JP2011195644A - 積層板用シアネート樹脂組成物、プリプレグ、金属張積層板、プリント配線板及び半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】少なくとも、シアネート樹脂、無機充填剤及び溶剤を含有する積層板用シアネート樹脂組成物であって、調製直後の180℃におけるゲルタイムを100%としたとき、18〜28℃、湿度50〜70%で7日間保存後のゲルタイムが90%以上である積層板用シアネート樹脂組成物。
【選択図】なし
Description
また、プリント配線板の半田付けには、従来、鉛−錫を用いた共晶半田が多く使用されていたが、鉛の人体及び環境への影響を考慮し、近年、鉛フリー半田の使用が進んでいる。通常、鉛フリー半田の溶融温度は、従来の鉛−錫系よりも高いため、鉛フリー半田の使用に対応するためにも、耐熱性および低熱膨張性に優れるプリント配線板が求められている。
上記目的は、下記発明(1)〜(13)により達成される。
(1)少なくとも、シアネート樹脂、無機充填剤及び溶剤を含有する積層板用シアネート樹脂組成物であって、調製直後の180℃におけるゲルタイムを100%としたとき、18〜28℃、湿度50〜70%で7日間保存後のゲルタイムが90%以上である積層板用シアネート樹脂組成物。
(2)前記積層板用シアネート樹脂組成物が、30〜70重量%の無機充填剤をさらに含有することを特徴とする、上記(1)に記載の積層板用シアネート樹脂組成物。
(3)前記積層板用シアネート樹脂組成物を調製直後200℃で2時間硬化させたときの、硬化物の弾性率が50℃で5〜20GPaである上記(1)又は(2)に記載の積層板用シアネート樹脂組成物。
(4)前記積層板用シアネート樹脂組成物を調製後7日後に200℃で2時間硬化させたときの、硬化物の弾性率が50℃で5〜20GPaである上記(1)乃至(3)のいずれか一に記載の積層板用シアネート樹脂組成物。
(5)上記(1)乃至(4)のいずれか一に記載の積層板用シアネート樹脂組成物を基材に含浸してなることを特徴とするプリプレグ。
(6)前記プリプレグの硬化後弾性率が、50℃で10〜40GPaであることを特徴とする、上記(5)に記載のプリプレグ。
(7)前記プリプレグの厚み方向の硬化後線膨張係数が10〜40ppm/℃であることを特徴とする、上記(5)又は(6)に記載のプリプレグ。
(8)基材中に上記(1)乃至(4)のいずれか一に記載の積層板用シアネート樹脂組成物を含浸してなる樹脂含浸基材層の少なくとも片面に金属箔を有することを特徴とする金属張積層板。
(9)上記(5)乃至(7)のいずれか一に記載のプリプレグ又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を重ね、加熱加圧することにより得られる上記(8)に記載の金属張積層板。
(10)上記(8)又は(9)記載の金属張積層板を内層回路基板に用いてなることを特徴とするプリント配線板。
(11)内層回路上に、上記(5)乃至(7)のいずれか一に記載のプリプレグを絶縁層に用いてなるプリント配線板。
(12)内層回路上に、上記(1)乃至(4)のいずれか一に記載の積層板用シアネート樹脂組成物を絶縁層に用いてなるプリント配線板。
(13)上記(10)乃至(12)のいずれか一に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導体装置。
まず、積層板用シアネート樹脂組成物について説明する。
本発明の積層板用シアネート樹脂組成物は、少なくとも、シアネート樹脂、無機充填剤及び溶剤を有する積層板用シアネート樹脂組成物であって、調製直後の180℃におけるゲルタイムを100%としたとき、18〜28℃、湿度50〜70%で7日間保存後のゲルタイムが90%以上であることを特徴とする。本発明者等は、上記のゲルタイムの条件を満たすシアネート樹脂組成物が、半田耐熱性および低熱膨張性に優れることを見出した。
本発明の積層板用シアネート樹脂組成物は、シアネート樹脂を必須成分とする熱硬化性樹脂組成物であって、好ましくは、当該樹脂組成物中の樹脂成分の量をベースとしたときの、シアネート樹脂が30重量%以上である。なお、熱硬化性樹脂組成物の固形分とは、溶剤以外の全成分を意味する。
また、本発明において積層板用シアネート樹脂組成物は、溶剤を必須成分とし、一般的に「ワニス」と称する液状又は流動性の高い樹脂組成物を指しており、積層板を形成するためのプリプレグに含ませるものである。
また、本発明において「ゲルタイム」とは、所定量の積層板用シアネート樹脂組成物が、所定温度で、流動性を失うまでの時間を意味する。
これらの中で、フェノールノボラック型シアネート樹脂が難燃性、及び低熱膨張性に優れ、2,2−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン、及びジシクロペンタジエン型シアネートエステルが架橋密度の制御、及び耐湿信頼性に優れている。特に、フェノールノボラック型シアネート樹脂が低熱膨張性の点から好ましい。
前記プレポリマーは、通常、上記シアネート樹脂を加熱反応等により、例えば3量化することで得られるものであり、シアネート樹脂組成物の成形性、流動性を調整するために好ましく使用されるものである。前記プレポリマーは、特に限定されないが、例えば、3量化率が20〜50重量%のプレポリマーを用いた場合、良好な成形性、流動性を発現できる。
前記無機充填剤は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
これらのエポキシ樹脂の中でも特に、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ナフタレン骨格変性エポキシ樹脂、及びクレゾールノボラック型エポキシ樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも1種が好ましい。これにより、耐熱性及び難燃性を向上させる。
前記エポキシ樹脂は、単独で用いてもよく、重量平均分子量の異なるエポキシ樹脂を2種類以上併用したり、前記エポキシ樹脂とそのプレポリマーとを併用したりすることもできる。
前記カップリング剤としては、特に限定されないが、例えば、シラン系、チタネート系、アルミニウム系カップリング剤等が挙げられる。シラン系カップリング剤としては、例えば、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−(2−アミノエチル)アミノプロピルトリメトキシシラン、3−(2−アミノエチル)アミノプロピルトリエトキシシラン、3−アニリノプロピルトリメトキシシラン、3−アニリノプロピルトリエトキシシラン、N−β−(N−ビニルベンジルアミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、及びN−β−(N−ビニルベンジルアミノエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン等のアミノシラン化合物;3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、及び2−(3、4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン等のエポキシシラン化合物;その他として、3−メルカトプロピルトリメトキシシラン、3−メルカトプロピルトリエトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、及び3−メタクロキシプロピルトリメトキシシラン等を挙げることができる。
これらの中でも耐マイグレーション性に優れることから、エポキシシラン化合物が特に好ましい。
前記カップリング剤は、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
前記硬化促進剤はその誘導体も含め、1種類を単独で用いてもよく、2種類以上を併用してもよい。
次に、本発明のプリプレグについて説明する。
本発明のプリプレグは、前記積層板用シアネート樹脂組成物を基材に含浸し、加熱乾燥してなるものである。本発明では、前記シアネート樹脂組成物が、調製直後の180℃におけるゲルタイムを100%としたとき、18〜28℃、湿度50〜70%で7日間保存後のゲルタイムが90%以上であり、当該シアネート樹脂組成物を用いて作製したプリプレグは、半田耐熱性および低熱膨張性に優れることが判明した。
また、本発明のプリプレグは、50℃での硬化後弾性率が10〜40GPaであることが好ましい。
また、本発明のプリプレグは、厚み方向の硬化後線膨張係数が10〜40ppm/℃であることが好ましい。
次に、金属張積層板について説明する。
本発明の金属張積層板は、基材に上記のシアネート樹脂組成物を含浸してなる樹脂含浸基材層の少なくとも片面に金属箔を有するものである。
本発明の金属張積層板は、例えば、上記のプリプレグ又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を張り付けることで製造できる。
プリプレグ1枚のときは、その上下両面もしくは片面に金属箔を重ねる。また、プリプレグを2枚以上積層することもできる。プリプレグ2枚以上積層するときは、積層したプリプレグの最も外側の上下両面もしくは片面に金属箔あるいはフィルムを重ねる。次に、プリプレグと金属箔とを重ねたものを加熱加圧成形することで金属張積層板を得ることができる。
次に、本発明のプリント配線板について説明する。
本発明のプリント配線板は、上記の金属張積層板を内層回路基板に用いてなる。
また、本発明のプリント配線板は、内層回路上に、上記のプリプレグを絶縁層に用いてなる。
また、本発明のプリント配線板は、内層回路上に、上記のシアネート樹脂組成物を絶縁層に用いてなる。
前記内層回路基板は、例えば、本発明の金属張積層板の金属層に、エッチング等により所定の導体回路を形成し、導体回路部分を黒化処理したものを好適に用いることができる。
前記絶縁層としては、本発明のプリプレグ、又は本発明のシアネート樹脂組成物からなる樹脂フィルムを用いることができる。尚、前記絶縁層として、前記プリプレグ又は前記シアネート樹脂組成物からなる樹脂フィルムを用いる場合は、前記内層回路基板は本発明の金属張積層板からなるものでなくてもよい。
前記金属張積層板の片面又は両面に回路形成し、内層回路基板を作製する。場合によっては、ドリル加工、レーザー加工によりスルーホールを形成し、メッキ等で両面の電気的接続をとることもできる。この内層回路基板に前記プリプレグを重ね合わせて加熱加圧形成することで絶縁層を形成する。同様にして、エッチング等で形成した導体回路層と絶縁層とを交互に繰り返し形成することにより、多層プリント配線板を得ることができる。
次に、本発明の半導体装置について説明する。
前記で得られたプリント配線板に半田バンプを有する半導体素子を実装し、半田バンブを介して、前記プリント配線板との接続を図る。そして、プリント配線板と半導体素子との間には液状封止樹脂を充填し、半導体装置を形成する。半田バンプは、錫、鉛、銀、銅、ビスマス等からなる合金で構成されることが好ましい。
(1)積層板用シアネート樹脂組成物の調製
シアネート樹脂としてノボラック型シアネート樹脂(ロンザ社製、PT−30S)31.0重量部、エポキシ樹脂としてビフェニルアラルキレン型エポキシ樹脂(日本化薬社製、NC−3000H)14.0重量部、硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウム(東京化成社製)0.11重量部、シランカップリング剤として3−グリシジルオキシプロピルトリメトキシシラン(信越シリコーン製 KBM−403)0.5重量部、無機充填剤として溶融シリカ(アドマテックス社製、SO−25R、平均粒子径 0.5μm)55.0重量部を添加して、高速撹拌装置を用いて60分間撹拌して、固形分60%のシアネート樹脂組成物を調製した。
前記積層板用シアネート樹脂組成物をガラス織布(厚さ94μm、日東紡績製Eガラス織布、WEA−2116)に含浸し、180℃の加熱炉で2分間乾燥して、プリプレグ中のシアネート樹脂組成物が固形分基準で約49重量%のプリプレグを得た。
前記プリプレグを4枚重ね、その両面に12μmの銅箔(三井金属鉱業社製、3EC−VLP箔)を重ねて、圧力3MPa、温度220℃で2時間加熱加圧成形し、厚さ0.124mmの両面に銅箔を有する金属張積層板を得た。
両面に銅箔を有する前記金属張積層板を、ドリル機で開孔後、無電解メッキで上下銅箔間の導通を図り、両面の銅箔をエッチングすることにより内層回路を両面に形成した(L(導体回路幅(μm))/S(導体回路間幅(μm))=50/50)。
次に、内層回路に過酸化水素水と硫酸を主成分とする薬液(旭電化工業(株)製、テックSO−G)をスプレー吹き付けすることにより、粗化処理による凹凸形成を行った。
その後、得られた積層体が有するプリプレグに、炭酸レーザー装置を用いてφ60μmの開孔部(ブラインド・ビアホール)を形成し、70℃の膨潤液(アトテックジャパン社製、スウェリングディップ セキュリガント P)に5分間浸漬し、さらに80℃の過マンガン酸カリウム水溶液(アトテックジャパン社製、コンセントレートコンパクト CP)に15分浸漬後、中和して粗化処理を行った。
次に、脱脂、触媒付与、活性化の工程を経た後、無電解銅メッキ皮膜による約0.5μmの給電層を形成した。この給電層表面に、厚さ25μmの紫外線感光性ドライフィルム(旭化成社製、AQ−2558)をホットロールラミネーターにより貼り合わせ、最小線幅/線間が20/20μmのパターンが描画されたクロム蒸着マスク(トウワプロセス社製)を使用して、位置を合わせ、露光装置(ウシオ電機社製UX−1100SM−AJN01)にて露光、炭酸ソーダ水溶液にて現像し、めっきレジストを形成した。
得られたプリント配線板を50mm×50mmの大きさに切断し使用した。半導体素子(TEGチップ、サイズ15mm×15mm、厚み0.8mm)は、Sn/Pb組成の共晶で形成された半田バンプを有し、半導体素子の回路保護膜はポジ型感光性樹脂(住友ベークライト社製、CRC-8300)で形成されたものを使用した。半導体装置の組み立ては、まず、半田バンプにフラックス材を転写法により均一に塗布し、次にフリップチップボンダー装置を用い、プリント配線板上に加熱圧着により搭載した。次に、IRリフロー炉で半田バンプを溶融接合した後、液状封止樹脂(住友ベークライト社製、CRP−4152S)を充填し、液状封止樹脂を硬化させることで半導体装置を得た。尚、液状封止樹脂の効果条件は、温度150℃、120分の条件であった。
トリス(アセチルアセトナート)アルミニウムの含有量を0.15重量部とした以外は、実施例1と同様にした。
トリス(アセチルアセトナート)アルミニウムの含有量を0.06重量部とした以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム(東京化成社製)0.14重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、アセチルアセトナートビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム(東京化成社製)0.13重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム(東京化成社製)0.16重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
シアネート樹脂としてノボラック型シアネート樹脂を用いずに、2,2’−ビス(4−シアナトフェニル)イソプロピリデン(ハンツマン社製 B−40S、三量化率40%)31.0重量%用いたこと以外は、実施例3と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、1,2−ジメチルベンズイミダゾール(東京化成社製)0.15重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
1,2−ジメチルベンズイミダゾール(東京化成社製)の含有量を0.20重量部とした以外は、実施例8と同様にした。
1,2−ジメチルベンズイミダゾール(東京化成社製)の含有量を0.10重量部とした以外は、実施例8と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、1−メチルー2−ホルミルベンズイミダゾール(四国化成社製 1M2FZ)0.20重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ−[1,2−a]ベンズイミダゾール(四国化成社製 TBZ)0.12重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、2−エチル−4−メチル イミダゾリウム テトラフェニルボレート(アルドリッチ社製)0.15重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、2−フェニル−4−ヒドロキシメチル−5−メチルイミダゾール(四国化成社製 2P4MHZ)0.15重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン(四国化成社製 2MZA)0.18重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物(四国化成社製 2PZOK)0.16重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
シアネート樹脂としてノボラック型シアネート樹脂(ロンザ社製、PT−30S)31.0重量部、エポキシ樹脂としてビフェニルアラルキレン型エポキシ樹脂(日本化薬社製、NC−3000H)11.0重量部、硬化剤としてフェノールノボラック樹脂(DIC社製、TD−2010)3.0重量部、無機充填剤として溶融シリカ(アドマテックス社製、SO−25R、平均粒子径 0.5μm)55.0重量部とした以外は、実施例1と同様にした。
無機充填剤として溶融シリカ(アドマテックス社製、SO−25R、平均粒子径 0.5μm)50.0重量部、水酸化アルミニウム(昭和電工製 H−42 平均粒子径 1.0μm)5.0重量部を用いた以外は、実施例1と同様にした。
シランカップリング剤として、3−グリシジルオキシプロピルトリメトキシシランの代わりに3−グリシジルオキシプロピルトリエトキシシランを用いた以外は、実施例1と同様にした。
エポキシ樹脂を用いず、シアネート樹脂としてノボラック型シアネート樹脂(ロンザ社製、PT−30S)45.0重量部、硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウム(東京化成社製)0.08重量部、3−グリシジルオキシプロピルトリメトキシシラン(信越シリコーン製 KBM−403)0.5重量部、無機充填剤として溶融シリカ(アドマテックス社製、SO−25R、平均粒子径 0.5μm)55.0重量部とした以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてトリス(アセチルアセトナート)アルミニウムを用いずに、ナフテン酸コバルト(東栄化工社製)0.12重量部とし、溶融シリカの含有量を60.0重量部とした以外は、実施例1と同様にした。
硬化促進剤としてナフテン酸コバルトを用いずに、オクチル酸亜鉛(東栄化工社製)0.12重量部を用いた以外は、比較例1と同様にした。
硬化促進剤としてナフテン酸コバルトを用いずに、塩化アルミニウム(大明化学社製)0.12重量部を用いた以外は、比較例1と同様にした。
硬化促進剤としてナフテン酸コバルトを用いずに、2−フェニルイミダゾール(四国化成社製 2PZ)0.13重量部を用いた以外は、比較例1と同様にした。
硬化促進剤としてナフテン酸コバルトを用いずに、2−エチル−4−メチルイミダゾール(四国化成社製 2E4MZ)0.14重量部を用いた以外は、比較例1と同様にした。
積層板用シアネート樹脂組成物が調製直後の180℃におけるゲルタイム(T0)を100%とし、23℃、湿度60%で7日間保存後のゲルタイム(T7)を測定したときの(T7/T0)×100を7日後ゲルタイム保持率とした。ゲルタイムは、JIS C6521の方法に準拠して測定し、固形質量が0.15gとなる量のシアネート樹脂組成物を170℃に加熱したキュアプレート上に載せ、ストップウォッチで計時を開始し、棒の先端にて試料を均一に攪拌し、糸状に試料が切れてプレートに残るようになるまでの時間をゲルタイムとした。
得られた積層板用シアネート樹脂組成物の調製直後の硬化物弾性率および調製後7日間23℃、湿度60%で保存後の硬化物弾性率を測定した。樹脂の貯蔵弾性率は、樹脂組成物を銅箔に塗工し、加熱しプレスした後に銅箔を全面エッチングし、得られた硬化物を、DMA装置(TAインスツルメント社製 DMA983)を用いて、5℃/分で昇温して、周波数1Hzで動的粘弾性測定を行い、50℃での貯蔵弾性率をそれぞれ測定した。
得られた金属張積層板の銅箔をエッチング除去後、所定の大きさに切断し、DMA装置(TAインスツルメント社製 DMA983)を用いて、昇温速度5℃/分の条件で測定し、tanδのピークをガラス転移温度Tg(℃)として測定した。
得られた金属張積層板から50mm角にサンプルを切り出し、3/4エッチングし、プレッシャークッカーを用いて121℃下、2時間処理後、260℃の半田に30秒浸漬させ、膨れの有無を観察した。各符号は以下のとおりである。
厚さ0.6mmの金属張積層板を全面エッチングし、得られた積層板から50mm×50mmのテストピースを切り出し、JIS6481に準拠して測定した。
得られた金属積層板から100mm×20mmの試験片を作製し、23℃にて、JIS C 6481に準拠してピール強度を測定した。
得られた金属張積層板の銅箔をエッチングにより除去し、評価用試料として2mm×2mmを採取し、TMA装置(TAインスツルメント社製)を用いて、10℃/分の条件で、30〜150℃まで昇温させ、50〜100℃における厚み方向(Z方向)の熱膨張率(ppm)を測定した。
得られた金属張積層板の銅箔をエッチングにより除去し、評価用試料として2mm×2mmを採取し、DMA装置(TAインスツルメント社製 DMA983)を用いて、5℃/分で昇温して、周波数1Hzで動的粘弾性測定を行い、50℃での貯蔵弾性率をそれぞれ測定した。
比較例1〜5で調製されたシアネート樹脂組成物は、実施例1〜20で調製されたシアネート樹脂組成物と同様に、シアネート樹脂、エポキシ樹脂、硬化促進剤、カップリング剤、及び無機充填剤等を溶剤で溶解させたものであるが、比較例1〜5で調製されたシアネート樹脂組成物の7日後ゲルタイム保持率は90%未満であり、比較例1〜3は半田耐熱性が実用可能なレベルに達しておらず、比較例4及び5は、熱膨張率が実用可能なレベルに達していなかった。
実施例1〜20で得られたシアネート樹脂組成物は、7日後ゲルタイム保持率が90%以上であり、半田耐熱性および熱膨張率の両方が良好であった。従って、本発明で特定した、少なくとも、シアネート樹脂、無機充填剤及び溶剤を含有し、調製直後の180℃におけるゲルタイムを100%としたとき、18〜28℃、湿度50〜70%で7日間保存後のゲルタイムが90%以上であることを特徴とする積層板用シアネート樹脂組成物を用いることにより、性能の優れたプリプレグ、金属張積層板、プリント配線板及び半導体装置が得られることがわかる。
実施例1〜20と比較例1〜5とでシアネート樹脂組成物の7日後ゲルタイム保持率に相違が生じた原因としては、硬化促進剤の吸水性が影響していると考えられた。
実施例1〜7及び実施例18〜20で用いた硬化促進剤は、金属原子が八面体構造で疎水基で囲まれている構造の錯体であるため、吸水しないと考えられる。実施例8〜12で用いた硬化促進剤は、窒素原子が置換されているため、立体障害で吸水しないと考えられる。実施例14〜16で用いた硬化促進剤は、樹脂に溶解しないため、反応を起こさない。実施例17では硬化促進剤を用いず、硬化剤としてフェノールノボラックを使用しており、極性の高い窒素原子や金属原子を含まないので、吸水しないと考えられる。
一方、比較例1〜3で用いた硬化促進剤は、金属原子が正方形構造で上下が露出した構造の錯体であるため、容易に水が吸着すると考えられる。このように吸湿等により錯体構造が破壊される硬化促進剤は、イオン化するため更に吸水性が高くなり、ゲルタイム保持率が悪化すると考えられる。比較例4及び5で用いた硬化促進剤は、イミダゾールの窒素原子が露出しており、かつ樹脂に溶解して反応するため、ゲルタイム保持率が悪化すると考えられる。
Claims (13)
- 少なくとも、シアネート樹脂、無機充填剤及び溶剤を含有する積層板用シアネート樹脂組成物であって、
調製直後の180℃におけるゲルタイムを100%としたとき、18〜28℃、湿度50〜70%で7日間保存後のゲルタイムが90%以上である積層板用シアネート樹脂組成物。 - 前記積層板用シアネート樹脂組成物が、30〜70重量%の無機充填剤をさらに含有することを特徴とする、請求項1に記載の積層板用シアネート樹脂組成物。
- 前記積層板用シアネート樹脂組成物を調製直後200℃で2時間硬化させたときの、硬化物の弾性率が50℃で5〜20GPaである請求項1又は2に記載の積層板用シアネート樹脂組成物。
- 前記積層板用シアネート樹脂組成物を調製後7日後に200℃で2時間硬化させたときの、硬化物の弾性率が50℃で5〜20GPaである請求項1乃至3のいずれか一項に記載の積層板用シアネート樹脂組成物。
- 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の積層板用シアネート樹脂組成物を基材に含浸してなることを特徴とするプリプレグ。
- 前記プリプレグの硬化後弾性率が50℃で10〜40GPaであることを特徴とする、請求項5に記載のプリプレグ。
- 前記プリプレグの厚み方向の硬化後線膨張係数が10〜40ppm/℃であることを特徴とする、請求項5又は6に記載のプリプレグ。
- 基材中に請求項1乃至4のいずれか一項に記載の積層板用シアネート樹脂組成物を含浸してなる樹脂含浸基材層の少なくとも片面に金属箔を有することを特徴とする金属張積層板。
- 請求項5乃至7のいずれか一項に記載のプリプレグ又は当該プリプレグを2枚以上重ね合わせた積層体の少なくとも片面に金属箔を重ね、加熱加圧することにより得られる請求項8に記載の金属張積層板。
- 請求項8又は9に記載の金属張積層板を内層回路基板に用いてなることを特徴とするプリント配線板。
- 内層回路上に、請求項5乃至7のいずれか一項に記載のプリプレグを絶縁層に用いてなるプリント配線板。
- 内層回路上に、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の積層板用シアネート樹脂組成物を絶縁層に用いてなるプリント配線板。
- 請求項10乃至12のいずれか一項に記載のプリント配線板に半導体素子を搭載してなることを特徴とする半導体装置。
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