JP2011018388A - 記録再生装置、レーザ駆動パルス調整方法 - Google Patents

Abstract

【課題】誤って算出されたストラテジの設定を防止して記録品質の向上を図る。
【解決手段】比較対象として定めた比較ストラテジを用いるものとして、当該比較ストラテジと、試し書き結果から算出した算出ストラテジとについてそれぞれ試し書きを行い、さらにそれらの品質評価値取得を行った結果に基づき、上記算出ストラテジを設定した場合の方が、上記比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かを判別する。この判別結果に基づきストラテジの設定を行う。これにより、ストラテジの算出が正しく行われたか否かを判別することができると共に、その結果に基づき、誤った算出ストラテジが設定されてしまうことの防止を図ることができる。この結果、記録品質の向上が図られる。
【選択図】図３

Description

本発明は、例えば記録型光ディスク等の光記録媒体に対する記録再生装置、及びレーザ駆動パルス調整方法に関する。

特開２０００−２００４１８号公報 特開２００８−８４３７６号公報 特開２００７−５２１１８３号公報

光ディスクの記録技術においては、レーザによる記録波形を構成する記録パラメータがライトストラテジと総称されており、このライトストラテジに基づいてレーザを発光駆動することにより情報が記録される。光ディスクに情報を記録するにあたり、良好な記録品質を実現するために上記ライトストラテジのパラメータを調整することは、ライトストラテジ調整と呼ばれている。

このライトストラテジ調整は、一般的に基準ストラテジに対して補正を加えることで行われる。基準ストラテジとは、予め定められた基準として用いる基本のライトストラテジであり、具体的な設定値としては、メディアメーカによって定められた設定値（メディアに記録されている）や、ドライブが予め記憶している設定値などを基準ストラテジとして用いるようにされている。

ここで、このようなライトストラテジ調整は、通常、装填される光ディスクごとに行う。すなわち、ライトストラテジは、光ディスクの記録膜の材料や厚み、溝の形状などと密接な関係があることが知られており、使用する光ディスクごとに最適化されて用いられる必要がある。
また、ドライブ装置間のばらつきを吸収するためにもライトストラテジ調整は必要となる。

このとき、ドライブ装置が個々にライトストラテジ調整を行う理由は、以下のような点にある。
つまり、市場には、ドライブメーカが把握しきれないほどの大量の種類の光ディスクが流通しており、市場に流通しているすべての光ディスクについて予め適切なライトストラテジを用意するには膨大な検討工数が必要となるため、その分の手間を要し、ドライブのコストアップにもつながる。また、ドライブ出荷後に流通するメディアにも対応するにはドライブのファームアップデートなどの対応が必要となり、これも手間となる。
このような理由から、記録時にドライブ側でライトストラテジ調整を行うことが要請されているものである。

ライトストラテジ調整の具体的な手法の一例については、例えば上記特許文献１に記載のものを挙げることができる。
この特許文献１においては、
「書き込み可能な光ディスクから、マーク長とスペース長の可能な複数の組合せに対し、それぞれについて記録パルスの位置を特定した記録パルス標準条件を読み出し、この記録パルス標準条件で試し書きを行い、記録パルス標準条件を一律または個別的に変化させ、最適な記録パルス条件を求め、ジッタの低減を図る。」
と記載され、
基準ストラテジを元にライトストラテジを逐次変更して試し書きを行った上で、それらの信号品質評価値を取得して最も良好な信号品質の得られたライトストラテジを実際の記録時に使用する、という最もシンプルな手法が開示されている。
このような手法とすることで、光ディスクやドライブ装置の個体ごとのバラツキを吸収して最適とされるライトストラテジに調整することが可能となる。

しかしながら、最適とされるストラテジの基準ストラテジからのズレの量や方向性は、光ディスク・ドライブ装置の組み合わせごとにそれぞれ異なるものとなるため、上記特許文献１の手法において、高精度なストラテジ調整を実現するためには、比較的広範囲にライトストラテジの調整値を振った試し書きを行うべきものとなる。つまり、この点より特許文献１に記載の手法は、ストラテジ調整のために行うべき試し書きの量が多くなる傾向となり、その分、調整時間を多く要するという問題がある。

調整時間の短縮化を図る上では、線形近似による演算を利用することが有効であり、例えば上記特許文献２や特許文献３にその具体的な手法の一例が開示されている。
上記特許文献２には、
「レーザ光の２種以上のパワー設定下で、記録パルスについての調整設定をそれぞれ異なる設定状態として光記録媒体への調整のための記録動作を実行させ、この記録動作により記録された信号をそれぞれ読み出して記録パルスの設定状態に基づく記録信号品質の指標となる品質評価値を計算することで、上記各パワー設定下での上記設定状態ごとの品質評価値を取得すると共に、それら各パワーでの各設定状態ごとの品質評価値に基づき上記記録パルスの調整設定を決定する。これにより、複数の記録パワーでの記録品質を総合的にバランスよく向上させるライトストラテジに調整することができる。」
とあり、また、上記特許文献３には、
「三つの記録パルス条件のそれぞれを用いて特定の記録パターンを連続して光ディスクに試書きし、それらの記録パターンを連続して再生する。各再生信号からは三つの記録パルス条件の各々に対応するマークのエッジシフト量が測定され、その測定値から線形近似による演算で記録パルス条件の補正値が計算される。」
とあり、何れも、複数のライトストラテジについて試し書きを行ってそれぞれの信号評価値を取得し、その結果を元に所定の線形近似による演算式を用いて計算を行い、ライトストラテジの調整を行っている。

ここで、図１６、図１７を参照して、このような計算によるライトストラテジの導出を行う場合における、レーザ記録パワー調整も含めた一連の調整処理の流れの具体例について説明しておく。
図１６は、調整動作にあたり光ディスク上で行われる各記録の内容（位置）と配列順序の例を示しており、また図１７は、この場合の調整動作を実現するために行われるべき処理の手順の一例を示している。

例えばＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ：Digital Versatile Disc）、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷや、ＢＤ−Ｒ（ＢＤ：Blu-ray Disc[登録商標]）、ＢＤ−ＲＥといった記録可能型の光ディスクメディアでは、ディスクの最内周部分や最外周部分にレーザパワーやライトストラテジ等の調整を行うためのエリア（調整エリア、テストエリア）が設けられており、ここでは、最外周側のテストエリアを用いた調整を行う場合を例示している。
このとき、上述の各メディアでは、テストエリアはアドレスナンバの大きい側に詰めて領域を使用するように規定されている。図１６（ａ）に示す位置Ａは、図１６（ｂ）に示す位置Ａに一致し、同様に図１６（ａ）に示す位置Ｂは図１６（ｂ）に示す位置Ｂに一致している。
また図１６（ａ）において、図中の矢印は、書き込み及び読み出しの方向を表している。
また、上述の各メディアでは、最外周部分のテストエリアは１周あたりおよそ５クラスタ（クラスタは誤り訂正の単位）となる。

これら図１６、図１７に示す例では、ライトストラテジの調整動作に先立ち、いわゆるＯＰＣ（Optimum Power Control）として、レーザ記録パワーの調整動作が行われる。具体的には、図１６（ａ）（ｂ）に示される記録パワー調整用記録＜１＞としての、記録パワー調整用の記録（図１７におけるステップＳ１００１）、及び当該＜１＞の記録箇所の評価値の取得（Ｓ１００２）、及び評価値に基づく記録パワー調整（Ｓ１００３）が行われる。
上述のように、この場合はテストエリアをアドレスナンバの大きい側に詰めて使用することが規定されているため、記録パワー調整用記録＜１＞は、テストエリアにおける未記録領域内のアドレスナンバの最も大きな（この場合は最外周の）クラスタが使用されるようにして行われることになる。この場合、記録パワー調整用記録＜１＞は図のように１クラスタ分の記録長とされるので、当該記録パワー調整用記録＜１＞は上記アドレスナンバの最も大きなクラスタを対象として行う。

その上で、ストラテジ計算のための試し書き及び評価値取得を行う。具体的には、ストラテジ計算用及び再生引込用の記録（Ｓ１００４）として、図１６における再生引込用記録＜５＞からストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞までの記録を行った上で、ストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞の各記録箇所の評価値の取得（Ｓ１００５）を行う。
ここで、再生引込用記録＜５＞は、例えば ＰＬＬ（Phase Locked Loop）やＡＧＣ（Auto Gain Control）の引き込みなど、データ再生を行うために必要な引き込み処理を行うための信号記録を行うものである。言うまでもなく、当該再生引込用記録＜５＞は、評価値取得にあたってストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞の記録箇所を再生する際の引込領域として使用されるものである。
また、ストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞は、それぞれライトストラテジを逐次変更設定して信号記録を行うものである。

このようにストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞のそれぞれについての評価値を取得した上で、それら評価値に基づき、最適とされるライトストラテジの計算を行う（Ｓ１００６）。つまり、上記評価値と予め定められた所定の演算式（線形近似による演算式）とに基づき、最適とされるライトストラテジを算出するものである。
その上で、このように算出したライトストラテジを設定する（Ｓ１００７）。

上記により説明したような線形近似による演算式を利用したストラテジ調整動作とすることで、試し書き回数は特許文献１に記載される手法とする場合と比較して大幅に削減でき、調整時間の短縮化が図られる。

しかしながら、上記により説明した手法は、ライトストラテジの変化とそれに伴う品質評価値の変化との間にある種の線形性があることを前提とした手法であるため、該線形性が崩れるようなことがあった場合には、当然のことながら正確な調整動作を行うことができない。
具体的に、例えば図１６・図１７で例示したように３種のライトストラテジについて試し書きを行って調整のための演算を行うことを想定した場合において、仮に、それらのうち１つのライトストラテジについての試し書き領域にディフェクトなどの外乱が生じた場合は、調整演算で前提としている線形性が崩れることとなって、結果として正確な調整動作とすることができなくなってしまう。
或いは、メディアの特性が著しく悪いような場合にも、演算で前提とする線形性が成り立たないものとなってしまい、結果としてその場合も正確な調整動作とすることができないものとなる。

上記特許文献２や特許文献３などに記載される従来例としての手法においては、このように線形性が崩れた場合における対策は講じられておらず、算出したライトストラテジがそのまま実際の記録時に使用されるものとなっている。つまりこの点より、所定の演算式（線形近似による演算式）に基づきライトストラテジ調整を行う従来例においては、誤ったライトストラテジ調整値が設定されて、適正な記録動作とすることができなくなる虞があった。

そこで、本発明では以上のような問題点に鑑み、記録再生装置として以下のように構成することとした。
つまり、光記録媒体に対してレーザ光を照射して、上記光記録媒体上でマーク及びスペースで表現される情報の書込及び読出を行う光学ヘッド部を備える。
また、記録する情報に応じたレーザ駆動パルスを生成して上記光学ヘッド部にレーザ駆動信号を供給し、上記光学ヘッド部に、記録のためのレーザ光照射を実行させるレーザ駆動パルス生成部を備える。
また、上記光学ヘッド部により上記光記録媒体から読み出した信号から記録信号品質の指標となる品質評価値を計算する評価値計算部を備える。
また、上記レーザ駆動パルス生成部で生成するレーザ駆動パルスの調整設定を行う調整制御部を備える。
そして、上記調整制御部が、
上記レーザ駆動パルスについての波形調整パラメータに関して、それぞれ異なる波形調整パラメータを逐次設定して各波形調整パラメータについての試し書きを実行させた上で、それら試し書きした信号についての読み出しを実行させた結果に基づき、信号品質改善のための波形調整パラメータを算出すると共に、
このように算出した算出波形調整パラメータと、当該算出波形調整パラメータの比較対象として定められた比較対象波形調整パラメータとを逐次設定してそれぞれの波形調整パラメータの設定下での試し書きを実行させた上で、それら試し書きした信号についての上記評価値計算部による品質評価値を取得した結果に基づき、上記算出波形調整パラメータを設定した場合の方が、上記比較対象波形調整パラメータを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かを判別し、当該判別の結果に基づいて上記レーザ駆動パルスの調整設定を行うものである。

上記のようにして本発明では、比較対象として定めた比較対象波形調整パラメータを用いるものとして、当該比較対象波形調整パラメータと、試し書きにより算出した算出波形調整パラメータとをそれぞれ設定した試し書きを行い、さらにそれらの品質評価値の取得を行った結果に基づき、上記算出波形調整パラメータを設定した場合の方が、上記比較対象波形調整パラメータを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かを判別するものとしている。そして、この判別結果に基づき、波形調整パラメータの設定が行われる。
このような本発明によれば、波形調整パラメータの算出が正しく行われたか否かを判別することができると共に、その結果に基づき、誤った算出波形調整パラメータが設定されてしまうことの防止を図ることができる。

上記のようにして本発明によれば、波形調整パラメータの算出が正しく行われたか否かを判別することができると共に、その結果に基づき、誤った算出波形調整パラメータが設定されてしまうことの防止を図ることができる。
つまりこの結果、記録品質の向上が図られる。

また、本発明では、波形調整パラメータの算出が正しく行われたか否かの判断を、比較対象の波形調整パラメータを用いて相対的に判断するようにしたことで、例えば良好な信号品質の得られない個体（メディアや記録再生装置）とされる場合にも、波形調整パラメータの算出が誤ったものであるか否かを確実に判別することができる。また同時に、このような判別結果に基づき例えば信号品質が良好な方の波形調整パラメータを設定するといったように、その個体にとって良好とされる波形調整パラメータの設定が確実に行われるようにすることができる。

実施の形態の記録再生装置の内部構成を示したブロック図である。 第１の実施の形態としてのライトストラテジ調整動作について説明するための図である。 第１の実施の形態としての調整動作を実現するために行われるべき処理の手順を示したフローチャートである。 第１の実施の形態の手法により調整動作のための各記録を実行した場合の各記録のディスク上での位置の関係を表した図である。 第２の実施の形態としてのライトストラテジ調整動作について説明するための図である。 第２の実施の形態の手法により調整動作のための各記録を実行した場合の各記録のディスク上での位置の関係を表した図である。 図５に示す記録配列とすることで調整動作に要する記録長が削減されることについて説明するための図である。 第２の実施の形態としての調整動作を実現するために行われるべき処理の手順を示したフローチャートである。 第３の実施の形態としてのライトストラテジ調整動作（前半動作）について説明するための図である。 第３の実施の形態としてのライトストラテジ調整動作（後半動作）について説明するための図である。 第３の実施の形態としての調整動作を実現するために行われるべき処理の手順を示したフローチャートである。 第４の実施の形態としてのライトストラテジ調整動作について説明するための図である。 第４の実施の形態の手法により調整動作のための各記録を実行した場合の各記録のディスク上での位置の関係を表した図である。 第４の実施の形態としての調整動作を実現するために行われるべき処理の手順を示したフローチャートである。 リトライ動作を行う変形例としての調整動作を実現するために行われるべき処理の手順を示したフローチャートである。 従来例としてのライトストラテジ調整動作で行われる各記録の内容（位置）と配列順序を示した図である。 従来例としてのライトストラテジ調整動作を実現するための処理の手順を示したフローチャートである。

以下、本発明を実施するための形態（以下、実施の形態と呼ぶ）を次の順序で説明する。

＜１．第１の実施の形態＞
［1-1.記録再生装置の構成］
［1-2.第１の実施の形態としての調整動作］
［1-3.第１の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］
＜２．第２の実施の形態＞
［2-1.第２の実施の形態としての調整動作］
［2-2.第２の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］
＜３．第３の実施の形態＞
［3-1.第３の実施の形態としての調整動作］
［3-2.第３の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］
＜４．第４の実施の形態＞
［4-1.第４の実施の形態としての調整動作］
［4-2.第４の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］
＜５．変形例＞

＜１．第１の実施の形態＞
［1-1.記録再生装置の構成］

図１は、本発明の記録再生装置の一実施形態としての記録再生装置１の内部構成を示したブロック図である。
図１において、ディスクＤは、円盤状の光記録媒体とされる。ここで光記録媒体とは、レーザ光の照射により記録情報の読み取りが行われる記録メディアの総称である。円盤状の光記録媒体については光ディスクとも呼ぶ。

本実施の形態の記録再生装置１は、上記ディスクＤとして、相変化方式でデータの記録が行われる光ディスク（記録可能型ディスク、ライタブルディスク）に対応可能とされている。この場合、ディスクＤ上にはウォブリング（蛇行）されたグルーブが形成され、このグルーブが記録トラックとされる。グルーブのウォブリングによってはいわゆるＡＤＩＰ情報としてアドレス情報などが埋め込まれている。
また本実施の形態の記録再生装置１は、このようなライタブルディスク以外にも、ピット／ランドの組み合わせによって情報記録が行われたいわゆるＲＯＭタイプ（再生専用タイプ）のディスクＤにも対応可能とされている。
本実施の形態の記録再生装置１は、少なくともＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）のライタブルディスク、ＲＯＭタイプディスクに対応可能に構成されている。

ディスクＤは、図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ（ＳＰＭ）２によって例えば一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして光学ピックアップ（光学ヘッド）ＯＰによってディスクＤ上のグルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ情報の読み出しやフェイズチェンジマークにより記録された情報の読み出し、或いはピット／ランドの組み合わせで記録された情報の読み出しが行われる。
また記録時には、光学ピックアップＯＰによってトラックにユーザーデータがフェイズチェンジマークとして記録される。

光学ピックアップＯＰ内には、ディスクＤに対してレーザ光照射を行うためのレーザダイオードＬＤが備えられる。
レーザダイオードＬＤは、図中のレーザドライバ１３からのレーザ駆動信号（駆動電流）に基づき発光駆動される。

また、図示は省略しているが、光学ピックアップＯＰ内には、上記レーザダイオードＬＤによりディスクＤに対するレーザ光照射を行った結果得られる反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光を上記フォトディテクタに導く光学系（後述する）が形成される。
光学ピックアップＯＰ内において、上記対物レンズは二軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。

またピックアップＯＰ全体は、図中のスレッド機構３によりディスク半径方向に平行な方向に移動可能とされている。

上記光学ピックアップＯＰ内のフォトディテクタによって検出されたディスクＤからの反射光情報は、受光光量に応じた電気信号としてマトリクス回路４に供給されることになる。
マトリクス回路４には、上記フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算・増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当する高周波信号（再生データ信号又はＲＦ信号ともいう）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、すなわちウォブリング（ウォブル振幅）を検出する信号としてプッシュプル信号を生成する。

マトリクス回路４から出力される再生データ信号はリーダ／ライタ（ＲＷ）回路５へ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号はサーボ回路１１へ、プッシュプル信号はウォブル回路８へ、それぞれ供給される。

リーダ／ライタ回路５は、再生データ信号（ＲＦ信号）に対して二値化処理、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理による再生クロックの生成等を行う。リーダ／ライタ回路５による二値化データは変復調回路６に供給される。
またリーダ／ライタ回路５は、記録時には後述する処理により記録信号の生成を行う。

また、リーダ／ライタ回路５内には、評価器５ａが備えられる。この評価器５ａは、ＲＦ信号に基づき、再生信号品質についての評価指標となる品質評価値を測定（計算）する。具体的に本例の場合、評価器５ａは、上記品質評価値としてジッタ（Jitter）値を計算する。
評価器５ａにより計算された品質評価値はシステムコントローラ１０に対して供給される。

変復調回路６は、再生時のデコーダとしての機能部位と、記録時のエンコーダとしての機能部位を備える。
再生時にはデコード処理として、再生クロックに基づいてランレングスリミテッドコードの復調処理を行う。

またＥＣＣエンコーダ／デコーダ７は、記録時にエラー訂正コードを付加するＥＣＣエンコード処理と、再生時にエラー訂正を行うＥＣＣデコード処理を行う。
再生時には、変復調回路６で復調されたデータを内部メモリに取り込んで、エラー検出／訂正処理及びデインターリーブ等の処理を行い、再生データを得る。
ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７で再生データにまでデコードされたデータは、システムコントローラ１０の指示に基づいて読み出され、ホストコンピュータ１５に転送される。

グルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路４から出力されるプッシュプル信号は、ウォブル回路８において処理される。ＡＤＩＰ情報としてのプッシュプル信号は、ウォブル回路８においてＡＤＩＰアドレスを構成するデータストリームに復調されてアドレスデコーダ９に供給される。
アドレスデコーダ９は、供給されるデータについてのデコードを行ってアドレス値を得て、これをシステムコントローラ１０に供給する。
またアドレスデコーダ９はウォブル回路８から供給されるウォブル信号を用いたＰＬＬ処理でクロックを生成し、例えば記録時のエンコードクロックとして各部に供給する。

記録時には、ホストコンピュータ１５から記録データが転送されてくるが、その記録データはＥＣＣエンコーダ／デコーダ７におけるメモリ（図示せず）に送られてバッファリングされる。
この場合ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７は、バファリングされた記録データのエンコード処理として、エラー訂正コード付加やインターリーブ、サブコード等の付加を行う。
またＥＣＣエンコードされたデータは、変復調回路６において例えばＲＬＬ（１−７）ＰＰ方式などの所定のランレングスリミテッド符号化処理（変調処理）が施され、リーダ／ライタ回路５に供給される。
記録時においてこれらのエンコード処理のための基準クロックとなるエンコードクロックは上述したようにウォブル信号から生成したクロックを用いる。

エンコード処理により生成された記録データは、リーダ／ライタ回路５で所定の記録変調符号化やＤ／Ａ変換処理が施された後、記録信号としてライトストラテジ回路１４に供給される。

ライトストラテジ回路１４では、上記リーダ／ライタ回路５から供給された記録信号に応じたレーザ駆動パルスを生成する。ライトストラテジ回路１４で生成されるレーザ駆動パルスのパルスレベルやパルスエッジ位置は、システムコントローラ１０からの設定値（ライトストラテジ設定値）により調整される。
記録時においては、このライトストラテジ回路１４で生成され、ストラテジ調整されたレーザ駆動パルスが、レーザドライバ１３を介してレーザダイオードＬＤの駆動信号として与えられる。

また、記録時においては、ＯＰＣ(Optimum Power Control)処理により、記録パワーについてのキャリブレーションが行われ、このＯＰＣによって取得された最適とされる記録パワーがレーザドライバ１３に対して設定される。
ＯＰＣ処理はシステムコントローラ１０の制御処理に基づき実行されるもので、システムコントローラ１０はＯＰＣ処理を実行して取得した記録パワーの値をレーザドライバ１３に対して設定する。これにより、最適とされる記録パワーによって記録動作を行うことができる。

サーボ回路１１は、上述したマトリクス回路４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号から、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
すなわちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、ピックアップＯＰ内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによってピックアップＯＰ（フォトディテクタ）、マトリクス回路４、サーボ回路１１、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。

またサーボ回路１１は、システムコントローラ１０からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。

またサーボ回路１１は、トラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ１０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッド機構３を駆動する。スレッド機構３には、図示しないが、ピックアップＯＰを保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、ピックアップＯＰの所要のスライド移動が行なわれる。

スピンドルサーボ回路１２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路１２は、ディスクＤがライタブルディスクである場合はウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得て、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、リーダ／ライタ回路５のＰＬＬ処理によって生成される再生クロック（デコード処理の基準となるクロック）が、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成する。
そしてスピンドルサーボ回路１２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１２は、システムコントローラ１０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。

以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータで構成されるシステムコントローラ１０により制御される。
システムコントローラ１０は、ホストコンピュータ１５からのコマンドに応じて各種処理を実行する。例えばホストコンピュータ１５から書込命令（ライトコマンド）が出されると、システムコントローラ１０は、データを書き込むべきアドレスにピックアップＯＰを移動させる。そしてＥＣＣエンコーダ／デコーダ７、変復調回路６により、ホストコンピュータ１５側から転送されてきたデータ（例えばＭＰＥＧ２などの各種方式のビデオデータや、オーディオデータ等）について上述したようにエンコード処理を実行させる。そしてこれに伴いリーダ／ライタ回路５からの記録信号がレーザ駆動回路１３に供給されることで、ディスクＤに対する記録が実行される。

また、例えばホストコンピュータ１５から、ディスクＤに記録されている或るデータ（例えばＭＰＥＧ２ビデオデータ等）の転送を求めるリードコマンドが供給された場合は、指示されたアドレスを目的としてシーク動作制御を行う。すなわちサーボ回路１１に指令を出し、上記指示されたアドレスをターゲットとするピックアップＯＰのアクセス動作を実行させる。
その後、その指示されたデータ区間のデータをホストコンピュータ１５に転送するために必要な動作制御を行う。すなわちディスクＤからのデータ読出を行い、リーダ／ライタ回路５、変復調回路６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７におけるデコード／バッファリング等を実行させ、要求されたデータを転送する。

また、本例の場合、システムコントローラ１０は、ライトストラテジ回路１４に対してそれぞれ異なるライトストラテジ設定値を与えて異なるライトストラテジ設定条件下での試し書きを実行させると共に、該試し書きを行った箇所の読み出しを実行させそれに伴い評価器５ａより供給される品質評価値を取得した結果に基づき、信号品質改善のためのライトストラテジ（最適とされるライトストラテジ）の計算を行う。
なお、このようなライトストラテジの計算も含めた本実施の形態としてのライトストラテジ調整動作については改めて説明する。

ここで、この図１の例では、例えばパーソナルコンピュータ或いはビデオレコーダなどのＡＶ機器に対してディスクドライブユニットが組み込まれた構成を想定して、ディスクドライブユニット側に設けられたシステムコントローラ１０が、装置本体側に設けられた（つまり記録再生装置１の全体制御を行う）ホストコンピュータ１５の指示に従って各種の処理を実行する構成を例示したが、本発明としては、このようにホストコンピュータ１５とシステムコントローラ１０とが設けられる構成に限定されるべきものではなく、実際の実施形態に応じて適宜最適とされる構成を採ることができる。

［1-2.第１の実施の形態としての調整動作］

先ず、本実施の形態としてのライトストラテジ調整動作についての説明に先立ち、本例において前提とする条件について説明しておく。
先ず、本例において、ライトストラテジ調整のための試し書きは、ディスクＤ上の予め定められたテストエリア（調整エリア）内にて行うものとされている。上述したように本例では、ディスクＤとしてＤＶＤやＢＤのライタブルディスク（ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷや、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥ）に対応するが、これらのメディアではディスクＤの最外周部分及び最内周部分にテストエリアが設けられる。
ここで、第１の実施の形態〜第３の実施の形態では、最外周部分に設けられたテストエリアにてライトストラテジ調整のための試し書きを行う場合を例示する。

また、この場合、上記テストエリア内においては、アドレスナンバの大きい側（この場合は外周側）に詰めて信号記録を行うようにフォーマットで規定されている。

また、本例において、ライトストラテジの調整動作は、ＯＰＣとしての最適記録パワーの調整動作と合わせて一連の動作として行われるものとする。

また、本例において、ディスクＤに対する記録は、クラスタを最小単位として行われるものとする。ここでクラスタとは、誤り訂正の単位（１ＥＣＣブロックに相当）を指す。

また、本例において、ライトストラテジの計算は、例えば上述した特許文献２や特許文献３に記載の発明と同様に、それぞれ異なるライトストラテジの設定条件下で試し書きを行ってそれらの記録箇所の評価値を取得した結果に基づき、線形近似による演算式に従って行うことになる。
なお確認のために述べておくと、本発明は、信号品質改善のためのライトストラテジの計算手法自体に特徴を有するものではなく、ライトストラテジの計算は、所定の演算式に従って行われるものであればよい。すなわち、上記特許文献２や特許文献３に記載の手法に限定されるべきものではない。

また、本例において、信号品質改善のためのライトストラテジ計算を行う際には、３種のライトストラテジの設定条件について試し書きを行うものとする。すなわち、この場合におけるライトストラテジ計算のための試し書きは、第１の設定条件によるライトストラテジ設定下での試し書き、第２の設定条件によるライトストラテジ設定下での試し書き、第３の設定条件によるライトストラテジ設定下での試し書きを行うことになる。
またこの際の試し書きは、１つのライトストラテジ設定条件につき２クラスタ分行うものとする（例えば図２（ａ）などを参照）。

以上の前提を踏まえた上で、図２を参照して、第１の実施の形態としてのライトストラテジ調整動作について説明する。
図２においては、本実施の形態としてのライトストラテジ調整動作（及びＯＰＣ処理）が行われる際に実行される各記録とその配列順序とを示しており、図２（ａ）は、主に各記録の内容の別とそれらの記録長及び配列順を示し、図２（ｂ）では図２（ａ）に示す各記録のディスクＤ上での位置及び配列順を表している。

ここで、図２（ａ）に示す位置Ａは、図２（ｂ）に示す位置Ａに一致し、同様に図２（ａ）に示す位置Ｂは図２（ｂ）に示す位置Ｂに一致している。
また図２（ａ）において、図中の矢印は、書き込み及び読み出し方向を表すものである。

先ず、上述もしたように、本実施の形態では、ディスクＤの最外周部分に設けられたテストエリア内にて調整動作のための試し書きを行う。
ここで、上述した各メディアにおいては、最外周部分に設けられたテストエリア内におけるトラック１周分の長さが、およそ５クラスタ分の長さとなる。

この図２と、先に説明した図１６とを比較して分かるように、本実施の形態の調整動作においても、最適記録パワーの調整動作と信号品質改善のためのライトストラテジの計算は、従来の場合と同様に行うことになる。
具体的に、この場合としても、先ずはテストエリアにおける未記録領域内のアドレスナンバの最も大きいクラスタを対象として、記録パワー調整用記録（図中＜１＞、１クラスタ分）を行うと共に、当該記録パワー調整用記録＜１＞による記録箇所の品質評価値の取得を行い、その結果に基づき、最適な記録パワーの調整（評価値に基づく最適とされる記録パワーの導出及び設定）が行われる。

その上で、ライトストラテジ計算のために、先ずは図中のストラテジ計算用記録（＜２＞〜＜４＞）及び再生引込用記録（＜５＞）を行う。
ここで、再生引込用記録は、先の図１６にて説明したものと同様、例えば ＰＬＬやＡＧＣ（Auto Gain Control）の引き込みなど、データ再生を行うために必要な引き込み処理を行うための信号記録を行うものである。
本例の場合、再生引込用記録の記録長は、図のように１クラスタ分となる。

確認のために述べておくと、この場合の読み出し及び書き込み方向はあくまで図中に示す矢印の方向（内周側→外周側）であるので、図中のストラテジ計算用記録＜２＞〜＜４＞及び再生引込用記録＜５＞としての記録内容が得られるようにするにあたっては、実際には、上記書き込み及び読み出し方向に沿って「再生引込用記録＜５＞→ストラテジ計算用記録＜４＞（第１のライトストラテジ設定条件による記録）→ストラテジ計算用記録＜３＞（第２のライトストラテジ設定条件による記録）→ストラテジ計算用記録＜２＞（第３のライトストラテジ設定条件による記録）」の順で配列されるように各記録を行うことになる。
このとき、アドレスナンバの大きい側に詰めるという規定が守られるべく、記録を開始するアドレスは、例えばテストエリア内における未記録領域の最終アドレス（この場合は記録パワー調整用記録＜１＞を行ったアドレスの直前のアドレス）の情報と記録する信号長（この場合は上記再生引込用記録＜５＞→ストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞の記録長）の情報とから逆算して求めることになる。

そして、このように再生引込用記録＜５＞及びストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞を行った上で、ストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞の各記録箇所の読み出しを実行し、それに伴い評価器５ａにて得られる品質評価値を取得する。
その上で、このように取得した品質評価値に基づき、線形近似による演算式に従って信号品質改善のためのライトストラテジの計算を行う。
このようにして線形近似による演算式に従って計算したライトストラテジについては、以下、「算出ストラテジ」と呼ぶ。

本実施の形態では、このように算出ストラテジを得たことに応じて直ちにこれをライトストラテジ回路１４に設定するということは行わず、図のようにして、比較ストラテジテスト記録（＜６＞）と、算出ストラテジテスト記録（＜７＞）とを行って、算出ストラテジの設定により信号品質の改善が図られるか否かを判別する。

ここで、本例において、上記比較ストラテジとしては、いわゆる基準ストラテジ（初期ストラテジ）を用いる。
先に述べたように、基準ストラテジは、予め定められた基準として用いる基本のライトストラテジであり、具体的な設定値としては、メディアメーカによって定められた設定値（ディスクＤに記録されている）や、ドライブ（記録再生装置１）に予め記憶させた設定値となる。
基準ストラテジは、例えば基準となるディスクＤと記録再生装置１（光学ピックアップＯＰ）の組み合わせで実験を行った結果から求める。

図２において、上記算出ストラテジを得た後の具体的な動作としては、先ずは再生引込用記録＜８＞→算出ストラテジテスト記録＜７＞→比較ストラテジテスト記録＜６＞を図中の矢印方向に沿って行う。
この場合も再生引込用記録は１クラスタ分である。また、算出ストラテジ、比較ストラテジについてのテスト記録は双方とも２クラスタ分である。
この場合もアドレスナンバの大きい側に詰めて記録が行われるように、記録開始アドレスを逆算して求めた上で記録動作を開始する。

そして、これら再生引込用記録＜８＞→算出ストラテジテスト記録＜７＞→比較ストラテジテスト記録＜６＞を行った後には、算出ストラテジテスト記録＜７＞、比較ストラテジテスト記録＜６＞のそれぞれの記録箇所の読み出しを実行して品質評価値を取得する。
その上で、これら取得した品質評価値の大小関係に基づき、算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かを判別する。具体的には、算出ストラテジテスト記録＜７＞の記録箇所で取得した品質評価値の方が、比較ストラテジテスト記録＜６＞の記録箇所で取得した品質評価値よりも良好とされる数値が得られているか否かを判別する。例えば本例のように品質評価値がジッタ値とされる場合は、算出ストラテジテスト記録＜７＞の記録箇所で取得した品質評価値の方が、比較ストラテジテスト記録＜６＞の記録箇所で取得した品質評価値よりも小さいか否かを判別することになる。

上記のような判別の結果、算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されるとした場合は、算出ストラテジの導出が正しく行われたと見なし、算出ストラテジを実際の記録時に使用するライトストラテジとして採用する。具体的には、算出ストラテジとしてのライトストラテジ設定値をライトストラテジ回路１４に設定する。

一方、上記判別の結果、算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されないとした場合は、算出ストラテジの導出を正しく行うことができなかったと見なすことができる。
このため、本実施の形態では、算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されないとした場合には、比較ストラテジの方を実際の記録時に使用するライトストラテジとして採用する。具体的には、比較ストラテジとしてのライトストラテジ設定値をライトストラテジ回路１４に設定する。

上記のようにして本実施の形態では、基本ストラテジを比較ストラテジとして用いて、当該比較ストラテジと、試し書きを行った結果から計算により求めた算出ストラテジとをそれぞれ設定した試し書き及びその評価値取得をそれぞれ行った結果に基づき、上記算出ストラテジを設定した場合の方が、上記比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かを判別するものとしている。そして、この判別結果に基づき、波形調整パラメータの設定を行うものとしている。
このような本実施の形態としてのライトストラテジ調整動作によれば、算出ストラテジが正しく計算されたものであるか否かを判別することができると共に、その結果に基づき、誤算出されたストラテジが設定されてしまうことの防止を図ることができる。
つまりこの結果、記録品質の向上が図られる。

ここで、ライトストラテジの計算が正しく行われたか否かを判別するにあたっては、算出ストラテジを設定した試し書き・品質評価値の取得を行って、該取得した評価値が、予め定められた閾値以上となるか否かを判別するということによっても行うことができると考えられる。すなわち、予め定められた信号品質以上の品質が得られるものについては正しく計算されたライトストラテジであると判断し、それを採用するという技術思想である。
しかしながら、このように品質評価値について絶対的な閾値を定めて判断する手法を採った場合、信号品質に関する特性が良好な個体（ディスクＤ、記録再生装置１）とされる場合は良いが、良好でない特性の個体とされる場合には、ライトストラテジの計算自体は正常に行われたにも関わらず、上記閾値に達する品質が得られないというケースが生じ得る。つまりこの場合には、比較ストラテジよりは良好な信号品質が得られて算出ストラテジの有効性があるにも関わらず、その評価値が上記閾値未満ということを以て、良好でない方の比較ストラテジが採用されてしまうといったことが起こり得る。

これに対し、上記本実施の形態の手法によれば、算出ストラテジの方が比較ストラテジよりも良好であるか否かを相対的に判断するので、上記のように個体の特性が良好でないことに起因して実際には算出ストラテジの方が良好であるのに比較ストラテジの方が採用されてしまうといったケースが生じないようにできる。
つまり、この点からも理解されるように、本実施の形態によれば、上記のような相対的な判別の結果に基づき、その個体にとって良好とされる方のストラテジを確実に設定することができるという大きなメリットがある。

［1-3.第１の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］

図３は、上記により説明した第１の実施の形態としての調整動作を実現するために行われるべき処理の手順を示したフローチャートである。
なおこの図３では、第１の実施の形態としての調整動作を実現するための具体的な処理を、図１に示したシステムコントローラ１０が例えば内部のメモリに格納されたプログラムに基づき実行することを前提として、その処理の手順を表している。

また、この図３をはじめとして、以降で説明する図７,図１１,図１４,図１５について、比較ストラテジがディスクＤに対して記録されたものである場合には、既にディスクＤからの比較ストラテジの読み出しが完了している状態にあるものとする。

図３において、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６までの処理は、先の図１６にて説明したステップＳ１００１〜Ｓ１００６までの処理と同様となる。
確認のため説明しておくと、先ず、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０３の処理は、ＯＰＣ処理としての最適記録パワーの調整処理となる。
具体的に、ステップＳ１０１においては、記録パワー調整用記録（図２における＜１＞の記録）を行うための処理を実行する。すなわち、サーボ回路１１やリーダ／ライタ回路５、変復調回路６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７を制御してデータ記録を実行させつつ、レーザドライバ１３に対して設定する記録パワーを逐次変更して、記録パワー調整用記録を実行させるものである。
先の説明からも理解されるように、記録パワー調整用記録＜１＞は、テストエリア内の未記録領域内におけるアドレスナンバの最も大きい側のクラスタを使用して行うようにする。

続くステップＳ１０２では、＜１＞の記録箇所の評価値を取得するための処理として、サーボ回路１１を制御して上記ステップＳ１０１にて記録が行われた箇所のデータ読み出しを実行させると共に、それに伴い評価器５ａにて得られる品質評価値を取得する。

その上で、次のステップＳ１０３において、評価値に基づく記録パワーの調整処理として、上記ステップＳ１０２で取得した品質評価値に基づく最適記録パワーの導出及び導出した記録パワーのレーザドライバ１３への設定を行う。

続くステップＳ１０４〜Ｓ１０６の処理は、ストラテジ計算のための処理となる。
すなわち、先ずステップＳ１０４においては、ストラテジ計算用及び再生引込用の記録（＜５＞〜＜２＞の記録）を行うための処理を実行する。先に説明したように、これらの各記録は、その配列が書き込み及び読み出し方向に沿って「再生引込用記録＜５＞→ストラテジ計算用記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜３＞→ストラテジ計算用記録＜２＞」の順となるようにして行う。
具体的に、このステップＳ１０４において、再生引込用記録＜５＞については、サーボ回路１１やリーダ／ライタ回路５、変復調回路６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７を制御して予め定められた所定のデータの記録を実行させる。また、ストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞については、予め定められたテストデータの記録を実行させつつ、ライトストラテジ回路１４のライトストラテジ設定値を逐次変更（この場合は２クラスタごとに変更）することで行う。

続くステップＳ１０５では、＜４＞〜＜２＞の記録箇所の評価値を取得するための処理として、サーボ回路１１を制御してストラテジ計算用記録＜４＞〜＜２＞の各記録箇所の読み出しを実行させると共に、それに伴い評価器５ａにて得られる品質評価値を取得する。

さらに、次のステップＳ１０６においては、評価値に基づき最適とされるストラテジを計算する。すなわち、上記ステップＳ１０５にて取得した品質評価値に基づき、予め設定された演算式に従って信号品質改善のための最適とされるライトストラテジの計算を行う。

このようにステップＳ１０６の計算処理によって算出ストラテジを得た後は、ステップＳ１０７において、比較ストラテジ・算出ストラテジのテスト記録及び再生引込用記録（＜８＞〜＜６＞の記録）を行うための処理を実行する。
図２において説明したように、これらの各記録は、読み出し及び書き込み方向に沿ってその配列順が「再生引込用記録＜８＞→算出ストラテジテスト記録＜７＞→比較ストラテジテスト記録＜６＞」となるようにして行う。ステップＳ１０６において、上記再生引込用記録＜８＞の記録については、サーボ回路１１やリーダ／ライタ回路５、変復調回路６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７を制御して予め定められた所定のデータの記録を実行させる。また、算出ストラテジテスト記録＜７＞〜比較ストラテジテスト記録＜８＞については、予め定められたテストデータの記録を実行させつつ、ライトストラテジ回路１４のライトストラテジ設定値の設定状態を算出ストラテジの設定状態→比較ストラテジの設定状態に変更（それぞれ２クラスタずつ）することで行う。

続くステップＳ１０８においては、＜７＞＜６＞の記録箇所の評価値を取得するための処理として、サーボ回路１１を制御して算出ストラテジテスト記録＜７＞、比較ストラテジテスト記録＜６＞の各記録箇所の読み出しを実行させると共に、それに伴い評価器５ａにて得られる品質評価値を取得する。

そして、次のステップＳ１０９において、算出ストラテジの方が評価値が良好であるか否かを判別する。すなわち、ステップＳ１０８にて取得した算出ストラテジテスト記録＜７＞についての品質評価値の方が、同じくステップＳ１０８にて取得した比較ストラテジテスト記録＜６＞についての品質評価値よりも良好な値が得られているか否かを判別するものである。
本例のように品質評価値がジッタ値とされる場合、当該ステップＳ１０９の判別処理は、算出ストラテジテスト記録＜７＞の品質評価値の方が、比較ストラテジテスト記録＜６＞の品質評価値よりも小さいか否かを判別する処理となる。

上記ステップＳ１０９において、算出ストラテジの方が評価値が良好であるとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１１０に処理を進めて、算出ストラテジを設定する。すなわち、先のステップＳ１０６の計算処理により算出したライトストラテジ設定値をライトストラテジ回路１４に対して設定する。

一方、上記ステップＳ１０９において、算出ストラテジの方が評価値が良好ではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１１１に進んで比較ストラテジを設定する。すなわち、記録再生装置１に予め記憶される、或るはディスクＤに予め記録された基準ストラテジとしてのライトストラテジ設定値をライトストラテジ回路１４に対して設定するものである。

上記ステップＳ１１０又はＳ１１１の処理の実行後、この図に示す調整動作のための処理は終了となる。

＜２．第２の実施の形態＞
［2-1.第２の実施の形態としての調整動作］

続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、算出ストラテジテスト記録が行われる位置と比較ストラテジテスト記録が行われる位置とが、ディスクＤ上の同じ角度位置で揃えられるようにするものである。
なお、この第２の実施の形態をはじめ以降で説明する第３,第４の実施の形態において、記録再生装置１の構成は第１の実施の形態の場合と同様となることから改めての図示による説明は省略する。

図４は、第１の実施の形態で説明した手法により調整動作のための各記録を実行した場合における、それら各記録のディスクＤ上での位置の関係を表している。
ここで、第１の実施の形態で説明した順序で調整動作のための各記録を実行した場合は、比較ストラテジテスト記録＜６＞が行われる位置と算出ストラテジテスト記録＜７＞が行われる位置とが、円周方向に隣接して配されることになる。
従って、例えば指紋の付着などによる外乱（β）が図中の位置に生じる場合には、比較ストラテジテスト記録＜６＞における評価値が悪化傾向となり、その結果、実際には算出ストラテジの計算が正しく行われなかったにも関わらず、算出ストラテジテスト記録＜７＞の評価値の方が良好と判別されてしまう虞がある。また、これと逆の状況も生じ得る。
このことからも理解されるように、第１の実施の形態で説明した順で調整動作のための各記録を行う場合には、算出ストラテジと比較ストラテジの何れか一方のテスト記録の箇所に外乱が生じる場合があり、これに伴い、算出ストラテジが正しく計算されたものであるか否かを適正に判別することができない虞がある。つまりその結果、不適切なライトストラテジが設定されてしまう虞があり、記録品質の悪化を招き兼ねない。

そこで第２の実施の形態では、算出ストラテジのテスト記録が行われる位置と比較ストラテジのテスト記録が行われる位置とが、ディスクＤ上の同じ角度位置で揃えられるようにし、図４のように何れか一方の記録位置にのみ外乱による影響が与えられてしまうといった事態の発生の防止を図る。

図５は、第２の実施の形態としてのライトストラテジ調整動作について説明するための図として、先の図２の場合と同様に調整動作が行われる際に実行される各記録の位置と配列順序とを示している。この場合も図２と同様に、（ａ）図では主に各記録の内容の別とそれらの記録長及び配列順を示し、（ｂ）図では（ａ）図に示す各記録のディスクＤ上での位置及び配列順を表している。

この図５と先の図２とを比較して分かるように、第１の実施の形態からの変更点は、比較ストラテジのテスト記録を行う位置を、外周側に３クラスタ分ずらした位置に配した点である。
具体的に、この場合の調整動作では、第１の実施の形態と同様に記録パワー調整用記録＜１＞を行ってＯＰＣ処理により最適記録パワーの調整動作を行った上で、図示するように外周側から「ストラテジ計算用記録＜２＞→ストラテジ計算用記録＜３＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→再生引込用記録＜６＞」の順で並ぶように各記録を行う。換言すれば、書き込み及び読み出し方向に沿って「再生引込用記録＜６＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜３＞→ストラテジ計算用記録＜２＞」の順で配列されるように各記録を行うものである。
これは、第１のライトストラテジ設定条件下での試し書きとしてのストラテジ計算用記録＜５＞と、第２のライトストラテジ設定条件下での試し書きとしてのストラテジ計算用記録＜３＞との間に、比較ストラテジの設定下での試し書きとしての比較ストラテジテスト記録＜４＞が挿入されるようにしていると捉えることもできる。

そしてこの場合は、上記のような書き込み及び読み出し方向に沿った「再生引込用記録＜６＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜３＞→ストラテジ計算用記録＜２＞」の順の記録を行った後に、ストラテジ計算用記録＜５＞、ストラテジ計算用記録＜３＞、ストラテジ計算用記録＜２＞の各記録箇所の読み出しを実行して、これら各記録箇所についての品質評価値の取得を行った上で、それら取得した品質評価値と所定の演算式とに基づきライトストラテジの計算を行う。

さらに、このような計算処理によって算出ストラテジを得た後に、書き込み及び読み出し方向に沿って「再生引込用記録＜８＞→算出ストラテジテスト記録＜７＞」の順で各記録を行う。

その上で、上記算出ストラテジテスト記録＜７＞の記録箇所と、比較ストラテジテスト記録＜４＞の記録箇所の読み出しを実行してそれぞれの品質評価値を取得し、これら取得した品質評価値の大小関係に基づき、第１の実施の形態と同様に算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かの判別と、その判別結果に基づくライトストラテジの設定とを行う。

第２の実施の形態では、上記により説明した配列順・記録長で各記録を行うことで、算出ストラテジテスト記録と比較ストラテジテスト記録との間に３クラスタ分の間隔が空けられるようにしている。
ここで、本例の場合、テストエリア内ではトラック１周がおよそ５クラスタ分とされる。また本例において、比較ストラテジと算出ストラテジの各テスト記録は２クラスタ分行うものとされている。
従って、上記のように比較ストラテジと算出ストラテジの各テスト記録の間に３クラスタ分の間隔が空けられるようにすることで、これら算出ストラテジと比較ストラテジの各テスト記録が行われる位置をディスクＤ上の同じ角度位置に揃えることができる。

図６は、上記により説明した第２の実施の形態としての手法により調整動作のための各記録を実行した場合の各記録のディスクＤ上での位置の関係を表している。
この図６からも明らかなように、算出ストラテジ・比較ストラテジの各テスト記録位置が同じ角度位置に揃えられるようにすれば、外乱（β）が何れか一方のテスト記録位置にのみ影響を与えてしまう事態の発生を効果的に防止できる。

ここで、通常、ディフェクトのような外乱はディスクＤのトラック幅（例えばＢＤでは0.32μm）に対して非常に広い範囲（例えば数十〜数百トラック以上の範囲）で生じるものであるため、上記のように同じ角度位置に揃えられた各記録位置においては、外乱による影響を等しく受けると見なすことができる。
従って第２の実施の形態によれば、外乱の影響によって算出ストラテジの計算が正しく行われたか否かの判別を誤ってしまうといった事態の発生を効果的に防止でき、結果、より適正なライトストラテジ調整動作とすることができる。

また、図５に示した配列により各記録を行うことによっては、算出ストラテジ・比較ストラテジの各テスト記録位置が同じ角度位置に揃えられるようにするにあたって、調整動作に必要な全体の記録長を抑制することができる。

ここで、単に算出ストラテジ・比較ストラテジの各テスト記録位置の角度を揃えることを目的とするのであれば、例えば次の図７（ａ）に示すようにして、第１の実施の形態で説明した図２の記録配列における比較ストラテジテスト記録＜６＞と算出ストラテジテスト記録＜７＞との間に、角度を揃えるための３クラスタ分のダミー記録（図中＜Ｄ＞）を行うといった手法を採ることもできる。

図７（ｂ）には、比較として、先の図５に示した記録配列を示しているが、この図７（ｂ）と図７（ａ）とを対比して明らかなように、図５に示した記録配列とすることによれば、単に角度を揃えるようにしたのみの手法を採る場合と比較して、調整動作に要する記録長が有効に削減されることが理解できる。

このようにして、調整動作に要する記録長を削減（この場合は３クラスタ分）できることで、限られたテストエリア内にてより多くの調整動作を可能にするなど、テストエリアの有効利用を図ることができる。

［2-2.第２の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］

図８は、第２の実施の形態としての調整動作を実現するための処理の手順を示したフローチャートである。
なおこの図８においても、調整動作を実現するための処理は、図１に示したシステムコントローラ１０が例えば内部のメモリに格納されたプログラムに基づき実行するものとしている。
また図８においては、既に第１の実施の形態で説明したものと同内容となる処理については同一のステップ番号を付して説明を省略する。

この図８と先の図３とを比較して分かるように、第２の実施の形態では、第１の実施の形態の場合のステップＳ１０４〜Ｓ１０８の処理に代えて、ステップＳ２０１〜Ｓ２０６の処理を実行することになる。

具体的にこの場合は、ステップＳ１０３の記録パワー調整処理を実行した後に、ステップＳ２０１において、外周側から「ストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→再生引込用記録＜６＞」の順で並ぶように各記録を行うための処理を実行する。
具体的には、書き込み及び読み出し方向に沿って「再生引込用記録＜６＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜３＞＜２＞」の順で各記録が行われるように、サーボ回路１１やリーダ／ライタ回路５、変復調回路６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７に対する制御、及びライトストラテジ回路１４に対するライトストラテジ設定値の逐次の設定を行う。
なお、この場合においてもテストエリア内での記録は、アドレスナンバの大きい側に詰めて行うことは言うまでもない。つまりこの場合もシステムコントローラ１０としては、各記録を実行させる際には該規定が守られるように記録開始アドレスの算出を行うものである。

続くステップＳ２０２では、＜５＞＜３＞＜２＞の記録箇所の評価値の取得（ストラテジ計算用記録の評価値の取得）を行うための処理を実行する。
すなわち、サーボ回路１１を制御してストラテジ計算用記録＜５＞、ストラテジ計算用記録＜３＞、ストラテジ計算用記録＜２＞の各記録箇所の読み出しを実行させ、それに伴い評価器５ａにて得られる品質評価値の取得を行う。
そして次のステップＳ２０３において、上記ステップＳ２０２にて取得した＜５＞＜３＞＜２＞の品質評価値に基づき、最適とされるストラテジの計算を行う。

上記ステップＳ２０３の計算処理により算出ストラテジを得た上で、次のステップＳ２０４において、算出ストラテジテスト記録及び再生引込用記録（＜８＞＜７＞の記録）を行うための処理を実行する。
すなわち、書き込み及び読み出し方向に沿って「再生引込用記録＜８＞→算出ストラテジテスト記録＜７＞」の順で各記録が行われるように、サーボ回路１１やリーダ／ライタ回路５、変復調回路６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７に対する制御、及びライトストラテジ回路１４に対するライトストラテジ設定を行う。

続くステップＳ２０５においては、＜７＞の記録箇所（算出ストラテジのテスト記録箇所）の評価値を取得するための処理を実行する。
また次のステップＳ２０６では、＜４＞の記録箇所（比較ストラテジのテスト記録箇所）の評価値を取得するための処理を実行する。

このように算出ストラテジ、比較ストラテジの各記録箇所の品質評価値の取得を行った後は、第１の実施の形態と同様に算出ストラテジの方が評価値が良好であるか否かの判別処理（ステップＳ１０９）と、その判別結果に基づくライトストラテジの設定処理（ステップＳ１１０又はＳ１１１）とを実行する。

ここで、第２の実施の形態は、外乱による影響を排除するための手法を提案するものであり、その具体的な内容については上記により説明したものに限定されるべきものではない。例えば、各記録の記録長を上記により例示したものから変更したり、ストラテジ計算用記録を３種以上の設定条件で行う場合などには、それに応じて具体的な処理内容が変更されるべきものとなる。
外乱による影響を排除するにあたっては、比較ストラテジのテスト記録箇所と算出ストラテジのテスト記録箇所とがディスクＤ上の同じ角度位置に揃えられるようにそれら各テスト記録を行うものとすればよい。

＜３．第３の実施の形態＞
［3-1.第３の実施の形態としての調整動作］

続いて、第３の実施の形態について説明する。
第３の実施の形態は、算出ストラテジと比較ストラテジのテスト記録箇所について、それぞれの品質評価値取得時における隣接トラックの記録／未記録条件を揃えるようにするものである。

ここで、品質評価値が本例のようにジッタ値とされる場合や、或いはＰＲＭＬ（Partial Response Most Likelihood）系の評価値である差メトリックの標準偏差やＰＲＳＮＲなどとされる場合には、隣接トラックの記録／未記録の条件が異なることに応じて、取得される評価値の値にも差が生じる。
なお確認のために述べておくと、ここで言う隣接トラックの記録／未記録条件とは、具体的には、評価値測定の対象とするトラックを基準として、これに隣接する双方のトラックが記録済みである、或いは未記録である、或いは何れか一方の隣接トラックのみが記録済みである、の別によって区分される条件を指すものである。

図９、図１０は、第３の実施の形態としての調整動作について説明するための図である。
これら図９、図１０では、第３の実施の形態としての調整動作時に行われる記録動作に関して、前半動作と後半動作とに分け、図９は前半動作として行われる各記録について、また図１０では前半動作として行われた各記録と後半動作として行われる各記録とについて併せて示している。
なお、これら図９、図１０においても、先の図２や図５の場合と同様に、（ａ）図では主に各記録の内容の別とそれらの記録長及び配列順を示し、（ｂ）図では（ａ）図に示す各記録のディスクＤ上での位置及び配列順を表している。

先ず、図９に示す前半動作としては、第２の実施の形態の場合における算出ストラテジの取得までの動作とほぼ同様の動作を行う。
すなわち、この場合も記録パワー調整用記録＜１＞を行った結果に基づく最適記録パワーの調整動作を行った後は、図示するように外周側から「ストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→再生引込用記録＜６＞」の順で並ぶように各記録を行った後、ストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞＜５＞の記録箇所の品質評価値の取得を行った結果に基づき、ライトストラテジの計算を行うことになる。

但し、第３の実施の形態では、上記ストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→再生引込用記録＜６＞についての記録を行った後、第２の実施の形態の場合のようにストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞＜５＞の記録箇所のみについての品質評価値の取得を行うのではなく、比較ストラテジテスト記録＜４＞の記録箇所についての品質評価値の取得も併せて行っておくようにする。
すなわち、比較ストラテジのテスト記録についての品質評価値の取得を、算出ストラテジのテスト記録を行う以前に予め行っておくものである。

ここで、図９（ｂ）を参照して明らかなように、比較ストラテジのテスト記録箇所（＜４＞）についての評価値取得を上記のようなタイミングで行うことで、当該比較ストラテジのテスト記録箇所についての評価値取得は、一方の隣接トラック（外側隣接するトラック）のみが記録済みである条件下で行われることになる。

上記のようにして、前半動作としてストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞＜５＞と比較ストラテジテスト記録＜４＞の評価値取得及びストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞＜５＞の評価値に基づくライトストラテジの計算を行った後は、図１０に示される後半動作として、外周側から「算出ストラテジテスト記録＜７＞→再生引込用記録＜８＞」の順で並ぶように各記録を行うと共に、算出ストラテジテスト記録＜７＞の記録箇所についての品質評価値を取得する。

このとき、図１０（ｂ）を参照して分かるように、上記算出ストラテジのテスト記録箇所（＜７＞）についての評価値取得は、当該算出ストラテジのテスト記録箇所の一方の隣接トラック（外側隣接するトラック）のみが記録済みである条件下で行われることになる。

第３の実施の形態においても、上記算出ストラテジテスト記録＜７＞の記録箇所についての品質評価値を取得して、比較ストラテジと算出ストラテジの双方のテスト記録箇所についての品質評価値が取得された状態となったことに応じては、これまでの各実施の形態の場合と同様に、それら取得した品質評価値の大小関係に基づき、算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かの判別、及び該判別結果に基づくライトストラテジの設定を行うことになる。

上記により説明したように、第３の実施の形態では、算出ストラテジのテスト記録を行う前に、比較ストラテジのテスト記録を行うようにしている。なお且つ、比較ストラテジのテスト記録箇所と、当該比較ストラテジのテスト記録箇所と算出ストラテジのテスト記録箇所との間に位置する記録箇所（この場合は＜５＞と＜６＞）とを合わせた部分の長さが、トラック１周分の長さ（この場合は５クラスタ分）を超えないようにされている。
このような条件を満たした上で、上記のように算出ストラテジのテスト記録前に、比較ストラテジのテスト記録箇所の評価値取得を行っておくことで、双方のテスト記録箇所での評価値取得時における隣接トラック記録／未記録条件を、「一方の隣接トラックのみが記録済み」の条件で一致させることができる。すなわちこの結果、各テスト記録箇所で取得する評価値に記録／未記録条件の違いによる差が生じないようにでき、その分、算出ストラテジが正しく計算されたものであるか否かの判別をより正確に行うことができる。

また、図１０と先の図５とを比較して分かるように、第３の実施の形態では、各記録の配列自体は第２の実施の形態の場合と同様とされている。つまりこのことからも理解されるように、第３の実施の形態においても第２の実施の形態の場合と同様に、外乱の影響の排除を図ることができる。
また同時に、第３の実施の形態としても、第２の実施の形態の場合と同様に外乱の影響の排除を図るにあたって調整動作に必要な全体の記録長を抑制できる。

ここで、図９,図１０に示した手法は、各テスト記録箇所の評価値取得時における隣接トラック記録／未記録条件を一致させるための手法の一例を示したものに過ぎず、例えば双方の隣接トラックが記録済み（或いは未記録）となる状態で一致させるか、一方の隣接トラックのみが記録済みとなる状態で一致させるかの別や、調整動作にあたって行う各記録の記録長・配列順序などは実際の実施形態に応じて適宜変更可能である。
第３の実施の形態としては、比較ストラテジのテスト記録箇所と算出ストラテジのテスト記録箇所のそれぞれの品質評価値取得時における隣接トラックの記録／未記録条件を一致させるように、それら各テスト記録及び品質評価値の取得を行うようにされていればよい。

［3-2.第３の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］

図１１は、第３の実施の形態としての調整動作を実現するための処理の手順を示したフローチャートである。なおこの図１１では第３の実施の形態としての調整動作の一例として、図９,図１０に示した調整動作を実現するための処理の手順について説明を行う。
この図１１においても、調整動作を実現するための処理は、図１に示したシステムコントローラ１０が例えば内部のメモリに格納されたプログラムに基づき実行するものとしている。
また図１１では、既にこれまでの各実施の形態で説明したものと同内容となる処理については同一のステップ番号を付して説明を省略する。

この図１１と先の図８とを比較して分かるように、第３の実施の形態の場合の処理手順は、第２の実施の形態の場合の処理手順と比較して、ステップＳ２０２がステップＳ３０１に変更され、なお且つステップＳ２０６が省略された点が異なる。

具体的にこの場合は、ステップＳ２０１において、外周側から「ストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞→比較ストラテジテスト記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜５＞→再生引込用記録＜６＞」の順で並ぶように各記録を行うための処理を実行した後に、ステップＳ３０１において、＜５＞〜＜２＞の記録箇所の評価値を取得（ストラテジ計算用記録及び比較ストラテジテスト記録の評価値取得）するための処理を実行する。
すなわち、サーボ回路１１を制御してストラテジ計算用記録＜５＞からストラテジ計算用記録＜２＞までの記録箇所の読み出しを実行させ、それに伴い評価器５ａにて得られる品質評価値の取得を行う。

このようにステップＳ３０１にて比較ストラテジテスト記録＜４＞についての評価値取得が行われることに対応させて、この場合は図８にて説明したステップＳ２０６（比較ストラテジのテスト記録箇所の評価値取得）の処理が省略されるものとなる。

＜４．第４の実施の形態＞
［4-1.第４の実施の形態としての調整動作］

第４の実施の形態は、内周側のテストエリアを使用することを前提とした場合において、第３の実施の形態のように外乱の影響の排除と隣接トラックの記録／未記録条件の一致とを図るための具体的な手法を提案するものである。

図１２は、第４の実施の形態の調整動作について説明するための図であり、先の図２や図５などと同様に、調整動作が行われる際に実行される各記録の位置と配列順序とを示している。この場合も図２や図５の場合と同様に、（ａ）図では主に各記録の内容の別とそれらの記録長及び配列順を示し、（ｂ）図では（ａ）図に示す各記録のディスクＤ上での位置及び配列順を表している。

なお確認のために述べておくと、内周側のテストエリアにおいても、アドレスナンバの大きい側に詰めて記録を行う点は同様となる。
また、内周のテストエリア内においては、トラック１周が２クラスタ分となる。

図１２において、この場合の調整動作においても、先ずは記録パワー調整用記録＜１＞を行ってＯＰＣ処理により最適記録パワーの調整動作を行う。
そしてこの場合は、最適記録パワーの調整動作を行った後、図示するように外周側から「ストラテジ計算用記録＜２＞→ストラテジ計算用記録＜３＞→ストラテジ計算用記録＜４＞→比較ストラテジテスト記録＜５＞」の順で並ぶように（すなわち、書き込み及び読み出し方向に沿って「比較ストラテジテスト記録＜５＞→ストラテジ計算用記録＜４＞→ストラテジ計算用記録＜３＞→ストラテジ計算用記録＜２＞」の順で並ぶように）各記録を行う。

この場合、上記の各記録を行った後は、上記比較ストラテジテスト記録＜５＞を再生引込用の記録箇所として利用して、ストラテジ計算用記録＜２＞〜＜４＞の評価値取得を行う。その上で、これら取得したストラテジ計算用記録＜２＞〜＜４＞についての評価値に基づき、ライトストラテジの計算を行う。

ライトストラテジの計算後には、外周側から「算出ストラテジテスト記録＜６＞→再生引込用記録＜７＞」の順で並ぶように（書き込み及び読み出し方向に沿って「再生引込用記録＜７＞→算出ストラテジテスト記録＜６＞」の順で並ぶように）各記録を行う。そしてその後、算出ストラテジテスト記録＜６＞の読み出しと共に比較ストラテジテスト記録＜５＞の読み出しを行って、各テスト記録箇所の品質評価値の取得を行い、これら取得した品質評価値に基づき、第１の実施の形態と同様に算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かの判別、及び該判別結果に基づくライトストラテジの設定を行う。

上記により説明した第４の実施の形態としての調整動作では、比較ストラテジのテスト記録箇所（この場合も２クラスタ）と算出ストラテジのテスト記録箇所（同じく２クラスタ）とを周方向において隣接させるようにしている。
このことで、この場合はトラック１周が２クラスタ分とされる内周側テストエリアに対応して、比較ストラテジと算出ストラテジのテスト記録箇所が同じ角度位置に揃えられるようにできる。すなわち、一方のテスト記録箇所にのみ外乱による影響が与えられてしまうことの防止が図られる（図１３を参照）。

なお且つ、第４の実施の形態では、比較ストラテジのテスト記録箇所の外周側に隣接して２クラスタ以上の記録済み領域が形成されるようにし、また、算出ストラテジのテスト記録箇所の内周側に隣接して２クラスタ以上の記録済み領域が形成されるようにしている。そして、このような記録状態が得られるようにした上で、算出ストラテジ、比較ストラテジの各テスト記録箇所の品質評価値の取得を行うものとしている。
このことで、算出ストラテジ、比較ストラテジの各テスト記録箇所に関して、それらの品質評価値取得時における隣接トラックの記録／未記録条件を、「隣接する双方のトラックが記録済み」の条件で一致させることができる。つまりこの結果、算出ストラテジの計算が正しく行われたか否かの判別をより正確に行うことができる。

ここで、図１２において説明した手法は、内周側テストエリアにて外乱の影響排除と隣接トラックの記録／未記録条件の一致とを実現するための手法の一例に過ぎず、外乱の影響排除と隣接トラックの記録／未記録条件の一致とを実現するための手法は上記の手法に限定されるべきものではない。
この場合としても、外乱の影響を排除するにあたっては、比較ストラテジのテスト記録箇所と算出ストラテジのテスト記録箇所とがディスクＤ上の同じ角度位置に揃えられるようにそれら各テスト記録を行うものとすればよい。
また、記録／未記録条件を一致させるにあたっては、比較ストラテジのテスト記録箇所と算出ストラテジのテスト記録箇所のそれぞれの品質評価値取得時における隣接トラックの記録／未記録条件を一致させるように、それら各テスト記録及び品質評価値の取得を行うようにすればよい。

［4-2.第４の実施の形態の調整動作を実現するための処理手順］

図１４は、第４の実施の形態としての調整動作を実現するための処理の手順を示したフローチャートである。なおこの図１４では図１２にて説明した調整動作を実現するための処理の手順を例示している。
図１４においても、調整動作を実現するための処理は、図１に示したシステムコントローラ１０が例えば内部のメモリに格納されたプログラムに基づき実行するものとしている。
また図１４においても、既にこれまでの各実施の形態で説明したものと同内容となる処理については同一のステップ番号を付して説明を省略する。

図１４に示す処理手順は、先の図１１に示した第３の実施の形態の場合の処理手順と比較して、ステップＳ２０１→Ｓ３０１→Ｓ２０３→Ｓ２０４→Ｓ２０５の一連の処理に代えて、ステップＳ４０１〜Ｓ４０５の処理を行う点が異なる。

具体的にこの場合は、ステップＳ１０３にて最適記録パワーの調整処理を実行した後に、ステップＳ４０１において、外周側から「ストラテジ計算用記録＜２＞＜３＞＜４＞→比較ストラテジテスト記録＜５＞」の順で並ぶように各記録を行うための処理を実行する。

また、続くステップＳ４０２においては、＜４＞＜３＞＜２＞の記録箇所の評価値を取得（ストラテジ計算用記録の評価値取得）するための処理を実行する。
先に述べたように、この際の読み出しにあたっては、比較ストラテジテスト記録＜５＞の記録箇所を再生引込処理に用いることになる。

そして、次のステップＳ４０３において、＜４＞＜３＞＜２＞の評価値に基づき最適とされるストラテジの計算を行う。

さらに、次のステップＳ４０４においては、算出ストラテジテスト記録及び再生引込用記録（＜７＞＜６＞の記録）を行うための処理として、外周側から「再生引込用記録＜７＞→算出ストラテジテスト記録＜６＞」の順で並ぶように各記録を実行させる。

その上で、続くステップＳ４０５において、＜６＞＜５＞の記録箇所（算出ストラテジのテスト記録箇所、比較ストラテジの記録箇所）の評価値を取得するための処理を実行する。
この場合、算出ストラテジテスト記録＜６＞と比較ストラテジテスト記録＜５＞は周方向において隣接している（図１２を参照）ので、これらの記録箇所の読み出しは連続して（一連の読み出し動作として）行うことができる。

＜５．変形例＞

以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記により説明した具体例に限定されるべきものではない。

例えばこれまでの説明では、算出ストラテジを設定した場合の方が比較ストラテジを設定した場合よりも信号品質が改善されないと判別した（つまり算出ストラテジの計算が正しく行われなかったと判別した）ことに応じて、直ちに比較ストラテジを設定する場合を例示したが、このように算出ストラテジを設定した場合の方が信号品質が改善されないと判別したことに応じては、ストラテジの計算をリトライするようにもできる。

図１５のフローチャートは、このようなリトライ動作を行う変形例としての調整動作を実現するための処理手順を示している。
なおこの図においてもシステムコントローラ１０が実行する処理の手順を示している。
またこの図では、第１の実施の形態に対してリトライ動作を適用した場合の処理手順を示している。

この図１５と先の図３とを比較して分かるように、当該変形例としての処理手順では、第１の実施の形態の場合の処理手順におけるステップＳ１０１の実行前にステップＳ５０１を実行し、またステップＳ１０９にて否定結果が得られたことに応じてステップＳ５０２を実行するようにされている。
上記ステップＳ５０１においては、リトライ回数カウント値ｎを「１」に設定（ｎ＝１）する処理を実行する。なおここではステップＳ５０１の処理がステップＳ１０１の実行前に行われるものとしたが、当該ステップＳ５０１の処理は少なくともステップＳ５０２の実行前に行われるようにすればよい。

また、ステップＳ５０２においては、ｎ＝Ｎであるか否か、すなわち、リトライ回数カウント値ｎがリトライ上限回数Ｎに達したか否かを判別する。
ステップＳ５０２において、ｎ＝Ｎではないとして否定結果が得られた場合は、図示するようにステップＳ５０３に進んでリトライ回数カウント値ｎを１インクリメント（ｎ←ｎ＋１）した後、ステップＳ１０４に戻るようにされる。

一方、上記ステップＳ５０２において、ｎ＝Ｎであるとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１１１に進んで比較ストラテジの設定処理を実行する。

このような処理手順とすることで、ステップＳ１０９にて算出ストラテジの方が評価値が良好でないとの否定結果が得られた場合は、ストラテジの計算処理、及びステップＳ１０９の判別処理がリトライされることになる。またこのとき、リトライ回数は上限回数Ｎに制限される。

なお確認のために述べておくと、ディスクＤが追記型のメディアである場合は、信号の書き替えが不能であるため、リトライとして実行されるステップＳ１０４やステップＳ１０７で行われる各記録の位置は、リトライごとに逐次未記録領域にシフトするようにして行うことになる。
また、ディスクＤが書き替え可能型メディアである場合には、ストラテジ計算やステップＳ１０９の判別のために行う各記録について、前回の記録内容を消去することで、それぞれを前回使用領域と同一領域を使用して行うようにすることもできるが、後の説明から理解されるように、リトライ動作として行う各記録は前回使用領域とは異なる領域を使用して行うのが効果的であるため、書き替え可能型メディアの場合もリトライの記録は逐次未使用領域を使用して行う。つまりリトライごとに位置を変えて行う。

ここで、図１５では第１の実施の形態の場合にリトライ動作を適用する場合を例示したが、他の実施の形態に対しても、同様にステップＳ５０１、Ｓ５０２、及びＳ５０３の処理を追加挿入することで、同様のリトライ動作を実現できる。

上記のようなリトライ動作を行うことで、算出ストラテジの計算が正しく行われなかった場合に対応して、ストラテジ計算をやり直すことができる。
ここで、先に述べたようにストラテジ計算を誤る理由の１つには、ストラテジ計算のための試し書き領域の一部がディフェクトなどの外乱による影響を受けることが挙げられる。この点に鑑みると、上記のようなリトライ動作により、ストラテジ計算のための試し書きが逐次位置を変えてやり直され、さらにその結果に基づきストラテジの再計算が行われることによっては、外乱の影響を避けて、ストラテジの計算が正しく行われるように導くことができる。
つまり、上記リトライ動作によれば、ストラテジ計算のための試し書き領域の一部が偶然にも外乱の影響を受けてストラテジが誤計算されてしまった場合に、直ちに比較ストラテジの方が設定されてしまうことを避け、比較ストラテジよりも良好とされるストラテジが設定される可能性を高めることができるものとなる。
このことからも理解されるように、上記リトライ動作によれば、良好な信号品質による記録が行われる可能性を高めることができる。

また、これまでの説明ではその明言を避けたが、ライトストラテジ調整としては、具体的には、レーザ駆動パルスのフロントエッジ位置、及びリアマークエッジ位置の調整を挙げることができる。或いは、調整するエッジ位置は、フロント、リアに限らず、例えばマルチパルスのエッジ位置とすることもできる。
実際には生成マークのフロントエッジとリアエッジを効果的に調整できるパルスエッジをメディア種類に合わせて適宜選択したものとすればよい。

また、レーザ駆動パルスのエッジ位置のみに限定されるものでもなく、その振幅を調整するといったこともできる。
例えば、階段状のパルスを用いる場合には、段差部分のレベルを調整するということが行われるが、そのような調整もライトストラテジ調整の範疇に含まれるものとする。

上記の説明より、本明細書で言うライトストラテジ調整としては、光ディスクに形成されるマークのエッジ位置を調整することのできるレーザ駆動パルスのパラメータについての調整である、と定義することができる。

また、これまでの説明では、算出ストラテジの比較対象として用いる比較ストラテジを、例えば光ディスクや記録再生装置に予め記録された基準ストラテジとする場合を例示したが、本発明で言う「比較対象波形調整パラメータ」としては、例えば前回のストラテジ計算によって算出されたストラテジを用いるといったこともできる。
本発明において、「比較対象波形調整パラメータ」としては、上記基準ストラテジや前回算出のストラテジ以外であっても、信号品質改善のための波形調整パラメータの計算が正しく行われたか否かを判別するにあたっての比較対象として適切とされるものであれば、他の波形調整パラメータを採用することができる。

また、これまでの説明では、品質評価値に関して、ストラテジの計算処理で用いる品質評価値と、算出ストラテジの計算が正しく行われたか否かを判別する際に用いる品質評価値とが、共にジッタ値で同じとされる場合を例示したが、それぞれ別々の品質評価値を用いるようにすることもできる。
例えば、ストラテジの計算処理で用いる評価値は特許文献２に記載されるような「マークエッジ位置誤差」とし、算出ストラテジの計算が正しく行われたか否かを判別する際に用いる評価値はジッタ値とするなどといったことができる。

また、本発明における品質評価値としては、上記による「マークエッジ位置誤差」やジッタ値以外にも、例えば前述した差メトリックの標準偏差やＰＲＳＮＲなど、他の値とすることもできる。
何れにしても、本発明における品質評価値としては、光記録媒体から読み出した信号から生成されるものであって、記録信号品質の指標となる値とされればよい。

１ 記録再生装置、２ スピンドルモータ（ＳＰＭ）、３ スレッド機構、４ マトリクス回路、５ リーダ／ライタ（ＲＷ）回路、５ａ 評価器、６ 変復調回路、７ ＥＣＣエンコーダ／デコーダ、８ ウォブル回路、９ アドレスデコーダ、１０ システムコントローラ、１１ サーボ回路、１２ スピンドルサーボ回路、１３ レーザドライバ、１４ ライトストラテジ回路、１５ ホストコンピュータ、ＯＰ 光学ピックアップ、ＬＤ レーザダイオード、Ｄ ディスク

Claims (11)

1. 光記録媒体に対してレーザ光を照射して、上記光記録媒体上でマーク及びスペースで表現される情報の書込及び読出を行う光学ヘッド部と、
   記録する情報に応じたレーザ駆動パルスを生成して上記光学ヘッド部にレーザ駆動信号を供給し、上記光学ヘッド部に、記録のためのレーザ光照射を実行させるレーザ駆動パルス生成部と、
   上記光学ヘッド部により上記光記録媒体から読み出した信号から記録信号品質の指標となる品質評価値を計算する評価値計算部と、
   上記レーザ駆動パルス生成部で生成するレーザ駆動パルスの調整設定を行う調整制御部とを備え、
   上記調整制御部は、
   上記レーザ駆動パルスについての波形調整パラメータに関して、それぞれ異なる波形調整パラメータを逐次設定して各波形調整パラメータについての試し書きを実行させた上で、それら試し書きした信号についての読み出しを実行させた結果に基づき、信号品質改善のための波形調整パラメータを算出すると共に、
   このように算出した算出波形調整パラメータと、当該算出波形調整パラメータの比較対象として定められた比較対象波形調整パラメータとを逐次上記レーザ駆動パルス生成部に設定してそれぞれの波形調整パラメータの設定下での試し書きを実行させた上で、それら試し書きした信号についての上記評価値計算部による品質評価値を取得した結果に基づき、上記算出波形調整パラメータを設定した場合の方が、上記比較対象波形調整パラメータを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かを判別し、当該判別の結果に基づいて上記レーザ駆動パルスの調整設定を行う
   記録再生装置。
2. 上記光記録媒体は円盤状の記録媒体とされ、
   上記調整制御部は、
   上記光記録媒体上における上記比較対象波形調整パラメータについての試し書き位置が配される角度位置と、上記算出波形調整パラメータについての試し書き位置が配される角度位置とが揃えられるようにして各上記波形調整パラメータについての試し書きを実行させる
   請求項１に記載の記録再生装置。
3. 上記光記録媒体において、試し書きを行うためのテストエリアは最外周部分に設けられ、当該テストエリア内においてはトラック１周分の長さが５クラスタ分の長さとされ、且つ当該テストエリアはアドレスナンバの大きい側に詰めて使用するように定められていると共に、
   さらに、上記信号品質改善のための波形調整パラメータの算出を行う際には、第１〜第３の計３種の波形調整パラメータについて試し書きを行うように定められており、
   上記調整制御部は、
   上記テストエリアにおけるアドレスナンバの大きい側から順に、
   第１の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第２の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   上記比較対象波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第３の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   信号読み出し時の引き込み領域として使用する１クラスタ分の信号記録領域、
   上記算出波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の信号記録領域、
   信号読み出し時の引き込み領域として使用する１クラスタ分の信号記録領域
   が並ぶようにして信号書き込みを実行させることで、上記比較対象波形調整パラメータについての試し書き位置が配される角度位置と上記算出波形調整パラメータについての試し書き位置が配される角度位置とが揃えられるようにする
   請求項２に記載の記録再生装置。
4. 上記光記録媒体において、試し書きを行うためのテストエリアは最内周部分に設けられ、当該テストエリア内においてはトラック１周分の長さが２クラスタ分の長さとされ、且つ当該テストエリアはアドレスナンバの大きい側に詰めて使用するように定められていると共に、
   さらに、上記信号品質改善のための波形調整パラメータの算出を行う際には、第１〜第３の計３種の波形調整パラメータについて試し書きを行うように定められており、
   上記調整制御部は、
   上記テストエリアにおけるアドレスナンバの大きい側から順に、
   第１の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第２の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第３の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   上記比較対象波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域であって、信号読み出し時の引き込み領域としても兼用する信号記録領域、
   上記算出波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の信号記録領域、
   信号読み出し時の引き込み領域として使用する２クラスタ分の信号記録領域
   が並ぶようにして信号書き込みを実行させることで、上記比較対象波形調整パラメータについての試し書き位置が配される角度位置と上記算出波形調整パラメータについての試し書き位置が配される角度位置とが揃えられるようにする
   請求項２に記載の記録再生装置。
5. 上記光記録媒体は円盤状の記録媒体とされ、
   上記調整制御部は、
   上記比較対象波形調整パラメータについての試し書き位置と上記算出波形調整パラメータについての試し書き位置とについて、それらの上記品質評価値取得時における隣接トラックの記録／未記録条件を一致させるようにして各上記波形調整パラメータについての試し書きの実行制御及び品質評価値の取得を行う
   請求項１に記載の記録再生装置。
6. 上記光記録媒体において、試し書きを行うためのテストエリアは最外周部分に設けられ、当該テストエリア内においてはトラック１周分の長さが５クラスタ分の長さとされ、且つ当該テストエリアはアドレスナンバの大きい側に詰めて使用するように定められていると共に、
   さらに、上記信号品質改善のための波形調整パラメータの算出を行う際には、第１〜第３の計３種の波形調整パラメータについて試し書きを行うように定められており、
   上記調整制御部は、
   上記テストエリアにおけるアドレスナンバの大きい側から順に、
   第１の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第２の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   上記比較対象波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第３のパラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   信号読み出し時の引き込み用領域として使用する１クラスタ分の信号記録領域
   が並ぶようにして、信号書き込みを実行させ、
   これらの書き込み信号を用いて、上記信号品質改善のための波形調整パラメータの算出、及び上記比較対象波形調整パラメータについての品質評価値の取得を行うと共に、
   その後において、上記引き込み用の信号記録領域に続けて、アドレスナンバの大きい側から順に、
   上記算出波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の信号記録領域、
   信号読み出し時の引き込み領域として使用する１クラスタ分の信号記録領域
   が並ぶようにして信号書き込みを実行させた上で、上記算出波形調整パラメータについての品質評価値を取得する
   請求項５に記載の記録再生装置。
7. 上記光記録媒体において、試し書きを行うためのテストエリアは最内周部分に設けられ、当該テストエリア内においてはトラック１周分の長さが２クラスタ分の長さとされ、且つ当該テストエリアはアドレスナンバの大きい側に詰めて使用するように定められていると共に、
   さらに、上記信号品質改善のための波形調整パラメータの算出を行う際には、第１〜第３の計３種の波形調整パラメータについて試し書きを行うように定められており、
   上記調整制御部は、
   上記テストエリアにおけるアドレスナンバの大きい側から順に、
   第１の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第２の波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   第３のパラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域、
   上記比較対象波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の試し書き信号記録領域であって、信号読み出し時の引き込み領域としても兼用する信号記録領域、
   が並ぶようにして、信号書き込みを実行させ、
   上記第１〜第３の波形調整パラメータを設定した試し書き信号を用いて上記信号品質改善のための波形調整パラメータの算出を行うと共に、
   その後において、上記比較対象波形調整パラメータの試し書き信号記録領域に続けて、アドレスナンバの大きい側から順に、
   上記算出波形調整パラメータを設定した２クラスタ分の信号記録領域、
   信号読み出し時の引き込み領域として使用する２クラスタ分の信号記録領域
   が並ぶようにして信号書き込みを実行させた上で、上記比較対象波形調整パラメータ及び上記算出波形調整パラメータについての品質評価値をそれぞれ取得する
   請求項５に記載の記録再生装置。
8. 上記調整制御部は、
   上記算出波形調整パラメータを設定した場合の方が信号品質が改善しないと判別した場合は、上記比較対象波形調整パラメータを設定する
   請求項１に記載の記録再生装置。
9. 上記調整制御部は、
   上記算出波形調整パラメータを設定した場合の方が信号品質が改善しないと判別した場合は、上記信号品質改善のための波形調整パラメータの算出をリトライする
   請求項１に記載の記録再生装置。
10. 上記調整制御部は、
    上記波形調整パラメータの算出のリトライを行った回数が予め定められた上限回数に達したか否かを判別し、上記リトライの回数が上記上限回数に達した場合は、上記比較対象波形調整パラメータを設定する
    請求項９に記載の記録再生装置。
11. 光記録媒体に対してレーザ光を照射して、上記光記録媒体上でマーク及びスペースで表現される情報の書込及び読出を行う光学ヘッド部と、記録する情報に応じたレーザ駆動パルスを生成して上記光学ヘッド部にレーザ駆動信号を供給し、上記光学ヘッド部に、記録のためのレーザ光照射を実行させるレーザ駆動パルス生成部と、上記光学ヘッド部により上記光記録媒体から読み出した信号から記録信号品質の指標となる品質評価値を計算する評価値計算部とを備えた記録再生装置におけるレーザ駆動パルス調整方法であって、
    上記レーザ駆動パルスについての波形調整パラメータに関して、それぞれ異なる波形調整パラメータを逐次設定して各波形調整パラメータについての試し書きを実行した上で、それら試し書きした信号についての読み出しを実行させた結果に基づき、信号品質改善のための波形調整パラメータを算出すると共に、
    このように算出した算出波形調整パラメータと、当該算出波形調整パラメータの比較対象として定められた比較対象波形調整パラメータとを逐次設定してそれぞれの波形調整パラメータの設定下での試し書きを実行した上で、それら試し書きした信号についての上記評価値計算部による品質評価値を取得した結果に基づき、上記算出波形調整パラメータを設定した場合の方が、上記比較対象波形調整パラメータを設定した場合よりも信号品質が改善されるか否かを判別し、当該判別の結果に基づいて上記レーザ駆動パルスの調整設定を行う
    レーザ駆動パルス調整方法。