JP2011222698A - 光デバイスウエーハの加工方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレード423を用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程とを含み、破断起点形成工程を実施する切削ブレード423は、中央砥粒層423aと両側砥粒層423b、423cとからなり、両側砥粒層423b、423cは粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、中央砥粒層423aは両側砥粒層423b、423cより粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている。
【選択図】図4
Description
基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法が提供される。
光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法が提供される。
基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する第1の破断起点形成工程と、
光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する第2の破断起点形成工程と、
該第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法が提供される。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第1の実施形態においては、先ず光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の表面20aに形成された光デバイス23を保護するために、光デバイスウエーハ2の表面2aに保護部材を貼着する保護部材貼着工程を実施する。即ち、図2に示すように光デバイスウエーハ2の表面2aに保護部材としての保護テープ3を貼着する。なお、保護テープ3は、図示の実施形態においては厚さが100μmのポリ塩化ビニル(PVC)からなるシート基材の表面にアクリル樹脂系の糊が厚さ5μm程度塗布されている。
切削ブレード :厚みが20〜30μmのダイヤモンド砥粒の電鋳ブレード
切削ブレードの回転速度 :20000rpm
切り込み深さ :20μm
加工送り速度 :50〜150mm/秒
上述した第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハ2をダイシングテープ6を介して支持する環状のフレーム5を、図8の(a)に示すようにフレーム保持部材742上に載置し、クランプ743によってフレーム保持部材742に固定する。次に、移動手段73を作動して移動テーブル72を矢印Yで示す方向(図7参照)に移動し、図8の(a)に示すように光デバイスウエーハ2に所定方向に形成された1本のストリート22(図示の実施形態においては最左端のストリート)が張力付与手段76を構成する第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との間に位置付ける。このとき、検出手段77によってストリート22を撮像し、第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との位置合わせを行う。このようにして、1本のストリート22が第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面との間に位置付けられたならば、図示しない吸引手段を作動し吸引孔761aおよび762aに負圧を作用せしめることにより、第1の吸引保持部材761の保持面と第2の吸引保持部材762の保持面上にダイシングテープ6を介して光デバイスウエーハ2を吸引保持する(保持工程)。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第2の実施形態においては、先ず図9の(a)および(b)に示すように光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bを環状のフレーム5に装着されたダイシングテープ6の表面に貼着する(ウエーハ支持工程)。
上述した切削装置4を用いて破断起点形成工程を実施するには、図10に示すようにチャックテーブル41上に光デバイスウエーハ2を構成するサファイア基板20の裏面20bが貼着されたダイシングテープ6側を載置し、図示しない吸引手段を作動してチャックテーブル41上に光デバイスウエーハ2を吸引保持する(ウエーハ保持工程)。従って、チャックテーブル41上に保持された光デバイスウエーハ2は、表面2aが上側となる。なお、図10においては、ダイシングテープ6が装着された環状のフレーム5を省いて示しているが、環状のフレーム5はチャックテーブル41に配設されたクランプ機構によって固定されている。このようにして、光デバイスウエーハ2を吸引保持したチャックテーブル41は、図示しない切削送り手段によって撮像手段43の直下に位置付けられる。
本発明による光デバイスウエーハの加工方法における第3の実施形態においては、先ず上記第1の実施形態と同様に図2に示す光デバイスウエーハ2の表面2aに保護部材を貼着する保護部材貼着工程を実施し、図3乃至図5に示す基板20の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレード523を用いてストリート22に沿って切削し、基板20の裏面に破断起点となる切削溝201を形成する破断起点形成工程(第1の破断起点形成工程)を実施する。
20:サファイア基板
21:光デバイス層としての発光層(エピ層)
3:保護テープ
4:切削装置
41:切削装置のチャックテーブル
42:切削手段
423:切削ブレード
5:環状のフレーム
6:ダイシングテープ
7:ウエーハ分割装置
71:基台
72:移動テーブル
73:移動手段
74:フレーム保持手段
75:回動手段
76:張力付与手段
77:検出手段
Claims (6)
- 基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法。 - 該両側砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、該中央砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている、請求項1記載の光デバイスウエーハの加工方法。
- 基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する破断起点形成工程と、
該破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法。 - 該両側砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、該中央砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている、請求項3記載の光デバイスウエーハの加工方法。
- 基板の表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された複数の領域に光デバイスが形成された光デバイスウエーハを、ストリートに沿って個々の光デバイスに分割する光デバイスウエーハの加工方法であって、
基板の裏面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、基板の裏面に破断起点となる切削溝を形成する第1の破断起点形成工程と、
光デバイスウエーハの表面側からダイヤモンド砥粒を主成分とする切削ブレードを用いてストリートに沿って切削し、光デバイスウエーハの表面に基板に達する破断起点となる切削溝を形成する第2の破断起点形成工程と、
該第1の破断起点形成工程および第2の破断起点形成工程が実施された光デバイスウエーハに外力を付与し、切削溝が形成されたストリートに沿って破断し、個々の光デバイスに分割するウエーハ分割工程と、を含み、
該破断起点形成工程を実施する切削ブレードは、中央砥粒層と該中央砥粒層の両側に設けられた両側砥粒層とからなり、該両側砥粒層は粒径の細かいダイヤモンド砥粒によって形成され、該中央砥粒層は該両側砥粒層より粒径が大きいダイヤモンド砥粒によって形成されている、
ことを特徴とする光デバイスウエーハの加工方法。 - 該両側砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は1〜3μmに設定され、該中央砥粒層を形成するダイヤモンド砥粒の粒径は10〜20μmに設定されている、請求項5記載の光デバイスウエーハの加工方法。
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