JP2011501130A - 紙および板のマイクログロス測定 - Google Patents
紙および板のマイクログロス測定 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011501130A JP2011501130A JP2010529068A JP2010529068A JP2011501130A JP 2011501130 A JP2011501130 A JP 2011501130A JP 2010529068 A JP2010529068 A JP 2010529068A JP 2010529068 A JP2010529068 A JP 2010529068A JP 2011501130 A JP2011501130 A JP 2011501130A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target area
- paper
- light
- microgloss
- reflected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/34—Paper
- G01N33/346—Paper sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
- G01N2021/8645—Investigating moving sheets using multidetectors, detector array
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
- G01N2021/8663—Paper, e.g. gloss, moisture content
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【選択図】図1
Description
紙の表面のグロスを測定するための従来の装置は、紙の表面から反射された光ビームの強度を測定する光学システムを用いる。グロスセンサが、Prestonらの米国特許第6404502号明細書、Belotserkovskyの米国特許第6507403号明細書に記載されている。典型的には、紙の表面のグロスは、紙の表面の反射率を公知のグロス標準の反射率と比較することにより決定され、公知のグロス標準はたとえば、公知のグロスのみがかれた表面を備えるガラスタイルである。代替的に、ピクセルの平均強度を用いることもできる。グロス数を測定するためのさらなる技術が、Kuuselaの米国特許出願第2007/0103674号および第2007/0103688号に記載されている。
製品の表面のターゲット領域に、強度が知れた所定の入射角度でターゲット領域に入射する光のビームを照射するステップと、
入射角度と等しい角度でターゲット領域で反射した光を検出するステップと、
ターゲット領域から反射された光の二次元分布プロファイルを生成するステップと、
ターゲット領域のマイクログロス値を計算するステップと、を有する。
知られた強度の照射光ビームを、所定の入射角度で表面のターゲット領域に入射させる光源と、
検出器と、
入射角度と等しい角度の反射角度でターゲット領域から反射した光を検出器に集める撮像光学系と、を有し、検出器は、ターゲット領域表面から反射した光の二次元分布プロファイルを表す信号を生成する。
表面上のターゲット領域に、ターゲット領域に所定の入射角度で入射する強度の知れた光ビームを照射するステップと、
入射角度と等しい反射角度でターゲット領域から反射した光を検出するステップと、
ターゲット領域から反射した光の二次元分布プロファイルイを生成するステップと、を有する。
Claims (10)
- 表面特性を光学的に測定するセンサであって、前記センサは、
知られた強度入射の照射光ビーム(38)を所定の入射角で表面上のターゲット領域に導く光源(30)と、
検出器(36)と、
前記ターゲット領域から入射角と同一の反射角で前記検出器(36)に反射される光(50)を集めるように構成される撮像光学系(34)と、を有し、前記検出器(36)は、前記ターゲット領域表面から反射した光の二次元分布プロファイルを表す信号を生成する、センサ。 - 請求項1に記載のセンサであって、さらに前記ターゲット領域のマイクログロス値を計算する手段(56)を有する、センサ。
- 請求項2に記載のセンサであって、さらに前記ターゲット領域のグロス値を計算する手段(56)を有する、センサ。
- 請求項1に記載のセンサであって、さらに前記二次元分布プロファイルを統計的に解析する手段(58)を有する、センサ。
- サンプル表面の表面特定を決定する方法であって、前記方法は、
前記表面のターゲット領域に、知られた強度入射の光ビーム(58)を所定の入射角で照射するステップと、
前記入射角と同一の反射角で前記ターゲット領域から反射された光(50)を検出するステップと、
前記ターゲット領域から反射された光の二次元分布プロファイルを生成するステップと、を有する方法。 - 請求項5に記載の方法であって、さらに前記ターゲット領域のマイクログロス値を計算するステップを有する、方法。
- 請求項6に記載の方法であって、さらに前記ターゲット領域のグロス値を計算するステップを有する、方法。
- 製品の反射特性を等級分けする方法であって、前記方法は、
紙製品の表面上のターゲット領域に、知られた強度入射の光ビーム(58)を所定の入射角で照射するステップと、
前記入射角と同一の反射角で前記ターゲット領域から反射された光(50)を検出するステップと、
前記ターゲット領域から反射された光の二次元分布プロファイルを生成するステップと、
前記ターゲット領域のマイクログロス値を計算するステップと、を有する。 - 請求項8に記載の方法であって、さらに前記ターゲット領域のグロス値を計算するステップを有する方法。
- 請求項9に記載の方法であって、さらに前記ターゲット領域のグロス値を計算するステップを有する方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US11/974,029 US7619740B2 (en) | 2007-10-11 | 2007-10-11 | Microgloss measurement of paper and board |
| PCT/US2008/079470 WO2009049121A2 (en) | 2007-10-11 | 2008-10-10 | Microgloss measurement of paper and board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011501130A true JP2011501130A (ja) | 2011-01-06 |
Family
ID=40533883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010529068A Pending JP2011501130A (ja) | 2007-10-11 | 2008-10-10 | 紙および板のマイクログロス測定 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7619740B2 (ja) |
| EP (1) | EP2198272B1 (ja) |
| JP (1) | JP2011501130A (ja) |
| CA (1) | CA2702081C (ja) |
| WO (1) | WO2009049121A2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017129561A (ja) * | 2016-01-20 | 2017-07-27 | キヤノン株式会社 | 測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム |
| JP2018179973A (ja) * | 2017-04-14 | 2018-11-15 | Jfeスチール株式会社 | 放射温度測定装置及び放射温度測定方法 |
| JP2023181817A (ja) * | 2022-06-13 | 2023-12-25 | 株式会社トヨタプロダクションエンジニアリング | 表面状態判定装置、表面状態判定方法、及び表面状態判定プログラム |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5720134B2 (ja) * | 2010-04-20 | 2015-05-20 | 株式会社リコー | 画像検査装置及び画像形成装置 |
| FI20126126L (fi) | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Metso Automation Oy | Menetelmä ja laite kiillon mittaamiseksi |
| US8804136B2 (en) * | 2012-12-06 | 2014-08-12 | Asm Technology Singapore Pte Ltd | Apparatus and method for locating a plurality of placement positions on a carrier object |
| EP3196633B1 (en) | 2016-01-20 | 2021-11-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus and method for measuring a reflection characteristic of an object |
| JP6447728B2 (ja) * | 2016-04-12 | 2019-01-09 | 新日鐵住金株式会社 | 被検査体撮像装置、被検査体撮像方法、表面検査装置及び表面検査方法 |
| FI128094B (fi) | 2016-07-13 | 2019-09-13 | Valmet Automation Oy | Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite |
| US9902911B1 (en) | 2016-08-02 | 2018-02-27 | Honeywell Limited | Method for on-line imaging of mesophase particles |
| US10928327B2 (en) * | 2016-12-22 | 2021-02-23 | Axalta Coating Systems Ip Co., Llc | Apparatuses and methods for measuring spatial properties of surface coating containing flake pigment |
| CN113916775B (zh) * | 2021-08-26 | 2024-05-03 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种高辨识度漫反射靶 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08297098A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-12 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 塗工板紙の光沢むら測定方法および装置 |
| JP2005221283A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Jfe Steel Kk | 表面凹凸の測定・評価方法およびシステム、表面凹凸評価装置並びに表面凹凸の測定・評価方法のプログラム |
| JP2006170925A (ja) * | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Dainippon Printing Co Ltd | 光沢度測定方法および装置 |
| JP2006284550A (ja) * | 2005-03-10 | 2006-10-19 | Fuji Xerox Co Ltd | 光沢測定装置、光沢測定方法及び光沢測定プログラム |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD208670A1 (de) * | 1982-06-29 | 1984-04-04 | Pentacon Dresden Veb | Vorrichtung zur schnellen messung des glanzes beliebiger oberflaechen |
| EP0183270B1 (en) | 1984-11-30 | 1990-08-08 | Kawasaki Steel Corporation | Method of determining glossinesses of surface of body |
| FI78356C (fi) * | 1985-09-16 | 1989-07-10 | Puumalaisen Tutkimuslaitos Oy | Metod foer maetning av fuktighet. |
| TW251350B (ja) * | 1993-10-26 | 1995-07-11 | Asahi Chemical Ind | |
| SE511929C2 (sv) * | 1996-02-29 | 1999-12-20 | Skogsind Tekn Foskningsinst | Bestämning av glanskvalitet |
| CA2252552C (en) | 1996-04-22 | 2003-04-22 | Autospect, Inc. | Method and system for inspecting a low gloss surface of an object at a vision station |
| US6031620A (en) | 1997-05-01 | 2000-02-29 | Impact Systems, Inc. | Gloss sensor resistant to tilting and shifting paper and with improved calibration |
| US6233053B1 (en) | 1997-07-29 | 2001-05-15 | Honeywell International Inc | Dual standard gloss sensor |
| US7019822B1 (en) * | 1999-04-29 | 2006-03-28 | Mss, Inc. | Multi-grade object sorting system and method |
| FI111757B (fi) * | 1999-05-10 | 2003-09-15 | Metso Automation Oy | Menetelmä ja mittausjärjestely mitata paperin pintaa |
| GB9921826D0 (en) * | 1999-09-15 | 1999-11-17 | Rhopoint Instrumentation Limit | Glossmeter |
| DE19962779B4 (de) * | 1999-12-23 | 2009-06-25 | Byk-Gardner Gmbh | Vorrichtung zur quantifizierten Bestimmung der Qualität von Oberflächen |
| US6507403B1 (en) | 2001-07-16 | 2003-01-14 | Honeywell International Inc. | Gloss sensor having dirt buildup compensation apparatus and method |
| DE102004023739A1 (de) | 2004-05-12 | 2005-12-15 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Messgerät und Verfahren zum Betreiben eines Messgeräts zur optischen Inspektion eines Objekts |
| JP4306557B2 (ja) | 2004-08-05 | 2009-08-05 | コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 | 画像形成システム |
| US7599582B2 (en) | 2004-11-22 | 2009-10-06 | Honeywell International Inc. | Optical fiber cable take-up mechanism for scanning sensors |
| US7397563B2 (en) | 2005-11-08 | 2008-07-08 | Honeywell International Inc. | Pass-line insensitive sensor |
| US7460233B2 (en) | 2005-11-08 | 2008-12-02 | Honeywell International Inc. | Pass-line and tilt insensitive sensor |
| JP2007225384A (ja) | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Konica Minolta Sensing Inc | 反射特性測定装置 |
-
2007
- 2007-10-11 US US11/974,029 patent/US7619740B2/en active Active
-
2008
- 2008-10-10 WO PCT/US2008/079470 patent/WO2009049121A2/en not_active Ceased
- 2008-10-10 CA CA2702081A patent/CA2702081C/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-10-10 JP JP2010529068A patent/JP2011501130A/ja active Pending
- 2008-10-10 EP EP08837760.1A patent/EP2198272B1/en not_active Not-in-force
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08297098A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-12 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 塗工板紙の光沢むら測定方法および装置 |
| JP2005221283A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Jfe Steel Kk | 表面凹凸の測定・評価方法およびシステム、表面凹凸評価装置並びに表面凹凸の測定・評価方法のプログラム |
| JP2006170925A (ja) * | 2004-12-20 | 2006-06-29 | Dainippon Printing Co Ltd | 光沢度測定方法および装置 |
| JP2006284550A (ja) * | 2005-03-10 | 2006-10-19 | Fuji Xerox Co Ltd | 光沢測定装置、光沢測定方法及び光沢測定プログラム |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017129561A (ja) * | 2016-01-20 | 2017-07-27 | キヤノン株式会社 | 測定システム、情報処理装置、情報処理方法およびプログラム |
| JP2021043225A (ja) * | 2016-01-20 | 2021-03-18 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法およびプログラム |
| JP2018179973A (ja) * | 2017-04-14 | 2018-11-15 | Jfeスチール株式会社 | 放射温度測定装置及び放射温度測定方法 |
| JP2023181817A (ja) * | 2022-06-13 | 2023-12-25 | 株式会社トヨタプロダクションエンジニアリング | 表面状態判定装置、表面状態判定方法、及び表面状態判定プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP2198272A4 (en) | 2012-05-30 |
| EP2198272A2 (en) | 2010-06-23 |
| US20090097033A1 (en) | 2009-04-16 |
| EP2198272B1 (en) | 2013-07-03 |
| WO2009049121A2 (en) | 2009-04-16 |
| CA2702081A1 (en) | 2009-04-16 |
| US7619740B2 (en) | 2009-11-17 |
| CA2702081C (en) | 2017-10-03 |
| WO2009049121A3 (en) | 2009-05-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7619740B2 (en) | Microgloss measurement of paper and board | |
| JP4869332B2 (ja) | 移動中のウェブの繊維配向を測定する方法および装置 | |
| US10643323B2 (en) | Measurement of tissue paper | |
| EP2026059B1 (en) | Method and apparatus for electromagnetic detection for use in the manufacture of fibrous web | |
| CN101223436A (zh) | 用于纤维取向测量的方法和装置 | |
| EP1917519A1 (en) | Method and apparatus for measuring the crepe of a moving sheet | |
| US7155356B2 (en) | Quality and condition monitoring based on spectrum separating measurement | |
| EP2914954B1 (en) | Method and apparatus for measuring gloss | |
| US10969343B2 (en) | Measuring method, measuring arrangement and measuring device | |
| US6947150B2 (en) | Method and apparatus for determining out-of-plane defects in a paper sample | |
| WO2003095739A1 (en) | Method and apparatus for monitoring of the dry line in a fou drinier paper machine and for control based thereupon | |
| Johnson | Defect and thickness inspection system for cast thin films using machine vision and full-field transmission densitometry | |
| JP2000241146A (ja) | シートの製造方法およびその装置 | |
| CN118650800A (zh) | 用于橡胶片材压延的纺织帘线计数的测量 | |
| JPH03140810A (ja) | 紙の表面形状の測定方法及び装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110908 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130111 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130118 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130417 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20131202 |