JP2011022529A - 光源装置及び露光装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】輝線スペクトルの一つの輝線波長の光を遮断する反射被膜が、前記光束を反射させるか又は透過させて通過させる複数の開口を有するように設けられ、該複数の開口の最大寸法は、所定波長の光束の照射面内に複数の開口が配置可能である微小な寸法であり、選択された所定波長の光束における少なくとも一つの特性を、微小な開口の形状、間隔及び数により決定する光源装置。
【選択図】図1
Description
一般的には、レジストパターンの断面形状は、基板面に対して垂直に立ち上がったストレート形状(矩形形状)が好ましい。しかし、用途に応じては、光の受光面に近い部分(上層部)が広がった逆テーパ形状(逆台形形状)の断面が求められる場合もあるし、逆に、光の受光面から離れた部分(下層部)が広がったテーパ形状(台形形状)の断面が求められる場合もある。
本実施態様では、光学装置に微小な開口を設けて、その開口の形状と数を決定することで、波長通過率の仕様に基づいて光学フィルタのコーティングを設計、製造する必要が無く、輝線波長の強度等の特性を実用レベルで調整することができる。また、照明のσムラとxy波長の照明ムラを取ることができる。
本実施態様では、開口の形状、間隔若しくは数が異なる部分領域を有し、光学フィルタ部の可動装置を有することで、輝線波長の強度等の特性の調整を容易にすることができる。
本実施態様では、開口の形状、間隔若しくは数が異なる複数の光学フィルタ部を有することで、輝線波長の強度等の周波数に対する複雑な特性についても調整を容易にすることができる。
本実施態様では、出射する光束を均一化することで、フォトマスク及びポジレジストに照射される光束を均一にすることができる。
本実施態様では、光学装置に微小な開口を設けて、その開口の形状と数を決定することで、輝線波長の強度等の特性を実用レベルで調整し、ポジレジストに対して、所望の周波数を所望の強度で露光させることができる。
本実施態様では、紫外線光源の輝線であるi線、h線、g線に対応することができる。
本実施態様では、輝線波長に対して所定の通過特性を有する光学フィルタにフィルタ通過率が異なる部分領域を設け、その光学フィルタにおける光の照射領域の位置を各部分領域の境界線を横切って連続的に制御することにより、輝線波長の強度を実用レベルで調整することができる。
本実施態様では、複数の輝線波長に対する通過特性が各々異なる複数の光学フィルタの各々にフィルタ通過率が異なる部分領域を設け、各光学フィルタにおける光の照射領域の位置を各部分領域の境界線を横切って連続的に制御することにより、複数の波長の強度を個別に実用レベルで調整することができる。
本実施態様では、光学フィルタの各々のフィルタ通過率を回転移動により制御するので、ステッピングモータ等により照射領域の位置を容易に制御できる。
本実施態様では、光学フィルタの各々のフィルタ通過率を直線的な移動により制御するので、モータと回転運動を直線運動に変換するラックとピニヨン等により照射領域の位置を容易に制御できる。
本実施態様では、第3光学フィルタと組み合わせるので、波長毎に個別に、より複雑に光を制御することができる。
本実施態様の光学フィルタでは、複数の輝線波長に対する通過特性が各々異なる複数の光学フィルタの表面の被膜に、マスキングを用いて、照射領域と非照射領域を設けることで、光学フィルタにおける光のフィルタ通過率を制御するので、フィルタ通過率が異なる部分領域の形成が容易である。
本実施態様の光学フィルタでは、本実施態様の光学フィルタでは、反射被膜を反射被膜にすることで、金属材料等を被膜に用いることができるので、フィルタ通過率が異なる部分領域の形成が容易である。
本実施態様では、複数の光学フィルタの各々の波長の通過特性が異なり、ローパスフィルタ、バンドパスフィルタ及びハイパスフィルタの中の少なくとも一つであるので、調整範囲を広げることができる。
本実施態様では、複数の光学フィルタの少なくとも一つが1波長のバンドパスと他の波長のハイパスの複合通過特性を有しているので、複雑な波長と光強度への対応が可能になる。
本実施態様では、フィルタ通過率が異なる部分領域を3個以上設けるので、より多様にフィルタ通過率を調整することができる。
本実施態様では、フィルタ通過率が一様な光学フィルタ部を他の光学フィルタ部の基板を挟んだ反対面に設けることで、基板枚数を減らして工数及びコストを減らすことができる。
本発明の光学フィルタを光源装置に利用した場合、複数の輝線波長に対する通過特性が各々異なる複数の光学フィルタの各々にフィルタ通過率が異なる部分領域を設け、各光学フィルタにおける光の照射領域の位置を各部分領域の境界線を横切って連続的に制御することにより、複数の波長の強度を個別に調整することができる。
本実施態様では、露光用の紫外線の複数の輝線波長のうちの第1輝線波長(i線)と第2輝線波長(h線)のフィルタ通過率を制御することができることから、レジストパターンの断面形状における側面のテーパ角度制御を容易に実施できる。
本発明の光学フィルタを露光装置に利用した場合、感光性レジストに照射する2以上の波長の光の強度を個別に調整できるので、感光性レジストを変更することなく、レジストパターンの断面形状における側面角度を実用レベルで制御できる。例えば、レジストパターンの断面形状をストレート形状、テーパ形状、逆テーパ形状等に迅速且つ容易に制御できる。
<第1実施形態>
図1は、本発明に係る第1実施形態の投影露光装置の概略構成を示すブロック図である。
ここでは、本実施形態の所定波長の輝線を有する輝線スペクトルの光を放出する光源から出射された光が入射され、各輝線スペクトル毎の通過量を調整した光を出射する光学フィルタ装置、その光学フィルタ装置を用いた光源装置、及び、その光学フィルタ装置を備える光源を用いた投影露光装置について説明する。
コリメータレンズ4は、反射鏡3で収束光又は平行光に近い拡散光となった光を平行光にして出射する。平行光にすることで、各光学フィルタに入射する光の照射領域を略同様にすることができる。
複数の光学フィルタ部の各々の波長の通過特性を異ならせることで、光学フィルタ全体の調整範囲を広げることができる。
集光レンズ9は、光学フィルタ装置から出射された光を被照射物の照射領域に集光させる出射光学系を構成する集光手段であり、照明均一化手段8から出射された光を、例えば、フォトマスク20等の上に収束させる。
基板側顕微鏡65は、複数の顕微鏡と各顕微鏡から得られた画像を撮像する撮像素子等のカメラを含む。基板側顕微鏡65を用いて、各アライメントマーク105の計測を行う。
ステージマーク75は、ステージ60上に設けられ、基板側顕微鏡65によりマスクマーク25との位置ずれ量が計測される。
また、本第1実施形態の光源装置の光学フィルタ装置は、光学フィルタ部5〜7を通過した光束によりフォトマスク20等の照明対象物の各部を照明する照度を均一化する照明均一化手段を有する。この照明均一化手段としては、例えば、上記したフライアイ方式インテグレータと、ロッドレンズ方式のインテグレーターの何れかを用いることができる。
投影露光装置1で露光させる回路パターンにマスクマーク25が設けられたフォトマスク20を作成する(S1)。次に、アライメントマーク105が設けられた銅張積層板等のプリント基板材料を露光させるサイズに切断し(S2)、その銅箔層の表面にフォトレジストを塗布し(S3)、そのプリント基板材料を投影露光装置1のステージ60上に設置する(S4)。投影露光装置1は、マーク計測部70等を用いてプリント基板材料の複数のアライメントマーク105を計測する(S5)。ここで投影露光装置1は、投影露光装置1に設置されたプリント基板材料100上に投影された回路パターンの平面上で直交する2軸(X方向とY方向)を計測している。
回路基板の製造において、エッチングで 残す部分やメッキを施さない部分のマスクとして用いるため、または、部品を実装して半田付けするときに半田が不要な部分を覆うために、基板上に所定の形状 のレジストパターンを形成する技術が広く普及している。このようなレジストパターンを形成する方法の1つとして、コーティング装置により、基板上に感光性レジストを塗布してレジスト膜を形成し、露光装置によって、レジスト膜に所望の回路パターンを露光し、その後、所定の後処理を行なってレジストパターンを形成する方法が用いられている。また、レジストパターンの中には、光の照射により硬化する光硬化レジストを用いたものや、露光された部分を現像処理して形成するフォトレジストを用いたもの等がある。
なお、中間のフィルタ通過率を有する光学フィルタ部は、上記に限らず、例えば、円形に放射方向の線を組み合わせた千鳥格子や多辺角形、網状などを利用でき、形状、数量、サイズ、配置、及び、それらの組合を任意に選択することができる。
図8は、本発明に係る第2実施形態の光源装置における主要部の一例を示す斜視図あり、(a)が光学フィルタ部が円形である場合を示し、(b)が光学フィルタ部が方形である場合を示す。
第3駆動手段14は、第1光学フィルタ部5を回転駆動することにより、第3光学フィルタ部7における照射領域141の位置を、第5部分領域142と第6部分領域143の境界線を横切って連続的に移動させることができるように駆動することができる。
図11は、本発明に係る第1実施形態の光源装置の第1光学フィルタ部と第2光学フィルタ部と組み合わせた場合のフィルタ通過率と波長特性の関係を示す図であり、(a)が通過する面積比率が100%の第2光学フィルタ部と50%の第1光学フィルタ部と組み合わせた場合のフィルタ通過率を示し、(b)が(a)の場合の波長特性を示す。
図12は、本発明に係る第1実施形態の光源装置の第1光学フィルタ部と第2光学フィルタ部と組み合わせた場合のフィルタ通過率の変化と波長特性の変化とをそれらの関係を含めて示す図であり、(a)通過する面積比率が100%の第2光学フィルタ部と、通過する面積比率が0%〜100%の間で変化する第1光学フィルタ部と組み合わせた場合のフィルタ通過率を示し、(b)が(a)の場合の波長特性の変化を示す。
上記した第1の実施形態では、フィルタが円形でフィルタ通過率が異なる領域を回転移動させることで、輝線波長毎に任意のフィルタ通過率を得る場合を示したが、フィルタが方形で直線移動させることでも、同様に輝線波長毎に任意のフィルタ通過率を得ることができる。その場合を、以下に第3実施形態として示す。なお、以下の説明においては、第1実施形態と同様な構成及び方法については重複する記載を省略し、第1実施形態とは異なる構成及び方法についてのみ記載する。
第3駆動手段14は、第3光学フィルタ部7を直線的に駆動することにより、光の照射領域171の位置を第5部分領域172と第6部分領域173の境界線を横切って連続的に移動させることができるように駆動することができる。
このように本実施形態では、光学フィルタの各々のフィルタ通過率を直線的な移動により制御するので、モータと回転運動を直線運動に変換するラックとピニヨン、又は、リニアモータ等により照射領域の位置を容易に制御することができる。
上記した第1実施形態と第3実施形態では、光学フィルタ部がハイパスフィルタの場合の組み合わせについて説明したが、近年の光学フィルタとしては、バンドパスフィルタ、複数バンドのバンドパスフィルタ、及び、バンドパスとハイパスフィルタを組み合わせた光学フィルタの製造が可能になっている。そのような特殊な光学フィルタを利用した場合を、以下に第4実施形態として示す。なお、以下の説明においては、第1実施形態及び第3実施形態と同様な構成及び方法については重複する記載を省略し、第1実施形態及び第3実施形態とは異なる構成及び方法についてのみ記載する。
図15は、本発明に係る第5実施形態の光源装置における主要部の他の例を示す平面図ある。
図15に示した光学フィルタ部5は、円形の透明基板120上の表面に輝線波長の光を通過させる部分領域122と、その光を反射する部分領域123に加えて、所定の割合の光量を通過させる複数の微小開口564が形成された部分領域524が設けられている。部分領域122と部分領域123とでは異なるフィルタ通過率となるように、部分領域122には、輝線波長の光に対して所定の通過特性を有する通過特性被膜126が透明基板120上の表面に形成され、部分領域123にはその光を遮断する反射被膜127が形成される。部分領域524の各微小開口564間の間隔は、光学フィルタ部5の回転角度位置により異なっており、部分領域122から時計回りに部分領域123に向かうに従い、徐々に間隔が狭くなるように形成されている。このように光学フィルタ部5を形成することで、光学フィルタ部5の回転角度により、第1実施形態と第2実施形態の両方の特性を備える光学フィルタを得ることができる。
2 光源、
3 反射鏡、
4 コリメータレンズ、
5 第1光学フィルタ部、
6 第2光学フィルタ部、
7 第3光学フィルタ部、
8 照明均一化手段、
9 集光レンズ、
10 光源装置、
11 通過波長制御部、
12 第1駆動手段、
13 第2駆動手段、
14 第3駆動手段、
15 フォトマスク側顕微鏡、
20 フォトマスク、
25 マスクマーク、
30 XY独立倍率補正部、
40 可動板、
50 投影光学系、
60 ステージ、
65 基板側顕微鏡、
70 マーク計測部、
80 制御部、
90 投影倍率制御部、
100 プリント基板、
105 アライメントマーク、
120 第1透明基板、
121 照射領域
122 第1部分領域、
123 第2部分領域、
126 第1通過特性被膜、
127 第1反射被膜、
130 第2透明基板、
132 第3部分領域、
133 第4部分領域、
136 第2通過特性被膜、
137 第2反射被膜、
140 第3透明基板、
142 第5部分領域、
143 第6部分領域、
146 第3通過特性被膜、
147 第3反射被膜、
150 (通過光の)光軸、
151 照射領域
122 第1部分領域、
123 第2部分領域、
126 第1通過特性被膜、
127 第1反射被膜、
200 透明基板、
500 光学フィルタ部、
501 光学フィルタ部、
511、611 反射被膜、
512 通過特性被膜、
513、613 開口、
520 光学フィルタ、
521 第1部分領域、
522 第2部分領域、
523 第3部分領域、
524 部分領域、
550、650 照射領域、
561、562、563、564 微小開口、
565、566、567、568 間隔、
600、601 光学フィルタ部、
700 光軸。
Claims (9)
- 複数の輝線を有する光束を発生する光源が発生した光束を凹面鏡で集光し、該集光された光束から光学フィルタ装置を有する選択手段で所定波長の光束を選択し、該所定波長の光束を照明対象物に照射する光源装置であって、
該光学フィルタ装置には、前記輝線スペクトルの少なくとも一つの輝線の波長の光を遮断する反射被膜が、前記光束を反射させるか又は透過させて通過させる複数の開口を有するように設けることで、前記輝線の波長の光のフィルタ通過率を制御した光学フィルタ部を有し、
該複数の開口の最大寸法は、前記所定波長の光束の照射面内に複数の開口が配置可能である微小な寸法であり、
前記選択された所定波長の光束における少なくとも一つの特性を、前記微小な開口の形状、間隔及び数により決定する
ことを特徴とする光源装置。 - 前記光学フィルタ部は、
前記開口の形状、間隔若しくは数の少なくとも1つが異なる複数の部分領域を有し、
前記光束の照射面を一の前記部分領域から他の前記部分領域に移動させるように、前記光学フィルタ部を可動させる駆動手段を有する
ことを特徴とした請求項1に記載の光源装置。 - 複数の輝線を有する光束を発生する光源が発生した光束を凹面鏡で集光し、該集光された光束から光学フィルタ装置を有する選択手段で所定波長の光束を選択し、該所定波長の光束を照明対象物に照射する光源装置であって、
該光学フィルタ装置には、少なくとも一つの輝線の波長の光を遮断する反射被膜を一部に設け、該反射被膜を有する部分領域と、有していない部分領域の少なくとも2つの部分領域を隣接させて設けた光学フィルタ部と、
前記光束の照射面における一の前記部分領域と他の前記部分領域の面積比率が変わるように、前記光学フィルタ部を移動させる駆動手段を有する
ことを特徴とする光源装置。 - 前記光学フィルタ装置を通過した光束により前記照明対象物の各部を照明する照度を均一化する照明均一化手段を有する
ことを特徴とした請求項5に記載の光源装置。 - 前記駆動手段は、前記光学フィルタ部を回転駆動することにより前記各部分領域を移動させる
ことを特徴とした請求項1乃至4の何れかに記載の光源装置。 - 前記駆動手段は、前記光学フィルタ部を直線駆動することにより前記各部分領域を移動させる
ことを特徴とした請求項1乃至4の何れかに記載の光源装置。 - 前記光学フィルタ装置は、少なくとも前記光束に対する光学的特性が異なる複数の前記光学フィルタ部を有し
各光学フィルタ部は、前記光束の光軸に直列に配置される
ことを特徴とした請求項1乃至6の何れかに記載の光源装置。 - 前記所定波長の光束は、前記光源が発生する光束が有する輝線であるi線、h線、g線の少なくとも何れか一つの波長を含む
ことを特徴とした請求項1〜7に記載の光源装置。 - 請求項1乃至8の光源装置の光学フィルタ装置を用いて所定波長の光束を選択し、
該所定波長の光束をフォトマスク上に形成された所定のパターンに照射し、
前記フォトマスクを通過した前記所定波長の光束を照明光として前記ポジレジスト上に照射する
ことを特徴とした露光装置。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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|---|---|
| JP (1) | JP2011022529A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013029677A (ja) * | 2011-07-28 | 2013-02-07 | Marumi Koki Kk | デジタルカメラ用ジオラマフィルター |
| JP2013162110A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-19 | Topcon Corp | 露光装置 |
| JP2013162109A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-19 | Topcon Corp | 露光装置及び露光方法 |
| JP2020095219A (ja) * | 2018-12-14 | 2020-06-18 | キヤノン株式会社 | 露光装置、露光方法及び物品の製造方法 |
| JPWO2019146448A1 (ja) * | 2018-01-24 | 2021-01-07 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法 |
| WO2021186741A1 (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-23 | ギガフォトン株式会社 | 露光方法、露光システム、及び電子デバイスの製造方法 |
| CN117075449A (zh) * | 2023-10-16 | 2023-11-17 | 广州市艾佛光通科技有限公司 | 曝光调试装置、系统及方法 |
Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH036511A (ja) * | 1989-06-05 | 1991-01-14 | Nikon Corp | 赤外線用可変濃度フィルタ |
| JPH0636038A (ja) * | 1992-05-29 | 1994-02-10 | Eastman Kodak Co | 監視統計パターン認識を用いる特徴分類 |
| JPH0936038A (ja) * | 1995-07-14 | 1997-02-07 | Samsung Electron Co Ltd | 投影露光装置、これに使用される透過率調節フィルター及びその製造方法 |
| JPH09213615A (ja) * | 1996-02-06 | 1997-08-15 | Nikon Corp | 走査型露光装置 |
| JP3008931B2 (ja) * | 1997-07-08 | 2000-02-14 | 日本電気株式会社 | 高光透過開口アレイ |
| JP2001015412A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Toshiba Corp | 濃度フィルタ |
| JP2005122065A (ja) * | 2003-10-20 | 2005-05-12 | Dainippon Printing Co Ltd | 露光装置 |
| JP2006059834A (ja) * | 2004-08-17 | 2006-03-02 | Nikon Corp | 照明光学装置、照明光学装置の調整方法、露光装置、および露光方法 |
| JP2007012970A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Mejiro Precision:Kk | レジストパターンの断面形状を制御することができる露光装置及び露光方法 |
| JP2007150171A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-14 | Kyocer Slc Technologies Corp | 配線基板の製造方法 |
| JP2007264610A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-10-11 | Canon Inc | 光透過装置の設計方法、光学素子、撮像素子、光スイッチング素子、及び化学センサ装置 |
| JP2008164729A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Ushio Inc | 光照射器及び光照射装置並びに露光方法 |
| JP2009042497A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 表面プラズモン素子 |
| JP2009145452A (ja) * | 2007-12-12 | 2009-07-02 | Ushio Inc | 光照射装置 |
-
2009
- 2009-07-21 JP JP2009169832A patent/JP2011022529A/ja active Pending
Patent Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH036511A (ja) * | 1989-06-05 | 1991-01-14 | Nikon Corp | 赤外線用可変濃度フィルタ |
| JPH0636038A (ja) * | 1992-05-29 | 1994-02-10 | Eastman Kodak Co | 監視統計パターン認識を用いる特徴分類 |
| JPH0936038A (ja) * | 1995-07-14 | 1997-02-07 | Samsung Electron Co Ltd | 投影露光装置、これに使用される透過率調節フィルター及びその製造方法 |
| JPH09213615A (ja) * | 1996-02-06 | 1997-08-15 | Nikon Corp | 走査型露光装置 |
| JP3008931B2 (ja) * | 1997-07-08 | 2000-02-14 | 日本電気株式会社 | 高光透過開口アレイ |
| JP2001015412A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Toshiba Corp | 濃度フィルタ |
| JP2005122065A (ja) * | 2003-10-20 | 2005-05-12 | Dainippon Printing Co Ltd | 露光装置 |
| JP2006059834A (ja) * | 2004-08-17 | 2006-03-02 | Nikon Corp | 照明光学装置、照明光学装置の調整方法、露光装置、および露光方法 |
| JP2007012970A (ja) * | 2005-07-01 | 2007-01-18 | Mejiro Precision:Kk | レジストパターンの断面形状を制御することができる露光装置及び露光方法 |
| JP2007150171A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-14 | Kyocer Slc Technologies Corp | 配線基板の製造方法 |
| JP2007264610A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-10-11 | Canon Inc | 光透過装置の設計方法、光学素子、撮像素子、光スイッチング素子、及び化学センサ装置 |
| JP2008164729A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Ushio Inc | 光照射器及び光照射装置並びに露光方法 |
| JP2009042497A (ja) * | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 表面プラズモン素子 |
| JP2009145452A (ja) * | 2007-12-12 | 2009-07-02 | Ushio Inc | 光照射装置 |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013029677A (ja) * | 2011-07-28 | 2013-02-07 | Marumi Koki Kk | デジタルカメラ用ジオラマフィルター |
| JP2013162110A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-19 | Topcon Corp | 露光装置 |
| JP2013162109A (ja) * | 2012-02-09 | 2013-08-19 | Topcon Corp | 露光装置及び露光方法 |
| JPWO2019146448A1 (ja) * | 2018-01-24 | 2021-01-07 | 株式会社ニコン | 露光装置及び露光方法 |
| JP2022051810A (ja) * | 2018-01-24 | 2022-04-01 | 株式会社ニコン | 露光装置および露光方法 |
| KR102696639B1 (ko) | 2018-12-14 | 2024-08-21 | 캐논 가부시끼가이샤 | 노광장치, 노광방법 및 물품의 제조방법 |
| JP2020095219A (ja) * | 2018-12-14 | 2020-06-18 | キヤノン株式会社 | 露光装置、露光方法及び物品の製造方法 |
| KR20200074000A (ko) * | 2018-12-14 | 2020-06-24 | 캐논 가부시끼가이샤 | 노광장치, 노광방법 및 물품의 제조방법 |
| JP7240162B2 (ja) | 2018-12-14 | 2023-03-15 | キヤノン株式会社 | 露光装置、露光方法及び物品の製造方法 |
| WO2021186741A1 (ja) * | 2020-03-19 | 2021-09-23 | ギガフォトン株式会社 | 露光方法、露光システム、及び電子デバイスの製造方法 |
| US12105425B2 (en) | 2020-03-19 | 2024-10-01 | Gigaphoton Inc. | Exposure method, exposure system, and method for manufacturing electronic devices |
| CN117075449B (zh) * | 2023-10-16 | 2024-02-13 | 广州市艾佛光通科技有限公司 | 曝光调试装置、系统及方法 |
| CN117075449A (zh) * | 2023-10-16 | 2023-11-17 | 广州市艾佛光通科技有限公司 | 曝光调试装置、系统及方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
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|
| A977 | Report on retrieval |
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|
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|
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|
| A711 | Notification of change in applicant |
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|
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|
| A521 | Written amendment |
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|
| A02 | Decision of refusal |
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