JP2011192378A - 光ディスク装置および光ディスクの再生方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本発明は、多層ディスクにおいて各層で最適な再生パワーを設定することで安定な起動ができるようにした光ディスク装置を提供する。
【解決手段】光ビームによって記録情報の再生が可能な構造を有した多層光ディスク１００からデータを再生する光ディスク装置であって、光ビームを放射する光源２２２と、光ビームを集束させる対物レンズ２３０と、多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部２３６と、多層光ディスクの所定層における再生パワーを、多層光ディスクの各層でのフォーカシングエラー信号を所定の振幅とする各記録層に対応する複数の再生パワーを記録した再生パワーテーブル５０１ｂを参照して決定された所定層における再生パワーに設定する制御部２４６とを備えた光ディスク装置である。
【選択図】図７

Description

本発明は、２層あるいは３層以上の多層光ディスクに対して再生又は記録動作を行う光ディスク装置に関するものであり、最適な再生パワーでの再生を行うことで、再生光劣化を防止し、かつ、信号の再生品質を確保する技術に関する。

従来の高密度記録光ディスク、例えばブルーレイディスク（以下、「ＢＤ」または「ＢＤディスク」と称する）は、レーザ光の波長が４５０ｎｍ、ＮＡ（開口数）が０．８で、単層で２５ＧＢ以上の大容量化が可能となる。光ディスクは、情報を記録する記録層と、この記録層を支持する基板とを有している。ＢＤなどの高密度記録光ディスクでは、光ディスクの信号読み取り面側に光透過層（いわゆるカバー層と称する光透過性の保護膜）が形成されている。このような光ディスクでは、カバー層側から記録層にレーザ光を照射することによって、情報信号の記録および再生が行われる。例えば、４００ｎｍ〜４１０ｎｍの波長を有するレーザ光が０．８４〜０．８６の開口数を有する対物レンズにより集光され、カバー層側から記録層に照射されることで、情報信号の記録および再生が行われる。

２層あるいは３層以上の記録層を備える多層光ディスクに対して記録／再生を行う光ディスク装置においては、単層光ディスクに比して、光ディスクに照射されるレーザ光の記録パワー（ライトパワーとも称される）をより高くすることが必要とされる。例えば単層光ディスクの場合では、６ｍＷ程度の記録パワーを必要とするのに対して、２層光ディスクの場合は、１５ｍＷ程度の記録パワーが必要とされる。また、単層光ディスクの場合で、０．３ｍＷ程度の再生パワー（リードパワーとも称される）であるのに対して、２層光ディスクの場合で、０．７ｍＷ程度の再生パワーが必要とされる。これらのパワーは、対物レンズから出射されるレーザ光のパワーである。

単層光ディスクおよび多層光ディスクの両方を使用できる光ディスク装置では、光ディスクの種類を判別して各光ディスクに対して適切な記録パワーおよび再生パワーをそれぞれ設定するようになされる。記録パワーは、各光ディスクの所定のエリアに対して試し記録することによって適切な値に設定される。再生パワーは、予め設定したパワーとなるようにＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）によって制御される。

上述したように、単層光ディスクが多層光ディスクより低い記録パワーで記録できるということは、再生パワーの影響を受けて記録済のデータがダメージを受けやすいことを意味する。したがって、単層光ディスクに対しては、再生パワーを低くすることが望まれる。

一方、レーザ光のノイズ（ＲＩＮ:Ｒｅｌａｔｉｖｅ Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ Ｎｏｉｓｅと呼ばれる）は、レーザパワーの発光量が多い程、安定する特性を有している。

特許文献１には、光ピックアップから出射されるレーザ光をレーザノイズの影響を受ける程度に低い再生パワーから開始して再生パワーを徐々に増加させ、予め設定したしきい値以上になる再生パワーでかつ、再生信号の品質を表す指標値、例えば再生信号のジッタが最小値となる再生パワーより低くなるパワー値を探索し、それを最適再生パワーとして設定するように構成することで、多層ディスクで必要な再生パワーを確保し、かつ、単層ディスクでのＲＩＮノイズの発生による再生性能の悪化と再生光劣化を防止する技術が提案されている。

特開２００９−１４０５８０号公報

３層、４層あるいはそれ以上の多層ディスクでは、基板側に位置する奥の層に到達する入射光の量（入射光量）を確保するために、ディスク表面側に位置する層の透過率を上げる必要がある。また、基板側の層からの戻ってくる光の量（反射光量）も確保する必要がある。このため、適切な反射率および透過率を示すように、各層の記録膜の設計がより難しくなる。よって多層ディスクでは、各層の反射率は低くなり、かつ、そのばらつきも大きくなってしまう。そのため、再生性能のみならず、フォーカスやトラッキング制御においても不安定となってしまう。

特許文献１には、単層、２層のみで各ディスクの種類毎に最適な再生パワーを求めるためにジッタ値を計測するような方法が記述されているのみある。このジッタ測定を行うためには、フォーカス、トラッキング制御を安定にかける必要がある。従来の技術では、多層ディスクの各層での最適な再生パワーを求めることができない。

これを解決するためには、多層ディスクの規格や検査スペックを厳しくする必要がある。しかし、それによって光ディスクの歩留まりが悪くなって、生産コストが高くなるためにその普及を阻害してしまうという課題がある。

本発明は、前記従来の課題を解決するもので、多層ディスクの各記録層に適した再生パワーを設定することで安定な起動ができる光ディスク装置および光ディスクの再生方法を提供することを目的とする。

本発明の光ディスク装置は、多層光ディスクからデータを再生する光ディスク装置であって、前記光ビームを放射する光源と、前記光ビームを集束させる対物レンズと、前記多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部とを備え、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも１つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くする。

ある実施形態において、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する。

ある実施形態において、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる。

ある実施形態において、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。

ある実施形態において、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。

ある実施形態において、前記記録層の１つにフォーカスの引込みを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。

ある実施形態において、前記記録層の１つから他の１つにフォーカスジャンプを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。

ある実施形態において、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出する動作を実行する。

ある実施形態において、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出し、前記記録層の数に基づいて、３層以上の記録層を有する多層光ディスクか否かを判別する動作を実行する。

ある実施形態において、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出するとき、各記録層に対する再生パワーの最大値よりも高いパワーの光ビームで前記光ディスクを照射しながら前記光ビームのフォーカス位置を変化させ、フォーカシングエラー信号のＳ字カーブの検出回数をカウントする。

ある実施形態において、装填された多層光ディスクが有する記録層の数を検出するときに得られた前記多層ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅に基づいて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を決定する。

本発明の光ディスクの再生方法は、多層光ディスクからデータを再生する光ディスクの再生方法であって、多層光ディスクが３層以上の記録層を有するか否かを判定するステップＳＡと、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも１つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くするステップＳＢとを含む。

ある実施形態において、ステップＳＢでは、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する。

ある実施形態において、ステップＳＢでは、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる。

ある実施形態において、ステップＳＢでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。

ある実施形態において、ステップＳＢでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。

ある実施形態において、前記記録層の１つにフォーカスの引込みを行うステップＳＣを含み、ステップＳＣでは、引込み後の再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。

ある実施形態において、前記記録層の１つから他の１つにフォーカスジャンプを行うステップＳＤを含み、ステップＳＤでは、フォーカスジャンプ後の再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。

ある実施形態において、ステップＳＡでは、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出し、前記記録層の数に基づいて、３層以上の記録層を有する多層光ディスクか否かを判別する。

ある実施形態において、ステップＳＡでは、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出するとき、各記録層に対する再生パワーの最大値よりも高いパワーの光ビームで前記光ディスクを照射しながら前記光ビームのフォーカス位置を変化させ、フォーカシングエラー信号のＳ字カーブの検出回数をカウントする。

ある実施形態において、ステップＳＢでは、装填された多層光ディスクが有する記録層の数を検出するときに得られた前記多層ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅に基づいて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を決定する。

本発明によれば、多層ディスクの各記録層に適した再生パワーを設定することにより、安定な起動を実現し得る。

本発明の好ましい実施形態によれば、多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号の振幅を所定の範囲内とするように再生パワーを設定するので、フォーカス、トラッキング制御を安定に動作させ、さらに各層毎に再生性能を向上することができる。

また、本発明のある実施形態によれば、光ディスクを装填した時点で各記録層の最適パワーを求め、そのテーブルを作成するので、その後に起動をかけたときのフォーカス、トラッキング制御を安定に動作させ、さらに各層毎に再生性能を向上することができる。

さらに本発明の好ましい実施形態によって、反射率の余裕度を広げることもできるので、各層の設計マージン、特に表面に近い層の設計マージンを大きくすることができる。その結果、材料の選択範囲が広がり、また光ディスクの歩留まり向上することができるため、多層光ディスクのコストを低減することが可能となる。

（ａ）は、３層ディスクの断面構造を示す図、（ｂ）は、３層光ディスクからの反射光を示す図、（ｃ）は、４層ディスクの断面構造を示す図、（ｄ）は、４層光ディスクからの反射光を示す図 ３層ディスクにおける反射率と再生パワーとの関係の一覧表を示す図 反射率が一致した３層ディスクの各記録層から得られる信号波形を示す図 反射率がばらついた３層ディスクの各記録層から得られる調整前後の信号波形を示す図 反射率がばらついた３層ディスクの各記録層から得られる調整前後の他の信号波形を示す図 反射率がばらついた３層ディスクの各記録層から得られる調整前後の更に他の信号波形を示す図 ＢＤ―ＲＥの単層、２層、３層ディスクにおける反射率と標準再生パワーの一覧表を示す図 ＢＤ―Ｒの単層、２層、３層、４層ディスクにおける反射率と標準再生パワーの一覧表を示す図 本発明の実施形態１における光ディスク装置の概略構成を示すブロック図 図６の光ピックアップ１０３、サーボ制御回路１０６とその周辺部分をより詳細に記載したブロック図 （ａ）および（ｂ）は、図７の球面収差補正部の構成および動作を示す図 （ａ）からは（ｃ）は、３層ディスクにおける対物レンズ位置とＳ字信号の関係を示す図 （ａ）からは（ｃ）は、４層ディスクにおける対物レンズ位置とＳ字信号の関係を示す図 本発明の実施形態１における再生パワーテーブルを生成する起動手順を示すフローチャート （ａ）および（ｂ）は、それぞれ、光ディスク装置内のメモリに格納される、４層ＢＤ−Ｒにおける標準パワーテーブル、再生パワーテーブルのフォーマットの概念図 光ディスクに設けられた再生パワーテーブル用の格納領域に記録される再生パワーテーブルの概念図 本発明の実施形態１における多層光ディスクの層判別を行うフローチャート （ａ）からは（ｄ）は、本発明の実施形態１における４層ディスクのフォーカス引き込み時の動きを示す各波形図 本発明の実施形態１における４層ディスクのフォーカス引き込み方法を示すフローチャート 本発明の実施形態１におけるフォーカスジャンプ方法を示すフローチャート 本発明の実施形態１におけるフォーカスジャンプ方法を示すフローチャート 本発明の実施形態１における他のフォーカスジャンプ方法を示すフローチャート 本発明の実施形態１における他のフォーカスジャンプ方法を示すフローチャート

本発明の光ディスク装置は、光ビームを放射する光源と、光ビームを集束させる対物レンズと、多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部とを備える。そして、本発明の光ディスク装置は、多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、記録層の少なくとも１つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くするように構成されている。ここで、「再生パワー」とは、記録層からデータを読み出すときに光源から放射する光ビームの光学パワーである。

従来、最も再生光劣化しやすい記録層に合わせて再生パワーを決定し、その再生パワーでいずれの記録層に対する再生動作を実行していた。本発明によれば、３層以上の多層ディスクである場合は、すくなくとも１つの記録層で再生パワーを低下させるため、再生光劣化を避けながら、各記録層から所望の反射光量を得ることができる。

本発明では、例えばディスク判別により、装填された光ディスクが３層以上の記録層を有する多層ディスクであることを検知する。その後、各記録層にあった再生パワーでデータの再生を行うが、そのようなデータの再生を行う前、例えばディスク判別を行うときは、規格で定められた最大の再生パワーで光ビームを光ディスクに照射してもよい。ディスク判別を行うとき、再生光劣化は生じにくいからである。

光ディスク装置に装填された多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクの種類が同一であれば、固定しておいてもよいし、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させてもよい。ここで、同一種類の多層光ディスクとは、ＲＯＭ／ＲＥ／Ｒなどのディスク種別と記録層の層数によって定義される物理的構造が等しい光ディスクを意味するものとする。

後述する好ましい実施形態では、多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。この場合、ある実施形態では、多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。

以下に、本発明の光ディスク装置、再生パワーの設定方法、多層ディスク判別方法、フォーカスの引込み、フォーカスジャンプ方法について、好ましい実施形態を説明する。

（実施形態１）
（３層ディスク及び４層ディスク）
図１は、本発明による光ディスク装置の実施形態で使用され得る多層ディスクの例である３層ディスク及び４層ディスクの断面構造を示す概念図である。

図１（ａ）は、３層のＢＤ−ＲＥディスクのＬ０，Ｌ２層における光スポット位置を示す断面図である。図１（ｃ）は、４層のＢＤ−ＲＥディスクのＬ０，Ｌ３層における光スポット位置を示す断面図である。

光ディスク装置の光ピックアップは、光ビームを放射する光源と、光ビームを集束させる対物レンズと、多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部とを備える。対物レンズの位置を光ディスクに近づけたり、光ディスクから遠ざけることより、対物レンズの焦点位置が光軸上を移動する。光スポット位置とは、対物レンズによって集束された光ビームの焦点位置に相当する。目的とする記録層にデータを書き込んだり、その記録層からデータを読み出すには、その目的とする記録層上に光スポット位置を一致させるようにフォーカシングを行う必要がある。多層光ディスクに含まれる、ある記録層から他の記録層に光スポット位置を移動させることを「フォーカスジャンプ」と称する。

図１（ａ）に示すように、最も奥に位置するＬ０層に光スポット位置を合わせているとき、すなわち、Ｌ０層にフォーカスしているとき、Ｌ０層よりも手前に位置するＬ１層およびＬ２層を光ビームは透過する必要がある。Ｌ０層にフォーカスしているとき、Ｌ１層およびＬ２層を横切る光ビームのＬ１層およびＬ２層における断面のサイズは、Ｌ０層上における光スポットのサイズよりも十分に大きい。

図１（ｂ）は、３層ディスクのＢＤ−ＲＥの基板側（ディスク表面から奥側）のＬ０層に光スポットを形成する場合の反射光を模式的に示す。この場合は、光ピックアップ内の対物レンズから出た光ビームは、実線、破線、一点破線矢印によって示されるように、ディスク表面側に近いＬ２層からＬ１層、Ｌ０層を透過しＬ０層上に光スポットが形成される。よって記録層を通過する毎にその透過率に応じて光量が低下する。すなわち光ピックアップからみて、基板に近い記録層ほど、入射光量が低下していくことになる。したがって、Ｌ２層に比べて、Ｌ０層の再生パワーを大きくすることが好ましい。逆にディスク表面側のＬ２層に光スポットを形成する場合は、透過するのはカバー層のみで光量低下がほとんどない。このため、反射光量は確保しやすいが、透過率をあげて基板側のＬ０層に到達するまで光ビームを効率よく通過させなければならない。透過率をあげると反射率は下がってしまうが、上記のように元々手前の層による光量の減衰がほとんどないため、表面側Ｌ２と基板側Ｌ０、Ｌ１とで反射率の差が小さく収まるように設計している。

同様に図１（ｄ）は、４層ディスクのＢＤ−Ｒの基板側のＬ０層に光スポットを形成する場合を示す。この場合も、光ピックアップ内の対物レンズより出射された光ビームは、表面側の層Ｌ３層からＬ２、Ｌ１、Ｌ０層と順次積層された記録層を透過させていくため、記録層を通過毎に光量が低下する。よってＬ３層に比べて、Ｌ０層の再生パワーを大きくすることが好ましい。逆に、Ｌ３層は光量低下が少ないので反射光量は確保しやすいが、Ｌ０層まで光ビームを効率よく通過させなければならない。記録層の透過率をあげると、その記録層自体の反射率は下がってしまうことを利用して、同様に表面側のＬ３、Ｌ２層と基板側のＬ１、Ｌ０層とで反射率の差が小さく収まるようにしている。

多層光ディスクにおいて各記録層の反射率が適切に調整されていれば、光ディスク装置の再生パワーを記録層に応じて調整する必要はない。したがって、現在まで、光ディスク装置の再生パワーを記録層ごとに変化させる必要はなかった。しかし、多層光ディスクの各記録層の反射率を厳密に調整しようとすると、多層光ディスクの製造コストが上昇する。また、現実の多層光ディスクでは、記録層の反射率が目標値から外れ、ばらつく可能性がある。そこで、本発明では、光ディスク装置で再生パワーを調整することにより、多層ディスクの記録層の反射率が設計値からずれても適切にデータ再生を可能することにした。

図２は、３層の光ディスクについて、各記録層の反射率と再生パワーとの関係を示すテーブルである。なお、本明細書および請求の範囲における「各記録層の反射率」とは、各記録層単独の反射率ではなく、光ディスクに入射する光強度Ｐ_inに対する、着目する記録層から反射される光の強さＰ_outの比率（Ｐ_out／Ｐ_in）である。このように定義される反射率は、着目する記録層から光ピックアップ（光検出器）に戻る光の強度の比率を意味する。

図２のテーブルにおける「ＴＬ標準」とは、各記録層の反射率が等しく設定された光ディスクを意味する。また、「ＴＬばらつき調整前」とは、各記録層の反射率が異なる光ディスクを意味する。「ＴＬ標準」の各記録層に対する「再生パワー」と「ＴＬばらつき調整前」の各記録層に対する「再生パワー」は、一致している。一方、「ＴＬばらつき調整後」の各記録層に対する「再生パワー」は、調整後の値を有している。

図２の例によれば、「ＴＬ標準」に示す標準的な反射率の光ディスクにおいては、再生パワーを、Ｌ０層で１．４４ｍＷ、Ｌ１層で１．４４ｍＷ、Ｌ２層で１．１ｍＷに設定する。この場合、各記録層から得られるフォーカスエラー信号のＳ字振幅は、図３Ａに示すように、各記録層で等しくなる。

ディスク表面に最も近い最近層であるＬ２層は、他の記録層よりも強い光が入射する。そのように強い光の照射を受けてもＬ２層が劣化しないようにするため、Ｌ２層の再生パワーは、Ｌ０層およびＬ１層の再生パワーよりも小さな値に設定することが好ましい。このため、図２の例では、Ｌ０層およびＬ１層の再生パワーは１．４４ｍＷに設定しているのに、Ｌ２層の再生パワーは１．１ｍＷに設定している。

ディスク表面から最も遠い位置にある最遠層であるＬ０層は、光を透過する必要がない。Ｌ０層の反射光強度を高くするため、Ｌ０層には反射膜を配置することも可能である。従って、Ｌ０層については、反射率のばらつきを抑え、必要な反射光量を確保することが容易である。なお、最近層と最遠層との間に位置するＬ１層の場合は、最遠層であるＬ０層に比べて、反射率がばらつきやすく、最近層の反射率よりもばらつくことがある。

各記録層の反射率が、標準的な３層ディスクの記録層の反射率（３％）からシフトした光ディスクに対して、標準的な３層ディスクのための再生パワーで光を照射すると、以下の問題が生じることがわかった。

図３Ｂは、図２に示す調整前の再生パワーによって得られたＳ字波形と、図２に示す調整後の再生パワーによって得られたＳ字波形を示している。この例では、調整前の再生パワーによる場合、各記録層のＳ字振幅がばらついている。このままでは、Ｓ字振幅の検出がうまく行かず、フォーカスの引き込みを行う場合、あるいは、他の記録層からフォーカスジャンプを行う場合に失敗が生じる可能性がある。

一方、適切な調整を行った再生パワーによる場合、各記録層から略同じ大きさのＳ字振幅を持つ信号を得ることができるため、各記録層でフォーカス引き込みまたはフォーカスジャンプの失敗が生じる可能性が低くなる。また、調整後の再生パワーによれば、品質のよい再生信号を得ることもできる。

各記録層のＳ字振幅がばらついている場合、各記録層の再生パワーは、規格を満たす再生パワーであり、かつ、できるだけ大きなＳ字振幅に揃えることができる再生パワーに調整する。そのためには、以下に示すＳ字振幅を揃える手順でＳ字振幅のばらつきを修正する。まず、最も大きなＳ字振幅に揃えるために、Ｓ字振幅が相対的に小さな記録層に対する再生パワーを、規格を満たす範囲で上げる。再生パワーを上げてＳ字振幅を大きい方に揃えることができれば終了する。しかし規格を満たす範囲の上限まで再生パワーを上げても、最も大きなＳ字振幅に揃えることができない場合、２番目の大きなＳ字振幅に揃えるための動作を実行する。以上がＳ字振幅を揃える手順である。

上記の手順を図２に例示する記録層を有する光ディスクについて適用して、各記録層から略同じ大きさのＳ字振幅を持つ信号を得るように再生パワーを調整した。図２に示す例では、Ｌ２層に対する調整前の再生パワーが、既に規格範囲の上限値であった。このため、図３Ｂに示すように、Ｌ２層に対する再生パワーを、調整前より大きくすることはできない。このため、調整前において最も小さなＳ字振幅に揃えるように、再生パワーの調整が行われた。その結果、調整後の再生パワーは、Ｌ０層で０．５５ｍＷ、Ｌ１層で１．１ｍＷ、Ｌ２層で１．１ｍＷに設定されている。

図３Ｃは、他の例を模式的に示す図である。この例では、調整前、Ｌ０層で最も大きなＳ字振幅が得られた。また、Ｌ１、Ｌ２層での再生パワーを規格範囲内で上昇させて、Ｌ０層のＳ字振幅に揃え
ることができた。

図３Ｄは、更に他の例を模式的に示す図である。この例では、調整前、Ｌ２層で最も大きなＳ字振幅が得られた。しかし、Ｌ２層のＳ字振幅に揃えるためには、Ｌ０層またはＬ１層での再生パワーを規格範囲の上限よりも大きな値に上昇させる必要があったため、２番目に大きなＳ字振幅、すなわち、Ｌ０層のＳ字振幅に揃えるように、Ｌ１層の再生パワーを上昇させた。この例では、Ｌ１層の再生パワーを規格範囲内で上昇させてＬ１層のＳ字振幅をＬ０層のＳ字振幅に一致させることができた。また、Ｌ２層の再生パワーを規格範囲内で下降させてＬ２層のＳ字振幅をＬ０層のＳ字振幅に一致させることもできた。

このように、どの記録層のＳ字振幅に一致させるかは、各記録層の再生パワーが規格で定められた範囲から外れないように、そして、一致させるＳ字振幅ができる限り大きくなるように決定される。

図４は、単層、２層、３層のＢＤ−ＲＥについて、各記録層の反射率と再生パワーとの関係を示すテーブルである。図５は、単層、２層、３層、４層のＢＤ−Ｒについて、各記録層の反射率と再生パワーとの関係を示すテーブルである。これらのテーブルに記載されている再生パワーの値は、標準的に光ディスクについて設定された値であり、以下、「標準再生パワー」と称することにする。

図４および図５に示される「ＳＬ」、「ＤＬ」、「ＴＬ」、「ＱＬ」は、それぞれ、「単層ディスク」、「２層ディスク」、「３層ディスク」、「４層ディスク」を意味する。図４には、３層ディスクのＬ０層について、反射率が「１．５％−４％」と記載されている。これは、３層ディスクは、そのＬ０層の反射率が１．５％−４％の範囲内にあるように設計され、製造されることを意味している。

本実施形態では、３層ディスクおよび４層ディスクについて、それらの最近層（ディスク表面に最も近い記録層）の再生パワーがその他の層の再生パワーと異なるように光ディスク装置が動作する。本発明は、このような場合に限定されず、各層でそれぞれ標準再生パワーが異なってもよい。

（光ディスク装置の構成）
次に本実施形態における光ディスク装置の構成を説明する。

図６は、本実施形態の光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。

本光ディスク装置は、光ビームを光ディスク１００上に集束させる光学系、光ディスクからの反射光を検出する光検出器、および光源としてレーザダイオードを有する光ピックアップ１０３と、光ディスクモータ１０１を駆動して所定のモータ回転数とするモータ駆動回路１０２と、光ピックアップ１０３の動作を制御するサーボ制御回路１０６と、光ピックアップ１０３で検出した光ディスク１００上の情報信号を再生する再生回路１１０と、記録する情報に基づいて所定の変調方式でレーザダイオードをレーザ駆動回路１０７によってパルス状に発光させることにより、前記情報を光ディスク１００に書き込む記録回路１２３とを備えている。

光ピックアップ１０３は、光ディスクモータ１０１上に装填された光ディスク１００に対し、集束されたレーザ光を照射する。ＲＦサーボアンプ１０４は、光ディスク１００から反射された光に基づいて電気信号を生成する。サーボ制御回路１０６は、光ディスクモータ１０１に装填された光ディスク１００にフォーカス制御およびトラッキング制御を実施する。またサーボ制御回路１０６は、光ディスク１００に対して光源およびレンズを用いて光ビームを照射することによって光ディスク１００がＢＤディスクであるかのディスク判別、単層もしくは２層か、あるいは２層より多い記録層をもつ多層判別を行うディスク判別部２６０（図７参照）を含む。

再生回路１１０は、ＲＦサーボアンプ１０４から出力された電気信号を波形等価回路などでイコライジングしてアナログ再生信号を生成する。生成された再生信号はデジタル化された後、ＰＬＬによってリードクロック（基準クロック）と同期し、データ抽出がなされる。その後、所定の復調、エラー訂正をなされた後、システムコントローラ１３０に入力される。システムコントローラ１３０は、Ｉ／Ｆ回路１３１を介してホスト１４０へと転送される。

記録再生回路１２３は、ヘッダやエラー訂正のための冗長ビットなどが付加されて、所定の変調パターン（変調方式）に変調した後、レーザ駆動回路１０７によって、ホスト１４０からＩ／Ｆ回路１３１を介して送られてくる情報を光ディスク１００に記録するため、光ピックアップ１０３の中のレーザダイオードをパルス状に発光させる。光ディスク１００に入射するレーザ光の強度変調に応じて、光ディスク１００の記録材料（たとえば有機材料や相変化材料）の反射率を変えることで、「１」または「０」の情報の記録を行う。

（光ピックアップの構成）
図７は、図６の光ピックアップ１０３、サーボ制御回路１０６とその周辺部分をより詳細に記載したブロック図である。図７を用いてさらに説明する。

まず光ピックアップの構成を説明する。光ピックアップ１０３は、光源２２２と、カップリングレンズ２２４と、偏光ビームスプリッタ２２６と、球面収差補正装置２２８、対物レンズ２３０と、トラッキングアクチュエータ２３１と、フォーカスアクチュエータ２３２と、集光レンズ２３４と、光検出器２３６とを有している。

光源２２２は、光ビームを放射する半導体レーザダイオードから構成される。簡単のため、図７には単一の光源２２２が示されているが、実際の光源は、異なる波長の光ビームを放射する例えば３つの半導体レーザから構成される。具体的には、１つの光ピックアップがＣＤ、ＤＶＤ、およびＢＤ用に異なる波長の光ビームを放射する複数の半導体レーザを備える。

カップリングレンズ２２４は、光源２２２から放射された光ビームを平行光にする。偏光ビームスプリッタ２２６は、カップリングレンズ２２４からの平行光を反射する。光ディスクの種類に応じて光源２２２における半導体レーザの位置や、放射される光ビームの波長が異なるため、光ディスク１００の種類に応じて最適な光学系の構成は異なる。このため、実際の光ピックアップ１０３の構成は、図示されているものに比べて複雑である。

対物レンズ２３０は、偏光ビームスプリッタ２２６で反射された光ビームを集束する。対物レンズ２３０の位置は、アクチュエータ２３２がＦＥ信号およびＴＥ信号に基づいて所定の位置に制御する。光ディスク１００の記録層からデータを読み出し、あるいは記録層にデータを書き込むとき、対物レンズ２３０によって集束された光ビームの焦点は、記録層上に位置し、記録層上に光ビームのスポットが形成される。図７には、１つの対物レンズ２３０が記載されているが、現実には複数の対物レンズ２３０が備えられており、光ディスク１００の種類に応じて異なる対物レンズ２３０が用いられることになる。データの記録／再生時は、光ビームの焦点が記録層における所望のトラックを追従するようにフォーカスサーボおよびトラッキングサーボが動作し、対物レンズ２３０の位置が高精度に制御される。

本実施形態は、ＢＤの多層判別方法に特徴を有している。図７に示す光ピックアップは、簡易な構成を有するように記載されているが、現実の光ディスクピックアップは、ＢＤ用のレーザダイオード２２２およびレンズ２３０以外のレーザダイオードおよびレンズを備えていてもよい。

ＢＤディスク１００が装填された後、データの記録／再生動作を行なう前に、装填されたＢＤが多層ディスクか否か、また多層光ディスクの場合は、その多層光ディスクが何層の記録層を有しているかを判別するために、ディスク判別の動作を実行する。ディスク判別動作が行われるとき、対物レンズ２３０は、フォーカスアクチュエータ２３２の働きにより、光軸方向に沿って大きく位置を変化させることになる。また、ディスク判別は、ＢＤディスク１００を回転させることなく行うことができる。

球面収差補正素子２２８は、例えば光軸方向に位置を変化させることのできる補正用レンズ（図８参照）を備え、補正用レンズの位置を調節することにより、球面収差の状態（補正量）を変化させることができる（ビームエキスパンダ方式）構成を備えている。球面収差補正部２２８の構成は、このようなビームエキスパンダ方式の構成を備えている必要は無く、液晶素子やヒンジなどによって収差を補正する構成を備えていても良い。

ＢＤディスク１００の記録層で反射された光ビームは、対物レンズ２３０、球面収差補正部２２８、および偏光ビームスプリッタ２２６を通過し、集光レンズ２３４に入射する。集光レンズ２３４は、対物レンズ２３０および偏光ビームスプリッタ２２６を通過してきた、光ディスク１００からの反射光を光検出器２３６上に集束させる。光検出器２３６は、集光レンズ２３４を通過した光を受け、その光信号を各種の電気信号（電流信号）に変換する。光検出器２３６は、例えば４分割の受光領域を有している。

光ピックアップ１０３は、トラバースモータ３６３により、光ディスク１００の半径方向に広い範囲で移動することができる。

（サーボ制御回路の構成）
図７のサーボ制御回路１０６は、フォーカス制御部２４０、トラッキング制御部２４１、球面収差制御部２４２、およびトラバース駆動回路２４３を備えており、これらを介してＣＰＵ２４６が光ピックアップ１０３の各種動作を制御する。サーボ制御回路１０６は、ＦＥ信号生成部２５０と、Ｓ字検出部２５２、ＴＥ信号検出部２６１、振幅検出部２６２、およびディスク判別部２６０を備えている。

フォーカス制御部２４０は、ＣＰＵ２４６の指示に従ってフォーカスアクチュエータ２３２を駆動し、対物レンズ２３０を光軸方向に沿って任意の位置に移動させることができる。フォーカス制御部２４０は、ＦＥ信号生成部２５０から出力されたＦＥによって、光ディスク１００上の光スポットが所定の収束状態になりようにフォーカス制御を行う。

またトラッキング制御部２４１は、トラッキングアクチュエータ２３１を駆動し、対物レンズ２３０を光ディスク１００の半径方向に沿って任意の位置に移動させることができる。トラッキング制御部２４１は、ＴＥ信号生成部２６１から出力されたＴＥ信号によって、光ディスク１００上の光スポットがトラックを走査するようにトラッキング制御を行う。

トラバース制御回路２４３は、ＣＰＵ２４６およびＴＥ信号生成部２６１の出力に応じてトラバースモータ３６３を制御し、光ピックアップ１０３を光ディスク１００の半径方向における目的の位置に移動させる。

球面収差制御部２４２は、ＣＰＵ２４６の指示に従って球面収差補正部２２８を所定の設定状態に制御する。具体的には、図８に示すステッピングモータ８が球面収差制御部２４２からの制御信号に基づいて動作し、例えば２層ディスクの場合には、収差補正レンズ２２８を１層目、２層目のカバー厚に対応した所定の位置に移動させる。収差補正レンズ２２８の位置（光軸方向の位置）を変えることにより、光ビームの球面収差状態を調節することができる。これは４層〜１６層、２０層まで全て同じような動作、機能を有するものである。

ＦＥ信号生成部２５０は、光検出部２３６に含まれる複数の受光領域から出力される電気信号に基づいてＦＥ信号を生成する。ＦＥ信号の生成法は、特に限定されず、非点収差法を用いたものでもよいし、ナイフエッジ法を用いたものでもよい。また、ＳＳＤ（スポット・サイズド・ディテクション）法を用いたものでもよい。ＦＥ信号生成部２５０から出力されるＦＥ信号は、ＣＰＵからの指令で所定の検出閾値が設定されるＳ字検出部２５２に入力される。

ＴＥ信号生成部２６１は、光検出部２３６に含まれる複数の受光領域から出力される電気信号に基づいてＴＥ信号を生成する。ＴＥ信号の生成法は、一般的にはＢＤ−ＲやＢＤ−ＲＥに代表される記録光ディスクのように凸凹のトラックを有するものはプッシュプル検出法、ＢＤ−ＲＯＭに代表される再生専用光ディスクのようにエンボス形状の情報プリピットを有するものは位相差検出法が主に用いられるが、特にトラッキングの方式で限定はされない。

ＴＥ信号生成部２６１から出力されるＴＥ信号は、トラックを横断するときに正弦波状に現れる信号振幅を、所定の球面収差の設定値において測定、検出する振幅検出部２６２に入力される。

Ｓ字検出部２５２は、フォーカスサーチ動作によって対物レンズ２３０が光軸方向に移動している間において、ＦＥ信号の振幅が所定の閾値を越えたかどうかでＳ字信号の検出を行う。ディスク判別部２６０は、Ｓ字検出部２５２で検出されるＳ字信号をカウントして多層光ディスクの層判別を行う。

またＣＰＵ２４６は、メモリ回路５０１に格納された再生パワーテーブル５０１ａを読み出し、それが最適になるように再生パワーテーブル５０１ｂとして更新あるいは追加する。更新された再生パワーテーブル５０１ｂにしたがって、光ピックアップ１０３中の半導体レーザ２２２によって所定のパワーが出力されるようにレーザ駆動回路５０２の電流（あるいは電圧）を切り換える。

具体的には、光ディスク装置の製造工程などで、標準光ディスクで調整した多層光ディスクの各層での標準パワーを、ＥＥＰＲＯＭ、あるいはフラッシュＲＯＭなどで構成された標準再生パワーテーブル５０１ａに書き込み、ユーザが使用するため実際に光ディスク装置にディスクを装填したとき、Ｓ字検出回路２５２によって、各層毎のＳ字信号の振幅を測定し、その測定振幅に応じてパワーを決定して、各層の再生パワーをテーブルとして、ＤＲＡＭなどで構成された再生パワーテーブル５０１ｂ側を更新（に追記）する。その後、ＣＰＵ２４６は、その再生パワーテーブル５０１ｂを読み出し、それに応じた再生パワーとなるようにレーザ駆動回路５０２の目標電流を切り換える。それにより多層ディスクの所定の層での起動や、起動後のデータ再生を行う。

（再生パワーテーブルの生成、再生パワーの設定）
次に再生パワーの設定方法について、図１１を参照して説明する。図１１は、多層ディスクにおける各層の再生パワーの設定を行うフローチャートである。ここでは、３層ディスクが装填された場合を例にとる。

この再生パワーの設定方法は、光ディスク装置の工程調整時あるいは起動時に多層ディスクにおける各記録層でＦＥが所定振幅となる再生パワーテーブルの作成方法を含む。

３層ＢＤ−ＲＥでは、図４に示すように、Ｌ０、Ｌ１層に対する標準パワーが１．４４ｍＷ、Ｌ２層に対する標準パワーは１．１ｍＷと規定されている。

まず、ステップＳ９１では、図４で示した３層ＢＤ−ＲＥにおける各記録層のうち最も低い標準パワーである１．１ｍＷに再生パワーを設定する。

ステップＳ９２では、１．１ｍＷの再生パワーで光ビームをレーザダイオードから出射した状態のまま、フォーカスアクチュエータ２３２を駆動する。その結果、対物レンズ２３０は、光ディスクに接近または光ディスクから離間するように任意に位置に移動する。このようにして対物レンズ２３０が光軸上を移動することにより、対物レンズ２３０によって収束する光ビームの焦点位置が光ディスクの表面に対して垂直の方向に移動することになる。光ビームの焦点位置が光ディスクの記録層を横切るとき、ＦＥ信号上に図９に示すＳ字信号が現れる。３層ディスクからは、通常表面、Ｌ２、Ｌ１、Ｌ０層で４個のＳ字信号が検出される。

多層ディスクの設計では、各記録層の反射率が等しくなることが目標である。しかし、製造ばらつき、材料のロットばらつきなどにより、図４の表に記載の範囲で反射率に変動が生じ得る。反射率がばらつくと、同じ再生パワー１．１ｍＷの光ビームで光ディスクを照射したときに、各記録層から得られるＳ字信号の振幅は、図９（ｂ）に示すように、記録層毎に異なってくる。ステップＳ９３では、この振幅値を測定するため、ＦＥ信号をＡＤコンバータでＤＳＰ（Ｓ字検出部２５２）に取り込み、ピーク検出を行う。

閾値によるＦＥ信号の検出方法は、ＦＥ信号の片振幅だけでなく、ＦＥ信号の極大値および極小値の両方を比較することにより行う。絶対値回路などを用いてＦＥ信号の極性を正のみにすることで、極小値、極大値のいずれか一方が検出できたとき、Ｓ字信号を検出したと判断する。Ｓ字信号の極小値および極大値の一方に基づいてＳ字信号の検出を行うと、球面収差や非点収差の影響によってＳ字信号が非対称になったときでもＳ字信号を検出することができる。

なお、現在の２〜４層ディスクでは、球面収差によるＳ字信号の振幅低下は小さく、再生パワーテーブル作成には影響はない。このため、球面収差の切り換えに要する時間を省略するため、フォーカスを最初に引き込む層に球面収差を最小化する位置を合わせるようにすればよい。しかし、今後、光ディスクの多層化が進んで最近層と最遠層との間で球面収差によるＳ字信号振幅差がより大きくなったり、光ディスク装置や光ピックアップの小型化が進んで光検出器が小さくなったりすると、球面収差を特定の記録層の位置で最小化することの影響は無視できなくなる。その場合には、球面収差を最近層と最遠層の中間にあたる位置に合わせて、Ｓ字振幅を測定することで球面収差の影響を軽減することが可能である。また、後述するように、層別に球面収差を切り換えてＳ字振幅を測定するようにしてもよい。

図９、図１０は、フォーカスサーチ時の対物レンズ２３０と、光スポットが多層ＢＤディスクの各層を通過したときのＳ字信号を表した模式図である。図１１のステップＳ９４では、各記録層のＳ字信号の振幅が測定できた後、その振幅値が等しくなるような再生パワーテーブルを作成する。本実施形態では、例えば図９（ｂ）に示すように、Ｌ２層＝１ｖ、Ｌ１層＝１．１ｖ、Ｌ０層＝０．８ｖであった場合は、Ｌ２層のＳ字振幅１ｖ、再生パワー１．１ｍｗを基準に、
Ｌ１の再生パワーを１．１×（１／１．１）＝１ｍＷ
Ｌ０の再生パワーを１．１×（１／０．８）＝１．３７５ｍＷ
とし、各層から得られるＳ字振幅の値が１ｖになるようにする。

ＣＰＵ２４６は、メモリ部５０１にある再生パワーテーブル５０１ｂに格納する。またメモリ部５０１は、図４に示すＬ０、Ｌ１、Ｌ２層の再生光劣化しない最大再生パワーも標準パワーテーブル５０１ａに格納している。上記したＳ字信号の測定で、この標準的な最大パワーよりも大きくなる場合は、標準パワーテーブル５０１ａに格納した再生パワーを上限値として制限してもよい。こうすることにより、再生光劣化によるデータ破壊を防止する。

ステップＳ９５では、再生パワーテーブル５０１ｂの再生パワーを参照して、光ディスクの所定層に対応する再生パワーに設定する。こうして設定された再生パワーは、以下に説明するフォーカスの引込み、多層ディスク判別、フォーカスジャンプ時に使用される。再生パワーテーブル５０１ｂの再生パワーで層毎に切り換えた場合のＳ字信号は、図９（ｃ）に示すようになる。

次に４層ＢＤ−Ｒの場合を説明する。４層ＢＤ−Ｒでは、図５に示すようにＬ０、Ｌ１、Ｌ２の標準パワーが１．２ｍＷ、Ｌ３の標準パワーは１．１ｍＷと規定されている。まず、ステップＳ９１では図５で示した４層ＢＤ−Ｒにおける各記録層のうち最も低い標準パワーである１．１ｍＷを設定する。

ステップＳ９２では１．１ｍＷでフォーカスアクチュエータ２３２を駆動し、対物レンズ２３０を上下すると、ＦＥ信号上に図１０のようなＳ字信号が現れる。４層ディスクにおいては、通常表面、Ｌ３、Ｌ２、Ｌ１、Ｌ０で５個のＳ字信号が検出される。

３層同様、４層ディスクの設計では各記録層の反射率が等しくなるようにすることが目標であるが、その製造ばらつき、材料のロットばらつきなどにより、図５に記載の範囲で反射率に変動が生じる。反射率がばらつくと、同じ再生パワー１．１ｍＷの光ビームで光ディスクを照射したときに、各記録層から得られるＳ字信号の振幅は、図１０（ｂ）に示すように、記録層毎異なってくる。この振幅値を測定するため、ＦＥ信号をＡＤコンバータでＤＳＰ（Ｓ字検出部２５２）に取り込み、ピーク検出を行う。

球面収差の影響が大きく、Ｓ字信号の振幅の測定精度が低い場合は、各層のＳ字振幅を、球面収差を切り換えながら測定する。例えば３層ディスクの場合は、最初に基板側のＬ０層の深さ１００μｍに球面収差を合わせ、レンズを移動させＬ０層のＳ字振幅を測定する。次にＬ１層の深さ７５μｍに合わせて、レンズを移動させＬ１層のＳ字振幅を測定する。最後にＬ２層の深さ５７μｍに合わせて、レンズを移動させＬ２層のＳ字振幅を測定する。

また、４層ディスクの場合は、最初に基板側のＬ０層の深さ１００μｍに球面収差を合わせ、レンズを移動させＬ０層のＳ字振幅を測定する。次にＬ１層の深さ８４．５μｍに合わせて、レンズを移動させＬ１層のＳ字振幅を測定する。続けてＬ２層の深さ６５μｍに合わせて、レンズを移動させＬ２層のＳ字振幅を測定する。最後にＬ３層の深さ５３．５μｍに合わせて、レンズを移動させＬ３層のＳ字振幅を測定する。すなわち３層ディスクであれば球面収差を各層の値に切り換えて３回、４層ディスクであれば球面収差を各層の値に切り換えて４回、レンズを移動させることによって各層のＳ字の振幅測定を行い、その値を記録する。

これにより、各層で合致した球面収差で、Ｓ字振幅を測定できるので、各層の深さばらつきなどで現れる球面収差の影響を排除して、反射率のばらつきのみで現れるＳ字の振幅ばらつきを吸収することができる。よって、以下のＳ９４で作成されるより正確な再生パワーテーブル作成が可能である。

ステップＳ９４では、各記録層のＳ字の振幅が測定できた後、その振幅値が等しくなるような再生パワーテーブルを作成する。例えば図１０（ｂ）のようにＬ３層＝１ｖ、Ｌ２層＝０．９ｖ、Ｌ１層＝１．１ｖ、Ｌ０層＝０．８ｖであった場合は、Ｌ３層のＳ字振幅１ｖ、再生パワー１．１ｍＷを基準に、Ｌ２の再生パワーを１．１×（１／０．９）＝１．２２ｍＷ→１．２ｍＷ、
Ｌ１の再生パワーを１．１×（１／１．１）＝１ｍＷ、
Ｌ０の再生パワーを１．１×（１／０．８）＝１．３７５ｍＷ→１．２ｍＷ
とし、ＣＰＵ２４６は、メモリ部５０１にある再生パワーテーブル５０１ｂに格納する。メモリ部５０１は、図５に示すＬ０、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の再生光劣化を起こさない最大再生パワーも標準パワーテーブル５０１ａに格納している。上記したＳ字の測定で、この最大パワーよりも大きくなる場合は、標準パワーテーブル５０１ａに格納した再生パワーを上限値として制限してもよい。こうすることにより、再生光劣化によるデータ破壊を防止する。図１０（ｂ）の例では、Ｌ０、Ｌ２層の再生パワーは、実際には高い値が最適であるが、１．２ｍＷで制限されている。

ステップＳ９５では、再生パワーテーブル５０１ｂの再生パワーを参照して、光ディスクの所定層に対応する再生パワーに設定する。こうして設定された再生パワーは、以下に説明するフォーカスの引込み、多層ディスク判別、フォーカスジャンプ時に使用される。テーブル値の再生パワーで層毎に切り換えた場合のＳ字信号は、図１０（ｃ）に示すようにＬ１、Ｌ３では振幅が１ｖとなるが、Ｌ０、Ｌ２では振幅が０．９１ｖになる。

上記したようにドライブ（光ディスク装置）、具体的にはドライブに搭載された光ピックアップ内の半導体レーザのばらつき（特に波長ばらつき）で再生光劣化に対する耐性に差異が発生する。またそのレーザ光を光ディスクに出射するまでに通過する光学系の効率のばらつき等でディスク側からみたパワーが異なる。

このため、ＳＴＥＰ１として、図５に示すような規格書による規格値で標準的な再生パワーテーブルを作成し、それをＥＥＰＲＯＭで構成された標準パワーテーブル部５０１ａに格納することは大きな効果がある。ドライブの製造工程で、標準的な（規格書の規格値内で各層の反射率のわかっている）多層ディスクを用いて、ＦＥ信号のＳ字振幅を測定し、その光ディスクでＳ字振幅が一定となる再生パワーの標準テーブルを作成してもよい。この場合、個別のドライブ、光ピックアップに合わせたリファレンスを持たすように構成すれば、光ピックアップ個別のばらつきを吸収することができる。その結果、以下に示すＳＴＥＰ２でのディスク毎の再生パワーテーブルを作成する際に、より正確な値を算出することができる。

光ディスクメーカの使用する記録膜材料、反射膜材料により、多層ディスクの層毎の反射率が異なってくる。このため、ＳＴＥＰ２として、多層ディスクが装填され、装置が起動するときに、その多層ディスクの層毎の反射率に応じて変動するＳ字信号から、ディスク毎、層毎にマッチした最適な再生パワーテーブルを作成してもよい。この場合、このようなテーブルをＥＥＰＲＯＭ（あるいはＤＲＡＭ）で構成された再生パワーテーブル５０１ｂとして保持することで、さらに再生性能と再生光劣化耐性を向上することができる。

なお、光ディスク装置の出荷時には、再生パワーテーブル５０１ｂに、標準パワーテーブル５０１ａの値と同じ値を入れておき、その値を更新するようにしてもよい。こうすれば、万が一、規格外あるいは粗悪なディスクを装填して再生パワーテーブル５０１ｂの作成に失敗したときには、図７のメモリ回路５０１上の再生パワーテーブルの更新をやめればよい。また、再生パワーテーブル５０１ｂの作成に成功すれば、更新すればよい。再生パワーテーブル５０１ｂを、ＤＲＡＭのような揮発性メモリ内に格納する場合は、装置の起動毎に再生パワーテーブルを生成すればよい。

（標準パワーテーブル、再生パワーテーブルのフォーマット）
上記説明した４層ＢＤ−Ｒにおける標準パワーテーブル、再生パワーテーブルのフォーマットの一例を図１２に示す。

再生パワーテーブルは、光ディスク装置内のメモリに格納するのではなく、光ディスクに記録してもよい。この場合、図１３に示すように、光ディスクの最内周にある記録ストラテジを格納するためのIｎｆｏrｍａtｉｏｎＡrｅａの所定の領域の近傍に、再生パワーテーブル用の格納領域を設け、ここに再生パワーテーブルを格納してもよい。こうすれば、多数の光ディスクに応じた多くの再生パワーテーブルを光ディスク装置のメモリ内に格納しておく必要がなくなる。したがって、ＥＥＰＲＯＭの容量や書き換え回数を心配することがなくなる。また別な光ディスク装置でそのディスクを使用するときに、そのディスク毎の再生パワーテーブルを参照するように構成すれば、再生パワーテーブルを作成する必要もなく、安価なプレーヤでの互換再生の性能をあげることが可能となる。

図１２、図１３に示すように、再生パワーテーブルには、再生パワーだけでなく、その再生パワーテーブルを作成した日時、作成した装置Ｎｏ．を格納してもよい。その場合、ある期間以上経過したら、再生パワーテーブルをつくり直すような処理ができる。それによって光ピックアップや半導体レーザの経時変化や光ディスクの経時変化にも対応することが可能となる。さらに作成した装置Ｎｏ．から、例えば同機種、同ロットの場合は、作成格納された再生パワーテーブルを参照し、異機種、ロット違いの場合は再生パワーテーブルを再度作成（図１２（ａ）から図１２（ｂ）に更新）、あるいは追加（図１２（ａ）に加えて図１２（ｂ）を作成）することができ、装置の世代間のばらつきや、ロットばらつきにも柔軟に対応することができる。

なお、上記再生パワーテーブルの最適パワーは、最近層であるＬ３層、あるいはＬ２層を基準に算出したが、反射率の最も低い、すなわちＳ字振幅の最も小さい層を基準に算出してもよい。こうすることにより、他の層の再生パワーは下がる方向に調整され、多層の各層でＳ字信号すなわち反射光量のそろった状態となるので、さらに起動時の安定性が増す。

ＢＤの場合は、単層、２層、３層、４層ディスクとも、基準層は最も基板側のＬ０層で統一されている。これらの光ディスクでは、基準層の深さも一致しているため、基準層における球面収差も同じ値である。このため、光ディスク装置の製造工程では、図８における球面収差補正レンズ２２８の球面収差１００μｍのレンズ位置のキャリブレーションがなされることが多い。よって多層ディスクで再生パワーテーブルを作成する場合も、球面収差を深さ０．１ｍｍで最小になるようにし、Ｌ０層の再生パワーを基準に他の層の再生パワーを求めるようにしてもよい。こうすることにより、球面収差によってＳ字信号の振幅ばらつきが生じることを抑制でき、よりテーブル値の精度がアップする。

以上のように本実施形態で示す再生パワーの設定方法を用いれば、３層あるいは４層以上の多層ディスクの各層の最適な再生パワーを容易にかつ、速やかに設定することができる。

（多層ディスク判別方法、フォーカスの引込み方法）
次に上述した再生パワーの設定方法で作成した再生パワーテーブルを用いて実施する多層ディスク判別（層数判別）方法、光ディスク装置の起動時のフォーカスの引込みについて説明する。

（多層ディスク判別方法）
図１４は、本発明の実施形態１における多層光ディスクの層判別を行うフローチャートである。ここでは、簡単のため、多層光ディスクが最大で４つの記録層を有している場合を想定している。本発明は、このような場合に限定されない。

ステップＳ１２１では、ＢＤディスクが装填されると、まず光ピックアップをＢＤディスクの最内周付近の所定の位置（ここでは最内周のリードイン）に移動する。この位置では傷も少なく、確実にディスクがある。好ましい実施形態において、光ディスクは回転しておらず、静止した状態にある。

ステップＳ１２２では、球面収差を単層ＢＤのカバー層に相当する０．１ｍｍに合致するようにセットする。すなわち、単層ＢＤのＬ０層で球面収差が最小化するように、図７の球面収差補正素子２２８を調整する。ステップＳ１２３では、再生パワーは、装置がサポートしているディスクの種類のうちで最も低い再生パワーで光ビームが照射される光ディスクでも再生光劣化しない値に設定される。本実施形態では、再生パワーを０．３ｍＷに設定する。この値は、単層ＢＤについて規定される再生パワー（０．３５ｍＷ）よりも低い。

次に、ステップＳ１２４では、光ピックアップ内の半導体レーザ（ＬＤ：レーザダイオード）をＯＮする。ステップＳ１２５で、対物レンズを臨界点まで移動させる。この間、ＦＥ信号上に現れるＳ字信号の振幅測定とカウントを行う（ステップＳ１２６）。ステップＳ１２７では、そのＳ字信号のカウント値によって、装填された光ディスクが単層光ディスクか否かを判別する。設定が単層再生の設定であるため、その判別は確実にできる。

ステップＳ１２７で光ディスクが単層ＢＤであると確定された場合は、ステップＳ１２８で、さらに再生品質を確保するために必要なパワーに設定する。ステップＳ１２９では、単層ＢＤのための所定の手順に基づき起動を実行する。

ステップＳ１２７で、光ディスクが単層以外の光ディスクであると判定された場合は、ステップＳ１３０で、２層ディスクのための再生パワーである０．７ｍＷ以下の値に（例えば０．６ｍＷ）に再生パワーを設定する。ステップＳ１３１で、対物レンズを臨界点まで移動させることで、ＦＥ信号上に現れるＳ字信号の振幅測定とカウントを行う。ステップＳ１３２では、そのＳ字のカウント値によって、光ディスクが２層ディスクか３層以上の記録層を有する多層ディスクかを判別する。設定が２層再生の設定であるため、単層、単層以外と同様その判別は確実にできる。

ステップＳ１３２で光ディスクが２層ＢＤであると確定された場合は、ステップＳ１３３で、さらに再生品質を確保するために必要なパワーに設定し、ステップＳ１３４で、２層ＢＤのための所定の手順に基づき起動を実行する。

ステップＳ１３２で、光ディスクが２層ＢＤ以外の多層ディスクであると判定された場合、すなわち装填された光ディスクが３層もしくは４層ＢＤの場合は、ステップＳ１３５に進む。すなわち、図１１に示す手順に基づき、多層光ディスクが有する各記録層に対して規定されている再生パワー値のうちの最小の再生パワー１．１ｍＷの光ビームを用いてＳ字信号の測定・カウントを行う。こうすることによって、各層の再生パワーテーブル５０１ｂを生成する。このとき、Ｓ字信号の測定・カウントを行うので、同時に３層か４層かの判別も可能である（ステップＳ１３６）。

再生パワーテーブル５０１ｂの生成が完了したら、３層、あるいは４層の各層のうちの最小パワーに再生パワーの設定をする。その後、３層ＢＤ、あるいは４層ＢＤのための所定手順に基づき、起動を実行する（ステップＳ１３７、ステップＳ１３８）。

（フォーカスの引込み方法）
次に、再生パワーテーブルを用いて、実際にフォーカスの引込みを行う層のための再生パワーを設定する手順について説明する。これについては４層ディスクを例にとり説明する。３層ディスクにおいても記録層が１つ少ないのみで同様の手順で実施することができる。

図１２（ｂ）の再生パワーテーブルによると、４層のそれぞれで最適なパワーはＬ０：１．２ｍＷ、Ｌ１：１．０ｍＷ、Ｌ２：１．２ｍＷ、Ｌ３：１．１ｍＷとなっている。

図１５は、４層ディスクのフォーカス引き込み時の動きを示す各波形図であり、各層で現れるＳ字信号（ｂ）と、フォーカスを引き込むときのフォーカスの駆動信号（ｃ）と、各層を通過する毎に切り換えられる再生パワー（ｄ）を示した図である。

図１６は、本発明の実施形態１における４層ディスクのフォーカス引き込み方法を示すフローチャートである。まず基板側の最遠層であるＬ０層で引き込みを行う場合を例として説明する。

最初にステップＳ１４１では、対物レンズをディスク表面から十分離間させた状態で、ＣＰＵ（制御部）２４６がレーザ駆動回路５０２を用いて再生パワーテーブル５０１ｂに格納されたＬ３層のための最適パワー１．１ｍＷに合わせる。そして、球面収差制御部２４２を用いて最遠層であるＬ０層の深さ１００μｍに球面収差を合わせる。ステップＳ１４２では、フォーカスアクチュエータ２３２を用いて対物レンズを徐々に光ディスクに接近させる。このとき、再生パワーテーブル５０１ｂから引用した値は、ディスクの反射率に対して最適化されている。したがって、どの記録層でも、Ｓ字信号の振幅が所定振幅の約１Ｖに近い出力を示すため、確実に各層のＳ字信号を検出することができる。

フォーカスアクチュエータ２３２を駆動することにより、対物レンズが光ディスクに接近していくと、ステップＳ１４３では最初に表面Ｓ字信号が現れる。フォーカスアクチュエータ２３２を駆動することにより（ステップＳ１４４）、更に対物レンズが光ディスクに接近していくと、その表面Ｓ字が検出されたことか、またはフォーカスの駆動が所定以上（例えば最近層のカバー厚相当の５０μｍ）になったことを条件として、その後に検出された次のＳ字信号がＬ３層のＳ字信号である。

このＬ３層のＳ字信号の極大値または極小値が検出されたタイミング（ステップＳ１４５，Ｓ１４６）で、ステップＳ１４７ではＣＰＵ２４６はレーザ駆動回路５０２を用いて再生パワーテーブル５０１ｂに格納されたＬ２層の再生パワー１．２ｍＷに切り換えて、接近を継続していくと、Ｌ２層のＳ字信号が現れる。Ｌ２層のＳ字の極大値または極小値が検出されたタイミング（ステップＳ１４５，Ｓ１４６）で、ステップＳ１４７ではＣＰＵ２４６はレーザ駆動回路５０２を用いて再生パワーテーブル５０１ｂに格納された次のＬ１層の再生パワー１．０ｍＷに切り換え、接近を継続していくと、Ｌ１層のＳ字信号が現れる。

Ｌ１層のＳ字の極大値または極小値が検出されたタイミング（ステップＳ１４５，Ｓ１４６）で、ステップＳ１４７ではＣＰＵ２４６はレーザ駆動回路５０２を用いて再生パワーテーブル５０１ｂに格納された次のＬ０層の再生パワーは１．２ｍＷに切り換えて、そのまま接近を継続していくと、Ｌ０層のＳ字の極大値または極小値が現れる。

ステップＳ１４５でＬ０層のＳ字の極大値または極小値を検出し、ステップＳ１４６で引込み層であるＬ０層を通過したと判定した後、ステップＳ１４８では、ＣＰＵ２４６がフォーカスアクチュエータを逆駆動して対物レンズ２３０をゆっくり離間させる。すると、Ｌ０層のＳ字信号が現れるので、その極大値、あるいは極小値を検知する。その後、０クロスＺ点付近（ステップＳ１４９）で、フォーカス制御をＯＮして引き込みを行う（ステップＳ１５０）。そのときの再生パワーは、Ｌ０層で最適な１．２ｍＷとなっているため、再生光劣化やサーボの不安定性による問題の発生を防止することができる。

以上のように、本実施形態におけるフォーカスの引込み方法によれば、ＣＰＵ（制御部）２４６が、Ｓ字信号の検出（極大値または極小値の検出）後、再生パワーテーブル５０６ｂを参照して次の記録層の再生パワーに切り換える。このため、３層あるいは４層以上の多層ディスクの各層の最適な再生パワーの切り換えは即座に可能である。

次に、図１６を参照して、表面側の最近層であるＬ３層で引き込みを行う場合を例として説明する。

最初にステップＳ１４１では、対物レンズをディスク表面から十分離間させた状態で、再生パワーテーブル５０１ｂよりＬ３層の最適パワー１．１ｍＷに合わせる。そして、球面収差を最近層であるＬ３層のカバー厚５３．５μｍに合わせる。そして、ステップＳ１４２でフォーカスアクチュエータ２３２を用いて対物レンズを徐々に光ディスクに接近させる。このとき、再生パワーテーブル５０１ｂに基づいて設定された再生パワーは、Ｌ３層の反射率に対して最適化されている。

対物レンズが光ディスクに接近していくと、ステップＳ１４３で最初に表面Ｓ字信号が現れるので、その表面Ｓ字か、またはフォーカスの駆動が所定以上（例えば最近層のカバー厚相当の５０μｍ）になった後の条件（ステップＳ１４４）で、次のＳ字信号がＬ３層のＳ字信号である。よって最近層のＬ３の極大極小が検出（ステップＳ１４５）された後、ステップＳ１４６で引込み層であるＬ３層を通過したと判定した時、ステップＳ１４８でゆっくりと対物レンズを離間させる。その後、Ｌ３層のＳ字信号が現れるので、その０クロスＺ点付近（ステップＳ１４９）で、フォーカス制御をＯＮして引き込みを行う（ステップＳ１５０）。Ｌ３層で最適な再生パワーとなっているため、再生光劣化やサーボの不安定性による問題の発生を防止することができる。

最遠層、最近層で引き込みを行う場合を説明したが、任意の層で上記のフォーカス引き込みを適用することが可能である。

所定の層でフォーカス引き込みを行ったあと、トラッキング制御をＯＮする。その後、球面収差、サーボのゲイン学習を行う。次に、光ビームが位置するトラックのアドレスをリードして、内周のインフォメーションエリアなどの所定のディスクデータを読みに行く。さらに起動処理シーケンスにしたがって他の層での学習や情報をとるため、次の層へとフォーカスジャンプする。

以上のように、再生パワーテーブル５０１ｂを用いれば、再生光劣化のリスクを確実に低減でき、かつ安定なフォーカス引き込みとその後の起動処理が実現できる。

（フォーカスジャンプ方法）
図１７Ａおよび図１７Ｂを参照しながら、多層光ディスクの各記録層間移動を、再生パワーを切換えながら行うフォーカスジャンプを説明する。図１７Ａおよび図１７Ｂは、本発明の実施形態１におけるフォーカスジャンプ方法を示すフローチャートである。

一般に、球面収差の切り換えのほうが、再生パワーの切り換えよりも遅い。このため、本実施形態では、まず球面収差を目的層に合わせた後、再生パワーテーブルに基づいて目的層で再生光劣化を起こさない再生パワーの決定を行う。その後、速やかにフォーカスジャンプを実行して、目的層に到達したことを確認してから、再生パワーをその層に最適な値に切り換える。

ステップＳ１５１において、まずホスト１４０から層間移動の指令がきたら、ＣＰＵ（制御部）２４６は球面収差制御部２４２を用いて目的の記録層の深さに対応する球面収差をセットする。たとえば３層ディスクのＬ０層からＬ２層に移動する場合は、球面収差を深さ０．１ｍｍから、深さ０．０５７ｍｍ相当に合致するように設定する。ステップＳ１５２では、ＣＰＵ２４６は一旦トラッキング制御をＯＦＦにする。

次にステップＳ１５３では、ＣＰＵ２４６はレーザ駆動回路５０２を用いてメモリ回路５０１上にある再生パワーテーブル５０１ｂに格納された最小のパワーに設定する。最小とする理由は、外部からの衝撃やディスクの面ふれの影響で、誤って目的に記録層を行き過ぎて、意図せず１つ先の記録層に引き込んでしまったり、１つ手前の記録層の戻って引き込んでしまったりした場合の再生光劣化に対してデータの保証をするためである。

次に、ステップＳ１５４ではＣＰＵ２４６はフォーカス制御部２４０に加速パルス、減速パルスを印加してフォーカスジャンプを実行する。フォーカスジャンプの駆動に関する詳細な方式、方法については様々なものが提案されている。

フォーカスジャンプを完了（減速パルスを完了）後、そこでＴＥ信号の出力があれば引き込みが成功したことがわかる。ステップＳ１５５でＴＥ信号の出力がなければ、最下点、あるいはストッパに衝突してフォーカス制御が外れており、フォーカスジャンプエラーとなる（ステップＳ１５６）。

ＴＥ信号の出力があってフォーカス引き込みが成功した場合は、引き続き、ステップＳ１５７でトラッキングＯＮを実行し、ステップＳ１５８でＴＥ信号の出力が収束しＴＲＯＫのフラグにて引き込みが確認できたら、ステップＳ１５９でＴトラックをウォブルして変調させたアドレスをリードする。ステップＳ１５８でアドレスが読めない、トラッキングが引き込めない場合は、目的の層以外の他層に誤って引き込んでいるので、フォーカスジャンプエラーとする（ステップＳ１６１）。

アドレスリードが成功（ステップＳ１６０）したら、ステップＳ１６２でその値から目的層かどうか確認する。ＯＫであれば、ステップＳ１６３ではＣＰＵ２４６はレーザ駆動回路５０２を用いて再生パワーテーブル５０６ｂに格納されたその層の最適パワーをセットして、完了する。ステップＳ１６２で目的層でないと判定された場合は再度フォーカスジャンプをリトライする。

フォーカスジャンプエラーの場合は、２種類のうち何れかで処理が分かれる。ステップＳ１６４でフォーカスが外れてしまったと判定した場合は、ステップＳ１６５でＣＰＵ２４６は球面収差制御部２４２を用いて再度Ｌ０（もくしは目的層）に球面収差を合致させ、ステップＳ１６６でＣＰＵ２４６はメモリ回路５０１上にある生成した再生パワーテーブル５０１ｂを参照して最小のパワーを設定し、ステップＳ１６７でＬ０（もしくは目的層）へフォーカスを引き込み、ステップＳ１６８でトラッキングＯＮ、ステップＳ１６９でアドレスリードと一連に実行する。

ステップＳ１６４で他層に誤って引き込んだと判定した場合は、ステップＳ１７０ではその層で球面収差の調整を行う。球面収差の調整はＴＥ振幅が最大（あるいは所定の振幅以上）になるように調整すればよい。なぜならばアドレス信号もトラックウォブル変調で入っているので、ＴＥ信号と同様回折光をもとに読み取るためである。球面収差の調整が完了したら、フォーカス外れの場合と同様にステップＳ１６８でトラッキングＯＮ、ステップＳ１６９でアドレスリードと一連に実行する。アドレスがリードできれば、現在の層がどこか確認できるので、再度フォーカスジャンプをリトライすればよい。

以上の説明では、外部からの衝撃やディスクの面ふれの影響で、誤って目的の記録層を行き過ぎて、意図せず１つ先の記録層に引込んだり、１つ手前の記録層に戻って引込んだりした場合の再生光劣化に対してデータの保証をするために、再生パワーテーブル５０１ｂを参照して最小のパワーを設定する構成で説明した。

次に図１７Ａおよび図１７Ｂのフォーカスジャンプ方法とは別のフォーカスジャンプ方法について説明する。図１８Ａおよび図１８Ｂは、他のフォーカスジャンプ方法を示すフローチャートである。

図１８Ａおよび図１８Ｂのフォーカスジャンプ方法は、図１７Ａおよび図１７Ｂのフローと大部分が同じであるが、以下の点で両者は異なる。

（１）ステップＳ１５３の再生パワーテーブル５０１ｂを参照して最小の再生パワーに設定する点を、ステップＳ１７１の再生パワーテーブル５０１ｂを参照して目的層の再生パワーに設定する点に変更したこと、
（２）目的層にフォーカスジャンプしたときにステップＳ１６３の再生パワーテーブル５０１ｂを参照して目的層の再生パワーに設定する点を、再生パワーの設定を行わずに終了させる点に変更したこと、
（３）ステップＳ１６４の前にステップＳ１７２の再生パワーテーブル５０１ｂを参照して最小の再生パワーに設定する点を追加したこと
（４）ステップＳ１６９のアドレスリードの後に、ステップＳ１７３の目的層であるかの判断すること、および
（５）ステップＳ１７４の再生パワーテーブル５０１ｂを参照して目的層の再生パワーに設定する点を追加したこと。

最初から目的層の球面収差、再生パワー（再生パワーテーブル５０１ｂを参照して目的層の再生パワーを設定）を設定した直後（ステップＳ１５１、１５２、１７１）に、フォーカスジャンプを実行（ステップＳ１５４）する。トラッキング、アドレスリードを実行（ステップＳ１５７、１５８、１５９）して目的層に到達（ステップＳ１６０、１６２）したら終了する。

一方、ステップＳ１６１でフォーカスジャンプに失敗して他層に引込みを行ったと判定されたときに、再生パワーテーブル５０１ｂを参照して再生パワーを最小値に切り換える（ステップＳ１７２）。その層の球面収差を調整（ステップＳ１７０）し、球面収差の調整値から何層にいるか、あるいはトラッキングを引き込んでアドレスリード（ステップＳ１６８，１６９）を行って何層にいるかを検出して、再生パワーテーブル５０１ｂを参照してその層の再生パワーを再設定（ステップＳ１７３，１７４）する構成を採用する。この方法により正常処理がより安定でかつ迅速になる。

以上のように再生パワーテーブルを用いれば、再生光劣化のリスクを確実に低減でき、かつ安定なフォーカスジャンプが実現できる。

上記の実施形態では、光ディスクが３層以上の記録層を有する光ディスクであるか否かの判定を、光ディスク装置が行うディスク判別動作によって実行しているが、このようなディスク判別動作は本発明に不可欠なものではない。例えば、ユーザがディスク装置に装填する光ディスクが３層以上の記録層を有する光ディスクであるか否かを示す情報を、ユーザ自身が光ディスク装置に入力してもよい。このような入力情報に基づいて、光ディスク装置は、装填された光ディスクが３層以上の記録層を有する光ディスクか否かを認識できる。

本発明にかかる光ディスク装置は、多層ディスクにおいて各層で最適な再生パワーを実現することで安定な起動が可能となる。このため、本発明は、多層光ディスクを再生または記録するプレーヤ、レコーダやＰＣ（パーソナルコンピュータ）等の用途にも適用できる。

１００ 光ディスク
１０３ 光ピックアップ
１０６ サーボ制御回路
２４６ ＣＰＵ（制御部）
５０１ メモリ回路
５０１ａ 標準パワーテーブル
５０１ｂ 再生パワーテーブル
５０２ レーザ駆動回路

Claims (18)

1. 多層光ディスクからデータを再生する光ディスク装置であって、
   前記光ビームを放射する光源と、
   前記光ビームを集束させる対物レンズと、
   前記多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部と、
   を備え、
   前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも１つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くする、光ディスク装置。
2. 前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する、請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる、請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項３に記載の光ディスク装置。
5. 前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項４に記載の光ディスク装置。
6. 前記記録層の１つにフォーカスの引込みを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項５に記載の光ディスク装置。
7. 前記記録層の１つから他の１つにフォーカスジャンプを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項５に記載の光ディスク装置。
8. 装填された光ディスクが有する記録層の数を検出する動作を実行する、請求項１に記載の光ディスク装置。
9. 装填された光ディスクが有する記録層の数を検出し、前記記録層の数に基づいて、３層以上の記録層を有する多層光ディスクか否かを判別する動作を実行する、請求項８に記載の光ディスク装置。
10. 装填された光ディスクが有する記録層の数を検出するとき、各記録層に対する再生パワーの最大値よりも高いパワーの光ビームで前記光ディスクを照射しながら前記光ビームのフォーカス位置を変化させ、フォーカシングエラー信号のＳ字カーブの検出回数をカウントする、請求項８または９に記載の光ディスク装置。
11. 装填された多層光ディスクが有する記録層の数を検出するときに得られた前記多層ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅に基づいて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を決定する、請求項１０に記載の光ディスク装置。
12. 多層光ディスクからデータを再生する光ディスクの再生方法であって、
    多層光ディスクが３層以上の記録層を有するか否かを判定するステップＳＡと、
    前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも１つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くするステップＳＢと、
    を含む、光ディスクの再生方法。
13. ステップＳＢでは、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する、請求項１２に記載の光ディスクの再生方法。
14. ステップＳＢでは、前記多層光ディスクが３層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる、請求項１２に記載の光ディスクの再生方法。
15. ステップＳＢでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項１４記載の光ディスクの再生方法。
16. ステップＳＢでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のＳ字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項１５に記載の光ディスクの再生方法。
17. 前記記録層の１つにフォーカスの引込みを行うステップＳＣを含み、
    ステップＳＣでは、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項１６に記載の光ディスクの再生方法。
18. 前記記録層の１つから他の１つにフォーカスジャンプを行うステップＳＤを含み、
    ステップＳＤでは、フォーカスジャンプ後の再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項１６に記載の光ディスクの再生方法。

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