JP2012049368A - カバーレイフィルム及びこれを用いたフレキシブルプリント配線板 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】硬化樹脂層と、第1の面と第2の面とを有する導電層と、絶縁フィルム層と、接着剤層と、を含むカバーレイフィルムであって、 前記導電層の第1の面に前記硬化樹脂層が積層され、前記導電層の第2の面に前記絶縁フィルム層が積層され、
前記接着剤層が、前記硬化樹脂層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されているか、又は、前記絶縁フィルム層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されている、カバーレイフィルム。
【選択図】なし
Description
FPCは、小型化、高機能化が急速に進む携帯電話、ビデオカメラ、ノートパソコンなどの電子機器において、複雑な機構の中に回路を組み込むために多用されている。これらの電子機器では、電磁波シールド対策が必須となっており、装置内で使用されるFPCにおいても、電磁波シールド対策を施したFPCが用いられるようになってきている。
例えば、特許文献1には、絶縁性プラスチックフィルム層、接着剤層、保護層を有するカバーレイフィルムであって、絶縁性プラスチックフィルム層の少なくとも一面に電気抵抗値が500Ω/□以下である導電層を有するカバーレイフィルムが開示されている。
また、特許文献2には、ベースフィルム上に所定の回路が形成されるとともに、該回路側にカバーレイフィルムが設けられたフレキシブル回路基板において、フレキシブル回路基板の少なくとも片面に金属層が形成されたフレキシブル回路基板が開示されている。
また、特許文献2に開示されたフレキシブル回路基板も、上記と同様の問題を有している。
[1]
硬化樹脂層と、第1の面と第2の面とを有する導電層と、絶縁フィルム層と、接着剤層と、を含むカバーレイフィルムであって、
前記導電層の第1の面に前記硬化樹脂層が積層され、前記導電層の第2の面に前記絶縁フィルム層が積層され、
前記接着剤層が、前記硬化樹脂層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されているか、又は、前記絶縁フィルム層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されている、カバーレイフィルム。
[2]
前記導電層がNi−Cr/Cu/Ni−Crの3層構成を有する金属蒸着膜(メッキ)である、上記[1]記載のカバーレイフィルム。
[3]
前記接着剤層が、前記硬化樹脂層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されており、前記硬化樹脂層の弾性率が0.1〜1.5GPa、前記接着剤層の弾性率が2〜4GPaである、上記[1]又は[2]記載のカバーレイフィルム。
[4]
上記[1]〜[3]のいずれか記載のカバーレイフィルムと、
絶縁性フィルム上に回路が形成されたフレキシブルプリント配線板本体と、
を含み、前記カバーレイフィルムが前記フレキシブルプリント配線板本体に貼着されたフレキシブルプリント配線板。
なお、本実施形態及び後述する実施例において「質量部」とは、固形分換算による質量部のことを示す。
硬化樹脂層と、第1の面と第2の面とを有する導電層と、絶縁フィルム層と、接着剤層と、を含むカバーレイフィルムであって、
前記導電層の第1の面に前記硬化樹脂層が積層され、前記導電層の第2の面に前記絶縁フィルム層が積層され、
前記接着剤層が、前記硬化樹脂層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されているか、又は、前記絶縁フィルム層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されている。
構成(1):硬化樹脂層/導電層/絶縁フィルム層/接着剤層
構成(2):絶縁フィルム層/導電層/硬化樹脂層/接着剤層
本実施形態のカバーレイフィルムは、上記構成のとおり、導電層と接着剤層との間に絶縁フィルム層又は硬化樹脂層を有しているため、カバーレイフィルムを回路面に熱圧着したときに、接着剤層が溶融して回路と導電層が接触して導通することがなく、絶縁信頼性に優れるという特徴を有している。
さらに、本実施形態のカバーレイフィルムは、上記構成のとおり、導電層の外側に硬化樹脂層又は絶縁フィルム層を有しているため、筐体や他の部材との接触(こすれ)により導電層が剥がれたり、削れたりすることがなく、優れた電磁波シールド特性を維持することができる。
上述したとおり、本実施形態のカバーレイフィルムは、上記構成(1)又は(2)を有することにより、長期間に亘って、優れた絶縁信頼性と電磁波シールド特性を両立することができる。
なお、本実施形態のカバーレイフィルムは、上記構成を含んでいれば、必要に応じて保護フィルム層等の上記以外の層を任意の場所に含んでいてもよい。
本実施形態における硬化樹脂層を構成する樹脂としては、特に限定されず、熱硬化性樹脂や、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂とを混合した熱硬化型の樹脂等が挙げられる。熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、キシレン樹脂、フラン樹脂、シアン酸エステル樹脂等が挙げられる。また、熱可塑性樹脂としては、ポリアミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアクリル樹脂、フェノキシ樹脂、ポリウレタン樹脂等が挙げられる。上記の中でも、耐熱性や可撓性の観点から、エポキシ樹脂が好ましく、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂がより好ましい。
硬化剤及び硬化促進剤としては、特に限定されるものではなく、各種公知のものを適宜選択して用いることができる。硬化剤としては、具体的には、例えば、ジアミノジフェニルスルホン、ジシアンジアミド、酸無水物等が挙げられる。硬化剤の配合量は、硬化樹脂層を構成する樹脂の反応性官能基に対して、硬化剤官能基のモル比が好ましくは0.1〜1.5、より好ましくは0.3〜1.2、さらに好ましくは0.5〜1.0である。硬化促進剤としては、具体的には、例えば、3フッ化ホウ素モノエチルアミン、イミダゾール化合物等が挙げられる。硬化促進剤の配合量は、硬化樹脂層を構成する樹脂100質量部に対して、好ましくは0.01〜5質量部、より好ましくは0.05〜2質量部、さらに好ましくは0.1〜1質量部である。
その他の添加剤としては、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、シリカ、アルミナ等の無機フィラー、界面活性剤、分散剤、リン系難燃剤等の各種公知の添加剤を用いることができる。添加剤の配合量は、目的に応じて適宜調整できる。
本実施形態における導電層は、導電性材料を含む層である。導電性材料としては、金属(金、銀、銅、アルミニウム、ニッケル等);導電性粒子(金属粒子等)、導電性繊維(金属繊維等)を樹脂に混合した導電性樹脂(導電ペースト等)等が挙げられる。
導電層の形態としては、金属蒸着膜(メッキ)、金属箔、導電性樹脂からなるフィルム又は塗膜等が挙げられ、屈曲性、薄肉化、耐久性、導電性の観点から、金属蒸着膜が好ましい。
本実施形態における絶縁フィルム層を構成する樹脂としては、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリアラミド樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリエチレンナフタレート樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂等が挙げられる。中でも、絶縁性や耐熱性の観点から、ポリイミド樹脂が好ましい。
本実施形態における接着剤層を構成する樹脂としては、特に限定されず、上述した硬化樹脂層を構成する樹脂と同様の樹脂が挙げられる。接着剤層を構成する樹脂としては、耐熱性や可撓性の観点から、エポキシ樹脂が好ましい。
本実施形態における保護フィルム層としては、例えば、接着剤層の硬化樹脂層又は絶縁フィルム層が積層された面とは反対側の面に設けられた離型フィルム層等が挙げられる。保護フィルム層を構成する樹脂としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)樹脂、ポリプロピレン(PP)樹脂、ポリエチレン(PE)樹脂等が挙げられる。
カバーレイフィルムが、構成(1):硬化樹脂層/導電層/絶縁フィルム層/接着剤層を有する場合、耐はぜ折性を向上させる観点から、硬化樹脂層の弾性率は、好ましくは0.05〜2GPa、より好ましくは0.1〜1.5GPaであり、スライド摺動特性を向上させる観点から、接着剤層の弾性率は、好ましくは1〜5GPa、より好ましくは2〜4GPaである。
また、カバーレイフィルムが、構成(2):絶縁フィルム層/導電層/硬化樹脂層/接着剤層を有する場合、スライド摺動特性を向上させる観点から、接着剤層の弾性率は、好ましくは1〜5GPaであり、より好ましくは2〜4GPaである。
なお、上記硬化樹脂層及び接着剤層の弾性率は、各層を完全硬化させた後の状態(Cステージ)の弾性率のことを示す。
本実施形態におけるカバーレイフィルムの製造方法としては、特に限定されず、例えば以下の(a)〜(c)の工程を有する方法により製造することができる。
(a)絶縁フィルム層の片面に金属メッキ処理を施して、導電層付き絶縁フィルムを得る工程、
(b)前記導電層付き絶縁フィルムの導電層面側に硬化樹脂層を形成するワニスAを塗布し、加熱硬化させることにより、硬化樹脂層及び導電層付き絶縁フィルムを得る工程、
(c)前記(b)工程で得られた絶縁フィルムの硬化樹脂層が積層された面とは反対側の面に、接着剤層を形成するワニスBを塗布し、乾燥する工程。
以下、各工程について説明する。
(a)工程は、絶縁フィルム層の片面に金属メッキ処理を施して、導電層付き絶縁フィルムを得る工程である。
金属メッキ処理は、EB蒸着法、イオンビーム蒸着法、スパッタ法等の物理的蒸着法や真空蒸着法により行うことができるが、中でもスパッタ法が好ましい。
初めに、絶縁フィルム層の表面にNi−Cr層を積層する。これは、Ni:Crの混合比が例えば93:7であるNi−Cr合金をターゲットとして用いたスパッタ法により、その厚みが10Å以上500Å以下となるように積層される。次に、絶縁フィルム層の表面に積層されたNi−Cr層の表面に、Cuをターゲットとして用いたスパッタ法により、その厚みが500Å以上3000Å以下となるようにCu層が積層される。次いで、そのCu層の表面に、上記と同様にしてNi−Cr層が積層される。
このようにして絶縁フィルム層の表面にNi−Cr/Cu/Ni−Crの3層構成を有する導電層が積層される。なお、絶縁フィルム層の表面にNi−Cr層を積層するに先立って、より良好な層間密着力を得ることを目的として、絶縁フィルム層表面に対して、例えばプラズマ処理などの前処理を施しても構わない。
(b)工程は、前記導電層付き絶縁フィルムの導電層面側に硬化樹脂層を形成するワニスAを塗布し、加熱硬化させることにより、硬化樹脂層及び導電層付き絶縁フィルムを得る工程である。
(b)工程におけるワニスAは、硬化樹脂層に含まれる樹脂、硬化剤等と、溶剤とを含むものである。ワニスAに用いられる溶剤としては、例えば、トルエン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジメチルアセトアミド等が挙げられる。
工程(c)は、前記(b)工程で得られた絶縁フィルムの硬化樹脂層が積層された面とは反対側の面に、接着剤層を形成するワニスBを塗布し、乾燥する工程である。
(c)工程におけるワニスBは、接着剤層に含まれる樹脂、硬化剤等と、溶剤とを含むものである。ワニスBに用いられる溶剤としては、上述したワニスAと同様のものが挙げられる。また、ワニスBを塗布する方法としては、上記と同様の方法を用いることができる。
なお、上述した(b)工程及び(c)工程における硬化条件は、主剤の樹脂、硬化剤の量等により適宜調整することができる。
(d)前記(c)工程により設けられた接着剤層の硬化樹脂層又は絶縁フィルム層が積層された面とは反対側の面に、保護フィルム層を構成する樹脂フィルムを対向して貼り合わせる工程。
ここで、樹脂フィルムを貼り合わせる方法としては、プレスによる方法、熱ロールを使用したラミネート方法等を用いることができる。貼り合わせ条件は、例えば、温度40〜120℃、圧力0.1〜3MPaの範囲で行うことができる。
本実施形態のフレキシブルプリント配線板は、本実施形態のカバーレイフィルムと、絶縁性フィルム上に回路が形成されたフレキシブルプリント配線板本体と、を含み、前記カバーレイフィルムが前記フレキシブルプリント配線板本体に貼着されたものである。
ここで、フレキシブルプリント配線板本体とは、金属張り積層板の金属箔を既存のエッチング手法により所望の形状のパターンに形成したものである。
本実施形態のフレキシブルプリント配線板は、例えば、金属箔上に露出した回路形成面にカバーレイフィルムを積層し、所定の条件で加熱加圧することにより作製することができる。
の実施例のみに限定されるものではない。
実施例及び比較例において、各物性の測定及び評価は以下の方法により行った。
導電層以外の各層の厚さは、膜厚計(ミツトヨ社製LITEMATIC VL−50)により測定した。
導電層の厚さは、蛍光X線(リガク社製RIX―2000)により測定した。
ポリイミド層12.5μm、圧延銅箔12μmからなる片面銅張り板「PNS H0512RAH(有沢製作所社製)」にライン/スペース=100μm/100μmの回路を形成し、この回路形成面に、電磁波シールドカバーレイフィルムの保護フィルムを剥離した接着剤層面を合わせ、160℃、3Mpaで1時間のプレスを行い、図1のような電磁波シールドカバーレイフィルム付きFPCを得た。
この回路間の絶縁抵抗値を絶縁抵抗測定器(アドバンテスト社製R8340A)にて測定した。通常、1E+10Ω以上の抵抗値があれば絶縁性は保たれていると判断される。
ポリイミド層12.5μm、圧延銅箔12μmからなる片面銅張り板「PNS H0512RAH(有沢製作所社製)」にライン/スペース=75μm/75μmの直列10往復の回路を形成し、この回路形成面に、電磁波シールドカバーレイフィルムの保護フィルムを剥離した接着剤層面を合わせ、160℃、3Mpaで1時間のプレスを行い、図2のような電磁波シールドカバーレイフィルム付きFPCを得た。
得られたFPCをスライド屈曲試験機(有沢製作所社製)にて、屈曲半径0.65mmR、速度60rpm、ストローク50mm、カバーレイフィルムが外側になる条件で繰り返しスライド屈曲を行い、20万回屈曲時の導電層の剥がれ・削れの有無を目視により確認した。
硬化樹脂層を形成する前の導電層付き絶縁フィルムの導電層面側に無電解銅メッキにより18μmの銅メッキ層を形成し、この形成した銅メッキ層を引張試験機(島津製作所社製オートグラフ)にて90°方向へ引き剥がし、その引き剥がし強さを測定した。
硬化樹脂層面に粘着テープでSUS板を貼りあわせて補強し、導電層付き絶縁フィルムを引張試験機(島津製作所社製オートグラフ)にて90°方向へ引き剥がし、その引き剥がし強さを測定した。
2NのHClに常温で5分間浸漬後の外観を目視で観察した。剥がれや染みこみの無いものを合格、剥がれや染みこみのあるものを不合格とした。
厚さ30μmの離型PETの離型面に、ワニスAあるいはワニスBを乾燥後の厚さが20μmになるように塗布し、150℃で5分間乾燥後、160℃で1時間加熱硬化した。その後、離型フィルムを剥がし、硬化した樹脂単体の樹脂膜を得た。
得られた樹脂膜を10mmx140mmサイズにカットした。
引張試験機(島津製作所社製オートグラフ)のつかみ部とつかみ部との間の距離が100mmになるように、カットした樹脂膜をセットし、引張速度50mm/minの速度で樹脂膜が破壊するまで引っ張った。
得られたチャートより引張弾性率及び伸び率を算出した。
ポリイミド層12.5μm、圧延銅箔12μmからなる片面銅張り板「PNS H0512RAH(有沢製作所社製)」にライン/スペース=75μm/75μmの直列10往復の回路を形成し、この回路形成面に、電磁波シールドカバーレイフィルムの保護フィルムを剥離した接着剤層面を合わせ、160℃、3Mpaで1時間のプレスを行い、図2のような電磁波シールドカバーレイフィルム付きFPCを得た。
得られたFPCをスライド屈曲試験機(有沢製作所社製)にて、屈曲半径0.65mmR、速度60rpm、ストローク50mm、カバーレイフィルムが外側になる状態で繰り返しスライド屈曲を行い、端子間の抵抗値が屈曲前の抵抗値の20%上昇するまでの屈曲回数を測定した。
通常、スライド屈曲回数が20万回以上である場合に、スライド摺動特性は良好であると判断できる。
スライド摺動特性評価で作製したFPCをカバーレイフィルムが外側になる状態で180°折曲げ、200gf/cmの荷重をかけた。一度、フラットに戻した後、さらに、その折曲げた部分をカバーレイフィルムが内側になる状態で180°折曲げ、200gf/cmの荷重をかけた。これを5回繰り返した後に、硬化樹脂層にひびや割れなどの異常がないかを拡大鏡で確認した。
ビスフェノールA型エポキシ樹脂「JER1001(三菱化学社製)」100質量部、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン8質量部、3フッ化ホウ素モノエチルアミン0.5質量部、アクリルゴム「ベイマックG(三井デュポンポリケミカル社製)」80質量部をトルエン180質量部、メチルエチルケトン100質量部に溶解し、ワニスAを得た。
トリス・ヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂「JER1032(三菱化学社製)」30質量部、ビスフェノールA型エポキシ樹脂「JER828(三菱化学社製)」70質量部、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン20質量部、3フッ化ホウ素モノエチルアミン0.5質量部、フェノキシ樹脂「YX8100(三菱化学社製)」30質量部をシクロヘキサノン70質量部、メチルエチルケトン80質量部に溶解し、ワニスBを得た。
ポリイミドフィルム「カプトン50EN(東レデュポン社製)」の表面に対し、スパッタ法を用いてNi−Cr層(厚み50Å)、Cu層(厚み1000Å)、Ni−Cr層(厚み50Å)を順次積層することにより、厚みが110nmの導電層が積層された導電層付き絶縁フィルムを得た。
上記で得られた導電層付き絶縁フィルムの導電層面にワニスAを乾燥後の厚さが5μmとなるよう塗布し、150℃で5分間乾燥し、その後、160℃で1時間加熱硬化し、硬化樹脂層(A)及び導電層付き絶縁フィルムを得た。
さらに硬化樹脂層の反対面(ポリイミドフィルム面)にワニスBを乾燥後の厚さが10μmとなるよう塗布し、150℃で5分間乾燥し、接着剤層(B)を形成した。
この接着剤層(B)に、保護フィルム層として離型PETフィルムの離型面を対向し、ロールラミネートにより貼りあわせ、電磁波シールドカバーレイフィルムを得た。
実施例1で得られた硬化樹脂層(A)及び導電層付き絶縁フィルムの硬化樹脂層面側に、実施例1と同様の方法により接着剤層(B)を形成したこと以外は、実施例1と同様の方法により電磁波シールドカバーレイフィルムを得た。
上記で得られた導電層付き絶縁フィルムの絶縁フィルム面に、実施例1と同様の方法により接着剤層(B)を形成することにより電磁波シールドカバーレイフィルムを得た。
上記で得られた導電層付き絶縁フィルムの導電層面に、実施例1と同様の方法により接着剤層(B)を形成することにより電磁波シールドカバーレイフィルムを得た。
実施例1及び2、比較例1及び2のカバーレイフィルムの断面構成及び評価結果を表1に示す。
表2に記載された構成のように、硬化樹脂層、接着剤層にワニスAあるいはワニスBを用いたこと以外は、実施例1及び2と同様の方法により、電磁波シールドカバーレイフィルムを得た。
なお、表中(A)及び(B)はそれぞれ、ワニスA及びBを用いて各層を作製したことを示す。
(参考例1)
ポリイミドフィルム「カプトン50EN(東レデュポン社製)」の表面に対し、スパッタ法を用いてNi−Cr層(厚み50Å)、Cu層(厚み1000Å)、Ni−Cr層(厚み50Å)を順次積層することにより、厚みが110nmの導電層が積層された絶縁フィルムを得た。そしてそのさらに表面にワニスAを乾燥後の厚さが5μmとなるよう塗布し、150℃で5分乾燥し、その後、160℃で1時間加熱硬化し、硬化樹脂層及び導電層付き絶縁フィルムを得た。
ワニスAは次のように調製した。
ビスフェノールA型エポキシ樹脂「JER1001(三菱化学社製)」100質量部、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン8質量部、3フッ化ホウ素モノエチルアミン0.5質量部、アクリルゴム「ベイマックG(三井デュポンポリケミカル社製)」80質量部をトルエン180質量部、メチルエチルケトン100質量部に溶解し、ワニスAを得た。
ポリイミドフィルム「カプトン50EN(東レデュポン社製)」の片面にスパッタ法によりCu層(厚み1000Å)を積層した絶縁フィルムを得た。
上記で得られた導電層付き絶縁フィルムの導電層面に、参考例1と同様の方法により硬化樹脂層を形成して、硬化樹脂層及び導電層付き絶縁フィルムを得た。
参考例1及び2の絶縁フィルムの断面構成及び評価結果を表3に示す。
Claims (4)
- 硬化樹脂層と、第1の面と第2の面とを有する導電層と、絶縁フィルム層と、接着剤層と、を含むカバーレイフィルムであって、
前記導電層の第1の面に前記硬化樹脂層が積層され、前記導電層の第2の面に前記絶縁フィルム層が積層され、
前記接着剤層が、前記硬化樹脂層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されているか、又は、前記絶縁フィルム層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されている、カバーレイフィルム。 - 前記導電層がNi−Cr/Cu/Ni−Crの3層構成を有する金属蒸着膜(メッキ)である、請求項1記載のカバーレイフィルム。
- 前記接着剤層が、前記硬化樹脂層の前記導電層が積層された面とは反対側の面に積層されており、前記硬化樹脂層の弾性率が0.1〜1.5GPa、前記接着剤層の弾性率が2〜4GPaである、請求項1又は2記載のカバーレイフィルム。
- 請求項1〜3のいずれか1項記載のカバーレイフィルムと、
絶縁性フィルム上に回路が形成されたフレキシブルプリント配線板本体と、
を含み、前記カバーレイフィルムが前記フレキシブルプリント配線板本体に貼着されたフレキシブルプリント配線板。
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