodiment, the presence distribution relating to the mark edge position is classified by the mark length and the space length, and the jitter or deviation is measured by adjusting the mark edge position. Since this embodiment is the same as the first to third embodiments except for the above-described difference in configuration, description of other configurations is omitted.
図11は、マークエッジ位置の変化によるパルス同士の干渉を説明するための図である。図11(A)は、測定対象パルスを示す図であり、図11(A)〜図11(E)は他のパルスのマーク長またはスペース長が変化して測定対象パルスと干渉が生じることを説明するための図である。 FIG. 11 is a diagram for explaining interference between pulses due to a change in the mark edge position. FIG. 11A is a diagram showing a measurement target pulse, and FIGS. 11A to 11E show that the mark length or space length of other pulses changes to cause interference with the measurement target pulse. It is a figure for demonstrating.
図11(A)おいて、マークエッジのうちの対象となるトレーリングエッジ(立ち下がりエッジ)の前後のマーク長およびスペースの長さは、それぞれmTおよびnTであり、図11(B)において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれ(m+1)TおよびnTである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのマーク長が短くなり、マーク長がmTに近づく場合、図11(B)に示すパルス波形は、図11(A)に示すパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。 In FIG. 11 (A), the mark length and the space length before and after the trailing edge (falling edge) of the mark edge are mT and nT, respectively. The mark length and space length of the other pulses are (m + 1) T and nT, respectively. Here, as shown by a broken line, when the mark length of the trailing edge is shortened for some reason and the mark length approaches mT, the pulse waveform shown in FIG. 11B is changed to the pulse waveform shown in FIG. Interference between pulses occurs as they approach.
また、図11(C)において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれ(m−1)TおよびnTである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのマーク長が長くなりマーク長がmTに近づく場合、図11(C)に示すパルス波形は、図11(A)に示すパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。 In FIG. 11C, the mark length and space length of the other pulses are (m−1) T and nT, respectively. Here, as shown by the broken line, when the mark length of the trailing edge is increased for some reason and the mark length approaches mT, the pulse waveform shown in FIG. 11C approaches the pulse waveform shown in FIG. As a result, interference occurs between pulses.
また、図11(D)において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれmTおよび(n+1)Tである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのスペース長が短くなりスペース長がnTに近づく場合、図11(D)に示すパルス波形は、図11(A)のパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。 In FIG. 11D, the mark length and space length of other pulses are mT and (n + 1) T, respectively. Here, as shown by the broken line, when the space length of the trailing edge is shortened for some reason and the space length approaches nT, the pulse waveform shown in FIG. 11D approaches the pulse waveform shown in FIG. Therefore, interference between pulses occurs.
さらに、図11(E)において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれmTおよび(n−1)Tである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのスペース長が長くなりスペース長がnTに近づく場合、図11(E)に示すパルス波形は、図11(A)のパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。 Furthermore, in FIG. 11E, the mark length and space length of the other pulses are mT and (n−1) T, respectively. Here, as shown by a broken line, when the space length of the trailing edge becomes longer for some reason and the space length approaches nT, the pulse waveform shown in FIG. 11 (E) approaches the pulse waveform shown in FIG. 11 (A). Therefore, interference between pulses occurs.
したがって、他のパルスが図11(A)に示すパルスと干渉を起こさないようにするためには、他のパルスのマーク長またはスペース長が変化しても、少なくとも図11(B)〜図11(E)の実線のパルス波形を維持する必要がある。 Therefore, in order to prevent other pulses from interfering with the pulses shown in FIG. 11A, even if the mark length or space length of the other pulses changes, at least FIGS. It is necessary to maintain the solid pulse waveform of (E).
そこで、マーク長またはスペース長が最大で1T変化すると仮定すると、測定対象パルスと干渉する変化方向に対し、他のパルスのマークエッジ位置を反対方向に少なくとも1Tだけ予め調整しておくことにより、パルス同士の干渉を防止することができる。 Therefore, assuming that the mark length or the space length changes by 1T at the maximum, the mark edge position of another pulse is adjusted in advance in the opposite direction by at least 1T with respect to the changing direction that interferes with the measurement target pulse, whereby the pulse Interference between each other can be prevented.
すなわち、図11(B)に示すパルスの場合、リーディングエッジ(立ち上がりエッジ)を早くしてマーク長を(m+2)T以上とすれば、図11(A)に示すパルスとの干渉を防止することができる。また、図11(C)に示すパルスの場合、リーディングエッジを遅くしてマーク長を(m−2)T以下とすれば、図11(A)に示すパルスとの干渉を防止することができる。同様に、図11(D)に示すパルスの場合、後続のパルスのリーディングエッジを遅くしてスペース長を(n+2)T以上とすれば、図11(A)に示すパルスとの干渉を防止することができる。さらに、図11(E)に示すパルスの場合、次のパルスのリーディングエッジを早くしてスペース長を(n−2)T以下とすれば、図11(A)に示すパルスとの干渉を防止することができる。 That is, in the case of the pulse shown in FIG. 11B, interference with the pulse shown in FIG. 11A can be prevented by increasing the leading edge (rising edge) and setting the mark length to (m + 2) T or more. Can do. In the case of the pulse shown in FIG. 11C, interference with the pulse shown in FIG. 11A can be prevented by delaying the leading edge and setting the mark length to (m−2) T or less. . Similarly, in the case of the pulse shown in FIG. 11D, interference with the pulse shown in FIG. 11A can be prevented by delaying the leading edge of the subsequent pulse and setting the space length to (n + 2) T or more. be able to. Further, in the case of the pulse shown in FIG. 11 (E), interference with the pulse shown in FIG. 11 (A) can be prevented by shortening the leading edge of the next pulse and setting the space length to (n−2) T or less. can do.
図12は、本実施の形態における分類別ジッタ測定処理を説明するための図である。図12に示すとおり、マトリクスの各列にはパルスのマーク長がとられており、各行にはスペース長がとられている。また、特定のマーク長の列と特定のスペース長の行とが交わるマス目には、このマーク長およびスペース長の組み合わせでのリーディングエッジの移動方向が「+」または「−」で示されている。「+」は、リーディングエッジを右方向(時間的に遅い方向)に移動させることを示し、「−」はリーディングエッジを左方向(時間的に早い方向)に移動させることを示す。たとえば、マーク長が(m+1)Tでスペース長が(n−1)Tの場合、後続のパルスのリーディングエッジを左方向(時間的に早める方向)に移動させる。なお、移動方向が空欄のマーク長とスペース長との組み合わせは、リーディングエッジを移動する必要がないことを示す。 FIG. 12 is a diagram for explaining the classification-specific jitter measurement processing in the present embodiment. As shown in FIG. 12, each column of the matrix has a pulse mark length, and each row has a space length. In addition, in a grid where a column with a specific mark length and a row with a specific space length intersect, the moving direction of the leading edge in the combination of the mark length and the space length is indicated by “+” or “−”. Yes. “+” Indicates that the leading edge is moved in the right direction (a direction that is late in time), and “−” indicates that the leading edge is moved in the left direction (a direction that is earlier in time). For example, when the mark length is (m + 1) T and the space length is (n-1) T, the leading edge of the subsequent pulse is moved in the left direction (direction to advance in time). Note that the combination of the mark length and the space length with the blank movement direction indicates that it is not necessary to move the leading edge.
以上のとおり、本実施の形態では、測定対象パルスと干渉する虞があるパルスのマークエッジ位置(第1の分類)の存在分布と、測定対象外パルスのマークエッジ位置(第2の分類)の存在分布との重なりを増大させる。その一方で、上記第1および第2の分類の存在分布と測定対象パルスのマークエッジ位置(第3の分類)の存在分布との重なりを減少させるように、上記第1の分類についてのマークエッジ位置を調整する。具体的には、マークエッジ位置に関する存在分布をマーク長とスペース長とで分類して、測定対象パルスと干渉する変化方向に対して反対方向にマークエッジ位置を調整する。 As described above, in the present embodiment, the presence distribution of the mark edge position (first classification) of the pulse that may interfere with the measurement target pulse and the mark edge position (second classification) of the pulse other than the measurement target pulse. Increase overlap with presence distribution. On the other hand, the mark edge for the first classification is reduced so as to reduce the overlap between the existence distribution of the first and second classifications and the existence distribution of the mark edge position (third classification) of the measurement target pulse. Adjust the position. Specifically, the existence distribution related to the mark edge position is classified by the mark length and the space length, and the mark edge position is adjusted in the opposite direction to the change direction that interferes with the measurement target pulse.
以上、説明した本実施の形態は、第1〜第3の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。 As described above, the present embodiment described above has the following effects in addition to the effects of the first to third embodiments.
(e)本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、マークエッジ位置を調整することにより、測定対象パルスと他のパルスとが干渉することが防止されるので、干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる。 (E) According to the optical disk device and the jitter measurement method for the optical disk device of the present embodiment, the interference between the measurement target pulse and other pulses is prevented by adjusting the mark edge position. Can reduce jitter and deviation errors.
以上のとおり、第1〜第4の実施の形態において、本発明の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法を説明した。しかしながら、本発明は、その技術思想の範囲内において当業者が適宜に追加、変形、および省略することができることはいうまでもない。 As described above, in the first to fourth embodiments, the optical disk apparatus and the jitter measurement method for the optical disk apparatus of the present invention have been described. However, it goes without saying that the present invention can be appropriately added, modified, and omitted by those skilled in the art within the scope of the technical idea.
たとえば、第1〜第3の実施の形態では、3T〜8Tパルスを2つまたは3つのグループに分けて、グループごとにジッタまたはデビエーションを測定した。しかしながら、グループ数およびグループの分け方は上述の場合に限定されない。 For example, in the first to third embodiments, 3T to 8T pulses are divided into two or three groups, and jitter or deviation is measured for each group. However, the number of groups and how to divide groups are not limited to the above case.
また、第1〜第3の実施の形態では、2つまたは3つのグループすべてについて順にジッタまたはデビエーションを測定した。しかしながら、必ずしもすべてのグループについて測定する必要はなく、いずれかのグループの測定を省略することも可能である。また、各グループについて測定する順番は上述の場合に限定されない。 In the first to third embodiments, jitter or deviation was measured in order for all of the two or three groups. However, it is not always necessary to measure all groups, and measurement of any group can be omitted. Moreover, the order which measures about each group is not limited to the above-mentioned case.
1 光ディスク、
10 光ピックアップ、
20 スピンドルモータ、
30 ヘッドアンプ、
40 二値化回路、
50 デコーダ、
60 マークエッジ検出部、
70 RAM、
80 データ分類弁別部、
90 ジッタ測定部、
100 エンコーダ、
110 ライトストラテジ演算部、
120 記録パルス調整部、
130 レーザ駆動部、
140 制御部、
200 光ディスク装置。
1 optical disc,
10 Optical pickup,
20 spindle motor,
30 head amplifier,
40 Binarization circuit,
50 decoder,
60 Mark edge detector,
70 RAM,
80 Data classification discriminator,
90 Jitter measurement unit,
100 encoder,
110 Write strategy calculation unit,
120 recording pulse adjustment unit,
130 laser drive unit,
140 controller,
200 Optical disk device.
Claims (12)
前記光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する再生手段と、
前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する分類手段と、
分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定するジッタ測定手段と、
第1の分類の存在分布と第2の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第1および第2の分類の存在分布と第3の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第1の分類についての記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 An optical disc apparatus for recording information by irradiating a recording pulse light on an optical disc to form marks and spaces,
Reproducing means for reproducing information recorded on the optical disc to generate a reproduction pulse signal;
Classification means for classifying a plurality of marks or spaces included in the reproduction pulse signal with a clock cycle as a reference unit;
A jitter measuring means for measuring the presence distribution jitter or deviation for each classified mark or space;
To increase the overlap between the first distribution and the second distribution, while decreasing the overlap between the first and second distributions and the third distribution. And a recording pulse adjusting means for adjusting a recording pulse for the first classification;
An optical disc apparatus comprising:
前記パルス調整手段は、マーク長を調整することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。 The classification means classifies by mark length,
The optical disc apparatus according to claim 1, wherein the pulse adjusting unit adjusts a mark length.
前記パルス調整手段は、スペース長を調整することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。 The classification means classifies by space length,
The optical disc apparatus according to claim 1, wherein the pulse adjusting unit adjusts a space length.
前記パルス調整手段は、マークエッジ位置を調整することを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。 The classification means classifies the presence distribution related to the mark edge by mark length and space length,
The optical disc apparatus according to claim 1, wherein the pulse adjusting unit adjusts a mark edge position.
前記光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する段階と、
前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する段階と、
分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する段階と、
第1の分類の存在分布と第2の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第1および第2の分類の存在分布と第3の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第1の分類についての記録パルスを調整する段階と、
を有することを特徴とする光ディスク装置用のジッタ測定方法。 A jitter measurement method for an optical disc apparatus for recording information by irradiating a recording pulse light onto an optical disc to form marks and spaces,
Regenerating information recorded on the optical disc to generate a reproduction pulse signal;
Classifying a plurality of marks or spaces included in the reproduction pulse signal with a clock period as a reference unit;
Measuring presence distribution jitter or deviation for each classified mark or space;
To increase the overlap between the first distribution and the second distribution, while decreasing the overlap between the first and second distributions and the third distribution. Adjusting a recording pulse for the first classification;
A jitter measuring method for an optical disc apparatus, comprising:
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| JP2010198070A JP2012053967A (en) | 2010-09-03 | 2010-09-03 | Optical disk device and jitter measuring method for optical disk device |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016136728A (en) * | 2012-12-13 | 2016-07-28 | インテル・コーポレーション | A method for measuring jitter in a PAM transmitter, a method for measuring distortion in a transmitted signal, a distortion measurement for suppression, a method for measuring even-odd jitter in a PAM transmitter, calculating clock random jitter and clock deterministic jitter Testing equipment |
-
2010
- 2010-09-03 JP JP2010198070A patent/JP2012053967A/en active Pending
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