JP2011199798A - 物理情報取得装置、固体撮像装置、物理情報取得方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】電磁波エネルギレベルが他の波長よりも低い特定波長と対応した波長の特定波長波を物体に照射し、物体で反射した特定波長波を固体撮像素子314で検知し、得られた検知情報に基づき特定波長波に由来する情報を取得する。特定波長を中心とする狭帯域のバンドパス特性を持つ光学バンドパスフィルタ502を撮像光学経路上に配置する。特定波長波の物体反射光を検知すれば特定波長成分が通常光源の成分に埋もれずに検知される。特定波長波を物体に照射したときとしないときの各検知情報を比較して通常光源に起因する外乱ノイズの影響が緩和された特定波長波に由来する情報を取得する。光学バンドパスフィルタ502を併用すれば、特定波長成分だけを検知でき、通常光源の光量が強い場合でもその影響を受けず、飽和の問題を回避できる。
【選択図】図6
Description
1.基本概念(本実施形態の基本、色分離フィルタ、フィルタの分光特性)
2.撮像装置
3.第1実施形態(高感度画像の取得、赤外光画像の取得、距離計測)
4.第2実施形態
第1例:赤外光領域内の任意の特定波長成分のみを透過
第2例:赤外光領域内の任意の特定波長成分と可視光のみを透過
第3例:赤外光領域内の太陽光吸収波長成分のみを透過(赤外光バンドパス)
第4例:赤外光領域内の太陽光吸収波長成分と可視光のみを透過
(可視光+赤外光バンドパス)
第5例:「第2例または第4例」+カラー撮像対応
(オンチップ赤外光フィルタあり)
第6例:「第2例または第4例」+カラー撮像対応
(オンチップ赤外光フィルタなし)
第7例:可視光画素は赤外カットフィルタ、赤外画素はオンチップフィルタ
第8例:可視光画素は赤外カットフィルタ、赤外画素は赤外バンドパス
5.特殊な光学バンドパスフィルタの詳細
6.比較例との対比
[本実施形態の基本]
撮像環境下においては、光源(通常光源)の分光波長特性は均一ではなく、エネルギレベルが他の波長に比べて相対的に低い波長(低エネルギ波長)が存在する場合がある。このような場合、この低エネルギ波長に別光源の波長を整合させて撮像を行なうと、別光源に由来する情報としては、通常光源に由来するノイズ成分の影響を緩和できる。
図1は、本実施形態でカラー画像を撮像する際に採用する色分離フィルタの画素配列(色配置)の一例を示す図である。ここで、図1は、色分離フィルタの色配置例の基本構造を示す図である。
図2および図3は、波長分離の具体例を説明する図である。ここで、図2は、色フィルタ群をなす各色フィルタの光透過特性(分光特性)の基本を示した図である。図3は、色フィルタ群をなす各色フィルタの特性例を示す図である。
図4は、物理情報取得装置の一例である撮像装置の概略構成を示す図である。この撮像装置300は、可視光カラー画像および赤外光画像を独立に得る撮像装置になっている。
図5は、画像信号処理部340を説明する図である。画像信号処理部340は、被写体Zを色フィルタC1〜C4の配列パターン(モザイクパターン)に従って画素ごとに異なる色と感度で撮像し、色と感度がモザイク状になった色・感度モザイク画像から、各画素が全ての色成分を有し、かつ、均一の感度を有する画像に変換する高感度化補正処理部341を備えている。
第2実施形態では、特定波長光を発する発光部322を使用する第1実施形態に加えて、受光側の撮像光学系では、少なくとも第1の波長領域の一例である赤外光領域に関して、光源に用いる波長帯域成分を透過しその他の赤外光成分をカットする特殊なバンドパスフィルタを撮像部の入射面側に設ける。さらに、第2の波長領域の一例である可視光領域についての取り扱いをどうするかで種々の態様を取り得る。
図6は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第1例を示す図である。
図7は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第2例を示す図である。
図8は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第2例に対する変形例を示す図である。
図9は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第3例を示す図である。
図10は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第4例を示す図である。
図11は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第5例を示す図である。
図12は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第6例を示す図である。第6例は、第5例に対する変形例であり、図12(1)は図11(1)に対する適用例を示し、図12(2)は図11(2)に対する適用例を示す。第6例は、色フィルタ部520は赤外画素に赤外光フィルタIRを設けないようにしている。なお、この例は、色フィルタ部520が設けられているカラー撮像用の場合で示しているが、色フィルタ部520が設けられていないモノクロ撮像用の場合にも同様の考え方を適用できる。
図13は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第7例を示す図である。
図14は、光源(の特定波長光)と、光学フィルタ部と、撮像デバイス構造の組合せの第8例を示す図である。
図15〜図16は、特定波長を中心波長とする狭帯域のバンドパス特性を持つ光学部材(特殊な光学バンドパスフィルタなど)の製法を説明する図である。ここで、図15は、バンドパス特性を持つ光学部材の製法の基本的な考え方を示す図である。図16は、バンドパス特性を持つ光学部材の具体例を説明する図である。
図17は、太陽光が地上に到達する波長成分(電磁波エネルギレベル)を説明する図である。米国のNational Renewable Energy LaboratoryによりReference Solar Spectral Irradiance: ASTM G-173 に公開されているデータから、太陽光が地上に到達する波長成分には複数の吸収波長帯域が存在することが分かる。具体的には、図17に示すように、760nm近傍、940nm近傍、1130nm近傍、1400nm近傍で吸収が大きな値となっている。
一方、屋外では地上に到達する太陽光は760nm近傍、940nm近傍、1130nm近傍、1400nm近傍の光が大気中に吸収されているので、これらの波長に光源波長を整合させると、屋外での太陽光による赤外帯域のノイズ成分を避けることができる。これらの特定波長の光を発光部322から被写体に照射し、その反射光を透過する光学バンドパスフィルタ506を設けることにより直接的な外乱によるS/N比(Signal-Noise ratio:信号雑音比)を大幅に改善できる。
[第1比較例]
特開2003−185412号公報に記載の仕組みを第1比較例とする。第1比較例では、補助光を照射し、「RBG画素+不可視光画素」で受光する構成としている。距離計測の原理は、物体の反射光輝度が距離の2乗に反比例する物理現象を利用するが、第1比較例に記載のように、物体により反射率が異なることから、物体の異なる反射率の違いを補正するようにしている。また、第1比較例では、自然光画像や対象の材質(反射特性)情報などを同時に参照して対象の表面の色情報から対象の反射係数を推定する。しかしながら、実際には物体表面の色情報だけでは物体を特定することは困難であり、物体を特定するには形状や色なども頼りにした信号処理による画像認識が必要となる。
三角測量法を適用した特開平11−153408号公報に記載の仕組みを第2比較例とする。第2比較例では、パルス状の光束を繰り返し投射し、測距対象物からの反射光を受光する受光手段と、有効な信号蓄積時間の間、受光手段にて得られる信号電流の蓄積を行なう信号電流蓄積手段にて蓄積された信号を用いて対象物までの距離を算出する。測距対象物の状況により、信号電流を蓄積するところの有効な信号蓄積時間の最大値を変更する蓄積時間可変手段を有している。さらに測距対象物の明るさを判定し、判定結果に応じて有効な信号蓄積時間の最大値を変更するようにしている。具体的には、ショットノイズの影響でS/N比が低下するような明るさ(所定の明るさよりも明るいと判定された場合)であれば、有効な信号蓄積時間の最大値を長く設定し、微弱な信号時の有効な信号蓄積時間を増やしてS/N比を改善するようにし、ショットノイズの影響が無視できる暗い状況では、有効な信号蓄積時間の最大値を短く設定して測距時間を短縮するようにしている。
光伝搬飛行時間方式(Time Of Fright)を適用した特開2009−14459号公報に記載の仕組みを第3比較例とする。第3比較例では、太陽光が可視帯域(500nm程度)にピークを有するのに対し、たとえば870nmにピークを有する近赤外発光LEDを用いて、かつ、可視帯域の光を適当な可視帯域カットフィルタで除去する。これにより太陽光に含まれる最も強い光(可視光成分)に比べて光が少ない赤外光を利用することでノイズ成分の低減を実現している。
照射パターン方式を適用した特開平7−218232号公報に記載の仕組みを第4比較例とする。第4比較例では、光学式三次元形状計測装置が開示されているが、この装置は、被検物の表面に所定のパターン像を投影するための照射光学系と、被検物の表面に投影されたパターン像を観察するための観察光学系とを備え、観察されたパターン像の変化に基づいて被検物の表面形状を計測する。照射光学系は、その光軸に沿って複数の合焦面にそれぞれ所定のパターン像を形成する合焦面分割手段を備えている。
第1比較例〜第4比較例の何れも、屋外で使用する際には太陽光による外乱ノイズが大きな問題となる。太陽光は可視光成分に比べて赤外光成分は光強度が少ないことを利用して、赤外光領域の光を光源として利用するようにしているが、地上に到達する太陽光の成分とそのエネルギ量を考えると、十分な信号を検出することは非常に困難である。
Claims (20)
- 電磁波の少なくとも第1の波長領域に関して、前記第1の波長領域において電磁波エネルギが他の波長よりも低い波長を特定波長としたとき、前記特定波長と対応した波長の電磁波を発する電磁波出力部と、
前記特定波長の電磁波を検知する第1の検知部と、
前記第1の検知部から得られた検知情報に基づいて信号処理を行なう信号処理部と、
を備えた物理情報取得装置。 - 第2の波長領域が可視光の波長領域であり、前記第1の波長領域は少なくとも第2の波長領域を除く波長領域である
請求項1に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の波長領域は赤外光領域である
請求項2に記載の物理情報取得装置。 - 前記特定波長は、太陽光の地上到達波長特性における吸収波長である
請求項3に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の波長領域は可視光の波長領域であり、前記特定波長は、可視光帯内の特定の波長スペクトルを発する光源の波長とは異なる波長の領域である
請求項1に記載の物理情報取得装置。 - 画像取得対象の物体に対して照射光を照射する電磁波照射部と、
前記電磁波照射部による前記照射光によって前記物体が照らされた状態の画像成分の電荷を検知する第1の検知部と、
前記物体が自然光のみに照らされた状態の画像成分の電荷を検知する第2の検知部と、
前記第1の検知部と前記第2の検知部のそれぞれから得られた検知情報に基づいて信号処理を行なう信号処理部と、
を備え、
前記電磁波照射部は、可視光の波長領域を除く波長領域における一部の特定波長の光を発する
物理情報取得装置。 - 前記特定波長を中心とするバンドパス特性を持つ第1の光学部材が撮像光学経路上に配置されている
請求項1〜請求項6の何れか一項に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の光学部材は、前記特定波長以外の波長を除去する
請求項7に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の光学部材は、可視光と前記特定波長以外の波長の成分を抑制する
請求項8に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の光学部材は、前記第1の波長領域に関して、前記特定波長よりも少し低波長側をカットオフとするハイパスフィルタと、前記特定波長よりも少し長波長側をカットオフとするローパスフィルタとを組み合わせたものである
請求項8または請求項9に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の波長領域を含まない第2の波長領域の電磁波を検知する第2の検知部を備える
請求項1〜請求項10の何れか一項に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の波長領域を含まない第2の波長領域の電磁波を検知する第2の検知部を備え、
前記第1の検知部は、前記第2の波長領域の成分よりも長波長側の前記第1の波長領域の成分を検知するものであり、
前記第1の検知部と前記第2の検知部とが、所定の順に同一の半導体基板上に配されており、
前記半導体基板の表面からの深さ方向において、前記第1の検知部の有効検知領域は、前記第2の検知部の有効検知領域よりも深いところに設定されている
請求項9に記載の物理情報取得装置。 - 前記半導体基板の表面からの深さ方向において、前記第1の検知部の第1導電型のドーパントが形成されている有効領域が、前記第2の検知部の前記第1導電型のドーパントが形成されている有効領域よりも深いところまで達している
請求項12に記載の物理情報取得装置。 - 半導体基板の表面からの深さ方向における電磁波を検知する検知部の第1導電型のドーパントが形成されている有効領域において、前記ドーパントの濃度が、前記半導体基板の表面側から深くなるほど低濃度となる変調ドーピングが施されている
請求項13に記載の物理情報取得装置。 - 前記第1の検知部の受光光路中には、前記第1の波長領域を含まない第2の波長領域の電磁波を抑制する第2の光学部材が配置されている
請求項9に記載の物理情報取得装置。 - 光路上の前記第2の検知部と対応する部分には可視光帯を色分離する色フィルタが設けられている
請求項6、請求項11、請求項12〜請求項14の何れか一項に記載の物理情報取得装置。 - 光路上の前記第1の検知部と対応する部分には可視光を抑制する色フィルタが設けられている
請求項16に記載の物理情報取得装置。 - 前記信号処理部は、前記特定波長成分の光に由来する画像情報に基づいて被写体距離の計測または物体検出を行なう
請求項1〜請求項17の何れか一項に記載の物理情報取得装置。 - 電磁波の少なくとも第1の波長領域に関して、前記第1の波長領域において電磁波エネルギが他の波長よりも低い波長を特定波長としたとき前記特定波長と対応した波長の電磁波を発する電磁波出力部から発せられ、物体で反射した成分を検知する検知部を備え、
前記特定波長を中心とするバンドパス特性を持つ光学部材が前記検知部上に配置されている
固体撮像装置。 - 電磁波の少なくとも第1の波長領域に関して、前記第1の波長領域において電磁波エネルギが他の波長よりも低い波長を特定波長としたとき、前記特定波長と対応した波長の電磁波を物体に照射し、
物体で反射した前記特定波長の電磁波を検知部で検知し、
前記検知部から得られた検知情報に基づいて信号処理を行なう
物理情報取得方法。
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