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JP2011174780A - Voltage testing plug - Google Patents

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JP2011174780A
JP2011174780A JP2010038271A JP2010038271A JP2011174780A JP 2011174780 A JP2011174780 A JP 2011174780A JP 2010038271 A JP2010038271 A JP 2010038271A JP 2010038271 A JP2010038271 A JP 2010038271A JP 2011174780 A JP2011174780 A JP 2011174780A
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JP
Japan
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contact
voltage
terminal
voltage test
external power
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Pending
Application number
JP2010038271A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keisaburo Kobayashi
啓三郎 小林
Kiyoshi Nishimura
清 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electric Power Co Holdings Inc
Original Assignee
Tokyo Electric Power Co Inc
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Publication date
Application filed by Tokyo Electric Power Co Inc filed Critical Tokyo Electric Power Co Inc
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Abstract

【課題】電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。
【解決手段】電圧試験プラグ21の上部導体22と外側端子24との間にヒューズ28を接続し、このヒューズ28は、試験器27から電気装置12に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、試験器27の試験線を接続したまま電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する試験器27を介した外部電源の相間短絡の短絡電流が流れた場合には、外部電源側の本体ヒューズより先に動作する。
【選択図】 図1
Provided is a voltage test plug that can prevent a momentary disconnection when measuring a voltage even if it is connected to or disconnected from a voltage test terminal of the electric device, and can prevent a short circuit between phases even when a tester is connected when testing the electric device. That is.
A fuse 28 is connected between an upper conductor 22 and an outer terminal 24 of a voltage test plug 21, and the fuse 28 is a test voltage applied in a normal test from a tester 27 to an electric device 12. In the case where a short-circuit current of a short circuit between phases of the external power source flows through the tester 27 that occurs when the tester 27 is connected and disconnected from the voltage test terminal while the test line of the tester 27 is connected, Operates before the fuse on the external power supply side.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、電気装置の電圧試験ターミナルに挿入され電気装置の試験及び電圧測定に使用する電圧試験プラグに関する。   The present invention relates to a voltage test plug which is inserted into a voltage test terminal of an electric device and used for testing and measuring a voltage of the electric device.

電圧試験プラグは、変電所リレー盤や監視制御盤等の電気装置の点検・試験において、電気装置の電圧試験ターミナルに挿入して、電気装置を外部電源、例えば電力系統から切り離す装置として用いられている。そして、外部電源の代わりに試験器を電気装置に接続し、試験器から電気装置に試験入力を印加するために使用するものである。   The voltage test plug is used as a device to be inserted into the voltage test terminal of an electrical device and to disconnect the electrical device from an external power source, for example, the power system, in inspection and testing of electrical devices such as substation relay panels and monitoring control panels. Yes. Then, instead of an external power source, a tester is connected to the electrical device and used to apply a test input from the tester to the electrical device.

現在、使用している電圧試験プラグは、試験器の試験線を接続したままの電圧試験プラグを抜き差しすると、内部抵抗が小さい試験器を介して相間短絡する。相間短絡すると、
外部電源である計器用変圧器(以下、変圧器という)の2次ヒューズ(以下、本体ヒューズという)が溶断したり、保護リレーの誤表示が発生したり、あるいは感電等の不具合を引き起こしてしまうことがある。そのため、試験器の試験線を接続したまま電圧試験プラグの「挿入・引抜き」については、行わないようにすることが安全上義務づけられている。
The voltage test plug currently used is short-circuited between the phases via a tester having a small internal resistance when the voltage test plug with the test wire of the tester connected is connected or disconnected. When the phase is short-circuited,
The secondary fuse (hereinafter referred to as the main body fuse) of the instrument transformer (hereinafter referred to as the transformer), which is an external power supply, is blown out, the protective relay is erroneously displayed, or a malfunction such as an electric shock is caused. Sometimes. Therefore, for safety reasons, it is obliged not to perform “insertion / extraction” of the voltage test plug while the test line of the tester is connected.

図4は従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図であり、図4(a)は電圧試験ターミナルの一例を示す構成図、図4(b)は電圧試験プラグの一例を示す平面図である。図4(a)に示すように、電圧試験ターミナル11は、電気装置12と接続される電気装置接続端子13a、13b、13cと、外部電源に接続される外部電源端子14a、14b、14cとを有している。図4では外部電源として、電力系統15から三相の変圧器16で降圧された電源が供給される場合を示している。変圧器16の2次側には本体ヒューズ17a、17b、17cがそれぞれ設けられ、電圧試験ターミナル11の外部電源端子14a、14b、14cに接続されている。   4 is a configuration diagram of a conventional voltage test terminal and a voltage test plug. FIG. 4A is a configuration diagram illustrating an example of a voltage test terminal, and FIG. 4B is a plan view illustrating an example of a voltage test plug. is there. As shown in FIG. 4A, the voltage test terminal 11 includes electrical device connection terminals 13a, 13b, 13c connected to the electrical device 12, and external power supply terminals 14a, 14b, 14c connected to an external power source. Have. FIG. 4 shows a case where the power source stepped down by the three-phase transformer 16 is supplied from the power system 15 as the external power source. Main body fuses 17 a, 17 b, and 17 c are respectively provided on the secondary side of the transformer 16, and are connected to the external power supply terminals 14 a, 14 b, and 14 c of the voltage test terminal 11.

電圧試験ターミナル11の各々のターミナル11a、11b、11cは、電気装置接続端子13a、13b、13cと、外部電源端子14a、14b、14cとの間に第1接点18a、18b、18c及び第2接点19a、19b、19cを有し、さらに、外部電源との接続を切り離すための第3接点20a、20b、20cを有している。   Each terminal 11a, 11b, 11c of the voltage test terminal 11 has a first contact 18a, 18b, 18c and a second contact between the electric device connection terminals 13a, 13b, 13c and the external power supply terminals 14a, 14b, 14c. 19a, 19b, 19c, and further, third contacts 20a, 20b, 20c for disconnecting the connection with the external power source.

一方、電圧試験プラグ21は、図4(b)に示すように、電圧試験ターミナル11の各々のターミナル11a、11b、11cに挿入されるプラグ21a、21b、21cを有している。電圧試験プラグ21の各々のプラグ21a、21b、21cは、それぞれ上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cを有し、上部導体22a、22b、22cに接続される外側端子24a、24b、24cと、下部導体23a、23b、23cに接続される内側端子25a、25b、25cとを有している。   On the other hand, the voltage test plug 21 has plugs 21a, 21b, and 21c inserted into the terminals 11a, 11b, and 11c of the voltage test terminal 11, as shown in FIG. Each plug 21a, 21b, 21c of the voltage test plug 21 has an upper conductor 22a, 22b, 22c and a lower conductor 23a, 23b, 23c, respectively, and an outer terminal 24a connected to the upper conductor 22a, 22b, 22c, 24b, 24c and inner terminals 25a, 25b, 25c connected to the lower conductors 23a, 23b, 23c.

電圧試験プラグ21は、電気装置12を試験するとき、あるいは、外部電源から電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには、電圧試験ターミナル11に挿入される。電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11に挿入されていない状態では、第3接点20a、20b、20cは閉じている状態であるので、外部電源から外部電源端子14a、14b、14c、第3接点20a、20b、20c及び電気装置接続端子13a、13b、13cを通って電気装置12に電源が供給される。   The voltage test plug 21 is inserted into the voltage test terminal 11 when testing the electric device 12 or when measuring a voltage applied to the electric device from an external power source. When the voltage test plug 21 is not inserted into the voltage test terminal 11, the third contacts 20a, 20b, 20c are closed, so that the external power supply terminals 14a, 14b, 14c, the third contact 20a from the external power source. , 20b, 20c and the electric device connection terminals 13a, 13b, 13c, power is supplied to the electric device 12.

電気装置12を試験するときには、電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナル11に挿入した後に、試験器を外側端子24a、24b、24cに接続する。例えば、試験器を外側端子24a、24b間に接続し、a相とb相との間に試験電圧を印加する。一方、外部電源から電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには、外側端子24a、24b、24cと内側端子25a、25b、25cとの間に接続片を接続した状態で、電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナル11に挿入し、外側端子24a、24b、24cに或いは接続された接続片に、電圧測定器を接続して電圧を測定する。例えば、電圧測定器を外側端子24a、24b間に接続し、a相とb相との間の電圧を測定する。   When testing the electrical device 12, after the voltage test plug 21 is inserted into the voltage test terminal 11, the tester is connected to the outer terminals 24a, 24b, 24c. For example, a tester is connected between the outer terminals 24a and 24b, and a test voltage is applied between the a phase and the b phase. On the other hand, when measuring the voltage applied to the electric device from the external power source, the voltage test plug is connected with the connecting piece connected between the outer terminals 24a, 24b, 24c and the inner terminals 25a, 25b, 25c. 21 is inserted into the voltage test terminal 11, and a voltage measuring instrument is connected to the connection piece connected to the outer terminals 24a, 24b, 24c or the voltage is measured. For example, a voltage measuring device is connected between the outer terminals 24a and 24b, and the voltage between the a phase and the b phase is measured.

図5は、電圧測定のときに従来の電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナル11に挿入したときの動作説明図であり、図5(a)は電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の途中まで挿入され第1接点18a、18b、18cに当接した場合の説明図、図5(b)は電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の最後まで挿入され第1接点18a、18b、18c及び第2接点19a、19b、19cに当接した場合の説明図である。   FIG. 5 is an operation explanatory diagram when the conventional voltage test plug 21 is inserted into the voltage test terminal 11 during voltage measurement. FIG. 5A shows the voltage test plug 21 inserted halfway through the voltage test terminal 11. FIG. 5 (b) shows the case where the voltage test plug 21 is inserted to the end of the voltage test terminal 11, and the first contact 18a, 18b, 18c and the second contact. It is explanatory drawing at the time of contact | abutting to 19a, 19b, 19c.

電圧測定のときには、電圧試験プラグ21の外側端子24a、24b、24cと内側端子25a、25b、25cとの間に接続片26a、26b、26cを接続し、その状態で、電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナル11に挿入する。図5(a)に示すように、電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の途中の第1接点18a、18b、18cの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ21の各々の上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cが第1接点18a、18b、18cに当接する。これにより、電気装置接続端子13a、13b、13cと外部電源端子14a、14b、14cとの間に、第1接点18a、18b、18cを介した短絡回路が第3接点20a、20b、20cと並列に形成される。   When measuring the voltage, connecting pieces 26a, 26b, 26c are connected between the outer terminals 24a, 24b, 24c of the voltage test plug 21 and the inner terminals 25a, 25b, 25c, and the voltage test plug 21 is connected to the voltage in this state. Insert into test terminal 11. As shown in FIG. 5A, when the voltage test plug 21 is inserted to the position of the first contacts 18a, 18b, 18c in the middle of the voltage test terminal 11, the upper conductors 22a, 22b of each of the voltage test plugs 21 are inserted. 22c and the lower conductors 23a, 23b, 23c abut on the first contacts 18a, 18b, 18c. Thus, a short circuit via the first contacts 18a, 18b, and 18c is in parallel with the third contacts 20a, 20b, and 20c between the electric device connection terminals 13a, 13b, and 13c and the external power supply terminals 14a, 14b, and 14c. Formed.

すなわち、電気装置接続端子13a、13b、13c、第1接点18a、18b、18c、上部導体22a、22b、22c、外側端子24a、24b、24c、接続片26a、26b、26c、内側端子25a、25b、25c、下部導体23a、23b、23c、外部電源端子14a、14b、14cの短絡回路が形成される。従って、電気装置12は、この短絡回路と第3接点20a、20b、20cとの並列回路により変圧器16(外部電源)に接続されることになる。   That is, electrical device connection terminals 13a, 13b, 13c, first contacts 18a, 18b, 18c, upper conductors 22a, 22b, 22c, outer terminals 24a, 24b, 24c, connection pieces 26a, 26b, 26c, inner terminals 25a, 25b 25c, the lower conductors 23a, 23b, 23c and the external power supply terminals 14a, 14b, 14c are formed as a short circuit. Therefore, the electric device 12 is connected to the transformer 16 (external power source) by a parallel circuit of the short circuit and the third contacts 20a, 20b, and 20c.

図5(b)に示すように、電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ21の各々の上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cは、第1接点18a、18b、18c及び第2接点19a、19b、19cの双方に当接する。電圧試験プラグ21が第2接点19a、19b、19cに当接すると、第2接点19a、19b、19cを介した短絡回路を形成するとともに、第3接点20a、20b、20cが開く。もし、第2接点19a、19b、19cを介した短絡回路が形成されずに、先に第3接点20a、20b、20cが開いたとしても、第1接点18a、18b、18cを介した短絡回路が既に形成されているので、電気装置12には変圧器16(外部電源)からの電源が瞬断することなく供給される。   As shown in FIG. 5 (b), when the voltage test plug 21 is inserted to the last position of the voltage test terminal 11, the upper conductors 22a, 22b, 22c and the lower conductors 23a, 23b, 23c contacts both of the first contacts 18a, 18b, 18c and the second contacts 19a, 19b, 19c. When the voltage test plug 21 contacts the second contacts 19a, 19b, and 19c, a short circuit is formed via the second contacts 19a, 19b, and 19c, and the third contacts 20a, 20b, and 20c are opened. Even if the third contacts 20a, 20b, and 20c are opened first without forming the short circuit through the second contacts 19a, 19b, and 19c, the short circuit through the first contacts 18a, 18b, and 18c. Is already formed, the power from the transformer 16 (external power supply) is supplied to the electric device 12 without being interrupted.

このように、第1接点18a、18b、18c及び第2接点19a、19b、19cを用意しているのは、電気装置12を運転したままの状態を維持しつつ電圧測定する場合に、外部電源の瞬断を防止するためである。すなわち、電圧試験プラグ21を第1接点18a、18b、18cの位置まで挿入した段階で、第1接点18a、18b、18cを介した短絡回路を形成して、第3接点20a、20b、20cが閉じている状態で、外部電源から電気装置12に流れる回路を予め形成しておき、その後に、電圧試験プラグ21が第2接点19a、19b、19cの位置まで挿入された段階で、第2接点19a、19b、19cを介した短絡回路が形成するとともに第3接点20a、20b、20cを開く。これにより、外部電源からの電源が瞬断することなく電気装置12に供給される。   As described above, the first contacts 18a, 18b, 18c and the second contacts 19a, 19b, 19c are prepared when the voltage is measured while the electric device 12 is kept in operation. This is to prevent a momentary interruption. That is, when the voltage test plug 21 is inserted to the position of the first contacts 18a, 18b, 18c, a short circuit is formed via the first contacts 18a, 18b, 18c, and the third contacts 20a, 20b, 20c In a closed state, a circuit that flows from the external power source to the electric device 12 is formed in advance, and then, when the voltage test plug 21 is inserted to the positions of the second contacts 19a, 19b, and 19c, the second contact A short circuit is formed via 19a, 19b, 19c and the third contacts 20a, 20b, 20c are opened. Thereby, the power supply from an external power supply is supplied to the electric apparatus 12 without instantaneous interruption.

そして、図5(b)の状態で、例えば、a相とb相との間の電圧を測定するには、電圧測定器を外側端子24a、24b間に或いは接続された接続片26a、26bに、接続して、a相とb相との間の電圧を測定する。   In the state of FIG. 5B, for example, in order to measure the voltage between the a phase and the b phase, the voltage measuring device is connected between the outer terminals 24a and 24b or connected to the connection pieces 26a and 26b. , And measure the voltage between phase a and phase b.

次に、図6は、電気装置12を試験するときに従来の電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナル11に挿入したときの動作説明図であり、図6(a)は電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の途中まで挿入され第1接点18a、18b、18cに当接した場合の説明図、図6(b)は電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の最後まで挿入され第1接点18a、18b、18c及び第2接点19a、19b、19cに当接した場合の説明図である。   Next, FIG. 6 is an operation explanatory diagram when the conventional voltage test plug 21 is inserted into the voltage test terminal 11 when testing the electric device 12, and FIG. FIG. 6B is an explanatory view when the terminal 11 is inserted partway and contacts the first contacts 18a, 18b, 18c. FIG. 6B shows the voltage test plug 21 inserted to the end of the voltage test terminal 11, and the first contacts 18a, 18b. , 18c and second contacts 19a, 19b, 19c are explanatory diagrams when abutting.

図5に示した電圧測定の場合と異なり、外側端子24a、24b、24cと内側端子25a、25b、25cとの間に接続片26a、26b、26cを接続せずに、電圧試験プラグ21の電圧試験ターミナル11に挿入する。図6(a)に示すように、電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の途中の第1接点18a、18b、18cの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ21の各々の上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cが第1接点18a、18b、18cに当接する。この場合、図5に示された接続片26a、26b、26cが外側端子24a、24b、24cと内側端子25a、25b、25cとの間に接続されていないので、電気装置接続端子13a、13b、13cと外部電源端子14a、14b、14cとの間に短絡回路は形成されない。この状態では、第3接点20a、20b、20cは閉じたままであり、変圧器16(外部電源)から第3接点20a、20b、20cを通して電気装置12に電源が供給されている。   Unlike the case of the voltage measurement shown in FIG. 5, the voltage of the voltage test plug 21 without connecting the connection pieces 26a, 26b, 26c between the outer terminals 24a, 24b, 24c and the inner terminals 25a, 25b, 25c. Insert into test terminal 11. As shown in FIG. 6A, when the voltage test plug 21 is inserted to the position of the first contacts 18a, 18b, 18c in the middle of the voltage test terminal 11, the upper conductors 22a, 22b of each of the voltage test plugs 21 are inserted. 22c and the lower conductors 23a, 23b, 23c abut on the first contacts 18a, 18b, 18c. In this case, since the connection pieces 26a, 26b, 26c shown in FIG. 5 are not connected between the outer terminals 24a, 24b, 24c and the inner terminals 25a, 25b, 25c, the electric device connection terminals 13a, 13b, No short circuit is formed between 13c and the external power supply terminals 14a, 14b, 14c. In this state, the third contacts 20a, 20b, and 20c remain closed, and power is supplied to the electric device 12 from the transformer 16 (external power source) through the third contacts 20a, 20b, and 20c.

図6(b)に示すように、電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の最後の位置まで挿入されると、電圧試験プラグ21の各々の上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cは、第1接点18a、18b、18c及び第2接点19a、19b、19cの双方に当接する。電圧試験プラグ21が第2接点19a、19b、19cに当接すると、第3接点20a、20b、20cが開く。この場合、図5に示された接続片26a、26b、26cが外側端子24a、24b、24cと内側端子25a、25b、25cとの間に接続されていないので、第2接点19a、19b、19cを介した短絡回路も形成されない。従って、第3接点20a、20b、20cが開くことから、変圧器16(外部電源)から電気装置12への電源が遮断される。   As shown in FIG. 6 (b), when the voltage test plug 21 is inserted to the last position of the voltage test terminal 11, the upper conductors 22a, 22b, 22c and the lower conductors 23a, 23b, 23c contacts both of the first contacts 18a, 18b, 18c and the second contacts 19a, 19b, 19c. When the voltage test plug 21 contacts the second contacts 19a, 19b, and 19c, the third contacts 20a, 20b, and 20c are opened. In this case, since the connection pieces 26a, 26b, 26c shown in FIG. 5 are not connected between the outer terminals 24a, 24b, 24c and the inner terminals 25a, 25b, 25c, the second contacts 19a, 19b, 19c No short circuit is formed through this. Therefore, since the third contacts 20a, 20b, and 20c are opened, the power source from the transformer 16 (external power source) to the electrical device 12 is shut off.

この状態で、図7に示すように、電圧試験プラグ21の外側端子24a、24b、24c間に試験器27を接続し、試験器27から電気装置12に試験電源を供給する。図7では、a相とb相との間に試験電圧を印加して試験を行っている場合を示している。すなわち、図7中の矢印に示すように、試験電流が流れ電気装置12を試験する。   In this state, as shown in FIG. 7, the tester 27 is connected between the outer terminals 24 a, 24 b, and 24 c of the voltage test plug 21, and the test power is supplied from the tester 27 to the electrical device 12. FIG. 7 shows a case where a test is performed by applying a test voltage between the a phase and the b phase. That is, as shown by the arrow in FIG. 7, a test current flows and the electrical device 12 is tested.

図8は、電気装置12を試験するときに試験器27を接続したまま電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナル11に挿入した場合の動作説明図である。図8に示すように、電圧試験プラグ21の外側端子24a、24b間に試験器27を接続したまま電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の第1接点18a、18b、18cの位置まで挿入されると、試験器27を介して変圧器16(外部電源)が相間短絡する。そのため、試験器27の試験線を電圧試験プラグ21に接続する場合は、図6及び図7に示すとおり、先ず電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナル11に完全挿入した後、試験線を外側端子24に接続することにしている。   FIG. 8 is an operation explanatory diagram when the voltage test plug 21 is inserted into the voltage test terminal 11 while the tester 27 is connected when the electric device 12 is tested. As shown in FIG. 8, the voltage test plug 21 is inserted to the positions of the first contacts 18 a, 18 b, and 18 c of the voltage test terminal 11 while the tester 27 is connected between the outer terminals 24 a and 24 b of the voltage test plug 21. Then, the transformer 16 (external power supply) is short-circuited between the phases via the tester 27. Therefore, when connecting the test line of the tester 27 to the voltage test plug 21, as shown in FIGS. 6 and 7, first, after the voltage test plug 21 is completely inserted into the voltage test terminal 11, the test line is connected to the outer terminal 24. Decided to connect to.

仮に試験器27の試験線が接続されたまま、電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の第1接点18a、18b、18cの位置まで挿入されると、電圧試験プラグ21の各々の上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cが第1接点18a、18b、18cに当接し、第3接点20a、20b、20cが閉じたままである。従って、変圧器16(外部電源)から、第3接点20a、第1接点18a、上部導体22a、外側端子24a、試験器27、外側端子24b、上部導体22b、第1接点18b、第3接点20bを通って、変圧器16に戻る回路が形成される。試験器27は電圧電源であることから内部抵抗が小さく、変圧器16の相間短絡回路を形成することになる。   If the voltage test plug 21 is inserted to the position of the first contacts 18a, 18b, 18c of the voltage test terminal 11 while the test line of the tester 27 is connected, the upper conductors 22a of each of the voltage test plugs 21, 22b, 22c and the lower conductors 23a, 23b, 23c abut against the first contacts 18a, 18b, 18c, and the third contacts 20a, 20b, 20c remain closed. Therefore, from the transformer 16 (external power supply), the third contact 20a, the first contact 18a, the upper conductor 22a, the outer terminal 24a, the tester 27, the outer terminal 24b, the upper conductor 22b, the first contact 18b, and the third contact 20b. A circuit is formed that passes back to the transformer 16. Since the tester 27 is a voltage power source, the internal resistance is small, and a short circuit between phases of the transformer 16 is formed.

このように、従来の電圧試験プラグ21は、電圧試験ターミナル11に挿入されると、電圧試験ターミナル11側の第1接点18a、18b、18cと第2接点19a、19b、19cと順に接続され、第2接点19a、19b、19cに接続されると、さらに奥の第3接点20a、20b、20cが開放して電気的に切り離される構造となっている。   Thus, when the conventional voltage test plug 21 is inserted into the voltage test terminal 11, the first contacts 18a, 18b, 18c and the second contacts 19a, 19b, 19c on the voltage test terminal 11 side are sequentially connected, When connected to the second contacts 19a, 19b, 19c, the third contacts 20a, 20b, 20c at the back are further opened and electrically separated.

これは、電気装置12の試験を行う場合に外部電源から試験器27に接続を切り換える場合と、電気装置12を使用したままで電圧測定をする場合との2つの異なる操作を同一の構造で行うためである。このことから、試験器27を接続したままの電圧試験プラグ21が挿入されると、構造上、挿入途中の第1接点18a、18b、18cに当接したときに相間短絡となってしまう。   This is because two different operations are performed with the same structure when switching the connection from the external power source to the tester 27 when testing the electrical device 12 and when measuring the voltage while using the electrical device 12. Because. For this reason, when the voltage test plug 21 with the tester 27 connected is inserted, a phase-to-phase short circuit occurs when the voltage test plug 21 is in contact with the first contacts 18a, 18b, 18c being inserted due to the structure.

この相間短絡を防止するものとして、試験回路と電圧試験プラグとの間に閉回路が形成されているか否かを検出し、電圧試験端子へ挿入された電圧試験プラグの位置を検出し、閉回路が検出され、かつ、電圧試験プラグの位置が挿入前と検出されたとき、電圧試験プラグの挿入を阻止する一方、閉回路が検出され、かつ、電圧試験プラグが挿入されたとき電圧試験プラグの引き抜きを阻止し、電圧試験プラグに試験回路が接続されたまま抜き差しされることによる電気装置や外部の電圧回路の誤動作や損傷を防止できるようにしたものがある(例えば、特許文献1参照)。   To prevent this short circuit between phases, it is detected whether a closed circuit is formed between the test circuit and the voltage test plug, the position of the voltage test plug inserted into the voltage test terminal is detected, and the closed circuit is detected. Is detected and the position of the voltage test plug is detected before insertion, the insertion of the voltage test plug is blocked, while the closed circuit is detected and the voltage test plug is inserted when the voltage test plug is inserted. There is a device that prevents pulling out and prevents malfunction or damage of an electric device or an external voltage circuit by being connected or disconnected while a test circuit is connected to a voltage test plug (for example, see Patent Document 1).

また、電圧試験プラグが電圧試験端子へ挿入されたとき電気装置の端末に電気的に接続される第1の端子(内部接続端子)と、試験器の端末と電気的に接続される第2の端子(中心接続端子)と、第1の端子(内部接続端子)と第2の端子(中心接続端子)とを選択的に電気的に接続、非接続の状態に切り換えできるスイッチ手段(中心接続端子)を備え、必要に応じて電圧試験プラグのナットを操作するなどして中心接続端子を電圧試験プラグ筐体に対して摺動させることにより、電圧試験プラグを「非接続状態」から「接続状態」に、或は「接続状態」から「非接続状態」に切り換え、電圧試験の作業効率を向上させ、配線作業の結線ミスや操作ミスを防止するようにしたものがある(例えば、特許文献2参照)。   In addition, when the voltage test plug is inserted into the voltage test terminal, a first terminal (internal connection terminal) electrically connected to the terminal of the electric device and a second terminal electrically connected to the terminal of the tester Switch means (center connection terminal) capable of selectively electrically connecting and disconnecting the terminal (center connection terminal), the first terminal (internal connection terminal) and the second terminal (center connection terminal) ), And if necessary, slide the center connection terminal with respect to the voltage test plug housing by operating the nut of the voltage test plug. Or switching from “connected state” to “unconnected state” to improve the work efficiency of the voltage test and prevent wiring connection mistakes and operation mistakes (for example, Patent Document 2). reference).

特開平7−12844号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-12844 特開2009−36599号公報JP 2009-36599 A

しかし、特許文献1のものでは、電圧試験プラグの挿入を阻止したり電圧試験プラグの引き抜きを阻止したりするものであるので、試験回路と外部電源との短絡は防止できるが、そのための機構部が必要となり構造が複雑となる。また、抜き差しが阻止されるので作業効率が悪い。   However, in Patent Document 1, since the insertion of the voltage test plug or the removal of the voltage test plug is prevented, a short circuit between the test circuit and the external power supply can be prevented. Is required and the structure is complicated. Moreover, since insertion / extraction is prevented, work efficiency is bad.

特許文献2のものは、中心接続端子を電圧試験プラグ筐体に対して摺動させることにより、電圧試験プラグを「非接続状態」から「接続状態」に、あるいは「接続状態」から「非接続状態」に切り換えるものであるので、そのための機構部が必要となり構造が複雑となり、「接続状態」から「非接続状態」に切り換えるための操作が必要となる。   In Patent Document 2, the voltage test plug is changed from “not connected” to “connected” or from “connected” to “not connected” by sliding the center connection terminal with respect to the voltage test plug housing. Since it is to be switched to “state”, a mechanism for that is required, the structure becomes complicated, and an operation for switching from “connected state” to “non-connected state” is required.

本発明の目的は、電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。   An object of the present invention is to provide a voltage test plug that can prevent an instantaneous interruption during voltage measurement even when it is connected to or disconnected from a voltage test terminal of an electric device, and can prevent a short circuit between phases even when a tester is connected when testing an electric device. Is to provide.

請求項1の発明に係る電圧試験プラグは、電気装置と接続される電気装置接続端子と外部電源に接続される外部電源端子との間に第1接点及び第2接点を有しかつ前記外部電源との接続を切り離す第3接点を有した電圧試験ターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには前記第3接点を開いて前記電気装置を前記外部電源から切り離し前記第1接点及び第2接点を通して試験器を前記電気装置に接続し、前記外部電源から前記電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには前記第3接点を開いた状態で前記第1接点及び第2接点を通して前記電気装置と前記外部電源とを接続するための電圧試験プラグにおいて、前記電圧試験ターミナルに挿入されたとき前記第1接点を経由して前記第2接点に接続される下部導体と、前記電圧試験ターミナルに挿入されて前記第1接点に当接したとき前記第3接点を閉じたまま前記下部導体及び前記第1接点にて前記第3接点との並列回路を形成し、さらに前記第1接点を経由して前記第2接点に当接されたとき前記第1接点との接続を保持しつつ前記第3接点を開く上部導体と、前記下部導体に接続され前記電圧測定のときには前記上部導体と前記下部導体とを短絡するための接続片の一方端を接続するための内側端子と、前記上部導体に接続され前記電圧測定のときには前記接続片の他方端を接続し前記電気装置を試験するときには前記試験器を接続するための外側端子と、前記上部導体と前記外側端子との間に接続され、前記試験器から前記電気装置に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、前記試験器の試験線を接続したまま前記電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する前記試験器を介した前記外部電源の相間短絡の短絡電流により前記外部電源側の本体ヒューズより先に動作するヒューズとを備えたことを特徴とする電圧試験プラグ。   The voltage test plug according to the invention of claim 1 has a first contact and a second contact between an electric device connection terminal connected to an electric device and an external power supply terminal connected to an external power supply, and the external power supply When the electric device is tested, the third contact is opened to disconnect the electric device from the external power source and through the first and second contacts. When the voltage is measured by connecting a tester to the electrical device and measuring the voltage applied to the electrical device from the external power source, the electrical device is passed through the first contact and the second contact with the third contact open. And a lower conductor connected to the second contact via the first contact when inserted into the voltage test terminal in a voltage test plug for connecting the external power supply to the external power supply, A parallel circuit with the third contact is formed by the lower conductor and the first contact with the third contact closed while being inserted into the voltage test terminal and contacting the first contact. An upper conductor that opens the third contact while maintaining a connection with the second contact when contacted with the second contact via one contact, and the upper conductor that is connected to the lower conductor and measures the voltage An inner terminal for connecting one end of a connection piece for short-circuiting a conductor and the lower conductor, and the other end of the connection piece connected to the upper conductor for the voltage measurement to test the electric device A current that flows between the outer terminal for connecting the tester and the upper conductor and the outer terminal and that flows in the case of a test voltage applied from the tester to the electrical device in a normal test. Range is dynamic Without connecting the test line of the tester to the voltage test terminal, the short circuit current between the phases of the external power supply that occurs when the tester is connected to the voltage test terminal leads the main body fuse on the external power supply side. A voltage test plug comprising an operating fuse.

請求項2の発明に係る電圧試験プラグは、請求項1の発明において、前記ヒューズの容量は、前記外部電源の相間短絡の短絡電流より小さく、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に前記電気装置に流れる電流で動作する容量であることを特徴とする。   A voltage test plug according to a second aspect of the present invention is the voltage test plug according to the first aspect of the present invention, wherein the capacity of the fuse is smaller than the short-circuit current of the short circuit between the phases of the external power supply and larger than the test voltage applied in a normal test. It is a capacity | capacitance which operate | moves with the electric current which flows into the said electric device when it applies.

請求項1の発明によれば、上部導体と外側端子との間にヒューズを設け、このヒューズは、試験器から電気装置に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、試験器の試験線を接続したまま電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する試験器を介した外部電源の相間短絡の短絡電流により外部電源側の本体ヒューズより先に動作するので、電気装置を試験するときには試験器を接続したままで電圧試験ターミナルに抜き差ししても、本体ヒューズを動作させることなく相間短絡を防止できる。   According to the first aspect of the present invention, a fuse is provided between the upper conductor and the outer terminal, and the fuse operates in a current range that flows in the case of a test voltage applied in a normal test from the tester to the electric device. First, it operates before the main body fuse on the external power supply side due to the short-circuit current of the phase of the external power supply via the tester that occurs when the test wire of the tester is connected to the voltage test terminal. Even when the tester is connected, it is possible to prevent a short circuit between the phases without operating the main body fuse even if the tester is connected to the voltage test terminal.

請求項2の発明によれば、ヒューズの容量は、外部電源の相間短絡の短絡電流より小さく、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に電気装置に流れる電流で動作する容量であるので、外部電源の相間短絡だけでなく、試験中において試験電圧として誤って過電圧を印加した場合であっても電気装置を保護できる。   According to the invention of claim 2, the capacity of the fuse is smaller than the short-circuit current of the interphase short circuit of the external power supply, and operates with the current flowing in the electric device when a voltage larger than the test voltage applied in the normal test is applied. Therefore, the electrical device can be protected not only when the external power supply is short-circuited between phases but also when an overvoltage is accidentally applied as a test voltage during the test.

本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの側面概念図。The side surface conceptual diagram of the voltage test plug which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの構造図。1 is a structural diagram of a voltage test plug according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグに試験器の試験線を接続したままの状態で電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図。Operation | movement explanatory drawing at the time of inserting in the voltage test terminal in the state which connected the test line of the tester to the voltage test plug which concerns on embodiment of this invention. 従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図。The block diagram of the conventional voltage test terminal and a voltage test plug. 電圧測定のときに従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入したときの動作説明図。Operation | movement explanatory drawing when the conventional voltage test plug is inserted in the voltage test terminal at the time of voltage measurement. 電気装置を試験するときに従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入したときの動作説明図。Operation | movement explanatory drawing when the conventional voltage test plug is inserted in a voltage test terminal, when testing an electric apparatus. 電気装置を試験するときの従来の電圧試験ターミナル及び電圧試験プラグの構成図。The block diagram of the conventional voltage test terminal and voltage test plug when testing an electric apparatus. 電気装置を試験するときに試験器を接続したまま従来の電圧試験プラグを電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図。Operation | movement explanatory drawing at the time of inserting the conventional voltage test plug into a voltage test terminal, with a tester connected, when testing an electric apparatus.

以下、本発明の実施の形態を説明する。図1は本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの側面概念図である。図1では、電圧試験プラグ21が3極プラグである場合を示しており、白相、赤相、黒相(R相、S相、T相)の3個のプラグ21a、21b、21cを有している。4極プラグの場合は緑相(中性相)を含む4個のプラグを有することになる。以下の説明では、3極プラグである場合について説明する。各々のプラグ21a、21b、21cは、それぞれ上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cを有し、上部導体22a、22b、22cは、端子台29においてヒューズ28a、28b、28cを介して、上部導体22a、22b、22cは外側端子24a、24b、24cに接続され、下部導体23a、23b、23cは内側端子25a、25b、25cにそれぞれ接続される。   Embodiments of the present invention will be described below. FIG. 1 is a conceptual side view of a voltage test plug according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a case where the voltage test plug 21 is a three-pole plug, and has three plugs 21a, 21b, and 21c of white phase, red phase, and black phase (R phase, S phase, and T phase). ing. In the case of a four-pole plug, it has four plugs including a green phase (neutral phase). In the following description, a case of a three-pole plug will be described. Each plug 21a, 21b, 21c has an upper conductor 22a, 22b, 22c and a lower conductor 23a, 23b, 23c. The upper conductors 22a, 22b, 22c have fuses 28a, 28b, 28c in the terminal block 29, respectively. The upper conductors 22a, 22b, and 22c are connected to the outer terminals 24a, 24b, and 24c, and the lower conductors 23a, 23b, and 23c are connected to the inner terminals 25a, 25b, and 25c, respectively.

外側端子24a、24b、24cは軸上に固定されており、電圧試験の際には、可動の外側摘み30a、30b、30cと固定の外側端子24a、24b、24cとの間に試験線を挟んで試験器を接続する。同様に、内側端子25a、25b、25cも軸上に固定されており、電圧測定の際には、可動の内側摘み31a、31b、31cと固定の内側端子25a、25b、25cとの間に接続片の一方端を挟み、可動の外側摘み30a、30b、30cと固定の外側端子24a、24b、24cとの間に接続片の他方端を挟み、これにより接続片を接続し、電圧測定器を外側端子24a、24b、24cのいずれか2つの端子間、あるいは接続された接続片間に接続して各相間の電圧を測定する。   The outer terminals 24a, 24b, and 24c are fixed on the shaft, and a test line is sandwiched between the movable outer knobs 30a, 30b, and 30c and the fixed outer terminals 24a, 24b, and 24c when performing a voltage test. Connect the tester with. Similarly, the inner terminals 25a, 25b, and 25c are also fixed on the shaft, and are connected between the movable inner knobs 31a, 31b, and 31c and the fixed inner terminals 25a, 25b, and 25c when measuring the voltage. One end of the piece is sandwiched, and the other end of the connection piece is sandwiched between the movable outer knobs 30a, 30b, 30c and the fixed outer terminals 24a, 24b, 24c. The voltage between each phase is measured by connecting between any two terminals of the outer terminals 24a, 24b, 24c, or between the connected connecting pieces.

図2は本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグの構造図であり、図2(a)は端子台29のヒューズ28a、28bの取付位置で端子台29の上面部及びヒューズ28a、28bを取り除いた平面図、図2(b)は図2(a)のX−X線の矢視図である。   FIG. 2 is a structural diagram of the voltage test plug according to the embodiment of the present invention. FIG. 2A shows the position of the upper surface of the terminal block 29 and the fuses 28a and 28b at the mounting positions of the fuses 28a and 28b of the terminal block 29. FIG. 2B is a plan view after removal, and is an arrow view taken along line XX in FIG.

3個のプラグ21a、21b、21cのうちの2個のプラグ21a、21bの上部導体22a、22bと外側端子24a、24bとの間に接続されるヒューズ28a、28bは、端子台29の上面部に配置され、残りのプラグ21cのプラグ21cの上部導体22cと外側端子24cとの間に接続されるヒューズ28cは端子台29の側面部に配置されている。これにより、ヒューズ28a、28b、28cの端子台29への取り付けをコンパクトにして、電圧試験プラグ21を電圧試験ターミナルに挿入したときに、ヒューズ28a、28b、28cがその挿入の邪魔にならないようにしている。また、外側摘み30a、30b、30c及び内側摘み31a、31b、31cの取り付け面ではなく、端子台29の上面部や端子台29の側面部にヒューズ28a、28b、28cを取り付けているので、外側摘み30a、30b、30c及び内側摘み31a、31b、31cの操作の邪魔になることもない。   The fuses 28a and 28b connected between the upper conductors 22a and 22b of the two plugs 21a and 21b of the three plugs 21a and 21b and 21c and the outer terminals 24a and 24b The fuse 28c connected between the upper conductor 22c of the plug 21c and the outer terminal 24c of the remaining plug 21c is disposed on the side surface of the terminal block 29. As a result, the fuses 28a, 28b, and 28c can be compactly attached to the terminal block 29 so that the fuses 28a, 28b, and 28c do not obstruct the insertion when the voltage test plug 21 is inserted into the voltage test terminal. ing. Further, since the fuses 28a, 28b, 28c are attached to the upper surface portion of the terminal block 29 and the side surface portion of the terminal block 29 instead of the mounting surface of the outer knobs 30a, 30b, 30c and the inner knobs 31a, 31b, 31c, There is no obstacle to the operation of the knobs 30a, 30b, 30c and the inner knobs 31a, 31b, 31c.

次に、図3は、本発明の実施の形態に係る電圧試験プラグに試験器の試験線を接続したままの状態で電圧試験ターミナルに挿入した場合の動作説明図である。いま、図3に示すように、電圧試験プラグ21の外側端子24a、24b間に試験器27を接続したまま電圧試験プラグ21が電圧試験ターミナル11の第1接点18a、18b、18cの位置まで挿入されたとする。そうすると、電圧試験プラグ21の各々の上部導体22a、22b、22c及び下部導体23a、23b、23cが第1接点18a、18b、18cに当接し、第3接点20a、20b、20cが閉じたままであるので、矢印で示す短絡回路が形成される。すなわち、外部電源である変圧器16、外部電源端子14a、第3接点20a、第1接点18a、上部導体22a、ヒューズ28a、外側端子24a、試験器27、外側端子24b、ヒューズ28b、上部導体22b、第1接点18b、第3接点20b、外部電源端子14b、外部電源である変圧器16に至る短絡回路が形成され、相間短絡が発生する。   Next, FIG. 3 is an operation explanatory diagram when the voltage test plug according to the embodiment of the present invention is inserted into the voltage test terminal with the test line of the tester being connected. Now, as shown in FIG. 3, the voltage test plug 21 is inserted to the positions of the first contacts 18 a, 18 b, and 18 c of the voltage test terminal 11 while the tester 27 is connected between the outer terminals 24 a and 24 b of the voltage test plug 21. Suppose that Then, the upper conductors 22a, 22b, 22c and the lower conductors 23a, 23b, 23c of the voltage test plug 21 are in contact with the first contacts 18a, 18b, 18c, and the third contacts 20a, 20b, 20c remain closed. Therefore, a short circuit indicated by an arrow is formed. That is, the transformer 16, which is an external power supply, the external power supply terminal 14a, the third contact 20a, the first contact 18a, the upper conductor 22a, the fuse 28a, the outer terminal 24a, the tester 27, the outer terminal 24b, the fuse 28b, and the upper conductor 22b. The short circuit between the first contact 18b, the third contact 20b, the external power supply terminal 14b, and the transformer 16 as an external power supply is formed, and a short circuit between phases occurs.

本発明の実施の形態では、上部導体22a、22b、22cと外側端子24a、24b、24cとの間にヒューズ28a、28b、28cが設けられている。このヒューズ28a、28b、28cの容量は、試験器27の試験線を接続したまま電圧試験ターミナル11に抜き差したときに発生する相間短絡の短絡電流により、外部電源側の本体ヒューズ17a、17b、17cより先に動作する容量に設定されている。従って、相間短絡が発生してもヒューズ28a、28bが本体ヒューズ17a、17bより先に動作するので、本体ヒューズ17a、17bが溶断したり、電気装置12の保護リレーの誤表示が発生したり、あるいは感電等の不具合を引き起こすことを防止できる。   In the embodiment of the present invention, fuses 28a, 28b, and 28c are provided between the upper conductors 22a, 22b, and 22c and the outer terminals 24a, 24b, and 24c. The capacities of the fuses 28a, 28b, and 28c are caused by the short circuit current of the short circuit between phases generated when the test line of the tester 27 is connected to the voltage test terminal 11, and the main body fuses 17a, 17b, and 17c on the external power supply side. The capacity that operates earlier is set. Accordingly, even if a short circuit between the fuses occurs, the fuses 28a and 28b operate before the main body fuses 17a and 17b, so that the main body fuses 17a and 17b are blown out, an erroneous display of the protection relay of the electric device 12 occurs, Or it can prevent causing malfunctions, such as an electric shock.

上述したように、ヒューズ28a、28b、28cの容量は、外部電源の相間短絡の短絡電流が流れた場合には本体ヒューズ17a、17b、17cより先に動作する容量に設定されるが、試験器27から電気装置12に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作しない容量に設定される。また、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に電気装置12に流れる電流で動作する容量に設定する。例えば、1A容量のヒューズを用いる。これにより、外部電源の相間短絡だけでなく、試験中において試験電圧として誤って過電圧を印加した場合であっても電気装置12を保護できる。   As described above, the capacities of the fuses 28a, 28b, and 28c are set to capacities that operate before the main body fuses 17a, 17b, and 17c when a short-circuit current due to a short circuit between the external power supplies flows. 27 is set to a capacity that does not operate in a current range that flows in the case of a test voltage applied to the electrical device 12 in a normal test. Moreover, when a voltage higher than the test voltage applied in a normal test is applied, the capacitance is set to operate with the current flowing through the electric device 12. For example, a 1 A capacity fuse is used. Thereby, not only the short circuit between phases of the external power supply but also the electric device 12 can be protected even when an overvoltage is accidentally applied as a test voltage during the test.

このように、本発明の実施の形態では、電圧試験プラグ21に安全装置としてのヒューズ28a、28b、28cを付加し、ロック操作や作業時の取扱ミスにより計器用変圧器の二次回路が短絡しても、電圧試験プラグ21のヒューズ28a、28b、28cが瞬時に動作し、計器用変圧器の本体ヒューズ17a、17b、17cが動作しないようにセーフティーロックを施す。これにより、本体ヒューズ17a、17b、17cの動作による断線を防止できるのでメンテナンスも容易となる。   As described above, in the embodiment of the present invention, the fuses 28a, 28b, and 28c as safety devices are added to the voltage test plug 21, and the secondary circuit of the instrument transformer is short-circuited due to a locking operation or a handling error during work. Even so, a safety lock is applied so that the fuses 28a, 28b and 28c of the voltage test plug 21 operate instantaneously and the main fuses 17a, 17b and 17c of the instrument transformer do not operate. As a result, disconnection due to the operation of the main body fuses 17a, 17b, and 17c can be prevented, and maintenance is also facilitated.

11…電圧試験ターミナル、12…電気装置、13…電気装置接続端子、14…外部電源接続端子、15…電力系統、16…変圧器、17…本体ヒューズ、18…第1接点、19…第2接点、20…第3接点、21…電圧試験プラグ、22…上部導体、23…下部導体、24…外側端子、25…内側端子、26…接続片、27…試験器、28…ヒューズ、29…端子台、30…外側摘み、31…内側摘み DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Voltage test terminal, 12 ... Electric apparatus, 13 ... Electric apparatus connection terminal, 14 ... External power supply connection terminal, 15 ... Electric power system, 16 ... Transformer, 17 ... Main body fuse, 18 ... First contact, 19 ... Second Contact, 20 ... Third contact, 21 ... Voltage test plug, 22 ... Upper conductor, 23 ... Lower conductor, 24 ... Outer terminal, 25 ... Inner terminal, 26 ... Connection piece, 27 ... Tester, 28 ... Fuse, 29 ... Terminal block, 30 ... external picking, 31 ... internal picking

Claims (2)

電気装置と接続される電気装置接続端子と外部電源に接続される外部電源端子との間に第1接点及び第2接点を有しかつ前記外部電源との接続を切り離す第3接点を有した電圧試験ターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには前記第3接点を開いて前記電気装置を前記外部電源から切り離し前記第1接点及び第2接点を通して試験器を前記電気装置に接続し、前記外部電源から前記電気装置に印加される電圧を測定する電圧測定のときには前記第3接点を開いた状態で前記第1接点及び第2接点を通して前記電気装置と前記外部電源とを接続するための電圧試験プラグにおいて、
前記電圧試験ターミナルに挿入されたとき前記第1接点を経由して前記第2接点に接続される下部導体と、
前記電圧試験ターミナルに挿入されて前記第1接点に当接したとき前記第3接点を閉じたまま前記下部導体及び前記第1接点にて前記第3接点との並列回路を形成し、さらに前記第1接点を経由して前記第2接点に当接されたとき前記第1接点との接続を保持しつつ前記第3接点を開く上部導体と、
前記下部導体に接続され前記電圧測定のときには前記上部導体と前記下部導体とを短絡するための接続片の一方端を接続するための内側端子と、
前記上部導体に接続され前記電圧測定のときには前記接続片の他方端を接続し前記電気装置を試験するときには前記試験器を接続するための外側端子と、
前記上部導体と前記外側端子との間に接続され、前記試験器から前記電気装置に通常の試験で印加される試験電圧の場合に流れる電流範囲では動作せず、前記試験器の試験線を接続したまま前記電圧試験ターミナルに抜き差したときに発生する前記試験器を介した前記外部電源の相間短絡の短絡電流により前記外部電源側の本体ヒューズより先に動作するヒューズとを備えたことを特徴とする電圧試験プラグ。
A voltage having a first contact and a second contact between an electrical device connection terminal connected to the electrical device and an external power supply terminal connected to an external power supply, and a third contact for disconnecting the connection to the external power supply When testing the electrical device inserted into a test terminal, the third contact is opened to disconnect the electrical device from the external power source, and a tester is connected to the electrical device through the first contact and the second contact. A voltage test for connecting the electric device and the external power source through the first contact and the second contact with the third contact open when measuring a voltage applied to the electric device from a power source In the plug,
A lower conductor connected to the second contact via the first contact when inserted into the voltage test terminal;
When inserted into the voltage test terminal and in contact with the first contact, the lower contact and the first contact form a parallel circuit with the third contact while the third contact is closed. An upper conductor that opens the third contact while maintaining a connection with the first contact when contacted with the second contact via one contact;
An inner terminal for connecting one end of a connection piece for short-circuiting the upper conductor and the lower conductor when connected to the lower conductor and measuring the voltage;
An outer terminal connected to the upper conductor and connected to the other end of the connection piece for the voltage measurement and to connect the tester for testing the electrical device;
Connected between the upper conductor and the outer terminal, does not operate in the current range that flows in the case of a test voltage applied from the tester to the electrical device in a normal test, and connects the test line of the tester And a fuse that operates before the main body fuse on the external power supply side due to a short-circuit current between the phases of the external power supply through the tester that is generated when the voltage test terminal is inserted and removed. To voltage test plug.
前記ヒューズの容量は、前記外部電源の相間短絡の短絡電流より小さく、通常の試験で印加される試験電圧より大きい電圧が印加された場合に前記電気装置に流れる電流で動作する容量であることを特徴とする請求項1記載の電圧試験プラグ。   The capacity of the fuse is a capacity that is smaller than a short-circuit current of a short circuit between phases of the external power supply and that operates with a current flowing through the electric device when a voltage larger than a test voltage applied in a normal test is applied. The voltage test plug according to claim 1.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103728577A (en) * 2013-12-31 2014-04-16 深圳供电局有限公司 Sample testing device capable of being provided with multiple superconducting strips
KR101399210B1 (en) 2013-11-07 2014-05-28 주식회사 리얼게인 An adaptor for checking signal, a nuclear power plant system comprising the adaptor and a control method thereof
CN111859609A (en) * 2020-06-02 2020-10-30 武汉船用电力推进装置研究所(中国船舶重工集团公司第七一二研究所) MATLAB/SIMULINK-based fuse modeling simulation method

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