JP2011129878A - 局在パターンの作成方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1熱伝導率を示す物質から作られる支持体1の上面上に少なくとも1つのパターンを作成する方法は、第2熱伝導率を示し、且つ、パターンの形状に対応する形状を有する少なくとも1つの孔部8を含む物質から作られるマスク7を配置する工程を含む。孔部8は、支持体1の底面に接触する。第2導電率に対する第1導電率の比率は、その方法の実施期間(duration)において、2以上又は1/2以下である。また、その方法は、パターンを形成するように作られた物質を含む溶液を上面上に堆積する工程と、溶液を蒸発させる工程と、を含む。
【選択図】図4
Description
2 ポリマー層
3a ソース電極
3b ドレイン電極
4,5 領域
6 半導体層
7 マスク
8 孔部
9 溶液
9´ 島
10,10´ 溶媒
Claims (12)
- 第1熱伝導率(λ1)を示す物質から作られる支持体(1)の上面上に少なくとも1つのパターンを作成する方法において、
第2熱伝導率(λ2)を示し、且つ、前記パターンの形状に対応する形状を有する少なくとも1つの孔部(8)を含む物質から作られるマスク(7)を配置する工程であって、前記マスク(7)は、前記支持体(1)の底面に接触し、前記第2熱伝導率に対する前記第1熱伝導率の比率は、前記方法の実施期間(duration)において、2以上又は1/2以下である工程と、
前記パターンを形成するように作られた物質を含む溶液(9)を前記上面上に堆積する工程と、
前記溶液を蒸発させる工程と、
を備えることを特徴とする方法。 - 少なくとも1つのパターンは、いくつかのパターンを含み、
前記溶液は、前記支持体(1)の上面を完全に覆うように堆積される、請求項1に記載の方法。 - 前記第2熱伝導率に対する前記第1熱伝導率の比率は、前記方法の実施期間において、10以上又は1/10以下である、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
- 前記蒸発させる工程の間に、1V/m〜100kV/mに含まれる電界を前記マスク(7)上に印加する、ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の方法。
- 前記蒸発させる工程の間に、前記マスク(7)を−100℃〜+100℃の間に含まれる温度にすることを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の方法。
- 前記孔部(8)には、第3熱伝導率λ3を示す充填剤が充填され、
前記第3熱伝導率(λ3)に対する前記第1熱伝導率(λ1)の比率は、前記方法の実施期間において、2以上又は1/2以下である、ことを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の方法。 - 前記充填剤は、空気、水、又は油から選択される、ことを特徴とする請求項6に記載の方法。
- 前記蒸発させる工程の間に、前記溶液(9)の体積は、剥離(scraping)、吹き出し(blowing)、又は支持体の一時的な傾斜(momentary inclination)により低減される、ことを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載の方法。
- 前記パターンを形成するように作られた前記物質は、有機半導体若しくは有機絶縁体であり、又は液体中に分散したナノ粒子により形成される、ことを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載の方法。
- 前記ナノ粒子は、シリコン、金属、又はカーボンから作られるチューブ、ワイヤ、又は球体の形状をとる、ことを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 前記溶液(9)は、少なくとも1つの溶媒(10,10´)又は分散剤を含む、ことを特徴とする請求項1乃至10の何れか1項に記載の方法。
- 前記マスク(7)は、ステンレス鋼から作られ、
前記支持体(1)は、プラスチックから作られ、
前記孔部(8)には、空気が充填される、ことを特徴とする請求項1乃至11の何れか1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0904666A FR2950562B1 (fr) | 2009-09-30 | 2009-09-30 | Procede de realisation de motifs localises |
| FR09/04666 | 2009-09-30 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011129878A true JP2011129878A (ja) | 2011-06-30 |
| JP2011129878A5 JP2011129878A5 (ja) | 2013-11-14 |
| JP5670141B2 JP5670141B2 (ja) | 2015-02-18 |
Family
ID=42115703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010219680A Expired - Fee Related JP5670141B2 (ja) | 2009-09-30 | 2010-09-29 | 局在パターンの作成方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8048712B2 (ja) |
| EP (1) | EP2306542A1 (ja) |
| JP (1) | JP5670141B2 (ja) |
| KR (1) | KR20110035898A (ja) |
| FR (1) | FR2950562B1 (ja) |
| TW (1) | TW201133970A (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2003283103A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-03 | Seiko Epson Corp | パターン形成方法および装置並びにデバイスの製造方法およびデバイス |
| JP4096868B2 (ja) * | 2003-11-25 | 2008-06-04 | セイコーエプソン株式会社 | 膜形成方法、デバイス製造方法および電気光学装置 |
| GB0410921D0 (en) | 2004-05-14 | 2004-06-16 | Plastic Logic Ltd | Self-aligned active layer island |
| US7629026B2 (en) * | 2004-09-03 | 2009-12-08 | Eastman Kodak Company | Thermally controlled fluidic self-assembly |
-
2009
- 2009-09-30 FR FR0904666A patent/FR2950562B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2010
- 2010-09-03 EP EP10354042A patent/EP2306542A1/fr not_active Ceased
- 2010-09-10 US US12/879,473 patent/US8048712B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-09-15 KR KR1020100090739A patent/KR20110035898A/ko not_active Withdrawn
- 2010-09-21 TW TW099131967A patent/TW201133970A/zh unknown
- 2010-09-29 JP JP2010219680A patent/JP5670141B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP5670141B2 (ja) | 2015-02-18 |
| FR2950562A1 (fr) | 2011-04-01 |
| TW201133970A (en) | 2011-10-01 |
| EP2306542A1 (fr) | 2011-04-06 |
| US20110076797A1 (en) | 2011-03-31 |
| US8048712B2 (en) | 2011-11-01 |
| FR2950562B1 (fr) | 2012-01-06 |
| KR20110035898A (ko) | 2011-04-06 |
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