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JP2011199036A - 固体撮像装置及びその製造方法 - Google Patents

固体撮像装置及びその製造方法 Download PDF

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JP2011199036A
JP2011199036A JP2010064737A JP2010064737A JP2011199036A JP 2011199036 A JP2011199036 A JP 2011199036A JP 2010064737 A JP2010064737 A JP 2010064737A JP 2010064737 A JP2010064737 A JP 2010064737A JP 2011199036 A JP2011199036 A JP 2011199036A
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Atsuko Kawasaki
敦子 川崎
Mie Matsuo
美恵 松尾
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Abstract

【課題】製造装置に改良を加えることなく製品の小型化を可能とする固体撮像装置及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】基板1と、前記基板1の一方の面上に設けられた透明支持基体3と、前記基板1の前記一方の面上に形成され、該基板と前記透明支持基体3とを固定する接着剤5と、前記透明支持基体3上であって、該透明支持基体3を介して、前記接着剤5と相対する領域に形成された第1導電層2と、前記基板1の他方の面上に配置された外部端子7と、前記基板1内に形成され、前記外部端子7に接続された第2導電層6とを具備する。
【選択図】図2

Description

本発明は、固体撮像装置及びその製造方法に関する。
近年、小型化に伴い、電子機器に搭載される半導体デバイスの高集積化・小型化の必要性が生じていた。このため、半導体デバイスを形成し、出力端子の形成や外部機器と接続する配線などを行った後に、ウェハを切り出すWLCSP(Wafer Level Chip Scale Package)が実用化されてきた。このWLCSPにおいて、外部機器と接続するリード線に代えて、半導体チップの表面を反転し、その面に金属マイクロバンプを設け、その金属マイクロバンプと外部機器(基板)とを接続するフリップチップ接合が採用されている。
また、半導体チップを搭載するためのシリコンウェハに貫通電極を設け、その半導体チップを多層に積層する積層型パッケージ(マルチチップパッケージ)も開発されている。そしてシリコンウェハに貫通電極を形成する際には、半導体チップにシリコン支持基板を接着させ、そのシリコン支持基板を静電チャックで固定することで、貫通電極を形成していた。
そこで、光学素子を搭載した半導体デバイスにおいて、上記のようにシリコンウェハレベルで外部機器と接続する配線(ワイヤボンディング)に代えて貫通電極を実装しようとすると、その貫通孔を例えばドライエッチングを用いて形成する際に半導体デバイスを固定する必要性が生じる。光学素子を搭載した半導体デバイスを固定しようとすると、その半導体デバイスを固定する支持基板にシリコン材を用いることが出来ず、透明ガラス素材を用いる必要性が生じる(非特許文献1参照)。
しかしガラス素材はAl、B、Caなどの金属が配合されているが非導電性であるため、静電チャックを用いて光学素子を搭載した半導体デバイスを固定できず、ウェハレベルでの処理、すなわち貫通電極の形成や、個片化などの際に正確さを欠くといった問題があった。
International Electron Devices Meeting 1999: Technical Digest, WASHINGTON DC DECEMBER 5-8, pp.879-882
本発明は、製造装置に改良を加えることなく製品の小型化を可能とする固体撮像装置及びその製造方法を提供する。
この発明の一態様に係る固体撮像装置は、半導体基板と、前記半導体基板の一方の面上に設けられた透明支持基体と、前記半導体基板の前記一方の面上に形成され、該半導体基板と前記透明支持基体とを固定する接着剤と、前記透明支持基体上であって、該透明支持基体を介して、前記接着剤と相対する領域に形成された第1導電層と、前記半導体基板の他方の面上に配置された外部端子と、前記半導体基板内に形成され、前記外部端子に接続された第2導電層とを具備する。
また、この発明の一態様に係る固体撮像装置の製造方法は、半導体基板の表面内に撮像素子を形成する工程と、前記半導体基板の前記表面上に接着剤を形成する工程と、前記半導体基板上に透明支持基体を前記接着剤により接着する工程と、前記透明支持基体上であって、該透明支持基体に対し前記接着剤と相対する領域に第1導電層を形成する工程と、前記半導体基板の裏面側から該半導体基板内に向かって貫通孔を形成する工程と、前記貫通孔に第2導電層を埋め込む工程と、前記第2導電層と電気的に接続される外部端子を前記半導体基板の裏面に形成する工程とを具備する。
本発明によれば、製造装置に改良を加えることなく製品の小型化を可能とする固体撮像装置を提供できる。
本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置におけるシリコン基板を示す平面図。 図1の2−2方向に沿った断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第1の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第2の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第3の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第4の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第5の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第6の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第7の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第8の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第9の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置の第10の製造工程を示す断面図。 本発明の第1の実施形態に係るカメラモジュールの断面図。 本発明の第1の実施形態に係る導電層の製造工程を示す断面図。 本発明の変形例に係る固体撮像装置におけるシリコン基板を示す平面図。 本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置におけるシリコン基板を示す平面図。 図17の18−18方向に沿った断面図。 本発明の第3の実施形態に係る固体撮像装置における断面図。 本発明の第3の実施形態に係るカメラモジュールの断面図。 本発明の第3の実施形態の第1変形例に係るカメラモジュールの断面図。 本発明の第3の実施形態の第2変形例に係るカメラモジュールの断面図。 本発明の第3の実施形態の第3変形例に係るカメラモジュールの断面図。 本発明の第3の実施形態の第4変形例に係るカメラモジュールの断面図。 本発明の第4の実施形態に係る固体撮像装置における第1の製造工程を示す断面図。 本発明の第4の実施形態に係る固体撮像装置における第2の製造工程を示す断面図。 本発明の第4の実施形態に係る固体撮像装置における第3の製造工程を示す断面図。 本発明の第4の実施形態に係るカメラモジュールの断面図。 本発明の第4の実施形態の変形例に係る固体撮像装置における断面図。
以下、この発明の実施形態につき図面を参照して説明する。この説明に際し、全図にわたり、共通する部分には共通する参照符号を付す。
[第1の実施形態]
この発明の第1の実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法について図1〜図13を用いて説明する。まず図1から説明する。図1はシリコン基板1(撮像素子チップ)上に形成された複数の撮像素子(図示せず)を導電層2側から見た平面図である。つまり、図1に示すシリコン基板1を所定の位置で第1方向及び第2方向に沿ってダイシング(切断)することで撮像素子が個片化され、更にこの個片化された撮像素子に所定の工程を経た結果、例えば携帯電話などに搭載するカメラモジュールが形成される。シリコン基板1表面上には図示せぬ撮像素子4が形成され、そして、後述する例えばガラスなどの透明支持基板3(以下、ガラス基板3と呼ぶ)を介して図示する導電層2が形成される。
図1に平面図における領域Aの拡大図を示す。図示するように、シリコン基板1上には導電層2が形成されない領域(図中、参照符号3)が網目状に形成される。つまり、導電層2が形成されない領域は、その導電層2の直下に形成されているガラス基板3が露出されることになる。つまり、この露出したガラス基板3に光が入射し、この入射した光を撮像素子が受光する。
次に、図2に上記図1の2−2線に沿った断面図を示す。図示するようにシリコン基板1の裏面側に、半田ボール7が配置される。そして撮像素子4で光を受光しその後光電変換により得られた電気信号が、半田ボール7により図示せぬホスト機器に出力される。
また、シリコン基板1内には導電層6(貫通電極6と呼ぶことがある)が形成される。導電層6は、撮像素子4で受光した光を光電変換することにより得られた電気信号を、半田ボール7に転送する。そしてシリコン基板1表面内には複数の撮像素子4が形成される。この撮像素子4は、フォトダイオードPD、マイクロレンズ、及び読み出しトランジスタなどを備える。フォトダイオードPDは、例えばシリコン基板1表面内に形成されたn型拡散層などで形成され、光を受光することによりシリコン基板1内で発生した電子を蓄積する。そしてマイクロレンズは、ガラス基板3から来た光をフォトダイオードPDに集光させる。そして読み出しトランジスタは、その拡散層に蓄積した電子を読みだす機能を備える。この撮像素子4はシリコン基板1表面内にマトリクス状に形成される。
またシリコン基板1上には、この撮像素子4が形成されない領域に接着剤5が形成される。つまり、接着剤5は、シリコン基板1上に形成された撮像素子4を離隔するように複数個所形成される。言い換えれば、撮像素子4はこの接着剤5によって囲まれるように形成される。シリコン基板1上には、この接着剤5を介してガラス基板3が接着される。このガラス基板3は、シリコン基板1裏面の処理を行う際に、そのシリコン基板1を固定する支持基板の役目を担う。具体的には、後述するシリコン基板1に貫通孔を設ける際などに、そのシリコン基板1を固定する支持基板の役目を担う。この支持基板はカメラモジュールの一部を構成し、且つ撮像素子4が光を受光できるよう透明である必要がある。このことから、本実施形態ではその材料にガラスを採用している。このガラス基板3上には上述した複数の導電層2が形成される。これら導電層2は、接着剤5の真上に形成される。換言すればこれら導電層2は、ガラス基板3に対し、シリコン基板1とガラス基板3とを接着する接着剤5に相対する領域に形成される。つまり、ガラス基板3に対し、シリコン基板1の表面内に形成された撮像素子4に相対する領域は露出することになる。これにより、導電層2側から入射する光がガラス基板3を透過し、撮像素子4で受光可能とされる。
<製造工程>
次に、上記固体撮像装置の製造方法について図3〜図13を用いて説明する。まず、図3に示すようにガラス基板3上に、例えばスパッタ法または蒸着法によって導電層2を形成し、その導電層2上にレジスト膜10を形成する。導電層2は、Al、Ti、Ni、Pt、Au、Cu、Crなどの金属で形成される。そして、図4に示すように、レジスト膜10及び導電層2に対し所定のパターニングを行い、その後例えばエッチングなどを行う。これにより、ガラス基板3の表面が露出する。このとき、形成される導電層2及びレジスト膜10の幅をW0とする。そして、図5に示すように導電層2上に残存したレジスト膜10を、例えばエッチング等を施すことで除去する。
次に、図6に示すように、シリコン基板1上に撮像素子4を周知の手法にて形成する。上述したように、この撮像素子4には、n型拡散層、マイクロレンズ、及び読み出しトランジスタなどが含まれる。そして、図7に示すようにこの撮像素子4が形成されないシリコン基板1の領域に感光性、または非感光性いずれかの接着剤5を形成する。具体的には、接着剤5に感光性を有する材料を用いる場合、その接着剤5をスピンコートまたなラミネートなどによりシリコン基板1上に成膜し、撮像素子4が形成された領域に成膜された接着剤5を露光、現像により除去する。そして接着剤5に非感光性を有する材料を用いる場合、撮像素子4が形成される領域以外にシルクスクリーン印刷、またはインクジェット印刷などの方法でその接着剤5をシリコン基板1上に印刷する。なお、この接着剤5は感光性または非感光性を有したエポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、またはシリコーン樹脂のいずれかあるいはその混合物である。
次に図8に示すように、上記図5に示す導電層2が形成されたガラス基板3と図7に示すシリコン基板1とを接着剤5によって接着させる。具体的には、ガラス基板3の底面と、シリコン基板1の撮像素子4形成面とを、接着剤5によって接着する。以下ガラス基板3とシリコン基板1とが接着された状態を固体撮像装置と呼ぶ。
そして、図9に示すように、図8に示すシリコン基板1の底面が上面側に、そして導電層2が下面側とされるように固体撮像装置を180度反転させる。そして、図9に示すようにシリコン基板1が上側とされた状態で、例えばBG(Backside Grinding)法等によりシリコン基板1を研磨し、その厚みを100μm程度にまで薄くする。これにより、このシリコン基板1内に貫通孔が形成しやすくなる。
次に、図10に示すように、例えば異方性エッチング等を用いて、シリコン基板1裏面側から表面側に向かって貫通孔11を形成する。この異方性エッチングは、撮像素子4を構成する配線層(図示せず)をストッパーとして行なわれる。つまり、貫通孔11の底面は、図示せぬ配線層にまで達する。またこの配線層は、フォトダイオードPDで光電変換された電気信号を半田ボール7に伝送するための配線であり、例えばAl、AlCu、AlSiCu、Cuなどで形成される。なお、異方性エッチングの他、ウェットエッチング、レーザー、マイクロドリルなどの方法で貫通孔11を形成してもよい。異方性エッチングにおいて静電チャックを用いてこの固体撮像装置を固定する。つまり、図示せぬ吸着ステージの表面に正・負の電荷を発生させ、この電荷間に働く静電気力によって導電層2をこの吸着ステージに固定させる。
次に、貫通孔11の表面に、例えばCVD(Chemical Vapor Deposition)法で図示せぬ絶縁膜を形成した後、この貫通孔11の底部に積層された絶縁膜を、例えばエッチングなどで除去する。そして、図11に示すように、この貫通孔11を、例えばスパッタ法などを用いて導電層6により埋め込む。その後、シリコン基板1の裏面上に半田ボール7を配置する。これにより、図2に示す固体撮像装置が形成される。なお、貫通孔11に埋設させる導電層6は、スパッタ法の他、蒸着、CVD、またはめっきなどの方法を用いてもよい。
次に、シリコン基板1を固定したままの状態で、図12に示す破線の位置で、シリコン基板1をダイシングする。これにより、シリコン基板1上に複数形成された撮像素子4は個片化され、これら撮像素子4に所定の工程を加えることで図13に示すカメラモジュールが形成される。図13に示すように、カメラモジュールは、図12の構造に加え、更に赤外線カットガラス(IRカットガラス)20、遮光兼電磁シールド21、撮像レンズ22、23、レンズホルダー24、カバーガラス25、裏面再配線26、及保護膜27を備えている。図示するように、導電層2上に接着剤28を介してレンズホルダー24が設けられている。つまり、レンズホルダー24により、ガラス基板3上にIRカットガラス20、及び撮像レンズ22、23が固定される。そして、遮光兼電磁シールド21が、シリコン基板1、接着剤5、ガラス基板3、導電層2、接着剤28、レンズホルダー24、及び撮像レンズ22、23を覆うように形成することにより図示するカメラモジュールが構成されている。
また、シリコン基板1の底面には裏面再配線26、及び保護膜27が形成される。裏面再配線26は、導電層6と半田ボール7とを電気的に接続するためにシリコン基板1の底面に設けられる。そして、保護膜27は、この裏面再配線26を保護するようにシリコン基板1の底面に設けられる。
<本実施形態に係る効果>
本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であると、以下効果を奏することが出来る。
(1)既存の半導体デバイスの製造装置に改良を加えることなく、小型の撮像素子を形成することができる。
まず、比較例を挙げつつ説明する。また、本実施形態に係る固体撮像装置と同一の構成については、同一の参照符号を用いる。
上述したように、支持基板にガラス基板3を用いようとすると、ガラスは導電性を有しないことから、貫通孔11を設ける際にシリコン基板1を静電チャックで固定することができないといった問題がある。
そこで、このガラス基板3の表面に導電性を有したシートを貼り付け、吸着ステージに固体撮像装置を固定する。そして所定の工程を経ることで図13に示すような固体撮像装置を製造する。しかし、導電性のシートを剥がす際に以下のような問題がある。
(1)導電性のシートを剥がすといった工程が増え、手間が掛かってしまう。
(2)導電性のシートを剥がした時に接着材(糊)が残る可能性があり、ガラス基板3の表面が汚れてしまう。すなわち、残った接着剤が画素の直上にあるとゴミとなって画像不良となる可能性がある。
(3)貼り付ける時に、シートとガラス基板3との間に空気が残存してしまい、そのまま真空装置(チャンバー)に入れ、圧力の値を下げると、残存した空気が膨張しシートが破裂してしまう。この際、シリコン基板1の膜厚は薄いことから、このシリコン基板1自体が破壊する可能性がある。
(4)導電性のシートは耐熱温度が低いという特性を有する。このため、製造工程で熱処理など行う際の温度の上限値が制限されてしまう。なお、接着材5、カラーフィルターのレジストにも温度制限があるため、温度制限は導電性シートだけには限らない。
上記(1)〜(4)までの問題点を問題1とする。
また、ボンディングワイヤを用いて外部機器にデータを出力するとする。つまり、撮像素子4で電気信号に変換されたデータは、ボンディングワイヤを介して外部機器に出力する。しかし、最近では微細化に伴いボンディングワイヤを用いると固体撮像装置自体が嵩張ってしまい、チップ規模(カメラモジュール)が拡大する。これを問題2とする。
この点、本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であると上記問題1、及び問題2を解決することが出来る。本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であると、固体撮像装置を固定するシートの代わりに、ガラス基板3上に導電層2を、例えば蒸着法、またはスパッタ法などで形成する。そして、この導電層2を用いて固体撮像装置を吸着ステージに固定する。そして撮像素子4が光を受光出来るよう、撮像素子4が形成される領域に相対する領域から導電層2を除く。言い換えれば、撮像素子4の形成位置に合わせてガラス基板3が露出する。このため、ダイシングの後であっても導電層2を剥がす必要もなくなり、上記(1)及び(2)の問題もない。すなわち、導電層2を剥がす工程もなければ、ガラス基板3の表面が汚れてしまい、画像不良となる問題も回避できる。
また、当然ながら導電層2は真空装置の中で蒸着されるため、上記(3)のように導電層2とガラス基板3との隙間に空気が残存するといった問題もない。更には、導電層2は耐熱温度が高いことから、製造工程において温度制限について考慮しなくてもよい。つまり、上記(4)の問題もない。
更に本実施形態では、ボンディングワイヤに代えて、シリコン基板1内に導電層6を貫通孔11に埋設させる。このため、チップが嵩張るといった問題も抑制させることが出来る。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であると、上記問題1、2を解決しつつ、固体撮像装置を静電チャックに固定させることが出来る。つまり、問題1、2を解決した上で、貫通孔11の形成及びシリコン基板1のダイシングを行うことが出来る。換言すれば、固体撮像装置を固定する基板保持装置を改良することなく、小型の撮像素子を作成することが出来る。
なお、上記第1の実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法で説明したように、図3〜図5で示した導電層2の形成方法は、別の手法で行っても良い。この様子について図14を用いて説明する。図14は、導電層2をシリコン基板1上に形成する製造工程を示したものである。図示するように導電層2の形成予定領域以外にT字上のレジスト膜29を形成し、その後、導電層2を、例えばスパッタ法または蒸着法によって形成する。その後、レジスト膜29を、例えばウェットエッチングなどで除去する。これにより、上記第1の実施形態における図5に示すような構成が形成される。
<本実施形態に係る変形例>
次に上記第1の実施形態の変形例に係る固体撮像装置及びその製造方法について説明する。変形例に係る固体撮像装置及びその製造方法では、ガラス基板3上に形成される上記導電層2を、水玉形状にするものである。この様子を、図15を用いて説明する。図15は上記第1の実施形態における図1において、導電層2を水玉形状に形成した場合の平面図を拡大したものである。図示するように水玉形状に形成された導電層2以外は、ガラス基板3が露出していることになる。
また、変形例における固体撮像装置の製造方法では、レジスト膜を蒸着する際、マスクを水玉形状とする。これにより、レジスト膜が水玉形状とされる。なお導電層2の形状は水玉形状に限定されるものではなく分離されていれば四角でも六角形でも任意の形状でよい。
<変形例に係る効果>
変形例に係る固体撮像装置及びその製造方法によると、上記第1の実施形態の効果(1)に加え、以下効果を奏することができる。
(2)質の向上を奏することが出来る。
変形例に係る固体撮像装置及びその製造装置であると、リフローなどの熱処理で、導電層2が高温から冷却された際に導電層2がガラス基板3から剥がれ落ちること、あるいはガラス基板3を反らせることを防ぐことが出来る。金属とガラスとでは、熱膨張係数が異なる。金属の方がガラスよりも熱膨張率(係数)が高い。つまり、金属はガラスに比べ、伸びやすく縮みやすいという物性を有する。すなわち、リフローなどの熱処理を行った後に金属が冷めると、金属の縮み具合がガラスに対し大きいことから、導電層2がガラス基板3から剥がれるあるいはガラス基板3を反らせることがある。例えばガラス基板3一面に導電層2が形成されていると、この剥がれ落ちるあるいは反らせる力が大きい。しかし、変形例に示したように、この導電層2を水玉形状で形成する。つまり、ガラス基板3上に占める導電層2の面積が上記第1の実施形態に比べ小さい。このため、縮もうとする力は、小さな面積で生じることから、ガラス基板3全体に大きな力(縮もうとする力)が働かず、熱処理後に導電層2がガラス基板3から剥がれにくいあるいは反らせにくいといった効果を奏することが出来る。このことから、固体撮像装置を静電チャックで固定させることが出来、正確にシリコン基板1に貫通孔11の形成及びシリコン基板1のダイシングを行うことが出来る。
[第2の実施形態]
次に本発明の第2の実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法について説明する。本実施形態では、上記第1の実施形態において、ガラス基板3上に形成する導電層2をダイシングする領域(ダイシングライン)から除くものである。
この様子を図16、図17を用いて説明する。まず、図16から説明する。図16は固体撮像装置の平面図である。図示するように、第1の方向及び第2の方向に沿ったダイシングラインには導電層2を形成せず、ガラス基板3を露出した状態にする。すなわち、ガラス基板3上に形成される導電層2を、そのダイシングラインから除く。領域Aを拡大して、この様子を示す。領域Aの拡大図に示すように、長方形に模られた導電層2により、撮像素子4に入射するために露出された各々のガラス基板3が、各々独立するように形成されている。
次に図16における18−18線方向に沿った断面図を図17に示す。図17は図16に示す固体撮像装置の断面図である。図示するように、ガラス基板3上に幅W2の導電層2が幅W1の間隔で形成されている。つまり、この幅W1の領域でダイシングが行われる。上記以外の構成については上記第1の実施形態と同一であることから説明を省略する。
<製造工程>
次に本実施形態に係る固体撮像装置の製造工程について説明する。本実施形態に係る固体撮像装置は、上記第1の実施形態の図4において、残存する導電層2とその導電層2上に形成されたレジスト膜10の幅W0をW2となるようにパターニングを行う。具体的には、図4の幅W0のうち、ダイシングラインとなるべき領域についても、導電層2とレジスト膜10とをパターニングする。その後、例えばエッチングを用いてレジスト膜10を除去することで、図17を得ることが出来る。それ以外の工程については同一であることから説明を省略する。
<本実施形態に係る効果>
本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であっても、上記(1)の効果を奏することが出来る。つまり、ガラス基板3上に形成される導電層2の面積を小さくした場合であっても、静電チャックを用いて固体撮像装置を吸着ステージに固定し、ダイシング及びシリコン基板1に貫通孔11を設けることが出来る。
[第3の実施形態]
次に、本発明に係る第3の実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法について説明する。本実施形態に係る固体撮像装置は、上記第1の実施形態において、露出するガラス基板3における上面及びその上面に相対する下面をそれぞれ凸形状にしたものである。なお、上記第1の実施形態と同一の構造については説明を省略する。
この様子を図18に示す。図示するように上記第1の実施形態におけるガラス基板3が露出する領域の形状を、それまでの平面から凸形状とする。具体的には、ガラス基板3の上面側では、隣接する導電層2の中心部にガラス基板3の凸部分が位置するように形成される。そして、ガラス基板3の底面側では、隣接する接着剤5の中心部にガラス基板3の凸部分が位置するように形成される。つまり、このガラス基板3の上面及び底面がそれぞれ凸形状とされることで、1枚のレンズとして機能する。つまり、ガラス基板3の上面側から光が入射する。そして、凸形状とされた底面側から来た光が屈折されマイクロレンズに集光する。つまり、より多くの光がマイクロレンズに集光することになる。なおガラス形状としては図18、図19のような両凸レンズでなくとも、集光性を持ったものなら良く、片凹レンズ、片凸レンズあるいはメニスカスレンズのように凹凸を組み合わせたレンズでも良い。
<製造方法>
次に、本実施形態に係る固体撮像装置の製造方法について説明する。なお、上記第1の実施形態と同一の製造工程については、説明を省略する。本実施形態に係る固体撮像装置は、上記第1の実施形態の、例えば図4において、ガラス基板3が凸形状となるようにエッチングを行う。具体的には凸形状とされるガラス基板3の両側の、例えばエッチング時間を中心部よりも多くすればよい。また、ガラス基板3の底面においても、ガラス基板3の底面を例えばレジスト膜などでマスクし、露出したガラス基板3に対し、ガラス基板3の上面に行ったようなエッチングを行うことで、そのガラス基板3の形状を凸形状とすればよい。以上のような製造方法で、露出するガラス基板3の表面を凸形状とすることが出来る。あるいは、レンズ形状が縦横に並んだ金型を用いて型押し法により板状のマトリクスレンズを形成しても良い。
<本実施形態に係る効果>
本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であると、上記(1)の効果に加え下記(3)の効果を奏することが出来る。
(3)コスト削減を実現させることが出来る。
本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であると、ガラス基板3がマイクロレンズに光を集光させるための機能を果たす。つまり、本来であれば、上記第1の実施形態の図13で説明したように、レンズホルダー24には、例えば二つの撮像レンズ22、23が設けられ、これら撮像レンズ22、23で屈折させた光をマイクロレンズへと集光させる。そして、画素数の値が大きいほど、必要とする撮像レンズの枚数が多くなる。つまり、画素数の増加に伴いコストが掛かってしまうという問題がある。しかし、本実施形態では、ガラス基板3がレンズとしての機能を有することから、上記第1の実施形態における撮像レンズ22、23のうちいずれか一つを設けた構成をとることができる。この様子を図19に示す。図19は、本実施形態に係るカメラモジュールである。図示するように、ガラス基板3は凸形状とされ、このガラス基板3上には、撮像レンズ22のみが形成される。このように、撮像レンズ22で屈折した光は、更にガラス基板3によって更に屈折され、マイクロレンズに集光する。以上のことから、ガラス基板3がレンズとしての機能を有するため、カメラモジュールに搭載させる撮像レンズの数を減らすことが出来、コスト削減が可能となる。
なお、露出したガラス基板3の形状は凸形状に限らない。つまり、平面とされたガラス基板3がある曲面となって、その結果レンズとして機能するものであれば、その形状は本実施形態に示した凸形状に限られない。そのような例を図20乃至図23に示す。図20乃至図23は、本実施形態の第1乃至第4変形例に係るカメラモジュールの断面図である。
まず図20に示すようにガラス基板3は、撮像素子4に相対する面のみが凸状とされていても良いし、または図21に示すようにレンズ22に相対する面のみが凸状とされても良い。また図22に示すように、撮像素子4に相対する面のみが凹状とされてもよい。更に図23に示すように、撮像素子4に相対する面が凹状とされ、且つレンズ22に相対する面が凸状とされても良い。なお、少なくとも一方の面が凸状である形状の場合、その頂点は、周囲の部分(凸部分の周囲の領域であり、配線2または接着剤5に接する部分)よりも内側に位置する。
[第4の実施形態]
次に本発明の第4の実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法について説明する。本実施形態に係る固体撮像装置は、上記第1、第3の実施形態で示したカメラモジュールに搭載するIRカットフィルターを、レンズホルダー24に設けず、ガラス基板3上に形成するものである。本実施形態に係る固体撮像装置の製造方法について図24〜図28を用いて説明する。
まず図24を用いて説明する。図24は上記第1の実施形態における図3において、ガラス基板3上にIRカットフィルター30を形成したものである。つまり、ガラス基板3上に、順次IRカットフィルター30、導電層2、及びレジスト膜10を形成する。そして、図25に示すように、IRカットフィルター30はガラス基板3の一面に残存するように、レジスト膜10及び導電層2のみをパターニングする。その後、図26に示すように、例えばエッチングなどを用いてレジスト膜10を除去する。これにより、ガラス基板3上にIRカットフィルター30がそしてこのIRカットフィルター30上に導電層2が形成される。以上のように、上記第1の実施形態で説明したIRカットフィルター30を、ガラス基板3上に形成した構造をとっても良い。このようにガラス基板3上にIRカットフィルター30を形成した際の、カメラモジュールを図27に示す。図27は、本実施形態に係るカメラモジュールの構成図である。なお、上記第1の実施形態で用いた図13と異なる構造についてのみ説明する。図示するように、それまでレンズホルダー21に設けられていたIRカットフィルター30を、導電層2とガラス基板3との間に設けた構成をとる。
<本実施形態に係る効果>
本実施形態に係る固体撮像装置及びその製造方法であっても上記(1)と同様の効果を奏することが出来る。つまり、IRカットフィルター30をレンズホルダー24に設けるのではなく、ガラス基板3上に形成した場合であっても、近赤外線をカットさせた光をマイクロレンズへと集光させることが出来る。つまり、マイクロレンズに光が集光する前に、赤外線をカットすればよいことから、上記第1の実施形態で説明したようにレンズホルダー24にIRカットフィルター20を設けても良いし、本実施形態のようにガラス基板3上にIRカットフィルター30を形成してもよい。
なお、本実施形態においても、レンズは図19乃至図23に示すような形状を有していても良い。
なお、上記IRカットフィルター30は、上記第1の実施形態の図5の構造において露出したガラス基板3を覆うように形成されていてもよい。この様子を図28に示す。図示するように、シリコン基板3上に導電層2とIRカットフィルター30とが交互に形成される。このような構成であっても、IRカットフィルター30で近赤外光がカットされた光がガラス基板3を透過した後、撮像素子4で受光することができる。
なお、上記第1乃至第4の実施形態における露出するガラス基板3の形状は、長方形に限らない。つまり、撮像素子4が光を受光することができるのであれば、その露出するガラス基板3の形状は、円形、正方形など種種の形状に変形可能である。
そして、撮像素子4により多くの光が入射するよう、その露出するガラス基板3の面積を大きくしてもよい。つまり、例えば図2に示す導電層2の幅W0を例えばW3(<W0)とすることで、より多くの光を撮像素子4で受光できるような構成であってもよい。
そして、この導電層2の形状であるが、撮像素子4上に形成しないことさえ満足すれば、線状でも多角形でもよい。
またなお、そのシリコン基板1の支持基板として機能し、可視光を透過可能とするものであれば、その支持基板はガラス基板3に限られない。つまり、無色透明でありさえすれば、プラスティックなどを材料に用いた支持基板であってもよい。
また、上記第1乃至第4の実施形態では撮像素子4を囲むように接着剤5がシリコン基板3上に成膜されているが、撮像素子4を覆うようにこの接着剤5が成膜されていてもよい。言い換えれば、撮像素子4が形成される領域においても、シリコン基板1とガラス基板3をと接着剤5によって接着してもよい。つまり、ガラス基板3から接着剤5に向かって入射する光が、この接着剤5中で屈折するような屈折率を有する材料であれば撮像素子4を覆うようにこの接着剤5が成膜されていてもよい。具体的には、ガラス基板3の屈折率が、約1.5であることから、接着剤5中で光が屈折を起こすには、約1.3程度の屈折率を有する材料の接着剤5であればよい。
なお、本願発明は上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。更に、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出されうる。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出されうる。
1…シリコン基板、2、6…導電層、3…ガラス基板、4…撮像素子、5、28…接着剤、7…半田ボール、10、12…レジスト膜、11…貫通孔、20、30…IRカットフィルター、21…遮光兼電磁シールド、22、23…撮像レンズ、24…レンズホルダー、26…裏面再配線、27…保護膜

Claims (4)

  1. 半導体基板と、
    前記半導体基板の一方の面上に設けられた透明支持基体と、
    前記半導体基板の前記一方の面上に形成され、該半導体基板と前記透明支持基体とを固定する接着剤と、
    前記透明支持基体上であって、該透明支持基体を介して、前記接着剤と相対する領域に形成された第1導電層と、
    前記半導体基板の他方の面上に配置された外部端子と、
    前記半導体基板内に形成され、前記外部端子に接続された第2導電層と
    を具備することを特徴とする固体撮像装置。
  2. 前記透明支持基体の上面において、前記第1導電層によって被覆されずにその表面が露出された第1領域と、前記透明支持基体の下面において、前記第1領域に対向する第2領域と、の少なくともいずれか一方は、凸状または凹状の表面形状を有する
    ことを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置。
  3. 前記透明支持基体の上には吸収膜を
    更に備えることを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置。
  4. 半導体基板の表面内に撮像素子を形成する工程と、
    前記半導体基板の前記表面上に接着剤を形成する工程と、
    前記半導体基板上に透明支持基体を前記接着剤により接着する工程と、
    前記透明支持基体上であって、該透明支持基体に対し前記接着剤と相対する領域に第1導電層を形成する工程と、
    前記半導体基板の裏面側から該半導体基板内に向かって貫通孔を形成する工程と、
    前記貫通孔に第2導電層を埋め込む工程と、
    前記第2導電層と電気的に接続される外部端子を前記半導体基板の裏面に形成する工程と
    を具備することを特徴とする固体撮像装置の製造方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014216475A (ja) * 2013-04-25 2014-11-17 凸版印刷株式会社 固体撮像装置及びその製造方法
JP2014216476A (ja) * 2013-04-25 2014-11-17 凸版印刷株式会社 固体撮像装置及びその製造方法
WO2019065293A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像素子、撮像素子の製造方法、および、電子機器
JP2019062048A (ja) * 2017-09-26 2019-04-18 株式会社カネカ 基板積層体、および前記積層体を用いたイメージセンサ

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