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JP2011022440A - Mems-based exposure module and related technique - Google Patents

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JP2011022440A JP2009168496A JP2009168496A JP2011022440A JP 2011022440 A JP2011022440 A JP 2011022440A JP 2009168496 A JP2009168496 A JP 2009168496A JP 2009168496 A JP2009168496 A JP 2009168496A JP 2011022440 A JP2011022440 A JP 2011022440A
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Sohei Matsumoto
壮平 松本
Akio Mimura
秋男 三村
Hisahiro Ito
寿浩 伊藤
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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】これらの背景に鑑みてなされたものであって、ファイバー状の細長い基体にマイクロ構造を形成するための技術を提供する。
【解決手段】 ファイバー状の細長い部材にフォトリソグラフィ技術によってパターンを転写するための露光モジュールであって、入口及び出口を有する筒状の空洞が設けられる透光性の基体と、前記筒状の空洞の壁面に設けられた遮光パターンとを有する、露光モジュールが提供される。好適には、このモジュールは、前記筒状空洞の入口及び出口付近に形成され、露光される部材を潤滑液を介して又は介さないで摺動可能に支持する部材支持部と、前記部材支持部より奥の部分に設けられ、前記部材支持部より筒径の大きな露光部とを有し、前記遮光パターンは前記露光部の洞壁面に設けられる。
【選択図】図5
The present invention has been made in view of these backgrounds, and provides a technique for forming a microstructure on a fiber-like elongated substrate.
An exposure module for transferring a pattern to a fiber-like elongated member by a photolithography technique, a translucent substrate provided with a cylindrical cavity having an inlet and an outlet, and the cylindrical cavity An exposure module having a light-shielding pattern provided on the wall surface is provided. Preferably, the module is formed in the vicinity of an inlet and an outlet of the cylindrical cavity, and supports a member to be exposed so as to be slidable with or without a lubricant, and the member supporting portion. And an exposure part having a larger cylinder diameter than the member support part, and the light shielding pattern is provided on a cave wall surface of the exposure part.
[Selection] Figure 5

Description

本発明は、ファイバー状の基体にマイクロ構造を形成するための技術に関し、特に、フォトリソグラフィ用のマスクに関する。   The present invention relates to a technique for forming a microstructure on a fibrous substrate, and more particularly to a mask for photolithography.

半導体製造プロセスやMEMS製造プロセスにおいては、伝統的に、基体として平面状の基板が用いられてきた。これに対して、例えば円筒状や球状の基体を用いると、単位体積当りの表面積が増えるため、機能を高密度に実装することができ、同じ機能を有するデバイスを従来よりも小さく作ることができ、また、同じ大きさで従来よりも高度な機能を実装することが可能になる。さらに、例えば光ファイバーのような極細の基材にマイクロ機能構造を形成することができれば、これを織り上げて、様々な機能を有する大面積且つ柔軟なシートに仕立て上げることも可能であろう。このため、繊維状のマイクロデバイスの実現には大きな期待が寄せられており、医療や無線通信、ロボット、スマート環境など多くの技術分野に著しい発展をもたらすものと考えられている。そこで、これまでにも、細長い基体にマイクロ機能構造を形成するための取り組みがなされてきた。   In a semiconductor manufacturing process or a MEMS manufacturing process, a planar substrate has traditionally been used as a substrate. On the other hand, for example, when a cylindrical or spherical substrate is used, the surface area per unit volume increases, so that the functions can be mounted with high density, and a device having the same function can be made smaller than before. In addition, it is possible to implement a higher function than the conventional one with the same size. Furthermore, if a micro functional structure can be formed on an ultrafine substrate such as an optical fiber, it will be possible to create a large area and flexible sheet having various functions by weaving it. For this reason, great expectations are placed on the realization of fibrous microdevices, which are considered to bring about significant development in many technical fields such as medical treatment, wireless communication, robots, and smart environments. Thus, efforts have been made to form a micro functional structure on an elongated substrate.

このような技術の一種にソフトリソグラフィと呼ばれる技術がある(非特許文献1参照)。図1にソフトリソグラフィのプロセスの概要を示した。まず、柔軟性を有する材質で形成されたフォトマスク(101)を準備し、これをフォトレジスト(102)が塗布された湾曲基体(103)に密着させ、マスクの上から露光(104)する。マスクを剥離すると、露光された部分と露光されていない部分からなるパターン(105)を得ることができる。この技術は、柔軟性を有するマスクを用いることから、湾曲した面にフォトリソグラフィ技術を用いてパターンを転写することができる。なお、図1は非特許文献1の図7の一部を抜粋して利用したものである。   One type of such technology is called soft lithography (see Non-Patent Document 1). FIG. 1 shows an outline of the soft lithography process. First, a photomask (101) formed of a flexible material is prepared, and is brought into close contact with the curved substrate (103) coated with the photoresist (102), and exposed (104) from above the mask. When the mask is peeled off, a pattern (105) composed of an exposed portion and an unexposed portion can be obtained. Since this technique uses a flexible mask, a pattern can be transferred to a curved surface using a photolithography technique. In addition, FIG. 1 extracts and uses a part of FIG. 7 of a nonpatent literature 1. FIG.

しかしながら、ソフトリソグラフィにおいては、フォトマスクを基材に密着させ、剥離するという工程が必要となるため、径の細い基材へのパターン転写には向いていない。特に、直径が4mm以下となると、特に剥離工程においてフォトレジストを一緒に剥がしてしまう問題が深刻となる。また、柔軟性を有するとはいっても、転写工程のたびに曲げられることは、マスクの寿命をかなり短くする。特に、基材の径が細くなればなるほど、フォトマスクも大きく曲げられなければならないため、曲げ負荷がより強くかかり、劣化も早まってしまう。このため、ソフトリソグラフィは、径の細い基体へのリソグラフィには適していない。さらに問題であることには、この技術は、フォトマスクの装着・剥離工程が存在するために、連続プロセスには全く適していないことである。従って、ソフトリソグラフィ技術を、細く且つ長尺のファイバーに対するリソグラフィ手段として応用することは、非常に困難である。   However, since soft lithography requires a process of bringing a photomask into close contact with a substrate and peeling it, it is not suitable for pattern transfer onto a substrate having a small diameter. In particular, when the diameter is 4 mm or less, the problem of peeling off the photoresist together particularly in the peeling process becomes serious. In addition, although it is flexible, being bent at each transfer step considerably shortens the life of the mask. In particular, as the diameter of the base material becomes smaller, the photomask must be bent more greatly, so that the bending load is more intense and the deterioration is accelerated. For this reason, soft lithography is not suitable for lithography on a substrate having a small diameter. What is more problematic is that this technique is not at all suitable for a continuous process because of the photomask mounting and peeling process. Therefore, it is very difficult to apply the soft lithography technique as a lithography means for thin and long fibers.

非特許文献2には、光造型法を用いてマイクロコイルを製造する技術が記載されている。光造型法は、3次元CADデータに従って、液状の光硬化性樹脂を紫外線レーザーにより硬化させて所望の3次元構造を得る技術である(図2参照)。光造型法は、マイクロコイルなどの3次元構造を製造することは可能であるが、基体上に回路パターンを形成することは不可能である。また、光造型法では、長尺の構造体を形成することは製造設備上の制約から非常に困難であり、樹脂の硬化にも時間がかかることから、連続プロセスにも適した方法とはいえない。さらにコストも非常に高い。   Non-Patent Document 2 describes a technique for manufacturing a microcoil using an optical molding method. The photomolding method is a technique for obtaining a desired three-dimensional structure by curing a liquid photocurable resin with an ultraviolet laser in accordance with three-dimensional CAD data (see FIG. 2). The photo-molding method can produce a three-dimensional structure such as a microcoil, but cannot form a circuit pattern on a substrate. Also, in the photomolding method, it is very difficult to form a long structure due to restrictions on manufacturing equipment, and it takes time to cure the resin. Absent. Furthermore, the cost is very high.

非特許文献3には、強力なシンクロトロン光によって基体からマイクロコイルを直接削り出す技術が記載されている。この技術の概要を図3に示す。図示されるように、(a)回転軸302の周りにPTFE樹脂層304を形成し、(b)PTFE樹脂層304を回転させつつ、マスク306を介してシンクロトロン光を照射し、削り出しを行う。削り出しが終わると(c)のようなマイクロコイルが軸302の周りに出来上がる。   Non-Patent Document 3 describes a technique for directly cutting a microcoil from a substrate with strong synchrotron light. An overview of this technique is shown in FIG. As shown in the figure, (a) a PTFE resin layer 304 is formed around the rotating shaft 302, and (b) the PTFE resin layer 304 is rotated and irradiated with synchrotron light through a mask 306 to be cut off. Do. When the cutting is finished, a microcoil as shown in FIG.

円筒状の基体を回転させつつ、マスクを介して強力なシンクロトロン光を照射し、基体からマイクロコイルを直接削り出す技術が記載されている(図3参照)。しかし、現実的な速度で基体を削ることができるほど強力なシンクロトロン光を得ることは、ごく限られた施設でしか可能ではなく、この方法が商業ベースで実用化されることはまず考えられない。   A technique is described in which a micro-coil is directly cut from the substrate by irradiating with strong synchrotron light through a mask while rotating the cylindrical substrate (see FIG. 3). However, it is possible to obtain synchrotron light that is strong enough to cut the substrate at a realistic speed in only a limited number of facilities, and it is likely that this method will be put into practical use on a commercial basis. Absent.

このほか、特許文献1〜3には、球状の基体の表面を一様に露光してパターンの転写を行いうる技術が記載されている。しかし、この技術は球状基体に対する露光方法であり、長尺の基体にマイクロ機能構造を形成することには向いていない。   In addition, Patent Documents 1 to 3 describe a technique capable of transferring a pattern by uniformly exposing the surface of a spherical substrate. However, this technique is an exposure method for a spherical substrate, and is not suitable for forming a micro functional structure on a long substrate.

J. G. Kim, N. Takama, B. J. Kim, H. Fujita, Optical-softlithographic technology for patterning on curved surfaces, Journal of Micromechanics and Microengineering, 19 (2009) 055017J. G. Kim, N. Takama, B. J. Kim, H. Fujita, Optical-softlithographic technology for patterning on curved surfaces, Journal of Micromechanics and Microengineering, 19 (2009) 055017 C. Sun, N. Fang, D. M. Wu, X. Zhang, Projection micro-stereolithography using digital microy-mirror dynamic mask, Sensors and Actuators A 121 (2005) 113-120C. Sun, N. Fang, D. M. Wu, X. Zhang, Projection micro-stereolithography using digital microy-mirror dynamic mask, Sensors and Actuators A 121 (2005) 113-120 T. Katoh, N. Nishi, M. Fukagawa, H. Ueno, S. Sugiyama, Direct writing for three-dimensional microfabrication using synthcrotron radiation etching, MEMS 2000T. Katoh, N. Nishi, M. Fukagawa, H. Ueno, S. Sugiyama, Direct writing for three-dimensional microfabrication using synthcrotron radiation etching, MEMS 2000

特開平11−195580号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-195580 特開平11−121368号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-121368 特開平11−111609号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-11609

本発明は、これらの背景に鑑みてなされたものであって、ファイバー状の細長い基体にマイクロ構造を形成するための技術を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of these backgrounds, and an object thereof is to provide a technique for forming a microstructure on a fiber-like elongated substrate.

本発明の範囲には、ファイバー状の細長い部材にフォトリソグラフィ技術によってパターンを転写するための新規な露光モジュールが含まれる。この露光モジュールは、入口及び出口を有する筒状の空洞が設けられる透光性の基体と、前記筒状の空洞の壁面に設けられた遮光パターンとを有することを特徴とする。   The scope of the present invention includes a novel exposure module for transferring a pattern to a fiber-like elongated member by photolithography. This exposure module has a light-transmitting substrate provided with a cylindrical cavity having an inlet and an outlet, and a light shielding pattern provided on the wall surface of the cylindrical cavity.

前記筒状の空洞は、例えば円筒状の空洞であることができる。この空洞に、フォトレジストを塗布したファイバー状の部材を挿入し、モジュールの外側から光を照射することにより、露光を行うことができる。露光が終わったファイバー部分はモジュールから引き出して、次に露光するべきファイバーの部分をモジュール内に位置させて露光を行うというステップを繰り返すことにより、長尺のファイバー材の各部分を順々に露光していくことが可能となる。すなわち長尺のファイバー材に対する事実上連続的なリソグラフィ手段が提供される。   The cylindrical cavity can be, for example, a cylindrical cavity. Exposure can be performed by inserting a fiber-like member coated with a photoresist into the cavity and irradiating light from the outside of the module. The exposed fiber part is pulled out of the module, and the next step is to expose each part of the long fiber material in sequence by repeating the step of exposing the fiber part to be exposed next in the module. It becomes possible to do. That is, a substantially continuous lithographic means for long fiber materials is provided.

そして、この露光モジュールは、ソフトリソグラフィで用いられるフレキシブルマスクのように使用時に折り曲げられることがないので、劣化が極めて遅く、長く使い続けることができる。   And since this exposure module is not bent at the time of use unlike the flexible mask used by soft lithography, deterioration is very slow and it can be used for a long time.

前記露光モジュールは、好ましくは露光する部材を支持・案内する構造を備えていることが好ましい。一例では、モジュールの前記筒状空洞の入口及び出口付近に形成され、露光される部材を潤滑液を介して又は介さないで摺動可能に支持する部材支持部が設けられる。前記遮光パターンは、前記部材支持部より奥の部分の壁面に設けられる。むろん、前記潤滑液は、露光プロセスに悪影響を与えないものであることが好ましい。   The exposure module preferably has a structure for supporting and guiding a member to be exposed. In one example, there is provided a member support portion that is formed in the vicinity of the inlet and outlet of the cylindrical cavity of the module and slidably supports a member to be exposed with or without a lubricant. The light shielding pattern is provided on a wall surface in a portion deeper than the member support portion. Of course, it is preferable that the lubricating liquid does not adversely affect the exposure process.

前記部材支持部は、露光中にモジュールを支持するだけでなく、遮光パターンに対して露光する部材を所定の場所に位置させるという位置決めの機能を果たす。従って、露光する部材がぐらつくことなくしっかり支えられるように、前記部材支持部の形状は、露光する部材の外形にほぼ等しいことが好ましい。しかしながら、横方向の位置合わせを行うべく部材を摺動させる際に部材やモジュールが摩擦により損傷することを防ぐべく、前記部材支持部は、潤滑液を介して露出する部材を支持しうるように構成されてもよい。   The member support portion not only supports the module during exposure but also functions to position a member to be exposed with respect to the light shielding pattern at a predetermined location. Therefore, it is preferable that the shape of the member supporting portion is substantially equal to the outer shape of the member to be exposed so that the member to be exposed can be firmly supported without wobbling. However, in order to prevent the member or the module from being damaged by friction when sliding the member to perform the lateral alignment, the member support portion can support the member exposed through the lubricating liquid. It may be configured.

この構成によれば、露光モジュールに部材を通すだけで、遮光パターンとの間隔が自動的に定まってしまうため、縦方向の位置決めを精度良く簡単に行うことができる。   According to this configuration, since the distance from the light shielding pattern is automatically determined only by passing the member through the exposure module, the vertical positioning can be easily performed with high accuracy.

横方向の位置決めのためには、例えば環状のマークなど、位置決めに使用しうる何らかのマークを露出モジュールに設けておくことが好ましい。   For lateral positioning, it is preferable to provide some marks that can be used for positioning, such as an annular mark, in the exposure module.

前記露光モジュールにおいて、遮光パターンが形成される部分の内径は、前記部材支持部の内径よりも若干大きくされることが好ましい。このようにしておくと、部材が遮光パターンに接触しないため、部材をスライドさせたときに摩擦で遮光パターンが壊れることを防止することができる。ただし、露光時に光の散乱を防ぐために、モジュール空洞の内壁面と露光する部材との間の空間は、モジュールの基材と屈折率が同じか少なくとも極めて近い液体で満たされることが望ましい。または、光の屈折を積極的に利用し、高屈折率の液体を満たしてステッパーの開口率を向上させる、いわゆる液浸リソグラフィが知られており、この技術に用いられる液体を使用することができる。これらの液体は、前述の潤滑液としての機能も果たすことができる。   In the exposure module, it is preferable that the inner diameter of the portion where the light shielding pattern is formed is slightly larger than the inner diameter of the member support portion. In this way, since the member does not contact the light shielding pattern, it is possible to prevent the light shielding pattern from being broken by friction when the member is slid. However, in order to prevent light scattering at the time of exposure, it is desirable that the space between the inner wall surface of the module cavity and the member to be exposed be filled with a liquid having the same or at least very close refractive index as the base material of the module. Alternatively, so-called immersion lithography is known in which refraction of light is actively utilized to fill a high refractive index liquid to improve the aperture ratio of the stepper, and the liquid used in this technique can be used. . These liquids can also function as the aforementioned lubricating liquid.

本発明は、前述の露光モジュールを製造するいくつかの方法をもその範囲に含む。該露光モジュールは、筒状空洞の中心軸を通る平面によって分割される複数の部分に分けて製造することができるが、当該部分を製造する方法の一例は、
・ 溝面が円筒面の一部を為す溝を透光性の基体上に形成する工程と、
・ 前記溝面に、抗接着性物質の皮膜を形成すると共に、該抗接着性物質の皮膜上に金属皮膜を形成し、さらに該金属皮膜上に接着性物質の皮膜を形成する工程と、
・ 前記接着性物質の皮膜上に透光性の樹脂を積層する工程と、
・ 前記樹脂を硬化させると共に、該樹脂を前記金属皮膜ごと前記透光性基体から剥離する工程と、
・ 前記剥離した樹脂に対し、前記透光性基体の溝に対応して形成された隆条が覆われるように、前記金属皮膜上からフォトレジストを塗布すると共に、フォトエッチングによって前記金属皮膜をパターンに形成する工程と、
・ 前記樹脂が剥離された前記透光性基体に対し、前記抗接着性物質を除去すると共に、前記溝面を覆うように第2の金属皮膜を形成し、さらに該第2の金属皮膜上にフォトレジストの層を形成する工程と、
・ 前記パターンが形成された前記樹脂を、前記隆条が前記溝に再び収まるように、前記透光性基体に重ねる工程と、
・ 前記樹脂上の前記パターンをマスクとしてフォトエッチングを行うことにより、前記樹脂上の前記パターンを前記第2の金属皮膜に転写する工程と、
を含む。
The present invention also includes within its scope several methods for manufacturing the aforementioned exposure module. The exposure module can be manufactured by being divided into a plurality of parts divided by a plane passing through the central axis of the cylindrical cavity. An example of a method for manufacturing the part is as follows.
Forming a groove on the translucent substrate, the groove surface forming part of the cylindrical surface;
Forming a film of an antiadhesive substance on the groove surface, forming a metal film on the antiadhesive substance film, and further forming an adhesive substance film on the metal film;
A step of laminating a translucent resin on the film of the adhesive substance;
-Curing the resin and peeling the resin together with the metal film from the translucent substrate;
A photoresist is applied on the metal film so that the ridge formed corresponding to the groove of the translucent substrate is covered with the peeled resin, and the metal film is patterned by photoetching. Forming the step,
-The anti-adhesive substance is removed from the translucent substrate from which the resin has been peeled off, and a second metal film is formed so as to cover the groove surface, and further on the second metal film. Forming a layer of photoresist;
A step of superimposing the resin on which the pattern has been formed on the translucent base so that the ridges are again accommodated in the grooves;
Transferring the pattern on the resin to the second metal film by performing photo-etching using the pattern on the resin as a mask;
including.

前述の部分を製造する方法の別の一例は、
・ 溝面が円筒面の一部を為す溝を透光性の基体上に形成する工程と、
・ 前記溝上に透光性の樹脂を積層し、硬化後に剥離する工程と、
・ 前記剥離した樹脂に対し、前記透光性基体の溝に対応して形成された隆条を覆うように金属皮膜を形成すると共に、前記金属皮膜をパターンに形成する工程と、
・ 前記樹脂が剥離された前記透光性基体に対し、前記溝面を覆うように第2の金属皮膜を形成し、さらに該第2の金属皮膜上にフォトレジストの層を形成する工程と、
・ 前記パターンが形成された前記樹脂を、前記隆条が前記溝に再び収まるように、前記透光性基体に重ねる工程と、
・ 前記樹脂上の前記パターンをマスクとしてフォトエッチングを行うことにより、前記樹脂上の前記パターンを前記第2の金属皮膜に転写する工程と、
を含む。
Another example of a method of manufacturing the aforementioned part is
Forming a groove on the translucent substrate, the groove surface forming part of the cylindrical surface;
A step of laminating a translucent resin on the groove and peeling off after curing;
A step of forming a metal film on the peeled resin so as to cover the ridge formed corresponding to the groove of the translucent substrate, and forming the metal film in a pattern;
A step of forming a second metal film on the translucent substrate from which the resin has been peeled so as to cover the groove surface, and further forming a photoresist layer on the second metal film;
A step of superimposing the resin on which the pattern has been formed on the translucent base so that the ridges are again accommodated in the grooves;
Transferring the pattern on the resin to the second metal film by performing photo-etching using the pattern on the resin as a mask;
including.

これらの製造方法の利点を含め、本発明に関するその他の目的や構成、作用効果は、例示的な実施形態を用いて後に詳述される。   Other objects, configurations, and operational effects related to the present invention, including the advantages of these manufacturing methods, will be described in detail later using exemplary embodiments.

従来技術である、ソフトリソグラフィプロセスの概要を説明するための図Diagram for explaining the outline of the conventional soft lithography process 従来技術である、光造形法を用いたマイクロコイルの製造を説明するための図The figure for demonstrating manufacture of the microcoil using the stereolithography method which is a prior art 従来技術である、シンクロトロン光を用いたマイクロコイルの製造を説明するための図A diagram for explaining the manufacture of microcoils using synchrotron light, which is a prior art 実施例として紹介するMEMS露光モジュールの概要を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the outline | summary of the MEMS exposure module introduced as an Example. 実施例として紹介するMEMS露光モジュールの概要を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the outline | summary of the MEMS exposure module introduced as an Example. 実施例として紹介するMEMS露光モジュールの概要を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the outline | summary of the MEMS exposure module introduced as an Example. MEMS露光モジュール400を、その長手方向の中心軸で切断した断面図である。It is sectional drawing which cut | disconnected the MEMS exposure module 400 by the central axis of the longitudinal direction. MEMS露光モジュール400の部分402や404を製造する方法の第1の例の工程を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a process of a first example of a method for manufacturing a part 402 or 404 of the MEMS exposure module 400. 半円溝602を形成した基体601の光学顕微鏡写真である。3 is an optical micrograph of a base body 601 in which a semicircular groove 602 is formed. 部品600を図6(e)の符号618の方向から撮影した光学顕微鏡写真である。It is the optical microscope photograph which image | photographed the components 600 from the direction of the code | symbol 618 of FIG.6 (e). 部品600を図6(e)の符号620の方向から撮影した光学顕微鏡写真である。It is the optical microscope photograph which image | photographed the components 600 from the direction of the code | symbol 620 of FIG.6 (e). MEMS露光モジュール400の部分402や404を製造する方法の第2の例の工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the 2nd example of the method of manufacturing the parts 402 and 404 of the MEMS exposure module 400. FIG. MEMS露光モジュール400の部分402や404を製造する方法の第2の例の工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the 2nd example of the method of manufacturing the parts 402 and 404 of the MEMS exposure module 400. FIG. MEMS露光モジュール400の部分402や404を製造する方法の第3の例の工程を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of the 3rd example of the method of manufacturing the parts 402 and 404 of the MEMS exposure module 400. FIG. ファイバー状基体に形成しうる微小温度計の回路パターン例1100を示す図である。It is a figure which shows the circuit pattern example 1100 of the micro thermometer which can be formed in a fiber-like base | substrate. MEMS露出モジュール400を利用して、ファイバー状基体に微小温度計回路パターン1100を形成するプロセスを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the process of forming the micro thermometer circuit pattern 1100 in a fiber-like base | substrate using the MEMS exposure module 400. FIG. MEMS露出モジュール400を利用して製造しうるマイクロインダクタを説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a microinductor that can be manufactured using a MEMS exposure module 400; 図13Bのマイクロインダクタ1320を、MEMS露出モジュール400を利用して製造するプロセスの例を説明するための図である。13B is a diagram for explaining an example of a process for manufacturing the microinductor 1320 of FIG. 13B using the MEMS exposure module 400. FIG.

以下、本発明のより深い理解に資するために、好適な実施例の説明を通して、本発明の様々な側面について図面を用いて詳細に説明する。   Hereinafter, various aspects of the present invention will be described in detail with reference to the drawings through the description of preferred embodiments in order to contribute to a deeper understanding of the present invention.

本発明の好適な実施形態は、直径が1mm以下ともなりうる非常に細いファイバー状基材のための、低コストで高解像度のリソグラフィ技術を提供しうる。このリソグラフィ技術は、本明細書で「MEMS露光モジュール」と呼ばれるものを利用する。「MEMS」露光モジュールと呼ぶ理由は、この露光モジュールがMEMS技術を用いて製造されうるからである。図4Aに、実施例として紹介するMEMS露光モジュール400の径方向の断面図を示す。MEMS露光モジュール400は、上半分の部分402と下半分の部分404とに分けて製造され、これらを接合して製造される。モジュール400の中央部分には円筒形の孔(空洞)406が形成される。この空洞に、露光されるファイバー部材420が挿入せしめられる。図4Bに、空洞406にファイバー部材420を挿入した様子を描いた。空洞406の内面には露光により転写されるべきマスクパターン408が設けられる。MEMS露光モジュール400は、全体としては直方体状の外観を呈し、空洞406の中心線の方向はモジュール400の長手方向の軸に一致する。(なお、これが単に例示的な形状であり、本発明の実施形態の形状を限定するものではないことには注意されたい。)   Preferred embodiments of the present invention can provide a low cost, high resolution lithography technique for very thin fibrous substrates that can be up to 1 mm in diameter. This lithography technique utilizes what is referred to herein as a “MEMS exposure module”. The reason for calling it a “MEMS” exposure module is that this exposure module can be manufactured using MEMS technology. FIG. 4A shows a radial cross-sectional view of a MEMS exposure module 400 introduced as an example. The MEMS exposure module 400 is manufactured by being divided into an upper half portion 402 and a lower half portion 404, and these are joined. A cylindrical hole (cavity) 406 is formed in the central portion of the module 400. The fiber member 420 to be exposed is inserted into this cavity. FIG. 4B illustrates a state where the fiber member 420 is inserted into the cavity 406. A mask pattern 408 to be transferred by exposure is provided on the inner surface of the cavity 406. The MEMS exposure module 400 generally has a rectangular parallelepiped appearance, and the direction of the center line of the cavity 406 coincides with the longitudinal axis of the module 400. (Note that this is merely an exemplary shape and does not limit the shape of embodiments of the present invention.)

部分402,404の接合面は、空洞406の中心線を通る面上に位置する。従って、これらの部分に形成される半円筒状の溝は、それぞれ空洞406のちょうど半分を形成する。本実施例では2つの部分に分割されているが、製造上必要であれば、もっと多くの部分に分けて製造してもよい。が、空洞406の形状が円筒状である場合は、2つの部分に分ければ、製造の容易さを確保するという目的に十分に叶うだろう。これらの部分はMEMS又は他の既存のパッケージング技術を用いて接合される。各部分の基体には、リソグラフィを行おうとするファイバーの寸法に応じて、マイクロ加工プロセスや精密加工プロセスを利用して溝が形成される。図4Cは、図4Aに描かれたモジュール400の下半分404を描いた断面図であるが、断面が半円となる半円筒状の溝414が形成されていることが分かる。この溝が部分402の対応する溝に組み合わされることにより、図4Aに描かれる円筒空洞406が形成される。溝414は、既存のドライエッチングやウェットエッチングの技法を用いて容易に形成することができる。   The joint surfaces of the portions 402 and 404 are located on a plane passing through the center line of the cavity 406. Thus, the semi-cylindrical grooves formed in these portions each form exactly half of the cavity 406. In the present embodiment, it is divided into two parts, but if necessary for manufacturing, it may be divided into more parts. However, if the shape of the cavity 406 is cylindrical, it can be sufficiently fulfilled for the purpose of ensuring ease of manufacture if it is divided into two parts. These parts are joined using MEMS or other existing packaging technology. Grooves are formed in the substrate of each portion using a micromachining process or a precision machining process according to the size of the fiber to be lithographically processed. FIG. 4C is a cross-sectional view depicting the lower half 404 of the module 400 depicted in FIG. 4A, but it can be seen that a semi-cylindrical groove 414 having a semi-circular cross-section is formed. This groove is combined with a corresponding groove in portion 402 to form the cylindrical cavity 406 depicted in FIG. 4A. The groove 414 can be easily formed using an existing dry etching or wet etching technique.

モジュール400は、露光用の光を通過させなければならないので、透光性の高い物質で形成される必要がある。また、加工性の高い物質であることも望ましい。このような要求に叶う材料の一例は石英やガラスである。無論、これらの物質に限られるものではない。パターン408は、露光時にマスクとして利用されるため、金属その他の遮光性の物質で形成される必要がある。好適なマスク材料の一例として、MEMS製造プロセスによく適合するという利点から、Cr/Cr2O3を挙げることができる。 Since the module 400 must pass light for exposure, the module 400 needs to be formed of a highly light-transmitting substance. It is also desirable that the material be highly workable. An example of a material that meets these requirements is quartz and glass. Of course, it is not limited to these substances. Since the pattern 408 is used as a mask during exposure, it needs to be formed of a metal or other light shielding material. An example of a suitable mask material is Cr / Cr 2 O 3 because of its good suitability for MEMS manufacturing processes.

図5は、MEMS露光モジュール400を、その長手方向の中心軸で切断した断面図を表したものである。図4Aに描かれた、モジュール400の上半分402は、マスクパターン408が設けられる部分402aと、その他の部分402bとに分けられる。同様に、モジュール400の下半分404(図4A参照)も、マスクパターン408が設けられる部分404aと、その他の部分404bとに分けられる。   FIG. 5 shows a cross-sectional view of the MEMS exposure module 400 cut along the central axis in the longitudinal direction. The upper half 402 of the module 400 depicted in FIG. 4A is divided into a portion 402a where the mask pattern 408 is provided and another portion 402b. Similarly, the lower half 404 (see FIG. 4A) of the module 400 is also divided into a portion 404a where the mask pattern 408 is provided and another portion 404b.

部分402b,404bは、モジュール400の入口及び出口付近、すなわち図4Aで符号406で示された空洞の406の入口及び出口付近に形成され、空洞406を貫通するファイバー420を支持する役目を果たす。このため、部分402b及び404bで画定される孔の内径は、ファイバー420の外径にほぼ一致するように形成されることが望ましい。これに対してマスクパターン408が設けられる領域、すなわち部分402a及び404aで画定される孔の内径は、ファイバー420の外径よりも若干大きくなっている。これは、ファイバー420の給送中に、ファイバー420とマスクパターン408が接触し、マスクパターン408が損傷することを防ぐためである。   Portions 402b and 404b are formed near the inlet and outlet of the module 400, ie, near the inlet and outlet of the cavity 406 indicated by reference numeral 406 in FIG. 4A, and serve to support the fiber 420 passing through the cavity 406. For this reason, it is desirable that the inner diameter of the hole defined by the portions 402 b and 404 b is formed so as to substantially match the outer diameter of the fiber 420. On the other hand, the area where the mask pattern 408 is provided, that is, the inner diameter of the hole defined by the portions 402 a and 404 a is slightly larger than the outer diameter of the fiber 420. This is for preventing the fiber 420 and the mask pattern 408 from coming into contact with each other during the feeding of the fiber 420 and damaging the mask pattern 408.

露光モジュール400を用いた長尺ファイバー部材420へのリソグラフィプロセスは、露光を行う部分を位置決めしてモジュール400内にセットして、露光を行い、ファイバー420を給送して露光を終えた部分を引き出し、次に露光を行う部分をモジュール400内にセットして、再び露光を行うという、段階的プロセスによって行われる。図5では、露光を終えてパターンが転写された箇所が符号42で示されている。従って、このリソグラフィプロセスは、「連続的」又は「逐次的」と表現できる。   In the lithography process for the long fiber member 420 using the exposure module 400, the portion to be exposed is positioned and set in the module 400, the exposure is performed, and the portion after the exposure is completed by feeding the fiber 420. This is performed by a stepwise process in which a portion to be extracted and then exposed is set in the module 400 and exposed again. In FIG. 5, a portion where the pattern is transferred after the exposure is indicated by reference numeral 42. Therefore, this lithography process can be expressed as “continuous” or “sequential”.

ファイバー420の各位置に露光されるパターンがそれぞれ同じような解像度で形成されるためには、ファイバー420の心材422の周りに形成されたフォトレジスト層424と、マスクパターン408との距離が、各露光段階において同一である必要がある。この点で、部分402b及び404bで画定される孔の内径を、ファイバー420の外径にほぼ一致するように形成しておけば、当該孔は、ファイバー420を支持するだけでなく、フォトレジスト層424とマスクパターン408との距離を一定に保つ働きも有することになるので、非常に有利である。すなわち部分402b及び404bで画定される孔は、ファイバー420の支持機能に加えて、ファイバー420の径方向の位置決めの機能をも有する。   In order for the pattern exposed at each position of the fiber 420 to be formed with the same resolution, the distance between the photoresist layer 424 formed around the core material 422 of the fiber 420 and the mask pattern 408 is different from each other. It must be the same in the exposure stage. In this regard, if the inner diameter of the hole defined by the portions 402b and 404b is formed to substantially match the outer diameter of the fiber 420, the hole not only supports the fiber 420 but also the photoresist layer. Since it also has a function of keeping the distance between 424 and the mask pattern 408 constant, it is very advantageous. That is, the hole defined by the portions 402 b and 404 b has a function of positioning the fiber 420 in the radial direction in addition to the function of supporting the fiber 420.

前述のように、部分402a及び404aで画定される孔の内径は、マスクパターン408の接触破損を防止すべく、ファイバー420の外径よりも若干大きく形成されることが好ましい。MEMSプロセスは非常に高精度の加工が可能であるので、露光ギャップが数μm以下になるように精密に制御することが可能である。しかし、たとえごく僅かなギャップであったとしても、マスクパターン408とフォトレジスト層424とが離間していると、露光時に光の屈折や散乱が生じる可能性があることから、高精度のパターン形成という点からは不利である。そこで、露光中は、マスクパターン408とフォトレジスト層424との間の空隙を、部分402a及び404aの部材にできるだけ近い屈折率を有する液体で満たすことが好ましい。無論、可能であれば、この液体の屈折率は、部分402a及び404aの屈折率と完全に等しいことが好ましい。このようにすることで、マスクパターン408とフォトレジスト層424とが離間していることに起因する光の屈折や散乱の影響を極限まで抑えることが可能となる。   As described above, the inner diameter of the hole defined by the portions 402a and 404a is preferably slightly larger than the outer diameter of the fiber 420 in order to prevent contact damage of the mask pattern 408. Since the MEMS process can be processed with very high accuracy, it is possible to precisely control the exposure gap to be several μm or less. However, even if the gap is very small, if the mask pattern 408 and the photoresist layer 424 are separated from each other, light refraction or scattering may occur at the time of exposure. This is a disadvantage. Therefore, during the exposure, it is preferable to fill the gap between the mask pattern 408 and the photoresist layer 424 with a liquid having a refractive index as close as possible to the members of the portions 402a and 404a. Of course, if possible, the refractive index of the liquid is preferably exactly equal to the refractive index of the portions 402a and 404a. By doing so, it becomes possible to suppress the influence of light refraction and scattering caused by the separation of the mask pattern 408 and the photoresist layer 424 to the maximum.

または、光の屈折を積極的に利用し、ギャップに高屈折率の液体を満たすこととしてもよい。高屈折率の液体を満たすことでステッパーの開口率を向上させる、いわゆる液浸リソグラフィが知られており、本発明の実施形態においても同様の原理を応用することができる。   Alternatively, light refraction may be actively used to fill the gap with a high refractive index liquid. So-called immersion lithography, which improves the aperture ratio of a stepper by filling a liquid having a high refractive index, is known, and the same principle can be applied to embodiments of the present invention.

さらに、これらの液体は、部分402b及び404bで画定される孔の部分において、ファイバー給送時の摩擦を減らすための潤滑液として役割も果たすことができる。従って、部分402b及び404bで画定される孔の内径は、ファイバー420の支持のためにはその外径にできるだけ一致することが好ましいが、これらの間に潤滑液が介在できる程度のごく僅かな隙間はあったほうが好ましい。   In addition, these liquids can also serve as a lubricating liquid to reduce friction during fiber feeding in the portion of the hole defined by portions 402b and 404b. Accordingly, the inner diameter of the hole defined by the portions 402b and 404b preferably matches the outer diameter as much as possible for supporting the fiber 420, but there is a very small gap between which the lubricating liquid can be interposed. It is better to have

部分402a及び404aの材質は、図5に概念的に示されているように光500を透過させる透光性の材質で形成される必要があるが、部分402b及び404bについては、必ずしも透光性の材質である必要はなく、余計な光をレジスト層424に照射しないためには、むしろ光を透過させない材質で形成されることが好ましい。部分402b及び404bを部分402a及び404aと同じ材質で形成する場合、部分402b及び404bの筒面は、遮光性の物質でコーティングすることが好ましい。   The material of the portions 402a and 404a needs to be formed of a light-transmitting material that transmits the light 500 as conceptually shown in FIG. 5, but the portions 402b and 404b are not necessarily transparent. However, in order not to irradiate the resist layer 424 with extra light, it is preferable to use a material that does not transmit light. When the portions 402b and 404b are formed of the same material as the portions 402a and 404a, the cylindrical surfaces of the portions 402b and 404b are preferably coated with a light shielding material.

続いて、MEMS露光モジュール400の製造方法の例についていくつか説明する。前述のように、MEMS露光モジュール400は2つの部分402と404に分けられて製造され、後に接合される。以下に説明するのは、これらの部分402または404を製造する方法である。
〔製造方法例1〕
Next, some examples of a method for manufacturing the MEMS exposure module 400 will be described. As described above, the MEMS exposure module 400 is manufactured in two parts 402 and 404, which are later joined. Described below is a method for manufacturing these portions 402 or 404.
[Production Method Example 1]

図6に、MEMS露光モジュール400の部分402や404を製造する方法の第1の例の工程を示す。   FIG. 6 shows steps of a first example of a method for manufacturing the portions 402 and 404 of the MEMS exposure module 400.

図6(a)は、直方形の基体601に、半円筒状の溝602を形成する段階を示す。基体601は、前述のMEMS露光モジュール400の部品402や404の基体であり、従って石英やガラスなどの透光性の材質で作られる。また溝602は、図4Aなどに描かれた空洞406の半分に対応するものである。半円溝602は、トライエッチングやウェットエッチングといった周知の技法を用いて容易に形成することができる。図7に、半円溝602を形成した基体601の光学顕微鏡写真を示す。   FIG. 6A shows a step of forming a semi-cylindrical groove 602 in a rectangular base 601. The base 601 is a base for the parts 402 and 404 of the MEMS exposure module 400 described above, and is thus made of a translucent material such as quartz or glass. The groove 602 corresponds to half of the cavity 406 depicted in FIG. 4A and the like. The semicircular groove 602 can be easily formed using a known technique such as tri-etching or wet etching. FIG. 7 shows an optical micrograph of the substrate 601 on which the semicircular groove 602 is formed.

続いて図6(b)に示すように、基体601の表面に金属層604を電気めっき等の技法により形成し、その上にスプレーコーティング等の技法によりフォトレジスト層606を形成する。これらの層形成は、半導体製造プロセスにおいて良く知られている技法を用いることができる。金属層604やレジスト層606は、基体601の表面の前面を覆う必要は必ずしもないが、半円溝602の溝面は少なくとも覆うように形成されることが好ましい。金属層604は、後に光を遮るマスクとして形成されるため、光を通さないものである必要がある。例えばCr/Cr2O3の層であることができる。 Subsequently, as shown in FIG. 6B, a metal layer 604 is formed on the surface of the substrate 601 by a technique such as electroplating, and a photoresist layer 606 is formed thereon by a technique such as spray coating. These layers can be formed using techniques well known in the semiconductor manufacturing process. The metal layer 604 and the resist layer 606 are not necessarily required to cover the front surface of the surface of the base body 601, but are preferably formed so as to cover at least the groove surface of the semicircular groove 602. Since the metal layer 604 is formed as a mask that blocks light later, it is necessary to prevent light from passing therethrough. For example, it can be a Cr / Cr 2 O 3 layer.

さらに続いて、図6(c)に示すように、フォトマスク608を介して光610をフォトレジスト層606に照射し、露光を行う。これを現像すると、図6(d)に示すように、金属層604上にフォトレジストのパターン606aが残る。さらに適当なエッチング処理を施すことにより、金属層のうち不要な部分や残ったレジストが除去され、半円溝602の内面に金属層604のうち必要な部分が残り、金属のパターン604aが形成される(図6(e)参照)。これらの工程によって部品600が完成する。部品600は、MEMS露光モジュール400の部分402又は404でありうる。   Subsequently, as shown in FIG. 6C, the photoresist layer 606 is irradiated with light 610 through a photomask 608 to perform exposure. When this is developed, a photoresist pattern 606a remains on the metal layer 604, as shown in FIG. Further, by performing an appropriate etching process, unnecessary portions and remaining resist of the metal layer are removed, and necessary portions of the metal layer 604 remain on the inner surface of the semicircular groove 602, thereby forming a metal pattern 604a. (See FIG. 6 (e)). The parts 600 are completed by these processes. The component 600 can be a portion 402 or 404 of the MEMS exposure module 400.

図8aは、部品600の光学顕微鏡写真である。この写真は、図6(e)の矢印618の方向から撮影したものである。半円溝は矢印602で示されているが、黒く写っている符号602aで示した部分が溝壁の部分であり、符号604aで示した部分が形成された金属マスクパターンである。なお、図6と図8aで同じ構成には同じ符号が用いられていることを念のために記しておく。図6の方法にてきれいなマスクパターンを形成しうることが写真から理解しうるであろう。   FIG. 8 a is an optical micrograph of the component 600. This photograph was taken from the direction of arrow 618 in FIG. The semicircular groove is indicated by an arrow 602, and a portion indicated by a black reference numeral 602a is a groove wall portion, and is a metal mask pattern in which a portion indicated by a reference numeral 604a is formed. It should be noted that the same reference numerals are used for the same components in FIGS. 6 and 8a. It will be understood from the photograph that a clean mask pattern can be formed by the method of FIG.

符号622で示した矩形パターンや、符号624で示した格子パターンは、2つの部品600を貼り合わせて図4Aに示すような露光モジュールに仕上げる際に、位置合わせに使用するマークである。このようなパターンは、一度の露光プロセスで簡単に形成することが可能である。マーク622や624は、2つの部品600を接合する際だけではなく、ファイバーを給送する際の横方向の位置決めを行うためにも使用されうる。このような位置合わせ用のパターンは、マイクロコイルや似たような構造を製造するにおいて便利なものであるが、このようなパターンや他の位置合わせマークを精度良く形成することは、従来のソフトリソグラフィプロセスなどでは困難である。   The rectangular pattern indicated by reference numeral 622 and the lattice pattern indicated by reference numeral 624 are marks used for alignment when the two components 600 are bonded to finish an exposure module as shown in FIG. 4A. Such a pattern can be easily formed by a single exposure process. The marks 622 and 624 can be used not only for joining the two parts 600 but also for lateral positioning when feeding the fiber. Such alignment patterns are convenient for manufacturing microcoils and similar structures. However, it is difficult to form such patterns and other alignment marks with accuracy using conventional software. It is difficult by a lithography process.

図8bは、部品600を図(e)の矢印620の方向から撮影した光学顕微鏡写真である。写真で明らかなように、半円溝602及びその中の金属マスクパターン604aが写っている。また、溝壁部分602aにおいても薄い線状の構造が写っており、この部分にも金属マスクパターンが形成されていることが分かる。これらのマスクパターンは、露光によりファイバー基材420にコイルパターンを形成することが意図されている。矢印620の方向から撮影しても溝構造が写っていることから、基体601が透明であることが分かる。つまり、基体601はフォトリソグラフィプロセスにおける露光用の光を通過させうる材質で形成されている。   FIG. 8 b is an optical micrograph of the component 600 taken from the direction of the arrow 620 in FIG. As is apparent from the photograph, the semicircular groove 602 and the metal mask pattern 604a therein are shown. Also, a thin linear structure is shown in the groove wall portion 602a, and it can be seen that a metal mask pattern is also formed in this portion. These mask patterns are intended to form a coil pattern on the fiber substrate 420 by exposure. Even when the image is taken from the direction of the arrow 620, it can be seen that the base 601 is transparent because the groove structure is shown. That is, the base 601 is formed of a material that can transmit light for exposure in the photolithography process.

図6の製造方法の弱点は、マスク608と半円溝602の底部との間に距離があるため、露光時に光の屈折や散乱の影響でリソグラフィの解像度が落ちてしまうことである。このため図6の製造方法は、溝が比較的浅い場合、例えば直径が100μm以下である場合(すなわち最大深度が50μm以下である場合)に使用することが好ましい。溝がより深い場合は、次に示す製造方法を用いることが好ましい。
〔製造方法例2〕
The weak point of the manufacturing method in FIG. 6 is that the resolution of lithography is lowered due to the influence of light refraction and scattering during exposure because there is a distance between the mask 608 and the bottom of the semicircular groove 602. 6 is preferably used when the groove is relatively shallow, for example, when the diameter is 100 μm or less (that is, when the maximum depth is 50 μm or less). When the groove is deeper, it is preferable to use the following manufacturing method.
[Production Method Example 2]

図9に、MEMS露光モジュール400の部分402や404を製造する方法の第2の例の工程を示す。   FIG. 9 shows the steps of a second example of the method for manufacturing the portions 402 and 404 of the MEMS exposure module 400.

図9(a)に示す工程は、直方形の基体601を準備し、それに半円筒状の溝602を形成する工程であり、図6(a)の工程と同一である。なお、図6と同一要素には同一符号を付してある。図9(b)の工程は、図6(b)の工程とは異なり、基体601の表面に形成される皮膜902は、DTSなどの抗接着性物質の皮膜である。抗接着性物質皮膜902の上に、薄膜形成技術を利用して金属薄膜904を形成する。この皮膜は後にフォトマスクとして利用するため、光を通す材質であってはいけない。最も好適な皮膜材料の一つはCr/Cr2O3である。 The process shown in FIG. 9A is a process of preparing a rectangular base 601 and forming a semi-cylindrical groove 602 thereon, which is the same as the process of FIG. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same element as FIG. The process of FIG. 9B is different from the process of FIG. 6B, and the film 902 formed on the surface of the substrate 601 is a film of an anti-adhesive substance such as DTS. A metal thin film 904 is formed on the anti-adhesive material film 902 using a thin film forming technique. Since this film will be used later as a photomask, it should not be a material that allows light to pass through. One of the most preferred coating materials is Cr / Cr 2 O 3 .

続いて、金属層904の上に接着性物質を塗布し、その上にPDMSの層を形成する(図9(c))。PDMSは、半円溝602の形状に合わせて硬化せしめられる。すなわち、図9(c)の工程は、基体601を型としてPDMSを成形する、モールディングプロセスである。PDMSを硬化させた後、PDMS成形物906を基体601から剥離すると、基体601と金属層904との間に抗接着性物質皮膜902が存在し、金属層904とPDMS成形物906との間には接着性物質が塗布されていたことから、金属層904はPDMS成形物906へ貼り付いたまま基体601から剥がれることになる(図9(d))。PDMS成形物906には、半円溝602に対応する半円筒形の隆条907が形成される。PDMS成形物906は、続く工程で、基体601のためのフォトマスクとして制作される。   Subsequently, an adhesive substance is applied on the metal layer 904, and a PDMS layer is formed thereon (FIG. 9C). PDMS is cured in accordance with the shape of the semicircular groove 602. That is, the process of FIG. 9C is a molding process in which the PDMS is molded using the substrate 601 as a mold. After the PDMS is cured, when the PDMS molding 906 is peeled from the substrate 601, an anti-adhesive material film 902 exists between the substrate 601 and the metal layer 904, and the metal layer 904 and the PDMS molding 906 are present. Since the adhesive substance is applied, the metal layer 904 is peeled off from the substrate 601 while being attached to the PDMS molded product 906 (FIG. 9D). A semi-cylindrical ridge 907 corresponding to the semicircular groove 602 is formed on the PDMS molded product 906. The PDMS molding 906 is produced as a photomask for the substrate 601 in a subsequent process.

図9(e)の工程では、まずPDMS成型物906の金属層904上にスピンコーティングやスプレーコーティングなどの手法を用いてフォトレジスト層908を形成すると共に、フォトマスク910を準備し、フォトレジスト層908にフォトマスク910を介して光912を照射することにより、露光を行う。これを現像し、エッチング処理によって不要なレジスト及び金属を除去すると、図9(f)に示すように、金属層904が、フォトマスク910のパターンに対応したパターン904aへと加工される。   In the step of FIG. 9E, first, a photoresist layer 908 is formed on the metal layer 904 of the PDMS molded product 906 using a technique such as spin coating or spray coating, and a photomask 910 is prepared. Exposure is performed by irradiating light 912 through 908 through a photomask 910. When this is developed and unnecessary resist and metal are removed by etching, the metal layer 904 is processed into a pattern 904a corresponding to the pattern of the photomask 910 as shown in FIG.

一方、図9(g)の工程では、PDMS成形物906が剥離された基体601の表面を清掃し、特に抗接着性物質皮膜902をきれいに除去し、改めて金属層914を形成する。金属層914は、少なくとも半円溝602を覆うように形成されることが好ましい。金属層914もCr/Cr2O3などによって形成されることができる。さらに、スピンコーティングやスプレーコーティングなどの手法を用いて、金属層914の上にフォトレジスト層916を形成する。 On the other hand, in the step of FIG. 9G, the surface of the substrate 601 from which the PDMS molded product 906 has been peeled is cleaned, in particular, the anti-adhesive material film 902 is removed cleanly, and the metal layer 914 is formed again. The metal layer 914 is preferably formed so as to cover at least the semicircular groove 602. The metal layer 914 can also be formed of Cr / Cr 2 O 3 or the like. Further, a photoresist layer 916 is formed on the metal layer 914 by using a technique such as spin coating or spray coating.

図9(h)の工程では、金属及びフォトレジストの皮膜が形成された基体601に、マスクパターン904aが形成されたPDMS成形物906を重ね合わせる。PDMS成形物906の隆条907は、もともと基体601の半円溝602を型として形成されたものであるので、PDMS成形物906と基体601とはほとんど隙間なく嵌め合わせることができる。さらに図9(i)の工程では、接触面とは反対側から光918を照射することにより、PDMS成形物906(のパターン904a)をマスクとして、フォトレジスト層916を露光する。PDMSは透明であるため、光を通過させることに留意されたい。この露光により、マスク904aのパターンをレジスト層916へ転写することができる。   In the step of FIG. 9 (h), a PDMS molded product 906 on which a mask pattern 904a is formed is overlaid on a substrate 601 on which a metal and photoresist film is formed. Since the ridge 907 of the PDMS molded product 906 is originally formed using the semicircular groove 602 of the base 601 as a mold, the PDMS molded product 906 and the base 601 can be fitted with almost no gap. Further, in the process of FIG. 9I, the photoresist layer 916 is exposed by irradiating light 918 from the side opposite to the contact surface, using the PDMS molded product 906 (the pattern 904a) as a mask. Note that PDMS is transparent and therefore allows light to pass through. By this exposure, the pattern of the mask 904a can be transferred to the resist layer 916.

露光の完了後、PDMS成形物906を取り外し、現像及びエッチング処理により不要なレジスト及び金属を除去すると、図9(j)に描かれるように、溝602の内面に金属層914を由来とする金属パターン914aを得ることができる。図9(j)には、完成した部品が符号900で表されているが、これは図6の部品600に対応する部品であり、MEMS露光モジュール400の部品402又は404でありうる部品である。   After the exposure is completed, the PDMS molded product 906 is removed, and unnecessary resist and metal are removed by development and etching. As shown in FIG. 9J, a metal derived from the metal layer 914 on the inner surface of the groove 602 is obtained. A pattern 914a can be obtained. In FIG. 9 (j), the completed part is represented by reference numeral 900, which is a part corresponding to the part 600 of FIG. 6 and can be the part 402 or 404 of the MEMS exposure module 400. .

図9の製造方法の利点は、マスクと転写層(フォトレジスト)との距離を著しく短縮できることである。   The advantage of the manufacturing method of FIG. 9 is that the distance between the mask and the transfer layer (photoresist) can be significantly shortened.

図6の製造方法では、図6(c)に描かれるように、溝602とマスク608との距離が開いてしまっている。マスク608が平面状であるため、マスク608を溝の底部に位置させることは不可能であり、せいぜいマスクを溝の開口部のすぐ上上に設置することくらいしかできない。このため、溝の奥部とマスクとの間には一定の間隔が開くことにならざるを得ない。すると、マスクのエッジからフォトレジストに届く光に多少の屈折が生じることは避けられないので、転写されるパターンが滲んでしまい、高精度の転写を行うことが困難となる。   In the manufacturing method of FIG. 6, the distance between the groove 602 and the mask 608 is open as illustrated in FIG. Because the mask 608 is planar, it is impossible to position the mask 608 at the bottom of the groove, and at best only place the mask directly above the groove opening. For this reason, there is no choice but to leave a certain distance between the depth of the groove and the mask. As a result, it is inevitable that light reaching the photoresist from the edge of the mask is slightly refracted, so that the transferred pattern is blurred and it is difficult to perform highly accurate transfer.

しかし、図9の製造方法では、図9(h)(i)に描かれるように、マスク(904a)とフォトレジスト層(916)は接触又は極めて近接しているので、光の屈折や散乱が問題とならず、高精度の描画を行うことが可能になる。   However, in the manufacturing method of FIG. 9, since the mask (904a) and the photoresist layer (916) are in contact with or very close to each other as depicted in FIGS. It becomes possible to perform high-precision drawing without causing a problem.

図9(c)の工程において、PDMSははじめ液体状態で溝602に流し込まれるので、溝602の形状が如何なる形状であろうとも、その形状にぴったり合った形に適応し、硬化することができる。従って、マスク(904a)とフォトレジスト層(916)との形状は非常によく一致し、接触性は極めて良好である。この特徴は、高精度の描画を行う上で非常に有利な点である。なお、本発明の実施形態で用いることのできる材料はPDMSに限られる訳ではなく、PDMSと同様に、液体相から硬化し、透光性を有する材料であれば、PDMSの代わりに用いることができる。   In the process of FIG. 9 (c), PDMS is initially poured into the groove 602 in a liquid state, so that whatever the shape of the groove 602 is, it can be adapted to a shape that closely matches the shape and can be cured. . Accordingly, the shapes of the mask (904a) and the photoresist layer (916) match very well, and the contact property is very good. This feature is very advantageous in performing high-precision drawing. Note that the material that can be used in the embodiment of the present invention is not limited to PDMS. Similarly to PDMS, a material that is cured from a liquid phase and has translucency can be used instead of PDMS. it can.

図9の製造方法のさらなる利点は、隆条状のマスク904aの頂部付近で、最も高精度のマスクを形成できることである。これは、すなわち溝602の底部付近で最も解像度の高い描画を行うことができるという結果をもたらす。   A further advantage of the manufacturing method of FIG. 9 is that the most accurate mask can be formed near the top of the ridge-shaped mask 904a. This results in that drawing with the highest resolution can be performed near the bottom of the groove 602.

図9(e)に描かれるように、溝602に対応する部分907が突き出ていることから、レジスト層908のうちマスターマスク910に最も近接する部分は隆条907の頂部ということになる。従って、マスターマスク910を通過した光の屈折や散乱の影響を受けることが最も少ないのが隆条907の頂部ということになる。さらに、隆条907の頂部においては接平面が光912に対して垂直に近くなるため、その点でもさらに解像度の高い描画が可能になる。これらの理由より、マスク904aにおいて最も高精度のパターンが形成さる。   Since the portion 907 corresponding to the groove 602 protrudes as illustrated in FIG. 9E, the portion of the resist layer 908 that is closest to the master mask 910 is the top of the ridge 907. Therefore, the top of the ridge 907 is least affected by refraction or scattering of light that has passed through the master mask 910. Furthermore, since the tangent plane is close to perpendicular to the light 912 at the top of the ridge 907, drawing with higher resolution is possible at that point. For these reasons, the most accurate pattern is formed in the mask 904a.

このPDMS成型物906を用いて基体601のレジスト層916の露光を行う図9(h)(i)のステップにおいては、最も精度の高いパターンが隆条部907の頂部付近であることと、光918に対して接平面が垂直に近いとの理由で、溝602の底部において、最も解像度の高い描画が可能になる。   In the steps of FIGS. 9 (h) and 9 (i) in which the PDMS molded product 906 is used to expose the resist layer 916 of the substrate 601, the most accurate pattern is near the top of the ridge 907, and Because the tangent plane is nearly perpendicular to 918, drawing with the highest resolution is possible at the bottom of the groove 602.

図5に描かれるように、ファイバー420の露光時に、光は部品402と404の接合面に対して垂直に照射される。このため、ファイバー420において接平面が光に対して垂直になり、描画条件の最も良い場所は、図5におけるファイバー420の上部と下部、すなわち部品402と404の接合面から最も遠い部分であり、つまり図6や図9で半円溝602の底部付近ということになる。従って、この付近に最も精度を必要とする機能パターンを描画できることが好ましい。例えば図9に具現化される製造方法の発明は、正に半円溝の底部において最も精度の高いマスクパターンを形成することを可能とするので、ファイバー材への適切なパターン描画を行う上で、非常に利益が大きい。   As depicted in FIG. 5, when the fiber 420 is exposed, light is emitted perpendicular to the interface between the components 402 and 404. For this reason, the tangent plane is perpendicular to the light in the fiber 420, and the best places for drawing conditions are the upper and lower portions of the fiber 420 in FIG. 5, that is, the portions farthest from the joint surfaces of the components 402 and 404, That is, it is near the bottom of the semicircular groove 602 in FIGS. Therefore, it is preferable that a functional pattern that requires the most accuracy can be drawn in this vicinity. For example, the invention of the manufacturing method embodied in FIG. 9 makes it possible to form a mask pattern with the highest accuracy at the bottom of the semicircular groove, so that an appropriate pattern can be drawn on the fiber material. Very profitable.

上記の製造方法によっても、PDMSマスクの隆条の根本付近、すなわち露光モジュールの溝の開口部付近に対応する部分おいては、露光用の光に対してマスクパターンが斜めに形成されてしまうため、隆条の頂部(溝の深部)に比べると、解像度は低下する。そこで、これらの部位には、隆条の頂部(溝の深部)よりは、精度を必要としない機能部分(例えば単なる配線など)のパターンを形成することが好ましい。   Even with the above manufacturing method, the mask pattern is formed obliquely with respect to the exposure light in the vicinity of the root of the ridge of the PDMS mask, that is, in the vicinity of the opening of the groove of the exposure module. Compared to the top of the ridge (the deep part of the groove), the resolution decreases. Therefore, it is preferable to form a pattern of a functional portion (for example, a simple wiring) that does not require accuracy, rather than the top of the ridge (the deep portion of the groove).

図9の製造方法は、溝602の深さに依らず適用しうるが、特に、図6の製造方法ではマスク608と溝602の底部との距離に依存する悪影響が目立ち始める、溝の直径が100μm以上である場合(すなわち最大深度が50μm以上である場合)に特に利益が大きい。
〔製造方法例3〕
The manufacturing method of FIG. 9 can be applied regardless of the depth of the groove 602. In particular, in the manufacturing method of FIG. 6, an adverse effect depending on the distance between the mask 608 and the bottom of the groove 602 starts to be noticeable. The advantage is particularly great when the thickness is 100 μm or more (that is, when the maximum depth is 50 μm or more).
[Production Method Example 3]

図10に、MEMS露光モジュール400の部分402や404を製造する方法の第3の例の工程を示す。図9の製造方法との違いは、PDMS成型物に金属皮膜を直接形成し、柔軟なステンシルマスクを用いたソフトリソグラフィによってマスクパターンを形成する点である。   FIG. 10 shows the steps of a third example of the method for manufacturing the portions 402 and 404 of the MEMS exposure module 400. A difference from the manufacturing method of FIG. 9 is that a metal film is directly formed on a PDMS molded product, and a mask pattern is formed by soft lithography using a flexible stencil mask.

図10(a)に示す工程は、直方形の基体601を準備し、それに半円筒状の溝602を形成する工程であり、図6(a)や図9(a)の工程と同一である。なお、図6と同一要素には同一符号を付してある。しかし、この後は図9の製法とは異なり、基体601の上に直接PDMS層1002を形成する。PDMS層1002は、硬化させた後、基体601から剥離される。剥離が容易になるように、これらの間に抗接着性の物質を予め塗布しておいても良い。   The process shown in FIG. 10A is a process of preparing a rectangular base 601 and forming a semi-cylindrical groove 602 thereon, which is the same as the process of FIGS. 6A and 9A. . The same elements as those in FIG. 6 are denoted by the same reference numerals. However, after this, unlike the manufacturing method of FIG. 9, the PDMS layer 1002 is formed directly on the substrate 601. The PDMS layer 1002 is peeled from the substrate 601 after being cured. An anti-adhesive substance may be applied in advance between them so that peeling is easy.

一方、図10(c)に描かれるような、柔軟性のあるステンシルマスク1004を用意しておく。ステンシルマスク1004には、予めパターン1006を形成しておく。ステンシルマスクの作製は、既存のMEMSテクノロジーや他のパターンニング技術によって行なうことができる。ステンシルマスクは十分な精度を有するように作成されねばならない。   On the other hand, a flexible stencil mask 1004 as shown in FIG. 10C is prepared. A pattern 1006 is formed on the stencil mask 1004 in advance. The stencil mask can be made using existing MEMS technology and other patterning technologies. The stencil mask must be made with sufficient accuracy.

図10(d)の工程では、PDMS成形物1002に、金属層1008及びフォトレジスト層1010を形成する。PDMS成形物1002に金属層1008を形成する手法としては、PVDなどのスパッタリング法や、無電解めっきなどの化学的方法を用いることができる。そして、フォトレジスト層1010の上に、用意したステンシルマスク1004を被せ、光1012を照射して露光する。その後、現像及びエッチング処理を施すことにより、金属層1008に由来する金属パターン1008aを形成することができる。   In the step of FIG. 10D, a metal layer 1008 and a photoresist layer 1010 are formed on the PDMS molded product 1002. As a method for forming the metal layer 1008 on the PDMS molded product 1002, a sputtering method such as PVD or a chemical method such as electroless plating can be used. Then, the prepared stencil mask 1004 is placed on the photoresist layer 1010 and exposed by irradiating light 1012. Thereafter, a metal pattern 1008a derived from the metal layer 1008 can be formed by performing development and etching treatment.

図10(e)で完成したPDMSマスクは、図9(f)のPDMSマスクと同一であるので、後は図9(g)〜(j)の工程によりファイバー材への描画を行うことが可能である。   Since the PDMS mask completed in FIG. 10 (e) is the same as the PDMS mask in FIG. 9 (f), it is possible to perform drawing on the fiber material by the steps of FIGS. 9 (g) to 9 (j). It is.

図10の製造方法は、PDMS1002にステンシルマスク1004を被せるという工程が必要になるため、ステンシルマスク1004の隆条部1003がある程度大きいことが望ましい。従って、溝602の直径が200μmを超える場合、すなわち溝の深さが100μmより深くなり、対応して隆条部1003の高さが100μmを超えるような場合に、好適に適用しうる。   The manufacturing method of FIG. 10 requires a step of covering the PDMS 1002 with the stencil mask 1004. Therefore, the ridge portion 1003 of the stencil mask 1004 is desirably large to some extent. Therefore, the present invention can be preferably applied when the diameter of the groove 602 exceeds 200 μm, that is, when the depth of the groove is deeper than 100 μm and the height of the ridge portion 1003 exceeds 100 μm correspondingly.

溝602が大きい場合、ステンシルマスク1004を直接溝内に設置するということも考えられるが、実際にはその作業は困難である。それよりも、溝602を型にしてPDMS1002を作製し、その隆条部1003にステンシルマスク1004を被せる方が、遙かに容易である。従って、溝602が大きい場合であっても、依然としてPDMS成形物を作る有用性は失われない。
〔部品の接合〕
In the case where the groove 602 is large, it may be considered that the stencil mask 1004 is directly installed in the groove, but in reality, the operation is difficult. Rather, it is much easier to manufacture the PDMS 1002 using the groove 602 as a mold and cover the ridge 1003 with the stencil mask 1004. Therefore, even when the groove 602 is large, the usefulness of making a PDMS molded product is still not lost.
[Parts joining]

例えば前述の製法により、MEMS露光モジュール400の各部分402,404を作成した後、これらを接合してMEMS露光モジュール400を完成させる。接合には既知のMEMS製造・パッケージング技術を用いることが可能である。部品402及び404の位置合わせには、前述のように、マスクパターンの形成時に一緒に形成しておいた、位置合わせマーク622,624などのようなものを利用することが可能である。これらの位置合わせマークはファイバー給送時の軸方向の位置合わせにも利用することが可能である。   For example, after the respective portions 402 and 404 of the MEMS exposure module 400 are formed by the above-described manufacturing method, these are joined to complete the MEMS exposure module 400. A known MEMS manufacturing / packaging technique can be used for bonding. For alignment of the components 402 and 404, as described above, it is possible to use the alignment marks 622, 624 and the like that are formed together when the mask pattern is formed. These alignment marks can also be used for axial alignment during fiber feeding.

前述の製造方法は、いずれも、既存のMEMS製造プロセスと相性が良く、製造・加工のコストも低廉である。また、ガラスや石英などの固く加工性の良い材料を使用することができることも、製造のし易さやコストの点で有利である。   Each of the above-described manufacturing methods is compatible with the existing MEMS manufacturing process, and the manufacturing and processing costs are low. In addition, it is advantageous in terms of ease of manufacturing and cost that a hard workable material such as glass or quartz can be used.

露光モジュール400を用いた長尺ファイバー部材420へのリソグラフィプロセスは、露光を行う部分を位置決めしてモジュール400内にセットして、露光を行い、ファイバー420を給送して露光を終えた部分をモジュール400から引き出し、次に露光を行うべき部分をモジュール400内にセットして、再び露光を行うという、段階的な連続プロセスによって行われる。ファイバー部材420は、ヘッド部分402b及び404bによって支持されると共に、径方向の位置が定められてしまうので、ファイバー部材420をモジュール420に通すだけで、径方向の位置決めは完了する。依然として軸方向の位置決めは必要ではあるものの、位置決め作業は非常に容易である。発明者の知る限り、単一のモジュールで、ファイバー状の基材に対して、これほどに容易に位置合わせと露光を行うことのできる技術が提供されたのは、本明細書が初めてである。
〔応用例1・・・微小温度計〕
In the lithography process for the long fiber member 420 using the exposure module 400, the portion to be exposed is positioned, set in the module 400, exposed, the fiber 420 is fed, and the portion after the exposure is finished. A stepwise continuous process is performed in which a part to be exposed next is set in the module 400 and exposed again after being pulled out of the module 400. Since the fiber member 420 is supported by the head portions 402b and 404b and the radial position is determined, the radial positioning is completed only by passing the fiber member 420 through the module 420. Although the axial positioning is still necessary, the positioning operation is very easy. As far as the inventor is aware, this is the first time that a technique has been provided that allows alignment and exposure to a fiber-like substrate so easily in a single module. .
[Application Example 1 ... Micro Thermometer]

温度計は、最もよく利用されている物理センサーであり、様々な用途に利用されている。ファイバー状の基体に微小温度計を形成することも望まれてきた。例えば、ファイバー上に形成した微小温度計を、やはりファイバーを利用した医療器具へ組み込むことが考えられている。また、ファイバー状に形成した多数の微小温度計を多数織り込んで、温度検出機能を備えたシートを作ることも考えられている。このようなシートは人工皮膚などに応用できると考えられており、医療やロボットの分野で大きな期待がもたれている。本発明によれば、かかるファイバー状微小温度計を低コストで簡単に製造することが可能となる。   Thermometers are the most commonly used physical sensors and are used in a variety of applications. It has also been desired to form a micro thermometer on a fibrous substrate. For example, it is considered to incorporate a micro thermometer formed on a fiber into a medical instrument that also uses the fiber. It is also considered that a sheet having a temperature detection function is made by incorporating a large number of micro thermometers formed in a fiber shape. Such a sheet is considered to be applicable to artificial skin and the like, and is highly expected in the medical and robot fields. According to the present invention, such a fiber-shaped micro thermometer can be easily manufactured at low cost.

図11に、ファイバー状基体に形成しうる微小温度計の回路パターンの一例を示す。微小温度計回路パターン1100は、白金パターン部1102とタングステンパターン部1104とから構成され、タングステンパターン部1104を介して白金パターン部1102の抵抗値を測定することにより、温度を測定することができる。   FIG. 11 shows an example of a circuit pattern of a micro thermometer that can be formed on a fiber substrate. The micro thermometer circuit pattern 1100 includes a platinum pattern portion 1102 and a tungsten pattern portion 1104, and the temperature can be measured by measuring the resistance value of the platinum pattern portion 1102 via the tungsten pattern portion 1104.

図12を用いて、MEMS露出モジュール400を利用して、ファイバー状基体に微小温度計回路パターン1100を形成するプロセスを説明する。   A process for forming a micro thermometer circuit pattern 1100 on a fibrous substrate using the MEMS exposure module 400 will be described with reference to FIG.

図12(a)は、ファイバー状基体1202を準備する工程を表している。ファイバー状基体1202としては、例えば市販の光ファイバーを用いることができる。図12(b)の工程では、ファイバー1202の外周に、スプレーコーティングなど適当な手法にてフォトレジストを塗布する。これを図4Aや図5に挿入し、位置を合わせて露光を行う。露光を終えたファイバー部分をモジュール400から引き出し、現像すると、図12(c)のように、フォトレジストによるパターンがファイバー1202の表面に形成される。これを、図12(d)の工程において、Ptによる金属皮膜1206を約200nmの厚さに形成する。Ptの薄膜は、電気めっきなどのスパッタリング法によって形成することができる。その後、不要な部分を適当なエッチング処理により除去すると、図11のPtパターン部1102が得られる(図12(e))。図12において、完成したPtパターン部は符号1206aで表されている。再び図12(d)の工程に戻り(工程1208)、今度はタングステンの被膜を形成し、不要な部分を適当なエッチング処理により除去する。これによって、図11のWパターン部1104も完成する(図12(e))。   FIG. 12A shows a process of preparing the fibrous substrate 1202. As the fibrous substrate 1202, for example, a commercially available optical fiber can be used. In the step of FIG. 12B, a photoresist is applied to the outer periphery of the fiber 1202 by an appropriate technique such as spray coating. This is inserted into FIG. 4A and FIG. 5, and exposure is performed by aligning the positions. When the exposed fiber portion is pulled out from the module 400 and developed, a pattern made of a photoresist is formed on the surface of the fiber 1202 as shown in FIG. In the step of FIG. 12D, a metal film 1206 made of Pt is formed to a thickness of about 200 nm. The thin film of Pt can be formed by a sputtering method such as electroplating. Then, when an unnecessary part is removed by an appropriate etching process, the Pt pattern part 1102 of FIG. 11 is obtained (FIG. 12E). In FIG. 12, the completed Pt pattern portion is denoted by reference numeral 1206a. Returning to the step of FIG. 12D again (step 1208), this time, a tungsten film is formed, and unnecessary portions are removed by an appropriate etching process. As a result, the W pattern portion 1104 of FIG. 11 is also completed (FIG. 12E).

白金パターン1102のジグザグ構造は、熱の不整合に対して高い抵抗性を有し、安定的に温度を測定しうるという利点を有している。
さらに、W(タンクステン)の回路を形成する。図6に、ファイバーに形成される回路パターンを示す。Ptの部分が温度により変形するので、その電気抵抗の変化をWに接続する装置で測定する。この温度計構造は、(1)(2)構造が頂部にあることから、高い位置合わせ精度を有するという特徴がある。
〔応用例2・・・マイクロインダクタ〕
The zigzag structure of the platinum pattern 1102 has an advantage that it has high resistance to thermal mismatch and can measure temperature stably.
Further, a W (tank stainless) circuit is formed. FIG. 6 shows a circuit pattern formed on the fiber. Since the portion of Pt is deformed by temperature, the change in electric resistance is measured by a device connected to W. This thermometer structure is characterized by having high alignment accuracy because the (1) and (2) structures are at the top.
[Application Example 2 ... Micro Inductor]

MEMS技術を用いてマイクロインダクタを製造しようとする努力はこれまでにもなされてきたが、製造コストが高い、加工が難しい、壊れやすい、Qファクタが低いなどの理由で、その利用分野は極めて限定されていた。マイクロインダクタの最も望ましい形は、図13Aに描かれるようなソレノイドである。前掲の非特許文献3は、強力なシンクロトロン光を照射し、基体からマイクロコイルを直接削り出す技術であったが、そのような手法は非常にコストが高く極めて限られた施設でしか使用することはできない。また、下記非特許文献4には、既存のMEMSプロセスによってマイクロコイルを製造する方法が記載されているが、深いエッチングを行う必要があることと、何度も位置合わせを行う必要があるために、コストや時間がかかり、また出来上がったコイルも壊れやすいという欠点がある。
J. W. Kim, M. H. Jung, N. K. Park, E. J. Yun, Microfabrication of solenoid-type RF SMD chip inductors with an Al2O3 core, Current Applied Physics, 8 (2008) 631-636.
Efforts to manufacture microinductors using MEMS technology have been made so far, but their application fields are extremely limited because of high manufacturing costs, difficult processing, fragile, low Q factor, etc. It had been. The most desirable form of microinductor is a solenoid as depicted in FIG. 13A. Non-patent document 3 mentioned above is a technique for irradiating a strong synchrotron light and directly cutting a microcoil from a substrate, but such a method is very costly and is used only in a very limited facility. It is not possible. Non-Patent Document 4 below describes a method of manufacturing a microcoil by an existing MEMS process, but it is necessary to perform deep etching and to perform alignment many times. However, there are drawbacks in that it takes cost and time, and the resulting coil is also fragile.
JW Kim, MH Jung, NK Park, EJ Yun, Microfabrication of solenoid-type RF SMD chip inductors with an Al2O3 core, Current Applied Physics, 8 (2008) 631-636.

しかし、上述の製造方法によれば、マイクロコイルも安価に且つ高精度に作製することが可能である。パターンは、わずか1回の露光により焼き付けることが可能である。   However, according to the manufacturing method described above, the microcoil can also be manufactured at low cost and with high accuracy. The pattern can be baked with only one exposure.

図13Aは、強磁性体のコア1302の周囲に螺旋状に金属パターン1304が形成された、マイクロインダクタ1300を示す。図13Aのようなマイクロソレノイドを、適切なマスクパターンが形成されたMEMS露出モジュール400を用いて製造可能であることは、これまでの説明から当業者には直ちに諒解可能であろう。図13Bのマイクロインダクタ1320は、コア1321をガラスで形成し、強磁性体は薄膜1322としてガラスコア1321の周囲に形成した例である。金属のコイルパターン1324は、強磁性体の薄膜1322の上に形成される。図13Cに、図13Bの層構造を拡大して示した。シミュレーションによれば、図13Bのようにコアを100%の磁性材料で作らなくとも、インダクタとしての性能はそれほど変わらない。図13Bのマイクロインダクタ1320は、高価な磁性体の代わりにガラスファイバーをコアに用いているので、材料費を大幅に削減することができる。   FIG. 13A shows a microinductor 1300 in which a metal pattern 1304 is spirally formed around a ferromagnetic core 1302. It will be readily apparent to those skilled in the art from the foregoing description that a microsolenoid as in FIG. 13A can be manufactured using a MEMS exposure module 400 with an appropriate mask pattern. The microinductor 1320 in FIG. 13B is an example in which the core 1321 is formed of glass and the ferromagnetic material is formed as a thin film 1322 around the glass core 1321. The metal coil pattern 1324 is formed on the ferromagnetic thin film 1322. FIG. 13C shows an enlarged view of the layer structure of FIG. 13B. According to the simulation, the performance as an inductor does not change so much even if the core is not made of 100% magnetic material as shown in FIG. 13B. The microinductor 1320 in FIG. 13B uses a glass fiber instead of an expensive magnetic material for the core, so that the material cost can be greatly reduced.

図14を用いて、図13Bのマイクロインダクタ1320を、MEMS露出モジュール400を利用して製造するプロセスの例を説明する。   An example of a process for manufacturing the microinductor 1320 of FIG. 13B using the MEMS exposure module 400 will be described with reference to FIG.

図14(a)は、ガラスファイバー1321を準備する工程を表す。図14(b)の工程では、ガラスファイバー1321の周囲に磁性体の薄膜1322を電気めっきなどの手法を用いて形成する。なお、図14と図13Bで、同一の要素には同一の符号を用いていることに留意されたい。図14(c)の工程では、磁性体薄膜1322の上に、スプレーコーティングなどの手法を用いてフォトレジスト層1330を形成する。   FIG. 14A shows a step of preparing the glass fiber 1321. 14B, a magnetic thin film 1322 is formed around the glass fiber 1321 using a technique such as electroplating. It should be noted that the same reference numerals are used for the same elements in FIGS. 14 and 13B. In the step of FIG. 14C, a photoresist layer 1330 is formed on the magnetic thin film 1322 using a technique such as spray coating.

一方、コイルパターンが形成されたMEMS露出モジュール400を別に用意しておく。一度の露光でコイルパターンの全ての転写が可能なように、マスクパターンが形成されていることが望ましい。連続的なコイルパターンを形成するべく、モジュールには位置合わせに用いることのできるマークなどの構造が形成されていることが好ましい。図14(c)の工程でレジストを塗布したファイバー1321を、準備した露光モジュール内に挿入し、露光を行う。露光された部分をモジュールから引き出し、現像すると、レジストのパターンが現出する(図14(d))。このパターンの上に、AuやCuなどの金属の薄膜1324'をスパッタリング法や電気めっきなどの手法により形成する(図14(e))。その後、適当なエッチング処理を行うことにより、金属のコイルパターン1324を得ることができ、マイクロインダクタ1320が完成する。   On the other hand, a MEMS exposure module 400 on which a coil pattern is formed is prepared separately. It is desirable that the mask pattern be formed so that all of the coil pattern can be transferred by one exposure. In order to form a continuous coil pattern, the module is preferably formed with a structure such as a mark that can be used for alignment. The fiber 1321 coated with a resist in the step of FIG. 14C is inserted into the prepared exposure module to perform exposure. When the exposed portion is pulled out from the module and developed, a resist pattern appears (FIG. 14D). On this pattern, a thin film 1324 ′ of a metal such as Au or Cu is formed by a technique such as sputtering or electroplating (FIG. 14E). Thereafter, by performing an appropriate etching process, a metal coil pattern 1324 can be obtained, and the microinductor 1320 is completed.

同様のプロセスにて、他の様々なマイクロデバイスやマイクロ構造を作成することができる。例えば、くし形構造を有する電極なども簡単に製造することができるが、それはセンシングの分野や通信分野において非常によく用いられている電極構造である。   Various other microdevices and microstructures can be created in the same process. For example, an electrode having a comb-shaped structure can be easily manufactured, which is an electrode structure that is very often used in the sensing field and the communication field.

以上、本発明の様々な側面を実施例を用いて説明してきたが、これらの実施例や説明は、本発明の範囲を制限する目的でなされたものではなく、本発明の理解に資するために提供されたものであることを付言しておく。本発明の範囲は、明細書に明示的に説明された構成や製法に限定されるものではなく、本明細書に開示される本発明の様々な側面の組み合わせをも、その範囲に含むものである。本発明のうち、特許を受けようとする構成を、添付の特許請求の範囲に特定したが、発明者は、現在の処は特許請求の範囲に特定されていない構成であっても、本明細書に開示される構成を、将来的に特許請求する可能性があることを、念のために申し述べる。   As described above, various aspects of the present invention have been described using examples. However, these examples and descriptions are not intended to limit the scope of the present invention, and are intended to contribute to an understanding of the present invention. Note that it was provided. The scope of the present invention is not limited to the configurations and manufacturing methods explicitly described in the specification, and includes combinations of various aspects of the present invention disclosed in the present specification. Among the present inventions, the configuration to be patented is specified in the appended claims, but the inventor has disclosed the present specification even if the present invention is not specified in the claims. I would like to remind you that you may claim the structure disclosed in the future in the future.

400 MEMS露光モジュール
402 MEMS露光モジュールの上半分の部分
404 MEMS露光モジュールの下半分の部分
406 円筒状空洞
408 マスクパターン
420 ファイバー部材
424 フォトレジスト層
600 部品
601 基体
602 半円溝
604 金属層
606 フォトレジスト層
608 フォトマスク
622,624 マーク
902 抗接着性物質皮膜
904 金属薄膜
906 PDMS成形物
907 隆条部
908 フォトレジスト層
910 フォトマスク
914 金属層
916 フォトレジスト層
1002 PDMS成形物
1003 隆条部
1004 ステンシルマスク
1006 パターン
1008 金属層
1010 フォトレジスト層
1100 微小温度計回路パターン
1102 白金パターン部
1104 タングステンパターン部
1202 ファイバー
1206 金属皮膜
1300 マイクロインダクタ
1302 コア
1304 金属パターン
1320 マイクロインダクタ
1321 ガラスファイバー
1322 磁性体薄膜
1324 コイルパターン
1330 フォトレジスト層
400 MEMS exposure module 402 Upper half portion of MEMS exposure module 404 Lower half portion 406 of MEMS exposure module Cylindrical cavity 408 Mask pattern 420 Fiber member 424 Photoresist layer 600 Component 601 Substrate 602 Semicircular groove 604 Metal layer 606 Photoresist Layer 608 Photomask 622, 624 Mark 902 Anti-adhesive substance film 904 Metal thin film 906 PDMS molding 907 Ridge 908 Photoresist layer 910 Photomask 914 Metal layer 916 Photoresist layer 1002 PDMS molding 1003 Ridge 1004 Stencil mask 1006 pattern 1008 metal layer 1010 photoresist layer 1100 micro thermometer circuit pattern 1102 platinum pattern portion 1104 tungsten pattern portion 1202 fiber 1206 gold Film 1300 microinductor 1302 Core 1304 metal pattern 1320 microinductor 1321 glass fiber 1322 magnetic thin film 1324 coil pattern 1330 photoresist layer

Claims (11)

ファイバー状の細長い部材にフォトリソグラフィ技術によってパターンを転写するための露光モジュールであって、
入口及び出口を有する筒状の空洞が設けられる透光性の基体と、前記筒状の空洞の壁面に設けられた遮光パターンとを有する、露光モジュール。
An exposure module for transferring a pattern to a fiber-like elongated member by a photolithography technique,
An exposure module comprising: a translucent substrate provided with a cylindrical cavity having an inlet and an outlet; and a light shielding pattern provided on a wall surface of the cylindrical cavity.
前記筒状空洞の入口及び出口付近に形成され、露光される部材を潤滑液を介して又は介さないで摺動可能に支持する部材支持部と、前記部材支持部より奥の部分に設けられ、前記部材支持部より筒径の大きな露光部とを有し、前記遮光パターンは前記露光部の洞壁面に設けられる、請求項1に記載の露光モジュール。   Formed in the vicinity of the inlet and outlet of the cylindrical cavity, and a member supporting portion that slidably supports a member to be exposed with or without a lubricating liquid, and provided in a portion deeper than the member supporting portion, The exposure module according to claim 1, further comprising an exposure portion having a cylinder diameter larger than that of the member support portion, wherein the light shielding pattern is provided on a cave wall surface of the exposure portion. 前記部材支持部における空洞の洞壁面は遮光材で覆われている、請求項2に記載の露光モジュール。   The exposure module according to claim 2, wherein a cavity wall surface of the cavity in the member support portion is covered with a light shielding material. 前記部材支持部は、前記露光部の材質とは異なる難透光性の材質で形成される、請求項2又は3に記載の露光モジュール。   4. The exposure module according to claim 2, wherein the member support portion is formed of a light-transmitting material different from a material of the exposure portion. 前記筒状空洞の中心軸を通る平面によって分割される複数の部品に分けて製造される、請求項1から4のいずれかに記載の露光モジュール。   The exposure module according to claim 1, wherein the exposure module is manufactured by being divided into a plurality of parts divided by a plane passing through a central axis of the cylindrical cavity. 請求項5に記載の露光モジュールを構成する前記複数の部品の少なくとも1つを製造する方法であって、
溝面が円筒面の一部を為す溝を透光性の基体上に形成する工程と、
前記溝面に金属皮膜を形成し、さらに該金属皮膜上にフォトレジストを塗布する工程と、
前記フォトレジストにマスクを介して光を照射し現像することにより、該フォトレジストにパターンを転写する工程と、
エッチングにより、不要なフォトレジスト及び金属皮膜を除去する工程と、
を備える、方法。
A method for manufacturing at least one of the plurality of parts constituting the exposure module according to claim 5,
Forming a groove on the translucent substrate, the groove surface forming part of the cylindrical surface;
Forming a metal film on the groove surface, and further applying a photoresist on the metal film;
Irradiating the photoresist with light through a mask and developing it to transfer a pattern to the photoresist; and
A step of removing unnecessary photoresist and metal film by etching;
A method comprising:
請求項5に記載の露光モジュールを構成する前記複数の部品の少なくとも1つを製造する方法であって、
溝面が円筒面の一部を為す溝を透光性の基体上に形成する工程と、
前記溝面に、抗接着性物質の皮膜を形成すると共に、該抗接着性物質の皮膜上に金属皮膜を形成し、さらに該金属皮膜上に接着性物質の皮膜を形成する工程と、
前記接着性物質の皮膜上に透光性の樹脂を積層する工程と、
前記樹脂を硬化させると共に、該樹脂を前記金属皮膜ごと前記透光性基体から剥離する工程と、
前記剥離した樹脂に対し、前記透光性基体の溝に対応して形成された隆条が覆われるように、前記金属皮膜上からフォトレジストを塗布すると共に、フォトエッチングによって前記金属皮膜をパターンに形成する工程と、
前記樹脂が剥離された前記透光性基体に対し、前記抗接着性物質を除去すると共に、前記溝面を覆うように第2の金属皮膜を形成し、さらに該第2の金属皮膜上にフォトレジストの層を形成する工程と、
前記パターンが形成された前記樹脂を、前記隆条が前記溝に再び収まるように、前記透光性基体に重ねる工程と、
前記樹脂上の前記パターンをマスクとしてフォトエッチングを行うことにより、前記樹脂上の前記パターンを前記第2の金属皮膜に転写する工程と、
を備える、方法。
A method for manufacturing at least one of the plurality of parts constituting the exposure module according to claim 5,
Forming a groove on the translucent substrate, the groove surface forming part of the cylindrical surface;
Forming a film of an antiadhesive substance on the groove surface, forming a metal film on the antiadhesive substance film, and further forming an adhesive substance film on the metal film;
Laminating a translucent resin on the film of the adhesive substance;
Curing the resin and peeling the resin from the translucent substrate together with the metal film;
For the peeled resin, a photoresist is applied from above the metal film so that the ridge formed corresponding to the groove of the translucent substrate is covered, and the metal film is formed into a pattern by photoetching. Forming, and
The anti-adhesive substance is removed from the light-transmitting substrate from which the resin has been peeled off, and a second metal film is formed so as to cover the groove surface. Further, a photo film is formed on the second metal film. Forming a layer of resist;
Overlaying the resin on which the pattern has been formed on the translucent substrate so that the ridges fit again in the grooves;
Transferring the pattern on the resin to the second metal film by performing photo-etching using the pattern on the resin as a mask;
A method comprising:
請求項5に記載の露光モジュールを構成する前記複数の部品の少なくとも1つを製造する方法であって、
溝面が円筒面の一部を為す溝を透光性の基体上に形成する工程と、
前記溝上に透光性の樹脂を積層し、硬化後に剥離する工程と、
前記剥離した樹脂に対し、前記透光性基体の溝に対応して形成された隆条を覆うように金属皮膜を形成すると共に、前記金属皮膜をパターンに形成する工程と、
前記樹脂が剥離された前記透光性基体に対し、前記溝面を覆うように第2の金属皮膜を形成し、さらに該第2の金属皮膜上にフォトレジストの層を形成する工程と、
前記パターンが形成された前記樹脂を、前記隆条が前記溝に再び収まるように、前記透光性基体に重ねる工程と、
前記樹脂上の前記パターンをマスクとしてフォトエッチングを行うことにより、前記樹脂上の前記パターンを前記第2の金属皮膜に転写する工程と、
を備える、方法。
A method for manufacturing at least one of the plurality of parts constituting the exposure module according to claim 5,
Forming a groove on the translucent substrate, the groove surface forming part of the cylindrical surface;
Laminating a translucent resin on the groove, and peeling after curing;
For the peeled resin, forming a metal film so as to cover the ridge formed corresponding to the groove of the translucent substrate, and forming the metal film in a pattern;
Forming a second metal film on the translucent substrate from which the resin has been peeled so as to cover the groove surface, and further forming a photoresist layer on the second metal film;
Overlaying the resin on which the pattern has been formed on the translucent substrate so that the ridges fit again in the grooves;
Transferring the pattern on the resin to the second metal film by performing photo-etching using the pattern on the resin as a mask;
A method comprising:
前記樹脂上の前記金属皮膜に前記パターン形成する工程を、ソフトリソグラフィを利用して行う、請求項8に記載の方法。   The method according to claim 8, wherein the step of forming the pattern on the metal film on the resin is performed using soft lithography. 前記樹脂上の前記金属皮膜に前記パターン形成する工程を、ステンシルリソグラフィを利用して行う、請求項8に記載の方法。   The method according to claim 8, wherein the step of forming the pattern on the metal film on the resin is performed using stencil lithography. 微細構造を有するファイバーを製造する方法であって、請求項1から5のいずれかに記載の露光モジュールをマスクとして用いるフォトリソグラフィ法に基づいて前記微細構造を形成する、方法。   A method for manufacturing a fiber having a fine structure, wherein the fine structure is formed based on a photolithography method using the exposure module according to claim 1 as a mask.
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