[go: up one dir, main page]

JP2011219293A - Single crystal production apparatus and method for producing silicon carbide single crystal - Google Patents

Single crystal production apparatus and method for producing silicon carbide single crystal Download PDF

Info

Publication number
JP2011219293A
JP2011219293A JP2010088616A JP2010088616A JP2011219293A JP 2011219293 A JP2011219293 A JP 2011219293A JP 2010088616 A JP2010088616 A JP 2010088616A JP 2010088616 A JP2010088616 A JP 2010088616A JP 2011219293 A JP2011219293 A JP 2011219293A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
seed crystal
single crystal
crystal
raw material
lid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010088616A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenichiro Okuno
憲一郎 奥野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bridgestone Corp
Original Assignee
Bridgestone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bridgestone Corp filed Critical Bridgestone Corp
Priority to JP2010088616A priority Critical patent/JP2011219293A/en
Publication of JP2011219293A publication Critical patent/JP2011219293A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a single crystal production apparatus which prevents the occurrence of structural defects such as cracks in a seed crystal and produces a high quality single crystal, in the production of the single crystal by a sublimation recrystallization method, and to provide a method for producing a silicon carbide single crystal using the single crystal production apparatus.SOLUTION: The single crystal production apparatus 1 includes a seed crystal 10 serving as a base for the growth of a single crystal, and a crucible 100 which holds a raw material for sublimation used for the growth of the single crystal. The crucible 100 has an opening part 111 and includes a reaction vessel 110 for holding the raw material 20 for sublimation, a lid body 120 attached to the opening part 111, and a holding part 130 for holding the seed crystal 10. The holding part 130 has a contact face 133 brought into contact with only a portion on the opposite side (lower surface 10B) from the lid body 120 side (upper surface 10A) of the seed crystal 10. The thickness of the seed crystal 10 is ≥1 mm. The seed crystal 10 is closely brought into contact with the lid body 120. The whole surface of the seed crystal 10 is exposed.

Description

本発明は、成長用の単結晶を種結晶として、前記単結晶の成長に用いられる昇華用原料を収容する坩堝を備えた単結晶製造装置、及び、単結晶製造装置を用いた炭化珪素単結晶の製造方法に関する。   The present invention relates to a single crystal manufacturing apparatus provided with a crucible containing a sublimation raw material used for the growth of the single crystal using the single crystal for growth as a seed crystal, and a silicon carbide single crystal using the single crystal manufacturing apparatus It relates to the manufacturing method.

従来、炭化珪素によって形成された種結晶と、昇華用原料とが収容された坩堝を用いて炭化珪素単結晶(以下、単結晶と適宜省略する)を昇華再結晶法により製造する方法が知られている。この方法では、種結晶は、坩堝の蓋体(種結晶台座)に樹脂材料などの接着層を介して固定される。蓋体に固定された種結晶の上に、昇華用原料が昇華したガスが再結晶する(例えば、特許文献1参照)。   Conventionally, a method of manufacturing a silicon carbide single crystal (hereinafter, appropriately abbreviated as a single crystal) by a sublimation recrystallization method using a crucible containing a seed crystal formed of silicon carbide and a sublimation raw material is known. ing. In this method, the seed crystal is fixed to the crucible lid (seed crystal base) through an adhesive layer such as a resin material. On the seed crystal fixed to the lid, the gas obtained by sublimating the sublimation raw material is recrystallized (see, for example, Patent Document 1).

特開2005―225710号公報(第7頁、第1図)Japanese Patent Laying-Open No. 2005-225710 (page 7, FIG. 1)

しかしながら、上述した従来の方法には、次のような問題があった。すなわち、坩堝内部が高温になると接着層を構成する樹脂材料が収縮するため、種結晶と接着層との界面にクラックが発生することがあった。また、種結晶と蓋体との間の樹脂材料をムラなく均一にしても、種結晶と接着層との接触面から種結晶が昇華し、構造欠陥が発生することがあった。さらに、接着層を構成する樹脂材料の成分が不純物として単結晶に混入する場合もあった。   However, the conventional method described above has the following problems. That is, when the temperature inside the crucible becomes high, the resin material constituting the adhesive layer contracts, and thus a crack may occur at the interface between the seed crystal and the adhesive layer. Moreover, even if the resin material between the seed crystal and the lid is made uniform, the seed crystal is sublimated from the contact surface between the seed crystal and the adhesive layer, and a structural defect may occur. Further, the resin material component constituting the adhesive layer may be mixed into the single crystal as an impurity.

このように、特許文献1の方法では、クラックなどの構造欠陥の発生や、不純物の混入により、単結晶の品質低下が生じることがあった。   As described above, in the method of Patent Document 1, the quality of the single crystal may be deteriorated due to the occurrence of structural defects such as cracks or the incorporation of impurities.

そこで、本発明は、昇華再結晶法による単結晶の製造において、種結晶へのクラックなどの構造欠陥の発生を防止し、高品質な単結晶を製造できる単結晶製造装置、及び単結晶製造装置を用いた炭化珪素単結晶の製造方法を提供することを目的とする。   Therefore, the present invention provides a single crystal manufacturing apparatus and a single crystal manufacturing apparatus capable of manufacturing a high quality single crystal by preventing the occurrence of structural defects such as cracks in the seed crystal in the production of a single crystal by a sublimation recrystallization method. It aims at providing the manufacturing method of the silicon carbide single crystal using this.

上述した課題を解決するため、本発明は、次のような特徴を有している。まず、本発明の第1の特徴は、単結晶の成長の基となる種結晶(種結晶10)として、前記単結晶の成長に用いられる昇華用原料(昇華用原料20)を収容する坩堝(坩堝100)を備える単結晶製造装置(単結晶製造装置1)であって、前記坩堝は、開口部(開口部111)を有し、前記昇華用原料を収容する反応容器(反応容器110)と、前記開口部に取り付けられる蓋体(蓋体120)と、前記種結晶を保持する保持部(保持部130)とを備え、前記保持部は、前記種結晶の前記蓋体側(上面10A)に対する反対側(下面10B)の一部のみと接する接触部分(接触面133、接触面143)を有し、前記種結晶の厚みは、1mm以上であり、前記種結晶と前記蓋体とは、隙間なく接しており、前記種結晶の全表面は、露出していることを要旨とする。   In order to solve the above-described problems, the present invention has the following features. First, a first feature of the present invention is that a crucible containing a sublimation raw material (sublimation raw material 20) used for the growth of the single crystal as a seed crystal (seed crystal 10) as a base for the growth of the single crystal ( A single crystal production apparatus (single crystal production apparatus 1) including a crucible 100), wherein the crucible has an opening (opening 111) and a reaction vessel (reaction vessel 110) containing the raw material for sublimation; A lid body (lid body 120) attached to the opening, and a holding portion (holding portion 130) for holding the seed crystal, the holding portion with respect to the lid body side (upper surface 10A) of the seed crystal It has a contact portion (contact surface 133, contact surface 143) in contact with only a part of the opposite side (lower surface 10B), the seed crystal has a thickness of 1 mm or more, and the seed crystal and the lid body have a gap The entire surface of the seed crystal is exposed. The gist of the Rukoto.

かかる特徴によれば、保持部は、種結晶の蓋体側に対する反対側の一部のみと接する接触部分を有し、種結晶の全表面は露出している。これによれば、接着層を用いることなく、種結晶を反応容器内で保持できる。このため、坩堝内部が高温になっても、接着層を構成する樹脂材料等の収縮によるクラックの発生を確実に防止できる。また、接着層を構成する樹脂材料をムラなく均一に塗布することが必要なくなるとともに、当該樹脂材料の成分が不純物として単結晶に混入することも防止できる。   According to this feature, the holding portion has a contact portion that contacts only a part of the seed crystal opposite to the lid side, and the entire surface of the seed crystal is exposed. According to this, the seed crystal can be held in the reaction vessel without using an adhesive layer. For this reason, even if the inside of the crucible reaches a high temperature, the occurrence of cracks due to the shrinkage of the resin material or the like constituting the adhesive layer can be reliably prevented. In addition, it is not necessary to uniformly apply the resin material constituting the adhesive layer uniformly, and it is possible to prevent the components of the resin material from being mixed into the single crystal as impurities.

また、種結晶の厚みは、1mm以上であり、種結晶と蓋体とは、隙間なく接している。種結晶の厚みを1mm以上とすることによって、種結晶の反りを抑制できる。このため、種結晶と蓋体との間には、隙間を生じさせることなく、種結晶と蓋体とが接している。これによって、種結晶と蓋体との隙間に起因した構造欠陥の発生を防止できる。   Further, the thickness of the seed crystal is 1 mm or more, and the seed crystal and the lid are in contact with each other without a gap. By setting the thickness of the seed crystal to 1 mm or more, warping of the seed crystal can be suppressed. For this reason, the seed crystal and the lid are in contact with each other without generating a gap between the seed crystal and the lid. This can prevent the occurrence of structural defects due to the gap between the seed crystal and the lid.

また、接触部分は、種結晶の蓋体側に対する反対側の一部のみと接する。すなわち、接触部分は、種結晶の周面(側面)に接することがない。これによれば、種結晶を加工する必要がなくなり、例えば、種結晶の周面を円形状等の形状に加工する必要がなくなる。このため、種結晶を加工する工程が不要となり、単結晶の製造コストの低減をも図ることができる。   Further, the contact portion is in contact with only a part of the seed crystal opposite to the lid side. That is, the contact portion does not contact the peripheral surface (side surface) of the seed crystal. According to this, it is not necessary to process the seed crystal, and for example, it is not necessary to process the peripheral surface of the seed crystal into a circular shape or the like. For this reason, the process of processing the seed crystal becomes unnecessary, and the manufacturing cost of the single crystal can be reduced.

このように、昇華再結晶法による単結晶の製造において、クラックなどの構造欠陥の発生や、不純物の混入による単結晶の品質低下が生じることを抑制できるため、高品質な単結晶を製造できるとともに、単結晶の製造コストの低減をも図ることができる。   In this way, in the production of a single crystal by the sublimation recrystallization method, it is possible to suppress the occurrence of structural defects such as cracks and the deterioration of the quality of the single crystal due to the incorporation of impurities. Moreover, the manufacturing cost of the single crystal can be reduced.

本発明の他の特徴は、前記種結晶は、前記蓋体側に設けられる第1面部(上面10A)と、前記第1面部と対向し、前記昇華用原料側に設けられる第2面部(下面10B)とを少なくとも有し、前記種結晶の反りは、前記蓋体側に反っており、前記保持部は、前記第2面部の端部と接することを要旨とする。   Another feature of the present invention is that the seed crystal has a first surface portion (upper surface 10A) provided on the lid body side and a second surface portion (lower surface 10B) provided on the sublimation raw material side opposite to the first surface portion. ), The warp of the seed crystal is warped toward the lid body, and the holding portion is in contact with the end portion of the second surface portion.

本発明の他の特徴は、前記第2面部は、前記昇華用原料側に向かって突出することを要旨とする。   Another feature of the present invention is that the second surface portion protrudes toward the sublimation raw material side.

本発明の他の特徴は、前記種結晶は、単結晶の端面が切断されることによって形成される、前記端面が前記第2面部となることを要旨とする。   Another feature of the present invention is that the seed crystal is formed by cutting an end surface of a single crystal, and the end surface is the second surface portion.

本発明の他の特徴は、前記種結晶は、前記第1面部と前記第2面部とをつなぐ側面部を有し、前記種結晶は、単結晶の端面が切断されることによって形成され、前記端面が前記側面部になることを要旨とする。   Another feature of the present invention is that the seed crystal has a side surface portion connecting the first surface portion and the second surface portion, and the seed crystal is formed by cutting an end surface of a single crystal, The gist is that the end surface is the side surface portion.

本発明の他の特徴は、前記保持部は、前記坩堝の内部に配設され、前記種結晶を基に成長する前記炭化珪素単結晶の成長範囲を規制するガイド部材によって構成されることを要旨とする。   Another feature of the present invention is that the holding portion is configured by a guide member that is disposed inside the crucible and regulates a growth range of the silicon carbide single crystal grown based on the seed crystal. And

本発明の他の特徴は、前記接触部分は、前記種結晶の前記第2面部と面で接することを要旨とする。   Another feature of the present invention is summarized in that the contact portion is in contact with the second surface portion of the seed crystal.

本発明の他の特徴は、炭化珪素からなる種結晶を準備する準備工程と、坩堝に昇華用原料を配置する原料配置工程と、前記種結晶を前記坩堝に配置する種結晶配置工程と、前記昇華用原料を昇華させて前記種結晶に炭化珪素単結晶を成長させる単結晶成長工程とを備えた炭化珪素単結晶の製造方法であって、前記坩堝は、開口部を有し、前記昇華用原料を収容する反応容器と、前記開口部に取り付けられる蓋体と、前記種結晶を保持する保持部とを有し、前記準備工程では、前記種結晶の厚みが1mm以上である種結晶を準備し、前記種結晶の全表面を露出させたままにし、前記種結晶配置工程では、前記保持部は、前記種結晶の前記蓋体側に対する反対側の一部のみと接する接触部分を有し、全表面が露出した前記種結晶を、前記種結晶と前記蓋体との隙間を空けずに配置することを要旨とする。   Other features of the present invention include a preparation step of preparing a seed crystal made of silicon carbide, a raw material placement step of placing a sublimation raw material in a crucible, a seed crystal placement step of placing the seed crystal in the crucible, A method of manufacturing a silicon carbide single crystal comprising a single crystal growth step of growing a silicon carbide single crystal on the seed crystal by sublimating a raw material for sublimation, wherein the crucible has an opening and is used for the sublimation A seed vessel having a reaction vessel containing raw materials, a lid attached to the opening, and a holding portion for holding the seed crystal is prepared, and the seed crystal has a thickness of 1 mm or more in the preparation step The whole surface of the seed crystal is exposed, and in the seed crystal arranging step, the holding portion has a contact portion that contacts only a part of the seed crystal opposite to the lid body side, The seed crystal whose surface is exposed is referred to as the seed crystal. And gist placing without leaving a gap between Kifutatai.

本発明の他の特徴は、前記種結晶配置工程では、前記種結晶の反りが、前記蓋体側に向かって反るように、前記種結晶を配置し、前記接触部分は、前記種結晶の端部であることを要旨とする。   Another feature of the present invention is that in the seed crystal arranging step, the seed crystal is arranged so that the warp of the seed crystal is warped toward the lid, and the contact portion is an end of the seed crystal. It is a summary.

本発明の特徴によれば、昇華再結晶法による単結晶の製造において、種結晶へのクラックなどの構造欠陥の発生を防止でき、高品質な単結晶を製造できる単結晶製造装置、及び単結晶製造装置を用いた炭化珪素単結晶の製造方法を提供することができる。   According to the features of the present invention, in the production of a single crystal by the sublimation recrystallization method, the occurrence of structural defects such as cracks in the seed crystal can be prevented, and a single crystal production apparatus capable of producing a high-quality single crystal A method for producing a silicon carbide single crystal using a production apparatus can be provided.

図1は、本実施形態に係る単結晶製造装置1(単結晶の成長前状態)を示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view showing a single crystal manufacturing apparatus 1 (a state before growth of a single crystal) according to the present embodiment. 図2は、本実施形態に係る保持部130を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing the holding unit 130 according to the present embodiment. 図3(a)は、本実施形態に係る保持部130の一部を示す断面図である。図3(b)は、本実施形態に係る保持部130を示す平面図である。FIG. 3A is a cross-sectional view showing a part of the holding unit 130 according to the present embodiment. FIG. 3B is a plan view showing the holding unit 130 according to the present embodiment. 図4は、本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法を示すフロー図である。FIG. 4 is a flowchart showing a method for manufacturing a silicon carbide single crystal according to the present embodiment. 図5(a)は、変更例に係る保持部140の一部を示す断面図である。図5(b)は、変更例に係る保持部140を示す平面図である(その1)。FIG. 5A is a cross-sectional view showing a part of the holding unit 140 according to the modified example. FIG. 5B is a plan view showing the holding unit 140 according to the modified example (No. 1). 図6は、変更例に係る保持部140を示す平面図である(その2)。FIG. 6 is a plan view showing the holding unit 140 according to the modified example (No. 2). 図7は、変更例に係る保持部140を示す平面図である(その3)。FIG. 7 is a plan view showing the holding unit 140 according to the modification (part 3).

次に、本発明に係る単結晶製造装置の実施形態について、図面を参照しながら説明する。具体的には、(1)単結晶製造装置の構成、(2)保持部の構成、(3)炭化珪素単結晶の製造方法、(4)作用・効果、(5)変更例、(6)その他の実施形態について説明する。   Next, an embodiment of a single crystal manufacturing apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. Specifically, (1) configuration of single crystal manufacturing apparatus, (2) configuration of holding part, (3) manufacturing method of silicon carbide single crystal, (4) action / effect, (5) modification example, (6) Other embodiments will be described.

以下の図面の記載において、同一または類似の部分には、同一または類似の符号を付している。図面は模式的なものであり、各寸法の比率などは現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な寸法などは以下の説明を参酌して判断すべきである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれ得る。   In the following description of the drawings, the same or similar parts are denoted by the same or similar reference numerals. It should be noted that the drawings are schematic and ratios of dimensions and the like are different from actual ones. Accordingly, specific dimensions and the like should be determined in consideration of the following description. Moreover, the part from which the relationship and ratio of a mutual dimension differ also in between drawings may be contained.

(1)単結晶製造装置の構成
まず、本実施形態に係る単結晶製造装置1について、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る単結晶製造装置1(単結晶の成長前状態)を示す断面図である。本実施形態では、単結晶は、炭化珪素単結晶である。
(1) Configuration of Single Crystal Manufacturing Apparatus First, a single crystal manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a single crystal manufacturing apparatus 1 (a state before growth of a single crystal) according to the present embodiment. In the present embodiment, the single crystal is a silicon carbide single crystal.

図1に示すように、単結晶製造装置1は、単結晶の成長の基となる種結晶と、円筒状の黒鉛製坩堝(以下、坩堝100)を備える。坩堝100は、所定の結晶方位を有する成長用の単結晶を種結晶10として、単結晶の成長に用いられる昇華用原料20を収容する。なお、昇華用原料20は、炭化珪素を含む炭化珪素原料である。   As shown in FIG. 1, a single crystal manufacturing apparatus 1 includes a seed crystal that is a base for growing a single crystal, and a cylindrical graphite crucible (hereinafter referred to as a crucible 100). The crucible 100 accommodates a sublimation raw material 20 used for the growth of a single crystal using a growth single crystal having a predetermined crystal orientation as a seed crystal 10. The sublimation raw material 20 is a silicon carbide raw material containing silicon carbide.

坩堝100は、反応容器110と、蓋体120と、保持部130とを備える。反応容器110は、開口部111を有し、昇華用原料20を収容する。蓋体120は、開口部111に取り付けられる。反応容器110と蓋体120とによって形成された空間は、例えば、アルゴン等の不活性ガスが充填されて、不活性雰囲気になっている。保持部130は、種結晶10が、蓋体120に接した状態で種結晶10を保持する。なお、保持部130の詳細については、後述する。   The crucible 100 includes a reaction vessel 110, a lid 120, and a holding unit 130. The reaction vessel 110 has an opening 111 and accommodates the sublimation raw material 20. The lid 120 is attached to the opening 111. The space formed by the reaction vessel 110 and the lid 120 is filled with an inert gas such as argon to form an inert atmosphere. The holding unit 130 holds the seed crystal 10 in a state where the seed crystal 10 is in contact with the lid 120. Details of the holding unit 130 will be described later.

ここで、種結晶10は、蓋体120の内側表面121において、昇華用原料20と略対向する位置に配設されている。種結晶10は、単結晶の端面(例えば、成長後に不要となった単結晶の端面)が切断されることによって形成されている。   Here, the seed crystal 10 is disposed on the inner surface 121 of the lid 120 at a position substantially opposite to the sublimation raw material 20. The seed crystal 10 is formed by cutting an end face of a single crystal (for example, an end face of a single crystal that is no longer necessary after growth).

具体的には、種結晶10は、種結晶10の平面視において円形状(図2参照)によって形成される。また、種結晶10は、上面10A(第1面部)と、下面10B(第2面部)と、側面10Cとを有する。上面10Aは、蓋体120側に設けられる。上面10Aは、平面状によって形成されている。上面10Aと蓋体120とは、隙間なく接している。一方、下面10Bは、上面10Aと対向し、昇華用原料20側に設けられる。下面10Bは、昇華用原料20側に向かって突出する。本実施形態では、下面10Bの形状は、単結晶製造装置の断面視において、昇華用原料20側に向かって半球状に突出する。側面10Cは、上面10Aと下面10Bとをつなぐ。   Specifically, the seed crystal 10 is formed in a circular shape (see FIG. 2) in the plan view of the seed crystal 10. The seed crystal 10 has an upper surface 10A (first surface portion), a lower surface 10B (second surface portion), and a side surface 10C. The upper surface 10A is provided on the lid 120 side. The upper surface 10A is formed in a planar shape. The upper surface 10A and the lid 120 are in contact with each other without a gap. On the other hand, the lower surface 10B faces the upper surface 10A and is provided on the sublimation raw material 20 side. The lower surface 10B protrudes toward the sublimation raw material 20 side. In the present embodiment, the shape of the lower surface 10B protrudes in a hemispherical shape toward the sublimation raw material 20 side in a cross-sectional view of the single crystal manufacturing apparatus. The side surface 10C connects the upper surface 10A and the lower surface 10B.

種結晶10の全表面は露出している。従って、種結晶10の表面は、種結晶を固定するための接着層で覆われていない。種結晶10の表面は、種結晶10を保護する保護層にも覆われていない。また、種結晶10の厚みは、1mm以上である。これによって、種結晶10の反りを抑制できる。   The entire surface of the seed crystal 10 is exposed. Therefore, the surface of the seed crystal 10 is not covered with an adhesive layer for fixing the seed crystal. The surface of the seed crystal 10 is not covered with a protective layer that protects the seed crystal 10. Moreover, the thickness of the seed crystal 10 is 1 mm or more. Thereby, the warp of the seed crystal 10 can be suppressed.

このような坩堝100は、断熱材(不図示)で覆われている。また、坩堝100は、支持棒50を介して石英管60の内部に固定される。石英管60の外周には、坩堝100(すなわち、反応容器110及び蓋体120)を加熱する誘電加熱コイル70が設けられてる。坩堝100の内部が所定の温度条件及び圧力条件になると、昇華用原料20は昇華し、種結晶10上に再結晶し、炭化珪素単結晶を形成する。なお、反応容器110の内部の圧力及び温度は、誘電加熱コイル70の加熱温度により変更可能である。   Such a crucible 100 is covered with a heat insulating material (not shown). The crucible 100 is fixed inside the quartz tube 60 via the support rod 50. On the outer periphery of the quartz tube 60, a dielectric heating coil 70 for heating the crucible 100 (that is, the reaction vessel 110 and the lid 120) is provided. When the inside of the crucible 100 becomes a predetermined temperature condition and pressure condition, the sublimation raw material 20 sublimates and recrystallizes on the seed crystal 10 to form a silicon carbide single crystal. Note that the pressure and temperature inside the reaction vessel 110 can be changed by the heating temperature of the dielectric heating coil 70.

(2)保持部の構成
次に、上述した保持部130の構成について、図1〜図3を参照しながら説明する。なお、図2は、本実施形態に係る保持部130を示す斜視図である。図3(a)は、本実施形態に係る保持部130の一部を示す断面図である。図3(b)は、本実施形態に係る保持部130を示す平面図である。
(2) Configuration of Holding Unit Next, the configuration of the holding unit 130 described above will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a perspective view showing the holding unit 130 according to the present embodiment. FIG. 3A is a cross-sectional view showing a part of the holding unit 130 according to the present embodiment. FIG. 3B is a plan view showing the holding unit 130 according to the present embodiment.

図1に示すように、保持部130は、坩堝100(すなわち、反応容器110)内部に配設される。本実施形態では、保持部130は、種結晶10を基に成長する単結晶の成長範囲を規制するガイド部材によって構成されている。   As shown in FIG. 1, the holding unit 130 is disposed inside the crucible 100 (that is, the reaction vessel 110). In the present embodiment, the holding unit 130 is configured by a guide member that regulates the growth range of a single crystal that grows based on the seed crystal 10.

保持部130は、昇華用原料20上部の空間を覆って、昇華用原料20及び蓋体120の内側表面121を遮断する。保持部130は、昇華用原料20の昇華ガスを種結晶10の表面に向かって誘導する誘導部131を有する。   The holding unit 130 covers the space above the sublimation raw material 20 and blocks the sublimation raw material 20 and the inner surface 121 of the lid 120. The holding unit 130 includes a guiding unit 131 that guides the sublimation gas of the sublimation raw material 20 toward the surface of the seed crystal 10.

具体的には、図2及び図3に示すように、誘導部131には、円形状の開口部132が形成されている。開口部132は、上端開口部132Aと、下端開口部132Bとを有している。   Specifically, as shown in FIGS. 2 and 3, a circular opening 132 is formed in the guide portion 131. The opening 132 has an upper end opening 132A and a lower end opening 132B.

上端開口部132Aは、蓋体120近傍において開口する。一方、下端開口部132Bは、昇華用原料20側において開口するとともに、反応容器110の内側壁に支持される。このような保持部130(誘導部131)は、種結晶10側から昇華用原料20側に向けて徐々に拡大するテーパ形状である。   The upper end opening 132A opens near the lid 120. On the other hand, the lower end opening 132B opens on the sublimation raw material 20 side and is supported by the inner wall of the reaction vessel 110. Such a holding part 130 (induction part 131) has a tapered shape that gradually expands from the seed crystal 10 side toward the sublimation raw material 20 side.

ここで、上端開口部132Aには、種結晶10の蓋体120側(上面10A)に対する反対側(下面10B)の一部のみと接する接触面133(接触部分)が設けられる。ここで、反対側(下面10B)の一部のみと接するとは、炭化珪素が再結晶するのを阻害しない部分と接することをいう。   Here, the upper end opening 132A is provided with a contact surface 133 (contact portion) that contacts only a part of the opposite side (lower surface 10B) of the seed crystal 10 with respect to the lid 120 side (upper surface 10A). Here, contacting with only part of the opposite side (lower surface 10B) means contacting with a part that does not inhibit recrystallization of silicon carbide.

接触面133は、種結晶10の下面10Bと面で接することが好ましい。接触面133の径は、種結晶10の昇華用原料20側の面の径よりも小さい。すなわち、上端開口部132Aの径は、種結晶10の下面10Bの径よりも小さい。種結晶10の下面10Bは、接触面133の全面と均等に接触するのが好ましい。   The contact surface 133 is preferably in contact with the lower surface 10B of the seed crystal 10 at the surface. The diameter of the contact surface 133 is smaller than the diameter of the surface of the seed crystal 10 on the sublimation raw material 20 side. That is, the diameter of the upper end opening 132A is smaller than the diameter of the lower surface 10B of the seed crystal 10. The lower surface 10 </ b> B of the seed crystal 10 is preferably in contact with the entire contact surface 133.

(3)炭化珪素単結晶の製造方法
本発明の実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法について、図1及び図4を参照しながら説明する。図4は、本実施形態に係る炭化珪素単結晶の製造方法を示すフロー図である。図4に示されるように、炭化珪素単結晶の製造方法は、工程S1から工程S4を備える。
(3) Manufacturing method of silicon carbide single crystal The manufacturing method of the silicon carbide single crystal which concerns on embodiment of this invention is demonstrated, referring FIG.1 and FIG.4. FIG. 4 is a flowchart showing a method for manufacturing a silicon carbide single crystal according to the present embodiment. As shown in FIG. 4, the method for manufacturing a silicon carbide single crystal includes steps S1 to S4.

(3.1)準備工程S1
工程S1は、炭化珪素からなる種結晶10を準備する準備工程である。成長した炭化珪素単結晶を切り取り、種結晶10を準備する。種結晶10の厚みが1mm以上になるように、炭化珪素単結晶を切り取る。準備された種結晶10の表面には、成長した炭化珪素単結晶の表面(端面)が含まれるように、種結晶を切り出すのが好ましい。成長した炭化珪素単結晶の表面は、成長面であるため、表面を加工する必要がなくなる。炭化珪素単結晶の表面が下面10B又は側面10Cとなるようにする。下面10B及び側面10Cが炭化珪素単結晶の表面となるようにするのがより好ましい。種結晶10の全表面は、露出させたままにしておく。すなわち、種結晶10には、接着層や保護層を塗布しない。
(3.1) Preparation step S1
Step S1 is a preparation step for preparing seed crystal 10 made of silicon carbide. The grown silicon carbide single crystal is cut out to prepare a seed crystal 10. The silicon carbide single crystal is cut so that the thickness of seed crystal 10 is 1 mm or more. It is preferable to cut out the seed crystal so that the surface of the prepared seed crystal 10 includes the surface (end face) of the grown silicon carbide single crystal. Since the surface of the grown silicon carbide single crystal is a growth surface, it is not necessary to process the surface. The surface of the silicon carbide single crystal is made to be the lower surface 10B or the side surface 10C. More preferably, lower surface 10B and side surface 10C are the surface of a silicon carbide single crystal. The entire surface of the seed crystal 10 is left exposed. That is, no adhesive layer or protective layer is applied to the seed crystal 10.

(3.2)原料配置工程S2
工程S2は、坩堝100に昇華用原料20を配置する原料配置工程である。具体的には、図1に示すように、昇華用原料20を反応容器110に配置する。昇華用原料20は、炭化珪素を含む炭化珪素原料である。昇華用原料20は、どのような製造方法で製造されたものを準備しても構わない。例えば、化学気相成長法(CVD法)で製造された炭化珪素を昇華用原料20としてもよいし、珪素含有原料と炭素含有原料とから炭化珪素前駆体を生成し、生成された炭化珪素前駆体を焼成することで得られる炭化珪素を昇華用原料20としてもよい。
(3.2) Raw material placement step S2
Step S <b> 2 is a raw material arranging step of arranging the sublimation raw material 20 in the crucible 100. Specifically, as shown in FIG. 1, the sublimation raw material 20 is placed in a reaction vessel 110. Sublimation raw material 20 is a silicon carbide raw material containing silicon carbide. The sublimation raw material 20 may be prepared by any manufacturing method. For example, silicon carbide produced by chemical vapor deposition (CVD) may be used as the sublimation raw material 20, or a silicon carbide precursor is produced from a silicon-containing raw material and a carbon-containing raw material, and the produced silicon carbide precursor is produced. Silicon carbide obtained by firing the body may be used as the sublimation raw material 20.

(3.3)種結晶配置工程S3
工程S3は、種結晶10を坩堝100に配置する種結晶配置工程である。図4に示すように、種結晶配置工程S3は、保持部取付工程S31と、種結晶載置工程S32と、蓋体取付工程S33とが含まれる。
(3.3) Seed crystal arrangement step S3
Step S <b> 3 is a seed crystal placement step for placing the seed crystal 10 in the crucible 100. As shown in FIG. 4, the seed crystal placement step S3 includes a holding portion attachment step S31, a seed crystal placement step S32, and a lid attachment step S33.

保持部取付工程S31では、反応容器110の内側壁に、上述した保持部130を取り付ける。   In holding part attachment process S31, the holding part 130 mentioned above is attached to the inner wall of the reaction vessel 110.

種結晶載置工程S32では、保持部130の接触面133に種結晶10を載置する。保持部130が、種結晶10の蓋体120側に対する反対側の一部のみと接する接触部分を有するように、種結晶10を配置する。すなわち、下面10Bが昇華用原料20と対向するように、種結晶10を載置する。種結晶10を接着剤で固定しないため、種結晶10の全表面は露出したままである。   In the seed crystal placement step S <b> 32, the seed crystal 10 is placed on the contact surface 133 of the holding unit 130. The seed crystal 10 is arranged such that the holding unit 130 has a contact portion that contacts only a part of the seed crystal 10 opposite to the lid 120 side. That is, the seed crystal 10 is placed so that the lower surface 10B faces the sublimation raw material 20. Since the seed crystal 10 is not fixed with an adhesive, the entire surface of the seed crystal 10 remains exposed.

種結晶10の厚みは、1mm以上である。このため、種結晶10の反りが抑制される。これによって、上面10Aと蓋体120との間に隙間を生じさせることなく、種結晶10と蓋体120とが接している。すなわち、全表面が露出した種結晶10は、種結晶10と蓋体120との隙間を空けずに配置される。従って、種結晶10と蓋体120との隙間に起因した構造欠陥の発生を防止できる。   The thickness of the seed crystal 10 is 1 mm or more. For this reason, the warp of the seed crystal 10 is suppressed. Thus, the seed crystal 10 and the lid 120 are in contact with each other without generating a gap between the upper surface 10A and the lid 120. That is, the seed crystal 10 whose entire surface is exposed is arranged without leaving a gap between the seed crystal 10 and the lid 120. Therefore, it is possible to prevent the occurrence of structural defects due to the gap between the seed crystal 10 and the lid 120.

種結晶10が半球状に突出している場合には、保持部130の上端開口部132Aに、半球状の下面10Bが挿入される。これによって、保持部130の上端開口部132Aに半球状の下面10Bが挿入された状態で、保持部130によって種結晶10が保持される。このため、上端開口部132Aと種結晶10との間に隙間が生じることなく、かつ安定して種結晶10が保持される。   When the seed crystal 10 protrudes in a hemispherical shape, the hemispherical lower surface 10 </ b> B is inserted into the upper end opening 132 </ b> A of the holding unit 130. Thus, the seed crystal 10 is held by the holding unit 130 in a state where the hemispherical lower surface 10B is inserted into the upper end opening 132A of the holding unit 130. For this reason, the seed crystal 10 is stably held without generating a gap between the upper end opening 132A and the seed crystal 10.

蓋体取付工程S33では、反応容器110の開口部111に蓋体120を取り付ける(螺合する)。これにより、種結晶10は、保持部130によって種結晶10が保持される。   In the lid attaching step S33, the lid 120 is attached (screwed) to the opening 111 of the reaction vessel 110. Thereby, the seed crystal 10 is held by the holding unit 130.

工程S3は、必ずしも工程S2の後に行う必要はない。工程S3を工程S2よりも先に行っても良い。   Step S3 is not necessarily performed after step S2. Step S3 may be performed before step S2.

(3.3)単結晶成長工程S4
工程S4は、昇華用原料20を昇華させて種結晶10に炭化珪素単結晶を成長させる単結晶成長工程である。加熱コイルに電流を通電させて、昇華用原料20を加熱する。一般的に、加熱温度は、2000℃から2500℃である。昇華用原料20に比べて、種結晶10の温度がやや低温となるように加熱するのが好ましい。このようにして加熱された昇華用原料20は、昇華する。昇華した昇華用原料20は、保持部130(ガイド部材)によって、種結晶10に再結晶する。炭化珪素単結晶は、種結晶10を起点として、成長する。炭化珪素単結晶は、保持部130(ガイド部材)に沿って成長する。このようにして、炭化珪素単結晶が製造される。
(3.3) Single crystal growth step S4
Step S4 is a single crystal growth step in which the sublimation raw material 20 is sublimated to grow a silicon carbide single crystal on the seed crystal 10. A current is passed through the heating coil to heat the sublimation raw material 20. Generally, the heating temperature is 2000 ° C to 2500 ° C. It is preferable to heat the seed crystal 10 so that the temperature of the seed crystal 10 is slightly lower than that of the sublimation raw material 20. The sublimation raw material 20 thus heated sublimates. The sublimated raw material 20 is recrystallized into the seed crystal 10 by the holding unit 130 (guide member). The silicon carbide single crystal grows starting from the seed crystal 10. The silicon carbide single crystal grows along holding portion 130 (guide member). In this way, a silicon carbide single crystal is manufactured.

種結晶10の全表面は露出しているため、種結晶10の上面10Aからも単結晶が成長する。この成長によって、蓋体120と種結晶10とは、成長した単結晶によって、接着される。すなわち上面10Aから成長した単結晶は、種結晶10と蓋体120とを接着する接着剤のような役割を果たす。これによって、単結晶の成長によって保持部130に係る負担を軽減できる。   Since the entire surface of the seed crystal 10 is exposed, a single crystal also grows from the upper surface 10A of the seed crystal 10. By this growth, the lid 120 and the seed crystal 10 are bonded by the grown single crystal. That is, the single crystal grown from the upper surface 10 </ b> A serves as an adhesive that bonds the seed crystal 10 and the lid 120. Thereby, the burden on the holding part 130 can be reduced by the growth of the single crystal.

(4)作用・効果
実施形態では、保持部130は、種結晶10の蓋体120側(上面10A)に対する反対側(下面10B)の一部のみと接する接触面133を有し、種結晶10の全表面は露出している。これによれば、接着層を用いることなく、種結晶10を反応容器110内で保持できる。このため、坩堝100内部が高温になっても、接着層を構成する樹脂材料等の収縮によるクラックの発生を確実に防止できる。また、接着層を構成する樹脂材料をムラなく均一に塗布することが必要なくなるとともに、当該樹脂材料の成分が不純物として単結晶に混入することも防止できる。
(4) Action / Effect In the embodiment, the holding unit 130 has a contact surface 133 that contacts only a part of the opposite side (lower surface 10B) of the seed crystal 10 to the lid 120 side (upper surface 10A). The entire surface of is exposed. According to this, the seed crystal 10 can be held in the reaction vessel 110 without using an adhesive layer. For this reason, even if the inside of the crucible 100 reaches a high temperature, generation of cracks due to shrinkage of the resin material or the like constituting the adhesive layer can be reliably prevented. In addition, it is not necessary to uniformly apply the resin material constituting the adhesive layer uniformly, and it is possible to prevent the components of the resin material from being mixed into the single crystal as impurities.

種結晶10の厚みは、1mm以上であり、種結晶10と蓋体120とは、隙間なく接している。種結晶10の厚みを1mm以上とすることによって、種結晶10の反りを抑制できる。このため、種結晶10と蓋体120との間には、隙間を生じさせることなく、種結晶10と蓋体120とが接している。これによって、種結晶10と蓋体120との隙間に起因した構造欠陥の発生を防止できる。   The thickness of the seed crystal 10 is 1 mm or more, and the seed crystal 10 and the lid 120 are in contact with each other without a gap. By setting the thickness of the seed crystal 10 to 1 mm or more, warping of the seed crystal 10 can be suppressed. For this reason, the seed crystal 10 and the lid 120 are in contact with each other without generating a gap between the seed crystal 10 and the lid 120. As a result, the occurrence of structural defects due to the gap between the seed crystal 10 and the lid 120 can be prevented.

また、接触面133は、下面10Bの一部のみと接する。すなわち、接触面133は、種結晶10の周面(側面10C)に接することがない。従って、種結晶10を円板上又は円柱上に加工する必要がなくなる。このため、種結晶10を加工する工程が不要となり、単結晶の製造コストの低減をも図ることができる。   Further, the contact surface 133 is in contact with only a part of the lower surface 10B. That is, the contact surface 133 does not contact the peripheral surface (side surface 10 </ b> C) of the seed crystal 10. Therefore, it is not necessary to process the seed crystal 10 on a disk or a cylinder. For this reason, the process which processes the seed crystal 10 becomes unnecessary, and the reduction of the manufacturing cost of a single crystal can also be aimed at.

このように、昇華再結晶法による単結晶の製造において、クラックなどの構造欠陥の発生や、不純物の混入による単結晶の品質低下が生じることを抑制できるため、高品質な単結晶を製造できるとともに、単結晶の製造コストの低減をも図ることができる。   In this way, in the production of a single crystal by the sublimation recrystallization method, it is possible to suppress the occurrence of structural defects such as cracks and the deterioration of the quality of the single crystal due to the incorporation of impurities. Moreover, the manufacturing cost of the single crystal can be reduced.

実施形態では、下面10Bは、昇華用原料20側に向かって半球状に突出する。これによれば、保持部130の上端開口部132Aに半球状の下面10Bが挿入された状態で、保持部130によって種結晶10が保持される。このため、上端開口部132Aと種結晶10との間に隙間が生じることなく、かつ安定して種結晶10が保持される。   In the embodiment, the lower surface 10B protrudes in a hemispherical shape toward the sublimation raw material 20 side. According to this, the seed crystal 10 is held by the holding unit 130 in a state where the hemispherical lower surface 10 </ b> B is inserted into the upper end opening 132 </ b> A of the holding unit 130. For this reason, the seed crystal 10 is stably held without generating a gap between the upper end opening 132A and the seed crystal 10.

実施形態では、種結晶10は、成長用の単結晶の端面が切断され、単結晶の端面が下面10B又は側面10Cとなる。これによれば、種結晶10を加工する工程が不要となり、単結晶の製造コストの低減をも図ることができる。単結晶の端面は、成長面であり、下面10B又は側面10Cは、切断面ではないことから、切断による面欠陥が生じない。従って、高品質な単結晶を製造できる。   In the embodiment, in the seed crystal 10, the end surface of the single crystal for growth is cut, and the end surface of the single crystal becomes the lower surface 10B or the side surface 10C. According to this, the process of processing the seed crystal 10 becomes unnecessary, and the manufacturing cost of the single crystal can be reduced. Since the end surface of the single crystal is a growth surface, and the lower surface 10B or the side surface 10C is not a cut surface, no surface defects are caused by cutting. Therefore, a high quality single crystal can be manufactured.

実施形態では、保持部130は、ガイド部材によって構成される。これによれば、坩堝100内に保持部130を新たに設けることなく、一般的なガイド部材を使用できる。このため、単結晶製造装置1自体のコストの低減を図ることができる。   In the embodiment, the holding unit 130 is configured by a guide member. According to this, a general guide member can be used without newly providing the holding part 130 in the crucible 100. For this reason, the cost of the single crystal manufacturing apparatus 1 itself can be reduced.

実施形態では、保持部130は、蓋体120に種結晶10が接した状態で、種結晶10を保持する。これによれば、種結晶10と蓋体120とが接するため、単結晶の成長に必要な熱を効率良く種結晶10に伝えることができる。従って、製造時間の短縮につながり、単結晶の製造コストの低減を図ることができる。   In the embodiment, the holding unit 130 holds the seed crystal 10 in a state where the seed crystal 10 is in contact with the lid 120. According to this, since the seed crystal 10 and the lid 120 are in contact with each other, heat necessary for the growth of the single crystal can be efficiently transmitted to the seed crystal 10. Therefore, the manufacturing time can be shortened, and the manufacturing cost of the single crystal can be reduced.

実施形態では、接触面133は、種結晶10の下面10Bと面で接することが好ましい。すなわち、保持部130は、種結晶10と面接触することが好ましい。これによれば、接触面133がエッジの場合(すなわち、線接触)と比べて、種結晶10の重さ等が種結晶10一部に集中することがない。このため、単結晶の構造欠陥の発生をさらに確実に防止できる。   In the embodiment, the contact surface 133 is preferably in contact with the lower surface 10 </ b> B of the seed crystal 10 at the surface. That is, the holding unit 130 is preferably in surface contact with the seed crystal 10. According to this, compared with the case where the contact surface 133 is an edge (that is, line contact), the weight of the seed crystal 10 does not concentrate on a part of the seed crystal 10. For this reason, generation | occurrence | production of the structural defect of a single crystal can be prevented further reliably.

実施形態では、接触面133の径は、種結晶10の昇華用原料20側の面の径よりも小さい。特に、接触面133と種結晶10の昇華用原料20側の面との接触面積は、できるだけ小さいことが好ましい。これによれば、単結晶の成長時において単結晶の口径拡大を妨げることなく、単結晶の構造欠陥の発生を防止できる。   In the embodiment, the diameter of the contact surface 133 is smaller than the diameter of the surface of the seed crystal 10 on the sublimation raw material 20 side. In particular, the contact area between the contact surface 133 and the surface of the seed crystal 10 on the sublimation raw material 20 side is preferably as small as possible. According to this, it is possible to prevent the occurrence of structural defects in the single crystal without disturbing the enlargement of the diameter of the single crystal during the growth of the single crystal.

(5)変更例
次に、上述した実施形態に係る単結晶製造装置1の変更例について、図面を参照しながら説明する。図5(a)は、変更例に係る保持部140の一部を示す断面図である。図5(b)は、変更例に係る保持部140を示す平面図である。上述した実施形態に係る単結晶製造装置1と同一部分には同一の符号を付して、相違する部分を主として説明する。
(5) Modification Example Next, a modification example of the single crystal manufacturing apparatus 1 according to the above-described embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 5A is a cross-sectional view showing a part of the holding unit 140 according to the modified example. FIG. 5B is a plan view showing the holding unit 140 according to the modified example. The same parts as those in the single crystal manufacturing apparatus 1 according to the embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and different parts will be mainly described.

ここで、上述した実施形態では、保持部130は、ガイド部材によって構成されている。これに対して、変更例では、保持部140は、ガイド部材ではなく、種結晶10を保持するのみの構成である。なお、変更例では、単結晶製造装置1にガイド部材が設けられていないものとする。   Here, in the above-described embodiment, the holding unit 130 is configured by a guide member. On the other hand, in the modified example, the holding unit 140 is configured to only hold the seed crystal 10 instead of the guide member. In the modified example, the single crystal manufacturing apparatus 1 is not provided with a guide member.

具体的には、図5に示すように、保持部140は、保持部140の平面視において円盤状の保持部本体141を有する。保持部本体141には、円形状の開口部142が形成される。開口部142には、実施形態で説明した上端開口部132Aと同様に、種結晶10の下面10Bの一部のみと接する接触面143(接触部分)が設けられる。なお、保持部本体141は、複数(図面では3本)の支持部144によって反応容器110内に固定される。   Specifically, as illustrated in FIG. 5, the holding unit 140 includes a disc-shaped holding unit main body 141 in a plan view of the holding unit 140. A circular opening 142 is formed in the holding part main body 141. Similar to the upper end opening 132A described in the embodiment, the opening 142 is provided with a contact surface 143 (contact portion) that contacts only a part of the lower surface 10B of the seed crystal 10. The holding part main body 141 is fixed in the reaction vessel 110 by a plurality of (three in the drawing) support parts 144.

ここで、保持部本体141は、図5(b)に示すように、保持部本体141と反応容器110との空隙145が小さくなる大きさであってもよく、図6に示すように、保持部本体141と反応容器110との空隙145が大きくなる大きさであってもよい。   Here, the holding unit main body 141 may have such a size that the gap 145 between the holding unit main body 141 and the reaction vessel 110 is small as shown in FIG. 5B. As shown in FIG. The gap 145 between the part main body 141 and the reaction vessel 110 may be large.

また、保持部140は、必ずしも保持部本体141を有している必要はなく、図7に示すように、接触面143を有する複数(図面では3本)の支持部144のみによって構成されていてもよい。この場合、種結晶10の下面10Bは、各接触面143の全面と均等に接触するのが好ましい。単結晶製造装置1には、上述した保持部140に加えて、種結晶10と接触せずに、単結晶の成長範囲を規制するガイド部材がさらに設けられていてもよい。   Further, the holding portion 140 does not necessarily have the holding portion main body 141, and is configured by only a plurality of (three in the drawing) support portions 144 having the contact surface 143 as shown in FIG. Also good. In this case, it is preferable that the lower surface 10 </ b> B of the seed crystal 10 is in uniform contact with the entire surface of each contact surface 143. In addition to the holding unit 140 described above, the single crystal manufacturing apparatus 1 may further include a guide member that regulates the growth range of the single crystal without contacting the seed crystal 10.

(6)その他の実施形態
上述したように、本発明の実施形態を通じて本発明の内容を開示したが、この開示の一部をなす論述及び図面は、本発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなる。
(6) Other Embodiments As described above, the contents of the present invention have been disclosed through the embodiments of the present invention. However, it is understood that the description and drawings constituting a part of this disclosure limit the present invention. Should not. From this disclosure, various alternative embodiments, examples, and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.

例えば、本発明の実施形態は、次のように変更することができる。具体的には、単結晶製造装置1の構成については、実施形態で説明したものに限らず、目的に応じて適宜設定できる。すなわち、保持部の構成についても、実施形態や変更例で説明したものに限らず、目的に応じて適宜選択できることは勿論である。   For example, the embodiment of the present invention can be modified as follows. Specifically, the configuration of the single crystal manufacturing apparatus 1 is not limited to that described in the embodiment, and can be appropriately set according to the purpose. That is, the configuration of the holding unit is not limited to that described in the embodiment or the modified example, and can be appropriately selected according to the purpose.

また、単結晶や昇華用原料20は、必ずしも炭化珪素を含む必要はない。つまり、単結晶や昇華用原料20の結晶の多型、使用量、純度、製造方法等は、適宜選択可能である。さらに、種結晶の構成や形状についても、適宜選択できることは勿論である。   Further, the single crystal and the sublimation raw material 20 do not necessarily contain silicon carbide. That is, the polymorphism, amount used, purity, production method, etc. of the single crystal or the sublimation raw material 20 can be selected as appropriate. Furthermore, it is needless to say that the configuration and shape of the seed crystal can be selected as appropriate.

また、上述の実施形態では、種結晶10の厚みを1mm以上にすることによって反りを抑制していたが、種結晶10の厚みを1mm以上にすることによって、反りは抑制されるものの、種結晶10が僅かに反ることもあり得る。このような場合、種結晶10の反りが蓋体120側に向かって反るように、種結晶10を配置し、保持部130は、種結晶10の端部と接する。すなわち、種結晶10の反りは、蓋体120側に反っており、保持部130は、第2面部である下面10Bの端部と接する。ここで、端部とは、種結晶10の下面10Bの外側の端部を意味する。従って、側面10C側の下面10Bを意味している。種結晶10にわずかな反りがあっても、保持部130は、下面10Bの端部と接しているため、上面10Aと蓋体120との間に隙間を生じさせることなく、種結晶10と蓋体120とが接している。これによって、種結晶10にわずかな反りがあっても、種結晶10と蓋体120との隙間に起因した構造欠陥の発生を防止できる。言い換えると、種結晶10の反りが、昇華用原料20側に向かって反っていた場合には、種結晶10の端部ではなく、下面10Bの中心付近と保持部130とが接していなければ、上面10Aと蓋体120との間に隙間が生じてしまう。このような構成にすると、保持部130によって、種結晶10の成長面が限られてしまい、口径の大きな単結晶を製造するのが困難になる。従って、種結晶10の反りが蓋体120側に向かって反るように、種結晶10を配置し、保持部130は、種結晶10の端部と接するのが好ましい。   Further, in the above-described embodiment, the warp is suppressed by setting the thickness of the seed crystal 10 to 1 mm or more. However, the warp is suppressed by setting the thickness of the seed crystal 10 to 1 mm or more. 10 may be slightly warped. In such a case, the seed crystal 10 is arranged so that the warp of the seed crystal 10 is warped toward the lid 120, and the holding unit 130 is in contact with the end of the seed crystal 10. That is, the warp of the seed crystal 10 is warped toward the lid 120 side, and the holding portion 130 is in contact with the end portion of the lower surface 10B that is the second surface portion. Here, the end means an end on the outer side of the lower surface 10B of the seed crystal 10. Therefore, the lower surface 10B on the side surface 10C side is meant. Even if the seed crystal 10 is slightly warped, the holding portion 130 is in contact with the end portion of the lower surface 10B, and thus the seed crystal 10 and the lid are formed without generating a gap between the upper surface 10A and the lid body 120. The body 120 is in contact. Thereby, even if the seed crystal 10 is slightly warped, it is possible to prevent the occurrence of structural defects due to the gap between the seed crystal 10 and the lid 120. In other words, when the warp of the seed crystal 10 is warped toward the sublimation raw material 20 side, not the end of the seed crystal 10 but the vicinity of the center of the lower surface 10B and the holding portion 130 are not in contact with each other. A gap is generated between the upper surface 10A and the lid 120. With such a configuration, the holding unit 130 limits the growth surface of the seed crystal 10 and makes it difficult to produce a single crystal having a large diameter. Therefore, it is preferable that the seed crystal 10 is disposed so that the warp of the seed crystal 10 is warped toward the lid 120, and the holding portion 130 is in contact with the end portion of the seed crystal 10.

このように、本発明は、ここでは記載していない様々な実施の形態などを含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は、上述の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められる。   As described above, the present invention naturally includes various embodiments that are not described herein. Therefore, the technical scope of the present invention is determined only by the invention specifying matters according to the scope of claims reasonable from the above description.

1…単結晶製造装置、10…種結晶、10A…上面(第1面部)、10B…下面(第2面部)、20…昇華用原料、50…支持棒、60…石英管、70…誘電加熱コイル、100…坩堝、110…反応容器、111…開口部、120…蓋体、121…内側表面、130…保持部、131…誘導部、132…開口部、132A…上端開口部、132B…下端開口部、133…接触面、140…保持部、141…保持本体、142…開口部、143…接触面、144…支持部、145…空隙   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Single crystal manufacturing apparatus, 10 ... Seed crystal, 10A ... Upper surface (1st surface part), 10B ... Lower surface (2nd surface part), 20 ... Raw material for sublimation, 50 ... Support rod, 60 ... Quartz tube, 70 ... Dielectric heating Coil, 100 ... crucible, 110 ... reaction vessel, 111 ... opening, 120 ... lid, 121 ... inner surface, 130 ... holding part, 131 ... induction part, 132 ... opening, 132A ... upper end opening, 132B ... lower end Opening part, 133 ... contact surface, 140 ... holding part, 141 ... holding body, 142 ... opening part, 143 ... contact surface, 144 ... support part, 145 ... gap

Claims (9)

単結晶の成長の基となる種結晶と前記単結晶の成長に用いられる昇華用原料を収容する坩堝とを備える単結晶製造装置であって、
前記坩堝は、
開口部を有し、前記昇華用原料を収容する反応容器と、
前記開口部に取り付けられる蓋体と、
前記種結晶を保持する保持部とを備え、
前記保持部は、前記種結晶の前記蓋体側に対する反対側の一部のみと接する接触部分を有し、
前記種結晶の厚みは、1mm以上であり、
前記種結晶と前記蓋体とは、隙間なく接しており、
前記種結晶の全表面は、露出している単結晶製造装置。
A single crystal production apparatus comprising a seed crystal that is a base for growth of a single crystal and a crucible containing a raw material for sublimation used for the growth of the single crystal,
The crucible is
A reaction vessel having an opening and containing the sublimation raw material;
A lid attached to the opening;
A holding part for holding the seed crystal,
The holding portion has a contact portion that contacts only a part of the seed crystal opposite to the lid side,
The seed crystal has a thickness of 1 mm or more,
The seed crystal and the lid are in contact with each other without a gap,
The single crystal manufacturing apparatus in which the entire surface of the seed crystal is exposed.
前記種結晶は、
前記蓋体側に設けられる第1面部と、
前記第1面部と対向し、前記昇華用原料側に設けられる第2面部とを少なくとも有し、
前記種結晶の反りは、前記蓋体側に反っており、
前記保持部は、前記第2面部の端部と接する請求項1に記載の単結晶製造装置。
The seed crystal is
A first surface provided on the lid side;
It has at least a second surface portion facing the first surface portion and provided on the sublimation raw material side,
The warp of the seed crystal is warped on the lid side,
The single crystal manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the holding portion is in contact with an end portion of the second surface portion.
前記第2面部は、前記昇華用原料側に向かって突出する請求項1に記載の単結晶製造装置。   The single crystal manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the second surface portion protrudes toward the sublimation raw material side. 前記種結晶は、単結晶の端面が切断されることによって形成され、前記端面が前記第2面部となる請求項2又は3に記載の単結晶製造装置。   The single crystal manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the seed crystal is formed by cutting an end surface of the single crystal, and the end surface is the second surface portion. 前記種結晶は、前記第1面部と前記第2面部とをつなぐ側面部を有し、
前記種結晶は、単結晶の端面が切断されることによって形成され、前記端面が前記側面部になる請求項2乃至4の何れか1項に記載の単結晶製造装置。
The seed crystal has a side portion that connects the first surface portion and the second surface portion,
The single crystal manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the seed crystal is formed by cutting an end surface of the single crystal, and the end surface is the side surface portion.
前記保持部は、
前記坩堝の内部に配設され、前記種結晶を基に成長する前記炭化珪素単結晶の成長範囲を規制するガイド部材によって構成される請求項1乃至5の何れか一項に記載の単結晶製造装置。
The holding part is
The single crystal production according to any one of claims 1 to 5, wherein the single crystal production is configured by a guide member that is disposed inside the crucible and regulates a growth range of the silicon carbide single crystal that grows based on the seed crystal. apparatus.
前記接触部分は、前記種結晶の前記第2面部と面で接する請求項2乃至5の何れか1項に記載の単結晶製造装置。   The single crystal manufacturing apparatus according to claim 2, wherein the contact portion is in contact with the second surface portion of the seed crystal. 炭化珪素からなる種結晶を準備する準備工程と、坩堝に昇華用原料を配置する原料配置工程と、前記種結晶を前記坩堝に配置する種結晶配置工程と、前記昇華用原料を昇華させて前記種結晶に炭化珪素単結晶を成長させる成長工程とを備えた炭化珪素単結晶の製造方法であって、
前記坩堝は、開口部を有し、前記昇華用原料を収容する反応容器と、前記開口部に取り付けられる蓋体と、前記種結晶を保持する保持部とを有し、
前記準備工程では、
前記種結晶の厚みが1mm以上である種結晶を準備し、
前記種結晶の全表面を露出させたままにし、
前記種結晶配置工程では、
前記保持部は、前記種結晶の前記蓋体側に対する反対側の一部のみと接する接触部分を有し、
全表面が露出した前記種結晶を、前記種結晶と前記蓋体との隙間を空けずに配置する炭化珪素単結晶の製造方法。
A preparation step of preparing a seed crystal made of silicon carbide, a raw material arrangement step of arranging a sublimation raw material in a crucible, a seed crystal arrangement step of arranging the seed crystal in the crucible, and sublimating the sublimation raw material to A method for producing a silicon carbide single crystal comprising a growth step of growing a silicon carbide single crystal on a seed crystal,
The crucible has an opening, and includes a reaction container that contains the raw material for sublimation, a lid attached to the opening, and a holding part that holds the seed crystal.
In the preparation step,
Preparing a seed crystal having a thickness of 1 mm or more,
Leaving the entire surface of the seed crystal exposed;
In the seed crystal arrangement step,
The holding portion has a contact portion that contacts only a part of the seed crystal opposite to the lid side,
A method for producing a silicon carbide single crystal, wherein the seed crystal with the entire surface exposed is arranged without leaving a gap between the seed crystal and the lid.
前記種結晶配置工程では、
前記種結晶の反りが、前記蓋体側に向かって反るように、前記種結晶を配置し、
前記接触部分は、前記種結晶の端部にある請求項8に記載の炭化珪素単結晶の製造方法。
In the seed crystal arrangement step,
The seed crystal is arranged so that the warp of the seed crystal is warped toward the lid body side,
The method for producing a silicon carbide single crystal according to claim 8, wherein the contact portion is located at an end of the seed crystal.
JP2010088616A 2010-04-07 2010-04-07 Single crystal production apparatus and method for producing silicon carbide single crystal Pending JP2011219293A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010088616A JP2011219293A (en) 2010-04-07 2010-04-07 Single crystal production apparatus and method for producing silicon carbide single crystal

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010088616A JP2011219293A (en) 2010-04-07 2010-04-07 Single crystal production apparatus and method for producing silicon carbide single crystal

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011219293A true JP2011219293A (en) 2011-11-04

Family

ID=45036751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010088616A Pending JP2011219293A (en) 2010-04-07 2010-04-07 Single crystal production apparatus and method for producing silicon carbide single crystal

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011219293A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014210687A (en) * 2013-04-19 2014-11-13 新日鐵住金株式会社 Seed crystal substrate for growing silicon carbide single crystal
JP2017124967A (en) * 2016-01-12 2017-07-20 台州市一能科技有限公司 Apparatus for rapidly manufacturing silicon carbide crystal using sublimation method and method thereof
KR20240036340A (en) * 2022-09-13 2024-03-20 (주) 세라컴 Crucible for growing a single crystal and installation nmethod of a seed crystal for growing a single crystal using the crucible

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10194899A (en) * 1997-01-14 1998-07-28 Sumitomo Electric Ind Ltd Crystal growth method
JP2002308697A (en) * 2001-04-05 2002-10-23 Nippon Steel Corp Silicon carbide single crystal ingot, method for producing the same, and method of mounting seed crystal for growing silicon carbide single crystal
JP2006021964A (en) * 2004-07-08 2006-01-26 Sumitomo Electric Ind Ltd AlN single crystal and growth method thereof
JP2008290895A (en) * 2007-05-23 2008-12-04 Panasonic Corp Method for producing silicon carbide single crystal
JP2009084071A (en) * 2007-09-27 2009-04-23 Bridgestone Corp Method for manufacturing silicon carbide single crystal

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10194899A (en) * 1997-01-14 1998-07-28 Sumitomo Electric Ind Ltd Crystal growth method
JP2002308697A (en) * 2001-04-05 2002-10-23 Nippon Steel Corp Silicon carbide single crystal ingot, method for producing the same, and method of mounting seed crystal for growing silicon carbide single crystal
JP2006021964A (en) * 2004-07-08 2006-01-26 Sumitomo Electric Ind Ltd AlN single crystal and growth method thereof
JP2008290895A (en) * 2007-05-23 2008-12-04 Panasonic Corp Method for producing silicon carbide single crystal
JP2009084071A (en) * 2007-09-27 2009-04-23 Bridgestone Corp Method for manufacturing silicon carbide single crystal

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014210687A (en) * 2013-04-19 2014-11-13 新日鐵住金株式会社 Seed crystal substrate for growing silicon carbide single crystal
JP2017124967A (en) * 2016-01-12 2017-07-20 台州市一能科技有限公司 Apparatus for rapidly manufacturing silicon carbide crystal using sublimation method and method thereof
KR20240036340A (en) * 2022-09-13 2024-03-20 (주) 세라컴 Crucible for growing a single crystal and installation nmethod of a seed crystal for growing a single crystal using the crucible
KR102703484B1 (en) * 2022-09-13 2024-09-06 (주) 세라컴 Crucible for growing a single crystal and installation nmethod of a seed crystal for growing a single crystal using the crucible

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101392639B1 (en) Method of producing silicon carbide monocrystals
JP5146418B2 (en) Crucible for producing silicon carbide single crystal and method for producing silicon carbide single crystal
US20110107961A1 (en) Single crystal manufacturing device and manufacturing method
JP5304600B2 (en) SiC single crystal manufacturing apparatus and manufacturing method
JP5699963B2 (en) Single crystal manufacturing method and manufacturing apparatus
KR102163489B1 (en) Growth device for single crystal
CN121161408A (en) Silicon carbide substrate and method for growing SiC single crystal ingot
CN102395716A (en) Apparatus for producing silicon carbide single crystal and method for producing silicon carbide single crystal
TWI772866B (en) Wafer and manufacturing method of the same
JP2011184208A (en) Apparatus and method for producing silicon carbide single crystal
CN110904509A (en) Silicon carbide crystal, method and apparatus for growing the same, semiconductor device, and display device
JPWO2013115272A1 (en) Seed crystal holder and crystal growth apparatus
JP2015040146A (en) Single crystal production device and single crystal production method using the same
JP2011219293A (en) Single crystal production apparatus and method for producing silicon carbide single crystal
US10094044B2 (en) SiC single crystal and method for producing same
US20140158042A1 (en) Apparatus for fabricating ingot
CN104278322A (en) Method for producing silicon carbide single crystal and silicon carbide single crystal substrate
KR101537385B1 (en) method for growing SiC single crystal
JP2012036035A (en) Method for manufacturing silicon carbide single crystal
JP5761264B2 (en) Method for manufacturing SiC substrate
JP6861557B2 (en) Silicon Carbide Single Crystal Ingot Manufacturing Equipment and Silicon Carbide Single Crystal Ingot Manufacturing Method
JP5948988B2 (en) Method for producing silicon carbide single crystal
JP2010180117A (en) Apparatus for manufacturing silicon carbide single crystal
JP2011184209A (en) Apparatus for producing single crystal, method for fixing seed crystal, and method for producing silicon carbide single crystal
US20140165905A1 (en) Apparatus for fabricating ingot and method for fabricating ingot

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130404

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131128

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131217

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140422