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JP2011222698A - 光デバイスウエーハの加工方法 - Google Patents

光デバイスウエーハの加工方法 Download PDF

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JP2011222698A
JP2011222698A JP2010089471A JP2010089471A JP2011222698A JP 2011222698 A JP2011222698 A JP 2011222698A JP 2010089471 A JP2010089471 A JP 2010089471A JP 2010089471 A JP2010089471 A JP 2010089471A JP 2011222698 A JP2011222698 A JP 2011222698A
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abrasive
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JP2010089471A
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Kazuma Sekiya
一馬 関家
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Disco Abrasive Systems Ltd
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Abstract

【課題】光デバイスの品質が低下させることなく個々の光デバイスに分割することができる光デバイスウエーハの加工方法を提供する。
【解決手段】基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレード423を用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程とを含み、破断起点形成工程を実施する切削ブレード423は、中央砥粒層423aと両側砥粒層423b、423cとからなり、両側砥粒層423b、423cは粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、中央砥粒層423aは両側砥粒層423b、423cより粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている。
【選択図】図4

Description

本発明は、基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法に関する。
光デバイス製造工程においては、略円板形状であるサファイア基板や炭化珪素基板の表面に窒化ガリウム系化合物半導体からなる光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイスを形成して光デバイスウエーハを構成する。そして、光デバイスウエーハをストリートに沿って切断することにより光デバイスが形成された領域を分割して個々の光デバイスを製造している。
上述した光デバイスウエーハのストリートに沿った切断は、通常、ダイサーと呼ばれている切削装置によって行われている。この切削装置は、被加工物を保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削するための切削手段と、チャックテーブルと切削手段とを相対的に移動せしめる切削送り手段とを具備している。切削手段は、回転スピンドルと該回転スピンドルに装着された切削ブレードおよび回転スピンドルを回転駆動する駆動機構を含んでいる。切削ブレードは円盤状の基台と該基台の側面外周部に装着された環状の切れ刃からなっており、切れ刃は例えば粒径3μm程度のダイヤモンド砥粒を電鋳によって基台に固定し厚さ20μm程度に形成されている。
しかるに、光デバイスウエーハを構成するサファイア基板、炭化珪素基板等はモース硬度が高いため、上記切削ブレードによる切断は必ずしも容易ではない。従って、切削ブレードの切り込み量を大きくすることができず、切削工程を複数回実施して光デバイスウエーハを切断するため、生産性が悪いという問題がある。
上述した問題を解消するために、光デバイスウエーハをストリートに沿って分割する方法として、ウエーハに対して吸収性を有する波長のパルスレーザー光線をストリートに沿って照射することにより破断の起点となるレーザー加工溝を形成し、この破断の起点となるレーザー加工溝が形成されたストリートに沿って外力を付与することにより割断する方法が提案されている。(例えば、特許文献1参照。)
特開平10−305420号公報
しかるに、光デバイスウエーハを構成するサファイア基板の表面に形成されたストリートに沿ってサファイア基板に対して吸収性を有する波長のレーザー光線を照射してレーザー加工溝を形成すると、発光ダイオード等の光デバイスの側壁面にレーザー加工時に生成される変質物質が付着して光デバイスの輝度が低下し、光デバイスの品質が低下するという問題がある。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、光デバイスの品質を低下させることなく個々の光デバイスに分割することができる光デバイスウエーハの加工方法を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法が提供される。
また、本発明によれば、基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法が提供される。
更に、本発明によれば、基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する第1の破断起点形成工程と、
光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する第2の破断起点形成工程と、
該第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法が提供される。
上記両側砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、上記中央砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法においては、破断起点形成工程において光デバイスウエーハを構成する基板の裏面および/または光デバイスウエーハの表面に破断起点となる切削溝を形成する切削ブレードは、中央砥粒層と両側砥粒層とからなっており、両側砥粒層が粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、中央砥粒層が両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されているので、切削溝を形成する際に切削溝の底からクラックが生成される。従って、光デバイスウエーハをストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程においては、切削溝の底から生成されたクラックが成長して効果的に分割することができるとともに、光を吸収して輝度の低下を招く変質物質が生成されないため、光デバイスの輝度が低下することはない。また、上記破断起点となる切削溝はダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードによって形成されるので、切削溝が粗面に加工されるため、光デバイスの光が効果的に放出され輝度が向上する。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法に従って加工される光デバイスウエーハを示す斜視図および要部拡大断面図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法における保護部材貼着工程の説明図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法における破断起点形成工程を実施するための切削装置の要部斜視図。 図3に示す切削装置に装備される切削ブレードの断面図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法の第1の実施形態における破断起点形成工程の説明図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法の第1の実施形態におけるウエーハ支持工程の説明図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法におけるウエーハ分割工程を実施するためのウエーハ分割装置の斜視図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法におけるウエーハ分割工程の説明図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法の第2の実施形態におけるウエーハ支持工程の説明図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法の第2の実施形態における破断起点形成工程の説明図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法の第2の実施形態における破断起点形成工程の説明図。 本発明による光デバイスウエーハの加工方法の第3の実施形態における第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハの要部を拡大して示す断面図。
以下、本発明による光デバイスウエーハの加工方法の好適な実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1の(a)および(b)には、本発明による光デバイスウエーハの加工方法に従って加工される光デバイスウエーハの斜視図および要部を拡大して示す断面図が示されている。図1の(a)および(b)に示す光デバイスウエーハ2は、例えば厚みが100μmのサファイア基板20の表面20aに窒化物半導体からなる光デバイス層としての発光層(エピ層)21が5μmの厚みで積層されている。そして、発光層(エピ層)21が格子状に形成された複数のストリート22によって区画された複数の領域に発光ダイオード、レーザーダイオード等の光デバイス23が形成されている。以下、この光デバイスウエーハ2をストリート22に沿って個々の光デバイス23に分割する加工方法について説明する。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第1の実施形態について、図3乃至図8を参照して説明する。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第1の実施形態においては、先ず光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の表面20aに形成された光デバイス23を保護するために、光デバイスウエーハ2の表面2aに保護部材を貼着する保護部材貼着工程を実施する。即ち、図2に示すように光デバイスウエーハ2の表面2aに保護部材としての保護テープ3を貼着する。なお、保護テープ3は、図示の実施形態においては厚さが100μmのポリ塩化ビニル(PVC)からなるシート基材の表面にアクリル樹脂系の糊が厚さ5μm程度塗布されている。
上述した保護部材貼着工程を実施することにより光デバイスウエーハ2の表面2aに保護テープ3を貼着したならば、基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程を実施する。この破断起点形成工程は、図示の実施形態においては図3に示す切削装置4を用いて実施する。図3に示す切削装置4は、被加工物を保持するチャックテーブル41と、該チャックテーブル41に保持された被加工物を切削する切削手段42と、該チャックテーブル41に保持された被加工物を撮像する撮像手段43を具備している。チャックテーブル41は、被加工物を吸引保持するように構成されており、図示しない切削送り手段によって図3において矢印Xで示す加工送り方向に移動せしめられるとともに、図示しない割り出し送り手段によって矢印Yで示す割り出し送り方向に移動せしめられるようになっている。
上記切削手段42は、実質上水平に配置されたスピンドルハウジング421と、該スピンドルハウジング421に回転自在に支持された回転スピンドル422と、該回転スピンドル422の先端部に装着された切削ブレード423を含んでおり、回転スピンドル422がスピンドルハウジング421内に配設された図示しないサーボモータによって矢印Aで示す方向に回転せしめられるようになっている。なお、切削ブレード423は、図4に示すように基台424の側面にダイヤモンド砥粒をニッケルメッキで固めた電鋳ブレードからなっており、厚みが20〜30μmに形成されている。この切削ブレード423は、中央砥粒層423aと該中央砥粒層423aの両側に設けられた両側砥粒層423b、423cとからなっており、両側砥粒層423b、423cは粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、中央砥粒層423aは両側砥粒層423b、423cより粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている。このように構成された切削ブレード423の両側砥粒層423b、423cを形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、中央砥粒層423aを形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている。
上記撮像手段43は、スピンドルハウジング421の先端部に装着されており、被加工物を照明する照明手段と、該照明手段によって照明された領域を捕らえる光学系と、該光学系によって捕らえられた像を撮像する撮像素子(CCD)等を備え、撮像した画像信号を図示しない制御手段に送る。
上述した切削装置4を用いて破断起点形成工程を実施するには、図3に示すようにチャックテーブル41上に光デバイスウエーハ2の表面に貼着された保護テープ3側を載置する。そして、図示しない吸引手段を作動することにより、保護テープ3を介して光デバイスウエーハ2をチャックテーブル41上に保持する(ウエーハ保持工程)。従って、チャックテーブル41に保持された光デバイスウエーハ2は、サファイア基板20の裏面20bが上側となる。このようにして、光デバイスウエーハ2を吸引保持したチャックテーブル41は、図示しない切削送り手段によって撮像手段43の直下に位置付けられる。
チャックテーブル41が撮像手段43の直下に位置付けられると、撮像手段43および図示しない制御手段によって光デバイスウエーハ2の加工すべき領域を検出するアライメント作業を実行する。即ち、撮像手段43および図示しない制御手段は、光デバイスウエーハ2の所定方向に形成されているストリート22と切削ブレード423との位置合わせを行うためのアライメントを遂行する(アライメント工程)。また、光デバイスウエーハ2に上記所定方向と直交する方向に形成されたストリート22に対しても、同様に加工領域のアライメントが遂行される。このとき、光デバイスウエーハ2におけるストリート22が形成されている発光層(エピ層)21の表面は下側に位置しているが、光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20は透明体であるため、サファイア基板20の裏面20b側からストリート22を撮像することができる。
以上のようにしてチャックテーブル41上に保持されている光デバイスウエーハ2の加工領域を検出するアライメントが行われたならば、光デバイスウエーハ2を吸引保持したチャックテーブル41を切削ブレード423の下方である加工領域の加工開始位置に移動する。そして、図5の(a)で示すように光デバイスウエーハ2の加工すべきストリート22の一端(図5の(a)において左端)が切削ブレード423の直下より所定量右側に位置するように位置付ける(加工送り開始位置位置付け工程)。このようにして光デバイスウエーハ2を加工領域の加工開始位置に位置付けられたならば、切削ブレード423を矢印Aで示す方向に回転しつつ図5の(a)において2点鎖線で示す待機位置から下方に切り込み送りし、図5の(a)において実線で示すように所定の切り込み送り位置に位置付ける。この切り込み送り位置は、切削ブレード423の外周縁の下端が光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20b(上面)から例えば20μm下方の位置に設定されている。なお、切り込み深さを20μmより深くすると切削ブレードに負荷がかかりサファイア基板の上面に欠けや割れが発生するため、切り込み深さは20μmが限界である。
次に、図5の(a)に示すように切削ブレード423を矢印Aで示す方向に所定の回転速度で回転しつつ、チャックテーブル41即ち光デバイスウエーハ2を図5の(a)において矢印X1で示す方向に所定の加工送り速度で加工送りする(破断起点形成工程)。この結果、図5の(b)および(c)に示すように光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20b(上面)には、ストリート22に沿って破断起点となる深さが20μmの切削溝201が形成される。この破断起点形成工程において破断起点となる切削溝201を形成する切削ブレード423は上述したように中央砥粒層423aと該中央砥粒層423aの両側に設けられた両側砥粒層423b、423cとからなっており、両側砥粒層423b、423cが粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成されているのでサファイア基板20に形成された切削溝201の側面にダメージが生じにくく、中央砥粒層423aが両側砥粒層423b、423cより粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されているので切削溝201を形成する際に切削溝201の底からクラック201aが生成される。また、破断起点形成工程においては、上述したように切り込み深さの限界であるが切り込み深さが20μm程度で比較的少ないので、硬質基板であるサファイア基板20であっても比較的容易に破断起点となる切削溝201を形成することができる。なお、チャックテーブル41即ち光デバイスウエーハ2の他端(図5の(b)において右端)が切削ブレード423の直下より所定量左側に位置するまで達したら、チャックテーブル41の移動を停止する。そして、切削ブレード423を上昇させ2点鎖線で示す退避位置に位置付ける。
上記破断起点形成工程における加工条件は、例えば次のように設定されている。
切削ブレード :厚みが20〜30μmのダイヤモンド砥粒の電鋳ブレード
切削ブレードの回転速度 :20000rpm
切り込み深さ :20μm
加工送り速度 :50〜150mm/秒
以上のようにして、光デバイスウエーハ2の所定方向に延在する全てのストリート22に沿って上記破断起点を実施したならば、チャックテーブル41を90度回動せしめて、上記所定方向に対して直交する方向に形成された各ストリート22に沿って上記破断起点形成工程を実施する。
上述したように破断起点形成工程を実施したならば、光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bを環状のフレームに装着されたダイシングテープの表面に貼着するとともに光デバイスウエーハ2の表面に貼着されている保護部材を剥離するウエーハ支持工程を実施する。即ち、図6の(a)および(b)に示すように、環状のフレーム5の内側開口部を覆うように外周部が装着されたダイシングテープ6の表面に上記破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bを貼着する。そして、光デバイスウエーハ2の表面2aに貼着されている保護テープ3を剥離する(ウエーハ支持工程)。
次に、光デバイスウエーハに外力を付与し、破断起点となる切削溝201が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程を実施する。このウエーハ分割工程は、図7に示すウエーハ分割装置7を用いて実施する。図7に示すウエーハ分割装置7は、基台71と、該基台71上に矢印Yで示す方向に移動可能に配設された移動テーブル72を具備している。基台71は矩形状に形成され、その両側部上面には矢印Yで示す方向に2本の案内レール711、712が互いに平行に配設されている。この2本の案内レール711、712上に移動テーブル72が移動可能に配設されている。移動テーブル72は、移動手段73によって矢印Yで示す方向に移動せしめられる。移動テーブル72上には、上記環状のフレーム5を保持するフレーム保持手段74が配設されている。フレーム保持手段74は、円筒状の本体741と、該本体741の上端に設けられた環状のフレーム保持部材742と、該フレーム保持部材742の外周に配設された固定手段としての複数のクランプ743とからなっている。このように構成されたフレーム保持手段74は、フレーム保持部材742上に載置された環状のフレーム5をクランプ743によって固定する。また、図7に示すウエーハ分割装置7は、上記フレーム保持手段74を回動せしめる回動手段75を具備している。この回動手段75は、上記移動テーブル72に配設されたパルスモータ751と、該パルスモータ751の回転軸に装着されたプーリ752と、該プーリ752と円筒状の本体741に捲回された無端ベルト753とからなっている。このように構成された回動手段75は、パルスモータ751を駆動することにより、プーリ752および無端ベルト753を介してフレーム保持手段74を回動せしめる。
図7に示すウエーハ分割装置7は、上記環状のフレーム保持部材742に保持された環状のフレーム5にダイシングテープ6を介して支持されている光デバイスウエーハ2にストリート22と直交する方向に引張力を作用せしめる張力付与手段76を具備している。張力付与手段76は、環状のフレーム保持部材74内に配置されている。この張力付与手段76は、矢印Y方向と直交する方向に長い長方形の保持面を備えた第1の吸引保持部材761と第2の吸引保持部材762を備えている。第1の吸引保持部材761には複数の吸引孔761aが形成されており、第2の吸引保持部材762には複数の吸引孔762aが形成されている。複数の吸引孔761aおよび762aは、図示しない吸引手段に連通されている。また、第1の吸引保持部材761と第2の吸引保持部材762は、図示しない移動手段によって矢印Y方向にそれぞれ移動せしめられるようになっている。
図7に示すウエーハ分割装置7は、上記環状のフレーム保持部材742に保持された環状のフレーム5にダイシングテープ6を介して支持されている光デバイスウエーハ2のストリート22を検出するための検出手段77を具備している。検出手段77は、基台71に配設されたL字状の支持柱771に取り付けられている。この検出手段77は、光学系および撮像素子(CCD)等で構成されており、上記張力付与手段76の上方位置に配置されている。このように構成された検出手段77は、上記環状のフレーム保持部材742に保持された環状のフレーム5にダイシングテープ6を介して支持されている光デバイスウエーハ2のストリート22を撮像し、これを電気信号に変換して図示しない制御手段に送る。
上述したウエーハ分割装置7を用いて実施するウエーハ分割工程について、図8を参照して説明する。
上述した第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハ2をダイシングテープ6を介して支持する環状のフレーム5を、図8の(a)に示すようにフレーム保持部材742上に載置し、クランプ743によってフレーム保持部材742に固定する。次に、移動手段73を作動して移動テーブル72を矢印Yで示す方向(図7参照)に移動し、図8の(a)に示すように光デバイスウエーハ2に所定方向に形成された1本のストリート22(図示の実施形態においては最左端のストリート)が張力付与手段76を構成する第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との間に位置付ける。このとき、検出手段77によってストリート22を撮像し、第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との位置合わせを行う。このようにして、1本のストリート22が第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との間に位置付けられたならば、図示しない吸引手段を作動し吸引孔761aおよび762aに負圧を作用せしめることにより、第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面上にダイシングテープ6を介して光デバイスウエーハ2を吸引保持する(保持工程)。
上述した保持工程を実施したならば、張力付与手段76を構成する図示しない移動手段を作動し、第1の吸引保持部材761と第2の吸引保持部材762を図8の(b)に示すように互いに離反する方向に移動せしめる。この結果、第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との間に位置付けられたストリート22には、ストリート22と直交する方向に引張力が作用し、光デバイスウエーハ2は切削溝201および該切削溝201の底から生成されたクラック201aが破断の起点となってストリート22に沿って破断される(破断工程)。この破断工程を実施することにより、ダイシングテープ6は僅かに伸びる。この破断工程においては、光デバイスウエーハ2はストリート22に沿って切削溝201およびクラック201aが形成され強度が低下せしめられているので、第1の吸引保持部材761と第2の吸引保持部材762を互いに離反する方向に0.5mm程度移動することにより、光デバイスウエーハ2をサファイア基板20に形成された切削溝201がおよびクラック201a破断の起点となってストリート22に沿って破断することができる。
上述したように所定方向に形成された1本のストリート22に沿って破断する破断工程を実施したならば、上述した第1の吸引保持部材761および第2の吸引保持部材762による光デバイスウエーハ2の吸引保持を解除する。次に、移動手段73を作動して移動テーブル72を矢印Yで示す方向(図7参照)にストリート22の間隔に相当する分だけ移動し、上記破断工程を実施したストリート22の隣のストリート22が張力付与手段76を構成する第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との間に位置付ける。そして、上記保持工程および破断工程を実施する。
以上のようにして、所定方向に形成された全てのストリート22に対して上記保持工程および破断工程を実施したならば、回動手段75を作動してフレーム保持手段74を90度回動せしめる。この結果、フレーム保持手段74のフレーム保持部材742に保持された光デバイスウエーハ2も90度回動することになり、所定方向に形成され上記破断工程が実施されたストリート22と直交する方向に形成されたストリート22が第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面と平行な状態に位置付けられる。次に、上記破断工程が実施されたストリート22と直交する方向に形成された全てのストリート22に対して上述し保持工程および破断工程を実施することにより、光デバイスウエーハ2はストリート22に沿って個々のデバイス23に分割される(ウエーハ分割工程)。
上述した実施形態においては、光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bに破断起点となる切削溝201を形成する切削ブレード423は、中央砥粒層423aと該中央砥粒層423aの両側に設けられた両側砥粒層423b、423cとからなっており、両側砥粒層423b、423cが粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、中央砥粒層423aが両側砥粒層423b、423cより粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されているので、切削溝201を形成する際に切削溝201の底からクラック201aが生成される。従って、光デバイスウエーハ2をストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程においては、切削溝201の底から生成されたクラック201aが成長して効果的に分割することができるとともに、光を吸収して輝度の低下を招く変質物質が生成されないため、光デバイス23の輝度が低下することはない。また、上記破断起点となる切削溝201はダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードによって形成されるので、切削溝201が粗面に加工されるため、光デバイスの光が効果的に放出され輝度が向上する。
次に、本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第2の実施形態について説明する。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第2の実施形態においては、先ず図9の(a)および(b)に示すように光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bを環状のフレーム5に装着されたダイシングテープ6の表面に貼着する(ウエーハ支持工程)。
上述したウエーハ支持工程を実施したならば、光デバイスウエーハ2の表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリート22に沿って切削し、光デバイスウエーハ2の表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程を実施する。この破断起点形成工程は、上記図3に示す切削装置4を用いて実施することができる。
上述した切削装置4を用いて破断起点形成工程を実施するには、図10に示すようにチャックテーブル41上に光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bが貼着されたダイシングテープ6側を載置し、図示しない吸引手段を作動してチャックテーブル41上に光デバイスウエーハ2を吸引保持する(ウエーハ保持工程)。従って、チャックテーブル41上に保持された光デバイスウエーハ2は、表面2aが上側となる。なお、図10においては、ダイシングテープ6が装着された環状のフレーム5を省いて示しているが、環状のフレーム5はチャックテーブル41に配設されたクランプ機構によって固定されている。このようにして、光デバイスウエーハ2を吸引保持したチャックテーブル41は、図示しない切削送り手段によって撮像手段43の直下に位置付けられる。
チャックテーブル41が撮像手段43の直下に位置付けられると、撮像手段43および図示しない制御手段によって光デバイスウエーハ2の加工すべき領域を検出するアライメント作業を実行する。即ち、撮像手段43および図示しない制御手段は、光デバイスウエーハ2の表面2aに所定方向に形成されているストリート22と切削ブレード423との位置合わせを行うためのアライメントを遂行する(アライメント工程)。また、光デバイスウエーハ2の表面2aに上記所定方向に対して直交する方向に形成されたストリート22に対しても、同様に加工領域のアライメントが遂行される。
以上のようにしてチャックテーブル41上に保持されている光デバイスウエーハ2の加工領域を検出するアライメントが行われたならば、光デバイスウエーハ2を吸引保持したチャックテーブル41を切削ブレード423の下方である加工領域の加工開始位置に移動する。そして、図11の(a)で示すように光デバイスウエーハ2の加工すべきストリート22の一端(図11の(a)において左端)が切削ブレード423の直下より所定量右側に位置するように位置付ける(加工送り開始位置位置付け工程)。このようにして光デバイスウエーハ2を加工領域の加工開始位置に位置付けられたならば、切削ブレード423を矢印Aで示す方向に回転しつつ図11の(a)において2点鎖線で示す待機位置から下方に切り込み送りし、図11の(a)において実線で示すように所定の切り込み送り位置に位置付ける。この切り込み送り位置は、切削ブレード423の外周縁の下端が光デバイスウエーハ2の表面2a(上面)から例えば20μm下方の位置に設定されている。
次に、図11の(a)に示すように切削ブレード423を矢印Aで示す方向に回転しつつ所定の回転速度で回転せしめ、チャックテーブル41即ち光デバイスウエーハ2を図11の(a)において矢印X1で示す方向に所定の加工送り速度で加工送りする(破断起点形成工程)。なお、破断起点形成工程における加工条件は、上述した第1の実施形態における上記図5に示す破断起点形成工程の加工条件と同一でよい。この結果、光デバイスウエーハ2の表面2aには、図11の(b)および(c)に示すようにストリート22に沿ってサファイア基板20に達する破断起点となる深さが20μmの切削溝202が形成される。この破断起点形成工程において破断起点となる切削溝202を形成する切削ブレード423は上述したように中央砥粒層423aと該中央砥粒層423aの両側に設けられた両側砥粒層423b、423cとからなっており、両側砥粒層423b、423cが粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成されているのでサファイア基板20に形成された切削溝201の側面にダメージが生じにくく、中央砥粒層423aが両側砥粒層423b、423cより粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されているので切削溝201を形成する際に切削溝201の底からクラック201aが生成される。また、破断起点形成工程においては、切り込み深さが20μm程度で比較的少ないので、硬質基板であるサファイア基板20であっても比較的容易に破断起点となる切削溝202を形成することができる。なお、チャックテーブル41即ち光デバイスウエーハ2の他端(図11の(b)において右端)が切削ブレード423の直下より所定量左側に位置するまで達したら、チャックテーブル41の移動を停止する。そして、切削ブレード423を上昇させ2点鎖線で示す退避位置に位置付ける。
以上のようにして、光デバイスウエーハ2の所定方向に延在する全てのストリート22に沿って上記破断起点を実施したならば、チャックテーブル41を90度回動せしめて、上記所定方向に対して直交する方向に形成された各ストリート22に沿って上記破断起点形成工程を実施する。
上述したように破断起点形成工程を実施したならば、光デバイスウエーハに外力を付与し、破断起点となる切削溝202が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程を実施する。このウエーハ分割工程は、上記図7に示すウエーハ分割装置7を用いて上述した第1の実施形態における上記図8に示す作業工程と同様に実施する。
上述した本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第2の実施形態においても、光デバイスウエーハ2の表面にサファイア基板20に達する破断起点となる切削溝202を形成する破断起点形成工程は、上記図4に示す切削ブレード423(中央砥粒層423aと両側砥粒層423b、423cとからなり、両側砥粒層423b、423cが粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、中央砥粒層423aが両側砥粒層423b、423cより粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている)によって実施されるので、切削溝202を形成する際に切削溝202の底からクラック202aが生成される。従って、光デバイスウエーハ2をストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程においては、切削溝202の底から生成されたクラック202aが成長して効果的に分割することができるとともに、光を吸収して輝度の低下を招く変質物質が生成されないため、光デバイス23の輝度が低下することはない。また、上記破断起点となる切削溝202はダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードによって形成されるので、切削溝202が粗面に加工されるため、光デバイスの光が効果的に放出され輝度が向上する。
次に、本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第3の実施形態について説明する。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第3の実施形態においては、先ず上記第1の実施形態と同様に図2に示す光デバイスウエーハ2の表面2aに保護部材を貼着する保護部材貼着工程を実施し、図3乃至図5に示す基板20の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレード523を用いてストリート22に沿って切削し、基板20の裏面に破断起点となる切削溝201を形成する破断起点形成工程(第1の破断起点形成工程)を実施する。
次に、上記第1の実施形態と同様に図6に示すウエーハ支持工程を実施した後、光デバイスウエーハ2の表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハ2の表面に基板20に達する破断起点となる切削溝を形成する第2の破断起点形成工程を実施する。この第2の破断起点形成工程は、上記第2の実施形態における上記図9および図10に示す破断起点形成工程と同様に実施する。
上述した第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハ2は、図12に示すように光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bにストリート22に沿って破断起点となる切削溝201およびクラック201aが形成されるとともに、光デバイスウエーハ2の表面2aにストリート22に沿ってサファイア基板20に達する破断起点となる切削溝202およびクラック202aが形成される。
上述したように第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程を実施したならば、光デバイスウエーハに外力を付与し、破断起点となる切削溝201および202が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程を実施する。このウエーハ分割工程は、上記図7に示すウエーハ分割装置7を用いて図8に示す作業工程と同様に実施する。このウエーハ分割工程においては、光デバイスウエーハ2には図12に示すように光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bにストリート22に沿って破断起点となる切削溝201およびクラック201aが形成されているとともに、光デバイスウエーハ2の表面2aにストリート22に沿ってサファイア基板20に達する破断起点となる切削溝202およびクラック202aが形成されているので、光デバイスウエーハ2をストリート22に沿って容易に破断することができる。そして、破断起点となる切削溝201および202は上述したようにダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードによって形成されるので、切削溝201および202が粗面に加工されるため、個々に分割された光デバイスは光が効果的に放出され輝度が向上する。
2:光デバイスウエーハ
20:サファイア基板
21:光デバイス層としての発光層(エピ層)
3:保護テープ
4:切削装置
41:切削装置のチャックテーブル
42:切削手段
423:切削ブレード
5:環状のフレーム
6:ダイシングテープ
7:ウエーハ分割装置
71:基台
72:移動テーブル
73:移動手段
74:フレーム保持手段
75:回動手段
76:張力付与手段
77:検出手段

Claims (6)

  1. 基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
    基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
    該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
    該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
    ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法。
  2. 該両側砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、該中央砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている、請求項1記載の光デバイスウエーハの加工方法。
  3. 基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
    光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
    該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
    該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
    ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法。
  4. 該両側砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、該中央砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている、請求項3記載の光デバイスウエーハの加工方法。
  5. 基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
    基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する第1の破断起点形成工程と、
    光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する第2の破断起点形成工程と、
    該第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
    該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
    ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法。
  6. 該両側砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、該中央砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている、請求項5記載の光デバイスウエーハの加工方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014053526A (ja) * 2012-09-10 2014-03-20 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの加工方法
CN105382946A (zh) * 2015-12-17 2016-03-09 哈尔滨新力光电技术有限公司 蓝宝石led条自动高效裂片机及裂片方法
US11189530B2 (en) 2019-04-19 2021-11-30 Disco Corporation Manufacturing method of chips

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5890467A (ja) * 1981-11-13 1983-05-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 砥石
JPH01175166U (ja) * 1988-05-30 1989-12-13
JPH09106965A (ja) * 1995-10-09 1997-04-22 Yamaha Corp 六方晶窒化ガリウム系半導体層の劈開方法
JP2003172839A (ja) * 2001-12-04 2003-06-20 Fujitsu Ltd レジンダイヤモンドブレード及び該ブレードを使用した光導波路の製造方法
JP2004039931A (ja) * 2002-07-04 2004-02-05 Sumitomo Electric Ind Ltd 基板切断方法及び基板切断装置
JP2006082187A (ja) * 2004-09-16 2006-03-30 Mitsubishi Materials Corp 薄刃砥石
JP2007042808A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの分割方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5890467A (ja) * 1981-11-13 1983-05-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 砥石
JPH01175166U (ja) * 1988-05-30 1989-12-13
JPH09106965A (ja) * 1995-10-09 1997-04-22 Yamaha Corp 六方晶窒化ガリウム系半導体層の劈開方法
JP2003172839A (ja) * 2001-12-04 2003-06-20 Fujitsu Ltd レジンダイヤモンドブレード及び該ブレードを使用した光導波路の製造方法
JP2004039931A (ja) * 2002-07-04 2004-02-05 Sumitomo Electric Ind Ltd 基板切断方法及び基板切断装置
JP2006082187A (ja) * 2004-09-16 2006-03-30 Mitsubishi Materials Corp 薄刃砥石
JP2007042808A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの分割方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014053526A (ja) * 2012-09-10 2014-03-20 Disco Abrasive Syst Ltd ウエーハの加工方法
CN105382946A (zh) * 2015-12-17 2016-03-09 哈尔滨新力光电技术有限公司 蓝宝石led条自动高效裂片机及裂片方法
US11189530B2 (en) 2019-04-19 2021-11-30 Disco Corporation Manufacturing method of chips

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