JP2011199778A - 測定装置、測定方法およびプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】誤差を簡易に精度良く測定する。
【解決手段】第１変調部から出力された第１変調信号と第２変調部から出力された第２変調信号とを加算した出力信号を出力する変調装置が有する誤差を測定する測定装置であって、変調装置から互いに異なる少なくとも３点の信号点の出力信号を出力させる制御部と、少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定する測定部と、少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、第１変調信号と第２変調信号との間の振幅誤差および位相誤差を算出する算出部と、を備える測定装置を提供する。
【選択図】図１

Description

本発明は、測定装置、測定方法およびプログラムに関する。

従来より、変調信号を出力するＬＩＮＣ回路が知られている（非特許文献１〜５）。ＬＩＮＣ回路は、振幅が固定された位相の異なる２つの変調信号を２つのＩＱ変調器により生成し、２つのＩＱ変調器により生成された２つの変調信号を加算することにより、目的とする振幅および位相の信号を出力する。このようなＬＩＮＣ回路は、出力段の増幅器のリニアリティに関わらず、歪の小さい大振幅の信号を出力することができる。

非特許文献１ Lars Sundstrom, "Spectral Sensitivity of LINC Transmitters to Quadrature Modulator Misalignments", IEEE TRANSACTIONS ON VEHICULAR TECHNOLOGY, VOL. 49, NO. 4, JULY 2000
非特許文献２ Fernando J. Casadevall, and Antonio Valdovinos, "Performance Analysis of QAM Modulations Applied to the LINC Transmitter", IEEE TRANSACTIONS ON VEHICULAR TECHNOLOGY, VOL. 42, NO. 4, NOVEMBER 1993
非特許文献３ Gwenael Poitau, Ahmed Birafane and Ammar Kouki, "Experimental Characterization of LINC Outphasing Combiners'Efficiency and Linearity", IEEE Radio and Wireless Conference, 2004
非特許文献４ Young Yun Woo, Jaehyok Yi, Youngoo Yang, and Bumman Kim, "SDR Transmitter Based on LINC Amplifier with Bias Control", Microwave Symposium Digest, 2003 IEEE MTT-S International
非特許文献５ Xuejun Zhang, Lawrence E. Larson, and Peter Asbeck, "Design of Linear RF Outphasing Power Amplifiers", (USA), Artech House, 2003

ところで、ＬＩＮＣ回路は、２つのＩＱ変調器の間に振幅誤差または位相誤差が含まれていると、精度の良い変調信号を出力することができない。しかしながら、２つのＩＱ変調器の間の振幅誤差および位相誤差を精度良く且つ簡易に測定することは困難であった。

上記課題を解決するために、本発明の第１の態様においては、第１変調部から出力された第１変調信号と第２変調部から出力された第２変調信号とを加算した出力信号を出力する変調装置が有する誤差を測定する測定装置であって、前記変調装置から互いに異なる少なくとも３点の信号点の出力信号を出力させる制御部と、前記少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定する測定部と、前記少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の振幅誤差および位相誤差の少なくとも一方を算出する算出部と、を備える測定装置、測定方法およびプログラムを提供する。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本実施形態に係る変調装置１０および測定装置４０の構成を示す。 本実施形態に係る、出力信号（Ｓｏｕｔ）、第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）の振幅および位相の一例を示す。 指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）が与えられた場合における、第１変調部２２および第２変調部２４に設定するべき２つの位相（θ_１、θ_２）の算出方法の一例を示す。 第１変調部２２と第２変調部２４との間の、振幅誤差（ｇ_ｅｒｒ）および位相誤差（θ_ｅｒｒ）のモデルの一例を示す。 図５は、本実施形態に係る測定装置４０による誤差算出処理のフローを示す。 第１の誤差算出処理において出力するベクトルの一例を示す。 第２の誤差算出処理において出力するベクトルの一例を示す。 図７の原点付近を拡大した図を示す。 第３の誤差算出処理において出力するベクトルの一例を示す。 本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本実施形態に係る変調装置１０および測定装置４０の構成を示す。変調装置１０は、外部から振幅および位相が指定され、指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）の所定周波数の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力する。変調装置１０は、いわゆるＬＩＮＣ（Linear amplification using non-linear components）と呼ばれる回路の一例である。

変調装置１０は、周期信号発生部２０と、第１変調部２２と、第２変調部２４と、加算部２６と、設定部２８とを備える。周期信号発生部２０は、予め定められた周波数の周期信号を発生する。周期信号発生部２０は、一例として、角周波数（ω）の正弦波信号（Ｓｉｎωｔ）を周期信号として発生する。また、周期信号発生部２０は、角周波数（ω）の正弦波信号（Ｓｉｎωｔ）を主成分として含む矩形波信号を周期信号として発生してもよい。

第１変調部２２は、予め定められた固定振幅（Ｖ）および設定部２８により設定された第１位相（θ_１）の第１変調信号（Ｓ_１）を出力する。第１変調部２２は、一例として、周期信号発生部２０により発生された周期信号（Ｓｉｎωｔ）を直交変調して、固定振幅（Ｖ）および第１位相（θ_１）の第１変調信号（Ｓ_１＝Ｖ×Ｓｉｎ（ωｔ＋θ_１））を出力する。

第２変調部２４は、第１変調信号（Ｓ_１）と同一周波数の信号であって、予め定められた固定振幅（Ｖ）および設定部２８により設定された第２位相（θ_２）の第２変調信号（Ｓ_２）を出力する。第２変調部２４は、一例として、周期信号発生部２０により発生された周期信号（Ｓｉｎωｔ）を直交変調して、固定振幅（Ｖ）および第２位相（θ_２）の第２変調信号（Ｓ_２＝Ｖ×Ｓｉｎ（ωｔ＋θ_２））を出力する。

加算部２６は、第１変調部２２から出力された固定振幅の第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調部２４から出力された固定振幅の第２変調信号（Ｓ_２）を加算して、出力信号（Ｓｏｕｔ＝Ｖ×Ｓｉｎ（ωｔ＋θ_１）＋Ｖ×Ｓｉｎ（ωｔ＋θ_２））として出力する。

設定部２８は、外部から指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）を受け取る。設定部２８は、指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）に基づき第１変調部２２に設定するべき第１位相（θ_１）および第２変調部２４に設定するべき第２位相（θ_２）を算出する。そして、設定部２８は、算出した第１位相（θ_１）を第１変調部２２に設定し、算出した第２位相（θ_２）を第２変調部２４に設定する。なお、設定部２８による第１位相（θ_１）および第２位相（θ_２）の算出方法については詳細を後述する。

このような変調装置１０は、予め定められたサンプリングレート毎に指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）を表すデータが与えられる。そして、変調装置１０は、サンプリングレート毎に、指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）の出力信号（Ｓｏｕｔ＝Ｒ×Ｓｉｎ（ωｔ＋θ））を出力することができる。

測定装置４０は、キャリブレーション等において、変調装置１０が有する誤差を測定する。より詳しくは、測定装置４０内の第１変調部２２と第２変調部２４との間の振幅誤差および位相誤差の少なくとも一方を測定する。

測定装置４０は、制御部４２と、測定部４４と、算出部４６とを備える。制御部４２は、変調装置１０から互いに異なる少なくとも３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。制御部４２は、一例として、第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）のそれぞれの振幅を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる位相差に設定した、少なくとも４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。また、制御部４２は、一例として、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる振幅に設定した、少なくとも３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

測定部４４は、変調装置１０から出力された少なくとも３点または少なくとも４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力を測定する。算出部４６は、少なくとも３点の信号点または少なくとも４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力に基づき、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との間の振幅誤差および位相誤差の少なくとも一方を算出する。なお、振幅誤差および位相誤差のより詳細な算出方法については後述する。

このような測定装置４０は、出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力に基づき測定装置４０内の第１変調部２２と第２変調部２４との間の振幅誤差および位相誤差の少なくとも一方を算出する。これにより、測定装置４０によれば、出力信号（Ｓｏｕｔ）の位相および振幅を測定しなくてもよいので、簡易且つ正確に振幅誤差および位相誤差を算出することができる。

なお、測定装置４０は、算出した振幅誤差および位相誤差に基づき、変調装置１０の位相誤差および振幅誤差を補正する調整部を更に備えてもよい。調整部は、変調装置１０内の第１変調部２２および第２変調部２４のハードウェアのパラメータ（増幅器のゲインおよび遅延量等）を調整してもよいし、第１変調部２２および第２変調部２４に入力される振幅および位相の値を補正するための係数を調整してもよい。

図２は、本実施形態に係る、出力信号（Ｓｏｕｔ）、第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）の振幅および位相の一例を示す。周期信号発生部２０から発生される周期信号の位相を０とした場合、第１変調部２２および第２変調部２４は、図２に示されるような第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）を出力する。

即ち、第１変調部２２は、固定振幅Ｖおよび第１位相θ_１の第１変調信号（Ｓ_１）を出力する。また、第２変調部２４は、固定振幅Ｖおよび第２位相θ_２の第２変調信号（Ｓ_２）を出力する。

そして、加算部２６は、このような第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）をベクトル加算した出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力する。即ち、出力信号（Ｓｏｕｔ）の位相（θ）は、第１位相θ_１および第２位相θ_２の中心（Ｐｈ（θ_１＋θ_２）／２）となる。また、出力信号（Ｓｏｕｔ）の振幅（Ｒ）は、第１位相θ_１および第２位相θ_２の中心（Ｐｈ（θ_１＋θ_２）／２）を基準とした場合における、第１変調信号（Ｓ_１）のコサイン成分（Ｖ×Ｃｏｓ（Ｐｈ（θ_１−Ｐｈ（（θ_１＋θ_２）／２））））と、第２変調信号（Ｓ_２）のコサイン成分（Ｖ×Ｃｏｓ（Ｐｈ（θ_２−（Ｐｈ（θ_１＋θ_２）／２））））とを加算した振幅となる。なお、ｙ＝Ｐｈ（ｘ）は、ｘと同じ角度の−１８０°＜θ≦１８０°のｙを返す関 数を表す。他の式においても同様である。

なお、図中において、第１位相θ_１を出力信号（Ｓｏｕｔ）の位相（θ）より進んだ位相として記載し、第２位相θ_２を出力信号（Ｓｏｕｔ）の位相（θ）より遅れた位相として記載しているが、これに限らない。即ち、第１位相θ_１が出力信号（Ｓｏｕｔ）の位相（θ）より遅れ、第２位相θ_２が出力信号（Ｓｏｕｔ）の位相（θ）より進んでいてもよい。

図３は、指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）が与えられた場合における、第１変調部２２および第２変調部２４に設定するべき２つの位相（θ_１、θ_２）の算出方法の一例を示す。設定部２８は、外部から指定振幅（Ｒ）および指定位相（θ）が与えられると、下記式（１）に示されるように調整位相（φ）を算出する。

φ＝ｃｏｓ^−１（（Ｒ／２）／Ｖ） …（１）

即ち、設定部２８は、予め定められた固定振幅（Ｖ）に対する指定振幅（Ｒ）の１／２の割合のアークコサイン値（ｃｏｓ^−１（（Ｒ／２）／Ｖ））を調整位相（φ）として算出する。続いて、設定部２８は、下記式（２）および式（３）に示されるように、第１変調部２２および第２変調部２４に設定するべき２つの位相（θ_１、θ_２）を算出する。

θ_１＝Ｐｈ（θ＋φ） …（２）
θ_２＝Ｐｈ（θ−φ） …（３）

即ち、設定部２８は、指定位相（θ）に調整位相（φ）を加算した位相（θ_１＝Ｐｈ（θ＋φ））、つまり、指定位相から調整位相（φ）分進んだ位相を算出する。また、設定部２８は、指定位相（θ）から調整位相（φ）を減算した位相（θ_２＝Ｐｈ（θ−φ））、つまり、指定位相から調整位相（φ）分遅れた位相を算出する。

そして、設定部２８は、このように算出した２つの位相（θ_１、θ_２）の一方を第１変調信号（Ｓ_１）に割り当て、他方を第２変調信号（Ｓ_２）に割り当てる。なお、図中においては、指定位相（θ）から調整位相（φ）分進んだ位相を第１変調信号（Ｓ_１）に割り当て、指定位相（θ）から調整位相（φ）分遅れた位相を第２変調信号に割り当てた例を示しているが、この逆であってもよい。

図４は、第１変調部２２と第２変調部２４との間の、振幅誤差（ｇ_ｅｒｒ）および位相誤差（θ_ｅｒｒ）のモデルを示す。本実施形態において、測定装置４０は、第２変調部２４と加算部２６との間の経路にミスマッチ成分を含むモデルにおける、振幅誤差（ｇ_ｅｒｒ）および位相誤差（θ_ｅｒｒ）を算出する。なお、測定装置４０は、第１変調部２２と第２変調部２４との間のミスマッチを補正する場合には、第１変調部２２の経路側を補正しても、第２変調部２４の経路側を補正しても、第１変調部２２および第２変調部２４の両者の経路を補正してもよい。

図５は、本実施形態に係る測定装置４０による誤差算出処理のフローを示す。測定装置４０は、図５に示されるフローに従って変調装置１０の振幅誤差および位相誤差を算出する。

まず、ステップＳＴ１１において、測定装置４０は、第１の誤差算出処理を行う。測定装置４０は、第１の誤差算出処理において、第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）のそれぞれの振幅を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる位相差に設定した、４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

そして、測定装置４０は、これら少なくとも４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力に基づき、第１の位相誤差推定値θ_ｃ１、並びに第１の振幅誤差推定値ｇ_ｃ１および第２の振幅誤差推定値ｇ_ｃ２の少なくとも一方を算出する。なお、ステップＳＴ１１のより具体的な算出方法の一例については、図６において更に説明をする。

続いて、ステップＳＴ１２において、測定装置４０は、第１の位相誤差推定値θ_ｃ１、並びに第１の振幅誤差推定値ｇ_ｃ１および第２の振幅誤差推定値ｇ_ｃ２の少なくとも一方を用いて、第２の誤差算出処理を行う。測定装置４０は、第２の誤差算出処理において、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる振幅に設定した、少なくとも３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

そして、測定装置４０は、これら少なくとも３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力に基づき、第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３を算出する。なお、ステップＳＴ１２のより具体的な算出方法の一例については、図７、図８において更に説明をする。

続いて、ステップＳＴ１３において、測定装置４０は、第１の位相誤差推定値θ_ｃ１および第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３を用いて、第３の誤差算出処理を行う。測定装置４０は、第３の誤差算出処理において、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との振幅を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる位相差に設定した、少なくとも３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

そして、測定装置４０は、これら少なくとも３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力に基づき、第２の位相誤差推定値θ_ｃ２を算出する。なお、ステップＳＴ１３のより具体的な算出方法の一例については、図９において更に説明をする。

ステップＳＴ１３の処理が終了すると、測定装置４０は、ステップＳＴ１２およびステップＳＴ１３のループ処理を繰り返す。ループ処理内のステップＳＴ１２およびステップＳＴ１３においては、測定装置４０は、直前の第２の誤差算出処理において算出された第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３および直前の第３の誤差算出処理において算出された第２の位相誤差推定値θ_ｃ２を用いて、誤差算出処理を行う。

これにより、測定装置４０は、振幅誤差推定値および位相誤差推定値を徐々に真値に近づけることができる。そして、測定装置４０は、一例として、ステップＳＴ１２およびステップＳＴ１３のループ回数が基準回数に達した場合、ループを抜ける。これに代えて、測定装置４０は、一例として、第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３および第２の位相誤差推定値θ_ｃ２の値が一定値に収束した場合、ループを抜けてもよい。

そして、測定装置４０は、ループを抜けた時点における、第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３および第２の位相誤差推定値θ_ｃ２を、振幅誤差および位相誤差の算出結果として出力する。なお、ループを抜けるタイミングは、ステップＳＴ１２の後であっても、ステップＳＴ１３の後であってもよい。

以上のように、測定装置４０は、キャリブレーション等において、以上の処理を実行する。これにより、測定装置４０は、変調装置１０における振幅誤差および位相誤差を正確に算出することができる。

なお、測定装置４０は、ステップＳＴ１２とステップＳＴ１３との順序を逆にして処理してもよい。この場合、最初のステップＳＴ１３において、測定装置４０は、ステップＳＴ１１の誤差算出処理において算出された第１の位相誤差推定値θ_ｃ１、並びに第１の振幅誤差推定値ｇ_ｃ１および第２の振幅誤差推定値ｇ_ｃ２の少なくとも一方を用いて、第３の誤差算出処理を行う。また、この場合、最初のステップＳＴ１２において、測定装置４０は、ステップＳＴ１１の誤差算出処理において算出された第１の振幅誤差推定値ｇ_ｃ１および第２の振幅誤差推定値ｇ_ｃ２の少なくとも一方、および、ステップＳＴ１２の誤差算出処理において算出された第２の位相誤差推定値θ_ｃ２を用いて、第２の誤差算出処理を行う。

図６は、第１の誤差算出処理において出力するベクトルの一例を示す。ステップＳＴ１１の第１の誤差算出処理において、測定装置４０の制御部４２、測定部４４および算出部４６は、一例として、以下のような処理を実行する。

まず、制御部４２は、第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を予め定められた同一の値に設定し、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を０°、１８０°、９０°、２７０°に設定した場合における、４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。測定部４４は、これら４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力を測定する。

そして、算出部４６は、４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力に基づき、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との間の位相誤差推定値を算出する。具体的には、算出部４６は、位相差を０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_１、位相差を１８０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_２、位相差を９０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_３、および、位相差を２７０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_４とした場合、下記の式（１１）または式（１２）により第１の位相誤差推定値θ_ｃ１を算出する。

なお、算出部４６は、｜Ｂ｜＞｜Ａ｜の場合には式（１１）により算出し、｜Ｂ｜≦｜Ａ｜の場合には式（１２）により算出する。さらに、式（１１）および式（１２）において、ＡおよびＢは、下記式（１３）および（１４）により表される。

また、算出部４６は、４点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力に基づき、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との間の振幅誤差推定値を算出する。具体的には、算出部４６は、位相差を０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_１、位相差を１８０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_２、位相差を９０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_３、および、位相差を２７０°に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_４とした場合、下記の式（１５）および（１６）により第１の振幅誤差推定値ｇ_ｃ１および第２の振幅誤差推定値ｇ_ｃ２の少なくとも一方を算出する。

なお、式（１５）および式（１６）において、ＤおよびＥは、下記式（１７）により表される。

以上のように、測定装置４０によれば、第１変調信号（Ｓ_１）および第２変調信号（Ｓ_２）のそれぞれの振幅を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる位相差に設定した場合の、４点の信号点の出力信号の電力に基づき、位相誤差および振幅誤差を算出することができる。これにより、測定装置４０は、簡易な測定器により正確に第１変調部２２と第２変調部２４との間の位相誤差および振幅誤差を測定することができる。

続いて、式（１１）および式（１２）により位相誤差を算出することができる理由を、図６を参照して更に説明する。

図６において、Ｑ０は、第１変調信号（Ｓ１）のベクトルを示す。第１変調信号（Ｓ１）の出力端における振幅をｓ_ｔ１と表す。また、第２変調信号（Ｓ２）の出力端における振幅をｓ_ｔ２と表す。

また、図６において、第１変調信号（Ｓ１）の入力端における振幅ｓ_ｆ１は、１に設定される。また、第２変調信号（Ｓ２）の入力端における振幅ｓ_ｆ２は、１に設定される。また、第１変調信号（Ｓ１）の入力端における位相θ_ｆ１は、０°に設定される。そして、第２変調信号（Ｓ２）の入力端における位相θ_ｆ２は、０°、１８０°、９０°、２７０°に設定される。

また、図６において、Ｏ−Ｑ１は、θ_ｆ２＝０°の場合の出力信号のベクトルを示し、振幅がｖ_１である。Ｏ−Ｑ２は、θ_ｆ２＝１８０°の場合の出力信号のベクトルを示し、振幅がｖ_２である。Ｏ−Ｑ３は、θ_ｆ２＝９０°の場合の出力信号のベクトルを示し、振幅がｖ_３である。Ｏ−Ｑ４は、θ_ｆ２＝２７０°の場合の出力信号のベクトルを示し、振幅がｖ_４である。

また、原点Ｏを通り直線Ｑ１−Ｑ２に垂直な線を下ろした場合の交点をＱ１２とする。Ｏ−Ｑ１２の距離をｂ、Ｑ１２−Ｑ０の距離をａと表す。

ここで、図６から式（１０１）〜式（１０５）が導き出される。

式（１０１）〜式（１０４）から、式（１０６）および式（１０７）が導き出される。

式（１０６）および式（１０７）から、第１変調信号（Ｓ１）と第２変調信号（Ｓ２）との位相差θ_ｍ１、θ_ｍ２は、式（１０８）および式（１０９）となる。

従って、位相誤差θ_ｅｒｒの推定値は、下記の式（１１０）のように求められる。

ただし、アークタンジェントは、−９０°から＋９０°の出力範囲であるが、θ_ｃ１は、０°から３６０°の範囲で表される。そこで、以下の式（１１１）および式（１１２）のようにθ_ｃ１を算出すればよい。

なお、｜Ｂ｜＞｜Ａ｜の場合には式（１１１）によりθ_ｃ１が算出され、｜Ｂ｜≦｜Ａ｜の場合には式（１１２）によりθ_ｃ１が算出される。さらに、式（１１１）および式（１１２）において、ＡおよびＢは、下記式（１１３）および（１１４）により表される。

なお、ｖ_１ ^２は、θ_ｆ２＝０°の場合の出力信号の電力ｐ_１を表す。また、ｖ_２ ^２は、θ_ｆ２＝１８０°の場合の出力信号の電力ｐ_２を表す。また、ｖ_３ ^２は、θ_ｆ２＝９０°の場合の出力信号の電力ｐ_３を表す。また、ｖ_４ ^２は、θ_ｆ２＝２７０°の場合の出力信号の電力ｐ_４を表す。

このように、測定装置４０は、式（１１１）および式（１１２）から位相誤差の推定値を算出することができる。さらに、式（１１１）および式（１１２）は、出力信号の振幅が全体にα倍となったとしても、Ａ／ＢまたはＢ／Ａの分子と分母で打ち消し合うので、θ_ｃ１の値が変化しない。従って、測定装置４０は、例えば、測定部４４の測定レベルがオフセットしていても、精度良く位相誤差を算出することができる。

続いて、式（１５）および式（１６）により位相誤差を算出することができる理由を、図６を参照して更に説明する。

式（１０１）、式（１０２）および式（１０５）から、式（１２１）が導き出される。また、式（１０５）、式（１０６）および式（１０７）から、式（１２２）が導き出される。

式（１２１）および式（１２２）から、式（１２３）が導き出される。

式（１２３）の両辺にｓ_ｔ１ ^２を乗算して整理すると、式（１２４）のように表される。

式（１２４）を、ｓ_ｔ１ ^２の２次方程式（ｓ_ｔ１ ^２）^２＋Ｂ×（ｓ_ｔ１ ^２）＋Ｃ＝０と考えると、ＢおよびＣは、式（１２５）のように算出される。

式（１２５）を解の公式に当てはめると、ｓ_ｔ１ ^２は式（１２６）のように算出される。

式（１２６）のｓ_ｔ１ ^２を式（１２１）に代入すると、ｓ_ｔ２ ^２は式（１２７）のように表される。

ここで、ｓ_ｆ１＝ｓ_ｆ２＝１であるので、振幅誤差ｇ_ｅｒｒは、（ｓ_ｔ２／ｓ_ｔ１）と表される。従って、振幅誤差の推定値は、下記の式（１２８）および式（１２９）により算出できる。なお、振幅誤差が１以上の場合と、振幅誤差が１より小さい場合とで別個に算出し、振幅誤差が１以上の場合の推定値をｇ_ｃ１と表し、振幅誤差が１より小さい場合の推定値をｇ_ｃ２と表す。

なお、式（１２８）および式（１２９）において、ＤおよびＥは、下記式（１３０）により表される。

このように、測定装置４０は、式（１２８）および式（１２９）に基づき振幅誤差の推定値を算出することができる。さらに、式（１２８）および式（１２９）は、出力信号の振幅が全体にα倍となったとしても、Ｄ／Ｅの分子と分母で打ち消し合うので、ｇ_ｃ１およびｇ_ｃ２の値が変化しない。従って、測定装置４０は、例えば、測定部４４の測定レベルがオフセットしていても、精度良く振幅誤差を算出することができる。

図７は、第２の誤差算出処理において出力するベクトルの一例を示す。図８は、図７の原点付近を拡大した図を示す。ステップＳＴ１２の第２の誤差算出処理において、測定装置４０の制御部４２、測定部４４および算出部４６は、一例として、以下のような処理を実行する。

まず、制御部４２は、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）に設定し、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅を予め定められた値に設定し、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を第１の変調信号の振幅に対して１倍、１＋Δｖｆ倍および１−Δｖｆ倍に設定した場合における、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

なお、Δｖｆは、本実施形態においては（１／ｇ_ｃ１）−１または（１／ｇ_ｃ２）−１を表す。Δｖｆは、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅の１倍よりも十分に小さい予め定められた微小振幅であれば、（１／ｇ_ｃ１）−１および（１／ｇ_ｃ２）−１に限らず他の値であってもよい。また、θ_ｃ１は、ステップＳＴ１１において算出した第１の位相誤差推定値である。ｇ_ｃ１は、ステップＳＴ１１において算出した第１の振幅誤差推定値である。ｇ_ｃ２は、ステップＳＴ１１において算出した第２の振幅誤差推定値である。

測定部４４は、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力を測定する。算出部４６は、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力に基づき、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との間の第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３を算出する。具体的には、算出部４６は、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を１倍に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_０、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を１＋Δｖｆ倍に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_１、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を１−Δｖｆ倍に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_２とした場合、下記の式（１８）により第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３を算出する。

以上のように、測定装置４０によれば、位相誤差および振幅誤差がある程度補正された状態において、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅をΔｖｆ単位でずらした３点の出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力に基づき、振幅誤差を測定することができる。これにより、測定装置４０は、簡易な測定器により正確に第１変調部２２と第２変調部２４との間の振幅誤差を測定することができる。

なお、ループ内のステップＳＴ１２の処理、即ち、２回目以降のステップＳＴ１２の処理においては、制御部４２は、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を（−θ_ｃ２＋１８０°）に設定し、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅を予め定められた値に設定し、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を第１変調信号（Ｓ_１）の振幅に対して１倍、１＋Δｖｆ倍および１−Δｖｆ倍に設定した場合における、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

この場合、Δｖｆは本実施形態においては（１／ｇ_ｃ３）−１を表す。なお、Δｖｆは、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅の１倍よりも十分に小さい予め定められた微小振幅であれば、（１／ｇ_ｃ３）−１に限らず他の値であってもよい。また、θ_ｃ２は、直前のステップＳＴ１３において算出した第２の位相誤差推定値である。ｇ_ｃ３は、直前のステップＳＴ１２において算出した第３の振幅誤差推定値である。

また、ステップＳＴ１２およびステップＳＴ１３の処理を逆に行う場合、最初のステップＳＴ１２の処理において、制御部４２は、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を（−θ_ｃ２＋１８０°）に設定し、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅を予め定められた値に設定し、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を第１変調信号（Ｓ_１）の振幅に対して１倍、１＋Δｖｆ倍および１−Δｖｆ倍に設定した場合における、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

この場合、Δｖｆは（１／ｇ_ｃ１）−１または（１／ｇ_ｃ２）−１を表す。なお、Δｖｆは、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅の１倍よりも十分に小さい予め定められた微小振幅であれば、（１／ｇ_ｃ１）−１または（１／ｇ_ｃ２）−１に限らず他の値であってもよい。また、θ_ｃ２は、直前のステップＳＴ１３において算出した第２の位相誤差推定値である。

続いて、式（１８）により振幅誤差を算出することができる理由を、図８を参照して更に説明する。

図８において、第１変調信号（Ｓ１）の出力端における振幅をｓ_ｔ１と表す。また、第２変調信号（Ｓ２）の出力端における振幅をｓ_ｔ２と表す。

図８において、第１変調信号（Ｓ１）の入力端における位相θ_ｆ１は、０°に設定されている。また、第２変調信号（Ｓ２）の入力端における位相θ_ｆ２は、−θ_ｃ１＋１８０°に設定されている。

また、図８において、第１変調信号（Ｓ１）の入力端における振幅ｓ_ｆ１は、１に設定されている。また、第２変調信号（Ｓ２）の入力端における振幅ｓ_ｆ２は、１、１＋Δｖｆ、１−Δｖｆに設定されている。なお、Δｖｆは、（１／ｇ_ｃ１）−１または（１／ｇ_ｃ２）を表す。Δｖｆは、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅の１倍よりも十分に小さい予め定められた微小振幅であれば、（１／ｇ_ｃ１）−１または（１／ｇ_ｃ２）に限らず他の値であってもよい。

また、図８において、Ｏ−Ｑ０は、ｓ_ｆ２＝１の場合の出力信号のベクトルを示し、振幅はｖ_０である。Ｏ−Ｑ１は、ｓ_ｆ２＝１＋Δｖｆの場合の出力信号のベクトルを示し、振幅はｖ_１である。Ｏ−Ｑ２は、ｓ_ｆ２＝１−Δｖｆの場合の出力信号のベクトルを示し、振幅はｖ_２である。

また、Ｑ０−Ｑ１の間の距離をΔｖｔと表す。また、Ｑ０−Ｑ２の間の距離を−Δｖｔと表す。原点Ｏを通り直線Ｑ１−Ｑ２に垂直な線を下ろした場合の交点をＱ１１とする。Ｏ−Ｑ１１の距離をａ、Ｑ１１−Ｑ０の距離をｂと表す。

ここで、図８から、式（２０１）、式（２０２）および式（２０３）が導き出される。

式（２０１）〜式（２０３）から式（２０４）および式（２０５）が導き出される。

式（２０４）〜式（２０５）から式（２０６）が導き出される。

ここで、振幅誤差ｇ_ｅｒｒは、Δｖｔ／Δｖｆと表される。また、第２変調信号（Ｓ２）の出力端における振幅ｓ_ｔ２は、ｇｂ×ｓ_ｆ２と表される。また、第１変調信号（Ｓ１）の出力端における振幅ｓ_ｔ１および第２変調信号（Ｓ２）の出力端における振幅ｓ_ｔ２の関係は、ｓ_ｔ１＝ｓ_ｔ２−ｂとなる。

そして、出力端での振幅を一致させるように（即ち、ｓ_ｔ１＝ｓ_ｔ２′）、第２変調信号（Ｓ２）に対して設定する振幅をｓ_ｆ２′に変更したとする。この場合、ｓ_ｆ２′は、下記式（２０７）のように表される。

従って、ｓ_ｆ１＝ｓ_ｆ２＝１であるので、振幅誤差の推定値ｇ_ｃ３は、以下の式（２０８）のように算出される。

なお、ｖ_０ ^２は、ｓ_ｆ２＝１の場合の出力信号の電力ｐ_０を表す。また、ｖ_１ ^２は、ｓ_ｆ２＝１＋Δｖｆの場合の出力信号の電力ｐ_１を表す。また、ｖ_２ ^２は、ｓ_ｆ２＝１−Δｖｆの場合の出力信号の電力ｐ_２を表す。

このように測定装置４０は、式（２０８）に基づき振幅誤差の推定値を算出することができる。さらに、式（２０８）は、出力信号の振幅が全体にα倍となったとしても、ｓ_ｆ１／ｓ_ｆ２′の分子と分母で打ち消し合うので、ｇ_ｃ３の値が変化しない。従って、測定装置４０は、例えば、測定部４４の測定レベルがオフセットしていても、精度良く振幅誤差を算出することができる。

図９は、第３の誤差算出処理において出力するベクトルの一例を示す。ステップＳＴ１３の第３の誤差算出処理において、測定装置４０の制御部４２、測定部４４および算出部４６は、一例として、以下のような処理を実行する。

まず、制御部４２は、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅を予め定められた値に設定し、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を第１変調信号（Ｓ_１）の振幅に対して（１／ｇ_ｃ３）倍に設定し、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）、（−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°）および（−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°）に設定した場合における、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

なお、Δθは、予め定められた微小角度（例えば１度）を表す。また、θ_ｃ１は、ステップＳＴ１１において算出した第１の位相誤差推定値である。ｇ_ｃ３は、ステップＳＴ１２において算出した第３の振幅誤差推定値である。

測定部４４は、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力を測定する。算出部４６は、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）のそれぞれの電力に基づき、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との間の第２の位相誤差推定値θ_ｃ２を算出する。具体的には、算出部４６は、位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_０、位相差を（−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°）に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_１、位相差を（−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°）に設定して出力される出力信号（Ｓｏｕｔ）の電力をｐ_２とした場合、下記の式（１９）により第２の位相誤差推定値θ_ｃ２を算出する。

なお、ループ内のステップＳＴ１３の処理においては、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅を予め定められた値に設定し、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を第１変調信号（Ｓ_１）の振幅に対して（１／ｇ_ｃ３）倍に設定し、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を（−θ_ｃ２＋１８０°）、（−θ_ｃ２＋Δθ＋１８０°）および（−θ_ｃ２−Δθ＋１８０°）に設定した場合における、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。

この場合、θ_ｃ２は、直前のステップＳＴ１３において算出した第２の位相誤差推定値である。ｇ_ｃ３は、直前のステップＳＴ１２において算出した第３の振幅誤差推定値である。

また、ステップＳＴ１２およびステップＳＴ１３の処理を逆に行う場合、最初のステップＳＴ１３の処理において、制御部４２は、第１変調信号（Ｓ_１）の振幅を予め定められた値に設定し、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を第１変調信号（Ｓ_１）に対して１倍に設定し、第１変調信号（Ｓ_１）と第２変調信号（Ｓ_２）との位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）、（−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°）および（−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°）に設定した、３点の信号点の出力信号（Ｓｏｕｔ）を出力させる。なお、θ_ｃ１は、ステップＳＴ１１において算出した第１の位相誤差推定値である。

また、この場合、制御部４２は、第２変調信号（Ｓ_２）の振幅を第１変調信号（Ｓ_１）に対して、（１／ｇ_ｃ１）倍、（１／ｇ_ｃ２）倍、または任意の値に設定してもよい。ｇ_ｃ１は、ステップＳＴ１１において算出した第１の振幅誤差推定値である。ｇ_ｃ２は、ステップＳＴ１１において算出した第２の振幅誤差推定値である。

続いて、式（１９）により位相誤差を算出することができる理由を、図９を参照して更に説明する。

図９において、第１変調信号（Ｓ１）の出力端における振幅をｓ_ｔ１と表す。また、第２変調信号（Ｓ２）の出力端における振幅をｓ_ｔ２と表す。

また、図９において、第１変調信号（Ｓ１）の入力端における振幅ｓ_ｆ１は、１に設定されている。また、第２変調信号（Ｓ２）の入力端における振幅ｓ_ｆ２は、１／ｇ_ｃ３に設定されている。

図９において、第１変調信号（Ｓ１）の入力端における位相θ_ｆ１は、０°に設定されている。また、第２変調信号（Ｓ２）の入力端における位相θ_ｆ２は、−θ_ｃ１＋１８０°、−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°、−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°に設定されている。なお、Δθは、微小な角度、例えば１°程度の角度である。

図９において、Ｏ−Ｑ０は、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１＋１８０°の場合の出力信号のベクトル、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°の場合の出力信号のベクトル、または、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°の場合の出力信号のベクトルの何れかを示す。また、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１＋１８０°の場合の出力信号のベクトルの振幅はｖ_０である。また、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°の場合の出力信号のベクトルの振幅はｖ_１である。また、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°の場合の出力信号のベクトルの振幅はｖ_２である。

また、Ｏ−Ｑ１２は、第１変調信号（Ｓ１）の出力端におけるベクトルを表す。Ｏ−Ｑ１３は、第１変調信号（Ｓ１）の出力端におけるベクトルをｓ_ｔ１＋ｓ_ｔ２の長さにしたベクトルを表す。

また、Ｑ０を通る直線Ｑ０−Ｑ１３に垂直な線の、Ｘ軸との交点をＱ１４とする。Ｑ０−Ｑ１４の間の距離をａ_０、Ｑ０−Ｑ１３の間の距離をｂ_０と表す。

また、原点Ｏを通り直線Ｑ０−Ｑ１３の延長線上に垂直な線を下ろした場合の交点をＱ１１とする。Ｏ−Ｑ１１の間の距離をｃ_０、Ｑ１１−Ｑ０の間の距離をｄ_０と表す。

ここで、図９から、下記の式（３０１）および式（３０２）が導き出される。

なお、θ＝θ_ｅｒｒ−θ_ｃ１である。式（３０１）および式（３０２）においては、θ＝θ_ｅｒｒ−θ_ｃ１≒０として、ｓｉｎ（θ）≒θと近似している。また、式（３０１）および式（３０２）から、式（３０３）が導き出される。

Ｑ０−Ｑ１３−Ｑ１４の三角形およびＱ１１−Ｏ−Ｑ１４の三角形は相似形であるので、式（３０４）および式（３０５）が導き出される。

式（３０３）および式（３０５）から、式（３０６）が導き出される。

式（３０４）および式（３０６）から、式（３０７）が導き出される。

同様に、θ_ｆ２をθ＋Δθおよびθ−Δθに設定した場合について算出する。式（３０７）のθを、θ＋Δθおよびθ−Δθに置き換えると、式（３０８）のように算出される。

式（３０７）および式（３０８）から、式（３０９）および式（３１０）が導き出される。

式（３０９）および式（３１０）から、θとΔθの比は、下記の式（３１１）のように算出される。

θ_ｅｒｒ−θ_ｃ１＝θであるので、θ_ｅｒｒの推定値θ_ｃ２は下記の式（３１２）のように算出される。

なお、ｖ_０ ^２は、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１＋１８０°の場合の出力信号の電力ｐ_０を表す。また、ｖ_１ ^２は、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°の場合の出力信号の電力ｐ_１を表す。また、ｖ_２ ^２は、θ_ｆ２＝−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°の場合の出力信号の電力ｐ_２を表す。

このように測定装置４０は、式（３１２）に基づき位相誤差の推定値を算出することができる。さらに、式（３１２）は、出力信号の振幅が全体にα倍となったとしても、Δθが乗算されている項の分子と分母で打ち消し合うので、θ_ｃ２の値が変化しない。従って、測定装置４０は、例えば、測定部４４の測定レベルがオフセットしていても、精度良く振幅誤差を算出することができる。

図１０は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。

ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。

入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。

また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム、及び／又は、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０を入出力コントローラ２０８４へと接続すると共に、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ２０８４へと接続する。

ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。

このようなプログラムは、コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を測定装置４０に備えられる算出部４６として機能させる。

これらのプログラムに記述された情報処理は、コンピュータ１９００に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である測定装置４０に備えられる算出部４６として機能する。そして、これらの具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ１９００の使用目的に応じた情報の演算又は加工を実現することにより、使用目的に応じた特有の算出部４６が構築される。

一例として、コンピュータ１９００と外部の装置等との間で通信を行う場合には、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス２０３０に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス２０３０は、ＣＰＵ２０００の制御を受けて、ＲＡＭ２０２０、ハードディスクドライブ２０４０、フレキシブルディスク２０９０、又はＣＤ−ＲＯＭ２０９５等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス２０３０は、ＤＭＡ（ダイレクト・メモリ・アクセス）方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、ＣＰＵ２０００が転送元の記憶装置又は通信インターフェイス２０３０からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス２０３０又は記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。

また、ＣＰＵ２０００は、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０（ＣＤ−ＲＯＭ２０９５）、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０（フレキシブルディスク２０９０）等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をＤＭＡ転送等によりＲＡＭ２０２０へと読み込ませ、ＲＡＭ２０２０上のデータに対して各種の処理を行う。そして、ＣＰＵ２０００は、処理を終えたデータを、ＤＭＡ転送等により外部記憶装置へと書き戻す。このような処理において、ＲＡＭ２０２０は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはＲＡＭ２０２０および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはＲＡＭ２０２０の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもＲＡＭ２０２０、メモリ、及び／又は記憶装置に含まれるものとする。

また、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索・置換等を含む各種の処理を行い、ＲＡＭ２０２０へと書き戻す。例えば、ＣＰＵ２０００は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合（又は不成立であった場合）に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。

また、ＣＰＵ２０００は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第１属性の属性値に対し第２属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、ＣＰＵ２０００は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第１属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第２属性の属性値を読み出すことにより、所定の条件を満たす第１属性に対応付けられた第２属性の属性値を得ることができる。

また、特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。

以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤ又はＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワーク又はインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。

１０ 変調装置
２０ 周期信号発生部
２２ 第１変調部
２４ 第２変調部
２６ 加算部
２８ 設定部
４０ 測定装置
４２ 制御部
４４ 測定部
４６ 算出部
１９００ コンピュータ
２０００ ＣＰＵ
２０１０ ＲＯＭ
２０２０ ＲＡＭ
２０３０ 通信インターフェイス
２０４０ ハードディスクドライブ
２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ
２０６０ ＣＤ−ＲＯＭドライブ
２０７０ 入出力チップ
２０７５ グラフィック・コントローラ
２０８０ 表示装置
２０８２ ホスト・コントローラ
２０８４ 入出力コントローラ
２０９０ フレキシブルディスク
２０９５ ＣＤ−ＲＯＭ

Claims (16)

1. 第１変調部から出力された第１変調信号と第２変調部から出力された第２変調信号とを加算した出力信号を出力する変調装置が有する誤差を測定する測定装置であって、
   前記変調装置から互いに異なる少なくとも３点の信号点の出力信号を出力させる制御部と、
   前記少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定する測定部と、
   前記少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の振幅誤差および位相誤差の少なくとも一方を算出する算出部と、
   を備える測定装置。
2. 前記変調装置は、指定振幅および指定位相に応じた出力信号を出力するＬＩＮＣ変調装置である
   請求項１に記載の測定装置。
3. 前記制御部は、前記第１変調信号および前記第２変調信号のそれぞれの振幅を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる位相差に設定した、少なくとも４点の信号点の出力信号を出力させる
   請求項１または２に記載の測定装置。
4. 前記制御部は、前記第１変調信号および前記第２変調信号の振幅を予め定められた同一の値に設定し、前記第１変調信号と前記第２変調信号との位相差を０°、１８０°、９０°、２７０°に設定した場合における、４点の信号点の出力信号を出力させ、
   前記測定部は、前記４点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定し、
   前記算出部は、前記４点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の振幅誤差推定値および位相誤差推定値を算出する
   請求項３に記載の測定装置。
5. 前記算出部は、位相差を０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_１、位相差を１８０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_２、位相差を９０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_３、および、位相差を２７０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_４とした場合、下記の式（１１）または（１２）により第１の位相誤差推定値θ_ｃ１を算出する
   請求項４に記載の測定装置。
   

   

   なお、前記算出部は、｜Ｂ｜＞｜Ａ｜の場合には式（１１）により算出し、｜Ｂ｜≦｜Ａ｜の場合には式（１２）により算出する。さらに、式（１１）および式（１２）において、ＡおよびＢは、下記式（１３）および（１４）により表される。
   

   
6. 前記算出部は、位相差を０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_１、位相差を１８０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_２、位相差を９０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_３、および、位相差を２７０°に設定して出力される出力信号の電力をｐ_４とした場合、下記の式（１５）および（１６）により第１の振幅誤差推定値ｇ_ｃ１および第２の振幅誤差推定値ｇ_ｃ２の少なくとも一方を算出する
   請求項４または５に記載の測定装置。
   

   

   なお、式（１５）および式（１６）において、ＤおよびＥは、下記式（１７）により表される。
   

   
7. 前記制御部は、前記第１変調信号と前記第２変調信号との位相差を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる振幅に設定した、少なくとも３点の信号点の出力信号を出力させる
   請求項１または２に記載の測定装置。
8. 前記制御部は、前記第１変調信号と前記第２変調信号との振幅を予め定められた値に設定し、且つ、互いに異なる位相差に設定した、少なくとも３点の信号点の出力信号を出力させる
   請求項１または２に記載の測定装置。
9. 前記制御部は、前記第１変調信号と前記第２変調信号との位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）に設定し、前記第１変調信号の振幅を予め定められた値に設定し、前記第２変調信号の振幅を前記第１変調信号の振幅に対して１倍、１＋Δｖｆ倍（Δｖｆは１より小さい予め定められた微小振幅を表す）および１−Δｖｆ倍に設定した場合における、３点の信号点の出力信号を出力させ、
   前記測定部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定し、
   前記算出部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の第３の振幅誤差推定値を算出する
   請求項４から６の何れかに記載の測定装置。
10. 前記算出部は、前記第２変調信号の振幅を１倍に設定して出力される出力信号の電力をｐ_０、前記第２変調信号の振幅を１＋Δｖｆ倍に設定して出力される出力信号の電力をｐ_１、前記第２変調信号の振幅を１−Δｖｆ倍に設定して出力される出力信号の電力をｐ_２とした場合、下記の式（１８）により第３の振幅誤差推定値ｇ_ｃ３を算出する
    請求項９に記載の測定装置。
    

    
11. 前記制御部は、前記第１変調信号の振幅を予め定められた値に設定し、前記第２変調信号の振幅を前記第１変調信号の振幅に対して（１／ｇ_ｃ３）倍に設定し、前記第１変調信号と前記第２変調信号との位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）、（−θ_ｃ１＋Δθ（Δθは予め定められた微小角度を表す）＋１８０°）および（−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°）に設定した、３点の信号点の出力信号を出力させ、
    前記測定部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定し、
    前記算出部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の第２の位相誤差推定値を算出する
    請求項１０に記載の測定装置。
12. 前記制御部は、前記第１変調信号の振幅を予め定められた値に設定し、前記第２変調信号の振幅を前記第１変調信号に対して（１／ｇ_ｃ１）倍または（１／ｇ_ｃ２）倍に設定し、前記第１変調信号と前記第２変調信号との位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）、（−θ_ｃ１＋Δθ（Δθは予め定められた微小角度を表す）＋１８０°）および（−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°）に設定した場合における、３点の信号点の出力信号を出力させ、
    前記測定部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定し、
    前記算出部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の第２の位相誤差推定値を算出する
    請求項６に記載の測定装置。
13. 前記算出部は、位相差を（−θ_ｃ１＋１８０°）に設定して出力される出力信号の電力をｐ_０、位相差を（−θ_ｃ１＋Δθ＋１８０°）に設定して出力される出力信号の電力をｐ_１、位相差を（−θ_ｃ１−Δθ＋１８０°）に設定して出力される出力信号の電力をｐ_２とした場合、下記の式（１９）により第２の位相誤差推定値θ_ｃ２を算出する
    請求項１１または１２に記載の測定装置。
    

    
14. 前記制御部は、前記第１変調信号と前記第２変調信号との位相差を（−θ_ｃ２＋１８０°）に設定し、前記第１変調信号の振幅を予め定められた値に設定し、前記第２変調信号の振幅を前記第１変調信号の振幅に対して１倍、１＋Δｖｆ倍（Δｖｆは１より小さい予め定められた微小振幅を表す）および１−Δｖｆ倍に設定した場合における、３点の信号点の出力信号を出力させ、
    前記測定部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定し、
    前記算出部は、前記３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の第３の振幅誤差推定値を算出する
    請求項１３に記載の測定装置。
15. 請求項１から１４の何れかに記載の測定装置に備えられる前記算出部として、コンピュータを機能させるプログラム。
16. 第１変調部から出力された第１変調信号と第２変調部から出力された第２変調信号とを加算した出力信号を出力する変調装置が有する誤差を測定する測定方法であって、
    前記変調装置から互いに異なる少なくとも３点の信号点の出力信号を出力させ、
    前記少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力を測定し、
    前記少なくとも３点の信号点の出力信号のそれぞれの電力に基づき、前記第１変調信号と前記第２変調信号との間の振幅誤差および位相誤差の少なくとも一方を算出する
    測定方法。

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