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JP2011181675A - Mounting device for circuit component - Google Patents

Mounting device for circuit component Download PDF

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JP2011181675A
JP2011181675A JP2010044324A JP2010044324A JP2011181675A JP 2011181675 A JP2011181675 A JP 2011181675A JP 2010044324 A JP2010044324 A JP 2010044324A JP 2010044324 A JP2010044324 A JP 2010044324A JP 2011181675 A JP2011181675 A JP 2011181675A
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JP
Japan
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chip
circuit component
mounting
circuit
contact
Prior art date
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Pending
Application number
JP2010044324A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeyuki Suda
茂之 須田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To mount a plurality of chips having fluctuations in outer shape, in positions where those chips do not come into contact with each other, and to attain high density without any trouble, when mounting the chips. <P>SOLUTION: A camera 5 is moved to above a chip 1a to be mounted first to image the chip from above. The chip is recognized by pattern matching technique to acquire the position and outer shape size of the chip. The chip is mounted in a predetermined mounting position and when a chip 1b to be mounted second is moved to the predetermined mounting position, it is computed in an operation region 20b whether the chips come into contact with each other including mounting precision and outer shape sizes. When they do not come into contact with each other, the second chip 1b is mounted in the predetermined mounting position, but when they come into contact, an amount of contact between the chips is offset-corrected to move and mount the second chip 1b. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は回路部品の実装装置に係り、特に、基板上に設定された複数の実装箇所に、例えば、チップと呼称される半導体集積回路等を、チップ同士を接触させないで実装する回路部品の実装装置に関する。   The present invention relates to a circuit component mounting apparatus, and in particular, mounting of a circuit component for mounting, for example, a semiconductor integrated circuit called a chip without bringing the chips into contact with each other at a plurality of mounting locations set on a substrate. Relates to the device.

従来の回路部品の実装装置としては、例えば、特許文献1に示すものがあり、この発明は、本発明に最も近い発明であるので、以下、特許文献1に開示されている技術について説明する。
まず、同文献の頁2・段落番号0003〜0004には、以下の課題が開示されている。
As a conventional circuit component mounting apparatus, for example, there is one shown in Patent Document 1, and since the present invention is the invention closest to the present invention, the technique disclosed in Patent Document 1 will be described below.
First, page 2 and paragraph numbers 0003 to 0004 of the same document disclose the following problems.

(特許文献1記載の課題)
複数のチップを基板上に設定された複数の実装箇所に順次実装を行う場合、特に、チップが表面実装型LEDである場合には、実装後の各LEDが相互に整列されていることが求められる。しかしながら、基板の実装箇所に形成された電極を基準に次のチップの位置決めを順次行うと、一般にパターン形成される電極は位置精度が比較的低いため、各チップの相対位置にばらつきが生じることがある。基板上に設定された複数の実装箇所にチップを順次実装する際に、チップ間の相対位置のばらつきを排除する実装装置および実装方法を提供すること。
次に、同文献の頁3・段落番号0010〜頁3・段落番号0013には、以下の構成が開示されている。
(Problems described in Patent Document 1)
When sequentially mounting a plurality of chips on a plurality of mounting locations set on a substrate, particularly when the chip is a surface-mounted LED, each LED after mounting is required to be aligned with each other. It is done. However, if the positioning of the next chip is performed sequentially with reference to the electrodes formed at the mounting position of the substrate, the relative position of each chip may vary due to the generally low positional accuracy of the pattern-formed electrodes. is there. To provide a mounting apparatus and a mounting method that eliminate variations in relative positions between chips when sequentially mounting chips on a plurality of mounting locations set on a substrate.
Next, the following configuration is disclosed in page 3, paragraph number 0010 to page 3, paragraph number 0013 of the same document.

(特許文献1記載の構成)
基板とチップはテーブル上に載置されている。テーブルはXテーブルとYテーブルを積層した移動テーブル上に装着されており、移動テーブルの駆動により水平移動する。基板は、複数の電極(基板側電極)が形成された面を上向きにした状態でテーブル上に載置されており、チップは、複数の電極(チップ側電極)が形成された面を下向きにした状態でチップホルダに複数配列されている。基板には、チップを実装する複数の実装箇所が形成されている。テーブルの上方には実装ヘッドが配設されている。実装ヘッドは昇降機構に装着されており、昇降機構の駆動によりテーブルに対して接離する。また、実装ヘッドは吸引機構および加熱機構が備えられており、実装ヘッドの下部に装着された熱圧着ツールに吸着したチップを基板に加熱押圧して実装する機能を有している。実装ヘッドは、複数の実装箇所のそれぞれに形成された基板側電極にチップの一方の面に形成されたチップ側電極を搭載するチップ搭載手段として機能する。テーブルと実装ヘッドの間には、対象物を位置認識するためのカメラ等の認識手段が配設されている。カメラは上下方向を同時に撮像することができ、撮像時には撮像対象物の上方または下方に移動するための移動機構に装着されている。移動テーブル、実装ヘッド、昇降機構、カメラ、移動機構等の各駆動部は制御部との間で通信可能に導通されており、制御部から送信される制御信号に基づいて動作制御される。制御部には演算領域、記憶領域、画像処理領域が含まれており、演算領域は、記憶領域に予め記憶された制御プログラムや各種データに基づいて実装装置の各駆動部の駆動量や駆動時間等を演算する。画像処理領域は、カメラにより撮像された撮像対象物の画像を処理して位置認識を行う。この位置認識結果に基づいて演算領域においてテーブルの移動量を演算し、チップや基板の位置決めが行われる。
次に、同文献の頁4・段落番号0015〜頁5・段落番号0023には、以下の動作が開示されている。
(Configuration described in Patent Document 1)
The substrate and the chip are placed on a table. The table is mounted on a moving table in which an X table and a Y table are stacked, and moves horizontally by driving the moving table. The substrate is placed on the table with the surface on which a plurality of electrodes (substrate-side electrodes) are formed facing upward, and the chip faces downward on the surface on which the plurality of electrodes (chip-side electrodes) are formed. In this state, a plurality of chips are arranged on the chip holder. A plurality of mounting locations for mounting the chip are formed on the substrate. A mounting head is disposed above the table. The mounting head is attached to the lifting mechanism, and is brought into contact with and separated from the table by driving the lifting mechanism. Further, the mounting head is provided with a suction mechanism and a heating mechanism, and has a function of mounting the chip adsorbed on a thermocompression tool mounted on the lower part of the mounting head by heating and pressing the chip onto the substrate. The mounting head functions as a chip mounting means for mounting a chip side electrode formed on one surface of the chip on a substrate side electrode formed at each of a plurality of mounting locations. Recognition means such as a camera for recognizing the position of the object is disposed between the table and the mounting head. The camera can simultaneously image in the vertical direction, and is attached to a moving mechanism for moving above or below the object to be imaged at the time of imaging. The driving units such as the moving table, the mounting head, the lifting mechanism, the camera, and the moving mechanism are communicatively connected to the control unit, and their operations are controlled based on a control signal transmitted from the control unit. The control unit includes a calculation area, a storage area, and an image processing area. The calculation area includes the drive amount and drive time of each drive unit of the mounting apparatus based on a control program and various data stored in advance in the storage area. And so on. The image processing area performs position recognition by processing an image of an imaging target imaged by a camera. Based on this position recognition result, the amount of movement of the table is calculated in the calculation area, and the chip and the substrate are positioned.
Next, the following operations are disclosed in page 4, paragraph number 0015 to page 5, paragraph number 0023 of the same document.

(特許文献1記載の動作)
テーブル上に載置された複数のチップのうち先に実装されるチップの上方にカメラを移動させ、チップを上方から撮像する。撮像されたチップの画像は画像処理領域に送信され、チップの外形のパターンマッチング手法により、チップの位置認識が行われる。チップの位置認識結果に基づいて実装ヘッド(熱圧着ツール)とチップを位置合わせするためのテーブルの移動量が演算領域において演算される。テーブルを移動させて熱圧着ツールの鉛直下方にチップを位置決めした後、熱圧着ツールを下降させてチップを吸着する。テーブルを移動させて熱圧着ツールに吸着されたチップの鉛直下方に基板上に設定された複数の実装箇所のうち先に実装される実装箇所を位置決めする。チップと実装箇所の間にカメラを移動させ、チップを下方から、実装箇所を上方から撮像する。画像処理領域においてチップの電極と実装箇所に形成されている電極の外形のパターンマッチング手法によりチップと実装箇所の位置ずれが認識される。この位置ずれ認識結果に基づいてチップと実装箇所を位置合わせするためのテーブルの移動量が演算領域において演算される。テーブルを移動させてチップと実装箇所を位置合わせした後、熱圧着ツールを下降させてチップの電極を実装箇所に形成されている電極に搭載して加熱するとともに押圧する。これにより、チップが基板に形成された実装箇所に搭載されて実装される(チップ搭載工程)。チップの実装を終えると、次にチップを実装箇所に隣接する実装箇所に実装する。チップは、先に実装されたチップの実装位置を基準として実装される。なぜなら、チップの実装の場合と同様に基板上に形成された電極の位置を基準としてチップの実装を行うと、電極の位置精度の影響がチップとチップとの相対位置における誤差として顕在化するからであり、基板に複数実装するチップ間の相対位置にばらつきが生じるのを防止するためである。上述したチップの場合と同様に熱圧着ツールにチップを吸着した後、先に実装されたチップの上方にカメラを移動させ、チップを上方から撮像する。チップ基材は板状の透光性基材から構成されているので、カメラはチップ基材を透過する光によりチップ基板の上面側から下面側の電極を撮像することができる。撮像された電極の画像は画像処理領域に送信され、電極の外形のパターンマッチング手法により、チップの位置認識が行われる(認識工程)。熱圧着ツールに吸着されたチップの下方にカメラを移動させ、チップを下方から撮像する。画像処理領域においてチップの電極の外形のパターンマッチング手法により、チップの位置認識が行われる。記憶領域には、基板に形成された実装箇所間のピッチデータが予め記憶されており、チップの位置認識結果および実装箇所に搭載されたチップの電極の位置認識結果、実装箇所と実装箇所間のピッチデータに基づいてチップと実装箇所を位置合わせするためのテーブルの移動量が演算領域により演算される。テーブルを移動させてチップと実装箇所の位置合わせを行い(位置決め工程)、その後熱圧着ツールを下降させてチップの電極を実装箇所に形成されている電極に搭載して加熱するとともに押圧する。これにより、チップが基板に形成された実装箇所に搭載されて実装される。このように、基板上に設定された複数の実装箇所に板状の透光性基材からなるチップを順次実装する際に、先に実装されたチップのチップ側電極の位置を基準として後に実装するチップの実装位置の位置決めを行うので、各チップ間の相対位置のばらつきを排除することが可能になる。特に、チップが表面実装型LEDである場合には、各LED間の位置や姿勢のばらつきを排除して整列した状態で実装することができる。
(Operation described in Patent Document 1)
The camera is moved above the chip mounted first among the plurality of chips placed on the table, and the chip is imaged from above. The captured image of the chip is transmitted to the image processing area, and the position of the chip is recognized by a pattern matching method for the outer shape of the chip. Based on the chip position recognition result, the movement amount of the table for aligning the mounting head (thermocompression bonding tool) and the chip is calculated in the calculation area. After moving the table to position the chip vertically below the thermocompression bonding tool, the thermocompression bonding tool is lowered to suck the chip. The table is moved to position a mounting location to be mounted first among a plurality of mounting locations set on the substrate vertically below the chip adsorbed by the thermocompression bonding tool. The camera is moved between the chip and the mounting location, and the chip is imaged from below and the mounting location is imaged from above. In the image processing region, the positional deviation between the chip and the mounting portion is recognized by a pattern matching method of the outer shape of the electrode formed on the chip electrode and the mounting portion. Based on this misalignment recognition result, the amount of movement of the table for aligning the chip and the mounting location is calculated in the calculation area. After the table is moved and the chip and the mounting location are aligned, the thermocompression bonding tool is lowered and the chip electrode is mounted on the electrode formed at the mounting location and heated and pressed. As a result, the chip is mounted and mounted at the mounting location formed on the substrate (chip mounting process). When the mounting of the chip is completed, the chip is then mounted at a mounting location adjacent to the mounting location. The chip is mounted with reference to the mounting position of the previously mounted chip. This is because if the chip is mounted with reference to the position of the electrode formed on the substrate as in the case of mounting the chip, the influence of the positional accuracy of the electrode becomes manifest as an error in the relative position between the chip and the chip. This is to prevent variations in relative positions between chips mounted on the substrate. As in the case of the above-described chip, after the chip is adsorbed to the thermocompression bonding tool, the camera is moved above the previously mounted chip, and the chip is imaged from above. Since the chip base is composed of a plate-like translucent base, the camera can image the electrodes from the upper surface side to the lower surface side of the chip substrate by light transmitted through the chip base material. The captured image of the electrode is transmitted to the image processing area, and the position of the chip is recognized by a pattern matching method of the outer shape of the electrode (recognition step). The camera is moved below the chip adsorbed by the thermocompression bonding tool, and the chip is imaged from below. In the image processing area, the chip position is recognized by the pattern matching method of the outer shape of the electrode of the chip. In the storage area, pitch data between the mounting positions formed on the substrate is stored in advance, and the chip position recognition result and the position recognition result of the chip electrode mounted on the mounting position, between the mounting position and the mounting position. Based on the pitch data, the amount of movement of the table for aligning the chip and the mounting location is calculated by the calculation area. The table is moved to align the chip with the mounting location (positioning step), and then the thermocompression bonding tool is lowered to mount the chip electrode on the electrode formed at the mounting location and heat and press. As a result, the chip is mounted and mounted at a mounting location formed on the substrate. In this way, when mounting a chip made of a plate-shaped translucent base material sequentially on a plurality of mounting locations set on the substrate, it is later mounted based on the position of the chip-side electrode of the previously mounted chip Since the mounting position of the chip to be performed is positioned, it is possible to eliminate the variation in the relative position between the chips. In particular, when the chip is a surface-mounted LED, it can be mounted in an aligned state by eliminating variations in position and orientation between the LEDs.

なお、この分野の他の公知例として、例えば、特許文献2には、半導体チップの外形を精度良く認識する半導体チップの外形認識方法、および前記外形認識方法を利用して半導体チップの位置補正および角度補正を一括して行う方法を提供することを意図し、半導体チップ101をxy直交座標系平面を有するステージ上に載置し、xy直交座標系平面内でx軸に平行にかつy座標の値が増加するように複数の仮想ライン401を走査し、これら複数の仮想ライン401と半導体チップ101の外周との複数の交点420,421,422を利用することによって半導体チップ101の外形を認識する。これによって、半導体チップ101の角度および位置補正を一括して行うことができ、補正精度が極めて高く、従来の補正方法に比べて工程数が少なく、半導体チップ101の角度と位置補正を容易に実施でき、半導体チップ101の載置位置を正確に補正できるので、ボンディング時の不良品率を減少させることができる技術を開示している。   As another known example in this field, for example, Patent Document 2 discloses a semiconductor chip outer shape recognition method for accurately recognizing the outer shape of a semiconductor chip, and a semiconductor chip position correction using the outer shape recognition method. The semiconductor chip 101 is placed on a stage having an xy orthogonal coordinate system plane, parallel to the x axis and in the y coordinate in the xy orthogonal coordinate system plane. The plurality of virtual lines 401 are scanned so as to increase the value, and the outer shape of the semiconductor chip 101 is recognized by using the plurality of intersections 420, 421, 422 between the plurality of virtual lines 401 and the outer periphery of the semiconductor chip 101. . As a result, the angle and position of the semiconductor chip 101 can be collectively corrected, the correction accuracy is extremely high, the number of processes is less than that of the conventional correction method, and the angle and position of the semiconductor chip 101 can be easily corrected. In addition, since the mounting position of the semiconductor chip 101 can be accurately corrected, a technique that can reduce the defective product rate during bonding is disclosed.

また、特許文献3には、チップ間距離が部分的に異なっても、最適量のピッチ移動によりすべてのチップを正確かつ迅速に位置決めすることを意図し、可動テーブル上に搭載されて所定ピッチで格子状に整列配置された多数のチップをカメラにより撮像し、そのカメラによる映像信号を画像処理部で画像処理して得られた認識データに基づいて、前記可動テーブルを移動させながらチップを所定ポジションに配置するに際して、直前に位置する複数のチップTn-1 ,Tn-2 ,Tn-3 の認識データからチップ間距離Pn ,Pn-1 ,Pn-2 及び配列方向を算出し、その算出結果に基づいて次に認識対象とするチップTn+1 までのチップ間距離Pn+1 及び配列方向を予測し、その予測データに基づいて可動テーブルをピッチ移動させる技術を開示している。   Further, Patent Document 3 intends to position all chips accurately and quickly by an optimal amount of pitch movement even if the distance between chips is partially different, and is mounted on a movable table at a predetermined pitch. A large number of chips arranged in a grid are picked up by a camera, and the chip is moved to a predetermined position while moving the movable table based on recognition data obtained by image processing of the video signal from the camera by an image processing unit. , The inter-chip distances Pn, Pn-1, Pn-2 and the array direction are calculated from the recognition data of a plurality of chips Tn-1, Tn-2, Tn-3 located immediately before, and the calculation result is Based on this, a technique is disclosed in which the inter-chip distance Pn + 1 and the arrangement direction to the next chip Tn + 1 to be recognized are predicted and the movable table is pitch-moved based on the prediction data.

さらに、特許文献4には、複数のチップ形状の光デバイスのパターンを所定の位置関係に極めて精密に整列させつつ基板上に搭載する光モジュールの製造技術を提供することを意図し、チップの表面パターンとこれに対応して位置合わせ用治具に付設されたマーカとを位置合わせし、チップを治具の所定の位置に仮固定用粘着材により仮固定を行い、これを繰り返して複数のチップを治具上の各々の所定の位置に仮固定し、基板上のマーカと治具に付設されたマーカとを位置合わせし、治具に仮固定されたチップを溶融半田又は接着剤を介して基板上に治具共に押し付け、基板上の所定の位置にチップを接着し、所定の温度で治具を取外し、チップ形状の光デバイスを基板上に一括して転写搭載する技術を開示している。   Furthermore, Patent Document 4 intends to provide an optical module manufacturing technique for mounting a plurality of chip-shaped optical device patterns on a substrate while aligning the patterns of a plurality of chip-shaped optical devices in a predetermined positional relationship extremely precisely. Align the pattern and the marker attached to the alignment jig corresponding to the pattern, and temporarily fix the chip to the predetermined position of the jig with the temporary fixing adhesive, and repeat this process for multiple chips. Is temporarily fixed to each predetermined position on the jig, the marker on the substrate and the marker attached to the jig are aligned, and the chip temporarily fixed to the jig is connected via molten solder or adhesive A technique is disclosed in which a jig is pressed onto a substrate, a chip is bonded to a predetermined position on the substrate, the jig is removed at a predetermined temperature, and chip-shaped optical devices are collectively transferred and mounted on the substrate. .

特開2007−266425号公報JP 2007-266425 A 特開2008−124336号公報JP 2008-124336 A 特開平9−17841号公報JP-A-9-17841 特開平11−145487号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-145487

しかしながら、上記背景技術で述べた従来の回路部品の実装装置にあっては、複数のチップを実装する際に、チップ外形のばらつきを考慮して、チップ同士が接触しないように離れた位置に搭載する必要があったが、このために複数のチップ実装の高密度化が阻害されるという問題点が生じていた。
本発明の回路部品の実装装置は、以下に示す主要な構成要件から成る。
(1) 複数のチップを実装する基板上の高密度実装手段において、対象チップを撮影するカメラを備え、上記カメラが撮影した画像でチップの中心から端部までの距離を計測する手段と、隣り合うチップのチップの中心間の所定の距離と、上記計測した隣り合うチップそれぞれの中心から端部までの距離の合計の距離とを大小比較する手段と、上記比較の結果、上記計測した合計距離が中心間の所定の距離より大きい場合は、隣り合うチップの間隔を所定の距離より離して実装する手段を備えて、チップ同士の接触を避けること。
(2) (1)の構成要件において、チップの中心から端部までの距離をチップの外形パターン(またはマーク)から把握すること。
However, in the conventional circuit component mounting apparatus described in the background art above, when mounting a plurality of chips, it is mounted at a position away from each other so that the chips do not come into contact with each other in consideration of variations in the chip outer shape. However, for this reason, there has been a problem that high density of a plurality of chips is hindered.
The circuit component mounting apparatus according to the present invention includes the following main components.
(1) In high-density mounting means on a substrate on which a plurality of chips are mounted, a camera for photographing a target chip is provided, and adjacent to means for measuring the distance from the center of the chip to the edge in an image photographed by the camera. Means for comparing the predetermined distance between the centers of the chips of the matching chips and the total distance from the center to the end of each of the measured adjacent chips, and the total distance measured as a result of the comparison Is larger than a predetermined distance between the centers, a means for mounting the adjacent chips apart from the predetermined distance is provided to avoid contact between the chips.
(2) In the constituent requirements of (1), the distance from the center of the chip to the end is grasped from the external pattern (or mark) of the chip.

他方、前述の特許文献1〜4に開示されている技術は、上記構成要件(1)〜(2)のいずれかの手段が欠けている。特に、「複数のチップを実装する際にチップ外形のばらつきを考慮して、チップ同士が接触しないように搭載する」という課題を解決するためには、「隣り合うチップの中心間の距離が所定の距離以上の場合は、所定の距離以上に離す」という手段が欠かせないが、このような手段は、前述の特許文献1〜4には開示されていない。
また、前述の特許文献1に開示されている技術の場合、透光性基材から成るチップを順次実装する実装装置であるため、非透光性のチップには適用することが不可能である。
On the other hand, the techniques disclosed in Patent Documents 1 to 4 described above lack any of the above-described constituent requirements (1) to (2). In particular, in order to solve the problem of “mounting chips so that they do not contact each other in consideration of variations in chip external shapes when mounting multiple chips,” the distance between the centers of adjacent chips is predetermined. If the distance is equal to or greater than this distance, a means of “separating the distance more than a predetermined distance” is indispensable, but such means is not disclosed in Patent Documents 1 to 4 described above.
Further, in the case of the technique disclosed in Patent Document 1 described above, since it is a mounting device that sequentially mounts chips made of a light-transmitting substrate, it cannot be applied to a non-light-transmitting chip. .

本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたものであって、例えば、実装部品がチップと呼称される半導体集積回路である場合、複数のチップ外形サイズのばらつきを考慮して、隣り合うチップ同士が互いに接触する場合は、両チップの間隔を引き離すことを可能にして、チップ同士が接触しないで実装することができる回路部品の実装装置を提供するものである。   The present invention has been made in view of the above-described conventional problems. For example, when the mounting component is a semiconductor integrated circuit referred to as a chip, the adjacent components are considered in consideration of variations in a plurality of chip external sizes. When the chips are in contact with each other, it is possible to provide a circuit component mounting apparatus that can be mounted without contacting the chips by making it possible to separate the distance between the two chips.

上記課題を解決するために、本発明に係る回路部品の実装装置は、2つの回路部品の各々について、その中心と、該中心から最も遠い端部との間の距離を計測する計測手段と、載置台に置かれた前記2つの回路部品を、実装予定箇所に各々配置させる配置手段と、記2つの回路部品のうち、任意の一方の回路部品を該回路部品の実装予定箇所に実装する第1の実装手段と、前記計測手段による計測結果と、実装予定箇所に各々配置された前記2つの回路部品の所定の中心間の距離とに基づいて、前記2つの回路部品の前記端部間の距離を演算する演算手段と、前記演算手段による演算結果に基づいて前記2つの回路部品が接触するか否かを判断する接触判定手段と、前記接触判定手段の判定結果により、前記2つの回路部品が接触する場合は未実装の方の回路部品を移動させて、前記実装済の回路部品と接触しない位置に位置決めする補正手段と、前記補正手段により位置決めされた前記回路部品を、該位置決めされた位置で実装する第2の実装手段と、を備えたことを特徴とする。   In order to solve the above-described problem, a circuit component mounting apparatus according to the present invention, for each of two circuit components, measuring means for measuring the distance between the center and the end farthest from the center, Arranging means for arranging the two circuit components placed on the mounting table at the planned mounting locations, respectively, and mounting any one of the two circuit components at the planned mounting location of the circuit components. 1 between the end portions of the two circuit components, based on the measurement result of the one mounting means, the measurement result by the measuring means, and the distance between the predetermined centers of the two circuit components respectively arranged at the planned mounting locations. A calculation means for calculating a distance; a contact determination means for determining whether or not the two circuit parts are in contact with each other based on a calculation result of the calculation means; and the two circuit components based on a determination result of the contact determination means If contact A correction unit that moves the circuit component on the mounting side to position it at a position that does not contact the mounted circuit component, and a second unit that mounts the circuit component positioned by the correction unit at the positioned position. And mounting means.

以上説明したように、本発明によれば、例えば、実装部品がチップと呼称される半導体集積回路である場合、このようなチップを複数実装する場合において、各チップの外形サイズのばらつきを考慮すると共に、隣り合うチップの中心間の距離が所定の距離以上の場合は、所定の距離以上に離すように構成したので、チップ同士が接触しないように実装することができる効果がある。   As described above, according to the present invention, for example, when the mounting component is a semiconductor integrated circuit called a chip, when mounting a plurality of such chips, variation in the outer size of each chip is considered. At the same time, when the distance between the centers of adjacent chips is equal to or greater than a predetermined distance, the distance between the centers is set to be equal to or greater than the predetermined distance.

本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置の構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows the structure of the mounting apparatus of the circuit component which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置の他の構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows the other structure of the circuit component mounting apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置を用いて回路部品を実装した後の基板2とチップ1a,1bの配置を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows arrangement | positioning of the board | substrate 2 after mounting a circuit component using the circuit component mounting apparatus which concerns on embodiment of this invention, and chip | tip 1a, 1b. 図1,2に示す回路部品の実装装置の制御部20の動作を示すフローチャート図である。It is a flowchart figure which shows operation | movement of the control part 20 of the mounting apparatus of the circuit components shown in FIG. マーク付のチップの1例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows an example of the chip | tip with a mark. 角度補正を行って実装する場合のチップ同士の接触の判定例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of determination of the contact between chips in the case of mounting by performing angle correction. 角度補正を行わずに実装する場合のチップ同士の接触の判定例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the example of determination of the contact between chips in the case of mounting, without performing angle correction.

本発明に係る回路部品の実装装置は、チップの実装位置を位置決めする位置決め手段と、チップ実装手段と、チップ実装位置を演算する演算手段と、演算結果を記憶する記憶手段と、画像処理手段と、パターンマッチング手法を実行する演算手段と、で構成される。
本発明に係る回路部品の実装方法は、1番目以降に実装されるチップの外形サイズを認識し、1番目以降のチップの所定の実装位置に実装したら搭載精度・外形サイズを含めてチップ同士が接触するかを演算領域で演算し、接触しない場合は2番目のチップを所定の実装位置に維持したままで実装し、接触する場合はチップ同士の接触量をオフセット補正して移動させて実装することを特徴とする。
この特徴により、チップ外形サイズのばらつきを踏まえて、複数のチップ同士が接触しないように実装する効果が生まれる。
A circuit component mounting apparatus according to the present invention includes a positioning unit for positioning a chip mounting position, a chip mounting unit, a calculation unit for calculating a chip mounting position, a storage unit for storing calculation results, and an image processing unit. And an arithmetic means for executing a pattern matching method.
The circuit component mounting method according to the present invention recognizes the outer size of the chip mounted after the first, and if the chip is mounted at a predetermined mounting position of the first and subsequent chips, the chips including the mounting accuracy and the outer size are aligned. If contact is calculated in the calculation area, the second chip is mounted while maintaining it at a predetermined mounting position. If contact is made, the contact amount between the chips is offset and moved and mounted. It is characterized by that.
This feature produces an effect of mounting so that a plurality of chips do not come into contact with each other based on variations in chip outer size.

以下、本発明の回路部品の実装装置及び回路部品の実装方法の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置の構成を示す構成図である。
但し、同図では、本実装装置を回路部品の実装に使用する使用方法も示している。
同図に示す本実施形態に係る回路部品の実装装置は、上面にチップが実装される基板2と、実装前のチップが置かれるチップテーブル3と、XY方向に水平移動可能な移動テーブル4と、対象物を位置認識するためのカメラ5と、昇降機構に装着されているヘッド6と、基板2を固定するステージ7と、ヘッド6の下部に装着された熱圧着ツール8と、制御部20と、を備える。
制御部20は、演算領域20aと、記憶領域20bと、画像処理領域20cと、を備えて構成される。
なお、図1において、符号1aは1番目に実装するチップであり、符号1bは2番目に実装するチップである。
Embodiments of a circuit component mounting apparatus and a circuit component mounting method according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a configuration diagram showing a configuration of a circuit component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.
However, the drawing also shows a method of using the mounting apparatus for mounting circuit components.
The circuit component mounting apparatus according to the present embodiment shown in the figure includes a substrate 2 on which a chip is mounted on a top surface, a chip table 3 on which a chip before mounting is placed, and a moving table 4 that can move horizontally in the XY directions. The camera 5 for recognizing the position of the object, the head 6 attached to the lifting mechanism, the stage 7 for fixing the substrate 2, the thermocompression bonding tool 8 attached to the lower part of the head 6, and the control unit 20 And comprising.
The control unit 20 includes a calculation area 20a, a storage area 20b, and an image processing area 20c.
In FIG. 1, reference numeral 1a is a chip to be mounted first, and reference numeral 1b is a chip to be mounted second.

以下、図1に示す本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置の機能を説明する。
1番目に実装するチップ1a、2番目に実装するチップ1bは、各々複数の電極(チップ側電極)が形成された面を上向きにした状態でチップテーブル3上に置かれる。即ち、前記の各チップは、チップテーブル3上に複数配列されている。
基板2は、複数の電極(基板側電極)が形成された面を上向きにした状態でステージ7上に配列される。基板2の上面に前記の各チップが配置されて実装されることになる。
チップテーブル3は、前記の各チップを置いた状態で移動テーブル4上に固定されている。
移動テーブル4は、移動機構(図示は省略)に装着されており、XY方向に水平移動可能である。移動テーブル4の上にはチップテーブル3とステージ7が固定されている。
カメラ5は対象物(ここでは前記の各チップ)を位置認識するための撮像を行う撮像装置であり、ヘッド6に固定されている。
The function of the circuit component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 1 will be described below.
The first mounted chip 1a and the second mounted chip 1b are placed on the chip table 3 with the surface on which a plurality of electrodes (chip side electrodes) are formed facing upward. That is, a plurality of the chips are arranged on the chip table 3.
The substrate 2 is arranged on the stage 7 with the surface on which a plurality of electrodes (substrate-side electrodes) are formed facing upward. Each chip is arranged and mounted on the upper surface of the substrate 2.
The chip table 3 is fixed on the moving table 4 in a state where each chip is placed.
The moving table 4 is mounted on a moving mechanism (not shown) and can move horizontally in the XY directions. A chip table 3 and a stage 7 are fixed on the moving table 4.
The camera 5 is an imaging device that performs imaging for recognizing the position of an object (here, each chip described above), and is fixed to the head 6.

ヘッド6は昇降機構(図示は省略)に装着されており、上下方向に移動可能であり、昇降機構の駆動によりステージ7に対して接離する。また、ヘッド6には吸引機構及び加熱機構(いずれも図示は省略)が備えられており、ヘッド6の下部に装着された熱圧着ツール8に吸着された前記の各チップを基板2に加熱押圧して実装する機能を有している。
ステージ7は、基板2を吸着固定するための台座である。
移動テーブル4の移動機構、ヘッド6の昇降機構、カメラ5、ヘッド6の吸引機構、及びヘッド6の加熱機構等の各駆動部は、制御部20との間で通信可能に接続されており、制御部20から送信される制御信号に基づいて動作が制御される。
The head 6 is mounted on an elevating mechanism (not shown), is movable in the vertical direction, and is brought into contact with and separated from the stage 7 by driving the elevating mechanism. Further, the head 6 is provided with a suction mechanism and a heating mechanism (both not shown), and each chip adsorbed by a thermocompression bonding tool 8 mounted on the lower part of the head 6 is heated and pressed against the substrate 2. And has a function to be implemented.
The stage 7 is a pedestal for adsorbing and fixing the substrate 2.
Each drive unit such as a moving mechanism of the moving table 4, a lifting mechanism of the head 6, a camera 5, a suction mechanism of the head 6, and a heating mechanism of the head 6 is communicably connected to the control unit 20. The operation is controlled based on a control signal transmitted from the control unit 20.

制御部20の演算領域20aは、記憶領域20bに予め記憶された制御プログラムや各種データに基づいて、本実装装置の前記各駆動部の駆動量(移動距離)や、駆動時間等を演算する。また、画像処理領域20cにおける位置認識結果に基づいて移動テーブル4の移動量を演算し、前記の各駆動部を制御して前記各チップや基板5の位置決めを行なう。
制御部20の画像処理領域20cは、カメラ5により撮像された撮影対象物(ここでは前記の各チップ)の画像を処理して該撮影対象物の位置認識を行なう。演算領域20aは、この位置認識結果に基づいて移動テーブル4の移動量を演算する。撮影対象物は、画像処理領域20cにおいて、カメラ5により撮影された画像をパターン認識による解析を行なうことにより位置認識され、この位置認識結果は記憶領域20bに記憶される。
The calculation area 20a of the control unit 20 calculates the driving amount (movement distance) of each driving unit of the mounting apparatus, the driving time, and the like based on a control program and various data stored in advance in the storage area 20b. Further, the amount of movement of the moving table 4 is calculated based on the position recognition result in the image processing area 20c, and the respective chips and the substrate 5 are positioned by controlling the respective driving units.
The image processing area 20c of the control unit 20 processes the image of the object to be imaged (here, each chip described above) imaged by the camera 5 and recognizes the position of the object to be imaged. The calculation area 20a calculates the movement amount of the movement table 4 based on the position recognition result. The object to be imaged is recognized in the image processing area 20c by analyzing the image taken by the camera 5 by pattern recognition, and the position recognition result is stored in the storage area 20b.

図2は、本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置の他の構成を示す構成図である。
但し、同図では、本実装装置を回路部品の実装に使用する使用方法も示している。
同図に示す本実施形態に係る回路部品の実装装置は、上面にチップが実装される基板32と、実装前のチップが置かれるチップテーブル33と、XY方向に水平移動可能な移動テーブル34と、対象物を位置認識するためのカメラ35及びカメラ39と、昇降機構に装着されているヘッド36と、基板32を固定するステージ37と、ヘッド36の下部に装着された熱圧着ツール38と、制御部40と、を備える。
制御部40は、演算領域40aと、記憶領域40bと、画像処理領域40cと、を備えて構成される。
なお、図2において、符号31aは1番目に実装するチップであり、符号31bは2番目に実装するチップである。
FIG. 2 is a configuration diagram showing another configuration of the circuit component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention.
However, the drawing also shows a method of using the mounting apparatus for mounting circuit components.
The circuit component mounting apparatus according to the present embodiment shown in the figure includes a substrate 32 on which a chip is mounted, a chip table 33 on which a chip before mounting is placed, and a moving table 34 that can move horizontally in the XY directions. A camera 35 and a camera 39 for recognizing the position of the object, a head 36 attached to the lifting mechanism, a stage 37 for fixing the substrate 32, a thermocompression bonding tool 38 attached to the lower part of the head 36, And a control unit 40.
The control unit 40 includes a calculation area 40a, a storage area 40b, and an image processing area 40c.
In FIG. 2, reference numeral 31a is the first mounted chip, and reference numeral 31b is the second mounted chip.

以下、図2に示す本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置の機能を説明する。
1番目に実装するチップ31a、2番目に実装するチップ31bは、各々複数の電極(チップ側電極)が形成された面を上向きにした状態でチップテーブル33上に置かれる。即ち、前記の各チップは、チップテーブル33上に複数配列されている。
基板32は、複数の電極(基板側電極)が形成された面を上向きにした状態でステージ37上に配列される。基板32の上面に前記の各チップが配置されて実装されることになる。
チップテーブル33は、前記の各チップを置いた状態で移動テーブル34上に固定されている。
移動テーブル34は、移動機構(図示は省略)に装着されており、XY方向に水平移動可能であり、その上にはチップテーブル33とステージ37が固定されている。
カメラ35は対象物(ここでは前記の各チップ)を位置認識するための撮像を行う撮像装置であり、ステージ37に固定されている。
カメラ39は対象物(ここでは前記の各チップ)を位置認識するための撮像を行う撮像装置であり、ヘッド36に固定されている。
The function of the circuit component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 2 will be described below.
The first mounted chip 31a and the second mounted chip 31b are placed on the chip table 33 with the surface on which a plurality of electrodes (chip side electrodes) are formed facing upward. That is, a plurality of the chips are arranged on the chip table 33.
The substrate 32 is arranged on the stage 37 with the surface on which a plurality of electrodes (substrate-side electrodes) are formed facing upward. Each chip is arranged and mounted on the upper surface of the substrate 32.
The chip table 33 is fixed on the moving table 34 in a state where each chip is placed.
The moving table 34 is mounted on a moving mechanism (not shown) and can move horizontally in the XY directions, and a chip table 33 and a stage 37 are fixed thereon.
The camera 35 is an imaging device that performs imaging for recognizing the position of an object (here, each chip described above), and is fixed to a stage 37.
The camera 39 is an imaging device that performs imaging for recognizing the position of an object (here, each chip described above), and is fixed to the head 36.

ヘッド36は昇降機構(図示は省略)に装着されており、上下方向に移動可能であり、昇降機構の駆動によりステージ37に対して接離する。また、ヘッド36には吸引機構及び加熱機構(いずれも図示は省略)が備えられており、ヘッド36の下部に装着された熱圧着ツール38に吸着された前記の各チップを基板32に加熱押圧して実装する機能を有している。
ステージ37は、基板32を吸着固定するための台座である。
移動テーブル4の移動機構、ヘッド36の昇降機構、カメラ35及びカメラ39、ヘッド6の吸引機構、及びヘッド6の加熱機構等の各駆動部は、制御部40との間で通信可能に接続されており、制御部40から送信される制御信号に基づいて動作が制御される。
移動テーブル34、ヘッド36、前記の昇降機構、カメラ35、カメラ39、前記の吸引機構及び加熱機構等の各駆動部は制御部40との間で通信可能に接続されており、制御部40から送信される制御信号に基づいて動作が制御される。
The head 36 is mounted on an elevating mechanism (not shown), is movable in the vertical direction, and is brought into contact with and separated from the stage 37 by driving the elevating mechanism. In addition, the head 36 is provided with a suction mechanism and a heating mechanism (both not shown), and the respective chips adsorbed by the thermocompression bonding tool 38 attached to the lower part of the head 36 are heated and pressed against the substrate 32. And has a function to be implemented.
The stage 37 is a pedestal for adsorbing and fixing the substrate 32.
Each drive unit such as a moving mechanism of the moving table 4, an elevating mechanism of the head 36, a camera 35 and a camera 39, a suction mechanism of the head 6, and a heating mechanism of the head 6 is connected to the control unit 40 so as to be communicable. The operation is controlled based on a control signal transmitted from the control unit 40.
The drive units such as the moving table 34, the head 36, the lifting mechanism, the camera 35, the camera 39, the suction mechanism, and the heating mechanism are connected to the control unit 40 so as to communicate with each other. The operation is controlled based on the transmitted control signal.

制御部40の演算領域40aは、記憶領域40bに予め記憶された制御プログラムや各種データに基づいて、本実装装置の前記各駆動部の駆動量(移動距離)や、駆動時間等を演算する。また、画像処理領域40cにおける位置認識結果に基づいて移動テーブル4の移動量を演算し、前記の各駆動部を制御して前記各チップや基板35の位置決めを行なう。
制御部40の画像処理領域40cは、カメラ35により撮像された撮影対象物(ここでは前記の各チップ)の画像を処理して該撮影対象物の位置認識を行なう。演算領域40aは、この位置認識結果に基づいて移動テーブル34の移動量を演算する。撮影対象物は、画像処理領域40cにおいて、カメラ35により撮影された画像をパターン認識による解析を行なうことにより位置認識され、この位置認識結果は記憶領域40bに記憶される。
The calculation area 40a of the control unit 40 calculates the driving amount (movement distance), driving time, and the like of each driving unit of the mounting apparatus based on a control program and various data stored in advance in the storage area 40b. Further, the amount of movement of the moving table 4 is calculated based on the position recognition result in the image processing area 40c, and the respective chips and the substrate 35 are positioned by controlling the respective driving units.
The image processing area 40c of the control unit 40 processes the image of the shooting target (here, each chip described above) picked up by the camera 35 and recognizes the position of the shooting target. The calculation area 40a calculates the movement amount of the movement table 34 based on the position recognition result. The object to be imaged is recognized in the image processing area 40c by analyzing the image taken by the camera 35 by pattern recognition, and the position recognition result is stored in the storage area 40b.

図3は、本発明の実施形態に係る回路部品の実装装置を用いて回路部品を実装した後の基板2とチップ1a,1bの配置を示す説明図である。
同図に示すように、チップ1a,1bは、互いに接触しないように基板2上に実装されている。
FIG. 3 is an explanatory view showing the arrangement of the substrate 2 and the chips 1a and 1b after the circuit components are mounted using the circuit component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention.
As shown in the figure, the chips 1a and 1b are mounted on the substrate 2 so as not to contact each other.

(動作の説明)
図4は、図1,2に示す回路部品の実装装置の制御部20の動作を示すフローチャート図である。
以下の動作の説明では、距離(x1-x2)を、初期の実装予定箇所に各々配置された2つのチップの中心間の距離(設計段階で予め求められている距離であり、即ち所定の距離である)とし、距離α(以下、単に「α」と記載する)を、1番目に実装するチップの中心と該中心に最も遠い端部(以下、単に「端部」と略称する)との間の距離とし、距離β(以下、単に「β」と記載する)を、2番目に実装するチップの中心とその端部との間の距離とする。
なお、x1-x2>α+βのときはチップ同士が接触せず、x1-x2≦α+βのときにはチップ同士が接触することになる。
以下、図1を参照しながら、図4に示すフローチャート図を用いて、図1に示す回路部品の実装装置の制御部20の動作を説明する。
(Description of operation)
FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the control unit 20 of the circuit component mounting apparatus shown in FIGS.
In the following description of the operation, the distance (x1-x2) is the distance between the centers of the two chips respectively arranged at the initial mounting planned location (the distance determined in advance at the design stage, that is, the predetermined distance). And a distance α (hereinafter simply referred to as “α”) between the center of the first mounted chip and the end portion farthest from the center (hereinafter simply referred to as “end portion”). And the distance β (hereinafter simply referred to as “β”) is the distance between the center of the second mounted chip and its end.
When x1-x2> α + β, the chips do not contact each other, and when x1-x2 ≦ α + β, the chips contact each other.
The operation of the control unit 20 of the circuit component mounting apparatus shown in FIG. 1 will be described below with reference to FIG. 1 and the flowchart shown in FIG.

(ステップS1)
まず、ステップS1では、制御部20は、移動テーブル4の移動機構を介して、移動テーブル4を移動させ、カメラ5の位置が、チップテーブル3上に載置された複数のチップのうち1番目に実装されるチップ1aの上方を撮影できる位置となるようにする。
(ステップS2)
次に、ステップS2では、制御部20は、ヘッド6の昇降機構を制御し、チップ1aをカメラ5を介してチップ1aの上方から撮像する。撮像されたチップ1aの画像は、制御部20の画像処理領域20cに送出される。
(Step S1)
First, in step S <b> 1, the control unit 20 moves the moving table 4 via the moving mechanism of the moving table 4, and the position of the camera 5 is the first of the plurality of chips placed on the chip table 3. The upper part of the chip 1a mounted on the board is positioned so as to be photographed.
(Step S2)
Next, in step S <b> 2, the control unit 20 controls the lifting mechanism of the head 6 and images the chip 1 a from above the chip 1 a via the camera 5. The captured image of the chip 1 a is sent to the image processing area 20 c of the control unit 20.

(ステップS3)
次に、ステップS3では、制御部20の演算領域20aは、記憶領域20bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、チップ1aを認識すると共に、チップ1aの位置及び外形サイズを取得する。また、演算領域20aは、この結果を用いて、1番目に実装するチップ1aの中心と端部との距離αを演算する。さらに、演算領域20aは、チップ1aの前記の位置及び外形サイズに基づいて、ヘッド6とチップ1aとを位置合わせするための移動テーブル4の移動量を演算する。
(ステップS4)
次に、ステップS4では、制御部20は、移動テーブル4の移動機構を介して移動テーブル4を移動させ、また、ヘッド6の昇降機構を介して熱圧着ツール8を下降させ、ヘッド6の吸引機構を使用してチップ1aを吸着する。
(Step S3)
Next, in step S3, the calculation area 20a of the control unit 20 recognizes the chip 1a by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 20b, and the position and outer size of the chip 1a. To get. In addition, the calculation area 20a calculates the distance α between the center and the end of the chip 1a to be mounted first using this result. Further, the calculation area 20a calculates the amount of movement of the moving table 4 for aligning the head 6 and the chip 1a based on the position and outer size of the chip 1a.
(Step S4)
Next, in step S <b> 4, the control unit 20 moves the moving table 4 through the moving mechanism of the moving table 4, and lowers the thermocompression bonding tool 8 through the lifting mechanism of the head 6 to suck the head 6. The chip 1a is adsorbed using a mechanism.

(ステップS5)
次に、ステップS5では、制御部20は、移動テーブル4の移動機構を介して移動テーブル4を再び移動させて、熱圧着ツール8に吸着されたチップ1aの鉛直下方に、基板2上に設定された実装箇所を位置決めする。熱圧着ツール8を下降させてチップ1aを基板2に搭載し、ヘッド6の加熱機構を使用して加熱すると共にヘッド6の昇降機構を介して押圧する。これにより、チップ1aが基板2に実装される。実装されたチップ1aをカメラ5で撮像する。その後、演算領域20aを介して、記憶領域20bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、実装されたチップ1aを認識すると共に、チップ1aの実装位置を取得し、該実装位置情報を記憶領域20bに格納する。
(Step S5)
Next, in step S <b> 5, the control unit 20 moves the moving table 4 again via the moving mechanism of the moving table 4 and sets it on the substrate 2 vertically below the chip 1 a adsorbed by the thermocompression bonding tool 8. Position the mounted location. The thermocompression bonding tool 8 is lowered to mount the chip 1 a on the substrate 2, heated using the heating mechanism of the head 6 and pressed via the lifting mechanism of the head 6. Thereby, the chip 1 a is mounted on the substrate 2. The mounted chip 1a is imaged by the camera 5. Thereafter, the mounted chip 1a is recognized and the mounting position of the chip 1a is obtained by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 20b via the calculation area 20a. The position information is stored in the storage area 20b.

図示は省略するが、この後、制御部20は、2番目に実装するチップ1bに対しても、上記のステップS1〜S5と同様のステップを適用し、チップテーブル3上でのチップ1bの画像をカメラ5を用いて撮像し、記憶領域20bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングによりチップ1aを認識すると共に、チップ1bの位置及び外形サイズを取得し、実装位置への位置付けを行って、該実装位置情報を記憶領域20bに格納する。但し、この段階では、ステップS5においては、チップ1bを、基板2上に設定された実装箇所に位置決めすると共に、熱圧着ツール8を下降させてチップ1bを基板2に搭載するまでの動作とし、チップ1bの実装は未だ行わない。   Although illustration is omitted, thereafter, the control unit 20 applies the same steps as the above steps S1 to S5 to the second mounted chip 1b, and the image of the chip 1b on the chip table 3 is applied. Is captured using the camera 5, the chip 1a is recognized by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 20b, the position and outer size of the chip 1b are acquired, and the mounting position is determined. Positioning is performed, and the mounting position information is stored in the storage area 20b. However, at this stage, in step S5, the chip 1b is positioned at the mounting position set on the substrate 2, and the thermocompression tool 8 is lowered to mount the chip 1b on the substrate 2. The chip 1b is not yet mounted.

(ステップS6)
次に、ステップS6では、制御部20の演算領域20aは、前記の各実装箇所情報に基づいて、実装されたチップ1a及び2番目に実装するチップ1bのエッジ位置(即ち、中心と端部の位置)を、それぞれ取得し、1番目に実装するチップ1aの中心と端部との距離α、及び2番目に実装するチップ1bの中心と端部との距離βを、それぞれ演算する。
(ステップS7)
次に、ステップS7では、制御部20の演算領域20aは、既に実装されたチップ1aと、2番目に実装するチップ1bとが、互いに接触するか否かを検証し、既に実装されたチップ1aと、2番目に実装するチップ1bとが、互いに接触する場合はステップS8に移り、既に実装されたチップ1aと、2番目に実装するチップ1bとが、互いに接触しない場合はステップS10に進む。
(Step S6)
Next, in step S6, the calculation area 20a of the control unit 20 determines the edge positions of the mounted chip 1a and the second mounted chip 1b (that is, the center and end portions) based on the mounting location information. The position α is obtained, and the distance α between the center and the end of the first mounted chip 1a and the distance β between the center and the end of the second mounted chip 1b are calculated.
(Step S7)
Next, in step S7, the calculation area 20a of the control unit 20 verifies whether or not the already mounted chip 1a and the second mounted chip 1b contact each other, and the already mounted chip 1a. If the second mounted chip 1b is in contact with each other, the process proceeds to step S8. If the already mounted chip 1a and the second mounted chip 1b are not in contact with each other, the process proceeds to step S10.

以下、前記の検証方法について説明する。
上記の検証は、前記の各実装箇所情報に基づいてなされ、搭載精度・外形サイズを含めて上記チップ同士が接触するか否かを制御部20の演算領域20aで演算する。チップ中心同士の距離(=x1-x2 )が、実装済の1番目のチップ1aの中心と端部との距離αと、2番目に実装するチップ1bの中心と端部との距離βの和より大きい場合は上記チップ同士は接触しないものと判断され、他方、チップ中心同士の距離(=x1-x2)が、実装済の1番目のチップ1aの中心と端部との距離αと、2番目に実装するチップ1bの中心と端部との距離βの和よりも大きくない場合は上記チップ同士は接触するものと判断する。
Hereinafter, the verification method will be described.
The above verification is performed based on each mounting location information, and the calculation area 20a of the control unit 20 calculates whether or not the chips are in contact with each other including the mounting accuracy and the outer size. The distance between the chip centers (= x1-x2) is the sum of the distance α between the center and end of the first mounted chip 1a and the distance β between the center and end of the second mounted chip 1b. If it is larger, it is determined that the chips do not contact each other. On the other hand, the distance between the centers of the chips (= x1-x2) is the distance α between the center and the end of the first mounted chip 1a, and 2 When it is not larger than the sum of the distances β between the center and the end of the chip 1b to be mounted second, it is determined that the chips are in contact with each other.

(ステップS8)
ステップS8では、制御部20は、チップ同士の接触量(=(x1-x2)−(α+β))以上の距離を演算領域20aを介して計算し、移動テーブル4の移動機構を介して移動テーブル4をオフセット補正して移動させる。
(ステップS9)
ステップS9では、制御部20は、熱圧着ツール8に吸着されたチップ1bの鉛直下方に、基板2上に設定された実装箇所を位置決めする。熱圧着ツール8を下降させてチップ1bを基板2に搭載し、ヘッド6の加熱機構を使用して加熱すると共にヘッド6の昇降機構を介して押圧する。これにより、上記のオフセット補正がなされた位置でチップ1bが基板2に実装される。その後、実装されたチップ1bをカメラ5で撮像し、予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングによりチップ1bを認識すると共に、チップ1bの位置及び外形サイズを取得する(これらの情報は、さらに他のチップを実装する際に参照される)。これにより、処理を終了するか、またはステップS1に戻って、さらに他のチップの実装を行う。
(Step S8)
In step S8, the control unit 20 calculates a distance equal to or greater than the contact amount between the chips (= (x1-x2) − (α + β)) via the calculation area 20a, and then via the moving mechanism of the moving table 4. The moving table 4 is moved with offset correction.
(Step S9)
In step S <b> 9, the control unit 20 positions a mounting location set on the substrate 2 below the chip 1 b attracted by the thermocompression bonding tool 8. The thermocompression bonding tool 8 is lowered to mount the chip 1 b on the substrate 2, heated using the heating mechanism of the head 6, and pressed through the lifting mechanism of the head 6. As a result, the chip 1b is mounted on the substrate 2 at the position where the offset correction has been performed. Thereafter, the mounted chip 1b is imaged by the camera 5, and the chip 1b is recognized by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance, and the position and outer size of the chip 1b are acquired (these information) Is referred to when mounting other chips). As a result, the process is ended or the process returns to step S1 to mount another chip.

(ステップS10)
ステップS10では、制御部20は、熱圧着ツール8を下降させてチップ1bを基板2に搭載し、ヘッド6の加熱機構を使用して加熱すると共にヘッド6の昇降機構を介して押圧する。これにより、計画されていた所定の位置のままでチップ1bが基板2に実装される。その後、実装されたチップ1bをカメラ5で撮像し、記憶領域20bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、チップ1bを認識すると共に、チップ1bの位置及び外形サイズを取得する(これらの情報は、さらに他のチップを実装する際に参照される)。これにより、処理を終了するか、またはステップS1に戻って、さらに他のチップの実装を行う。
なお、ステップS7及びステップS8の処理において、チップ1a以外に、既に実装されている他のチップが存在する場合は、チップ1bが、この他のチップとも接触しないように考慮する。
(Step S10)
In step S <b> 10, the control unit 20 lowers the thermocompression bonding tool 8 to mount the chip 1 b on the substrate 2, heats it using the heating mechanism of the head 6, and presses it via the lifting mechanism of the head 6. As a result, the chip 1b is mounted on the substrate 2 while keeping the predetermined position as planned. Thereafter, the mounted chip 1b is imaged by the camera 5, and the chip 1b is recognized by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 20b, and the position and outer size of the chip 1b are acquired. (These information is referred to when another chip is mounted). As a result, the process is ended or the process returns to step S1 to mount another chip.
In the processing of step S7 and step S8, if there is another chip already mounted in addition to the chip 1a, it is considered that the chip 1b does not come into contact with this other chip.

以下、図2を参照しながら、図4に示すフローチャート図を用いて、図2に示す回路部品の実装装置の制御部40の動作を説明する。
(ステップS1)
まず、ステップS1では、制御部40は、移動テーブル34の移動機構を介して、移動テーブル34を移動させ、カメラ35の位置が、チップテーブル33上に載置された複数のチップのうち1番目に実装されるチップ31aの上方を撮影できる位置となるようにする。
(ステップS2)
次に、ステップS2では、制御部40は、ヘッド36の昇降機構を制御し、チップ31aをカメラ39を介してチップ31aの上方から撮像する。撮像されたチップ31aの画像は、制御部40の画像処理領域40cに送出される。
The operation of the control unit 40 of the circuit component mounting apparatus shown in FIG. 2 will be described below with reference to FIG. 2 and the flowchart shown in FIG.
(Step S1)
First, in step S <b> 1, the control unit 40 moves the moving table 34 via the moving mechanism of the moving table 34, and the position of the camera 35 is the first of the plurality of chips placed on the chip table 33. The upper part of the chip 31a mounted on the board is positioned so as to be photographed.
(Step S2)
Next, in step S <b> 2, the control unit 40 controls the lifting mechanism of the head 36 and images the chip 31 a from above the chip 31 a via the camera 39. The captured image of the chip 31 a is sent to the image processing area 40 c of the control unit 40.

(ステップS3)
次に、ステップS3では、制御部40の演算領域40aは、記憶領域40bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、チップ31aを認識すると共に、チップ31aの位置及び外形サイズを取得する。また、演算領域40aは、この認識結果を用いて、1番目に実装するチップ31aの中心と端部との距離αを演算する。さらに、演算領域40aは、チップ31aの前記の位置及び外形サイズに基づいて、ヘッド36とチップ31aとを位置合わせするための移動テーブル34の移動量を演算する。
(ステップS4)
次に、ステップS4では、制御部40は、移動テーブル34の移動機構を介して移動テーブル34を移動させ、また、ヘッド36の昇降機構を介して熱圧着ツール38を下降させ、ヘッド36の吸引機構を使用してチップ31aを吸着する。
(Step S3)
Next, in step S3, the calculation area 40a of the control unit 40 recognizes the chip 31a by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 40b, and the position and outer size of the chip 31a. To get. The calculation area 40a calculates the distance α between the center and the end of the chip 31a to be mounted first using the recognition result. Furthermore, the calculation area 40a calculates the amount of movement of the moving table 34 for aligning the head 36 and the chip 31a based on the position and outer size of the chip 31a.
(Step S4)
Next, in step S <b> 4, the control unit 40 moves the moving table 34 via the moving mechanism of the moving table 34, and lowers the thermocompression bonding tool 38 via the lifting mechanism of the head 36, thereby sucking the head 36. The chip 31a is adsorbed using a mechanism.

(ステップS5)
次に、ステップS5では、制御部40は、移動テーブル34の移動機構を介して移動テーブル34を再び移動させて、熱圧着ツール38に吸着されたチップ31aの鉛直下方に、基板32上に設定された実装箇所を位置決めする。熱圧着ツール38を下降させてチップ31aを基板32に搭載し、ヘッド36の加熱機構を使用して加熱すると共にヘッド36の昇降機構を介して押圧する。これにより、チップ31aが基板32に実装される。実装されたチップ31aをカメラ39で撮像する。その後、演算領域40aを介して、記憶領域40bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、実装されたチップ31aを認識すると共に、チップ31aの実装位置を取得し、該実装位置情報を記憶領域40bに格納する。
(Step S5)
Next, in step S <b> 5, the control unit 40 moves the moving table 34 again through the moving mechanism of the moving table 34 and sets it on the substrate 32 vertically below the chip 31 a adsorbed by the thermocompression bonding tool 38. Position the mounted location. The chip 31 a is mounted on the substrate 32 by lowering the thermocompression bonding tool 38, heated using the heating mechanism of the head 36, and pressed through the lifting mechanism of the head 36. Thereby, the chip 31 a is mounted on the substrate 32. The mounted chip 31a is imaged by the camera 39. Thereafter, the mounted chip 31a is recognized and the mounting position of the chip 31a is obtained by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 40b via the calculation area 40a. The position information is stored in the storage area 40b.

図示は省略するが、この後、制御部40は、2番目に実装するチップ31bに対しても、上記のステップS1〜S5と同様のステップを適用し、熱圧着ツール38に吸着されたチップ31bの画像をカメラ35を用いて下から撮像し、記憶領域40bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、チップ31bを認識すると共に、チップ31bの位置及び外形サイズを取得し、実装位置への位置付けを行って、該実装位置情報を記憶領域40bに格納する。但し、この段階では、ステップS5においては、チップ31bを、基板32上に設定された実装箇所に位置決めすると共に、熱圧着ツール38を下降させてチップ31bを基板32に搭載するまでの動作とし、チップ31bの実装は未だ行わない。   Although illustration is omitted, after that, the control unit 40 applies the same steps as the above steps S1 to S5 to the chip 31b to be mounted second, and the chip 31b adsorbed by the thermocompression bonding tool 38 is applied. Is captured from below using the camera 35, the chip 31b is recognized by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 40b, and the position and outer size of the chip 31b are acquired. Then, the mounting position information is positioned, and the mounting position information is stored in the storage area 40b. However, at this stage, in step S5, the chip 31b is positioned at the mounting position set on the substrate 32, and the operation until the chip 31b is mounted on the substrate 32 by lowering the thermocompression bonding tool 38 is performed. The chip 31b is not yet mounted.

(ステップS6)
次に、ステップS6では、制御部40の演算領域40aは、前記の各実装箇所情報に基づいて、実装されたチップ31a及び2番目に実装するチップ31bのエッジ位置(即ち、中心と端部の位置)を、それぞれ取得し、1番目に実装するチップ31aの中心と端部との距離α、及び2番目に実装するチップ31bの中心と端部との距離βを、それぞれ演算する。
(ステップS7)
次に、ステップS7では、制御部40の演算領域40aは、既に実装されたチップ31aと、2番目に実装するチップ31bとが、互いに接触するか否かを検証し、既に実装されたチップ31aと、2番目に実装するチップ31bとが、互いに接触する場合はステップS8に移り、既に実装されたチップ31aと、2番目に実装するチップ31bとが、互いに接触しない場合はステップS10に進む。
なお、前記の検証方法については、図1に示す回路部品の実装装置の制御部20の動作で説明した検証方法のとおりである。
(Step S6)
Next, in step S6, the calculation area 40a of the control unit 40 determines the edge positions (that is, the center and end portions of the mounted chip 31a and the second mounted chip 31b based on the mounting location information. The position α is obtained, and the distance α between the center and the end of the chip 31a to be mounted first and the distance β between the center and the end of the chip 31b to be mounted second are calculated.
(Step S7)
Next, in step S7, the calculation area 40a of the control unit 40 verifies whether the already mounted chip 31a and the second mounted chip 31b contact each other, and the already mounted chip 31a. If the second mounted chip 31b is in contact with each other, the process proceeds to step S8. If the already mounted chip 31a and the second mounted chip 31b are not in contact with each other, the process proceeds to step S10.
The verification method is the same as the verification method described in the operation of the control unit 20 of the circuit component mounting apparatus shown in FIG.

(ステップS8)
ステップS8では、制御部40は、チップ同士の接触量(=(x1-x2)−(α+β))以上の距離を演算領域40aを介して計算し、移動テーブル34の移動機構を介して移動テーブル34をオフセット補正して移動させる。
(ステップS9)
ステップS9では、制御部40は、熱圧着ツール38に吸着されたチップ31bの鉛直下方に、基板32上に設定された実装箇所を位置決めする。熱圧着ツール38を下降させてチップ31bを基板32に搭載し、ヘッド36の加熱機構を使用して加熱すると共にヘッド36の昇降機構を介して押圧する。これにより、上記のオフセット補正がなされた位置でチップ31bが基板32に実装される。その後、実装されたチップ31bをカメラ35で撮像し、記憶領域40bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、チップ31bを認識すると共に、チップ31bの位置及び外形サイズを取得する(これらの情報は、さらに他のチップを実装する際に参照される)。これにより、処理を終了するか、またはステップS1に戻って、さらに他のチップの実装を行う。
(Step S8)
In step S8, the control unit 40 calculates a distance equal to or greater than the contact amount between the chips (= (x1-x2) − (α + β)) via the calculation area 40a, and then via the moving mechanism of the moving table 34. The movement table 34 is moved with offset correction.
(Step S9)
In step S <b> 9, the control unit 40 positions a mounting location set on the substrate 32 below the chip 31 b attracted by the thermocompression bonding tool 38. The chip 31b is mounted on the substrate 32 by lowering the thermocompression bonding tool 38, heated using the heating mechanism of the head 36, and pressed through the lifting mechanism of the head 36. Thereby, the chip 31b is mounted on the substrate 32 at the position where the offset correction is performed. Thereafter, the mounted chip 31b is imaged by the camera 35, and the chip 31b is recognized by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 40b, and the position and outer size of the chip 31b are acquired. (These information is referred to when another chip is mounted). As a result, the process is ended or the process returns to step S1 to mount another chip.

(ステップS10)
ステップS10では、制御部40は、熱圧着ツール38を下降させてチップ31bを基板32に搭載し、ヘッド36の加熱機構を使用して加熱すると共にヘッド36の昇降機構を介して押圧する。これにより、計画されていた所定の位置のままでチップ31bが基板32に実装される。その後、実装されたチップ31bをカメラ35で撮像し、記憶領域40bに予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、チップ31bを認識すると共に、チップ31bの位置及び外形サイズを取得する(これらの情報は、さらに他のチップを実装する際に参照される)。これにより、処理を終了するか、またはステップS1に戻って、さらに他のチップの実装を行う。
(Step S10)
In step S <b> 10, the control unit 40 lowers the thermocompression bonding tool 38 to mount the chip 31 b on the substrate 32, heats it using the heating mechanism of the head 36, and presses it via the lifting mechanism of the head 36. As a result, the chip 31b is mounted on the substrate 32 while keeping the predetermined position as planned. Thereafter, the mounted chip 31b is imaged by the camera 35, and the chip 31b is recognized by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance in the storage area 40b, and the position and outer size of the chip 31b are acquired. (These information is referred to when another chip is mounted). As a result, the process is ended or the process returns to step S1 to mount another chip.

なお、ステップS7及びステップS8の処理において、チップ31a以外に、既に実装されている他のチップが存在する場合は、チップ31bが、この他のチップとも接触しないように考慮するものとする。
また、図2に示す回路部品の実装装置の制御部40の動作については、必ずしも図4に示すフローチャートの手順に従う必要はなく、例えば、チップ31aに対する処理とチップ31bに対する処理とは、互いに入れ換えることが可能である。また、前記2つの処理の実行順序も入れ換えることが可能である。
In the processing of step S7 and step S8, when there is another chip already mounted in addition to the chip 31a, it is considered that the chip 31b does not come into contact with this other chip.
Also, the operation of the control unit 40 of the circuit component mounting apparatus shown in FIG. 2 does not necessarily follow the procedure of the flowchart shown in FIG. 4. For example, the processing for the chip 31 a and the processing for the chip 31 b are interchanged. Is possible. Also, the execution order of the two processes can be interchanged.

図5は、マーク付のチップの1例を示す説明図である。
同図に示すチップの場合、左上と右下の各コーナー部に黒塗りの鍵括弧がマークされている。
図6は、角度補正を行って実装する場合のチップ同士の接触の判定例を示す説明図である。
同図に示す両チップは、角度補正がなされて両チップとも長辺がX軸方向に揃っているので、αはチップの中心(X1,Y1)からチップ右端までの距離となり、βはチップの中心(X2,Y2)からチップ左端までの距離となるので、両中心間の距離は(X1−X2)となる。
図7は、角度補正を行わずに実装する場合のチップ同士の接触の判定例を示す説明図である。
同図に示す両チップは、角度補正がなされず、両チップとも長辺がX軸方向に揃っていないので、この例ではαはチップの中心(X1,Y1)からチップの右上角までの距離となり、βはチップの中心(X2,Y2)からチップの左上角までの距離となるが、この場合も、両中心間の距離は(X1−X2)としてよい。
FIG. 5 is an explanatory view showing an example of a chip with a mark.
In the case of the chip shown in the figure, black brackets are marked at the upper left and lower right corners.
FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating an example of determining contact between chips when mounting is performed with angle correction.
Since both chips shown in the figure are angle corrected and both chips have long sides aligned in the X-axis direction, α is the distance from the center of the chip (X1, Y1) to the right end of the chip, and β is the chip Since the distance is from the center (X2, Y2) to the left end of the chip, the distance between both centers is (X1-X2).
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating a determination example of contact between chips when mounting without performing angle correction.
In the example, α is the distance from the center of the chip (X1, Y1) to the upper right corner of the chip, because both chips shown in the figure are not angle-corrected and the long sides of both chips are not aligned in the X-axis direction. Β is the distance from the center (X2, Y2) of the chip to the upper left corner of the chip. In this case as well, the distance between the centers may be (X1−X2).

(他の実施形態)
チップテーブルへのチップの供給は手動でもよいし、チップ供給部でも構わない。
ステージへの基板の供給は手動でもよいし、基板供給部でも構わない。
また、チップの外形を認識し所定の大きさ以上のチップだと判別した場合は、そのチップの実装を中止してもよい。この場合、アラームを発生し、作業者にその旨を伝えてもよい。
また、チップの外形だけではなく、チップのマークをパターンマッチングさせてもよい。カメラの視野にチップが全て入りきらない場合は、外形もしくはマークを2回撮像してもよい。この場合、カメラは移動して対角の外形もしくはマークを撮像する。2つのマーク位置からチップの中心を算出する。
(Other embodiments)
The chip supply to the chip table may be manual or a chip supply unit.
The substrate may be supplied to the stage manually or by a substrate supply unit.
If the outer shape of the chip is recognized and it is determined that the chip is a predetermined size or larger, the mounting of the chip may be stopped. In this case, an alarm may be generated to notify the operator to that effect.
Further, not only the outer shape of the chip but also the chip mark may be pattern-matched. If the entire chip does not fit in the camera's field of view, the outer shape or mark may be imaged twice. In this case, the camera moves and images a diagonal outline or mark. The center of the chip is calculated from the two mark positions.

さらに、実装装置にθ補正がない場合は、例えば、図7に示すように、1番目に実装するチップの中心と角との間の距離α'と2番目に実装するチップの中心と角との間の距離β'の和と、チップ中心同士の距離(=x1-x2)とを比較して、搭載位置を演算してもよい。
この場合、チップ中心同士の距離(=x1-x2)が1番目に実装するチップの中心と角との間の距離α'と2番目に実装するチップの中心と角との間の距離β'の和より大きい場合、即ち、両チップが接触しない場合は、2番目のチップを所定の実装位置に維持したままとする。
Further, when the mounting apparatus has no θ correction, for example, as shown in FIG. 7, the distance α ′ between the center and corner of the first mounted chip and the center and corner of the second mounted chip are The mounting position may be calculated by comparing the sum of the distances β ′ between and the distance between the chip centers (= x1-x2).
In this case, the distance between the chip centers (= x1-x2) is a distance α ′ between the center and corner of the first mounted chip and a distance β ′ between the center and corner of the second mounted chip. If the sum is greater than the sum of the two, that is, if the two chips do not contact, the second chip is kept in a predetermined mounting position.

他方、この場合、チップ中心同士の距離(=x1-x2)が、1番目に実装するチップの中心と端部との間の距離α'と2番目に実装するチップの中心と端部との間の距離β'の和以下の場合、即ち、両チップが接触する場合は、該チップ同士の接触量(=(x1-x2)−(α'+β'))以上の距離をオフセット補正して移動させて実装するものとする。
また、前述のチップのマークの認識には、X線撮像装置や赤外線顕微鏡等を用いてもよい。さらに、上向きカメラと下向きカメラを有する上下2視野カメラを用いてもよい。
また、移動テーブル4上にチップテーブル3とステージ7とが固定されXY方向に稼動されているが、ヘッド6が移動テーブルに固定されヘッドがXY方向に稼動してもよい。
また、2番目のチップの外形サイズを認識した時点で、搭載精度・外形サイズを含めてチップ同士が接触しないチップ搭載位置を制御部20の演算領域20bで演算し、オフセット補正して移動させて実装してもよい。
On the other hand, in this case, the distance between the chip centers (= x1-x2) is the distance α ′ between the center and the end of the first mounted chip and the center and the end of the second mounted chip. If the distance is less than the sum of the distances β ′, that is, if both chips are in contact, offset correction is performed for a distance that is greater than the contact amount between the chips (= (x1−x2) − (α ′ + β ′)). To move and implement.
Further, an X-ray imaging device, an infrared microscope, or the like may be used for the above-described chip mark recognition. Furthermore, an upper and lower two-view camera having an upward camera and a downward camera may be used.
Further, although the chip table 3 and the stage 7 are fixed on the moving table 4 and operated in the XY direction, the head 6 may be fixed to the moving table and the head may operate in the XY direction.
Further, when the outer size of the second chip is recognized, the chip mounting position where the chips do not contact each other including the mounting accuracy and the outer size is calculated in the calculation area 20b of the control unit 20, and the offset is corrected and moved. May be implemented.

また、接合品質向上を目的として窒素雰囲気中で実装してもよい。
さらに、実装工法としては、加熱押圧するだけでなく、超音波振動でもレーザー加熱でもよい。
また、モーターのエンコーダーを読み取ることでチップの実装位置を認識してもよい。 なお、本発明に係る回路部品の実装装置の各構成要素の処理の少なくとも一部をコンピュータ制御により実行するものとし、かつ、上記処理を、図4のフローチャートで示した手順によりコンピュータに実行せしめるプログラムは、半導体メモリを始め、CD−ROMや磁気テープなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納して配付してもよい。そして、少なくともマイクロコンピュータ、パーソナルコンピュータ、汎用コンピュータを範疇に含むコンピュータが、上記の記録媒体から上記プログラムを読み出して、実行するものとしてもよい。
Moreover, you may mount in nitrogen atmosphere for the purpose of joining quality improvement.
Further, as a mounting method, not only heating and pressing but also ultrasonic vibration or laser heating may be used.
Further, the mounting position of the chip may be recognized by reading the encoder of the motor. A program for executing at least a part of the processing of each component of the circuit component mounting apparatus according to the present invention by computer control and causing the computer to execute the above processing according to the procedure shown in the flowchart of FIG. May be stored and distributed in a computer-readable recording medium such as a semiconductor memory, a CD-ROM, or a magnetic tape. A computer including at least a microcomputer, a personal computer, and a general-purpose computer may read and execute the program from the recording medium.

本発明は、回路部品の実装装置の構築に適用可能であり、特に、基板上に設定された複数の実装箇所に、例えば、チップと呼称される半導体集積回路等を、チップ同士を接触させないで実装するための回路部品の実装装置に好適に適用することができる。   The present invention is applicable to construction of a circuit component mounting apparatus, and in particular, a semiconductor integrated circuit called a chip, for example, is not brought into contact with a plurality of mounting locations set on a substrate. The present invention can be suitably applied to a circuit component mounting apparatus for mounting.

1a,31a 1番目に実装するチップ
1b,31b 2番目に実装するチップ
2,32 基板
3,33 チップテーブル
4,34 移動テーブル
5,35,39 カメラ
6,36 ヘッド
7,37 ステージ
8,38 熱圧着ツール
20,40 制御部
20a,40a 演算領域
20b,40b 記憶領域
20c,40c 画像処理領域
1a, 31a First mounted chip 1b, 31b Second mounted chip 2, 32 Substrate 3, 33 Chip table 4, 34 Moving table 5, 35, 39 Camera 6, 36 Head 7, 37 Stage 8, 38 Heat Crimping tool 20, 40 Control unit 20a, 40a Calculation area 20b, 40b Storage area 20c, 40c Image processing area

Claims (10)

2つの回路部品の各々について、その中心と、該中心から最も遠い端部との間の距離を計測する計測手段と、
載置台に置かれた前記2つの回路部品を、実装予定箇所に各々配置させる配置手段と、
前記2つの回路部品のうち、任意の一方の回路部品を該回路部品の実装予定箇所に実装する第1の実装手段と、
前記計測手段による計測結果と、実装予定箇所に各々配置された前記2つの回路部品の所定の中心間の距離とに基づいて、前記2つの回路部品の前記端部間の距離を演算する演算手段と、
前記演算手段による演算結果に基づいて前記2つの回路部品が接触するか否かを判断する接触判定手段と、
前記接触判定手段の判定結果により、前記2つの回路部品が接触する場合は未実装の方の回路部品を移動させて、前記実装済の回路部品と接触しない位置に位置決めする補正手段と、
前記補正手段により位置決めされた前記回路部品を、該位置決めされた位置で実装する第2の実装手段と、
を備えたことを特徴とする回路部品の実装装置。
Measuring means for measuring the distance between the center of each of the two circuit components and the end farthest from the center;
Arrangement means for arranging the two circuit components placed on the mounting table at respective mounting locations;
A first mounting means for mounting any one of the two circuit components to a mounting position of the circuit component;
Calculation means for calculating the distance between the end portions of the two circuit components based on the measurement result by the measurement means and the distance between the predetermined centers of the two circuit components respectively arranged at the mounting location. When,
Contact determination means for determining whether or not the two circuit components are in contact with each other based on a calculation result by the calculation means;
According to the determination result of the contact determination means, when the two circuit components are in contact with each other, the correction circuit that moves the unmounted circuit component and positions it at a position not in contact with the mounted circuit component;
Second mounting means for mounting the circuit component positioned by the correcting means at the positioned position;
A circuit component mounting apparatus comprising:
前記計測手段は、前記2つの回路部品の各々をカメラで撮影した撮像に基づいて、予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングにより、前記2つの回路部品の各々を認識すると共に、前記2つの回路部品の各々の外形を認識し、該認識結果に基づいて前記の中心から最も遠い端部との間の距離を各々取得することを特徴とする請求項1記載の回路部品の実装装置。   The measuring means recognizes each of the two circuit components by pattern matching with a predetermined circuit component pattern stored in advance based on an image obtained by photographing each of the two circuit components with a camera. 2. The circuit component mounting according to claim 1, wherein each of the two circuit components is recognized and a distance between the outermost end from the center is acquired based on the recognition result. apparatus. 前記カメラの設置台数を1以上としたことを特徴とする請求項2記載の回路部品の実装装置。   3. The circuit component mounting apparatus according to claim 2, wherein the number of installed cameras is one or more. 前記カメラの設置台数を複数とする場合は、少なくとも1台のカメラは、前記2つの回路部品の一方を上方から撮影し、少なくとも1台の他のカメラは前記回路部品の他方を下方から撮影するものであることを特徴とする請求項3記載の回路部品の実装装置。   When a plurality of cameras are installed, at least one camera photographs one of the two circuit components from above, and at least one other camera photographs the other circuit component from below. 4. The circuit component mounting apparatus according to claim 3, wherein the circuit component mounting apparatus is a device. 前記配置手段は、前記認識結果に基づいて前記2つの回路部品の各々の前記認識地点での位置を取得し、該位置に基づいて前記2つの回路部品の各々の実装予定箇所までの移動量を各々計算することを特徴とする請求項2記載の回路部品の実装装置。   The arrangement means obtains the position of each of the two circuit components at the recognition point based on the recognition result, and calculates the amount of movement of each of the two circuit components to the planned mounting location based on the position. The circuit component mounting apparatus according to claim 2, wherein each circuit component is calculated. 前記補正手段により移動される前記未実装の回路部品の補正の移動量は、前記の中心から最も遠い端部との間の距離と、前記2つの回路部品の前記所定の中心間の距離とに基づいて決定されることを特徴とする請求項2記載の回路部品の実装装置。   The correction movement amount of the unmounted circuit component moved by the correction means is a distance between the end furthest from the center and a distance between the predetermined centers of the two circuit components. The circuit component mounting apparatus according to claim 2, wherein the circuit component mounting apparatus is determined based on the determination result. 前記の予め記憶されている所定の回路部品パターンとのパターンマッチングは、当該回路部品の外形、若しくは当該回路部品のマークをパターンマッチング対象として実行されることを特徴とする請求項2記載の回路部品の実装装置。   3. The circuit component according to claim 2, wherein the pattern matching with the predetermined circuit component pattern stored in advance is executed by using an outline of the circuit component or a mark of the circuit component as a pattern matching target. Mounting equipment. 前記実装手段は、前記回路部品を、前記実装箇所に搭載して加熱すると共に押圧する手段を備えていることを特徴とする請求項1記載の回路部品の実装装置。   2. The circuit component mounting apparatus according to claim 1, wherein the mounting means includes means for mounting and heating the circuit component at the mounting location and pressing the circuit component. 前記接触判定手段は、前記2つの回路部品以外で既に実装済の他の回路部品が存在する場合は、前記未実装の方の回路部品と前記実装済の他の回路部品との接触も判定し、前記補正手段は、前記接触判定手段により、前記未実装の方の回路部品が前記実装済の他の回路部品と接触すると判定された場合は、前記未実装の方の回路部品を移動させて、前記未実装の方の回路部品が、前記実装済の他の回路部品とも接触しない位置に位置決めすることを特徴とする請求項1記載の回路部品の実装装置。   The contact determination means also determines contact between the unmounted circuit component and the other mounted circuit component when there is another mounted circuit component other than the two circuit components. The correction means moves the unmounted circuit component when the contact determining means determines that the unmounted circuit component is in contact with the other mounted circuit component. 2. The circuit component mounting apparatus according to claim 1, wherein the unmounted circuit component is positioned at a position where it does not come into contact with the other mounted circuit components. 前記回路部品は、半導体集積回路を含むチップであることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の回路部品の実装装置。   6. The circuit component mounting apparatus according to claim 1, wherein the circuit component is a chip including a semiconductor integrated circuit.
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